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Universidade Federal Rural do Semi-rido

Campus Pau dos Ferros


Bacharelado em Cincias e Tecnologia

Estruturas Cristalinas, Raios X e Defeitos Nas Estruturas dos Slidos

William Vieira
Ismael Noronha

Pau dos Ferros


Janeiro 2015

Universidade Federal Rural do Semi-rido


Campus Pau dos Ferros
Bacharelado em Cincias e Tecnologia

Estruturas Cristalinas, Raios X e Defeitos Nas Estruturas dos Slidos

William Vieira
Ismael Noronha

Trabalho escrito apresentado


disciplina

Laboratrio

de

Qumica

Aplicada ministrada pelo Profa. Josy


Ramos em complementao a um dos
requisitos para a obteno da Nota da
Unidade III

Pau dos Ferros


Janeiro 2015

1. Introduo
O presente trabalho uma introduo abordagem das estruturas cristalinas,
mtodo de difrao com raios X e defeitos nas estruturas dos slidos, mais precisamente,
tratar sobre o mtodo de identificao das estruturas cristalinas dos materiais e as
imperfeies nos retculos cristalinos causados por lacunas, impurezas, etc.
objetivo deste trabalho expor os tipos de imperfeies no arranjo peridico
regular em um material e como feita a identificao de uma dada estrutura, assim como,
explicar suas causas e consequncias.
A metodologia utilizada foi a reviso bibliogrfica sobre os conceitos acerca dos
assuntos abordados, alm de pesquisas enriquecidas em artigos cientficos e perodicos de
respeitadas universidades brasileiras.

2. Desenvolvimento

A estrutura cristalina de um slido a designao dada ao conjunto de


propriedades que resultam da forma como esto espacialmente ordenados os tomos ou
molculas que o constituem. Note-se que apenas os slidos cristalinos exibem esta
caracterstica, j que ela o resultado macroscpico da existncia subjacente de uma
ordenao ao nvel atmico, replicada no espao ao longo de distncias significativas face
dimenso atmica ou molecular, o que exclusivo dos cristais. A existncia da estrutura
cristalina resulta em slidos serem construdos a partir da repetio no espao de uma
estrutura elementar paralelepipdica denominada clula unitria.
As determinaes de estruturas cristalinas desempenham um papel importante
numa gama de aplicaes cientficas. Conhecendo-se a estrutura de um dado composto,
possvel correlacionar estrutura com funo e compreender certas propriedades fsicas,
qumicas e biolgicas. Os qumicos, por exemplo, obtm informaes teis para produzir
snteses, modificar compostos e planejar mecanismos de reaes qumicas. Os bioqumicos
partem de conhecimentos estruturais para planejar testes com novos compostos em cobaias,
visando obter novos medicamentos e drogas. Os fsicos utilizam informaes estruturais para
correlacionar certas propriedades fsicas que dependem da direo que for considerada no

cristal. Por exemplo, o ndice de refrao para certos cristais diferente conforme a direo
em que for efetuada a medida, tal como no cristal de calcita.
A partir das clulas unitrias, e levando em conta os eixos de simetria e a posio
do centro geomtrico de cada elemento do cristal, possvel descrever qualquer cristal com
base em diagramas designados por redes de Bravais, nome que homenageia Auguste
Bravais (1811-1863), um dos pioneiros do seu estudo.
Descrever uma estrutura cristalina significa basicamente fornecer as dimenses da
cela unitria, descrever as simetrias existentes, definir as coordenadas dos tomos que
constituem um determinado composto, detalhar as distncias interatmicas, ngulos de
Valncia, empacotamento cristalino, etc.
Desde o comeo do sculo XX a tcnica de difrao de raio X foi usada para
detectar a estrutura microscpica dos materiais, porm suas limitaes prticas foram
superadas a partir da dcada de 50 com o advento de novas tecnologias e computadores mais
potentes.

Difrao de Raios X

A difrao por raio X consiste em uma das principais tcnicas de caracterizao


microestrutural de materiais cristalinos aplicado em diversos campos do conhecimento, mais
em particular na cincia e engenharia dos materiais.
Quando os feixes de raios X entram em contato os tomos, a energia espalhada
sem perda. O fton de raio X muda a sua trajetria aps a coliso com o eltron do tomo,
porm mantm a mesma fase e energia da onda incidente. Sob o ponto de vista ondulatrio,
pode-se afirmar que a onda eletromagntica absorvida e imediatamente reemitida pelo
eletron. Logo, o eltron tambm serviu de fonte de emisso de raio X.

Estando os tomos arranjados em uma estrutura bem definida espacialmente como


uma estrutura cristalina, pde-se perceber que com as relaes de fase entre a onda emitida e
reemitida era peridica e poderia ser observada em vrios ngulo.
Considerando dois ou mais planos imaginrios de uma estrura cristalina, as
condies para que ocorra a difrao de raios vo depender da diferena de caminho e do
comprimento de onda da radiao emitida. Tais condies so relacionadas na lei de Bragg
para assim definir a distncia entre entre os planos imaginrios d.

Figura 2 Difrao de raios X com a distncia interplanar, ambas relacionadas


na Lei de Bragg.

Sabendo a distncia interplanar, possivel conhecer a distncia entre os tomos e


perceber qual o seu tipo de arranjo cristalino. Conhecendo o tipo de estrutura cristalina de um
determinado material, foi verificado que no existe um material completamente puro, assim
como, foram encontradas falhas nas estruturas, como: lacunas, impurezas, etc.

Falhas nas Estruturas dos Slidos Cristalinos

Segundo (CALLISTER, 2002) as propriedades so profundamente influenciadas


pela presena de imperfeies. Consequentemente importante ter o conhecimento sobre os

tipos de imperfeies que existe e sobre os papeis que elas desempenham ao afetar o
comportamento do material.
Dentre os tipos de imperfeies que um slido apresenta, podemos citar:

Defeitos puntiformes (associados com uma ou duas posies atmicas): a ausncia


de um tomo em um ponto do retculo cristalino. Podem ser formadas durante a
solidificao ou como resultado de vibraes atmica, causando uma grande distoro
do reticulado cristalino a sua volta. Todos os slidos cristalinos contm lacunas, logo
no possvel criar um material isento desse tipo de defeito. O aumento de lacunas
aumenta a entropia de um cristal.

Defeitos de linha (defeitos unidimensionais): discordncias ou desalinhamento entre


tomos . Na regio ao redor da discordncia existe distores na rede cristalina, esse
efeito refletido nas ligeiras curvaturas entre os planos verticais dos tomos. As
discordncias podem ser observadas com a tcnica de micrografia eletrnica de
transmisso. A magnitude e a direo das distores no retculo cristalino so
representadas em termos do vetor de Burgers

Defeitos bidimensionais (fronteiras entre duas regies com diferentes estruturas

cristalinas ou diferentes orientaes cristalogrficas): contornos de gro, interfaces,


superfcies livres, contornos de macla. De modo geral, h uma interrupo na
sequncia de empilhamento. A macla um tipo de defeito cristalino que pode ocorrer
durante a solidificao, deformao plstica, recristalizao ou crescimento de gro.
Quando o desalinhamento entre os gros vizinhos grande (maior que ~15), o
contorno formado chamado contorno de gro de alto ngulo. Se o desalinhamento
pequeno (em geral, menor que 5), o contorno chamado contorno de pequeno ngulo.

Podemos afimar que os defeitos, mesmo em concentraes muito pequenas,


podem causar uma mudana significativa nas propriedades de um material. sem a presena de

defeitos:os dispositivos eletrnicos do estado slido no existiriam, os metais seriam muito


mais resistentes, os cermicos seriam muito mais tenazes, os cristais no teriam nenhuma cor,
etc.

3. Concluso

4. Referncias
CALLISTER, W. D., Cincia e Engenharia de Materiais: Uma Introduo. John Wiley &
Sons, Inc., 2002.
Centro de Informao Metal Mecnica, Defeitos Cristalinos. Disponvel em:
<http://www.cimm.com.br/portal/material_didatico/6419-defeitos-cristalinos#.VLvx3dLFoi>. Acesso em 18 de janeiro de 2015 .
VENCANTO, Ivo. Estruturas Cristalinas Por Difrao De Raios-X, 2001

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