1

Zarzdzanie jakoci
wiczenia
mgr in. Anna Wsiska
Zakad Zarzdzania Jakoci
pok. 311 B1, tel. 320-42-82
anna.wasinska@pwr.wroc.pl
Konsultacje:
SO 13:00 14:00
SO 18:00 19:00
2
Statystyczne sterowanie procesami
SPC
Karta kontrolna
Statystyczne Sterowanie Procesem
Statistical Process Control - SPC
SPC jest to sterowanie jakoci z wykorzystaniem metod
statystycznych.
SPC jest to zbir metod statystycznych, ktre maj pomc usprawnia
w sposb cigy jako procesw produkcji lub usug.
SPC to bieca kontrola procesu suca do:
- wykrywania jego ewentualnych rozregulowa
- staej poprawy jego jakoci.
W ramach SPC bada si:
- z jak naturaln zmiennoci, czyli z jakim rozproszeniem
wynikw pomiaru wykonywany jest proces produkcyjny
- jaka jest zdolno tego procesu do spenienia wymaga
okrelonych specyfikacjami.
3
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol, W. Mantura; J. acucki;W. Prussak
Statystyczne Sterowanie Procesem
Statistical Process Control - SPC
O SPC mona mwi zawsze, gdy dane lub
informacje bdce wynikiem stosowania narzdzi
i metod statystycznych s wykorzystywane:
- do oddziaywania na proces w celu
utrzymywania jego przebiegu w wymaganych
granicach
- dla uzyskania jego trwaej poprawy.
4
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol
5
Karta kontrolna
Cel zastosowania karty kontrolnej
Karta kontrolna, jako gwne narzdzie statystycznego sterowania
procesami (SPC), suy do nadzorowania przebiegu procesu
i doskonalenia jego jakoci.
Cele:
diagnoza i ocena stabilnoci procesu
identyfikacja sabych punktw procesu (przyczyn powodujcych
wzrost zmiennoci procesu) wymagajcych regulacji
wykrywanie, kiedy na kontrolowany proces wpyw miay
normalne, a kiedy szczeglne przyczyny zmiennoci
potwierdzenie udoskonalenia procesu
Zadaniemkarty kontrolnej jest dostarczanie w przejrzystej,
graficznej postaci informacji o tym, czy proces jest stabilny,
czy nie wymaga regulacji [A. Hamrol].
6
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. acucki; A. Hamrol, W. Mantura; J.J. Dahlgaard , K. Kristensen, G.K. Kanji
2
Przykadowe przyczyny odchyle
od wartoci podanej w procesie
system zarzdzania
dobr narzdzi
technologia
surowce
maszyny
bdy pracownikw
warunki otoczenia
7
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. acucki
Rodzaje zakce w procesie
Przyczyny zmiennoci jakoci procesu mona
podzieli na dwie grupy:
1. Czynniki (przyczyny, zakcenia) specjalne
(sporadyczne, wyjtkowe).
2. Czynniki (przyczyny, zakcenia) losowe
(systemowe, pospolite, chroniczne).
8
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. acucki; A. Hamrol, W. Mantura; J.J. Dahlgaard , K. Kristensen, G.K. Kanji; Z. Zymonik
Przyczyny zmiennoci procesu
9
Przyczyny specjalne Przyczyny systemowe
pojawiaj si nagle i dlatego
zakcenie procesu zwraca
uwag kierownictwa
istnieje tylko niewielka ich
liczba, a skutek kadej
z nich moe by znaczcy
odpowiedzialno za te
przyczyny moe dzieli si
pomidzy pracownika
a kierownictwo
wci si pojawiaj i dlatego nie
s zauwaane przez kierownictwo
jest ich wiele, skutek kadej z nich
jest stosunkowo may
w porwnaniu z przyczynami
specjalnymi, jednak ich czny
skutek jest zazwyczaj do
znaczny, dlatego trzeba je
zaatakowa w celu
udoskonalenia systemu/procesu
odpowiedzialno za te przyczyny
spoczywa cakowicie
na kierownictwie
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. acucki; A. Hamrol, W. Mantura; J.J. Dahlgaard , K. Kristensen, G.K. Kanji; Z. Zymonik
Istota karty kontrolnej
Prowadzenie karty kontrolnej polega na ledzeniu
na wykresie zmian wybranych statystyk
(np. redniej arytmetycznej, mediany, rozstpu, odchylenia
standardowego, liczby niezgodnoci, liczby jednostek
niezgodnych) wyznaczanych z prbek o okrelonej
liczebnoci, pobieranych w ustalonych, regularnych
odstpach czasu, utworzonych na wybranych
waciwociach (cechach) procesu lub wyrobu.
Jeli wartoci wybranych statystyk mieszcz si
w przedziale wyznaczonym na karcie przez tzw. linie
kontrolne lub nie tworz okrelonej sekwencji oznacza to,
e proces jest stabilny tzn. nie podlega dziaaniu
czynnikw, ktre mog trwale pogorszy jego wyniki.
10
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol, W. Mantura
Idea karty kontrolnej
Ide kart jest:
systematyczne ich prowadzenie w celu
uzyskania potwierdzenia, e rodki stosowane
do sterowania procesem zapewniaj jego
stabilno,
a w przypadku, gdy na karcie pojawi si sygna rozregulowania,
podjcie odpowiednich dziaa korygujcych.
11
rdo: J. acucki
Rodzaje kart kontrolnych
karty kontrolne dla cech mierzalnych
karty kontrolne dla cech policzalnych
(alternatywnych)
12
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. acucki; A. Hamrol, W. Mantura; J.J. Dahlgaard , K. Kristensen, G.K. Kanji
3
Karty kontrolne dla cech mierzalnych
13
Typ
karty
Nadzorowana statystyka Zastosowania
Karta
rednia arytmetyczna
Liczebno prbki stosunkowo maa
(zazwyczaj 3-5)
Podstawowakartakontrolna
stosowanaw procesach , w ktrych
mona wyrni kolejne,
powtarzalnejednostki produktu,
np. pakowanieproduktw
sztukowych
KartaM
e
Mediana
Liczebno prbki stosunkowo maa
(zazwyczaj 3-5)
Rzadko stosowana
Zastosowaniejw
KartaR
Rozstp
Liczebno prbki stosunkowo maa
(zazwyczaj 3-5)
Stosowana razem z kart
jakokontrola naturalnej zmiennoci
procesu
Kartas
Odchylenie standardowe
Jeli uzasadnione jest, majc na uwadze
wzgldy techniczne i ekonomiczne,
pobieranie stosunkowo duych prbek
(o liczebnoci n>5)
J w
x
R i
x x x lub ,
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol
Karty kontrolne dla cech mierzalnych (cd)
14
Typ
karty
Nadzorowana statystyka Zastosowania
Kartax
i
Warto pomiarowa
atwo prowadzenia, jednak maa
precyzja wraliwa na zakcenia
przypadkowe /pojedyncze zakcenia
Stosowana, jeli ze wzgldu na liczb
danych oraz nisk powtarzalno
procesu, nie mona zastosowa kart
oraz lub M
e
R:
- w produkcji maoseryjnej,
nierytmicznej
- dla procesw cigych, w ktrych nie
mona pobiera prbek
wieloelementowych
Karta
rednia waona (liniowalub
wykadnicza) z ostatnich n pomiarw
Mao wraliwa na zakcenia
sporadyczne, wymagajca stosunkowo
pracochonnych oblicze
J w
Karta
sum
skumulo-
wanych
Suma odchyle mierzonej cechy od
wartoci nominalnej (celowej, redniej)
Pracochonna, przy interpretacji
wymagajca od uytkownika wysokich
kwalifikacji
Stosowanaw procesach, w ktrych
wane jest wykrywanie niewielkich
zmian
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol
R x s x
R
x
Karty kontrolne dla cech policzalnych (alternatywnych)
15
Typ
karty
Nadzorowana statystyka Zastosowania
Kartanp
Liczba jednostek niezgodnych
w prbce
Zalecana jest staa liczebno
prbki
Stosowanaw procesach, w ktrych mona
wyrni kolejne, powtarzalne jednostki
produktu i zakwalifikowa je jako zgodne
lub niezgodne
Kartap
Frakcja jednostek niezgodnych
w prbce
Dopuszczalnajest zmienna
liczebno prbki
J w
Kartac
Liczba niezgodnoci w prbce
Zalecana jest staa liczebno
prbki
Stosowanaw procesach, w ktrych nie
musi by moliwe wyrnienie kolejnych,
powtarzalnychjednostek produktu
Moliwe jest okrelenie zakresu prbki
i zliczenie w niej liczby niezgodnoci
Kartau
Liczba niezgodnoci
na jednostk wyrobu
Dopuszczalnajest zmienna
liczebno prbki
J w
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol
Budowa karty kontrolnej
16
LC (linia centralna) przedstawia redni warto wybranej statystyki wyznaczon
zewszystkich umieszczonych nakarciekontrolnej pomiarw
GGK (grna granica kontrolna) linia wyznaczajca grne wartoci obserwowanych
charakterystyk dla ustabilizowanego i poprawnie przebiegajcego procesu
DGK (dolna granica kontrolna) linia wyznaczajca dolne wartoci obserwowanych
charakterystyk dla ustabilizowanego i poprawnie przebiegajcego procesu
GGO (grna granica ostrzegawcza) i DGO (dolna granica ostrzegawcza) linie,
po ktrych przekroczeniu naley bliej przyjrze si kontrolowanemu procesowi
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. acucki; A. Hamrol, W. Mantura; J.J. Dahlgaard , K. Kristensen, G.K. Kanji; A. Dobrowolska
Interpretacja wynikw sprawdzenie spenienia odpowiednich warunkw
17
Proces statystycznie uregulowany
(kontrolowany, opanowany)
Proces statystycznie nieuregulowany
(niekontrolowany, nieopanowany)
wszystkie punkty musz mieci si
pomidzy grn i doln lini kontroln
wikszo punktw musi znajdowa
si bliej linii centralnej ni granic
kontrolnych
punkty nie mog wykazywa trendw
ani cykli wiadczcych
o nienaturalnych przyczynach
zmiennoci
punkty nie mog tworzy
powtarzajcych si okresowo ukadw
liczba punktw znajdujcych si
powyej lub poniej linii centralnej
musi by w przyblieniu jednakowa
linie czce poszczeglne punkty
na wykresie powinny przecina lini
centraln
punkt (punkty) na karcie wypada poza
doln lub grn granic kontroln
dwa z trzechkolejnych punktw le
bardzo blisko grnej lub dolnej linii
kontrolnej
serie siedmiu kolejnych punktw le
po jednej stronie linii centralnej
szereg siedmiu punktw ley wzdu
prostej rosncej lub malejcej
(wystpowanie trendw)
szeregi punktw ukadaj si w fal
(wystpowanie okresw)
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. acucki; A. Hamrol, W. Mantura; J.J. Dahlgaard , K. Kristensen, G.K. Kanji
Przykady symptomw wskazujcych dziaanie na proces
czynnikw specjalnych
18
rdo: A. Hamrol
4
Procedura sporzdzania karty kontrolnej
1. Wybr wielkoci kontrolowanych
majcych istotny udzia w jakoci
na ktre mona aktywnie oddziaywa poprzez zmian
parametrw procesu
2. Wybr typu karty kontrolnej, np.:
proces o charakterze masowym, wyjcie procesu
policzalne karta
proces o charakterze cigym, wyjcie procesu
niepoliczalne karta pojedynczych obserwacji
3. Wyznaczenie wielkoci prbki n
(zmienno w prbce powinna w jak najwikszym stopniu
oddawa naturaln zmienno procesu)

19
R x
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol
Procedura sporzdzania karty kontrolnej (cd)
4. Wyznaczenie czstotliwoci pobierania prbek
(wyniki kolejnych prbek powinny umoliwia rozpoznanie
zmian wywoanych czynnikami specjalnymi).
5. Rejestrowanie danych
(pobranie danych przynajmniej dla k =20-25 prbek
n elementowych).
6. Obliczenie statystyk charakteryzujcych kad wybran
podgrup (prbk n elementow).
7. Obliczenie linii kontrolnych wyznaczenie ich pooenia
w oparciu o statystyki z wybranych podgrup/prbek
n elementowych
wg wzorw dla przyjtej karty kontrolnej

Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol

Procedura sporzdzania karty kontrolnej (cd)
8. Opracowanie arkusza karty (powinien zapewni odpowiedni
rozdzielczo)
naniesienie na wykres linii centralnej
naniesienie na wykres linii/granic kontrolnych (grnej i dolnej)
9. Naniesienie statystyk badanych prbek na kart kontroln.
10. Przeprowadzenie analizy karty
wykrywanie symptomw wskazujcych na dziaanie na proces
czynnikw specjalnych
zbadanie statystyk dla punktw znajdujcych si poza granicami
kontrolnymi i dla wzorw wskazujcych na wystpowanie
moliwych do wyznaczenie przyczyn specjalnych
11. Wyznaczenie i przeprowadzenie dziaa korygujcych
usuwanie rde czynnikw specjalnych
monitorowanie efektw przeprowadzonych dziaa
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol
22
Przykad
Budowanie karty kontrolnej
R x
Czynnoci wstpne (etapy 1 5)
23
Numer prbki
Nr
pomiaru
w prbce
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
1 251 251,5 250 250,5 251 251,5 253 251,5 252 251
2 250,5 250 252 251 250,5 249,5 251 251 251 251,5
3 251,5 251 251 251,5 250,5 251 253 250,5 250,5 251
4 251,5 252 250 250 252,5 250,5 252 250,5 251,5 250
5 249,5 250 250,5 251 250 251 252,5 251 250,5 251
6 250 251 249,5 251,5 251 250 252 250,5 251 250,5
rdo: A. Hamrol
Obliczenie statystyk (etap 6)
Numer prbki
Nr
pomiaru
w prbce
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
1 251 251,5 250 250,5 251 251,5 253 251,5 252 251
2 250,5 250 252 251 250,5 249,5 251 251 251 251,5
3 251,5 251 251 251,5 250,5 251 253 250,5 250,5 251
4 251,5 252 250 250 252,5 250,5 252 250,5 251,5 250
5 249,5 250 250,5 251 250 251 252,5 251 250,5 251
6 250 251 249,5 251,5 251 250 252 250,5 251 250,5
rednia 250,67 250,92 250,50 250,92 250,92 250,58 252,25 250,83 251,08 250,83
Rozstp 2,00 2,00 2,50 1,50 2,50 2,00 2,00 1,00 1,50 1,50
rdo: A. Hamrol
5
Obliczenie linii kontrolnych (etap 7)
Karta Karta R
Statystyka
dla n elementowej
prbki
(wykrelany punkt)
Linia centralna
Granice kontrolne
x
n
X
X
E
= min max
X X R =
k
X
X
E
=
k
R
R
E
=
R A X GGK
2
+ =
R A X DGK
2
=
R D GGK
R 4 ) (
=
R D DGK
R 3 ) (
=
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. acucki; A. Hamrol
Wybrane wspczynniki
26
Liczebno
prbki n
2 1,880 0 3,267
3 1,023 0 2,568
4 0,729 0 2,266
5 0,577 0 2,089
6 0,483 0,030 1,970
2
A
3
D
4
D
rdo: A. Hamrol
Obliczenie linii kontrolnych (etap 7) - cd
Karta Karta R
Linia
centralna
Granice
kontrolne
x
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol
95 , 250
10
5 , 2509
= = X 85 , 1
10
5 , 18
= = R
84 , 251 85 , 1 483 , 0 95 , 250 = - + = GGK
06 , 250 85 , 1 483 , 0 95 , 250 = - = DGK
64 , 3 85 , 1 97 , 1
) (
= - =
R
GGK
06 , 0 85 , 1 03 , 0
) (
= - =
R
DGK
Opracowanie arkusza karty (etap 8)
Opracowaa: Anna Wsiska
Naniesienie statystyk badanych prbek na kart kontroln (etap 9)
Opracowaa: Anna Wsiska
Uyteczno kart kontrolnych
moliwo zastosowania do sterowania procesu w trakcie
jego przebiegu
moliwo sprawdzenia, na podstawie wynikw
pomiarw prbek, czy proces przebiega prawidowo
moliwo rozrnienia pomidzy zakceniami
specjalnymi i losowymi, co pozwala na podjcie
waciwych dziaa korygujcych
pomoc w zapewnieniu staoci przebiegu procesu i jego
przewidywalnoci poprawa jakoci i zmniejszenie
kosztw
wsplny jzyk pozwalajcy na analizowanie
i zrozumienie dziaania procesu
30
Opracowaa: Anna Wsiska [za] J. ancucki; A. Hamrol; J.J. Dahlgaard, K. Kristensen, G.K. Kanji
6
31
Wskaniki zdolnoci jakociowej
Wskaniki zdolnoci jakociowej
Wskanik zdolnoci jakociowej okrela moliwoci spenienia przez
kogo/przez co postawionych wymaga jakociowych.
zmienno dopuszczalna wynikajca z wymaga
wskanik =
zmienno wasna procesu
Bada mona zdolno caych procesw lub tylko poszczeglnych
maszyn.
Na podstawie wskanika okreli mona m.in. wadliwo produkcji,
jakiej naley si spodziewa przy danym procesie (lub maszynie).
32
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol; J.acucki; T. Greber
Wskaniki zdolnoci jakociowej Cp
GLT (DLT) grna (dolna) linia tolerancji
T pole tolerancji
odchylenie standardowe badanej waciwoci
6 naturalna tolerancja (rozrzut) procesu
Cp okrela ile razy przedzia naturalnej zmiennoci danej
waciwoci, wyznaczany wartoci (-3, +3), mieci si w
jej polu tolerancji (ustalonej wymaganiami).
Okrela tylko potencjalne moliwoci procesu do spenienia
wymaga jakociowych (nie uwzgldnia ewentualnego
przesunicia wartoci redniej waciwoci x wzgldem linii
tolerancji. 33
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol; J.acucki; T. Greber
6 6
) ( T DLT GLT
C
p
=

=
Wskaniki zdolnoci jakociowej Cpk
GLT (DLT) grna (dolna) linia tolerancji
odchylenie standardowe badanej waciwoci
- warto rednia badanej waciwoci uzyskana z pomiarw
Cpk uwzgldnia pooenie wartoci redniej waciwoci x
wzgldem granic tolerancji.
34
Opracowaa: Anna Wsiska [za] A. Hamrol
)
`

=
3
) (
;
3
) (
min
DLT x x GLT
C
pk
x