Professional Documents
Culture Documents
wielkości
geometrycznych
WŁADYSŁAW JAKUBIEC
JAN MALINOWSKI
metrologia
wielkości
geometrycznych
wydanie czwarte zmienione
Wydawnictwa Naukowo-Techniczne
Warszawa
Opiniodawca prof, dr int. Eugeniusz Ratajczyk
Redaktorzy wyd. I-III: Ewa Kiliś, Halina Wierzbicka
Redaktor wyd. IV Marcin Starczak
Okładkę i strony tytułowe projektował Wojciech J. Steifer
Zdjęcie na okładce umieszczono za zgodą firmy Mahr GmbH, Goettingen
Aktualne informacje o przyrządach pomiarowych zamieszczonych w dodatku można znaleźć na stronach:
www.heidenhain.de, www.hommelwerke.de, www.mahr.de, www.leitz-metrology.com, www.zeiss.de,
www.renishaw.pl, www.leica-geosystems.com
Korekta Zespół
Skład i łamanie: Marcin Starczak, Wojciech Płowucha
Utwór w całości ani we fragmentach nie może być powielany ani rozpowszechniany za pomocą
urządzeń elektronicznych, mechanicznych, kopiujących, nagrywających i innych, w tym również
nie może być umieszczany ani rozpowszechniany w postaci cyfrowej zarówno w Internecie, jak i
w sieciach lokalnych bez pisemnej zgody posiadacza praw autorskich.
ISBN 83-204-2944-7
Spis treści
Przedmowa.................................................................................................... 13
2. Błędy pomiarów................................................................................ 52
5
3. Klasyfikacja i właściwości metrologiczne przyrządów
pomiarowych i wzorców miar ............................................................ 95
6
6. Maszyny pomiarowe........................................................................ 161
7
9.3. Zasada pomiaru......................................................................................................220
9.4. Dobór przyrządów pomiarowych.............................................................................220
9.5. Niepewność pomiaru a tolerancja wymiaru ..............................................................221
9.5.1. Kontrola wyrobów za pomocą pomiarów.................................................................222
Literatura .............................................................................................................................224
8
12.3.2. Układy sterowania..................................................................................................281
12.4. Struktura mechaniczna ............................................................................................282
12.4.1. Klasyfikacja ...........................................................................................................282
12.4.2. Elementy i zespoły .................................................................................................284
12.5. Zespół głowicy pomiarowej .....................................................................................285
12.5.1. Głowice pomiarowe................................................................................................285
12.5.2. Układy trzpieni pomiarowych..................................................................................288
12.6. Wyposażenie maszyn pomiarowych .........................................................................289
12.7. Komputer i oprogramowanie pomiarowe..................................................................291
Ϊ2.7.1. Kwalifikacja układów trzpieni pomiarowych............................................................292
12.7.2. Układ współrzędnych przedmiotu ...........................................................................292
12.7.3. Analiza wyników pomiaru ......................................................................................293
12.7.4. Programowanie przebiegu pomiarowego CNC .........................................................293
12.8. Strategia pomiaru....................................................................................................296
12.9. Dokładność maszyn pomiarowych ...........................................................................299
12.9.1. Źródła błędów........................................................................................................299
12.9.2. Model dokładności geometrycznej...........................................................................301
12.9.3. Wpływ temperatury i gradientów temperatur ............................................................301
12.9.4. Matematyczna korekcja dokładności (CAA) — model statyczny................................ 301
12.9.5. Matematyczna korekcja dokładności — model dynamiczny.......................................304
12.9.6. Błędy wynikające z oprogramowania........................................................................ 305
12.9.7. Wyznaczanie niepewności'pomiaru — metoda porównawcza .................................... 307
12.9.8. Wyznaczanie niepewności pomiaru — model wirtualny............................................ 307
12.10. Przykłady maszyn pomiarowych ............................................................................. 309
Literatura............................................................................................................................. 316
9
13.8. Pomiary odchyłek geometrycznych współrzędnościowymi
maszynami pomiarowymi.......................................................................................352
13.9. Sprawdziany kierunku, położenia i prostoliniowości osi............................................356
Literatura.............................................................................................................................357
10
15.3.1. Pomiar średnicy podziałowej gwintu wewnętrznego za pomocą wkładek z rowkami
pryzmatycznymi i długościomierza uniwersalnego firmy Zeiss...................................... 422
15.3.2. Pomiar średnicy podziałowej przy użyciu sztywnego trzpienia
z końcówkami pomiarowymi firmy Mahr lub Zeiss..................................................... 427
15.4. Pomiary gwintów walcowych symetrycznych ogólnego przeznaczenia .......................... 429
15.4.1. Pomiary gwintów zewnętrznych i wewnętrznych ........................................................ 429
15.4.2. Interpretacja tolerancji średnicy podziałowej gwintów ogólnego przeznaczenia .............. 429
15.5. Pomiary gwintów stożkowych o zarysie symetrycznym względem
prostopadłej do osi gwintu ....................................................................................... 430
15.5.1. Konstrukcja zarysu ostrego gwintu stożkowego o dwusiecznych kątów gwintu
prostopadłych do osi gwintu ..................................................................................... 430
15.5.2. Średnica podziałowa................................................................................................ 431
15.5.3. Pomiar kąta gwintu ................................................................................................. 432
15.5.4. Pomiar podziałki .................................................................................................... 432
15.5.5. Pomiar średnicy podziałowej mikroskopem pomiarowym ............................................ 433
15.5.6. Pomiar kąta stożka.................................................................................................. 434
15.6. Pomiary gwintów stożkowych o zarysie symetrycznym względem
prostopadłej do tworzącej stożka ...............................................................................434
15.6.1. Konstrukcja zarysu ostrego gwintu stożkowego o dwusiecznych kątów gwintu
prostopadłych do tworzących stożka ..........................................................................434
15.6.2. Średnica podziałowa ................................................................................................435
15.6.3. Pomiar kąta gwintu..................................................................................................435
15.6.4. Pomiar podziałki .....................................................................................................435
15.6.5 Pomiar średnicy podziałowej sposobem trójwałeczkowym..............................................436
15.7. Pomiary gwintów współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi ...............................437
15.7.1. Pomiary metodą stykową. .........................................................................................437
15.7.2. Pomiary metodą optyczną .........................................................................................440
Literatura ..............................................................................................................................442
11
17.3.2. Karty wartości średniej X i rozstępu-/? lub odchylenia standardowego......................... 475
17.3.3. Karty kontrolne pojedynczych obserwacji .................................................................. 475
17.3.4. Karty kontrolne mediany Me.................................................................................... 476
17.4. Zmienność własna i całkowita procesu...................................................................... 476
17.5. Środki techniczne statystycznego sterowania procesem ............................................... 477
Literatura ............................................................................................................................. 478
Skorowidz................................................................................................... 481
13
W aktualnym, zmienionym wydaniu książki, która ukazuje się po 4 latach od
ostatniego wydania, położono szczególny nacisk na aktualizację treści, odnoto-
wując wszelkie dostępne nowości, ważne dla przemysłu i nauki. W każdym roz-
dziale są jakieś uzupełnienia, zmiany, nowe rysunki i uaktualniona -literatura.
Zmiany widoczne są szczególnie w pomiarach odchyłek geometrycznych i chropo-
watości powierzchni — to nowe rozdziały. Autorzy dołożyli też starań aby stwo-
rzyć pomost między metrologią wielkości geometrycznych sprzed wydania pora-
dnika do wyrażania niepewności pomiaru a czasem obecnym. Sprawa nie była
łatwa, gdyż dawniej nie dbano konsekwentnie o podawanie niepewności pomiaru
łącznie z poziomem ufności. Ponadto zmienił się sposób obliczania niepewności
pomiaru. Podane przykłady wyjaśniają, przydatne zwłaszcza dla studentów i pra-
cowników przemysłu, zasady wyznaczania niepewności pomiaru.
Książka jest adresowana do studentów wyższych uczelni technicznych,
inżynierów oraz innych osób zajmujących się metrologią i jakością w budowie
maszyn. Główny cel książki to wyjaśnienie kolejnych stadiów procesu pomia-
rowego, szczególnie w sytuacjach, gdy są stawiane wysokie wymagania dokład-
nościowe. Mierzenie w przemyśle nie może być oderwane od wymagań jakoś-
ciowych części maszyn, dlatego we wprowadzeniu do pomiarów opisano odpo-
wiednie układy tolerancji. Na wielką skalę używa się obecnie zupełnie nowych
generacji przyrządów pomiarowych, najczęściej wspomaganych komputerem.
Opisano teorię i praktykę pomiarów przy użyciu współrzędnościowych maszyn
pomiarowych. Podkreślono znacznie dokładności pomiarów. Trwa proces wpro-
wadzania do praktyki norm serii ISO 9000 dotyczących zarządzania jakością. Dla
ludzi pracujących w przemyśle oznacza to potrzebę dokumentowania procesu
pomiarowego, dokonywania szybkiej analizy procesów oraz — w celu zapew-
nienia żądanych dokładności pomiarów — starannego sprawdzania przyrządów
pomiarowych.
W pracy nad książką autorzy wykorzystali wieloletnie doświadczenie dydak-
tyczne zdobyte w Filii Politechniki Łódzkiej i później w Akademii Techniczno-
Humanistycznej w Bielsku-Białej, oraz praktyczne, wyniesione ze współpracy
z przemysłem. Wiele praktycznych korzyści uzyskali autorzy realizując projekt
programu TEMPUS pt. „World Class Manufacturing Implementation by Restruc-
turing Engineering Courses; Culture Change by Uni/Industry Co-operation", któ-
rego koordynatorem był Profesor dr h.c. Walter E. Rumpf z Fachhochschule we
Frankfurcie nad Menem.
Autorzy biorą udział w dwóch projektach europejskich, których kontraktorem
jest Profesor dr inż. Albert Weckenmann z Uniwesytetu w Erlangen — Nurnberg.
Są to następujące projekty: Leonardo da Vinci pt. EUKOM — European training
concept for Coordinate Metrology oraz Socrates-Minerwa pt. METROeLEARN
— European e-learning course for Manufacturing Metrology. Profesor A.
Weckenmann uczestniczył także jako partner w projekcie europejskim Leonardo
da Vinci pt. Geometrical Product Specifications. Course for Technical Univer-
sities; kontraktorem tego projektu był dr inż. Zbigniew Humienny z Politechniki
Warszawskiej. Czynny udział autorów w tych trzech projektach znalazł także
pozytywne odbicie w treści książki.
14
Od wielu lat autorzy współpracują z firmami zagranicznymi Zeiss, Leitz-
Brown&Sharpe, Mahr, Hommelwerke i Heidenhain, produkującymi przyrządy
pomiarowe. Współpraca ta wiązała się z publikacjami książkowymi obu autorów.
Autorzy pragną podziękować przedstawicielom tych firm, bowiem bez ich pomo-
cy i życzliwości treść książki byłaby znacznie uboższa. Byli to Panowie: Marek
Nocuń (Zeiss), Jiirgen Engelhardt i Hartwig Weber (Leitz-Brown&Sharpe), Uwe
Kauder, Karlheinz Lang i Daniel Chudowski (Mahr), Michael Hagen (Hommel-
werke) i Helmut Schenk (Heidenhain). Przedstawiciel firmy Volkswagen Pan
Hagen ReiBner pomógł natomiast w nawiązaniu współpracy z firmą Volkswagen.
Autorzy spotkali się także z pomocą wielu innych osób, ale nie sposób ich tu
wszystkich wymienić.
Autorzy wyrażają szczególne podziękowanie Panu Profesorowi Eugeniuszo-
wi Ratajczykowi z Politechniki Warszawskiej za życzliwość oraz wiele cennych
uwag i sugestii, zawartych w recenzji tej pracy oraz wypowiedzianych przy okazji
różnych konferencji i spotkań. Panowie mgr inż. Marcin Starczak i mgr inż.
Wojciech Płowucha sporządzili bardzo starannie rysunki oraz włożyli wielki wysi-
łek w wykonanie składu komputerowego; nie tylko przeczytali cały tekst, ale po-
dzielili się swoimi uwagami, co także pozytywnie wpłynęło na ostateczny kształt
książki. Ich praca miała charakter twórczy — za co obaj autorzy są im bardzo
wdzięczni. Autorzy dziękują Panu Piotrowi Borgiełowi, który służył radą i po-
mocą we wszystkich stadiach powstawania książki. Pomoc w przygotowaniu skła-
du komputerowego okazali także Panowie mgr inż. Maciej Brylski oraz mgr inż.
Norbert Wisła.
1
1.1. Metrologia i jej podział
17
ściwości. Wielkość ponadto musi się dać wyrazić ilościowo, co sprowadza się
do wyznaczenia wartości wielkości, tj. iloczynu liczby i jednostki miary.
Zgodnie z takim pojmowaniem wielkości mierzalnej pomiar polega na wyko-
naniu czynności doświadczalnych, mających na celu wyznaczenie wartości
określonej wielkości. Klasyczną definicję pomiaru określa się często inaczej:
zmierzyć wielkość — to znaczy ustalić jej stosunek do innej wielkości tego
samego rodzaju przyj ątej za jednostką miary. Międzynarodowy Układ Jednostek
Miar — SI obejmuje jednostki mieszczące się w klasycznym rozumieniu
pomiaru (tabl. 1.1).
Termin „wielkość" ma w metrologii dwa znaczenia: ogólne i określone.
Wielkość w znaczeniu ogólnym dotyczy właściwości zjawiska, ciała lub
substancji, lecz bez odwołania się do określonego przypadku tej właściwości;
wielkości w tym znaczeniu, ze względu na ogólność, nie można zmierzyć. Na
przykład: czas, długość, prędkość liniowa. Wielkość określona to przypadek
właściwości konkretnej, którą można poznać przez pomiar. Na przykład: śred-
nica wałka, masa odważnika, temperatura krzepnięcia platyny.
Metrologia ma szeroki zakres, obejmuje metrologię ogólną, teoretyczną
i prawną, a także wiele metrologii stosowanych, jak metrologię długości,
metrologię czasu, metrologię ciśnienia i inne, zależne od rodzaju wielkości
mierzonej, oraz takie, które są stosowane w określonych dziedzinach, np.
metrologię techniczną, metrologię włókienniczą, metrologię medyczną.
Wprowadzenie w 1960 r. Międzynarodowego Układu Jednostek Miar
[Malinowski 2000] oraz w latach dziewięćdziesiątych XX wieku ujednoliconych
metod obliczania i wyrażania niepewności pomiaru ma ogromne znaczenie w in-
terpretacji i porównywaniu wyników pomiarów w skali światowej [Wyrażanie
niepewności pomiaru. Przewodnik 1999].
Międzynarodowy Układ Jednostek Miar został przyjęty na XI Generalnej
Konferencji Miar w 1960 r. Zamiast pełnej nazwy używa się także skrótu — SI
— pochodzącego od słów Systeme International d'Unites. Od początku,
z założenia, układ nie był tworem skończonym, którego nie można poprawiać;
dlatego uchwałami kolejnych GKM był modyfikowany i uzupełniany. Również
w przyszłości następne GKM mogą go udoskonalać i włączać nowe elementy.
Międzynarodowy Układ Jednostek Miar — SI stanowi odbicie mate-
matyczności świata przyrody. Jednostki miar SI zostały uporządkowane pod
względem formalnym i ich matematyczna struktura ma postać iloczynów potęg
jednostek podstawowych ze współczynnikami proporcjonalności równymi
jedności (spójność układu). Dzięki konsekwentnemu przestrzeganiu zasady
spójności, każdej wielkości jest przyporządkowana jedna, jednoznacznie
określona jednostka miary. Układ składa się z (tabl. 1.1):
1) 7 jednostek podstawowych,
2) jednostek pochodnych będących kombinacjami — w postaci iloczynów
potęgowych tworzonych w oparciu o równania definicyjne (wielkościowe)
— jednostek podstawowych i dwóch pochodnych bezwymiarowych
(radiana i steradiana); 21 wybranym jednostkom pochodnym, w tym także
dwóm bezwymiarowym, nadano nazwy i oznaczenia specjalne (np. wat —
W, lumen — lm, radian — rad).
18
Tablica 1.1. Międzynarodowy Układ Jednostek Miar — SI (Systeme International d'Unites)
19
Integralną częścią układu są ponadto:
— zasady budowy nazw i oznaczeń jednostek SI,
— nazwy i oznaczenia przedrostków służących do tworzenia dziesiętnych
wielokrotności i podwielokrotności jednostek SI oraz zasady stosowania
tych przedrostków.
Legalne jednostki miar oraz ich wzorce — jednostki SI i inne dopuszczone do
stosowania — są ważnym składnikiem kultury narodu.
20
1.3. Jednostka miary długości
Rys. 1.1.
Metr archiwalny
wykonany z platyny
21
ciwości, postanowiono odlać wszystkie prototypy (30 sztuk) z tego samego
wytopu. Przyjęto, że zanieczyszczenia stopu nie mogą przekroczyć 2%. Wzorce
odlano ze stopu o dobrej czystości (0,23%). Po wypolerowaniu i nacięciu kresek
na poziomie warstwy obojętnej, prototypy zostały przekazane do BIPM i pod-
dane wzorcowaniu. Odległość kresek na wzorcu nr 6 okazała się najbardziej
zgodna z odległością reprezentowaną przez metr archiwalny: prototyp ten otrzy-
mał oznaczenie „M" oraz nazwę międzynarodowy prototyp metra [Martin].
Rys. 1.2.
Międzynarodowy prototyp metra
Rys. 1.3.
Kreski nacięte na poziomie
warstwy obojętnej
międzynarodowego prototypu
metra
22
prototyp metra przechowuje się w BIPM w Sevres (obecnie dzielnica Paryża).
Niepewność odtworzenia jednego metra przy użyciu prototypu, na poziomie
ufności 0,95, wynosi ± 0,2 μπι (± 2-10"7).
Niewystarczająca dokładność wzorca kreskowego oraz dostrzeżenie czaso-
wych zmian strukturalnych materiału wzorca sprawiły, że postanowiono zmienić
definicję metra i oprzeć ją na wielokrotności długości fali świetlnej. Badania,
zapoczątkowane w 1893 r. przez Michelsona, potwierdziły dużą przydatność
interferencji światła do celów metrologii długości. Dokładnymi pomiarami
ustalono relacje między międzynarodowym prototypem metra a długością fal
świetlnych, wysyłanych przez różne gazy pobudzane do świecenia.
Definicja (czwarta) metra uchwalona na XI Generalnej Konferencji Miar
(I960 r.) ma następującą postać: metr jest to długość równa 1 650763,73 długo-
ści fali w próżni, promieniowania odpowiadającego przejściu między poziomami
2pio a 5d5 atomu 86Kr (kryptonu 86).
Oznaczenia 2p10 i 5d5 określają dwie różne warstwy elektronowe (poziomy
energetyczne) atomu kryptonu 86. Przeskok elektronów z poziomu 2p10 na
poziom 5d5 powoduje emisję energii w postaci pomarańczowego promieniowa-
nia monochromatycznego; odpowiednia wielokrotność długości fali tego pro-
mieniowania definiuje metr. Długość fali promieniowania kryptonu 86, zgodnie
z definicją z 1960 r., wynosi λ = 605 780 210,3 fm z niepewnością rozszerzoną
względną (k = 3) równą± 410~9. Definicja falowa metra ponownie nawiązała do
idei wzorca długości wywodzącego się z naturalnej wartości występującej
w przyrodzie; taka była przecież pierwsza definicja z 1791 r., gdy metr był
ułamkiem ćwiartki południka ziemskiego.
Dzięki falowej definicji metra (XI GKM, 1960 r.) i definicji sekundy opartej
na częstotliwości drgań cezu 133 (XIII GKM, 1967 r.) stało się możliwe
dokładne zmierzenie prędkości światła. Po raz pierwszy udało się to zrealizować
w NBS (National Bureau of Standards) w Waszyngtonie w 1972 r. Podstawę
stanowił związek między prędkością światła c, długością fali λ i częstotliwością
/tego samego promieniowania elektromagnetycznego: c = A-f. Do wytworze-
nia promieniowania użyto lasera He-Ne stabilizowanego metanem (CH4), o dłu-
gości fali z zakresu podczerwieni (λ « 3,39 μηι.). Przez porównanie promie-
niowania lasera He-Ne z wzorcowym promieniowaniem Kr 86 zmierzono dłu-
gość fali λΗε-Ne z niepewnością rozszerzoną względną (k = 3) równą ± 4-10"9.
Następnie porównano częstotliwość lasera z wzorcową częstotliwością zegara
atomowego (Cs 133), wyznaczając w ten sposób wartość ./He-Ne· Obie często-
tliwości, cezu 133 i użytego lasera He-Ne, różnią się znacznie (fcm?, « 9 GHz,
„/i-e-Ne « 90 THz) i bezpośrednie porównanie tych częstotliwości nie było
możliwe. Dokonano tego odpowiednią techniką, wyznaczając łańcuch kolejnych
.częstotliwości między fCsm i ./He-Ne· Niepewność rozszerzona względna (k = 3)
wyznaczenia/ne-Ne wyniosła ± 6-10"10 [German, Drath 1979]. Na podstawie
otrzymanych wyników obliczono prędkość światła c = ^e-Ne/He-Ne, która —
wraz z niepewnością rozszerzoną (k = 3) — wyniosła 299 792 458 ± 1,2 m/s.
Dzięki wysokiej dokładności wzorców długości i czasu niepewność pomiaru
okazała się stosunkowo mała. Biorąc to pod uwagę oraz widząc w perspektywie
23
szereg korzyści, postanowiono w 1975 r. na XV GKM przyjąć stałą wartość
prędkości światła w próżni (stała uniwersalna) c0 = 299 792 458 m/s.
Na XVII Generalnej Konferencji Miar w 1983 r. została uchwalona obecnie
obowiązująca (piąta) definicja metra: metr jest to długość drogi przebytej w pró-
żni przez światło w czasie 1/299 792 458 s (sekundy).
Metr powinien być realizowany jedną z trzech metod za pomocą:
1) drogi l, którą przebywa w próżni płaska fala elektromagnetyczna w czasie t;
mierzy się czas t, drogę zaś oblicza ze związku ł = c0 · t , gdzie prędkość
światła w próżni c0 = 299 792 458 m/s,
2) długości w próżni λ płaskiej fali elektromagnetycznej o częstotliwości /;
mierzy się częstotliwość /, natomiast długość fali oblicza ze związku
λ = c0 // , gdzie prędkość światła w próżni c0 = 299 792 458 m/s,
3) jednego z promieniowań z listy rekomendowanej przez Comite International
des Poids et Mesures (CIPM), którego ustalona długość fali w próżni i usta
lona częstotliwość może być w praktyce użyta z podaną w dokumencie
niepewnością standardową (tabl. 1.2) [Quinn 1999].
W metodzie 1 realizacja jednostki długości przez pomiar czasu niezbę-
dnego na przebycie przez światło określonej drogi wymaga bardzo dokładnego
mierzenia czasu. W przypadku długości od kilku milimetrów do kilku metrów,
niepewność wyznaczenia czasu jest na tyle duża, że pomiar długości nie jest
w stanie sprostać wymaganiom dokładnościowym. Natomiast w pomiarach
astronomicznych rezultaty są już bardzo dokładne. Na przykład podczas
załogowych lotów na Księżyc statków Apollo 11 (1969 r.), Apollo 14 (1971 r.)
i Apollo 15 (1971 r.) astronauci umieścili na powierzchni Księżyca retro-
reflektory, odbijające światło laserowe wysyłane z Ziemi. Retroreflektor usta-
wiony na Księżycu podczas pierwszej misji (Apollo 11) był zbudowany ze 100
zwierciadeł pryzmatycznych (rys. 1.4).
24
Rys. 1.5.
Zwierciadło pryzmatyczne z trzema prostopadłymi
wzajemnie płaszczyznami; kierunki światła padającego
i odbitego są równoległe
Rys. 1.6.
Błyski lasera impulsowego wysyłane z Ziemi
przez teleskop astronomiczny; światło po
odbiciu od retroreflektora umieszczonego na
Księżycu wraca na Ziemię; / — laser
impulsowy, 2 — impuls laserowy wysłany z
Ziemi, 3 — retroreflektor, 4 — odbite światło
lasera, 5 — teleskop, 6 — Ziemia, 7 —
Księżyc
25
cyjnych i interpolacji ułamka ostatniej połówki długości fali świetlnej. Wyró-
żniającą cechą drugiej metody jest wykorzystywanie promieniowań nie wystę-
pujących w spisie rekomendowanym przez CIPM.
W pomiarach przemysłowych znajduje zastosowanie głównie 3 metoda
realizacji metra. Do precyzyjnych pomiarów długości nadają się szczególnie —
pracujące w świetle widzialnym — interferometry wyposażone w lasery. Naj-
mniejsza niepewność długości fali światła widzialnego ma promieniowanie
wytworzone przy użyciu lasera He-Ne stabilizowanego jodem (J2), o długości
fali 633 nm [PTB 1997]. Nadal wykorzystuje się też promieniowania 86Kr, 198Hg i
114
Cd ze znanymi niepewnościami (tabl. 1.2) [Quinn 1999, Ramotowski 1996].
Przejście z wzorca falowego na wzorzec materialny, np. długość I płytki
wzorcowej, realizuje się interferometrem (rys. 1.7).
Rys. 1.7.
Schemat interferometru Kóstersa do pomiarów płytek
wzorcowych o długości do 100 mm [PTB 1997]: 1 —
szczelina wejściowa wiązki wzorcowego promieniowania, 2
— płytka półprzeźroczysta dzieląca promieniowanie, 3 —
zwierciadło, 4 — obraz pozorny, α— kąt pochylenia, 5 —
płaska płytka podstawowa z przywartą płytką wzorcową, 6
— szczelina obserwacyjna, 7 — obraz przesuniętych
wzajemnie prążków interferencyjnych
26
wzorcowej oraz określeniu pozostałego ułamka ε połówki długości fali (ł -
= η-λ/l + ε λ/2). Całkowitą liczbę η oblicza się dla znanej z małą niepewnością
długości I lub wyznacza z obserwacji wykonanych przy użyciu promieniowań
o różnych długościach fal. Ułamek ε można bez dodatkowych urządzeń ocenić
do 1/30 odległości prążków interferencyjnych, co przy λ/2 « 0,3 μπι daje
niepewność ok. ±0,01 μηι (±10~8). W szczególnych przypadkach, przy użyciu
optoelektronicznych układów szacujących wspomaganych komputerowo, ocena
położenia wzajemnego prążków interferencyjnych może być wykonana
z niepewnością względną do ±10 [PTB 1997].
Metr w wyniku zmian definicji nigdy nie zmienił swojej wartości długości,
był tylko coraz lepiej definiowany (tabl. 1.3). Ostatnia definicja (1983 r.) nie
musi być w przyszłości zmieniana. Obecnie pracuje się nad ulepszeniem cezo-
wego zegara atomowego oraz zwiększeniem dokładności pomiarów częstotli-
wości promieniowania elektromagnetycznego. Wobec przyjęcia prędkości świat-
ła w próżni jako wartości dokładnej, będzie możliwe wyznaczenie długości fali
z większą dokładnością.
Tablica 1.3. Niepewności wzorca metra
odtworzenia
1. definicja 2. definicja 3. definicja 4. definicja 5. definicja
1791 r. 1799 r. 1889 r. 1960r. 1983 r.
1/10 000 000 metr archiwalny międzynarodowy metr jako wie- metr jako długość
część ćwiartki (wzorzec prototyp metra lokrotność drogi przebytej
południka końcowy) (wzorzec długości fali przez światło
przechodzącego kreskowy) świetlnej kryptonu w określonym
przez Paryż 86 (wzorzec ułamku sekundy
(wzorzec oparty na zjawisku (wzorzec oparty
naturalny) fizycznym) na zjawisku
fizycznym)
±(0,15-0,2) mm0 ±(10-20) μΐη2) ±0,1μπι3) ±l,3nm 3)4) ± 0,025 nm 3) 5)
(±110-7) (+ 1,3 10-9) (± 2,5-10-")
1
Metr, jako cześć ćwiartki południka, był tak źle zdefiniowany, że niepewność odtworzenia
szacuje się jedynie z pewnym przybliżeniem [Martin].
2)
Przy bli żon a o cen a ni ep ew n oś ci odt w o rzeni a [Marti n ].
3)
N i ep ew n o ś ć st an d ard o w a; w n aw i asi e ni ep ew n o ś ć st an d ard o w a w zg l ęd n a.
41
Sp ot y k an a w li t erat u rze n i ep ew n o ś ć ro zs zerzo n a w zg l ęd n a ±4 1 0 " 9 j est ni ep ew n o ś ci ą ro z-
szerzon ą u do sk on alo n ej realizacji met ra, ze ws pół czy nni kiem k = 3 ; w d ok u menci e z 1 96 0 r.
w ys t ęp uj e ni ep ew n o ś ć ro zs zerzo n a w zg l ęd n a (k = 3 ) ±1 1 0 - 8 [Q u i n n 1 9 9 9 ].
51
L aser H e-N e stabilizo w an y jodem (J 2 ) o dłu gości fali pro mieniow ania λ = 6 33 n m.
Jednostką miary SI kąta płaskiego jest radian. Radian jest to kąt płaski zawarty
między dwoma promieniami koła, wycinający z jego okręgu łuk o długości rów-
nej promieniowi tego koła. W pomiarach kątów płaskich obok radiana można
stosować stopień, minutę i sekundę kątową. Jednostki te należą do zbioru
jednostek legalnych spoza układu SI.
27
1.5. Matematyka w metrologii wielkości geometrycznych
(l.i)
Rys. 1.8.
Związki między funkcją
gęstości prawdopodobieństwa
(a) i dystrybuantą(b) na
przykładzie rozkładu
normalnego
28
W metrologii najczęściej są wykorzystywane rozkłady: normalny (głównie
w teorii błędów do opisu błędów przypadkowych), jednostajny^, (np. do opisu
błędów dyskretyzacji), trójkątny, antymodalne U i V (przy wyznaczaniu
niepewności pomiaru), beta (w zagadnieniach związanych z chropowatością
powierzchni), Maxwella (do opisu rozkładu wymiarów w obróbce sterowanej
ręcznie), wykładniczy i Weibulla. Poprzez związek z rozkładem normalnym,
szczególnie w celu weryfikacji hipotez statystycznych, są stosowane również
rozkłady: t — Studenta, F—Snedecora oraz chi-kwadrat.
F u n k c j e g ę s t o ś c i wymienionych rozkładów są następujące: —
rozkładu jednostajnego (rys. 1.9a)
(1.2)
(1.3)
(1.4)
(1.5)
(1.6)
(1.7)
29
Rys. 1.9. Funkcje gęstości prawdopodobieństwa rozkładów: a) jednostajnego, b) trójkątnego, c)
antymodalnego V, d) antymodalnego U, e) Maxwella, f) beta: 1 — dla α > b, 2 — dla a < b, g)
wykładniczego, h) Weibulla: / — dla/? e (0, 1), 2 — dla/9- 1 (wykładniczy), 3 — dla/?> 1
30
— rozkładu normalnego (rys. 1.8a)
(1.10)
(1.13)
(1.14)
(1.16)
(1.17)
l)
Uwaga: symbolu σ używa się do oznaczenia jednego z parametrów rozkładu normalnego
oraz do oznaczenia odchylenia standardowego dowolnej zmiennej losowej.
31
Estymatorem wartości oczekiwanej zmiennej losowej jest wartość średnia z
zaobserwowanych realizacji tej zmiennej losowej
(1.18)
Jako charakterystyki
zmiennej losowej
wykorzystuje się również
pewne funkcje momentów zmiennej losowej, np.: — współczynnik zmienności
(1.20)
— współczynnik asymetrii
(1.21)
— współczynnik spłaszczenia
(1.22)
Rozkład normalny
Rozkładem najczęściej wykorzystywanym w metrologii jest rozkład normalny.
Wiąże się to z działaniem tzw. centralnego twierdzenia granicznego rachunku
prawdopodobieństwa, które mówi, że suma dużej liczby zmiennych losowych
o praktycznie dowolnych rozkładach ma rozkład normalny. Inaczej mówiąc,
jeśli na jakąś wielkość losową ma wpływ wiele czynników losowych, z których
żaden nie jest dominujący, to wielkość tę można modelować przy użyciu roz-
kładu normalnego. Pewne kłopoty ze stosowaniem rozkładu normalnego wyni-
kają z faktu, że dystrybuanty tego rozkładu nie daje się obliczyć analitycznie.
Tradycyjnie korzysta się z tablic dystrybuanty Φ{ύ) rozkładu normalnego stan-
daryzowanego2', tzn. rozkładu z parametrami μ = 0 i σ = 1, np. [Zieliński,
Zieliński 1991]. Ze względu na symetrię funkcji gęstości prawdopodobieństwa
υ
Niekiedy bywa stosowany termin „odchylenie średnie kwadratowe". 21 Zmienną losową o
rozkładzie normalnym standaryzowanym oznacza się zwykle przez U, funkcję gęstości tego
rozkładu przez ę(u), a dystrybuantę przez Φ (u).
32
rozkładu normalnego tablicuje się najczęściej dystrybuantę rozkładu dla war-
tości u > 0. Wartości dystrybuanty rozkładu dla u < 0 wylicza się według nastę-
pującego wzoru
(1.23)
(1.24)
ma rozkład normalny z parametrami μ = 0 i <x= 1; —
jeśli zmienna losowa f/ma rozkład normalny z parametrami μ = 0 i σ= 1,
tr· 7tnienna Insnwa
(1.25)
(1.28)
33
rozkładu Studenta dla poziomu istotności ρ i liczby stopni swobody r (tabl. 1.4),
Xp,r — wartość krytyczna rozkładu chi-kwadrat dla poziomu istotności ρ
i liczby stopni swobody r, (1 - a) — poziom ufności.
W literaturze związanej z metrologią podaje się często tablice wartości
k\{p, r) związanej z wartością krytyczną rozkładu chi-kwadrat zależnością
(1.37)
35
histogramu jest bliski kształtowi krzywej gęstości pewnego rozkładu prawdo-
podobieństwa. Proces budowy histogramu daje się łatwo zaprogramować.
Programy do kreślenia histogramów spotyka się również w bibliotekach
podprogramów komputerowych, pakietach oprogramowania komputerowego,
np. Statistica [Luszniewicz, Słaby 2001] i arkuszach kalkulacyjnych (funkcja
częstość w arkuszu MS Excel).
Przykłady bezpośredniego wnioskowania statystycznego na podstawie
histogramu podano w rozdz. 17.
Siatka rozkładu prawdopodobieństwa jest szczególnie przydatna, jeśli do
identyfikacji postaci rozkładu prawdopodobieństwa można użyć jedynie
niewielkiej liczby (kilku do kilkunastu) realizacji zmiennej losowej. Korzysta się
tutaj z faktu, że punkty reprezentujące dystrybuantę empiryczną na siatce
odpowiedniego rozkładu prawdopodobieństwa układają się w przybliżeniu
wzdłuż linii prostej (w przypadku rozkładu wykładniczego wzdłuż prostej
przechodzącej przez punkt (0,0)). W przypadku siatki nieodpowiedniego
rozkładu układ punktów zwykle wyraźnie odbiega od prostej. Pionowa oś siatki
jest opisana, poziomą zaś należy opisać wartościami obejmującymi zakres
realizacji zmiennej losowej. W celu skorzystania z siatki rozkładu prawdo-
podobieństwa realizacje zmiennej losowej należy uporządkować w kolejności
rosnącej i przyporządkować im wartości dystrybuanty empirycznej obliczone
według wzoru
(1.38)
36
Rys. 1.10.
Siatka rozkładu normalnego
(charakterystyczne punkty siatki rozkładu:
F(L&O) = 0,841, FCu) = 0,5)
(1.40)
— parametry a i b rozkładu beta
(1.41)
3
7
— parametry β i δ rozkładu Weibulla
38
Jezeli zmienna losowa R ma rozkład jednostajny na odcinku (O, 1), to
zmienna losowa X = F~\K) ma rozkład o dystrybuancie F. F"1 oznacza/unkc/ę
odwrotną do dystrybuanty F.
Z twierdzenia wynika więc, że jeżeli ciąg (r„), η = 1 , 2 , ..., jest ciągiem
liczb losowych o rozkładzie jednostajnym na (0, 1), to ciąg (x„), η = 1,2, ..., dla
x« = F~\rn ) (1.43)
jest ciągiem liczb losowych o rozkładzie z dystrybuantąF.
Przykład 1.3. Należy zbudować generator liczb losowych o rozkładzie jednostajnym na
odcinku (a, b).
Gęstość rozkładu opisuje wzór (1.2). Dystrybuanta ma postać (rys. 1.11)
(1.44)
39
Wydruk 2
Wydruk 3
Program Symull;
const n=1000; var
i:integer;
xl,x2,x3,x4,y:real;
begin
randomize;
for i : = l to η do
begin
xl:=jedn(9.5,13.5);
x2:=jedn(10.5,12.5); x3:=j
edn(-4,4); x4:=jedn( - 1 , 1 ) ;
y:=(xl-x2)*x3+x2*x4;
writeln(y:1 0 : 2 ) ; end; end.
40
Otrzymane wyniki (1000 liczb) w postaci histogramu przedstawiono na rys. 1.12.
Rys. 1.12.
Wyniki eksperymentu
symulacyjnego
z przykładu 1.4 przedstawione
w postaci histogramu
Odpowiedzią na postawione w
temacie przykładu pytanie o zakres zmian
zmiennej losowej Υ mogą być np.
kwantyle 0,025 i 0,975. Z
prawdopodobieństwem 95% wartość
błędu temperaturowego zawiera się w
przedziale ±14,6-10~*L.
Rys 1.13.
Model zależności między czynnikiem
wynikowym a czynnikami badanymi
(1.45)
Rys. 1.14.
Kryterium jakości dopasowania
modelu do wyników eksperymentu
41
Zapis macierzowy metody najmniejszych kwadratów
Dla modeli liniowych względem współczynników regresji liniowy układ równań
ze współczynnikami regresji jako niewiadomymi ma w zapisie macierzowym
postać
42
Inne przykłady zapisu zadań analizy regresji, w tym również w odniesieniu
do niektórych modeli nieliniowych, można znaleźć w publikacji [Jakubiec
1991].
Do rozwiązywania zadań regresji na podstawie kryterium najmniejszej
sumy kwadratów można wykorzystać istniejące podprogramy komputerowe (np.
podprogram LLSQ z biblioteki SSP [Vilenkin 1974], odpowiednie procedury
biblioteki Turbo Pascala [Gregulec, Kaczmarek, Marciniak 1992]), pakiety
specjalistyczne oprogramowania komputerowego (np. Statistica) lub arkusz
kalkulacyjny (np. funkcja reglinp w arkuszu MS Excel).
43
Przykład 1.7. Wykonano pomiary współrzędnych (xh >·,) η punktów leżących nominalnie na
prostej (rys. 1.15). Należy znaleźć prostą aproksymującą te punkty. Nieznane współczynniki a i b
prostej y = ax + b należy wyznaczyć, korzystając z kryterium najmniejszej sumy kwadratów
Rys. 1.15.
Wyznaczanie linii średniej
metodą najmniejszej sumy
kwadratów
Przykład 1.8. Wykonano pomiary współrzędnych (xh y,) η punktów leżących nomi-
nalnie na okręgu (rys. 1.16). Należy znaleźć okrąg (współrzędne środka i promień) aproksymujący
te punkty.
y^ i -
równ
kwadratów
Rys. 1.16.
Wyznaczanie okręgu średniego metodą
najmniejszej sumy kwadratów
44
Szereg Taylora i Maclaurina
Spełniającą pewne warunki funkcję f(x) w otoczeniu punktu x0 można
przedstawić w postaci następującego szeregu potęgowego (szereg Taylora)
(1.50)
Rys. 1.17.
Rysunek do wyprowadzenia wzoru na promień
łuku
Z trójkąta prostokątnego pokazanego na rys. 1.17 wynika zależność
W skrajnych przypadkach długość cięciwy może wynosić c - Ac lub c + Ac, a więc wartość
promienia może wynosić odpowiednio R(c - Ac) lub R(c + Ac). Błąd skrajny można obliczyć
według wzoru
i następnie
sie
Tak więc dla danych z przykładu AR = +0,032 mm.
45
Przybliżona analiza harmonicznych
Funkcję okresową^ o okresie 2π i znanych wartościach w punktach
(1.51)
jeżeli jest spełniony warunek m>2n+ 1,
można przedstawić w postaci wielomianu
trygonometrycznego stopnia η
(1.52)
przy czym
(1.53)
Przykład 1.10. W celu określenia wymiaru i odchyłki okrągłości pewnego wyrobu, przy
użyciu przyrządu kłowego, wykonano w 16 punktach rozłożonych równomiernie na obwodzie
pomiary promienia i otrzymano następujące wyniki:
120,561; 120,381; 120,143; 120,089; 120,172; 120,178; 119,954; 119,664;
119,582; 119,731; 119,898; 119,901; 119,771; 119,708; 119,929; 120,360.
Opracować wyniki pomiarów techniką przybliżonej analizy harmonicznych.
Wyniki analizy zestawiono w tabl. 1.7 oraz na wykresie (rys. 1.18).
Rys. 1.18.
Przedstawienie wyników analizy harmonicznej
w postaci wykresu amplituda/j — numer
harmonicznej
46
Interpretacja wyników jest następująca:
a„ — średnia średnica przedmiotu, p· — mimośrodowość ustalenia przedmiotu w przyrządzie
kłowym, P2 — amplituda drugiej harmonicznej charakteryzująca owalność, p$ — amplituda
trzeciej harmonicznej charakteryzująca trójgraniastość itd.
Najistotniejszym wynikiem dokonanej analizy harmonicznej jest informacja, że dominujący
charakter odchyłki okrągłości to trójgraniastość.
47
Rys. 1.19.
Przedmiot do przykładu 1.11: a) rysunek
konstrukcyjny, b) przedmiot w układzie
maszyny
Opracowanie wyników przebiega
następująco:
— wyznaczenie okręgu przez punkty 1, 2
i 3: x-^ = 45,1437; y^ = 57,6168; rf16 =
28,0016; po
kompensacji promienia kulistej
końcówki otrzymuje się wartość
średnicy okręgu: 30,0016;
średnicę okręgu należy uznać za
wykonaną prawidłowo;
— wyznaczenie punktu symetrii dla
punktów 4 i 5:xn = —10,6706; >·· η =
65,6128;
— wyznaczenie prostej przechodzącej
przez punkty 16 i 17; parametry
równania prostej
w postaci y = ax + b sąnastępując*a = - 0,143261; b = 64,0841;
— obliczenie kąta nachylenia prostej: a = - 8,15278°;
— przesunięcie układu współrzędnych do punktu 16 (o wektor [x|6, y^]) oraz obrót wokół
punktu 16 o kąt a, współrzędne punktów 1 do 17 po transformacji wylicza się wg wzorów:
48
gdzie: xh yt — współrzędne punktów przed transformacją, x/, yf — współrzędne punktów
po transformacji (tabl. 1.9);
— na podstawie y\ i y'5 sprawdza się szerokość rowka
s = \y'4-y's\ + d= 15,9812;
szerokość rowka została wykonana wadliwie;
— na podstawie x'6 sprawdza się głębokość rowka (kompensacja): 52,0313; głębokość rowka
została wykonana wadliwie;
— wyznaczenie okręgu przez punkty 7, 8 i 9 (po transformacji): x(8 = 13,6792; y\& = 37,5887;
c/[g = 7,9996; po kompensacji otrzymuje się wartość średnicy okręgu: 9,9996; średnicę
okręgu należy uznać za wykonaną wadliwie;
— przeliczenie współrzędnych środka okręgu do układu biegunowego: r = 40,0004;
■p=70°00'10"; położenie otworu względem otworu bazowego (środkowego) jest
prawidłowe;
— wyznaczenie okręgu przez punkty 10, 11 i 12 (po transformacji): x{9 = 39,3795; y\ 9 =
=-6,9395; d{9 = 8,0002; po kompensacji otrzymuje się wartość średnicy okręgu: 10,0002;
średnicę okręgu należy uznać za wykonaną prawidłowo;
— przeliczenie współrzędnych środka okręgu do układu biegunowego: - = 39,9863;
φ= 9°59'39"; odległość od osi wykonana wadliwie, położenie kątowe jest prawidłowe;
— wyznaczenie okręgu przez punkty 13, 14 i 15 (po transformacji): X'2Q = 0,0927;
y2 o -0,0373; d2 o = 121,9010; po kompensacji otrzymuje się wartość średnicy okręgu
119,9010; średnicę okręgu należy uznać za wykonaną wadliwie;
— wyznaczenie odchyłki współśrodkowości okręgu zewnętrznego względem otworu bazowego
49
1.6. Podstawy cyfrowej techniki pomiarowej
(1.55)
Rys. 1.20.
Zamiana sygnału analogowego
na cyfrowy (dyskretyzacją i
kwantowanie); r— krok
dyskretyzacji, Ay — krok
cyfrowy
Literatura
Bendat J.S., Piersol A.G. (1976): Metody analizy i pomiaru sygnałów losowych. PWN,
Warszawa.
Bobrowski D. i in. (1981): Przekształcenie Laplace'a i jego zastosowania. Wyd. Politechniki
Poznańskiej, Poznań.
50
Chester T., Alden R.H. (1997): Excel 97. Od podstaw do mistrzostwa. Komputerowa
Oficyna Wydawnicza Help, Warszawa.
Domański Cz. (1990): Testy statystyczne. PWE, Warszawa.
Firkowicz Sz. (1970): Statystyczne badanie wyrobów. WNT, Warszawa.
Jakubiec W. (1991): Metody matematyczne w organizacji i zarządzaniu przedsiębiorstwem
przemysłu maszynowego. Wyd. Politechniki Łódzkiej, Łódź.
JaworskiJ. (1979): Matematyczne podstawy metrologii. WNT, Warszawa.
Jaworski J., Morawski R., Olędzki J. (1992): Wstęp do metrologii i techniki eksperymentu.
WNT, Warszawa.
Kula W. (1970): Miary i ludzie. PWN, Warszawa.
Luszniewicz Α., Słaby T. (2001): Statystyka z pakietem komputerowym Statistica PL. Teoria
i zastosowania. Wydawnictwo C.H. Beck, Warszawa.
Malinowski J. (2000): Międzynarodowy Układ Jednostek Miar. WSiP, Warszawa.
Malinowski J., Jakubiec W. (1991): Laboratorium metrologii wielkości geometrycznych.
Wyd. Politechniki Łódzkiej, Łódź.
Malinowski J., Jakubiec W., Starczak M., Płowucha W. (1997): Sprawdzanie dokładności
w budowie maszyn. Zbiór zadań. WSiP, Warszawa.
Mańczak K. (1979): Metody identyfikacji wielowymiarowych obiektów sterowania. WNT,
Warszawa.
Marciniak Α., Gregulec G., Kaczmarek J. (1992): Basic Numerical Procedures in Turbo
Pascal for Your PC. Wydawnictwo Nakom, Poznań.
Martin P.: Die Grundlagen der Metrologie. SIP, Genewa.
Międzynarodowy słownik podstawowych i ogólnych terminów metrologii (1996). Główny
Urząd Miar, Warszawa.
Migdalski T. (1988): Poradnik niezawodności. WKŁ, Warszawa.
PTB (1997): Die SI — Basiseinheiten. Definition, Entwicklung, Realisierung. Physikalisch-
Technische Bundesanstalt, Braunschweig u. Berlin.
Quinn Τ. J. (1999): Practical realization of the definition of the metre (1997). Metrolgy,
1999,36,211-244.
Ramotowski Z. (1996): Odtwarzanie i przekazywanie jednostki długości w Głównym
Urzędzie Miar. Zeszyty Naukowe PŁ Filii w Bielsku-Białej, Nr 33, Politechnika Łódzka Filia
w Bielsku-Białej, Bielsko-Biała.
SowiAskiA. (1975): Cyfrowa technika pomiarowa. WKŁ, Warszawa.
Vilenkin S. Ja. (tłum.) (1974): Sbornik naućnych programm na FORTRANE. Statistika,
Moskwa.
Wayne Ν. (1992): Applied Life Data Analysis. John Wiley, New York.
Wieczorków ski R., Zieliński R. (1997): Komputerowe generatory liczb losowych. WNT,
Warszawa.
Wyrażanie niepewności pomiaru. Przewodnik. Główny Urząd Miar, Warszawa 1999.
Zieliński R., Zieliński T. (1991): Tablice statystyczne. PWN, Warszawa.
PN-ISO 31-0:2001 Wielkości fizyczne i jednostki miar — Zasady ogólne.
PN-ISO 31-1:2000 Wielkości fizyczne i jednostki miar — Część 1: Przestrzeń i czas.
PN-ISO 31-11:2001 Wielkości fizyczne i jednostki miar — Znaki i symbole matematyczne
do stosowania.
PN-ISO 2602 (1994) Statystyczna interpretacja danych. Estymacja wartości średniej.
Przedział ufności.
PN-ISO 5725-1:2002 Dokładność (poprawność i precyzja) metod pomiarowych i wyników
pomiarów — Część 1: Ogólne zasady i definicje.
Zarządzenie nr 4 Prezesa Głównego Urzędu Miar z dnia 17 stycznia 1994 r. w sprawie
ustalenia nazw, definicji i oznaczeń legalnych jednostek miar. Dziennik Urzędowy Miar i Pro-
biernictwa Nr 2, Warszawa, dnia 25 lutego 1994 r.
Błędy pomiarów
2
2.1. Jakościowa i ilościowa definicja błędu pomiaru
52
Niekiedy błąd pomiaru wyraża się jako błąd względny ε, tj. stosunek błędu
pomiaru δ do wartości prawdziwej wielkości mierzonej yn . Podobnie jak
w zależności (2.2), zamiast wartości prawdziwej stosuje się wartość umownie
prawdziwą
(2.3)
(2.4)
53
2.2. Błędy systematyczne
(2.6)
Poprawka jest równa wartości błędu pomiaru ze znakiem przeciwnym.
Korekcja błędu systematycznego nie może być pełna, ponieważ wartość błędu
systematycznego nie jest znana dokładnie. Sposoby usuwania błędów syste-
matycznych pokazano na rys. 2.1 [Lotze 1969].
54
2.2.1. Likwidacja źródła błędu systematycznego
55
Rys. 2.2.
Błąd temperaturowy w pomiarze metodą
bezpośrednią, spowodowany odstępstwem
temperatury wzorca θ5 i mierzonego przedmiotu
■9 od temperatury odniesienia θο, L,. — długość
wzorca w θο - 20°C , L — długość mierzonego
przedmiotu w θο = = 20°C, θ i 9„ — temperatury
przedmiotu i wzorca podczas pomiaru,
a i as — współczynniki rozszerzalności cieplnej
przedmiotu i wzorca
(2.10)
(2.11)
56
— sprowadzenie odchyleń temperatur do zera Θ - Θν = 0, tzn. wykonanie
pomiaru gdy θ = 20°C oraz Ą = 20°C,
— przyjęcie α = as = 0, co w budowie maszyn jest trudne do zrealizowania;
można jedynie wykonać wzorzec z zeroduru o αν = 0,
— spełnienie warunków a = α ν oraz Θ = Θ ν , tzn. użycie takich samych
materiałów i wykonanie pomiaru po zrównaniu się temperatur.
Ostatni sposób ma największe możliwości realizacji w pomiarach wielkości
geometrycznych.
Wzór (2.14) można przekształcić do postaci sumy dwóch członów
Ą= Z, [(a-a, )©-+«(©-©.)] (2.15)
czyli
(2.16)
δ, = Ls{Sa ■ 0s + a ■ δΘ) Wzór na błąd temperaturowy w postaci
δ, =L,{a-a,№, -20οΟ + 4α(θ-θΛ ) (2.17)
ma następujące zalety:
— δ, jest sumą dwóch członów, co wykorzystuje się przy szacowaniu błędu
temperaturowego,
—■ w pierwszym członie wyrażenie θΛ - 20°C, to odstępstwo temperatury θ, od
20°C; i?, można przyjąć jako równą temperaturze panującej w klimaty-
zowanym laboratorium,
— drugi człon akcentuje potrzebę wyrównania temperatur θ i &x,
— w literaturze [Pressel 1997] błąd temperaturowy, będący składnikiem niepe
wności pomiaru, oblicza się jako sumę geometryczną obu członów, co jest
w zgodzie z intencją dokumentu [Wyrażanie niepewności pomiaru. Prze
wodnik 1999].
Likwidację lub ograniczenie błędu δ, można traktować jako sumę dwóch
niezależnych działań:
1. utrzymanie temperatury w laboratorium blisko 20° C, tzn. minimalizację
składnika L x(a- ą,)(Ą - 20°C),
2. doprowadzenie do maksymalnego wyrównania temperatury przedmiotu
i wzorca przez odpowiednio długie trzymanie mierzonego przedmiotu
w laboratorium o stałej temperaturze; w laboratorium tym są przecho
wywane przyrządy pomiarowe i wzorce; oznacza to minimalizację
składnika L.M θ - Ą).
Błąd temperaturowy w pomiarze metodą różnicową. Procedura pomia-
rowa dzieli się na dwie odrębne części [Hart, Lotze, Woschni 1997]:
1. Wzorcowanie (kalibracja) przyrządu wzorcem (np. stosem płytek wzor
cowych).
2. Pomiar różnicy AL miedzy wymiarami przedmiotu i wzorca. Wymiar
przedmiotu — obciążony jeszcze błędem temperaturowym — przyjmuje się
jako sumę długości wzorca i zmierzonej różnicy ΔΖ (rys. 2.3).
57
kalibracja pomiar
(wzorcowanie)
(2.20)
lub
(2.21)
Ponieważ αΘ « 1 oraz np. α,Θ · ae0 ec i ΔΧαΘ są pomijalnie
małymi wartościami, więc wzór (2.21) można uprościć do postaci
L = Ls(l + as&s)(l-ae0ec)(\ + ae0em)(\-a&) + AL(l-a0) (2.22)
i następnie wykonać przekształcenia
L = Ls (1 - ae0ec + α,Θ, )(1 - αΘ + ae&em) + AL (2.23)
58
Jako wynik pomiaru, bez korekcji błędu temperaturowego, przyjmuje się
Ls + AL. Długość mierzonego przedmiotu w temperaturze 3„ = 20°C wynosi L.
Zatem błąd temperaturowy jest różnicą (Ls + AL)-L. Po wykonaniu odpo-
wiednich podstawień, wzór na błąd temperaturowy ma postać
^=(Ls+^)-L =
(2.26)
= Ls +AL-Ls +Ls [a&-ae(&em -0ec)-as 0s]-AL
który można uprościć
(2.27)
(2.28)
(2.29)
(2.30)
W porownanru ze wzorem (2.15), wzór (2.29) zawrera dodatkowo człon
Oe(&ec - Θ.··.)· Oznacza to, że w przypadku, gdy temperatury przyrządu podczas
kalibracji 3ec i mierzenie 3em sąjednakowe, następuje zerowanie się tego członu.
Jeżeli procedura pomiarowa dopuszcza wykonywanie pomiarów po dłuższym
okresie czasu od kalibracji, nie można wówczas wykluczyć, że 3ec Φ 3em.
Wartości i odchyłki graniczne liniowych współczynników rozsze-
rzalności cieplnej. Do obliczenia błędu temperaturowego jest niezbędna znajo-
mość liniowego współczynnika rozszerzalności cieplnej a, do obliczenia zaś
niepewności wyznaczenia tego błędu — odchyłka graniczna współczynnika aa.
Wartość współczynnika α nie jest dokładnie znana. Wynika to z niepewności
pomiaru współczynnika, jak również z rozrzutu współczynników w różnych
wytopach tego samego gatunku materiału (tabl. 2.1). Używane w budowie
maszyn gatunki stali mają rozpiętość wartości współczynników w przedziale
(10τ14)·10"6 1/°C. Dla nieokreślonego bliżej gatunku stali należy zatem
stosować w obliczeniach wartość α = 12· 10"6 1/°C oraz aa - 2-10"6 1/°C. W
innych, wątpliwych sytuacjach, można przyjąć ogólną zasadę, że aa = a/5
[Hernia, Neumann 1997].
Odchyłki graniczne temperatury. Do pomiaru temperatury badanych
przedmiotów, wzorców i przyrządów pomiarowych używa się termometrów
kontaktowych rtęciowych o wartości działki elementarnej 0,2°C lub termo-
metrów kontaktowych elektrycznych. Na wartość odchyłek granicznych (nie-
pewności) pomiaru temperatury mają istotny wpływ czasowe i przestrzenne
różnice temperatur. Także bezwładność cieplna termometru oraz niedostateczny
kontakt końcówki z chropowatą powierzchnią przedmiotu mają wpływ na
niepewność pomiaru. W przypadku przyjmowania wartości temperatury pomie-
szczenia za temperaturę przedmiotu odchyłka ta jest istotnie większa (tabl. 2.2).
W nieklimatyzowanej hali produkcyjnej odchyłka graniczna może być większa
niż 2°C. Wzorce szklane gorzej przewodzą ciepło niż stalowe dlatego przyjmuje
się dla nich większą wartość odchyłki granicznej [Hernia, Neumann 1997].
59
Niepewność wyznaczenia błędu temperaturowego długości w pomiarze
metodą bezpośrednią. Wprowadzenie poprawki temperaturowej do surowego
wyniku pomiaru nie oznacza, że błąd temperaturowy został całkowicie wyeli-
minowany. Przyczyną tego jest mierzenie temperatur przedmiotu i przyrządu
pomiarowego z pewnymi niepewnościami pomiaru oraz posługiwanie się śred-
nimi wartościami współczynników liniowej rozszerzalności cieplnej. Modelem
matematycznym błędu temperaturowego długości jest funkcja δ((2.14).
(2.31)
Niepewność standardowa
(2.32)
gdzie: ua, u@, uas, ua, to niepewności standardowe pomiarów wartości α, Θ, αν
i ft
Niepewność rozszerzoną wyznaczenia błędu temperaturowego długości ze
współczynnikiem rozszerzenia k = 2 oblicza się według następującego wzoru
(2.33)
Przykład 2.1. Obliczyć poprawkę temperaturową oraz niepewność jej wyznaczenia dla
następujących danych: L = 50 mm, a = 11, 5- 10"6 1/°C (przedmiot ze stali niskostopowej),
<-,= 10.8-10"6 1/°C (przyrządem pomiarowym jest długościomierz uniwersalny ULM 01-600C
firmy Zeiss, z wbudowanym szklanym wzorcem inkrementalnym), θ= 21,70°C, θ, = 19,20°C.
Na podstawie wzoru (2.14) otrzymuje się
61
Przykład 2.2. Obliczyć poprawkę temperaturową oraz niepewność jej wyznaczenia dla
danych z przykładu 2.1 przy założeniu, że pomiar zostanie wykonany przyrządem pomiarowym
z wbudowanym wzorcem inkrementalnym zzeroduru (tabl. 2.1, αν = 0, αα( = 0,05-10"6 1/°C).
Dla odchyłek granicznych zakłada się rozkłady jednostajne. Niepewność rozszerzona (2.33)
Poprawka {p, = - 0,98 μπι) została wyznaczona z niepewnością U, = ± 0,20 μπι. Wyraźnie
widać, że dzięki użyciu przyrządu pomiarowego ze wzorcem z zeroduru niepewność wyznaczenia
poprawki temperaturowej jest mniejsza niż w przypadku pomiaru przyrządem ze wzorcem
szklanym (patrz przykład 2.1); we wzorze (2.33) odpada pod pierwiastkiem człon czwarty,
ponadto człon trzeci jest mniejszy.
Błędy systematyczne odkształceń sprężystych. Odkształcenia sprężyste
pochodzące od nacisków pomiarowych można wyeliminować, stosując pomiary
stykowe z naciskiem pomiarowym równym zeru. Nie zawsze będzie to jednak
w pełni korzystne, chociaż mogłoby się wydawać, że dzięki temu uniknie się
błędów oraz zaoszczędzi wysiłek konieczny do wyznaczania poprawek. Nacisk
pomiarowy spełnia na ogół pożyteczną rolę, bowiem:
— przez zetknięcie końcówki pomiarowej z mierzonym przedmiotem
następuje przebicie lub odsunięcie cienkiej warstewki tłuszczu oraz innych
drobnych zanieczyszczeń, względnie zlikwidowanie szczeliny powietrznej
na powierzchni styku,
— powoduje pokonanie oporów tarcia oraz skasowanie luzów w ruchomych
częściach przyrządu pomiarowego,
— wywołuje zrównoważenie ciężaru ruchomych części przyrządu pomia
rowego, dzięki czemu przyrząd może być użyty w różnych położeniach.
Odkształcenia występujące w procesie pomiaru nie mogą mieć charakteru
odkształceń plastycznych. Wartość odkształcenia zależy głównie od wartości
nacisku pomiarowego i promieni krzywizn.
Wzory do obliczania sprężystych spłaszczeń (tabl. 2.3) obejmują przypadki,
gdy zarówno mierzony przedmiot, jak i końcówka pomiarowa lub stolik
pomiarowy są wykonane ze stali o module sprężystości wzdłużnej E=2,1105
MPa (N/mm2) [Warnecke, Dutschke 1984].
W celu uniknięcia błędów spowodowanych naciskami pomiarowymi na-
leży:
— stosować przy wzorcowaniu i podczas pomiaru jednakowe naciski pomia
rowe,
— używać wzorców o takim samym kształcie, materiale (module sprężystości
wzdłużnej E) i chropowatości powierzchni jak mierzony przedmiot,
— unikać końcówek pomiarowych kulistych o małym promieniu krzywizny
i posługiwać się raczej końcówkami pomiarowymi o promieniach dużych,
np. r = 50 mm,
— dobierać naciski pomiarowe nie powodujące nadmiernych spłaszczeń.
62
Przykład 2.3. Obliczyć poprawkę ρ na spłaszczenie sprężyste w pomiarze drutu stalowego
o średnicy nominalnej D — 0,1 mm. Podczas pomiaru użyto czujnika z końcówką pomiarową
krawędziową (pryzmatyczną) o szerokości L = 1 mm. Nacisk pomiarowy wynosił Ρ = 2 Ν.
Obliczenia należy przeprowadzić wg wzoru z tabl. 2.3 i uwzględnić fakt, że drut znajduje się
między dwiema płaszczyznami.
11
Spłaszczenia otrzymuje się w μπι, jeśli we wzorach średnice (d, D) kul i walców oraz
długość (L) styku wałka z płaszczyzną lub drugim walcem wyraża się w mm, a nacisk
pomiarowy (P) podaje się w N.
63
biega przez środek ciężkości przekroju. Rzut L' warstwy obojętnej na płasz-
czyznę poziomąjest krótszy od L [Tomaszewski 1978].
Rys. 2.4.
Ugięcie i skrócenie podpartego pręta o
długości L
W celu uzyskania
warunków umożliwiających
ograniczenie błędu syste-
matycznego lub obliczenie poprawek, wzorce w kształcie prętów podpiera się
w wybranych punktach na wałeczkach o małej średnicy lub podporach
nożowych (tabl. 2.4).
Tablica 2.4. Sprężyste ugięcie pręta o jednakowym przekroju podpartego symetrycznie w
punktach charakterystycznych
64
Skrócenie lub wydłużenie pręta wzdłuż osi pomiarowej, spowodowane
własnym ciężarem oraz naciskiem pomiarowym, można obliczyć, opierając się
na prawie Hooke'a. Zmiana długości wskutek działania własnego ciężaru
(2.34)
gdzie: ZLŁ 1; ZLL2 — zmrany długości, μπι; L — długość pręta, mm; f — nacisk
pomiarowy. Ν; γ — ciężar właściwy, N/mm3 (dla stali ^ = 7,710"5 N/mm3); E
— moduł sprężystości wzdłużnej, MPa (dla stali E = 2,1-105 MPa); S — pole
przekroju, mm2.
Istnieją wzory umożliwiające obliczenie ugiąć smukłych elementów
zarówno pod wpływem nacisku pomiarowego, jak i własnego ciężaru.
Wykorzystuje się je do obliczania ugięć elementów przyrządów pomiarowych
lub mierzonych przedmiotów. Całkowite ugięcie spowodowane obu rodzajami
obciążeń jest równe sumie ugięć składowych.
W pomiarach metodą różnicową pożądane jest, aby różnica wartości
nacisku pomiarowego przy nastawieniu przyrządu według wzorca i w czasie
pomiaru została zredukowana do minimum. Można to osiągnąć przez:
— ograniczenie tolerancji wahań nacisku pomiarowego dla wskazań w za
kresie podziałki,
— wykorzystanie małej części zakresu podziałki przyrządu dzięki użyciu
wzorca niewiele różniącego się od wartości wielkości mierzonej.
Sprężyste odkształcenia szczek i kabłąków przyrządów pomiarowych
i sprawdzianów, wywołane naciskiem pomiarowym i własnym ciężarem, można
obliczyć lub wyznaczyć doświadczalnie.
Konstrukcja przyrządu pomiarowego. Likwidacja lub ograniczenie źródła
błędu systematycznego przez zastosowanie odpowiedniej konstrukcji przyrządu
pomiarowego wymaga poznania tego źródła i odpowiedniego zapobieżenia
zależnie od przyrządu, metody pomiarowej i sposobu pomiaru. Możliwość
stosowania różnych rozwiązań w pomiarach długości pokazano w trzech
przykładach.
Przykład 2.4. W przyrządach pomiarowych należy stosować — w miarę możliwości —
zasadę Abbego, która głosi, że wzorzec i mierzony wymiar powinny być usytuowane w jednej osi,
jeden za drugim (np. zasada Abbego jest przestrzegana w długościomierzach uniwersalnych firmy
Zeiss, natomiast konstrukcja suwmiarki w pomiarach wymiarów zewnętrznych lub wewnętrznych
pozostaje w sprzeczności z tą zasadą).
Przykład 2.5. Urządzenie z elektronicznym wskaźnikiem styku do pomiarów bezna-
ciskowych umożliwia pomiar, w którym nie występują ugięcia trzpienia końcówki pomiarowej
przy styku prostopadłym do osi trzpienia.
Przykład 2.6. Odchyłkę współosiowości osi obrotu wskazówki względem środka koła
podziałki kreskowej przyrządu pomiarowego, powodującą błędy wywołane niewłaściwym
położeniem wskazówki na tle podziałki, koryguje się podczas adiustacji przyrządu.
65
2.2.2. Kompensacja błędów systematycznych
Stąd
66
— temperaturowe — po uprzednim zmierzeniu temperatur przyrządu i przed
miotu oraz dokonaniu niezbędnych obliczeń według znanego wzoru,
— odkształceń sprężystych — przy znanych naciskach pomiarowych i po
dokonaniu niezbędnych obliczeń,
— wskazań przyrządów pomiarowych o wyznaczonych doświadczalnie
poprawkach podanych w postaci tabel lub wykresów (długościomierze,
mikroskopy uniwersalne, czujniki itp.).
Korekcja poprawkami surowego wyniku pomiaru nie likwiduje jednak
całkowicie błędów systematycznych, gdyż poprawki zostały wyznaczone z pew-
nymi niepewnościami; niepewności te należy uwzględnić przy obliczaniu nie-
pewności pomiaru.
67
leżą w dużym stopniu błędy obserwacji, jest ludzkie oko. Zdolność przysto-
sowania się do ostrego widzenia przedmiotu z różnych odległości zawdzięcza
oko możliwości kurczenia się lub rozluźniania soczewki (akomodacja oka).
Wskutek niedoskonałości oka, dwóch obserwatorów inaczej oceni koin-
cydencję kresek lub położenie kreski krzyża między dwiema kreskami wzorca
kreskowego. Takie osobowe błędy wynikają z indywidualnego pojmowania
przez obserwatorów koincydencji lub interpolacji. Jeżeli wynikiem pomiaru jest
różnica dwóch wskazań przyrządu — co w pomiarach wielkości geome-
trycznych najczęściej zachodzi — wówczas taki osobowy błąd nie musi być
uwzględniany. Z faktu istnienia błędów osobnych obserwacji wynika jednak, że
pełny pomiar powinien wykonywać ten sam obserwator. Jest niedopuszczalne,
aby przy wykonywaniu serii pomiarów, tym samym przyrządem pomiarowym,
zmieniali się obserwatorzy [Zill 1972].
Przy doświadczalnym wyznaczaniu odchylenia standardowego empi-
rycznego rozrzutu wskazań przyrządu (s), część wartości tego odchylenia
stanowią błędy odczytania wskazań serii pomiarów. W podawanym, przez
producenta przyrządu pomiarowego, odchyleniu standardowym empirycznym
(s) jest zawsze zawarty udział „średniego" obserwatora [Zill 1972].
Źródłem pochodzenia niepewności nastawienia optycznego i odczytywania
wskazań jest budowa oka. Warunkiem dostrzeżenia przez oko dwóch punktów
lub dwóch równoległych kresek jako osobnych elementów, jest obserwowanie
tych punktów lub kresek, gdy tworzą one kąt -pco najmniej równy Γ. Kąt c?nosi
nazwę fizjologicznego kąta widzenia. Kąt φ = 1' dotyczy zdrowego oka, inten-
sywnego patrzenia i dobrego natężenia oświetlenia (50 do 250 lx). W praktyce
metrologicznej kąt -^przyjmuje się równy 2' [Zill 1972, Malinowski 1974].
Najmniejsza odległość, z której oko najwyraźniej widzi obserwowany
przedmiot, wynosi u młodszych osób 250 mm i nazywa się odległością dobrego
widzenia. U osób starszych dolna granica odległości dobrego widzenia wynosi
co najmniej 350 do 400 mm. Mimo tego powszechnie za wartość odległości do-
brego widzenia przyjmuje się 250 mm, wartość ta bowiem była i jest stosowana
we wszelkich obliczeniach parametrów optycznych [Hodam 1966]. W odle-
głości dobrego widzenia odcinek obserwowany pod kątem φ = 1' wynosi około
0,075 mm (x = 250 mm · tg 1' « 0,075 mm).
Bezpośrednio można odczytać wskazania, gdy wskazówka pokrywa się
z kreską podziałki. W metrologii przyjmuje się jednak, że gdy wskazówka znaj-
duje się między dwiema sąsiednimi kreskami działki elementarnej, dokonuje się
interpolacji wzrokowej. Aby dzielić działkę do dziesiątej części, musi ona być
w przybliżeniu co najmniej dziesięć razy większa od odcinka odpowiadającego
kątowi φ, a więc powinna wynosić (rys. 2.5)
(2.38)
Rys. 2.5.
Długość działki elementarnej
68
W praktyce na ogół odległość ta nie jest mniejsza niż Lc = 1 mm. Jeżeli
podziałka kreskowa jest obserwowana przez optyczne urządzenie powiększające
(najczęściej lupę), wówczas rzeczywista długość działki elementarnej Leo w mm
może być odpowiednio mniejsza
(2.39)
69
— pokrycie przerywanej kreski krzyża okularu głowicy goniometrycznej
mikroskopu z obrazem boku zarysu gwintu podczas pomiaru kąta gwintu.
Błędy odczytania. Błąd odczytania wynika z niepoprawnego odczytania
wskazania przyrządu pomiarowego — jest to niezgodność wartości odczytanej
z wartością wskazaną przez przyrząd pomiarowy. Błędy odczytania dzieli się na
błędy:
— interpolacji,
— koincydencji,
— środkowego położenia kreski wzorca w bisektorze,
— paralaktyczne.
Błćjrd interpolacji jest to błąd spowodowany niedokładną oceną położenia
wskazówki przyrządu pomiarowego względem dwóch sąsiednich wskazów,
między którymi znajduje się wskazówka (rys. 2.7a). Błąd jednorazowej inter-
polacji — przy dzieleniu działki elementarnej na dziesięć części —
można obliczyć według wzoru
(2.41)
przy czym współczynnik α oblicza się według wzoru [Hodam 1966]
(2.42)
70
Błąd koincydencji e^ = ±0,02 mm jest granicznym błędem urządzenia
odczytowego zwanego noniuszem.
Błąd środkowego położenia kreski wzorca w bisektorze wynika z nie-
symetrycznego objęcia równoległymi kreskami kreski podziałki (rys. 2.8).
Dzięki czułości oka na symetrię, kąt dostrzeżenia braku symetrii jest mniejszy
niż w przypadku koincydencji i wynosi ~ 5". W przeliczeniu na długość w bez-
pośredniej obserwacji błąd ten wynosi
ebis * ±0,006 mm (2.46)
Rys. 2.8. Powstawanie błędów środkowego położenia kreski w bisektorze: a) tworzenie bisektora przy
użyciu pary kresek, b) symetryczne pokrywanie grubymi przerywanymi kreskami kreski podziałki, c)
użycie krzyża do symetrycznego nastawienia
Przy odczytywaniu
Rys. 2.9.
Powstawanie błędu
paralaktycznego
wskazań z przyrządu
pomiarowego przesunięcia
oczu w lewo lub prawo od
pionowego kierunku patrzenia mogą wynosić około 50 mm, tj. a~ 11-12°
[Hodam 1966]. Błąd oblicza się według wzoru
(2.47)
wartość działki elemen-
gdzie: d — odległość wskazówki od podzielni, We
tarnej, Le — długość działki elementarnej.
71
Całkowity błąd odczytania e0, składający się z błędu interpolacji i para-
laktycznego, można obliczyć wg wzoru
72
Ze wzorów (1.1) i (1.26) wynika, że
Z przykładu 2.8 wynika, że dla zmiennej losowej o rozkładzie normalnym
w tzw. przedziale dwusigmowym, tzn. w przedziale (μ- 2σ, μ + 2σ) można się
spodziewać wystąpienia 95% realizacji tej zmiennej losowej.
Przykład 2.9. Wiadomo, że rozkład błędu przypadkowego pewnego pomiaru jest normalny
z parametrami μ — 0 i σ. W celu zmniejszenia błędu przypadkowego zdecydowano się wykonywać
po η powtórzeń każdego pomiaru i jako wynik przyjmować średnią arytmetyczną. Po ile pow-
tórzeń należy wykonywać, by błąd przypadkowy zmniejszyć trzykrotnie?
Wstawiając do wzoru (1.29) za awartość σχβ, otrzymuje się
74
dowe błędy systematyczne powodowane przez różne elementy konstrukcyjne
przyrządu pomiarowego mogą być zarówno dodatnie, jak i ujemne. W związku
z tym w licznej grupie tego samego typu przyrządów pomiarowych błędy te
traktuje się jak przypadkowe, które łącznie z faktycznymi błędami przypad-
kowymi tworzą rozkład reprezentujący nieodłączne błędy dokładności. Niekiedy
w celu zaakcentowania, że błędy te zostały wyznaczone na określonym pozio-
mie ufności P, liczbę oznaczającą ten poziom umieszcza się w indeksie symbolu
(np. MPE95 oznacza błędy graniczne dopuszczalne przy P = 0,95).
W większości przypadków błędy graniczne dopuszczalne podaje się
w postaci liniowej funkcji mierzonej długości L: MPE = ±(A + BL). Zwykle stałe
A i Β są tak dobrane, że L podaje się w mm, natomiast wynik (MPE) otrzymuje
się w μηι. Zakłada się, że w praktyce błędy rzeczywiste pomiaru nie przekroczą
wartości błędów granicznych dopuszczalnych. Przykłady 2.12 i 2.13 pokazują,
w jaki sposób wyznacza się wartości stałych A i B.
75
gdzie: (α - a,,) — średnia różnica wynikająca z tolerancji zarówno a, jak i a,,; (Ą - 20°C) —
dopuszczalne odstępstwo temperatury &e przyrządu pomiarowego od 20°C; (θ- Ą) — największa
dopuszczalna różnica temperatur przedmiotu θ i przyrządu pomiarowego Ą; a — nominalna lub
górna wartość współczynnika rozszerzalności cieplnej mierzonego przedmiotu.
240
Kreskę pomocniczą krzyża głowicy goniometrycznej pokrywa się z ryską na nożyku
pomiarowym (rys. 2.10). W pomiarze uczestniczą dwa nożyki i dwie kreski pomocnicze, położone
symetrycznie względem centralnej kreski krzyża. Na oszacowany błąd niepokrywania się kreski
centralnej krzyża z ostrzem stykającego się z wałkiem nożyka (po pokryciu kreski pomocniczej z
ryską na nożyku) składają się odchyłki graniczne odległości ryski od ostrza nożyka (er) oraz
odległości pomocniczej kreski od kreski centralnej głowicy goniometrycznej (e^,)· Odchyłki er
i βή, są w istocie technologicznymi odchyłkami granicznymi odpowiednich odległości, można
zatem przyjąć, że oszacowane błędy na poziomie ufności Ρ = 0,95 wyniosą ±2/3er oraz ±2/3^.
Oznacza to, że nastawienie bezbłędne pomocniczej kreski przerywanej na ryskę idealnego nożyka
zapewnia pokrycie się ostrza nożyka z centralną kreską okularu z błędem ±1/3 μηι. Zatem przy
użyciu rzeczywistego nożyka centralna kreska okularu pokryje się z ostrzem nożyka z osza-
cowanym błędem
Rys. 2.10.
Pomiar średnicy wałka zamocowanego w
kłach, mikroskopem pomiarowym z użyciem
nożyków; / — mierzony wałek, 2 — nożyk
pomiarowy, 3 — kreska centralna krzyża głowicy
goniometrycznej, 4 — kreska pomocnicza
pokrywająca się z ryską na nożyku, 5 — tworząca
mierzonego wałka (kontur przedmiotu), 6 — ryska
na nożyku, k — odległość ryski od ostrza nożyka,
d— średnica mierzonego wałka
Dzięki odpowiedniemu nastawieniu kresek
pomocniczych krzyża głowicy (odległych 0,3 lub 0,9
mm od kreski centralnej) na ryski nożyków różnica wskazań w pomiarze nie wymaga
przeprowadzenia korekcji wyniku o 2 ■ 0,3 mm mm lub 2 · 0,9 mm. Oszacowanego błędu e^ nie
można zmniejszyć przez wykonanie serii pomiarów, ma on bowiem charakter systematyczny, przy
czym popełniany jest po obu stronach osi mierzonego walka.
Odległość tworzących wałka jest różnicą dwóch wskazań (stąd cyfra 2 przed nawiasami we
wzorze na A), za wynik pomiaru zaś — zgodnie z instrukcją firmy — przyjmuje się średnią
arytmetyczną dwukrotnego (n = 2) pomiaru tej odległości, zatem stałaś ze wzoru (10.14) wynosi
76
Ostatecznie
L
= ±1,2 + i,
154
gdzie L podstawia się w mm.
Wzór podawany przez firmę Zeiss (wzór (10.14), tabl. 10.9) ma postać
77
78
Punktem wyjścia przy wyznaczaniu niepewności pomiaru jest stwierdzenie,
że parametr ten zawiera na ogół wiele składników. Przyjmuje się ponadto, że ka-
żdy składnik niepewności można scharakteryzować odchyleniem standardowym.
Przez pojęcie niepewność standardowa rozumie się niepewność wyrażoną
w formie odchylenia standardowego. Do obliczania niepewności wykorzystuje
się dwie metody. Metoda A polega na obliczaniu niepewności drogą analizy
statystycznej serii pojedynczych wyników pomiarów; metoda Β wykorzystuje
inne sposoby niż analiza serii obserwacji. Niepewność standardowa złożona
(HC) jest niepewnością standardową wyniku pomiaru, gdy wynik ten jest
otrzymany z wartości pewnej liczby innych wielkości. Niepewność rozszerzona
(U) to wielkość określająca — powiązany z pewnym poziomem ufności — prze-
dział wokół wyniku pomiaru, od którego to przedziału oczekuje się, że obejmie
dużą część rozkładu wartości, które w zasadniczy sposób można przypisać
wielkości mierzonej ^Wyrażanie niepewności pomiaru. Przewodnik 1999]j
Metoda A to sposób szacowania niepewności standardowej za pomocą
analizy statystycznej. Praktycznie wchodzą w grę następujące trzy przypadki: —
jeżeli wykonano η (n > 10) pomiarów, dla których obliczono wartość
średnią χ i odchylenie standardowe eksperymentalne s, to za wynik
przyjmuje się x, a związany z powtarzalnością składnik niepewności
standardowej u oblicza się wg wzoru
(2.53)
(2.54)
(2.55)
79
z literatury. Niepewności standardowe typu Β w dalszych obliczeniach trak-
towane są tak samo jak niepewności standardowe typu A.
Dane wejściowe do metody Β stanowi jeden z poniższych zestawów:
— założenie, że dany wpływ ma rozkład normalny i znana jest niepewność
oraz związany z nią poziom ufności (rys. 2.12),
— założenie, że dany wpływ ma znany rozkład (inny niż normalny), tzn. znany
jest charakter rozkładu i zakres ±a możliwych błędów.
W pierwszym przypadku problem sprowadza się do wyliczenia na pod-
stawie znanej wartości a i poziomu ufności P, przy założeniu rozkładu
normalnego, wartości współczynnika k, przez który należy podzielić wartość a,
żeby otrzymać niepewność standardową u. Formalnie sprowadza się to do roz-
wiązania równania 2Φ^)-1 = P i obliczenia u
(2.56)
Dla poziomu ufności 0,90, 0,95 i 0,99 wartości współczynnika k wynoszą
odpowiednio 1,64, 1,96 i 2,58.
Rys. 2.12.
Szacowanie metodą typu Β na podstawie założenia rozkładu
a χ
normalnego
W drugim przypadku na podstawie znajomości
zjawiska przyjmuje się jako model jeden z wymienionych rozkładów: trójkątny,
jednostajny (prostokątny, równomierny), antymodalny V lub antymodalny U
(rys. 2.13).
o)
Rys. 2.13.
Postaci rozkładów wykorzystywane dla celów szacowania
metodąB: a) trójkątny, b) jednostajny, c) antymodalny V, d)
antymodalny U
80
Niepewności standardowe u oblicza się wg wzoru
Tablica 2.6. Wartości współczynnika k i b do szacowania
niepewności metodą typu Β
(2.57)
(2.58)
81
nadzorowania przyrządów pomiarowych) zaniedbując inne składniki, jak na
przykład składniki pochodzące od warunków w jakich wykonywany jest pomiar,
od zastosowanej strategii pomiaru czy od mierzonego przedmiotu.
Praktyczne wykorzystanie reguł wyznaczania niepewności wg przewodnika
ISO przedstawiono w przykładach.
Przykład 2.14
• Przedmiot mierzony: wykonać pomiary wymiaru lokalnego (dwupunktowego) serii
stalowych wałków o średnicy nominalnej 20 mm (/ = 100 mm); tolerancja walcowości
mierzonych wałków wynosi TF = 1 μηι.
• Środki pomiarowe: pomiar metodą bezpośrednią mikrometrem zewnętrznym o zakresie
0-25 mm, z płaskimi końcówkami pomiarowymi, z analogowym urządzeniem wskazu
jącym, o wartości działki elementarnej We = 10 μπι.
• Warunki pomiaru: temperatury wałka i mikrometru zmieniają się w czasie; odchyłki
graniczne, od temperatury odniesienia (20°C), wynoszą+3°C.
• Obserwator (operator): podczas pomiarów będą popełniane błędy interpolacji wskazań na
podziałce bębna mikrometru; obserwator dołoży starań, aby nie popełniać błędu
paralaktycznego.
• Strategia pomiaru: przyjmuje się dwa warianty pomiaru.
1. Pomiar zostanie wykonany sprawdzonym mikrometrem, o którym jedynie wiadomo, że jego
zaobserwowane odchyłki i błędy nie przekraczają wartości dopuszczalnych.
2. Pomiar zostanie wykonany mikrometrem, który został sprawdzony i zakwalifikowany do
użytkowania: protokół kalibracji wraz z wartościami zaobserwowanych błędów i odchyłek
jest znany obserwatorowi. W wybranym do pomiarów mikrometrze stwierdzone błędy
i odchyłki są mniejsze od dopuszczalnych.
82
Niepewność standardowa wskazań mikrometru zewnętrznego u(Lc)
Zgodnie z PN-82/M-53200 dla mikrometrów zewnętrznych o zakresie pomiarowym
0-25 mm przyjmuje się:
— tolerancja płaskości powierzchni pomiarowych wrzeciona i kowadełka Tp = 0,9 μπι,
— tolerancja równoległości powierzchni pomiarowych wrzeciona i kowadełka Tr = 2 μηι,
— dopuszczalne błędy mikrometru f, = ±A μπι.
W mikrometrze zastosowanym w pomiarach według wariantu 2 stwierdzono następujące wartości
odpowiednich wielkości: 0,4 μπι, 1 μπι i ±2 μιτι.
83
Wariant 1: u(Tr) = 0,5 · Tr ■ b = 0,5 · 2 · 0,5 μηι = 0,5 μΐη
Wariant 2: u(7;) = 0,5 · 0,5 μΐη - 0,25 μπι
4. Składnik pochodzący od niepewności odczytania wskazania mikrometru — metoda Β
Składnik obejmuje błąd interpolacji ei„, = a„ = 0,1 We = 0,1 ■ 0,01 mm = 1 μπι. Zakłada się rozkład
błędów jednostajny, czyli u(o) = a0 ■ b = 1 · 0,58 μπι.
84
Złożona wariancja może być obliczona wg wzoru: u2(D) = u2(Le) + L]&2u2(Sa) + L2.al2H2 (<59)
Wariant 1: u 2(£>) = 6,85293 μπι2 Wariant2: u2(D) = 2,30363 μπι2
Niepewność standardowa złożona wynosi:
Wariant 1: uc(D) = 2,618 μπι
Wariant 2: uc(£>) = 1,518 μπι
Z kolei niepewność rozszerzona (k= 2) wynosi:
Wariant 1: U = 5,236 μηικ5μηι
Wariant 2: U= 3,036 μπι « 3 μπι
Wnioski.
Niepewność rozszerzona w 2 wariancie (3 μπι) jest wyraźnie mniejsza od niepewności
w 1 wariancie (5 μπι). Zakłada się, że w pomiarze dwupunktowym odchyłka walcowości wałka
(tolerancja TF = 1 μηι) nie wpłynie na wzrost niepewności pomiaru. Gdyby jednak wpływ
odchyłki kształtu należało włączyć do niepewności pomiaru, wówczas przy obliczaniu wariancji
tego składnika trzeba wykorzystać informację o TF. Tolerancja TF dotyczy promienia wałka,
w skrajnym więc przypadku, odchyłka na średnicy wałka może wynosić dwukrotnie więcej.
Zakłada się jednostajny rozkład odchyłek.
85
Do celów budowy modelu matematycznego założono, że statyw wraz z czujnikiem mogą zmienić
temperaturę w czasie miedzy wzorcowaniem i pomiarem różnicy wymiarów w. W czasie wzor-
cowania następuje przeniesienie wymiaru wzorca na układ statyw-czujnik:
Rys. 2.14.
Pomiar średnicy wałka metodą
różnicową: a) ustawienie czujnika
na stosie płytek wzorcowych i
odczytanie wskazania w ■„ b)
ustawienie czujnika na
mierzonym przedmiocie i
odczytanie wskazania w>2; 1 —
czujnik, 2 — stos płytek
wzorcowych, 3 — przedmiot
mierzony, 4 — statyw
86
Na tym etapie można sformułować następujące spostrzeżenia:
— każdy zbiór warunków temperaturowych z tabl. 2.9 może być realizowany w odpowiedniej
wersji procedury pomiarowej. Zakłada się przy tym, że istnieje możliwość zmierzenia
temperatury i są znane współczynniki rozszerzalności cieplnej wzorca, przyrządu pomia
rowego i mierzonego przedmiotu.
— przyjmuje się na ogół, że pomiar różnicy w następuje bezpośrednio po wzorcowaniu przy
rządu. Przy takim założeniu można przyjąć, że 0ec = 0e„„ tzn. temperatura przyrządu podczas
mierzenia nie ulega zmianie.
— warunek Θ κ . = 0e„, oznaczony w tabl. 2.9 numerem 6 może ulec zmianie podczas
wielokrotnych, seryjnych, długo trwających pomiarów. W takiej sytuacji należy odpowiednio
często wykonywać operację wzorcowania przyrządu i w pełni nadzorować temperaturowe
składniki związane z obiegiem pomiarowym (przedmiot, wzorzec, przyrząd).
Wyrównanie przed pomiarem temperatury przedmiotu i wzorca prowadzi do stosowania
wariantów 1 i 3 procedury pomiarowej (tabl. 2.9). Przykładowe obliczenia niepewności pomiaru
będą dotyczyły tych dwóch przypadków.
88
89
Wariant ΙΑ. Średnia z 4 pomiarów w =2,76μπι; wobec tego Δ = 2,76. Wartość błędu granicz-
nego według wzoru na błędy graniczne dopuszczalne dla tego czujnika wynosi więc 0,2276 μπι.
Wariant IB. Średnia z 4 pomiarów w = -27,24μηι; wobec tego Δ = 27,24. Wartość błędu gra-
nicznego obliczona według wzoru na błędy graniczne dopuszczalne dla tego czujnika wynosi więc
0,4724 μπι.
90
ο)
Rys. 2.15. Wpływ odchyłek kształtu i strategii pomiaru na niepewność pomiaru: a) w przypadku
owalności wymiar mierzony dwupunktowo może być mniejszy o 2Δ od wymiaru powłoki, b) w
przypadku trójgraniastości wymiar mierzony dwupunktowo jest mniejszy o Δ od wymiaru powłoki; /
— wymiar powłoki, 2 — wymiar minimalny dla przypadku owalności, 3 — wymiar maksymalny
dla przypadku owalności, 4 — wymiar dwupunktowy (jednakowy w każdym położeniu kątowym)
dla przypadku trójgraniastości, Δ — odchyłka walcowości
91
Niezależnie od przyjętego wariantu niepewność pomiaru jest taka sama. Można to wytłumaczyć
tym, że oszczędności poczynione na zmniejszeniu liczby płytek wzorcowych zostały zużyte przez
większą niepewność pomiaru czujnikiem. Ponadto okazało się, że znaczący wpływ na niepewność
mają odchyłki kształtu mierzonego przedmiotu.
Złożona niepewność pomiaru — wariant 3
Do pomiaru użyto płytek wzorcowych ceramicznych (z dwutlenku cyrkonu) o współ-
czynniku a = (9,5 ± 1)·ΚΓ* 1/°C (tabl. 2.1). Zakłada się wyrównanie temperatur
przedmiotu i wzorca oraz δΘ,., = 0. Zatem a - as.Φ 0 oraz δΘ = Θ - &„ = 0. Średnica D jest
następującą funkcją wielkości wejściowych:
D = l„+w-1 „(δα ■ Θ ί + α δ Θ + ae ·δθ,) =
= l „ + w- l „ [ ( a - a s ) & s + c
92
2.5. Błędy nadmierne
Literatura
93
Malincrwski J., Jakubiec W., Wojtyta M., Brylski M. (2003): Model matematyczny i nie-
pewność pomiaru średnicy wałka z użyciem czujnika pomiarowego i płytek wzorcowych. X
Krajowa, I Międzynarodowa Konferencja „Metrologia w technikach wytwarzania", Kraków.
Międzynarodowy słownik podstawowych i ogólnych terminów metrologii (1996). Główny
Urząd Miar, Warszawa.
Muciek M. (2003): Mathematical models of measurement uncertainty propagation in indirect
measuremenets. Metrology and Measuremenet Systems Volume X — nr 2/2003
Obalski J. (1966): Podstawy metrologii. Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, War-
szawa.
Pfeifer T. (2001): FertigungsmeBtechnik. 2. Auflage, Oldenbourg Verlag, Miinchen Wien.
Pressel H.-G. (1997): Genau messen mit KoordinatenmeBgeraten, Grundlagen und
Praxistips fur Anwender. Expert Verlag, Reunningen-Malmsheim.
Ratajczyk E. (red.) (1980): Laboratorium wielkości geometrycznych. Wydawnictwa
Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
Schalz K.-J. (1990): Thermo-Vollfehler-Korrektur fur Koordinatenmessgerate. Feinwerk-
technik und MeBtechnik 98 (1990) 10.
Tomaszewski A. (1978): Podstawy nowoczesnej metrologii. WNT, Warszawa.
Trumpold H. (1984): Langenpriiftechnik — eine Einfuhrung. VEB Fachbuchverlag, Leipzig.
Wamecke H.J., Dutschke W. (red) (1984): FertigungsmeBtechnik. Handbuch fur Industrie
und Wissenschaft. Springer Verlag, Berlin.
Wolniewicz E. (1978): Pomiary interferencyjne. Systemy wzorców długości. Politechnika
Warszawska, Warszawa.
Wyrażanie niepewności pomiaru. Przewodnik (1997): Główny Urząd Miar, Warszawa.
Zill H. (1974): Messen und Lehren im Maschinenbau und in der Feingeratetechnik. VEB
Verlag Technik, Berlin.
PN-EN ISO 3650 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS). Wzorce długości. Płytki
wzorcowe.
PN-ISO 5725-1:2002 Dokładność (poprawność i precyzja) metod pomiarowych i wyników
pomiarów — Część 1: Ogólne zasady i definicje.
PN-ISO 5725-2:2002 Dokładność (poprawność i precyzja) metod pomiarowych i wyników
pomiarów — Część 2: Podstawowa metoda określania powtarzalności i odtwarzalności
standardowej metody pomiarowej.
PN-ISO 5725-3:2002 Dokładność (poprawność i precyzja) metod pomiarowych i wyników
pomiarów — Część 3: Pośrednie miary precyzji standardowej metody pomiarowej.
PN-ISO 5725-4:2002 Dokładność (poprawność i precyzja) metod pomiarowych i wyników
pomiarów — Część 4: Podstawowe metody wyznaczania poprawności standardowej metody
pomiarowej.
ISO 5725-6:1994: Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results —
Part 6: Use in practice of accuracy values.
Klasyfikacja i właściwości metrologiczne
przyrządów pomiarowych i wzorców miar
3
3.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar
95
min „narzędzia pomiarowe" stosowano w znaczeniu nadrzędnym, obejmującym
„przyrządy pomiarowe" i „wzorce miar".
Wzorzec miary jest to urządzenie przeznaczone do odtwarzania, prakty-
cznie niezmiennie podczas jego użycia, jednej lub więcej znanych wartości
danej wielkości.
W pomiarach długości i kąta rozróżnia się:
— wzorce miar kreskowe, np. przymiar kreskowy, wzorzec szklany wbudo
wany w długościomierz uniwersalny,
— wzorce miar końcowo-kreskowe, np. przymiar kreskowy, który odtwarza
wartość długości od grani początkowej do odpowiedniej kreski podziałki,
— wzorce miar inkrementalne,
— wzorce miar kodowe, mające naniesiony na liniał lub tarczę kod w postaci
kombinacji figur geometrycznych,
— wzorce miar końcowe, np. płytka wzorcowa, wałeczek pomiarowy, kąto
wnik krawędziowy,
— wzorce miar falowe, np. długość fal świetlnych kryptonu, helu lub lasera
He-Ne.
Sprawdziany są to urządzenia techniczne przeznaczone do ściśle określo-
nych zadań; służą do stwierdzenia, czy badany wymiar jest zawarty między
wymiarami granicznymi, tj. dolnym i górnym (np. sprawdzian szczękowy dwu-
graniczny do wałków), mogą też służyć do sprawdzania kształtów elementów
(np. szablony łuków) lub elementów o złożonej postaci geometrycznej (np.
sprawdziany do gwintów).
Oprócz przyrządów pomiarowych i wzorców miar w pomiarach stosuje się
urządzenia pomocnicze. Służą one do stworzenia odpowiednich warunków przy
pomiarze, ułatwienia wykonywania czynności pomiarowych oraz do zwiększe-
nia czułości lub zakresu pomiarowego przyrządu. Przykładem urządzeń pomoc-
niczych są przybory pomocnicze do płytek wzorcowych, umożliwiające m.in.
zamianę wymiaru zewnętrznego stosu płytek na wymiar wewnętrzny, zbudo-
wanie „sprawdzianu" do otworów, wzorca kreskowego, cyrkla traserskiego itp.
Inne przykłady urządzeń pomocniczych to płyta pomiarowa, liniał krawędziowy,
liniał sinusowy, wieszak do wałeczków przy pomiarze średnic podziałowych
gwintów, lupa do odczytywania wskazań, kolumna z uchwytem czujnika,
pryzma.
Wzorcem jednostki miary lub etalonem nazywa się wzorzec miary,
przyrząd pomiarowy, materiał odniesienia lub układ pomiarowy przeznaczony
do zdefiniowania, zrealizowania, zachowania lub odtwarzania jednostki miary
albo jednej lub kilku ustalonych wartości pewnej wielkości i służący jako
odniesienie (np. płytka wzorcowa klasy K).
Przyrządy pomiarowe pomocnicze służą do pomiarów wielkości wpły-
wających, tj. wielkości nie będących celem pomiaru, lecz mających wpływ na
wartość wielkości mierzonej lub wskazania przyrządu pomiarowego (np. termo-
metr kontaktowy do pomiaru temperatury mierzonego przedmiotu, poziomnica
wbudowana w przyrząd pomiarowy służąca do właściwego ustawienia przy-
rządu).
96
3.2. Najważniejsze właściwości i charakterystyki przyrządów
pomiarowych
97
Podziałka (ang. scale) przyrządu pomiarowego jest uporządkowanym
zbiorem wskazów — kresek lub innych znaków — naniesionych na podzielnię
urządzenia wskazującego.
Zakres podziałki jest to przedział zawarty między skrajnymi wskazami
podziałki, odpowiadającymi dolnej i górnej granicy zakresu wskazań. Na
przykład zakres podziałki czujnika MOP 1/100 wynosi 200 μη. (±100 μπι).
Przedział między dwoma dowolnymi sąsiednimi wskazami podziałki nosi
nazwę działki elementarnej (ang. scale division).
Długość działki elementarnej Le jest długością odcinka lub łuku linii pod-
stawowej podziałki między osiami dwóch sąsiednich wskazów (rys. 3.2). Linia
podstawowa podziałki jest to linia (zaznaczona lub nie), która przechodzi przez
środki najkrótszych kresek podziałki kreskowej.
Rys. 3.2.
Długość działki elementarnej Le podziałki kreskowej:
a) podziałka prosta, b) podziałka łukowa; 1 — linia
podstawowa podziałki
98
niego sygnału wejściowego. W przyrządach pomiarowych zaopatrzonych
w podziałkę kreskową czułość można obliczyć jako stosunek długości działki
elementarnej do jej wartości. W przyrządach do pomiaru długości i kąta czułość
często nazywa się przełożeniem.
Dla niektórych przyrządów (np. czujników elektrostykowych) ważną cechą
metrologiczną jest pobudliwość przyrządu pomiarowego, będąca zdolnością do
reagowania na małe zmiany wartości wielkości mierzonej (sygnału wej-
ściowego). Błędem granicznym pobudliwości jest największa zmiana wartości
wielkości mierzonej nie wywołująca dostrzegalnej zmiany wskazania w okre-
ślonych warunkach pomiaru.
Progiem pobudliwości (ang. discrimination) określa się największą zmianę
wartości wielkości mierzonej (sygnału wejściowego), nie wywołującą
dostrzegalnej zmiany wskazania przyrządu pomiarowego (sygnału wyjścio-
wego) w określonych warunkach pomiaru, gdy zmiana wartości wielkości mie-
rzonej (sygnału wejściowego) jest powolna i monotoniczna.
Dokładność przyrządu pomiarowego (ang. accuracy of measuring
instrument) jest to zdolność przyrządu pomiarowego do dawania wskazań blis-
kich wartości prawdziwej (rzeczywistej) wielkości mierzonej.
Błąd {wskazania) przyrządu pomiarowego (ang. error of indication of a
measuring instrument) jest to składowa błędu pomiaru, pochodząca od przy-
rządu pomiarowego użytego do wykonania pomiaru. Przy porównywaniu przy-
rządu z wzorcem odniesienia błąd (wskazania) przyrządu pomiarowego jest to
wskazanie przyrządu minus wartość prawdziwa odpowiedniej wielkości wej-
ściowej. Wartość prawdziwa (rzeczywista) nie może być określona, w praktyce
więc wykorzystuje się wartość umownie prawdziwą.
Błędem zera (ang. zero error) nazywa się błąd przyrządu pomiarowego
w punkcie kontrolnym dla wartości wielkości mierzonej równej zeru.
Poprawność (przyrządu pomiarowego) (ang. freedom from bias) jest to
właściwość przyrządu pomiarowego polegająca na tym, że jego wskazania są
pozbawione błędu systematycznego.
Wskazania przyrządu pomiarowego mogą być obarczone różnymi błędami
systematycznymi, konsekwencją czego jest tzw. błąd poprawności. Wartość
tego błędu jest wypadkową sumą algebraiczną wszystkich błędów systema-
tycznych danego przyrządu pomiarowego w określonych warunkach użytko-
wania. Jest to więc składowa systematyczna błędu przyrządu pomiarowego.
Błędy graniczne dopuszczalne poprawności są określone dla przyrządów pomia-
rowych przez przepisy legalizacyjne.
Poprawka na poprawność może być wyznaczona dla wzorca miary lub
przyrządu pomiarowego. Znajomość poprawek umożliwia likwidację wpływu
błędów systematycznych na wynik pomiaru. Poprawka jest równa błędowi
wskazania wzorca lub przyrządu pomiarowego ze znakiem przeciwnym.
Powtarzalność (ang. repeatability) przyrządu pomiarowego jest to właści-
wość przyrządu pomiarowego do dawania zbliżonych do siebie wskazań w serii
pomiarów tej samej wartości wielkości mierzonej. Jako wskaźnik powta-
rzalności przyjmuje się na ogół odchylenie standardowe eksperymentalne po-
99
jedynczego wskazania w serii wskazań przyrządu pomiarowego, obliczane wg
wzoru (1.19).
Błędy graniczne powtarzalności określają praktycznie największy rozrzut
wskazań przyrządu pomiarowego. Są to błędy
e! = +k s; e2 = -k s (3.2)
dla których prawdopodobieństwo ich nieprzekroczenia — przy normalnym
rozkładzie błędów — zależy od przyjętej wartości współczynnika k. Przy dosta-
tecznie dużej liczbie pomiarów przyjmuje się na ogół k = 2, co odpowiada praw-
dopodobieństwu Ρ = 0,95, że w serii pomiarów nie zostaną przekroczone błędy
graniczne powtarzalności ei = + 2s i e2 = - 2s.
Zakres rozrzutu wskazań przyrządu pomiarowego — wskaźnik rozrzutu
wskazań r przyrządu pomiarowego wyrażony różnicą między największym xmax i
najmniejszym xmjn spośród wskazań danej serii pomiarów tej samej wartości
wielkości mierzonej
(3.1)
r - X ma X Xmin
Κ Histereza jest to właściwość przyrządu pomiarowego polegająca na tym, że
sygnał wyjściowy w odpowiedzi na dany sygnał wejściowy zależy od kolejności
poprzednich sygnałów wejściowych.
Błąd histerezy określa różnica wskazań przyrządu pomiarowego, gdy tę
samą wartość wielkości mierzonej osiąga się raz przy zwiększaniu wartości
wielkości mierzonej, drugi raz — przy jej zmniejszaniu. Błąd ten występuje np.
w czujnikach zębatych, których wskazania są różne, gdy tę samą wartość wiel-
kości mierzonej osiąga się przez przesuw trzpienia pomiarowego w dwóch
przeciwnych kierunkach. Przyczyną błędów są w tym przypadku luzy zwrotne
w mechanizmie czujnika.
Błędy graniczne dopuszczalne (przyrządu pomiarowego) są to wartości
skrajne błędu, dopuszczone przez warunki techniczne lub wymagania, dotyczące
danego przyrządu pomiarowego. Na ich oznaczenie stosuje się zapis MPE —
maximum permissible errors (of a measuring instrument).
Dokładnościowe własności przyrządów pomiarowych oraz wzorców miar
wyraża się często za pomocą klas dokładności. Do określonej klasy dokładności
należą przyrządy pomiarowe, które spełniają pewne wymagania metrologiczne
dotyczące utrzymania błędów w odpowiednich granicach. Klasa dokładności jest
zwykle oznaczona przez liczbę lub symbol, zwane znakiem klasy.
Stałość, stabilność (przyrządu pomiarowego) (ang. stability) jest to
zdolność przyrządu pomiarowego do utrzymania niezmienności jego charakte-
rystyk metrologicznych. Stabilność jest zwykle rozpatrywana w odniesieniu do
czasu, zaś gdy jest odniesiona do innej wielkości, wówczas koniecznie należy to
wyraźnie zaznaczyć.
Strefa martwa (ang. dead band) —jest to największy przedział, wewnątrz
którego można zmieniać sygnał wejściowy w obu kierunkach, nie wywołując
zmiany odpowiedzi przyrządu pomiarowego.
Transparencja — zdolność przyrządu pomiarowego do nieoddziaływania
na wartość wielkości mierzonej.
100
Pełzanie (dryft) (ang. drift) — powolna zmiana w czasie charakterystyki
metrologicznej przyrządu pomiarowego.
Czas odpowiedzi (ang. response time) — przedział czasu zawarty między
chwilą, gdy sygnał wejściowy ulega określonej skokowej zmianie i chwilą, od
której sygnał wyjściowy osiąga wartość końcową stałą w określonych granicach.
Błąd opóźnienia — błąd przyrządu pomiarowego spowodowany przez opó-
źnienie sygnału wyjściowego przyrządu pomiarowego względem zmiennego
sygnału wejściowego.
Błąd bezwładnościowy — błąd przyrządu pomiarowego spowodowany
bezwładnością (mechaniczną, cieplną lub inną) jego elementów.
Błąd nieciągłości wskazania (błąd przetwarzania cyfrowego) — błąd
spowodowany przekształceniem na wyjściu sygnału analogowego w sygnał
dyskretny (nieciągły).
Krzywa błędów przyrządu pomiarowego — krzywa przedstawiająca błędy
przyrządu pomiarowego w funkcji wielkości mierzonej lub w funkcji innej
wielkości mającej wpływ na te błędy.
Literatura
102
4.2. Wzorce kreskowe i końcowo-kreskowe
(4.1)
4.2.1. Noniusz -j
103
zanika, ponieważ ich dokładność odczytu jest porównywalna z błędem koincy-
dencji (2.45).
Równanie określające podziałkę noniusza ma postać (rys. 4.2)
(4.2)
gdzie: Μ — moduł noniusza, Le„ — długość działki elementarnej noniusza,
-'ep długość działki elementarnej wzorca prowadnicy, η — liczba działek
elementarnych noniusza.
Rys. 4.2.
Noniusz: a) ujemny, b) dodatni, c) o module Μ = 0;
1 — podziatka prowadnicy, 2 — podziałka noniusza
104
(4.3)
(4.4)
105
Archimedesa (8) o skoku 0,1 mm oraz podziałka (11) o stu działkach elemen-
tarnych. Z własności spirali Archimedesa wynika proporcjonalność między
promieniem r i kątem φ spirali
(4.5)
Tak więc, wartość działki elementarnej podziałki na płytce
obrotowej wynosi 1 μηι.
Obraz widoczny w okularze mikroskopu odczytowego przedstawiono na
rys. 4.4b. Czynność odczytania wskazania polega na kręceniu szklaną płytką (4)
z podziałka kreskową (11) i podwójną spiralą Archimedesa (8), aż nieruchoma
kreska wzorca szklanego (1) zostanie symetrycznie objęta przez podwójne linie
spirali (8), w miejscu ograniczonym równoległymi liniami (9). Oznaczenia
cyfrowe nad kreskami noniusza (7) wyrażają dziesiętne części milimetra, nato-
miast setne i tysięczne części milimetra oraz dziesięciotysięczne przez interpola-
cję odczytuje się z podziałki (11).
Błąd graniczny dopuszczalny mikroskopu odczytowego ze spiralą Archi-
medesa exp jest zespołem trzech składników (P = 0,95):
— en — niepewności symetrycznego objęcia kreski wzorca dwiema liniami
spirali Archimedesa,
— e0 — niepewności odczytania (interpolacji) wskazania,
— es — oszacowanego błędu spirali Archimedesa (błąd ten pochodzi zarówno
od zniekształcenia spirali, jak i mimośrodowości osi obrotu spirali wzglę
dem osi nominalnej).
Wynik pomiaru przy użyciu wzorca kreskowego i mikroskopu odczy-
towego jest różnicą dwóch wskazań, dlatego błędy symetrycznego ustawienia
kreski wzorca w bisektorze, jak i odczytania występują dwukrotnie w określeniu
błędu granicznego dopuszczalnego esp mikroskopu odczytowego
(4.6)
Według danych firmy Zeiss: eb = ±0,25 μπι, e0
= ±0,05 μπι, es = ±0,5 μπι. Wtedy
106
w jedną liczbę opis kreski wzorca (pełne mm i dziesiętne części) i wskazanie
interpolatora (setne i tysięczne części mm). Dziesięciotysięczne części milimetra
odczytuje się przez interpolację wzrokową. Jeżeli wykorzystuje się czujnik foto-
optyczny, po wprowadzeniu kreski w bisektor nie doprowadza się do jej syme-
trycznego objęcia przez kreski bisektora, lecz doprowadza się do koincydencji
najbliższej kreski interpolatora i przeciwwskazu. Następuje wychylenie wska-
zówki wskaźnika czujnika fotooptycznego. Wartość wskazania przyrządu stano-
wi suma odczytania z dolnej i górnej podziałki urządzenia odczytowego.
Rys. 4.5. Dwa sposoby odczytywania wskazań z układu odczytowego składającego się z
urządzenia projekcyjnego i czujnika fotooptycznego: a) bez wykorzystania, b) z wykorzystaniem
czujnika fotooptycznego; / — kreska wzorca, 2 — opis kreski, 3 — bisektor, 4 — przeciwwskaz, J
— podziałka czujnika, 6 — wskazówka czujnika
107
Rys. 4.6. Mikroskop odczytowy pryzmatyczny: a) budowa, b) pole widzenia okularu
obserwacyjnego ze wskazaniem; 1 — płytka z podziałkąnoniusza i strzałką przeciwwskaźnika, 2 —
klin ruchomy, 3 — klin stały z podziałką mikrometryczną; wskazanie (z zastosowaniem
interpolacji) 82,3657 mm
108
— interferencyjne ze wzorcem (metalowym, szklanym lub ceramicznym)
z siatką fazową i optoelektronicznym przetwornikiem,
— magnetyczne,
— indukcyjne (induktosyn),
— pojemnościowe.
Inkrementalne układy pomiarowe mają kilka bardzo istotnych zalet:
— wysoką dokładność (błąd odtwarzania wynosi od 1 do 10 nm); układy
optoelektroniczne ze wzorcami z siatką fazową osiągają dokładność
porównywalną z dokładnością interferometrów laserowych (rozdzielczość
do 1 nm),
— cyfrową postać wskazań; cyfrowe urządzenie wskazujące można zerować
w dowolnym miejscu, dzięki czemu w pomiarach różnicowych wynik
pomiaru otrzymuje się bezpośrednio; cyfrowe wyniki pomiarów można
łatwo przesłać do komputera i tam poddać odpowiedniej obróbce, wzglę
dnie wykorzystać do sterowania jakością.
Układy pomiarowe z optoelektronicznymi przetwornikami stosuje się m.in.
w długościomierzach, mikroskopach i współrzędnościowych maszynach pomia-
rowych. W innych przyrządach pomiarowych, np. suwmiarkach i wysokościo-
mierzach, stosuje się na ogół układy pojemnościowe. W budowie obrabiarek
w celu zabezpieczenia przed zanieczyszczeniami montuje się układy pomiarowe
optoelektroniczne w postaci obudowanej (fot. 4.1) lub układy induktosynowe.
Dokładność wzorców inkrementalnych określa się za pomocą klas dokład-
ności. Klasa dokładności ±a jest definiowana w następujący sposób: graniczne
wartości błędów wzorca F względem ich wartości średniej na dowolnym — do 1
metra — odcinku wzorca są zawarte w przedziale -a μχη < F < +a μηι. W przy-
padku obudowanych układów pomiarowych optoelektronicznych klasa dokład-
ności obejmuje błędy wzorca wraz z przetwornikiem. Natomiast klasa dokład-
ności wzorca bez obudowy dotyczy wyłącznie wzorca. W przyrządach do
pomiarów długości stosuje się wzorce bez obudowy (fot. 4.2, fot. 4.3), montując
je bezpośrednio w osie pomiarowe przyrządów. Przegląd klas dokładności oraz
innych właściwości metrologicznych wzorców inkrementalnych nieobudo-
wanych pokazano na przykładzie wzorców firmy Heidenhain (tabl. 4.1) Wzorce
firmy Zeiss są wykonywane w podobnych klasach dokładności. Na przykład
wzorce szklane grupy LA 73 (T= 40 μηι lub 20 μηι ο rozdzielczości odpowied-
nio 1 μπι i 0,5 μιυ) mają klasy dokładności ±1,5 μηι, ±3 μηι i ±5 μηι.
109
Tablica 4.1. Nieobudowane układy pomiarowe inkrementalne z przetwornikami
optoelektronicznymi firmy Heidenhain stosowane w przyrządach do pomiarów długości
Rys. 4.7.
Uproszczony schemat układu
pomiarowego ze wzorcem
inkrementalnym
110
Przetwornik składa się z oświetlacza i jednego fotoelementu; układ ten
przesuwa się względem wzorca inkrementalnego. Otrzymany sygnał pomiarowy
jest (przy założeniu bardzo małych wymiarów szczeliny i pominięciu wpływu
rozproszenia światła) prostokątny. Liczba impulsów (zliczana w odpowiednim
liczniku), przy znajomości okresu podziałki (stałej siatki) i założeniu, że ruch
odbywa się w jednym kierunku, daje informację o przemieszczeniu układu.
W celu umożliwienia rozpoznania kierunku przemieszczenia należy zasto-
sować drugi fotoelement przesunięty względem pierwszego o 1/4 okresu po-
działki. Dysponując dwoma sygnałami, można oprócz rozpoznania kierunku
przemieszczenia uzyskać czterokrotne powielenie częstotliwości sygnału pro-
stokątnego, czyli możliwość pomiaru z rozdzielczością równą 1/4 okresu wzor-
ca. Dokładność pomiaru zależy wprost od dokładności wykonania wzorca.
W celu zmniejszenia wpływu niedokładności wzorca na dokładność po-
miaru zamiast pojedynczej szczeliny stosuje się przysłony z siatką złożoną
z wielu stref (ponad 100), o takim samym okresie jak wzorzec, a w celu zmniej-
szenia rozdzielczości tzw. interpolatory. Zastosowanie przysłony z wieloma
strefami zwiększa dokładność układu dzięki uśrednieniu błędów systema-
tycznych poszczególnych stref wzorca inkrementalnego.
Poniżej opisano układy pomiarowe optoelektroniczne firm Heidenhain,
Zeiss i Leitz-Brown&Sharpe.
Budowa u k ł a d u p o m i a r o w e g o z p r z y s ł o n ą o c z t e r e c h
p o l a c h firmy H e i d e n h a i n jest następująca (rys. 4.8, fot. 4.4). Źródło
światła (5) — o potnij alnie małym wpływie cieplnym na wzorzec — poprzez
kondensor (6) wysyła równoległą wiązkę promieniowania, które przechodzi
przez przezroczyste fragmenty wzorca (1) i przysłonę (2) z siatką o takim
samym okresie T, jak podziałka główna (3). Przy przesuwaniu wzorca względem
przysłony zmienia się okresowo strumień światła, ponieważ ciemne i przezro-
czyste strefy wzorca i przysłony pokrywają się na przemian. Zmiany te rejestrują
fotodiody (7). Za każdym polem stref przysłony (2) znajduje się fotodioda (7).
Strefy na przysłonie (2) tworzą dwie pary (a, b i c, d) pól siatki. Sinusoidalny
sygnał wytworzony przez światło padające na fotodiodę z pola α jest przesunięty
wzdłuż osi y o pewną stałą wartość ao. Sygnał z pola b jest również przesunięty
wzdłuż osi y o wartość ao. Oba sygnały z pól a i b są przesunięte względem
siebie wzdłuż osi χ ο pół okresu podziałki (rys. 4.9).
Po wzajemnym odjęciu obu sygnałów, stały sygnał zostaje zredukowany
i otrzymuje się wzmocniony sinusoidalny sygnał Si (symetryczny względem osi
zerowej) (rys. 4.9e):
111
Rys. 4.8. Układ pomiarowy optoelektroniczny projekcyjny z przysłoną o czterech polach firmy
Heidenhain: a) ze wzorcem szklanym, b) ze wzorcem metalowym; / — szklany/stalowy wzorzec
inkrementalny, 2 — przysłona z siatką, 3 — siatka wzorca inkrementalnego, 4 — wskaźnik
referencyjny do określenia pozycji punktu odniesienia wzorca, 5 — źródło światła (LED), 6 —
kondensor, 7 — fotodiody, a, b, c, d, — pola stref na przysłonie, Γ — okres podziałki (stała
siatki); zarówno przysłona, jak i fotodiody znajdują się w bardzo małej odległości od wzorca
Rys. 4.9.
Sygnały otrzymane z przetwornika
optoelektronicznego inkrementalnego układu
pomiarowego [Ernst 1993]: a), b), c) i d) — sygnały
z fotodiod, e) i f) — sygnały po zsumowaniu, g) i
h) — sygnały w postaci prostokątnej, i) sygnał
referencyjny
112
Podobnie jest tworzony sygnał S2 = AQ cos-p z obszarów c i d (rys. 4.9f).
Istotnym szczegółem budowy siatki na przysłonie (2) jest przesunięcie grupy
stref (a, b) względem grupy stref (c, d) o całkowitą wielokrotność i 1/4 okresu
podziałki T, w wyniku czego wzmocnione sygnały S- i S2 są przesunięte wzglę-
dem siebie o 1/4 Τ (rys. 4.9 e, f). Sygnały z fotodiod (7) są w interpolatorach
(p. 4.3.4) przetwarzane na sygnały o postaci prostokątnej i po ich zliczeniu
podawane jako sygnały cyfrowe. Przy zmianie kierunku mierzenia oprócz sy-
gnału zliczania impulsów zostaje użyty sygnał kierunkowy.
Do określenia pozycji wzorca niezbędne jest absolutne odniesienie, dlatego
we wzorcach obok ścieżki z siatką inkrementalną jest naniesiona dodatkowa
ścieżka, w której znajduje się jeden lub więcej kodowanych punktów odniesienia
(4) (rys. 4.8). Identyfikacja kodowanego punktu (paski) odniesienia odbywa się
także optoelektronicznie i odpowiada ściśle określonemu wskazaniu cyfrowemu.
Uzyskanie absolutnego odniesienia wymaga najechania na punkt referencyjny.
W najmniej korzystnym przypadku niezbędne przesunięcie wzorca może stano-
wić znaczną część zakresu pomiarowego. Aby temu zapobiec, wiele układów
pomiarowych ma więcej punktów referencyjnych z zakodowanymi między nimi
odległościami. Przykładowo w układach nieobudowanych (tabl. 4.1) typu LIP
i LIF największa odległość przejazdu wynosi 20 mm, natomiast w układach
LIDA — 80 mm.
W przypadku inkrementalnych układów pomiarowych firmy Heidenhain ze
wzorcami metalowymi istotna różnica — w porównaniu ze wzorcami szklanymi
— polega jedynie na korzystaniu ze światła odbitego od wzorca (rys. 4.8b).
Wzorce metalowe mają naniesione złote kreski, dobrze odbijające kierunkowo
światło oraz pasma (o tej samej szerokości co kreski) rozpraszające światło.
Współczynnik rozszerzalności cieplnej dla wzorców metalowych ma
wartość a« 10-10 6 1/°C, a dla wzorców szklanych —α«(8-10)· 10"6 1/°C.
Budowę inkrementalnego układu pomiarowego (obudowanego) firmy
Heidenhain przedstawiono na rys. 4.10 i fot. 4.1.
Układ pomiarowy projekcyjny z przysłoną o
j e d n y m q u a s i - p o l u firmy Heidenhain (rys. 4.11, fot. 4.5). Wzorzec ma
postać taśmy stalowej, z siatką o podziałce Τ = 40 μπι naniesioną techniką
AURODUR (na przemian złote i rozpraszające światło matowe pasma).
Przezroczysta przysłona jest wykonana z dwóch złożonych ze sobą siatek o róż-
nych własnościach dyfrakcyjnych. Światło wysyłane przez źródło (LED) prze-
chodzi przez kondensor i przysłonę, wytwarzając na wzorcu cztery obrazy siatki
przysłony, przesunięte wzajemnie o 1/4 podziałki T. W drodze powrotnej po
przejściu przez przesłonę światło pada na cztery fotodiody i — przy ruchu
wzorca względem przysłony — wywołuje sinusoidalne sygnały. Dalsza obróbka
sygnałów przebiega podobnie jak w układzie projekcyjnym z przysłoną o czte-
rech polach (rys. 4.9). Układ pomiarowy z przysłoną o jednym quasi-polu przy-
słony ma trzy istotne zalety. Po pierwsze — do wytwarzania sygnałów służy tyl-
ko jedno pole przysłony, zatem przy nieznacznym zabrudzeniu wzorca, wpływ
zmian strumienia światła padającego na cztery fotodiody jest podobny. Po
drugie — odwzorowanie obrazu nie jest czułe na małą falistość taśmy wzorca,
a po trzecie — odległość i tolerancja odległości między wzorcem i przysłoną jest
istotnie większa w porównaniu z układem o czterech polach przysłony.
113
Rys. 4.10.
Przekrój poprzeczny obudowanego wzorca
inkrementalnego (Heidenhain); 1 — źródło
światła, 2 — kondensor, 3 — przysłona z siatką,
4 — szklany wzorzec inkrementalny,
5 — fotodiody, 6 — obudowa wzorca,
7 — uszczelniacz, 8 — ramię do połączenia
układu pomiarowego z ruchomą częścią
urządzenia
Rys. 4.11. Układ pomiarowy projekcyjny z przysłoną o jednym quasi-polu firmy Heidenhain;
1 — wzorzec, 2 — siatka wzorca, 3 — przysłona, 4 — źródło światła (LED), 5 — kondensor,
6 — fotodiody
U k ł a d p o m i a r o w y i n t e r f e r e n c y j n y ze w z o r c e m
z s i a t k ą fazową. Układy pomiarowe wykorzystujące ugięcie i interfe-
rencję ze wzorcami metalowymi, szklanymi lub ceramicznymi z siatką fazową
są najdokładniejszymi układami pomiarowymi [Hock 1976]. Wzorce z siatką;
fazową mają okresowo naniesione występy (wgłębienia), przy czym długość]
występu jest równa długości wgłębienia (rys. 4.12, fot. 4.6).
114
Rys. 4.12.
Przekrój układu pomiarowego
interferencyjnego ze wzorcem z
siatką fazową firmy Heidenhain;
1 — metalowy, szklany lub
ceramiczny (zerodur) wzorzec
z siatką fazową,
2 — przezroczysta przysłona
z siatką fazową, 3 — źródło
światła (LED); Fl, F2, F3 —
fotodiody (fotoelementy),
Τ— okres podziałki wzorca
115
Dalsza interpolacja przebiega podobnie jak w inkrementalnych wzorcach szkla-
nych i metalowych. Stosuje się podziały okresu podziałki k = 5, 10, 50 lub 100-
krotne. Rozdzielczości układów pomiarowych tego typu (Heidenhain) wynoszą
od 1 μηι do 0,01 μπι, a nawet 0,001 μηι = 1 nm. Wytwarza się wzorce klas
dokładności od +1 μηι (tj. +1 μπι/m) do ±0,1 μιη (tylko do 100 mm). Wzorce
wykonuje się ze stali (a« 10-10"6 1/°C), szkła (a « 8·10'6 1/°C) lub z materiału
ceramicznego o nazwie zerodur, o praktycznie zerowym współczynniku roz-
szerzalności cieplnej.
U k ł a d p o m i a r o w y f i r m y Z e i s s znany jest pod nazwą
Phocosin i stosowany głównie we współrzędnościowych maszynach pomiaro-
wych tej firmy.
Istotna różnica w budowie tego systemu polega na wykorzystaniu prążków
moire'a (rys. 4.14) i przejęciu funkcji okresu Γ wzorca inkrementalnego przez
odległość między prążkami moire'a.
Jeżeli siatkę przysłony skręcić o niewielki kąt w stosunku do siatki wzorca,
otrzyma się obraz jak na rys. 4.14. Przy względnym ruchu wzorca i przysłony
prążki będą się przemieszczały w kierunku prostopadłym do ruchu wzorca.
W rozwiązaniu firmy Zeiss czujnik fotooptyczny i interpolator analizują prze-
mieszczenia tych właśnie prążków.
Rys. 4.14.
Powstawanie prążków moire'a przy
skręceniu siatki przysłony
względem siatki wzorca
116
szczególnie starannej obróbce sygnałów, błędy interpolacji można zmniejszyć
do 0,3% wartości podziałki wzorca inkrementalnego Γ [Ernst 1987].
117
Siatka wzorca ma podziałkę T\, a siatka przysłony podziałkę T2
(4.11)
gdzie ν— współczynnik zróżnicowania siatek.
Siatki wzorca i przysłony są równoległe. Odległość y powstałych prążków
moire'a (rys. 4.16) wynosi
(4.12)
Odległość prążków jest mało czuła na zmianę wzajemnej
odległości obu siatek, co należy uznać za zaletę układu. Umieszczona w
płaszczyźnie ogniskowej dioda kwadrantowa (układ czterech elementów
światłoczułych) obrócona w stosunku do układu prążków pod kątem γ=
26°33'54" (tg γ= 0,5) umożliwia podział odległości y na cztery części.
Układ pomiarowy firmy Leitz-Brown&Sharpe pracuje w świetle odbitym.
Wzorzec wykonany jest ze szkła, strefy (pasma) siatki stanowią warstewki
chromu. Odpowiednie wymiary wynoszą: 7\ = 20 μηι, y « 1 mm. Całkowity
współczynnik interpolacji układu wynosi 800, dzięki czemu rozdzielczość jest
równa 0,025 μηι. Maksymalna prędkość przesuwu wzorca względem przysłony
wynosi 120 mm/s.
Rys. 4.17.
Układ pomiarowy inkrementalny magnetyczny
[Ernst 2001]; 1 — pręt okresowo
118
Rys. 4.18.
Układ pomiarowy indukcyjny
(induktosyn); 1 — liniał z
meandrycznie ułożoną ścieżką
przewodzącą, 2 — suwak; Γ—
okres podziałki wzorca
4.3.3. Interpolatory
11
9
Rys. 4.19. Interpolacja z wykorzystaniem faz pomocniczych w układzie oporowym: a) wykres
fazy, b) schemat układu interpolacyjnego, c) sinusoidalne sygnały otrzymane z fotodiod —
sygnały wejściowe interpolatora i prostokątne sygnały po interpolacji — sygnały wyjściowe
interpolatora; / — okres podziałki wzorca inkrementalnego, 2 — przesunięcie fazowe sygnałów,
3 — rozdzielczość układu interpolacyjnego, 4 — sygnał referencyjny
przy czym
(4.14)1
(4.1i
(4.17)
121
(4.19)
przy czym
(4.20)
oraz
(4.21)
gdzie: Τ— okres podziałki,/— częstotliwość sygnałów Si i S2, χ — wartość
mierzona (interpolowana).
Źródłem informacji o przesunięciu χ jest modulacja amplitudowa [Ernst 2001].
Ważną cechą inkrementalnych układów pomiarowych związaną z proble-
matyką interpolatorów jest dopuszczalna największa prędkość vmax względnego
przesuwu wzorca i przetwornika. Zależy ona od wartości okresu sygnału pomia-
rowego Ρ (μηι) i wejściowej częstotliwości/max (kHz) układu interpolacyjnego
(4.22)
122
Kody wykonuje się na szklanych liniałach, tworząc segmenty przepuszczające
światło i nie przepuszczające go, a do odczytywania wskazań stosuje się prze-
tworniki optoelektroniczne. Każda ścieżka kodowa ma swoje źródło światła.
Strumienie światła po przejściu — w określonym miejscu — przez przezroczy-
ste fragmenty wzorca kodowego padają na odpowiednie fotoelementy,
wywołując impulsy elektryczne (oznaczenie 1). Fotoelementy zakryte ciemnymi
segmentami wzorca kodowego nie reagują (oznaczenie 0).
Wzorzec kodowy musi być wykonany na jednym liniale, w przeciwieństwie
do wzorców inkrementalnych, które mogą być tworzone z połączenia w szereg
wielu krótszych modułów. Liczba ścieżek kodowych zależy od długości
wzorca i rozdzielczości urządzenia wskazującego. Na przykład wzorzec kodowy
o długości 2000 mm i rozdzielczości 5 μηι ma 18 ścieżek kodowych.
123
4.4.3. Układy bezwzględne ze ścieżką z siatką inkrementalną i ścieżką z
kodem losowym (random code) firmy Heidenhain
Rys. 4.23.
Powierzchnie pomiarowe ( 1 )
i boczne (_?) płytki wzorcowej;
/,, — długość nominalna płytki
wzorcowej
124
co 0,01 mm, w zależności od granicznej liczby płytek w stosie oraz rodzaju
kompletu, zawiera tabl. 4.4.
Graniczna liczba n^r oznacza największą liczbę płytek w stosach stopniowanych co 0,01 mm
125
Ważnym uzupełnieniem są komplety: mikrometryczny (18 płytek o wy-
miarach 0,99U0?999 i 1,001*],009), uzupełniający małe wymiary (18 płytek
o wymiarach 0,2-^0,9. 0,41^-0,49 i 0,405) i uzupełniający duże wymiary (150,
200, 300, 400 i 500 mm). Produkuje się komplety płytek o specjalnym przez-
naczeniu. Na przykład firmy Tesa i Mahr oferują komplety płytek do spraw-
dzania mikrometrów. Komplet zawiera 8 płytek o wymiarach: 3.1; 6,5; 9,7;
12,5; 15,8; 19,0; 21,9; 25 mm lub 10 płytek o wymiarach 2,5; 5,1; 7,7; 10,3;
12,9; 15,0; 17,6; 20,2; 22,8; 25 mm.
Płytki wzorcowe ochronne, które służą do zabezpieczania powierzchni po-
miarowych płytek stalowych przed uszkodzeniem lub nadmiernym zużyciem,
wykonuje się z węglików spiekanych (o współczynniku rozszerzalności a -
= (5,5±0,5)·10~* 1/°C). Komplet płytek ochronnych składa się z dwóch płytek
o wymiarze nominalnym ln - 1 mm lub /„ = 2 mm.
Płytki wzorcowe o długości /„ > 100 mm powinny mieć kreski umieszczone
na węższych powierzchniach bocznych. Kreski te odpowiadają tzw. punktom
Airy'ego. Płytka wzorcowa podparta w punktach Airy'ego oczywiście ugina się,
lecz powierzchnie pomiarowe zachowują względem siebie równoległe poło-
żenie, samo zaś skrócenie płytki jest nieznaczne.
Płytki wzorcowe tradycyjnie wykonuje się ze stali stopowej (chromowej)
odpornej na ścieranie i korozję, o współczynniku rozszerzalności cieplnej a-
= (11.5±l,0)-10"6 1/°C w zakresie temperatury 10^30°C.
Ostatnio są produkowane także płytki wzorcowe z materiału ceramicznego
(fot. 4.8). Na przykład firma Mahr wykonuje komplety płytek wzorcowych
(w klasach dokładności 0, 1 i 2) z materiału ceramicznego o nazwie zirkonium
(zirkonoxid). Materiał ten ma jasną barwę i nie jest przezroczysty. Ważnymi
zaletami zirkonium, z punktu widzenia wykorzystania do produkcji płytek
wzorcowych, są (tab 1. 4.5):
126
— twardość (1350 HV) znacznie wyższa niż stali, duża odporność na ude
rzenia.
— wartość współczynnika rozszerzalności cieplnej jest zbliżona do współ
czynnika stali; płytki wzorcowe mogą więc być stosowane w różnych wa
runkach temperaturowych,
— jest antystatyczny i niemagnetyczny oraz nie przewodzi prądu elektry
cznego; materiał nie przyciąga kurzu i płytki mogą być stosowane w polu
magnetycznym,
— nie wymaga konserwacji.
Płytki wzorcowe powinny się charakteryzować odpowiednią stabilnością
wymiarów, potwierdzoną przez długotrwałe badanie próbek. Okres próby po-
winien być na tyle długi, aby było możliwe odróżnienie zmiany długości płytki
od niepewności pomiaru. Dopuszczalne zmiany długości płytek wzorcowych
odnosi się do okresu 12-miesięcznego.
Główne zastosowania płytek wzorcowych:
— klasa Κ — w laboratoriach pomiarowych do wzorcowania innych płytek
wzorcowych; zawsze powinny być stosowane łącznie ze świadectwem
wzorcowania.
-— klasa 0 — jako płytki wzorcowe podstawowe do sprawdzania płytek
wzorcowych podporządkowanych (o niższej klasie dokładności); do wzor-
cowania przyrządów pomiarowych o dużej dokładności,
— klasa 1 — do pomiarów wzorców kontrolnych i sprawdzianów; do wzor
cowania długościomierzy i pomiarów w laboratoriach pomiarowych,
— klasa 2 — jako wzorce nastawcze i kontrolne przyrządów pomiarowych
niższej dokładności, wzorce zastępujące sprawdziany szczękowe.
Zastosowania pomiarowe płytek wzorcowych ułatwiają przybory pomo
cnicze (fot. 4.9).
Z a s a d y s k ł a d a n i a s t o s ó w p ł y t e k w z o r c o w y c h są
następujące. Liczba płytek tworzących stos nie powinna być zbyt duża. Wzory
umożliwiające określanie niepewności pomiaru w pomiarach z użyciem płytek
wzorcowych zakładają zwykle użycie minimatnej możliwej liczby płytek lub
wspomnianej wcześniej granicznej liczby płytek. Racjonalne postępowanie przy
doborze płytek do stosu jest więc następujące. Najpierw należy dobrać płytki
o wymiarach z końcówkami w mikrometrach, setnych częściach milimetra, dzie-
siętnych częściach milimetra, a dopiero później płytki o długościach nomi-
nalnych wyrażających się całkowitymi milimetrami.
Przykład 4.1. Należy określić długości nominalne płytek wzorcowych stosu o długości
i-96,73 mm.
A. Komplet mały B. Komplet średni C. Komplet duży
1)96,73- 1,03=95,70 1} 96,73- 1,23 = 95,50 1)96,73- 1,23=95,50
2)95,7-1,7 = 94,0 2)95,5-5,5 = 90,0 2)95,5-20,5 = 75,0
3)94-19 = 75 4) 75 - 3)90-40 = 50 4)50- 3)75-75 = 0 η = 3
75 = 0 « = 4 oraz n^r — 50 = 0 η - 4 oraz ngr = oraz ngr = 3
4 4
127
4*5.2. Wałeczki pomiarowe
128
wykonuje się ze stali na sprawdziany — są hartowane i docierane. Tolerancja
średnic wałeczków wynosi ±0,3μηι.
Rys. 4.25.
Wykorzystanie wałeczków pomiarowych do
sprawdzania sprawdzianów szczękowych; 1 —
sprawdzian szczękowy, 2 — wałeczek pomiarowy, 3 —
stos płytek wzorcowych
4*5.4. Szczelinomierze
129
Tablica 4.6. Grubości pomiarowe a pojedynczych $zczelinomierzy
Π0
±1,3-10 9, Do wysyłania wzorcowego promieniowania służy lampa z żarzoną
katodą, zawierająca izotop kryptonu 86, o czystości nie mniejszej niż 99%.
Krypton ma temperaturę 63 Κ i znajduje się pod ciśnieniem 0,04 hPa. Pomiary
przy użyciu wzorcowych fal przeprowadza się tzw. interferometrami.
Obecnie obowiązująca definicja metra (uchwalona na XVII Generalnej
Konferencji Miar w 1983 r.) korzysta z przyjętej stałej prędkości światła
w próżni: metr jest to długość drogi przebytej przez światło w próżni w czasie
1/299 792 458 s (sekundy). Jednostka długości jest zatem definiowana przez
czas przebycia drogi i tym samym powiązana z definicją czasu. Mimo zmiany
definicji metra nadal wykorzystuje się w pomiarach długości fal świetlnych,
zwłaszcza promieniowania emitowanego przez lasery. Do głównych zalet pro-
mieniowania laserowego należy zaliczyć wysoką monochromatyczność, znaczną
ostrość, dzięki której na dużych odległościach zachodzi interferencja, oraz duże
natężenie, umożliwiające zliczanie prążków techniką optoelektroniczną. Na pod-
stawie wzorca częstotliwości (l33Cs) wyznacza się częstotliwość/określonego
promieniowania i następnie oblicza długość fali promieniowania według
równania λ - cjft gdzie c0 jest stałą prędkością światła w próżni (c0 = 299 792
458 m/s). Pomiar częstotliwości /promieniowania może być wykonany bardzo
dokładnie, ponieważ wzorzec sekundy (częstotliwość drgań cezu 133) umo-
żliwia odtworzenie sekundy z niepewnością standardową względną ok. +10 1 4 .
W praktyce metrologicznej stosuje się na ogół rekomendowane przez CIPM
promieniowania — laserowe lub wysyłane przez lampy spektralne — o znanych
długościach fal i promieniowaniach. Dla każdego rekomendowanego promienio-
wania podana jest niepewność standardowa odtworzenia.
Rys. 4.27.
Wzorzec kreskowy kąta w postaci okręgu podziałowego
131
4.8. lnkrementalne układy pomiarowe kąta
Rys, 4.28.
Schematyczne przedstawienie
podziałki wzorca
inkrementalnego kąta wraz ze
wskaźnikami referencyjnymi
(Heidenhąin)
132
inkrementalny układa się i napina w rowku na obwodzie koła o odpowiedniej
średnicy. Okres podziałki wzorca T = 100 μηι. Błędy graniczne tych wzorców
wynoszą ±5 μηι/m. Układy pomiarowe LIDA 360 (Heidenhain) mają roz-
dzielczość od 0,01° do 0,0001° lub od I' do 0,1".
Podobnie jak w przypadku inkrementalnych układów pomiarowych
długości, dla przypadków pracy w trudnych warunkach (zanieczyszczenia)
produkuje się układy pomiarowe obudowane (rys. 4.29, fot. 4.14),
Rys. 4.29. Obudowany (wraz ze sprzęgiem) inkremcntalny układ pomiarowy kąta (Heidenhain), 1
— źródło światła, 2 — kondensor, 3 — przysłona z siatką, 4 — szklany wzorzec inkrementalny kąta,
5 — fotodiody, 6 — obudowa
133
4.9. Kodowe układy pomiarowe kąta
Rys. 4.30.
Pryzma wielościenna
134
których przypadkach pojedyncze płytki, w innych — do uzyskania żądanego
kąta trzeba złożyć razem dwie lub więcej odpowiednich płytek. Płytki dosta-
tecznie grube, tzw. przywieralne, składa się po kilka w jeden zestaw przez
przywarcie pod wpływem sił międzycząsteczkowych; płytki cienkie, tzw. skła-
dane, o grubości około 2 mm, można razem łączyć przez wzajemne ściśnięcie
w specjalnym uchwycie.
Płytki kątowe przywieralne (rys. 4.31) dzieli się na trzy klasy
dokładności: 0, 1 i 2. Komplet płytek kątowych złożony z płytek różnych klas
ma klasę równą płytkom o klasie najniższej dokładności, niezależnie od liczby
płytek w komplecie. Odchyłki tych płytek nie powinny przekraczać wartości:
1) ±3" dla klasy dokładności 0,
2) ±10" dla klasy dokładności 1,
3) ±30" dla klasy dokładności 2,
Rys. 4.31, Płytki kątowe przywieralne: a) płytka prostoliniowa, b) płytka jednokątna ostra, c)
płytka jednokątna ścięta, d) płytka czterokątna, e) płytka wielokątna; a, β, γ, δ— kąty
pomiarowe
Rys- 4.32. Płytki składane z dwoma kątami wzorcowymi1 a) przy a i β do 45° (nr 23 do 32),
b)przy α i sponad 45° (DEFGHJ oraz nr 33 do 85), c) płytka zerowa, d) płytka składana Z
czterema kątami wzorcowymi; / — powierzchnie pomiarowe skośne, 2 — powierzchnie pomiarowe
równolegle, 3 —- powierzchnie boczne, 4 — miejsce cechowania wartości nominalnej kąta
pomiarowego
135
Za pomocą dużego kompletu płytek kątowych można uzyskać kąty:
— od 0° do 10° ze stopniowaniem kąta co 1°.
— od 10° do 350° ze stopniowaniem co Γ,
— od 350° do 360° ze stopniowaniem kąta co 1°.
Mały komplet płytek kątowych umożliwia otrzymanie kątów:
— od 0° do 10° ze stopniowaniem kąta co 1°,
— od 10° do 350° ze stopniowaniem kąta co 5',
— od 350° do 360° ze stopniowaniem kąta co 1°.
Odchyłki graniczne kątów poszczególnych płytek wynoszą ±12". Płytki
kątowe składa się za pomocą specjalnego uchwytu.
4.10.3. Kątowniki
Literatim
Dąbrowski W., Wronkowski L. (1995): Model o pto elektro ni cznn ego przetwornika w postać
generatora przesuwanych w fazie sygnałów sinusoidalnych, PAK 6/1995.
Die Sl-Basiseinheiten, Definition, Entwiklung, Realisierung (1997): Phy&ikalish-Tecrmisch
Bundesanstalt, Braunschweig und Berlin.
136
Ernst A- (1987): Digitale PositionsmeBsysteme fur Langen und Winkel. VDI Berichte 1987
Nr. 659.
Ernst A. (2001): Digitale Langen- und Winkelmesstechnik Verlag Modernę Industrie AG,
Landsberg/Lech.
Funktion des photoelektrischen Langen und WinkelmeBprinzips Zeiss Phocosin. Abteilung
furTechnische Meflgeriite, Zeiss.
Giiwa-Gliwińsh J. (1996). Realizacja międzynarodowej definicji metra w Głównym
Urzędzie Miar, Metrologia i Probierniclwo nr 2 (5), GUM Warszawa.
Giiwa-Gliwiński J. (1997): Realizacja jednostki długości w GUM za pomocą laserowych
wzorców. Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokr?yskiej (Mechanika 63), VIT Konferencja
Naukowo-Techniczna pt. Metrologia w Technikach Wytwarzania, Kielce'97.
Hock F. (1976): Photoelektrische messung der Anderung von Langen oder Winkelpositionen
mit Hilfe von Beugungsgittern. Dystertacja, Stuttgart.
Ramotowski Z (1996): Odtwarzanie i przekazywanie jednostki długości w Głównym
Urzędzie Miar. U Krajowa Konferencja Naukowa z udziałem międzynarodowym. Zeszyty
Naukowe Filii Politechniki Łódzkiej wBielsku-Biafej, Konferencje nr 33.
Ratąjczyk E. (red) (1980); Laboratorium pomiarów wielkości geometrycznych.
Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej. Warszawa.
Rzepka 1, Pieńkowski J., Pawłoka H. (1995): Laserowy system pomiarowy o podwyższonej
rozdzielczości i dokładności pomiarów. Politechnika Warszawska, Prace Naukowe, Konferencje.
z, 4, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa.
Sadowsh Α., MiermkE,, SobolJ (1978): Metrologia długości i kąta. WNT, Warszawa.
Tomaszewski A. (1978): Podstawy nowoczesnej metrologii WNT, Warszawa.
Warnecke H.J., Duischke W. (red) (1984): Fertigungsmefttechnik, Handbuch fur Industrie
und Wissenschaft. Springer Verlag, Berlin.
Wronkowski L (1990): Teoria i zastosowanie optoelektronicznych inkrementalnych układów
pomiarowych przeznaczonych do pomiaru długości. Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej,
1990, zeszyt 141.
Wronkowski L (1992): Signal transducing in optoelectronic measurement systems based on
the moire phenomenon. Optical Engineering 1992, vol. 3 U no. 3
Wronkowski L. (1995): Wpływ właściwości źródła światła na parametry
konstrukcyjne i metrologiczne optoelektronicznych układów pomiarowych. Politechnika
Warszawska. Prace Naukowe, Konferencje, z. 4, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej,
Warszawa.
Wronkowski L (1998): Rozważania nad możliwością opracowania samowzorcującego się
optoelektronicznego układu pomiarowego. Krajowy Kongres Metrologii — Nowe
Wyzwania i Wizje Metrologii, tom 2. Gdańsk^S.
PN-EN ISO 3650:2000 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Wzorce długości —
Płytki wzorcowe.
PN-1SO 7863:1997 Wzorce wysokości mikromelryczne nastawcze i cokoły wzorcowe.
PN-79/M-53088 Narzędzia pomiarowe. Watcczki pomiarowe do gwintów.
PN-81/M-53108 Narzędzia pomiarowe. Płytki kątowe.
PN-86/M-53160 Narzędzia pomiarowe. Kątowniki 90° stalowe.
PN-88/M-532Q1 Narzędzia pomiarowe. Wzorce nastawcze do mikrometrów zewnętrznych.
PN-75/M-53390 Narzędzia pomiarowe. Szczelinom! er ze.
PN-71/N-02050 Metrologia. Nazwy i określenia.
PN-EN ISO 3650:2000 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS). Wzorce długości. Płytki
wzorcowe,
PN-ISO 7863:1997 Wzorce wysokości mikro metryczne nastawcze i cokoły wzorcowe.
Przyrządy suwmiarkowe,
mikrometryczne i czujniki
5
5.1. Przyrządy suwmiarkowe
138
Rys. 5.1* Typy przyrządów suwmiarkowych: a) suwmiarka lednostronna, b) suwmiarka dwustronna,
c) suwmiarka dwustronna z głębokościomierzem, d) g-lębokościomierz suwmiarkowy, e)
wysokościomierz suwmiarkowy; strzałki wskazują powierzchnie elementów przyrządów
suwmiarkowych wykorzystywane jako powierzchnie pomiarowe
Rys. 5.2.
Pomiar suwmiarką, specjalną (Mauser)
głębokości rowka wpustowego:
a) suwak z noniuszem nastawić na zero
i zacisnąć A; zwolnić Β i ustawić
przyrząd na wałku, zacisnąć B,
b) zwolnić A, oprzeć końcówkę
pomiarową suwmiarki na dnie rowka
i odczytać wskazanie
(5.1)
Rys. 5.4.
Pomiar głębokościom]erzem z płytką obrotową (Tesa) długości
podtoczenia (do różnicy wskazań głębokościomierza należy
dodać grubość płytki)
140
Rys. 5.5. Przyrządy mikrometryczne. a) mikrometr zewnętrzny, b) mikrometr wewnętrzny, c)
głębokość i om i er z mikrometryczny, d) średnicówka mikrometryczna dwupunktowa, e)
średnicówka mikrometryczna trójpunktowa, f) głowica mikrometryczna
141
Rys 5.6. Mikrometry: a) do kól zębatych, b) do drutu, c) do rur, d) do narzędzi skrawających o
nieparzystej liczbie ostrzy
333 £
142
zania w dowolnym położeniu wrzeciona oraz transmisji wyników pomiaru do
miniaturowych drukarek lub urządzeń do zbierania lub opracowywania infor-
macji pomiarowej.
Rys. 5.9.
Budowa średnicówki
mikrometrycznej
tró|punktowej
143
dopuszczalna wartość błędu pary gwintowej mikrometru dla przesuwu pomia-
rowego / < 25 mm wynosi F - 3 μπι. Wartości błędów granicznych dopu-
szczalnych przyrządów mikrometrycznych/ oblicza się według wzoru
(5.2)
(5.3)
5.3. Czujniki
144
zgowe lub toczne, ale również zawieszanie trzpienia w płaskich sprężynach
membranowych. Trzpienie pomiarowe mają wymienne końcówki pomiarowe,
najczęściej o płaskiej, kulistej lub pryzmatycznej powierzchni pomiarowej.
Urządzenie wytwarzające nacisk pomiarowy powinno zapewniać możliwie
stały nacisk pomiarowy, niezależnie od położenia i kierunku przemieszczania
trzpienia pomiarowego.
Przetwornik służy do przetworzenia przemieszczenia trzpienia pomiarowe-
go na odpowiednie wskazanie. W budowie czujników wykorzystuje się najczę-
ściej przetworniki mechaniczne, optyczno-mechaniczne, elektryczne i pneuma-
tyczne.
Urządzenie wskazujące podaje wartości wielkości mierzonej w postaci
analogowej lub cyfrowej.
W ł a ś c i w o ś c i m e t r o l o g i c z n e czujników w zakresie charakte-
rystyki statycznej obejmują:
— wartość We działki elementarnej w przypadku analogowego urządzenia
wskazującego lub rozdzielczość dla cyfrowego urządzenia wskazującego,
-- długość Le działki elementarnej w analogowych urządzeniach wskazu-
jących.
-- zakres podziałki — przedział wartości między skrajnymi wskazami po-
działki, wyrażony w jednostkach miary oznaczonych na podziałce,
— czułość — stosunek przyrostu sygnału wyjściowego czujnika do przyrostu
odpowiedniego sygnału wejściowego,
— błąd poprawności (składowa systematyczna błędu czujnika),
— błąd powtarzalności (wierności) wskazań — składowa przypadkowa błędu
czujnika; zwykle za błąd powtarzalności przyjmuje się odchylenie średnie
eksperymentalne s z odpowiednim współczynnikiem lub zakres rozrzutu
wskazań.
— błąd histerezy — różnica wskazań czujnika, gdy tę samą stałą długość mie
rzoną osiąga się raz przy zwiększaniu długości mierzonej, drugi raz przy jej
zmniejszaniu,
—- błąd pobudliwości — zmiana wartości sygnału wejściowego nie powodu-
jąca zmiany sygnału wyjściowego czujnika,
—- próg pobudliwości —- najmniejsza zmiana sygnału wejściowego powo-
dująca dostrzegalną zmianę sygnału wyjściowego czujnika,
— błąd odczytania — w czujnikach z analogowym urządzeniem wskazującym
jest to łączny błąd interpolacji i paralaktyczny,
—- nacisk pomiarowy i jego zmiany.
145
Czujniki dźwigniowe (rys. 5.10) ze względu na duże błędy pomiaru i mały
zakres pomiarowy (np. limimetr przy wartości działki elementarnej 1 μηι ma
zakres pomiarowy ±30 μηι) są produkowane coraz rzadziej.
Rys. 5.10.
Czujnik dźwigniowy — zasada działania
Czujniki zębate [PN-68/M-53260] (rys. 5.11) to najbardziej
rozpowszechnione czujniki mechaniczne. Mają wyjątkowo duży —
jak na czujniki mechaniczne — zakres pomiarowy, wynoszący 3 lub
10 mm.
Rys. 5.11.
Czujnik zębaty o zakresie pomiarowym 10 mm; a) zasada
działania, b) wygląd zewnętrzny, c) budowa; / —tuleja
chwytowa, 2 — trzpień pomiarowy, 3 — końcówka
pomiarowa, 4 — tarcza obrotowa z podziałką główną,
5 —- wskazówka duża (wskazuje setne części milimetra),
6 — wskazówka mała (wskazuje milimetry), 7 — wskaźnik
tolerancji, 8 — koło zębate i sprężyna do kasowania luzów
w przekładni zębatej czujnika, 9 — urządzenie krzywkowe do
zapewnienia stałego nacisku pomiarowego
146
W a ż n i e j s z e w ł a ś c i w o ś c i metrologiczne to:
wartość działki elementarnej We — 0,01 mra,
nacisk pomiarowy < 1,5 N,
największa dopuszczalna zmiana nacisku pomiarowego 0,6 N,
błędy graniczne dopuszczalne w zależności od klasy dokładności wyko-
rzystanego zakresu pomiarowego wg tabl, 5.1.
Tablica 5.1. Błędy graniczne dopuszczalne czujników zębatych według PN-68/M-53260
Rys. 5.12.
Średnicówka czujnikowa z końcówką
pomiarową, a) rozprężną ze stożkiem,
b) z przekładnią dźwigniową
147
Zasadę działania przetwornika dźwigniowo-zębatego pokazano na rys.
5.13. Czujniki dżwigniowo-zębate produkują m.in. VIS, Mahr (fot. S.6), Tesa,
Zeiss. Wartość działki elementarnej czujników dźwigmowo-zębatych wynosi
najczęściej Ιμηι, a zakres pomiarowy ±0,05 mm. Błędy graniczne dopuszczalne
mają wartość ±0,5 μπι.
Przetworniki dźwigniowo-zębate zostały również zastosowane w czujni-
kach z pochylnym trzpieniem pomiarowym, mikrometrach z czujnikiem wbu-
dowanym oraz transametrach (fot. 5.3 i 5.4). Wartość działki elementarnej
czujnika wbudowanego w mikrometr, jak i transametru wynosi najczęściej
2 μηι, a zakres pomiarowy ±0,08 mm. Błędy graniczne dopuszczalne mają war-
tość ±1 μηι w zakresie ±0,02 mm i ±2 μηι w całym zakresie pomiarowym.
Właściwości metrologiczne wybranych czujników dźwigniowo-zębatych
zestawiono w tabl. 52.
Rys. 5.13,
Czujnik dźwigniowo-zębaty:
a) zasada działania, b) wygląd
zewnętrzny czujnika Millimess
(Mahr), c) wygląd zewnętrzny
czujnika z pochylnym
trzpieniem pomiarowym
Mesatast (Tesa)
148
Tablica 5.2. Właściwości metrologiczne czujników dźwigni o wo-zębatych
Rys. 5.14.
Czujnik dźwigniowo-śrubowy
— zasada działania
149
ka sprężyny napinającej 6 i jednoczesne rozciągnięcie sprężyny taśmowej L
Rozciągana sprężyna taśmowa 1 rozkręca się i wychyla przymocowaną do niej
wskazówkę 2.
Czułość czujnika sprężynowego oblicza się wg wzoru
(5.4)
gdzie k\, k2 , k? — czułości: sprężyny przekładniowej,
sprężyny taśmowej i układu wskazującego,/—jednostkowe ugięcie sprężyny
regulacyjnej.
Właściwości metrologiczne przykładowych czujników sprężynowych
podano w tabl. 5.3,
Rys. 5.15.
Czujnik sprężynowy a) konstrukcja, b) zasada
działania, / — sprężyna taśmowa, 2 —
wskazówka, 3 — trzpień, 4 — membrana, 5 —
sprężyna płaska, 6 — sprężyna napinająca
150
Rys. 5.16.
Czujnik dźwigniowo-optyczny, i — okular,
2 — pryzmat oświetlacza podziałki, 3 -—- płytka
obrazowa, 4 — pryzmat, 5 — obiektyw,
6 — wychylne zwierciadło, 7 —trzpień pomiarowy
151
Wa żn i ejs z e wła ś c i woś c i metro logiczne:
— wartość działki elementarnej 1 μπι,
— zakres podziałki ±100 μηι,
— nacisk pomiarowy κ 152 Ν,
— zmiana nacisku pomiarowego maks. 0,8 N,
— długość działki elementarnej na ekranie projekcyjnym Le= 1,6 mm.
Błędy graniczne dopuszczalne oblicza się według wzoru
(5.5)
152
najpierw powiększona przez układ mechaniczny (dźwignia nierównomierna),
a wyjściowy sygnał elektryczny zmienia się skokowo w chwilach odpowia-
dających określonym (nastawialnym) poziomom sygnału wejściowego.
153
i mostek pomiarowy, który na ogół stanowi integralną część głowicy. Przemien-
ne napięcie UQ, wytwarzane przez generator, zasila przez mostek głowicę pomia-
rową. W pewnym położeniu rdzenia cewki różnica napięć jest równa zeru. Gdy
rdzeń cewki, połączony z trzpieniem pomiarowym, zostanie przesunięty o pewną
długość, ulegnie zmianie indukcyjność cewki i spowoduje powstanie różnicy
napięcia proporcjonalnej do tego przesunięcia, o fazie zależnej od kierunku
ruchu. Po wzmocnieniu sygnału we wzmacniaczu, wartość przesunięcia trzpie-
nia pomiarowego może zostać odczytana z miernika z analogowym lub cyfro-
wym urządzeniem wskazującym. Wskazanie zerowe urządzenia wskazującego
ustawia się za pomocą potencjometru połączonego z układem. Do celów pomia-
rowych wykorzystuje się prostoliniową część charakterystyki czujnika, dopusz-
czając odchyłkę prostoliniowości o wartości 1% zakresu prostoliniowości, który
jest większy lub równy zakresowi pomiarowemu (rys. 5,19c).
Rys. 5.19.
Czujnik indukcyjny: a) schemat blokowy, b)
przetwornik indukcyjny, c) charakterystyka
przetwornika; / —trzpień pomiarowy, 2 — cewki, 3
—■ rdzeń ferromagnetyczny,
4—
s
p
r
ę
żyna wywołująca nacisk pomiarowy,
5 — potencjometr; U(t — napięcie
elektryczne, / — droga trzpienia
pomiarowego, L —- prostoliniowa część
charaktery styki
154
— rozdzielenie czujnika i urządzenia wskazującego ułatwia budowę przyrzą-
dów czujnikowych do pomiaru wielu wymiarów (fot. 5 7-5,13) Właściwości
metrologiczne wybranych czujników indukcyjnych podano
wtabl. 5.4
155
Najczęściej stosowane są^ czujniki ciśnieniowe. Ciśnienie powietrza/) w ko-
morze pomiarowej jest związane z odległością s dyszy pomiarowej od powierz-
chni mierzonego przedmiotu zależnością nieliniową (rys. 5.23)
P = /(j) (5.6)
Rys. 5.23.
Charakterystyka czujnika pneumatycznego
156
— możliwość konstruowania głowic pomiarowych uwzględniających specy
fikę wykonywanych pomiarów (rys. 5.25a),
— możliwość łączenia dwóch czujników w układ sumujący lub różnicowy
(rys, 5.25b^f).
Rys. 5.24.
Układ różnicowy czujnika pneumatycznego
157
ograniczeń i stosuje się ciśnienia robocze 500 do 4500 hPa. W zależności od
ciśnienia roboczego rozróżnia się więc czujniki pneumatyczne wysokociśnie-
niowe z manometrem mechanicznym (rys. 5.22a), czujniki pneumatyczne nisko-
ciśnieniowe z manometrem wodnym (rys. 5.22b). Konstrukcyjnie manometr
i głowica pomiarowa (fot. 5.14) czujnika pneumatycznego stanowią oddzielne
elementy. Manometr jest wyskalowany w jednostkach długości. Podziałki mano-
metrów są wymienne. Każda wymiana podziałki lub głowicy pomiarowej jest
związana z wykonaniem wzorcowania. Do realizacji procedury wzorcowania
używa się dwóch wzorców dla każdej głowicy pomiarowej.
Przykładami czujników pneumatycznych niskociśnieniowych są czujniki
firmy Mahr Millipneu 2001 (pojedynczy manometr) i Millipneu 2002-^2015
(zestawy odpowiednio 2 do 15 manometrów wodnych we wspólnej obudowie).
Przykładami czujników wysokociśnieniowych tej samej firmy sąMiiliprteu
1020 i 1040, umożliwiające przyłączenie jednej głowicy lub kilku głowic
w układzie sumującym, oraz Millipneu 1060, przeznaczone do pomiarów różni-
cowych (umożliwiają przyłączenie dwóch głowic). Zakresy pomiarowe czuj-
ników mogą być zmieniane w przedziale 12,5^1000 μηι (wartość działki ele-
mentarnej odpowiednio 0,2-^20 μπι).
158
Wzorce inkrementalne są wykonywane ze szkła lub ceramiki. W najdo-
kładniejszych czujnikach typu CERTO (tabl. 5.5) wzorzec jest wykonany z zero-
duru (a, = 0 ± 0,1 1/°C), natomiast składające się z uchwytu i walcowej
prowadnicy zamocowanie układu optoelektronicznego z fotoelementami —
z inwaru (a:inw = 1-10"6 1/°C). Takie rozwiązanie zapewnia wysoką dokładność
systemu w stosunkowo dużym zakresie zmian temperatury. Użycie odpo-
wiednich statywów firmy Heidenhain do czujników typu CERTO gwarantuje
nieprzekraczanie błędów granicznych dopuszczalnych, jeżeli temperatura
otoczenia wynosi 20 ±1°C, wahania zaś temperatury podczas pomiarów nie
przekraczają ± 0,1 °C.
Czujniki firmy Heidenhain nadają się do różnych zadań pomiarowych,
a także do mierzenia płytek wzorcowych podporządkowanych, bez potrzeby
używania dodatkowych wzorców.
Spotyka się rozwiązania z wbudowanym urządzeniem wskazującym (np.
Millitast 1072 (Mahr)). Niektóre rozwiązania współpracują z osobnym urządze-
niem wskazującym (np. czujnik 1512 z urządzeniem wskazującym Millitron-g
1501 IC (Mahr)). Czujniki inkrementalne mogą pracować w trybie automatycz-
nego wykrywania punktów zwrotnych (maksimum lub minimum).
Ważniejsze właściwości metrologiczne czujnika
Millitast 1072:
— rozdzielczość 1 μηι.
— zakres pomiarowy 25 mm.
— nacisk pomiarowy 1,5 N,
— błędy graniczne dopuszczalne ±3 μπΊ,
— maksymalna prędkość przemieszczania trzpienia pomiarowego 0,5 m/s.
59
pomocą czujników indukcyjnych oraz ważone. Następnie są laserowo znako-
wane i w zależności od wyników selekcji wymiarowej trafiają na odpowiednie
tory transportera.
Literatura
KrawczukE. (1977): Narzędzia do pomiaru długości i kąta. WNT, Warszawa.
Maiinowski J (1974): Pomiary długości i kąta. WNT, Warszawa
Warnecke H.J., Dutschke W. (red) (1984): Fertigungs mess technik, Handbuch fur Industrie
und Wissenschaft. Springer Verlag, Berlin.
ZiU H. (1974): Messen und Lehren im Maschinenbau und in der Feingeratetechnik. VEB
Verlag Technik, Berlin.
PN-80/M-53130 Narzędzia pomiarowe. Przyrządy suwmiarkowe, Wymagania*
PN-M~53130/Al:199ó Narzędzia pomiarowe — Przyrządy suwmiarkowe — Wymagania
(Zmiana A1).
PN-80/M-53130/Az2:2000 Narzędzia pomiarowe — Przyrządy suwmiarkowe — Wyma-
gania (Zmiana Az2)
PN-79/M-53131 Narzędzia pomiarowe. Przyrządy suwmiarkowe.
PN-82/M-53200 Narzędzia pomiarowe. Przyrządy mikro metryczne. Wymagania.
PN-M-53200/A 1:1998 Narzędzia pomiarowe — Przyrządy mikrometryczne — Wymagania
(Zmiana Al).
PN-88/M-532O1 Narzędzia pomiarowe. Wzorce nastawcze do mikrometrów zewnętrznych.
PN-80/M-53202 Narzędzia pomiarowe. Przyrządy mikrometryczne.
PN-73/M-53214 "Narzędzia pomiarowe. Mikrometry zewnętrzne do gwintów,
PN-73/M-53215 Narzędzia pomiarowe. Wzorce nastawcze do mikrometrów do gwintów.
PN-73/M-53216 Narzędzia pomiarowe. Końcówki pomiarowe wymienne do średnic po-
działowych gwintów.
PN-76/M-53245 Narzędzia pomiarowe. Średnicówki mikrometryczne.
PN-75/M-53259 Narzędzia pomiarowe. Przyrządy mikrometryczne czujnikowe. Wyma-
gania.
PN-68/M-53260 Warsztatowe środki pomiarowe. Czujniki zębate zegarowe.
PN-64/M-53265 Warsztatowe środki miernicze. Średnicówki z czujnikiem zegarowym.
Maszyny pomiarowe
6
6.1. Wiadomości wstępne
161
i wartości działki elementarnej 1 mm jest wbudowany w trzpień pomiarowy (2).
Przemieszczenie trzpienia pomiarowego mierzy się za pomocą zamocowanego
w korpusie przyrządu mikroskopu odczytowego ze spiralą Archimedesa (3).
Nacisk pomiarowy wynika z różnicy ciężarów połączonych cięgnem elementów
ruchomych, znajdujących się po przeciwnych stronach krążków stałych. Pręd-
kość, z jaką trzpień pomiarowy jest doprowadzany do styku ze stolikiem pomia-
rowym (6) lub znajdującym się na nim przedmiotem, jest stała dzięki zastoso-
waniu tłumika hydraulicznego.
Rys. 6.1.
Długości o mierz pionowy; / — wzorzec
kreskowy, 2 — trzpień pomiarowy, 3 —
mikroskop odczytowy, 4 — cięgno, .5
— kolumna, 6 — stolik pomiarowy, 7
—tłumik
162
— błędy graniczne dopuszczalne
dla całego zakresu pomiarowego: MPE - ±0,4 μπι,
dla zakresu ±0,1 mm: MPE- ±0,3 μπι,
— prędkość przesuwu trzpienia pomiarowego
w ruchu roboczym: 3,2 mm/s,
w ruchu jałowym: 17 mm/s,
— nacisk pomiarowy 0.5 lub 1,5 N.
Typowe z a s t o s o w a n i a długościomterzy pionowych to pomiary
wałków (sprawdzianów tłoczkowych) i gwintów zewnętrznych sposobem trój-
wałeczkowym (sprawdziany gwintowe),
163
W a ż n i e j s z e w ł a ś c i w o ś c i m e t r o l o g i c z n e produkowa-
nego obecnie przez firmę OK.M Jena długościomierza uniwersalnego ULM
Opal są następujące:
— rozdzielczość 0,1 μηι,
— zakres pomiarowy
w pomiarach zewnętrznych: 0-^600 mm, w
pomiarach wewnętrznych
z użyciem małych kabłąków: ΙΟ-Ξ-420 mm,
z użyciem średnich kabłąków: 30-^450 mm,
z użyciem dużych kabłąków: 30^390 mm,
z użyciem urządzenia elektronicznego: 1-M 12 mm, w
pomiarach gwintów wewnętrznych: M6-HM90,
— błędy graniczne dopuszczalne
dla całego zakresu pomiarowego: MPE = ±0,4 μηι, dla
zakresu ±0,1 mm: MPE= ±0,3 μπι,
— prędkość przesuwu trzpienia pomiarowego 0+250 mm/s,
— nacisk pomiarowy 1-, 1,5 lub 2,5 N,
Znanym długo ściomierzem jest również PLM 600 (fot. 6.1) firmy Mahr
Typowe z a s t o s o w a n i e długościomierzy uniwersalnych to pomiary
otworów (sprawdziany pierścieniowe) i gwintów wewnętrznych (sprawdziany
pierścieniowe gwintowe), ale również pomiary wałków i gwintów zewnęt-
rznych. Dodatkowe wyposażenie długościomierzy umożliwia ich wykorzystanie
również do sprawdzania przyrządów pomiarowych (czujników, mikrometrów,
średnicówek, sprawdzianów szczękowych).
6.2.3. Wysokościomierze
164
Ważniejsze właściwości metrologiczne:
— rozdzielczość 1 μιη,
— zakres pomiarowy przyrządu 0 ■*■ 600 mm,
— błędy graniczne dopuszczalne przy pomiarze na piycie pomiarowej klasy 0
wg D1N MPE = ±(2 + L/400) μηι, (L — mierzona długość w mm),
— maksymalna prędkość przesuwu ustawczego 600 mm/s,
— nacisk pomiarowy 1 N,
Wysokościomierze umożliwiają wywieranie stałego nacisku pomiarowego
w obydwu kierunkach. Niektóre przyrządy są wyposażone w głowice impulsowe
umożliwiające pomiar dynamiczny. Wyposażenie przyrządu stanowią trzpienie
pomiarowe z końcówkami różnych kształtów.
Do pomiaru odległości osi — głównie małych otworów — można wyko-
rzystać końcówki stożkowe, W pomiarach trzpieniami z końcówką kulistą przy-
rząd uwzględnia średnicę końcówki, przy czym jej wartość musi być wcześniej
wprowadzona albo zmierzona przez przyrząd w trakcie procedury wzorcowania.
Procedura wzorcowania przeprowadzana jest na stanowiącym wyposażenie
przyrządu wzorcu o budowie przedstawionej na rys. 6.3.
Rys. 6.3.
Wzorzec do kalibracji trzpieni
pomiarowych wysokość i om lerza; i, 2 —
powierzchnie do wzorcowania trzpieni z
końcówkami kulistymi, 3 — otwór do
wzorcowania trzpieni z końcówką stożkową
Otwór φ\5 umieszczony na wysokości 75
mm od podstawy służy do wzorcowania trzpieni o końcówkach stożkowych,
płytki zaś złożone powierzchniami roboczymi i znajdujące się w odległości 125
mm od podstawy — do trzpieni o końcówkach kulistych.
Możliwości pomiarowe wysokość i om i erza wyjaśniają przykłady 6.14-6.4.
Rys. 6.4.
Rysunek do przykładu 6.1
165
wybrać funkcję pomiaru wymiaru tolerowanego,
doprowadzić końcówkę pomiarową do zetknięcia z mierzoną powierzchnią, wprowadzić
wartość nominalną i odchyłki graniczne,
odczytać wskazania; zostaje wyświetlona odchyłka zaobserwowana wraz z informacją
o przekroczeniu (nieprzekroczeniu) granic tolerancji.
Rys. 6.5.
Rysunek do przykładu 6.2
Rys. 6.6,
Rysunek do przykładu 6.3
166
Przykład 6-4. W celu zmierzenia wymiarów d i a oraz odchyłek położenia otworów (rys,
6.7) należy:
— wybrać funkcję pomiaru dwu współrzędnościowego,
— zmierzyć otwory 2 i 4 w kierunku osi y, obrócić przedmiot o 90° i zmierzyć otwory 1 i 3
w kierunku osi χ,
— wprowadzić liczbę mierzonych otworów,
— zażądać wyświetlenia średnicy d okręgu podziałowego,
— przesunąć układ współrzędnych do środka okręgu podziałowego,
— obrócić układ tak, by przechodził przez środek otworu 1,
— zażądać wyświetlenia kąta a,
— zażądać wyświetlenia współrzędnych środków pozostałych otworów w układzie obróconym
Rys. 6.7.
Rysunek do przykładu 6.4
Rys. 6.8.
Pomiar odległości osi otworu od płaszczyzny
167
Tablica 6.1. Przebieg pomiaru odległości osi otworu od płaszczyzny wysokościomierzem
Digimar
168
W optoelektronicznych przyrządach pomiarowych wykorzystuje się m.in.
następujące sposoby pomiaru:
— metodę cienia,
— metodę pomiaru czasu (skaning),
— metodę triangulacyjną.
— metodę ogniskowania.
W metodzie cienia (rys. 6.9) na liniowym lub powierzchniowym wzorcu
CCD tworzy się obraz projekcyjny. Długość cienia na odbiorniku odpowiada
długości mierzonego przedmiotu. Metoda ta jest przydatna dla przedmiotów
płaskich oraz przedmiotów osiowosymetrycznych, gdyż wymaga dobrze zdefi-
niowanego konturu przedmiotu.
Rys. 6.9.
Metoda cienia; / — źródło światła, 2
— mierzony przedmiot, 3 — liniowy
wzorzec CCD
Rys. 6.10.
Metoda pomiaru czasu; / — źródło
światła (laser), 2 — obracające się
zwierciadło, 3 — mierzony przedmiot.
4 — odbiornik fotoelektryczny
169
stożków, promieni podtoczeń na wałkach stopniowych, gwintów i odchyłki
okrągłości. Dzięki drugiemu wzorcowi możliwy jest również pomiar (z mniejszą
dokładnością) długości poszczególnych stopni wałka.
W a ż n i e j s z e w ł a ś c i w o ś c i m e t r o l o g i c z n e najmniejszego
z rodziny przyrządów — CLS 2500 — są następujące:
— zakres pomiarowy
średnic: 0.3-^-25 mm,
długości: 0,5-^-200 mm,
— błędy graniczne dopuszczalne w pomiarach (L — mierzony wymiar w mm)
średnic: MPE = ±(1,5 + Z/25) μπι?
długości: MPE = ±(7 + LI 100) μηι
W metodzie triangulacyjnej (rys. 6.11) promień laserowy pada prostopadle
na powierzchnię mierzonego przedmiotu, odbiornik zaś, który odbiera odbite
światło, jest usytuowany pod kątem około 25°. Jeżeli zmienia się odległość
między źródłem światła a przedmiotem, promień odbity pada w inne miejsce
odbiornika. Jako odbiornika używa się na ogół liniowego wzorca CCD lub
fotodetektora. Metoda znajduje zastosowanie tylko dla przedmiotów dobrze
odbijających światło.
Rys. 6.11.
Metoda triangulacyjna; 1 — źródło
światła, 2 — liniowy wzorzec CCD,
3 — mierzony przedmiot
Rys.ć.12.
Metoda ogniskowania; / —
fotodetektor. 2 — układ
pomiarowy położenia
obiektywu. 3 — powierzchnia
mierzonego przedmiotu
170
Brak zogniskowania stwierdza fotodetektor i powoduje prostopadłe przesu-
nięcie obiektywu. To przesunięcie jest mierzone. Przy zakresie pomiarowym
1 mm rozdzielczość wynosi kilka nm. Powierzchnie mierzonych przedmiotów
muszą być czyste. Opisaną metodę stosuje się również do pomiarów chropowa-
tości powierzchni.
Rys. 6.13.
Budowa mikroskopu; / — okular, 2 — stolik
pomiarowy, 3 — układy pomiarowe przesunięcia
stolika, 4 —- oświetlacz, 5 — mierzony przedmiot
171
— nożyki pomiarowe,
— urządzenie projekcyjne, umożliwiające wykorzystanie mikroskopu jako
projektora lub obserwację przez kilka osób jednocześnie,
— nasadka czujnikowa,
— głowica podwójnego obrazu,
— obiektywy umożliwiające uzyskanie różnych powiększeń; najczęściej wy
korzystuje się obiektywy o powiększeniu 3x; stosuje się powiększenia lx,
l,5x- 5x? a w niektórych mikroskopach również 10x i 20x (powiększenie
okularu głowicy goniometrycznej wynosi 10x).
Mikroskopy coraz częściej wyposaża się w urządzenia ułatwiające nasta-
wienie optyczne, automatycznie wykrywające krawędź przedmiotu, czy nawet
systemy analizy obrazu. Spotyka się rozwiązania mikroskopów o dużym stopniu
mechanizacji i automatyzacji pomiaru. Do celów sterowania, jak również opra-
cowywania wyników pomiaru i wspomagania dokładności mikroskopy wyposa-
ża się w mikrokomputery. Możliwości oprogramowania pomiarowego są zbliżo-
ne do stosowanego w trój współrzędnościowych maszynach pomiarowych. Na
przykład w mikroskopie WM2 firmy Optotechnik Dr. Schneider Kreuznach
stolik jest przesuwany za pomocą silnika z możliwością sterowania ręcznego
(joystick) lub CNC.
Budowę głowicy goniometrycznej przedstawiono na rys. 6.14. Zasadni-
czym elementem głowicy jest obrotowa płytka szklana z krzyżem ι układem
dodatkowych kresek oraz podziałką kątową. Możliwość obracania płytki ułatwia
lokalizację punktów przedmiotu, a ponadto pozwala na pomiary kątów.
172
Nożyki pomiarowe (rys. 6.15) są stosowane najczęściej w pomiarach
wałków, stożków i gwintów. Ułatwiają i zwiększają dokładność nastawienia
optycznego, gdyż zamiast doprowadzania do pokrycia się kreski środkowej
(głównej) krzyża głowicy goniometrycznej z cieniem przedmiotu, doprowadza
się do koincydencji przerywanej kreski pomocniczej z ryską naciętą na
powierzchni starannie dosuniętego do powierzchni przedmiotu nożyka.
Rys. 6.15. Nożyki pomiarowe: a) wygląd, b) nastawianie; 1 — nożyk prosty, 2 — nożyki skośne, 3
— kreska główna, 4 — kreska pomocnicza okularu goniometrycznego nacięta w odległości
odpowiadającej odległości ryski, 5 — ryska nożyka, 6 — cień przedmiotu
Ryski na nożykach nacięte są w odległości 0,3 lub 0,9 mm. Wznios kłów.
wymiary podstawki pod nożyki i wymiary nożyków są tak dobrane, że styk
ostrej krawędzi nożyka z mierzonym przedmiotem zachodzi dokładnie na
wysokości osi przedmiotu.
Nasadka czujnikowa (rys. 6.16) ułatwia wykonywanie pomiarów średnic
otworów (technika stykowo-optyczna). Pionowemu ustawieniu trzpienia pomia-
rowego nasadki czujnikowej odpowiada symetryczne objęcie kreski głównej
krzyża przez obraz trzech par kresek rzutowany z płytki nasadki czujnikowej.
Rys. 6.16.
Nasadka czujnikowa a) schemat
optyczny, b) widok w okularze
głowicy goniometrycznei;
1 — trzpień pomiarowy,
2 — zwierciadło, 3 — płytka
z trzema parami kresek.
4 — źródło światła, 5 — głowica
goniometryczna
173
Głowicę podwójnego obrazu (rys. 6.17) stosuje się głównie do pomiarów
odległości osi małych otworów. Układ optyczny głowicy umożliwia uzyskanie
dwóch obrazów tego samego otworu. Jeśli otwór znajduje się w osi optycznej
mikroskopu, obrazy te nakładają się.
Rys. 6.17.
Układ optyczny głowicy podwójnego
obrazu
174
Przy nasuwaniu konturu przedmiotu na sensor, w chwili równości natężenia
oświetlenia pierścienia i koła (różnica natężenia oświetlenia wynosi wówczas
zero), następuje wytworzenie sygnału o wykryciu krawędzi i automatyczne
zatrzymanie — dzięki wysłaniu sygnału do przetwornika -— wskazania cyfro-
wego lub wartość wskazania zostaje przesłana do mikrokomputera. Podobnie
działa optoelektroniczne urządzenie FEK (fotoelektrische Kantenantastung)
współpracujące z mikroskopem Brown&Sharpe UWM mot μΡ. Powtarzalność
(2<τ) urządzenia FEK przy dynamicznym nastawianiu techniką pomiarową z oś-
wietleniem dolnym wynosi 2 μηι.
Rys. 6.18.
Nastawienie na prążek
interferencyjny (drugi) kreski
pomocnicze] krzyża; / — cień
przedmiotu, 2 — prążki
interferencyjne, 3 — kreska centralna
krzyża
Rys. 6.19.
Foto elektryczne urządzenie KK.R (Zeiss) do
automatycznego nastawiania mikroskopu ZKM na
krawędzie lub kreski mierzonych przedmiotów;
φ—różnica natężenia oświetlenia na pierścieniu (/)
i kole (2), &— krawędź mierzonego przedmiotu
175
Wa żni ejs z e właściwości metro lo g iczne:
— wartość działki elementarnej
podziałki kreskowej na bębnie: 0,01 mm5
podziałki głowicy goniometrycznej: Γ,
— zakres pomiarowy wzdłuż osi χ
głowicy mikrometrycznej: Ο-Ξ-25 mm,
z dodatkowym użyciem płytek wzorcowych: 0^-75 mm,
— zakres pomiarowy wzdłuż osiy: 0-^25 mm,
— największa długość mocowania w kłach
przedmiotów do 025 mm: 200 mm,
przedmiotów powyżej 025 mm do 055 mm: 150 mm,
— największa wysokość przedmiotu na stole pomiarowym: 90 mm,
— wznios kłów 29 mm.
Wzory na błędy graniczne dopuszczalne podano w pracy [Malinowski
1998].
Mikroskop pomiarowy BK 70x50 (FeinmeBzeugfabrik Suhl) może być —
zależnie od wyposażenia — używany w czterech odmianach jako:
— mikroskop warsztatowy mały,
— mikroskop do badań metalograficznych i pomiarów długości,
— precyzyjny mikroskop do pomiarów małych długości,
— mikroskop podwójny do pomiarów chropowatości powierzchni.
Mikroskop BK 70x50 ma urządzenie do wytwarzania prążków interferen
cyjnych.
176
6.4,3. Mikroskopy uniwersalne
177
Przykładem optoelektronicznego mikroskopu pomiarowego jest mikroskop
UMS 432 (Leite). Najważniejsze elementy przyrządu, odróżniające go od
tradycyjnych rozwiązań mikroskopów pomiarowych to kamera CCD o roz-
dzielczości ok. 250 000 pikseli (512x512 pikseli o wymiarach 11x14 μηι)
współpracująca z wieloprocesorowym, komputerowym systemem analizy obra-
zu. Do wyznaczania mierzonych elementów (np. okręgu) można wykorzystać
wszystkie punkty stanowiące jego kontur. Przyrząd ma sterowanie CNC wszys-
tkich trzech osi. Może współpracować z uniwersalnym programem pomiarowym
Quindos. Bliższe informacje na temat budowy przyrządu i algorytmów
stosowanych do analizy obrazu można znaleźć w pracach [Jacksch, Ricklefs
1989,Ricklefs 1989],
W a ż n i e j s z e w ł a ś c i w o ś c i met ro lo g ic zne:
— zakres pomiarowy 400x300x200 mm,
— rozdzielczość 0.1 μΐη,
— błędy graniczne dopuszczalne (L — mierzona długość w mm):
w osiach χ i y: MPE\ = ±(1 + L/400) μηΐ-
w osi z: MPEi = ±(1,3 + L/200) μτη,
w przestrzeni: MPE3 - +(1,9 + L/200) μηι.
Przyrząd jest przeznaczony głównie do optycznych pomiarów części płas-
kich i odkształcalnych. Przy użyciu autofokusa względnie głowicy stykowej 3D
możliwe są również pomiary przestrzenne. Podobne możliwości pomiarowe ma
mikroskop Libra (Leitz-Brown&Sharpe).
Mikroskopy uniwersalne coraz częściej są rozbudowywane przez wprowa-
dzanie dodatkowych osi pomiarowych i stają się współrzędnościowymi maszy-
nami pomiarowymi, stosującymi często różne sposoby odbierania informacji
pomiarowej (ang. multisensor technology). W rozwiązaniach tych przyrządów
wykorzystuje się ponadto takie techniki jak analizę obrazu (ang. digital image
analysis), wysokiej dokładności układy optyczne jak np, obiektywy telecen-
tryczne, czujniki do triangulacji laserowej, współosiowe czujniki odległości.
Stoły obrotowe osiągają dokładność w pomiarach kąta rzędu 5", przy rozdziel-
czości 1", a błędy promieniowe tych stołów są rzędu 3 μηι. Przykładem są
optyczne maszyny pomiarowe firmy OKM Jena powstałe na bazie produ-
kowanych wcześniej mikroskopów. Są to następujące serie przyrządów:
— Accure (fot. 6,2) — wyposażone w głowice stykowe i optyczne, posiadające
3 do 6 sterowanych CNC osi pomiarowych, przeznaczone głównie do
dokładnych pomiarów narzędzi skrawających, np. frezów ślimakowych do
kół zębatych,
— Uni-VlS — wyposażone w głowice stykowe i optyczne, przeznaczone do
zastosowań uniwersalnych,
— Planaris — przeznaczone do szybkich pomiarów bezstykowych (dzięki
zastosowaniu łożyskowania na poduszce magnetycznej), jak na przykład
pomiary płytek obwodów drukowanych.
Pomiary optyczne z użyciem kamer CCD generalnie nie różnią się od
pomiarów klasycznych na mikroskopach pomiarowych. Obiektyw powiększa
obraz przedmiotu i przekazuje go do kamery CCD. Piksele matrycy są rozłożone
równomiernie zgodnie z wymaganiami stawianymi wzorcom. Użycie komputera
178
i programu OSPREY do analizy odebranego obrazu daje następujące dodatkowe
możliwości:
— pozwala oglądać obraz na monitorze komputera zamiast w okularze
mikroskopu,
— pozwala na wykonanie dopasowania elementów geometrycznych,
— uwalnia od subiektywnych wpływów na wynik pomiaru,
— przyspiesza zbieranie i przetwarzanie danych pomiarowych,
— pozwala na automatyczną realizację przebiegu pomiarowego,
— pozwala (w razie potrzeby) na wielokrotne powtórzenie pomiaru,
-- ułatwia dokumentowanie i przechowywanie wyników pomiaru.
Kamery CCD mogą być używane w dwóch różnych celach: do wykonania
bezdotykowych pomiarów i do oceny wizualnej. W pomiarach współrzędno-
ściowych uzyskuje się wartość mierzonej charakterystyki (ocena ilościowa),
ocena wizualna pozwala jedynie na stwierdzenie czy dana cecha występuje
(ocena jakościowa).
OSPREY został stworzony z myślą o pomiarach współrzędnościowych
z użyciem kamery CCD aie niezależnie od tego czy będzie wykonywany pomiar
czy ocena wizualna wykonuje się następujące kroki:
— wybór właściwego obiektywu,
— oświetlenie przedmiotu w sposób odpowiedni do zadania pomiarowego,
— nastawienie ostrości,
— odebranie obrazu przedmiotu (lub fragmentu przedmiotu) przez kamerę
CCD,
— przesłanie tego obrazu do komputera.
— wykonanie analizy komputerowej zebranych danych.
Możliwa do osiągnięcia dokładność pomiaru jest zależna od powiększenia,
wymiarów pikseli i liczby rozróżnialnych poziomów szarości,
OSPREY wykrywa punkty konturu na linii poszukiwania przy zasto-
sowaniu kryteriów określonych przez użytkownika. Rozpoznanie krawędzi jest
realizowane w dwóch krokach, najpierw zgrubne rozpoznanie krawędzi,
a następnie zastosowanie procedury umożliwiającej osiągnięcie dokładności
poniżej pojedynczego piksela (ang. subpixel-accuracy procedure).
Zgrubne rozpoznanie krawędzi możliwe jest przy użyciu jednego z kilku
kryteriów. W trybie maksymalnego nachylenia (ang. maximum slope) program
wykrywa punkty zarysu przez znalezienie punktu odpowiadającego największej
zmianie jasności na kierunku poszukiwania (pochodna funkcji jasność od
przemieszczenia osiąga maksimum). Nie jest przy tym ważne czy funkcja jest
rosnąca czy malejąca. Ten sposób wykrywania krawędzi nie zależy od jasności
ani od kierunku przemieszczenia ale wymaga kontrastu o minimum 16
poziomach szarości. W trybie progu (ang. threshold) oprogramowanie wykrywa
punkty zarysu o wcześniej wprowadzonej lub wskazanej wartości jasności. Tutaj
również nie jest ważne czy jasność narasta czy maleje. Ten sposób umożliwia
wykrywanie krawędzi przy niskim kontraście, nie zależy od kierunku
przemieszczania ale jest bardzo wrażliwy na oświetlenie, W trybie korelacji
(ang. correlation) oprogramowanie wykrywa punkty zarysu wykazujące naj-
większe podobieństwo do wcześniej wskazanych krawędzi wzorcowych. Znale-
79
zionę w ten sposób punkty są akceptowane pod warunkiem, że przekroczyły
określony minimalny poziom korelacji (domyślnie 80%). Ten sposób umożliwia
wykrywanie krawędzi przy niskim kontraście, jest niewrażliwy na lokalne
zmiany jasności ale zależy od kierunku przemieszczania co oznacza, że wymaga
zachowania tego samego kierunku pomiaru co przy wskazywaniu krawędzi
wzorcowej. W trybie próg dynamiczny (ang. dynamie threshold) próg jest
określany automatycznie jako wynik analizy jasności obrazu w oknie po-
miarowym, jest on zalecany jako procedura standardowa przy kontrastowych
krawędziach.
Osiąganie sub-pikselowej dokładności jest możliwe przy pomocy aproksy-
macji wielomianem pierwszego lub trzeciego stopnia (ang. approximation
polynomial I and 3), interpolacji wielomianem pierwszego lub trzeciego stopnia
(ang. interpolation polynomial I and 3), korelacji (ang. correlation).
O efektywności pomiarów z kamerą CCD w dużej mierze decyduje sposób
oświetlenia. Kontrast i równomierne oświetlenie całego obszaru obrazu ma
bardzo istotny wpływ na wyniki pomiaru Do wyboru są cztery rodzaje
oświetlenia. Oświetlenie delikatne światłem przechodzącym (ang. silhouette
transmitted-light illumination) zapewnia najlepszy kontrast i najwyższą dokład-
ność. Ten sposób oświetlenia jest właściwy dla przedmiotów przeźroczystych
oraz przy mierzeniu konturów zewnętrznych przedmiotów nieprzeźroczystych.
Oświetlenie powierzchniowe (ang, surface illumination) jest wymagane kiedy
nie może być użyte delikatne oświetlenie.
Przykładem techniki „multisensorowej" jest również przyrząd Multiscope
222 firmy Mahr (fot. 6.3), z serii przyrządów o nazwie MarVision. Podstawa
przyrządu jest wykonana z granitu a sterowany CNC stolik — z aluminium.
Przyrząd jest wyposażony w liniowe układy pomiarowe o rozdzielczości 0,5 μιη.
Na system optycznej głowicy pomiarowej składają się: wysokiej rozdzielczości
kamera CCD, cyfrowy system analizy obrazu pracujący w odcieniach szarości,
system rozpoznawania krawędzi, procedury filtracji, szybkie ogniskowanie
i bezstopniowy zoom. Jako głowicę stykową zastosowano głowicę impulsową
TP 20 (Renishaw), Podstawowe parametry przyrządu są następujące: odległość
robocza 75 mm,
— rozdzielczość (wielkość piksela) 1,8-Ξ-11 μηΊ,
— pole widzenia 1 mm χ 1,3 mm do 6,3 mm χ 8,5 mm.
— zakres pomiarowy 250 mm χ 200 mm χ 200 mm,
— błędy graniczne dopuszczalne:
wzdłuż osi MPE\ = 2,4 + L/l 50; w
płaszczyźnie MPE2 = 3,2 + Z/125; w
przestrzeni MPE^ = 3,9 + L/100.
6.4.4. Projektory
180
W pierwszym przypadku na ekranie projekcyjnym widać powiększone cienie
zarysu przedmiotów, w drugim — obrazy oświetlonej powierzchni. Projektory
są używane także z jednoczesnym zastosowaniem obu odmian oświetlenia.
Rys. 6.20.
Projektor pomiarowy, / — stoi
pomiarowy, 2 — mierzony przedmiot, 3
— zwierciadła, 4 — ekran, 5 — czujnik
fotoelektryczny, <5 — układ pomiarowy, 7
— wskaźnik
81
Literatura
Cichosz Pr, Kuzinowsh M. (1994): Pomiar i ustawianie narzędzi skrawających w elasty-
cznych gniazdach produkcyjnych. Zeszyty Naukowe PŁ Filii w Bielsku-Białej, Nr 24,
Politechnika Łódzka Filia w Bielsku-Białej, Bielsko-Biała.
Dutschke W, (1993): Fertigungsmeptechnik. B. G. Teubner Stuttgart.
Jacksch M., Rwklefs U. (Ί989)1 Optische Qualit&tsprufung mil Bildverarbeitung Feinwerk-
technik&MefitechnikNr 12/1989.
Limanu O., Pelka Η (1992): Optoelektronika. WKŁ, Warszawa.
Maiinowski J (1998): Pomiary długości i kąta w budowie maszyn. WSiP. Warszawa.
Pro/os P., Pfeifer T. (1992); Handbuch der industriellen MeBtechnik. R. Oldenbourg Verlag,
Munchen Wien.
Sniechowski R. (1994): Ustawianie narzędzi poza obrabiarką. Mechanik 12/1994.
Warnecke H.J., Dutschke W. (red) (1984): Fertigungsmefitechnik. Handbuch fur Industrie
und Wissenschaft. Springer Verlag, Berlin.
Interferometry
7
7.1. Wiadomości wstępne
IX Interferometry laserowe
8
3
gdzie: n — liczba impulsów, λ — długość fali użytego promieniowania, k —
współczynnik interpolacji.
Rys. 7.2.
Schemat pomiaru kąta przy uzyau
interferometru laserowego; I —
układ pryzmatów interferometru
kątowego, 2 — układ reflektorów
184
tych wiązek używa się reflektora o dwóch płaskich powierzchniach nachylonych
do siebie pod kątem 180° - φ. Odchylenie osi symetrii wiązek od osi symetrii
reflektora powoduje powstanie różnicy dróg optycznych.
185
gdzie: ρ —- ciśnienie atmosferyczne, hPa; / —- temperatura powietrza, °C; Η—
wilgotność względna powietrza, %,
W warunkach t = 20°C,ρ = 1013 hPa oraz H= 50% długość fali promie-
niowania lasera He-Ne wynosi λ = 632,820 nm.
Jeżeli warunki nieznacznie się zmieniają, wówczas zmiany długości fali
świetlnej można obliczyć według przybliżonych wzorów
(7.3)
(7.4)
(7.5)
186
— laser HP 5518A (stabilizowany, helowo-neonowy, dwuczęstothwościowy),
— urządzenie odczytowe HP 5508A z modułem mikrokomputerowego opraco
wania informacji pomiarowej.
— kilka elementów optyki wraz z urządzeniami mocującymi,
— opcjonalnie podstawa pod laser (trójnóg).
Użytecznym elementem wyposażenia jest mikrokomputer z oprogramowaniem
do opracowania (również graficznego) wyników pomiarów
Zestaw do pomiarów przemieszczeń (i prędkości) liniowych — HP
55280A zawiera
— układ pryzmatów interferometru liniowego HP 10766A,
— dwa reflektory HP 10767A,
— elementy montażowe.
Główne zastosowanie to. ustawianie i sprawdzanie sterowanych numerycz-
nie obrabiarek oraz maszyn pomiarowych (rys. 7.4), a ponadto sprawdzanie
przyrządów mikrometrycznych. wzorców kreskowych, pomiary gwintów ltp
187
Rys. 7,5. Układ interferometru laserowego do sprawdzania dokładności obrabiarek ze względu na
ruchy skrętne
188
Rys. 7,6. Układ interferometru laserowego do sprawdzania odchyłki prostoliniowości przesuwu w
płaszczyźnie pionowej
189
7.2.2. Modułowy układ pomiarowy HP 5527A (Hewlett-Packard)
Rys. 7.7. Układ pomiarowy HP 5527A; / — laser, 2 — układ optyczny, 3 — płytka dzieląca, 4
— odbiornik fotoelektryczny, 5 —■ reflektor, 6 — pryzmat dzielący, 7 — fotodetektor, 8 —
układ dostrojenia lasera, 9 — moduł opracowania informacji pomiarowej, W — głowica
laserowa, // — sygnał pomiarowy, 12 — sygnał odniesienia, 13 — wyjście 32-bitowe, 14 ~
wyjście binarne, 15 — wyjście HPIB, 16 — wyjście analogowe
Rys. 7.8. Układ jednoosiowy do sterowania ruchem głowicy napędu dysku twardego
mikrokomputera (opis w tekście)
190
Rys. 7.9. Układ dwuosiowy do sterowania ruchami stolika x~y (opis w tekście)
191
3. Zastosowanie obrotowego lustra HP 10769A ułatwia sprawdzanie tokarek
i innych obrabiarek z ruchomym stołem.
4. Zastosowanie zaawansowanego oprogramowania ułatwia analizę wyników
pomiarów, łącznie z SPC (np. analiza trendu), a także umożliwia przekazy
wanie wyników w postaci czytelnej dla arkuszy kalkulacyjnych (np. MS
Excel) do własnych opracowań.
5. Oprogramowanie umożliwia również generowanie tablic poprawek do
matematycznej korekcji maszyn sterowanych CNC, a także wyznacza
wszystkie sześć składowych błędu dla każdej osi sprawdzanej maszyny,
192
— liczba osi pomiarowych 1-^-6,
— zakres pomiarowy 20 m,
— rozdzielczość 5 nm.
Podstawowe wyposażenie przyrządu stanowią:
— laser,
— elementy optyki i elementy montażowe do pomiaru długości wjednej osi
pomiarowej,
— karta rozszerzenia i oprogramowanie do mikrokomputera zgodnego z IBM
(minimum 80486, 2MB RAM, 2 wolne gniazda rozszerzenia).
Wyposażenie dodatkowe zawiera:
— moduły optyki i elektroniki umożliwiające rozbudowę konfiguracji do
sześciu osi,
— moduł AUK 500 do kompensacji warunków otoczenia.
193
Stabilizowany dwumodowy laser He-Ne (λ = 633 μηι) znajduje się
wewnątrz modułu laserowego w specjalnej obudowie, chronionej termicznie
ί izolowanej od drgań. Dzięki temu uzyskuje się wysoką stabilność często-
tliwości. Laser jest kalibrowany laserem He-Ne stabilizowanym jodem (pocho-
dzącym z listy rekomendowanej przez CIPM), zapewnia więc odniesienie do
międzynarodowego wzorca metra.
W interferometrze ILM 1 1 3 1 położono duży nacisk na korekcję para-
metrów otoczenia, a więc ciśnienia, temperatury i wilgotności powietrza. Czuj-
nik ciśnienia znajduje się w module lasera. Czujniki parametrów powietrza
mierzą temperaturę powietrza, jak również jego wilgotność. Czujniki tempe-
ratury mierzą także temperaturę powierzchni montażowych lub przedmiotów.
Dzięki temu mogą być korygowane zmiany długości. Każdy z czujników jest
oddzielnie wzorcowany i zachowana jest spójność pomiarowa z krajowym wzor-
cem temperatury. Dane z wzorcowania i typ czujnika znajdują się w pamięci
tych czujników i są automatycznie wczytywane w moduł lasera.
Liniowo polaryzowane światło lasera He-Ne jest przesyłane przez utrzy-
mujący polaryzację światłowód, od lasera do głowicy mierzącej, gdzie obiektyw
kolimuje promień lasera. Oddzielna optyka interferometru wytwarza równo-
rzędne, dokładnie równoległe wiązki promieniowania, które mogą być użyte
jako pomiarowe lub referencyjne, Optyka ta umożliwia proste justowanie całego
interferometru i prostą kompensację martwego odcinka. Dwa pryzmaty skiero-
wują wiązki promieniowania z powrotem do optyki interferometru, gdzie wiązki
te interferują. Fotoodbiornik w głowicy mierzącej zmienia modulowane inten-
sywności światła w sygnały elektryczne. Te wyjściowe sygnały są inter-
polowane w module laserowym i dalej opracowywane. Wynik pomiaru zostaje
pokazany na wyświetlaczu lub jest przesyłany za pomocą złącza do dalszego
wykorzystania lub zapisania na komputerze.
Literatura
Dobosz MY Ratajczyk Ε (1996): Interferometr laserowy w badaniach dokładności
współrzędnościowych maszyn pomiarowych. II Krajowa Konferencja Naukowa z udziałem
międzynarodowym. Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkiej w Bielsku-Białej, Konferencje
nr 33.
Ernst Λ (1993): Digitale Langen- und WinkelmeBtechnik Vcrlag Modernę Industrie AG,
Landsberg/Lech
Jabłoński R (1983): Laserowe pomiary długości i kąta. Wydawnictwa Politechniki
Warszawskiej, Warszawa.
Lauternborn W., Kurz T.. Wiesenfełdt M. (1995): Coherent optics. Fundamentals and
Applications. Springer-V er lag, Berlin, Heidelberg, New York.
Pieńkowsh J., Rzepka J, Sambor S, Pawołka Η (1998): Interferometr laserowy w systemie
jakości ISO 9000 przemysłu obrabiarkowego. Krajowy Kongres Metrologii — Nowe Wyzwania
i Wizje Metrologii, tom 5 Gdańsk'98.
Rzepka J„ Pieńkowsh -/., Sambor S., Pawołka Η (1998): Laserowy interferometr LSP-
Compact. Krajowy Kongres Metrologii — Nowe Wyzwania i Wizje Metrologii, tom 4,
Gdańsk'98.
194
Smereczyńska Β (1997): Zastosowanie mikrainterferometm Linnika z komputerową analizą
prążków interferencyjnych wzorców chropowatości powierzchni VII Konferencja Naukowo-
Techniczna: Metrologia w Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielceł97, tom II, Politechnika
Świętokrzyska
Thomas G G (1974): Engineering metrology. Butterworths, London
Wolniewicz Ε (1978)" Pomiary interferencyjne. Systemy wzorców długości. Wydawnictwa
Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
Nadzorowanie przyrządów
pomiarowych i obrabiarek
8
8.1- Wiadomości wstępne
196
—- sprawdzenie (ang. verification) — potwierdzenie, przez zbadanie i zabez-
pieczenie dowodu, spełnienia określonych wymagań. W połączeniu z gos-
podarką wyposażeniem pomiarowym umożliwia sprawdzenie, czy odchy-
lenia między wartościami pokazanymi przez przyrząd pomiarowy i odpo-
wiadającymi im znanymi wartościami mierzonej wielkości są konsek-
wentnie mniejsze aniżeli błędy graniczne dopuszczalne określone normą,
przepisem lub specjalną specyfikacją dotyczącą gospodarki wyposażeniem
pomiarowym. Wynik sprawdzenia jest podstawą decyzji zarówno o po-
nownym włączeniu do eksploatacji, jak i dokonaniu regulacji, naprawy,
obniżeniu klasy tub wycofaniu z eksploatacji. We wszystkich przypadkach
wymagane jest pisemne odnotowanie wykonanego sprawdzenia w indy-
widualnych zapisach danego przyrządu pomiarowego;
— spójność pomiarowa (ang. traceability) [Międzynarodowy słownik ...
1993] — właściwość wyniku pomiaru lub wzorca jednostki miary pole
gająca na tym, że można je powiązać z określonymi odniesieniami, na ogół
z wzorcami państwowymi lub międzynarodowymi jednostki miary, za
pośrednictwem nieprzerwanego łańcucha porównań, z których wszystkie
mają określone niepewności;
— wzorzec odniesienia (ang. reference standard) [Międzynarodowy słownik
... 1993] — wzorzec jednostki miary o najwyższej zazwyczaj jakości
metrologicznej dostępny w danym miejscu lub danej organizacji, który
stanowi odniesienie do wykonywanych tam pomiarów;
--- laboratorium pomiarowe (ang. calibration laboratory) — laboratorium
wykonujące wzorcowania;
— kontrola (ang. inspection) — czynności takie, jak: mierzenie, badanie,
stosowanie sprawdzianów w odniesieniu do jednej lub kilku cech wyrobu
lub usługi oraz porównywanie wyników z ustalonymi wymaganiami w celu
określania zgodności;
— niezgodność (ang. nonconformity) — niespełnienie ustalonych wymagań
(nie pociągające za sobą niemożności użytkowania obiektu);
— wada (ang. defect) — niespełnienie wymagań związanych z zamierzonym
użytkowaniem (ustalone w specyfikacji wymagania mogą się różnić od
wymagań związanych z zamierzonym użytkowaniem);
— specyfikacja (ang. specification) — dokument wyszczególniający wy
magania, z którymi wyrób lub usługa powinny być zgodne (specyfikacja
powinna zawierać rysunki, schematy lub powołania na inne, odpowiednie
dokumenty, a także wskazywać środki i kryteria sprawdzania zgodności
z wymaganiami).
197
8.2.1. Sprawdzanie przyrządów suwmiarkowych
198
Do wyznaczania błędów wskazań stosuje się płytki wzorcowe. Wskazane
jest, żeby błąd wskazań był wyznaczany przy różnych wzajemnych położeniach
wrzeciona i kowadełka. Firma Mahr produkuje specjalne komplety płytek wzor-
cowych (fot. 8.1), zawierające płytki o wymiarach. 2,5, 5,1, 7,7, 10,3, 12,9, 15,0,
17,6, 20.2, 22,8 i 25 mm, Do wyznaczania błędów wskazań można zastosować
także długościomierz uniwersalny. Wymagane wyposażenie dodatkowe do
sprawdzania mikrometrów stanowią elementy do mocowania mikrometrów
(płyta, pryzma i kątowniki oporowe) oraz ramię pomiarowe ze wspornikiem
z kulistą końcówką do sprawdzania mikrometrów (rys. 8.2.).
Rys. 8.2.
Sprawdzanie mikrometru przy użyciu dlugościomierza
199
Przyrząd Optimar 100 (fot. 8.2). ma wbudowany wzorzec inkrementalny
LIF 101 z korekcją błędów i współpracuje z komputerem osobistym w systemie
Windows. Komputer tworzy wykres błędów wskazań oraz wyznacza błędy
wskazań dla poszczególnych zakresów. Ważniejsze dane techniczne przyrządu:
—- rozdzielczość 0,02 μτη-
— zakres pomiarowy 100 mm,
— błędy graniczne dopuszczalne MPE = ±(0.2 + L/l 00) μηι; L w mm.
Wymagane wyposażenie dodatkowe długościomierza uniwersalnego umo
żliwiające wyznaczenie błędów wskazań czujników, stanowi ramię pomiarowe
oraz wspornik do mocowania czujników (rys. 8.4).
Rys. 8.4.
Sprawdzanie czujnika przy użyciu długościomierza
200
Przyrząd czujnikowy firmy Mahr do sprawdzania płytek wzorcowych (rys.
8.5, fot.8.4) służy do pomiarów zarówno długości jak i rozrzutu długości płytek
wzorcowych. Charakterystycznym elementem przyrządu jest układ (prowadnica
krzywkowa) ułatwiający ustawienie płytki sprawdzanej w pięciu położeniach
(środek i cztery punkty narożne). Przyrząd jest wyposażony w mikrokomputer
ułatwiający opracowanie i wydruk wyników. Oprogramowanie mikrokomputera
umożliwia stosowanie różnych sposobów organizacji sprawdzania: sprawdzanie
pojedynczych płytek, sprawdzanie kompletów płytek oraz równoległe spraw-
dzanie kilku (do 9) jednakowych kompletów płytek.
Rys. 8.5.
Przyrząd czujnikowy do sprawdzania
piytek wzorcowych (Mahr),
/ — czujnik indukcyjny,
2 — pompka powietrza,
3 — krzywka prowadząca,
4 — płytka wzorcowa kontrolna,
5 — płytka wzorcowa sprawdzana
201
— w [PN-EN ISO 10360-1:2002] przedstawiono terminologię dotyczącą
CMM oraz ich sprawdzania,
— w [PN-BN ISO 10360-2:2002] opisano procedury wyznaczania błędu
wskazań CMM podczas pomiaru wymiaru oraz błędu głowicy pomiarowej,
~™ w [PN-EN ISO 10360-3:2002] opisano procedurę wyznaczania błędów osi
stołu obrotowego dla CMM z osią stołu obrotowego jako czwartą osią,
— w [PN-EN ISO 10360-4:2002] opisano procedury wyznaczania błędów
skanowania i czasu skanowania dla CMM stosowanych do pomiarów
w trybie pomiaru skaningowego,
— w [PN-EN ISO 10360-5:2002] opisano procedury wyznaczania błędów
systemu głowicy pomiarowej dla CMM z zespołem głowic pomiarowych
wielotrzpieniowych (w tym głowic pomiarowych obrotowo-uchylnych),
— w [PN-EN ISO 10360-6:2002] opisano metodę badania oprogramowania
używanego do wyznaczania elementów skojarzonych na podstawie po
miarów współrzędnościowych.
202
ważne wzorcowanie ze względu na kształt, ponieważ odchyłka kształtu ma
wpływ na wynik badania i powinna być uwzględniona podczas orzekania
zgodności lub niezgodności ze specyfikacją. W czasie badania kula badawcza
powinna być umieszczona w innym miejscu niż kula wzorcowa używana do
kwalifikacji zespołu głowicy pomiarowej.
Badanie wykonuje się według następującej procedury:
— wybrać kierunek trzpienia pomiarowego oraz miejsce zamocowania kuli
badawczej. Zaleca się, aby kierunek trzpienia końcówki pomiarowej nie był
równoległy do żadnej osi CMM, Należy pamiętać, że wybór kierunku
trzpienia pomiarowego oraz miejsca zamocowania kuli badawczej może
znacząco wpłynąć na wynik badania.
— zainstalować i przeprowadzić kwalifikację zespołu głowicy pomiarowej
zgodnie z normalnymi procedurami producenta,
— zamocować kulę badawczą. Kulę badawczą należy zamocować sztywno,
aby zminimalizować błędy związane z jej przemieszczeniem.
-— wykonać próbkowanie kuli w 25 punktach i zapisać (zapamiętać) wyniki.
Punkty w których wykonuje się próbkowanie powinny być w przybliżeniu
równomiernie rozmieszczone na obszarze przynajmniej połowy kuli ba-
dawczej,
— korzystając z wyników 25 pomiarów obliczyć metodą Gaussa element
skojarzony w postaci sfery. Następnie dla każdego z 25 punktów obliczyć
odległość od środka sfery R. Błąd głowicy pomiarowej P, oblicza się jako
rozstęp 25 odległości punktów od środka sfery
(8.1)
Zaleca się następujące rozmieszczenie 25 punktów próbkowania kuli
badawczej (rys. 8.6.):
Rys. 8,6.
Zalecane rozmieszczenie punktów próbkowania
203
— cztery równo od siebie oddalone punkty na poziomie 22,5° poniżej bieguna
kuli,
— osiem równo od siebie oddalonych punktów na poziomie 45° poniżej
bieguna kuli i obróconych 22,5° w stosunku do poprzedniej grupy punktów,
— cztery równo od siebie oddalone punkty na poziomie 67,5° poniżej bieguna
kuli i obrócone 22,5° w stosunku do poprzedniej grupy punktów,
— osiem równo od siebie oddalonych punktów na poziomie 90° poniżej
bieguna kuli (na równiku) i obróconych 22,5° w stosunku do poprzedniej
grupy punktów.
Błędy graniczne dopuszczalne wskazań CMM podczas pomiaru wy-
miaru, E są określane przez producenta za pomocą jednego z poniższych
wzorów (rys. 8.7):
(8.2)
(8.3) (8.4)
gdzie: A, β — stałe wyrażone w μηι. Κ— stała
bezwymiarowa, L — mierzona długość w mm.
Rys. 8.7. Różne sposoby określania błędu granicznego dopuszczalnego wskazań CMM podczas
pomiaru wymiaru; a) wzór (8.2), b) wzór (8 3), c) wzór (8.4)
204
Rys. 8.8. Wzorzec stopniowy długości (Kolb&Baumann); a) w uchwycie, w położeniu w czasie
pomiaru wymiaru zewnętrznego, b) przekrój poprzeczny wzorca
205
Działanie CMM używanej do pomiaru wymiaru jest prawidłowe jeśli:
— błąd głowicy pomiarowej, P nie przekracza błędów granicznych dopusz
czalnych głowicy pomiarowej, MPE}>, ustalonych przez producenta (w przy
padku badań odbiorczych) lub użytkownika (w przypadku badań okre
sowych), z uwzględnieniem niepewności pomiaru według ΡΝ-ΕΝ ISO
14253-1:2000.
•— żaden z błędów wskazania CMM podczas pomiaru wymiary, Ε nie prze-
kracza błędów granicznych dopuszczalnych wskazania CMM podczas po-
miaru wymiaru, MPEj:, ustalonego przez producenta (w przypadku badań
odbiorczych) lub użytkownika (w przypadku badań okresowych), z uwzglę-
dnieniem niepewności pomiaru według PN-EN ISO 14253-1:2000. Dla drugiego
warunku dopuszcza się następujące odstępstwo. Maksymalnie w pięciu z 35
pomiarów wymiaru (pięć wzorców materialnych w siedmiu różnych
położeniach) może mieć miejsce sytuacja, gdy jedna z trzech wartości błędu
wskazania CMM podczas pomiaru wymiaru leży poza polem zgodności. W
każdym takim przypadku pomiar wymiaru należy powtórzyć 10 razy w danym
położeniu (kierunku). Jeśli wartości błędów wskazania CMM podczas pomiaru
wymiaru, uzyskane podczas 10 powtórzonych pomiarów, leżą wewnątrz pola
zgodności, to działanie CMM uznaje się za prawidłowe.
W zakładowym systemie zarządzania jakością można regularnie stosować
uproszczoną procedurę sprawdzającą działanie CMM, aby uzyskać wysokie
prawdopodobieństwo, że maszyna spełnia określone wymagania dotyczące
błędów granicznych dopuszczalnych MPE}. i MPEp. Zakres tych działań może
zostać uproszczony zarówno co do liczby pomiarów, jak i zastosowanego poło-
żenia (kierunku) wzorców.
Zaleca się, aby CMM była regularnie sprawdzana także między
przeprowadzaniem kontroli okresowej. Zaleca się, aby odstęp czasowy między
takimi doraźnymi sprawdzeniami (ang.: interim check) był wyznaczany z uwz-
ględnieniem warunków otoczenia oraz rodzaju zadań pomiarowych. Zaleca się
również sprawdzenie CMM niezwłocznie po zaistnieniu jakiegokolwiek zda-
rzenia, które mogłoby wpłynąć na jej działanie. Wskazane jest aby w czasie
sprawdzania doraźnego mierzone były przedmioty wzorcowe materialne (ang.
artefacts) inne niż wzorce materialne wymiaru.
W zależności od zadań pomiarowych do których używana jest CMM, do
sprawdzania doraźnego zaleca się stosowanie następujących przedmiotów
wzorcowych:
— specjalnie wykonanego przedmiotu, z elementami reprezentującymi typowe
kształty geometryczne mierzone na CMM, stabilnego wymiarowo, odpor
nego mechanicznie, którego stan powierzchni nie wpływa znacząco na
niepewność pomiaru,
— wzorca płytowego z kulami lub otworami,
— wzorca prętowego z kulami lub otworami;
— wzorca prętowego kinematycznego, który może być umieszczony między
zamocowaną na stole maszyny kulą wzorcową i kulistą końcówką pomia
rową CMM;
— przedmiotu wzorcowego o zarysie kołowym (np. wzorzec pierścieniowy).
206
Zaleca się, aby materiał wzorca miał podobny współczynnik rozsze-
rzalności cieplnej, jak materiały typowych przedmiotów mierzonych na CMM.
Norma [PN-EN ISO 10360-4:2002] dotyczy CMM które mogą pracować w try-
bie skaningowym i mogą być używane do określenia kształtu powierzchni lub
207
parametrów elementu skojarzonego. Badania określone w tej części normy
przeprowadza się dodatkowo, oprócz badań wykonanych zgodnie z ISO 10360-2
bez skanowania. Mają one na celu sprawdzenie maszyny pomiarowej pracującej
w trybie skaningowym.
W normie zdefiniowano błędy głowicy pomiarowej skaningowej (ang.:
scanning probing error) T!; i czas trwania testu skanowania (ang.: time for
scanning test) r. Błąd głowicy pomiarowej skaningowej Ty jest obliczany jako
rozstęp odległości między środkiem sfery wyznaczonej ze wszystkich
skanowanych punktów jako element skojarzony według Gaussa, a wszystkimi
skanowanymi punktami. Błąd głowicy nie powinien przekraczać błędów gra-
nicznych dopuszczalnych głowicy pomiarowej skaningowej MPETjh Ponadto
największa co do bezwzględnej wartości różnica między obliczoną odległością
i połową wartości średnicy kuli badawczej nie powinna być większa niż MPEhr
Czas skanowania nie powinien przekraczać maksymalnego dopuszczalnego cza-
su trwania testu skanowania MPTr.
Do badań CMM używa się trzpienia z kulistą końcówką pomiarową o śred-
nicy nominalnej 3 mm. Zaleca się wybranie takiej orientacji trzpienia, która za-
pewni, że wszystkie osie głowicy i CMM będą podczas skanowania wykorzy-
stywane równocześnie. Badania wykonuje się na stalowej kuli badawczej,
o nominalnym promieniu 25 mm, chropowatości powierzchni Ra nie większej
niż 0,05 μη\ i twardości nie mniejszej niż HV 800. Średnica i kształt kuli
badawczej powinny być wzorcowane, ponieważ wpływają na wyniki badania.
Badania dotyczą:
— skanowania na zdefiniowanej trasie w celu zebrania dużej liczby punktów
(HP);
— skanowania na zdefiniowanej trasie w celu zebrania małej liczby punktów
(LP);
— skanowania na niezdefiniowanej trasie w celu zebrania dużej liczby pun
któw (HN);
— skanowania na niezdefiniowanej trasie w celu zebrania małej liczby pun
któw (LN)
Skanowanie w celu zebrania dużej liczby punktów jest szczególnie celowe,
kiedy potrzebna jest informacja na temat odchyłki kształtu. Skanowanie w celu
zebrania małej liczby punktów może być odpowiednie w celu optymalizacji
prędkości, gdy potrzebna jest informacja o charakterystyce elementu skoja-
rzonego.
Skanowanie przeprowadza się w czterech płaszczyznach na powierzchni
kult (rys. 8.10). Biegun (i równik) kuli badawczej jest określony przez oś
trzpienia pomiarowego Rozmieszczenie płaszczyzn skanowania jest następujące:
A — na równiku, Β — równolegle do A w odległości 8 mm, By C i D — wza-
jemnie prostopadłe, C przechodzi przez biegun, D — odległa o 8 mm od biegu-
na. Zaleca się aby kąt a między osią trzpienia pomiarowego a osią pinoli wyno-
sił około 45°. Zalecane odległości między punktami skanowania wynoszą 0,1
mm (dla HP i HN) lub 1 mm (dla LP i LN). Każda z czterech sekwencji
skanowania powinna rozpoczynać się w punkcie pośrednim, w którym trzpień
pomiarowy jest odległy od powierzchni kuli badawczej minimum o 10 mm.
208
Z tego punktu startowego trzpień pomiarowy zbliża się do kuli, wzdłuż powierz-
chni prostopadłej, z określoną prędkością. Każda z czterech sekwencji skano-
wania powinna się kończyć w punkcie pośrednim, odległym od kuli badawczej
minimum o 10 mm.
Rys, 8.10.
Płaszczyzny skanowania kuli badawczej1 A, B, C
i D — płaszczyzny skanowania, Ε— oś pinoli
209
— błąd położenia zespołu głowicy pomiarowej obrotowo-ucbylnej (ang.: arti-
culated probing system location error), AL.
Nie powinny one przekraczać odpowiednich błędów granicznych dopusz-
czalnych (MPEMF, MPE MS, MPEML oraz MPEAF, MPEAS, MPEAI). Błędy te można
poklasyfikować jako dotyczące kształtu (MF, AF) y wymiaru (MS, AS) i
położenia (ML, AL).
Trzpienie pomiarowe używane w badaniach powinny być takie jak stoso-
wane w CMM, tzn. wykonane z tego samego materiału, o tej samej średnicy
trzonu trzpienia i nominalnej długości oraz mających taką samą jakość koń-
cówki trzpienia. Jednakże wiadomo, że nie zawsze mogą to być dokładnie takie
same długości trzpienia i dlatego można używać trzpienie z długością różniącą
się o większą z wartości 6 mm lub 10% nominalnej długości.
Badanie obejmuje pomiar kształtu, wymiaru i położenia kuli badawczej za
pomocą pięciu różnych stałych trzpieni pomiarowych. Każdy trzpień pomiarowy
próbkuje 25 punktów na kuli wzorcowej co daje łącznie 125 punktów dla
wszystkich pięciu trzpieni. Jeśli z CMM został dostarczony zespół wymiennych
trzpieni lub system wymiennych głowic pomiarowych, należy wykonać pięć
wymian po jednej przed użyciem każdego trzpienia pomiarowego.
Opracowanie wyników badania przebiega następująco. Dla każdej grupy 25
punktów zebranych pojedynczym trzpieniem pomiarowym należy wyznaczyć
sferę zastępczą metodą najmniejszych kwadratów, co daje łącznie pięć sfer
zastępczych. Dia wszystkich pięciu sfer oblicza się rozstępy współrzędnych
środka {Χ, Υ i Z). Największy z tych trzech rozstępów jest błędem położenia ML.
Ponadto, w celu wyznaczenia błędów kształtu i wymiaru, ze wszystkich 125
punktów wyznaczana jest sfera zastępcza według metody najmniejszych kwa-
dratów. Błąd wymiaru MS zespołu głowicy pomiarowej z ustalonym zespołem
wielotrzpieniowym oblicza się jako różnicę średnicy wyznaczonej kuli zastęp-
czej i wartości wzorcowej kuli badawczej. Błąd kształtu MF zespołu głowicy
pomiarowej z ustalonym zespołem wielotrzpieniowym oblicza się jako rozstęp
różnic odległości 125 punktów od środka sfery zastępczej.
Ponieważ wyniki tych badań są w dużym stopniu uzależnione od zespołu
trzpieni pomiarowych, brane są pod uwagę różne długości trzpieni pomiarowych
ale sprawdzaniu podlegająjedynie takie długości, które producent CMM określa
jako mające zastosowanie w tworzeniu zespołu trzpieni pomiarowych.
Pomiary i opracowanie należy powtórzyć dla każdej objętej badaniami długości
trzpieni /.
Wzorzec materialny wymiaru, w postaci kuli badawczej, powinien mieć
średnicę nie mniejszą niż 10 mm i nie większą niż 30 mm. Kuli stosowanej do
kwalifikacji CMM nie należy używać jako kuli badawczej. Do badań zestawia
się zespół trzpieni pomiarowych w układ „gwiazda", ustawiając jeden z trzpieni
równolegle do osi głowicy pomiarowej i cztery trzpienie pomiarowe w płasz-
czyźnie prostopadłej do tej osi, zorientowane względem siebie co 90°. Odległość
od głowicy pomiarowej do punktu połączenia trzpieni pomiarowych, powinna
być zbudowana przy wykorzystaniu elementów typowych dostarczonych
z CMM i być możliwie najmniejsza.
210
Zaleca się stosować rozmieszczenie punktów na kuli jak w normie PN-EN
ISO 10360-2:2002, przy czym „biegun" jest zdefiniowany przez kierunek
aktualnie używanego trzpienia pomiarowego.
Jeśli z CMM dostarczono zespół wymiennych trzpieni lub system
wymiennych głowic pomiarowych należy wykonać pięć wymian, dla każdego
wymienianego trzpienia po jednej. Jednakże, jeśli w systemie wymiany
dostępnych jest mniej niż pięć gniazd dla trzpieni lub głowic należy użyć
wszystkie, przy czym niektóre trzpienie lub głowice należy wymienić więcej niż
jeden raz w celu uzyskania łącznie pięciu wymian.
W przypadku badania głowic obrotowo-uchylnych postępowanie jest ana-
logiczne — zamiast poszczególnych trzpieni z układu gwiazda w badaniach zo-
staną użyte odpowiednie położenia głowicy obrotowo-uchylnej.
21
i pierścień są zamocowane na wspólnej podstawce, którą można mocować na
płycie wzorca. Wyposażenie wzorców stanowią również podstawa i elementy
mocujące umożliwiające ustawienie płyty w położeniu pionowym.
Zainteresowanie stosowaniem płytowego wzorca kulowego jest związane
z faktem, że na podstawie pomiaru 25 kul w jednym położeniu wzorca w przes-
trzeni pomiarowej maszyny możliwe jest wyznaczenie błędów pomiaru 300
odległości między środkami kul. Istotną zaletą wzorców płytowych jest ponadto
możliwość ich wzorcowania na dokładnych współrzędnościowych maszynach
pomiarowych. Procedury wzorcowania wykorzystują możliwość kompensacji
błędów stosowanej do wzorcowania maszyny pomiarowej przez pomiar wzorca
płytowego w dwóch położeniach obróconych względem siebie o 90°.
Typowa procedura sprawdzania maszyny pomiarowej za pomocą wzorca
płytowego obejmuje pomiar wzorca w trzech wzajemnie prostopadłych poło-
żeniach: jednym poziomym i dwóch pionowych, przy czym krawędzie płyty są
w przybliżeniu równoległe do osi maszyny (rys. 8,12a). Niekiedy wykonuje się
pomiary wzorca w 2 położeniach pionowych w przybliżeniu wzdłuż przekątnych
stołu maszyny (rys. 8.12b)..
Rys. 8.12- Typowe ustawienia wzorca płytowego z kulami przy sprawdzaniu maszyn
pomiarowych, a) trzy położenia zgodne z płaszczyznami układu współrzędnych maszyny, b) dwa
położenia pionowe wzdłuż przekątnych stołu maszyny
212
i trzpieniowych (specjalny cyki wzorcowania). Do mocowania sprawdzanych
przyrządów używa się specjalnych palet i elementów mocujących (fot. 8.5).
Możliwe, a nawet wskazane, jest wykorzystanie trzeciej zmiany i wykonanie
pomiarów bez załogi.
Nie ma dotąd w kraju odpowiednich dokumentów dotyczących spraw-
dzania przyrządów do kół zębatych, dlatego w razie potrzeby należy korzystać
z informacji zawartych w dokumentach zagranicznych, jak na przykład
[VDWDE 2612, VDI/VDE 2613]. Do sprawdzania ewolwentomierzy stosuje
się wzorce ewolwenty, do sprawdzania przyrządów do pomiaru linii zęba i linii
styku stosuje się wzorce linii zęba. Wzorce mają postać walca z naciętymi
kilkoma zębami o różnych kątach (lewych i prawych) nachylenia linii zęba.
Sprawdzanie przyrządów do pomiaru podziałek prowadzi się zwykle z wyko-
rzystaniem kół kontrolnych.
213
230-4:1999] (pozostałe części normy, tzn, część 3 i 5, dotyczą efektów ter-
micznych i emisji hałasu). Niestety, autorzy normy, wprowadzili własną
terminologię i inne definicje pojęć znanych z metrologii, co uniemożliwia bliż-
sze omówienie tej tematyki w niniejszej pracy. Przed przystąpieniem do stu-
diowania normy warto zapoznać się z definicjami i sposobami pomiaru odchyłek
geometrycznych oraz takimi przyrządami pomiarowymi jak interferometry
laserowe, autokolimatory i poziommce. W pewnym zakresie występuje również
podobieństwo między badaniem dokładności obrabiarek i współrzędnościowych
maszyn pomiarowych.
Podstawowe wyposażenie do sprawdzania dokładności obrabiarek stanowi
interferometr laserowy. Przykłady sprawdzania obrabiarek za pomocą lase-
rowego systemu pomiarowego firmy Renishaw pokazano na fot. 8.7^8.12. Na
fot 8.13 pokazano użycie siatkowego układu pomiarowego KGM 182 Grid
encoder (Heidenhain), Siatkowy układ pomiarowy jest zbudowany na bazie
dwóch wzorców inkrementalnych naniesionych na płytę w dwóch wzajemnie
prostopadłych kierunkach. Głowica układu pomiarowego jest mocowana we
wrzecionie obrabiarki. Układ taki może więc mierzyć przemieszczenia wrze-
ciona i porównywać je z zamierzonymi (zaprogramowanymi do wykonania
przez obrabiarkę). System diagnostyczny DDB (Heidenhain) pokazano na fot.
8.14, Wykorzystuje on wzorzec kinematyczny prętowy z kulami. Badanie
obrabiarek polega na zamocowaniu magnetycznych podstaw do kul, jednej na
stole, drugiej we wrzecionie. Po umieszczeniu kul wzorca w gniazdach pod-
stawek wrzeciono obrabiarki wykonuje zaprogramowany ruch po okręgu wokół
osi gniazda zamocowanego na stole. Mierzone zmiany odległości kul wzorca
kinematycznego przedstawione w postaci „odchyłki okrągłości" dają informację
o dokładności obrabiarki. Charakter otrzymanej krzywej pozwala na diagno-
zowanie przyczyn zaobserwowanych błędów obrabiarki. Identyczne możliwości
ma system diagnostyczny QC 10 (Renishaw) (fot. 8.15). Na fot. 8.16 i 8,17
pokazano jego użycie z dodatkowym wyposażeniem umożliwiającym spraw-
dzanie dokładności tokarek.
Literatura
Brezina i (1987): Suradnicove meracie stroje a ich skusanie. Vydavatelstvi Uradu pro
Normalizaci a MereniT Praha.
Dobosz Μ (1995). Bezstykowy interferometryczny komparator do kalibracji płytek
wzorcowych. Politechnika Warszawska, Prace Naukowe. Konferencje, z 4, Oficyna Wydawnicza
Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
Dobosz M., Ratajczyk Ε (1996): Interferometr laserowy w badaniach dokładności
współrzędnościowych maszyn pomiarowych, II Krajowa Konferencja Naukowa z udziałem
międzynarodowym. Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkiej w Bielsku-Bialej, Konferencje
nr 33.
Gliwiński J. (red.) (1979): Metody sprawdzania narzędzi do pomiarów długości i kąta. Wyd.
Normalizacyjne, Warszawa.
Hamrol Λ , Piechowski M. (1997): Wykorzystanie baz danych do zarządzania sprzętem
kontrolno-pomiarowym. VII Konferencja Naukowo-Techniczna: Metrologia w Technikach
Wytwarzania Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska.
214
Kamieńska-Krzowska B. (2003): Niepewność pomiaru jako najlepsza możliwość
pomiarowa, X Krajowa, I Międzynarodowa Konferencja Metrologia w technikach wytwarzania,
Kraków
KapińsSca-Kisiko A. (1997): Dokładność współrzędnościowej maszyny pomiarowej SIP
CMM5 na przykładzie pomiarów elementów wzorcowych. VII Konferencja Naukowo-
Techniczna. Metrologia w Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika
Świętokrzyska.
Kowalski M. (1997): Interpretacja wyników badań dokładności WMP realizowanych płytami
kontrolnymi. VII Konferencja Naukowo-Techniczna: Metrologia w Technikach Wytwarzania
Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska.
Kunzmann H., Trapet E.t Waldele F. {1990): A Uniform Concept for Calibration,
Acceptance Test, and Periodic Inspection of Coordinate Measuring Machines Using Reference
Object, Annals of the CIRP Vol 39/1/1990.
Łukianowicz Τ. (1992): Metody sprawdzania profilografów i profilometrów stykowych,
Mechanik 1992, z. 8-9.
Międzynarodowy słownik podstawowych i ogólnych terminów metrologii (1996). Główny
Urząd Miar. Warszawa
Paszkiewicz J., Wieczorowski Μ (1994): Płytki wzorcowe, ich sprawdzanie i znaczenie
w systemie zapewnienia jakości. Mechanik nr 10/1994.
Ratajczyk E. (1994): Współrzędnościowa technika pomiarowa. Maszyny i roboty
pomiarowe. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa,
Ratajczyk E. (1995a): Sondy stykowe — własności metrologiczne i metody ich badania.
Mechanik 2/1995.
Ratajczyk E. (1995b).: Metody kompleksowe umożliwiające wykrywanie źródet błędów
współrzędnościowych maszyn pomiarowych. Politechnika Warszawska, Prace Naukowe,
Konferencje, z. 4, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa,
Ratajczyk E. (1997): Bilans błędów procesu kalibracji wzorców płytowych kulowych
i pierścieniowych. VII Konferencja Naukowo-Techniczna: Metrologia w Technikach Wytwarzania
Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska.
Ratajczyk E. (1998): Wybrane zagadnienia dokładności wyznaczania błędów
geometrycznych współrzędnościowych maszyn pomiarowych. Zeszyty Naukowe PŁ F i l i i
w Bielsku-Białej, nr 44, Politechnika Łódzka Filia w Bielsku-Białej, Bielsko-Biała.
Ratajczyk E. (1999a): Metody sprawdzania dokładności współrzędnościowych maszyn
pomiarowych. Pomiary długości, prostoliniowości i prostopadłości. Część I.. Mechanik nr 3/1999,
s. 141-146
Ratajczyk E. (1999b): Metody sprawdzania dokładności współrzędnościowych maszyn
pomiarowych. Pomiary pozycjonowania i błędów rotacyjnych. Część II. Mechanik nr 4/1999, s.
227-234 '
Ratajczyk E. (1999c): Metody sprawdzania dokładności współrzędnościowych maszyn
pomiarowych. Zastosowanie wzorców płytowych. Część 3. Mechanik nr 5-6/1999, s. 413-416
Ratajczyk E. (1999d): Metody sprawdzania dokładności współrzędnościowych maszyn
pomiarowych. Procedury i programy wyznaczania błędów pomiaru długości za pomocą wzorców
płytowych. Część 4. Mechanik nr 11/1999, s. 757-765
Ratajczyk E., Tuan LA. (1992): Zastosowanie wzorca przestrzennego w badaniach
dokładności współrzędnościowych maszyn pomiarowych. Mechanik nr 3/1992.
Ratajczyk E. (2003): Ocena dokładności w wyznaczaniu błędów pomiaru długości CMM za
pomocą, wzorca płytowego kulowego i pierścieniowego, X Krajowa, I Międzynarodowa
Konferencja Metrologia w technikach wytwarzania, Kraków
Ratajczyk £ (2002): Możliwości zastosowania wzorców płytowych do wyznaczania błędów
pomiaru długości CMM wg wymagań PN EN-ISO 10360-2. Wydawnictwo Akademii Techniczno-
Humanistycznej, Zeszyty naukowe nr 3 Budowa i Eksploatacja Maszyn, Konferencje, Bielsko-
Biała
Ryniewicz Α., Kowalski Μ (1997): Badanie błędów rotacyjnych stołu współrzędnościowej
maszyny pomiarowej. II Ogólnokrajowa Konferencja Naukowo-Techniczna: Jakość w budowie
obrabiarek i technologii maszyn. Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji
Politechniki Krakowskiej, Kraków.
215
Schupkr Η Η (1990): Penodische Uberwachung von KoordinatenmelJgeraten mittels
Kalihrierter Prufkórper Techmsches Messen 57 (1990) 3
Sładek J (1996): Metody oceny a mozliwos-ć prognozowania dokładności pomiarów
realizowanych na WMP II Krajowa Konferencja Naukowa z udziałem międzynarodowym.
Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkiej w Bi-elsku-Białej, Konferencje nr 33
Sładek J\ Rakoczy R Szwajkowsh A (1997)· Modelowanie współrzędnościowych maszyn
pomiarowych oraz ocena dokładności pomiarów w oparciu o wykorzystanie sieci neuronowych
VII Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania Maszyn.
Kielceł97? tom II, Politechnika Świętokrzyska.
Starczak Μ Sprawdzanie dokładności współrzędnościowych maszyn pomiarowych.
Wyznaczanie błędów pomiaru długości za pomocą płytowego wzorca kulowego — procedura
CMMTST (Leitz). Mechanik nr 10/2000. s. 722-728
Trapet E, Waldele F (1990) A uniform concept for calibration, acceptance test and
periodic inspection of co-ordinate measuring machine using reference objects Ann CIRP, 39.
Vavrik I, KoUbal Z. (1993). Bieżąca kontrola dokładności współrzędnościowych maszyn
pomiarowych i robotów Prace Naukowe Instytutu Technologii Maszyn i Automatyzacji
Politechniki Wrocławskiej nr 52, IV Konferenqa „Metrologia w technikach wytwarzania
maszyn", Wydawnictwo Politechniki Wrocławskiei, Wrocław.
Wamecke Η J, Dutschke W (red) (1984). FertigungsmeOtechnik. Handbuch ftr Industrie
und Wissenschaft Springer Verlag, Berlin
Zełeny V (2002) Calibration of coordinate measuring machines with respect to standards
Wydawnictwo Akademii Techniczno-Humanistycznej, Zeszyty naukowe nr 3 Budowa i Eksplo-
ataqa Maszyn, Konferencje, Bielsko-Biała
Zelerty V Keller V (1997) Experiences with CMMs (Coordinate Measuring Machines)
Calibration in the Czech Republic VII Konferencja Naukowo-Techniczna: Metrologia
w Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielce'97, tom II. Politechnika Świętokrzyska
PN-ISO 230-1 1998 Przepisy badania obrabiarek — Dokładność geometryczna obrabiarek
pracuiących bez obciążenia lub w warunkach obróbki wykańczającej
PN-ISO 230-2,1999 Przepisy badania obrabiarek — Wyznaczanie dokładności ι powta-
rzalności po7yqonowania osi sterowanych numerycznie
PN ISO 230-4 1999 Przepisy badania obrabiarek. Badanie okrągłości w obrabiarkach
sterowanych numerycznie
PN-EN ISO 3650 2000 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Wzorce długości —
Płytki wzorcowe
PN-ISO 7863.L997 Wzorce wysokości mikrometryczne nastawcze i cokoły wzorcowe
PN-ISO 8512-1:1998 Płyty pomiarowe — Płyty żeliwne
PN-ISO 8512-2.1999 Płyty pomiarowe —Płyty granitowe.
PN-ISO 10012-1 1998 Wymagania dotyczące zapewnienia jakości wyposażenia
pomiarowego — System potwierdzania metrologicznego wyposażenia pomiarowego
PN-ISO 10012-1:1998/Ap 1:2001 Wymagania dotyczące zapewnienia jakości wyposażenia
pomiarowego — System potwierdzania metrologicznego wyposażenia pomiarowego
PN-ISO 10012-2.2002 Zapewnienie |akosci wyposażenia pomiarowego — Część 2
Wytyczne do sterowania procesami pomiarowymi
PN-EN ISO 10360-1:2002 Specyfikaqa geometrii wyrobów (GPS) — Badania
odbiorcze i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 1
Terminologia
PN-EN ISO 10360-2:2002 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Badania odbiorcze
i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 2 CMM stosowane do
pomiarów długości.
PN-EN ISO 10360-3-2002 Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS) —- Badania odbiorcze
i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 3. CMM z osią stołu
obrotowego jako czwartą osią
PN-EN ISO 10360-4-2002 Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS) — Badania odbiorcze
i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 4: CMM stosowane
w trybie pomiaru skaningowego
PN-EN ISO 10360-5 2002 Specyfikaqa geometrii wyrobów (GPS) — Badania odbiorcze
3 okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 5* CMM z głowicami
wielokońcówkowymi
PN-LN ISO 10360-6-2002 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Badania odbiorcze
i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 6 Szacowanie błędów
przy wyznaczaniu elementów skojarzonych metodą naimniejszych kwadratów (Gaussa)
216
PN-EN ISO 14253-1:2000 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Kontrola wyrobów
i sprzętu pomiarowego za pomocą pomiarów. Reguły orzekania zgodności lub niezgodności ze
specyfikacją.
PN-EN ISO/IEC 17025:2001 Ogólne wymagania dotyczące kompetencji laboratoriów
badawczych i wzorcujących
PN-8O/M-53130 Narzędzia pomiarowe. Przyrządy suwmiarkowe. Wymagania.
PN-M-53l30/Al:ł996 Narzędzia pomiarowe — Przyrządy suwmiarkowe — Wymagania
(Zmiana Al).
PN-80/M-5313O/Az2:20O0 Narzędzia pomiarowe — Przyrządy suwmiarkowe —
Wymagania (Zmiana Az2).
PN-79/M-53131 Narzędzia pomiarowe — Przyrządy suwmiarkowe.
PN-82/M-53200 Narzędzia pomiarowe. Przyrządy mi kro metryczne Wymagania.
PN-M-53200/A1:1998 Narzędzia pomiarowe — Przyrządy mikrometryczne — Wymagania
(Zmiana Al).
PN-88/M-5320I Narzędzia pomiarowe — Wzorce nastawcze do mikrometrów
zewnętrznych.
PN-80/M-53202 Narzędzia pomiarowe — Przyrządy mikrometryczne.
PN-73/M-53214 Narzędzia pomiarowe — Mikrometry zewnętrzne do gwintów.
PN-73/M-53215 Narzędzia pomiarowe — Wzorce nastawcze do mikrometrów do gwintów,
PN-73/M-53216 Narzędzia pomiarowe — Końcówki pomiarowe wymienne do średnic.
PN-76/M-53245 Narzędzia pomiarowe — Średnicówki mikrometryczne
PN-75/M-53259 Narzędzia pomiarowe. Przyrządy mikrometryczne czujnikowe*
Wymagania.
PN-68/M-53260 Warsztatowe środki pomiarowe. Czujniki zębate zegarowe.
PN-64/M-53265 Warsztatowe środki miernicze, Średnicówki z czujnikiem zegarowym.
PN-79/M-53354 Narzędzia pomiarowe — Liniały sinusowe
ΡΝ-Μ-53354/Α1Ί995 Narzędzia pomiarowe — Liniaty sinusowe (Zmiana Al}
PN-74/M-54602 Płytki interferencyjne płaskie
VDI/VDE 2612 Blatt I (1978): Prufung von Stirnradern mit EvoSventenprofil Profilprufiing.
VDI/VDE2612 Blatt 2 (1980): Prufung von Stirnradern mit Evolventenprofil. Flankenlime-
priifung,
VDI/VDE 2613 (1983): Teilungsprufung an Verzahnungen. Stirnrader (ZylinderrSder),
Schneckenrader, KegelrSder.
Dobór przyrządów pomiarowych i reguły
orzekania zgodności i niezgodności z
tolerancją (ze specyfikacją)
9
9.1. Postępowanie pomiarowe
218
bezpośrednio. Przykładem takiej metody jest wyznaczanie promienia R łuku na
podstawie wyników pomiaru strzałki s i cięciwy c; promień R oblicza się według
wzoru R=c2/(8s)+s/2.
219
Obok wymienionych metod pomiarowych stosuje się także tzw. m e t o d ę
podstawową opartą na pomiarach wielkości podstawowych wchodzących
do definicji wielkości. Tę samą nazwę metody stosuje się także w pomiarach
wielkości podstawowych, gdy wykorzystuje się definicyjne określenie wzorca
miary tej wielkości. Dawniej nazywano tę metodę metodą pomiarową
bezwzględną. Jej przykładem są m.in. pomiar prędkości liniowej przez pomiar
drogi i czasu oraz pomiar długości na podstawie definicji metra.
221
prawdopodobieństwa — przekraczanie przez wymiary dopuszczalnych granic
Nie można było zatem zupełnie wykluczyć pomyłek, polegających na zal
flkowaniu wymiarów jako dobre, gdy znajdowały się one poza polem tolerancji
Potrzeba wprowadzenia jednoznacznych i przejrzystych zasad p<
powania doprowadziła do opracowania reguł orzekania zgodności lub ni(
dności ze specyfikacją [PN-EN ISO 14253-1].
222
Całkowite wyrażenie wyniku pomiaru yf jest przedziałem utworzonym
symetrycznie wokół wyniku pomiaru y (rys. 9.3). U oznacza niepewność roz-
szerzoną, którą szacuje się i oblicza zgodnie z [Wyrażanie niepewności pomiaru.
Przewodnik 1999].
Rys. 9.3. Wynik pomiaru^ i całkowite wyrażenie wyniku pomiaru y'; wu — złożona niepewność
standardowa, k — współczynnik rozszerzenia, U— niepewność rozszerzona [PN-EN ISO 14253-
1]
Rys. 9.4* Zgodność ze specyfikacją— wynik pomiaru i jego przedział niepewności znajduje się w
polu specyfikacji; / — pole specyfikacji, 3 — pole zgodności,^ — wynik pomiaru, γ — przedział
niepewności, U — niepewność rozszerzona [PN-EN ISO 14253-1].
Rys. 9.5, Niezgodność ze specyfikacją: a) (USL <y~U),b)(y< LSL - U); (USL <y- U) —
wynik pomiaru zjego niepewnością rozszerzony przekroczył pole specyfikacji właściwości
wyrubu; jest to niezgodność ze specyfikacją i wyrób może być odrzucony; / —pole specyfikacji,
4—pola niezgodności, y — wynik pomiaru, Ό — niepewność rozszerzona, y' — przedział
niepewności
Przedstawione reguły postępowania należy stosować, jeżeli nie było
uprzednio innych uzgodnień między dostawcą a klientem. Reguły postępowania
zostały oparte na następującej zasadzie: niepewność pomiaru działa zawsze na
niekorzyść tej strony, która wykonuje pomiar, więc przedstawia orzeczenie
zgodności lub niezgodności.
Dotychczas opisane przypadki są jednoznaczne interpretacyjnie, gdyż
można orzec zgodność lub niezgodność, tzn. spełnienie względnie niespełnienie
wymagania. Wątpliwości pojawiają się, gdy wynik pomiaru jest bliski górnej lub
dolnej granicy tolerancji. Jeżeli wynik pomiaru plus lub minus U zawiera jedną
zgranie tolerancji (LSL lub USL\ wówczas nie jest możliwe orzeczenie zgod-
ności lub niezgodności ze specyfikacją. Taki przypadek przedstawia rys. 9.6, na
którym górny wymiar graniczny (USL) znajduje się w przedziale: y - U <
< USL < y + U. Tego rodzaju przypadki należy uzgodnić między dostawcą
a klientem; powinna zostać zawarta odpowiednia umowa, w celu rozwiązywania
trudności i wątpliwości.
Literatura
224
Malinowski J, (1974): Pomiary długości i kąta. WNT, Warszawa.
Neumann Η. J. (1985); Der Einflui3 der Messunsicherheit auf die Toleranzausnutzung in der
Fertigung. Qualitat und Zuverla~ssigkeit, 30 Jg. H.5, Carl Hauser Verlag, MUnchen.
Warnecke H. J., Dutschke W, (red) (1984): FertigungsmeBtechnik. Handbuch tur Industrie
und Wissenschaft, Springer Verlag, Berlin.
Zawada J. (1991): Wpływ operacji kontroli technicznej na statystyczne rozkłady
powstających wymiarów. Optymalna dokładność kontroli. Pomiary Automatyka Kontrola 10/1991
PN-EN ISO 14253-1:2000 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Kontrola wyrobów
i sprzętu pomiarowego za pomocą pomiarów — Reguły orzekania zgodności lub niezgodności ze
specyfikacją
ISO/R 1938-1971. ISO System of Limits and fits. Partii. Inspection of Plain Workpieces.
Pomiary wałków, otworów,
wymiarów mieszanych i pośrednich
10
10.1- Wiadomości wstępne
Rys. 10.2.
Określenie pola tolerancji względem l i n i i
zerowej (wymiaru nominalnego D)\ 1 — pole
tolerancji, 2 — linia zerowa
(10.1)
Odchyłka dolna ei, El — odchyłka graniczna będąca różnicą algebraiczną
wymiaru dolnego wałka Aw lub otworu Ao i wymiaru nominalnego D (rys. 10.2)
(10.2)
Na przykład:
Tolerowanie symetryczne — tolerowanie liczbowe, gdy bezwzględne war-
tości odchyłek granicznych są sobie równe, np. 3O±O,O5.
Tolerowanie za pomocą wymiarów granicznych — wymiar maksimum
materiału wpisuje się powyżej linii wymiarowej, a wymiar minimum materiału
tuż poniżej, pod linią wymiarową.
Zasada tolerowania w głąb materiału — zasada stosowana w technologii,
według której pole tolerancji powinno być skierowane w głąb materiału.
Granica maksimum materiału (ang. maximum material limit) (wymiar
MML) — wymiar graniczny: górny Bh w przypadku wałka i dolny Ao w
przypadku otworu (odpowiadający największej ilości materiału).
Granica minimum materiału (ang. least material limit) (wymiar LML) —
wymiar graniczny: dolny Aw w przypadku wałka i górny Bo w przypadku otworu
(odpowiadający najmniejszej ilości materiału).
Pasowanie — charakter współpracy otworu i wałka, uwarunkowany wy-
miarami obu tych elementów przed ich połączeniem.
Klasy dokładności — polska norma [ΡΝ-ΕΝ 20286-1:1996] wprowadziła
20 klas dokładności oznaczonych symbolami od 01, 0, 1, 2, ..,- 18 w kierunku
malejącej dokładności.
Tolerancja normalna — tolerancja zgodna z układem tolerancji (tabl. 10.2).
Oznaczenie tolerancji składa się z symbolu literowego ΙΤ oraz klasy dokład-
ności: ΙΤ01, IT0? IT] ? ..., IT18. Zakresy przedziałów obejmują wymiary: ponad
— do. Na przykład wymiar 50 mm należy do przedziału (30, 50)t a nie (50, 80).
Odchyłka podstawowa —jedna z odchyłek granicznych (górna lub dolna)
użyta do określenia położenia pola tolerancji względem wymiaru nominalnego.
Odchyłką podstawową jest odchyłka graniczna o mniejszej wartości
bezwzględnej. Wartości odchyłek podstawowych podaje PN.
Symbole literowe położeń pół tolerancji — wartościom odchyłek podsta-
wowych wałków i otworów przypisano symbole literowe, które określają poło-
żenie pola tolerancji względem unii zerowej (rys. 10.3).
Rys. 10.3. Położenia pól tolerancji i ich symbole literowe: a) dla otworów, b) dla wałków
Rys. 10.5. Przykłady wyrobów dobrych (przypadki skrajne) dla wałka tolerowanego niezależnie o
wymiarze ^2O_oO5, tolerancji okrągłości równej 0,05 mm i toleranqi prostolmiowości osi
równei 0,05 mm (wyroby me mieszczą się w powłoce o średnicy MML) a) średnice lokalne
zaobserwowane równe wymiarowi MML, odchyłka okrągłości równa zeru, odchyłka
prostolmiowości osi równa tolerancji prostolmiowości osi, b) średnice lokalne zaobserwowane
{mierzone dwupunktowo) równe wymiarowi MML odchyłka prostolmiowości osi równa zeru
odchyłka okrągłości (troigraniastośc) równa toleranqi okrągłości
213
przez indywidualne tolerowanie kształtu lub przez podanie tolerancji ogólnych
kształtu. Tolerancje kształtu mogą być w uzasadnionych przypadkach większe
niż tolerancje wymiaru. Przy stosowaniu podstawowej zasady tolerowania jest
możliwe uzależnienie odchyłek wymiaru i odchyłek kształtu (dotyczy to prak-
tycznie elementów do tworzenia pasowań) przez wprowadzenie warunku po-
wierzchni granicznej (warunek powłoki, zasada powierzchni przylegających).
Warunek ten wprowadza się, umieszczając na rysunku obok wymiaru symbol E.
Oznacza on, że element rzeczywisty nie może przekroczyć powierzchni granicz-
nej (powłoki) o nominalnym kształcie i wymiarze MML. Stosowanie podstawo-
wej zasady tolerowania zaznacza się na rysunku przez umieszczenie w uwagach
zapisu: Tolerowanie wg PN-88/M-01142, Analogiczny zapis w dokumentacji
zagranicznej może się odwoływać do normy [ISO 8015],
234
10.6. Pomiary przyrządami suwmiarkowymi
W pomiarach przyrządami suwmiarkowymi, ze względu na stosunkowo duże
niepewności pomiaru, warunki temperaturowe nie mają istotnego znaczenia.
Przyrządy suwmiarkowe na ogół nie spełniają postulatu Abbego, dlatego zaleca
się, aby mierzony przedmiot umieszczać możliwie blisko prowadnicy.
Błędy graniczne dopuszczalne suwmiarek o zakresie pomiarowym 0^-150
mm wynoszą:
— ±0,03 mm dla suwmiarek z cyfrowym urządzeniem wskazującym i suwmia
rek z czujnikiem,
— ±0-1 mm dla suwmiarek z noniuszem.
Błędy graniczne dopuszczalne głębokościomierzy suwmiarkowych podano
wtab-L 10.4.
Tablica 10,4, Błędy graniczne dopuszczalne w pomiarach glębokościomierzami
suwmini kowynii z noniuszem
235
cję) z podziałki 3. Niektóre mikrometry są wyposażone w noniusz umożliwiają-
cy odczytywanie wskazań do 1 μπι na podstawie koincydencji kresek na bębnie.
Rys. 10.7.
Odczytywanie wskazań przyrządów
mikrometrycznych z podziałką kreskową a) dla
mikrometrów zewnętrznych
i średnicówek mikrometrycznych, b) dla
mikrometrów wewnętrznych i głębokościomierzy;
wynik pomiaru: 6,672 mm
(10.5)
Rys. 10,8.
Pomiar średnicy otworu średnicówką
dwupunktowąo końcówkach pomiarowych
kulistych., / — właściwe ustawienie
średnicówki, 2 — niewłaściwe ustawienie
średnicówki
236
płytki wzorcowej (rys. 10.9). Istota pomiaru polega na zmierzeniu małej różnicy
między wymiarem mierzonego przedmiotu i długością stosu płytek wzorco-
wych. Wynik pomiaru surowy
(10.6)
gdzie: /„ — długość nominalna stosu płytek wzorcowych, w -w2 -■ różnica
wskazań czujnika pomiarowego.
Rys. 10.9.
Pomiar średnicy wałka czujnikiem i płytkami
wzorcowymi metodą różnicową: a) ustawienie
czujnika za pomocą stosu płytek wzorcowych
na wskazanie zerowe, b) odczytanie różnicy
wymiarów między mierzonym przedmiotem
1 stosem płytek wzorcowych; 1 — czujnik,
2 — stos płytek wzorcowych o długości lm
3 — przedmiot mierzony,
w ι i H>2 — wskazania czujnika
(10.7)
Rys. 10.10.
Odkształcenia sprężyste Aah Δα2, Δα$
występujące w pomiarze średnicy watka
metodą różnicową przy użyciu czujnika
i płytek wzorcowych: a) nastawienie
wskazania zerowego czujnika, b) pomiar
średnicy wałka; Ρ — nacisk pomiarowy
T2T
W pomiarze wystąpią trzy odkształcenia sprężyste (rys. 10.10):
— zlfl| — w miejscu zetknięcia się końcówki pomiarowej z powierzchnią pomiarową płytki
wzorcowej pod wpływem nacisku pomiarowego — styk kuli z płaszczyzną (błąd podczas
wzorcowania); uwzględniając, ze nacisk pomiarowy wynosi 2 N, a promień zaokrąglenia
(kulistej) końcówki pomiarowej — 50 mm, otrzymuje się
— Δα^ — w miejscu zetknięcia się końcówki pomiarowei z mierzonym walcem pod wpływem
nacisku pomiarowego — styk kuli z walcem (błąd podczas pomiaru)
W przypadku pomiaru
średnicy wałka lub średnicy podziałowej gwintu zewnętrznego sposobem
trójwałeczkowym można użyć końcówki z krawędzią pomiarową. Końcówka z
krawędzią nie daje wprawdzie styku punktowego, lecz liniowy, ale o bardzo
małej długości (b < 1 mm).
Do zespołu czynności w pomiarach czujnikiem należy równoległe ustawie-
nie stolika pomiarowego do powierzchni pomiarowej płaskiej końcówki. Stolik
pomiarowy opiera się na czterech — rozłożonych co 90° — fragmentach czaszy
kulistej. Przesuwanie okrągłego stolika za pomocą czterech śrub, stykających się
z obwodem stolika, powoduje zmianę nachylenia powierzchni pomiarowej.
Skuteczny sposób ustawienia stolika wymaga użycia płasko-równoległej płytki
interferencyjnej ze ściętą pod kątem lustrzaną powierzchnią. Po przywarciu
płytki interferencyjnej do stolika, opuszcza się końcówkę pomiarową na płytkę
i obserwuje odbite w lusterku prążki interferencyjne utworzone między płaską
powierzchnią pomiarową końcówki i powierzchnią płytki. Zmieniając położenia
stolika, należy doprowadzić do zniknięcia prążków interferencyjnych.
Pomiar średnicówką z czujnikiem zębatym jest również pomiarem różni-
cowym. Wzorcowanie średnicówek o dwupunktowym styku wykonuje się za
pomocą mikrometru w podstawce i płytek wzorcowych lub wkładek płasko-
równoległych z płytkami wzorcowymi w uchwycie, bądź wzorcem pierścienio-
wym. Używając jako wzorca płytek wzorcowych, należy dobrać wymiar stosu
najbliższy stopniowaniu zgodnemu ze stopniowaniem wymiennych końcówek
średnicówki (najczęściej 0,5 mm).
W przypadku pomiaru średnicy otworu średnicówką czujnikową o dwu-
punktowym styku zachodzi niebezpieczeństwo mierzenia cięciwy otworu lub
ustawienia przyrządu w płaszczyźnie innej niż prostopadła do osi otworu. Nie-
dogodność tę usuwa średnicówką dwupunktowa z mostkiem centrującym (rys,
10.l2a), ustawiającym punkty styku końcówek pomiarowych czujnika ze
ścianką otworu w płaszczyźnie osiowej, lub średnicówką z trzymiejscowym
stykiem (rys. 10.12b), która dzięki liniowemu stykowi każdej końcówki przyj-
muje właściwe położenie po dociśnięciu końcówek do powierzchni otworu.
Błędy graniczne dopuszczalne w pomiarach średnicówkami z czujnikiem
zębatym zestawiono w tabl. 10.6.
240
Stałe A i Β nie uwzględniają błędu temperaturowego, zakłada się bowiem,
że zarówno przyrząd, jak i mierzony przedmiot mają temperaturę 20°C (SL, = S=
= 20°C).
W pomiarze długościomierzem ULM 01-600C (OKM Jena) (tabl. 10.7)
istnieje możliwość automatycznego eliminowania błędu temperaturowego po
wprowadzeniu do cyfrowego urządzenia wskazującego wartości temperatur
przyrządu i przedmiotu.
Kąty gwintów χ χ X — __ —
X X χ — —
Średnice zewnętrzne
gwintów
X — — — — —
Średnice wewnętrzne
gwintów
X χ X
Koła zębate
l}
Zestawienie nie obejmuje techniki projekcyjnej i fotograficznej. T) Tylko mikroskopami z
urządzeniami do wytwarzania prążków interferencyjnych obok mierzonych przedmiotów (np
ZKM 01-250C, Zeiss lub UWM, Leitz-Brown&Sharpe). 3) Z wyjątkiem MWM.
(10.12)
(10.13)
244
Jeżeli przyjmie się χ ~ Xi — x\ oraz y = yi — y\, wówczas niepewność
standardowa złożona wyraża się wzorem
(10.14)
Rys. 10.13.
Wyznaczanie odległości osi otworów w pomiarze
współrzędnościowym
10.11. Sprawdziany
Rys. 10.14. Położenie pól tolerancji sprawdzianów na tle pola tolerancji przedmiotu dla
przedmiotów o wymiarach do 180 mm: a) dla otworu, b) dla wałka (oznaczenia według
PN-72/M-02140)
Literatura
u
11.1. Układ tolerancji kątów
Rys. 11.1. Tolerowanie kątów: a) pole tolerancji kąta klina, b) pole tolerancji kąta stożka o
zbieżności C < 1:3, c) pole tolerancji kąta stożka o zbieżności C > 1:3
248
ramienia kąta, tworzącej lub długości stożka) do 2500 mm. "Norma dopuszcza
stosowanie klas dokładniejszych niż 1. Należy je oznaczać w kolejności wzras-
tającej dokładności symbolami 0, 01, 02 itd. Podstawowymi, znormalizowanymi
są tolerancje ATa wyrażone w μrad. Tolerancje AT to wyrażone w jednostkach
kątowych tolerancje ATa po zaokrągleniu. Wartości tolerancji ATh i ATD
wyznacza się wg wzorów
(11.1)
gdzie: AT^ wyrażone jest w μηι, ATa w μταύ^ a L] w
mm,
(11.2)
gdzie a— nominalny kąt stożka.
Dla stożków o zbieżności C < 1:3 ATh *ATD.
Położenie pola tolerancji kąta może być: jednostronne na zewnątrz kąta
(aA!) lub jednostronne do wewnątrz kąta {α_Λτ\ albo symetryczne (α ± AT/2).
Dopuszczalne jest również dwustronne niesymetryczne tolerowanie kątów.
Na rysunku tolerancje kąta można zapisać przez podanie:
— odchyłek w jednostkach kątowych, np. 60°±1Ί5" i w takim przypadku
zaleca się stosowanie tolerancji zaokrąglonych (AT-2'30"),
— odchyłek w jednostkach długości, np. dla danych AT h = 0fi4 mm, L\ =
- 50 mm zapis ma postać
249
W m e t o d z i e 1 (rys. 11.2) postać nominalną stożka opisuje się przez
podanie następujących wymiarów nominalnych: średnicy dużej Ą długości L
i kąta stożka alub zbieżności C
(11.3)
250
serwowana stożka Dsa może się zawierać w granicach określonych przez pole
tolerancji TDS, a niezależnie od tego kąt stożka aa może wykorzystać tolerancję
AT. Odchyłki kształtu muszą być mniejsze od odpowiednich tolerancji. Przykład
wymiarowania stożków podano na rys. 11 „3b.
Rys, Π.3. Tolerowanie stożków — metoda 2; a) pole tolerancji (średnicaD,, i kąt stożka a,
jak również odchyłki kształtu są tolerowane niezależnie od siebie), b) przykład wymiarowania
(11.5)
lub
(11.7)
(11.8)
lub
(11.9)
W przypadku stosowania metody 2 tolerowania
stożków zaleca się spełnienie warunku
(11.10)
252
lub
(11.11)
253
odchyłkę osiową dolną (eiz — dla stożka zewnętrznego, EL — dla wewnę-
trznego), odchyłkę osiową podstawową (e:mm — dla stożka zewnętrznego, E.min —
dla wewnętrznego) oraz tolerancję osiową (T:e — dla stożka zewnętrznego, T:l
— dla wewnętrznego) pokazano na rys. 11.4.
Rys. 11.4.
Odchyłki osiowe stożka:
a) zewnętrznego,
b) wewnętrznego; / — stożek
nominalny, 2 — stożek graniczny
największy, 3 — stożek
graniczny najmniejszy
254
11.3. Pomiary kątów
Rys. 11.5.
Widok podziałki głównej i noniusza kątomierza
uniwersalnego; wskazanie 54°35'
Rys. 11.6.
Widok w okularze
mikroskopu odczytowego
kątomierza optycznego: a)
PZO — wskazanie 1°47', b)
Mahr — wskazanie 30°25'
Pomiar kąta kątomierzem uniwersalnym polega na przyłożeniu bez szczelin
obu ramion kątomierza do boków mierzonego kąta. Ogólnie przyjmuje się, że
niepewność pomiaru kątomierzem maleje wraz ze wzrostem długości krótszego
ramienia mierzonego kąta. Można przyjąć, że przy długości krótszego ramienia
kąta od 20 mm wzwyż, niepewność pomiaru jest równa zdolności odczytania
noniusza, która na ogół wynosi 5'. Dla mierzonych kątów, których chociażby
jedno ramię jest krótsze od 20 mm, niepewność pomiaru jest większa od
zdolności odczytania noniusza. To zwiększenie się niepewności pomiarów jest
spowodowane trudnością przywarcia bez szczelin ramion kątomierza do boków
mierzonego kąta.
Budowane są też kątomierze poziomnicowe służące do pomiarów kąta
w stosunku do kierunku poziomego. Kątomierz poziomnicowy firmy PZO
Warszawa jest nazywany przez producenta optyczną poziomnicą kątową OPK1.
Ma wbudowany kreskowy wzorzec kąta o wartości działki elementarnej 1° i za-
kresie ±120° oraz dwa noniusze. Wartość działki elementarnej noniusza wynosi
Γ. Wartość działki elementarnej poziomnicy wynosi 30".
(11.14)
Rys. 11.7.
Liniał sinusowy
Rys. 11.8.
Pomiar kąta liniałem sinusowym
α— kąt nachylenia liniału
sinusowego, L — długość liniału
sinusowego,
Ή ~~ wymiar stosu płytek
wzorcowych, wj, M>2 — wskazania
czujnika w dwóch punktach leżących
na boku mierzonego klina,
/ — odległość skrajnych punktów
pomiaru czujnikiem
(11 .15 )
(11 16)
(11.17)
Rys. 11.9.
Obliczenie poprawki c wysokości stosu płytek
wzorcowych ze względu na różnicę wskazań czujnika
(Aw = w2~w\}; I — odległość punktu pomiaru
czujnikiem, /„ — wymiar podstawionego pod liniał
sinusowy stosu płytek wzorcowych
(11.18)
(Π.19)
(11.20)
Lunety autokolimacyjne służą do pomiaru małych kątów (do 2°) między osią
optyczną lunety a powierzchnią lustrzaną. Zasadę działania lunety pokazano na
rys. 1 1 . 1 0 .
Rys, 11.10.
Zasada działania lunety
autokolimacyjnej (opis
w tekście)
(11.22)
11.3.6. Goni om et r
11.3.7. Poziomnice
Pomiar kąta stożka może być wykonany metodą bezpośrednią lub pośrednią.
W pomiarze metodą b e z p o ś r e d n i ą wykorzystuje się okular gonio-
metryczny (rys, 11.14). Różnica wskazań odpowiadająca dwóm położeniom
kątowym krzyża okularu goniometrycznego jest kątem stożka a. Niepewność
pomiaru zależy od rodzaju użytego mikroskopu i długości ramienia kąta.
Rys. 11.14,
Pomiar kąta stożka mikroskopem metodą bezpośrednią.
+ a χ
ts (11.24)
7=T
Rys. 1 LIS.
Pomiar kąta stożka mikroskopem metodą
pośrednią
(11.25)
co po wyznaczeniu pochodnych cząstkowych
daje ostatecznie
(11.26)
lub (w przybliżeniu)
(11.28)
Rys. 11.16-
Kompensacja błędu systematycznego pomiaru kąta
stożka
Pomiar średnicy stożka w zadanej
odległości od powierzchni bazowej
przedstawiono na rys. 11.17. Niepewność
pomiaru zależy od użytego mikroskopu
pomiarowego.
Rys. 11.17.
Pomiar średnicy stożka mikroskopem
Rys. 11.18.
Pomiar kąta stożka zewnętrznego przy użyciu
wałeczków pomiarowych
(11.29)
264
gdyż średnice nominalne wałeczków pomiarowych są jednakowe. Analizując
jednak niepewność pomiaru należy przyjąć, że kąt stożka a jest funkcją trzech
wymiarów: (M2 -Mi), (dw -dw) oraz ln (a nie czterech Mu M2, dw i lfl, czy trzech
(11.32)
(11.33)
(Π.34)
265
(11.35)
(11.36)
(11.37)
(11.38)
266
Średnica stożka jest tutaj funkcją czterech wymiarów:
— długości pomiarowej Mf
— kąta stożka a>
— odległości Lx-ln,
— średnicy wałeczków dw.
Niepewność standardową pomiaru należy więc liczyć wg wzoru
Aby otrzymać e^x w μΐη, należy UM, U(Lx-in) i Udw wstawić w μΐη, ua w mrad,
adw,Lx i ln w mm.
Pomiar wykonuje się metodą pośrednią. Oprócz kul pomiarowych używa się
głębokościomierza mikrometrycznego, którym mierzy się długości pomiarowe
M\ i M2, a niekiedy również płytek wzorcowych (rys. 11.20).
W celu wyznaczenia kąta stożka należy wykorzystać zależność wynikającą z
wyróżnionego na rys. 11.20 trójkąta prostokątnego
Rys. 11.20. Pomiar kąta i średnicy stożka wewnętrznego przy użyciu kul pomiarowych
(11.40)
z której widać, że kąt stożka jest funkcją (A/j —M^) oraz (d^ —dk\)-
Niepewność standardową pomiaru ua oblicza się wg wzoru
(11.42)
(11.43)
(11,44)
268
11.4.5. Sprawdziany do stożków
Rys. 11.22.
Sprawdziany do stożków
a) zewnętrznych, b) wewnętrznych
Literatura
Bocheńska K., Metter E, Przybylski W (1984) Technologia kontroli jakości w przemyśle
maszynowym. Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, Gdańsk,
Mahnowsh J (1974): Pomiary długości i kąta. WNT, Warszawa
Mahnowski J, Jakubiec W (1991) Laboratorium metrologii wielkości geometrycznych
Wydawnictwa Politechniki Łódzkiej, Łódź.
Warnecke H. J, Dutschke W (red) (1984) FertigungsmeBtechnik. Handbuch flir Industrie
und Wissenschaft Springer Verlag, Berlin.
PN-ISO 406:1993 Rysunek techniczny— Tolerowanie wymiarów liniowych ι kątowych
PN-ISO 1119 2000 Specyflkacfe geometrii wyrobów (GPS) — Szeregi kątów i zbieżności
stożków
PN-ISO 2538-2000 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Szeregi katów i pochyleń
pryzm.
PN-ISO 8512-1:1998 Płyty pomiarowe — Płyty żeliwne
PN-ISO 8512-2:1999 Płyty pomiarowe — Płyty granitowe
PN-EN 22768-1 1999 Toleranqe ogólne — Tolerancje wymiarów liniowych i kątowych bez
indywidualnych oznaczeń tolerancji.
PN-EN 22768-2:1999 Tolerancje ogólne — Tolerancje geometryczne elementów bez
indywidualnych oznaczeń tolerancfi
PN-93/M-01149 Rysunek techniczny maszynowy — Wymiarowanie i tolerowanie stożków
podstawowe wymiarów do 3150 mm.
PN-82/M-02121 Stożki i złącza stożkowe Terminologia.
PN-83/M-02I22 Stożki ι złącza stożkowe. Układ toleranqi stożków.
PN-87/M-02123 Stożki i złącza stożkowe Sprawdziany do stożków tolerowanych
niezależnie Tolerancje
PN-77/M-02136 Układ toierancji kątów
PN-80/M-02138 Tolerancje kształtu i położenia. Wartości.
PN-79/M-53088 Narzędzia pomiarowe. Wałeczki pomiarowe do gwintów
PN-81/M-53108 Narzędzia pomiarowe. Płytki kątowe
PN-86/M-53160 Narzędzia pomiarowe Kątowniki 90° stalowe.
PN-74/M-53180 Narzędzia pomiarowe. Liniały krawędziowe i powierzchniowe
PN-79/M-53354 Narzędzia pomiarowe. Liniały sinusowe
PN-82/M-53358 Narzędzia pomiarowe. Kątomierze uniwersalne
PN-76/M-53375 Narzędzia pomiarowe Poziomnice state metalowe dwukierunkowe
PN-76/M-54601 Poziomnice Ampułki
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe
12
12.1. Wiadomości wstępne
270
wymiary są mierzone jednym przyrządem. Dzięki temu uzyskuje się często
ograniczenie liczby braków lub skrócenie przestojów obrabiarek w oczekiwaniu
na wyniki pomiarów. Wreszcie maszyny pomiarowe są znacznie łatwiejsze do
okresowego sprawdzania dokładności niż inne przyrządy i dają się łatwo
wkomponować w elastyczne systemy produkcyjne. Łatwe jest również przy ich
użyciu stosowanie różnych technik sterowania jakością.
Rys. 12.2. Przykłady korekcji: a) prosta (płaszczyzna), b) okrąg (walec, sfera), c) stożek
(12.1)
Przykłady parametrycznego opisu dla walca i płaszczyzny podano na rys, 12.3.
Opisana parametryzacja elementów geometrycznych nie jest jedyną
stosowaną przez producentów maszyn pomiarowych. Na przykład firma Zeiss
do definicji prostej (osi) wykorzystuje jej punkt przecięcia z jedną z płaszczyzn
układu współrzędnych i dwa kąty, jakie z osią prostopadłą do tej płaszczyzny
tworzą rzuty tej prostej, a do definicji stożka zamiast promienia stożka w pun-
kcie definicyjnym osi — długość krótkiej osi elipsy powstałej z przekroju stożka
płaszczyzną układu współrzędnych.
T70
Rys. 12.3. Definiqe elementów geometrycznych wg tabl 12 3 a) płaszczyzna, b) walec
ΊΊΊ
względu na stosowane algorytmy, jak również z uwagi na dokładność pomiaru
zaleca się stosowanie większej liczby punktów, tym większej im większe są
wymiary próbkowanej powierzchni. Ponadto niezmiernie ważne jest ich pra-
widłowe (zwykle równomierne) rozmieszczenie na mierzonej powierzchni.
Większa od minimalnej liczba punktów pomiarowych służy również do kontroli
poprawności przeprowadzonego pomiaru na podstawie otrzymanej w jego
wyniku „odchyłki kształtu". Większa od zwykle spotykanej wartość „odchyłki
kształtu" jest sygnałem o prawdopodobnie popełnionym błędzie nadmiernym;
może oznaczać błędne odebranie sygnału o styku końcówki trzpienia pomia-
rowego z przedmiotem lub zetknięciu się końcówki w miejscu występowania
wady lub zanieczyszczenia. Zdarzają się jednak przypadki, w których stoso-
wanie znacznej liczby lub równomiernego rozmieszczenia punktów pomia-
rowych jest niemożliwe lub niecelowe.
Z przyczyn technicznych, wąskiej płaszczyzny nie można zmierzyć zgodnie
z procedurą pomiaru płaszczyzny i wtedy należy ją zrekonstruować na podsta-
wie pomiaru prostej. W tym celu punkty pomiarowe należy zrzutować na płasz-
czyznę pomocniczą nominalnie prostopadłą do mierzonej płaszczyzny i w tej
płaszczyźnie wyznaczyć prostą. Do zdefiniowania rekonstruowanej płaszczyzny
należy wykorzystać współrzędne punktu z definicji prostej i wektor normalny do
wektorów definiujących płaszczyznę pomocniczą i prostą (rys. 12.4a).
W pewnych sytuacjach płaszczyznę należy rekonstruować na podstawie
pomiaru punktu. Dotyczy to płaszczyzn o niewielkich wymiarach (np. czoło
pręta) oraz płaszczyzn o określonej orientacji (np. powierzchnie płytki wzor-
cowej). Oczywiście, w celu prawidłowej korekcji promienia kulistej końcówki
trzpienia pomiarowego musi być znana orientacja mierzonej płaszczyzny. Ta
orientacja może być określona przez inne elementy, np. przez dwie płaszczyzny
normalne lub, w przypadku przedmiotu o symetrii obrotowej, przez jego oś. Do
zdefiniowania rekonstruowanej płaszczyzny należy wykorzystać współrzędne
zmierzonego punktu (z uwzględnieniem korekcji) oraz znany wektor opisujący
orientację (rys. 12.4b).
Rys. 12.5.
Walec skojarzony określony na
podstawie pomiaru okręgu w
zdefiniowanej płaszczyźnie
pomocniczej
Rys. 12.6.
Przykłady skojarzonych elementów geometrycznych:
a} okrąg średni, b) okrąg przylegający opisany,
c) okrąg przylegający wpisany,
d) okrąg minimalnej strefy (wg Czebyszewa)
Opisy stosowanych algorytmów wyznaczania elementów skojarzonych
można znaleźć na przykład w [Hemdt 1994, Whitehouse 1994], Dla przykładu
przytoczono algorytmy wyznaczania płaszczyzny średniej, okręgu
średniego i okręgu minimalnej strefy.
Płaszczyzna średnia
Płaszczyznę opisuje się równaniem
(12.2)
Innymi słowy płaszczyzna jest zdefiniowana przez dowolny punkt (ΛΟ, JO,
ZQ) tej płaszczyzny oraz wektor (u, v, w) normalny do płaszczyzny. Do
płaszczyzny średniej zawsze należy punkt będący środkiem ciężkości punktów
pomiarowych, wobec tego za punkt definiujący płaszczyznę można przyjąć
punkt (~, y, z). Pozostaje do wyznaczenia wektor (w, v, w).
Warunek najmniejszych kwadratów (suma kwadratów odległości punktów
pomiarowych od płaszczyzny średniej jest najmniejsza z możliwych) ma postać
(123)
gdzie
Warunek ten jest
spełniony dla wektora własnego macierzy Β = AT A odpowiadającego
najmniejszej wartości własnej tej macierzy, gdzie
(12.4)
Wartości własne macierzy Β to
wartości Ah dla których równanie Bx = fa
ma niezerowe rozwiązanie. Zachodzi to
wówczas, gdy |B - λ\\ - 0.
Wektory własne to wektory χ stanowiące rozwiązanie równania Bx = L·
dla poszczególnych wartości własnych Xv
Tak więc, po rozwiązaniu powyższego
równania dla λ będącego najmniejszą wartością
własną i uwzględnieniu warunku się poszukiwany wektor (u, v, w).
Okrąg średni — algorytm ścisły
Okras opisuje się równaniem
(12.5)
Dla okręgu średniego warunek najmniejszych kwadratów mówi, że suma
kwadratów odległości punktów pomiarowych od okręgu jest najmniejsza
(12.6)
276
W celu rozwiązania problemu można posłużyć się metodą iteracyjną
Gaussa-Newtona, która sprowadza się do wykonania następujących kroków: —
znając wcześniejsze przybliżenie x0, yo i r, rozwiązuje się równanie liniowe
(12.7)
(12.8)
(12.9)
— jako następne przybliżenie przyjmuje się
(12.10)
(l-.ll)
(12.12)
(12.13)
gdzie:
277
(12.14)
(12.15)
278
— punkt przecięcia dwóch prostych leżących w tej samej płaszczyźnie,
— punkt przecięcia prostej w przestrzeni z płaszczyzną lub sferą,
— krawędź przecięcia dwóch płaszczyzn,
— punkty przecięcia prostej i okręgu lub dwóch okręgów leżących w tej samej
płaszczyźnie układu.
— okrąg jako wynik przecięcia sfery i płaszczyzny lub dwóch sfer.
Wzajemne relacje między dwoma elementami geometrycznymi to odległości
(między dwoma punktami, punktem i prostą, punktem i płaszczyzną, dwiema
prostymi, prostą i płaszczyzną i dwiema płaszczyznami) i kąty (między
prostymi, prostą i płaszczyzną oraz dwiema płaszczyznami). Pojęcie punkt
obejmuje tutaj również środki takich elementów, jak okrąg, elipsa i sfera, zaś
pojęcie prosta dotyczy również osi walca, stożka i torusa. Definicje większości
relacji wynikają z geometrii i nie wymagają komentarza.
Znana z geometrii definicja odległości miedzy dwiema prostymi jako
najkrótsza odległość między punktami tych prostych, nie może być zastosowana
do prostych nominalnie równoległych. Oprogramowanie maszyn pomiarowych
w odpowiedzi na pytanie o odległość prostych nominalnie równoległych podaje
najczęściej odległość punktu definicyjnego jednej z prostych od drugiej prostej.
Dla uniknięcia nieporozumień zalecane jest, by w sytuacjach mogących budzić
wątpliwości rysunek zawierał dodatkowe informacje umożliwiające jednoznacz-
ną interpretację.
Można np. określić tzw. płaszczyzną funkcjonalną, tzn. tę płaszczyznę
nominalnie prostopadłą do prostych, w której obowiązuje podana odległość (rys.
12.7a). Na rysunku wymiar „3" określa położenie płaszczyzny funkcjonalnej,
a trójkąt — prostą (oś) odniesienia. Dzięki temu odległość prostych równo-
ległych została zdefiniowana jako odległość punktu od prostej (rys. 12.7b).
Rys. 12.7. Odległość między dwiema prostymi równoległymi w płaszczyźnie funkcjon-ilnej (//?)■ a)
przykład wymiarowania, b) definicja
Jeżeli środek odcinka prostej, która nie jest prostą odniesienia, leży
w płaszczyźnie funkcjonalnej, nie ma potrzeby wskazywania położenia tej
płaszczyzny na rysunku. Fakt, że wymiar ma charakter odległości punktu od
płaszczyzny, można oznaczyć przez umieszczenie za wymiarem symbolu pd
(ang. point distance) (rys. 12.8a). W takim przypadku odległość między
prostymi jest określona jako odległość środka odcinka prostej (punktu) od
prostej odniesienia (rys. 12.8b). Jeśli prosta odniesienia nie jest wyróżniona
(brak trójkąta), to może nią być dowolna z dwóch prostych.
279
-!ill
ο) 40±QJod
I i μ
!
Rys. 12.8. Odległość między prostymi (osiami) równoległymi dla przypadku, gdy płaszczyzna
funkcjonalna znajduje się w połowie wymiaru elementu: a) przykład wymiarowania, b) definicja
280
Rys, 12.11. Odległość między dwiema płaszczyznami równoległymi: a) oznaczenie na rysunku, b)
interpretacja
281
— od punktu do punktu — w którym przemieszczenia odbywają się z pręd
kościami i przyspieszeniami typowymi dla poszczególnych osi maszyny, aż
do osiągnięcia zadanego położenia.
— wektorowe — w którym tor końcówki trzpienia pomiarowego jest linią
prostą,
— po zadanym torze — w pomiarach skaningowych znanego profilu.
— adaptacyjne wzdłuż mierzonego profilu — tak by w pomiarze skaningowym
zapewnić ciągły styk końcówki trzpienia pomiarowego z mierzonym przed
miotem o nieznanym profilu.
Do zadań układu sterowania należy również obsługa zabezpieczeń anty-
kolizyjnych czy korekcji temperaturowej. W nowych generacjach maszyn
pomiarowych niektóre zadania układów sterowania powierza się specjalnym
mikroprocesorom, odpowiednim do danego zadania.
12.4.1. Klasyfikacja
282
Maszyny wysięgnikowe zapewniają łatwe dojście do mierzonego przed-
miotu z 3 stron. Ponieważ wysięgnik jest podparty tylko jednostronnie, to przy
różnych położeniach, zarówno pionowych, jak i poziomych wysięgnika, ze
względu na różne obciążenia i sztywność, zmieniają się odkształcenia układu.
Jeżeli nie zastosuje się korekcji tych odkształceń w układzie pomiarowym, to
niepewności pomiaru mogą być znaczne. Maszyny tego typu mają na ogół małe
zakresy pomiarowe (3OOV7OO mm), a jeżeli są stosowane do mniej dokładnych
pomiarów (np. części z blachy, odlewy lub elementy spawane), to mają znaczne
zakresy pomiarowe (nawet do 24 m). W normie PN-EN ISO 10360-1:2002
wyróżnia się maszyny wysięgnikowe z ruchomą kolumną (ang. moving ram
horizontal-arm CMM) (rys. 12.13a, fot. 12.U 12.2), z nieruchomym siołem (ang.
fixed table horizontal-arm CMM) (rys. 12.13b) oraz z ruchomym stołem (ang.
moving table horizontal-arm CMM) (rys. 12.13c),
283
są one używane do pomiarów dużych przedmiotów w budowie pojazdów,
samolotów, statków i dużych maszyn. Wadą tych maszyn jest ograniczony
(przez słupy) dostęp do przestrzeni pomiarowej.
Rys. 12.15.
Schemat kinematyczny maszyn mostowych
Rys, 12.16.
Schemat kinematyczny maszyny kolumnowej
284
znaczenia jest również fakt, że granit jest materiałem niemagnetycznym i nie
przewodzi elektryczności. Jest także tańszy niż metal Jego wadą jest pęcznienie
pod działaniem wody.
Ruchome elementy maszyny poruszają się na łożyskach w prowadnicach.
Prowadnice odpowiadające osiom pomiaru powinny być wzajemnie prosto-
padłe. Odchyłki prostopadłości. prostoliniowości i płaskości prowadnic powo-
dują błędy pomiaru, które w niektórych rozwiązaniach mogą być korygowane.
Jeżeli prowadnice są wykonane z granitu, stosuje się łożyskowanie aerosta-
tyczne. Łożyska te cechują się dużą dokładnością i ponadto nie występuje^ w nich
tarcie ani nie zużywają się. Przy takim łożyskowaniu małe krótkookresowe
odchyłki płaskości nie wpływają na błędy pomiaru. Niektóre rozwiązania łożysk
aerostatycznych, tzw. łożyska wstępnie naprężone, umożliwiają samocen-
trowanie prowadnic. Zaletą łożysk aerostatycznych jest łatwość konserwacji,
głównie dzięki własnościom samoczyszczenia. Łożyskowanie aerostatyczne jest
najbardziej rozpowszechnionym łożyskowaniem maszyn pomiarowych. Przy
łożyskowaniu tocznym stosuje się prowadnice wykonane ze stali. Łożyska
toczne wykazują dobrą dokładność (nawet przy dużych obciążeniach), cechują
się małym tarciem i zużyciem, nie sąjednak odporne na zabrudzenia i korozję.
W zależności od stopnia automatyzacji stosuje się napęd ręczny lub napęd
siłnikowy. Warunki pracy silników są trudne. Częste zmiany kierunku ruchu,
duże prędkości i przyspieszenia nawet na krótkich drogach ruchu oraz dokładne
pozycjonowanie powinny odbywać się bez drgań. Rozpiętości prędkości ruchu
są bardzo znaczne. Na biegu szybkim stosuje się prędkości rzędu 1 m/s, a przy
precyzyjnym pozycjonowaniu rzędu 1 μΐη/s. Siła powodująca ruch nie może być
duża, by nie powodować uszkodzeń elementów przyrządu przy ewentualnych
kolizjach. W związku z tym w napędach stosuje się przekładnie redukujące
i elementy tłumiące drgania (np. pasy zębate).
Elementami do przenoszenia sił są taśmy, listwy i koła cierne, wrzeciona
kulkowe lub gwintowe oraz łańcuchy. Punkty zaczepienia sił na elementach
ruchomych powinny znajdować się możliwie blisko środków ciężkości. Dzięki
temu ogranicza się przechylenia, naprężenia w prowadnicach i łożyskach, jak
również deformacje wywołane przyspieszeniem i hamowaniem ruchu.
285
końcówki pomiarowej z mierzonym przedmiotem, wskutek otwarcia jednego ze
styków, następuje przerwanie obwodu prądowego.
Rys. 12.17.
Głowica impulsowa elektrostykowa
mechaniczna: a) schemat konstrukcyjny,
b) schemat układu elektrycznego, 51,
£2, S3 —styki
286
wice mierzące umożliwiają również pomiar w warunkach statycznych, tzn. po
zatrzymaniu wszystkich ruchów maszyny. Możliwe jest tutaj — podobnie jak
w pomiarach dynamicznych — sumowanie wskazań układów pomiarowych
maszyny i głowicy. Najlepsze wyniki uzyskuje się jednak po doprowadzeniu do
stanu, w którym przy styku końcówki z przedmiotem przetworniki pomiarowe
głowicy znajdują się w położeniu zerowym.
Rys. 12.18. Głowica mierząca —zasada działania: a) trzy układy sprężyn płaskich oraz związane z
nimi przetworniki pomiarowe tworzą kartezjański układ współrzędnych zgodny z układem
maszyny {Leitz, SIP, Zeiss), b) układ dźwigniowy (nie pokazany na rysunku) umożliwia przesuw
oraz wychylenia trzpienia pomiarowego mierzone przez trzy przetworniki pomiarowe i przeliczane
na zmianę współrzędnych x, y, z (Mahr), c) trzy układy sprężyn płaskich w postaci zwarte]
konstrukcji oraz trzy układy pomiarowe CCD (Renishaw)
287
12.19a cechują różne własności dynamiczne dla przesuwów wzdłuż poszcze-
gólnych osi. Głowica firmy Mahr (rys. 12.19b) stosowana w przyrządach do
pomiaru odchyłek walcowości oraz w maszynach pomiarowych Primar, ma
lepsze własności dynamiczne głównie dzięki zastąpieniu przesuwów obrotami.
Głowica firmy Renishaw posiada trzy układy sprężyn płaskich w postaci zwartej
konstrukcji oraz trzy układy pomiarowe CCD (rys. 12.19c).
Ciekawe rozwiązanie głowicy pomiarowej stanowi głowica o nazwie QMP
(Quartz Micro Probe) firmy Zeiss. Do rezonatora kwarcowego drgającego
z częstotliwością 30 kHz przymocowany jest trzpień pomiarowy wykonany
z włókna szklanego o długości 10 mm i średnicy 0,07 mm i zakończony kulistą
końcówką pomiarową o średnicy 0,1 mm. Przy zetknięciu końcówki trzpienia
z powierzchnią przedmiotu następuje zaburzenie częstotliwości drgań stano-
wiące sygnał pomiarowy.
Najbardziej znanym rozwiązaniem głowicy bezstykowej jest głowica
laserowa pracująca na zasadzie triangulacyjnej. Przykładem głowicy laserowej
jest głowica LTP 60 firmy Zeiss współpracująca zwykle z głowicą przegubową
RDS. Głowice bezstykowe stosuje się głównie do pomiarów przedmiotów płas-
kich lub odkształcalnych, ale również w pomiarach zarysów krzywoliniowych,
zarówno w technice pomiarów punktowych, jak i skaningu [Dobosz, Ratajczyk
1993, Ratajczyk 1994a, Ratajczyk 1994b].
288
Rys. 12.19. Przykłady zastosowań różnych trzpieni pomiarowych: a) trzpienie krótkie, b) trzpienie
długie, c) trzpień walcowy w zastosowaniu do pomiaru otworu w cienkiej płytce, d) trzpienie w
układzie gwiazdy w zastosowaniu do pomiaru w głębokich otworach, e) trzpień talerzykowy do
pomiaru podcięć, f) trzpień w kształcie czaszy do pomiaru przedmiotów o dużej chropowatości, g)
trzpień w układzie gwiazdy w zastosowaniu do pomiarów podcięć, h) trzpień talerzykowy, i)
trzpień ostry w zastosowaniu do pomiaru głębokości rysy
289
Wyposażenie dodatkowe, znacznie zwiększające możliwości maszyny, to
stół obrotowy i magazyn układów trzpieni pomiarowych.
Stół obrotowy (ang. rotary table), niezależnie od tego. czy jest to integralna
część maszyny pomiarowej czy stanowi wyposażenie dodatkowe, traktowany
jest jako czwarta, sterowana oś maszyny (rys. 12.20, fot. 12.12- 12.18, 12.19).
Umożliwia on lub ułatwia pomiary elementów obrotowych, takich jak na
przykład wałki krzywkowe i koła zębate, ale jest również pomocny przy
pomiarach korpusów. Zastosowanie stołu obrotowego zwiększa efektywny
zakres pomiarowy maszyny (rys. 12.21) i umożliwia stosowanie prostszych
układów trzpieni pomiarowych.
Rys. 12.20.
Stół pomiarowy jako czwarta sterowana oś
maszyny
Rys. 12.21.
Niezbędny zakres pomiarowy maszyny
(linia kreskowa) a) bez stołu
obrotowego, b) ze stołem obrotowym,
L\, Z-2 ~~gabaryty przedmiotu, Ρ
— średnica pinoh
290
12.7. Komputer i oprogramowanie pomiarowe
291
Oprogramowanie pomiarowe jest znane pod nazwami stosowanymi przez
producentów, np. Umess, Calypso (Zeiss), Quindos (Leitz), Tutor, PCDMIS
(DEA), Geopak (Mitutoyo), Metrolog II (Metrologie Group).
292
— wektor prostopadły do obu osi układu tak skierowany, że powstanie układ
prawo skrętny.
Oprogramowanie maszyn pomiarowych umożliwia definiowanie kilku
różnych układów współrzędnych, również przemieszczonych lub obróconych
w stosunku do wcześniej zdefiniowanych o żądany wektor lub kąt. W czasie
pracy możliwe jest korzystanie na zmianę z poszczególnych układów,
293
Interesującą możliwością jest opcja programowania bez użycia maszyny
pomiarowej (off-line). Ma ona dwie istotne zalety w porównaniu z programo-
waniem uczącym:
— programowanie off-line nie wymaga dysponowania fizycznym egzem
plarzem mierzonego przedmiotu. Program jest tworzony na podstawie
rysunku i może powstać jeszcze przed rozpoczęciem produkcji. Już
pierwszy przedmiot może być mierzony w trybie CNC natychmiast po jego
wykonaniu;
— koszt odpowiedniego stanowiska komputerowego wraz z oprogramowaniem
jest wielokrotnie niższy niż cena współrzędnościowej maszyny pomiarowej,
Zaawansowane oprogramowanie umożliwia po zaprogramowaniu pomiaru
przeprowadzenie na ekranie monitora graficznej symulacji przebiegu pomia-
rowego. Mogą więc zostać zidentyfikowane kolizje, błędne próbkowania lub
punkty pomiarowe leżące poza przedmiotem. Tor ruchu głowicy pomiarowej
może być oglądany z różnej perspektywy.
Tworzenie programu pomiarowego na podstawie rysunku może niekiedy
stwarzać pewne problemy. Przewidziano więc możliwość pomijania trudniej-
szych fragmentów przedmiotu i uzupełnienia programu metodą programowania
uczącego w czasie pierwszego pomiaru na maszynie.
Oferowane są komputerowe stanowiska do programowania przebiegów
pomiarowych przez firmy software'owe nie związane z producentem maszyny.
Poważnym ograniczeniem jest jednak to, że programy te muszą być adaptowane
do ciągle modyfikowanych oraz rozbudowywanych modułów oprogramowania
maszyn pomiarowych.
Spośród oprogramowania do tworzenia przebiegów pomiarowych poza
maszyną największe szansę na szerokie rozpowszechnienie mają moduły opro-
gramowania CAD/CAM, Przykładami takich systemów są Computer Vision;
Unigraphics (McDonnel Douglas), Catia z Audimess (IBM i Audi), Eucfid, !
Prelude Inspection (Matra Datavision), PCMES z AutoCAD (Istec) [Gold 1993].
W celu wygenerowania przebiegu CNC w systemie CAD/CAM dla zapro-i
jektowanego wcześniej w tym systemie przedmiotu należy wykonać następujące-
kroki:
1. Zbudować w systemie CAD układ trzpieni pomiarowych z wykorzystaniem^
biblioteki elementów. Poszczególne elementy przywoływane są przy użyciuj
tabletu lub myszy, łączone i umieszczane w pozycji pomiarowej.
2. Określić położenie przedmiotu na stole współrzędnościowej maszyny^
pomiarowej. Definiuje to układ współrzędnych mierzonego przedmiotu,]
Następnie, jeśli trzeba, są konstruowane albo przywoływane z biblioteki]
elementy ustalające i mocujące. j
3. Utworzyć bieżący program pomiarowy. Tworzenie zaczyna się od przyij
wołania wcześniej zbudowanego układu trzpieni pomiarowych oraz okres*!
lenia używanego w danej chwili trzpienia i parametrów pomiarowych, jafe
punkty próbkowania, punkty pośrednie, głębokość zanurzenia trzpienia
pomiarowego, wysokość wycofania, wybór aktywnej końcówki pomia|
rowej. Wprowadzane są również specyfikacje (tolerancje). Programowanie
przebiegu pomiarowego ułatwiają makroinstrukcje. Dzięki odpowiedni/
294
makroinstrukcji, kiedy próbkuje się np. otwór, wystarczy wybrać głębokość
zanurzenia i liczbę punktów próbkowania. Program utworzy automatycznie
procedurę pomiarową do pomiaru otworu. Program dostarcza wartoś-
ciowego wsparcia graficznego, kiedy ustala się lub przywołuje układ współ-
rzędnych przedmiotu, gdy przywołuje się poszczególne elementy geome-
tryczne, a także przy wyznaczaniu elementów teoretycznych (np. elemen-
tów symetrii). Graficzne wsparcie pomaga unikać błędów w programie
pomiarowym.
4. Sprawdzić program pomiarowy w przebiegu kontrolnym. W tym celu
kompletny układ trzpieni pomiarowych porusza się zgodnie z wyświe
tlanym przestrzennie torem. Przebieg programu może być symulowany
w systemie CAD/CAM w całości lub krok po kroku, jednocześnie w kilku
(do czterech) perspektywach. Jeśli zaobserwuje się kolizję, program można
łatwo zmodyfikować.
5. Po przebiegu testowym generowane są dane sterujące i następnie zapi
sywane w postaci pliku danych (DMIS). Na stacji programowania mogą być
dodane te polecenia, które nie zostały przewidziane przez system
CAD/CAM. Program pomiarowy jest teraz gotowy do użycia na współ
rzędnościowej maszynie pomiarowej.
Zalety programowania pomiaru w systemie CAD/CAM są następujące:
— dział konstrukcyjny, produkcja i dział zapewnienia jakości używają wspól
nych (aktualnych) danych,
— komputerowy model przedmiotu może być użyty bezpośrednio do gene
rowania programu pomiarowego i wprowadzania wartości nominalnych
i tolerancji dla mierzonych charakterystyk,
— możliwości graficzne oferowane przez systemy CAD/CAM ułatwiają plano
wanie pomiaru, szczególnie w zakresie wyposażenia do mocowania przed
miotu i układu trzpieni pomiarowych, oraz generowanie torów prze
mieszczeń. Przebieg pomiarowy może być symulowany i sprawdzany wizu
alnie z punktu widzenia kolizji,
— efektywniejsze wykorzystanie współrzędnościowej maszyny pomiarowej.
jako że programowanie odbywa się poza maszyną,
— przebieg pomiarowy CNC może być przygotowany jeszcze przed wyko
naniem pierwszej części.
Ważnym problemem pozostaje uzgodnienie wspólnego dla różnych maszyn
pomiarowych formatu zapisu danych sterujących [Sładek, Juras, Rewilak 1995].
Są duże szansę, że dla powierzchni swobodnych będzie to VDA-FS, a dla regu-
larnych geometrycznych przedmiotów — DMIS.
Dla ułatwienia programowania przebiegu CNC dostępne są różne użyteczne
opcje. W przypadku produkowania wielu różnych przedmiotów o dużym podo-
bieństwie technologicznym możliwe jest wykorzystanie tzw. programowania
parametrycznego. Dla przedstawiciela grupy opracowuje się optymalny,
z punktu widzenia czasu, przebieg pomiarowy i na jego podstawie bazowy pro-
gram pomiarowy [Hubner 1992]. Program pomiarowy dla poszczególnych ele-
mentów grupy jest generowany na podstawie programu bazowego oraz danych
(parametrów) specyficznych dla konkretnego przedmiotu.
295
Nadzorowanie jakości produkcji na wszystkich etapach procesu produkcyj-
nego wymaga mierzenia tego samego przedmiotu po kolejnych operacjach,
a następnie w czasie kontroli odbiorczej. W ujęciu tradycyjnym wymaga to two-
rzenia, modyfikowania i archiwizowania wielu programów pomiarowych.
Według koncepcji programowania zorientowanego na swobodny wybór cha-
rakterystyk [Hiibner 1992, Juras, Rewilak, Sładek 1995] tworzy się jeden
wspólny program pomiarowy, w którym wyróżnia się grupy charakterystyk,
które w czasie realizacji programu mogą być, ale nie muszą być mierzone.
Powstaje w ten sposób lista charakterystyk, z których w trakcie realizacji pomia-
ru operator wybiera żądaną kombinację. Powstały program uzupełniony o czy-
telne menu ikonowe jest bardzo łatwy w użyciu (fot. 12.29 i 12.30). Koncepcja
programowania zorientowanego na swobodny wybór charakterystyk staje się
ostatnio elementem standardowego oprogramowania maszyn pomiarowych,
296
konanych z blachy lub tworzyw sztucznych) które często wymagają usztyw-
nienia w uchwycie o dokładnie wykonanych elementach bazowych.
Przy wyborze układu trzpieni pomiarowych trzeba mieć na uwadze, że
stosowanie długich trzpieni pomiarowych i ciężkich konfiguracji to zmniej-
szanie dokładności pomiaru, a ponadto ograniczanie przestrzeni roboczej
maszyny. Jeżeli do pomiaru jednego przedmiotu używa się więcej niż jednego
układu, konieczna będzie zamiana układu w czasie pomiaru. W przypadku
maszyn CNC możliwe jest zastosowanie magazynu i automatyczna zamiana
układów w cyklu pomiarowym (fot. 12.20-s-12.22).
Odpowiedź na pytanie o rodzaj skojarzonych elementów geometrycznych
wymaga dobrego rozumienia intencji konstruktora lub technologa. Dla przy-
kładu, walcowy otwór można mierzyć jako walec albo jako okrąg (względnie
kilka okręgów). W przypadku pomiaru otworu jako walca uzyskuje się dobrą
informację o kierunku jego osi i średnią wartość jego średnicy, natomiast
tracona jest informacja o charakterze odchyłek kształtu. Ta z kolei jest do
uzyskania, jeżeli otwór zostanie zmierzony w kilku przekrojach jako okręgi (rys.
12.22).
Rys, 12.22.
Przykład strategii pomiaru dla otworu (watka)
Pomiar w kilku przekrojach jako okręgu
umożliwia rozpoznanie: a) skrzywienia osi, b)
stożkowości
297
łowe będzie wyznaczenie płaszczyzny przylegającej, zaś w celu wyznaczenia osi
wałka lub otworu odpowiednie będą okręgi średnie.
Strategia próbkowania obejmuje liczbę i rozmieszczenie punktów pomia-
rowych. Zwykle punkty pomiarowe powinny być rozmieszczone równomiernie
na mierzonym elemencie i ich liczba powinna być wyraźnie większa od teo-
retycznie minimalnej. Należy stosować nadmiar punktów pomiarowych również
wtedy, gdy odchyłka kształtu nie jest celem pomiaru; duża wartość odchyłki
kształtu jest wówczas sygnałem o wystąpieniu błędu nadmiernego, Przy pomia-
rach odchyłek kształtu liczba punktów pomiarowych powinna być znaczna,
bowiem w przeciwnym razie wyznaczona wartość odchyłki kształtu jest
zaniżona. Przykłady błędów związanych z odstępstwami od tych reguł przed-
stawiono na rys. 12.24^-12.26.
Rys- 12.24. Przykład konsekwencji użycia małej liczby punktów: a), b) możliwe skrajne wyniki
pomiaru
Rys. 12.25.
Przykład możliwych konsekwencji użycia małej liczby
nierównomiernie rozmieszczonych punktów
Rys. 12.26.
Zależność dokładności pomiarów współrzędnych
środka i średnicy okręgu od rozmieszczenia punktów
pomiarowych
298
Z rysunku 12.26 można wyprowadzić wnioski odnośnie do dokładności
pomiaru promienia i współrzędnych środka okręgu w zależności od kąta roz-
mieszczenia punktów. Wzory (12.17)-Η(12.19) wyrażają niepewność standar-
dową wyznaczenia promienia i współrzędnych środka odpowiadającą promie-
niowym błędom głowicy o jednostkowym odchyleniu standardowym:
(12.17)
(12.18)
(12.19)
299
xrz
300
W modelowaniu błędów zespołu głowicy pomiarowej przyjmuje się naj-
częściej, że wartość błędu ma rozkład normalny, a kierunek jest normalny do
powierzchni trzpienia pomiarowego. Niekiedy identyfikuje się składnik syste-
matyczny błędu głowicy. Wtedy najczęściej przedstawia się go w postaci funkcji
d - /(#), gdzie a jest kątem określającym położenie punktu styku kulistej
końcówki trzpienia pomiarowego w płaszczyźnie prostopadłej do osi głowicy,
lub w postaci funkcji d ~Aa> ε)> gdzie a i ε są kątami azymutu i elewacji punktu
styku kulistej końcówki trzpienia pomiarowego w układzie współrzędnych.
którego początek znajduje się w środku końcówki trzpienia pomiarowego
Przykład błędów zespołu głowicy pomiarowej w postaci przestrzennego
wykresu o kształcie trójgraniastości dla azymutu i owalności dla elewacji poka-
zano na rys. 12.28 [Trapet i in. 1999]
Rys. 12.28.
Przykładowy model błędów zespołu głowicy
pomiarowej
301
Rys. 12.29.
Model wpływu błędów geometrycznych na błąd wskazania [Schwenke, Trapet, Waldele 1998]
k = \ywz, xwz, xwy, ytx, ypy, ytz, yrx, yry, yrz, xpx, xty, xtz, xrx, xry, xrz, ztx, zty,
zpz, zrx, zry, zrz]
302
w których: χ, y, z — wskazania układów pomiarowych. xu yh zt — składowe
długości trzpienia pomiarowego.
Dla przykładu z 8 wiersza macierzy Μ można odczytać, że błąd yry (8
element wektora k) obciąża wskazania maszyny z wagami odpowiednio (z + zt)
i(-x-x ; ).
Znajomość takiego modelu pozwala na kompleksowe poprawienie
(korekcję) dokładności maszyny przez wprowadzenie odpowiednich poprawek.
Matematyczna korekcja dokładności jest powszechnie stosowana przez
producentów maszyn pomiarowych. Jak wspomniano w p. 12.9.2, 18 spośród 21
składników błędu ma charakter funkcji, czyli zmienia się ze zmianą wskazania
(x, y, z) maszyny pomiarowej. Można jednak wykazać, że jedna ze współ-
rzędnych ma wpływ dominujący. I tak można przyjąć, że:
— xpx, xty, xtz, xrx, xry, xrz — są funkcjami x,
— ypy, ytx, ytz, yry, yrx, yrz — są funkcjami y}
— zpz, ztx, ztyy zrz^ zrx> zry — są funkcjami z.
Dla celów korekcji matematycznej konieczne jest poznanie wszystkich
składników błędu maszyny pomiarowej. Pomiary 18 powyższych składowych
przeprowadza się z krokiem dyskretyzacji rzędu 10-^50 mm (w zależności od
zakresu pomiarowego i dokładności maszyny). Każdy pomiar powtarza się kilka
razy dla każdego z dwóch kierunków ruchu maszyny — jako wynik pomiaru
przyjmuje się wartość średnią. Pomiary błędów pozycjonowania, prostolinio--
wości i dwóch {pitch ι yaw) błędów rotacyjnych wykonuje się zwykle interfero-
metrem. Pomiar trzeciego błędu rotacyjnego (roli) wykonuje się poziomnicą
elektroniczną (dla osi poziomych) lub metodami pośrednimi.
Dla maszyny o średnich zakresach pomiarowych korekcja matematyczna
polega na wyznaczeniu i wprowadzeniu do komputera ok. 1000^-2000 wartości.
Liczbę tych wartości można obliczyć wg wzoru
(12.22)
303
mierzony po ustawieniu go w 4 miejscach przestrzeni pomiarowej maszyny
(dwa poziome i dwa pionowe). W położeniach poziomych pomiary wykonuje
się od góry wzorca a w położeniach pionowych pomiar wykonuje się z obu stron
wzorca. Łącznie wykonuje się sześć pomiarów używając w każdym przypadku
odpowiedniego z pięciu trzpieni standardowego układu trzpieni pomiarowych
typu „gwiazda", (rys. 12,30).
Rys. 12.30.
Ustawienie wzorca płytowego z kulami
lub otworami; /, 2, 3, 4,5, 6 — kolejne
położenia wzorca i wykorzystywane do
ich pomiaru trzpienie pomiarowe
304
Rys. 12.31. Schemat układu pomiaru 18 składowych błędów geometrycznych maszyny
pomiarowej Primar (Mahr) wykorzystujący dokładnie wykonane pod względem płaskosci i
prostoliniowości, i nie podlegające obciążeniom liniały (objaśnienia w tekście)
Rys. 12.32.
Układ pięciu czujników umożliwiający określenie
błędów geometrycznych maszyny w stosunku do
liniału, czujniki / i 3 służą do pomiaru dwóch
błędów translacyjnych, a pary czujników 1-2, 3-4,
3-5 trzech błędów rotacyjnych
305
W normie PN-EN ISO 10360-6:2002 określono metodę badania opro-
gramowania w zakresie wyznaczania charakterystyk skojarzonych elementów
geometrycznych. W normie zakłada się, że akredytowane laboratoria badawcze
prowadzące badania oprogramowania współrzędnościowych maszyn pomia-
rowych dysponują dla każdego elementu geometrycznego zbiorem danych
odniesienia (ang. reference data set) oraz odpowiadającymi mu wartościami
parametrów odniesienia (ang reference parameter values). Podczas badania
oprogramowania (rys. 12.33), w przypadku każdego elementu lub zbioru danych
odniesienia, podstawą porównania przetworzonych wartości parametrów bada-
nych z wartościami parametrów odniesienia jest wskaźnik działania/?, określony
dla poszczególnych klas parametrów w sposób następujący:
— dla parametrów położenia jest to odległość euklidesowa między punktami
określającymi położenie (x0, yo, --oX
— dla parametrów kierunku jest to dodatni kąt między wektorami jednos
tkowymi (a, b, c); ponieważ oczekuje się otrzymania bardzo małych kątów,
podczas obliczania wartości ρ zaleca się zwrócenie uwagi, aby nie wystę
powały znaczące błędy numeryczne; jeśli ν i w są dwoma wektorami jed
nostkowymi, to numerycznie stabilnym i zalecanym wzorem jest
(12.23)
— dla parametrów wymiaru jest to dodatnia różnica lub różnice między odpo
wiadającymi sobie parametrami wymiaru; w przypadku torusa, dla którego
występują dwa parametry wymiaru, bierze się pod uwagę większą z dwóch
dodatnich różnic.
— d\& parametrów kąta jest to dodatnia różnica parametrów kąta.
306
12.9.7. Wyznaczanie niepewności pomiaru — metoda porównawcza
307
308
12.10. Przykłady maszyn pomiarowych
309
Rys. 12.34, Zasada działania maszyny ScanMax (objaśnienia w tekście)
310
Rys. 12.35.
Rysunek do wyprowadzenia
wzorów
Xf>
x na
współrzędne x, y
311
— jako strzałki o długościach proporcjonalnych do wartości odchyłki (fot
12 26),
— jako symbole odchyłek kształtu, gdzie liczba informuje o wartości i kie
runku odchyłki, a kolor o położeniu pola tolerancji (fot 12 21),
— jako mapę chromatyczną; obszary o zbliżonej wartości odchyłki oznaczone
są taką samą barwą (fot 12 28).
Znanymi producentami maszyn pomiarowych są również firmy
Brown&Sharpe (USA), np maszyna Chameleon (fot 12 10), Leitz (Niemcy),
np PMM-C (fot. 12.3), Sino (fot. 12.18, 12 20), Mahr (Niemcy), np Pnmar
(fot. 12 34), DEA (Włochy), np. Global, Bravo, Mistral (fot. 12.4), SIP, Tesa
(Szwajcaria), Mitutoyo (Japonia), np Euro-C i Johansson (Szwecja).
PMM 866 firmy Leitz jest jedną z najdokładniejszych maszyn pomia-
rowych. Jest to maszyna portalowa z ruchomym stołem. Stały portal oddziela
wpływy błędów osi χ na osie y i z , a . ponadto zapewnia sztywniejszą konstrukcję
dzięki większemu rozstawowi łożysk. Prowadnice stołu mają kształt trapezowy
(jaskółczy ogon), dzięki czemu są ograniczone przechylenia ι wygięcia stołu.
Rozwiązanie konstrukcyjne pinoli o okrągłym przekroju ogranicza jej błędy
rotacyjne. Wzorce są umieszczone możliwie najbliżej mierzonego przedmiotu
w osi χ tuz pod stołem, w osi y u spodu belki, w osi z w środku pinoli. Maszyna
jest wyposażona w optoelektroniczne układy pomiarowe z wzorcami z siatką
fazową Rozdzielczość wzorców wynosi 0,025 μηι. Niedokładność pomiaru
długości wyraża się wzorem «3 = 0,6 + L/600 μηι
Oprogramowanie maszyny (Quindos) umożliwia, oprócz typowych pomia-
rów geometrycznych (p 12 11), pomiary kół zębatych walcowych, stożkowych
i ślimakowych., gwintów, a także narzędzi do kół zębatych i takich elementów
maszyn, jak elementy zębate sprężarek śrubowych, wałki krzywkowe, wałki
rozrządu itp Inne możliwości maszyny to pomiary powierzchni swobodnych,
pomiary paletowe itp.
Primar firmy Mahr (fot 12,34) to bardzo interesujące rozwiązanie maszy-
ny pomiarowej. Podstawową cechą Pnmara jest oddzielenie systemu napędu od
systemu pomiarowego. Maszyna wyposażona jest w system dynamicznego
pomiaru i matematycznej korekcji błędów (p. 12 9.5) Głowicę pomiarową
mierzącą, o konstrukcji zapożyczonej z maszyn do pomiaru odchyłek kształtu,
charakteryzują bardzo dobre własności dynamiczne (p. 12.5.1)
Pnmar to maszyna ze stołem obrotowym przewidziana głównie do
dokładnych pomiarów złożonych przedmiotów o symetrii osiowej. Maszyna
umożliwia pomiary uzębień (fot 12 35 i 12.36) oraz odchyłek kształtu i poło-
żenia (fot 12.38 i 12.39), a również takich przedmiotów, jak wałki krzywkowe,
wały korbowe itp (fot na okładce). Stół obrotowy ma funkcję samopo-
ziomowania i przesuwania osi obrotu co umożliwia dokładne pomiary, w tym
również pomiary odchyłek kształtu i położenia nawet na takich elementach jak
czopy wałów korbowych.
Dobre właściwości dynamiczne przyrządu uzyskano dzięki temu, ze pod-
stawę przyrządu wykonano z zehwa a elementy ruchome z materiałów lekkich:
portal ze stopów metali lekkich a pinolę z włókna węglowego.
312
Współrzędnościowe ramiona pomiarowe (ang. coordinate measuring
arms) to ręczne współrzędnościowe maszyny pomiarowe, które w swej budowie
stosują wyłącznie układy pomiarowe kąta (fot. 12,41). W typowym rozwiązaniu
stosuje się 6 układów pomiarowych kąta. Wskazania układów pomiarowych
przy uwzględnieniu długości poszczególnych ramion przeliczane są na współ-
rzędne w kartezjańskim układzie współrzędnych. Oprogramowanie ramion po-
miarowych z punktu widzenia użytkownika zachowuje się podobnie jak opro-
gramowanie innych maszyn pomiarowych. Typowe zastosowanie ramion
pomiarowych to pomiary elementów spawanych, wytłoczek z blachy (np.
elementów karoserii), odlewów i elementów z tworzyw sztucznych. Ramiona
pomiarowe FARO ARM firmy Faro Technologies Inc. oferowane są z oprogra-
mowaniem CAM2Measure i CAM2Automotive. W obu przypadkach oprogra-
mowanie może korzystać z modelu CAD.
W budowie przyrządu uwzględniono elementy ergonomii. Przyrząd
obsługuje się jedną ręką trzymając w dłoni rękojeść zespołu głowicy pomia-
rowej. Pozostałe ramiona są wyważone i nie trzeba ich podtrzymywać. W przy-
padku głowicy sztywnej palcem wskazującym naciska się jeden z dwóch przy-
cisków będących odpowiednikami przycisków myszy. Przyciski te mają dwa
przeznaczenia. W czasie dialogu z oprogramowaniem komputera ruchy głowicą
sterują ruchami kursora na monitorze komputera i przyciski pełnią funkcję
przycisków myszy. W czasie pomiarów jeden z przycisków służy do wydawania
poleceń zebrania kolejnych punktów próbkowanej powierzchni, a drugi do
zakończenia procedury próbkowania.
Przyrząd umożliwia skanowanie. Ta możliwość jest szczególnie przydatna
w przypadku pomiarów powierzchni swobodnych. Po zdefiniowaniu układu
współrzędnych przedmiotu i płaszczyzn w których mają być zbierane punkty
rola operatora sprowadza się do prowadzenia kulistej końcówki sztywnej
głowicy pomiarowej po powierzchni przedmiotu w taki sposób by tor końcówki
wielokrotnie przecinał wspomniane płaszczyzny. Każdemu przecięcie toru
końcówki z którąś z tych płaszczyzn odpowiada zebranie punktu potwierdzone
sygnałem dźwiękowym i pojawieniem się tego punktu na ekranie monitora.
W przypadku pomiarów z modelem CAD punkty te są widoczne na tle modelu.
Obecnie najbardziej rozpowszechnione modele ramion pomiarowych
FARO ARM to serie platinum i GAGE, Różnią się one zakresami pomiarowymi
i dokładnością. Przykładowo dla najmniejszych maszyn serii platinum o zakresie
pomiarowym 1,2 m producent określa wartość błędów granicznych dopusz-
czalnych jako MPE —■ ±0,018 mm, a dla największych maszyn z tej serii (zakres
3,7 m) — MPE = ±0,082 mm. Natomiast dla ramion GAGE o zakresie
pomiarowym 1-2 m błędy graniczne dopuszczalne wynoszą MPE = ±(5 +
8Z/1000) μηι, L — mierzona długość, mm.
Maszyny pomiarowe Hommel Opticline (fot. 12.42 i 12,43) służą do po-
miaru elementów obrotowych. W konstrukcji tych maszyn oprócz inkremen-
talnego układu pomiarowego liniowego służącego do pozycjonowania i pomia-
rów wzdłuż osi przedmiotu i inkrementalnego układu pomiarowego kąta w pos-
taci stołu obrotowego zastosowano optyczny system pomiarowy z liniowym
wzorcem CCD do pomiarów wymiaru i położenia cienia przedmiotu w do-
313
wolnym położeniu kątowym wałka (rys. 12, 36 i 12 37). Opracowanie tej
informacji pomiarowej umożliwia wyznaczenie wymiarów długościowych,
średnic, zarysów krzywek, promieni przejść między stopniami wałka i niektó-
rych odchyłek geometrycznych.
Rys. 12.37.
Szczegóły budowy systemu
pomiarowego z kamerą CCD;
1 — kamera CCD mierząca szerokość
1położenie cienia przedmiotu,
2— elementy układu optycznego,
3— cień przedmiotu, 4 — przekrój
Rys. 12.36.
Układ pomiarowy maszyn Hommel Opitcline;
1 — i tik re mentalny układ pomiarowy liniowy,
2 — przemieszczający się wzdłuż osi mierzonego
przedmiotu optyczny system pomiarowy 2 linijką CCD?
3 — inkrementalny układ pomiarowy kąta {stół
obrotowy)
mierzonego wałka, 5 — oświetlacz
314
nieruchomego się wałka. Zeskanowany kontur będzie widoczny w całości
w górnej części na ekranie komputera, w dolnej części będzie można oglądać
w powiększeniu jego wybrane fragmenty. Kolejne kroki programowania pomia-
ru to:
— wybór z menu rozwijalnego przewidzianej do pomiaru charakterystyki
(wymiaru lub odchyłki geometrycznej),
— wskazanie obszaru na zarysie przedmiotu którego będzie dotyczył pomiar
i ewentualne uściślenie tej informacji na powiększeniu oraz wypełnienie
odpowiednich pól w oknie dialogowym,
W każdym przypadku do konturu przedmiotu zostaje „przyczepiona" chorą-
giewka z symbolem mierzonej charakterystyki oraz wartością nominalną i/lub
odchyłkami granicznymi bądź tolerancją. Dla każdego kroku na bieżąco jest
wykonywany pomiar. W zależności od potrzeby wałek w czasie pomiaru
wykonuje obrót lub nie wykonuje obrotu. Programowanie pomiaru obejmuje
również projektowanie protokołu pomiarowego. Po zakończeniu programowania
wykonywany jest pomiar przedmiotu, przy czym kolejność pomiaru
poszczególnych charakterystyk podlega wcześniejszej optymalizacji.
Podstawową postać prezentacji wyników pomiaru stanowi okno z zeska-
nowanym konturem i chorągiewkami mierzonych charakterystyk z tym. że
wartości nominalne zostają zastąpione wartościami zaobserwowanymi, a chorą-
giewka otrzymuje odpowiedni kolor (czerwony, zielony lub żółty). Kolor żółty
jest ostrzeżeniem, że wartość zaobserwowana jest bliska granicy pola tolerancji.
W czasie pomiarów seryjnych operator nie musi śledzić wyników na monitorze
— w przypadku wystąpienia braku na pulpicie sterującym przyrządu zapali się
lampka informacyjna. Wyniki niektórych pomiarów (np. odchyłek kształtu,
odchyłek bicia, zarysów krzywek) mogą mieć postać graficzną. Wyniki pomia
rów mogą być opracowane statystycznie (proste opracowania) lub przesłane do
programu statystycznego qs-stat
Przyrząd przeznaczony jest do pomiaru wałków. Możliwe są pomiary
średnic i promieni (w tym elementów nieciągłych jak łopatki, uzębienia czy
przeciwciężary wałów korbowych) oraz długości poszczególnych stopni wałków
stopniowych, mimośrodowości (np. czopów wałów korbowych), zarysy
krzywek wałków rozrządu, wymiary elementów stożkowych i gwintów, pro-
mienie przejścia miedzy poszczególnymi stopniami, odchyłki kształtu (jak
odchyłka okrągłości, walcowości i prostoliniowości), odchyłki bicia i bicia cał-
kowitego. Do ustalenia i zamocowania przedmiotu w typowym przypadku
stosuje się kły.
Ważniejsze właściwości metrologiczne przyrządu:
— zakres pomiarowy (w zależności od wielkości przyrządu):
średnica 0,2 do 140 mm,
długość 200 do 850 mm,
— rozdzielczość układów pomiarowych:
średnica (ośy) 0,2 μηι
długość (oś x) 0,5 μηι, kąt
(oś c) 0.018° (0,0018°)
315
— rozszerzona niepewność pomiaru U(k — 2):
dla pomiarów średnicy ±1 μηι, dla
pomiarów długości ±4 μηι,
— prędkości przemieszczeń:
pomiar wzdłuż osi χ 40 mm/s
pozycjonowanie wzdłuż osi χ 200 mm/s,
obrót (pomiar i pozycjonowanie) 1 obrót/s.
Optyczne systemy pomiarowe firmy Leica stosowane są w pomiarach
dużych elementów jak kadłuby samolotów czy statków oraz konstrukcji. Należy
tutaj wymienić teodolity z pomiarem odległości (ang total station — fot. 12.44)
i przyrządy o nazwie laser tracker (fot. 12.45). Oprogramowanie tych przy-
rządów (o nazwie Axyz) z punktu widzenia użytkownika działa identycznie jak
oprogramowanie współrzędnościowych maszyn pomiarowych, tzn. pozwala na
konstruowanie elementów geometrycznych, definiowanie układów współ-
rzędnych itp.
Literatura
Adamus J (1987) Metody identyfikacji zarysów krzywoliniowych na
płaszczyźnie i w przestrzeni Zeszyty Naukowe PŁ Filu w Bielsku-Białe], Nr 24,
Politechnika Łódzka Filia w Bielsku-Białei, Bielsko-Biała
Bender Μ (1996) Zautomatyzowana współrzędnościowa technika pomiarowa II Kra|owa
Konferenqa Naukowa z udziałem międzynarodowym Zeszyty Naukowe Filii Politechniki
Łódzkie] w Bielsku-Białe), Konferencje nr 33
Bosch JA (1995) Coordinate Measuring Machines and Systems Marcel Dekker Inc , New
York, Basel, Hong Kong
Brezina I (1987) Suradnicove meracie stro]e a ich skusanie Vydavatelstvi Uradu pro
Normahzaci a Merem, Prana
Chajda J, Grzelka Μ (1998) Możliwości kompleksowei oceny dokładności koł zębatych
na współrzędnościowych maszynach pomiarowych III Międzynarodowa Konferencja Naukowa
Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkiej w Bielsku-Białej, Konferenqe nr 44
Dobosz M, Ratajczyk Ε (1993) Właściwości metrologiczne sondy pomiarowei
z przetwornikiem interferencyjnym Prace Naukowe Instytutu Technologu Maszyn i Automa-
tyzac|i Politechniki Wrocławskie) nr 52, IV Konferencja Metrologia w technikach wytwarzania
maszyn, Wydawnictwo Politechniki Wrocławskiej, Wrocław
Dobosz Μ, Ratajczyk Ε (1996) Interferometr laserowy w badaniach dokładności współ-
rzędnościowych maszyn pomiarowych II Krajowa Konferenqa Naukowa z udziałem między-
narodowym Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkie] w Bielsku-Białe], Konferenqe nr 33
Dutschke W (1993) Fertigungsim^techmk BG Teubner Stuttgart
Filipowsh R (1993) Wspomaganie komputerowe przy pomiarze krzywych wypukłych na
wspołrzędnosciowei maszynie pomiarowe] Mechanik 8-9/1993
Gold J (1993) Programming of coordinate measuring machines in conjunction with CAD
systems Carl Zeiss Oberkochen
Hartig F, Trapet E, Waldele F, Wiegand U (1995) Traceabihty of Coordinate
Measurements According to the Virtual CMM Concept 5th IMEKO TC-14 Symposium on
Dimensional Metrology in Production and Quality Control Zaragoza
Hemdt A (1995) Matematisch Grundlage der KoordinatemeBtechnik VDI - Bildungswerk,
Aachen
316
Humienny Z (2002) Normalizacja we współrzędnościowej technice pomiarowe] Wydaw-
nictwo Akademii Techniczno-Humanistycznei, Zeszyty naukowe nr 3 Budowa i Eksploatacja
Maszyn, Konferencje, Bielsko-Biała
Hubner G, Schwertz M, Uttendorfer U (1992) Revolutioniert die Software das
Programmieren der Koordinaten-MeBtechnik Werkstatt und Betneb 11/1992
Jacksch Μ Rwklefs U (1989) Optische Qualitatsprufung mit Bildverarbeitung
Feinwerktechmk & MeBtechmk Nr 12/1989
Jakubiec W (1994) Rozwo) konstrukc]i maszyn pomiarowych Zeszyty Naukowe PŁ Filii
w Bielsku-Białei, Nr 24, Politechnika Łódzka Filia w Bielsku-Białej, Bielsko-Biała
Jakubiec W, Starczak Μ (1995) Multimedial Set for Training of Coordinate Measurement
5th IMEKO TC-14 Symposium on Dimensional Metrology in Production and Quality Control
Zaragoza
Jakubiec W Starczak Μ (1996) Specyfika współrzędnościowe) techniki pomiarowe] i |e|
mie|sce w systemach |akosci II Kra|owa Konferencja Naukowa z udziałem międzynarodowym
Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkie) w Bielsku-Białej, Konferenqe nr 33
Jakubiec W, Starczak Μ, Płowucha W (2003) Modele błędów maszyny pomiarowei do
oceny niepewności pomiaru X Kra|owa, I Międzynarodowa Konferenqa Metrologia w technikach
wytwarzania, Krakow
Jednorog A Dziuba R (1996) Sprzęgnięcie współrzędnościowe] techniki pomiarowe]
z systemami CAD/CAM (Reverse Engineering) II Krajowa Konferenqa Naukowa z udziałem
międzynarodowym Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkie] w Bielsku-Białei, Konferenqe
nr 33
Juras B, Rewilak J, Stadek J (1995) Programowanie zorientowane na cechy na
przykładzie systemu Quindos Metrologia w technikach wytwarzania maszyn Zbiór prac VI
Konferencji Naukowo-Techniczne], Politechnika Rzeszowska, Rzeszów
Kapinska-Kiszko A (1996) Procedury pomiarów współrzędnościowych na maszynie
CMM5 II Kra]owa Konferencja Naukowa z udziałem międzynarodowym Zeszyty Naukowe Filii
Politechniki Łódzkie] w Bielsku-Białei, Konferencje nr 33
Kapinska-Kiszko A (1997) Dokładność współrzędnościowe! maszyny pomiarowej SIP
CMM5 na przykładzie pomiarów elementów wzorcowych VII Konferencja Naukowo-
Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika
Świętokrzyska
Kowalski Μ (1997) Interpretacja wyników badań dokładności WMP realizowanych płytami
kontrolnymi VII Konferenqa Naukowo-Techmczna Metrologia w Technikach Wytwarzania
Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska
Kowalski Μ (2003) Badanie wstępne metody oceny dokładności WMP poprzez parametr
długości Wydawnictwo Politechniki Częstochowskiej IX Krajowa Konferencja Metrologia
w technikach wytwarzania Częstochowa
Kowalski Μ (2003) Błędy odkształceń struktury wielkogabarytowych współrzędno-
ściowych maszyn pomiarowych X Kra|owa, I Międzynarodowa Konferencja Metrologia
w technikach wytwarzania, Krakow
Kowalski M, Rymewwz A, Juras Β (2001) Kształtowanie raqonalne) dokładności
pomiarów z użyciem maszyny wirtualne] Wydawnictwo Politechniki Częstochowskiej IX
Krajowa Konferencja Metrologia w technikach wytwarzania, Częstochowa
Kowalski Μ Stadek J Rakoczy R (1998) Opis wirtualne] współrzędnościowe) maszyny
pomiarowej III Międzynarodowa Konferencja Naukowa Zeszyty Naukowe Filii Politechniki
Łodzkiei w Bielsku-Białei, Konferencje nr 44
Kunzmann Η, Trapet Ε, Waldele F (1993) Concept for the Traceability of Measurements
with Coordinate Measuring Machines Proceeding ot the 7th International Precision Engineering
Seminar, Kobe (Japan) Springer Verlag
Lotze W Ceorgi Β (1998) Form testing by means of the universal CMM ScanMax III
Międzynarodowa Konferencja Naukowa Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łodzkiei w Bielsku-
Białej, Konferenqe nr 44
Nawara L , Galos Τ (1995) Sensory stosowane w robotach przemysłowych i pomiarach
Pomiary Automatyka Kontrola 1/1995
Neumann Η J (1990) Koordinatenmefitechnik Verlag Modernę Industrie AG Landsberg
317
Nieciąg Η Traczynski Μ Chuchro Z (2001) Pomiary łopatek silników lotniczych na
maszynach pomiarowych wytwarzanych przez ISO Mechanik nr 3/2001
Nocun Μ (1994) Nowe rozwiązania w konstrukcji i oprogramowaniu współrzędnoś-
ciowych maszyn pomiarowych firm grupy Zeiss IMT GmbH w aspekcie ich pełnieiszei integrac|i
z procesem technologicznym Zeszyty Naukowe PŁ Filii w Bielsku-Białe], Nr 24, Politechnika
Łódzka Filia w Bielsku-Bialej, Bielsko-Biała
Nocun Μ (1996) Nowe sensory pomiarowe rozszerzała możliwości zastosowań
współrzędnościowych maszyn pomiarowych II Kraiowa Konferencja Naukowa z udziałem
międzynarodowym Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łodzkiei w Bielsku-Białe], Konferenqe
nr 33
Nocun Μ Schwemmle D (1996) Nowoczesne metody pomiaru uzębień II Kraiowa
Konferencja Naukowa z udziałem międzynarodowym Zeszyty Naukowe Filii Politechniki
Łódzkiej w Bielsku-Białej, Konferencje nr 33
Nocun Μ (1997) Możliwości zastosowania maszyn pomiarowych 3D do sprawdzania
odchyłek kształtu VII Konferenqa Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania
Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska
Osanna Ρ Η Starcevic G Durakbasa Μ Ν (1998) The problematics of the removal of
outliers in coordinate measurement data III Międzynarodowa Konferencja Naukowa Zeszyty
Naukowe Filii Politechniki Łodzkiei w Bielsku-Białei, Konferencje nr 44
PfeiferT (1992) Koordmaten-MePtechmk fur die Quahtatssicherung VDI-Verlag
Piowucha W Jakubiec W (2003) Błędy w pomiarach współrzędnościowych zarysów
i powierzchni swobodnych X Kraiowa, I Międzynarodowa Konferenqa Metrologia w technikach
wytwarzania, Krakow
Profos Ρ, Pfeifer Τ (1992) Handbuch der lndustnellen MeBtechnik R Oldenbourg Verlag
Munchen Wien
Ratajczyk Ε (1994a) Optoelektroniczne sondy bezstykowe stosowane we
współrzędnościowej technice pomiarowej Mechanik 10/1994
Ratajczyk Ε (1994b) Współrzędnościowa technika pomiarowa Maszyny i roboty
pomiarowe Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej Warszawa
Ratajczyk Ε (1995a) Konfiguracje sond pomiarowych w układzie współrzędnościowej
maszyny pomiarowej Mechanik 1/1995
Ratajczyk Ε (1995b) Roboty i centra pomiarowe w kontroli wymiarowei procesów
produkcyinych Metrologia w technikach wytwarzania maszyn Zbiór prac VI Konferencji
Naukowo-Technicznei, Politechnika Rzeszowska, Rzeszów
Ratajczyk Ε (1995c) Metody kompleksowe umozliwiaiące wykrywanie zrodeł błędów
współrzędnościowych maszyn pomiarowych VIII Krajowa Konferencja Metrologu, Politechnika
Warszawska, Prace Naukowe — Konferenqe z 4, Warszawa
Ratajczyk Ε (1997) Bilans błędów procesu kalibracji wzorców płytowych kulowych
i pierścieniowych VII Konferenqa Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania
Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska
Ratajczyk Ε (1998a) Wybrane zagadnienia dokładności wyznaczania błędów
geometrycznych współrzędnościowych maszyn pomiarowych III Międzynarodowa Konferencja
Naukowa Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkiej w Bielsku-Białej, Konferencje nr 44
Ratajczyk Ε (1998b) Próby oceny dokładności wybranych metod kalibraqi
współrzędnościowych maszyn pomiarowych Krajowy Kongres Metrologu — Nowe Wyzwania i
Wiz|e Metrologu, tom 4 Gdansk'98
Ratajczyk Ε (2001) Porównanie dokładności kalibraqi współrzędnościowych maszyn
pomiarowych przy użyciu wybranych wzorców końcowych Wydawnictwo Politechniki
Częstochowskiej IX Krajowa Konferenqa Metrologia w technikach wytwarzania, Częstochowa
Ricklefs U (1989) Optical Non-Contact Measuring of Industrial Components with the UMS
432 Scientific and Technical Information Vol IX, №6/1989
Rymewicz A Kowalski Μ (1997) Badanie błędów rotacyjnych stołu współrzędnościowe!
maszyny pomiarowej II Ogólnokrajowa Konferencja Naukowo-Techniczna Jakosc w budowie
obrabiarek i technologu maszyn Instytut Technologu Maszyn i Automatyzacji Produkcji
Politechniki Krakowskiej, Krakow
318
Schmidt U (1994) Budowa, oprogramowanie i obsługa tro|współrzędnościowych maszyn
pomiarowych firmy Mitutoyo Zeszyty Naukowe PŁ Filii w Bielsku-Białei, Nr 24, Politechnika
Łódzka Filia w Bielsku-Białei, Bielsko-Biala
Stadek J (1996) Metody oceny a możliwość prognozowania dokładności pomiarów
realizowanych na WMP Zeszyty Naukowe PŁ Filii w Bielsku-Białej, Nr 33, Politechnika Łódzka
Filia w Bielsku-Białe], Bielsko-Biała
Stadek J (2001) Modelowanie i ocena dokładności maszyn oraz pomiarów współ-
rzędnościowych Zeszyty Naukowe Mechanika, nr 87 Politechnika Krakowska
Stadek J (2002) Budowa neuronowego modelu WMP — model błędów głowicy stykowej
Wydawnictwo Akademii Techniczno-Humanistycznei, Zeszyty naukowe nr 3 Budowa
i Eksploataqa Maszyn, Konferencje, Bielsko-Biała
Stadek J, Juras Β, Rewilak J (1995) Wykorzystanie techniki współrzędnościowe! do
dygitahzaqi powierzchni i realizacja połączeń CAD-WMP-CAD Metrologia w technikach
wytwarzania maszyn Zbiór prac VI Konferenqi Naukowo-Techniczne), Politechnika
Rzeszowska, Rzeszów
Stadek J Klecha R (1997) Interaktywne programowanie współrzędnościowych maszyn
pomiarowych w oparciu o zbiory CAD VII Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia
w Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska
Stadek J Rakoczy R Szwajkowski A (1997) Modelowanie współrzędnościowych maszyn
pomiarowych oraz ocena dokładności pomiarów w oparciu o wykorzystanie sieci neuronowych
VII Konferenqa Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania Maszyn
Kielce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska
Starczak Μ, Migacz M, Wista Ν (2002) Dokumentowanie strategu pomiarowych WMP
Wydawnictwo Akademii Techniczno-Humanistycznei Zeszyty naukowe nr 3 Budowa
i Eksploataqa Maszyn, Konferencje, Bielsko-Biała
Stockl V (1998) Inspection of complex geometries on coordinate measuring machines —
the other way1 III Międzynarodowa Konferenqa Naukowa Zeszyty Naukowe Filii Politechniki
Łódzkiej w Bielsku-Białei, Konferencje nr 44
Takamasu K, Fukuda I, Furutam R, Ozono S (1995) Evaluation of Form Deviations in
Coordinate Metrology 5th IMEKO TC-14 Symposium on Dimensional Metrology in Production
and Quality Control Zaragoza
Trapet Ε Waldele F (1990) A uniform concept for calibration, acceptance test and
periodic inspection of co-ordinate measuring machine using reference ob)ects Ann CIRP, 39
Uniwersalne oprogramowanie Umess 300 Instrukqa obsługi C Zeiss Oberkochen, 1989
Warnecke HJ, Dutschke W (red) (1984) FertigungsmeBtechnik Handbuch fur Industrie
und Wissenschaft Springer Verlag, Berlin
Weckenmann A Knauer Μ (1998) Comparability of coordinate measurements III
Międzynarodowa Konferencja Naukowa Zeszyty Naukowe Filii Politechniki Łódzkiej w Bielsku-
Białei, Konferenqe nr 44
Weckenmann A Gewande Β (1999) Koordinatenmesstechnik Carl Hanser, Muenchen
WhitehouseDJ (1994) Handbook of Surface Metrology Institute of Phisics Publishing,
Bristol and Philadelphia
Wozniak A Dobosz Μ (2003) Methods of testing of static inaccuracy of the CMM
scanning probe Metrology and Measurement Systems Volume X — nr 2/2003
Zeleny V Keller V (1997) Experiences with CMMs (Coordinate Measuring Machines)
Calibration in the Czech Republic VII Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w
Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielce'97 tom II, Politechnika Świętokrzyska
PN-EN ISO 10360-1 2002 (U) Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS) — Badania
odbiorcze i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Częsc 1
Terminologia
PN-EN ISO 10360-2 2002 (U) Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Badania
odbiorcze i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Częsc 2 CMM
stosowane do pomiarów długości
PN-EN ISO 10360-3 2002 Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS) — Badania odbiorcze
i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 3 CMM z osią stołu
obrotowego jako czwartą osią
319
PN-EN ISO 10360-4:2002 Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS) — Badania odbiorcze
i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 4: CMM stosowane
w trybie pomiaru skaningowego.
PN-EN ISO 10360-5:2002 (U) Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS) — Badania
odbiorcze i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 5: CMM
z głowicami wielokońcówkowymi.
PN-EN ISO 10360-6:2002 (U) Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Badania
odbiorcze i okresowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) — Część 6:
Szacowanie błędów przy wyznaczaniu elementów skojarzonych metodą najmniejszych kwadratów
(Gaussa).
PN-93/M-42033 Układy sterowania numerycznego maszyn technologicznych. Podstawowy
wzorcowy język programu wejścia procesora.
Pomiary odchyłek geometrycznych
13
13.1. Tolerancje geometryczne
!
Aktualnie obowiązuje norma ISO 1101:1985. Należy się spodziewać, że znowelizowana norma
ISO 1101 zostanie opublikowana w 2004 roku, po czym nastąpi wdrożenie jej polskiej wersji
językowej jako PN-ISO HOL Obecnie stosowana w kraju PN-78/M-02I37 jest tylko częściowo
zgodna z ISO HOL
Prosta (płaszczyzna) przylegająca to prosta (płaszczyzna) stykająca się
z zarysem rzeczywistym (powierzchnią rzeczywistą) na zewnątrz materiału
w ten sposób, ze odległość między nią a najbardziej oddalonym punktem zarysu
(powierzchni) ma wartość najmniejszą (rys. 13.1).
Rys. 13.1.
Prosta przylegająca a) w przypadku zarysu
wklęsłego, b) w przypadku zarysu wypukłego;
/ — prosta przylegająca. 2 — zarys
rzeczywisty
Rys. 13.2.
Okrąg przylegający, a) dla wałka,
b) dla otworu, / — okrąg
przyiegaiący, 2 — zarys
rzeczywisty
Rys. 13.3.
Elementy średnie- a) prosta średnia, b)
okrąg średni, 1 — element średni, 2
— zarys rzeczywisty, Σ yf —> min
322
wo wygodniej jest posługiwać się łatwiejszym do wyznaczenia metodami
numerycznymi elementem średnim
W normie ISO 1101 1985 tolerancja geometryczna jest zdefiniowana jako
obszar (pole tolerancji), w którym powinna zawierać się powierzchnia lub linia
elementu rzeczywistego Obszar ten najczęściej ma postać walca lub okręgu.*
przestrzeni między dwiema równoległymi płaszczyznami lub liniami prostymi,
przestrzeni między dwoma współosiowymi walcami lub okręgami itp Wartość
tolerancji kształtu określa odpowiednio średnicę walca lub okręgu, odległość
między płaszczyznami lub prostymi albo różnicę promieni walców lub okręgów
ograniczających obszar tolerancji. Dla tolerancji kształtu nie wprowadza się
żadnych ograniczeń co do usytuowania pola tolerancji w przestrzeni Dla
tolerancji kierunku, położenia i bicia usytuowanie pola tolerancji w przestrzeni
określa się względem bazy lub zespołu baz
323
Termin odchyłka (geometryczna) nie został zdefiniowany w ISO 1 1 0 1 .
Domyślna, a zarazem dokładna definicja odchyłki, to wartość definiująca
najmniejszy obszar o takiej samej postaci jak pole tolerancji, który zawiera
element tolerowany.
W definicjach tolerancji geometrycznych często spotyka się pojęcie
obszaru cząstkowego — obszaru, do którego odnosi się tolerancja (i odchyłka)
geometryczna. Niektóre tolerancje są bowiem definiowane na obszarze
mniejszym niż cała długość czy powierzchnia wyrobu.
Pełny wykaz nazw i oznaczeń tolerancji geometrycznych podano w tabl.
13.1. Należy zwrócić uwagę, że tolerancja kształtu wyznaczonego zarysu
i tolerancja kształtu wyznaczonej powierzchni występuje w trzech grupach
tolerancji i w każdej z tych grup jest inaczej zdefiniowana.
324
Rys. 13.5. Tolerancja płaskości: / powierzchnia rzeczywista, 2 — płaszczyzny ograniczające
pole tolerancji
Rys. 13.6.
Tolerancja okrągłości;
1 — zarys rzeczywisty,
2 — okręgi ograniczające pole
tolerancji
Rys. 13.7. Tolerancja kształtu wyznaczonego zarysu jako tolerancja kształtu (baza pozostawia trzy
stopnie swobody); i —zarys rzeczywisty, 2 — linie ograniczające pole tolerancji, 3 — zarys
teoretyczny
325
Pole tolerancji kształtu wyznaczone] powierzchni wyznaczają obwiednie
kul o średnicy równej wartości tolerancji, których środki znajdują się na
powierzchni teoretycznej Położenie i kierunek pola tolerancji nie są określone
(w ramce tolerancji nie wskazuje się baz) Oznacza to, ze w celu sprawdzenia
wymagania pole tolerancji może być względem zaobserwowanej powierzchni
przemieszczane i obracane
Szczególnymi, wyidealizowanymi przypadkami odchyłek prostoliniowości
i płaskości są wypukłość i wklęsłość, odchyłek okrągłości — owalność i trój-
gramastość, odchyłki walcowości — stozkowość, baryłkowość i siodłowość
W praktyce przemysłowej odchyłki kształtu wyznacza się często w odnie-
sieniu do elementu przylegającego lub średniego Uzyskuje się wtedy zawyżone
(zwykle nieznacznie) wartości odchyłek.
13.1.3. Bazy
326
Rys. 13.8. Tolerancja równoległości- a) płaszczyzn, b) prostej względem płaszczyzny, c) prostych
w przestrzeni, / — linia lub powierzchnia rzeczywista, 2— elementy ograniczające pole
tolerancji
Rys. 13.10. Toleranqa kształtu wyznaczonego zarysu jako tolerancja kierunku (układ baz
pozostawia dwa stopnie swobody). / — zarys rzeczywisty, 2 — elementy ograniczające pole
tolerancji, 3 — zarys teoretyczny
328
Rys. 13.11. Tolerancja wspołosiowoici osi a) względem osi, b) względem osi wspólnej i — linia
(os) rzeczywista, 2 — walec ograniczający pole tolerancji
329
Rys. 13+13. Tolerancja Łymetrit względem płaszczyzny symeti u; / — powierzchnia rzeczywista,
2 — ptas2czyzny ograniczające pole tolerancji
Rys. 13.14. Tolerancja pozycji; / — linia (oś) rzeczywista, 2 — walec ograniczający pole
toleranc|i
330
Rys, 13.15. Tolerancja kształtu wyznaczonego zarysu lako tolerancja położenia (układ baz odbiera
wszystkie stopnie swobody), / — zarys rzeczywisty, 2 — elementy ograniczające pole tolerancji, 3
— zarys teoretyczny
Rys. 13.16.
Tolerancja bicia
promieniowego, / — zarys
rzeczywisty. 2 —- okręgi
ograniczające pole tolerancji
Rys. 13.18. Toleranqa bicia osiowego, J — zarys rzeczywisty, 2 — fragment powierzchni walca
ograniczający pole toleranqi
Rys. 13.21.
Tolerancja zależna— przykład
Η 0,2 03 04 05
Κ 04 0,6 0,8 1
L 06 1 1,5 2
Η 0,5
Κ 0,6 0,8 1
L 0,6 1,5 2
Rys. 13.23.
Liniały krawędziowe:
a) jednokrawędziowy,
b) trój krawędzi owy, c) kształt części
pomiarowej liniału
13.3.2. Klasyfikacja sposobów pomiarów odchyłki prostoliniowości
Rys. 13.25.
Typowe przypadki odchyłki kształtu
1 odpowiadający im obraz prążków
interferencyjnych: a) powierzchnia o dużej
wypukłości, niemożliwy do uzyskania
zamknięty układ prążków,
a — 4/3ό, PLN = 0,4 μηι, b) powierzchnia o
malej wklęsłości, a = 2/36, PLN = 0,2 μηι, c)
powierzchnia kulista, płytka interferencyjna
ustawiona w płaszczyźnie przylegającej,
widoczne
2 prążki — odchyłka płaskości
PLN = 0,6 μπι, d) ta sama powierzchnia kulista,
zaobserwowany obraz prążków nie daje
możliwości oceny odchyłki płaskości
Jeśli nie jest możliwe uzyskanie zamkniętego prążka, płytkę ustawia się tak,
by zaobserwować wyraźny kształt prążków. O wartości odchyłki płaskości
wnioskuje się wtedy na podstawie ugięcia prążka, a odchyłkę oblicza się ze
wzoru
(13.2)
Rys. 13.27.
Powstawanie wykresu odchyłki okrągłości;
/ —- powiększony zarys elementu,
2 — okrąg, w stosunku do którego określa się
odchyłki, 3 — okrąg, w stosunku do którego
wykreśla się wykres odchyłki,
4 — wykres odchyłki okrągłości
Rys. 13.28. Wpływ powiększenia na wykres odchyłki okrągłości; na obu rysunkach ten sam
owalny zarys; 1 — zarys rzeczywisty w powiększeniu, 2 — wykres odchyłki okrągłości
Rys. 13.29.
Wpływ położenia osi pomiarowej na wykres
odchyłki okrągłości; mierzony zarys jest
okręgiem, wykres odchyłki zarysu nie jest
okręgiem, 1 — zarys rzeczywisty
w powiększeniu, 2 — wykres odchyłki
okrągłości
Tablica 13.6. Górna granica przepuszczania filtra (wyrażona liczbą okresów na 1 obrót) przy
pomiarze odchyłki okrągłości
Średnica nominalna Tolerancja okrągłości, μπι
mierzonej powierzchni d,
mm <2,5 (2,5, 5> (5, 10> >10
< 10 150 50 50 50
(10-50) 500 150 150 50
(50, 120) 1500 500 500 150
{120, 250> 1500 1500 500 500
{250, 400> 1500 1500 1500 1500
Pomiar przy użyciu czujnika nadaje się do stosowania w przypadkach, gdy wia-
domo, ze odchyłka kształtu to rc-łukowość o parzystej liczbie łuków,
a szczególnie do pomiaru owalności. Możliwe są dwa warianty.
Schemat pomiaru ciągłego przedstawiono na rys. 13.31. Przedmiot wyko-
nuje ruchem ciągłym obrót o co najmniej 180°. Wartość odchyłki oblicza się we-
dług wzoru
(13.3)
Rys. 13,31,
Pomiar odchyłki okrągłości czu|nikiem
(na stoliku pomiarowym)
(13.5)
Rys. 13.32. Pomiar odchyłki okrągłości z wykorzystaniem pryzmy a) pomiar wałka w układzie
symetrycznym, b) pomiar wałka w układzie niesymetrycznym c) pomiar wałka — pryzma
odwrócona d) pomiar otworu w układzie niesymetrycznym , e) pomiar otworu w układzie
symetrycznym
Rys. 13.33. Pomiar odchyłki okrągłości w pryzmie przy użyciu dwóch czujników a) pryzma o
k^ue 60°, b) pryzma o kącie 120°
(13.6)
Rys. 13.34.
Przyrząd do pomiaru odchyłki walcowości
Rys. 13.35.
Pomiar odchyłki równoległości osi
względem osi w technice
współrzędnościowe] a) schemat
rozmieszczenia punktów pomiarowych
(strategia próbkowania) b)
wyznaczanie odchyłki równoległości
jako średnicy najmniejszego okręgu
obejmującego rzuty punktów osi na
płaszczyznę prostopadU do osi
bazowej (opis w tekście)
Rys. 13.37. Pomiar współrzędnościowy odchyłki prostopadłości osi względem innej osi: a)
schemat rozmieszczenia punktów pomiarowych (strategia próbkowania), b) wyznaczanie odchyłki
prostopadłości jako rozstępu odległości środków okręgów od płaszczyzny prostopadłej do osi
bazowej (opis w tekście)
Typowy pomiar współrzędnościowy przebiega jednak następująco Oba otwory
mierzone sąjako walce średnie na podstawie próbkowania w dwóch przekrojach
w pobliżu powierzchni bocznych przedmiotu. Komputer wyznacza odchyłkę
prostopadłości na podstawie kąta miedzy osiami i przyjmuje jako odległość
oceny odległość między skrajnymi przekrojami* w których wykonano prób-
kowanie elementu tolerowanego.
Prawidłowy pomiar prostopadłości osi do płaszczyzny w technice współ-
rzędnościowej polega na wyznaczeniu płaszczyzny bazowej jako płaszczyzny
przylegającej (na podstawie znacznej liczby równomiernie rozmieszczonych
punktów). Punkty osi tolerowanego wałka wyznacza się osi jako środki okręgów
średnich (w tym celu przeprowadza się próbkowanie w wielu przekrojach osio-
wych). Po zrzutowaniu środków okręgów na płaszczyznę bazową odchyłkę
prostopadłości określa się jako najmniejszą średnicę okręgu obejmującego te
punkty (rys. 13.38).
Rys. 13.38.
Pomiar odchyłki prostopadlosci prostej (osi)
względem płaszczyzny w technice
współrzędnościowej a) schemat
rozmieszczenia punktów pomiarowych
(strategia próbkowania), b) wyznaczanie
odchyłki prostopadlosLi jako najmniejsze;
średnicy okręgu zawierającego rzuty punktów
osi na płaszczyznę bazową
Rys 13.39.
Pomiar odchyłki prostopadtosu
płaszczyzn a) strategia próbkowania.
b) wyznaczanie odchyłki
Oprogramowanie maszyn nie posiada takiej funkcji. Wobec tego, z punk-
tów uzyskanych w czasie próbkowania płaszczyzny, której położenie jest
tolerowane buduje się płaszczyznę. Płaszczyznę tę używa się do zdefiniowania
drugiej osi układu współrzędnych (oś główną układu definiuje się na podstawie
wcześniej zmierzonej płaszczyzny bazowej). W tak zdefiniowanym układzie
współrzędnych za odchyłkę równoległości przyjmuje się największą różnicę
odległości zebranych punktów od odpowiedniej płaszczyzny układu współ-
rzędnych (rozstęp odpowiednich współrzędnych zebranych punktów).
Typowy pomiar współrzędnościowy jest następujący. Obie płaszczyzny są
mierzone jako płaszczyzny średnie. Komputer wyznacza odchyłkę prosto-
padłości na podstawie kąta miedzy płaszczyznami przyjmując za długość przed-
miotu odległość między skrajnymi punktami, w których wykonano prób-
kowanie.
Więcej przykładów dotyczących prawidłowego pomiaru odchyłek geome-
trycznych we współrzędnościowej technice pomiarowej można znaleźć
w[Humienny2004].
Rys. 13.40,
Przykładowe rozwiązania konstrukcyjne
sprawdzianów położenia oraz
sprawdzianu prostoliniowości osi:
a) sprawdzian wspótosiowości
względem osi elementu bazowego.
b) sprawdzian wspólosiowości bez
elementu bazowego, c) sprawdzian
prostopadłości osi względem
płaszczyzny, d) sprawdzian
prostoliniowości osi, e) sprawdzian
pozycji osi otworów
Literatura
14
14,1. Wiadomości wstępne
Rys. 14.1. Umowny podziat profilu powierzchni (/) na profil kształtu (2), falistości (3) i
chropowatości (4)
14.2. Pojęcia podstawowe
04,])
— Pqt Rq, Wq — średnia kwadratowa rzędnych profilu (ang. root mean square
deviation from the assessed profile) — średnia kwadratowa wartości rzęd-
nych Z(x) wewnątrz odcinka elementarnego
(143)
(144)
— Pku, Rku, Wku —
współczynnik spłaszczenia
profilu (ang kurtosis of the assessed profile) —iloraz średniej wartości
czwartej potęgi rzędnych Z(x) i trzeciej potęgi odpowiedniego parametru
Pq, Rq lub Wą wewnątrz odcinka elementarnego
(14 5)
Jeśli wysokości
rzędnych profilu
potraktować jako realizacje
zmiennej losowej to parametry Ra, Rq, Rsk i Rku są znanymi ze statystyki
matematycznej momentami empirycznymi tej zmiennej losowej
14.3.2. Parametry poziome
(14 6)
(14.7)
Tablica 14.2. Zależności między filtrem chropowatości Xc i As, promieniem wierzchołka rtt[,
oraz odległością próbkowania wg PN-ISO 3274:1997
W przypadku powierzchni o Ra > 0,5 μη\ lub Rz > 3 μιη, zastosowanie r!fp = 5 μηι nie spowoduje
istotnych różnic w wynikach pomiarów
W przypadku filtrów (cut-off) Xs równych 2,5 μπι ι 8 μηι jest prawie pewne, że charakterystyczne
tłumienie wynikające z filtrowania mechanicznego ostrzem odwzorowującym o zalecanym promieniu
wierzchołka, znajdzie się poza określonym zakresem przenoszenia Jest to jednak taki przypadek, że
mala zmiana promienia ostrza odwzorowującego lub jego kształtu będzie miała mały wpływ na wartości
parametrów obliczonych na podstawie profitu zmierzonego Jeśli jest konieczne zastosowanie innego
stosunku granicznei długości fali filtru (cut-off)-, to stosunek ten należy dokładnie określić
(14.11)
(14.13)
(14. 14 )
gdzie m jest liczbą motywów falistości Hwr Liczba głębokości jest dwa razy
większa niż liczba odcinków A W, (m - 2ń).
369
—- Wte — całkowita głębokość falistości (ang total depth of wavmess) —
odległość między najwyższym i najniższym punktem górnej linii
obwiedmowej profilu pierwotnego, mierzona prostopadle do kierunku pro-
filu pierwotnego
370
Grupa parametrów wyznaczanych na podstawie linearyzacji krzywej
udziału materiałowego to (rys. 14.11):
O
\Mr15OMr2m
Rys. 14.11. Rysunek do definicji parametrów Rk, Rpk, Rvk, Λ-iVl, Mrl,A\, A2
głę-
— Rk — głębokość rdzenia chropowatości (ang. core roughness depth)
bokość profilu rdzenia chropowatości,
— Rpk — zredukowana wysokość wzniesień (ang. reduced peak height) —
średnia wysokość wzniesień wystających ponad profil rdzenia chropo
watości,
-— Rvk — zredukowana głębokość wgłębień (ang. reduced valley depth) —
średnia głębokość wgłębień występujących poniżej profilu rdzenia chropo-
watości,
— Mr] — udział materiałowy (w procentach) (ang materiał component rela
tive to peaks) — wyznaczony przez linię przecięcia oddzielającą wystające
wzniesienia od profilu rdzenia chropowatości.
— Mr2 — udział materiałowy (w procentach) (ang material component
relative to valleys) — wyznaczony przez linię przecięcia oddzielającą głę
bokie wgłębienia od profilu rdzenia chropowatości,
— A\ —powierzchnia wzniesień (ang. reduced peak area) wyraża się wzorem
(14.15)
( 1 4 16)
371
udziału materiałowego, obejmującego 40% wszystkich zmierzonych punktów
profilu. Obszar ten jest położony w miejscu, w którym sieczna obejmująca 40 %
udziału materiałowego wykazuje najmniejsze nachylenie (jeśli występuje kilka
obszarów o jednakowym nachyleniu, to wybiera się pierwszy). Prosta line-
aryzująca jest wyznaczana metodą najmniejszych kwadratów. Parametry Rpk
i Ryk oblicza się jako wysokości trójkątów prostokątnych o powierzchniach rów-
noważnych odpowiednio powierzchni wzniesień i powierzchni wgłębień. Analo-
gicznie parametry Mrl i Mrl stanowią podstawy tych trójkątów (rys. 14,11).
Podstawę przedstawionej w normie koncepcji oceny chropowatości po
wierzchni o warstwowych właściwościach funkcjonalnych w oparciu o przed
stawienie dystrybuanty udziału materiałowego na siatce rozkładu normal
nego stanowi założenie, że profil chropowatości w sensie statystycznym możn
opisać za pomocą rozkładów normalnych z użyciem siatki rozkładu prawdopc
dobieństwa. Autorzy normy przyjęli, że dystrybuanta rzędnych profilu (naz>
wana w normie dystryhnantą udziału materiałowego) dla takich powierzchni m
na siatce rozkładu normalnego postać linii złożonej z dwóch odcinków proste
liniowych połączonych krzywą przejściową. Zauważyli ponadto, że do jedne
znacznego opisu tej Unii wystarczą 3 parametry: dwa opisujące nachyleń
odcinków prostoliniowych i mające interpretację odchyleń standardowych ij<
den identyfikujący punkt przecięcia odcinków prostoliniowych.
Opisany model zilustrowano na rys. 14.12 posługując się wygenerowanyr
liczbami losowymi o rozkładach normalnych.
Rys, 14.12. Wygenerowane wartości ymiennej losowej w postaci szeregu czasowego (z. lewej) oraz
przedstawione na siatce rozkładu normalnego (z prawej): a) rozkład normalny (//= 8, (T-= 0.3). b)
ten sam rozkład normalny lecz obcięty na poziomie μ— er i zakłócony zmienną los< o rozkładzie
normalnym (μ — 0, σ= 0,03)
372
raźnie mniejszym odchyleniu standardowym (er = 0,03) Na rysunku wygene-
rowane wartości zmiennej losowej przedstawione są w postaci szeregu czaso-
wego w kolejności generowania liczb losowych Pomimo podobieństwa me na-
leży tego wykresu utożsamiać z wykresem chropowatości powierzchni
Zastosowany model odpowiada obróbce dwuprocesowej, w której siady
obróbki pochodzące z pierwszego procesu są do pewnej głębokości zastępowane
śladami obróbki drugiego procesu
Grupa parametrów wyznaczanych na podstawie dystrybuanty udziału
materiałowego przedstawionej na siatce rozkładu normalnego to (rys 14 13)
— Rpq, Ppq — nachylenie prostej regresji w obszarze plateau, moze byc zatem
interpretowane jako wartość Rq, Pq (w mikrometrach) procesu losowego,
który wywołał składowe plateau profilu,
— Rvq> Pvq —- nachylenie prostej regresji w obszarze wgłębień, moze byc za
tem interpretowane jako wartość Rq, Pq (w mikrometrach) procesu loso
wego, który wywołał składowe wgłębień profilu,
— Rmq, Pmq — względny udział materiałowy na przecięciu plateau i wglę-
bien
373
rozkładu normalnego, używa się rozkładu beta [Nowicki 1986, Nowicki 1992,
Whitehouse 1994].
Zaawansowane są prace nad stereometrycznym opisem chropowatości po-
wierzchni [Nowicki 1992, Stout 2002, Blunt 2001]. W najprostszym przypadku
izometryczny obraz powierzchni uzyskuje się dzięki jej profilografowaniu w od-
stępach od kilku do kilkudziesięciu mikrometrów. Otrzymana informacja daje
się wtedy opisać parametrami czy funkcjami analogicznymi do wcześniej
omówionych, ale zdefiniowanymi w przestrzeni trójwymiarowej.
374
Tablica 14.3. Oznaczanie kierunkowości struktury geometrycznej na rysunkach
375
Wymaganie odnośnie chropowatości powierzchni określa się, podając ma-
ksymalną wartość parametru albo przedział wartości parametru Typowym przy-
padkiem jest podawanie wartości maksymalnej, a dla jednoznaczności, jeśli
granice są zdefiniowane za pomocą różnych parametrów, przez umieszczenie
litery U przed wartością maksymalną. Wartość minimalną określa się. podając
przed wartością liczbową literę L. jeśli dwa różne parametry nie mają
dodatkowych oznaczeń literowych to odpowiada to górnej granicy zapisanej za
pomocą dwóch różnych parametrów. Przedział wartości podaje się, wpisując
większą wartość liczbową parametru nad wartością mniejszą Długość odcinka
elementarnego podaje się jedynie wtedy, gdy nie odpowiada ona podanej w PN--
FSO 4288* 1997 dla danej wartości parametru chropowatości
Oprócz podawania oznaczenia na liniach oznaczających powierzchnie
przedmiotu stosuje się zbiorcze oznaczanie chropowatości powierzchni. Ozna-
czenie zbiorcze zaleca się umieszczać na rysunku obok tabliczki rysunkowej
i dotyczy ono wszystkich powierzchni przedmiotu Jeżeli obok oznaczenia
zbiorczego jest podany w nawiasie ogólny symbol chropowatości powierzchni
albo jeden lub kilka znaków chropowatości, oznacza to, ze niektóre powierz-
chnie mają chropowatość rożną od podanej w rysunku oznaczenia zbiorczego
Dopuszcza się również podawanie oznaczenia jednakowej chropowatości po-
wierzchni na wszystkich odcinkach elementarnych, powołując się na oznaczenie
literowe powierzchni
376
14.6. Pomiary stykowe przy użyciu profilometrów
Rys. 14.17.
Zasada pomiaru stykowego chropowatości i
falistości pov\ierzchm. 1 — mierzony przedmiot, 2
-— głowica pomiarowa, 3 — mechanizm posuwu.
4 — wzmacniacz, 5 —■ filtr, 6 — rejestrator. 7 —
moduł opracowujący sygnał pomiarowy, 8 —
wskaźnik
377
stanowiący niezależną bazę pomiarową jest oparty na mierzonej
powierzchni i nieruchomy w czasie pomiaru.
378
w przekroju prostopadłym do jego osi (ważne np dla elementów obrabianych
przez przeciąganie) Jedną z najlepszych możliwości jest w takim przypadku
wykonanie pomiaru przy obrotowym ruchu przedmiotu lub głowicy pomiarowej
Odpowiednia do tego celu przystawka stanowiąca element dodatkowego wypo-
sażenia przyrządu pełni wtedy rolę mechanizmu posuwu (w przyrządach firmy
Rank Taylor Hobson — Rotary Talysurf, w przyrządach firmy Mahr —
Rotationsvornchtung PURV)
Rys. 14.19. Ostrza odwzorowuiące a) w kształcie stożka, b) w kształcie ostrosłupa ściętego (Rank
Tavlor Hobson), c) toporkowe (Rank Taylor Hobson)
379
W przetworniku indukcyjnym (rys. 14.20a) przemieszczenia rdzenia
związanego z ruchem ostrza odwzorowującego powodują zmianę indukcyjności
cewek wchodzących w układ mostka. Zmiany te moduluje pochodzący z oscy-
latora prąd wysokiej częstotliwości. Sygnał wyjściowy po wzmocnieniu i demo-
dulacji jest kierowany do dalszych zespołów profilometru.
380
Rys. 14.21. Mechanizm posuwu i głowica pomiarowa przyrządu Form falysurf, / — lasei. 2 —
interferometr mierzący przemieszczenia głowicy pomiarowet, 3 —- interferometr mierzący
w>chylema końcówki pomiarowei, 4 — baza pomiarowa, 5 — końcówka pomiarowa
381
ry chropowatości na krótkich powierzchniach względem sztucznej bazy Gło-
wica bez slizgacza może współpracować z mechanizmem posuwu z wbudowaną
bazą pomiarową (pomiar chropowatości i falistości) Głowica do pomiaru
chropowatości w rowkach (rys. 14.22d) ma promień zaokrąglenia płozy 0,3 lub
1 mm Ostrze odwzorowujące jest usytuowane obok płozy w odległości I mm
Głowica z rys. 14 22e jest przeznaczona do pomiarów chropowatości na zary-
sach krzywoliniowych, głównie na powierzchniach zębów kół zębatych (RHTF
— dla modułu > 2 mm, a RHTF0,5 — dla modułu > 0,5 mm). Promień płozy
wynosi 3,2 mm, ostrze odwzorowujące jest umieszczone obok płozy w odle-
głości 0,5 mm. Głowice z rys. 14.22f służą do pomiarów chropowatości
w głębokich rowkach Głowica RHT 5 ma płozę o promieniu 25 mm i punkt
styku przesunięty o 1 mm do przodu względem ostrza. Głowica RHTTR 50 ma
płozę o promieniu 0,3 mm, natomiast głowica RHTTR 250 — o promieniu 3
mm. W obu przypadkach punkt styku płozy znajduje się obok ostrza w odle-
głości 1 mm
Na rysunku 14 23 przedstawiono rozwiązania konstrukcyjne głowic firmy
Mahr ze śhzgaczem dwupłozowym Wymiary głowicy z rys. 14.23a są nastę-
pujące: promień płozy w kierunku prostopadłym do kierunku ruchu końcówki
5,8 mm, długość płozy 2,2 mm, odległość między płozami 12 mm Głowica
nadaje się do pomiaru chropowatości i w ograniczonym zakresie falistości na
powierzchniach płaskich i w otworach o średnicy > 12 mm Wymagana długość
mierzonej powierzchni jest równa długości odcinka pomiarowego powiększonej
o 15 mm. Głowica z rys. 14 23b ma dwie płozy kuliste o promieniu 3,2 mm.
Ostrze jest usytuowane obok przedniej płozy w odległości 0,5 mm od punktu
styku Odległość między płozami — 10,5 mm Możliwy jest pomiar chropo-
watości powierzchni krzywoliniowych wewnętrznych i zewnętrznych o pro-
mieniu większym od 100 mm Wymagana długość mierzonej powierzchni jest
równa długości odcinka pomiarowego powiększonego o 11 mm. Głowica z rys.
14 23c służy do pomiarów chropowatości na wałkach (w przekroju prostopad-
łym do osi) o średnicach > 3,5 mm Płozy są kuliste, przednia o promieniu 3,2
mm, tylna o promieniu (w płaszczyźnie pomiaru) 3,5 mm Odległość między
płozami jest nastawialna.
Rys. 14.23.
Wygląd zewnętrzny końcówek
głowic pomiarowych firmy Mahr
ze shzgac7em dwupłozowym a)
RT, b) RTK, c) Rl R
382
Rys, 14.24.
Wygląd zewnętrzny końcówki głowicy pomiarowej
FTK3 firmy Mahr z niezależną bazą pomiarową
Rys. 14.25
Zniekształcenia profilu wprowadzane przez filtry 2RC a) sygnał przed filtracją, b) sygnał po
filtracji 2CR, c) sygnał po filtracji filtrem z korekcjąfazy
38
3
gdzie: JC — odległość punktu, dla którego oblicza się wagę, od punktu dla
którego oblicza się linię średnią, λα — graniczna długość fali (cut-off) filtru
profilu, a— stała obliczana ze wzoru
* = ,№ = 0,4697
14.6.4. Rejestratory
Profilometry buduje się jako przyrządy laboratoryjne (stałe) (fot. 14.1) lub
warsztatowe (przenośne) (fot. 14.2). Przyrządy warsztatowe cechuje zwykle:
— niezależne źródło zasilania, stąd możliwość łatwego przenoszenia przy
rządu,
— małe gabaryty i masa przyrządu,
— prostota obsługi,
— możliwość pomiaru jedynie ograniczonej liczby ważniejszych parametrów,
— ograniczony zakres pomiarowy,
— mniejsza dokładność pomiaru.
Przyrządy laboratoryjne odznaczają się:
— uniwersalnością uzyskiwaną m.in. dzięki bogatszemu wyposażeniu dodat
kowemu, w szczególności w różne odmiany głowic pomiarowych.
— wysoką dokładnością.
— możliwością wyznaczenia znacznej liczby parametrów.
— możliwością różnorodnego opracowania i dokumentowania wyników
pomiarów.
Ostatnio wobec rozwoju cyfrowych technik opracowania sygnału pomia-
rowego zaciera się granica między przyrządami laboratoryjnymi i warszta-
towymi. Przyrządy warsztatowe można doposażyć w mikroprocesorowe moduły
opracowania informacji pomiarowej, rejestratory, drukarki itp. Typową dla
większości przyrządów postacią wyników pomiaru chropowatości jest wydruk
wartości wybranych parametrów. Istotnym elementem podziału pozostaje
jedynie dokładność pomiaru.
384
14.6,6. Przegląd profilometrów
385
Rys. 14.26.
Błąd pomiaru spowodowany kątem ostrza
odwzorowuiącego a) zarys, b) profilogram
Rys. 14 27.
Błędy pomiaru wynikające ze ..losowania
ślizgacza a) wzmocnienie, b) osłabienie, c)
wpływ pojedynczego sygnału, / — zarys
rzeczywisty, 2 — zarys zaobserwowany
[Wamecke, Dutschke 1984]
386
146.8. Wzorcowanie profilometrów
Rys. 14.28. Wzorce głębokości a) typ Al. szeroki rowek z płaskim dnem b) typ A2 s/eroki
rowek z zaokrąglonym dnem
Znormalizowano trzy rozwiązania wzorców do sprawdzania stanu wierz-
chołka ostrza (typ B).
— Typ Β1: wzorce te mają wąski rowek lub pewną liczbę oddzielnych rowków
zwymiarowanych w taki sposób, że mają zwiększoną czułość na wymiary
ostrza odwzorowującego Te wąskie rowki mają zaokrąglone dna o odpo-
wiednim promieniu, aby były czułe na kształt i stan wierzchołka ostrza od-
wzorowującego Rowki są scharakteryzowane swoim promieniem r i swoją
głębokością d,
387
— Typ B2 wzorce te mają dwa wzory rowków o nominalnie równej wartości
parametru Ra, przy czym jeden z nich jest czuły, a drugi nieczuły na
wymiary i stan ostrza odwzorowującego. Rowki te są usytułowane na
jednym podłożu Czułe wzory rowków — rowki w kształcie trójkąta
równoramiennego z ostrymi wzniesieniami i wgłębieniami o tak dobranej
wartości parametru RSm i takim kącie wierzchołkowym a, ze parametr Ra
zależy od promienia wierzchołka ostrza odwzorowującego Nieczułe wzory
rowków — rowki w przybliżeniu sinusoidalne lub łukowe, tak zwymia-
rowane, ze wartość parametru Ra istotnie nie zależy od promienia wierz
chołka ostrza odwzorowującego,
— Typ B3 ■ wzorce te mają ostre, wystające krawędzie, na przykład
mepowlekane ostrze żyletki z krawędzią o szerokości 0,1 μηι lub mniejszej
Stan ostrza odwzorowującego może być określony przez odwzorowanie
takiego wzorca i zarejestrowanie profilu powierzchni. Promień i kąt wierz
chołka wystającej krawędzi są mniejsze niz promień i kąt wierzchołka
ocenianego ostrza odwzorowującego.
Wzorce odstępów nierówności (typ C) służą do wzorcowania składowych
pionowych wskazania profilometrów Mogą być także stosowane do
wzorcowania składowych poziomych, jeśli odstęp miedzy rowkami mieści się
w granicach przewidzianych do tych celów Przeznaczeniem tego szeregu wzor-
ców jest umożliwienie sprawdzenia charakterystyki przenoszenia w celu prze-
prowadzenia sprawdzenia dla pewnej liczby odstępów rowków i amplitud.
Wzorce mają siatkę powtarzających się rowków o zwyczajnym kształcie
(sinusoidalnym, trójkątnym albo łukowym) Istotnym wymaganiem dla wzorców
typu C jest, aby znormalizowane wzorce, pomimo różnego kształtu fali były
zgodne, tzn aby prowadziły do takie samej realizacji wzorcowania i spraw-
dzenia przyrządu pomiarowego. Znormalizowano cztery typy wzorców:
— Typ C l * rowki o profilu sinusoidalnym (ang. grooves having a sine wave
profile) Wzorce te są odpowiednie do wzorcowania przyrządów pomiaro
wych do pomiaru parametrów RSm i Ra. Wartości powinny być tak dobrane,
aby ich tłumienie przez ostrze lub filtr było nieznaczne (rys 14.29a),
— Typ C2: rowki o profilu trójkąta równoramiennego (ang. grooves having an
isosceles triangular profile). Wzorce te są odpowiednie do wzorcowania
przyrządów pomiarowych do pomiarów RSm i Ra Wartości powinny być
tak dobrane, aby ich tłumienie przez ostrze lub filtr było nieznaczne (rys,
14.29b),
— Typ C3: rowki o profilu w przybliżeniu sinusoidalnym (ang. grooves having
a simulaiates approximate sine wave profile). Wzorce te są odpowiednie do
wzorcowania przyrządów pomiarowych do pomiaru parametrów RSm j Ra.
Kształt rowków jest zbliżony do fali sinusoidalnej w tym sensie, ze rowki
mają profile trójkątne z zaokrąglonymi lub ściętymi wzniesieniami lub
wgłębieniami, a średnia kwadratowa składowych harmonicznych nie powin
na przekraczać 10 % wartości średniej fali podstawowej (rys. 14 29c),
— Typ C4 rowki o profilu łukowym (ang. grooves with an arcuate profile)
Wzorce te są odpowiednie do wzorcowania przyrządów pomiarowych do
388
pomiaru parametrów PSm i Pa. Wartości powinny być tak dobrane, aby ich
tłumienie przez ostrze lub filtr było nieznaczne(rys. 14.29d),
Rys. 14.29. Wzorce odstępów nierówności: a) typ Cl: rowki o profilu sinusoidalnym, b) typ C2:
rowki o profilu trójkąta równoramiennego, c) typ C3: rowki o profilu w przybliżeniu
sinusoidalnym, d) typ C4: rowki o profilu łukowym
Wzorce chropowatości powierzchni (typ D) służą do ogólnego
wzorcowania przyrządów pomiarowych. Różnorodność stosowania powierzchni
wzorców typu D jest zazwyczaj większa niż powierzchni wzorców typu C. Aby
w pełni wykorzystać wzorce typu D niezbędne jest wyznaczenie, statystycznie
określonej, liczby odpowiednio usytuowanych tras pomiarowych. Poniżej
omówiono dwa typy wzorców;
— Typ Dl: profil nieregularny jednokierunkowy (ang, unidirectional irregular
profile). Wzorce te mają profil nieregularny (na przykład uzyskany przez
szlifowanie) w kierunku odwzorowania, ale mają one tę zaletę, że przekrój
poprzeczny prostopadły do kierunku odwzorowania jest w przybliżeniu stały
(rys. 14.30a), Wzorce te symulują przedmioty mające szeroki zakres odstę
pów wzniesień profilu, ale ograniczają liczbę tras pomiarowych niezbędnych
do określenia odpowiedniej wartości średniej. Wzorce te są odpowiednie do
wzorcowania przyrządów pomiarowych do pomiaru parametrów Ra i Rz,
— Typ D2: profil nieregularny kołowy (ang. circular irregular profile).
Wzorce te mają profile nieregularne w kierunku promieniowym, ale mają
one jednak tę zaletę, że przekrój poprzeczny wzdłuż ich obwodu jest w przy
bliżeniu stały. Wzorce te są odpowiednie do wzorcowania przyrządów
pomiarowych do pomiaru parametrów Ra i Rz, Mają one nieregularne
profile szlifowane, powtarzające się w odstępach co 51c w kierunku wzdłuż
nym wzorca. Kształt profilu jest stały w płaszczyźnie prostopadłej do kie
runku pomiaru wzorca — po obwodzie {rys. 14.30b).
Wzorce do pomiaru współrzędnych profilu (typ E) służą do wzor-
cowania układu współrzędnych profilu przyrządów pomiarowych:
Typ Ε1: kula dokładna lub półkula dokładna (ang. spherical dome). Wzorce
te mają postać kuli lub półkuli dokładnej. Promień kuli jest tak dobrany, że
ostrze odwzorowujące styka się z powierzchnią w całym zakresie pomiaro-
wym przyrządu. Wzorce te charakteryzują się swoim promieniem i para-
metrem Pt,
389
Rys. 14.30. Wzorce chropowatości powierzchni a) typ Dl: profil nieregularny jednokierunkowy, b)
typ D2: profil nieregularny kołowy
— Typ E2: pryzma dokładna (ang. trapezoidal). Wzorce te mają postać pryzmy
o trapezowym przekroju poprzecznym (rys. 14.31). Podstawę pryzmy
stanowi dłuższa z dwóch równoległych powierzchni. Powierzchniami po-
miarowymi są powierzchnia górna i dwie powierzchnie utworzone przez
boki pryzmy. Kąty między tymi dwiema bocznymi powierzchniami
pomiarowymi są tak utworzone, że ostrze odwzorowujące styka się z po-
wierzchnią w całym zakresie pomiarowym przyrządu. Wzorce te chara-
kteryzują się kątem między powierzchniami i parametrem Ft na każdej
z tych powierzchni.
Rys. 14.31.
Wzorzec chropowatości powierzchni typ E2: pryzma
dokładna
Rys. 14.32.
Interpretacja graficzna procedury
prowadzącej do uznania wyrobu za
dobry lub zły z punktu widzenia
chropowatości powierzchni,
/ -— wartość graniczna parametru
chropowatości
1Q1
w przypadku użycia profilometrów, w których długość odcinka pomiarowego
określa się przez wybranie liczby odcinków elementarnych na odcinku pomia-
rowym. Jeżeli przewidziana dla danego profilometru długość odcinka pomia-
rowego jest różna od pięciokrotnej długości przyjętego odcinka elementarnego,
pomiar należy wykonać na najbliższej, przewidzianej dla przyrządu długości
odcinka pomiarowego. W przypadku gdy ta długość jest wyraźnie mniejsza od
pięciokrotnej długości odcinka elementarnego (np. 2 lub 3 odcinki elementarne),
otrzymane wyniki będą miały wyraźnie inny rozkład. Aby uniknąć niepo-
rozumień na etapie odbioru wyrobów, zaleca się wykonać tyle pomiarów (w róż-
nych miejscach powierzchni), by łączna długość mierzonego profilu była równa
pięciokrotnej długości odcinka elementarnego (lub nieznacznie od niej różna),
a za wynik pomiaru przyjąć wartość średnią z otrzymanych wskazań przyrządu.
Przy długości odcinka elementarnego równej lub większej niż 2,5 mm oraz
w przypadkach odpowiedzialnych pomiary należy wykonywać — jeżeli to
możliwe — względem bazy niezależnej. Przy stosowaniu bazowania na mie-
rzonej powierzchni promień krzywizny płozy ślizgacza powinien być nie mniej-
szy od 50 długości odcinka elementarnego.
Kierunek pomiaru powinien być taki, by otrzymane wartości wyników były
największe z możliwych. Oznacza to praktycznie, że chropowatość należy
mierzyć w kierunku prostopadłym do śladów obróbki Dla powierzchni izotro-
powych (np. obróbka erozyjna) kierunek pomiaru może być dowolny. Jeżeli
wykonuje się kilka pomiarów, to odległości między poszczególnymi liniami,
wzdłuż których wykonuje się pomiar, powinny być takie, by nie było korelacji
między otrzymanymi wartościami parametrów. Praktycznie warunki braku kore-
lacji zapewnia odległość (w obu kierunkach) 2 min,
392
14.7, Pomiary profilometryczne wiązką zogniskowaną
Rys. 14.35. Schemat działania układu do pomiarów topografii powierzchni Wavespeed 1010 TOP
(Hommelwerke): / — punktowe źródło światła białego, 2 — powierzchnia badana, 3 — filtr
przestrzenny. 4 -—- spektrometr
394
— rozdzielczość pionowa 0,01 μΐη,,
-- rozdzielczość poprzeczna 2 μm,
— długości osi:x= 100 mm^-lOOmm. z-\00 mm.
Składową częścią przyrządu jest stół pomiarowy o zakresie pomiarowym
2000x800x810 mm z pneumatycznym układem amortyzującym drgania.
Rys. 14.37.
Widok w okularze mikroskopu podwójnego Schmaltza
(1421)
397
jeżeli to możliwe, zaleca się następujące postępowanie. Przedmiot pod wzglę-
dem chropowatości powierzchni uważa się za dobry, jeżeli taki wniosek można
wyciągnąć na podstawie porównania ze wzorcem o jedną klasę lepszym.
W przeciwnym razie należy wykonać pomiar profilometrem lub innym przyrzą-
dem pomiarowym,
Rys, 14.39.
Zasada pomiaru chropowatości powierzchni
metodą rozpraszania światła; i —mierzony
przedmiot, 2 — laser, 3 — matówka. 4 —
rozkład natężenia światła rozproszonego.
φ — kąt padania światła
398
Rys. 14.40.
Zasada pomiaru chropowatości powierzchni metodą
pneumatyczną, / —■ wlot powietrza. 2 — powierzchnia
bazowa czujnika, d— stała szczelina powietrzna
Rys, 14.41.
Zasada pomiaru chropowatości powierzchni metodą
po|emnosciową; I — powierzchnia mierzonego
przedmiotu, 2 — druga okładzina kondensatora, 3
— przekładka izolacyjna
Literatura
Adamczak S, Miko Ε (2003) Kompleksowe pomiary chropowatości powierzchni
walcowych obrobionych na frezarce CNC X Krajowa, I Międzynarodowa Konferencja
Metrologia w technikach wytwarzania, Krakow
Baran J J (1990) Metodyka wyznaczania parametrów statystycznych chropowatości dla
danej struktury geometrycznej powierzchni. Mechanik 1990, z 9-10.
BhushanB, WyantJ C.MeilwgJ (1988)' A New Three-Dimensional Non-Contact Digital
Optical Profiler Wear 1988, z 122
Blunt L (2001) The final report· The development of a basis for 3D surface roughness
standards, (EC SMT4-CT98-2256). July 2001
Brock Μ (1983) Fourier Analysis of Surface Roughness, Technical Review 3/83
Burek J., Ostrowski D (2002) - Pomiar falistości powierzchni walcowych w procesie
szlifowania PAK nr 10/2002
Cellary A, Wieczorowski Μ (1994): Bezstykowa głowica laserowa do pomiaru
geometrycznej struktury powierzchni Mechanik nr 7/1994
Dagnail Η (1986): Exploring Surface Texture. Rank Taylor Hobson Limited, Leicester
Dobosz Μ (1984). Optyczne metody pomiaru chropowatości — metody rozpraszania
światła. Mechanik 1984, z 10
Dobosz M, Ratajczyk Ε (1985) Optyczne metody pomiaru chropowatości Metody
kontrastu. Mechanik 1985, z 3
Dobosz M, Ratajczyk Ε (1985) Optyczne metody pomiaru chropowatości oparte na
penetracji ogniskiem wiązki świetlnej Pomiary, Automatyka, Kontrola 1985, z 9
Feld Μ, Konczakowski A (1991) Zastosowanie analizy widmowej do badań struktury
geometrycznej powierzchni Mechanik 1991, z 2
Górecka R, Polański Z (1983) Metrologia warstwy wierzchnie). WNT. Warszawa
Huynh V. Μ (1992): Surface-Texture Measurement and Characterisation with Applications
to Machine-Tool Monitoring The International Journal of Advanced Manufarcunng Technology, ζ
7
KarpmskiT Kochamewicz Ρ Kochaniewicz Τ (1995) Zależności między mikrogeometną
powierzchni i parametrami światła rozproszonego przy pomiarach foto metrycznych Metrologia
i systemy pomiarowe, tom II, zeszyt 1/1995
Karpmski Τ Łukianowicz Cz (1995): System kontrolno-pomiarowy do oceny
mikronierówności powierzchni przedmiotów będących w ruchu Politechnika Warszawska, Prace
Naukowe, Konferenqe, z 4, Oficvna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
399
Karptńsh T, Łuktanowicz Cz Łukianowicz Γ (1995)" Ocena mikromerownosci
superglitdkich powierzchni metodami światła rozproszonego. Metrologia w technikach
wytwarzania maszyn Zbiór prac VI Konferencjt Naukowo-Techmcznei, Politechnika
Rzeszowska, Rzeszów
Kochamewicz T, Łukianowicz Cz (1991)· Ocena mikronierówności powierzchni na
podstawie parametrów kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego Mechanik 1991, z 3
ŁuktanowtC2 Cz (1992). Aparatura do oceny mi kr o geometrii powierzchni na podstawie
kątowego rozkładu natężenia światła rozproszonego Mechanik 1992, z i.
Łukianowicz Cz (1998)- Pomiary nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła
Krajowy Kongres Metrologu — Nowe Wyzwania i Wiz|e Metrologii, tom 4. Gdańsk'98
Łukianowicz Cz (2001) Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami
rozpraszania światła Monografia nr 85 Politechnika Koszalińska. Koszalin
Łithanowicz C, KarpińsL· Τ (2003)· Ocena struktury geometrycznej powierzchni metodami
rozpraszania światła.
Miller Τ (1997) Wieloparametrowe skomputeryzowane urządzenia do pomiaru topografii
powierzchni VII Konferencja Naukowo-Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania
Maszyn, Kiclce'97, tom II, Politechnika Świętokrzyska
Miller Τ (2001). Przegląd metod filtrowania profilu 2D chropowatości powierzchni
Wydawnictwo Politechniki Częstochowskiej IX Krajowa Konferencja „Metrologia w technikach
wytwarzania", Częstochowa
Nowich Β (1992). Struktura geometryczna. Chropowatość i falistość powierzchni WNT,
Warszawa.
Nowich Β (1993) Kierunki rozwoju metrologii struktury geometryczne! powierzchni Prace
Naukowe Instytutu Technologu Maszyn i Automatyzaqi Politechniki Wrocławskie] nr 52 IV
Konferencja Metrologia w technikach wytwarzania maszyn, Wydawnictwo Politechniki
Wrocławskie], Wroclaw
Oczos KE, Lmbimow W (2002)1 Determinowość ι losowośc struktur geometrycznych
powierzchni (SGP) PAK nr 10/2002
Pawttts Ρ (2002) The errors of surface topography using stylus instrument Metrology and
Measurement Systems Volume IX — nr 3/2002
Pisarek Jr Nowicki B, Jarkiewicz A (1995) Badania rastrowei metody pomiarów
chropowatości. Metrologia w technikach wytwarzania maszyn. Zbiór prat VI Konferencji
Naukowo-Techniczne|, Politechnika Rzeszowska, Rzeszów
Przyrządy pomiarowe (Homme.werke) Mechanik 3/1995
Ratajczyk Ε, Dobosz Μ (1983) Optyczne metody pomiaru chropowatości -— mikroskopia
interferencyjna. Mechanik 1983, z. 7,
Smereczyńska Β (1997) Zastosowanie rmkrointerferometru Linnika z komputerową analizą
prazkow interterencyinych wzorców chropowatości powierzchni. VII Konferencja Naukowo-
Techniczna Metrologia w Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielce'97, tom II, Politechnika
Świętokrzyska.
Sorg Η (1995): Praxis der Rauheitsmessung und Oberflachenbeurteilung. Carl Hanser
Verlag, MJnchen, Vien
Stout Κ I, Sullivan Ρ J, Dong WΡ , Mmnsah Ε > Luo Ν, Maihia Τ, Zahyouam Η (1993).
The development of methods for the chracterisation of roughness in three dimensions, 1st edn,
Commission of the Europen Communities (ISBN 0 70441 313 2),
Stout Κ J, Blunt I. (2002)· Three Dimensional Surface Topography. Pentom Press. London.
Tomasik J (1989) Aktualne kierunki w budowie przyrządów profilometrycznych
Mechanik 1989, z 9
Tomasik J, Biało D (2003)1 Zastosowanie parametrów krzywej udziału nośnego do opisu
mikrogeometrii powierzchni porowatych Mechanik nr 1/2003
Tomasik J Rudzmsh R (1995) Możliwości pomiarowe profilometru z przetwornikiem
interferencyjnym. Politechnika Warszawska, Prace Naukowe, Konferencje, z 4, Oficyna
Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa
Tomasik Jt Rudzinski R. (2003) Wpływ odstępu próbkowania na dokładność pomiaru
mikrogeometrii powierzchni porowatych X Krajowa, I Międzynarodowa Konterenqa Metrologia
w technikach wytwarzania. Krakow
400
TomczakJ M (1990) Cechy metrologiczno-uzytkowe wzorców chropowatości powierzchni
po obróbce elektroerozyjnej Mechanik 1990, z 7-8
Tubtelewicz Κ. Zaborsh A (2003). Wyznaczanie parametrów kompleksowej
charakterystyki chropowatości powierzchni X Krajowa, I Międzynarodowa Konferencja
Metrologia w technikach wytwarzania. Kraków
Warnecke Η J\ Dutschke W (red) (1984) FertigungŁmeBtechnik Ilandbuch far Industrie
und Wissenschaft Springer Verlag, Berlin
Whtehouse DJ (1994) Handbook of Surface Metrology. Institute οί Physics Publishing.
Bristol and Philadelphia.
Wieczorowski M. (2002). Sampling on a spiral for surface topography Meliolog) and
Measurement Systems Volume IX — nr 3/2002
Wieczorowski Μ (2002)· Future trends of surface topography analysis Metrology and
Measurement Systems Volume IX — nr 3/2002
Wieczorowski Μ. Cellary A, Chajda J (1996) Charakterystyka chropowatości
powierzchni. Przewodnik. Politechnika Poznańska, Instytut Technologu Maszyn. Poznań.
Wieczorowski Μ., Cellary Λ , Chajda J (2003). Przewodnik po pomiarach nierówności
powierzchni czyli o chropowatości ι nie tylko. Politechnika Poznańska, Instytut Technologu
Maszyn, Poznań
Wieczorowski M, Cellary A, Chajda J (1997). Metody oceny topografii powierzchni
w świetle zamierzeń normalizacyinych. VII Konferencja Naukowo-Techniczna. Metrologia
w Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielce'97, tom II. Politechnika Świętokrzyska
Wieczorowski Μ Cellary A EhmannKF (1995) Trójwymiarowa analiza chropowatości
powierzchni za pomocą autoregres]i Metrologia w technikach wytwarzania maszyn Zbiór prac V]
Konferencji Naukowo-lechnicznej, Politechnika Rzeszowska, Rzeszów
PN-EN 1370:2001 Odlewnictwo — Badanie chropowatości powierzchni za pomocą
wzorców wzrokowo-dotykowych
PN-EN ISO 1302-2002 (U) Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Oznaczanie struktur>
geometrycznej powierzchni w dokumentacjach technicznych wyrobów.
PN-EN ISO 4287.1999 Specyfikacje geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni metoda profilowa — Terminy, definiqe i parametry struktury geometryczne]
powierzchni,
PN-EN ISO 5436-1-2002 Specyfikacje geometrii wyrobów (UPS) — Struktura
geometryczna powierzchni metoda profilowa — Wzorce — Część 1. Wzorce materialne.
PN-EN ISO 5436-2 2002 (U) Specyfikacje geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni metoda profilowa — Wzorce — Część 2" Wzorce programowe
PN-EN ISO S785-2OOO Specyfikacje geometrii wyrobów — Skazy powierzchni — lerminy,
definicje i parametry.
PN-EN ISO 11562 1998 Specyfikacfe geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni metoda profilowa — Charakterystyki metrologiczne filtrów z korekcie fazy
PN-EN ISO 12085,1999 Specyfikacja geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni, metoda profilowa — Parametry metody motywów.
PN-EN ISO 12179:2002 Specyfikaqe geometrii wyrobów (GPS) — Struktura geometryczna
powierzchni: metoda profilowa — Wzorcowanie przyrządów stykowych (z ostrzem
odwzoro wuj ącym)
PN-EN ISO 13565-1:1999 Specyfikacje geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni: metoda profilowa; powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych —
Filtrowanie i ogólne warunki pomiaru
PN-EN ISO 13565-2 1999 Specyfikacje geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni, metoda profilowa, powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych —
Opis wysokości za pomocą linearyzacji krzywej udziału materiałowego
PN-EN ISO 13565-3:2002 Specyfikacje geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni: metoda profilowa; powierzchnie o warstwowych właściwościach funkqonalnych —
Część 3 Opis wysokości za pomocą dyttrybuanty udziału materiałowego
PN-ISO 1878 1996 Klasyfikacja przyrządów i urządzeń do pomiaru i oceny parametrów
struktury geometryczne) powierzchni
401
PN-ISO 1879:1996 Przyrządy do pomiaru chropowatości powierzchni metodą profilową —
Słownictwo
PN-ISO 3274'1997 Specyfikacje geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni: metoda profilowa — Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych (z ostrzem
od wzorowuj ącym)
PN-ISO 3274.1997/Apl 1999 Specyfikacje geometrii wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni: metoda profilowa — Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych (z ostrzem
odwzorowuiącym)
PN-TSO 4288.1997 Wymagania geometryczne wyrobów — Struktura geometryczna
powierzchni — Zasady i procedury oceny struktury geometryczne] powierzchni metody profilową
PN-ISO 4288 1997/Apl.l999 Wymagania geometryczne wyrobów — Struktura
geometryczna powierzchni — Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni
metodą profilową
ISO 468-1982 Surface Roughness-Parameters, their values and general rules for specifying
requirements
ISO 4287/2-1984 Surface Roughness-Terminology Part 2- Measurement of surface
roughness parameters.
PN-84/D-01005 Chropowatość powierzchni drewna i materiałów drewnopochodnych —
Terminologia i parametry
PN-87/D-04206 Płyty wiórowe i pilśniowe — Oznaczanie chropowatości powierzchni
PN-87/M-04250 Warstwa wierzchnia. Terminologia
PN-87/M-04251 Struktura geometryczna powierzchni Chropowatość powierzchni. Wartości
liczbowe parametrów
PN-85/M-04254 Struktura geometryczna powierzchni. Porównawcze wzorce chropowatości
powierzchni obrabianych
PN-74/M-04255 Struktura geometryczna powierzchni —- Falistość powierzchni —
Określenia podstawowe i parametry
PN-89/M-04 256/04 Struktura geometryczna powierzchni Falistość powierzchni
Terminologia
PN-9I/M-04301 Tribologia — Terminologia podstawowa
Pomiary gwintów
15
15*1. Układ tolerancji i pasowań gwintów metrycznych
walcowych
403
Rys. 15.1. Zarys podstawowy gwintu metrycznego i jego wymiary: d (D) — średnica zewnętrzna
gwintu zewnętrznego (wewnętrznego), di (O2) — średnica podziałowa gwintu zewnętrznego
(wewnętrznego), d\ (Z)]) — średnica wewnętrzna gwintu zewnętrznego (wewnętrznego), di, —
średnica wewnętrzna gwintu zewnętrznego z zaokrąglonym dnem bruzdy, Η — wysokość trójkąta
podstawowego gwintu, Ρ — podziałka gwintu, R — promień zaokrąglenia dna zarysu gwintu
zewnętrznego; / — oś gwintu
404
Tablica 15.1. Skojarzenie średnic znamionowych i podzialek w mm (fragment tablicy 2
z PN-83/M-02013)
Rys. 15.2.
Dfugość skręcenia L\ I — gwint zewnętrzny,
2 — gwint wewnętrzny
405
Tablica 15.2. Średnice tolerowane gwintów oraz zależność wartości tolerancji od takich
parametrów, jak podziałka, średnica znamionowa i szereg tolerancji
Tolerowana średnica Szeregi tolerancji przeznaczone dla Wartość tolerancn zależy od
gwintu danej średnicy
d 468 podziałki- szeregu tolerancji
-1 45678
Oj 45678 średnicy znamionowej,
dl 3456789 podziałki, szeregu tolerant|i
Średnicę zewnętrzną gwintu (rys 15.1) mierzy się ogólnie dostępnymi przyrzą-
dami do pomiaru wymiarów zewnętrznych z płaskimi końcówkami pomiaro-
wymi, np długościomierzem pionowym, czujnikiem pomiarowym lub mikrome-
trem Średnicę zewnętrzną można także zmierzyć mikroskopem pomiarowym.
Tabhca 15.3. Kierunki pochylenia kolumny o kąt wzniosu linii śrubowej w pomiarach
gwintów za pomocą mikroskopów pomiarowych
Mierzona strona gwintu Gwint prawy Gwint lewy
Pochylenie kolumny
Przednia strona w lewo w prawo
Tylna strona w prawo w lewo
406
15.2.3. Pomiar podzialki
Rys. 15.3.
Schemat pomiaru podzidłki
gwintu długościomierzem
uniwersalnym (Zeiss) Ρ —
podziałka, ι — liczba
zwojów
(15 2)
(15.3)
(15.4)
gdzie. Ρ — wartość podziałki, β — kąt skręcenia osi pomiarowej mikroskopu
względem osi gwintu, Ρ' ι Ρ" — wyniki pomiaru.
407
Rys. 15.4.
Pomiar podziałki gwintu z użyciem nożyków pomiarowych
Rys. 15.5. Pomiar podziałki gwintu wraz z kompensacją błędu systematycznego: a) położenie osi
gwintu względem osi pomiarowej mikroskopu, b) podzialka F >P, c) podziałka P" <P, 1 — oś
gwintu, 2 — oś pomiarowa
(15.5)
408
(15.6)
(15.7)
Rys. 15.6. Elementy zarysu: a) gwintu zewnętrznego, b) gwintu wewnętrznego,, f — bok zarysu,
2— wierzchołek zarysu, 3 —- dno zarysu, 4 — l i n i a podziałowa
409
W gwintach rozróżnia się kąt gwintu i kąty boków (rys. 15.7). Kąt gwintu a— kąt
między róznoimiennymi bokami zarysu Kąt boku — kąt między bokiem
zarysu i prostopadłą do osi gwintu w płaszczyźnie osiowej
Rys. 15.7.
Kąt gwintu a, kąty boków a\ i «2 oraz długość L boku zarysu
gwtntu
(15.8)
(15.9)
410
Sprawdziany gwintowe o zarysie skróconym (nieprzechodnie) mają mniej-
szą długość boku zarysu Z. Długość ta — podobnie jak w gwintach o zarysie
pełnym — jest funkcją podziałki P, różną jednak w poszczególnych zakresach
podziałki: L = 0,37P (P - 0,2*1), L - 0,35P (P = 1-25*2). Z=0,29P (P - 2,5*4),
L-o723P(P = 4,5*6).
W celu skompensowania błędu systematycznego, spowodowanego niepro-
stopadłym położeniem osi gwintu względem przesuwu mikroskopu wzdłuż osi
>, należy wykonać pomiary kątów boków cc\ ΐ α2 po obu stronach osi gwintu.
Wartości kątów boków oblicza się jako średnie arytmetyczne odpowiednich
wyników (rys. 15.8)
(15.10)
Rys. 15.8.
Pomiary kątów boków; 1 — oś gwintu, 2 — oś
pomiarowa x, 3 — oś pomiarowa;/
Jeżeli pomiar jest wykonywany z
kolumną pochyloną pod kątem ^wzniosu
linii śrubowej — a zachodzi to w
pomiarach z oświetleniem dolnym oraz z
wykorzystaniem prążków
interferencyjnych — wówczas zmierzone
głowicą goniometryczną kąty a[ ί a{ nie
są równe kątom a\ i tę w płaszczyźnie
osiowej. Pochylenie kolumny
mikroskopu o kąt ψ— po obu stronach
gwintu przeciwne — powinno być zgodne z tabl.
15.3, Kąty boków a,\ i a2 oblicza się według
wzorów
(15.11)
Kąt gwintu
(15.12)
można zmierzyć po jednej stronie gwintu, pamiętając jednak o zależnościach
(15.11).
Zmierzone kąty a{ i a{ są odpowiednio mniejsze od kątów a\ i a^. Za
pomocą wzorów (15.11) można obliczyć również dodatnią poprawkę kątów a\ i
ai. Na przykład dla gwintu M14 (gwint zwykły, P - 2 mm, ψ= 2°52', a{ = -
cci = 30°) wartość poprawki pa] -^ ~ +Γ52" a +2',
411
Klasyfikację pomiarów średnicy podziałowej gwintów walcowych ze-
wnętrznych przedstawiono w tabl. 15.6.
Tablica 15.6. Przyrządy, metody, sposoby i techniki w pomiarach średnicy podziałowej
gwintów walcowych zewnętrznych
Lp Przyrządy pomiarowe Technika Sposób pomiaru Metoda
pomiarowa pomiarowa
1 UM optyczna z oświe- z użyciem głowicy gonio- bezpośrednia
MWD tleniem dolnym metrycznej, profilowej lub
ZKM podwó]nego obrazu
2 ZKM optyczna z uży- z użyciem głowicy gonio- bezpośrednia
ciem prążków metrycznej (rys 15.10)
interferencyjnych
3 UM optyc zno - sty ko wa z użyciem głowic> gonio- bezpośrednia
MWD z użyciem noży- metryc/nej (rys 15 9)
ków pomiarowych
ZKM
4 dlugosciomicrz (pomiar stykowa tró|wałeczkowy (rjs pośrednia
M\ rfw). MP (pomiary 15 12)
P\ a)
5 mikrometr do gwintów stykowa z użyciem końcówek bezposaedma
pomiarowych w postaci
stożka i pryzemki (rys
15 23)
6 przyrząd czujnikowy stykowa z użyciem końcówek bezpośrednia
pomiarowych w postaci
profilowanych rolek
412
Rys. 15.10.
Widok z dosuniętymi
nożykami w płaszczyźnie
osiowej gwintu, z
widocznymi i
niewidocznymi ostrzami
nożyków
Rys. 15.9.
Pomiar mikroskopem średnicy podziałowej
Rys. gwintu
15.11. z użyciem nożyków; odpowiednie
pomocniczeprążków
Wykorzystanie przerywane kreski okularudo
interferencyjnych (odlegie
o 0,3średnicy
pomiaru i 0,9 mm od centralnego
podziałowej krzyża)
gwintu nastawia
mikroskopem
ZKMsię na ryski nożyków
413
wyznaczonym przez kły mikroskopu, kierunkiem pomiarów. Bierze się pod
uwagę przypadek najbardziej niekorzystny, gdy oba kąty dodają się alge-
braicznie. W praktyce metrologicznej, przy pomiarach gwintów szlifowanych,
ten sumaryczny kąt (β) nie przekracza ±5' [Berndt, KUbler 1954].
s/2-β
Rys. 15.12. Pomiar średnicy podziałowe] gwintu wraz z kompensacją błędu systematycznego
a) położenie osi gwintu względem osi pomiarowe] mikroskopu, b) średnica podziałowa d\ >
c) średnica podziałowa d\ <dj / — os gwintu, 2 — os pomiarowa Λ, 3 — os pomiarowa y
(15.13)
(15.14)
(15.15)
Błąd takiego postępowania
(15.16)
414
(15.17)
gdzie: A, Β i C —
współczynniki zależne od
rodzaju mikroskopu i techniki pomiarowej (tabl. 15.7), ψ— średni kąt
wzniosu linii śrubowej w stopniach. di — średnica podziałowa w mm.
415
Dla gwintów symetrycznych
(15.18)
gdzie: Μ — długość
pomiarowa mierzona prostopadle do osi gwintu, dw — średnica wałeczków
pomiarowych, P — podziałka, a — kąt gwintu, p\ — poprawka na skręcenie
wałeczków w bruzdach gwintu, pi —- poprawka na odkształcenie sprężyste
wałeczków i gwintu w miejscach styku pod wpływem nacisku pomiarowego.
Wzór ( 15. 18 ) został wyprowadzony tak, jak gdyby w bruzdy gwintu
wstawiało się krążki o średnicy d w. Zamiast krążków wkłada się jednak
wałeczki, które nie są położone prostopadle do przekroju osiowego gwintu, lecz
są skręcone o kąt wzniosu linii śrubowej. Z tej przyczyny równanie (15.18) jest
korygowane poprawkąpx. Pomiar ponadto musi być wykonywany z użyciem
nacisku pomiarowego, aby wałeczki przyjęły właściwe położenie. Konieczne
jest więc uwzględnienie odkształcenia sprężystego wałeczków i boków gwintu
wywołane naciskiem (poprawka p2).
Dla gwintów niesymetrycznych o kątach boków ct\ i a-χ (a\ > «2), do di
(15.18) należy dodać dwie wartości k\ i £2, które oblicza się według wzorów
(15.19)
gdzie: a — <X\ + a^ /?- a\l2 — a^i,
pozostałe oznaczenia jak we wzorze
( 1 5 . 1 8) . Poprawki p\ i p^ dla gwintów niesymetrycznych oblicza się
według innych wzorów niż dla gwintów symetrycznych [Leinweber 1954,
Lechowski 1963]. Średnicę optymalną wałeczka oblicza się według wzoru
416
Rys. 15.14.
Średnica optymalna djy0 wałeczka
pomiarowego
(15.21)
powinna być jak najmniejsza.
Jeżeli dw ^d$m różnica Δ = 0.
Graniczne średnice nominalne wałeczków dom\n i ^Dmax oblicza się według
wzorów podanych w PN-79/M-53088. Dla gwintów metrycznych powinien być
spełniony warunek (tabl, 15.9)
(15.22)
(15.23)
417
(15.24)
Tab. 15.9, Średnice zunifikowane tłw, średnice optymalne d Do, różnice Δ ·= d w-d Do oraz
graniczne średnice nominalne dDmm i i//>max zależnie od podzialki Ρ gwintów metrycznych w mm
(obliczone wg wzorów i zasad doboru d w zgodnie z PN)
Ρ dno Δ
1 2 1 2
0,25 0,170 — 0,144 0,026 — 0,126 OJ 73
0,3 0,170 0 195 0,173 -0,003 0,022 0,152 0,208
0,35 0,195 0 220 0,202 -0,007 0,018 0,177 0,242
0,4 0,220 0,250 0,231 -0,011 0,019 0,202 0,277
0,45 0,250 0,290 0,260 -0,010 0,030 0,227 0,312
0,5 0,290 0,335 0 289 0,001 0,046 0,253 0346
0,6 0,335 0,390 0,346 -0,011 0,044 0,303 0,416
0,7 0,390 0,455 0,404 -0,014 0,051 0,354 0,485
0,75 0,455 0,390 0,433 0,022 -0,043 0,379 0,520
0,8 0,455 0,530 0,462 -0,007 0,068 0,404 0,554
1 0,620 0,53U 0,577 0,043 -0,047 0,505 0,693
1,25 0,725 — 0,722 -0,003 — 0,631 0,866
15 0,895 — 0,866 0,029 — 0,758 1,039
1,75 1,100 0,895 1,010 0,090 -0,115 0,884 1,212
2 1,100 1,350 1,155 -0,055 0,195 1,010 1,386
2,5 1,350 1,650 1,443 -0,093 0,207 15263 1,732
3 1,650 2,050 1,732 -0,082 0,318 1,516 2,078
3,5 2,050 — 2,021 0,029 — 1,768 2 425
4 2,550 2,050 2,309 0,241 -0,259 2,021 2,771
4,5 2,550 — 2,598 -0,048 — 2,273 3,118
5 3,200 2,550 2,887 0,313 -0,337 2,526 3,464
5,5 3,200 — 3,175 0,025 — 2,778 3,811
6 3,200 4,000 3,464 -0,264 0,536 3,031 4,157
11
Średnice dw wg kolejności 1 sa^bardziei zbliżone do średnic dD„. 2) Różnice Δ wg
kolejności 1 wynikają z różnic {dw-dD(l) przy dw wg kolejności 1 imają mniejsze bezwzględne
wartości niż różnice Δ wg kolejności 2
418
przy czym jako pierwsze przybliżenie wartości θ przyjmuje się 9(1 obliczone
według wzoru
Rys. 15.15. Interpretacja kąta pomocniczego Θ obliczanego iteracyjnie (15 26) a) rzut z góry na
kulkę umieszczoną w bruździe gwintu, b) przekrof płaszczyzną prostopadłą, do osi gwintu przez J
punkt Ρ styku kulki z bokiem gwintu, Ρ, Ρ'— punkty styku kulki z bokami gwintu; w pomiarze kulki
zastępuje się wałeczkami.
(15.28)
419
Rys. 15.16. Wykresy poprawek p2 dla gwintów metrycznych na odkształcenie sprężyste
wałeczków pomiarowych i gwintu pod naciskiem O = 2 Ν dla wybranych par P-dw; na
krzywych podano wartości nominalne średnic wałeczków dw w mm, podziałkę Ρ można
odczytać z tabl. 15.9 (kolumna 1)
(15.29)
420
Wzór (15.18) nie pozwala określić, ile wałeczków uczestniczy w pomiarze. Do
wzoru (15,29) należy więc stosować zastępczą średnicę układu złożonego z 3
wałeczków. Zgodnie z rys, 15.17 zastępcza średnica
(15.30)
(15.31)
Rys, 15.17. Zależności geometryczne do wyprowadzenia wzoru nad? oraz zastępczą średnicę
trzech wałeczków dw.
42
1
Jeśli nie zostaną wykonane pomiary średnic wałeczków {dw\, dwi i dw->) i do
wzoru na średnicę podziałową (15 18) wstawi się nominalną wartość średnicy
wałeczków dw, wówczas wariancja składowa dla gwintów metrycznych przy
użyciu wałeczków wg [PN-79/M-53088] (T- 1 μηι, T} = 0,5 μηι)
422
Podstawowy wzór, według którego oblicza się średnicę podziałową D% ma
postać (rys. 15.18)
(15,33)
Rys. 15.18.
Odległości w i m kulistych końcówek
pomiarowych umieszczonych w bruzdach
gwintu wewnętrznego
Rys. 15.19.
Wzorzec do nastawiania odległości wo
kulistych końcówek w pomiarze sposobem
]; /, 2 —- wkładki z rowkami
pryzmatycznymi, 3 — stos płytek
wzorcowych, 4 — kuliste końcówki
pomiarowe, ln — długość stosu płytek
wzorcowych, a i b — odległości
teoretycznych wierzchołków rowków
pryzmatycznych od płaszczyzn styku
wkładek ze stopem płytek wzorcowych
423
wewnętrznego, Kąt gwintu a mierzy się mikroskopem pomiarowym na pod-
stawie repliki zarysu gwintu.
Rys. 15.20.
Wzorzec do nastawiania odległości
w„ kulistych końcówek w pomiarze
sposobem II; 1,2 — wkiadki
z rowkami ptyzmatycznymi,
3 — stos płytek wzorcowych
o długości /„, 4 — stos płytek
wzorcowych o długości P,J2,
5 — kuliste końcówki pomiarowe,
a i b — odległości teoretycznych
wierzchołków rowków
pryzmatycznych od płaszczyzn styku
wkładek ze stosem płytek
wzorcowych
Rys. 15.21.
Urządzenie do pomiaru podziałki gwintu
wewnętrznego, będące dodatkowym
wyposażeniem
długościomierza uniwersalnego firmy Zeiss
424
wpływem stałego nacisku pomiarowego — są w przybliżeniu sobie równe.
Poprawkę p\ na położenie kulek w bruzdach gwintu oblicza się według wzoru
(rys. 15.22)
(15.35)
Rys. 15.22. Wykresy poprawki /?■ dla gwintów metrycznych na położenie kulek w bruzdach
gwintu dla par; podziałka (/^-średnica kulek (dk); 1-0,62,2-1,1; 3-1,65:4-2,55: 5-3.2; 6-3,2
(średnice kulek wg firmy Mahr)
(35.37)
42
5
gdzte: Ą — wartość średnicy podziałowej bez uwzględnienia poprawkip\t ln —
długość stosu płytek wzorcowych wstawianych między wkładki, c — stała
wkładek, ao — wartość nominalna kąta pryzm we wkładkach, P, a i Aw —
zaobserwowane wartości podziałki- kąta gwintu i różnicy między odległością
w kulek w bruzdach gwintu a odległością w0 odpowiadającą położeniu kulek
w rowkach pryzmatycznych wzorca nastawionego stosem płytek wzorcowych
o długości 1„.
Do średnicy Z>2 obliczonej wg wzoru (15 38) dodaje się poprawkę px
(15.35).
W p o m i a r z e s p o s o b e m II pod kulistą część jednej z wkładek
wsuwa się płytkę wzorcową lub stos płytek o długości PJ2, równej połowie
nominalej wartości podziałki Ρ (rys. 15 20) Długość L s stosu płytek
wzorcowych — którą należy zaokrąglić do setnych części milimetra — oblicza
się według wzoru
(15.39)
(15.40)
(15.41)
426
(15.42)
gdzie: it(l„% u(c\ u(Aw)? w(ol·), U(P) l u(a) S3. niepewnościami standardowymi
długości l„ stosu płytek wzorcowych, stałej wkładek c, pomiaru różnicy Aw,
wykonania kąta ao we wkładkach, pomiaru podziałki Ρ oraz pomiaru kąta a.
Wartość Δ jest różnicą między średnicą nominalną użytych kulek a średnicą
optymalną kulek (Δ =t4 -d0), tj, taką, przy której zetknięcie kulek z bokami
gwintu następuje na walcu podziałowym (do = P/[2cos(a/2)]). Różnice Δ podano
w tabl. 15.13 dla każdej pary podziałka-średnica kulek. Niepewności standar-
dowe u{ln), w(c), u(Aw) oraz w(P) podaje się w mikrometrach, niepewności
standardowe w(o„), u(a) — w minutach kątowych, d^ i Δ — w milimetrach. Dla
stałej wkładek c oraz kąta a0 we wkładkach błędy graniczne dopuszczalne można
przyjąć: MPE{ć) - il-s-3 μηι oraz MPE(a(>) = ±1,5' [Wolf 1952, Leinweber
1954], Rozkłady tych MPE przyjmuje się jako jednostajne.
Rys. 15.23.
Pomiar średnicy
podziałowej £>2 gwintu
wewnętrznego
dlugościomierzem firmy
Mahr przy użyciu
końcówek pomiarowych
osadzonych sztywno na
trzpieniu
(15.43)
427
Średnicę podziałową oblicza się według wzoru (15.44).
(15.44)
gdzie: m — odległość
środków kulistych końcówek pomiarowych określona prostopadle do osi
gwintu, £& — średnica kulek, P — podztałka, a— kąt gwintu, ρ ι — poprawka
(dodatnia) na użycie w pomiarze kulek zamiast krążków,/^ — poprawka na
spłaszczenie sprężyste układu „kuliste końcówki — boki gwintu" wywołane
naciskiem pomiarowym, p2a — poprawka na spłaszczenie sprężyste układu
„kuliste końcówki — wewnętrzna powierzchnia wzorca pierścieniowego"
wywołane naciskiem pomiarowym.
Poprawkę/?/ oblicza się według wzoru (15.35).
Pod wpływem nacisku pomiarowego Q następuje spłaszczenie sprężyste
układu „kuliste końcówki — boki gwintu". Podczas pomiaru ugięcia trzpienia
pomiarowego kompensują się, ponieważ takie same ugięcia występują przy
wzorcowaniu długościomierza(rys. 15.23).
Poprawkę p2 dla gwintów metrycznych można obliczyć według wzoru
Hartmanna [Hartmann 1966] lub Lechowskiego [Lechowski 1962, Lechowski,
Bubel 1969]. Oba wzory zostały wyprowadzone dla styku stali ze stalą. Wzór
Hartmanna ma postać
(15.46)
(15.47)
428
gdzie: Q — nacisk pomiarowy w N, i — średnica kulistych końcówek
pomiarowych w mm, Dw — średnica wzorca pierścieniowego w mm. Obliczanie
niepewności pomiaru i poprawek jest opisane w literaturze [Mali-nowski,
Płowucha 1999c, Malinowski, Płowucha2000].
Rys. 15.24.
Pomiar średnicy podziałowej d2 mikrometrem do gwintów;
końcówki pomiarowe: / — stożkowa, 2 — pryzmatyczna
429
chyłek tych parametrów wchodzą w skład tolerancji (sumarycznej) średnicy
podziałowej. Zatem
Kąt tworzącej gwintu stożkowego (^2) jest kątem tworzącej stożka, na którym
wykonano gwint. Podziałka gwintu P jest określona równolegle do osi gwintu
Na tworzącą stożka AG (rys 15 25) nanosi się wielokrotnie odcinek P' ~
= P/cos(-p/2), otrzymując punkty A, B, .... Μ, Ν, .... Z punktów tych prowadzi
430
się prostopadłe do osi gwintu (AA\ BB\ ...) i odmierza po obu stronach tych
linii kąt all. Punkty przecięcia się ramion kątów«/, K, .... L, ... leżą wówczas na
prostej OGf równoległej do prostej AG. Następnie należy w odległości ΑΌ' =
= AO poprowadzić prostą równoległą do ΑΉ. Z punktów A, B, ..., M, TV, ..., Jy
K, ..., L ... prowadzi się proste prostopadłe do osi, aż do przecięcia z two-
rzącymi leżącymi po przeciwnej stronie osi i następnie dzieli na połowę odcinki
A'B' (w punkcie F\ J"K" (w punkcie Q") itd.
Połączenie punktów A, J, ..., P\ Q\ ... daje zarys gwintu. Z otrzymanej
konstrukcji wyraźnie widać, że punkty J\ P' lub B i Q1 nie leżą na jednej prostej
prostopadłej do osi gwintu, lecz mają określone przesunięcie a [Berndt 1925,
Berndt 1937, Malinowski 1991],
Rys. 15.25.
Konstrukcja zarysu gwintu stożkowego
symetrycznego względem prostopadłej
do osi gwintu
W celu obliczenia
przesunięcia a należy poprowadzić przez punkt Μ prostą równoległą do osi
gwintu, aż do przecięcia R z przedłużeniem boku zarysu LN. W otrzymanym
trójkącie SM^SR. Następnie przeprowadza się przez Ν prostą równoległą do
osi, do przecięcia V z prostą MM1. Punkt U leży w środku odcinka NV.
Wartość a oblicza się według wzoru
(15.53)
(15.54)
Średnica podziałowa cł2 jest średnicą stożka podziałowego (rys. 15.25), który
jest umieszczony w środku między stożkami opisanymi na wierzchołkach wy-
stępów i dnach bruzd (np. AGHA' i OG'HO1). Leżące naprzeciw siebie dwa
boki zarysu — po przeciwnych stronach osi gwintu — są zawsze względem
431
siebie równoległe. Szczególnym przypadkiem średnicy podziałowej jest odle-
głość środków dwóch leżących naprzeciw siebie boków zarysu ostrego (np.
TT'). Łatwo to zauważyć, bowiem przesunięcia a wierzchołka i dna zarysu
względem dna i wierzchołka położonych po przeciwnej stronie gwintu są takie
same, lecz przeciwnie skierowane. Średnicę podziałową można zatem określić
jako odległość prostopadłą do osi gwintu dwóch naprzeciw siebie leżących
boków zarysu (np. EF).
(15.55)
Rys. 15.26.
Pomiary kątów boków po obu stronach osi
gwintu w celu kompensacji błędu
systematycznego spowodowanego
skręceniem o kąt β osi gwintu względem
osi pomiarowej wzdłużnej mikroskopu;
ct\\, «12, £-2!' a22 — zaobserwowane kąty
boków; &]_, et- — kąty boków po
kompensacji błędu systematycznego, I —
oś gwintu, 2 — oś pomiarowa
432
(15.56)
(15.57)
Rys. 15.27.
Odcinki pomiarowe wykorzystywane
w pomiarach podziałki; xu x2i Λ - - , Χ22
— odcinki równolegle do osi gwintu, a/2 —- kąt
boku, φ/2 — kąt tworzącej gwintu stożkowego,
/ — oś gwintu
Rys. 15.28.
Pomiar mikroskopem średnicy podziałowej
gwintu stożkowego o zarysie symetrycznym
względem prostopadłej do osi gwintu; 1 —
tworząca stożka bruzd, 2 — tworząca stożka
wierzchołków, ^ (AB) — średnica podziałowa,
Μ (CD) i M* (EF) — wymiary mierzone
mikroskopem, a— kąt gwintu, φ/2 — kąt
tworzącej gwintu stożkowego
433
(15.58)
(15.59)
(15.61)
434
Rys. 15.29,
Konstrukcja zarysu gwintu
stożkowego symetrycznego
względem prostopadłej do
tworzącej stożka
Pomiar wykonuje się tak samo jak w przypadku gwintów stożkowych o zarysie
symetrycznym względem prostopadłej do osi gwintu.
(15.62)
435
(15.63)
Rys. 15.30. Gwint stożkowy o zarysie symetrycznym względem prostopadłej do tworzącej stożka;
X],xj — odcinki pomocnicze wykorzystywane w pomiarze podziałki P, 1 —oś gwintu
Rys. 15.31.
Określenie średnicy podziałowej względem
położenia wałeczków w bruzdach gwintu
stożkowego o dwusiecznych kątów gwintu
prostopadłych do tworzących stożka;
M\ i Mi — wymiary mierzone długościomierzem
uniwersalnym
436
(15.64)
(15.65)
w którym
(15.66)
(15.68)
437
wykonuje się przez zetknięcia końcówki pomiarowej z bokiem gwintu metodą
krokową.
Pomiary należy rozpocząć od zdefiniowania układu współrzędnych
walcowych. Oś gwintu musi być zawsze osiąr lokalnego układu współrzędnych.
Punkty pomiarowe mogą być uzyskiwane przez centrowanie kulki pomiarowej
w bruzdach gwintu lub przez oddzielny styk górnego i dolnego boku gwintu.
Liczba punktów pomiarowych na obrót zależy od rodzaju gwintu, ewentualnie
żądań użytkownika (np. 12 punktów na obrót i 6 obrotów). W pomiarach
z centrowaniem kulka pomiarowa powinna stykać się z gwintem możliwie
blisko walca podziałowego (ufe = P/2cos(a/2)), Przy określaniu układu współrzę-
dnych przez styk kulki na przemian z górnym i dolnym bokiem, punkty styku
powinny leżeć możliwie blisko walca podziałowego.
Kąty boków i odchyłki kształtu boku zarysu można uzyskać przez skaning
lub zetknięcia w pojedynczych punktach pomiarowych. Średnicę kulki pomia-
rowej powinno się tak dobrać, aby odcinek boku zarysu, z którym styka się
kulka, był dostatecznie duży. Najmniejsza średnica rubinowej kulki pomiarowej
wynosi 0,3 mm (Leitz-Brown&Sharpe, Zeiss) i to stanowi naturalne ogra-
niczenie możliwości pomiaru małych gwintów. Wykresy odchyłek wymiarów
i kształtu są wykonywane na gotowych formularzach. Do pomiarów może być
także użyty dodatkowo stół obrotowy. Wypełniony przez ploter formularz za-
wiera cztery wykresy sporządzone w czterech przekrojach osiowych gwintu
(90°, 180°, 270° i 360°) oraz następujące wyniki pomiarów:
— wykresy zaobserwowanych boków zarysu wraz z przybliżającymi je
prostymi regresji,
— odchyłkę zarysu Fa,
— odchyłkę kształtu zarysu///^,
— odchyłkę położenia zarysu ffa,
— odchyłkę kąta zarysu fa.
Miejsce wykonanego pomiaru jest określone przez następujące parametry:
— kąt φ w układzie współrzędnych walcowych,
-■— współrzędną z punktu pomiarowego.
Ponadto w protokole znajdują się następujące informacje:
— tolerancje.
— dane nominalne mierzonego gwintu,
— zakres L = Ra - Rh na którego długości jest określana prosta regresji oraz
odchyłki.
Przyjęte w programie QUINDOS THREAD oznaczenia pochodzą z okre-
śleń stosowanych w pomiarach kół zębatych walcowych (rys. 15.32).
Program obliczeniowy pomiaru promienia i średnicy podziałowej został
opracowany na podstawie wektorowego równania linii śrubowej (rys, 1533),
(15,69)
438
Rys. 15.32. Oznaczenia odchyłek zarysu boku gwintu: Rt — promień początkowy, Ra — promień
końcowy, L — zakres oceny, BB — prosta regresji zarysu gwintu, AA oraz A1 A' — zarysy
nominalne obejmujące zarys zaobserwowany, B'B' oraz B"B" — zarysy równoległe do proste^
regresji i obejmujące zarys zaobserwowany, CC oraz CC — zarysy nominalne przecinające
prostą regresji na początku i końcu zakresu oceny, Fa — odchyłka zarysu, f^a— odchyłka kształtu
zarysu, ffa — odchyłka położenia zarysu
Rys. 15.33,
Przekrój osiowy gwintu z kulką pomiarową stykającą
się z bokiem zarysu w punkcie A; środek kulki Μ nie
leży w płaszczyźnie rysunku
439
Wyniki pomiarów podziałki są określane na każdym zwoju względem
górnego (prawego) i dolnego (lewego) boku gwintu. Wykresy i wydruki wyni-
ków podają:
— odchyłki sumaryczne Fpf i największą odchyłkę sumaryczną i7-.,
— odchyłki pojedyncze względem wymiaru nominalnego^ i największą od
chyłkę pojedynczą^,
— nierównomierność sąsiednich podziałek/w.
Wykresy i wydruki wyników pomiaru skoku gwintu zawierają:
— skok zaobserwowany Pish
— odchyłkę skoku (Pist - ΡΗ\ gdzie Ph ■— skok nominalny,
— odchyłkę skoku względem prostej regresji P£,
— odchyłkę skoku względem pierwszego punktu Ρβ
— największą odchyłkę skoku względem prostej regresji Pa.
Przy okresowo zmieniających się odchyłkach skoku można ponadto
otrzymać okres i amplitudę zmian.
Pomiary sprawdzianów gwintowych (od P = 0,5 mm wzwyż) przy użyciu
programu U-GAUGE (Zeiss) wykonuje się za pomocą głowicy mierzącej ze
sztywno połączonymi, w formie krzyża, kulistymi końcówkami pomiarowymi.
Odpowiednikiem tego sposobu pomiaru jest pomiar długościomierzein uniwer-
salnym firmy Mahr z wprowadzaniem w bruzdy końcówek pomiarowych na
poprzecznym trzpieniu (rys. 15.23).
Wyniki badań przeprowadzonych w ΡΤΒ (Braunschweig) [Kunzmann,
Lerch, Waldele 1980] pozwalają stwierdzić, że pomiary współrzędnościowe
stykowe gwintów są pomiarami dokładniejszymi i szybszymi od tradycyjnych.
440
podziałowej muszą zostać skorygowane odpowiednimi poprawkami, ponieważ
pomiary nie przebiegają w płaszczyźnie osiowej (rys. 15.35). W pomiarze
używa się optoelektronicznego urządzenia KKR do zautomatyzowanego nasta-
wiania na kontur przedmiotu. Wyniki pomiarów z uwzględnionymi poprawkami
są drukowane w postaci protokołu. Błędy graniczne dopuszczalne maszyny
DKM 250 w pomiarach w układzie x, y, z oblicza się według wzoru
Rys. 15.35.
Pomiary w odległościach ±a od
Rys. 15.34.
Odległości ±a płaszczyzn pomiarowych od płaszczyzny
osiowej gwintu
płaszczyzny osiowej wymagają
wprowadzenia poprawek dla kątów
boków i średnicy podziałowej;
przerywaną kreską zaznaczono
przekrój w płaszczyźnie osiowej
441
Literatura
442
Malinowski J., Płowucha W. (1997): Wyznaczanie niepewności pomiaru średnicy
podziałowej gwintów zewnętrznych sposobem trójwałeczkowym. II Ogólnokrajowa Konferencja
Naukowo-fechniczna zorganizowana przez Sekcję Obrabiarek i Narzędzi Krakowskiego Oddziału
SIMP oraz ITMiAP Politechniki Krakowskiej, Referaty, Kraków.
Malinowski J., Płowucha W. (1998): Wybór poprawki na skręcenie wałeczków w bruzdach
gwintu w pomiarze średnicy podziałowej sposobem trójwałeczkowym. Krajowy Kongres
Metrologii, Gdańsk'98, Materiały tom 4, Politechnika Gdańska.
Malinowski J., Płowucha W, (1999a): Analiza wybranych błędów w pomiarach średnicy
podziałowej D2 dokładnych gwintów wewnętrznych długościomierzem uniwersalnym. Materiały
VIII Konferencji Naukowo-Technicznej „Metrologia w technikach wytwarzania maszyn", Poi.
Szczecińska 1999, t.2.
Malinowski 1, Płowucha W. (1999b): Uwagi o pomiarze podziałki dokładnych gwintów
walcowych zewnętrznych mikroskopem uniwersalnym. Materiały VIII Konferencji Naukowo-
Technicznej „Metrologia w technikach wytwarzania maszyn", Poi. Szczecińska 1999, t.2.
Malinowski J., Płowucha W. (1999c): Niepewność pomiaru średnicy podziałowej
sprawdzianów gwintowych pierścieniowych. III Ogólnokrajowa Konferencja Naukowo-
Techniczna zorganizowana przez Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji
Politechniki Krakowskiej oraz Ogólnokrajową Sekcję Obrabiarek i Narzędzi SIMP, Materiały
konferencyjne, Kraków.
Malinowski J., Płowucha W. (2000): Poprawki w pomiarach średnicy podziałowej
sprawdzianów gwintowych pierścieniowych. Pomiary, Automatyka, Kontrola nr 5/2000.
Malinowski J., Płowucha W. (200la): Pomiary śrub ogólnego przeznaczenia. IX
Konferencja Naukowo-Techniczna „Metrologia w technikach wytwarzania maszyn", Wyd.
Politechniki Częstochowskiej 2001. t.2.
Malinowski J., Płowucha W. (200 lb): Niepewność pomiaru średnicy podziałowej gwintów
zewnętrznych mikroskopem uniwersalnym. IV Ogólnokrajowa Konferencja Naukowo-Techniczna
zorganizowana przez Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Politechniki
Krakowskiej oraz Ogólnokrajową Sekcję Obrabiarek i Narzędzi SIMP, Materiały konferencyjne,
Kraków.
Mintrop K, Kochsiek M. (1973): Anlagekorrektion und giinstigster MeBkorperdurchmesser
fur zylindrische Gewinde. MeBtechnik 1973 nr 11.
Ratajczyk E. (1977): Ocena niedokładności ważniejszych metod pomiaru gwintów.
Mechanik nr 9/1977.
Reinicke D., Priplata H., Móller K.-L, Spring Κ. (1988): Das neue KoordinatenmeBgerat
ZKM 01-250 CM — ein automatisches Gerat fur die Fertigungskontrolle. Jenaer Rundschau 1988
nr3.
Will H. J. (1991): Gewindemessung auf KoordinatenmeBgera'ten. Jenaer Rundschau 1991
nr2.
Will H. J., Liske R., Ludwig P. (1989): Gewinde noch pra'ziser messen. Qualita't und
Zuverlassigkeit 1992 nr 8.
Wolff. (1952): Priifen und Messen von Gewinden. Carl Hanser Verlag, Miinchen.
Wolniewicz E. (1978): Pomiary interferencyjne. Systemy wzorców długości. Politechnika
Warszawska, Warszawa.
Zill H. (1974): Messen und Lehren im Maschinenbau und in der Feingeratetechnik. VEB
Verlag Technik, Berlin.
PN-ISO 68-2:2000 Gwinty ISO ogólnego przeznaczenia — Zarys nominalny — Gwinty
calowe.
PN-ISO 725:1997 Gwinty calowe ISO — Wymiary nominalne.
PN-ISO 5864:1998 Gwinty calowe ISO — Odchyłki podstawowe i tolerancje.
PN-EN ISO 6410-1:2000 Rysunek techniczny — Gwinty i części gwintowane — Zasady
ogólne.
PN-ISO 68-1:2000 Gwinty ISO ogólnego przeznaczenia — Zarys nominalny — Gwinty
metryczne.
PN-ISO 261:2001 Gwinty metryczne ISO ogólnego przeznaczenia — Układ ogólny.
PN-ISO 262:2001 Gwinty metryczne ISO ogólnego przeznaczenia — Wybrane wielkości
gwintów dla wkrętów, śrub i nakrętek.
443
PN-ISO 263 1997 Gwinty calowe ISO Układ ogólny i wybór dla wkrętów, śrub i nakrętek
Zakres średnic 0,06 cala do 6 cali
PN-ISO 724 1995 Gwinty metryczne ISO ogólnego przeznaczenia Wymiary nominalne
PN-ISO 725 1997 Gwinty calowe ISO Wymiary nominalne
PN-TSO 965-1 2001 Gwinty metryczne ISO ogólnego przeznaczenia — Tolerancje — CZCM:
1 Zasady i dane podstawowe
PN-ISO 965-2 2001 Gwinty metryczne ISO ogólnego przeznaczenia — Toleranqe — Częsc
2 Wymiary graniczne gwintów zewnętrznych i wewnętrznych ogólnego przeznaczenia — Klasa
średmodokładna
PN-ISO 965-3 2001 Gwinty metryczne ISO ogólnego przeznaczenia — Tolerancje — Częsc
3 Odchyłki gwintów maszynowych
PN-ISO 1502 1998 Gwinty metryczne ISO ogólnego przeznaLzema Sprawdziany
i sprawdzanie
PN-ISO 2901 1995 Gwinty trapezowe metryczne JSO Zarys podstawowy i zarys
maksimum materiału
PN-ISO 2902 1996 Gwinty trapezowe metryczne ISO Układ ogólny
PN-ISO 2903 1996 Gwinty trapezowe metryczne ISO Tolerancje
PN-ISO 2903/Ak 1996 Gwinty trapezowe metryczne ISO Tolerancje
PN-ISO 2904+A 1996 Gwinty trapezowe metryczne ISO Wymiary nominalne
PN-85/M-O2OO1 Gwinty Terminologia
PN-74/M-02012 Gwinty metryczne o średnicach 0,25 do 0 9 mm Wymiary
PN-78/M-02015 Gwinty metryczne do przyrządów precyzyjnych
PN-88/M-020I9 Gwinty trapezowe niesymetryczne Wymiary
PN-87/M-02027 Gwinty trapezowe niesymetryczne 45°
PN-90/M-02033 Podstawy zamiennosci Gwinty metryczne stożkowe
PN-84/M-02035 Gwinty okrągłe Wymiary
PN-74/M-02112 Gwinty metryczne o średnjcach 0,25 do 0,9 mm Toleranqe
PN-88/M-02114 Gwinty metryczne do pasowan mieszanych
PN-S8/M-02115 Gwinty metryczne do pasowan ciasnych
PN-81/M-02116 Gwinty metryczne wyrobów z tworzyw sztucznych
PN-88/M-02119 Gwinty trapezowe niesymetryczne Tolerancje
PN-80/M-02131 Gwinty trapezowe Tolerancje sprawdzianów
PN-90/M 02132 Gwinty metryczne stożkowe Tolerancje sprawdzianów
PN 89/M-02133 Gwinty trapezowe niesymetryczne 45ΰ Tolerancje sprawdzianów
PN-84/M-02135 Gwinty okrągłe Toleranqe
PN 89/M-02155 Gwinty okrągłe Tolerancje sprawdzianów
PN-90/M-02158 Gwinty trapezowe wielokrotne Toleranqe sprawdzianów
PN-74/M-53028 Narzędzia pomiarowe Sprawdziany gwintowe do gwintów metrycznych
PN-79/M-53088 Narzędzia pomiarowe Wałeczki pomiarowe do gwintów
PN 73/M 53214 Narzędzia pomiarowe Mikrometry zewnętrzne do gwintów
PN-73/M 53215 Narzędzia pomiarowe Wzorce nastawcze do mikrometrów do gwintów
PN-73/M-532I6 Narzędzia pomiarowe Końcówki pomiarowe wymienne do średnic
podziałowych gwintów
PN-88/M-53395 Narzędzia pomiarowe Wzorce zarysu gwintu metrycznego
PN-82/M-69223 Butle do gazów Gwinty stożkowe Wymiary ι tolerancje
Pomiary kół zębatych
16
16.1· Parametry opisujące postać konstrukcyjną koła zębatego
Rys. 16.1.
Zarys odniesienia wg
PN-iSO 53.2001
(16.1)
44
5
(16.2)
Częsc zarysu zęba od strony stopy stanowi
tzw krzywa przejściowa, a od strony głowy
tzw. Unia przytępienia Tak więc z
metrologicznego punktu widzenia zarys zęba
stanowi część zawarta między okręgami (rys. 16.2).
— przytępienia krawędzi (o średnicy <4),
— punktów granicznych (o średnicy dj).
Rys. 16,2.
Krzywa przejściowa (2) i linia przytępienia (/)
Rys. 16.3.
Modyfikaqa zarysu zęba
446
Modyfikacji często podlega również linia zęba {modyfikacja wzdłużna).
Rozróżnia się modyfikacją końca (końców) zęba oraz tzw. beczułkowatośó zęba.
Modyfikację wzdłużną (rys. 16.4) określa głębokość modyfikacji wzdłużnej ASi
a w przypadku modyfikacji końca zęba również punkt początkowy linii modyfi-
kacji wzdłużnej.
Rys. 16.4.
Modyfikacja wzdłużna zęba:
a) beczutkowatość, b) modyfikacja
końca zęba
Funkcjonowanie przekładni
zębatej jako połączenia ruchowego
wymaga zapewnienia luzu między
niepracującymi bokami zębów,
czyli tzw. luzu bocznego. O wartości luzu bocznego decydują trzy wymiary:
dwie grubości zębów współpracujących kół i odległość osi kół.
Dla wykonawcy koła, oprócz opisu postaci nominalnej i opisu modyfikacji
zęba, konieczna jest informacja o położeniu pola tolerancji grubości zęba. Tole-
rowanie grubości zęba polega na określeniu odchyłek granicznych w stosunku
do grubości nominalnej. Istnieje wiele sposobów pomiaru grubości zęba, jest
więc wiele możliwości opisu grubości nominalnej i odchyłek grubości. Z kon-
strukcyjnego punktu widzenia grubość zęba najchętniej jest definiowana jako
długość łuku okręgu podziałowego.
Grubość nominalna to grubość równa szerokości wrębu, Z technologicz-
nego punktu widzenia grubość nominalną określa nominalne położenie zarysu
odniesienia, które można interpretować jako takie położenie narzędzia-zębatki
(odległość linii podziałowej zębatki od osi koła), przy którym zęby mają grubość
nominalną.
447
Rys-16.5.
Zasada współpracy jednostronnej, / — współpracujące koła,
2 — czujniki kata obrotu, 5 — człon porównujący kąty
obrotu, 4 — rejestrator
Rys. 16.6.
Wykres odchyłki kinematycznei
a) definicja., b) wykres odchyłks,
1 — koło kontrolne, 2 — koło
badane, ψ\ — kąt obrotu koła
kontrolnego,
ψΐ -— zaobserwowany kąt
obrotu koła badanego
ψ\ — nominalny kąt obrotu kota
badanego odpowiadaiący
obrotowi koła kontrolnego o ψ\
448
16.2.2. Pomiary odchyłek podziałki
Rys. 16.7. Odchyłki podzialki obwodowej a) definicja podziałki obwodowej, b) wykres odchyłki
podzialki, c) wykres odchyłki sumarycznej podziałek
449
Rys. 16.8.
Zasada pomiaru podzialki obwodowej
poprzez pomiar kąta; / — trzpień
pomiarowy, 2 — wzorzec kąta
(16.3)
(16.5)
450
Rys. 16.9.
Zasada pomiaru odchyłki podziałki obwodowej
poprzez pomiar cięciwy
(16.6)
gdzie
Wszystkie odchyłki podziałek wyznacza się na podstawie odchyłek fplr
W przypadku dużej liczby zębów koła, wykorzystanie pomiarów cięciwy do
wyznaczenia odchyłek sumarycznych nie jest zalecane ze względu na kumulo-
wanie się błędów pomiaru. Większość nowoczesnych przyrządów do pomiaru
odchyłek podziałki jako wynik pomiaru daje wykres odchyłek podziałek na
obwodzie koła z naniesionym położeniem linii średniej oraz wykres odchyłki
sumarycznej podziałek.
Rys, 16.10.
Odchyłka bicia promieniowego uzębienia
451
Rys. 16. 11.
Rysunek do wyprowadzenia wzoru na kąt
pryzmy Sy{ (w przekroju czołowym)
(16-7)
(16.8)
(16.9)
(16.10)
(16.11)
(16.12)
(16.13)
(16.14)
(16.15)
452
Wartość bicia promieniowego uzębienia oblicza się jako największą różnicę
wskazań czujnika. Do pomiaru bicia promieniowego uzębienia buduje się przy-
rządy specjalne. Pomiar tej odchyłki jest ponadto możliwy do wykonania na
uniwersalnych przyrządach do kół zębatych i współrzędnościowych maszynach
pomiarowych.
o)
Rys. 16.13. Podziałką przyporu a) definicja, b) pomiar przyrządem ręcznym z kulistą końcówką
oporową, c) pomiar przyrządem ręcznym z płaską końcówką oporową, d) pomiar przyrządem
stałym, e) pomiar mikrometrem do koi zębatych, 1 — walec zasadniczy
(16.17)
W pomiarach wykorzystuje się jedną z
poniższych własności podziałki przyporu.
— jest to najmniejsza odległość między zarysami zębów (rys. 16.13b i c),
— jest to odległość między stycznymi do zarysów zębów (rys. 16.13d).
454
Przyrząd z rys. 16.13d umożliwia pomiar podziałek przyporu odpowiadają-
cych różnym stadiom zazębienia, czyli pozwala na obserwację nierównonrier-
ności podziałki przyporu. Cechy tej nie mają przyrządy z rys. 16.13b i c.
Miejsce, w którym jest mierzona podziałka przyporu, wynika ze średnicy kulki
(rys. 16.13b) lub z odległości między stałą i nastawną końcówką oporową (rys.
16.13c), Niekiedy pomiar podziałki przyporu wykonuje się mikrometrem do kół
zębatych (rys. 16.13e). Ten sposób pomiaru nie jest ściśle zgodny z definicją
podziałki przyporu. Różnica długości pomiarowych Wk przez k+ 1 i k zębów
jest rzeczywiście teoretycznie równa podziałce przyporu, trzeba jednak zau-
ważyć, że pomiar zwykle nie odbywa się na kierunku wspólnej normalnej.
Niekiedy odchyłkę podziałki przyporu przelicza się na odchyłkę średnicy
zasadniczej^- lub odchyłkę kąta zarysu/a. Odpowiednie wzory są następujące:
(16.18)
(16.19)
455
określenia odchyłek zarysu. Za AB przyjmuje się zwykle ok, 8% AE pod warun-
kiem jednak, ze odchyłka zarysu tej części zęba jest skierowana w głąb mate-
riału. Jeżeli nominalny zarys zęba jest ewolwentą (zarys nie jest modyfiko-
wany), to jest on na wykresie reprezentowany przez prostą równoległą do
przesuwu wykresówki i za odchyłkę zarysu przyjmuje się odległość dwóch pros-
tych równoległych obejmujących wykres odchyłki na odcinku BE. W przypadku
modyfikacji zarysu, zarys nominalny na wykresie odchyłki zarysu przedstawia
się jako linię krzywą lub łamaną.
Na wykresie odchyłek zarysu można wyróżnić (rys. 16 15):
— odchyłką całkowitą zarysu Fa (ang total profile deviation),
— odchyłkę kształtu zarysu fja (ang profile form deviation),
— odchyłką położenia zarysu f^a (ang. profile slope deviation).
Rys, 16.15. Odchyłka całkowita zarysu zęba Fa oraz je| składowe f^a \ffa. a) dla
niemodyfikowanego zarysu zęba, b) dla modyfikowanego zarysu zęba, 1 —
nominalny kształt zarysu zęba, 2 — linia średnia
Odchyłka fya może mieć wartość dodatnią (jeśli w miarę przesuwania się
w stronę wierzchołka zęba, zarys średni przemieszcza się na zewnątrz materiału
zęba) lub ujemną (w przypadku przeciwnym).
Odchyłkę///0 można przeliczyć na: —
odchyłkę kąta zarysu ja według wzoru
(16.20)
(16.21)
456
Wiele przyrządów pomiarowych opracowuje wyniki pomiaru odchyłki za-
rysu i jako wynik otrzymuje się wartości odchyłek i/lub wykres.
Rys. 16.16. Odchyłka linii zęba Fporaz składowe/^ i /φ. a) dla memodyfikowanej linii zęba, b)
dla modyfikowanej linii zęba (beczułkowanie); / — nominalny kształt linii zęba, 2 — linia średnia
457
16.2.8. Pomiar grubości zęba — pomiar po łuku
Rys. 16.17. Grubość zęba i tolerancja grubości zęba wzdłuż cięciwy pomiarowe) a) koło
zewnętrzne, b) koło wewnętrzne
(16.23)
(16.24)
( 1 6 25)
(16.26)
458
(16.27)
Zasadę pomiaru grubości zęba przez pomiar długości pomiarowej (ang. tooth
span) pokazano na rysunku 16.18. Z rysunku wynikają zależności do wyprowa-
dzenia wzorów na liczbę zębów k i nominalną wartość długości pomiarowej W^.
(16.28)
(16.29)
(16.30)
459
Nominalną wartość długości pomiarowej Wk przez k zębów oblicza się
z zależności
Rys. 16.19. Długość pomiarowa W& położenie pól tolerancji odchyłek £Ληϊ i a)
dla kół zewnętrznych, b) dla kół wewnętrznych
Rys. 16.20.
Optymalna średnica wałeczka
460
D Mthe ~ cos/76 (16.34)
cos
Nominalny wymiar M^ przez wałeczki lub kulki (ang. dimension over cylinders
or balls) o średnicy D^ oblicza się według wzorów (rys. 16.2la i b):
Rys. 16.21. Wymiar przez wałeczki a) dla parzystej liczby zębów, b) dla nieparzyste) liczby
zębów, c) pole tolerancji dla uzębienia zewnętrznego, d) pole tolerancji dta uzębienia
wewnętrznego
461
16.3. Układ tolerancji przekładni i kół zębatych
Dla odchyłek jednoimiennych boków zębów tzn. odchyłek podziałki, zarysu i li-
nii zęba oraz odchyłek kinematycznych norma [PN-1SO 1328-1] ustala 13 klas
dokładności (0+12, klasa 0 jest klasą najdokładniejszą). Norma ustala granice
przedziałów dla d, mn i b oraz podaje wzory na wartości dopuszczalne
poszczególnych odchyłek dla 5 klasy
dokładności:
(16.38)
(16.43) (16.44)
(16.45)
(16.46)
w którym
(16.47) (16.48)
462
ι** 1,0 h/7+ 6,4 (16.49)
(16.50)
Fr =0924mn+\Jhfd+59t
(16.51)
Granice zakresów (w mm) stanowią następujące liczby:
— dla średnicy podziałowej d: 5, 20, 50, 125, 280, 560, 1000;
— dla modułu m,.: 0,2, 0,5, 0,8, 1- 1,5,2,5,4,6, 10.
Do wzorów wstawia się średnie geometryczne granic zakresów. Do
wyznaczenia odchyłek dopuszczalnych dla pozostałych klas dokładności
obowiązuje współczynnik V2 s co oznacza, że wartość odchyłki dla klasy Q
oblicza się mnożąc wartość odchyłki dla klasy 5 przez 20>5CQ-5).
Literatura
463
PN-ISO 53 2001 Przekładnie zębate walcowe ogólnego przeznaczenia oraz dla przemysłu
ciężkiego — Zarys odniesienia.
PN-ISO 54 2001 Przekładnie zębate walcowe ogólnego przeznaczenia oraz dla przemysłu
ciężkiego — Moduły,
PN-ISO 701.2001 Międzynarodowe oznaczenia kół zębatych — Symbole parametrów
geometrycznych,
PN-ISO 1328-1:2000 Przekładnie zębate walcowe — Dokładność wykonania według ISO
— Odchyłki jednoimiennych boków zębów.
PN-ISO 1328-2:2000 Przekładnie zębate walcowe — Dokładność wykonania według ISO
— Odchyłki promieniowe złożone i odchyłki bicia.
PN-ISO 1340:19% Rysunek techniczny maszynowy — Koła zębate walcowe — Informacje
podawane wytwórcy.
PN-łSO 1341Ί 996 Rysunek techniczny maszynowy — Koła zębate stożkowe o zębach
prostych - Informacje podawane wytwórcy.
ISO/TR 10064-1: 1992 Cylindrical gears — Code of inspection practice — Part I:
Inspection of corresponding flanks of gear teeth (PKN dysponuje oficjalnym tłumaczeniem na
język polski).
ISO/TR 10064-2: 1996 Cylindrical gears — Code of inspection practice — Part 2
Inspection related to radial composite deviations, runout, tooth thickness and backlash {PKN
dysponuje oficjalnym tłumaczeniem na język polski)
ISO/TR 10064-3· 1996 Cylindrical gears — Code of inspection practice — Part 3:
Recommendations relative to gear blanks, shaft centre distance and parallelism of axes.
Metody statystyczne w
zapewnieniu jakości
17
17.1. Wiadomości wstępne
W warunkach ostrej konkurencji firma, aby istnieć, musi ciągle uzyskiwać taką
jakość swoich wyrobów lub usług, by spełniać oczekiwania swoich klientów,
W tym celu każdy pracownik firmy powinien dysponować szczegółową wiedzą
na temat procesu produkcyjnego i umieć korzystać z informacji pochodzących
ze stosowanych metod statystycznych. W zależności od zajmowanego stano-
wiska potrzebny jest różny poziom zrozumienia stosowanych technik.
Tradycyjne podejście do zapewnienia jakości to sprawdzanie gotowych
wyrobów i odrzucanie tych, które nie spełniają postawionych im wymagań.
Takie podejście prowadzi do strat czasu i materiału włożonego w produkt lub
usługę. Nowoczesna, bardziej efektywna jest strategia zapobiegania powsta-
waniu braków. Odpowiedni system aktywnego wpływania na jakość przez
sterowanie procesem można przedstawić jako system z pętlą sprzężenia zwrot-
nego (rys. 17.1).
Rys. 17.1. System sterowania procesem. Pokazano czynniki wpływające na proces ora/
oddziaływanie najego przebieg
465
Elementami systemu sterowania procesem są' sam proces wytwarzania,
informacja o przebiegu tego procesu, oddziaływanie na jego przebieg oraz od-
działywanie na produkt — wyjście procesu.
isfa przebieg procesu mają wpływ ludzie, maszyny i wyposażenie, materiał
wejściowy, metody wytwarzania oraz warunki otoczenia. Jakość wyrobu koń-
cowego zależy od właściwego zaprojektowania i przebiegu procesu Celem sys-
temu sterowania procesem (systemu zarządzania jakością) jest zapewnienie, by
proces przebiegał prawidłowo
Większość informacji o aktualnym przebiegu procesu może być uzyskana
na podstawie analizy informacji na jego wyjściu W szerokim rozumieniu,
wyjście procesu obejmuje nie tylko wyrób, lecz również pewne elementy opisu-
jące stan procesu w sposób pośredni Jeśli informacja o przebiegu procesu jest
na bieżąco gromadzona i poprawnie interpretowana, może posłużyć do podej-
mowania decyzji o ewentualnej konieczności korekcji procesu Jesh jednak
w porę nie podejmie się właściwego działania, zgromadzona informacja przes-
tanie być potrzebna, a wysiłek włożony w jej uzyskanie i opracowanie będzie
stracony.
Ewentualne oddziaływanie na proces ma na celu zapobieganie jego roz-
regulowaniu Oddziaływanie to może mieć bardzo różnorodny charakter Może
to być szkolenie operatora, zmiana materiału wejściowego, regeneracja wypo-
sażenia czy wreszcie zmiana parametrów procesu Wynik wprowadzonego
oddziaływania powinien być monitorowany, zarówno dlatego, by przekonać się
o jego skuteczności- jak i w celu wykorzystania zdobytego doświadczenia w
późniejszych analizach i oddziaływaniach na proces.
Oddziaływanie na wyrób, jako wąsko rozumiane wyjście procesu, jest
działaniem pozwalającym jedynie na wykrycie niezgodności w juz wyprodu-
kowanych wyrobach Wyroby nie spełniające wymagań są oddzielane i od-
rzucane lub —jeśli to możliwe i uzasadnione — naprawiane
Nie ma dwóch dokładnie takich samych produktów. Różnice mogą byc
duże albo wręcz memierzalnie małe. ale zawsze istnieją Aby ograniczyć wystę-
pujący rozrzut, trzeba poznać jego źródła Istotnym elementem jest dokonanie
rozróżnienia między zmiennością przypadkową i nieprzypadkową.
Zmienność przypadkowa pochodzi od wielu źródeł, które mają charakter
losowy i są zawsze wjakimś stopniu obecne. Wyjście procesu zawierającego je-
dynie zmienność przypadkową tworzy w sensie statystycznym obraz stabilny
w czasie.
Przypadki zmienności nieprzypadkowej pochodzą od pewnych czynników,
które występują nieregularnie Stanowią one zagrożenie dla prawidłowego prze-
biegu procesu i dlatego konieczne jest podejmowanie działań w celu ich wye-
liminowania
Każdą maszynę i każdy proces charakteryzuje pewien obraz zmienności
Do ustalenia tego obrazu, a następnie wykorzystania zdobytej wiedzy do ste-
rowania procesem, a przez to dalszej poprawy jego możliwości, można zasto-
sować proste metody statystyczne. Stosowanie metod statystycznych jest jednym
z wymagań systemów zarządzania jakością Główną intencjąjest wykorzystanie
466
możliwości metod statystycznych do ustalania, nadzorowania (weryfikacji
zdolności procesów i cech wyrobu.
Jednym ze sposobów opisu obrazu zmienności jest wykres słupkowy
nazywany histogramem (p. 3.5). Histogram można wykorzystać do bezpośre-
dniego wnioskowania o procesie produkcyjnym (rys. 17.2).
467
współpracujących z komputerem umożliwia zwykle wykonanie histogramu.
W oprogramowaniu MS Excel do budowy histogramu służy funkcja cząstosc,
która wyznacza liczności obserwacji w zadanych przedziałach Na podstawie
histogramu można również postawić hipotezę o postaci rozkładu analizowanej
zmiennej losowej.
Rys. 17.3.
Przykład karty do zbierania informacji
statystycznej o przebiegu procesu
468
dzone dane są porównywane z granicami kontrolnymi, tak więc granice kon-
trolne stanowią podstawę do interpretacji wyników obserwacji na etapie stoso-
wania karty.
Karty kontrolne są w istocie procedurami weryfikacji pewnych hipotez sta-
tystycznych, zapisanymi bez odwoływania się do teorii statystyki mate-
matycznej. Wyjaśniają to następujące przykłady.
Przykład 17.1. O pewnym wymiarze wiadomo, ze fest zmienną losową o rozkładzie nor-
malnym ι znany jest parametr -tego rozkładu Należy zweryfikować hipotezę ze drugi paiametr
tego rozkładu m ma określoną wartość m$ (H-y m - m^) Hipotezą alternatywną jest I T f m Φ mą.
W celu weryfikacji tej hipotezy zdecydowano się na pobranie próbki o hczności η ι wyznaczenie
wartości sredniei χ wymiarów wszystkich wyrobów, które weszły w skład próbki Kryterium
przyjęcia hipotezy stanowi warunek x(J < χ < x^ Wartości x(i i χ muszą być tak dobrane, by
zarówno prawdopodobieństwo przyjęcia hipotezy, gdy jest ona fałszywa, lak i piawdopotto-
bienshvo odrzucenia hipotezy, gd> jest ona prawdziwa, były możliwie male Załóżmy, że prz)je_to
wynosi 0.955.
W tym przypadku
prawdopodobieństwo, ze wartość średnia χ znajciuje się w przedziale {Χώ χΛ wynosi 0,840
469
rażeniu σ/νη . Powoduje to jednak zwiększenie błędu II rodzaju, tzn. prawdopodobieństwa przy-
jęcia hipotezy, gdy jest ona fałszywa. Przy ustalonej liczności próbki zmniejszenie prawdopodo-
bieństwa wystąpienia błędu jednego rodzaju może odbyć się jedynie kosztem zwiększenia prawdo-
podobieństwa wystąpienia błędu drugiego rodzaju.
470
lub ze wzoru wynikającego z rozkładu Poissona
W obu wzorach P' jest wadliwością partii wyrobów, tzn udziałem wyrobów wadliwych w partii
3) Prawdopodobieństwo, ze w próbce znajdują się nie więcej niż 2 wyroby wadliwe, wynosi
więc. P = PO + PX+P2 = 0,99979.
Jeżeli do obliczenia tego prawdopodobieństwa wykorzysta się wzór przybliżony wynikający
z rozkładu dwumianowego, otrzyma się Ρ = 0.82162 + 0,16266 + 0,01486 = 0,99914, natomiast
użycie wzoru wynikającego z rozkładu Poissona daje Ρ = 0,82283 + 0,16045 + 0,01564 =
= 0,99892.
W wyniku podobnych obliczeń dla k = 4, 5, otrzyma się wartości prawdopodobieństwa
przyjęcia hipotezy zerowej, które graficznie przedstawiono na wykresie (rys. 17 5)
Z wykresu widać, ze dopóki liczba wyrobów wadliwych k nie przekroczy -ty = 12, dopóty
prawdopodobieństwo uznania partii za zgodną z wymaganiami jest znaczne Jeśli liczba wyrobów
wadliwych będzie znacznie większa od k$ i wyniesie na przykład k = 40, prawdopodobieństwo
przyjęcia partii będzie |uz bardzo małe
471
Rys. 17.5.
Prawdopodobieństwo
przyjęcia
hipotezy Ho w funkc[i
rzeczywistej liczby
wyrobów wadliwych
w partii
472
4, Karty kontrolne stanowią wspólny język do komunikacji na temat po
prawności przebiegu procesu między dwiema czy trzema zmianami
realizującymi proces, między linią produkcyjną (operator, ustawiacz) i służbami
wspomagającymi (konserwacja, sprawdzanie materiału, kontrola jakości), mię
dzy różnymi stanowiskami procesu, między dostawcą i użytkownikiem oraz
między działem produkcji lub montażu i działem konstrukcyjnym.
5. Karty kontrolne przez wyróżnienie przypadków zmienności nieprzy
padkowej są dobrym wskaźnikiem, czy problem nadaje się do lokalnej korekcji.
czy wymaga poważniejszych działań technicznych lub organizacyjnych. Mini
malizuje to nadmierne koszty źle poprowadzonych wysiłków skierowanych na
rozwiązanie problemu.
W celu e f e k t y w n e g o w p r o w a d z e n i a s t e r o w a n i a
p r o c e s e m konieczne jest wykonanie kilku przygotowawczych kroków
organizacyjnych. Są to m.in.:
{.Przygotowanie otoczenia do wprowadzanych działań. Żadna metoda
statystyczna nie będzie skuteczna, dopóki kierownictwo nie stworzy właściwej
atmosfery pracy. Należy przeszkolić załogę. Praca ludzi musi być oceniana na
podstawie jakości, a nie tylko ilości. Należy zapewnić środki na poprawę
warunków pracy.
2. Zdefiniowanie procesu. Proces musi być zrozumiały w znaczeniu jego
związku z innymi operacjami zarówno wcześniejszymi, jak i późniejszymi
oraz w znaczeniu poszczególnych elementów procesu (ludzie, wyposażenie,
materiał, metody, otoczenie) i ich wpływu na każdym etapie procesu. W uwi
docznieniu tych powiązań mogą być pomocne różne techniki oraz
doświadczenie ludzi znających różne aspekty procesu.
3. Określenie właściwych charakterystyk procesu. Uwaga powinna być
skupiona na tych charakterystykach, które są najbardziej obiecujące z punktu
widzenia poprawienia procesu.
4. Zminimalizowanie niepotrzebnego rozrzutu. Niepotrzebne zewnętrzne
źródła rozrzutu powinny zostać ograniczone jeszcze przed rozpoczęciem
wdrażania statystycznego sterowania jakością.
Rozróżnia się dwa typy kart kontrolnych: karty kontrolne przy liczbowej
ocenie właściwości i karty kontrolne przy alternatywnej ocenie właściwości.
Każdąz nich stosuje się w dwóch rożnych sytuacjach: — bez zadanych
wartości normatywnych. —- z zadanymi wartościami normatywnymi.
Karty kontrolne bez zadanych wartości normatywnych mają na celu
stwierdzenie, czy obserwowane wartości wykreślanych właściwości, takich jak
X, R czy jakakolwiek inna statystyka, różnią się między sobą o wartość
większą niż ta, która powinna być przypisana jedynie czynnikowi losowemu.
Karty, bazując całkowicie na danych zebranych z próbek, są używane do
wykrywania zmienności wywoływanych przez czynniki inne niż losowe.
473
Karty kontrolne uwzględniające zadane wartości normatywne mają na celu
zidentyfikowanie, czy obserwowane wartości X itp. dla poszczególnych
podzbiorów o η obserwacjach każdy, różnią się od odpowiednich wartości
normatywnych Xo (albo μο) itp-, o wartości większe niż oczekiwane, przy
występowaniu jedynie przyczyn losowych. Różnicą pomiędzy kartami
z zadanymi normatywami oraz tymi bez zadanych normatywów jest dodatkowe
wymaganie odnoszące się do położenia środka oraz zmienności procesu.
Wymienione wartości mogą bazować albo na doświadczeniu zdobytym podczas
stosowania kart kontrolnych bez wstępnych informacji albo na określonych
wartościach normatywnych. Mogą się one także opierać na przesłankach
ekonomicznych, ustalonych po rozważeniu zapotrzebowania na usługę,
i kosztów produkcji lub też mogą być wartościami nominalnymi określonymi
przez specyfikacje wyrobu.
Jest pożądane, aby wartości te były określane na podstawie analizy danych
wstępnych, przy czym zakłada się, że są one typowe dla danych, które otrzyma
się w przyszłości. Dla efektywnego funkcjonowania kart kontrolnych zaleca się
również aby dane normatywne były zgodne z naturalną zmiennością procesu.
Karty kontrolne bazujące na takich wartościach normatywnych są używane
w szczególności podczas produkcji, w celu sterowania procesami oraz utrzy-
mania jednorodności wyrobu na żądanym poziomie.
Norma PN-ISO 8258:1996 rozróżnia następujące typy kart kontrolnych:
1. Karty kontrolne przy liczbowej ocenie właściwości:
— karta wartości średniej X i rozstępu R lub odchylenia standardowego J,
— karta pojedynczych obserwacji Xi ruchomego rozstępu R,
— karta mediany Me i rozstępu R.
2. Karty kontrolne przy alternatywnej ocenie właściwości:
— karta frakcji jednostek niezgodnych/? i liczby jednostek niezgodnych np\
— karta liczby niezgodności c i liczby niezgodności na jednostkę u.
474
zmierzają do rozkładu normalnego, nawet kiedy nie czynią tego indywidualne
obserwacje; uzasadnione jest więc założenie normalności w przypadku kart X,
nawet dla tak małych liczności próbek, jak 4 czy 5 stosowanych do oceny
sterowania. Gdy ma się do czynienia z obserwacjami indywidualnymi,
uzyskanymi w celu przeprowadzenia analizy zdolności procesu, ważna jest
prawdziwa postać rozkładu. Dobrze jest okresowo sprawdzać czy wspomniane
założenia są nadal spełnione, szczególnie dla upewnienia się, ze rozpatrywane są
tylko dane z jednej populacji. Zalecane jest zwrócenie uwagi, że rozkład
rozstępów i odchyleń standardowych nie jest normalny, chociaż zakłada się
normalność przy estymowaniu stałych do obliczania granic kontrolnych.
Założeń ie to jest satysfakcj onuj ące w przypadku empirycznych procedur
decyzyjnych.
475
— karty pojedynczych obserwacji nie są tak czułe na zmiany procesu, jak karty
X \R,
— należy zachować ostrożność w interpretowaniu kart pojedynczych obser
wacji, jeśli rozkład wartości z procesu nie jest normalny,
— karty pojedynczych obserwacji nie pozwalają na wyodrębnienie pow
tarzalności w przebiegu kolejnych odcinków procesu i dlatego w pewnych
zastosowaniach lepiej jest używać konwencjonalnych kart X i R z małymi
licznościami podzbiorów {od 2 do 4), nawet jeśli to wymaga dłuższego
okresu między zbieraniem danych do kolejnych podzbiorów.
(17.14)
gdzie: Β i A —
odpowiednio górna i dolna granica specyfikacji (tolerancji), m i s — odpowiednio
wartość średnia i odchylenie standardowe empiryczne wyników badania,
Dane do wyznaczenia wskaźników zdolności maszyn otrzymuje się w wy-
niku wykonania i zmierzenia wyrobów przy zachowaniu stałości warunków
pracy (ten sam operator, krótki okres badań w celu uniknięcia wpływu zuży-
476
wania się narzędzi itp.). Wskaźnik Cm charakteryzuje naturalne możliwości ma-
szyny (rozrzut), Cmk zaś zarówno rozrzut, jak i prawidłowość ustawienia
maszyny w stosunku do środka pola tolerancji. Większe wartości wskaźników
odpowiadają lepszej zdolności maszyny, Minimalna wartość wskaźników
zdolności maszyny wynosi 1,33 (w przemyśle samochodowym— 1,67).
Dane do wyznaczenia wskaźników zdolności procesu otrzymuje się podo-
bnie jak dane do wyznaczenia wskaźnika zdolności maszyny, przy czym uwz-
ględnia się wszystkie możliwe oddziaływania na proces (różne urządzenia
wykonujące ten sam wyrób, badania rozciągnięte w czasie w celu wykrycia
różnych wpływów). Wskaźnik Cp charakteryzuje naturalne możliwości procesu
(rozrzut), -C^zaś zarówno rozrzut, jak i prawidłowość ustawienia procesu w sto-
sunku do środka pola tolerancji. Większe wartości wskaźników odpowiadają
lepszej zdolności procesu. Minimalna wartość wskaźników zdolności procesu
wynosi 1,33 (w przemyśle samochodowym — 1,67).
477
Literatura
478
PN-ISO 3494:1994 Statystyczną interpretacja danych — Moc testów -dla wartości średnich
i wariancji.
PN-ISO 3534-1:2002 Statystyka — Terminologia i symbole — Część 1: Ogólne termin>
z zakresu rachunku prawdopodobieństwa i statystyki.
PN-ISO 3534-2: 1994: Statystyka. Statystyczne sterowanie jakością. Terminologia i sym-
bole.
PN-ISO 3951:1997 Kontrola wyrywkowa procentu jednostek niezgodnych na podstawie
liczbowej oceny właściwości; procedury i nomogramy.
PN-ISO 5479:2002 Statystyczna interpretacja danych — Testy odstępstw od rozkładu
normalnego.
PN-ISO 7873:2001 Karty kontrolne wartości średniej z wewnętrznymi granicami
kontrolnymi.
PN-ISO 7966:2001 Karty akceptacji procesu.
PN-ISO 8258+AC1:1996 Karty kontrolne Shewharta.
PN-ISO 8595:1997 Statystyczna interpretacja danych — Estymacja mediany.
PN-EN ISO 9000:2001 Systemy zarządzania jakością— Podstawy i terminologia.
PN-EN ISO 9001:2001 Systemy zarządzania jakością— Wymagania.
PN-EN ISO 9004:2001 Systemy zarządzania jakością — Wytyczne doskonalenia
funkcjonowania.
PN-ISO 11453:2002 Statystyczna interpretacja danych — Testy ΐ przedziały ufności
dotyczące frakcji.
Skorowidz
481
skojarzony 271 minimalnej laserowy 183,381
strefy 272 przylegający 272 interpolacja
średni 272 symetrii 278 dynamiczna 121
średni 322 teoretyczny 278 z wykorzystaniem faz pomocniczych 111
estymator interpolatory 119
odchylenia standardowego 32
wartości oczekiwanej 32 Jednostka miary 18
estymatory parametrów 37 etalon jednostki
96 pochodne 18
podstawowe 18
Falistość powierzchni 360
filtr Kalibracja 196
analogowy 2RC 383 karta
cyfrowy 383 kontrolna 468 bez zadanych wartości
Gaussa 383 normatywnych 473 frakcji
profilu 362 jednostek niezgodnych 474 liczby
filtrowanie 370 jednostek niezgodnych 474 liczby
fotodetektor 184 niezgodności 474 mediany 476
pojedynczych obserwacji 475 wartości
Generatory liczb losowych 39 średniej i rozstępu 475 z zadanymi
wartościami normatywnymi 473 kąt
geometria analityczna 47 gęstość
boku 409
prawdopodobieństwa 28
gwintu 409
głębokościomierze
pochylenia linii zęba 445
mikrometryczne 236
zarysu 445 kątomierz
suwmiarko we 235
optyczny 255 poziomnicowy 256 uniwersalny
głębokość 255 kątowniki 136 kąty graniczne 248
najniższego wgłębienia profilu 363 kierunek pochylenia linii zęba 445 klasa
rdzenia chropowatości 371 dokładności 229 kompensacja błędów
wgłębienia profilu 362 systematycznych 66 kontrola 197 korekcja
głowica błędów systematycznych 66
bezstykowa 288 promienia końcówki trzpienia
goniometryczna 69, 172 pomiarowego 272 krok cyfrowy 50
mikrometryczna 141 krotność gwintu 403 kryterium
podwójnego obrazu 174 dopasowania 44
podziałowa 256 najmniejszej sumy kwadratów 41
pomiarowa 285 krzywa
rewolwerowa 171 udziału materiałowego 366
stykowa impulsowa 285 linearyzacja 371
stykowa mierząca 286 operacyjno-charakterystyczna 472
goniometr 260 granica gęstości amplitudowej 366 kulki
maksimum materiału 229 pomiarowe 129
minimum materiału 229 kwalifikacja układu trzpieni pomiarowych 292
specyfikacji 222 kwantowanie 50 kwantyl (rzędup)3\
gwint
stożkowy 430
walcowy 403
Interferometr 183
Kostersa 26
482
Laboratorium pomiarowe 197 metody
laser elektryczne 398
dwuczęstotliwościowy 184 pneumatyczne 398
impulsowy 25 metr 21
jednoczęstotliwościowy 183 archiwalny 21
tracker 316 liczba zębów międzynarodowy prototyp 22 metrologia
445 likwidacja źródła błędu 55 wielkości geometrycznych 20
linia Międzynarodowy Układ Jednostek Miar 18
średnia profilu mikrokator 150 mikrometry
chropowatości 362 wewnętrzne 141
falistości 362 zewnętrzne 141
pierwotnego 362 mikroskop
zerowa 228 odczytowy pryzmatyczny 107
liniał ze spiralą Archimedesa 105
jednokrawędziowy 338
podwójny
krawędziowy 338
Linnika395
powierzchniowy 341
Schmaltza 395
sinusowy 257
trójkrawędziowy 338 pomiarowy 69, 171, 242, 258
luneta autokolimacyjna 259 uniwersalny 75, 177,242
warsztatowy duży
Łożyskowanie aerostatyczne 284 176, 242 mały 175
model
Maksymalna głębokość matematyczny 84
nierówności profilu 369 motywów wirtualny 307
falistości 369 maszyny pomiarowe moduł normalny 445
161 optyczne 178 modyfikacja
współrzędnościowe 270, 309 końców zęba 446
kolumnowe 284 wzdłużna 446
mostowe 283 zarysu zęba 446 momenty
portalowe 283 zmiennej losowej 31 motyw
wspornikowe 282 367
wysięgnikowe 283
matematyczna korekcja dokładności 301 Nachylenie prostej regresji w obszarze
metoda plateau 373
białego światła 394 wgłębień 373
cienia 169 nadzorowanie
drgającego obiektywu 393 obrabiarek 213
kontrastu 169 przyrządów pomiarowych 196
najmniejszych kwadratów 41 największa wysokość profilu 363
ogniskowania optycznego 170 nasadka czujnikowa 173 niepewność
pomiarowa pomiaru 53, 74, 222, 307
bezpośrednia 218 metoda A 78
bezpośredniego porównania 219 metoda Β 78
podstawowa 220 rozszerzona 78
pośrednia 218 standardowa 78
różnicowa 219 złożona 78, 420
różnicowa koincydencyjna 219 względna 74 nierównomierność
różnicowa wychyleniowa 219 pomiarowej odległości osi
różnicowa zerowa 219 koła 453
wychyleniowa 219 na podziałce 453
pomiaru czasu 169 niezgodność 197
rozpraszania światła
triangulacyjna 170
483
noniusz 103 falistości 362
moduł 104 nożyki metody motywów 367
pomiarowe 173 mieszane 365
odległościowe 365
Obszar cząstkowy 324 odstępów 365
odchylenie pionowe 363
standardowe 31 powierzchni o warstwowych
eksperymentalne 74 właściwościach funkcjonalnych 370
odchyłka poziome 365
bicia promieniowego uzębienia 451 profilu 362
całkowita linii zęba 457 parametryzacja elementów
całkowita zarysu 456 geometrycznych 273
długości pomiarowej 459 pasmo przenoszenia 374
dolna 228 pasowanie 229 pełzanie
górna 228 101 plany badań 470
graniczna 228 płaszczyzna 273
grubości zęba 459 średnia 276 płyta
kinematyczna koła 448 na pomiarowa 341 płytka
podziałce 448 interferencyjna 341 płytki
kształtu linii kątowe 134
zęba 457 przywieralne 135
zarysu 456 wzorcowe 124
okrągłości 346 komplety 125
płaskości 198 klasy 127 stosy
podstawowa 229 127
podziałki 449 pobudliwość przyrządu pomiarowego 99
położenia linii podstawowa zasada tolerowania 232
zęba 457 podziałka 98, 407 pole tolerancji 229
zarysu 456 niezgodności 222
prostoliniowości 184,339 normalne wałków i otworów 231
prostopadłości 189 położenie 231
równoległości 198 zgodności 222
sumaryczna k podziałek 449 pomiar 17 pomiary
sumaryczna podziałek koła 449 interferencyjne 396
walcowości 351 optyczne metodą przekroju świetlnego 395
wymiaru przez wałeczki 461 profilometryczne stereometrii
zaobserwowana 228 powierzchni 392 wiązką
odchyłki wymiarów nietolerowanych 232 zogniskowaną 393 poprawka 54, 99
odcinek na odkształcenie sprężyste
elementarny 362
wałeczków i gwintu 417
odwzorowania 362
na skręcenie wałeczków
pomiarowy 363
w bruzdach gwintu 417
odległość 227
poprawność 99
dobrego widzenia 68
powierzchnia
okrąg
wgłębień 371
minimalnej strefy 278
wzniesień 371
przylegający 272, 322
powtarzalność 99
średni 276, 322
poziomnica
oprogramowanie pomiarowe 291 optimetr
projekcyjny 151 optoelektroniczne przyrządy elektroniczna 261
pomiarowe 178 ostrze odwzorowujące 379 koincydencyjna 261
oznaczenie chropowatości 374 liniałowa 260
Parametry
amplitudowe 363
chropowatości 362
484
ramowa 260 Radian 27
prążki reflektor
interferencyjne 183, 396 ruchomy 184
motre'a 116 stały 184
prędkość światła 24 rejestrator 377
profil rozdzielczość 98
całkowity 361 rozkład
chropowatości 361 antymodalny U 29, 79
falistości 361 antymodalny V 29, 79
odniesienia 361 beta 29
odwzorowany 361 chi-kwadrat 35
powierzchni 361 jednostajny 29, 79
profilometr 385 Maxwella 29
programowanie normalny 29
off-line 294 standaryzowany 32
parametryczne 295 prawdopodobieństwa 28
przebiegu pomiarowego 293 parametry 31
uczące 293 trójkątny 29, 79
zorientowane na swobodny t- Studenta 35
wybór charakterystyk 296 Weibulla30
projektor 180 wykładniczy 30
promieniowanie monochromatyczne 185 rozrzut
prosta 273 długości 200
próbkowanie 50, 203 wskazań 100
próg pobudliwości 99
pryzma Sfera 273
dokładna 390 siatka rozkładu prawdopodobieństwa 36
wielościenna 134 normalnego 372 skaning
pryzmat 287 specyfikacja 197 spirala
dzielący 184 Archimedesa 105 sposób trój
Wollastona 185 wałeczkowy 415 spójność
przedziały pomiarowa 197 sprawdzanie
niepewności 222 197
ufności 34 czujników 199
przełożenie 99 płytek wzorcowych 200
przetwornik 145 przyrządów pomiarowych
analogowo-cyfrowy 50 mikrometrycznych 198
fotooptyczny 380 suwmiarkowych 198
indukcyjny 380 współrzędnościowych maszyn
interferencyjny 380 pomiarowych 201
piezoelektryczny 380 sprawdziany 96, 245
pomiarowy 380 położenia osi 356
przyrząd pomiarowy 95 prostoliniowości osi 356
charakterystyka sterowanie procesem 465
dynamiczna 97 stopień
metrologiczna 97 abstrakcji 227
pomocniczy 96 konkretyzacji 227
przyrządy strategia
mikrometryczne 140, 235 pomiaru 296
optoelektroniczne 167 próbkowania 298
suwmiarkowe 138, 235 strefa martwa 100 stół
przywieralność płytek wzorcowych 200 obrotowy 207, 290
punkt 273 punkty podziałowy 256
Airy'ego 126 pomiarowy 284
Bessela 22
485
struktura geometryczna powierzchni 360 nachylenia 328
kierunkowość 374 normalna 229
suwmiarka 139 okrągłości 325
symulacja 38 system płaskości 324
inspekcyjny 477 położenia 321
stacjonarny 477 pozycji 330
zintegrowany 477 prostoliniowości 324
szczelinomierz 129 prostopadłości 326
szerokość równoległości 326
elementu profilu 362 symetrii 329
uzębienia 445 szybkie walcowości 325
przekształcenie Fouriera 47 współosiowości 328
współśrodkowości 328
ŚHzgacz zależna 333
dwupłozowy 378 tolerancje geometryczne ogólne 333
jednopłozowy 379 tolerowanie
średni kwadratowy wznios profilu 365 dwustronne 222
średnia jednostronne 222
arytmetyczna 53 liczbowe 229
rzędnych profilu 364 symbolowe 231
długość motywów symetryczne 229
chropowatości 368 wektorowe 234
falistości 369 za pomocą wymiarów granicznych 229
głębokość motywów
chropowatości 368 Udział materiałowy 371
falistości 369 profilu 365
ugięcie pręta 63
kwadratowa rzędnych profilu 364
układ
szerokość elementów profilu 365
odczytowy z urządzeniem
wysokość elementów profilu 363
projekcyjnym 106
średnica
sterowania 281
nominalna wałeczków 417
tolerancji i pasowań 227 gwintów
optymalna wałeczka 417
metrycznych walcowych 405 stożków
podziałowa 412, 431 249 wałków i otworów 227
wewnętrzna 403 tolerancji kątów 248
zewnętrzna 403 kół zębatych 462
znamionowa 404 trzpieni pomiarowych 290
średnicówka współrzędnych przedmiotu 292
czujnikowa 147, 239 układy pomiarowe długości
mikrometryczna 141, 235 bezwzględne 122
śruba mikrometryczna 143 induktosynowe 118
inkrementalne 108
Technika pomiarowa interferencyjne ze wzorcami
bezstykowa 221 z siatką fazową 115
stykowa 221 kodowe 122
stykowo-optyczna 221 magnetyczne 118
teodolit 316 teoria optoelektroniczne 109
aproksymacji 43 tolerancja pojemnościowe 118
229 układy pomiarowe kąta
bicia 331 inkrementalne 132
geometryczna 321 kodowe 134
kąta 248 ultraoptimetr 152
kierunku 321 urządzenie
kształtu 321 optyczne do wytwarzania prążków
wyznaczonego zarysu 325, 328, 330 interefencyjnych 174
wyznaczonej powierzchni 326, 328 wskazujące 145
486
Wada 197 swobodny 231 tolerowany 228
walec 273 wewnętrzny 227 zaobserwowany
wałeczki pomiarowe 128 228 zewnętrzny 227
wariancja 31 wymiarowanie wektorowe 234
wartość wynik pomiaru 52, 93, 222, 293
poprawna 52 poprawiony 53 surowy 53
prawdziwa wielkości mierzonej 52 wysokość wzniesienia profilu 362
umownie prawdziwa 52 wysokościomierz 138, 164
wielkości 18 względny udział materiałowy 366,
warunki na przecięciu plateau i wgłębień 373
graniczne 97 wzmacniacz 377 wzniesienie profilu 362
odniesienia 97 wzorce
warunki CCD liniowe 314 CCD powierzchniowe
temperaturowe 86 chropowatości powierzchni 389 do
użytkowania 97 pomiaru współrzędnych profilu 389 do
wgłębienie profilu 362 sprawdzania stanu wierzchołka ostrza
wielkość 17 387 falowe 130 głębokości 387 kąta
określona 18 końcowe 134 kreskowe 131
pochodna 19 kodowe 122 końcowe 124
podstawowa 19 końcowo-kreskowe 103 kreskowe
w znaczeniu ogólnym 18 103 miar długości 102 nastawcze
wpływająca 54 130 odstępów nierówności 388
właściwość metrologiczna przyrządu stopniowe długości 204
pomiarowego 97 wskazanie 53 wskaźnik wzorcowanie 196 wzorzec
zdolności materialny wymiaru 210
maszyny 476 miary 96 odniesienia 197
procesu 476 płytowy
współczynnik z kulami 206, 211,304 z
asymetrii 32 otworami 206 prętowy
profilu 364
kinematyczny 206 z
liniowej rozszerzalności cieplnej 59
kulami 206 z
przesunięcia zarysu odniesienia 445
otworami 206
rozszerzenia 80
prostoliniowości 338
skrócenia głowy zęba 446
spłaszczenia 32
Zakres
profilu 364
zmienności 32 współrzędnościowa podziałki 98
maszyna pomiarowa pomiarowy 97
kolumnowa 284 zarys
model wirtualny 307 gwintu 404
mostowa 283 odniesienia 445
portalowa 283
wspornikowa 282
wysięgnikowa 283
wymiar
graniczny dolny
228 górny 228
maksimum materiału 229
mieszany 227
minimum materiału 229
nietolerowany 231
nominalny 228
normalny 228
pośredni 227
rzeczywisty 227
487
zasada zdolność procesu 476
16% 374 własna 476
Abbego 65 zespół
maksimum 374 wielotrzpieniowy 209
niezależności 232 głowicy pomiarowej 209
pomiaru 220 obrotowo-uchylny 209
Taylora 232 zjawisko
tolerowania w głąb Dopplera 184
materiału 229 Zeemana 184
podstawowa 232 zmienna losowa 28
tradycyjna 232 zmienność
zależności 232 całkowita procesu 476
zbiór nieprzypadkowa 466
danych odniesienia 306 przypadkowa 466
parametrów odniesienia 306 własna procesu 476
zdolność zredukowana
całkowita 476 głębokość wgłębień 371
maszyny 476 wysokość wzniesień 371