(12) Microscopia de Alta Resolucin

Gonzales Lorenzo Carlos David

Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniera E-mail: lorentz19_3abn@hotmail.com

Si bien con la difraccin de electrones en un cristal se puede obtener informacin de la estructura cristalina, sera an mas importante observar directamente la forma del cristal. Gracias a los avances tecnolgicos en la fabricacin de microscopios electrnicos de transmisin (TEM) esto ya es posible. La tcnica se llama microscopa de alta resolucin por microscopio electrnico de transmisin (HRTEM). Palabras Claves: Microscopa de Alta Resolucin (HRTEM).

Even though with the diffraction of electrons in a crystal information of the crystalline structure can be obtained, it would be still more important observing the crystal's form directly. Thanks to the technological advances in the manufacturing of electron microscopes of transmission (TEM ) this right now is possible. The technique calls high-resolution microscopy for electron microscope of transmission itself ( HRTEM ). Key words: High-Resolution Microscopy (HRTEM)

1. Introduccin La microscopia electrnica de transmisin de alta resolucin (HRTEM) es un modo de la proyeccin de imagen del microscopio electrnico de transmisin (TEM) que permite la proyeccin de la imagen de la estructura cristalogrfica de una muestra en una escala atmica. Debido a su alta resolucin, es una herramienta inestimable para estudiar caractersticas de la nanoescale del material cristalino tales como semiconductores y metales. Actualmente, la resolucin ms alta observada es 0.8 con los microscopios tales como el OAM en NCEM. La investigacin y desarrollo en curso tal como esfuerzos en el marco del EQUIPO pronto empujar a la resolucin de HRTEM a 0.5 . En estas pequeas escalas, los tomos individuales y los defectos cristalinos pueden ser reflejados. En comparacin con microscopia convencional, HRTEM no utiliza las amplitudes, es decir absorcin por la muestra, para la formacin de la imagen. En su lugar, el contraste se presenta de la interferencia en el plano de imagen de la onda de electrn con s mismo. Debido a nuestra inhabilidad de registrar la fase de stos , medimos generalmente la amplitud resultante de esta interferencia, no obstante la fase de la onda del electrn todava lleva la informacin sobre la muestra y genera contraste en la imagen, as las fases conocidas ponen en

contraste la proyeccin de la imagen. Esto, no obstante es verdad solamente si es la muestra es lo bastantemente delgada de modo que las variaciones de la amplitud afecten solamente levemente a la imagen (la aproximacin dbil supuesta del objeto de la fase, WPOA). La interaccin de la onda de electrn con la estructura cristalogrfica de la muestra no se entiende aun, pero una idea cualitativa de la interaccin puede ser obtenida fcilmente. Cada electrn de la proyeccin de imagen obra recprocamente independientemente con la muestra. Sobre la muestra, la onda de un electrn se puede aproximar como incidente de la onda plana en la superficie de la muestra. Mientras que penetra la muestra, es atrada por los potenciales atmicos positivos de los corazones del tomo, y los canales a lo largo de las columnas de los tomos de la red cristalina (modelo del estado). Al mismo tiempo, la interaccin entre la onda de electrn en diversas columnas del tomo lleva a la difraccin de Bragg. La descripcin exacta de la dispersin dinmica de electrones en una muestra que no satisface el WPOA (casi todas las muestras verdaderas) todava sigue siendo el santo grial de microscopia electrnica. Sin embargo, la fsica de la dispersin de electrn y la formacin de la imagen del microscopio electrnico son suficientemente bien

sabidos para permitir la simulacin exacta de las imgenes del microscopio electrnico.

Red

Base

= Celda Unidad

Fig.2 Slido Cristalino

Geomtricamente una celda unitaria puede ser representada por un paraleleppedo. La geometra de la celda unitaria es descrita en trminos de seis parmetros: La longitud de las tres aristas del paraleleppedo (a, b y c) y los tres ngulos entre las aristas ( , y ). Esos parmetros son llamados parmetros de red. Tabla 1

Sistema Cristalino
Figura1. a) Gemetra Optica para un HRTEM; b) La fase de las ondas centrales y dispersadas bajo la conditiond de obtencin de imgenes internas del cuerpo por medio tecnolgicos formando una imagen de estructura del crista 1.1 Estructura Cristalina La primera clasificacin que se puede hacer de materiales en estado slido, es en funcin de cmo es la disposicin de los tomos o iones que lo forman. Si estos tomos o iones se colocan ordenadamente siguiendo un modelo que se repite en las tres direcciones del espacio, se dice que el material es cristalino. Si los tomos o iones se disponen de un modo totalmente aleatorio, sin seguir ningn tipo de secuencia de ordenamiento, estaramos ante un material no cristalino amorfo. Los materiales slidos se pueden clasificar de acuerdo a la regularidad con que los tomos o iones estn ordenados uno con respecto al otro. Un material cristalino es aquel en que los tomos se encuentran situados en un arreglo repetitivo o peridico dentro de grandes distancias atmicas; tal como las estructuras solidificadas, los tomos se posicionarn de una manera repetitiva tridimensional en el cual cada tomo est enlazado al tomo vecino ms cercano. Todos los metales, muchos cermicos y algunos polmeros forman estructuras cristalinas bajo condiciones normales de solidificacin.

Ejes

Angulos entre ejes

Cbico Tetragonal Ortorrmbico Hexagonal Trigonal (o Rombodrica) Monoclnico

a = b = c = = = 90; a = b c = = = 90 a b c = = = 90 a=bc = = 90; = 120

a = b = c = = 90 abc = = 90; 90

Triclnico

abc

(Todos distintos de 90)

Figura 5. Direccin para la micrografa de CdTe.

Fig.3 Redes de Bravais

2. Procedimiento Experimental Se tienen las micrografas a las cuales les mediremos la distancia entre punto para saber la distancia interplanar de cada familia de redes Para poder orientarnos se tiene una reglita que nos ayudara a tener una referencia de cual es la separacin entre estos puntos, para esto se uso el programa de Photoshop se midi el tamao de la regla dad en el borde inferior derecho y se hizo una equivalencia con el numero de pxeles

Figura 6. PDf 190193 usado para el CdTe

Figura 7. Direccin para la micrografa de Ti-Si.

a) b)

Figura 4. a) Nanocristal de Ti-Si. b) Nanocristal de CdTe.

3. Conclusiones Se llegan a hallar algunos posibles PDFs que coincidan los valores de sus distancias interplanares (h k l) Es posible encontrar los parmetros que caracterizan a una celda unitaria (parmetro de celda, ndices de miller, distancias interplanares) por medio de una imagen de alta resolucin (HRTEM). Donde estos valores no son absolutos, ya que dependen del estado en el que se encuentre la muestra (si est deformada o presenta un cambio brusco de temperatura). 4. Referencias Figura 8. PDf 170424 usado para el CdTe
[1] MIGUEL YACAMN, JOS REYES. Microscopa Electrnica: una visin del microcosmos. Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologa (1995).

[2] http://en.wikipedia.org/wiki/HRTEM