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Syynntthhssee
LES CARTES DE
CONTROLES
QUALITE
S53. Contrle de la qualit
Capacits
Raliser des cartes de contrle
Comptences
C34 Contrler la production
PLAN DE LETUDE
1
INTRODUCTION
2.1
2.2
Mise en place
LES OUTILS
3.1
Outils danalyse
3.1.1
Diagramme ISHIKAWA ou diagramme CAUSES-EFFET
3.1.2
La loi de PARETO ( Loi des 80/20 OU Diagramme ABC)
3
3
4
3.2
Outils de suivi de production
3.2.1
Les plans de contrle(NFX 06-22)
4
4
LE SPC
5.1
Objectifs
5.2
Principe de fonctionnement
5.3
Analyse
aaarrr
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MA
A
cccaaarrrttteeesssdddeee
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Prroodduuccttiiqquuee
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Calculs
1 Introduction
Toute entreprise souhaite, bien entendu, produire la quantit quil faut ( pas de stock), ,
au moment il faut (pas de dlai), sans dfaut, sans panne ni accident et au moindre cot.
Pour arriver cet objectif, il faut essayer de supprimer les gaspillages. Les Japonais sont les
premiers lavoir compris. Leur approche sarticule autour de laugmentation de
la__________
____________ leur produit.
2.2
Mise en place
Afin damliorer la qualit, on peut agir de 2 faons.
La premire consiste surveiller le processus de fabrication, et dintervenir lorsque
un dysfonctionnement se produit ( drglage, bris doutil, etc..).
La seconde est dagir en amont. On cherche comprendre quelles sont les causes des
dysfonctionnements afin dy remdier.
Les outils de la qualit vont donc tre de 2 ordres :
* Les outils danalyse :
On tudiera :
* le diagramme cause - effet
* le diagramme Pareto.
* Les outils de suivi de production :
On tudiera :
* les plans de contrles
* la mthode SPC.
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3 Les outils
3.1 Outils danalyse
3.1.1 Diagramme ISHIKAWA ou diagramme CAUSES-EFFET
___________________________________________________________________________
__________________________________________________________________________.
1re tape : On dfinit avec prcision LEFFET.
2me tape : On recherche lensemble des causes possibles qui peuvent produire leffet. Cette
recherche est fate par un BRAINSTORMING (remue-mninges).
3me tape : On assemble les diffrentes causes par familles.
4me tape : On construit le diagramme
1
1
2
EFFET
2
1
2
1
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Valeur
9
8
87
3
7
45
2
14
12
Elment
valeur
N ordre
1
2
3
4
5
6
7
8
9
Cumul %
S=
100,00
90,00
80,00
70,00
60,00
50,00
40,00
30,00
20,00
10,00
0,00
10,00
0,00
1
3.2
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OUI
Pn>Pa
NON
ACCEPTER LE LOT
REJETER LE LOT
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4 LE SPC
SPC :
Par mesurage
Par contrle
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Objectifs
Elles permettent le suivi de la production en donnant une image du droulement de la
fabrication.
On peut alors intervenir et limiter, voire supprimer, le nombre de pices dfectueuses.
5.2
Principe de fonctionnement
Pour suivre lvolution du procd, des chantillons sont effectus rgulirement.
Pour chaque chantillons, on calcule la moyenne, et ltendue. Ces valeurs sont alors
portes sur un graphique. Au fur et mesure, on remplit la carte qui donne alors une
visualisation de lvolution du processus. Des limites de contrles(99,8%) et de
surveillances(95%) sont mises en place pour savoir si lvolution est correcte. De plus,
un journal de bord rpertorie tous les vnements permettant un analyse par la suite.
Les limites de contrle sont choisies telles que 99,8% des moyennes soient entre
-3,09 et +3,09 . Cela reprsente 2 chances sur 1000 pour quune moyenne soit hors de ces limites.
Les limites de surveillances sont choisies telles que95% des moyennes soient entre
-1,96 et +1,96 . Cela reprsente 5 chances sur 100 pour quune moyenne soit hors de ces limites.
5.3
Analyse
1er cas : La valeur de la carte est entre Lsi ( Lc infrieure) et Lss (Ls suprieure). Le
processus produit des pices bonnes .
2me cas : La valeur de la carte est entre Lci et Lci , ou entre Lss et Lcs. Il faut alors
reprendre u n chantillon pour confirmer si cest le processus qui est drgl, ou si c est
le lot de pice qui possde un dfaut. Si cela se confirme, il faut envisager un rglage :
sinon on poursuit le processus
3me cas : La valeur de la carte est infrieure Lci ou suprieure Lcs. Le processus
est drgl. Une action corrective simpose
5.4
Calculs
( X 1 + X 2 + ... X n )
n
W = ( X m a x X m in )
__
X 1 + X 2 + .. X m
m
W 1 + W 2 + . .W m
W =
m
X =
X =
X reprsenta la ______
W reprsente ________
n est la taille des chantillons
Lc reprsente la limite de contrle
Ls reprsente la limite de surveillance
.
X reprsente la moyenne des moyenne
W reprsente la moyenne des tendue
m est le nombre dchantillons
Lc = X Ac.W
Lc = D c . W
Ls = X As.W
Ls = D s. W
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