Cours Metrologie

Institut Suprieur des Sciences Appliques et de Technologie de Sousse
1re Anne DUT Gnie Mcanique
Universit de Sousse
Mtrologie et Appareils de mesure

Niveau: 1re anne dut gnie mcanique
Enseignant : Frija Mounir

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Mtrologie & Appareils de Mesure
MTROLOGIE ET APPAREILS DE MESURE
Matire : METROLOGIE ET APPAREILS DE MESURE Spcialit : 1re Anne GENIE MECANIQUE Enseignant : FRIJA MOUNIR Grade : ASSISTANT
Objectifs
Fournir aux tudiants(es) des techniques propres l'valuation et l'identification des besoins mtrologiques. Fournir aux tudiants(es) les outils pour valuer la variabilit des mesures en fonction des exigences. Initier les tudiants(es) la mtrologie dimensionnelle. Les tudiants(es) auront l'occasion de mettre en pratique la thorie vue au cours dans le cadre d'exercices et des travaux pratiques.
Objectifs pdagogiques
o Comprendre et identifier les sources d'erreurs et dincertitude dans le phnomne du mesurage o Le cours portera une attention spciale sur la mtrologie dimensionnelle et gomtrique o Apprendre slectionner, utiliser et grer les appareils de mesure propres une vrification donne. o Connatre les techniques existantes permettant d'effectuer une tude statistique de reproductibilit et de rptabilit pour un processus de mesure donn.
o Comprendre les principes fondamentaux en talonnage des instruments de mesure. o Comprendre et interprter le tolrablement dimensionnel et gomtrique d'une composante mcanique afin de planifier son inspection de manire approprie. o Rdaction dun rapport de mesure. o Des applications tires dtudes de cas industriels (Applications et exemples pratiques tirs des industries daronautique, de lautomobile, du transport et des produits rcratifs) o La rsolution d'exercices et des problmes.
I. Travaux dirigs : Deux (2) devoirs et des travaux dirigs permettront aux
tudiantes et aux tudiants dassimiler les notions vues au cours.
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II. Travaux pratique :
Les travaux pratiques sont constitus de trois manipulations portant sur les techniques dinspection (appareils conventionnels).
III. Programme du cours

CHAPITRE I : Mesurage mcanique : Terminologie et dfinitions - Introduction la mtrologie : Mesurage, grandeur mesurable, mthodes de mesures (direct et indirect), units de mesures en mesurage mcanique, systme de mesure, procds de mesure. - Contrle dimensionnel (par attribut ou par mesurage) : Application des cartes de contrle et analyse statistique des donnes en utilisant lapproche matrise statistique des processus (MSP) - talonnages des instruments de mtrologie : procdures de mise en uvre (rapport dtalonnage /constat de vrification) - La gestion des moyens et des laboratoires de mesure. - Gestion d'un parc d'appareils de mesure et mise en place de la fonction mtrologique dans l'entreprise CHAPITRE II : Caractristiques dun instrument de mesure - Types et caractristiques des appareils de mesure. - Incertitudes dun mesurage (les diffrentes causes d'erreurs) - Caractristiques dun instrument de mesure : Etendue de mesure, capacit, rsolution, prcision, sensibilit, fidlit, justesse, classe dexactitude. - Choix des appareils de mesure - Techniques de mesure tridimensionnelles: les machines mesurer tridimensionnelles (MMT) : principe, avantages et limitations CHAPITRE III : Estimation des incertitudes - Introduction aux incertitudes de mesure : types derreurs et classification (erreurs alatoires et erreurs systmatiques) - Les modes d'valuation des incertitudes de mesure - Loi de composition des incertitudes de mesure (Normale, Uniforme, Arcsin) - Dtermination et calcul de diffrents types derreurs (alatoire et systmatiques) CHAPITRE IV : Dimension et tolrances gomtriques - les symboles et les rgles fondamentales (enveloppe, cumul, modificateurs, rfrentiels) - les tolrances de forme, les systmes de rfrence, les tolrances d'orientation et de localisation et les tolrances dalignement circulaire, battements).
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CHAPITRE I : MESURAGE MECANIQUE

TERMINOLOGIE ET DEFINITIONS
Introduction la mtrologie
1- METROLOGIE : Cest le domaine des connaissances relatives au mesurage. Il englobe tous les aspects aussi bien thoriques que pratiques quelque soit la nature de la science et de la technologie dveloppe. 2- MESURAGE : Cest lensemble des oprations permettant dattribuer une valeur la grandeur mesur. 3- GRANDEUR MESURABLE : Cest une caractristique dun phnomne, dun corps ou dune substance, qui est susceptible dtre distingu qualitativement par un nom (en mtrologie dimensionnelle : Distance, Angle..) et dtermin qualitativement par une valeur (nombre exprim dans lunit choisie). 4- METHODE DE MESURE : Cest une succession logique doprations dcrites dune manire succente permettant de la mise en uvre de mesurage. 4.1- Mthode direct : Cest le relev dune dimension partir dune rfrence. La prcision et la grandeur de dimension influent sur le choix de la rfrence. EXP : Appareil trait : Mtre Appareil vernier : Pied coulisse Appareil vis micromtrique : Micromtre
4.2- Mthode indirect : Cest le relev laide dun capteur de lcart entre une pice mesurer et un talon (pice de rfrence).
Lpice= Ltalon +
avec (Lpice : Longueur pice, Ltalon: Longueur talon, : Ecart mesur)
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5- DIMENSION : Cest la distance la plus courte entre deux points relles ou fictifs Exp. : Un diamtre, un altviltage, un entraxe. 6- MESURANDE : Cest la grandeur particulire soumise du mesurage (Exp. : Temprature, Pression, Dimension) 7- RESULTAT DE MESURAGE : Cest la valeur attribu au grandeur ( la mesurande) obtenue par mesurage. Une expression complte doit contenir la valeur et une information sur lincertitude. 8- CONTROLE DIMENSIONEL : Cest lensemble des oprations permettant de dterminer si la valeur dune grandeur se trouve bien entre les limites de tolrance qui lui sont imposes. On distingue deux types de contrle : 8-1. le contrle par attribut: Il est limit une simple vrification de conformit (rponse par oui ou non, pas de mesurage) Applications : calibres fixes, montages de contrle, plaquettes visco-tactiles
8-2. le contrle par mesurage: O lon procde dabord un ou plusieurs mesurages pour quantifier les grandeurs et ensuite une comparaison des valeurs mesures avec les spcifications demandes. Pour palier ce problme, la norme ISO 14253-1 prconise de dduire de la spcification lincertitude de mesure
Application des cartes de contrle et analyse statistique des donnes en utilisant lapproche matrise statistique des processus (MSP) (Voir Annexe)
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9- UNITE DE MESURE : Mtre : Lunit de base de longueur. Mais conventionnellement on utilise le (mm). Langle : (rd) 1 radian : Cest lquivalent de langle qui sur une circonfrence ayant pour centre le sommet de langle interceptant entre ses cots un arc dune longueur gale celle de rayon. 1rd= {Longueur Arc balay = R}
Larc balay
1rd R
10- VALEUR VRAIE : Cest la valeur qui caractrise une grandeur parfaitement dfinie dans les conditions qui existent lorsque cette grandeur est considre. Il sagit dune notion idale, la valeur vraie ne peut tre connue exactement et ceci quelle que soit la prcision des moyens de mtrologie utiliss. 11- VALEUR CONVENTIONELLEMENT VRAIE : Cest la valeur dune grandeur que lon substitue la valeur vraie. La valeur conventionnellement vraie est considre comme suffisamment proche de la valeur vraie pour que lon considre que la diffrence (entre ces deux valeurs) nest plus significative pour lutilisation que lon veut en faire. Exemples : -valeur mesure avec une trs grande prcision dans un laboratoire de mtrologie. -valeur indique sur une cale talon.
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12- ETALONNAGE : Cest lensemble des oprations tablissant, dans des conditions spcifies, la relation entre les valeurs indiques par un appareil de mesure ou un systme de mesure, ou les valeurs reprsentes par une mesure matrialise et les valeurs connues correspondantes dune grandeur mesure. (Voir Annexe rappport de calibration) 13- ETALON : Mesure matrialise, appareil de mesure ou systme de mesure, destins dfinir, raliser, conserver ou reproduire une unit ou une ou plusieurs valeurs connues dune grandeur pour les transmettre par comparaison dautres instruments de mesure. le principe de classification des boites de cale talons : 4 Classes. La classification est suivants lincertitude sur la longueur de cale talon mesur) (4 Classes : Classe 0 ; Classe 1 ; Classe 2 ; Classe3)
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14- SYSTEME DE MESURE : Cest un ensemble des instruments de mesure assembl pour faire un mesurage spcifique. Un systme de mesure demeure (non portable) est appl installation de Mesure. 15- PROCEDES DE MESURE : linstrument de mesure ne quun maillon dans le processus dobtention dun rsultat de mesurage. Le procd peut se dfinir comme lensemble constitu par : - Un principe de mesure - La Mthode de mesurage - Mode opratoire - Instrumentation adquate - Des talons - Un environnement (Temprature, Pression, humidit, vibration .etc.) Le procd de mesure permet lobtention dun produit qui est le rsultat de mesurage. 16-GESTION DES MOYENS DE MESURE : Lors de mesurage intervient une grandeur de rfrence, la normalisation actuelle oblige que ces grandeurs de rfrence soient les mmes aussi bien en Tunisie que dans autres coins de monde.
LNM
B.I.P.M : Bureau International des Poids et Mesures, Son rle est dassurer la cohrence du systme dunits au niveau de lensemble des pays adhrents. BNM : Bureau National de Mtrologie, Son rle est dassurer la cohrence du systme dunits au niveau national. LNM : Laboratoire National de Mtrologie, Son rle est : o De conserver les talons nationaux, o De travailler lamlioration des talons Laboratoires Agrs: Leur rle est : o Dassurer le raccordement des talons industriels Dans le domaine Dimensionnel, 2 laboratoires :
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o L.N.E (Laboratoire National dEssais) o C.T.A (Centre Technique de lArmement) Laboratoires Habilits: Leur rle est : o Dassurer le raccordement des talons industriels COFRAC : Comit Franais dAccrditation : Au niveau des laboratoires (agrs ou habilits), le COFRAC a pour mission de sassurer que les quatre conditions sine qua non la conformit dune prestation dtalonnage ou de vrification sont respectes par le laboratoire.
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CHAPITRE II : CARACTERISTIQUES D'UN

INSTRUMENT DE MESURE
I-
Incertitude de Mesurage
L'incertitude de mesurage est un paramtre, associ au rsultat dun mesurage, qui caractrise la dispersion des valeurs qui pourraient raisonnablement tre attribues au mesurande Le paramtre peut tre, par exemple, un cart-type (ou un multiple de celui ci) ou la demilargeur dun intervalle de niveau de confiance dtermin. Lincertitude de mesure comprend, en gnral, plusieurs composantes. Certaines peuvent tre values partir de la distribution statistique des rsultats de sries de mesurage et peuvent tre caractrises par des cart-types exprimentaux. Les autres composantes, qui peuvent aussi tre caractrises par des cart-types, sont values en admettant des distributions de probabilit, daprs lexprience acquise ou daprs dautres informations Diffrents facteurs influent sur un rsultat de mesurage. Ce qui engendre des erreurs dincertitudes. On cite titre dexemple les cinq facteurs suivants : . Environnement, Mthode de mesurage Oprateur, Pice mesurer, Appareil de Mesure.
Diagramme Causes-Effet d'incertitude de mesurage

Enseignant : Frija Mounir Mtrologie & Appareils de Mesure
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II- Principaux caractristiques dun instrument de mesure.

1- Etendue de Mesure (Capacit) :ensemble des valeurs dune grandeur mesurer pour lesquelles lerreur dun instrument de mesure est suppose maintenue entre des limites spcifies. Les limites suprieures et infrieures de ltendue spcifie sont parfois appeles respectivement porte maximale et porte minimale. 2- Rsolution : Cest la plus petite diffrence dun dispositif afficheur qui peut tre aperue dune manire significatif. Pour les appareils affichage numrique, on considre que le dernier chiffre affich est connu une unit prs.
3- Sensibilit : Cest le quotient de laccroissement de la rponse par laccroissement de signal dentre. Rapport entre l'accroissement de la rponse ( d) sur l'accroissement de la grandeur mesure ( m) : S=d/m
D tambour = 15.9 -> Circonfrence du tambour = .15.9 = 50 mm Un tour de tambour =50 graduations -> dplacement du curseur/une graduation=1mm Dplacement du curseur entre deux graduations = 1mm Sensibilit = dplacement du curseur / variation de la grandeur mesure = 1mm/ 0.01mm = 100 Dans la pratique, d se traduit par le dplacement relatif la valeur dun index, et m correspond au dplacement rel ncessaire provoquer la variation d. La sensibilit peut dpendre de la valeur du signal dentre. La sensibilit dune chane de mesure est gale au produit des sensibilits des divers lments de la chane. 4- Justesse : Cest laptitude dun instrument de mesure donner des indications exemptes derreur systmatique.
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Erreur de justesse de linstrument : Lerreur de justesse dpend de la qualit de fabrication de linstrument : Cest la composante systmatique de lerreur dun instrument de mesure (paramtre de position).
Exemples :
- erreur de zro : indication de linstrument, pour la valeur zro de la grandeur mesure. - dfauts gomtriques (forme, orientation) du palpeur - qualit des guidages : carts gomtriques de trajectoire (petites translations et petites rotations) au cours du dplacement du capteur (lment mobile de linstrument). - erreur damplification de linstrument (ingalit du pas de vis dun micromtre, ou des dentures des roues dun comparateur...). - erreur daffichage de linstrument (ingalit entre les graduations...).
La valeur conventionnelle vraie est obtenue par l'paisseur d'une cale talon de 10 mm. Dix mesures de cette cale ont t ralises aprs un talonnage 0 . La valeur moyenne des 10 valeurs mesures est de 9.982 mm .
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L'erreur de justesse de cet instrument aprs talonnage au zro et pour une mesure de 10 mm peut tre estime 0.018 mm 5- Fidlit : Cest laptitude dun instrument de mesure donner des indications trs voisines lors de lapplication rpte de la mme mesurante dans les mmes conditions de mesure qui comprennent : - Rduction en minimum de variation du lobservateur - Mme observateur - Mme mode opratoire (Mme instrument, mme condition de mesure) - Mme lieu - Rptition durant une constante priode de temps - jeux (coulissement, articulations) - pression de contact plus ou moins grande entranant des dformations Cest la composante alatoire de lerreur dun instrument de mesure (paramtre de dispersion). Elle reprsente la dispersion des mesures Mi d'une mme grandeur et elle est caractrise par son cart-type estim :
L'erreur de fidlit est gal 6 fois la valeur de l'cart type :
Application :
Nous avons effectu deux sries de 10 mesures sur une cale talon de 20mm Le premier a t effectu aprs l'talonnage de l'appareil sur cette mme cale. Le deuxime a t effectu aprs mise zro , les deux touches en contact.
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Les rsultats obtenus nous montrent que dans les deux cas , l'erreur de fidlit est proche de 2/100 de mm (cart type estim proche de 3 microns) . Par contre aprs talonnage , l'erreur de justesse (proche de 2 microns) est nettement plus faible que sans talonnage (3.3 microns)
Erreur systmatique : Cest la moyenne qui rsulterait dun nombre finie de mesurage de
mme mesurante effectu dans les conditions de rptitivit moins la valeur vraie de mesurante (Conventionnellement vraie). Lerreur systmatique et ses causes peuvent tre dtermin compltement.
La dispersion D reprsente lerreur de fidlit : Db < Da Linstrument B est plus fidle que A. Lcart E entre la moyenne arithmtique et la valeur vraie conventionnellement reprsente Lerreur de Justesse (Ea, Eb)
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6- Rptabilit : Ecart observ lors de mesurages successifs dune mme grandeur dans des conditions identiques (mme oprateur, mme lieu, mesures effectues successivement dans une courte priode de temps, mme mthode).
7- Reproductibilit : Ecart observ lors de mesurages successifs dune mme grandeur
en faisant varier les conditions (changement doprateur, de lieu, de temps, de mthode).

8- Exactitude : Aptitude dun instrument de mesure donner des indications proches de
la valeur vraie dune grandeur mesure. Lexactitude reprsente la qualit globale de linstrument, dans des conditions donnes. Lerreur dexactitude comprend lerreur de justesse et lerreur de fidlit. Lexactitude correspond lincertitude de mesure de linstrument.
Si l'erreur de justesse est connue , la valeur obtenue par la mesure sera corrige de la valeur de l'erreur de justesse et l'incertitude de l'instrument de mesure sera gale :
9- Classe de prcision : La classe dun instrument de mesure ; cest laptitude satisfaire certaines exigences dapplications mtrologiques destin conserver les erreurs dans des limites spcifis. Habituellement la classe est dsigne par un chiffre ou une lettre adopte par convention. Cest une caractristique des instruments de mesure qui sont soumis aux mmes conditions dexactitude. La classe sexprime : - Soit par le pourcentage de la plus grande indication que peut fournir linstrument. Par exemple un micromtre 0-25 de classe 0.04 donnera une indication dont lexactitude est de (25 x 0.04)/100 = 0.01mm. - Soit par un repre dfinissant, pour une dimension nominale donne, lexactitude attendue (cales talon)..
III- Classification des instrument de mesure

Les instruments de mesure se devisent en deux grandes classes :
Instruments de mesure
Verificateur dimensions variables
Verificateur dimensions fixes
Instruments de mesure direct
Instruments de mesure indirect
Pour alsages
Pour arbres
Pour filetages
Pour angles
Pour Longueurs
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1- Vrificateur dimensions variables

1.1 : Instruments de mesure direct
Colone de mesure & Trusquin
Pieds coulisses
Rapporteur
Jauges de profondeur
Micromtres & jauges micromtriques
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1.2 : Instruments de mesure indirect
2- Vrificateur dimension fixe 2.1- Pour Alsages
2.2- Pour Arbres
2.3- Pour filetages
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2.4- Pour Angles
2.5- Pour Longueurs
Le choix de linstrument de mesure adquat pour une opration de mesurage seffectue selon des critres bien dfinis. Les paramtres de choix sont : les caractristiques de linstrument de mesure : Capacit, Classe de prcision, fidlit, justesse..ect Mode Opratoire Matriau de la pice mesurer (Acier, Plastique ..ect)
IV- Machines mesurer tridimensionnelles

1- Aperue historique Les machines mesurer tridimensionnelles (MMT) sont nes au dbut des annes soixante et se sont vraiment dveloppes aprs linvention du palpeur dclanchement en 1970. Les principaux concepts qui rgissent la mise en uvre et lexploitation de ces machines sont en place depuis le dbut des annes quatre-vingt. Voici quelques exemples des MMT.
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2- Principe gnral Une MMT est une machine saisir et traiter de linformation. Un palpeur se dplace grce trois glissires de directions orthogonales et vient au contact des surfaces relles. Lors de chaque accostage, le calculateur mmorise les coordonnes X, Y et Y du centre de la sphre de palpage (dans le cas frquent o le palpeur se termine par une petite sphre). Les points palps permettent de dterminer une image de la surface relle. A partir des coordonnes saisies, le logiciel de traitement des donnes va effectuer des oprations mathmatiques visant rechercher les valeurs des dimensions ou des spcifications que lon cherche connatre ou contrler. Ce traitement mathmatique tend se rapprocher de plus en plus des exigences des normes sans toujours les respecter totalement.
3- Architecture des Machines Mesurer Tridimensionnelles Les architectures les plus frquemment utiliss sont : La structure potence : assez bien adapte aux grands volumes. Elle permet daccder toutes les faces de la pice mais la flexion du bras lui donne une prcision limite. La structure cantilever : Particulirement adapte aux petites capacits de mesure, elle permet un bon accs la pice. La structure portique : cest de loin la plus rpandue. Elle permet de traiter de grands volumes et daccder aisment aux surfaces.
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4- Dispositif de palpage Il existe deux types de ttes de palpage Les ttes de palpage dynamique : au moment du contact entre le palpeur et la surface palpe, se produit dans la tte une rupture de contact lectrique qui dclenche lordre de lecture de la position de la sphre situe lextrmit du palpeur ( en coordones X, Y, Z) Les ttes de palpages statique : Le palpeur actionne trois capteurs internes la tte, qui dlivrent en continue des informations sur la situation de la partie active du palpeur. Ces informations permettent le pilotage des moteurs actionnant les diffrents mouvements de la machine et permettent donc un palpage en continu des surfaces.
5- Avantages et limitations Rugueur de mesurage Incertitudes de mesurage Capacit de mesurage Productivit Rentabilit
Mise en position de la pice sur la MMT & palpeurs utiliss
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CHAPITRE III : ESTIMATION DES INCERTITUDES

1- Dfinition : Cest un paramtre associ aux rsultats de mesurage qui caractrise la dispersion des valeurs pouvant tre attribu aux mesurante. Cette incertitude peut tre un cart type ou un multiple de lcart type ou la demi largeur de lintervalle de confiance. 2- Erreur de Mesure (EM): Cest le rsultat de Mesurage (RM) moins la valeur vraie (VV) de mesurante. EM = RM-VV 3- Erreur relative (ER): Cest le rapport de lerreur de mesure une valeur vraie de mesurante. ER = EM / VV 4- Types des erreurs : - Erreur systmatique (ES) : Elle se reproduit en valeur absolue et en signe. Elle est pratiquement constante. On volue rgulirement en fonction de condition de mesurage. - Erreur alatoire (EA): Elle fluctue dune manire imprvisible lorsquon rpte le mesurage. Pratiquement, on considre que la dispersion est normale. E = EA + ES 5- Procd de dtermination derreurs de mesure 5-1 : Dtermination de lerreur Alatoire
On procde N mesures (Y1, Y2, Y3..YiYn) = Lerreur alatoire

n E A = Y 1 =
Y =
Y
i =1
(Y Y )
n i =1 i
n 1
( Ecart type)
Cette valuation repose sur lindpendance de diffrents rsultats de Mesurage. Pour cela chaque opration de Mesure doit inclure le dmontage et le remontage de produit mesurer.
5-2 : Dtermination des erreurs systmatiques : Lvaluation de lerreur systmatique est lie la matrise de processus de mesure et lexprience de loprateur, ces erreurs peuvent tre notamment dterminer partir : - Documentation de constructeur de lappareil de mesure - Rsultat dtalonnage et de vrification
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Une qualification des instruments utiliss Une modlisation mathmatique exprimant linfluence du paramtre identifi sur le rsultat de mesurage. 5-2.1 : Erreur systmatique due la rsolution de linstrument de mesure
Si on dsigne q= la rsolution de linstrument de mesure Exp. : Pied coulisse 2/100 = 0.02 mm ===|| q=0,02 mm La rsolution suit une loi uniforme centre.
EsRs = 2 3
5-2.2 : Erreur systmatique due ltalon
LE LP
L p = LE + l
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Tol/L (m)
LE
L (mm)
Erreur sur longueur des cales
Daprs le graphique ci-dessus, on remarque que pour chaque longueur du cale talon on enregistre un erreur relatif LE. Cet erreur est sooumise une dipersion comprise dans un intervalle [-LE , + LE ] La distribution de la dispersion enregistr peut suivre un des loi de distribution . Si on prend par exemple la distribution normale centre suivante :
-LE
0 Donc la valeur de lerreur systmatique due ltalon secrit :
+LE
EsEtalon =
LE 3
5-2.3 : Erreur systmatique due la Temprature Exemple : On travail dans un laboratoire dont la Temprature gale 32C
X 0 (25C ) = 28,3 mm X 1 (32C ) = 28,3 + T
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Avec X0 Longueur de la pice la temprature de rfrence T0 = TRef = 25C T La correction de lerreur systmatique due la temprature
Te
Tp
Condition de rfrence (Tref= T0) (1)
(LE=L0
; L p=Lp0
) (2)
LE = L0 e (Te T0 )
Avec
L p = L p0 p (Tp T0 )
: Coefficient de dilatation thermique du matriau de ltalon
L0 : Longueur de ltalon T0
: Coefficient de dilatation thermique du matriau de la pice
L p 0 : Longueur de la pice T0
L p = LE + l
L p = LE + T
T = L p LE
T =
(2)
(1)
-25-
T = Lp0
(T
T0 ) L 0 e T
(T e
T0 )
La correction de lerreur systmatique due la temprature T
T = L0
Cas Coef dilatation Etalon /Pice
e Te
Temprature
e ; p
Te ; Tp Te 0 ; Tp 0
Te = Tp = T
La correction
1 2 3 4 5 6
e p e p e p e = p = e = p = e = p =
L0 ( p Tp e Te L0 T ( p e )
Te = Tp = 0 Te 0 ; Tp 0
Te = Tp = T
0
L0 ( Tp Te
0 0
Te = Tp = 0
Dtermination de lerreur sur T
T = L0
(T e
T0
) (
= L 0 T e (
(a) Erreur systmatique due la mconnaissance de p Au sein du matriau de la pice le coefficient de dilatation prsente une dispersion. On suppose que la dispersion suit la loi normale centre.
pice = p p
+ p
0
-26-
Erreur systmatique due la mconnaissance de p
Es = L0 (Te T0 )
p
p 3
Es p = L0 Te
p 3
(b) Erreur systmatique due la mconnaissance de e
Es e = L0 Te
= =
Avec
e 3 e 2 e 3
LoiUniforme Loi Arc sin Loi Normale
(c) Erreur systmatique due T

Dans un locale regl T ; Et si on suppose que la distribution de lerreur sur le paramtre temprature suit une loi Arcsin centre.
+T
E
T s
= L0 ( p e )
-27-
T 2
(d) Erreur systmatique due T

Lcart entre la temprature de la pice Tp et la temprature de ltalon Te =
=
e 3 e 2 e 3
0 T
LoiUniforme Loi Arc sin Loi Normale
Es T = L0 p
Lerreur Systmatique Totale : p e Rs Etalon
Moyenne X = 0 ; Etendue = 2a
= =
EsTOTALE = Es + Es
+ Es + Es + EsT + Es T
-28-
CHAPITRE IV : Dimension et tolrances gomtriques
-29-
-30-
-31-
-32-
-33-
-34-
-35-
-36-

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II. Travaux pratique :

III. Programme du cours

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CHAPITRE I : MESURAGE MECANIQUE

avec (Lpice : Longueur pice, Ltalon: Longueur talon, : Ecart mesur)

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CHAPITRE II : CARACTERISTIQUES D'UN

Diagramme Causes-Effet d'incertitude de mesurage

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II- Principaux caractristiques dun instrument de mesure.

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L'erreur de fidlit est gal 6 fois la valeur de l'cart type :

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