Agosto 2010

Anlisis de eventos de Tensin Curvas ITIC, CBEMA y SEMI F47

Visin de red elctrica desde los equipos IT (tecnologa de informacin)

En la actualidad, los sistemas de control de procesos y datos provistos de microprocesadores, son particularmente sensibles a huecos de tensin. Las irregularidades en su funcionamiento pueden interrumpir el proceso. Los efectos secundarios ms comunes de los huecos de tensin son la prdida de la transmisin y los errores en la transmisin de seales y datos. Los equipos de IT (Information Technology) suelen ser provistos con sistemas de deteccin de fallas y perturbaciones con fines de brindar seguridad y proteccin frente a la prdida de datos, transmisin errnea de informacin, y del estado de la memoria interna. Estos tipos de equipo son ms sensibles a los cambios graduales (disminucin) de la tensin que a la interrupcin repentina del suministro. Las detecciones fallidas se manifiestan como una reaccin no suficientemente rpida al cambio gradual de la tensin de suministro. En este caso, la energa almacenada (bus de tensin continua) puede caer por debajo del nivel de funcionamiento minimo admisible antes de que el detector de fallo se active. En consecuencia, los datos pueden perderse o quedar errneos. Luego de la recuperacin de tensin el equipo puede no ser capaz de reiniciar correctamente y necesitar una reprogramacin.

Anlisis de eventos
Los procedimientos detallados para probar los equipos informticos frente a su inmunidad a las perturbaciones se presentan en diversas normas, como en la IEC 61000-4-11, IEEE 446-1995, IEEE 1100-1999, SEMI F47-0200, SEMI F42-0600 e ITIC (CBEMA). La metodologa ms frecuentemente empleada en la representacin de datos acerca de la calidad de servicio es la indicacin de la duracin y magnitud de los eventos sobre un plano XY, cuyo eje X corresponde a la duracin y el eje Y a la amplitud del evento. Esta metodologa define regiones del plano XY (duracinmagnitud) que un equipo IT debe soportar y continuar con el correcto funcionamiento. A continuacin, se presentar la mencionada y conocida curva CBEMA (1977), junto con su actualizacin re-bautizada curva ITIC (1996), y por ltimo, la curva SEMI 47, que permite realizar un ensayo desde el enfoque de los semi-conductores.

El anlisis de la red elctrica para la proteccin de equipos IT

La descripcin ms sencilla de un evento (hueco o dip/sag y sobre tensin o swell) de tensin se puede representar como un punto sobre un grfico que presenta la tensin del evento en funcin de la duracin del evento. Con el mismo criterio de simplificacin, la tensin caracterstica de tolerancia de los equipos se puede representar en los mismos ejes. Este enfoque es un medio posible para comparar el rendimiento de los distintos equipos, a pesar de dejar de lado eventos como saltos de fase.

Curva CBEMA
Hacia el ao 1977, se instaur la llamada curva CBEMA, desarrollada originalmente por Computer Business Equipment Manufacturers Association (de aqu las iniciales) para describir la tolerancia de la computadora central a variaciones de tensin

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del sistema de alimentacin. Mientras que muchos ordenadores modernos tienen una mayor tolerancia, la curva se ha convertido en un objetivo de diseo estndar para equipos sensibles que se aplicara en el sistema de potencia y un formato comn para presentar los datos de variacin de calidad de energa.

sivos, permitiendo ser implementadas bajo el criterio tcnico en redes de 50Hz, para verificar la confiabilidad del suministro.

Aquellos puntos por encima de la traza positiva suponen causas de mal funcionamiento, tales como fallas en el aislamiento, disparos por sobretensin, y sobreexcitacin. Los puntos por debajo de la negativa implican causas de prdida de carga debido a la falta energa. El regin de tensin de +/-10% se encuentra definida como margen de estado estable de suministro. Cualquier variacin de tensin dentro del +/-10% no ser evaluada como eventos ni perturbacin. La curva superior se encuentra definida por una duracin mnima de 1 milsima de ciclo (0,001 * Ciclo) y un desvo de tensin respecto de la tensin nominal de alrededor de 200%. Habitualmente se emplea la curva, a partir de la dcima parte de un ciclo (0,1 * Ciclo) debido a las limitaciones prcticas de los instrumentos de calidad de potencia y a las diferencias de criterios sobre la definicin de magnitudes en el marco de tiempos subciclo.

El plano duracin magnitud de la curva CBEMA define adems de las dos regiones, de operacin y mal-funcionamiento, otras tres regionales de anlisis estadstico. La zona de sobre tensiones (swell) comprendida entre el 10 y 20% con duraciones inferiores a 0,5s. La zona de sub-tensiones (sag/dip) entre el -10 al -20 con duraciones limitadas por la curva negativa. Y por ltimo, la zona de eventos con decaimiento oscilatorio de baja frecuencia (Low frequency decaying ringwave). Con igual criterio que la curva CBEMA, la regin de tensin de +/-10% est definida como margen de estado estable de suministro, de modo que cualquier variacin de tensin dentro del +/-10% no ser evaluada como eventos ni perturbacin. Para la visualizacin de grandes cantidades de datos de control de calidad, con frecuencia se aade un tercer eje que represente el nmero de eventos dentro de cada rango predefinido por magnitud y duracin. Si se limita a slo a dos dimensiones se presentar una trama de puntos sobre el plano tiempo-duracin.

Curva SEMI F47

Curva ITIC (CBEMA)

Hacia los aos 1990, el anlisis mediante la curva CBEMA se sustitiy por la curva ITIC desarrollada por Information Technology Industry Council. Comparativamente contempla una aplicacin con un espectro ms amplio sobre el comportamiento de los equipos presentes en la industria actual. El concepto en la industria de la curva CBEMA y las actuales fueron y han sido bases de diseo de nuevos dispositivos con mayores capacidades de compatibilizar con niveles superiores de variaciones de calidad de la energa. Por esta razn se han ampliado las tolerancias frente a eventos de tensin. Desarrollada con fines de aplicacin para equipamientos de tensin nominal de 120V obtenidos de suministros 208Y/120V y 120/240V @ 60Hz, la aplicacin de los criterios de evaluacin no son exclu-

Para mejorar la robustez y la capacidad de soportar huecos de tensin de los nuevos equipos, la Asociacin Internacional de la Industria de Semiconductores (SEMI) ha desarrollado los documentos SEMI F42 y SEMI F47. SEMI F47, Specification for semiconductor processing equipment voltage sag immunity, que especifica la tolerancias a sub-tensiones para equipos de fabricacin de semiconductores. SEMI F42, Test method for semiconductor processing equipment voltage sag immunity que establece la metodologa para confirmar el cumplimiento del estndar SEMI F47. SEMI F47 expresa los requerimientos de tolerancia de los equipos de produccin de semiconductores a huecos de tensin (dips/sags) de la red de alimentacin. Se establece, que estos equipos deben tolerar huecos: del 50% (tensin residual) con duraciones hasta 200mS, del 70% hasta 500mS y del 80% hasta 1000mS.

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Los lmites establecidos determinan la regin de funcionamiento y establecen una zona inferior, como prohibida o de mal funcionamiento.

Referencias
Handbook of Power Quality Angelo Baggini - University of Bergamo, Italy Power Quality in Electrical Systems Alexander Kusko, Sc.D., P.E. & Marc T.Thompson, Ph.D. Electrical Power Systems Quality, Second Edition CBEMA ANSI/IEEE Std. 446-1987. SEMI www.semi.org ITIC www.itic.org

Como es de esperar, los intervalos de tiempos fuera de lo especificado, deben ser contemplados. Para ello, SEMI F47 establece y recomienda umbrales adicionales, que no son requisitos de la norma. A partir de ello, se incluyen huecos del 0% residual hasta 1 ciclo, del 80% residual hasta 10s y huecos continuos del 90% residual. En la figura siguiente se observa recuadrado los lmites normativos y por fuera de estos, el resto de los umbrales recomendados: