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INTRODUCCIN El presente trabajo tiene la finalidad de dar detalle acerca del Microscopio electrnico, el cual es un instrumento que se usa

actualmente, con un fundamento de Fsica Moderna, y que tiene bastantes aplicaciones en campos tanto de investigacin cientfica como en la industria. OBJETIVOS Saber las funciones del microscopio electrnico Averiguar los tipos de microscopios electrnicos que existen Conocer el proceso

QU ES EL MICROSCOPIO ELECTRNICO? El microscopio electrnico es un instrumento que utiliza electrones, en lugar de fotones, para visualizar imgenes de objetos diminutos. Estos instrumentos tienen la capacidad de alcanzar ampliaciones hasta 5000 veces ms potentes que las imgenes tomadas por los mejores microscopios pticos. En promedio, si un microscopio ptico provoca aumentos de 2000x, el microscopio electrnico puede realizar aumentos de 1000000x. Esto se debe a que la longitud de onda de los electrones (0.5 Angstroms) es ms pequea que la de los fotones visibles (4000 Angstroms). Los microscopios electrnicos pueden alcanzar resoluciones mejores a la de 50 pm. Este instrumento es utilizado para investigar la ultra-estructura (estructura detallada de un espcimen como una clula o un rgano) de una amplia variedad de especmenes biolgicos e inorgnicos, como por ejemplo microorganismos, clulas, molculas grandes, metales, cristales, biopsias, etc. Tambin tiene aplicaciones industriales orientadas al control de calidad y el anlisis de fallas. Los microscopios electrnicos modernos producen micrografas electrnicas, es decir representaciones de objetos que no pueden ser captados ni por los microscopios pticos. Para lograr esto utilizan cmaras digitales o digitalizadores de videos con objetivo de capturar la imagen. HISTORIA Este instrumento fue inventado en Alemania por el fsico Ernst Ruska y el ingeniero elctrnico Max Knoll en 1931. La ptica electrnica fue desarrollada en 1926 por el fsico alemn Busch. En 1933, Ruska invent un microscopio electrnico que exceda la resolucin alcanzable de un microscopio ptico. Reinhold Rudenberg, director de Siemens-Schuckertwerke, obtuvo la patente de este invento en Mayo de 1931. Por otra parte, en 1932 Ernst Lubcke de la empresa Siemens & Halske invent y obtuvo imgenes de un prototipo de un microscopio electrnico, aplicando conceptos descritos en las aplicaciones de la patente de Rudenberg. 5 aos despus esta firma financi el trabajo

de Ernst Ruska y Bodo von Borries junto a Helmut Ruska desarrollaron aplicaciones para el microscopio, especialmente con especmenes biolgicos. En 1937 tambin, Manfred von Adenne fue pionero del microscopio electrnico de barrido. El primer microscopio electrnico prctico fue desarrollado en 1938 por Eli Franklin Burton en la Universidad de Toronto, y los estudiantes Cecil Hall, James Hillier y Albert Prebus. Siemens produjo el primer microscopio electrnico de transmisin comercial en 1939. A fines del siglo XX el microscopio electrnico tena una resolucin del orden de 1000 veces la del microscopio de luz (0,2 y 200 nanmetros respectivamente). Los microscopios contemporneos alcanzan ampliaciones de 2 millones y estn basados en el prototipo de Ruska. Teoricamente la mxima resolucin d que puede ser alcanzada por un microscopio ptico es:

Gracias a la teora desarrollada por Louis-Victor de Broglie (Dualidad onda-partcula), un haz de electrones tambin podra comportarse como un rayo de radiacin electromagntica. La longitud de onda se puede obtener de la ecuacin:

Dnde: h: constante de Planck m0: Es la masa en reposo del electrn E: Energa del electrn acelerado c: velocidad de la luz CMO FUNCIONA? Este dispositivo utiliza un haz de electrones, generado por un can electrnico, los cuales son acelerados por un alto voltaje y estn focalizados por medio de lentes magnticos. Este haz de electrones se da en un alto vaco debido a que los electrones son absorbidos por el aire. El rayo de electrones atraviesa la muestra, la cual ha debido ser preparada adecuadamente como luego explicaremos, y la amplificacin se produce por un conjunto de lentes magnticos que forman la imagen sobre una placa fotogrfica o sobre una pantalla sensible al impacto de electrones y transfiere esta imagen a la pantalla del ordenador. Cabe destacar que estas imgenes producidas por el microscopio electrnico

no dan ninguna informacin del color (debido a que es una propiedad de la luz), sin embargo es posible darle color a las imgenes posteriormente aplicando retoques digitales a travs de un ordenador. La manera de seguir los electrones es que los lentes electroestticos y electromagnticos son usados por el microscopio para controlar el rayo de electrones y enfocarlo para formar la imagen. Estos lentes son anlogos a los lentes del microscopio electrnico.

TIPOS DE MICROSCOPIOS ELECTRNICOS

Figura #1 Fuente: https://commons.wikimedia.org/wiki/File:SimpleSEMandTEM.jpg Microscopio electrnico de transmisin (TEM) Es un microscopio que emite un haz de electrones al objeto que se quiere visualizar, una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto, los dems atraviesan el objeto y forman la imagen aumentada. Para utilizarse la muestra se debe cortar en capas finas, no mayores a un par de miles de angstroms. Estos microscopios tienen una capacidad de aumentar la imagen hasta un milln de veces. Este tipo de microscopios tiene principal aplicacin en el estudio de metales y minerales y el estudio de las clulas a nivel molecular, toma un papel importante en la industria de la metalurgia. Tambin se utiliza en la microbiologa para observar la estructura de los virus y en la Anatoma patolgica, para diagnosticar partiendo de la ultrahipermegaestructura celular.

Cabe destacar que en el TEM la velocidad del electrn tiende a la velocidad de la luz por un proceso llamado emisin termoinica desde un filamento, usualmente tungsteno. Los electrones son acelerados por la diferencia de potencial y enfocadas por lentes electroestticos y electromagnticos. El rayo transmitido posee informacin de la densidad del electrn, fase, periodo, etc.

Figura #2: Imagen del virus de polio por el TEM (30 nm) Fuente: https://en.wikipedia.org/wiki/File:Polio_EM_PHIL_1875_lores.PNG Microscopio electrnico de barrido (SEM) En este microscopio la muestra esta cubierta por una capa de metal delgada la cual es barrida por un grupo de electrones enviados desde un can. Un detector mide la cantidad de electrones enviados que arroja la intensidad de la zona de muestra (esto lo hace capaz de formar figuras en 3 dimensiones) en una imagen de TV. Su resolucin est entre 3 y 20 nm, dependiendo de la calidad del microscopio. Este microscopio permite obtener imgenes de gran resolucin en materiales ptreos, metlicos y orgnicos. Sus aplicaciones se encuentran en el estudio de circuitos integrados, donde a la propiedad de que como el campo electrnico modifica la trayectoria de los electrones, cuando el circuito integrado est en funcionamiento, con el microscopio podemos apreciar el potencial de cada elemento del circuito.

Figura #3: Imagen de una hormiga por el SEM Fuente: https://commons.wikimedia.org/wiki/File:Ant_SEM.jpg

Microscopio electrnico de reflexin (REM) Al igual que un TEM, un haz de electrones incide en la superficie, pero en vez de usar la transmisin de la TEM o los electrones secundarios (SEM), el rayo reflejado de electrones dispersados elsticamente es el que se detecta. Esta tcnica es generalmente usada junto a difraccin de reflexin de electrones de alta energa (RHEED) y espectroscopa de la reflexin de prdidas de alta energa (RHELS). Microscopio electrnico de transmisin de barrido (STEM) Es un microscopio que sirve para muestras que han sido adelgazadas con la finalidad de facilitar la deteccin de los electrones dispersados en el espcimen. Es similar al TEM, pero en STEM se puede obtener altas resoluciones. Antes de que los electrones toquen el espcimen, STEM usa un rayo de barrido como el del SEM que simplifica el anular imgenes oscuras y otras tcnicas de anlisis. Las imgenes se adquieren en serie y no en paralelo. A menudo TEM puede ser equipado con la opcin de barrido y funcionar como TEM y STEM. PREPARACIN DE LA MUESTRA Los materias que quieren ser analizados por un microscopio electrnico deben ser preparados antes de comenzar el proceso con la finalidad de obtener una imagen adecuada, la tcnica vara dependiendo del espcimen y el anlisis.

Fijacin qumica. Para especmenes biolgicos se pretende estabilizar la estructura mvil macromolecular del espcimen uniendo las protenas con aldehdos como por ejemplo los formaldehidos, glutaraldehidos, lpidos y tetrxido de osmio. Tincin negativa. Las suspensiones que contengan nanopartculas o material biolgico fino (bacterias, virus) son mezclados brevemente con una solucin diluida de una solucin electro opaca como molibdato de amonio, acetato de uranilo (o de formiato), o cido fosfotngstico. Esta mezcla se aplica a una rejilla EM recubierta adecuadamente, se transfiere y se deja secar. La supervisin de esta mezcla en una TEM debe ser llevada sin ningn retraso para mejores resultados. Este mtodo es importante en microbiologa para una rpida pero cruda identificacin morfolgica, pero tambin puede ser usado como base para reconstrucciones 3D de alta resolucin usando la metodologa de tomografa EM cuando se utilizan capas de carbono para apoyo. La tincin negativa tambin es usada para observar nanopartculas. Criofijacin. Consiste en congelar un espcimen tan rpidamente (a temperaturas de nitrgeno lquido o helio lquido) tal que el agua forme hielo vtreo (no cristalino). Esto conserva el especmen en una muestra de su estado de solucin. Mediante el desarrollo del CEMOVIS (Microscopio crioelectrnico de secciones vtreas) es posible observar muestras de prcticamente cualquier espcimen biolgico cercanos a su estado natural. Deshidratacin. Secado por congelacin, reemplazar el agua con solventes orgnicos como etanol o acetona, seguido de un secado por punto crtico o infiltracin con resinas que se incrustan. Incorporacin de especmenes biolgicos. Despus de la deshidratacin, los tejidos que se quieren observar en el TEM son incrustados con la finalidad de que este parcialmente listo para la visualizacin. Para hacer esto el tejido se pasa por una transicin disolvente como el xido de propileno, y luego es infiltrado con una resina epoxi (polmero termoestable) como por ejemplo Araldite o Durcupan. Los tejidos tambin pueden ser incrustados directamente en una resina acrlica miscible en agua. Luego de que la resina ha sido polarizada (endurecida) la muestra es seccionada (secciones ultra-delgadas) y teida, donde est listo para visualizarse. Incorporacin de materiales. Luego de incorporar en resinas, la muestra debe ser pulida a un acabado de espejo usando abrasivos ultra-finos. El proceso de pulido debe realizarse cuidadosamente para minimizar los araazos y otros artefactos de pulido que pueden reducir la calidad de la imagen. Seccionamiento. Se producen rebanadas delgadas del espcimen, semitransparentes a los electrones. Estos pueden ser cortados a un ultramicrotomo usando una cuchilla de diamante para producir cortes ultra-finos de 60-90 nm de espesor. Tambin se usan cuchillas de vidrio desechables ya que pueden ser hechas en el laboratorio y no son tan costosas. Fractura por congelacin o grabado de congelacin. Es un mtodo de preparacin que sirve particularmente para examinar membranas lipdicas y sus

protenas incorporadas a la vista. El tejido fresco o la suspensin de clulas se congelan rpidamente (crofijacin), luego se fracturan por una separacin simple o mediante el uso de un micrtomo mientras son mantenidas a una temperatura de nitrgeno lquido. La superficie fracturada (a veces en relieve mediante un aumento de temperatura a -100C para varios minutos para permitir que algo de hielo se sublime) es luego sombreada con platino u oro en vapor con un ngulo en promedio de 45 en un evaporador de alto vaco. Una segunda capa de carbono, evaporada perpendicularmente al plano de la superficie media tambin puede ser realizada para mejorar la estabilidad de la capa de rplica. Luego el espcimen regresa a su temperatura y presin ambiente y luego la extremadamente frgil rplica de metal pre-sombreada de la superficie de la fractura es liberada del material biolgico subyacente mediante una digestin qumica cuidadosa con cidos, soluciones de hipoclorito o detergente SDS. La rplica an flotante se lava completamente con tal de que est libre de residuos qumicos, luego es secada cuidadosamente y llevada al TEM. Molienda con rayos inicos. Estos rayos adelgazan las muestras hasta que sean transparentes a los electrones, esto es provocado por el disparo de iones (generalmente argn) a la superficie desde un ngulo y pulverizando el material de la superficie. Tambin se puede usar una molienda enfocada donde iones de galio son usados para producir una membrana transparente de electrones en una regin especfica de la muestra por ejemplo un dispositivo de un microprocesador. Este mtodo tambin es usado para un pulido de la seccin transversal antes de un anlisis de materiales con el SEM ya que es difcil lograrlo con una pulverizacin mecnica. Recubrimiento conductor. Un recubrimiento ultra-delgado de material conductor de electricidad, depositada ya sea por una evaporacin en alto vaco o por una pulverizacin catdica en bajo vaco causada por el recubrimiento de la muestra. Esto se hace con la finalidad de prevenir la acumulacin de campos estticos en la muestra por la irradiacin de electrones requerida en la visualizacin. Los materiales con que se cubre el objeto pueden ser oro, oro/paladio, platino, tungsteno, grafito, etc. Conexin a tierra. Para evitar una sobrecarga elctrica en una muestra cubierta conductora. Generalmente es conectado al soporte de la muestra metlica. Usualmente es usado un conductor de electricidad adhesivo.

DESVENTAJAS Una de las principales desventajas de estos aparatos es que son muy costosos de construir y mantener, sin embargo hoy en da los precios de los microscopios electrnicos y los pticos se sobrelapan. Los microscopios destinados a alta resolucin deben ser mantenidos en edificios estables (algunas veces subterrneos) con servicios especiales como un anulador de campos magnticos. Otra desventaja es que las muestras deben ser vistas en vaco ya que el aire dispersa los electrones.

Los SEM operando en su tradicional modo de alto vaco usualmente se usan para especmenes conductivos, por lo que los especmenes no conductivos requieren un encubrimiento (oro/paladio, carbono, etc). El modo de bajo voltaje de los microscopios modernos hace posible la observacin de especmenes no-conductivos sin necesidad de encubrimiento. APLICACIONES Semiconductores y almacenamiento de datos Analisis de fallos Analisis de defectos Edicion de circuitos

Biologa y ciencias de seres vivos Criobiologa Toxicologa Tomografa electrnica Virologa Farmacuticos Anlisis de partculas

Investigacin de materiales Nanometrologa Clasificacin de materiales Testing de dispositivos

Industria Forense Imgenes de alta resolucin Minera Industria qumica Preparacin de muestas

FUENTES BIBLIOGRFICAS https://es.wikipedia.org/wiki/Ernst_Ruska http://ingeniatic.euitt.upm.es/index.php/tecnologias/item/520-microscopioelectr%C3%B3nico http://sumsaiumu.wordpress.com/trabajo/solicitud-de-trabajo/tecnicas/ https://en.wikipedia.org/wiki/Electron_microscope https://en.wikipedia.org/wiki/Ground_%28electricity%29 https://en.wikipedia.org/wiki/Staining http://www.amemi.org/Docs/simposia_biologia/pre_orales/MICROSCOPIA_ELECTRONIC A.pdf

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