Guia Microscopia de Minerais

GUIA
PARA MICROSCOPIA DE MINERAIS

EM LMINAS DELGADAS
MICHAEL M. RAITH, PETER RAASE
& JRGEN REINHARDT
TRADUO PARA O PORTUGUS
MARIA DO CARMO GASTAL

& MRCIA ELISA B. GOMES
Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014
ISBN 978-3-00-046279-5 (PDF)

2014 by M.M. Raith (University of Bonn) , P. Raase (University of Kiel), J. Reinhardt (University of
KwaZulu-Natal)
All rights reserved. No part of this e-book may be reproduced, in any form or by any means, without the
prior written permission of the authors.
Mailing and E-Mail addresses:
Prof. Dr. Michael M. Raith, Roidestrae 19, 53359 Rheinbach, Germany. E-Mail: m.raith@uni-bonn.de
Dr. Peter Raase, Steendiek 1, 24220 Schnhorst, Germany. E-Mail: pr@min.uni-kiel.de
Dr. Jrgen Reinhardt, School of Agricultural, Earth & Environmental Sciences, Department of Geology,
University of KwaZulu-Natal, Durban 4000, South Africa. E-Mail: reinhardtj@ukzn.ac.za
Assoc. Profas. Maria do Carmo Gastal e Mrcia Elisa Boscato Gomes, Departamento de Mineralogia e
Petrologia, Instituto de Geocincias, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Av. Bento Gonalves,
9500, C.P. 91501-970 Porto Alegre, RS, Brasil. E-mails: maria.gastal@ufrgs.br e marcia.boscato@ufrgs.br.
Guia para Microscopia
Contedo
Contedo
Prefcios......................I-III
Bibliografia ............................IV
Terminologia e abreviaturas ...........V
1. O microscpio petrogrfico
1.1 A lente de aumento (ou lupa) e o microscpio
1.1.1 Formao da imagem por uma lente convergente (objetiva)........................................1-2
1.1.2 Ampliao com a lupa (ocular)................ ............................................3
...
1.1.3 O Microscpio composto.........................................................................................................................................................3-6

1.2 Objetiva e ocular
1.2.1 Objetiva..................6-8
1.2.2 Ocular.....8-9
1.2.3 Tubo, objetiva e ocular.......................10
1.3 Iluminao
1.3.1 Abertura de iluminao........................................................................................................................................................10-11
1.3.2 Campo de iluminao.......................................................................................................................................................................11
1.3.3 Difusor de vidro e filtros...................................................................................................................................................11-13
1.4 Trajetrias dos raios de luz no microscpio
1.4.1 Iluminao de Khler...................................................................................................................................14
1.4.2 Modo de iluminao ortoscpico...............................................................................................14
1.4.3 Modo de iluminao conoscpico.........................................................................................................15
1.5 Centragem do Microscpio..............................................................................................15-18
1.6 Polarizador e analisador........18-21
Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014c
1.7 Resoluo de problemas

1.7.1 Otimizao da imagem do espcime.................................................................22
1.7.2 Correo da imagem defeituosa............................................................................................................22-23
1.7.3 Fontes de erro no modo polarizadores cruzados..............................................................23
1.7.4 Cuidados e manuteno do microscpio.................................................................................23
2. Medio de ngulos, distncias e espessura
2.1 Medio de ngulos..............................................................................................................................................................24-25
2.2 Medio de distncias.................................26
2.3 Medio da espessura da lmina delgada...................................26-29
Contedo
3. Propriedades morfolgicas
3.1 Forma do gro e simetria......................................................................................................................................................................30-38
3.2 Clivagem, fratura e fenmenos de deformao e recristalizao............................................39-45
3.3 Geminao..............................................................................................................................................................................................................46-49
3.4 Incluses, intercrescimentos e fenmenos de alterao e desmescla................50-58
4. Propriedades pticas
4.1 Alguns princpios bsicos
4.1.1 Natureza da luz, refrao...............................59-61
4.1.2 Isotropia e anisotropia........................................................................................................................................................62-66
4.2 Caractersticas pticas utilizadas na determinao dos minerais
4.2.1 Cor e pleocrosmo.........................................................................................................................................................................67-75
4.2.2 Refrao da luz (relevo, chagrin e linha de Becke)............................... ................................76-78
..
4.2.3 Dupla refrao (extino e cores de interferncia)....................................................................79-98

4.2.4 Posies de extino em sees de cristais birrefringentes.......................99-110
4.2.5 Mtodos conoscpicos (carter e sinal ptico, 2V)................................111-125
5. Rotina sistemtica para determinao mineral..........................................................................................................................126
Contedo
Prefcio da primeira verso em portugus

A microscopia de luz transmitida ou a de luz refletida na investigao de minerais, rochas,
minrio e de outros materiais sintticos ou tecnolgicos permanece um dos mtodos clssicos,
e at hoje imprescindvel ao estudo dessas substncias. A microscopia em luz polarizada uma
tcnica no destrutiva e robusta na determinao de substncias slidas (cristalinas ou
amorfas). Possui resoluo espacial relativamente elevada e, ao possibilitar o estudo das fases
minerais de acordo com as relaes texturais (estrutura, trama, associao e relaes de fases,
texturas de reao), fornece informaes importantes ao entendimento de sua gnese. Neste
contexto, a microscopia de luz transmitida no pode ser substituda por outros mtodos de
anlise que utilizam amostras modas para identificao de fases minerais (XRD), ou para
anlise qumica em rocha total (XRF, AAS). As limitaes da microscopia de luz transmitida
so bvias quando necessrio obter a composio qumica de solues slidas complexas, ou
quando o material muito fino para determinao de uma nica fase. O estudo atual em cincia
dos materiais deve, dependendo de seus objetivos e dos materiais a serem investigados,
combinar os estudos de microscopia de luz transmitida com mtodos no destrutivos
complementares de alta resoluo (EMPA, SEM-EDX, TEM).
Existem inmeros livros textos contendo revises detalhadas sobre as tcnicas de determinao
utilizadas em microscopia de polarizao, bem como sobre os fundamentos de ptica cristalina
para anlise de fases transparentes cristalinas ou amorfas (vidros, minerais, substncias
sintticas). Portanto, no se faz necessrio uma extensiva apresentao de tais temas neste guia
introdutrio, que visa apresentar os procedimentos para determinao dos minerais em lmina
delgada. Para o trabalho prtico ao microscpio de luz polarizada suficiente a apresentao
resumida dos princpios bsicos, de modo que mesmo o usurio sem uma formao slida em
mineralogia possa acompanhar as instrues. Os fundamentos tericos de ptica cristalina e de
cristalografia so includos somente onde so imprescindveis para explicar fenmenos pticos
e propriedades morfolgicas dos cristais. Gostaramos de lembrar que, neste guia, utilizamos o
termo ondas de luz ao invs de raios de luz, de acordo com Bloss (1999).
A identificao dos minerais ao microscpio de luz polarizada fundamentado em propriedades pticas e morfolgicas. Existem numerosos livros textos com tabelas e descries destas
propriedades, para uma grande variedade de minerais e substncias sintticas (veja referncias
bibliogrficas).
O presente guia baseado no texto da segunda edio de Leitfaden zur Dnnschliffmikroskopie e de sua traduo para o ingls Guide to Thin Section Microscopy, disponveis
como publicao de acesso livre no website da Deutsche Mineralogische Gesellschaft
(www.dmg-home.de/mineralogie_studium.html) e da Mineralogical Society of America
(www.minsocam.org/msa/openaccess_publications.html). Agradecemos sinceramente a nossas
colegas Maria do Carmo Gastal e Mrcia Elisa B. Gomes, pela qualificada traduo ao
portugus. Esperamos que este guia fornea aos estudantes as bases necessrias para um
exitoso ingresso na microscopia de luz polarizada. Todas as sugestes so sempre bem-vindas!
Maio de 2014
M.M.R
P.R.
J.R.
Contedo
Prefcio da segunda edio em ingls

As principais mudanas introduzidas na segunda edio dizem respeito aos captulos 1.6
(Polarizador e analisador), 3.2 (Clivagem, fratura e fenmenos de deformao e recristalizao), 3.4 (Incluses, intercrescimentos e produtos de alterao) e 4.2.3 (Dupla refrao).
No restante do texto, foram realizadas pequenas modificaes editorais e a substituio de
algumas fotomicrografias.
O captulo 1.6 foi organizado de modo a permitir a descrio, passo a passo, dos
procedimentos para checar e ajustar os dois polarizadores. O captulo 3.2 foi ampliado,
incluindo feies relacionadas deformao na escala do gro ou da lmina delgada, dado
que essas so observadas ao microscpio de luz transmitida. O texto e figuras no captulo 3.4
foram revisados e ampliados. O captulo 4.2.3, que inclui aspectos da mineralogia ptica de
difcil compreenso pelo usurio novato, foi objeto de ampla reviso. Foram adicionadas
novas figuras e o texto foi organizado de modo a facilitar o entendimento da base fsica
necessria para compreenso de fenmenos pticos, tais como retardo e cores de interferncia. Alm disso, esta edio inclui cartas de cores de interferncia recalculadas e uma
carta n-d indita.
Os usurios deste guia notaro de imediato que as fotomicrografias carecem de escala
grfica. As escalas foram deixadas de fora por duas razes simples: primeiro, porque o
tamanho dos detalhes mostrados para ilustrar as propriedades pticas ou morfolgicas no
um fator crtico, e segundo, porque a insero de escalas grficas sobrecarregaria as
ilustraes sem um propsito til, para os fins deste guia. Todavia, as escalas grficas em
fotomicrografias so informaes essenciais nos trabalhos de mineralogia ou petrologia e,
portanto, no podem ser esquecidas.
Com referido na pgina IV, ns decidimos abandonar o uso dos smbolos e para,
respectivamente, birrefringncia e retardo. Esperamos que os profissionais formados e
familiarizados com os deltas nos perdoem por esta ruptura com a tradio.
M.M.R
P.R
J.R
Fevereiro de 2012
II
Contedo
Prefcio da primeira verso em ingls

A microscopia de luz transmitida ou refletida na investigao de minerais, rochas, minrio e
de outros materiais sintticos ou tecnolgicos permanece um dos mtodos clssicos, e at
hoje imprescindvel para anlise mineralgica. A microscopia em luz polarizada uma
tcnica no destrutiva e robusta na determinao de substncias slidas (cristalinas ou
amorfas), possui resoluo espacial relativamente elevada, e tambm til no estudo das
fases minerais de acordo com sua textura. Permite a estimava de composies qumicas e
fornece, ainda, os elementos necessrios ao entendimento da histria de formao do
material, mediante o estudo das relaes texturais (estrutura, trama, associao e relaes de
fases, texturas de reao). Neste contexto, a microscopia de luz transmitida no pode ser
substituda por outros mtodos de anlise que utilizam amostras modas para identificao de
fases minerais (XRD), ou para anlise qumica em rocha total (XRF, AAS). As limitaes da
microscopia de luz transmitida so bvias quando necessrio obter a composio qumica
de solues slidas complexas, ou quando o material muito fino para determinao de uma
nica fase. O estudo atual em cincia dos materiais deve, dependendo de seu objetivos e dos
materiais a serem investigados, combinar os estudos de microscopia de luz transmitida com
mtodos no destrutivos complementares de alta resoluo (EMPA, SEM-EDX, TEM).
Existem diversos livros textos que apresentam revises detalhadas sobre as tcnicas de
determinao utilizadas em microscopia de luz transmitida, bem como sobre os fundamentos
de ptica cristalina para anlise de fases transparentes cristalinas ou amorfas (vidros,
minerais, substncias sintticas). Portanto, no se faz necessrio uma extensiva apresentao
de tais temas neste guia introdutrio, que visa apresentar os procedimentos para determinao
dos minerais em lmina delgada. Para o trabalho prtico ao microscpio de luz polarizada
suficiente a apresentao resumida dos princpios bsicos, de modo que mesmo o usurio
sem uma formao slida em mineralogia possa acompanhar as instrues. Os fundamentos
de ptica cristalina e de cristalografia so includos somente onde so imprescindveis para
explicar fenmenos pticos e propriedades morfolgicas dos cristais.
A identificao dos minerais ao microscpio de luz polarizada fundamentado em

propriedades pticas e morfolgicas. Existem numerosos livros textos com tabelas e
descries destas propriedades, para uma grande variedade de minerais e substncias
sintticas (veja referncias bibliogrficas).
O presente guia baseado no texto Methoden der Dnnschliffmikroskopie de G. Mller &
M Raith (Clausthaler Tektonische Hefte, vol. 14), de amplo uso na Alemanha, embora esteja
esgotado h tempos. Ns adotamos em grande parte este texto, revisamos as figuras
utilizando softwares grficos atuais, e adicionamos inmeras figuras e fotomicrografias para
ilustrar os fenmenos descritos no texto.
Ns esperamos que este guia fornea aos estudantes as bases necessrias para um exitoso
ingresso na microscopia de luz polarizada. Todas as sugestes so sempre bem-vindas!
Janeiro de 2011
Michael M; Raith, Peter Raase & Jrgen Reinhardt

III
Guia de Microscopia
Contedo
Bibliografia
Cristalografia ptica e tcnicas de microscpica em mineralogia e petrografia.
Bloss, F.D. (1999): Optical Crystallography. Mineralogical Society of America,
Washington, D.C. 239 p.
Dyar M.D., Gunter, M.E. & Tasa, D. (2008): Mineralogy and Optical Mineralogy.
Mineralogical Society of America, Chantilly, Va. 708 p.
Ehlers, E.G. (1987): Optical Mineralogy, Vol. 1. Theory and Technique. Blackwell
Scientific Publ., Palo Alto. 158 p.
Nesse, W.D. (2003): Introduction to Optical Mineralogy (3rd ed.). Oxford University Press,
New York. 348 p.
Phillips, W.R. (1971): Mineral Optics Principles and Techniques. Freeman and Company,
San Francisco. 249 p.
Srensen, B.E. (2013): A revised Michel-Lvy interference colour chart based on firstprinciples calculations. Eur. J. Mineral., 25, 510.
Stoiber, R.E. & Morse, S.A. (1994): Crystal identification with the Polarizing Microscope.
Chapman & Hall. 358 p.
Wahlstrom, E.E. (1979): Optical Crystallography (5th ed.). John Wiley & Sons, New York.
488 p.
Determinao Mineral
Deer, W.A., Howie, R.A. & Zussman, J. (1992): An Introduction to the Rock-Forming
Minerals (2nd edition). Longman, London. 696 p. *
Ehlers, E.G. (1987): Optical Mineralogy, Vol. 2. Mineral Descriptions. Blackwell Scientific
Publ., Palo Alto. 286 p. *
Heinrich, E.W. (1965): Microscopic Identification of Minerals. McGraw-Hill, New York.
414 p. *
Kerr, P.F. (1977): Optical Mineralogy (4th ed.). McGraw-Hill, New York. 492 p. *
MacKenzie, W.S. & Adams, A.E. (1994): A Colour Atlas of Rocks and Minerals in Thin
Section. Manson Publ. 192 p.
MacKenzie, W.S. & Guilford, C. (1980): Atlas of Rock-Forming Minerals in Thin Section.
Longman, London. 98 p.
Nesse, W.D. (2003): Introduction to Optical Mineralogy (3rd ed.). Oxford University Press,
New York. 348 p. *
Perkins, D. & Henke, K.R. (2003): Minerals in Thin Section (2nd ed.). Prentice Hall, Upper
Saddle River. 176 p. *
Phillips, W.R. & Griffen, D.T. (1981): Optical Mineralogy. The Nonopaque Minerals. W.H.
Freeman, San Francisco. 677 p. *
Trger, W.E., Bambauer, H.U., Taborszky, F. & Trochim, H.D. (1979): Optical
Determination of Rock-Forming Minerals. Part 1: Determinative Tables.
Schweizerbart, Stuttgart. 188 p. *
* Livros contendo compilao mais ou menos extensiva de dados minerais.
IV
Guia de Microscopia
Contedo
Nota sobre a terminologia e abreviaturas adotadas neste livro

Ao utilizar o microscpio de luz polarizada, importante que as direes sejam comunicadas
de forma inequvoca. As principais direes de referncia incluem os fios do retculo na
ocular, as direes de vibrao da luz polarizada e os eixos do microscpio. Os quatro pontos
cardeais (e direes intermedirias derivadas desses) so comumente utilizados para expressar
e distinguir direes, sem nenhum significado geogrfico. Na configurao standard de um
microscpio, N-S significa paralelo ao fio do retculo vertical, ou paralelo a uma linha
transversal imaginria entre os olhos do usurio (da testa ao queixo); E-W significa paralelo
ao fio horizontal do retculo, ou uma linha imaginria longitudinal que passe no centro dos
olhos. Direes diagonais so ento referidas como NW-SE e NE-SW.
As letras gregas , , , e so utilizadas, por muitos autores, como subscrito no ndice de
refrao (n). Adotamos, neste texto, a terminologia de Trger et al. (1979) e outros, que
lgica e intuitiva no sentido de que os ndices de refrao nx, ny e nz so correlacionados aos
eixos X, Y e Z do sistema de coordenadas, no qual a forma de indicatriz dos cristais biaxiais
definida. Alm disso, , , so utilizados para referir os parmetros da cela unitria, e
assim, qualquer confuso potencial com os parmetro pticos deve ser evitada. Do mesmo
modo que nx, ny e nz, os subscritos o e e so utilizados para os ndices de refrao dos raios
O (ordinrio) e E (extraordinrio), ou das ondas O e E, nos cristais uniaxiais.
A grande maioria dos autores de livros textos de mineralogia ptica, se no todos, utiliza a
mesma letra grega delta para dois parmetros diferentes que so relacionados entre si: para
birrefringncia e para o retardo ( = * d; d = espessura do cristal na lmina). Embora e
sejam smbolos padres no ensino de ptica cristalina em muitas instituies, decidimos
abandon-los a partir da segunda edio em ingls deste guia, visando tornar a terminologia
menos confusa. Ns utilizamos o smbolo com o sentido matemtico estrito (i.e.,
diferena). Deste modo, adotamos n para birrefringncia (n = nz nx, por exemplo), e
para o retardo (portanto, = n * d).
O smbolo comum para o comprimento de onda a letra grega , porm na mineralogia ptica
a mesma letra utilizada para indicar a ordem da cor de interferncia (1 = vermelho de
primeira ordem, 2 - vermelho de segunda ordem, etc.). Apesar das tentativas de evitar o uso
do com a segunda interpretao, os termos como placa (significando 1 ou 551 mm de
retardo, equivalente ao vermelho de primeira ordem) e placa /4 esto muito arraigados,
sendo difceis de serem descartados.
1.
O microscpio petrogrfico
1.1 A lente de aumento (ou lupa) e o microscpio

Para examinar microtexturas e feies mineralgicas de uma rocha em lmina delgada, com
resoluo superior permitida pelos olhos, necessrio utilizar o microscpio. O microscpio
possui dois sistemas de lentes. O primeiro sistema de lentes (objetiva) produz a imagem
ampliada do objeto. Esta imagem real novamente ampliada pelo segundo sistema de lentes
(ocular).
1.1.1 Formao da imagem por uma lente convergente (objetiva)
Imagens pticas de um objeto so formadas por lentes convergentes, i.e., lentes esfricas com
superfcies convexas (lentes biconvexas). A imagem real invertida formada quando o objeto
colocado a uma distncia superior distncia focal (f) da lente. Esta imagem pode assim ser
projetada em uma tela (este o mesmo princpio da viso pelo olho humano, ou do
funcionamento de uma cmera; Fig. 1-1, parte superior).
As distncias (a) e (b), respectivamente, entre o objeto e a lente (a) e entre a lente e a imagem
produzida (b), so relacionadas distncia focal (f) das lentes biconvexas pela seguinte
equao (frmula da lente, Fig. 1-1, parte inferior):
1 1 1
+ =
a b f
O aumento da lente dado por:
M=
B b bf
f
= =
=
A a
f
a f
O tamanho da imagem real (B) ser maior que o do objeto (A), quando

Raith, Raase & Reinhardt Abril 2014
bf
f
> 1 ou seja 2f < b e recproco
> 1 ou seja a < 2f.
f
a f
Exemplo: se o objeto est a uma distncia de 33 mm diante da lente biconvexa, com distncia
focal de 30 mm, a lente produzir uma imagem ampliada em 10 vezes (M = 10:1) a uma
distncia de 330 mm atrs da lente.
O olho humano pode modificar a distncia focal variando a curvatura de sua lente (o
cristalino), de modo a projetar na retina imagens focalizadas de objetos postos a distncias
variveis entre 250 mm e o infinito. Quando um objeto que est distante se aproxima do olho
humano, esse visto com ngulos de viso () crescentes e aumentos tambm crescentes,
dado que a imagem na retina torna-se progressivamente maior (Fig. 1-2, parte superior).
A menor distncia adequada ao foco de objetos, na viso humana, varia com a pessoa. Na
indstria ptica, esta distncia mnima padronizada em 250 mm, de modo a facilitar o
clculo dos aumentos em lentes corretivas.
Figura 1-1. Formao da imagem do cristal por uma lente biconvexa.
Quando o objeto est na distncia mnima para o foco da viso humana, esse visto com o
maior ngulo de viso possvel e, assim, com o maior aumento permitido. Os detalhes
menores de um objeto, quando observados na menor distncia possvel para o olho humano,
tero boa resoluo se o ngulo de viso for superior a 1 (cerca de 0,02).
Os detalhes que estiverem abaixo do limite de resoluo da viso humana podero ser vistos
mediante ampliao, utilizando a lente de aumento (lupa) ou o microscpio.
1.1.2 Ampliao com a lupa (ocular)

A lente de aumento (ou lupa) o dispositivo mais simples para aumentar o ngulo de viso.
Esta consiste de uma lente biconvexa com uma distncia focal inferior distncia mnima da
viso humana (<250 mm). Se o objeto (A) est no ponto de foco F da lente, o observador
ver a imagem correta ampliada (B), a qual aparenta estar atrs da lupa (i.e., do lado do
objeto) e ser proveniente de uma distncia infinita (imagem virtual; Fig. 1-2, parte inferior).
O olho humano agora v o objeto com um maior ngulo de viso . Por conseguinte, a
imagem B projetada na retina est significativamente ampliada.
O poder de ampliao de uma lupa definido pela razo das tangentes dos ngulos de viso
(ou tamanhos das imagens) em que o objeto visto com e sem o uso da respectiva lente, na
distncia mnima de viso de 250 mm (Fig. 1-2, partes superior e inferior):
(equao da lupa)
O aumento de uma lupa ML ento definido pela razo entre a distncia mnima de viso
(250 mm) e a distncia focal (f) da lente.
Exemplo: Lupa com distncia focal de 31,25 mm produz imagens com aumento de 8 vezes:
250/31,25 = 8x.
Quando o objeto no est posicionado no ponto focal da lupa, porm, est ainda dentro do
intervalo da distncia focal (Fig. 1-2, parte central), o aumento pode variar at o valor de
Os valores de ML, gravados na armao da lupa, equivalem especificamente ao aumento que

aplicado quando o objeto est no ponto focal da lente.
1.1.3 O microscpio composto

Nos microscpios mais simples, o aumento de um objeto efetuado em duas etapas pela
combinao de duas lentes biconvexas (microscpio composto; Fig. 1-3).
Na primeira etapa de formao da imagem (Fig. 1-3, parte superior), a lente convexa
(objetiva) produz a imagem real invertida e ampliada do objeto, numa escala de aumentos M.
Na segunda etapa de formao da imagem (Fig. 1-3, parte central), a imagem real captada
pela lente de aumento (ocular), que produz ampliao adicional. Para assegurar que esta
imagem virtual possa ser vista confortavelmente por olhos focados no infinito, a imagem real
posicionada no plano focal da ocular (Fig. 1-3, parte inferior).
A imagem final criada na retina do olho humano.
Figura 1-2. Ampliao do cristal por uma lente biconvexa (lente de aumento, lupa ou ocular).
Figura 1-3. Duas etapas para ampliao do cristal em um microscpio composto.

O aumento total M de um microscpio composto corresponde ao produto dos aumentos da
objetiva (MO) e da ocular (ML):
M = MO * ML
Exemplo: Microscpio equipado com a objetiva MO = 50 e ocular ML = 10 ter o aumento
final de 50 * 10 = 500.
Nos modelos modernos de microscpio composto (com sistema ptico corrigido ao infinito),
a ampliao do objeto efetuada de modo um pouco diferente. O espcime posicionado no
plano focal inferior da objetiva, de modo que sua imagem seja projetada ao infinito. Uma
lente auxiliar (lente de tubo ou telan), colocada no tubo do microscpio entre a objetiva e a
ocular, focaliza os raios paralelos de luz e produz a imagem real, que ento captada pela
ocular. A tcnica de formao da imagem corrigida ao infinito permite inserir componentes
acessrios na trajetria dos raios de luz, tais como analisador, compensadores e divisores de
feixes de luz, com o mnimo efeito na qualidade da imagem. Esta tcnica permite, ainda, a
melhor correo de aberraes esfricas ou cromticas.
1.2 Objetiva e ocular
1.2.1 Objetiva
A qualidade da imagem observada ao microscpio determinada fundamentalmente pela
objetiva. A objetiva , portanto, um componente chave no microscpio, responsvel pela
imagem primria e pelo aumento e resoluo com que os menores detalhes do objeto podem
ser observados. A ocular serve simplesmente para ampliao adicional dos detalhes
resolvidos na imagem intermediria, de modo que esses possam ser vistos com ngulos de
viso maiores que 1, e assim, com resoluo angular superior do olho humano (Cap. 1.1.1,
lupa).
As propriedades importantes de uma objetiva incluem o aumento, bem como a abertura
numrica e o grau de correo das aberraes, dado que esses dois determinam a qualidade da
imagem intermediria.
Aberrao
Lentes biconvexas simples produzem imagens imperfeitas, distorcidas e com aberraes

esfricas e cromticas. Nas objetivas modernas, as aberraes pticas so compensadas em
grande parte pela combinao de lentes convergentes e divergentes, constitudas de materiais
distintos em termos do ndice de refrao e da disperso da luz. As aberraes remanescentes
so compensadas com correes complementares nas oculares.
Ao utilizar uma objetiva de grande aumento com abertura numrica elevada, a lamnula que
protege o espcime nas sees delgadas introduz aberraes esfricas e cromticas,
prejudicando a qualidade da imagem. Isto ocorre porque os raios de luz que emergem no
ponto P do objeto so refratados na interface lamnula/ar. Por conseguinte, as extenses dos
raios de luz retroprojetadas no objeto no convergem em um ponto, mas formam reas
desfocadas e manchadas (Fig. 1-4 A, rea cinza). Para lamnulas de maior espessura, o efeito
de desfoque acentuado. Objetivas de maior aumento so ento corrigidas para este tipo de
aberrao, introduzida por lamnulas com uma espessura padro de 0,17 mm. Por isto, a
lamnula pode ser considerada como parte integrante do sistema ptico da objetiva! Desvios
na espessura da lamnula, relativo ao padro de 0,17 mm, afetam a qualidade da imagem
intermediria. Alm disso, lamnulas muito espessas dificultam a obteno do foco do
espcime com objetivas de maior aumento, devido pequena distncia de trabalho livre
dessas (veja Tabela 1).
Figura 1-4. A. Aberrao dos raios de luz introduzida pela lamnula; B. Abertura numrica da
objetiva.
Abertura e resoluo
A abertura numrica (N.A. numerical aperture) de uma objetiva a medida da quantidade

de luz captada pela lente da objetiva. O N.A. proporcional abertura angular do cone de
raios de luz emitido a partir de um ponto no espcime, que entra na objetiva, e ao ndice de
refrao n do meio entre o espcime e a lente frontal da objetiva (e.g., n = 1,0 para o ar, 1,33
para a gua e 1,56 para o leo): N.A. = n * sen (Fig. 1-4B).
Quando o espcime visualizado com com objetivas de maior abertura numrica, a largura
do cone de raios de luz que entra na lente frontal da objetiva ampliada. Isto fundamental
em microscopia, pois o poder de resoluo da objetiva (i.e., a habilidade dessa em captar os
detalhes finos do espcime na imagem intermediria) aumenta com sua abertura numrica. A
resoluo da objetiva definida como a menor distncia d, em que dois pontos muito
prximos no espcime so ainda visualizados como entidades distintas na imagem
intermediria. O limite de resoluo d depende somente da abertura numrica e do
comprimento de onda da luz utilizada: d = 0,5/N.A.
Ento, para obter os detalhes mais finos do espcime, este deve ser visto com objetivas de
grande aumento e abertura numrica elevada, utilizando luz monocromtica de pequeno
comprimento de onda.
A abertura numrica da objetiva e, portanto, sua resoluo podem ser melhoradas ao

preencher o espao entre a lente frontal da objetiva e o espcime com um lquido de imerso
adequado, que tenha alto ndice de refrao (leo de imerso; n 1,56). Com isto, possvel
minimizar a refrao dos raios de luz na interface lamnula/leo, a modo da objetiva captar
um cone de luz mais amplo (Fig. 1-4 B).
Os sistemas especiais de objetivas, com este propsito, so desenhados com pequena
distncia focal e distncia de trabalho livre limitada: as objetivas de imerso em leo. Nas
objetivas secas, que operam no ar, os valores da abertura numrica so inferiores a 0,95 (o
limite terico de N.A. = 1), ao passo que valores de at 1,40 podem ser alcanados nas
objetivas de imerso, dependendo do ndice de refrao do lquido utilizado (gua = 1,333;
glicerina = 1,455; leo de imerso = 1,515; iodeto de metileno = 1,744).
As caractersticas especficas de uma objetiva tais como o aumento, a abertura numrica, o
comprimento do tubo ptico, o grau de correo de aberraes e a espessura da lamnula so
gravadas no corpo externo dessa (Fig. 1-5, Tabela 1). Para microscpios de luz polarizada, as
objetivas consistem de sistemas de lentes livres de tenso, sendo marcadas com a inscrio P,
PO ou Pol. Na tabela 1, tambm relacionada a distncia de trabalho livre (FWD free
working distance), disponvel entre o espcime e a lente frontal da objetiva, para objetivas
fornecidas pelos principais fabricantes.
1.2.2 Ocular
Detalhes finos na imagem intermediria so adequadamente resolvidos pelo olho humano se
vistos com um ngulo de viso > 1. Isto, comumente, requer aumento adicional da imagem
intermediria pela ocular. A resoluo pode ser considerada tima quando a ampliao total
do microscpio corresponder ao valor da abertura numrica da objetiva multiplicado por 500
ou 1000:
M = MO * ML = 500 * N.A. 1000 * N.A.
Quando a ampliao total estiver abaixo deste intervalo, os detalhes mais finos do objeto na
imagem intermediria permanecem invisveis. Se estiver acima deste intervalo, a imagem
intermediria ser ampliada sem qualquer ganho na resoluo (= ampliao intil).
As oculares modernas consistem de dois componentes com lentes mltiplas, a lente do olho
e a lente do campo, que corrigem aberraes pticas da prpria ocular e eliminam
aberraes residuais da imagem intermediria. A ocular Periplan, por exemplo, contm sete
lentes que so montadas do seguinte modo: duas isoladas, duas cimentadas em um dupleto e
trs em um tripleto. O diafragma interno fixo, que define o campo circular de viso,
posicionado entre os componentes da lente do olho e da lente do campo, no plano focal
da ocular e em foco com a imagem intermediria.
Nos microscpios de luz polarizada, a objetiva equipada com um retculo em cruz ajustado
em 90 (ou um crculo micromtrico), que posicionado no diafragma fixo. Este retculo
estabelece a referncia N-S e E-W para as direes de vibrao do analisador e do
polarizador, e tambm para a medida de ngulos (Caps. 2.1, 4.2.1). Para a contagem ou
medies de objetos em lmina delgada, discos de vidro contendo redes e retculos (lineares
ou cruzados) micromtricos podem tambm ser colocados no diafragma fixo. Para ajustar a
altura da lente do olho, o diafragma e o retculo so focalizados em conjunto com a
imagem intermediria.
As caractersticas especficas so inscritas no corpo externo das oculares (Fig. 1-5, Tabela 1).
Tabela 1. Caractersticas de objetivas e oculares de alguns fabricantes.

I. Objetivas livres de tenses, para microscopia polarizada
Fabricante
Designao
NA
FWD
(mm)
Leica
Hi
Hi
Hi
Hi
Hi
4
10
20
40
63
0,10
0,22
0,40
0,65
0,75
26,2
7,8
0,9
0,31
0,31
0,17
0,17
0,17
Nikon
CFI Achromat
CFI Achromat
CFI Achromat
CFI Achromat
4
10
20
40
0,10
0,25
0,40
0,65
30
6,1
3
0,65
Zeiss
A-Plan
A-Plan
A-Plan
A-Plan
A-Plan
2,5
5
10
20
40
0,06
0,12
0,25
0,45
0,65
9,4
9,9
4,4
0,51
0,43
0,17
0,17
0,17
0,17
Olympus
PLN4xP
ACHN10xP
ACHN20xP
ACHN40xP
4
10
20
40
0,10
0,25
0,40
0,65
18,5
6
3
0,45
0,17
0,17
Plan
Plan
Plan
Plan
Plan
Pol
Pol
Pol
Pol
Pol
P
P
P
P
Espessura
da lamnula
II. Oculares
Designao
Leica
Periplan
10
20
Periplan com retculo
10
20
Nikon
Zeiss
Olympus
Nmero de campo
(mm)
Fabricante
Aumento
CFI
10
22
CFI CM com retculo
10
22
W-PL, focalizvel
10
23
WHN10x
10
22
WHN10x-H, focalizvel
10
22
Figura 1-5. Objetiva (Exemplo: Nikon CFI Achromat 20x P) e ocular (Exemplo: Leica
Periplan com retculo).
1.2.3 Tubo, objetiva e ocular

As objetivas e as oculares esto conectadas pelo tubo do microscpio. Nos modelos antigos
de microscpio, o tubo tem um comprimento especfico (Nikon, Olympus e Zeiss: 150 mm;
Leitz: 170 mm), uma vez que as objetivas projetam a imagem real em um plano fixo. Nos
modelos modernos, que utilizam objetivas corrigidas ao infinito, o comprimento do tubo pode
variar. Neste caso, o comprimento do tubo designado de distncia focal de referncia, que
varia entre 165 mm (Zeiss) e 200 mm (Leica, Nikon).
A ocular inserida na parte superior do tubo do microscpio. Duas pequenas ranhuras na
borda do tubo ocular permitem fixar sua posio, com o retculo exatamente orientado na
posio N-S e E-W ou, em diagonal, a 45 dessas direes. O foco do retculo alcanado ao
regular a altura da lente do olho, de modo a permitir o ajuste viso de cada usurio.
A objetiva montada na parte inferior do tubo do microscpio. Os suportes para uma nica
objetiva, comum nos modelos antigos de microscpios, so atualmente usados somente em
alguns microscpios de interferncia com luz refletida ou naqueles com platina universal.
Nos modelos modernos, as objetivas so montadas em um revlver qudruplo ou quntuplo
que, ao acomodar 4 ou 5 objetivas de diferentes aumentos, facilita a troca rpida entre elas
(Fig. 1-6). Durante a troca entre objetivas, um mecanismo de clique sinaliza a posio
correta. Quando objetivas de diferentes aumentos so utilizadas para observar o mesmo
objeto, desejvel que sua imagem permanea focalizada. As objetivas modernas, com este
fim, so desenhadas de tal modo que a distncia entre o ponto de foco no espcime e o
orifcio, onde essas so alojadas no revlver, seja fixa independente do aumento (= distncia
parafocal; Leica, Zeiss: 45 mm; Nikon: 60 mm).
1.3 Iluminao
Os espcimes precisam ser iluminados para serem vistos ao microscpio, a menos que sejam
fluorescentes. Para espcimes opacos (p. ex., minerais de minrio, metais), a imagem
formada a partir da frao de luz incidente que refletida pelo espcime: microscpio de luz
refletida. Por outro lado, os espcimes transparentes ou com fraca absoro de luz so
observados utilizando a luz que transmitida atravs deles: microscpio de luz transmitida.
As imagens vistas ao microscpio revelam somente aquelas estruturas do espcime em que a
cor ou a intensidade da luz transmitida tenham sido modificadas pela absoro, difrao ou
reflexo.
A iluminao de um espcime translcido, em modelos mais antigos de microscpio, feita
com o redirecionamento da luz do sol ou de uma lmpada fosca por meio de um espelho
planar ou cncavo, a qual ento focalizada no espcime por um sistema de lentes
(condensador).
Nos modelos modernos de microscpio, uma fonte de luz incorporada na base do
microscpio administra a iluminao do espcime. So comumente utilizadas lmpadas
halgenas de 6V 20W, junto a um dispositivo para controlar a intensidade de luz. A luz
emitida a partir da lmpada focalizada por meio de um sistema simples de lente (coletor) e,
ento, direcionada ao espcime pelo condensador (Fig. 1-7).
1.3.1 Abertura da iluminao

A iluminao homognea da rea do espcime, observada ao microscpio, determinante na
qualidade da imagem. Alm disso, o cone de raios de luz que atravessa o espcime deve ter o
maior ngulo de abertura possvel, de modo a garantir uma tima resoluo (cf. Cap. 1.2.1,
Abertura).
Como regra, a abertura da iluminao deve ser igual ou levemente inferior abertura da objetiva.
A perda do contraste resulta de aberturas de iluminao maiores, enquanto a reduo na resoluo
resulta de aberturas menores. O ajuste na abertura de iluminao feito com um diafragma
colocado abaixo da lente do condensador: diafragma ris ou de abertura (Fig. 1-7; Cap. 1.4.1). Ao
fechar o diafragma, a abertura da iluminao reduzida, resultando no aumento da profundidade
de campo e do contraste da imagem. Ao abrir o diafragma, aumenta a abertura da iluminao, o
que acarreta a perda no contraste da imagem.
1.3.2 Campo de iluminao
As objetivas, dependendo de seu aumento, cobrem reas do espcime com tamanhos diferentes
(campo do objeto). Para evitar a luminosidade excessiva dos detalhes da imagem, produzida por
raios de luz laterais desviados, o dimetro da rea iluminada (campo iluminado) no deve exceder
ao dimetro observado no objeto. O ajuste do dimetro do campo iluminado feito por um diafragma, colocado acima da lente coletora no sistema de iluminao: diafragma do campo (Fig. 1-7;
Cap. 1.4.1).
A abertura e o campo iluminado podem tambm ser modificados ao variar a distncia focal do
condensador. Para isto, os condensadores modernos so equipados com uma lente frontal auxiliar,
que poder ser removvel (condensadores swing-in-out). Esta lente frontal, quando inserida, modifica
o sistema de iluminao a partir de uma grande distncia focal (pequena abertura e amplo campo
iluminado) para uma menor (grande abertura e campo iluminado reduzido).
Para conseguir a completa iluminao dos espcimes ao utilizar objetivas de pequeno aumento (p.
ex., M = 1,25), necessrio remover a lente frontal e, s vezes , todo o condensador.
So tambm disponveis condensadores especficos, projetados para tcnicas especiais de
microscopia (contraste de fase, interferncia, fluorescncia e campo escuro).
Um mtodo especial de iluminao, que possibilita condies timas de iluminao e de resoluo

dos detalhes do objeto, foi introduzido por A. Khler em 1893 e, at hoje, o mtodo de iluminao
mais empregado nos microscpios de luz transmitida (veja captulo 1.4).
1.3.3 Difusores de vidro e filtros
A fonte de luz, nos modelos modernos de microscpios, est equipada com um filtro termal, que
absorve o calor produzido pela lmpada halgena, e um vidro esmerilado que dispersa a luz emitida
melhorando a homogeneidade da iluminao no objeto.
Diversos filtros so disponibilizados na base do microscpio (estativa), ou podem ser inseridos
acima do diafragma de campo. O filtro azul, ou luz do dia, comumente utilizado para conferir
luz emitida de uma fonte artificial a qualidade da luz solar (i.e., similar balano de cores). Filtros
neutros so usados para atenuar a intensidade de luz sem afetar sua composio espectral. Para
efetuar medidas especiais, como determinao dos ndices de refrao pelo mtodo de imerso,
necessrio iluminar o objeto com luz monocromtica, que ento obtida com os filtros de
interferncia (filtros dicroicos).
Figura 1-6. Componentes do microscpio de luz transmitida polarizada (Nikon Eclipse

50/Pol; Leica Laborlux 12 Pol).
Figura 1-7. Trajetrias da luz no microscpio de luz polarizada

A: Modo de iluminao ortoscpico. Em microscpios com comprimento do tubo finito, a
objetiva produz a imagem real invertida (imagem intermediria) do espcime, que vista
ampliada atravs da ocular (A-2). Nos microscpios corrigidos ao infinito, a objetiva projeta
ao infinito a imagem do espcime, enquanto a segunda lente colocada no tubo (lente de tubo)
forma a imagem intermediria que , ento, vista atravs da ocular (A-1). Este esquema de
produo da imagem permite inserir componentes acessrios como analisador, compensadores ou divisores de feixe de luz, ao longo da trajetria dos feixes de raios de luz paralelos
entre a objetiva e a lente de tubo, com pequeno efeito na qualidade da imagem.
B: Modo de iluminao conoscpico. Os feixes de raios paralelos no cone de luz, que
iluminam a amostra, criam uma imagem no plano focal superior da objetiva (B). No caso de
cristais anisotrpicos, gerada a imagem de interferncia que pode ser ampliada com a
insero de uma lente auxiliar (lente Amici-Bertrand). A imagem de interferncia pode,
tambm, ser diretamente observada no tubo por meio de um pequeno orifcio que substitua a
ocular.
1.4 Trajetrias dos raios de luz no microscpio

1.4.1 Iluminao Khler
O mtodo de iluminao de Khler tem como fundamento a geometria especfica dos raios de
luz no sistema de iluminao abaixo da platina, o que alcanado com o arranjo especial de
seus componentes: a fonte de luz, a lente coletora, os diafragmas do campo e de abertura e a
lente do condensador (Fig. 1-7). Este sistema especial garante a iluminao uniforme do
campo observado no objeto (campo iluminado), permitindo o ajuste independente da abertura
de iluminao e do tamanho desse campo.
1. A lente coletora projeta a imagem ampliada da fonte de luz (filamento da lmpada
halgena) no plano focal frontal do condensador, onde est o diafragma de abertura. Por
conseguinte, os feixes de raios de luz provenientes da fonte so emitidos pelo condensador
como cones de raios paralelos de luz (Fig. 1-7). A abertura deste cone de iluminao pode ser
modificada no diafragma ris. Como cada ponto no campo do objeto recebe raios de luz a
partir de cada ponto do filamento da lmpada halgena, o resultado a iluminao uniforme
de todo campo do objeto (campo iluminado). Imagens adicionais da fonte de luz (filamento)
tambm so geradas no plano focal superior da objetiva (lente do tubo) e no plano focal
superior da ocular.
2. A lente do condensador projeta a imagem do diafragma do campo no plano do espcime,
de modo que a objetiva gera imagens superpostas do objeto e do diafragma de campo no
plano intermedirio da imagem (lente do tubo), de onde so observadas em conjunto por meio
da ocular. O tamanho do campo iluminado no espcime pode ser ajustado ao variar a abertura
do diafragma do campo, sem afetar a abertura de iluminao (Fig. 1-7).
O alinhamento do sistema de iluminao Khler no microscpio descrito no captulo 1.5.
O sistema de iluminao Khler permite examinar minerais opticamente anisotrpicos de
dois modos distintos: ortoscpico e conoscpico.
1.4.2 Modo de iluminao ortoscpico
Os raios divergentes de luz que emanam de cada ponto de um objeto so focalizados no plano
intermedirio da imagem, onde a imagem real desse gerada (Fig. 1-7 A).
As ondas de luz que atravessam o gro de um mineral opticamente anisotrpico possuem
diferentes velocidades (birrefringncia; Cap. 4.2.3) e, em parte, diferentes amplitudes
(absoro), segundo cada direo do cone de iluminao (Cap. 4.1). As ondas de luz so
ento superpostas a cada ponto da imagem deste gro. Portanto, ao observar um gro mineral
sob intensa iluminao convergente, a imagem do mesmo no fornecer informaes do
comportamento ptico nas diferentes direes do mineral.
Todavia, quando se reduz a abertura do cone de iluminao, ao fechar o diafragma de
abertura, os fenmenos pticos na imagem intermediria reproduzem as propriedades das
ondas de luz que atravessam o gro mineral em ngulo reto com o plano de viso: modo de
iluminao ortoscpico (Cap. 4). Deste modo, as propriedades pticas dependentes da direo
em um mineral anisotrpico devem ser analisadas em lmina delgada, ao observar vrias
sees do mineral cortadas segundo diferentes orientaes cristalogrficas.
1.4.3 Modo de iluminao conoscpico

Quando se utiliza um cone de luz fortemente convergente (p.ex., ao inserir a lente frontal do
condensador no caminho da luz), feixes de raios paralelos de luz com amplo intervalo de direes
atravessam o gro do mineral. Os raios paralelos de luz so ento focalizados na parte de trs do
plano focal da objetiva, onde raios com diferentes inclinaes em relao ao eixo do microscpio
produzem pontos em diferentes posies da imagem (Fig. 1-7 B, Fig. 4-48).
Esta imagem possibilita, assim, examinar o comportamento dos raios de luz propagados segundo
diferentes direes cristalogrficas do gro: modo de iluminao conoscpico. Quando esta
imagem vista com polarizadores cruzados, so geradas figuras de interferncia caractersticas
que traduzem a simetria e as propriedades pticas do mineral anisotrpico (Cap. 5).
A figura de interferncia conoscpica registra somente aquelas direes pticas que esto
representadas no cone de abertura (Cap. 1.2). Para maximizar o intervalo de direes neste cone,
necessrio aumentar a abertura da objetiva e a do condensador.
A imagem ampliada da figura de interferncia obtida ao inserir uma lente auxiliar, a lente
Amici-Bertrand, no tubo do microscpio entre o analisador e a ocular (Fig. 1-7 B). A imagem de
interferncia pode ser focalizada ao ajustar a distncia entre a ocular e a lente Amici-Bertrand,
desde que o microscpio permita tal ajuste. Alguns modelos de microscpio possuem
mecanismos especiais para centrar e focalizar a lente Amici-Bertrand.
A alternativa para visualizar a figura de interferncia consiste em observar diretamente no tubo
ptico do microscpio, ao remover a ocular ou substitu-la por um diafragma fixo com abertura
muito pequena (pinhole). Embora seja menor, a imagem observada exibe melhor contraste
comparado ao da figura de interferncia vista com a lente Amici-Bertrand.
As aplicaes da conoscopia na identificao de minerais anisotrpicos so discutidas no captulo
4.2.5, que apresenta um guia prtico para observao ao microscpio com iluminao
conoscpica.
1.5 Centragem do Microscpio

A tima configurao do microscpio requer, alm do alinhamento do sistema de iluminao de
acordo com Khler, que todos os componentes pticos (fonte de luz, coletor, condensador,
objetivas e oculares) e a platina giratria estejam alinhados a um eixo central comum, coincidente
com a direo dos raios de luz verticais no microscpio. Todos os componentes so centrados ao
eixo da platina giratria. Os procedimentos para centragem so feitos em trs etapas: objetivas,
condensador e fonte de luz. Alm disso, necessrio ajustar as oculares.
A. Centragem das objetivas
O centro do campo de viso, que corresponde ao eixo da lente na objetiva, deve estar alinhado
platina giratria. Para checar isto, obtenha o foco na seo delgada, selecione um gro ou objeto
pequeno na amostra e coloque-o no centro do retculo (Fig. 1-8 I). Ao girar a platina do
microscpio, podem ocorrer as seguintes situaes:
a) A partcula permanece estacionria na posio central, indicando que a objetiva est perfeitamente centrada.
b) A partcula se move em um crculo descentrado (Fig. 1-8 II), indicando que a objetiva no
est centrada. Ento, o eixo de rotao da imagem precisa ser recolocado no centro do
retculo. Isto alcanado ao girar os dois parafusos de centragem alojados no corpo externo
da objetiva ou no revlver, utilizando as ferramentas fornecidas com o microscpio. Em
modelos mais antigos de microscpio, as objetivas dispem de anis de centragem (no
requerendo assim ferramenta adicional). As objetivas esto centradas quando o centro de
rotao de um padro circular de qualquer partcula coincidir com o ponto de interseo dos
fios do retculo. A alternativa para se conseguir isto consiste em girar a platina at que a
partcula selecionada esteja no ponto mais distante da posio centrada, o que equivale a 180
de sua posio no centro do retculo. Agora, os parafusos de centragem so movimentados at
que a partcula esteja na metade da distncia relativa ao centro do retculo (Fig. 1-8 III).
Para verificar se a objetiva est agora centrada, movimente com cuidado a lmina delgada e
posicione a partcula selecionada novamente no centro do retculo. Ao girar a platina, se a
partcula permanecer estacionria na posio central, significa que a objetiva est centrada
(Fig. 1-8 IV). Caso contrrio, o procedimento deve ser repetido.
Todas as objetivas disponveis no revlver porta-objetivas devem ser centradas desta forma.
Contudo, uma vez centrada a objetiva de maior aumento, possvel centrar aquelas de menor
aumento de modo mais fcil, qual seja: Posicione um pequeno gro ou objeto no centro do
retculo utilizando a objetiva de maior aumento (previamente centrada). Ento, traga a
objetiva descentrada para o caminho da luz, ao girar o revlver, e movimente os parafusos de
centragem de modo a posicionar a partcula no centro do retculo.
Ateno! importante ter certeza de que o revlver est posicionado corretamente no tubo do
microscpio e que a objetiva em uso est no local correspondente, sinalizado pelo mecanismo
de clique. Caso contrrio, a centragem da objetiva nunca ser alcanada (Cap. 1.7). Em
alguns microscpios (p.ex., Olympus), a platina que dever ser centrada. Neste caso, a
platina centrada em uma nica objetiva fixa e deve ser alinhada primeiro com essa objetiva
(especificada pelo fabricante), antes de proceder a centragem das demais objetivas. Qualquer
tentativa de centrar as objetivas com a platina descentrada resultar no total desalinhamento
da trajetria da luz.
Cuidados a serem tomados em todos os microscpios: Nunca toque no corpo da objetiva ao
trocar de aumento, a fim de evitar descentr-la. Sempre utilize o anel estriado do revlver
porta-objetivas para fazer esta troca.
Figura 1-8. Procedimentos para centrar a objetiva.
B. Centragem do condensador para iluminao Khler

Aps obter o foco da lmina delgada, feche o diafragma do campo, insira a lente frontal do
condensador no caminho da luz e focalize o diafragma de campo no plano da amostra, ao ajustar a
altura do condensador (Fig. 1-9 I II). Duas situaes podem ocorrer:
(a) O centro da imagem no campo do diafragma coincide com o centro do retculo, i.e., o centro
do campo de viso, indicando que o condensador est perfeitamente centrado (Fig. 1-9 III).
(b) A imagem no campo do diafragma est deslocada em relao ao centro do retculo (Fig. 1-9 I).
Ento, esta imagem deve ser centrada ao movimentar os parafusos de centragem do condensador
(Fig. 1-9 II III).
Por fim, para evitar o efeito luminoso de raios laterais desviados, o diafragma do campo deve ser
aberto de modo que fique um pouco alm da borda do campo de viso (Fig. 1-9 IV).
Figura 1-9. Procedimentos para centrar o condensador.
C. Centragem da fonte de luz
Nos modelos modernos de microscpio, a fonte de luz e a lente coletora esto integradas no
sistema de iluminao na base do microscpio e, assim, no necessitam ser centrados.
Todavia em alguns modelos de microscpio, pinos de centragem na fonte de luz permitem
centrar o soquete da lmpada. Neste caso, aps a centragem do condensador, a posio da
lmpada ajustada at que o campo do objeto esteja com iluminao intensa e uniforme.
Para que a iluminao Khler seja precisa, o coletor deve estar ajustado de tal modo que uma
imagem do filamento da lmpada seja gerada no plano do diafragma ris. A imagem do
filamento pode ser visualizada ao colocar uma folha de papel de desenho sobre este
diafragma. Uma imagem adicional deste filamento gerada no plano focal superior da
objetiva, sendo melhor observada no modo conoscpico. As imagens do filamento s podem
ser vistas, quando o filtro de vidro esmerilado for removido do caminho da luz.
D. Ajuste das oculares
Se o microscpio dispem de tubo binocular, as oculares devem ser ajustadas isoladamente
de modo a obter o foco da imagem para os dois olhos, o que deve ser checado aps a troca
entre objetivas distintas. Alm disso, as oculares devem ser reguladas para a correta distncia
interpupilar (distncia entre os olhos do usurio).
As oculares de microscpios corrigidos ao infinito so ajustadas do seguinte modo (ocular

com retculo em cruz colocada direita no tubo binocular):
(1) Olhe atravs das oculares, com o olho esquerdo fechado. Observe o retculo em cruz na
ocular direita com o olho direito, obtendo o foco desse ao ajustar o anel de correo de
dioptria desta ocular. A seguir, obtenha o foco da imagem ao ajustar cuidadosamente a altura
da platina com o boto micromtrico (ajuste fino).
(2) Agora feche o olho direito e observe a imagem do objeto com o olho esquerdo pela ocular
esquerda, sem ajustar a altura da platina (ajuste fino). Se a imagem no estiver no foco
adequado, esse deve ser obtido ao ajustar o anel de correo de dioptria da ocular esquerda.
Ao focalizar a imagem do objeto importante que os dois olhos estejam relaxados e focados
no infinito.
1.6 Polarizador e analisador
O polarizador (filtro polarizador ou prisma de Nicol) est posicionado abaixo do condensador.
Este pode ser removvel, i.e., colocado ou removido do caminho da luz e, em muitos
microscpios, pode ser rotado segundo o eixo vertical (regulvel). A fonte de luz emite ondas
que vibram aleatoriamente em todas os possveis planos. O filtro polarizador utilizado nos
microscpios modernos consiste de um filme de polivinil estirado, que reduz as ondas de luz
que vibram aleatoriamente deixando passar somente aquelas ondas que vibram em uma nica
direo (plano de polarizao). Para simplificar, o termo ondas polarizadas utilizado para
as ondas plano-polarizadas que passam no polarizador.
As ondas polarizadas ao atravessarem a lmina delgada podem sofrer modificaes diversas
(refrao, absoro, birrefringncia, etc., Cap. 4.2). Para detectar e quantificar tais modificaes, o plano de polarizao deve corresponder a uma direo de referncia facilmente
identificvel no campo de viso. Nos microscpios atuais, a direo de referncia do
polarizador inferior regulada segundo E-W, paralela ao fio horizontal do retculo. Em alguns
microscpios, contudo, a orientao dos polarizadores pode ser contrria (polarizador inferior
N-S e analisador E-W).
Alguns fenmenos pticos especficos, ao microscpio, esto diretamente relacionados

orientao do polarizador (tais como pleocrosmo e mudana de relevo, para os quais a
direo de vibrao no polarizador inferior a direo de referncia no campo de viso).
Portanto, alm de verificar se os polarizadores esto alinhados, o usurio deve conhecer a
orientao dos polarizadores ao iniciar os trabalhos.
A verificao de rotina pode ser feita utilizando um cristal colorido de turmalina, seja um gro
isolado ou uma seo prismtica em lmina delgada. A mxima absoro ser observada
quando a orientao do eixo cristalogrfico c for perpendicular direo do polarizador (Fig.
1-10). Verificao adicional pode ser feita em sees de biotita quase ortogonais a (001).
Como a biotita um mineral comum em muitas rochas, lminas delgadas contendo biotita so
facilmente encontradas. As sees de biotita quase ortogonais a (001) exibem a clivagem
perfeita e mostraro mxima absoro (i.e., cor mais intensa), se o plano basal (001) ou da
clivagem for subparalelo direo do polarizador inferior (Fig. 1-10). Todavia a biotita, como
monoclnica, no deve ser utilizada para o alinhamento do polarizador. Dependendo de sua
composio, os ngulos entre o plano basal (001) e qualquer um dos fios do retculo por ser
zero, ou variar at 10.
Neste guia, a orientao do polarizador inferior assumida como E-W. No caso de

microscpios regulados com o polarizador N-S, as direes referidas em algumas descries,
esquemas e fotomicrografias nos captulos 4.2.1 e 4.2.3 devem ser rotadas em 90 (p. ex.
fotomicrografias das Figs. 4-11 a 4-17, Figs. 4-22 a 4-26).
O analisador (filtro polarizador ou prisma de Nicol) utilizado para analisar as modificaes
ocorridas nas ondas polarizadas em lmina delgada (Cap. 4.2). Este posicionado entre a
objetiva e a ocular, abaixo da lente Amici-Bertrand, sendo tambm removvel da trajetria da
luz. O plano de polarizao do analisador deve ser perpendicular ao do polarizador inferior
(i.e., N-S quando o polarizador inferior for E-W).
Embora seja esperado que os microscpios estejam sempre em condies adequadas ao
trabalho, a rotina de verificao do alinhamento dos polarizadores e do retculo precisa ser
efetuada quando a determinao da posio de extino for uma questo crtica (p.ex., quando
se mede os ngulos de extino). Tal verificao pode ser feita ao observar, com polarizadores
cruzados, um mineral alongado com faces prismticas retas bem desenvolvidas.
Os minerais ortorrmbicos, ou aqueles com simetria mais alta so adequados para este teste,
desde que tenham cores de interferncia, no mnimo, do final da primeira ordem (p.ex.,
sillimanita, ortoanfiblio, turmalina). Se os dois polarizadores (polarizador inferior e
analisador) e os fios do retculo na ocular esto adequadamente alinhados, estes minerais
ficaro completamente pretos (extintos) quando orientados segundo um dos fios do retculo
(Fig. 1-11). Se os polarizadores estiverem desalinhados, os procedimentos descritos a seguir
possibilitam retificar o problema.
Os fios do retculo na maioria dos microscpios modernos esto fixos. O desalinhamento

potencial dos polarizadores pode ocorrer quando os dois polarizadores esto rotados em
relao aos fios do retculo (i.e., cristais como os mostrados na figura 1-11 ficam pretos sob
polarizadores cruzados, mas existe um ngulo entre a face do prisma e um dos fios do
retculo), ou ento, os dois no esto orientados a 90 entre si (i.e., os cristais no ficam
completamente pretos quando rotados). Esta ltima situao a mais comum, dado que
apenas a posio de um dos polarizadores fixa na maioria dos microscpios standards.
Portanto, somente um dos dois polarizadores pode ser facilmente ajustado. Entretanto, existe
a possibilidade que o filtro polarizador esteja desregulado no interior da moldura.
Para alinhar o plano de polarizao do polarizador (= direo de vibrao das ondas
polarizadas) segundo o fio do retculo E-W, pode ser utilizada uma montagem em lmina
delgada (mount) de cristais finos e aciculares de turmalina colorida. Estes cristais devem estar
orientados no plano da seo delgada, dado que isto evita a busca por cristais de turmalina
com orientao adequada em uma lmina delgada de rocha. Primeiro, alinhe o cristal acicular
de turmalina com o eixo cristalogrfico c paralelo direo N-S do retculo e, ento, gire o
polarizador at que o cristal mostre a mxima absoro (anlogo ao mostrado na
fotomicrografia da lmina delgada da figura 1-10, lado esquerdo). Para este procedimento, o
analisador deve ser removido do caminho da luz.
Explicao: Turmalina um mineral fortemente dicroico (dicrosmo, Cap. 4). A mxima
absoro ocorre perpendicular ao eixo cristalogrfico c, i.e., segundo a direo da onda de luz O
(ordinria).
Ateno! Assegure-se de que a posio do polarizador no possa ser modificada posteriormente. Nos microscpios que dispem de polarizador regulvel, com escala graduada, a posio
pode ser assinalada no suporte do polarizador. Caso necessrio, fixe este com fita adesiva.
Figura 1-10. Rotina para verificar a orientao do polarizador inferior, utilizando a turmalina
ou a biotita. Naqueles microscpios em que o polarizador est orientado na direo N-S, as
direes de mxima absoro nos dois minerais estaro a 90 relativo quelas mostradas na
figura.
Quando o polarizador estiver adequadamente orientado, o plano de polarizao do

analisador est alinhado segundo a direo N-S do retculo. Ao inserir o analisador no
caminho da luz (sem espcime na platina), o campo de viso deve aparecer preto quando a
direo de polarizao do analisador estiver orientada segundo N-S. Se o campo de viso no
estiver preto, o analisador deve ser ajustado. Tal ajuste pode ser feito utilizando, igualmente,
sees prismticas longas de minerais ortorrmbicos ou de maior simetria, como mostrado na
figura 1-11. Este procedimento tem a vantagem de permitir, ao mesmo tempo, a verificao
do alinhamento preciso dos dois polarizadores segundo os fios do retculo.
Os analisadores regulveis permitem o ajuste da orientao do filtro polarizador em uma
escala circular graduada, que pode ser bloqueada aps o ajuste. Na maioria dos analisadores
no-removveis (fixos), a posio correta do filtro polarizador tem que ser ajustada
manualmente no interior da moldura. Como referido anteriormente, grande parte dos
microscpios modernos so configurados com um dos polarizadores regulvel e o outro com
orientao fixa, seja o polarizador inferior ou o analisador.
Durante a observao feita com uma objetiva de grande aumento (sem qualquer objeto no
caminho a luz!) e com o diafragma ris aberto, o campo de viso pode no aparecer
totalmente preto quando os polarizadores estiverem cruzados. Isto ocasionado pela rotao
das ondas polarizadas, que vibram na direo E-W, nas superfcies fortemente curvas das
lentes da objetiva. Sob iluminao conoscpica, possvel observar uma imagem de
interferncia similar a de uma figura de interferncia com eixo ptico centrado de um cristal
uniaxial positivo, com fraca birrefringncia (Cap. 4.2.5).
Figura 1-11. Verificao do alinhamento preciso entre o polarizador, o analisador e os fios do

retculo, utilizando sees prismticas de minerais com alta simetria.
Se o ngulo entre a posio de extino e qualquer um dos fios do retculo for exatamente 0
(como mostrado na figura), todos os trs elementos esto perfeitamente alinhados. Quando o
polarizador inferior estiver corretamente alinhado aos fios do retculo, o analisador pode ser
orientado utilizando um mineral prismtico em posio de extino, fazendo os ajustes at
que uma das faces do prisma esteja alinhada em paralelo com o fio do retculo equivalente.
Observe que a orientao do polarizador inferior (E-W vs. N-S) no pode ser checada com os
polarizadores cruzados.
1.7 Resoluo de problemas

1.7.1 Otimizao da imagem do espcime
Assumindo que o microscpio esteja corretamente regulado para iluminao Khler (Cap. 1.5).
(1) Se a viso da lmina delgada est com o foco perfeito para objetivas de pequeno aumento (MO =
2,5 a 10), mas permanece desfocada nas objetivas de maior aumento (MO = 20, 40, 63 etc.), deve ser
checado se a lmina foi colocada do lado contrrio, i.e., com a lamnula virada para baixo (veja
distncia livre de trabalho para as objetivas, Tabela 1).
(2) Se a lmina, que est corretamente posicionada, no pode ser focalizada com uma objetiva de
grande aumento, provavelmente a lamnula utilizada muito espessa e deve ser substituda por
lamnula com espessura padro de 0,17 mm.
(3) O foco correto pode ser dificultado pela sujeira na superfcie dos componentes pticos. A poeira
pode ser removida com um pincel macio, completamente livre de gordura.
(4) Imagens pouco ntidas ou manchadas resultam quando as lentes frontais das objetivas ou
oculares esto sujas, com impresses digitais ou gordura das pestanas. Nestes casos, assopre
lentamente a lente e limpe-a cuidadosamente com pano apropriado para lentes ou leno de papel
sem fibras. Manchas de leo (p.ex., lquidos de imerso) so adequadamente removidas com
algodo imerso em ter ou lcool etlico. Os solventes, contudo, devem ser aplicados com cautela
dado que as lentes so montadas em resinas sintticas. Para evitar impresses digitais nas lentes
frontais, as objetivas devem ser sempre manuseadas utilizando o anel estriado do revlver portaobjetivas.
1.7.2 Correo de iluminao defeituosa
O ajuste do microscpio para a iluminao Khler assegura um campo de viso com iluminao
uniforme e perfeita (Cap. 1.5). Contudo, alguns problemas na qualidade da iluminao podem ainda
permanecer.
Se o campo de viso no est iluminado, ou est de modo irregular, apesar da fonte de luz estar
funcionando e do diafragma de campo estar iluminado, as causas potenciais para tal problema no
conjunto de componentes pticos abaixo da platina so:
(a) A lente frontal do condensador, ou alguma lente extra abaixo do condensador, est parcialmente
inserida na trajetria ptica. Por consequncia, a moldura desta lente pode estar bloqueando parcial
ou totalmente o feixe de luz.
(b) Os filtros no esto corretamente posicionados.
(c) Ao utilizar objetivas de pequeno aumento, o campo de viso pode estar mal iluminado quando o
diafragma de campo estiver fechado, o condensador estiver em posio elevada, ou ento, a lente
frontal do condensador estiver inserida no caminho da luz.
O sistema de iluminao abaixo da platina est ajustado quando, ao ver a lmina delgada
lateralmente a partir de cima, se observa um campo circular, iluminado de forma uniforme e
intensa, o qual pode ser aumentado ou reduzido ao abrir e fechar o diafragma de campo.
Se a imagem na seo delgada permanece imperfeita quando vista atravs das oculares, as causas
devem ser procuradas na parte do tubo do microscpio. A trajetria da luz pode estar parcial ou
totalmente bloqueada quando:
(a) O revlver porta-objetivas no foi adequadamente montado na estativa, ou a objetiva em uso no
foi colocada na posio correta, assinalada por um mecanismo de clique, aps a troca de aumento.
(b) A placa acessria est parcialmente inserida no tubo do microscpio.

(c) O analisador no foi completamente inserido ou removido.
(d) A lente Amici-Bertrand est parcialmente inserida.
(e) Uma lente de aumento acessria (p.ex., Optovar do fotomicroscpio Zeiss) no est na
posio correta, assinalada por um clique.
1.7.3 Fonte de erros no modo polarizadores cruzados
(a) Numa lmina delgada com espessura padro (25 m), os gros de quartzo e feldspato
exibem cores de interferncia cinza-branco de primeira ordem. Se forem observadas cores
branco-amarronzadas, os polarizadores no esto ajustados de forma precisa, i.e., a orientao dos planos de polarizao dos dois no est a 90. Portanto, polarizador e analisador
devem ser ajustado seguindo as instrues fornecidas no captulo 1.6.
(b) Se os gros de quartzo e feldspato exibirem cores de interferncia azul-verde e laranjavermelho em vez de cores branco-cinza de primeira ordem, verifique se a placa auxiliar
vermelho de primeira ordem (placa ) no est inserida no caminho da luz (cf. placas
acessrias, Cap. 4.2.4).
(c) Os fios do retculo na ocular devem estar orientados segundo N-S e E-W. Para isto, o
tubo ocular tem duas ranhuras para encaixe das oculares. Isto permite fixar a posio das
oculares com a orientao padro dos fios do retculo N-S e E-W ou, se necessrio, em
diagonal a 45.
1.7.4 Cuidados e manuteno do microscpio
O microscpio deve estar em laboratrio sem umidade e no ficar exposto luz direta do
sol. Em climas midos, o ambiente do laboratrio deve ser climatizado.
Para proteger o microscpio do acmulo de p, aconselhado o uso de capa quando o

mesmo no estiver em uso. Mesmo quando adequadamente protegido, a poeira eventualmente se acumula no equipamento. Deste modo, os componentes do sistema ptico como a
fonte de luz, os filtros, os polarizadores e as lentes do condensador e das oculares necessitam de limpeza peridica utilizando pincel ou escova macios. Se o microscpio no for ser
usado por perodos mais longos, aconselhvel coloc-lo em armrio adequado.
Ao transportar os microscpios, eles devem ser mantidos na vertical para evitar a queda e
danificao de filtros e placas acessrias, que no so componentes fixos. Para transportes
mais longos, tais componentes devem ser removidos. Alm disso, os fabricantes de microscpios alertam para que, nestes casos, as objetivas sejam removidas e armazenadas
adequadamente, de preferncia, nas embalagens originais. importante lembrar que os
microscpios de luz polarizada so instrumentos de alta preciso, e que qualquer acidente
durante o transporte pode comprometer seriamente o alinhamento do sistema ptico. As
caixas de madeira fornecidas para cada microscpio infelizmente so coisas do passado.
Grande parte dos componentes mveis do microscpio so lubrificados. O leo tende a ficar
viscoso com o tempo. Ento, necessria a manuteno peridica destas peas por um
mecnico de preciso especializado. Apesar das lentes dos modelos modernos de microscpios serem protegidas por pelculas antifungos, os sistemas de lentes devem ser
periodicamente limpos por um tcnico especializado. O crescimento de fungos pode ser um
problema srio particularmente em climas tropicais.
Guia de Microscopia
Medida de ngulos
2 Medio de ngulos, distncias e espessuras

2.1 Medida de ngulos
A identificao de um mineral desconhecido, ou a determinao da composio de uma
soluo slida, requer comumente a medio do ngulo entre duas feies especficas lineares
ou planares. Tais feies incluem faces cristalinas, planos de clivagem, planos de maclas e
direes de vibrao das ondas de luz.
Por exemplo, com a ajuda dos ngulos entre as duas direes de clivagem possvel
distinguir piroxnios de anfiblios. A determinao dos ngulos entre os planos nos minerais
e as direes de vibrao ptica , ainda, mais importante no estudo destes minerais (Cap.
4.2.4).
Os ngulos so medidos utilizando um microscpio de luz polarizada, em que a platina
giratria tenha escala graduada com 360. Alm disso, necessrio uma direo de referncia
que estabelecida pelo retculo em cruz na ocular. Os pr-requisitos para uma medida precisa
incluem a correta centragem do microscpio e o uso de objetivas de grande aumento, com
pequena profundidade de campo. Para determinao dos ngulos entre direes de clivagem,
o analisador deve ser retirado da trajetria da luz.
A situao ideal para medir os ngulos entre os planos de clivagem, faces cristalinas, etc.,
ocorre quando os dois planos em questo so paralelos direo de viso (i.e.,
perpendiculares platina). Quando a lmina delgada desfocada, estando o diafragma ris
parcialmente fechado a fim de garantir maior contraste, aparecem franjas de igual
luminosidade nos dois lados do trao destes planos, que migram para fora de modo simtrico.
Tal situao ideal raramente encontrada em lminas delgadas, e assim, para o trabalho de
rotina, basta encontrar gros em que os traos dos planos de clivagem aparecem como linhas
finas escuras.
Para efetuar a medio, a lmina delgada orientada manualmente ou com o auxlio do
charriot, de modo que a interseo entre os traos dos planos esteja no centro do retculo em
cruz (Fig. 2-1). Ao girar a platina possvel verificar se esta interseo est corretamente
centrada. Caso esteja descentrada, precisa ser reposicionada. Ao movimentar a platina, evite
pression-la para baixo desnecessariamente.
A seguir, a direo de clivagem 1 rotada de modo que fique paralela ao fio N-S do retculo.
Ento, o ngulo I lido na escala vernier na borda da platina (Fig. 2-1, esquerda). Agora, a
platina girada at que a direo de clivagem 2 esteja paralela ao fio N-S do retculo, e o
ngulo II lido na escala vernier (Fig. 2-1, direita). O ngulo em questo (= entre as duas
direes de clivagem) corresponde diferena entre I e II.
Nota: Se durante este procedimento a marca de 360 ultrapassada, os ngulos parciais (I e
II) devem ser somados, e no subtrados.
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Medida de ngulos
Figura 2-1. Medida do ngulo entre dois planos de clivagem.
Possveis erros na medio podem ser decorrentes das seguintes questes:

1. Tolerncia mecnica da platina do microscpio.
2. Preciso da leitura na escala graduada da platina.
3. Preciso do posicionamento do trao dos planos a serem medidos, em paralelo com um dos
fios do retculo.
4. Preciso no estabelecimento da exata posio extino, quando os ngulos so medidos em
relao s direes de vibrao.
5. Qualidade dos elementos planares utilizados e de seus traos no gro do mineral.
Assumindo que os traos dos planos em questo foram posicionados com cuidado e que a
leitura na escala foi feita com ateno, a causa mais frequente dos erros se deve pouca
expresso do trao do plano de clivagem. Particularmente aqueles minerais, em que a clivagem
classificada como pobre ou distinta, podem mostrar traos de clivagem escalonados, muito
curtos ou no exatamente planares. Alm disso, os planos de clivagem podem estar encurvados,
devido deformao, ou podem conter minerais secundrios. Durante a preparao da lmina
delgada, pode ocorrer a formao de buracos pelo desprendimento de fragmentos do mineral ao
longo dos planos de clivagem. De outro lado, o desbaste cuidadoso da lmina pode impedir a
abertura dos planos de clivagem, tornando-os pouco visveis. Ainda, os planos de macla muitas
vezes no esto orientados exatamente segundo as direes cristalogrficas ideais.
Um dos problemas frequentes reside em encontrar numa lmina delgada o gro com a
orientao cristalogrfica ideal (= linha de interseo exatamente vertical entre os dois planos),
e isto com certeza impossvel na maioria das vezes. Quando a medida do ngulo obtida em
um gro com a orientao levemente inclinada, importante considerar que isto est
introduzindo um erro de poucos graus.
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Medida de distncias
2.2 Medida de distncias

A medida de distncias necessria para determinar o tamanho do gro, a razo
comprimento/largura, etc. Para tais medidas utilizada a ocular que tenha a gratcula (ocular
micromtrica), a qual deve ser calibrada. A ocular micromtrica possui uma escala graduada
(= gratcula), horizontal ou vertical, combinada com os respectivos fios do retculo (Fig. 2-2).
Ao observar a lmina delgada usando objetivas com aumentos crescentes, a imagem
consequentemente aumenta de tamanho. Portanto, a gratcula da ocular deve ser calibrada
separadamente para cada par ocular-objetiva. Os nmeros de aumento gravados no corpo
externo das objetivas so valores aproximados, o que faz com que a calibrao baseada
apenas em clculos seja algo imprecisa.
Para a calibrao, utiliza-se uma escala especfica, denominada de micrmetro (lmina
micromtrica), que possui uma graduao de 10 m por marca; 100 marcas correspondem a 1
mm. O micrmetro colocado na poro central da platina e, aps focalizado, posicionado
em paralelo e adjacente gratcula na ocular. (Fig. 2-2). No exemplo (a) 100 marcas de
graduao no micrmetro, totalizando 1000 m, equivalem a 78 marcas na gratcula da
ocular. Com este aumento especfico (objetiva de 6,3x; ocular de 12,5x), a distncia entre
duas marcas graduadas na gratcula igual a 1000 m dividido por 78. O intervalo ento de
12,8 m. O exemplo (b) vlido para outra combinao (objetiva 63x e ocular 12,5x).
Por exemplo, para determinar o dimetro de um gro, conta-se o nmero de marcas da
gratcula na ocular equivalentes a esse dimetro e, ento, multiplica-se este nmero pelo valor
da calibrao para a combinao correspondente ocular-objetiva (Fig. 2-2 c).
O erro total do procedimento acima um valor acumulado. Tanto o micrmetro utilizado na
calibrao, como a gratcula da ocular possuem um intervalo de tolerncia. Nos sistemas de
lentes de grande aumento, ocorrem erros porque as imagens no so totalmente planas,
exibindo distores nas bordas. Todavia, o maior erro se deve ao olho humano ao comparar o
objeto em estudo com a gratcula na ocular. Para aumentar a preciso, ento, necessrio
fazer a medida com o maior aumento possvel, de modo que o gro em estudo ocupe a maior
parte da gratcula na ocular.
2.3 Determinao da espessura da lmina delgada

A birrefringncia de minerais anisotrpicos pode ser estimada pela comparao das cores de
interferncia no mineral com aquelas das tabelas de cores de Michel-Lvy ou Raith-Srensen
(Cap. 4.2.3), ou poder ser determinada com maior preciso pelo mtodo de compensao.
Nos dois casos, importante conhecer a espessura do mineral na lmina: espessura da lmina
delgada. A espessura padro das lminas delgadas varia entre 25 m e 30 m. Para tal
espessura, minerais comuns nas rochas como quartzo e feldspatos exibem cores de
interferncia cinza a branco de primeira ordem. Quando estes minerais no esto presentes na
lmina delgada, fica mais difcil estimar a espessura da lmina. Neste caso, esta pode ser
determinada pelo movimento vertical da platina no microscpio.
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Medida de espessuras
Figura 2-2. Calibrao da escala micromtrica da ocular para medida de distncias.
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Para obter o foco da imagem, os microscpios so equipados com comandos de ajuste grosso
(macromtrico) e ajuste fino (micromtrico). Os manuais de instruo, fornecidos pelos
fabricantes, contm informaes sobre o deslocamento vertical da platina para cada marca
graduada no ajuste micromtrico. Este valor corresponde a 2 m na maioria dos microscpios.
Para medir a espessura da lmina, utilizada uma objetiva de grande aumento e pequena
profundidade de campo (40x ou 63x), obtendo-se o foco para a lamnula. Esta superfcie pode
ser reconhecida pela presena de poeira, ou ento, por alguma impresso digital deixada por
um usurio distrado! Ento, o ajuste fino movimentado de modo a diminuir a distncia
entre a amostra e a objetiva. Com isto, eventualmente, possvel observar e obter o foco da
interface entre o mineral e a resina (epxi ou blsamo do Canad). Esta interface
reconhecida pela rugosidade da superfcie e marcas de desgaste com abrasivos no mineral.
Reduzindo ainda mais a distncia entre a objetiva e o mineral, ser focalizada a superfcie
inferior da lmina delgada, com suas irregularidades. A trajetria atravs de uma lmina
delgada pode ser tambm observada ao longo de planos de clivagem e incluses. Os usurios
principiantes devem repetir tais procedimentos, anotando as posies das interfaces entre
estas camadas mediante o uso da escala do ajuste micromtrico da platina no microscpio.
Para determinao precisa da espessura a partir das superfcies superior e inferior de uma
lmina delgada, necessrio girar o ajuste micromtrico numa nica direo, evitando o
rebote devido folga na engrenagem. Se a espessura entre as superfcies inferior e superior
medida, a posio inicial do plano focal deve estar na lmina de vidro de 1 mm espessura.
Quando o movimento feito em sentido inverso, a posio inicial do plano focal est na
lamnula com 0,17 mm de espessura acima do mineral.
Para deslocar o foco da superfcie inferior para a superior da lmina delgada (ou no sentido
contrrio), o ajuste fino da platina girado por um certo nmero de marcas graduadas. Este
nmero multiplicado pelo valor de cada marca graduada (p.ex., 2 m) equivale distncia
vertical do movimento h em m. Todavia, esta distncia h no corresponde exatamente
espessura da lmina delgada.
Em face da refrao da luz no ar, as duas superfcies do mineral na lmina delgada so

observadas em sua posio aparente, e no na posio real. A posio aparente da superfcie
inferior ainda influenciada pelo ndice de refrao do mineral (Fig. 2-3, parte superior).
A espessura real ento: d = nCristal/nAr * h
onde h, distncia vertical, medida em nmeros de marcas graduadas do ajuste
micromtrico. O ndice de refrao do mineral dever ser conhecido, pelo menos, at a
primeira casa decimal, o que pode ser facilmente estimado.
Um exemplo para o quartzo seria: d = 1,55/1,00 * 8,5
Se uma marca graduada equivale a 2 m, a espessura da lmina delgada ser:
d = 1,55/1,00 * 8,5 * 2 m = 26,35 m.
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Calibrao do movimento vertical da platina

Quando o movimento vertical da platina desconhecido (equivalente graduao do ajuste
micromtrico), ou foi modificado com o uso prolongado do microscpio, necessrio
calibr-lo. Para este fim, quebra-se uma lamnula, sendo sua espessura medida prximo
borda quebrada com um instrumento adequado (paqumetro), disponvel em qualquer loja de
ferramentas mecnicas. O fragmento da lamnula colocado em uma lmina de vidro, com a
fratura no centro do campo de viso. Dependendo da orientao da superfcie da fratura, a
calibrao do movimento pode ser efetuada de duas maneiras, que fornecem o mesmo
resultado (Fig. 2-3 a,b):
d = h
a)
b)
n = nVidro 1,5;
d = h * 1,5 (veja acima)
Se a espessura da lamnula medida com o paqumetro de 168,4 m e o movimento vertical

respectivamente de 67,3 e 44,9 marcas de graduao, o valor da calibrao por marca
graduada ser de:
No caso a) 168,4 m/ 67,3 = 2,5 m;
No caso b) 168,4 m/ 44,9 * 1,5 (nVidro) = 2,5 m.
Os erros de calibrao podem ter causas diversas. As tolerncias mecnicas do paqumetro e do

microscpio so normalmente pequenas comparadas aos erros de observao, ao determinar as
posies das superfcies limites. Este erro pode ser estabelecido mediante vrias medies.
Figura 2-3. Calibrao do movimento vertical da platina do microscpio e medida da

espessura.
Propriedades morfolgicas: forma e simetria
3. Propriedades morfolgicas
3.1 Forma do gro e simetria
Os minerais, assim como os slidos sintticos, apresentam uma considervel variedade de
formas cristalinas. A simetria da forma externa do cristal de um mineral especfico a
expresso da simetria de sua estrutura atmica interna. De acordo com as caractersticas de
simetria, todas as fases cristalinas conhecidas podem ser relacionadas a um dos sete grupos de
simetria (= sistemas cristalinos) (Fig. 3-1).
Combinao de faces cristalinas: dependendo das condies de crescimento, os minerais
podem exibir diferentes formas cristalinas, resultantes da combinao de diferentes faces
cristalinas. A figura 3-2 mostra exemplos da variedade de formas cristalinas da olivina e
augita, em ocorrncias naturais.
Hbito: Os cristais, mesmo com faces cristalinas idnticas, tambm podem apresentar
propores distintas. Isto significa que eles diferem entre si no tamanho relativo das faces
cristalinas. A figura 3-3 mostra cristais de diferentes hbitos, tendo como exemplos o
espinlio, a granada, a sodalita e a leucita (todos equidimensionais), a melilita, a mica
(lamelar, tabular a prismtico curto) e o clinopiroxnio e o anfiblio (acicular e prismtico).
Forma cristalina: Cristais eudricos, que so aqueles completamente limitados por faces
cristalinas racionais, refletem crescimento sem obstrues (como a cristalizao no lquido
magmtico (Fig. 3-4 A-D,F), ou em amgdalas, cavernas ou poros, etc.), ou ento, so formados
quando o mineral tem uma tendncia particular de impor a sua forma e suas faces cristalinas
sobre os outros cristais adjacentes, mais fracos (sries cristaloblsticas; Fig. 3-4 E).
Formas andricas e subdricas de gros so observadas quando a forma caracterstica do mineral

desenvolvida apenas parcialmente (Fig. 3-5), ou no se desenvolve. Isso pode tambm ocorrer
quando o annealing e a recristalizao geram agregados de gros policristalinos (Fig. 3-6), ou
quando os processos de dissoluo ou de fuso parcial acarretam o arredondamento das arestas
dos cristais. (annealing = termo tecnolgico para remoo da deformao pelo aquecimento de
um slido. Tal termo tem sido empregado nas rochas com este significado, por alguns autores;
enquanto outros, utilizam-no como sinnimo de recristalizao esttica).
A cristalizao rpida a partir do lquido magmtico pode produzir cristais esqueletais ou formas
ocas (Fig. 3-7). Minsculos cristais plumosos, dendrticos ou aciculares crescem em lquidos
magmticos submetidos a intenso subresfriamento (= undercooling termo empregado quando a
rpida cristalizao decorrente de abrupto resfriamento, mudana sbita na composio ou
descompresso), como tambm o caso do vidro (Fig. 3-8).
Na imagem bidimensional de uma lmina delgada, a forma 3-D de um cristal de uma espcie
mineral deve ser deduzida do contorno de sees distintas, em diferentes cortes do mesmo
mineral (Fig. 3-9). Para os minerais formadores de rocha, podem ser usados como referncia os
desenhos esquemticos dos cristais nas tabelas de Trger et al. (1979). A figura 3-10 mostra a
correlao entre a forma dos cristais e a forma das sees para um dos membros do grupo do
clinopiroxnio.
Figura 3-1. Sistemas cristalinos.
Figura 3-2. Formas cristalinas variadas de uma mesma espcie mineral produzidas pela
combinao de diferentes faces cristalinas, tendo como exemplo aquelas da augita e da olivina.
Figura 3-3. Hbito dos cristais.
Figura 3-4. Formas eudricas dos gros.

A: Augita (basalto). B: Sanidina (traquito). C: Zirco (pegmatito sientico). D: Plagioclsio (basalto).
E: Granada (granada-cianita micaxisto). F: Leucita (foidito).
Figura 3-5. Formas subdricas dos gros.
A: Anfibolito. B: Biotita-muscovita xisto. C: Olivina em basalto.
Figura 3-6. Formas andricas dos gros.

Textura granoblstica em quartzito (A ao C), mrmore (D), anortosito (E) e cornubianito faialtico (F).
Figura 3-7. Formas esqueletais de cristais.
A: Olivina (basalto). B, C e D: Diopsdio, ferriclinopiroxnio e kirschsteinita (escria). E: Granada em atis

(gnaisse). F: Quartzo em microclnio (granito grfico).
Figura 3-8. Cristais esferulticos, dendrticos e em arranjos radiados.

A: Esferulitos de clorita (charnoquito). B: Esferulito radial de zelita exibindo as cruzes de Brewster (limburgito; +Pol).
C: Esferulitos (obsidiana, Lipari). D: Domnios dendrticos produzidos por desvitrificao (basalto). E: Esferulito em
leque decorrente da desvitrificao (obsidiana, Arran). F: Micrlitos com domnios dendrticos em leque, decorrente de
desvitrificao (obsidiana, Arran). G: Calcednia (gata). H: Rosetas de barita com as cruzes de Brewster. I: Rosetas de
anidrita (anidrita, Zechstein).
Figura 3-9. Sees de cristais eudricos.
Figura 3-9 contin.. Sees de cristais eudricos.
010
Figura 3-10. Relao entre a forma cristalina e as diferentes sees de um mineral, utilizando
como exemplo o clinopiroxnio (titanoaugita). Luz plano polarizada.
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Propriedades morfolgicas: clivagem e fratura
3.2 Clivagem, fratura e fenmenos de deformao e recristalizao

Clivagem
Muitos minerais podem partir preferencialmente ao longo de uma ou mais direes cristalogrficas.
A isto se chama clivagem. A aplicao de uma fora mecnica seja relacionada com processos
geolgicos ou com a preparao da lmina delgada pode gerar nos minerais planos de fraturas
segundo orientaes cristalogrficas definidas. O nmero e a qualidade dos planos de clivagem so
especficos de cada mineral, mas dependem tambm da intensidade dos esforos a que so
submetidos. A clivagem segue os planos cristalogrficos que se caracterizam por foras de ligao
fracas e, assim, refletem uma estrutura cristalina especfica. Exemplos so os filossilicatos, com a
sua clivagem basal proeminente e os inossilicatos, com as duas direes de planos de clivagem
prismtica e a ausncia de clivagem basal (Fig. 3-11 A-C). muito comum que os planos de
clivagem estejam orientados paralelamente s faces cristalinas principais (Fig. 3-11 A-D, F).
Entretanto, isto no pode ser generalizado (Fig. 3-11 E).
Nas sees transversais de um mineral, a clivagem reconhecida no caso ideal pelo trao
retilneo de planos que secionam o gro. Quando os planos de clivagem esto orientados paralelamente direo de observao (perpendicular platina) eles aparecem como linhas escuras e finas.
Ao aumentar a inclinao dos planos de clivagem (a ngulos com a platina diferentes de 90), as
linhas se tornam mais largas e os traos aparecem mais difusos. Quando o plano de clivagem forma
um ngulo pequeno com o plano da lmina delgada, a clivagem pode no ser observada.
A clivagem, bem como sua ausncia (p.ex., quartzo, estaurolita), uma propriedade morfolgica
importante para a identificao do mineral. O nmero de direes de planos de clivagem e os
ngulos especficos entre eles podem ser caractersticos de espcies minerais, e tambm de grupos
inteiros de minerais (piroxnios, anfiblios, etc.). importante notar que os ngulos entre as
Figura 3-11. Clivagem.

A: Augita Seo ortogonal ao eixo cristalogrfico c. Os planos de clivagem {110} formam ngulos de 87 e 93.
B: Hornblenda Seo ortogonal ao eixo c. Os planos de clivagem {110} formam ngulos de 56 e 124. C: Biotita
Seo ortogonal clivagem perfeita (001). D: Cianita Seo aproximadamente ortogonal ao eixo c, mostrando o
padro tpico de clivagem muito boa (100) e de clivagem boa ou distinta (010). E: Sillimanita A seo ortogonal ao
eixo c exibe clivagem boa (010). F: Andaluzita Seo ortogonal ao eixo c. Os planos de clivagem distinta {110} se
interceptam a ngulos quase retos.
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Propriedades morfolgicas: clivagem e fratura
clivagens, crticos para a identificao de certos minerais, somente devem ser observados
naquelas sees apropriadas (Fig. 3-11 A,B). Se o eixo comum entre as duas direes de
clivagem inclinado, os ngulos entre os traos de clivagem no correspondem aos ngulos entre
os respectivos planos. Para os planos de clivagem prismtica, o eixo cristalogrfico comum
normalmente o c.
Por conseguinte, a clivagem pode tambm fornecer informaes a respeito da orientao dos
gros minerais na lmina delgada. Por exemplo, as sees basais dos cristais de anfiblio (aprox.
ortogonais a c) apresentam duas direes de clivagens que se interceptam, enquanto que as sees
prismticas (paralelas a c) mostram aparentemente uma s clivagem (Figs. 3-11 B, 4-15 4-17).
Na realidade, estes traos de clivagem paralelos correspondem a dois planos distintos de clivagem
{110}, os quais no podem ser facilmente identificados nas sees prismticas. Em outras
palavras, a disposio dos traos de clivagem nos anfiblios (assim como nos piroxnios) pode
ser utilizada para identificar as sees basais e as prismticas, em combinao com outros
critrios, como birrefringncia e, nos minerais coloridos, o pleocrosmo.
Fratura
Muitos minerais apresentam apenas uma clivagem muito pobre, ou no possuem clivagem. Quando
so expostos a esforos mecnicos externos ou a esforos internos durante o rpido resfriamento,
estes minerais desenvolvem fraturas irregulares. Estas fraturas podem inclusive ter uma orientao
preferencial (Fig. 3-12). A clivagem e a fratura dependem do tamanho dos gros. Quando os
minerais ocorrem em gros muito finos, comumente no apresentam clivagem, nem fratura.
Figura 3-12. Fratura.

A: Perlito Fraturas (cracks) de extenso, curvilneas e concntricas, decorrentes da expanso aps o abrupto
resfriamento do material vtreo (obsidiana). B: Nefelina Fraturas de extenso irregulares devido ao rpido
resfriamento. C: Piropo Fraturas radiais que emanam a partir de incluses de coesita, transformadas parcialmente
em quartzo. A causa do fraturamento a expanso decorrente da transformao coesita-quartzo, que acarreta o
aumento dos esforos impostos granada hospedeira. D: Granada Planos de fratura orientados paralelamente a
juntas pouco espaadas, em granulito bsico. E: Granada Fraturas irregulares anteriores reabsoro, responsvel
pela formao de simplectitos de ortopiroxnio-cordierita. F: Olivina Fraturas irregulares registram o
comportamento frgil do gro de forsterita, durante a deformao dctil da matriz calctica.
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Propriedades morfolgicas: deformao e recristalizao
Deformao e recristalizao
Os minerais das rochas metamrficas (e gneas!) respondem de diferentes maneiras aos esforos
tectnicos dependendo das condies de temperatura prevalecentes, das taxas de deformao, dos nveis
de stress diferencial e da presena ou ausncia de fluidos. De modo geral, em condies de baixa
temperatura, os minerais tendem a apresentar um comportamento frgil, enquanto que em altas
temperaturas, eles se deformam plasticamente. A temperatura de transio entre o comportamento frgil
e o plstico especfica para cada mineral (para taxas de deformao tpicas de processos orognicos, a
temperatura de transio de cerca de 300C para o quartzo e de 400500C para os feldspatos).
A figura 3-13 mostra as microestruturas tpicas produzidas por deformao frgil em baixa temperatura.
Na transio frgil-dctil, os gros minerais podem apresentar tanto feies de comportamento frgil
(fraturas, cataclase), como as de comportamento plstico (extino ondulante, kinking, dobras).
Figura 3-13. Efeito da deformao frgil em gros minerais.

A: Fraturas com padro domin em cristal de sillimanita. B: Deformao cataclstica do quartzo. C:
Cristais de glaucofano quebrados e com kinks, em microdobra. D: Deformao cataclstica da actinolita. E,
F: Microboudinagem da biotita e turmalina. As fraturas abertas so preenchidas com quartzo.
(Fotomicrografias B: Michael Stipp, IFMGeomar Kiel; E,F: Bernardo Cesare, Universidade de Padova)
Ao microscpio de luz polarizada, a deformao plstica indicada quando os gros minerais exibem
dobras ou kinking de seus elementos morfolgicos que so comumente planos, tais como clivagens,
faces cristalinas ou planos de macla (Fig. 3-14). A mudana contnua ou descontnua na orientao do
retculo cristalino, no interior de um nico gro mineral, corresponde ao deslocamento gradual ou
abrupto da posio de extino ao girar a platina do microscpio. Mesmo na ausncia de elementos
morfolgicos distintos (como no quartzo), a deformao pode ser reconhecida pela heterogeneidade
nas posies de extino dos diferentes domnios no interior de um mesmo gro (Fig. 3-14 J,L). Estas
feies de deformao so causadas por processos intracristalinos induzidos pelo stress, tais como
deslocamento por deslizamento (glide) e rastejo (creep). A deformao plstica dos retculos
cristalinos pode ser contnua em um gro mineral, ou afetar somente domnios discretos. Lamelas de
deformao, ou lamelas de translao podem ser formadas ao longo de planos de deslizamento
definidos (Fig. 3-14 K; 3-15 H).
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Figure 3.2-3: Deformation and recrystallisation phenomena
Figura 3-14. Deformao plstica de gros minerais (encurvamento, kinking e lamelas de

deformao).
A-C: Cristais fortemente deformados com lamelas de macla encurvadas (albita, plagioclsio, calcita).
D-F: Cristais encurvados e com kinks (mica, ortopiroxnio, glaucofano). G: Flogopita com kink bem
evidente. H: Olivina com bandas kink. I: Cianita com bandas kink. J: Quartzo com extino ondulante.
K: Quartzo com lamelas de translao curvas segundo (0001). L: Cordierita deformada com extino
ondulante e bordas pinitizadas.
(Fotomicrografias B,K: Jrn Kruhl, TU Mnchen)
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Figura 3-15. Deformao plstica e recristalizao do quartzo.
A,B: Domnios com subgros alongados paralelos ao eixo cristalogrfico c. C: Padro em tabuleiro de
xadrez. D,E: Gros parcialmente recristalizados exibindo domnios com subgros. F. Recristalizao
esttica na borda de um cristal turvo de quartzo. G,H: Quartzo achatado (platy) em matriz recristalizada
de quartzo + feldspato (granulito flsico). I: Quartzo fitado com bordas serrilhadas nos gros.
(Fotomicrografias E: Rainer Kleinschrodt, Universidade Kln; F,I: Jrn Kruhl, TU Mnchen)
A deformao por geminao mecnica restrita a certos minerais (p. ex., plagioclsio, calcita). Ao
contrrio das maclas de crescimento, as maclas de deformao apresentam tipicamente contornos em
cunha (Fig. 3-16 A,B,I).
medida que a deformao avana, a migrao e o acmulo de deslocamentos em certas zonas
preferenciais (limites de subgros), no interior de um gro mineral, podem acarretar a formao de
agregados de domnios cristalinos pobres em deslocamentos (subgros; Fig. 3-15 A-E, Fig. 3-16
D,F,G,H). O retculo cristalino entre subgros adjacentes inclinado em poucos graus (limites de
gros em baixo ngulo). Com os polarizadores cruzados, possvel observar uma descontinuidade na
direo de extino (extino ondulante por domnios). A formao de subgros particularmente
comum no quartzo, mas tambm observada em outros minerais (Fig. 3-16, D,F,G,H). No quartzo, os
domnios de subgros podem ser alongados na direo cristalogrfica c (Fig. 3-15 A,B,D,E). Ocorrem
tambm padres de subgros entrecruzados (tabuleiro de xadrez = chessboard; Fig. 3-15 C).
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Figura 3-16. Deformao plstica e recristalizao.
A,B: Cristais de plagioclsio deformados e parcialmente recristalizados. C: Ortoclsio deformado e

parcialmente recristalizado. D,E: Cordierita deformada exibindo subgros em tabuleiro de xadrez,
parcialmente recristalizados, que evoluem a agregado granular poligonal. F: Domnios com subgros
em sillimanita. G: Padro de subgro em glaucofano. H: Calcita encurvada com extino ondulante e
formao de subgros. I: Calcita exibindo maclas de deformao lamelar e recristalizao esttica
parcial, com formao de agregado poligonal de gros finos.
Em altas temperaturas, os cristais com deformao plstica tendem a recristalizar, eliminando,

assim, os defeitos cristalinos. Os cristais recristalizados so tipicamente menores que os gros
deformados originais. Os gros individuais recristalizados mostram extino uniforme sob
polarizadores cruzados, bem como limites de gros em alto ngulo com os novos gros adjacentes.
Os gros recristalizados podem ter limites de gros lobados a retos (Fig. 3-15 D,F,H; Fig. 3-16
B,C,I). As maclas lamelares, ou as incluses contidas em cristais grossos deformados, normalmente
no so preservadas nos agregados de gros finos recristalizados (Fig. 3-15 F; Fig. 3-16 E,I).
A recristalizao dos cristais deformados pode ocorrer enquanto a deformao est ativa, ou ento,
em condies estticas. A ocorrncia lado a lado de gros grossos ou mdios com extino
ondulante, ou estruturas de subgros, e aqueles com domnios de material recristalizado de
granulao mais fina tpica da recristalizao dinmica (Fig. 3-15 G-I). Em altas temperaturas,
comum observar um espectro relativamente grande de tamanhos de gros, com limites de gros
fortemente curvos ou irregulares (contornos serrilhados ou lobados).
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A recristalizao esttica produz agregados de gros de tamanho relativamente uniforme, com

limites de gros retilneos (textura de recuperao). Os minerais com anisotropia de forma
pouco pronunciada (p. ex., quartzo, calcita, feldspato) tendem a formar agregados poligonais
de gros equidimensionais (Fig. 3-17). Nos minerais com anisotropia de forma pronunciada
(p. ex., micas, anfiblios), as evidncias de recristalizao ps-deformao so melhor
observadas em rochas onde estes minerais ocorrem em arranjos originalmente planares, que
foram submetidos a dobramento posterior. A recuperao de gros deformados nas charneiras
de microdobras acarreta a formao dos chamados arcos poligonais (Fig. 3-18).
Figura 3-17. Recristalizao esttica e annealing.
A-F: Agregados de gros granoblstico-poligonais gerados por recristalizao esttica de alta temperatura (fcies granulito), ou annealing. Granada (A), espinlio (B), ortopiroxnio (C), plagioclsio (D),
quartzo (E), calcita (F).
Figura 3-18. Recristalizao esttica de minerais com forte anisotropia fsica (ou de forma).
A-C: Recristalizao esttica em charneira de microdobra (arcos poligonais). Mica (A), clorita (B),
anfiblio (C).
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Propriedades morfolgicas: maclas
3.3. Geminao
As maclas so geradas pelo intercrescimento, controlado pela estrutura cristalina, de
dois ou mais segmentos de um cristal individual, segundo uma relao simtrica. As
maclas podem tambm resultar da deformao tectnica (como na calcita). As partes
individuais de um mineral maclado so intercrescidas de modo tal que uma a imagem
especular da outra (o plano de reflexo o plano de macla), ou ento, elas esto rotadas
uma em relao outra (o eixo de rotao o eixo de macla), ou ambos. A interface de
macla geralmente corresponde ao plano de macla.
Em muitas espcies minerais, a macla uma caracterstica importante para a sua
identificao. Existem diferentes tipos de macla, tais como maclas de contato, maclas de
penetrao, maclas simples, maclas mltiplas e maclas polissintticas (Fig. 3-19).
Em lmina delgada, quando o mineral anisotrpico, as maclas so reconhecidas mais

facilmente sob polarizadores cruzados. As partes individuais dos cristais maclados
mostram diferentes intensidades de iluminao e cores de interferncia e, ao girar a
platina do microscpio, extinguem em diferentes posies (Figs. 3-20, 21, 22). Existem
excees, entretanto, dado que nem todos os tipos de maclas podem ser reconhecidos ao
microscpio. Quando a orientao da indicatriz das partes individuais dos cristais
maclados idntica, eles so indistinguveis sob polarizadores cruzados (por exemplo, a
maioria das leis de macla no quartzo tem o eixo de macla paralelo ao eixo
cristalogrfico c, o que significa que as indicatrizes esto alinhadas paralelamente e,
portanto, as maclas extinguem simultaneamente).
Figura 3-19. Tipos de macla.
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Figura 3-20. Maclas nos minerais (I).

A: Estaurolita, macla de penetrao segundo (320). B: Cianita, macla simples segundo (100).
C: Titanita: macla simples segundo (100). D: Maclas simples e lamelar em gros de condrodita.
E-G: Maclas simples e lamelar segundo (100) na augita. H: Macla segundo (100) em pigeonita
invertida para ortopiroxnio, com lamelas de exsoluo de augita segundo (001). I: Anfiblio, macla
simples segundo (100). J: Wollastonita, maclas segundo (100). K: Epdoto, maclas lamelares segundo
(100). L: Margarita, macla simples segundo (001).
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Figura 3-21. Maclas nos minerais (II).

A: Cloritide, maclas lamelares segundo (001). B: Mg-clorita (clinocloro), maclas lamelares segundo (001).
C: Cummingtonita, macla em lamelas finas segundo (100). D. Ripas de plagioclsio com maclas lamelares,
polissintticas. E-G: Maclas polissintticas em plagioclsio. H: Sanidina, maclas de Carlsbad. I: Kfeldspato, macla de crescimento de Baveno. J,K: Cordierita, maclas cclicas segundo {110} (tripleto). Para
melhorar o contraste de birrefringncia, placa vermelho de primeira ordem inserida em K. L: Maclas
lamelares em cordierita.
(Fotomicrografia K: Bernardo Cessare, Universidade de Padova)
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Figura 3-22. Maclas nos minerais (III).

A: Microclnio com macla xadrez tpica (seo aproximadamente paralela a (001)). B: Microclnio, conjunto de
maclas (seo aproximadamente paralela a (001)). C: Albita com padro em tabuleiro de xadrez, produto da
albitizao do microclnio. D-F: Leucita com maclas lamelares complexas (macla em parqu). G: Grossulria
(birrefringncia anmala), com zonao oscilatria concntrica e maclas em setor. H: Uvarovita (birrefringncia
anmala), com maclas em setor. I: Larnita com maclas finas, polissintticas segundo (100) e (010). J,K: Calcita
com maclas de deslizamento (ou de deformao), polissintticas, segundo {0112}. L: Corndon com macla
lamelar segundo {0111}.
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Propriedades morfolgicas: incluses
3.4 Incluses, intercrescimentos e fenmenos de alterao e de desmescla

As incluses podem ser tratadas como caractersticas adicionais a serem utilizadas na identificao dos
minerais. As incluses podem ser incorporadas durante o crescimento do cristal: incluses primrias, ou
serem formadas pela alterao do mineral hospedeiro: incluses secundrias.
Embora as incluses primrias no sejam especficas de um mineral, elas podem fornecer informaes
sobre as condies de crescimento do mineral hospedeiro (condies de presso e de temperatura;
variaes nos parmetros composicionais). As incluses primrias de minerais, fluidos e lquidos
magmticos (melt) ocorrem nos minerais que cresceram livremente a partir do magma, ou na presena
de fluido (Fig. 3-23 A-D, L). Os cristais grossos (porfiroblastos) em rochas metamrficas podem conter
incluses de granulao fina. A orientao e a distribuio destas incluses fornecem evidncias sobre as
relaes temporais entre o crescimento dos cristais e a deformao (Fig. 3-23 E,F,K). Em rochas
metamrficas ricas em mica, os minerais aluminosos como a estaurolita (Fig. 3-23 G), a granada, a
andaluzita e a cianita formam comumente poiquiloblastos ricos em incluses de quartzo. Em rochas
ricas em quartzo, de outro lado, podem ocorrer cristais esqueletais destes minerais aluminosos (Fig. 3-23
H). Nos porfiroblastos, os setores em que o crescimento mais rpido, que em outros setores do cristal,
podem conter maior quantidade de incluses primrias minsculas (estrutura em ampulheta: cloritide,
andaluzita; Fig. 3-23 I,J).
As incluses secundrias consistem, por exemplo, de intercrescimentos de minerais isomrficos
resultantes da desmescla de solues slidas (como piroxnios, anfiblios e feldspatos). As fases
exsolvidas, que normalmente possuem forma lamelar ou tabular, mostram uma orientao regular
controlada pela estrutura cristalina do hospedeiro (Figs. 3-24, 3-25 J). A forma da fase exsolvida pode
tambm ser irregular (p. ex., dolomita em calcita; Fig. 3-24 K,L).
Outros intercrescimentos secundrios frequentes incluem aqueles formados pela precipitao de xidos
de ferro e titnio, em minerais provenientes de rochas de alta temperatura (piroxnio, anfiblio, biotita,
granada, quartzo, plagioclsio; Fig. 3-25). A precipitao ocorre durante o resfriamento da rocha,
acompanhando o decrscimo na solubilidade do titnio. Embora as estruturas cristalinas do mineral
hospedeiro e das fases secundrias no sejam isomrficas, a precipitao dos xidos de ferro e titnio
pode ainda ser controlada pela estrutura interna do mineral hospedeiro.
Nas rochas metamrficas de alto grau, so comuns as texturas de reao relacionadas descompresso,
particularmente em episdios de exumao rpida a temperaturas relativamente altas. Os intercrescimentos de dois novos minerais comumente so formados a partir de outro mineral anteriormente
estvel (simplectitos: Figs. 3-26, 3-27). Com menor frequncia ocorrem intercrescimentos fibrosos de
trs minerais neoformados (coroa queliftica: Fig. 3-26 A). As coroas de reao de uma fase so
formadas durante a transformao pseudomrfica de coesita em quartzo (Fig. 3-27 I,J), a partir da reao
pseudomrfica de corndon em espinlio (Fig. 3-27 G), ou da hidratao do periclsio para a brucita
(Fig. 3-27 E).
As reaes retrgradas envolvendo fluidos aquosos tambm podem gerar texturas caractersticas de
substituio. Na presena de tais fluidos, as fases hidratadas crescem s custas de minerais menos
hidratados ou anidros. O mineral primrio substitudo a partir da superfcie at o interior, ainda que a
reao prossiga tambm preferencialmente ao longo de fraturas e de planos abertos de clivagem (Figs. 328, 3-29). Durante a saussuritizao e a sericitizao do plagioclsio, o consumo do componente anortita
produz gros finos de clinozoisita, zoisita e sericita, sem relao com a orientao cristalogrfica do
mineral hospedeiro. (Fig. 3-29 J,K). Alm da hidratao, reaes de oxidao podem tambm estar
envolvidas nestes processos de substituio (Fig. 3-28 A-E, I).
Os halos pleocricos so uma feio especial ao redor de minerais que contm quantidade
significativa de istopos radiognicos. Os minerais mais comuns deste grupo so o zirco, a
monazita e a xenotima. A radiao radioativa emitida por estes minerais afeta a estrutura cristalina
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Propriedades morfolgicas: incluses
dos minerais hospedeiros circundantes, e estes defeitos estruturais se tornam visveis na forma de
halos coloridos concntricos ao redor da incluso (Fig. 3-30). Ao longo do tempo geolgico, o efeito
se intensifica e os minerais que carregam istopos radiognicos podem ter sua prpria estrutura
cristalina modificada (metamitizao), ou mesmo destruda.
Figura 3-23. Incluses.

A,B: Incluses fluidas em quartzo. C: Incluses de lquido magmtico (melt) em plagioclsio.
D: Incluses de lquido magmtico em leucita. E: Porfiroblasto de albita com trilhas sigmoides de
incluses, consistindo de partculas muito finas de grafita. F: Porfiroblasto de cordierita exibindo trilhas
de incluso idnticas foliao da matriz. G: Poiquiloblasto de estaurolita. H. Granada esqueletal.
I: Cloritide com incluses muito finas definindo estrutura em ampulheta. J: Andaluzita com incluses
finas (quiastolita). K: Biotita, crescimento esttico sobre a xistosidade da rocha. L: Apatita, com
interior turvo devido a incluses muito finas de lquido magmtico.
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Propriedades morfolgicas: texturas de exsoluo
Figura 3-24. Texturas de exsoluo.

A: Augita com macla segundo (100) e lamelas de exsoluo de pigeonita segundo (001). B: Bronzita
(= enstatita rica em Fe+2), com lamelas de exsoluo finas de augita segundo (100). C: Lamelas de
exsoluo em grunerita. D-H: Desmescla perttica em feldspato alcalino: mesopertita (D), pertita em
barra (spindle) do tipo filme (E), pertita em veios entrecruzados (F), pertita em barra (G), pertita em
veios grossos (H). I,J: Desmescla antiperttica em plagioclsio. K,L: Placas finas com embaiamentos e
cristais do tipo gota, constitudos por dolomita em calcita hospedeira.
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Propriedades morfolgicas: texturas de de reao
Figura 3-25. Exsolues orientadas de xidos de Fe-Ti (incluses secundrias).

A-E: Precipitao orientada de placas finas de ilmenita em ortopiroxnio (A,B - estrutura schiller),
clinopiroxnio (C), hornblenda (D) e biotita (E). FI,K: Precipitao orientada de agulhas de rutilo em
biotita (= sagenita; F,G), granada (H,I) e quartzo (K). J: Hercinita com placas finas de magnetita
exsolvida. I: Precipitao orientada de agulhas de xidos de Fe-Ti em plagioclsio.
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Figura 3-26. Texturas de reao em granulitos.

A-F: Transformaes na granada A: Franja queliftica, radiada, composta por Hbl+Opx+Spl (granada
peridotito, frica do Sul). B,C: Simplectito de Opx+Crd (Grt+QzOpx+Crd; metapelito, Nambia,
Lapland). D: Simplectito de Opx-Sil (Grt+QzOpx+Sil; Mg-Algranulito, Pensula de Kola).
E: Simplectito de Opx+Spr (Grt+MgOpx+Spr; Mg-Al granulito, Easterns Ghats, ndia).
F: Simplectito de Crd-Qz (metapelito, Lapland). G,H: Transformao da sillimanita com formao de
simplectito de Spr-Cdr (Opx+SilSpr+Crd; Mg-Al granulito, Sul da ndia). I: Hercinita (exsoluo de
magnetita, ilmenita), com borda de cordierita levemente pigmentada em matriz de feldspato mesoperttico
e quartzo (Spl+QzCrd; metapelito, Sul de Madagascar). J: Veio duplo de Sil+Grt entre espinlio quase
opaco e quartzo (Spl+QzGrt+Sil; Fe-Al granulito, Eastern Ghats, ndia). K,L: Desenvolvimento de
granada corontica e esqueletal em plagioclsio (Cpx+Fa+PlGrt; ferrodiorito, Eastern Ghats, ndia).
Abreviaturas de minerais de acordo com Whitney & Evans (American Mineralogist 95, 185-187, 2010)
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Figura 3-27. Texturas de reao em granulitos e rochas metamrficas de alta a ultra-alta presso
(HP-UHP).
A: Coroas de granada ao redor de clinopiroxnio (Cpx+PlGrt+Qz; rocha calcossilicatada, Cinturo
Eastern Ghats, ndia). B: Simplectito de monticelita+wollastonita (kermanitaMtc+Wol; rocha
calcossilicatada, Adirondacks, EUA). C: Simplectito de anortita+calcita (meionitaAn+Cal; rocha
calcossilicatada, Cinturo Eastern Ghats, ndia). D: Agregado de Cal+Qz (Wol+CO2Cal+Qz; Sul da
Noruega). E: Periclsio com franja de brucita (Per+H2OBru; mrmore calcossilicatado, Bad
Harzburg, Alemanha). F: Coroa de diopsdio ao redor de forsterita (Fo+Cal+CO2Di+Dol; mrmore,
Sul de Madagascar). H: Simplectito de faialita+quartzo (ferrosilitaFa+Qz; Cinturo Eastern Ghats,
ndia). I,J: Transformao polimrfica coesitaquartzo (Dora Maira, Alpes ocidental). K,L: Reao
onfacita+quartzodiopsdio+albita (eclogito; Saualpe, ustria).
Abreviaturas de minerais de acordo com Whitney & Evans (American Mineralogist 95, 185-187, 2010)
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Propriedades morfolgicas: texturas de alteraon
Figura 3-28. Alterao secundria por reao com fluidos aquosos (I).
A-C: Serpentinizao- forsteritaserpentina+magnetita. D,E: Alterao da olivina para iddingsita
(goethita e argilominerais). F: Substituio orientada de ortopiroxnio por talco. G: Reao clinopiroxnioanfiblio. H: Substituio orientada de clinopiroxnio por anfiblio (uralita). I: Anfiblio
kaersuttico com borda de alterao microcristalina composta por magnetita+clinopiroxnio (opacita).
J-L: Substituio da granada por clorita (J), biotita (K) e epdoto (L).
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Figura 3-29. Alterao secundria por reao com fluidos aquosos (II).
A: Cloritizao biotita. B,C: Pinitizao cordieritamuscovita. D: Pseudomorfo de periclsio composto
por brucita. E,F: Substituio de corndon por muscovita (E) e gibbsita (F). G: Alterao de cianita para
pirofilita. H,I: Muscovita substituindo andaluzita (H) e estaurolita (I). J: Saussuritizao plagioclsio
clinozoisita+albita. K: Sericitizao plagioclsiomuscovita. L: Zeolitizao anortitathomsonita.
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Figura 3-30. Halos pleocricos no entorno de minerais contendo istopos radiognicos.

A-L: Halos pleocricos ao redor de zirco, monazita e xenotima em biotita (A-C), cordierita (D-F),
anfiblio (G-H) e clorita (J-L).
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Propriedades pticas: princpios bsicos
4. Propriedades pticas
4.1 Alguns princpios bsicos
4.1.1 Natureza da luz, Refrao
Para descrever a interao dos raios de luz com a matria, dois modelos fsicos podem ser
aplicados: (a) o da luz como uma onda, e (b) o da luz como um quantum de energia. A maioria
dos fenmenos pticos observados na investigao de substncias amorfas ou cristalinas (fases
vtreas, minerais), ao microscpio, pode ser explicada adequadamente com o modelo de onda.
Modelo de onda: Os raios de luz se propagam como ondas eletromagnticas. Para cada onda,
os vetores eltrico e magntico so perpendiculares entre si e direo de propagao. O
comportamento ptico da luz ao atravessar substncias amorfas ou cristalinas essencialmente controlado pela interao do vetor eltrico com o campo eltrico dos ons. As interaes com o vetor magntico so negligenciveis. Cada onda de luz pode, assim, ser descrita
como uma oscilao harmnica [y = A sen(x)] (Fig. 4-1).
Cor: O olho humano capaz de ver somente uma pequena parte do amplo espectro de radiao
eletromagntica, especificamente a parte do espectro compreendida entre 400 e 800 nm (luz
visvel). Este o espectro de cores do violeta ao azul, verde, amarelo, laranja e vermelho (Fig. 41). A luz do sol consiste de diferentes propores destas cores, cuja combinao percebida como
luz branca. Em lmina delgada, os efeitos de cor so gerados quando a composio espectral da
luz branca original muda ao atravessar os minerais, seja pela atenuao de certos comprimentos
de onda (absoro), seja pela disperso da luz branca como resultado da refrao ou da difrao
da luz nas bordas dos gros, em incluses ou superfcies irregulares.
Intensidade: A intensidade da luz de uma cor especfica, por exemplo, determinada pela
amplitude da onda de luz. Esta pode ser modificada pela absoro.
Polarizao: A luz do sol ou aquela emitida pela fonte de luz do microscpio constituda
por ondas que vibram em direes aleatrias. Na luz plano-polarizada, as ondas de luz vibram
segundo uma direo definida. A luz plano-polarizada, nos microscpios modernos, obtida
com o uso de um filtro polarizador que faz com que a luz de uma fonte natural ou artificial,
que vibra em direes aleatrias, passe a vibrar em uma nica direo (Fig. 4-1). O feixe de
ondas de luz, ao atingir a lmina delgada, consiste inteiramente de ondas de luz que vibram
na direo E-W quando o polarizador est precisamente ajustado.
Interferncia: Duas ondas de luz coerentes, provenientes da mesma fonte luminosa, podem
ser sobrepostas (i.e., interferncia) se vibrarem no mesmo plano e tiverem a mesma velocidade. Isso percebido nos minerais opticamente anisotrpicos quando os dois raios de luz,
que vibram perpendicularmente entre si e so gerados pela dupla refrao no cristal, so
levados a interferir no analisador aps sarem da lmina delgada (veja captulo 4.2.3). O grau
de defasagem () determina se a interferncia das ondas resulta em sua eliminao, ou na
produo de uma onda com intensidade diminuda ou aumentada (Fig. 4-1). As cores de
interferncia so geradas quando certas sees do espectro da luz branca so eliminadas,
diminudas ou amplificadas (veja captulo 4.2.3).
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Figura 4-1. Propriedades da luz (modelo ondulatrio).
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Refrao da luz: A velocidade da luz (medida no ar) reduzida ao atravessar substncias de

maior densidade (lquidos, vidros, minerais). Quando o ngulo entre os raios da luz incidente
e o limite entre as fases (p. ex., ar/vidro) diferente de 90, os raios de luz mudam a direo
de propagao, ou seja, eles so refratados. A lei da refrao de Snell aplicada (Fig. 4-2)
quando os materiais envolvidos so isotrpicos (cf. Cap. 4.1.2). Em uma lmina delgada, o
objeto (d = 25 m) montado entre a resina epxi e o vidro. Como a velocidade da luz
quase idntica no vidro e na resina epxi, a refrao ocorre principalmente ao longo de
superfcies limite entre o objeto e a resina, ou tambm, nos limites de fase no interior do
objeto (Fig. 4-2).
A velocidade da luz v de um material especfico um parmetro importante para a sua

identificao. Por convenincia tcnica, utiliza-se o ndice de refrao n em vez da
velocidade da luz. O ndice de refrao definido como a razo entre a velocidade da luz v0
no vcuo (aproximadamente igual da luz no ar) e a velocidade da luz no material estudado.
Nos materiais isotrpicos, este ndice pode ser determinado experimentalmente pela medida
dos ngulos de refrao e , uma vez que pela lei de Snell, n2/n1 = sen/sen. Como a
velocidade da luz em todas as substncias slidas ou lquidas sempre menor que v0 (n1 = nar
= 1), os ndices de refrao geralmente so maiores que 1.
Figura 4-2. Refrao e disperso da luz.
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4.1.2 Isotropia e anisotropia

Materiais isotrpicos
As substncias opticamente isotrpicas, como os gases, os lquidos, os vidros e os minerais do
sistema cbico, possuem um comportamento ptico que independente da direo de
propagao da luz. Isso significa que suas propriedades pticas (velocidade da luz, ndice de
refrao e cor) so idnticas em todas as direes.
A propagao tridimensional da luz em um material isotrpico pode ser representada
graficamente por modelos esfricos 3-D para a velocidade das ondas ou dos raios e para o
ndice de refrao (Fig. 4-3). O modelo preferido pelos mineralogistas o da indicatriz
ptica, que descreve o ndice de refrao como a varivel dependente da direo.
A. Superfcie da velocidade do raio: Para
cada direo do raio de luz, o valor da velocidade representado por uma distncia
especfica a partir de uma origem preestabelecida (v = 0). A forma geomtrica representando todas as direes de propagao do
raio de luz uma esfera com raio v.
B. Indicatriz: Para cada direo do raio de
luz, o ndice de refrao representado por
uma distncia especfica a partir da origem
escolhida, e anotado como paralelo direo
de vibrao e perpendicular direo de
propagao do raio. A forma geomtrica
representando o ndice de refrao de todas
as direes de propagao do raio de luz
uma esfera com raio n. Cada direo de
propagao do raio tem infinitas direes
potenciais de vibrao.
Figura 4-3. Substncias isotrpicas; Superfcies 3D para a velocidade do raio de luz (v) e o
ndice de refrao (n).
Em microscopia de lminas delgadas, vidros e minerais cbicos normalmente tm um nico
ndice de refrao e uma nica cor independente da orientao (Fig. 4-4 B-D). A orientao
do cristal em lmina delgada pode, portanto, ser deduzida somente a partir das propriedades
morfolgicas como, por exemplo, contornos do mineral ou clivagem (Fig. 3-9). O fato das
ondas de luz no sofrerem nenhuma mudana na direo de vibrao outra caracterstica
importante dos materiais isotrpicos. Isto significa que a luz plano-polarizada vibrando
segundo E-W manter essa orientao ao atravessar os materiais isotrpicos (vidro, minerais).
Esta luz plano-polarizada, portanto, ser bloqueada pelo analisador que um polarizador com
orientao N-S (Fig. 4-4 A,E).
Minerais anisotrpicos
A propagao da luz nos materiais opticamente anisotrpicos dependente da direo. Todas
as substncias cristalinas no cbicas (Fig. 3-1) so opticamente anisotrpicas. A luz que
entra em um cristal anisotrpico dividida em duas ondas de luz que vibram ortogonalmente entre si (exceto em algumas direes especficas no cristal). As duas ondas de luz so
propagadas atravs do cristal com velocidades diferentes. Este fenmeno se chama dupla
refrao (Fig. 4-5).
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Figura 4-4. Substncias isotrpicas.

Comportamento da luz ao atravessar uma substncia isotrpica (vidro ou mineral
cbico):
Na luz plano-polarizada (LPP), vidros ou cristais de minerais cbicos quimicamente
homogneos exibem a mesma cor, independente da orientao e da rotao da platina
(imagens B,C: MgFe-espinlio; imagem D: almandina).
Na luz com polarizadores cruzados (LPX; imagem A), vidro e gros de minerais cbicos so
pretos, independente da orientao e da rotao da platina (imagem E: almandina).
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Figura 4-5. Dupla refrao em um romboedro de calcita (construo de Huygens).
Cristais com simetria hexagonal, trigonal e tetragonal
Os modelos 3-D para a velocidade dos raios (expressa por v ou 1/n) em cristais com simetria
hexagonal, trigonal e tetragonal consistem, ento, de superfcies duplas (Fig. 4-6 A). Estes
modelos ilustram que uma das duas ondas de luz (onda O, ordinria) se propaga com a
mesma velocidade em todas as direes, do mesmo modo que a luz numa substncia
isotrpica; enquanto a outra onda (onda E, extraordinria) muda sua velocidade dependendo
da direo no cristal. A onda E tem um dos valores extremos da velocidade (ve), o inferior ou
o superior, segundo a direo perpendicular ao eixo cristalogrfico c. Qualquer desvio desta
direo em relao ao eixo c altera o valor de ve para valores que se aproximam dos de vo
(diminuindo se ve > vo e aumentando se ve < vo). Na orientao paralela ao eixo c, ve tem o
mesmo valor de vo. Nesta direo em particular, a condio de isotropia assim alcanada.
Esta direo especfica conhecida como eixo ptico. Os minerais que pertencem aos grupos
de simetria hexagonal, trigonal e tetragonal so opticamente uniaxiais. As direes de
vibrao das ondas so fixas no interior do cristal: as ondas E vibram no plano definido pela
direo do raio e a do eixo c, enquanto a onda O vibra perpendicularmente onda E.
Os mineralogistas preferem o modelo de indicatriz de superfcie nica para explicar os
fenmenos pticos, ao invs do modelo de dupla superfcie para a velocidade dos raios. O
princpio de construo ilustrado na figura 4-6 B: considerando o centro do cristal como a
origem e as duas ondas de luz que vibram perpendicularmente entre si, os respectivos ndices
de refrao pertencentes a uma mesma normal da onda so marcados por distncias
proporcionais a partir da origem. Assim, criada uma cruz de refrao que mostra o menor
e o maior eixo de uma elipse. A construo das elipses incluindo todas as direes possveis
para as normais da onda em um cristal resulta em um elipsoide, que a indicatriz ptica.
A indicatriz ptica dos sistemas cristalinos discutidos aqui um elipsoide de revoluo. Tem
uma forma prolata (ne > no; opticamente uniaxial positivo) ou oblata (ne < no; opticamente
uniaxial negativo) (Fig. 4-6 C,D). O eixo de rotao (= eixo ptico) idntico ao eixo
cristalogrfico c.
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Figura 4-6. Minerais opticamente uniaxiais; superfcies 3D para v e n.

A: Superfcie 3D para v e n. B: Construo da indicatriz. C-D: Indicatrizes para cristais
opticamente uniaxiais, positivo e negativo.
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Cristais com simetria ortorrmbica, monoclnica e triclnica

A propagao das duas ondas (O e E) em cristais com tais simetrias dependente da direo.
Os modelos 3D resultantes com duas superfcies para as velocidades dos raios so
complicados e irrelevantes no trabalho prtico. Os microscopistas preferem o modelo de
indicatriz de uma s superfcie para explicar os fenmenos pticos (Fig. 4-7).
Figura 4-7. Cristais opticamente biaxiais, simetria cristalina e indicatriz.

A indicatriz dos cristais com simetria ortorrmbica, monoclnica e triclnica representada em
um sistema de coordenadas com eixos X, Y, Z que so ortogonais entre si. A geometria do
elipsoide triaxial definida por comprimentos proporcionais aos ndices de refrao nx, ny, nz em
X, Y e Z. Assim, a simetria do elipsoide geralmente ortorrmbica. Os ndices de refrao so
definidos como nz > ny > nx (ou n > n > n).
Existem duas sees circulares que tem raio ny. Perpendicular a estas sees circulares, a luz se
propaga com a mesma velocidade, do mesmo modo como numa substncia isotrpica. Estas duas
direes correspondem aos dois eixos pticos A. Os cristais de baixa simetria so, portanto,
opticamente anisotrpicos e biaxiais.
Os eixos pticos esto no plano ZX (= plano dos eixos pticos, PEO), enquanto Y ortogonal a
este plano - PEO. O ngulo entre os eixos pticos (2V), que especfico de cada mineral, pode ter
valores entre 0 e 90. Quando Z a bissetriz aguda (2Vz < 90), o cristal biaxial positivo;
quando X a bissetriz aguda (2Vx < 90), o cristal biaxial negativo. Quando o ngulo axial
90, o cristal opticamente neutro.
A orientao espacial da indicatriz ptica no cristal definida pela simetria desse:
Em cristais com simetria ortorrmbica, os eixos do elipsoide (X, Y, Z) correspondem aos eixos
cristalogrficos (a, b, c). Qual eixo da indicatriz paralelo a determinado eixo cristalogrfico
depende de cada mineral.
Em cristais de simetria monoclnica, somente o eixo cristalogrfico b e um dos eixos da
indicatriz so paralelos (geralmente o eixo Y). Os outros dois eixos ficam no plano de simetria
(010) e formam ngulos com os eixos cristalogrficos a e c.
Em cristais triclnicos, nenhum dos eixos da indicatriz (que tem simetria ortorrmbica)
paralelo aos eixos cristalogrficos. Os eixos da indicatriz formam ngulos com os eixos
cristalogrficos, cujos valores so especficos para cada mineral.
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Propriedades pticas: cor e pleocrosmo
4.2 Caractersticas pticas utilizadas na identificao dos minerais

4.2.1 Cor e pleocrosmo
A luz branca, ao atravessar a lmina delgada, pode ter sua intensidade diferentemente
atenuada devido absoro. Quando os comprimentos de onda absorvidos esto fora do
espectro do visvel, a fase vidro e os minerais aparecem incolores (branco a cinza). As cores
so geradas quando a absoro seletiva, afetando determinadas partes do espectro de modo
mais intenso que as demais. A cor e a intensidade da cor constituem propriedades especficas
dos minerais.
Conselhos prticos: A intensidade da cor aumenta com a espessura da amostra. Numa lmina
delgada de espessura padro (25-30 m), as bordas em cunha dos gros ou cristais com
menor espessura (< 25 m) exibem cores distintamente mais claras. Nos minerais com alto
ndice de refrao (n > 1,6), as cores mais claras podem ser mascaradas pelo efeito de irregularidades na superfcie do mineral (chagrin). Os efeitos de chagrin podem ser minimizados
quando as cores de absoro so observadas com um maior aumento ao microscpio (objetiva
com M > 20x), mediante a insero da lente auxiliar do condensador e a abertura completa do
diafragma ris. Alm disso, importante lembrar que o matiz da cor depende em parte da
temperatura da cor da fonte luminosa. Esta pode ser ajustada para que corresponda
temperatura da cor na luz natural, mediante a variao da intensidade da luz e o uso de filtros
adequados (p. ex., filtro azul).
Substncias opticamente isotrpicas (fase vidro e minerais cbicos). Nestas substncias, a

absoro da luz idntica em todas as direes. Vidros e cristais cbicos, portanto, exibem
uma nica cor desde que sejam quimicamente homogneos, no importando a orientao em
que o cristal cortado. A cor tampouco varia quando a platina do microscpio rotada (Fig.
4-8). A cor e a intensidade da cor fornecem informaes sobre o tipo e a concentrao dos
ctions indutores de cor. Isto pode ser demonstrado utilizando vidros e minerais do grupo do
espinlio com diferentes composies (Fig. 4-9).
Figura 4-8. Fases opticamente isotrpicas, como os minerais cbicos mostrados na figura,
normalmente possuem cor nica independente da orientao. A-C: MgFe-espinlio, hercinita,
magnsioferrita; D: Melanita; E: Almandina; F: Hauynita.
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Figura 4-9 A. Relao entre a cor e o contedo de componentes cromforos, TiO2 e Fe2O3 (%
em peso), em vidro proveniente de escrias de caldeiras de carvo.
25
47
Figura 4-9 B. Relao entre a cor do mineral e a composio de espinlios, no sistema

magnetita-magnsioferritahercinita-espinlio. As amostras de espinlios so provenientes de
escrias e sinters de caldeiras de carvo (amostras numeradas) e de rochas naturais.
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Substncias opticamente anisotrpicas (minerais no cbicos). Para estas substncias, a

absoro da luz uma propriedade direcional. Deste modo, cristais de uma nica espcie
mineral podem exibir cores diferentes em funo de sua orientao em relao s direes de
vibrao da luz. Cores e pleocrosmo so propriedades especficas dos minerais.
A maioria dos minerais no apresenta, ou apenas exibe fraco pleocrosmo. As excees que
mostram pleocrosmo intenso so turmalina, membros do grupo do anfiblio, biotitas ricas em
Fe-Ti e minerais mais raros, como piemontita, safirina, dumortierita e yoderita. A figura 4-10
mostra minerais com pleocrosmo distinto a intenso.
Figura 4-10. Exemplos de pleocrosmo ntido a intenso.

A: Piemontita; B: Glaucofano; C: Safirina; D: Viridina; E: Thulita; F: Yoderita (Cortesia de Dr. N.
Jns, Universidade de Bremen); G: Cloritide; H: Biotita; I: Biotita rica em Ti; J: Lazurita; K:
Aegirina-augita; L: Epdoto rico em Fe+3 (pistacita).
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Minerais pleocricos com simetria tetragonal, hexagonal e trigonal. Estes minerais exibem
duas cores de absoro especficas (dicrosmo), que so paralelas s direes de vibrao das
ondas E (extraordinria) e O (ordinria). As sees ortogonais ao eixo cristalogrfico c (= eixo
ptico) normalmente mostram a cor de absoro da onda O, quando a platina do microscpio
rotada. As sees paralelas ao eixo c mostram alternadamente a cor de absoro da onda E (eixo c
orientado segundo E-W) e a da onda O (eixo c orientado segundo N-S) para cada rotao de 90
da platina (Fig. 4-11 e Fig. 4-12: exemplo da turmalina).
Figura 4-11. Mudana na de cor de absoro na turmalina, ao rotar a platina do microscpio por
360. So mostradas as quatro posies de uma mesma seo cristalina, em que as direes de
vibrao das duas ondas de luz (E e O) coincidem com aquelas dos polarizadores. Para estas
orientaes, apenas a onda que vibra segundo E-W atravessa o cristal; a onda N-S no ativada.
Minerais pleocricos com simetria ortorrmbica, monoclnica e triclnica. Estes minerais

possuem trs cores de absoro caractersticas (tricrosmo), relacionadas s direes de
vibrao que so paralelas aos eixos principais da indicatriz X, Y e Z. A determinao destas
cores deve ser efetuada em sees cristalinas selecionadas, que sejam paralelas a dois eixos
da indicatriz ptica (Fig. 4-14 A-C). A relao entre a orientao do cristal, a direo de
vibrao e a absoro (pleocrosmo) para membros do grupo do anfiblio explicada nas
figuras 4-15, 16 e 17. Como bem exemplificado pelos anfiblios, a cor de absoro
correlacionada composio qumica do mineral (Fig. 4-13).
Figura 4-13. Cores de anfiblio com composies variadas, relativas direo principal de
vibrao paralela ao eixo cristalogrfico b. Os gros de anfiblio esto orientados de modo que o
eixo b est alinhado segundo o polarizador inferior. Nestes minerais, o eixo b paralelo ao eixo Y
da indicatriz. Portanto, as cores mostradas so as cores de vibrao paralela a Y (cf. Fig. 4-15).
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Figura 4-12. Determinao das cores associadas s direes de vibrao das ondas E e O em
minerais opticamente uniaxiais, tendo a turmalina como exemplo.
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Figura 4-14 A-C. Mudana nas cores de absoro em sees cristalinas de biotita, actinolita e
aegirina-augita, ao girar a platina do microscpio por 360. So mostradas as quatro posies,
nas quais as direes de vibrao das duas ondas (E e O) coincidem exatamente com aquelas
dos polarizadores. Para estas orientaes, somente a onda vibrando segundo E-W atravessa o
cristal; a onda N-S no ativada. Portanto, as sees cristalinas mudam de cor a cada giro de
90 na platina. Estas cores equivalem s ondas ny e nx nas sees da actinolita e aegirinaaugita, e s ondas nz~y e nx naquelas da biotita.
No caso dos clinoanfiblios, as cores de absoro paralelas a X, Y e Z so determinadas em

duas sees especficas (Figs. 4-15, 16 e 17):
(1) Em sees cristalinas paralelas a (010), as direes de vibrao Z e X esto contidas no

plano de observao, exceto para alguns anfiblios alcalinos raros. Tais sees possuem
forma comumente prismtica e podem ser reconhecidas por suas cores de interferncia altas
(n = nz-nx) (veja captulo 4.2.3).
(2) Em sees cristalinas perpendiculares ao eixo cristalogrfico c, as direes de vibrao Y
(paralela ao eixo cristalogrfico b) e X esto contidas no plano de observao. Estas sees
cristalinas so reconhecidas pela interseo caracterstica dos planos de clivagem {110}.
As sees cristalinas perpendiculares a um dos dois eixos pticos exibem uma nica cor
equivalente a Y, quando a platina do microscpio rotada (somente onda ny).
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Figura 4-15. Determinao das cores segundo as direes principais de vibrao Z, Y e X de um

mineral opticamente biaxial, utilizando como exemplo a actinolita, Ca2(Mg,Fe+2)5[Si8O22](OH)2.
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Figura 4-16. Determinao das cores segundo as direes principais de vibrao Z, Y e X de

um mineral opticamente biaxial, utilizando como exemplo a kaersutita, NaCa2Mg3Fe+2
(Ti,Fe+3)[Al2Si6O22](OH)2.
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Figura 4-17. Determinao das cores segundo as direes principais de vibrao Z, Y e X de

um mineral opticamente biaxial, utilizando como exemplo o glaucofano, Na2(Mg,Fe+2)3
(Al,Fe+3)2[Si8O22](OH)2.
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Propriedades pticas: refrao da luz, relevo
4.2.2 Refrao da luz (relevo, chagrin e linha de Becke)

Os ndices de refrao so caractersticas importantes para identificar os minerais. Os valores
destes ndices no podem ser determinados diretamente em lmina delgada, mas devem ser
estimados mediante a comparao com o material da montagem da lmina (resina epxi: n
1,54), ou com minerais de ndice de refrao conhecido, utilizando os efeitos da refrao da
luz. Os parmetros utilizados nesta comparao so: relevo, chagrin e linha de Becke.
Relevo
Os gros de minerais que tenham ndice de refrao maior ou menor que o do meio
circundante mostram contornos distintos, e aparentam estar acima ou abaixo dos materiais
adjacentes. O relevo o resultado da refrao e da reflexo interna total dos raios de luz, na
interface entre o gro mineral e o meio circundante. Quanto maior for a diferena entre os
respectivos ndices de refrao, mais pronunciados sero o contorno do mineral e o relevo.
Ambos desaparecem quando os ndices de refrao de materiais adjacentes forem idnticos
(Fig. 4-18).
Figura 4-18. Gerao do relevo pela refrao dos raios de luz na borda dos gros. A
sequncia inferior mostra, da esquerda para direita, gros de fluorita (Fl), K-feldspato (Kfs),
albita (Ab), muscovita (Ms), clinozoisita (Cz), granada (Grt) e zirco (Zrn), todos inclusos ou
em contato com quartzo (nqz = 1,544-1,553).
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Propriedades pticas: refrao da luz, chagrin
Chagrin (aspereza da superfcie)

As superfcies superior e inferior dos minerais numa lmina delgada (em lminas polidas,
apenas a superfcie inferior) mostram relevo devido a diminutas asperidades, irregularidades
e microfraturas (cracks). Quando o mineral possui ndice de refrao maior ou menor que o
do meio circundante (resina epxi: n = 1,54), ocorrer reflexo e refrao dos raios de luz ao
longo deste microrrelevo. Em consequncia, o gro exibir superfcies com uma estrutura
finamente esburacada ao microscpio, que referida como chagrin (palavra francesa para
couro granulado). Quanto maior a diferena entre os ndices de refrao do mineral e da
resina epxi, mais pronunciado ser o chagrin, uma vez que aumenta a proporo de raios de
luz dispersos e totalmente refletidos (Fig. 4-19).
Figura 4-19. Aspereza da superfcie (chagrin), em relao ao ndice de refrao do mineral

(material).
Conselhos prticos: O contraste de chagrin pode ser alterado ao modificar as condies de

iluminao: (1) o efeito chagrin decresce quando a lente auxiliar do condensador inserida
no caminho da luz e o diafragma ris aberto; (2) este efeito, obviamente, aumenta quando o
diafragma ris fechado e a lente auxiliar do condensador retirada.
Para a estimativa da refrao da luz de um mineral desconhecido utilizando o contraste
chagrin, as condies de iluminao e o aumento devem ser mantidos constantes (i.e.,
pequena abertura ao fechar o diafragma ris; objetiva de 20 x).
importante lembrar que o contraste chagrin normalmente baixo em lminas delgadas
polidas para microssonda eletrnica, nas quais a disperso da luz somente ocorre na superfcie inferior dos minerais.
Alm disso, o aspecto nebuloso de um mineral ocasionado por incluses finamente disseminadas, fluidas ou de minerais, pode dar a impresso de contraste chagrin mais elevado do que
realmente o mineral hospedeiro possui.
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Propriedades pticas: refrao da luz, linha de Becke
Linha de Becke
No limite entre duas substncias com ndices de refrao distintos (cristalresina epxi, cristalvidro, cristal-cristal), observa-se com aumento elevado uma franja luminosa, denominada de linha
de Becke. Ao fechar o diafragma ris, esta franja pode ser colorida, em especial, quando a diferena
nos ndices de refrao entre os minerais pequena, porm a diferena quanto disperso da luz
entre eles grande. A linha de Becke foi definida por Friedrich Becke (1855-1931).
Se este limite entre fases minerais adjacentes for desfocado, ao elevar ou abaixar levemente a
platina do microscpio, a franja luminosa se move de uma fase para a outra: Ao abaixar a platina, a
linha de Becke se move para a substncia de maior ndice de refrao, e ao elevar a platina, para a
substncia de menor ndice de refrao. A explicao deste fenmeno fornecida na figura 4-20,
lado esquerdo.
A intensidade da linha de Becke decresce quando diminui a diferena nos ndices de refrao entre
as duas substncias em contato. Esta desaparece por completo, quando os ndices so idnticos.
Todavia, pode ser ainda reconhecida para diferenas entre os ndices de refrao da ordem de 0,001
a 0,002. Por outro lado, esta mascarada pelo intenso chagrin, quando a diferena entre os ndices
de refrao elevada.
Figura 4-20. Gerao da Linha de Becke (esquerda); deslocamento da Linha de Becke na

interface quartzo-vidro, ao movimentar a platina do microscpio para cima e para baixo (direita).
Conselhos prticos: Para observao da linha de Becke, deve-se escolher um contato limpo entre
duas fases minerais que no seja vertical, mas que tenha forte inclinao. So tambm adequados os
bordos de gros quebrados, em contato com a resina epxi (na borda da lmina delgada, ou em
locais onde parte do mineral foi retirado durante o preparo da lmina).
O limite entre fases , ento, observado com objetiva de maior aumento (20 x), otimizando o
contraste ao fechar o diafragma ris. O sentido de movimento da linha de Becke analisado ao
abaixar e elevar levemente a platina do microscpio (Fig. 4-20, lado direito).
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Propriedades pticas: dupla refrao
4.2.3 Dupla refrao (extino e cores de interferncia)

Em cristais no-cbicos, opticamente anisotrpicos, a luz se propaga em todas as direes
como dois conjuntos de ondas plano-polarizadas que vibram ortogonalmente. Isto no ocorre,
entretanto, naquelas direes paralelas a um dos eixos pticos. As duas ondas de luz possuem
velocidades diferentes e, em consequncia, diferentes ndices de refrao (nz e nx).
A relao especfica entre a simetria cristalina e a indicatriz ptica, em cada espcie mineral,
define a orientao do plano de polarizao e o ndice de refrao das duas ondas (Cap. 4.1.2;
Figs. 4-6,7). Para cada seo cristalina vista na lmina delgada, estes parmetros podem ser
derivados a partir de uma elipse gerada pela interseo da indicatriz ptica com o plano da
lmina delgada (Fig. 4-21).
Figura 4-21. Relao entre a seo cristalina e a orientao do cristal e da indicatriz,

utilizando a melilita como exemplo.
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4.2.3.1 Observao sem o analisador (luz plano-polarizada - LPP)

Em luz plano-polarizada, os minerais anisotrpicos podem ser distinguidos daqueles isotrpicos
somente quando os gros possuem formas caractersticas (p.ex., hbito alongado ou tabular), ou
exibem mudanas de relevo, como o contraste chagrin (apenas nos minerais com grandes
diferenas de nz e nx) ao movimentar a platina do microscpio, ou quando, as cores de absoro
variam com a orientao do gro (pleocrosmo).
A birrefringncia (n) dos minerais comuns, com exceo dos carbonatos, no alta o
suficiente para produzir efeito chagrin distinto ao rotar a platina. A figura 4-22 mostra a
notvel mudana de chagrin em gros de calcita e dolomita, devido a sua extrema birrefringncia (n = 0,172Cal ou 0,177Dol).
Figura 4-22. Variao na asperidade da superfcie (chagrin) em sees de calcita e dolomita,

ao girar a platina do microscpio em 360.
Sees cristalinas orientadas paralelamente ao eixo cristalogrfico c. So mostradas as quatro posies em
que as direes de vibrao das duas ondas (E e O) coincidem exatamente com aquelas dos polarizadores.
Para estas orientaes, somente a onda que vibra segundo E-W atravessa o cristal. A grande diferena nos
ndices de refrao das ondas E e O acarreta a mudana na asperidade (nCal = 0,172; nDol = 0,177).
A maioria dos minerais no mostra, ou ento, exibe pleocrosmo muito fraco. As excees incluem
a turmalina, membros do grupo do anfiblio, biotitas ricas em Fe-Ti, bem como minerais no to
comuns como piemontita, safirina, dumortierita, yoderita e lazurita (Fig. 4-10).
Os minerais pleocricos de simetria tetragonal, hexagonal e trigonal mostram duas cores
caractersticas de absoro, que so paralelas s direes de vibrao das ondas E e O (dicrosmo).
Sees cristalinas normais ao eixo cristalogrfico c (= eixo ptico) exibem somente a cor de
absoro da onda O, quando a platina do microscpio rotada. As sees paralelas ao eixo c
mostram alternadamente a cor de absoro da onda E (eixo c orientado segundo E-W) e a da onda
O (eixo c orientado segundo N-S), para cada rotao de 90 da platina (Cap. 4.2.1, Figs. 4-11, 12).
Os minerais pleocricos com simetria ortorrmbica, monoclnica e triclnica possuem trs cores de
absoro caractersticas, que so paralelas aos eixos principais da indicatriz X, Y e Z (tricrosmo).
As sees cristalinas normais a um dos dois eixos pticos exibem a cor de absoro equivalente
direo de vibrao Y, quando a platina rotada. A identificao das cores de absoro segundo as
direes X, Y e Z requer sees cristalinas especficas do mineral (Cap. 4.2.1, Figs. 4-14-17).
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4.2.3.2 Observao com o analisador inserido (luz com polarizadores cruzados LPX)
Comportamento da extino: A rotao de uma seo cristalina de um cristal birrefringente,
sob polarizadores cruzados, implica na mudana peridica entre a imagem iluminada e a
imagem escura (posies de extino e no-extino). Durante a rotao completa da platina
do microscpio (360), o mineral exibir quatro posies de extino separadas em 90, e
quatro posies intermedirias de mxima iluminao (Fig. 4-23). As quatro orientaes de
mxima iluminao so tambm referidas como posies diagonais (a 45).
Figura 4-23. So mostradas as posies de extino e as diagonais (45) para a mesma seo
de um gro de quartzo, ao girar a platina do microscpio em 360.
Na posio de extino, as ondas E-W que saem do polarizador so exatamente paralelas a uma
das duas possveis direes de vibrao do cristal (Fig. 4-23). Deste modo, as ondas no precisam
ser divididas. Estas atravessam o mineral sem qualquer mudana na direo de vibrao, que est
segundo E-W, e se propagam com a velocidade especfica da direo no cristal. Tomando como
exemplo o quartzo, que opticamente uniaxial, as ondas E ou O com ndices de refrao
respectivamente ne e no so paralelas ao polarizador. No caso geral de minerais anisotrpicos, tais
ondas so aquelas relacionadas aos ndices de refrao nz e nx. Aps atravessarem o cristal, as ondas
E-W so bloqueadas pelo analisador orientado na posio N-S, e o cristal ento aparece extinto
(preto).
Quando o cristal est fora da posio de extino, ao rotar a platina do microscpio, o plano de
polarizao da luz que entra no cristal no mais paralelo a qualquer uma das direes principais de
vibrao no cristal (no, ne, nz, nx). As ondas E-W que saem do polarizador so ento divididas, ao
atravessarem o cristal, em duas ondas que vibram ortogonalmente e possuem ndices de refrao
ne e no, ou ento, nz e nx no caso geral de minerais anisotrpicos (Figs. 4-23, 24).
Quando a luz entra no cristal, as amplitudes relativas a1 e a2 das duas ondas assim geradas
dependem inteiramente da orientao de nx e nz (ou no e ne) com respeito ao polarizador (Fig. 424, fila inferior). Para pequenos ngulos de rotao, uma das duas ondas ser dominante em termos
da intensidade de luz. Na posio diagonal a 45, as amplitudes a1 e a2 so idnticas. Entretanto,
sem a insero do analisador, impossvel distinguir a variao na intensidade da luz ao rotar a
platina do microscpio (pelo menos, em minerais incolores), simplesmente porque a intensidade
total de luz, incluindo a1 e a2, permanece constante. Os minerais anisotrpicos coloridos
obviamente mostraro variao nas cores de absoro quando a platina rotada (Cap. 4.2.1), e os
minerais com alta birrefringncia podem exibir efeitos de refrao diversos (Fig. 4-22).
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Como as duas ondas so propagadas no cristal com diferentes velocidades (e consequentemente, com diferentes ndices de refrao nz e nx), uma defasagem especfica (= retardo
gama) criada no momento em que a luz alcana a superfcie superior do cristal (Fig. 4-24;
neste exemplo, a defasagem /2).
Figura 4-24. Representao vetorial da intensidade da luz que atravessa o mineral, quando
este rotado a partir da posio de extino at aquela diagonal a 45.
O retardo corresponde distncia acumulada entre a frente de onda da onda rpida
(correlacionada ao nx) e a da onda lenta (equivalente ao nz), no momento em que a onda
lenta alcana a superfcie do cristal. Como as duas ondas voltam a ter velocidades idnticas
ao sarem do cristal, o retardo permanece constante ao microscpio a partir deste ponto, a
menos que as ondas de luz atravessem outro cristal (o que ocorre quando uma placa acessria
inserida; veja Cap. 4.2.4). Em microscopia de lmina delgada, o retardo expresso em nm.
Em cristais macroscpicos, o retardo pode ser da ordem de milmetros. Tomando a calcita
como exemplo, as ondas O (ordinria) e E (extraordinria) ao atravessarem um romboedro de
clivagem com espessura de 2 cm acumulam um retardo de 1,84 mm, ao sarem do cristal
(trajetria de luz ortogonal s faces rombodricas).
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A magnitude do retardo determinada por dois fatores: (1) a diferena entre as velocidades
das duas ondas, que pode ser expressa pelo valor da birrefringncia (n = nz nx) da seo
cristalina em observao; e (2) a espessura (d) da placa do cristal na lmina delgada. Ento,
= d * (nznx).
A distncia entre o topo e a base de uma placa de cristal (i.e., a espessura d da lmina
delgada) pode tambm ser expressa em mltiplos do comprimento de onda (d = m * ).
Quando a luz com comprimento de onda 1 entra no cristal, so geradas duas ondas com
diferentes comprimentos de onda (onda lenta: z = 1/nz; onda rpida: x = 1/nx). Se d for
expresso como mltiplos de z e x, ento, teremos
d = m1 * z' = m2 * x' ou m1 = d/z' e m2 = d/x'
Retardo a diferena entre os coeficientes m1 e m2, multiplicada pelo comprimento de onda
1:
= (m1 m2) * i.
No momento em que a onda lenta alcana a superfcie do cristal, a onda rpida j reverteu
para 1 e percorreu uma distncia fora do cristal.
Ento, = (d/z' - d/x') * i
Como, z' = i /nz'
x' = i/nx'
= (d * nz'/i d * nx'/i) * i = d * (nz' - nx').
Aps deixar o cristal, as duas ondas com amplitudes a1 e a2 entram no analisador com o
retardo produzido no cristal. Como demonstrado pela decomposio vetorial (Fig. 4-24), as
duas ondas com mesmo comprimento de onda e amplitudes reduzidas (a1 e a2) esto no
plano de polarizao do analisador. Os componentes de onda com orientaes ortogonais so
bloqueados pelo analisador. As amplitudes relativas a1 e a2 das ondas transmitidas dependem
inteiramente da orientao das direes de vibrao relativa s direes do polarizador e do
analisador. Estas tero o valor mnimo (zero) na posio de imagem escura (extino), e
alcanam o mximo na posio diagonal a 45 da extino (Figs. 4-23, 4-24).
Quando as ondas de luz entram no analisador, elas so reduzidas a componentes paralelos ao
analisador e esto, assim, sujeitas interferncia. A magnitude do retardo controla se as duas
ondas so compensadas completamente (so anuladas), ou se geram uma onda resultante com
amplitude variando de um valor superior a zero at altura mxima (Fig. 4-25). importante,
agora, analisar as condies para interferncia construtiva e destrutiva de ondas originalmente
ortogonais que interferem no analisador (Figs. 4-24, 4-25), confrontando-as ao caso de
interferncia simples de duas ondas que vibram no mesmo plano (cf. Fig. 4-1).
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Considerando a interferncia de ondas de luz na direo de transmisso N-S, do analisador,

dois casos extremos podem ocorrer:
Caso A: Se o retardo das duas ondas corresponde a uma defasagem cujo valor zero ou um
nmero inteiro mltiplo de , a condio de interferncia destrutiva completa alcanada. Os
componentes de onda paralelos ao analisador com este comprimento de onda particular
vibram em direes opostas e, assim, anulam-se mutuamente. A luz no atravessa o analisador
(Fig. 4-25A).
Caso B: Se o retardo das duas ondas corresponde a uma defasagem cujo valor /2 ou um
nmero mpar mltiplo desse, a condio de interferncia construtiva mxima alcanada. Os
componentes de onda paralelos ao analisador com este comprimento de onda particular
vibram em paralelo (em fase), e ento, so superpostos e geram uma onda de interferncia
de mxima amplitude (i.e., mxima intensidade de luz). A luz completamente transmitida
pelo analisador (Fig. 4-25B), se os efeitos de absoro do filtro polarizador forem ignorados.
Para qualquer retardo entre estes dois extremos, a intensidade da luz transmitida pelo
analisador reduzida em certo grau, dependendo da defasagem (e.g., 50% para e ).
Quando se utiliza luz monocromtica, os gros minerais com orientaoes distintas na lmina
delgada mostraro nveis variados de iluminao entre o preto e a mxima iluminao, dado
que n depende da orientao do cristal e o retardo funo do n ( = d * n; d constante).
Os gros minerais com bordas em cunha exibem um padro com bandas claras e escuras, que
corresponde contnua variao de associada mudana de d (n constante).
Sees cristalinas observadas em luz branca, sob polarizadores cruzados, exibem cores de
interferncia caractersticas fora da posio de extino, que variam em intensidade somente
quando a platina do microscpio rotada (Fig. 4-26).
Figura 4-26. Cor de interferncia de um cristal de forsterita, quando a platina do microscpio

girada da posio de extino at aquela diagonal a 45.
Durante esta rotao, a intensidade da cor varia, mas a cor em si no. Nesta seo cristalina, paralela a
(100), a birrefringncia (ny nx) = 0,015 e, ento, o retardo totaliza 25*103 nm * 0,015 = 375 nm.
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Figura 4-25 A. Representao esquemtica do comportamento da luz ao atravessar um cristal

birrefringente, que est na posio diagonal (i.e., mxima iluminao). Os polarizadores esto
cruzados (LPX). Para simplificar, mostrada somente a luz monocromtica. Retardo de 1.
Para explicao ver pgina 87.
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Figura 4-25 B. Representao esquemtica do comportamento da luz ao atravessar um cristal

birrefringente, que est na posio diagonal (i.e., mxima iluminao). Os polarizadores esto
cruzados (LPX). Para simplificar, mostrada somente a luz monocromtica. Retardo de .
Para explicao ver pgina 87.
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Explicao para as figuras 4-25A e 4-25B

Caso A: Mxima interferncia destrutiva (0% de transmisso pelo analisador), quando o
retardo acumulado no cristal 1. O mesmo se aplica quando o retardo zero, ou um nmero
inteiro mltiplo de [ = n*; n = 0,1,2,3,...].
A onda de luz emitida pela fonte de luz experimenta as seguintes modificaes (modelo 3-D):
polarizao segundo E-W no polarizador inferior; diviso em duas ondas de luz com direes
de vibrao mutuamente ortogonais, quando a luz entra em um cristal birrefringente. No
interior do cristal, estas duas ondas de luz que possuem diferentes comprimentos de onda so
transmitidas com velocidades diferentes. Ao sarem do cristal, estas duas ondas mantm as
suas direes de vibrao, porm a velocidade de propagao e o comprimento de onda de
ambas retornam aos valores originais abaixo do cristal. A partir deste ponto de sada, o retardo
acumulado pelas ondas no interior do cristal permanece constante. Os componentes paralelos
ao analisador (N-S) das duas ondas entram no analisador com direes de vibrao opostas e,
assim, se anulam mutuamente por interferncia.
Caso B: Mxima interferncia construtiva (transmisso pelo analisador com amplitude
mxima), quando o retardo acumulado no cristal /2. O mesmo se aplica quando o retardo
um nmero mpar mltiplo de /2 [ = (2n+1)*/2; n = 0,1,2,3,...].
A onda de luz emitida pela fonte de luz experimenta as seguintes modificaes (modelo 3-D):
polarizao segundo E-W no polarizador inferior; diviso em duas ondas de luz com direes
de vibrao mutuamente ortogonais, quando a luz entra em um cristal birrefringente. No
interior do cristal, estas duas ondas de luz que possuem diferentes comprimentos de onda so
transmitidas com velocidades diferentes. Ao sarem do cristal, estas duas ondas mantm as
suas direes de vibrao, porm a velocidade de propagao e o comprimento de onda de
ambas retornam aos valores originais abaixo do cristal. A partir deste ponto de sada, o retardo
acumulado pelas ondas no interior do cristal permanece constante. Os componentes paralelos
ao analisador (N-S) das duas ondas entram no analisador com direes de vibrao paralelas
(em fase) e, assim, produzem uma onda resultante com mxima amplitude.
Verde: luz plano-polarizada que sai do polarizador. Vermelho: onda de luz rpida no interior
do cristal (correlacionada a nx), e onda equivalente fora do cristal; Azul: onda de luz lenta no
interior do cristal (correlacionada a nz), e onda equivalente fora do cristal.
No lado esquerdo das figuras A e B (coluna 1), so mostradas as representaes esquemticas 3D do cristal, os polarizadores e as ondas de luz. A decomposio vetorial da onda de luz original
quando essa entra no cristal, bem como as relaes vetoriais no analisador, so mostradas como
vistas a partir de cima (i.e., segundo a direo do eixo do microscpio; coluna 2). Direo de
observao similar vlida para as direes de vibrao em vrias posies de transmisso da
luz no microscpio (coluna 4). A coluna 3 representa a projeo das ondas de luz segundo o
plano E-W que contm o eixo do microscpio. importante notar que as ondas de luz marcadas
por vermelho e azul vibram a 45 do plano do desenho e perpendiculares entre si (como visto
no modelo 3-D). A luz que sai do analisador no caso de interferncia construtiva (caso B) vibra
segundo N-S e, assim, perpendicular ao plano da projeo.
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Cores de Interferncia:
O uso da luz branca ao contrrio da luz monocromtica, permite obter o espectro completo de
comprimentos de ondas (cores espectrais) que, para um dado retardo, modificado pela interferncia no analisador de tal modo que certos comprimentos de onda so transmitidos com
intensidade mxima. Outros, contudo, so reduzidos em graus variados ou obliterados completamente. A luz branca que sai de um cristal anisotrpico incolor consiste de infinitos pares de ondas
que correspondem a todas as cores espectrais. Cada comprimento de onda representado por um
par de ondas com direes de vibrao mutuamente ortogonais, que so determinadas pela
orientao do cristal (cf. Figs. 4-25 A e B, que mostram um nico par de ondas). A interferncia
no analisador entre as duas ondas de cada par, ao longo de todo o espectro da luz, constitui uma
maneira de tornar o retardo visvel e tambm quantificvel. Qualquer retardo especfico modifica
todo o espectro da luz branca, gerando um espectro de comprimentos de ondas e um padro de
amplitude de onda caractersticos, os quais combinados produzem uma cor de interferncia nica.
Portanto, as cores de interferncia s podem ser geradas com luz policromtica. Estas so diretamente correlacionadas ao retardo. A sequncia de cores de interferncia em relao ao aumento
de retardo mostrada graficamente nas figuras 4-27 e 4-28.
Figura 4-27. Interferncia construtiva e destrutiva em funo do comprimento de onda e

retardo , no intervalo espectral da luz visvel (veja tambm figura 4-28). A variao na
intensidade da luz que transmitida pelo analisador descrita pela equao I = 100 * [sen(/)
*180].
Alguns exemplos:
- No intervalo inferior do retardo ( = 0 200 nm), predominam as cores em tons de preto e cinza,
dado que todo o espectro da luz branca afetado pela reduo de intensidade.
- Para retardo ao redor de 250 nm, somente os comprimentos de onda dos dois extremos do espectro
so levemente reduzidos, resultando em cores prximas ao branco (branco de primeira ordem).
- No intervalo de = 400 500 nm, so tpicas as cores de interferncia laranja e vermelho claro,
dado que os comprimentos de onda azul e verde so suprimidos quando os comprimentos de ondas
mais longos dominam o espectro. Esta situao revertida no intervalo de = 600 650 nm,
quando predominam comprimentos de ondas mais curtos, o que resulta em cor de interferncia azul.
- A cor prpura distinta, para = 551 nm (vermelho de primeira ordem), equivale posio
em que os comprimentos de onda intermedirios (verde ao laranja) so filtrados, enquanto
predominam os matizes de vermelho e azul.
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Figura 4-28. Representao grfica explicando a sequncia de cores de interferncia
A cor de interferncia para um valor especfico de a resultante da soma das amplitudes de todos aqueles
comprimentos de onda no espectro da luz visvel, que foram modificados pela interferncia no analisador
(ou, em outras palavras, a soma das intensidades de todos os comprimentos de onda deste espectro aps a
interferncia no analisador). A partir da figura, possvel deduzir que uma dada cor de interferncia, com
sua composio espectral precisa, ocorre apenas uma vez na tabela de cores (cf. Fig. 4-27).
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- O intervalo de = 500 1500 nm corresponde a cores de interferncia relativamente

intensas devido eliminao ou reduo de um ou dois intervalos espectrais estreitos, para
cada valor de retardo ().
- Para valores de retardo mais elevados ( > 1500 nm), subtrado um nmero crescente de
domnios espectrais distribudos em todo o espectro de comprimentos de ondas, resultando
em tons de cores cada vez mais claros. Deste modo, para valores muito altos de , a cor de
interferncia corresponde ao branco (branco de ordem superior).
Quando o retardo muito elevado, como mostrado na figura 4-27, o espectro da cor de
interferncia consiste de domnios de interferncia construtiva e destrutiva, estreitos e
uniformemente distribudos, de tal modo que nenhuma das bandas maiores de cor
completamente eliminada.
Deste modo, o espectro de cores de interferncia comea com o preto ( = 0), e continua com
o cinza, branco, amarelo e laranja e, a seguir, por cores intensas de vermelho azul verde
amarelo laranja vermelho. Esta ltima sequncia de cores repetida sucessivamente
com retardos crescentes, de modo que as cores tornam-se cada vez mais plidas (Fig. 4-29;
Tabela de cores de Michel-Lvy). A sequncia completa de cores de interferncia
subdividida em ordens de cores tendo como referncia as cores vermelho-prpura (em
intervalos de 551 nm). Da quarta ordem em diante, as cores de interferncia correspondem
alternncia de tonalidades claras de verde e azul. Com retardos ainda maiores, estas cores
desvanecem e eventualmente se aproximam do branco (Fig. 4-33), o qual referido como
branco de alta-ordem (em oposio ao branco de primeira-ordem).
A primeira representao grfica correlacionando o retardo, a espessura do cristal e a
birrefringncia [ = d*(nz nx)] foi publicada por Michel-Lvy (1888, Tableau des
birfringences in Les Minraux des Roches, Paris). Esta tabela de cores de interferncia,
produzida at cores de quarta ordem, utilizada at os dias de hoje como referncia padro na
determinao dos minerais ao microscpio. Os avanos nas tcnicas de impresso permitem
que as tabelas de cores modernas reproduzam com fidelidade o espectro de cores de
interferncia observados no microscpio de polarizao (p.ex., tabelas de cores fornecidas
pela Zeiss e Leica). No entanto, algumas imperfeies na reproduo das cores so bvias,
como por exemplo o verde de segunda ordem que demasiado intenso na maioria das tabelas
de cores disponveis. A tabela de cores de Michel-Lvy, apresentada neste guia, uma
reproduo melhorada do espectro de cores (Fig. 4-29). Esta foi calculada, utilizando o
MATLAB, por Dr. Bjrn Eske Srensen (Department of Geology and Mineral Resources
Engineering, NTNU-Trondheim, Noruega). O espectro de cores foi calculado considerando a
percepo humana da cor (curvas calibradas de acordo com o diagrama de cromaticidade CIE
Commission Internationale de lclairage, para a sensitividade das cores primrias) e o
perfil de cor RBG do computador. A correspondncia entre as cores de interferncia
calculadas e observadas foi otimizada utilizando a correo gama para os valores de
intensidade (Srensen, 2012).
Ao redesenhar a tabela de cores de Michel-Lvy para este guia, ns modificamos sua
apresentao de modo a torn-la mais adequada rpida compreenso dos princpios
fundamentais na determinao mineral, em comparao s tabelas padres da Zeiss e Leica
(Figs. 4-29 e 4-32). Fundamentados em nossa experincia com cursos de microscopia,
desenvolvemos um conceito alternativo para a tabela de cores de interferncia. Acreditamos
que a leitura desta nova tabela de cores mais fcil, relativo s tabelas de cores clssicas,
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Figura 4-29. Tabela de cores de interferncia -d, segundo Michel-Lvy.

Os valores de birrefringncia seguindo as linhas radiais na tabela de cores so correlacionados aos
minerais formadores de rocha comuns. O uso da tabela de cores para a identificao do mineral e
determinao da espessura do cristal explicado no texto e ilustrado na figura 4-32.
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Figura 4-30. Tabela de cores de interferncia n-d, segundo Raith-Srensen.

Os valores de birrefringncia na tabela de cores so correlacionados aos minerais formadores de rocha
comuns. O uso da tabela de cores para a identificao do mineral e determinao da espessura do
cristal explicado no texto e ilustrado na figura 4-32.
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quando necessrio determinar o valor da birrefringncia ou a espessura do cristal. A

diferena em relao tabela padro de Michel-Lvy consiste na distribuio das cores que
representam o retardo como uma funo da birrefringncia e da espessura do cristal (ou da
lmina delgada) (Fig. 4-30). O arranjo resultante das cores, segundo uma funo hiperblica
complexa, foi calculado por Bjorn Eske Sorensen, utilizando o MATLAB. A correlao entre
o valor da birrefringncia de um mineral desconhecido, numa lmina delgada de espessura
conhecida, e a cor de interferncia do mineral pode ser entendida intuitivamente (Fig. 4-32,
lado esquerdo). Igualmente, a leitura da espessura da lmina delgada obtida de modo direto
na tabela de cores reconfigurada, utilizando a cor de interferncia mxima de um mineral
conhecido. Nesta nova tabela, fica tambm mais evidente a dependncia relativa entre a cor
de interferncia e a espessura da lmina delgada. Todavia, para analisar a correlao numrica
entre o retardo e a birrefringncia (n), ou entre o retardo e a espessura da lmina (d), a tabela
de cores de interferncia de Michel-Lvy continua sendo a melhor opo.
Ao utilizar as cores de interferncia para determinao dos minerais, importante considerar
que o retardo acumulado quando as ondas de luz atravessam o cristal no depende somente da
birrefringncia (n) de uma seo cristalina qualquer, mas tambm da espessura da amostra.
A correlao entre as cores de interferncia e os valores de birrefringncia pressupe o
conhecimento da espessura correta da lmina delgada. Portanto, as lminas delgadas so
preparadas com uma espessura padro (comumente de 25 m a 30 m). Todavia, em algumas
situaes, faz-se necessria a confeco de lminas delgadas com espessuras diferentes deste
valor padro. Por exemplo, para aumentar o contraste nas cores de interferncia entre fases
minerais com baixa birrefringncia; ou para melhorar o contraste entre gros de minerais com
alta birrefringncia e diferentes orientaes, de modo que as cores de interferncia possam ser
reduzidas em uma ordem (como em lminas ultradelgadas de carbonatos).
Figura 4-31. Relao entre a cor de interferncia e a orientao do gro (cristal) de minerais
anisotrpicos, utilizando quartzo, diopsdio e anidrita como exemplos.
A: Cristais eudricos de quartzo de um veio exibem cores de interferncia de primeira ordem, branco
amarelado a cinza escuro. Cristais branco amarelado: sees paralelas ao eixo cristalogrfico c [max.
birrefringncia (neno) = 0,009]; cristal cinza escuro: seo quase ortogonal ao eixo c [seo circular da
indicatriz exibindo no; birrefringncia = 0].
B: Os gros de diopsdio em rocha calcossilicatada exibem cores de interferncia diferentes
dependendo da orientao do cristal, variando de azul-verde de segunda ordem ao cinza escuro de
primeira ordem. Gro azul-verde: seo paralela a (010) e ao plano dos eixos pticos [max.
birrefringncia (nznx) = 0,031]; gro cinza escuro: seo quase ortogonal a um dos dois eixos pticos
[seo circular da indicatriz exibindo ny; birrefringncia = 0].
C: Os gros de anidrita exibem cores de interferncia diversas de acordo com a orientao do cristal,
variando do vermelho de terceira ordem a (quase) preto de primeira ordem. Gros vermelho claro: seo
paralela a (010) e ao plano dos eixos pticos [max. birrefringncia (nznx) = 0,044]; gro preto: seo
ortogonal a um dos dois eixos pticos (seo circular da indicatriz exibindo ny; birrefringncia = 0].
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Figura 4-32. Determinao da birrefringncia e da espessura da lmina delgada utilizando a

cor de interferncia.
Lado esquerdo: A: Variao nas cores de interferncia em gros de forsterita com diferentes
orientaes. B-D: Decrscimo nas cores de interferncia ao longo de bordas em cunha nos gros de
forsterita, com diferentes orientaes cristalogrficas. A seo do cristal em D exibe a cor de
interferncia mais elevada (amarelo-verde de 2 ordem), e sua orientao ortogonal ao eixo
cristalogrfico c, i.e., paralelo a (001) e com as direes principais de vibrao Z II a e X II b. E: Nesta
lmina de quartzito, os gros cortados em paralelo ao eixo cristalogrfico c possuem a cor de
interferncia mais alta (branco amarelado de 1 ordem); as direes principais de vibrao nestas
sees so E = Z II c e O = X c.
Lado direito, superior: Determinao da birrefringncia (nz nx) da forsterita (seo D) numa lmina
padro de espessura conhecida (25 m), tomando a cor de interferncia mxima observada na lmina
[Tabela de cor (-d) segundo Michel-Lvy].
Lado direito, inferior: Determinao da espessura da lmina delgada a partir da cor de interferncia
mxima observada para um mineral com birrefringncia conhecida. So mostrados os exemplos para
forsterita (n = 0,032; seo em D) e quartzo (n = 0,009; gro branco amarelado em E) [Tabela de
cores n-d, segundo Raith-Srensen].
Os procedimentos de determinao mostrados na direita, utilizando as duas tabelas de cores, podem
ser igualmente aplicados em sentido inverso.
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Determinao da birrefringncia utilizando as cores de interferncia: A birrefringncia

uma propriedade importante dos minerais anisotrpicos, que crucial na determinao dos
minerais. Contudo, o valor da birrefringncia de um mineral especfico depende da orientao
da seo cristalina observada. Em minerais opticamente uniaxiais, a birrefringncia varia de
zero na seo perpendicular ao eixo ptico (direo de isotropia ptica), ao valor mximo
(|ne-no|) nas sees paralelas ao eixo ptico. Em minerais opticamente biaxiais, esta varia de
zero nas sees perpendiculares a um dos eixos pticos at o valor mximo (nz - nx) na seo
paralela ao plano dos eixos pticos. Por esta razo, os gros de cada mineral anisotrpico
exibem diferentes cores de interferncia em lmina delgada dependendo de sua orientao
cristalogrfica (Fig. 4-31).
Na rotina de identificao mineral, somente os valores de mxima birrefringncia (n = nz nx) so decisivos (Fig. 4-32). Estes valores so comumente listados em tabelas ou
compilaes de mineralogia ptica.
A determinao das cores de interferncia pode ser dificultada em minerais altamente

birrefringentes (como os carbonatos: o chamado branco de alta-ordem). Os limites em
cunha dos gros oferecem a possibilidade de observar o espectro de cores de interferncia,
com o decrscimo na espessura do cristal, at o preto de primeira-ordem (Fig. 4-33).
Figura 4-33. A: Os gros de calcita, em lmina delgada de mrmore, exibem cor de

interferncia branco de alta ordem (+Pol). B: A borda em cunha de um gro de calcita exibe
espectro de cores de interferncia decrescentes do plat interior para a borda, equivalentes
reduo na espessura do gro de 25 m a 0 m. Cinco ordens de cor de interferncia podem
ser reconhecidas, tomando como referncia as bandas do vermelho. C: Um gro de calcita,
com espessura padro de 25 m, cortado exatamente paralelo ao eixo c exibiria cor de
interferncia branco de 8 ordem.
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Cor de interferncia e zonao dos minerais: As propriedades pticas, incluindo a

birrefringncia, variam com a composio qumica naqueles minerais com soluo slida
extensiva. A zonao qumica nos cristais pode ser reconhecida pela intensa zonalidade nas
cores de interferncia. Exemplos notveis incluem plagioclsios e titanoaugitas de rochas
vulcnicas que exibem zonao oscilatria, a melilita zonada em escria e o epdoto em
rochas metamrficas (Fig. 4-34).
Figura 4-34. Zonao da cor de interferncia no plagioclsio (A), titanoaugita (B), anfiblio
sdico (C) e epdoto(D).
A zonao de crescimento, com variaes oscilatrias na composio, tpica de plagioclsio e augita
vulcnicos. O anfiblio sdico possui ncleo rico em Fe+3 (crossita*) e borda pobre em Fe+3 (glaucofano). A
diminuio da cor de interferncia na borda do gro de epdoto indica reduo no contedo de Fe+3 durante
seu crescimento.
(*Crossita = anfiblio intermedirio entre riebeckita e glaucofano; termo desaconselhado pela IMA 1997;
Leake et al., Canadian Mineralogist 35, 219-246).
As cores de interferncia de minerais coloridos podem ser significativamente mascaradas

quando sobrepostas s cores primrias do prprio mineral (exemplos: hornblenda, biotita).
Em minerais intensamente coloridos com alta birrefringncia, a cor primria do mineral ser
dominante sob polarizadores cruzados. Uma cor de interferncia plida, ou branco de altaordem, dificilmente poder impor uma defasagem significativa na cor primria do mineral,
quando as duas cores so sobrepostas (exemplo: rutilo).
Cores de interferncia anmalas: As cores de interferncia de alguns minerais so
desviadas do esquema de cores normais. Em vez de cores de interferncia cinza e branco de
primeira ordem, so observadas cores marrom-couro, azul-escuro ou azul acinzentado (Figs.
4-35, 36). Tais cores de interferncia anmalas so geradas pela forte disperso da
birrefringncia, o que significa que esta alcana valores distintos para diferentes
comprimentos de onda (cores). No exemplo da melilita, o valor da birrefringncia torna-se
zero para comprimentos de onda no intervalo do laranja-amarelo-verde. Como resultado,
estas cores no contribuem para a cor de interferncia (cf. Fig. 4-28).
Figura 4-35. Cores de interferncia anmalas.

A. Titanoaugita (zonao oscilatria e estrutura em setores); B. Clinozoisita; C. Zoisita; D. Vesuvianita;
E. Melilita (zonao contnua, com ncleo rico em akermanita e borda rica em gehlenita).
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Figura 4-36. Cores de interferncia anmalas em clorita e melilita.

As cores de interferncia anmalas, azul ou marrom-couro, ocorrem naquelas solues
slidas com valores de birrefringncia prximos a zero. Os membros com maior birrefringncia, em cada srie de soluo slida, exibem cores de interferncia normais de primeira
ordem, cinza claro a branco amarelado.
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Figura 4-37. Diagrama mostrando a correlao entre o ndice de refrao e a birrefringncia

em minerais formadores de rocha.
Carter e sinal tico (unixial biaxial; positivo negativo), quando desconhecidos, devem ser
determinados utilizando os mtodos com iluminao conoscpica. Crculos em negrito marcam
minerais opticamente uniaxiais. Vidros e minerais cbicos so opticamente isotrpicos (n = 0). Numa
seo delgada de espessura conhecida, a cor de interferncia mais alta de cada mineral anisotrpico
pode ser lida diretamente na tabela de cores de interferncia n-d de Raith-Srensen.
Abreviaturas para minerais de acordo com Whitney & Evans (American Mineralogist 95, 185-187,
2010).
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Propriedades pticas: extino
4.2.4 Posies de extino em sees de cristais birrefringentes

Direo de vibrao e carter da extino
A forma e a orientao espacial da indicatriz ptica em cristais opticamente anisotrpicos so
controladas pela simetria cristalina e tambm pela composio, no caso das solues slidas
de baixa simetria (Figs. 4-6,7). Relaes espaciais regulares implicam que a orientao das
direes de vibrao com respeito aos elementos morfolgicos (faces e arestas cristalinas,
planos de clivagem e de macla) fixa em sees cristalinas birrefringentes. O comportamento
resultante da extino permite distinguir entre minerais com simetria mais alta (hexagonal,
trigonal, tetragonal e ortorrmbica) e os de menor simetria (monoclnica e triclnica) (Fig. 438). Trs tipos gerais de extino podem ser identificados:
Extino reta (ou paralela): as direes de vibrao so paralelas s direes morfolgicas de
referncia ( = 0).
Extino simtrica: as direes de vibrao bissegmentam os ngulos entre duas direes
morfolgicas de referncia (1 = 2).
Extino inclinada: as direes de vibrao formam um ngulo, diferente de 0 e 90, com as

direes morfolgicas de referncia ( 0, 90).
Figura 4-38. Simetria do cristal e o comportamento da extino.

Os minerais so mostradas com a orientao da posio de extino. Em cada figura, a cruz indica as
direes dos dois polarizadores, ou dos respectivos fios do retculo.
.
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ngulo de extino
O ngulo entre a direo de vibrao da onda de luz e a do elemento morfolgico de
referncia (aresta de uma face cristalina, clivagem e plano de macla), numa seo cristalina,
referido como o ngulo de extino. Os ngulos de extino so teis na caracterizao de
minerais monoclnicos e triclnicos.
Exemplo clinopiroxnio: Para os membros monoclnicos do grupo do piroxnio, o ngulo de
extino , medido entre a direo de vibrao Z (nz) e o trao (100) na seo paralela a (010),
correlacionado com a composio qumica, i.e., com o tipo de clinopiroxnio (Fig. 4-39). O ngulo de
extino, neste caso, expresso como = Z c.
Figura 4-39. ngulo de extino em clinopiroxnios.

A: Relao entre a composio e o ngulo de extino = Z c, em sees cristalinas paralelas a
(010), para membros importantes do grupo dos clinopiroxnios. A direo cristalogrfica c corresponde aos traos da face cristalina (100) ou queles da clivagem {110}. B: Mtodo para determinar o
ngulo de extino. Leitura I: posio em que o elemento morfolgico de referncia est paralelo ao
fio N-S do retculo. Leitura II: posio de extino.
Conselhos prticos: A determinao precisa dos ngulos de extino requer sees cristalinas
com orientao especfica. No caso de clinopiroxnios, as sees adequadas so aquelas com
a cor de interferncia mais alta (Fig. 4-39). O ngulo de extino determinado da mesma
forma como so medidos os ngulos entre planos morfolgicos (p. ex., planos de clivagem).
Os polarizadores devem estar orientados exatamente nas direes E-W (polarizador) e N-S
(analisador). A medida efetuada em duas etapas (Fig. 4-39 B): (1) Rotao da direo
morfolgica de referncia (trao de uma face cristalina ou da clivagem) para a posio N-S (=
linha N-S do retculo na ocular), e leitura do valor do ngulo I no vernier da platina do
microscpio; (2) Rotao da direo de vibrao para a posio N-S (que equivale posio
de extino da seo cristalina), e leitura do valor do ngulo II no vernier. A diferena entre
os dois ngulos medidos corresponde ao ngulo de extino .
Exemplo clinoanfiblio: Para os membros monoclnicos do grupo do anfiblio, o ngulo de
extino , medido entre as direes de vibrao Z, Y ou Z e o trao (100) na seo cristalina
paralela a (010), igualmente correlacionado com a composio qumica, ou seja, com o tipo
de clinoanfiblio (Fig. 4-40 A). A medida do ngulo de extino, mostrada na figura 4-40 B,
efetuada da mesma maneira que nos clinopiroxnios.
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Figura 4-40. ngulo de extino em clinoanfiblios.

A: Relao entre a composio e o ngulo de extino = X, Y, Z c, em sees cristalinas
paralelas a (010), para membros importantes do grupo dos clinoanfiblios; B: Mtodo para
determinar o ngulo de extino.
(Crossita* anfiblio intermedirio entre riebeckita e glaucofano; termo desaconselhado pela IMA, 1997;
Leake et al., Canadian Mineralogist 35, 219-246; Barkevikita* Fe-hornblenda, oxi-hornblenda, termo
desaconselhado pela IMA, 1978; Leake, Canadian Mineralogist 16, 501-520).
Exemplo plagioclsio: Nas solues slidas e plagioclsio, a orientao da indicatriz ptica

em relao aos eixos cristalogrficos a, b e c dos cristais triclnicos varia dependendo do
contedo de anortita e do grau de ordem-desordem Al/Si. As direes de vibrao do par de
ondas de luz mudam adequadamente em sees cristalinas com uma orientao definida. Para
um grau de ordem-desordem Al/Si constante, as direes de vibrao dependem unicamente
do contedo de anortita (Fig. 4-41 A,B).
Figura 4-41 A. Relao entre a orientao da indicatriz ptica e o teor de anortita em

plagioclsio com mximo ordenamento Al-Si (presentes em rochas metamrficas e plutnicas
resfriadas lentamente).
O teor de anortita em solues slidas de plagioclsio, nestas rochas, pode ser determinado com boa
preciso pela medida do ngulo de extino . o ngulo entre a direo de vibrao X e o trao da
face cristalina (010), na seo ortogonal direo [100] (Mtodo de Rittmann, 1929).
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Figura 4-41 B,C. ngulo de extino em sees cristalinas de plagioclsio [100].

Conselhos prticos: A determinao do contedo de anortita, pela medida do ngulo de
extino (mtodo da zona de Rittmann, 1929; Burri et al., 1967), requer sees cristalinas
que sejam exatamente perpendiculares a [100]. Em tais sees cristalinas, a interface (010)
entre as lamelas de macla albita, bem como os traos da clivagem (001), aparecem como
linhas finas bem definidas (Fig. 4-41 A, C). Estas duas direes formam um ngulo agudo de
86.
Quando os traos (010) das lamelas de macla da albita so orientados segundo a direo N-S,
os dois grupos de lamelas de macla mostram cores de interferncia idnticas (posio de igual
iluminao da macla albita), se o gro possui a orientao adequada (Fig. 4-41 C). As lamelas
(010) mais largas, relacionadas lei de macla Carlsbad, no mostram os traos da clivagem
(001). Alm disso, as maclas Carlsbad, quando colocadas na mesma posio, exibem cores de
interferncia distintas.
Para distinguir a lamela de macla da albita daquela lamela da periclina, quase paralela a
(001), um dos dois grupos de lamelas de macla rotado a 45 da posio de extino, em
sentido anti-horrio, e a placa auxiliar vermelho de primeira ordem inserida. Se as cores de
interferncia aumentarem, as lamelas de macla so da albita, e se decrescerem so da
periclina.
A estimativa do contedo de anortita inclui duas etapas (Fig. 4-41 C): (1) Rotao da direo
morfolgica de referncia, plano de macla (010), para a direo N-S (= linha N-S do retculo
na ocular), e leitura do valor do ngulo I no vernier da platina do microscpio; (2) Rotao da
direo de vibrao X segundo orientao N-S (equivalente posio de extino de um
grupo de lamelas de macla), e leitura do valor do ngulo II.
Para obter o sinal do ngulo de extino , preciso checar se X est contido no ngulo
agudo, ou no ngulo obtuso, formado pelas duas direes morfolgicas de referncia (010) e
(001) no interior da respectiva lamela de macla. Para isto, aconselhvel inserir a placa
auxiliar vermelho de primeira ordem, dado que a lamela de macla em questo est na posio
de extino. Quando X est no ngulo obtuso (An0-20), negativo, e quando X est no
ngulo agudo (An20-100), positivo (Fig. 4-41 B).
No caso do exemplo mostrado (plagioclsio do Gabro Lindenfels, Alemanha), o ngulo de
extino medido, de 31, indica contedo de anortita de 57 mol % (Fig. 4-41 B).
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Carter ptico e direes de extino

Quando uma seo cristalina est na posio de extino, as direes de vibrao Z e X so
paralelas s direes N-S e E-W dos fios do retculo na ocular (cf. Fig. 4-23). Para algumas
aplicaes, relacionadas abaixo, importante conhecer que direo corresponde ao maior
ndice de refrao e qual equivale ao menor:
Determinao da cor do mineral segundo uma direo de vibrao especfica (cf. Cap. 4.2.1).
Determinao do sinal ptico de minerais opticamente uniaxiais, os quais so alongados na
direo cristalogrfica c, ou so tabulares tendo o plano basal ({001}, {0001}) como face
cristalina dominante.
Determinao do sinal de elongao (l) de minerais aciculares a colunares, tabulares ou
lamelares, em sees cristalinas alongadas.
Para distinguir as direes de vibrao Z e X, so utilizadas as placas auxiliares
compensadoras. Estas consistem de placas de cristais anisotrpicos com retardo constante ou
varivel, cuja orientao das direes de vibrao X e Z so conhecidas ( = nx e = nz). A
direo de vibrao da onda Z ( = nz) est gravada na moldura metlica da placa
compensadora. Os compensadores comumente utilizados so (Fig. 4-42):
A placa vermelho de primeira ordem (ou placa lambda, placa , placa sensitiva tonalidade),
consistindo de uma placa de quartzo ou de gipsita, com espessura ao redor de 62 m, que
cortada paralelamente ao eixo ptico e mostra a cor de interferncia vermelho de primeira
ordem na posio diagonal ( = 551 nm).
A placa lambda/4 (um quarto de lambda), que consiste de uma placa fina de quartzo ou mica
que mostra cor de interferncia cinza na posio diagonal ( = 130 a 150 nm, dependendo do
fabricante).
A cunha de quartzo que consiste de uma placa de quartzo cortada em cunha, com o eixo
maior paralelo ao eixo ptico. Na posio diagonal, esta cunha de quartzo exibe cores de
interferncia variando ao longo das quatro primeiras ordens ( = 0 a 2200 nm).
Normalmente, as placas compensadoras so inseridas na posio diagonal no tubo do

microscpio, logo abaixo do analisador. A onda de luz equivalente a nZ ( ou Z) vibra na
direo NE-SW, enquanto a onda equivalente a nX ( ou X) na direo NW-SE.
Figura 4-42. Compensadores: placas acessrias vermelho de primeira ordem (placa ),

lambda/4 e cunha de quartzo.
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Para diferenciar entre as direes de extino X e Z (com ndices de refrao

correspondentes nx e nz), o gro do mineral colocado exatamente na posio de extino, e
ento, rotado por 45 no sentido anti-horrio at a posio diagonal (Fig. 4-43). Alguns
microscpios modernos possuem um dispositivo na platina, o qual pode ser ativado na
posio de extino, de modo que cada rotao de 45 indicada por um clique mecnico.
Na posio diagonal, o mineral mostra sua cor de interferncia tpica com a mxima
intensidade. Nesta posio, as ondas de luz originalmente vibrando segundo E-W esto agora
vibrando segundo NE-SW (nos quadrantes I e III); e aquelas originalmente vibrando segundo
N-S esto agora orientadas segundo NW-SE (nos quadrantes II e IV).
Duas diferentes orientaes pticas do mineral so possveis na posio diagonal a 45 (Fig.
4-43):
I. A onda de luz vibrando segundo NE-SW a onda lenta e seu ndice de refrao nz. A
onda vibrando segundo NW-SE a onda rpida e seu ndice de refrao nx.
II. A onda de luz vibrando segundo NE-SW a onda rpida e seu ndice de refrao o nx. A
onda vibrando segundo NW-SE a onda lenta e seu ndice de refrao o nz.
Ao inserir a placa vermelho de primeira ordem, ou a placa lambda/4, no caminho da luz com
a direo Z no compensador diagonal segundo NE-SW, as duas orientaes I e II podem ser
caracterizadas como segue:
I. Z (mineral) // Z (compensador); X (mineral) // X (compensador) - Adio
As cores de interferncia no mineral mudam para cores de mais alta ordem: isto
denominado de adio.
Os minerais de baixa birrefringncia (quartzo e feldspatos, por exemplo), com cores de

interferncia cinza ou branco de primeira ordem, exibiro cores azul a amarelo esverdeado de
segunda ordem, quando a placa vermelho de primeira ordem for inserida; e mostraro cores
amarelo de primeira ordem com a insero da placa lambda/4 (Fig. 4-43).
A mudana da cor de interferncia para uma ordem mais alta nem sempre facilmente
discernvel em minerais com alta birrefringncia e cores de interferncia de 3 ordem ou
maior. Neste caso, aconselhvel o uso da cunha de quartzo, em vez da placa vermelho de
primeira ordem. Ao inserir a cunha de quartzo, a mudana contnua nas cores de interferncia
para tonalidades sucessivamente mais plidas pode ser observada, at que seja alcanado o
branco de alta-ordem quando os minerais possuem birrefringncia suficientemente alta (como
os carbonatos).
A observao nas bordas em cunha de gros minerais particularmente til na avaliao de cores
de interferncia de alta ordem. Do interior para a borda do gro, a espessura do cristal diminui e as
cores de interferncia variam em consonncia, exibindo a sequncia contnua de ordens
decrescentes at o preto de primeira ordem. Quando a cunha de quartzo inserida, as bandas de cor
variam em direo borda do gro, o que particularmente bem evidente para as tonalidades de
vermelho de primeira e segunda ordem (Fig. 4-44). A borda externa do gro eventualmente mostra
vermelho de quarta ordem, quando o interior o gro exibe cores de interferncia mais alta.
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Interpretao:
Em um mineral anisotrpico, a onda nx avana mais rpido na seo cristalina que a onda
nz. As duas ondas possuem diferentes comprimentos de onda. Aps deixarem o mineral, as
duas possuem a mesma velocidade e o mesmo comprimento de onda, mas diferem quanto ao
retardo acumulado:
Min = d * (nz nx).
Com este retardo, as ondas entram na placa de cristal do compensador, onde a onda nx do
mineral novamente mais rpida nxComp e a onda original nz transforma-se na onda mais
lenta nzComp. Deste modo, o retardo acumulado no mineral agora aumentado ainda mais pelo
retardo do compensador. O resultado o aumento nas cores de interferncia do mineral:
Min + Comp = total
Ao inserir a placa vermelho de primeira ordem ou cunha de quartzo com o mineral nesta posio,
importante notar que as cores de interferncia sempre aumentaro para ordens mais altas.
Figura 4-43. Adio e subtrao na cor de interferncia, em duas posies diagonais da

mesma seo oblqua ao eixo cristalogrfico c de um gro de quartzo. A vibrao da onda E
paralela ao eixo c, de modo que ne = nz; e para a onda O, a vibrao ortogonal ao eixo c,
com no = nx.
II. Z (mineral) // X (compensador); X (mineral) // Y (compensador) - Subtrao
As cores de interferncia de uma seo cristalina mudam para cores de mais baixa ordem: isto
referido como subtrao.
Os minerais de baixa birrefringncia (quartzo e feldspatos, por exemplo), com cores de
interferncia cinza ou branco de primeira ordem, exibiro cores laranja a cinza de primeira
ordem, quando a placa vermelho de primeira ordem for inserida; e mostraro cores cinza
escuro de primeira ordem com a insero da placa lambda/4 (Fig. 4-43).
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A mudana da cor de interferncia para uma ordem mais baixa, igualmente, nem sempre
facilmente discernvel em minerais com alta birrefringncia e cores de interferncia de 3
ordem ou maior. Neste caso, tambm aconselhvel o uso da cunha de quartzo, em vez da
placa vermelho de primeira ordem. Ao inserir a cunha de quartzo, a mudana contnua nas
cores de interferncia para tonalidades sucessivamente mais saturadas pode ser observada,
com a mudana das cores para ordens menores. Nos minerais de baixa birrefringncia, o preto
de primeira ordem inicialmente alcanado. Com a continuidade da insero da cunha de
quartzo, a sequncia de cores reverte para cores de interferncia crescentes (p.ex., olivina e
mica branca). Nas bordas dos cristais, afinadas em cunha, as bandas de cor migram para o
interior do gro com a insero da cunha de quartzo (Fig. 4-44). Este efeito bem evidente
nas tonalidades de vermelho de primeira, segunda e terceira ordem. A banda de cor cinza
escuro de primeira ordem, na borda mais externa do mineral, migra para o interior do gro, e
substituda por cores da primeira a terceira ordem, quando as cores de interferncia do
mineral esto entre a primeira e a segunda ordem (p.ex., olivina, mica branca e piroxnios).
Interpretao:
Em um mineral anisotrpico, a onda nx avana mais rpido na seo cristalina que a onda
nz. As duas ondas possuem diferentes comprimentos de onda. Aps sarem do mineral,
ambas as ondas possuem a mesma velocidade e o mesmo comprimento de onda, porm
diferem quanto ao retardo acumulado:
Min = d * (nz nx).
Com este retardo, as duas ondas entram na placa de cristal no compensador, na qual as
direes da onda rpida e da lenta esto a 90 daquelas do mineral. A onda nx do mineral
agora torna-se a onda mais lenta nzComp e a onda original nz transforma-se na onda rpida
nzComp. Deste modo, o retardo acumulado no mineral agora reduzido pelo retardo do
compensador. O resultado o decrscimo nas cores de interferncia no mineral:
Min - Comp = total
Ao inserir a placa vermelho de primeira ordem ou a cunha de quartzo, as seguintes situaes

podem ser observadas:
1. Quando o retardo do mineral maior que o do compensador, sero observadas apenas as
cores de interferncia de menor ordem.
2. Quando o retardo no mineral idntico ao do compensador, o mineral aparecer preto de
primeira ordem (total = 0), dado que o retardo do mineral totalmente compensado.
3. Quando o retardo do mineral menor que o do compensador, as cores de interferncia
sero reduzidas a um valor correspondente diferena Comp - Min. Ao inserir a cunha de
quartzo, as cores de interferncia inicialmente decrescem at o preto de primeira ordem, e a
seguir, aumentam novamente.
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Figura 4-44. Gro de anidrita exibindo sequncia de cores de interferncia envolvendo sete
ordens.
A mudana na sequncia de cores ao longo da borda em cunha do gro permite o fcil reconhecimento do
efeito da adio e o da subtrao nas cores de interferncia. Ao utilizar a placa acessria vermelho de
primeira ordem como compensador, a sequncia de cores deslocada por uma ordem para o interior do
gro (subtrao), ou para a borda do gro (adio). Quando a cunha de quartzo utilizada na compensao,
a sequncia de cores se move por quatro ordens tanto para o interior (subtrao), como para a borda do gro
(adio).
As cores de interferncia de minerais que so fortemente coloridos na luz plano-polarizada

podem ser significativamente mascaradas, de tal modo que as posies de adio e subtrao
com a insero da placa vermelho de primeira ordem no so facilmente discernveis. Nestes
casos, aconselhvel o uso da cunha de quartzo, que permite avaliar o movimento das bandas
de cor nas bordas em cunha de gros minerais.
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Sinal de elongao l
Os cristais com hbito colunar a acicular, ou tabular a lamelar, exibem sees cristalinas
alongadas que so, respectivamente, paralelas ao eixo morfolgico mais longo ou
perpendiculares ao plano basal mais desenvolvido. Quando tais sees alongadas so rotadas
para a posio diagonal (i.e., eixo mais longo l paralelo a NE-SW), sob polarizadores
cruzados e com a placa compensadora inserida, elas mostraro tanto a adio (Min + Comp =
total), como a subtrao (Min - Comp = total) das cores de interferncia dependendo do sinal
ptico do mineral (Fig. 4-45).
A adio observada quando a onda com o maior ndice de refrao (nz) vibra em paralelo,
ou em pequeno ngulo, com a maior dimenso da seo cristalina: l (+) = sinal de elongao
positivo ou comprimento-lento (length-slow). Exemplos: cristais aciculares-colunares de
sillimanita, gedrita, antofilita; cristais tabulares de gehlenita, micas, antigorita e pennina.
A subtrao observada quando a onda com o menor ndice de refrao (nx) vibra em
paralelo, ou em pequeno ngulo, com a maior dimenso da seo cristalina: l (-) = sinal de
elongao negativo, ou comprimento-rpido (length-fast). Exemplos: cristais acicularescolunares de turmalina e apatita; cristais tabulares de akermanita, brucita e clinocloro.
Para espcies minerais opticamente uniaxiais com hbito acicular ou colunar, o sinal de
elongao corresponde ao sinal ptico. Para minerais tabulares uniaxiais, os dois sinais so
opostos (sinal de elongao e sinal ptico).
Sees alongadas na quais ny paralelo (ou em pequeno ngulo) ao eixo morfolgico mais
longo do cristal, ou perpendicular dimenso planar de cristais tabulares, mostram sinal de
elongao varivel, l(+) ou l(-), dependendo da exata orientao do cristal na lmina delgada.
Exemplos de tais cristais alongados: wollastonita e epdoto.
Figura 4-45 A. Lamela regular de muscovita com sinal de elongao positivo. Na muscovita
e na placa auxiliar (vermelho de 1 ordem), a vibrao das ondas rpida (nx) e lenta (ny
nz) tem a mesma orientao. Portanto, a adio do retardo resulta no aumento da cor de
interferncia (res = Verm1 + Ms = 1231 nm; azul-verde de segunda ordem).
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Figura 4-45 B. Gro prismtico de apatita com sinal de elongao negativo. Na apatita, a
vibrao da onda rpida paralela da onda lenta na placa acessria (vermelho de 1
ordem), e a vibrao da onda lenta na apatita paralela da onda rpida na placa acessria.
Deste modo, o retardo reduzido resultando na subtrao de cores (res = Verm1 - Ap = 476
nm; laranja-amarelo de primeira ordem).
Nos casos em que a direo de extino desviada significativamente do eixo mais longo da
seo cristalina utiliza-se, por conveno, a posio de extino que forma um ngulo inferior
a 45 com a maior dimenso do cristal. Esta rotada para a posio diagonal antes de inserir
a placa compensadora vermelho de primeira ordem ou lambda/4, para determinar o sinal de
elongao. Todavia, quando os ngulos de extino so prximos de 40-50, a determinao
de l(+) ou l(-) tem pouca utilidade prtica.
Determinao do sinal ptico de minerais opticamente uniaxiais
Minerais opticamente uniaxiais que so alongados segundo a direo cristalogrfica c (p. ex.,
quartzo, apatita e turmalina), cujas sees cristalinas em lmina delgada so aproximadamente
paralelas a este eixo c, tero a onda E (ne) vibrando em paralelo a c e a onda O (no) ortogonal a c.
Quando o hbito dos minerais opticamente uniaxiais tabular (p.ex., melilita), se aplica a mesma
regra, porm a onda O agora vibra paralelamente seo alongada.
Para minerais com estes dois hbitos cristalinos, o sinal ptico pode ser determinado facilmente pela compensao, isto , se ne > no (= uniaxial opticamente positivo) ou ne < no (=
uniaxial opticamente negativo) (Fig. 4-46). O eixo mais longo de uma seo cristalina
rotado para a posio diagonal (orientao NE-SW), e a placa vermelho de primeira ordem ou
a lambda/4 inserida.
Para cristais alongados segundo o eixo cristalogrfico c, ne agora paralelo a nzComp, ao passo
que no paralelo a nxComp.
Para minerais tabulares, a relao reversa dado que o eixo c perpendicular maior
dimenso das sees cristalinas. Os retardos entre as ondas, gerados no mineral opticamente
uniaxial (Min) e na placa compensadora, sero aumentados pela adio ou diminudos pela
subtrao dependendo do sinal ptico. Em consequncia, a seo cristalina exibir cores de
interferncia maiores ou menores quando o compensador for inserido.
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Seo longitudinal de um cristal prismtico alongado (Fig. 4-46 A): ne paralelo ao maior
eixo da seo cristalina, enquanto no perpendicular a este. A adio ocorre quando ne > no e
o mineral opticamente uniaxial positivo. A subtrao ocorre quando ne < no e o mineral
opticamente uniaxial negativo.
Seo transversal de um cristal tabular (Fig. 4-46 B): no paralelo ao eixo mais longo da
seo cristalina transversal alongada, enquanto ne ortogonal a este. A adio ocorre quando
ne < no e o mineral opticamente uniaxial negativo. A subtrao ocorre quando ne > no e o
mineral opticamente uniaxial positivo.
Figura 4-46 A. Na apatita, que tem simetria hexagonal, as sees prismticas mostram a
subtrao nas cores de interferncia com a insero da placa acessria (vermelho de 1
ordem), na posio diagonal. Deste modo, o sinal ptico negativo (ne < no).
Figura 4-46 B. Na melilita com simetria tetragonal, os cristais retangulares podem mostrar,
dependendo da composio, tanto a adio como a subtrao nas cores de interferncia com a
insero da placa acessria (vermelho de 1 ordem). No exemplo mostrado, o ncleo tem
sinal ptico positivo (alto contedo de kermanita), enquanto na borda o sinal ptico
negativo (alto contedo de componentes Na-melilita e gehlenita).
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4.2.5 Mtodos conoscpicos

4.2.5.1 Alguns princpios bsicos
Na viso ortoscpica normal, a luz entra ortogonalmente na lmina delgada como um
conjunto de ondas de luz paralelas, que vibram segundo a direo E-W. A objetiva gera uma
imagem invertida real e ampliada da lmina delgada, a qual ento novamente ampliada e
vista pela ocular. Os raios de luz, que entram na lmina delgada, atravessam os gros de
minerais segundo direes cristalogrficas especficas que dependem da respectiva orientao
dos cristais. Para registrar o comportamento ptico de espcies minerais anisotrpicas, as
sees cristalinas com diferentes orientaes cristalogrficas devem ser estudadas, como
explicado nos captulos anteriores (p. ex., sees cristalinas com cores de interferncia
mxima so necessrias para determinar a birrefringncia).
Tanto o ngulo entre os eixos pticos como o sinal ptico no podem ser diretamente
determinados no modo de iluminao ortoscpica, exceto em situaes especficas quando se
tem certeza de que a simetria cristalina elevada (hexagonal, trigonal, tetragonal) e a forma
cristalina permite identificar a direo do eixo cristalogrfico c (cf. Cap. 4.2.4).
A viso conoscpica, ao contrrio da ortoscpica, envolve um conjunto de raios de luz
fortemente convergentes, o que significa que a lmina delgada ser atravessada por um cone
amplo de raios de luz com diferentes inclinaes (Fig. 4-47). Para alcanar tal condio, a
abertura da iluminao alargada ao mximo ao inserir a lente auxiliar do condensador na
trajetria da luz e abrir o diafragma ris.
Os raios de luz deste cone, dependendo de sua direo de propagao, formam uma imagem
no plano focal acima da objetiva. O ngulo mximo de abertura do cone de raios de luz que
forma esta imagem depender da abertura numrica da objetiva utilizada (Fig. 4-48). Na
medida que as duas ondas que vibram ortogonalmente so propagadas em todas as direes
no interior de minerais opticamente anisotrpicos, estes pares de ondas esto sujeitos
interferncia no analisador e geram uma figura de interferncia. Esta figura de interferncia
pode ser vista como uma imagem ampliada ao colocar a lente auxiliar na trajetria da luz
(lente Amici-Bertrand), ou observada diretamente no tubo ocular ao remover uma das
oculares.
As ondas de luz que viajam segundo a direo do eixo do microscpio e, assim, so
ortogonais ao plano da lmina delgada, formam o centro da figura de interferncia. Quanto
maior for o ngulo entre a direo de propagao do raio de luz e o eixo do microscpio,
maior ser a distncia do ponto na imagem ao centro da figura de interferncia. Deste modo,
a figura de interferncia conoscpica possibilita estudar o comportamento da propagao da
luz em um cristal anisotrpico de modo simultneo para direes cristalogrficas mltiplas no
interior desse cristal.
A partir da geometria da figura de interferncia e suas modificaes com o uso de compensadores, possvel determinar o nmero de eixos pticos (uniaxial ou biaxial), o ngulo entre
os eixos pticos (2V) e o sinal ptico (positivo ou negativo).
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Figura 4-47. Trajetrias da luz no microscpio de luz polarizada

A: Modo de iluminao ortoscpico. Em microscpios com comprimento do tubo finito, a
objetiva produz a imagem real invertida (imagem intermediria) do espcime, que vista
ampliada atravs da ocular (A-2). Nos microscpios corrigidos ao infinito, a objetiva projeta
ao infinito a imagem do espcime, enquanto a segunda lente colocada no tubo (lente de tubo)
forma a imagem intermediria que , ento, vista atravs da ocular (A-1). Este esquema de
produo da imagem permite inserir componentes acessrios como analisador, compensadores ou divisores de feixe de luz, ao longo da trajetria dos feixes de raios de luz paralelos
entre a objetiva e a lente de tubo, com pequeno efeito na qualidade da imagem.
B: Modo de iluminao conoscpico. Os feixes de raios paralelos no cone de luz, que
iluminam a amostra, criam uma imagem no plano focal superior da objetiva (B). No caso de
cristais anisotrpicos, gerada a imagem de interferncia que pode ser ampliada com a
insero de uma lente auxiliar (lente Amici-Bertrand). A imagem de interferncia pode,
tambm, ser diretamente observada no tubo por meio de um pequeno orifcio que substitua a
ocular.
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4.2.5.2 Conoscopia de cristais opticamente anisotrpicos
As ondas que so desviadas da incidncia vertical com o aumento dos ngulos de inclinao,
no modo conoscpico, viajam distncias crescentes no interior do cristal birrefringente. De
acordo com a relao = d * (nz nx), descrita no captulo 4.2.3, o retardo das ondas
aumenta com o aumento dos ngulos de inclinao devido ao contnuo incremento de d (=
comprimento da trajetria da luz na seo cristalina). Em consequncia, as cores de
interferncia em uma figura de interferncia conoscpica devem geralmente aumentar para
fora. Todavia a figura de interferncia controlada, em maior grau, pela orientao das
direes de vibrao e pelos valores de birrefringncia dos pares de onda de luz dentro do
volume observado do cristal anisotrpico. A birrefringncia das ondas paralelas aos eixos
pticos, como descrito anteriormente, zero. Esta aumenta quando o ngulo entre o eixo
ptico e a direo de propagao do raio de luz (ou da normal onda, para ser preciso)
aumenta.
Figura 4-48. Gerao da figura de interferncia no plano focal superior da objetiva por feixes
de raios de luz paralelos, que atravessam o cristal em ngulos diferentes. O exemplo mostra
estas relaes para um cristal uniaxial (calcita), cortado ortogonal ao eixo ptico.
A geometria das figuras de interferncia em cristais anisotrpicos pode ser ilustrada com o
modelo da esfera esquiodromo, desenvolvido por Becke (1905). O cristal considerado como
ocupando o centro de uma esfera. Cada direo de propagao do raio das ondas de luz
dentro do cristal corresponde a um ponto na superfcie esfrica, onde o raio alcana esta
esfera. Em cada um destes pontos, as direes de vibrao das ondas correlatas podem ser
traadas como uma tangente (p.ex., O e E no caso de minerais opticamente uniaxiais). Ao
conectar todas as tangentes com igual direo de vibrao, gerada uma malha geomtrica
das direes de vibrao que depende da simetria ptica no cristal (Figs. 4-49, 50).
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Esfera esquiodromo
Para espcies minerais opticamente uniaxiais, uma rede de crculos longitudinais e
latitudinais com simetria rotacional formam a superfcie da esfera (Fig. 4-49). Os meridianos
(longitude) representam as direes de vibrao das ondas E (extraordinrias) e os crculos de
latitude aquelas das ondas O (ordinrias). O eixo ptico A corresponde ao eixo de rotao da
rede.
Para espcies minerais opticamente biaxiais, a superfcie esfrica consiste de um arranjo de
duas elipses entrecruzadas com simetria ortorrmbica (Fig. 4-50). Os eixos pticos A1 e A2
emergem no foco comum das elipses. Os planos de simetria da rede correspondem s sees
principais da indicatriz ZX, ZY e YX.
Rede esquiodromo (projees)
Por razes prticas, a parte da superfcie da esfera esquiodromo que capturada pelo cone
conoscpico de raios de luz, quando este emerge da seo cristalina, projetada no plano da
lmina delgada (Figs. 4-49, 50). As redes esquiodromo e as figuras de interferncia
equivalentes para orientaes diagnsticas dos minerais opticamente uniaxiais e biaxiais so
mostradas nas figuras 4-51 a 4-54.
Figura de Interferncia
Na figura de interferncia, os domnios que aparecem extintos correspondem queles em que

as direes de vibrao das ondas de luz so paralelas s direes do polarizador e analisador.
[Em analogia posio de extino ortoscpica: a luz que entra no cristal em tais direes
vibra exclusivamente segundo E-W e, assim, ser bloqueada pelo analisador; as ondas
vibrando segundo N-S no so transmitidas!]. Os domnios em extino na figura de
interferncia so denominados de isgiras. Sua geometria depende da geometria ptica e da
orientao do cristal, de modo que pode variar quando a platina do microscpio rotada
(Figs. 4-51 a 4-54).
Os domnios nos quais as direes de vibrao das ondas desviam das direes do polarizador
e do analisador aparecem com diferentes iluminaes e cores de interferncia. [Em analogia
posio diagonal ortoscpica: a luz que entra no cristal birrefringente em tais direes
dividida em dois grupos de ondas que vibram ortogonalmente e que sofrem interferncia no
analisador]. As linhas curvas com igual cor (ou igual retardo ) so denominadas de linhas
isocromticas. Sua geometria depende da simetria ptica e da orientao do cristal (Figs. 451, 53). O intervalo do espectro de cores, ou seja, o nmero de linhas isocromticas,
determinado pelos valores da birrefringncia, pela espessura do cristal [ = d * (nz nx)] e
pela abertura da objetiva (Figs. 4-52 a 4-54).
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Figura 4-49. Esfera esquiodromo e projees para cristais opticamente uniaxiais.

Na esfera esquiodromo as direes de vibrao das ondas E e O, perpendiculares entre si, so fixas em
todas as direes de propagao. As ondas O (vermelho) vibram sempre latitudinalmente, e as ondas E
(azul) longitudinalmente. As projees da rede esquiodromo 3D, no plano de viso, so muito teis na
interpretao das figuras de interferncia, as quais resultam de diferentes orientaes do cristal
uniaxial. A figura mostra tais projees para sees cristalinas ortogonais, oblquas e paralelas ao eixo
ptico do cristal (i.e., eixo cristalogrfico c).
(Esfera esquiodromo = termo para a projeo ortogrfica das direes de vibrao das ondas de luz,
como apareceriam numa esfera iluminada a partir do centro; serve para ilustrar a evoluo das figuras
de interferncia, que so esferas de interferncia, para diferentes sees do cristal)
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Figura 4-50. Esfera esquiodromo e projees para cristais opticamente biaxiais.

Na esfera esquiodromo as direes de vibrao das duas ondas (E e O), que so perpendiculares, so
fixas em todas as direes de propagao. A rede mostra dois grupos de elipses entrecruzadas. Os dois
eixos pticos A1 e A2 emergem no foco comum das elipses. As direes de vibrao com os ndices de
refrao principais nz, ny e nx esto localizadas nas sees principais XY, ZX e ZY, mostradas na
figura, respectivamente, em azul, vermelho e verde. Na investigao do sinal ptico e do ngulo dos
eixos pticos 2V, as figuras de interferncia de maior utilidade so aquelas das sees ortogonais
bissetriz aguda (Z ou X, para 2V < 45) ou a um dos eixos pticos (A1 ou A2, para 2V > 45).
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4.2.5.3 Minerais opticamente uniaxiais

Para espcies minerais opticamente uniaxiais, a rede de crculos meridianos e latitudinais com
simetria rotacional constitui a superfcie esfrica do esquiodromo (Fig. 4-49). Os meridianos
representam as direes de vibrao das ondas E, enquanto os crculos de latitude aquelas das
ondas O. O eixo ptico A o eixo de rotao da rede.
As sees cristalinas perpendiculares ao eixo ptico A so reconhecidas no modo ortoscpico
por seu comportamento isotrpico. No modo conoscpico, estas sees mostram uma figura de
interferncia tpica que consiste de uma cruz preta formada pelas isgiras. As isgiras tornam-se
mais largas em direo s bordas do campo de observao, e os quatro setores entre elas so
preenchidos por crculos concntricos coloridos. O eixo ptico forma o centro (melatpo) da cruz
das isgiras (Figs. 4-49, 51, 52). Se a platina do microscpio rotada, a figura de interferncia
no se altera.
Interpretao da figura de interferncia
As direes de vibrao das ondas O e E so ortogonais entre si e esto arranjadas
concentricamente ao redor do eixo ptico. Segundo as direes N-S e E-W da figura de
interferncia, as direes de vibrao coincidem com aquelas do polarizador e do analisador. Em
tais direes, somente as ondas que vibram segundo E-W atravessam a placa do cristal (ondas O
segundo a isgira N-S; ondas E segundo a isgira E-W), mas essas sero bloqueadas pelo
analisador. Em face da simetria rotacional da indicatriz ptica (e da rede esquiodromo) e da
orientao particular da placa do cristal (direo de viso paralela ao eixo ptico), a figura de
interferncia no se move ou altera ao rotar a platina.
O incremento nas cores de interferncia, em direo borda do campo de observao,

ocasionado pelo aumento do retardo das ondas O e das ondas E desde o centro [n = 0 na
direo do eixo ptico] at a periferia. O intervalo potencial de cores visveis limitado pela
birrefringncia mxima perpendicular ao eixo ptico [n = |ne - no|], que especfica do mineral.
O arranjo circular das linhas isocromticas o resultado da simetria rotacional da indicatriz e da
orientao especfica, perpendicular ao eixo ptico da seo cristalina. O intervalo do espectro de
cores (ou seja, o nmero de linhas isocromticas) depende da birrefringncia e da espessura do
cristal [ = d * (ne no)], bem como da abertura numrica da objetiva. Por exemplo, em uma
lmina delgada com espessura de 25 m, a figura de interferncia da calcita, que altamente
birrefringente (n = 0,172), consiste de seis ordens de cores de interferncia, enquanto a do
quartzo (n = 0,009) exibe somente cores de primeira ordem (Fig. 4-52).
Nas sees cristalinas oblquas ao eixo ptico A, a cruz formada pelas isgiras deslocada em
direo periferia do campo de observao, e se movimenta em crculos quando a platina do
microscpio rotada. A distncia do melatpo ao centro do campo de observao reflete o ngulo
de inclinao entre o eixo ptico e o eixo do microscpio. Os braos E-W e N-S da cruz formada
pelas isgiras movimentam-se no campo de observao, porm sem rotar (Fig. 4-51 B, C).
As sees cristalinas paralelas ao eixo ptico exibem mxima birrefringncia no modo
ortoscpico. Neste caso, a figura de interferncia conoscpica mostra uma cruz preta muito ampla
que, ante a mnima rotao da platina, rapidamente se abre (figura flash, Fig. 4-51 D). Em
virtude da semelhana com figuras de interferncia de minerais opticamente biaxiais, as figuras
de interferncia com tais orientaes no tem grande significado prtico.
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Figure 4-51. Figuras de interferncia de minerais opticamente uniaxiais.

Parte superior: representao esquiodromo e isgiras para sees cristalinas com diferentes orientaes
de um cristal uniaxial. As direes de vibrao so mostradas em vermelho (raio-O) e azul (raio-E).
Parte inferior: mudana nas isgiras e linhas isocromticas para as orientaes dos cristais B, C e D,
durante o giro de 90 na platina do microscpio.
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Determinao do sinal ptico de minerais uniaxiais

Para determinao do sinal ptico, so necessrias sees cristalinas que sejam isotrpicas ou que
mostrem uma cor de interferncia muito baixa no modo ortoscpico. A figura de interferncia
conoscpica exibir, ento, a cruz preta das isgiras mais ou menos centrada.
Quando a placa vermelho de primeira ordem for inserida, as isgiras aparecero em vermelho de
1 ordem, e os quatro quadrantes mostraro duas sequncias de cores de interferncia dependendo
da direo de vibrao das ondas E e O. Duas situaes podem ser identificadas:
Caso A: As cores de interferncia aumentam por uma ordem nos quadrantes I e III (= adio), e
decrescem por uma ordem nos quadrantes II e IV (= subtrao). Deste modo, ne > no e, portanto,
o sinal ptico do mineral positivo (Fig. 4-52; exemplo quartzo).
Caso B: As cores de interferncia decrescem por uma ordem nos quadrantes I e III (= subtrao),
e aumentam por uma ordem nos quadrantes II e IV (= adio). Deste modo, ne < no e, portanto, o
sinal ptico do mineral negativo (Fig. 4-52; exemplo calcita).
A figura de interferncia em minerais altamente birrefringentes exibe linhas isocromticas

mltiplas. Assim, aconselhado o uso da cunha de quartzo, em vez da placa vermelho de
primeira ordem, para distinguir claramente entre os casos A e B. Ao inserir a cunha de quartzo, as
linhas isocromticas se movimentam de modo caracterstico nos quatro quadrantes (Figs. 4-52,
55).
Figure 4-52. Determinao do sinal ptico de um cristal uniaxial.

A distino entre o sinal ptico positivo ou negativo feita em sees perpendiculares ao eixo ptico,
observando o fenmeno de adio ou de subtrao causado com a insero da placa auxiliar vermelho
de primeira ordem.
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4.2.5.4 Minerais opticamente biaxiais

A esfera esquiodromo de espcies minerais opticamente biaxiais exibe o arranjo de duas
elipses sobrepostas que possuem simetria ortorrmbica (Fig. 4-50). Os eixos pticos A1 e A2
emergem no foco comum das elipses. O ngulo entre os dois eixos pticos (ngulo axial 2V)
possui valores entre 0 e 90, que so especficos para diferentes minerais. A bissetriz aguda
do 2V pode ser tanto o Z (2Vz < 90 = opticamente positivo), como o X (2Vx < 90 =
opticamente negativo). O plano de simetria da rede corresponde s sees principais da
indicatriz, ZX (= plano dos eixos pticos), ZY e YX.
As sees cristalinas ortogonais bissetriz aguda (para baixo 2V), ou ortogonais a um dos
eixos pticos, fornecem figuras de interferncia diagnsticas e menos ambguas. Ao contrrio
da figura de interferncia de cristais opticamente uniaxiais, as isgiras mudam de forma
quando a platina do microscpio rotada (Fig. 4-53 A, B).
Figuras de interferncia de sees cristalinas ortogonais bissetriz aguda (2V < 60).
Nas posies de extino (modo ortoscpico), o plano dos eixos pticos est orientado
segundo N-S ou E-W. Nesta posio, a imagem conoscpica mostra uma cruz preta, com uma
isgira mais larga que a outra. A isgira mais fina representa o plano dos eixos pticos, a qual
mais estreita nos pontos onde emergem os eixos pticos (melatpos). Ao examinar minerais
fortemente birrefringentes, linhas isocromticas mltiplas so observadas ao redor dos dois
melatpos (Fig. 4-53 A).
Ao rotar a platina em 45, para a posio diagonal, a cruz das isgiras se abre formando duas
hiprboles, as quais, dependendo do sentido de rotao, esto nos quadrantes I e III, ou II e
IV. Os eixos pticos emergem nos pontos de inflexo das hiprboles. Ao girar a platina em
360, as isgiras se separam e convergem, em correspondncia mudana entre a posio
iluminada e a extinta no modo ortoscpico (Fig. 4-53). Com o aumento dos ngulos entre os
eixos pticos (2V), aumenta a distncia entre as duas isgiras com forma de hiprbole, ao
mesmo tempo que sua curvatura diminui (Fig. 4-53, abaixo a direita).
Figuras de interferncia de sees cristalinas ortogonais a um dos eixos pticos (2V >
60).
A determinao do sinal ptico de minerais com alto ngulo ptico axial (2V) requer sees
cristalinas ortogonais a um dos dois eixos pticos, ou aquelas sees em que a direo de
observao no est muito desviada da orientao de um dos eixos pticos. Tais sees
cristalinas, no modo ortoscpico, aparecem isotrpicas ou mostram cores de interferncia
baixas. A figura de interferncia exibe uma isgira mais ou menos curva, com o eixo ptico
emergindo no ponto de inflexo. Quando a platina do microscpio rotada, a isgira tambm
rotada no campo de observao (Fig. 4-53 C). [Ao contrrio, as isgiras de minerais
opticamente uniaxiais movimentam-se em paralelo s direes do analisador e polarizador
(E-W e N-S), sem rotao, Fig. 4-51] As aureolas azuis, algumas vezes, tambm vermelhas
das isgiras, como mostrado nas figuras 4-54 e 4-56 (mica), so ocasionadas pela disperso
dos eixos pticos. Isto significa que a posio dos eixos pticos varia com o comprimento de
onda da luz. Tais aureolas coloridas no devem ser confundidas com linhas isocromticas.
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Figure 4-53. Figuras de interferncia de minerais opticamente

biaxiais.
Topo: Modificao na figura de interferncia de uma seo cristalina
ortogonal bissetriz aguda durante a rotao da platina. Posies normais
a 0 e 90; posies diagonais a 45 e 135.
Centro: Variao nas figuras de interferncia de cristais opticamente
biaxiais dependendo da orientao, do ngulo 2V e da posio de rotao
da platina do microscpio. As sequncias mostradas correspondem a
rotao de 0 a 90. Bxa bissetriz aguda; Bxo bissetriz obtusa.
Base: Relao entre o ngulo 2V e a curvatura da isgira para sees
cristalinas perpendiculares ao eixo ptico.
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Determinao do sinal ptico de minerais biaxiais

Para determinao do sinal ptico devem ser escolhidas as sees cristalinas com a menor cor
de interferncia possvel. Para minerais com baixo ngulo 2V, as figuras de bissetriz aguda
so tambm adequadas (Fig. 4-54). Os gros adequados a esta determinao exibem baixa
birrefringncia, porm diferente de zero, no modo ortoscpico. No geral, suficiente que
apenas um eixo ptico (melatpo) seja visto no campo de observao. O ponto de mxima
curvatura da isgira (melatpo), idealmente, deve estar no centro do campo de observao, de
modo que a direo da curvatura da isgira possa ser vista claramente. O lado convexo da
hiprbole aponta para a bissetriz aguda e o lado cncavo para a bissetriz obtusa.
Para observar a mudana na cor de interferncia quando o compensador inserido, as isgiras
devem estar posicionadas de tal modo que o plano dos eixos pticos esteja na diagonal, orientado
segundo NE-SW. Nesta orientao, os lados cncavos das isgiras apontam para NE e SW, ou
qualquer uma das duas direes quando apenas uma isgira est no campo de observao. Ao
inserir a placa vermelho de primeira ordem, as isgiras aparecem em vermelho de primeira
ordem, enquanto as cores de interferncia entre as isgiras variam de acordo com o sinal ptico
do mineral (Fig. 4-54). Duas situaes podem ser observadas:
Caso A: O domnio no lado convexo das isgiras exibe a subtrao (amarelo-laranja de
primeira ordem prximo ao melatpo), enquanto no lado cncavo o domnio mostra a adio
(azul de segunda ordem prximo ao melatpo). A bissetriz aguda corresponde a Z, de modo
que o sinal ptico do mineral positivo (Fig. 4-54, exemplo aragonita).
Caso B: O domnio no lado convexo das isgiras exibe a adio (azul de segunda ordem
prximo ao melatpo), enquanto no lado cncavo o domnio mostra a subtrao (amarelolaranja de primeira ordem prximo ao melatpo). A bissetriz aguda corresponde a X, de modo
que o sinal ptico do mineral negativo (Fig. 4-54, exemplo muscovita).
Figura 4-54. Determinao do sinal ptico de um cristal biaxial.

O sinal tico pode ser determinado em sees perpendiculares bissetriz aguda ou a um dos eixos pticos.
A distino entre o sinal ptico positivo ou negativo feita pela observao do fenmeno de adio ou
subtrao, ocasionado com a insero da placa auxiliar vermelho de primeira ordem. As isgiras da mica
exibem aureolas azuis distintas no lado cncavo, decorrentes da disperso dos eixos pticos.
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Ao estudar minerais com alta birrefringncia, aconselhvel o uso da cunha de quartzo em vez da
placa vermelho de primeira ordem. Quando a cunha de quartzo inserida, as linhas isocromticas
nos quatro quadrantes migram de modo caracterstico (Fig. 4-55).
Figura 4-55. Determinao do sinal ptico de minerais anisotrpicos.
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4.2.5.5 Conselhos prticos para observao no modo conoscpico

Os gros de minerais a serem investigados no modo conoscpico devem ter requisitos
especficos:
a. O mineral deve ocupar completamente o campo de viso ao utilizar uma objetiva de grande
aumento (Mo = 40x, 50x, 63x ou 100x de imerso em leo), com grande abertura numrica (>
0,6).
b. A poro observada do mineral no deve estar geminada (maclas) nem mostrar exsoluo
de fases, ou tampouco efeitos de alterao.
c. O gro mineral dever ter a orientao adequada.
O procedimento para obter a figura de interferncia realizado como segue:
a. Coloque o gro mineral no centro dos fios do retculo da ocular, utilize objetiva de grande
aumento (40x no mnimo), e obtenha o foco.
b. Abra todos os diafragmas localizados abaixo da platina do microscpio.
c. Mova o condensador para sua posio mais elevada, e coloque a lente auxiliar do
condensador no caminho da luz.
d. Insira o analisador no caminho da luz. Observe a figura de interferncia diretamente no
tubo ocular, com auxlio de um diafragma fixo (pinhole) ao retirar uma das oculares, ou
ento, insira a lente Amici-Bertrand e observe a imagem ampliada pela ocular. Em alguns
modelos de microscpio, possvel centrar e focalizar separadamente a lente Amici Bertrand,
o que importante em trabalhos de quantificao.
e. Alguns modelos de microscpios so equipados com um diafragma superior associado

lente Amici-Bertrand, que possibilita reduzir ou eliminar a periferia ao redor de um gro
mineral quando esse muito pequeno e no ocupa todo o campo de observao. Quando no
existe lente Amici-Bertrand com diafragma superior, possvel obter uma figura de
interferncia bem definida utilizando o diafragma fixo (pinhole) no local da ocular.
Os minerais fortemente coloridos podem acarretar problemas na determinao do sinal
ptico, quando a placa vermelho de primeira ordem utilizada. Neste caso, recomendada a
compensao com a cunha de quartzo, que permite observar o movimento das linhas
isocromticas.
Guia de Microscopia
Mtodos conoscpicos
Figura 4-56. Figuras de interferncia de minerais selecionados, vistas com iluminao conoscpica em sees de gros perpendiculares ao eixo ptico ou bissetriz aguda. Lado esquerdo:
figura de interferncia sem compensador; lado direito: com a placa auxiliar vermelho de 1 ordem
inserida.
Guia de Microscopia
Rotina sistemtica para determinao do mineral
5. Rotina sistemtica para determinao do mineral

Observaes em luz plano-polarizada LPP (sem analisador)
Cor do mineral
Refrao da luz
Tonalidade e
intensidade da cor,
Distribuio da cor,
Pleocrosmo
Cap. 4.2.1
Relevo, chagrin,
Linha de Becke:
ndice de refrao n
Cap. 4.2.2
Caractersticas
morfolgicas
Forma do gro, maclas,
Fraturas, clivagem,
Zonao, incluses
Decomposio e alterao
Cap. 3.1 3.4
Pleocrosmo, variao no relevo/chagrin = minerais

anisotrpicos (no cbicos)
Observaes em luz com polarizadores cruzados - LPX

Seo do mineral permanece extinta ao girar a platina
b. Mineral anisotrpico:
Seo ao eixo ptico
Exibe figura de interferncia com eixo ptico
centrado, uniaxial ou biaxial; Ch 4.2.5
Minerais no cbicos
a. Mineral isotrpico
No exibe figura de interferncia
com eixo ptico centrado
Vidros; minerais cbicos
Seo do mineral com posio de extino e no-extino, ao girar a platina = anisotrpico
Cor de interferncia
baixa, alta
normal ou anmala
Cap. 4.2.3
Feies morfolgicas
Maclas e intercrescimentos;
Subgros, extino ondulante;
Zonao, desmistura;
Cruzes de Brewster em esferulitos
Cap. 3.3, 3.4, 4.2.3
Sees com cor de

interferncia mxima
Sees com cor de

interferncia baixa
birrefringncia
Cap. 4.2.3
a. opticamente uniaxiais, sinal ptico

Sees ao eixo ptico
b. opticamente biaxiais, sinal ptico

Sees bissetriz aguda, ou ao eixo ptico
Cap. 4.2.5
Extino
ortorrmbico
monoclnico
reta
simtrica
inclinada
hexagonal
trigonal
tetragonal
triclnico
Sinal de elongao: l (+), l (-)

Cap. 4.2.4
ngulo de extino:
Cap. 4.2.4

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GUIA

PARA MICROSCOPIA DE MINERAIS

MARIA DO CARMO GASTAL

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

ISBN 978-3-00-046279-5 (PDF)

Guia para Microscopia

1.1.3 O Microscpio composto.........................................................................................................................................................3-6

1.7 Resoluo de problemas

Guia para Microscopia

4.2.3 Dupla refrao (extino e cores de interferncia)....................................................................79-98

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

5. Rotina sistemtica para determinao mineral..........................................................................................................................126

Guia para Microscopia

Prefcio da primeira verso em portugus

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Guia para Microscopia

Prefcio da segunda edio em ingls

Guia para Microscopia

Prefcio da primeira verso em ingls

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

A identificao dos minerais ao microscpio de luz polarizada fundamentado em

Michael M; Raith, Peter Raase & Jrgen Reinhardt

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Nota sobre a terminologia e abreviaturas adotadas neste livro

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Guia para Microscopia

1.1 A lente de aumento (ou lupa) e o microscpio

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Guia para Microscopia

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Figura 1-1. Formao da imagem do cristal por uma lente biconvexa.

Guia para Microscopia

1.1.2 Ampliao com a lupa (ocular)

Os valores de ML, gravados na armao da lupa, equivalem especificamente ao aumento que

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

1.1.3 O microscpio composto

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Guia para Microscopia

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Guia para Microscopia

Figura 1-3. Duas etapas para ampliao do cristal em um microscpio composto.

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Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Lentes biconvexas simples produzem imagens imperfeitas, distorcidas e com aberraes

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A abertura numrica (N.A. numerical aperture) de uma objetiva a medida da quantidade

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A abertura numrica da objetiva e, portanto, sua resoluo podem ser melhoradas ao

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Tabela 1. Caractersticas de objetivas e oculares de alguns fabricantes.

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CFI CM com retculo

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1.2.3 Tubo, objetiva e ocular

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

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1.3.1 Abertura da iluminao

Raith, Raase & Reinhardt Maio 2014

Um mtodo especial de iluminao, que possibilita condies timas de iluminao e de resoluo