4.

Pomiary bezporednie elementw RLC

Cel wiczenia. Celem wiczenia jest poznanie waciwoci przyrzdw do pomiarw parametrw
elementw biernych, czyli rezystorw, kondensatorw i cewek indukcyjnych. wiczenie zapoznaje
studentw z dwuelementowymi ukadami zastpczymi, uczy umiejtnoci obsu!iwania przyrzdw
i szacowania niepewnoci wynikw pomiarw.
Rezystory, kondensatory i cewki indukcyjne s powszechnie stosowanymi elementami w
konstrukcji urzdze elektrycznych i elektronicznych. Rnorodno ich wykona jest bardzo
dua, zaley bowiem od ich przeznaczenia, warunkw pracy, wartoci i czstotliwoci napicia
!prdu" zasilajce#o.
$arametry elementw R%& mierzy si rnymi metodami i z rn dok'adnoci. (o metod
pozwalajcych na pomiary z umiarkowana dok'adnoci, zaliczamy ) metody* bezporedni +
realizowan przez tzw. mierniki R%&, i poredni zw. techniczn , wykorzystujca uk'ady
pomiarowe z miernikami prdu, napicia, mocy i czstotliwoci. (ok'adniejsze pomiary mo# by
wykonane metod zerow, realizowan przez uk'ady mostkowe.
-iedo#odnoci pomiarw wykonywanych miernikami R%& s ustalone .z #ry/ warunki
zasilania mierzone#o elementu, dotyczce napicia lub prdu zasilajce#o, oraz je#o
czstotliwoci. 0td przyrzdy te maj o#raniczone zastosowanie np. do pomiarw parametrw
elementw nieliniowych, ktrych w'aciwoci musz by przedstawione za pomoc
charakterystyk. 1 tym przypadku jest przydatna metoda porednia, pozwalajca na wykonywanie
pomiarw .punkt po punkcie/, przy danych nastawach czstotliwoci, napicia lub prdu
zasilajce#o mierzony element.
1. Ukady zastpcze rezystorw kondensatorw i cewek ind!kcy"nyc#
1'aciwoci opornikw, kondensatorw i cewek indukcyjnych okrela si nie tylko
parametrami przedstawiajcym ich #'wn cech, czyli rezystancj R, pojemnoci & i
indukcyjnoci % , ale te parametrami dodatkowym, zwanymi te resztkowymi lub
pasoytniczymi. -ajczciej s to* dla opornikw + sta'a czasowa , dla kondensatorw ,
wsp'czynnik stratnoci ( !t#", i dla cewek indukcyjnych + dobro 2. $arametry dodatkowe
wynikaj z przyjcia elektrycznych uk'adw zastpczych, ktre w dostatecznie przybliony
sposb modeluj zjawiska 3izyczne wystpujce w materia'ach z jakich budowane s elementy
R%&. 4k'ady zastpcze zwykle maj posta dwjnikw impedancyjnych.
Ukad zastpczy opornika. 5porniki w obwodzie prdu przemienne#o rwnie ujawnia pewne
pojemnoci i indukcyjnoci resztkowe. 6ale one od rodzaju i konstrukcji opornika, a w
opornikach drutowych szcze#lnie od sposobu nawinicia i rozk'adu przestrzenne#o uzwojenia.
6azwyczaj dla opornika przyjmuje si uk'ad zastpczy opornika w postaci po'czenia
szere#owe#o rezystancji R i indukcyjnoci %, zbocznikowanych kondensatorem o pojemnoci &,
co przedstawiono na rys. 7.
8mpedancj uk'adu zastpcze#o mona przedstawi przyblion zalenoci*
6 R 97 : !
R
%
+ R& "; < R 97 : ;,
w ktrej < !
R
%
+ R& " + ma wymiar czasu i jest sta' czasow opornika.
0ta'ej czasowa powoduje proporcjonalne zmiany impedancji opornika w 3unkcji
czstotliwoci. 1 celu o#raniczenia te#o wp'ywu, budowane s oporniki o b. ma'ych . 1
opornikach masowych wp'yw sta'ej czasowej jest zauwaalny dopiero dla czstotliwoci powyej
7 =>z, a dla opornikw drutowych ju przy czstotliwociach powyej 7? k>z.
7
R %
&
Rys.7. 0chemat zastpczy
rzeczywiste#o opornika@ % i & ,
indukcyjno
i pojemno resztkowa opornika
Ukad zastpczy kondensatora. 1 rzeczywistym kondensatorze, oprcz kumulacji ener#ii w
postaci pola elektryczne#o, wystpuje te rozproszenie ener#ii w postaci ener#ii cieplnej. Ard'em
strat ener#ii jest zjawisko polaryzacji dielektryka i je#o rezystywno.
4k'ad zastpczy kondensatora rzeczywiste#o najczciej przyjmuje posta dwjnika,
sk'adajce#o si z kondensatora idealne#o i rezystora reprezentujce#o straty ener#ii. 1 praktyce
wykorzystuje si dwa uk'ady zastpcze, szere#owy lub rwnole#'y !rys. )". 1 obu uk'adach
podobnie jest de3iniowany wsp'czynnik stratnoci (, nazywany te t#, ktry jest parametrem
okrelajcym stosunek ener#ii rozproszonej w kondensatorze do ener#ii w nim zakumulowanej.
C
s
"
s
C
r

(la pracy kondensatora przy sta'ej czstotliwoci jest obojtne, ktry z modeli zastpczych
przyjmuje si do je#o opisu, #dy wynikajce z nich wsp'czynniki stratnoci s jednakowe.
-atomiast wp'yw zmian czstotliwoci na wsp'czynnik stratnoci obu uk'adw jest odmienny
!patrz wzory", co naley wzi pod uwa# w wyborze jedne#o z nich. 6 analizy zjawisk
zachodzcych w kondensatorach wynika, e dla czstotliwoci pracy #<7?? k>, w'aciwoci
lepiej odwzorowuje uk'ad zastpczy rwnole#'y, za dla # >7?? k>z , uk'ad zastpczy
szere#owy.
Ukad zastpczy cewki indukcyjnej. 1 cewkach indukcyjnych bezrdzeniowych straty ener#ii
wywo'ane s rezystancj uzwojenia. 1 cewkach z rdzeniem 3erroma#netycznym dodatkowo
wystpuj tzw. straty w rdzeniu !elazie", wywo'ane przema#nesowaniem rdzenia i prdami
wirowymi.
$rostym uk'adem zastpczym cewki indukcyjnej bezrdzeniowej jest szere#owe po'czenia
cewki idealnej o indukcyjnoci % i opornika o rezystancji R, w ktrym wydziela si taka sama
moc jak w cewce rzeczywistej !Rys. B.".
1ielkoci opisujc zdolno cewki indukcyjnej do ma#azynowania ener#ii jest
wsp'czynnik dobroci 2, okrelony stosunkiem mocy biernej indukcyjnej do mocy czynnej.
$odobnie jak w kondensatorach, przydatno modelu dwuelementowe#o wystpuje tylko dla
wskie#o zakresu zmian czstotliwoci. =odelowanie elementw indukcyjnych za pomoc uk'adu
rwnole#'e#o jest stosowane rzadziej, ze wz#ldu na #orsze odwzorowanie w'aciwoci cewek
przy zmianach czstotliwoci.
)
$
s s s
C "
%
&
t#
'" 'C
$
$"
"r
'
'
'C
'"

$"
$
$C
r r
r
C "

7
t#
'
t#
Rys. ). 4k'ady zastpcze
kondensatora i
odpowiadajce im
wykresy wskazowe.
+ kt stratnoci@
t# + wsp'czynnik
stratnoci !zwykle jest
stosowany symbol , ("
t#
t#
r
"
s
'
"
(
s
'
(
$
$
'
'
"
'
(
s
s
"
(
&
%
)

Rys. B. 4k'ad zastpczy cewki
indukcyjnej.
2 , wsp'czynnik dobroci cewki
$. Przyrz%dy i !kady pomiarowe
5becnie jest stosowanych wiele przyrzdw i uk'adw do pomiarw parametrw elementw
R%&. (o pomiarw dok'adnych stosowane s mostki prdu przemienne#o, w ktrych element
badany jest bezporednio porwnywany ze wzorcem. Cakie pomiary wykonywane s w
laboratoriach wzorcw wielkoci elektrycznych. 1 innych pomiarach najczciej stosuje si
przyrzdy pomiarowe o odczycie cy3rowym, nazywane miernikami R%&.
6asada dzia'ania starsze#o typu miernikw R%& wykorzystuj metod przetwarzania
sk'adowych impedancji badane#o elementu na napicia sta'e i ich pomiarze woltomierzami
cy3rowymi. 1 nowszych typach miernikw R%& jest wykorzystywany proces cy3rowe#o
przetwarzania sy#na'w, a wynik pomiarw uzyskiwany jest na drodze operacji matematycznych
wykonywanych przez mikrokomputer. $rzyrzdy te mo# mierzy* D*D, ", (, C, , t#, ), w
szerokim zakresie czstotliwoci !7?? >zE7=>z", z niedok'adnoci !?,7E7"F.
1 multimetrach cy3rowych majcych 3unkcje pomiarw & i %, pomiar pole#a na wyznaczeniu
czasu trwania stanu nieustalone#o w obwodzie z badanym elementem. Cakie pomiary nie
#warantuj dok'adnoci lepszych ni !7E)"F.
Mostki prdu przemiennego. =ostki pomiarowe realizuj pomiar metod zerow.
&harakterystyczn cech mostkw jest konieczno przeprowadzenia czynnoci rwnowacych
uk'ad pomiarowy za pomoc wystpujcych w #a'ziach mostka elementw nastawnych, tj. dekad
rezystancyjnych, pojemnociowych i indukcyjnych. $roces rwnowaenia koczy si takimi
nastawami, przy ktrych napicie wystpujce w przektnej pomiarowej mostka osi#a warto
zerow. $rzyrzdy stwierdzajce stan rwnowa#i mostkw nazywane s wskaGnikami zera i s
najczciej wysokoczu'ymi i selektywnymi woltomierzami elektronicznymi. 1 najo#lniejszym
przypadku mostek prdu przemienne#o stanowi uk'ad z czterema impedancjami, wskaGnikiem
zera i Grd'em zasilania !rys. H".
=ostek osi#nie stan rwnowa#i, #dy spe'niona bdzie zaleno*
I 7 ) J
6 6 6 6
.
6 powysze#o rwnania wynikaj dwa warunki rwnowa#i mostka*
, dla modu'w impedancji* ) 7 I J
6 6 6 6
, dla ar#umentw impedancji*
) 7 I K
+ +
#dzie*
K
,E
)
, kty 3azowe impedancji 6
J
E6
)
.
1ystpowanie dwch warunkw rwnowa#i jest przyczyn z'oonoci procesu rwnowaenia
mostkw prdu przemienne#o, objawiajc si wielokrotnym powtarzaniem nastaw elementw
re#ulacyjnych. (late#o pomiary nieautomatycznymi mostkami wyma#aj czasu i duych
umiejtnoci praktycznych.
1 pomiarach metod zerow wystpuje b%d niecz!oci uk'adu pomiarowe#o, ktre#o
Grd'em s o#raniczone moliwoci reakcji wskaGnika zera na zmiany wielkoci mierzonej.
6wykle b'd nieczu'oci jest wyznaczany dowiadczalnie przez pomiar pro&! pob!dliwoci
uk'adu pomiarowe#o. 1tedy b'd nieczu'oci wynika z zalenoci*
J
J L
p
n
,
w ktrej* J , warto wielkoci nastawianej w stanie zrwnowaone#o uk'adu,
J
p
, pr# pobudliwoci uk'adu pomiarowe#o, okrelony minimaln zmian wielkoci
+, wywo'ujc zauwaaln reakcj wskaGnika zera !np. powodujca odchylenie
wskazwki wskaGnika zera o ?,7 dzia'ki".
I
,
-
*
7
*
)
*
I
*
.
Rys. H. &zteroramienny
mostek prdu przemienne#o
4k'adami czsto stosowanymi s* mostek 1iena , s'ucy do pomiarw pojemnoci, i mostek
=aKwella , stosowany do pomiarw indukcyjnoci. 4k'ad mostka 1iena przedstawia rys. M.
1arunek rwnowa#i mostka 1iena okrela zaleno*
7 - ) J
R 6 R 6
, w ktrej*
, impedancja mierzone#o kondensatora dla modelu szere#owe#o,

, impedancja #a'zi mostka odwzorowujca mierzony kondensator.
$rzez porwnanie poszcze#lnych sk'adowych warunku rwnowa#i uzyskuje si rwnania
pomiarw mierzonych wielkoci*
- - J J K
)
7
- J
7
)
- J
R & R & t# ,
R
R
R R ,
R
R
& &
.
4k'ad mostka =aKwella jest przedstawiony na rys.N.
Rwnowa#a mostka jest osi#nita, #dy ) 7
7
" "
/
*
0
+

,
#dzie* *
+
1 "
+
2 j(
+
, impedancja mierzonej cewki modelowanej uk'adem szere#owym,

, admitacja #a'zi mostka odwzorowujca mierzon cewk.
6 porwnania poszcze#lnych sk'adowych rwnania rwnowa#i mostka, uzyskuje si rwnania
pomiaru mierzonych wielkoci*
- -
J
J
J
-
) 7
J 7 ) - J
R &
R
%
2 ,
R
R R
R , R R & %

Cyfrowe mierniki RC z prostownikiem fazoczuym
=iernik R%& z rys. O, wykorzystujc w'aciwoci prostownika 3azoczu'e#o, przetwarza
sk'adowe impedancji mierzone#o elementu na napicia sta'e. -apicie na wyjciu wzmacniacza
1 okrela zaleno
6
-
J
1
4
R
6
4
, z ktrej wynika, e 3aza napicia 4
w
wz#ldem napicia 4
z
jest rwna ktowi 3azowemu badane#o elementu. 1 tych warunkach sk'adowe napicia 4
w
proporcjonalne s do sk'adowych impedancji badane#o elementu. 5 tym, ktra ze sk'adowych jest
wydzielona przez prostownik, decyduje 3aza napicia sterujce#o. Peeli midzy napiciem
B
+
0 0
C j
" *

7
+
0
0
0
C j
"
/ +
7
,
-
"
7
"
)
"
0
C
0
"
.
C
.
C
.,
t#
.
Rys. M. =ostek 1iena
$rostownik
3azoczu'y
Qiltr
dolno+
przepustowy
$rzesuwnik
3azy i uk'ad
3ormujcy
R&
7
)

)
<S?
o
napicie
sterujce
"
0
- '
*
'
3
*
.
4
2
1
'
*
1
'
m
sint
"e9'
3
;1'
57
!6"
!7" $m9'
3
;1'
5)

7
<?
o
,
-
"
7
"
)
"
0
"
.
(
.
C
0
(.
Rys. N. =ostek
=aKwella + 1iena
+
+ +
C j
" *

7
+
Rys. '. 4k'ad do pomiaru R%& z
prostownikiem 3azoczu'ym@ *
.
+
impedancja mierzone#o elementu, "
0
+
rezystor odniesienia, 1 + wzmacniacz
operacyjny,
7
< ? + wyjcie
przesuwnika 3azy o zerowym
przesuniciu 3azowym sy#na'u
wz#ldem napicia zasilajce#o '
z
,

)
< S? + wyjcie przesuwnika 3azy z
sy#na'em przesunitym wz#ldem
sterujcym a wejciowym 4
w
nie ma przesunicia 3azowe#o !
7
< ?", to z napicia 4
w
wydzielona
zostaje sk'adowa czynna@ za przy przesuniciu
)
< S? , sk'adowa bierna.
Tdy obiektem pomiaru jest cewka indukcyjna modelowana impedancj 6
J
< R
J
: j%
J
, to rwnanie
przetwarzania wzmacniacza przyjmuje posta*

,
_

+
+

6
-
J
6
-
J
6
-
J J
1
4
R
%
j 4
R
R
4
R
% j R
4
.

$owysz zaleno mona zobrazowa wykresem wskazowym !rys. S". 1ydzielenie w
prostowniku sterowanym z napicia '
3
je#o sk'adowych prowadzi w konsekwencji do dwch
rwna pomiaru*
) R ) ) R
)
-
J 7 R 7 7 R
)
-
J
4 k 4
4
R
k % , 4 k 4
4
R
k R

,
w ktrych* k
7
, k
)
, k , sta'e przetwarzania uk'adu pomiarowe#o@
4
R7
, 4
R)
, napicia wskazywane przez woltomierz cy3rowy.
4k'ad mierzy te parametry kondensatora, przy czym kondensator jest modelowany uk'adem
rwnole#'ym !6
J
< 7UR
J
: j&
J
". $rzyk'adem przyrzdu pomiarowe#o realizujce#o
przedstawion metod pomiaru jest miernik R%& typu V , I7N W. X'd podstawowy miernika
wynosi 7F.
!omiary C i w multimetrac". 1 multimetrach przenonych, np. typu =VCVJ, do pomiaru
pojemnoci stosuje si metod pole#ajc na 'adowaniu mierzone#o kondensatora prdem o sta'ej
wartoci, wytwarzanym przez elektroniczne Grd'o prdu sta'e#o !rys.7?".

Yadowanie kondensatora sta'ym prdem wymusza liniowy wzrost napicia u
c
. $o je#o
zrwnaniu si z napiciem odniesienia '
0
, powstaje na wyjciu komparatora impuls koczcy
proces 'adowania. =idzy prdem dop'ywajcym do kondensatora a wystpujcym na nim
napiciem zachodzi zwizek*
dt
du
& 8
c
J
. Peeli $ < const., to po sca'kowaniu zaleno, uzyskuje
si rwnanie pomiaru*

-
J
4
8
&
,
$owysza zaleno dowodzi proporcjonalnoci czasu 'adowania kondensatora od je#o
pojemnoci. (o pomiaru czasu miernik jest wyposaony w cy3rowy miernik czasu.
$rzedstawiona metoda nie nadaje si do pomiarw kondensatorw o duej stratnoci, dla ktrych
proces 'adowania nie przebie#a liniowo.
H
Rys. S. 1ykres wskazowy napi dla
przypadku pomiaru parametrw cewki
komparator
napicia
$ < const.
ZstartZ
ZstartZ
ZstopZ
ZstopZ
u
C
C
.
'
0
'
0
'
C
'
t
t

2
4
Rys. 7?. 4k'ad do pomiaru pojemnoci,
wykorzystujcy 'adowanie kondensatora
prdem sta'ym
- I
m
[ U ]
L
x
R
N
U
z
R
x
R
N
U
z
U
z
-Re [ U ]
(. Przykady tablic pomiarowyc#
)ab. 1. $omiary parametrw elementw R%&. Cyp miernika ........................... . -r ................... .
Cyp elementu *dczyty +ynik pomiar!
1
i
e
l
.

m
i
e
r
z
.

3
p
k>z
C
y
p

u
k
.

z
a
s
t
.

5dczyt
$
o
d
z
a
k
r
e
s
p
o
m
i
a
r
o
w
y
(ok'adno
miernika dla
mierzonej
wielkoci
Jt4!J"
p<?,SH
4
r
!J"
F
[ondensator
typ .............
&
n
< .............
&
(
2
T
&ewka ind.
......................
......................
%
2
(
R
5pornik
....................
R

)ab. $. $omiary parametrw kondensatorw i cewek indukcyjnych mostkiem pomiarowym
typ mostka ............................, nr ..................
Cyp elementu
mierzone#o
*dczyty +ynik pomiar!
3
p
9k>z;
Cyp
uk.
zast
p+
cze#o
5dczyt
1sp'+
czynnik
zakresu
(ok'adno mostka
dla mierzonej
wielkoci
Jt4!J"
p<?,SH
4
r
!J"
F
kondenstor
typu ...........
&
n
< ...........
&ewka
indukcyjna
%
n
< .........
R
n
< .........
4. Przykady opracowania wynikw pomiarw miernikami RLC
M
Przykad 1.
,iernikiem -./*R) zmierzono ind!kcy"no0 i dobro0 dawika. 1la czstotliwoci
pomiarowe" mostka 1k2z odczytano3 L41456m2 i 74$84. *pracowa0 wyniki pomiarw.
(la 7k>z i zakresu S,SSSm> b'dy #raniczne miernika przedstawiaj zalenoci*
+ dla pomiaru %*
cy3r H F
??? 7?
%
F )
K
+ +
@ + dla pomiaru 2*
. cy3r H
%
7??
F 7?
K
+ +
1zory obliczeniowe na niepewno standardow wz#ldn przyjmuj wic posta*
( ) F 7??
%
m> ??7 , ? H
F
??? 7?
%
F )
I
7
% u
K
r

,
_

+ +
( ) , F 7??
2
7 , ? H
F 7??
2
7
%
7??
F 7?
I
7
2 u
K
r

,
_

+ +
w ktrych %
K
, jest liczb wynikajc z pominicia przecinka w wartoci odczytanej % !patrz
instrukcja obs'u#i miernika".
!omiar . 4wz#ldniajc wartoci uzyskuje si*
( ) ( ) F B , 7 F IM , ? F 7B , ? F )
I
7
F 7??
m> B?H , 7
m> ??H . ?
F
7????
7B?H
F )
I
7
% u
r
+ +
,
_

+ +
-iepewno rozszerzona pomiaru indukcyjnoci, dla p<?,SH*
( ) ( ) F. I , ) F B , 7 SH , ? I % u p I % 4
r r

-iepewno rozszerzona bezwz#ldna
( )
( )
m> ?I) , ? m> ?I)I , ?
F 7??
m> B?H , 7 F I , )
F 7??
% % 4
% 4
r

1ynik pomiaru*
( ) SH , ? p , m> ?I) , ? B?H , 7 % t
!omiar #.
( ) ( ) F ? , N F O , 7 F )M , ? F 7?
I
7
F 7??
B , )N
H , ?
F 7??
B , )N
7
7B?H
7??
F 7?
I
7
2 u + +
,
_

+ +
-iepewno rozszerzona !p<?,SH"*
( ) ( ) F. 77 F ? , N SH , ? I 2 u p I 2 4
r r

-iepewno rozszerzona bezwz#ldna* ( )
( )
7 , I
F 7??
B , )N F 77
F 7??
2 2 4
2 4
r

1ynik pomiaru 2*
SH . ? p , 7 , I B , )N 2 t

Rezystancja zastpcza d'awika dla 3<7k>z wynika z zalenoci de3inicyjnej*
R
%
2

,
wic

I) , ?
B , )N
> 7? B?H , 7 >z 7??? )
2
%
R
I
Przykad $.
,iernikiem - (1' wyznaczono parametry dawika z przykad! 1. !zysk!"%c odczyty3
L414('6 m2 14$9:; R45$8'. Czstotliwo0 pomiarowa miernika wynosi 1k2z.
*pracowa0 wyniki pomiarw. Porwna0 z wynikami z przykad! 1.
-a podstawie instrukcji obs'u#i, wyraenia na obliczenie b'dw #ranicznych
dopuszczalnych miernika maj posta*
+ pomiar indukcyjnoci !%
z
<7?m>"*
z K
z
K
% F ?) , ? %
(
(
F ) , ? F ) , ? +

,
_

+
+ pomiar wsp'czynnika stratnoci ( !(
z
<)??F"*
z K
K
z
( F ?I , ? (
%
%
F ?I , ? F 7 +

,
_

+
+ pomiar rezystancji zastpczej R !R
z
<7"*
z K
z
K
R F ) , ? R
(
(
F ) , ? F 7 +

,
_

+
N
!omiar . -iepewno standardowa bezwz#ldna pomiaru %*
( ) m> ??)S , ? ??) , ? ??)S , ?
I
7
F 7??
m> 7? F ?) , ?
F 7??
m> BIOH , 7
F )??
F SM , )
) , ? F ) , ?
I
7
" % ! u +
1
]
1

,
_

+
-iepewno rozszerzona + dla p<?,SH*
( ) ( ) m> ??BN , ? ??)S , ? SH , ? I % u p I % 4
1ynik pomiaru indukcyjnoci d'awika* %<!7,BIOH t ?,??BN"m> , p<?,SH
-iepewno wz#ldna pomiaru*
( )
( )
F I) , ? F 7??
%
% 4
% 4
r

$nioski. 4zyskane za pomoc miernikw V0[5RC i VI7O wartoci % s podobne, a wystpujce
midzy nimi rnice nie przekraczaj #ranicznych wartoci b'dw miernikw. 6a niepewno
pomiaru miernikiem V I7O jest M+krotnie lepsza od niepewnoci pomiaru wykonane#o miernikiem
V0[5RC.
!omiar wsp%czynnika stratno&ci '. 1sp'czynnik stratnoci ( jest odczytywany w F +
niemianowana jednostka ( jest mnoona przez 7??F \ 1 zwizku z tym,
niepewno standardowa, bezwz#ldna, ma te wymiar w F*
( ) [ ] F. ?HH , ? F ?M , ? F ?IM , ?
I
7
F 7??
F )?? F ?I , ?
F 7??
F SM , )
m> BIOH , 7
m> 7?
F ?I , ? F 7
I
7
( u +
1
]
1

+
,
_

+
-iepewno
rozszerzona, dla p<?,SH*
( ) ( ) F ?S7 , ? F ?HH , ? SH , ? I ( u p I ( 4
1ynik pomiaru (*
( ) F SH , ? p , F ?S , ? SM , ) ( t
,
albo w wartociach niemianowanych*
F. SH , ? p , ???S , ? ?)SM , ? ( t
-iepewno wz#ldna pomiaru*
( )
( )
F 7 , I F 7??
?)SM , ?
???S , ?
F 7??
(
( 4
( 4
r

!omiar do(roci #. 4wz#ldniajc, e
(
7
2
i ( ) ( ) ( 4 2 4
r r
<I,7F , to na podstawie wyniku
pomiaru (, jest*
N , ? O , II 2 t
@ dla p<?,SH
$nioski. 4zyskane dwoma miernikami wyniki pomiarw 2 su#eruj ok. B+krotnie wiksz
dok'adno pomiaru wykonane#o miernikiem V+I7O ni miernikiem 3+my Vskort. Pednake
porwnujc wartoci 2, wida midzy nimi znacznie wiksz rnic !o ok. )?F", ni
dopuszczaln przez b'dy #raniczne obu miernikw. $rzyczyn te#o moe by ma'a rezystancja
zastpcza d'awika !patrz obliczenia poniej", a std znaczcy wp'yw na wynik pomiaru rezystancji
przewodw 'czeniowych. 1p'ywa te mo# nieliniowe w'aciwoci d'awika z rdzeniem
ma#netycznym, dla ktre#o parametry zmieniaj si wraz ze zmian prdu pomiarowe#o.
!omiar rezystancji zastpczej R. -iepewno standardowa bezwz#ldna*
( )
( ) +
1
]
1

+
,
_

+
1
]
1

,
_

+
??)O , ? ??) , ? ??)O , ?
I
7
F 7??
7
F ) , ?
F 7??
F )NO , ?
F )??
F SM . )
F ) , ? F 7
I
7
F 7??
R
F ) , ?
F 7??
R
(
(
F ) , ? F 7
I
7
R u
z K
z
K
-iepewno rozszerzona, dla p<?,SH* ( ) ( ) ??BM , ? ??)O , ? SH , ? I R u p I R 4
1ynik pomiaru rezystancji zastpczej*
( ) t ??H , ? )NO , ? R
, 4
r
!R"<7,OF
$nioski. $odobnie jak w przypadku pomiarw 2 dwoma miernikami, rnica pomidzy
wartociami R przekracza znacznie #ranic wyznaczon przez niepewnoci pomiarw obu
miernikw. Ard'em tych rnic s w'aciwoci d'awika i przyrzdw pomiarowych.
O