Norma 45

Mtodos de prueba estndar para determinar el contenido Inclusin de Steel1
sta norma ha sido publicada bajo la designacin fija E 45; el nmero

inmediatamente siguiente a la designacin indica el ao de adopcin original o,
en el caso de revisin, el ao de la ltima revisin. Un nmero entre parntesis
indica el ao de la ltima reaprobacin. Una psilon superndice (e) indica un
cambio editorial desde la ltima revisin o reaprobacin.
1. OBJETO 1.1 Estos mtodos de prueba abarcan una serie de
procedimientos reconocidos para la determinacin del contenido de
inclusiones no metlicas de acero forjado. Mtodos macroscpicos
incluyen macroetch, fractura, de bajada, y las pruebas de partculas
magnticas. Mtodos microscpicos incluyen cinco sistemas
generalmente aceptados de examen. En estos mtodos microscpicos,
inclusiones son asignados a una categora basada en las similitudes en
la morfologa, y no necesariamente en su identidad qumica. Nicas
metalogrficos nologa que permiten sencilla diferenciacin entre
morfolgicos inclusiones camente similares son brevemente discutidos.
Mientras que los mtodos estn destinados principalmente a inclusiones
de calificacin, los componentes tales como carburos, nitruros,
carbonitruros, boruros y fases tallic intermediarios pueden ser
clasificados usando algunos de los mtodos microscpicos. En algunos
casos, las aleaciones de otros que los aceros pueden estar clasificados
utilizando uno o ms de estos mtodos; los mtodos se describen en
trminos de su uso en los aceros. 1.2 Esta prctica cubre los
procedimientos para llevar a cabo de tipo JK calificaciones de inclusin
mediante el anlisis automtico de la imagen de acuerdo con mtodos
microscpicos A y D. 1.3 Dependiendo del tipo de acero y las
propiedades requeridas, ya sea un macroscpica o microscpica un
mtodo para la determinacin del contenido de inclusiones, o
combinaciones de los dos mtodos, se pueden encontrar ms
satisfactoria. 1.4 Estos mtodos de ensayo se ocupan slo de los
mtodos de prueba recomendados y nada en ellos deben interpretarse
como la de fi nicin o el establecimiento de lmites de aceptabilidad para
cualquier tipo de acero. 1.5 Los valores indicados en unidades SI deben
ser considerados como el estndar. Los valores entre parntesis son
conversiones y son AP- prxima. 1.6 Esta norma no pretende considerar
todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es
responsabilidad del usuario de esta norma establecer prcticas de
seguridad y salud apropiadas y determinar la aplicabilidad de las
limitaciones reglamentarias antes de su uso.
2. referecia
Documentos 2.1 Normas ASTM: 2 D 96 Mtodo de prueba para Agua y
Sedimentos en el petrleo crudo por Centrfuga Mtodo (Procedimiento
Field) Gua E3 para la preparacin de metalogrfico especmenes E7
Terminologa Relativa a Metalografa E 381 Mtodo de Bares Macroetch

Prueba de acero, palanquillas, tochos, y Piezas forjadas E 709 Gua para
Partculas Magnticas Examen E 768 Prctica para la Elaboracin y
Evaluacin de muestras para evaluacin Inclusin automtica de acero E
1245 Prctica para determinar la inclusin o la Segunda Fase contenido
Constituyente de Metales por Automatic Image Anli- sis E 1.444
Prcticas para Partculas Magnticas Examen E 1951 Gua para Calibrar
Retculas y alcance Luz Micro Magni fi caciones 2,2 SAE Normas: 3 J422,
Prctica recomendada para Determinacin de inclusiones en acero 2.3
Aeroespacial material especi fi caciones: 3 AMS 2300 Premium AircraftCalidad Acero Limpieza: Magnetic Inspeccin de Partculas Procedimiento
AMS 2301 , Aviones Calidad Acero Limpieza: Magnetic Inspeccin de
Partculas Procedimiento AMS 2303, Aviones Calidad Acero Limpieza:
Aceros resistentes a la corrosin martensticos magntica Inspeccin de
Partculas Procedimiento AMS 2304, Aviones-Calidad Acero Limpieza
Especial: Procedimiento de Inspeccin de Partculas Magnticas Normas
2.4 ISO: 4 ISO 3763, forjado Aceros-macroscpicas mtodos para evaAsam- el contenido de la Inclusin no metlicos
ISO 4967, Acero-Determinacin del contenido de mtodos no metlicos
Inclusiones-microgrficos Usando gramos Estndar dia- 2.5 ASTM
Adjuntos: inclusiones en acero placas Ir y II5 Cuatro microfotografas de
acero de bajo carbono
3. Terminologa 3.1 De fi niciones: 3.1.1 Para de fi niciones de los
trminos utilizados en esta prctica, ver Terminologa E7. 3.1.2
Terminologa E7 incluye el recuento de inclusin plazo; ya que algunos
mtodos de estos mtodos de ensayo implican mediciones de longitud o
conversiones a las representaciones numricas de longitudes o
recuentos, o ambos, se prefiere la calificacin de inclusin plazo. 3.2 De
fi niciones de trminos espec fi co de este estndar: 3.2.1 Relacin de
aspecto: la relacin entre longitud y anchura de una caracterstica
estructural micro. 3.2.2 inclusiones de soporte de tres o ms Tipo B o C
discontinuas alineadas en un plano paralelo al eje de trabajo en caliente
y compensados por no ms de 15 m, con una separacin de menos de
40 micras (0.0016 pulg.) Entre cualquiera de dos ms cercana vecino
inclusin siones. 3.2.3 tipos de inclusin de fi niciones de sulfuro de-,
almina, y las inclusiones de tipo silicato, consulte Terminologa E 7.
xido globular, en algunos mtodos se refiere a aislados, inclusiones
formadas relativamente no destructiva con una relacin de aspecto no
superior a 2 : 1. En otros mtodos, los xidos se dividen en tipos
conformables deformables y no destructiva. 3.2.4 JK calificacin, una
inclusin mtodo para medir las inclusiones tallic nonme- basado en los
procedimientos sueca Jernkontoret; Mtodos A y D de estos mtodos de
prueba son los principales mtodos de calificacin JK y Mtodo E
tambin utiliza las tablas de calificacin JK. 3.2.5-zancas una inclusin
individuo que est altamente alargada en la direccin de deformacin o

tres o ms Tipo B o C inclusiones alineados en un plano paralelo al eje de
trabajo en caliente y compensado por no ms de 15 m, con una
separacin de menos de 40 micras (0,0016 pulg.) entre dos inclusiones
de vecinos ms cercanos. 3.2.6 umbral de creacin aislamiento de una
gama de valores de nivel de gris exhibidas por un constituyente en el
campo del microscopio fi. 3.2.7 del peor campo calificacin en una
clasificacin en la que la muestra tiene una clasificacin para cada tipo
de inclusin asignando el valor de la calificacin ms alta gravedad
observada de ese tipo de inclusin en cualquier lugar de la superficie de
la muestra.
4. significacin Y USO 4.1 Estos mtodos de ensayo cubren cuatro
macroscpica y cinco mtodos microscpicos de prueba (anlisis manual
y la imagen) para describir el contenido de inclusiones del acero y los
procedimientos para expresar los resultados de las pruebas. 4.2
Inclusiones se caracterizan por el tamao, forma, concentracin y
distribucin en lugar de la composicin qumica. Aunque las
composiciones se clasi fi cacin no, mtodos microscpicos
lugar inclusiones en una de las diversas categoras relacionadas
composicin (sulfuros, xidos y silicatos, el ltimo como un tipo de
xido). El apartado 12.2.1 describe una tcnica metalogrfico para
facilitar la discriminacin inclusin. Slo las inclusiones presentes en la
superficie de prueba se pueden detectar. 4.3 Los mtodos de ensayo
macroscpicas evaluar reas de superficie ms grandes que los mtodos
de prueba microscpicas y porque el examen es visual o al fi caciones
magni bajos, estos mtodos son los ms adecuados para la deteccin de
inclusiones ms grandes. Macroscpicas mtodos no son adecuados
para la deteccin de inclusiones ms pequeas que aproximadamente
0,40 mm (1/64 pulg.) De longitud y los mtodos no discriminan
inclusiones por tipo. 4.4 Los mtodos de ensayo microscpicas se
emplean para caracterizar las inclusiones que se forman como resultado
de la desoxidacin o debido a la solubilidad limitada en acero slido
(inclusiones indgenas). Estas inclusiones se caracterizan por tipo
morfolgico, es decir, por tamao, forma, concentracin y distribucin,
pero no especficamente por la composicin. Los mtodos microscpicos
no estn diseados para evaluar el contenido de inclusiones exgenas
(aquellos de la escoria atrapado o refractarios). 4.5 Debido a que la
poblacin de la inclusin en un lote determinado de acero vara con la
posicin, el lote debe incluirse en la muestra estadsticamente con el fin
de evaluar su contenido de la inclusin. El grado de muestreo debe ser
adecuada para el tamao del lote y sus caractersticas especficas. Los
materiales con contenidos muy bajos de inclusin pueden ser
clasificados con ms precisin mediante el anlisis automtico de
imgenes, lo que permite clasificaciones microscpicas ms precisos. 4.6
Resultados de los mtodos de prueba macroscpicas y microscpicas se

pueden utilizar para calificar el material para el envo, pero estos
mtodos de ensayo no proporcionan directrices para los propsitos de
aceptacin o rechazo. Criterios de cali fi cacin para la evaluacin de los
datos desarrollados por estos mtodos se pueden encontrar en las
normas de producto ASTM o pueden ser descritos por el compradorproductor acuerdos. Por acuerdos entre productor y comprador, esta
prctica puede ser modi fi cado a contar slo ciertos tipos de inclusin y
espesores, o slo las inclusiones por encima de cierto nivel de gravedad,
o ambos. Tambin, mediante acuerdo, las prcticas cualitativas se
pueden usar en el que slo las ms altas calificaciones de gravedad para
cada tipo de inclusin y el espesor se de fi nen o el nmero de campos
que contienen estas altas clasificaciones de gravedad se tabulan. 4.7
Estos mtodos de ensayo estn destinadas para su uso en estructuras
metlicas forjado. Mientras que un nivel mnimo de deformacin no es
especi fi cado, los mtodos de prueba no son adecuados para su uso en
estructuras de fundicin o estructuras sobre trabajadas a la ligera. 4.8
Se proporcionan directrices para evaluar las inclusiones en aceros
tratados con adiciones de tierras raras o compuestos de calcio que
devengan. Cuando se evalan estos aceros, el informe de la prueba
debe describir la naturaleza de las inclusiones valorados de acuerdo a
cada categora de inclusin (A, B, C, D). 4.9 Adems de las Prcticas E 45
clasificaciones de JK, bsicos (tal como se utiliza en la prctica E 1245)
estereolgico mediciones (por ejemplo, la fraccin de volumen de
sulfuros y xidos, el nmero de sulfuros u xidos por milmetro cuadrado,
el espacio entre las inclusiones, etc.) pueden determinarse por separado
y se aade al informe de la prueba, si se desea, para obtener
informacin adicional. Esta prctica, sin embargo, no aborda la medicin
de dichos parmetros.
MTODOS MACROSCPICOS
5. Prueba de macroscpico Mtodos Descripcin 5.1 Resumen: 5.1.1
Test-El Macro-etch prueba de macro-etch se utiliza para indicar el
contenido de la inclusin y distribucin, por lo general en la seccin
transversal o transversal a la direccin de laminado o forja. En algunos
casos, tambin se examinan secciones longitudinales. Las pruebas se
prepararon cortando y mecanizado de una seccin a travs de la zona
deseada y el grabado con un reactivo adecuado. Una solucin de cido
clorhdrico una parte, y una parte de agua a una temperatura del 71 a
82 C (160 a 180 F) se utiliza ampliamente. Como el nombre de esta
prueba implica, la superficie grabada se examina visualmente oa bajo
ampli fi cacin de inclusiones. Los detalles de esta prueba se incluyen en
el Mtodo E 381. La naturaleza de las indicaciones dudosas debe ser veri
fi cado por el examen microscpico u otros medios de inspeccin. 5.1.1.1
sulfuros se revelan como pozos cuando se utiliza el reactivo de ataque
estndar descrito en 5.1.1. 5.1.1.2 Slo grandes xidos son reveladas

por este mtodo de ensayo. 5.1.2-Test Fractura Fractura se utiliza para
determinar la presencia y localizacin de las inclusiones como se
muestra en la fractura de las rebanadas endurecidos de
aproximadamente 9 a 13 mm (3/8 a 1/2 pulg.) De espesor. Esta prueba
se utiliza sobre todo para los aceros en los que es posible obtener una
dureza de aproximadamente 60 HRC y un tamao de grano de la
fractura de 7 o fi ner. Las muestras de ensayo no deben tener muescas o
ranuras que guan la fractura externos excesivos. Es deseable que la
fractura sea en la direccin longitudinal aproximadamente a travs del
centro de la rodaja. Las superficies fracturadas se examinan visualmente
y al fi caciones Magni hasta aproximadamente diez dimetros, y la
longitud y distribucin de inclusiones se observa. Teido de calor, o
azulado, aumentar la visibilidad de los largueros de xido. ISO 3763
proporciona un mtodo grfico para la superficie de fractura
clasificaciones de inclusin. En algunas posturas in-, se registran
indicaciones tan pequeas como 0.40 mm (1/64 pulg.) De longitud. 5.1.3
Mtodo mtodo de ensayo-El paso hacia abajo Paso-Down se utiliza para
determinar la presencia de inclusiones en las superficies mecanizadas de
acero laminado o forjado. La muestra de ensayo se mecaniza para
dimetros especi fi cados por debajo de la superficie y supervisado por
inclusiones bajo una buena iluminacin a simple vista o con baja ampli fi
cacin. En algunos casos, las muestras de ensayo se mecanizan a los
dimetros ms pequeos para un examen ms detenido despus de que
los dimetros originales son inspeccionados. Esta prueba se utiliza
esencialmente para determinar la presencia de inclusiones 3 mm (1/8
pulg.) De largo y ms largo. 5.1.4-El Mtodo mtodo magntico de
partculas magnticas de partculas es una variacin del mtodo de
bajada para ferromag- materiales nticos en la que se mecaniza la
muestra de ensayo, magnesita Tized, y se aplica polvo magntico. Las
discontinuidades tan pequeas como 0.40 mm (1/64 pulg.) De longitud
crean campos magnticos de fuga que atraen el polvo magntico,
destacando as la inclusin. Ver Prctica E 1444 y la Gua E 709 en los
exmenes de partculas magnticas para ms detalles del
procedimiento. Consulte especi fi caciones materiales aeroespaciales
AMS 2300, AMS 2301, AMS 2303 y AMS 2304. 5.2 Ventajas: 5.2.1 Estos
mtodos de ensayo facilitar el examen de los especmenes con grandes
superficies. Las inclusiones ms grandes en el acero,
que son la principal preocupacin en la mayora de los casos, no estn
distribuidos de manera uniforme y los espacios entre ellos son
relativamente grandes, por lo que las posibilidades de revelar ellos son
mejores cuando se examinan los especmenes ms grandes. 5.2.2 Las
muestras para el examen macroscpico se pueden preparar
rpidamente por mecanizado y la superficie grinding.Ahighly pulido no
es necesario. Los mtodos macroscpicos son suficientemente sensibles

para revelar las inclusiones ms grandes. 5.3 Desventajas: 5.3.1 Estos
mtodos de ensayo no distinguen entre las diferentes formas de
inclusin. 5.3.2 No son adecuados para la deteccin de pequeas
inclusiones globulares o de las cadenas de ne muy fi inclusiones
alargadas. 5.3.3 El mtodo de partculas magnticas puede conducir a la
interpretacin incorrecta de las caractersticas microestructurales tales
como rayas de austenita retenida, microsegregacin o carburos en
ciertas aleaciones; Esto es particularmente probable si se emplean
corrientes de alta magnetizacin.
Mtodos microscpicos
6. Mtodos de prueba microscpica Descripcin general 6.1 mtodos
microscpicos se utilizan para caracterizar el tamao, la distribucin, el
nmero y tipo de inclusiones en una superficie de la muestra pulida. Esto
se puede hacer mediante el examen de los espcimen con un
microscopio de luz y reportar los tipos de inclusiones encontradas,
acompaados por unos microfotografas representativas. Este mtodo,
sin embargo, no se presta a un estilo de presentacin de informes
uniforme. Por lo tanto, las cartas de referencia estndar que representan
una serie de inclusin tpica con fi guraciones (tamao, tipo y nmero)
se crearon para la comparacin directa con el campo microscpico de
vista. Un mtodo mediante el anlisis de imagen para hacer estas
comparaciones tambin se ha desarrollado. 6.2 Varios grficos de
referencia de esta naturaleza han sido de- VISED como el chart7 JK y la
tabla SAE que se encuentra en la prctica recomendada SAE J422 del
Manual SAE. Los mtodos microscpicos en Mtodos de Prueba E 45 uso
re fi nida com- comparacin grficos basados en estas cartas. Mtodo A
(peor Fields), mtodo D (bajo contenido de inclusin) y Mtodo E (Rating
SAM) utilizan grficos basados en la carta JK mientras Mtodo C (xidos
y silicatos) utiliza la tabla SAE. ISO Standard 4967 tambin utiliza la
tabla de JK. 6.3 No hay grfico puede representar todos los diversos tipos
y formas de inclusiones. El uso de cualquier grfico queda as limitada a
determinar el contenido de los tipos ms comunes de inclusiones, y
debe tenerse en cuenta que tal determinacin no es un estudio
metalogrfico completa de las inclusiones. 6.4 Una alternativa a la
comparacin (grfico) mtodos tales como los mtodos A, C y D8
pueden ser encontrados en el Mtodo B. Mtodo B (longitud) se utiliza
para determinar el contenido de inclusin basado en longitud. Slo
inclusiones 0,127 mm (0,005 pulg.) O ms se registran
independientemente de su tipo. A partir de este mtodo uno puede
obtener datos tales como la longitud de la inclusin ms larga y la
longitud promedio de la inclusin. Adems, microfotografas Tambin se
pueden tomar para caracterizar las inclusiones de fondo que no eran lo
suficientemente largo para medir. 6.5 Las ventajas de los mtodos
microscpicos son: 6.5.1 Las inclusiones pueden ser caracterizados en

cuanto a su tamao, tipo y nmero. 6.5.2 Extremadamente pequeas
inclusiones pueden ser revelados. 6.6 Una desventaja de los mtodos
microscpicos es que los campos habilitacin FI individuales son muy
pequeas (0,50 mm2). Esto limita el tamao prctico de la muestra, ya
que simplemente tomar un nmero prohibitivo de campos para
caracterizar un gran espcimen. El resultado obtenido por una
caracterizacin microscpica de las inclusiones en una gran parte se rige
por casualidad si las variaciones locales en la distribucin de inclusin
son sustanciales. El uso final del producto determina la importancia de
los resultados microscpicos. La experiencia en la interpretacin de
estos resultados es necesario a fin de no exagerar la importancia de las
pequeas inclusiones en algunas aplicaciones. 6.7 Para determinar el
contenido de la inclusin, es importante darse cuenta de que, cualquiera
que sea el mtodo utilizado, el resultado en realidad slo se aplica a las
reas de las muestras que se examinaron. Por razones prcticas, tales
especmenes son relativamente pequeas en comparacin con la
cantidad total de acero representado por ellos. Para la determinacin de
la inclusin tiene ningn valor, muestreo adecuado es tan necesario
como un mtodo adecuado de las pruebas. 6,8 de acero a menudo
difiere en el contenido de la inclusin no slo de calor para calentar, sino
tambin de lingote a lingote en el mismo calor e incluso en diferentes
porciones de la misma lingote. Es esencial que el lote unidad de acero, el
contenido inclusin de que ha de ser determinada, no deber ser mayor
que uno calor. Muestras suficientes deben ser seleccionados para
representar a la gran cantidad adecuada. El procedimiento de muestreo
exacta debe ser incorporado en los requisitos de los productos
individuales o especi fi caciones. Para los productos semi terminado, las
muestras deben ser seleccionados despus de que el material ha sido
suficientemente cultivada y los descartes adecuados hecho. Si la
ubicacin de los diferentes lingotes y porciones de lingotes en el calor no
pueden ser identificados en el lote que se prueba, muestreo aleatorio
debe involucrar a un mayor nmero de muestras de ensayo para un
peso equivalente de acero. , Incluso si determinarse con precisin, no se
debe esperar un valor para el contenido inclusin de una pieza aislada
de acero para representar el contenido inclusin de todo el calor. 6.9 El
tamao y la forma del producto de acero forjado probado tiene una
marcada influencia en el tamao y forma de las inclusiones. Durante la
reduccin de la forma reparto por laminacin o forja, las inclusiones son
alargados y roto de acuerdo con el grado de reduccin de la seccin
transversal de acero. Al informar resultados de las determinaciones de
inclusin, por lo tanto, el tamao, la forma y mtodo de fabricacin del
acero a partir del cual se cortaron las muestras deben indicarse. Al
comparar el contenido de inclusin de diferentes aceros, todos ellos
deben ser laminados o forjados tan cerca como sea posible del mismo
tamao y forma, y de las secciones de fundicin de aproximadamente el
mismo tamao. Las muestras se utilizarn corte longitudinal o paralela a
la direccin de laminado o forja. 6.10 Puede ser conveniente, a fin de
obtener ms fcilmente resultados comparables, para forjar cupones de
tochos grandes. Estas secciones forjadas pueden entonces ser
muestreados de la misma manera como laminados
secciones. Tenga cuidado, sin embargo, para recortar las muestras de
longitud suficiente de las palanquillas para forja; de lo contrario, existe el
peligro de los extremos de corte-arrastrado ser incorporados en las
muestras. Dicho material distorsionada dar un resultado falso en la
determinacin de inclusin. Para evitar esto, es til ver los extremos de
la longitud tocho para forjar y tomar la muestra desde la mitad de la
longitud del forjado. 6.11 Varios de los mtodos descritos en estos
mtodos de ensayo requieren que un rea espec fi ca de la superficie
preparada de la muestra se encuest, y todas las inclusiones
significativas observ pueden grabar y expresadas en los resultados. El
resultado reportado para cada espcimen examinados es, por lo tanto,
una representacin ms precisa del contenido de la inclusin de una
micrografa foto- o diagrama. Una desventaja del enfoque Campo peor
es que no se obtiene dicha distribucin de las calificaciones de inclusin.
6.12 Para hacer posibles las comparaciones entre las diferentes
eliminatorias y las diferentes partes de los calores, los resultados se
expresarn de manera tal que un promedio del contenido de inclusin de
las diferentes muestras en el calor se puede obtener. Cuando se miden
las longitudes de las inclusiones, el nmero ms simple es que para la
longitud total de todas las inclusiones por rea examinada; sin embargo,
puede ser deseable no slo para agregar las longitudes sino tambin
para ponderar las inclusiones de acuerdo con sus longitudes
individuales. La longitud de la inclusin encontr ms grande y el
nmero total de inclusiones tambin se puede expresar.
7. Muestreo 7.1 Para obtener una estimacin razonable de las
variaciones de inclusin dentro de un lote, al menos seis lugares,
elegidos para ser tivo como representante de la gran cantidad de lo
posible, debe ser examinado. En este contexto, un lote ser de fi ne
como una unidad de material procesado en un tiempo y sometido a las
variables de proceso similares. En ningn caso ms de un calor en el
mismo lote. Por ejemplo, si una gran cantidad consiste en un calor,
lugares de muestreo podra ser en el producto obtenido a partir de la
parte superior e inferior de la primera, media y ltima lingotes utilizables
en la secuencia de vertido. Para barra colada o inferior vierten
procesamiento, un plan de muestreo similar por calor se debe invocar.
7.2 Para los casos en los que no se conoce una ubicacin de fi nida
dentro de un calor, lingote, u otro montn unidad, muestreo aleatorio
estadstica con un mayor nmero de especmenes deben emplearse. 7.3

Evaluacin de los obtenidos variarn con la cantidad de reduccin del
producto. Para materiales aceptacin o para la comparacin entre los
calores, se debe tener cuidado a la muestra en la etapa correcta de
procesamiento.
8. Prueba de muestras Geometra 8.1 La superficie pulida mnimo de una
muestra para la determinacin microscpica del contenido de
inclusiones es de 160 mm2 (0.25 pulg2). Se recomienda que un signi fi
cativamente rea grande se debe obtener por lo que las mediciones se
pueden hacer dentro de la zona de fi nida de distancia de los bordes de
la muestra. La superficie pulida debe ser paralelo al eje longitudinal del
producto. Adems, para-FL en productos laminados, la seccin tambin
ser perpendicular al plano de rodadura; para las rondas y formas
tubulares, la seccin ser en la direccin radial. En todos los casos, la
superficie pulida ser paralelo al trabajo en caliente
eje. Los estudios han demostrado que la longitud de la inclusin

mediciones son signi fi cativamente afectado si el plano de esmalte tiene
un ngulo de ms de 6 de la direccin9-trabajo caliente longitudinal
8.1.1 Secciones de menos de 0,71 mm de espesor se analizaron
mediante mtodos de prueba E 45. Seccin 8.2 Grueso (Seccin
producto Tamao Mayor que 9,5 mm (0,375 pulgadas) de espesor, como

la forja, Billet, Bar, Losa, de la Plata, y la pipa.): 8.2.1 Para los productos
de ancho, el punto a lo largo de una cuarta parte anchura producto se
usa frecuentemente para proporcionar material representativo. 8.2.2
Para las secciones redondas, la manera de cortar un espcimen de una
seccin de dimetro 38 mm (1,5 pulg.) Se muestra en la Fig. 3.A disco al
menos 12 mm (0.474 pulg.) De espesor se corta del producto. La seccin
cuarta se indica en la Fig. 3 se corta desde el disco y el rea sombreada
es pulido. As, el espcimen se extiende al menos 12 mm a lo largo de la
longitud del producto desde el exterior hacia el centro. 8.2.3 Para
grandes secciones, cada muestra se tomar de la ubicacin mediados de
radio, como se muestra por el rea sombreada en la Fig. 4. La cara
espcimen a pulir se extiende al menos 12 mm en paralelo al eje
longitudinal de la palanquilla y al menos 19 mm (0,75 in.) En el plano
radial longitudinal, con la cara pulida a medio camino entre el centro y el
exterior de la tocho. Este muestreo mitad se utiliza para disminuir el
nmero de
especmenes pulido y examinado. Otras reas, como el centro y la

superficie, se pueden examinar tambin, siempre que el procedimiento
de muestreo utilizado se indica en los resultados. Un tocho o bar
alrededor de 50 a 100 mm (2 a 4 pulg.) Redondo o cuadrado es el
tamao preferido de las que deben tomarse muestras; Sin embargo, los
tamaos ms grandes o ms pequeos se puede utilizar, siempre que el
producto tamaos son reportados con los resultados. 8.3 Secciones
delgadas (. De producto Seccin Tamaos 9,5 mm (0,375 pulgadas) o
menos; Strip, Lmina, varilla, alambre y tubos) de seccin transversal
muestras longitudinales -Full sern cortados de acuerdo con el siguiente
plan: 8.3.1 Para 0.95 a 9,5 mm (0,0375-0,375 pulg.) espesores de
seccin transversal inclusive, un nmero suficiente de piezas de un
mismo punto de muestreo se montan para proporcionar
aproximadamente 160 mm2 (0.25 pulg2) de superficie de la muestra
pulida. (Ejemplo:. Para una hoja de 1,27 mm (0,050 pulgadas) de
espesor, seleccione siete u ocho piezas longitudinales uniformemente en
toda la anchura de la hoja para proporcionar un espcimen). 8.3.2 Para

seccin transversal espesores inferiores a 0,95 mm, diez piezas
longitudinales de cada punto de muestreo debern estar montados para
proporcionar una superficie de la muestra adecuado para el pulido.
Dependiente del espesor del material y la longitud de pieza, la superficie
de la muestra pulida puede ser inferior a 160 mm2. Debido a dificultades
prcticas en el montaje de un grupo de ms de diez piezas, la superficie
de la muestra reducida se considerar suficiente.) Tenga en cuenta que
cuando se utilizan los procedimientos de comparacin de los mtodos a,
C, D y e, el espesor de la seccin transversal muestra de ensayo no debe
ser menor que la dimensin mnima de fi Ned de un nico campo de
vista. Por lo tanto, el espesor mnimo requerido es de 0,71 mm para los
Mtodos A, D, y E, y 0,79 mm para secciones ms delgadas Mtodo C.
estuviera calificada por otros medios.
9. Preparacin de las muestras 9.1 Mtodos de preparacin de la
muestra debe ser tal que un pulido, FL microscpicamente en la seccin
se logra con el fin de que los tamaos y formas de las inclusiones se
muestran con precisin. Para obtener calificaciones de inclusin
satisfactorios y consistentes, el espcimen debe tener una superficie
pulida libre de artefactos tales como picaduras, materiales extraos (por
ejemplo, medios de pulido) y rasguos. Al pulir la muestra es muy
importante que las inclusiones no se enfrentaron, arrastrados o
oscurecidos. Especmenes deben ser examinados en la condicin comopulido, libre de los efectos de cualquier grabado antes (si se utiliza). 9.2
preparacin del espcimen metalogrfico debe controlarse
cuidadosamente para producir superficies de calidad aceptables tanto
para el anlisis manual y de imagen. Directrices y recomendaciones se
dan en la prctica E3, Mtodos de Prueba E 45, y la Prctica E 768.
retencin 9.3 Inclusin es generalmente ms fcil de lograr en las
muestras de acero templado que en el estado recocido. Si la retencin
de la inclusin es insuficiente en las muestras recocidas, deben ser
sometidos a un ciclo de tratamiento trmico estndar con una
temperatura relativamente baja de templado. Despus del tratamiento
trmico, la muestra debe descalcificacin y el plano longitudinal deben
reafilan debajo de cualquier descarburacin. Esta recomendacin slo se
aplica a aceros tratables trmicamente. 9.4 Montaje de las muestras no
es necesario si los especmenes sin montar pueden ser adecuadamente
pulidos.
10. pautas de calibracin Calibracin y normalizacin 10,1
recomendados se pueden encontrar en la Gua E 1951. 10.2 Para el
anlisis de imagen, un micrmetro y una regla, tanto calibrado frente a
los dispositivos de trazabilidad a un laboratorio de normas nacionales
reconocidas, tales como el Instituto Nacional de Estndares y Tecnologa
(NIST), se utilizan para determinar la ampli fi cacin del sistema y
calibrar el sistema de acuerdo con el procedimiento recomendado por el

fabricante. Por ejemplo, el gobernante se superpone sobre la imagen,
magni fi cado del micrmetro en el monitor. La aparente (fi Magni)
distancia entre dos puntos conocidos en el micrmetro se mide con la
regla. La distancia fi cado Magni se divide por la distancia real de
determinar la magni fi cacin pantalla. Las dimensiones de los pxeles
pueden determinarse a partir del nmero de pxeles para una dimensin
horizontal o vertical conocida en el monitor. Divida la longitud conocida
de una escala o una mscara por el nmero de pxeles que representan
esa longitud en el monitor para determinar el tamao de pxel para cada
posible fi cacin magni pantalla. No todos los sistemas utilizan pxeles
cuadrados. Determina el
dimensiones de pxel en ambas orientaciones horizontales y verticales.
Compruebe el manual de instrucciones para determinar cmo se hacen
las correcciones para aquellos sistemas que no utilizan pxeles
cuadrados. 10.2.1 Siga las recomendaciones del fabricante en nismo de
ajuste de la fuente de luz del microscopio y ajuste el nivel correcto de
iluminacin para la cmara de vdeo de la televisin. Para sistemas con
256 niveles de gris, la iluminacin se ajusta generalmente hasta que la
superficie de la matriz como pulido est en el nivel 254 y negro est en
cero. 10.2.2 Para los analizadores de imagen modernas con 256 niveles
de gris, con la iluminacin de establecer como se describe en 10.2.1, por
lo general es posible determinar el fl re ectancia histograma de
inclusiones individuales como una ayuda en el establecimiento de
valores de umbral adecuados para discriminar entre los xidos y
sulfuros. xidos son ms oscuros y por lo general presentan niveles de
gris por debajo de aproximadamente 130 en la escala de gris, mientras
que el ms ligero sul fi des generalmente exhibir valores de entre
aproximadamente 130 y 195. Estos nmeros no son absolutos y variarn
algo para diferentes aceros y diferentes analizadores de imagen.
Despus de establecer los lmites de umbral para discriminar xidos y
sulfuros, utilice el mtodo icker fl de cambiar de ida y vuelta entre la
imagen de la inclusin en vivo y la imagen detectada (discriminado), a
travs de una serie de campos de prueba, para asegurarse de que la
configuracin es correcta, es decir, la deteccin de sulfuros u xidos por
tipo y tamao es correcto.
11. Clasificacin de las inclusiones y Clculo de Niveles de gravedad
11.1 En estos mtodos microscpicos, inclusiones se clasifican en cuatro
categoras (llamado Tipo) en funcin de su morfologa y dos
subcategoras en funcin de su anchura o dimetro. Categoras A-sulfuro
de Tipo B-Almina Tipo, C-silicato Tipo y D-globular fi ne Tipo xido de su
forma mientras que las categoras pesado y Thin describen su espesor.
Aunque las categoras contienen nombres qumicos que implican el
conocimiento de su contenido qumico, las calificaciones se basan
estrictamente en la morfologa. Los nombres qumicos asociados con los

diversos tipos se obtuvieron a partir de datos histricos recogidos en
inclusiones se encuentran en estas formas o morfologas. Las cuatro
categoras o tipos, se dividen en niveles de gravedad segn el nmero o
la longitud de las partculas presentes en un campo de 0,50 mm2 fi de
vista. Estos niveles de gravedad y tipos de inclusin se representan en la
Placa Ir y sus equivalentes numricos se encuentran en las Tablas 1 y 2.
11.1.1 Tipo A y C inclusiones son muy similares en tamao y forma. Por
lo tanto, la discriminacin entre estos tipos es ayudado por tcnicas
metalogrficas. Tipo A-sulfuro de son de color gris claro mientras que el
tipo C-silicato son de color negro cuando se observa bajo la iluminacin
brillante campo. La discriminacin entre estos tipos tambin puede ser
ayudado por ver las inclusiones cuestionables bajo campo oscuro o
iluminacin de polarizacin cruzada, donde adecuadamente pulidos
sulfuro de inclusiones son inclusiones oscuras y de silicato aparecen
luminiscente. 11.2 Los largueros de tipo B constan de un nmero (al
menos tres) de partculas redondas u xido angular con relaciones de
aspecto menores de 2 que estn alineadas casi paralelo al eje de
deformacin. Las partculas dentro de 615 m de la lnea central de una
de tipo B zancas se consideran como parte de ese Stringer. Los largueros
de tipo C-Silicato constan de uno o ms xidos altamente alargados con
superficies lisas alineados en paralelo al eje de deformacin. Relaciones
de aspecto son generalmente altos, $ 2. El mximo permitido
a separacin entre las partculas en una banda de 40 micras. Cualquier

xidos que tienen relaciones de aspecto <2, y no forman parte de una
banda de B o de tipo C, estn clasificados como D-tipos. Ninguna otra
restriccin forma es aplicable. 11.3 Despus de las inclusiones se
clasifican por tipo, deben ser clasificados por el espesor o dimetro.

Parmetros width Inclusin para clasi fi cacin en el Thin o categora
pesado
se enumeran en la Tabla 2. La inclusin cuya anchura vara de fino a
pesado a lo largo de su longitud deber ser colocado en la categora que
mejor representa su conjunto. Es decir, si hay ms de su longitud cae en
el rango de pesado, clasificarlo como pesado. Ver 11.8 para obtener
instrucciones sobre la presentacin de informes inclusiones que exceden
los lmites de la Tabla 1 o Tabla 2. 11.4 Las inclusiones ms delgado que
el mnimo de 2 micras enumerados en la Tabla 2 no son valorados. Es
decir, sus longitudes o nmeros no estn incluidos en la determinacin
de la Severidad. 11.5 Despus de clasi fi cacin por tipo y grosor, los
niveles de gravedad se determinan para las inclusiones dentro de 0,50
mm2 reas de prueba basados en el Tipo A total sulfuro de longitudes
por campo, el tipo B o C stringer total de longitudes por campo, y el
nmero de aislados D- escriba inclusiones por campo. Estos valores
pueden ser reportados de acuerdo a la longitud o el nmero en cada
0,50 mm2-fi eld o como la longitud por unidad de rea o nmero por
unidad de rea (mm2), pero las mediciones deben hacerse en contiguos
0,50 mm2 reas de prueba. Severidades se calculan sobre la base de los
lmites indicados en la Tabla 1. Tenga en cuenta que estos valores son la
longitud mnima o el nmero de cada clase. En general, los valores de
gravedad (calculado como se describe a continuacin) se redondean
hacia abajo hasta el entero ms cercano o media unidad. Para aceros
con contenidos especialmente bajos de inclusin, los valores de
severidad pueden ser redondeadas hasta el cuarto ms cercano o
dcimo valor, por acuerdo entre el productor y el comprador. Sin
embargo, debido a la forma D recuentos de inclusin se definen (por 1 la
inclusin, la gravedad es de 0,5 y de 0 inclusiones, la gravedad es 0), no
puede haber subdivisiones entre 0 y 0,5 severidades. 11.6 Clculo del
nmero de gravedad de tipo A, B y C inclusiones se basa en un grfico
log-log de los datos en la Tabla 1 en valores mnimos para la inclusin de
nmeros de calificacin (Mtodos A y D). Tales plots10 revelan una
relacin lineal entre el nmero de gravedad y el sulfuro de longitud total
mnima (tipo A) y el total de longitud mnima de larguero (tipos B y C)
por campo 0.50 mm2 para cada nivel de gravedad, como se muestra en
las figuras. 10-12. A menos cuadrados fi t a los datos de la Tabla 1 se ha
utilizado para producir las relaciones de la Tabla 6, que pueden ser
utilizados para calcular la gravedad de Tipo A, B, y C inclusiones, ya sea
delgadas o gruesas. El antilogaritmo se determina y se redondea hacia
abajo al valor medio-gravedad ms cercano. 11.7 Clculo de los nmeros
de gravedad para los xidos de tipo D se realiza en la misma manera
que para los tipos de inclusiones A, B, y c, salvo que el criterio es el
nmero de xidos en lugar de su longitud. Fig. 13 muestra un grfico log-
log de los datos en la Tabla 1. 11.8 Los campos que se muestran en la

placa Ir representan las longitudes totales de las inclusiones A, las
longitudes totales de soporte de B y C inclusiones, el nmero de
inclusiones D, y su respectiva limitacin anchuras o dimetros. Si ningn
inclusiones estn presentes que son ms largos que los campos que se
muestran en la placa de Ir, sus longitudes se registrarn por separado. Si
sus anchuras o dimetros son mayores que los valores lmites que se
muestran en la placa de Ir y la Tabla 2, se registrarn por separado.
Tenga en cuenta que un gran tamao A, B, o C
inclusin o la inclusin stringer todava contribuye a la determinacion de

la ONU campo Severidad Nmero Nivel de. Por lo del tanto, si la ONU A,
B, o C inclusin es de gran Tamano, ya mar es longitudinal o Espesor
Que PORCION Que esta Dentro de los Lmites de campo se incluir en el
Thin apropiado o Medicin de Nivel de gravedad pesado. Del Mismo
Modo, si SE Encuentra Una inclusin de Gran Tamao D en Campo de las
Naciones Unidas, tambin se includes en el recuento Que Determina la

calificacion pesada D. Para reference, ILUSTRACIONES de grandes
OXIDOS, globulares
aparecera en la parte inferior de la placa I-r. Un Tipo D xido globular no
podra exceed de una relacion de Aspecto de 2: 1. 11.9 xidos ubicados
en las puntas de tipo A-sulfuro de inclusiones se han valorado en Tipo D
globulares xidos Menos Que sean lo Suficientemente cerca Juntos para
satisfacer las Necesidades de la ONU tipo B-almina. 11.10 Las
inclusiones los indgenas en aceros desoxidados con Elementos de
tierras raras o Materiales Que contienen hijo tambin calcio clasi fi cado
por la morfologa y el espesor con el requisito adicional de que se dar
informacin sobre la composicin en el informe. Por ejemplo, las tierras
raras o de calcio modi fi cada sulfuros con una relacin de aspecto de $
2 se clasifican como A-tipos por su longitud total por fi eld de acuerdo a
los lmites de la Tabla 1 y los lmites de ancho de la tabla 2. Sin embargo,
para las relaciones de aspecto <2 y si no son parte de una banda, que
estn clasificados como D-tipos por su nmero por fi eld de acuerdo a los
lmites numricos de la Tabla 1 y los lmites de ancho de la Tabla 2. En
ambos casos, una descripcin general de su composicin debe ser
proporcionado para evitar confusiones. Debido a que son sulfuros con
una morfologa de tipo D, pueden ser referidos como DS. 11.11
inclusiones complejas, tales como oxysul fi des o dplex inclusiones,
tambin estn clasificados de acuerdo a su morfologa: si estn
Stringered o alargadas (para relaciones de aspecto $ 2) o aislados (no es
parte de una relacin larguero y aspecto <2); y luego por el espesor.
Partculas aisladas, globulares estn clasificados como D-tipos por su
grosor medio. Ds complejas pueden ser predominantemente (> 50% en
rea) sulfuros u xidos y deben ser identificados como tales. Por
ejemplo, si el rea de xido es mayor en un globular oxysul de fi, podra
ser llamado un tipo DOS. Partculas complejas Stringered son clasificados
por la relacin de aspecto de las partculas individuales; si <2, son los Btipos, si $ 2 son de tipo C o A- (separados por nivel de gris). Para esas
inclusiones complejas con relaciones de aspecto $ 2, que se clasifican
como A-tipos si ms del 50% de la superficie es sulfuro de y C-tipos si
ms del 50% de la superficie es el xido. Reporte la composicin, en
trminos generales, para evitar confusiones, e indicar la naturaleza de
las inclusiones, por ejemplo, "aluminatos de calcio globulares
encapsulados con una pelcula delgada de calcio-manganeso sulfuro de",
o "aluminatos irregulares parcial o totalmente integrados en manganeso
sulfuro de largueros. "11.12 Si los acuerdos productor-comprador limitan
el anlisis slo a ciertos tipos de inclusin, categoras de espesor, o
lmites de severidad, el esquema de la seccin 11 pueden ser modi fi
cado para analizar, medir y almacenar nicamente los datos de inters.
Tambin puede contener procedimientos para llevar a cabo bsica (ver
Prctica E 1245) mediciones estereolgicos para complementar analiza

el JK. Estas mediciones no estn cubiertos por esta prctica.
Mtodo 12. A (peor Fields) 11 12.1 Introduccin Este mtodo de prueba

manual requiere un estudio de unos 160 mm2 (0.25 pulg2) superficie
pulida de la muestra en 1003. El tamao de campo debe ser igual a una
superficie equivalente a 0,50 mm2 ( 0.000779 pulg2) en la superficie de
la muestra tal como se define por una plaza con 0,71 mm (0,02791
pulg.) lados largos (ver Fig. 5). Cada campo de 0,50 mm2 fi se compara
con los campos cuadrados representados en Placa Ir en una bsqueda
para el peor campo, es decir, la ms alta clasificacin de gravedad, de
cada tipo de insercin A, B, C, y D, tanto para el fino y la serie pesada. El
nivel de gravedad de estas peores campos se informar por cada
espcimen examinado. 12.2 Procedimiento Manual: 12.2.1 Cualquiera de
dos tcnicas se puede emplear para lograr un campo 0,50 mm2 fi de
vista. Un mtodo consiste en proyectar la imagen del microscopio 1003
en una pantalla de visualizacin que tiene una mscara cuadrada con
71,0 mm (2,79 in.) Lados dibujan en it.Another opcin es utilizar una
retcula hecho para el microscopio, que superponer la mscara cuadrada
requerida directamente en el campo de visin (ver Fig. 5). 12.2.2 Para
comenzar, contorno de la zona de ensayo requerida en la superficie de la
muestra utilizando un marcador indeleble o un escriba con punta de
carburo. Coloque la muestra en la platina del microscopio y comenzar el
examen con un campo en una de las esquinas del rea de prueba
inscrita. Compare esto fi eld a las imgenes en la placa I-r. Clasificar el
contenido de la inclusin del campo basado en las normas de la seccin
11 en relacin con el tipo y el grosor de las inclusiones presentes. Anote
el nivel de gravedad en nmero entero de 0 a 3.0 para cada tipo de

insercin (A, B, C y D) que ms se parece el campo bajo observacin.
(Vase el cuadro 1, si es necesario reportar los niveles de gravedad>
3.0). Para ello, tanto para el fino y la serie pesada. Es importante sealar
aqu que si un campo de inclusiones cae entre dos niveles de gravedad,
su valor se redondear al nivel de gravedad ms bajo. Por ejemplo,
cuando se utiliza la placa de Ir, un campo que contiene un menor
nmero de inclusiones, o menos de longitud inclusin de Nivel de
gravedad Nmero 1, se cuenta como un 0. 12.2.3 Mueva la platina del
microscopio para revelar un campo adyacente y repita el procedimiento
de comparacin. Contine este proceso hasta que la superficie pulida
requerido de la muestra se ha escaneado. Una configuracin tpica con fi
exploracin se muestra en la Fig. 6. Este mtodo requiere un ajuste de la
platina del microscopio para maximizar el nivel de gravedad de
inclusin. Es decir, el campo de visin se ajusta utilizando el microscopio
etapa controles, de modo que las inclusiones se mueven dentro de la
mscara cuadrada con el fin de localizar el peor campo. En la prctica, el
evaluador es en realidad escaneando la muestra y detenindose slo
cuando un potencial campo fi peor de cada tipo y espesor est a la vista.
12.3 Expresin Manual de Resultados: 12.3.1 Los promedios de los
peores campos para cada tipo de inclusin en todos los ejemplares del
lote se calcular de acuerdo con los nmeros Gravedad nivel dado a los
lados de la placa de Ir o Tabla 1. Un ejemplo que muestra los promedios
obtenidos para seis especmenes examinados se dan en la Tabla 4.
12.3.2 inclusiones de gran tamao con anchos o dimetros superiores a
los valores lmite indicados en la placa de Ir (y en la Tabla 2) se
registrarn por separado.
12.3.3 Si se desea, el tipo qumico predominante de inclusiones se

puede determinar y se registr como sulfuro de silicato u xido. Si las
tablas se utilizan para carburos o nitruros de tasas, la informacin de la
composicin qumica tambin puede determinarse e indicarse. Anlisis
12.4 Imagen Introduccin-Las inclusiones en la superficie de un
espcimen tan pulido metalogrfico son vistos con una alta calidad,
microscopio metalrgico preparado adecuadamente. La imagen de
campo luminosidad es captada por una cmara de televisin adecuado y
se transfiere a la pantalla de analizador de imgenes. Software de
anlisis de imagen se utiliza para evaluar el contenido de la inclusin del
material basado en el anlisis microscpico MethodsAand D. 12,5 Image
Procedimiento: 12.5.1 Coloque la muestra en la platina del microscopio
de manera que la superficie de la muestra es perpendicular al eje ptico.
Con un microscopio de tipo invertida, simplemente coloque el rostroespcimen
abajo en la placa de fase y mantener en su lugar con las abrazaderas de
la etapa. Con un microscopio de tipo vertical, coloque la muestra en un
portaobjetos y nivelar la superficie con arcilla o plastilina y una prensa
manual de nivelacin. Algunos microscopios verticales pueden ser
equipados con una etapa autonivelacin para especmenes montados. Si
la muestra debe estar nivelada con arcilla, el papel de seda colocado
entre la superficie de la muestra y la nivelacin de prensa ram puede
adherirse a la superficie y artefactos presentes para la medicin. En
algunos casos, el tejido adherente se pueden soplar fuera de la

superficie de la muestra. Un procedimiento alternativo para evitar este
problema es colocar un forma de anillo de aluminio o acero inoxidable,
que ha sido aplanada ligeramente en un tornillo de banco a una forma
ovalada, entre la muestra y el carnero. Si se mont la muestra, la forma
de anillo descansar slo en la superficie del material de montaje. Si la
muestra es sin montar pero con una superficie considerablemente mayor
que el rea de 160 mm2 requerida para la medicin, la forma de anillo
puede descansar en los bordes exteriores de la muestra para el
aplanamiento y por lo tanto evitar el contacto con la zona de medicin.
Alinear la muestra en el escenario de modo que las inclusiones estn
alineados en paralelo a la direccin x del movimiento en el escenario, es
decir, horizontal en la pantalla de monitor. Alternativamente, si la
programacin se facilita, alinee las inclusiones paralelas a la direccin Y
del movimiento en el escenario, es decir, la direccin longitudinal es
vertical en la pantalla del monitor. 12.5.2 Verifique la fuente de luz del
microscopio para la alineacin correcta y ajustar la iluminacin al nivel
requerido por la cmara de vdeo de la televisin. 12.5.3 Las inclusiones
se pueden examinar y discriminados por tipo usando fi caciones magni
distintos de 1003 y las zonas de campo distintos de 0,50 mm2, siempre
y cuando las mediciones de gravedad se basan en el 0,50 mm2-fi eld
rea requerida, si la imagen
analizador es capaz de una procedimiento.12 tales Si el sistema no

puede funcionar de esta manera, es decir, si las inclusiones en cada
campo deben ser discriminados por tipo, medida, y un nivel de gravedad
asignado sobre una base campo-campo subproductos fi, a continuacin,
la ampli fi cacin debe ser elegido de manera que el rea de campo es lo
ms cercano a 0,50 mm2 como
no signi fi cativamente la medida perjudicar possible.Adeviation de

menos de 60,05 mm2 de la zona de 0,50 mm2 requerido
resultados. El ampli fi cacin elegido debe producir un mximo factor de
calibracin de 1,3 micras en 1003. 12.5.4 Seleccionar los ajustes de
umbral de nivel de gris para permitir la deteccin independiente de
sulfuros y xidos (vase 10.2.2). 12.5.5 Cuando la deteccin de sulfuros,
una falsa imagen (llamado el efecto halo) se pueden detectar alrededor
de la periferia de xidos en el mismo campo. Este problema se puede
corregir mediante el uso de una funcin de auto-delineacin o por
aplicacin de algoritmos apropiados a la imagen binaria. Eleccin del
enfoque ms satisfactorio depende del sistema de anlisis de imagen
que se utiliza. 12.5.6 Establecer el escenario controles para mover la
muestra en un patrn cuadrado o rectangular con contigua alineacin
campo de manera que se examina un mnimo de 160 mm2 y evaluado.
Otras reas de medicin pueden ser utilizados en base a acuerdos
comprador productor
NOTA 1-Elige las ecuaciones para calcular la gravedad inclusin (tanto

delgado y pesado de la serie) sobre la base de la naturaleza de la
medida utilizada; todos los enfoques dan los mismos valores de
severidad. NOTA 2-Redondear el nmero gravedad hacia abajo hasta el
nivel medio-gravedad ms cercano (o, si se desea, para el valor de un
cuarto o un dcimo ms cercano). Para inclusiones de tipo D, porque
tenemos el recuento enteros solamente enteros, y 0.5 es la gravedad
para una inclusin en un campo (el campo tiene una superficie de 0,5
mm2), no puede haber un nivel de gravedad D de 0,25 o cualquier valor
de una dcima parte por debajo de 0.5, a excepcin de 0 si no hay
ratable presente Ds. NOTA 3 Para determinar el valor de la gravedad
usando las ecuaciones anteriores, llevar el registro (base 10) del valor
medido, se multiplica por el valor indicado, restar o aadir el valor
indicado, luego tomar el antilogaritmo y vueltas hacia abajo como se ha
descrito anteriormente.
12.5.7 Utilizar un programa informtico escrito anteriormente para
separar las imgenes de inclusin por tipo y grosor, luego calcular
severidades por la longitud o nmero en base a las normas que figuran
en la Seccin 12. El programa tambin debe guardar los resultados, los
movimientos de la etapa de control (si un etapa automatizado se utiliza),
y generar el informe de ensayo. 12.5.8 Si el ancho de un Un inclusin, o
una B o C Stringer, vara y se convierte en menos de 2 micras sobre una
parte de su longitud, detectar tanto de l como sea posible y calcular la
gravedad sobre la base de la longitud detectada. Para las muestras de
productos forjados con altos grados de reduccin, donde la mayora de
las inclusiones son <2 m de espesor, sobre la base de un acuerdo entre
productores y compradores, el espesor mnimo de la serie fina se puede
ajustar a un valor inferior, tales como 0,5 micras, o el lmite inferior se
puede quitar. La deteccin de estas inclusiones finas requerir el uso de
una mayor ampli fi cacin con un tamao resultante campo inferior a
0,50 mm2; por lo tanto, los datos de campo deben combinarse, como se
describe en 12.5.3, para obtener puntuaciones vlidos. 12.5.9 Una
matriz est establecido en la memoria de la computadora para tabular el
nmero de campos que fueron calificados de acuerdo con la fina y
lmites pesados de los cuatro tipos de inclusin para once posibles
niveles de gravedad de 0 a 5 en incrementos de medio nivel. Despus
de cada campo tiene y las severidades se calculan, los lugares de matriz
adecuados se incrementan para almacenar los resultados.
05.12.10 El uso de seleccionados al azar, campos contiguos alineados

puede no producir cierto peor campo (mtodo A) Las calificaciones.
Vlido peores calificaciones de campo requieren tecnologa de anlisis
avanzado de imgenes, por ejemplo, el uso de una mscara de 0,50
mm2 que se puede mover en cualquier lugar dentro del rea de prueba
de 160 mm2 utilizando un algoritmo que controla el movimiento de la
mscara mediante la maximizacin de los valores de gravedad. 05.12.11
Para obtener descripciones de inclusin cuantitativos, campos en blanco
(es decir, aquellos que no contienen inclusiones visibles de un tipo y
anchura en particular) puede ser diferenciada de campos no calificables
(es decir, campos con inclusiones # 2 micras de ancho, o con inclusin
longitudes o stringer longitudes por debajo del lmite mnimo de 0,5
severidad). 05/12/12 El programa debe incorporar procedimientos para
hacer frente a los campos que contienen artefactos, ya sea desde el
pulido o limpieza, o de polvo que se asienta sobre la muestra, y as
sucesivamente. La alineacin de tipo A, B y C inclusiones en muestras
obrados por lo general no se desviar en ms de 620 de la direccin
longitudinal. Dependiendo del sistema y la naturaleza del artefacto,
puede ser posible desarrollar un algoritmo que reconocer tales
artefactos y eliminarlos de la imagen binaria. Al restringir la orientacin
de las caractersticas detectadas dentro de este lmite, ciertos artefactos

(por ejemplo, rasguos profundos que no se retiran durante el pulido)
pueden ser reconocidos y eliminan de la imagen binaria, si su
orientacin es superior a este lmite. Si esto no se puede hacer, el
campo debe ser rechazable, es decir, no hay resultados de las pruebas
del campo debe ser almacenados. En tal caso, otro campo debe ser
analizado para reemplazar el campo rechazado, si esto es posible. Si un
campo rechazado no puede ser reemplazado en el mismo plazo, puede
ser posible para evaluar y calificar los campos adicionales que se
requieren en una ejecucin posterior (no calificara campos ya
nominales). Las buenas prcticas de preparacin minimizar la
necesidad de rechazar los campos con los artefactos. En ningn caso
deben los resultados de las pruebas para un rea de medicin de menos
de 160 mm2 ser matemticamente extrapolarse o convertidos (por
ejemplo, a causa de campos rechazados) en un esfuerzo para producir
datos para un rea de 160 mm2. 12,6 Image fines de anlisis Expresin
de los resultados: 12.6.1 El nmero de campos de cada tipo de inclusin
(A, B, C, y D) y el espesor (fino y grueso) son reportados para cada
gravedad de 0 a 5 en su totalidad o medio-severidad incrementos de
nivel. Para aceros con contenidos muy bajos de inclusin, severidades
pueden calcular a un cuarto o una dcima parte del nivel de gravedad
incrementos. Tenga en cuenta que para las inclusiones de tipo D, porque
una inclusin por campo es una severidad de 0,5, por definicin, no
puede haber niveles de D-gravedad entre 0 y 0,5. 12.6.2 Si se desea,
sobre la base de acuerdos entre productores y comprador, se pueden
hacer modi fi caciones de los datos declarados, por ejemplo, los informes
por slo ciertos tipos de inclusin, espesores, o valores de severidad.
Otros modi fi caciones pueden incluir slo la clasificacin de gravedad de
campo del peor o el nmero de campos en el campo de la clasificacin
de gravedad ms desfavorable. 12.6.3 Si se desea por acuerdo entre
productores y compradores, un ndice puede calcularse para describir el
contenido de la inclusin. 12.6.4 Para producir resultados promedio de
ms de un espcimen por lote, el nmero medio de campos para cada
clasificacin de gravedad, tipo de inclusin, y el espesor se puede
calcular (ver Tabla 4). 12.6.5 Datos de inclusiones o largueros que son de
gran tamao, ya sea largo o ancho, o ambos, se debe informar por
separado. Reporte el tipo de inclusin, la anchura medida, y la longitud
(para los tipos A, B, y C). 12.6.6 Los campos con niveles de gravedad
cero puede estar ms lejos clasi fi can, si lo desea, ya sea en blanco (sin
inclusiones de un determinado tipo y categora de ancho estn
presentes) o no evaluable (inclusiones estn presentes, pero su longitud
est por debajo del lmite de 0.5 gravedad o su anchura es <2 m), o su
dimetro es <3 micras. 12.6.7 La informacin relativa a la composicin
de las inclusiones (Tipos A a D) se puede proporcionar si se desea. Para
tierra- raras o aceros tratadas con calcio u otros aceros con enfoques
desoxidacin no tradicionales, la composicin qumica de las inclusiones,
en trminos generales, se debe informar a cada calificacin. Tcnicas de
microanlisis pueden ser necesarios para obtener dicha informacin si el
operador no es capaz de identificar las inclusiones por examen ptico de
luz. 12.6.8 datos estereolgicos suplementarios determinados durante el
anlisis se pueden incluir en el informe de prueba si lo deseas.
Estandarizacin de tales datos de prueba no se rige por esta prctica
(vase la norma ASTM E 1245).
13. Mtodo B (longitud) 13.1 Introduccin-Este mtodo de prueba
requiere un estudio de una superficie pulida de 160 mm2 de la muestra
en 1003. Cualquier inclusin cuya longitud es de 0.127 mm o ms es a
medir e individualmente contados. 13.2 Procedimiento:
13.2.1 Este mtodo utiliza un patrn de lneas paralelas cuya separacin
es tal que la distancia entre las lneas es equivalente a 0,127 mm (0,005
in.) En la superficie de la muestra cuando se ve en 1003. Esta distancia
se conoce como una unidad. El patrn puede ser dibujada en (o pegado
a) una pantalla de visualizacin, en cuyo caso la distancia fsica entre
lneas sera de 12,7 mm (0,5 pulg.), Ya que la muestra es magni fi cada
100 veces. Una tcnica alternativa sera tener una retcula hecho que
superponer el patrn requerido directamente sobre la imagen vista a
travs de los oculares del microscopio. Fig. 7 muestra una cuadrcula de
medicin recomendado para su uso con el Mtodo B. Tenga en cuenta
que las lneas paralelas se encuentran en una mscara para ayudar en la
indexacin de los campos. 13.2.2 Para comenzar, contorno de la zona de
ensayo requerida en la superficie de la muestra utilizando un marcador
indeleble o un escriba con punta de carburo. Coloque la muestra en el
microscopio y comenzar el examen con un campo en una de las
esquinas del rea de prueba inscrita. Medir y registrar todas las
inclusiones en este campo que son una unidad de largo o ms. Las
inclusiones separadas por una distancia mayor que una unidad se clasi fi
carse como dos inclusiones y no ser considerado como uno larguero. La
longitud de una inclusin se redondear a la unidad entera y se grabar
slo unidades enteras. Por ejemplo, si una inclusin mide 21/2 unidades,
ste quedar registrado como un "2." Si una inclusin se encuentra
parcialmente fuera del campo, es decir, parte de su longitud se
encuentra en lo que se convertir Nmero Campo 2, mueva el fi eld
ligeramente con el fin de que toda su longitud se puede medir. 13.2.3
Mueva la platina del microscopio para ver un campo adyacente. Repita el
procedimiento de medicin. Tenga cuidado de que cualquier inclusin
medida en el campo anterior, no se vuelve a medir. Contine este
proceso hasta que la superficie pulida requerido de la muestra se ha
escaneado. Una configuracin tpica con fi exploracin se muestra en la
Fig. 6. 13.3 Expresin de los resultados: 13.3.1 La determinacin para
cada muestra ser dividido en dos partes, como sigue: 13.3.1.1 La

longitud de la inclusin ms larga ser re- primer cable. Se completar,
para describir el ancho de la inclusin de una T superndice para delgada
o H para pesada. Una inclusin delgada se de fi ne como 10 micras
(0,0004 pulg.) O menos de ancho por ms de 50% de toda su longitud.
Del mismo modo, una inclusin de pesada debe tener un espesor de 30
micras (0,012 pulg.) O ms sobre la mayora de su longitud. Incluye ms
de 10 m pero inferior a 30 micras de ancho no podrn ser representados
por una T o H superndice. Supercripts d (desconectado), vd (muy
desconectado), y g (agrupados) tambin se pueden usar para describir
el grado de conectividad o la agrupacin como se ilustra en la Fig. 8.
13.3.1.2 La duracin media de todas las inclusiones una unidad y ms
largo en longitud, pero excluyendo la inclusin ms largo, se inform
como un solo nmero, seguido de un superndice que indica el nmero
de inclusiones en promedio. 13.3.2 Cuando sea necesario, una serie de
comparacin fotomicrografas en 1003, lo que ilustra todas las dems
partculas metlicas presentes, puede ser utilizado para caracterizar el
aspecto de fondo de la muestra. Si se utilizan, estos debern etiquetarse
A, B, ... etc, con el fin de aumentar la poblacin de la inclusin. Los
microfotografas espec fi cas utilizadas se acordarn de mutuo acuerdo
entre el interesado parties.13 13.3.3 La siguiente es una expresin de
los resultados de un solo espcimen de este mtodo: 6d-23-A. Esto
indica que la inclusin ms larga observada fue de seis unidades de
largo, que se observaron otros tres inclusiones cuya duracin media era
de dos unidades, y que las inclusiones de fondo fueron similares en
apariencia a la figura A fi de una serie de antecedentes fotomicrogrfico.
13.3.4 Los resultados de todas las muestras de un lote sern tabulados.
Si es necesario, el tipo predominante de inclusiones (sulfuros, silicatos u
xidos) se registrar.
14. Mtodo C (xidos y silicatos) 14 14.1 Introduccin-Este mtodo
requiere un estudio de una superficie pulida de 160 mm2 de la muestra
en 1003. Cada campo de la muestra sern examinados para detectar la
presencia de xido de almina no deformable y deformable res Stringsilicato y calificado por comparacin con placa II. Se inform El larguero
ms largo de cada tipo de inclusin ("O" para los xidos de almina y "S"
para los silicatos), por las denominaciones de placa II, por cada ejemplar
examinados. Tenga en cuenta que sulfuros no son valorados por este
mtodo. 14.2 Procedimiento: 14.2.1 Este mtodo utiliza una mscara
rectangular que presentar una zona campo de 0,83 mm2 (0,001289
pulg2) en la superficie de la muestra. La mscara rectangular tendr
lados iguales a 0,79 3 1,05 mm (0,03125 0,04125 3 in.) En la superficie
de la muestra (ver Fig. 9). 14.2.2 Cualquiera de dos tcnicas se puede
utilizar para enmascarar un campo del tamao requerido. Un mtodo
consiste en proyectar la imagen 1003 del microscopio a una pantalla de
visualizacin equipado con una mscara rectangular que tienen lados

79.0 3 105.0 mm. Otra opcin es tener una retcula hecha para el
microscopio, que superponer la mscara rectangular requerida
directamente sobre el campo de visin. 14.2.3 Para comenzar, contorno
de la zona de ensayo requerida en la superficie de la muestra utilizando
un marcador indeleble o un escriba con punta de carburo. Coloque la
muestra en el microscopio y comenzar el examen con un campo en una
de las esquinas del rea de prueba inscrita. El lado ms largo de la
mscara rectangular deber ser paralela a la direccin de laminacin.
Comparar este campo con las imgenes en la placa II y registrar el
nmero de la trama que ms se asemeja a la de xido o largueros de
silicato, o ambos, presentes. Es importante tener en cuenta que si el
tamao de una inclusin cae entre dos de los cuadros numerados en
placa II, se se redondear al nmero entero inferior. Tambin, inclusiones
Stringered sern clasificados como dos inclusiones distintas cuando
estn separados por al menos 40 micras (0,0016 pulg.) En la superficie
de la muestra o compensado por ms de 15 micras. 14.2.4 Mueva la
platina del microscopio para revelar un campo adyacente y repita el
procedimiento de comparacin con placa II. Contine este proceso hasta
que la superficie pulida requerido de la muestra se ha escaneado. Una
configuracin tpica con fi exploracin
se muestra en la Fig. 6. Est permitido, y ser necesario, a veces, para
ajustar la platina del microscopio de manera que toda la zanca se puede
ver dentro de la mscara. El objetivo del evaluador es encontrar xido
ms largo y largueros de silicato en la muestra. Por lo tanto, en la
prctica, el evaluador es en realidad escaneando la muestra y
detenindose slo cuando un potencial zancas ms larga est a la vista.
14.3 Expresin de los resultados: 14.3.1 La longitud mxima de cada
tipo de inclusin, por lo general una serie de partculas individuales en
una banda, se utiliza generalmente para evaluar una muestra. Las
fotomicrografas de silicato se utilizan para inclusiones deformablexido, y el xido de photomi- crographs para todo el xido no
deformable, o de tipo duro, inclusiones. Por ejemplo, una muestra puede
ser clasi fi 0-5 (xido) y S-4 (silicato) para indicar que la inclusin de
xido indeformable ms largo visto era comparable a la de xido
fotomicrografas grfico 5, y la inclusin deformable-xido de ms largo
fue visto comparable al silicato Microfotografa 4. 14.3.2 Modi fi
caciones, tales como nmeros de sufijo, se puede utilizar para indicar el
nmero de inclusiones largas sealar o la longitud exacta de una
inclusin en particular cuando se ha terminado la longitud mxima
indicada por las microfotografas.
15. Mtodo D (bajo contenido de inclusin): este mtodo de ensayo
Introduccin 15.1 Manual est destinado para su aplicacin en acero con
bajo contenido de inclusin, ya que los niveles de gravedad de
notificarse de 1/2 incrementos. Se requiere un estudio de una superficie

pulida de 160 mm2 de la muestra en 1003. Cada cuadrado 0,50 mm2
(0,000779 pulg2) campo en la superficie pulida se examina para los
tipos de inclusin A, B, C y D y en comparacin con el cuadrado campos
representados en Ir Plate. El resultado de esta comparacin campo cada
fi se graba y se anot. 15.2 Procedimiento Manual: 15.2.1 Un campo ser
de fi ne como una plaza con 0,71 mm lados largos (0,02791 pulg.). Ver
Fig. 5. Esto resultar en una zona de campo de 0,50 mm2 sobre el
espcimen. Cualquiera de dos tcnicas se pueden emplear para lograr el
campo fi cuadrado. Un mtodo consiste en proyectar la imagen del
microscopio 1003 en una pantalla de visualizacin que tiene una
mscara cuadrada (71,0 mm con lados) dibujado en l. Otra opcin es
tener una retcula hecha para el microscopio, que superponer la mscara
cuadrada requerida directamente sobre el campo de visin (ver Fig. 5).
15.2.2 Para comenzar, contorno de la zona de ensayo requerida en la
superficie de la muestra utilizando un marcador indeleble o un escriba
con punta de carburo. Coloque la muestra en el microscopio y comenzar
el examen con un campo en una de las esquinas de la muestra.
Comparar este campo con las imgenes en la placa I-r. Clasificar el
contenido de la inclusin del campo en base a las normas que figuran en
la Seccin 12 referente a tipo y grosor de las inclusiones presentes.
Anote el nmero de nivel de gravedad para cada tipo de insercin (A, B,
C y D) que ms se parece el campo bajo observacin. Para ello, tanto
para el fino y la serie pesada. Es importante tener en cuenta que si un
campo de inclusiones cae entre dos niveles de gravedad se redondear
al nivel de gravedad ms cercano. Por lo tanto, un campo que contiene
un menor nmero de inclusiones, o menos longitud de inclusin, de nivel
de gravedad 1.2 se registra como un movimiento 0. 15.2.3 la platina del
microscopio para revelar un campo adyacente y repita el procedimiento
de comparacin con la placa Ir. Los campos ser inclusiones o porciones
de inclusiones que caen dentro de la mscara de la plaza se
considerarn contiguos y solamente. No es una prctica aceptable para
mover una inclusin en el campo fi cuadrado simplemente para evitar su
interseccin con los lados de la mscara. Contine este proceso hasta
que la superficie pulida requerido de la muestra ha sido calificado. Un
tpico con exploracin fi gura- cin se muestra en la Fig. 6. 15.2.4 En
contraste con el mtodo A, este es un mtodo cada calificacin campo.
Los lmites arbitrarios campo creadas por el movimiento paso a paso a
travs de la muestra no deben ser alterados o ajustados. Anote el nivel
de gravedad se muestra en el lado de la Placa Ir seleccionado para cada
tipo de insercin (A, B, C o D) que aparece ms como el campo en
observacin tanto para la serie delgada y pesada. Informar cada campo
que contiene inclusiones equivalentes o mayores que el nivel de 0,5
severidad. Ver Tabla 1 para valores de Nmeros Severidad Nivel> 3.0.
15.3 Expresin Manual de Resultados: 15.3.1 El nmero de campos de

cada tipo de insercin (A, B, C y D de la Placa Ir) encontrado tanto para
la serie delgada y pesada, se registrarn para cada muestra en trminos
del nivel de severidad Nmeros de 0,5 a 3,0. 15.3.2 Si cualquier campo o
inclusin se encontraron que excede los lmites de nivel de gravedad 3.0
(que aparece en la placa de Ir y que figuran en la Tabla 1), que se
registrarn por separado. Del mismo modo inclusiones de gran tamao
con anchos o dimetros superiores a los valores lmite indicados en la
placa de Ir (y en la Tabla 2) se registrarn por separado. 15.3.3 para
promediar los resultados de ms de una muestra, la media del nmero
de campos que se encuentran para cada nmero calificacin inclusin y
el tipo en los distintos especmenes examinados dentro de un lote puede
ser calculado como se ilustra en la Tabla 4. 15.3.4 Si se desea , el tipo de
producto qumico predominante de inclusiones se puede determinar
(mediante, por ejemplo, la espectroscopia de energa dispersin sive xray en un microscopio electrnico de barrido). Anlisis 15.4 Imagen
Introduccin-Las inclusiones en la superficie de un espcimen tan pulido
metalogrfico son vistos con una alta calidad, microscopio metalrgico
preparado adecuadamente. La imagen de campo luminosidad es
captada por una cmara de televisin adecuado y se transfiere a la
pantalla de analizador de imgenes. Software de anlisis de imagen se
utiliza para evaluar el contenido de la inclusin del material. Anlisis
15.5 Imagen Procedimiento: 15.5.1 Coloque la muestra en la platina del
microscopio de manera que la superficie de la muestra es perpendicular
al eje ptico. Con un microscopio de tipo invertida, slo tienen que
colocar la muestra boca abajo en la placa de escenario y mantienen en
su lugar con las abrazaderas de la etapa. Con un microscopio de tipo
vertical, coloque la muestra en un portaobjetos y nivelar la superficie
con arcilla o plastilina y una prensa manual de nivelacin. Algunos
microscopios verticales pueden ser equipados con una etapa
autonivelacin para especmenes montados. Si la muestra debe estar
nivelada con arcilla, el papel de seda colocado entre la superficie de la
muestra y la nivelacin de prensa ram puede adherirse a la superficie y
artefactos presentes para la medicin. En algunos casos, el tejido
adherente puede ser soplado fuera de la superficie de la muestra. Un
procedimiento alternativo para evitar este problema es colocar un forma
de anillo de aluminio o acero inoxidable, que ha sido aplanada
ligeramente en un tornillo de banco a una forma ovalada, entre la
muestra y el carnero. Si se mont la muestra, la forma de anillo ser
descansar slo en la superficie del material de montaje. Si la muestra es
sin montar pero con una superficie considerablemente mayor que el
rea de 160 mm2 requerida para la medicin, la forma de anillo puede
descansar en los bordes exteriores de la muestra para el aplanamiento y
por lo tanto evitar el contacto con la zona de medicin. Alinear la
muestra en el escenario de modo que las inclusiones estn alineados en

paralelo a la direccin x del movimiento en el escenario, es decir,
horizontal en la pantalla de monitor. Alternativamente, si la
programacin se facilita, alinee las inclusiones paralelas a la direccin Y
del movimiento en el escenario, es decir, la direccin longitudinal es
vertical en la pantalla del monitor. 15.5.2 Verifique la fuente de luz del
microscopio para la alineacin correcta y ajustar la iluminacin al nivel
requerido por la cmara de vdeo de la televisin. 15.5.3 Las inclusiones
se pueden examinar y discriminados por tipo usando fi caciones magni
distintos de 1003 y las zonas de campo distintos de 0,50 mm2, siempre
y cuando las mediciones de gravedad se basan en el 0,50 mm2 fi eld
rea requerida, si el analizador de imgenes es capaz de tal
procedure.15 Si el sistema no puede funcionar de esta manera, es decir,
si las inclusiones en cada campo deben ser discriminados por tipo,
medida, y un nivel de gravedad asignado sobre una base campo-campo
subproductos fi, entonces el ampli fi cacin deben ser elegidos de
manera que el rea de campo es lo ms cercano a 0,50 mm2 como
possible.Adeviation de menos de 60,05 mm2 de la zona de 0,50 mm2
requerida signi fi resultados de la medicin impair no cativos. El ampli fi
cacin elegido debe producir un mximo factor de calibracin de 1,3
micras en 1003. 15.5.4 Seleccionar los ajustes de umbral de nivel de gris
para permitir la deteccin independiente de sulfuros y xidos (vase
10.2.2). 15.5.5 Cuando la deteccin de sulfuros, una falsa imagen
(llamado el efecto halo) se pueden detectar alrededor de la periferia de
xidos en el mismo campo. Este problema se puede corregir mediante el
uso de una funcin de auto-delineacin o por aplicacin de algoritmos
apropiados a la imagen binaria. Eleccin del enfoque ms satisfactorio
depende del sistema de anlisis de imagen que se utiliza. 15.5.6
Establecer el escenario controles para mover la muestra en un patrn
cuadrado o rectangular con contigua alineacin campo de manera que
se examina y evala una superficie mnima de 160 mm2. Otras reas de
medicin pueden ser utilizados en base a acuerdos comprador
productor-. 15.5.7 Utilizar un programa informtico escrito anteriormente
para separar las imgenes de inclusin por tipo y grosor, luego calcular
severidades en base a la longitud o nmero en base a las normas que
figuran en la Seccin 12. El programa tambin debe guardar los
resultados, los movimientos de la etapa de control (si una etapa
automatizado se utiliza), y generar el informe de ensayo. 15.5.8 Si el
ancho de un Un inclusin, o una B o C Stringer, vara y se convierte en
menos de 2 micras sobre una parte de su longitud, detectar tanto de l
como sea posible y calcular la gravedad sobre la base de la longitud
detectada. Para las muestras de productos forjados con altos grados de
reduccin, donde la mayora de las inclusiones son <2 m de espesor,
sobre la base de acuerdo productor-comprador, el espesor mnimo de la
serie delgada se puede ajustar a un valor inferior, tal como 0,5 micras, o
el lmite inferior se puede quitar. La deteccin de estas inclusiones finas
requerir el uso de una mayor ampli fi cacin con un tamao resultante
campo inferior a 0,50 mm2; por lo tanto, los datos de campo deben
combinarse, como se describe en 15.5.3, para obtener puntuaciones
vlidos. 15.5.9 Una matriz est establecido en la memoria de la
computadora para tabular el nmero de campos que fueron calificados
de acuerdo con la fina y lmites pesados de los cuatro tipos de inclusin
para once posibles niveles de gravedad de 0 a 5 en incrementos de
medio nivel. Despus de cada campo tiene y las severidades se calculan,
los lugares de matriz adecuados se incrementan para almacenar los
resultados. 05.15.10 El uso de seleccionados al azar, campos contiguos
alineados puede no producir cierto peor campo (mtodo A) Las
calificaciones. Vlido peores calificaciones de campo requieren
tecnologa de anlisis avanzado de imgenes, por ejemplo, el uso de una
mscara de 0,50 mm2 que se puede mover en cualquier lugar dentro del
rea de prueba de 160 mm2 utilizando un algoritmo que controla el
movimiento de la mscara mediante la maximizacin de los valores de
gravedad. 05.15.11 Para obtener descripciones de inclusin
cuantitativos, campos en blanco (es decir, aquellos que no contienen
inclusiones visibles de un tipo y anchura en particular) puede ser
diferenciada de campos no calificables (es decir, campos con inclusiones
# 2 micras de ancho, o con inclusin longitudes o stringer longitudes por
debajo del lmite mnimo de 0,5 severidad). 05/15/12 El programa debe
incorporar procedimientos para hacer frente a los campos que contienen
artefactos, ya sea desde el pulido o limpieza, o de polvo que se asienta
sobre la muestra, y as sucesivamente. La alineacin de tipo A, B y C
inclusiones en muestras obrados por lo general no se desviar en ms
de 620 de la direccin longitudinal. Dependiendo del sistema y la
naturaleza del artefacto, puede ser posible desarrollar un algoritmo que
reconocer tales artefactos y eliminarlos de la imagen binaria. Al
restringir la orientacin de las caractersticas detectadas dentro de este
lmite, ciertos artefactos (por ejemplo, rasguos profundos que no se
retiran durante el pulido) pueden ser reconocidos y eliminan de la
imagen binaria, si su orientacin es superior a este lmite. Si esto no se
puede hacer, el campo debe ser rechazable, es decir, no hay resultados
de las pruebas del campo deben ser almacenados. En tal caso, otro
campo debe ser analizado para reemplazar el campo rechazado, si esto
es posible. Si un campo rechazado no puede ser reemplazado en el
mismo plazo, puede ser posible para evaluar y calificar los campos
adicionales que se requieren en una ejecucin posterior (no calificara
campos ya nominales). Las buenas prcticas de preparacin minimizar
la necesidad de rechazar los campos con los artefactos. En ningn caso
deben los resultados de las pruebas para un rea de medicin de menos
de 160 mm2 ser matemticamente extrapolarse o convertidos (por

ejemplo, a causa de campos rechazados) en un esfuerzo para producir
datos para un rea de 160 mm2. 15,6 Image fines de anlisis Expresin
de los resultados: 15.6.1 El nmero de campos de cada tipo de inclusin
(A, B, C, y D) y el espesor (fino y grueso) son reportados para cada
gravedad de 0 a 5 en su totalidad o medio-severidad incrementos de
nivel. Para aceros con contenidos muy bajos de inclusin, severidades
pueden calcular a un cuarto o una dcima parte del nivel de gravedad
incrementos. Tenga en cuenta que para las inclusiones de tipo D, porque
una inclusin por campo es una severidad de 0,5, por definicin, no
puede haber niveles de D-gravedad entre 0 y 0,5.
15.6.2 Si se desea, sobre la base de acuerdos entre productores y
comprador, se pueden hacer modi fi caciones de los datos declarados,
por ejemplo, los informes por slo ciertos tipos de inclusin, espesores, o
valores de severidad. Otros modi fi caciones pueden incluir slo la
clasificacin de gravedad de campo del peor o el nmero de campos en
el campo de la clasificacin de gravedad ms desfavorable. 15.6.3 Si se
desea por acuerdo entre productores y compradores, un ndice puede
calcularse para describir el contenido de la inclusin. 15.6.4 Para
producir resultados promedio de ms de un espcimen por lote, el
nmero medio de campos para cada clasificacin de gravedad, tipo de
inclusin, y el espesor se puede calcular (ver Tabla 4). 15.6.5 Datos de
inclusiones o largueros que son de gran tamao, ya sea largo o ancho, o
ambos, se debe informar por separado. Reporte el tipo de inclusin, la
anchura medida, y la longitud (para los tipos A, B, y C). 15.6.6 Los
campos con niveles de gravedad cero puede estar ms lejos clasi fi can,
si lo desea, ya sea en blanco (sin inclusiones de un determinado tipo y
categora de ancho estn presentes) o no evaluable (inclusiones estn
presentes, pero su longitud est por debajo del lmite de 0.5 gravedad o
su anchura es <2 m), o su dimetro es <3 micras. 15.6.7 7 La
informacin relativa a la composicin de las inclusiones (Tipos A a D) se
puede proporcionar si se desea. Para tierra- raras o aceros tratadas con
calcio u otros aceros con enfoques desoxidacin no tradicionales, la
composicin qumica de las inclusiones, en trminos generales, se debe
informar a cada calificacin. Tcnicas de microanlisis pueden ser
necesarios para obtener dicha informacin si el operador no es capaz de
identificar las inclusiones por examen ptico de luz. 15.6.8 datos
estereolgicos suplementarios determinados durante el anlisis se
pueden incluir en el informe de prueba si lo deseas. Estandarizacin de
tales datos de prueba no se rige por esta prctica (vase la norma ASTM
E 1245).
16. Mtodo E (SAM Evaluacin) 16.1 Introduccin-Este mtodo de prueba
se utiliza para calificar el contenido de la inclusin de los aceros de una
manera que refleja la gravedad y la frecuencia de ocurrencia de los ms
grandes B- y D-Type inclusiones. Que se traducir en una encuesta de

una superficie de 160 mm2 pulido de la pieza en 1003. 16.2
Procedimiento: 16.2.1 Un campo ser de fi ne como una plaza con 0,71
mm lados largos (0,02791 pulg.). Ver Fig. 5. Esto resultar en una zona
de campo de 0,50 mm2 sobre el espcimen. Cualquiera de dos tcnicas
se pueden emplear para lograr el campo fi cuadrado. Un mtodo
consiste en proyectar la imagen del microscopio 1003 en una pantalla de
visualizacin que tiene una mscara cuadrada (71,0 mm con lados)
dibujado en l. Otra opcin es tener una retcula hecha para el
microscopio, que superponer la mscara cuadrada requerida
directamente sobre el campo de visin. 16.2.2 Para comenzar, contorno
de la zona de ensayo requerida en la superficie de la muestra utilizando
un marcador indeleble o un escriba con punta de carburo. Coloque la
muestra en el microscopio y comenzar el examen con un campo en una
de las esquinas del rea de prueba inscrita. Comparar este campo con
las imgenes en la placa I-r. Tasa de slo el B y D inclusiones de tipo
utilizando los siguientes criterios. 16.2.3 Una calificacin de inclusiones
de tipo B se obtiene comparando ing cada campo de la muestra con los
campos de la Plata Ir (Tabla 1 tambin se puede utilizar). Registre todos
los campos B-Thin observados en niveles de severidad de 1.5 o ms alto
y todos los campos-B pesado observados en cada nivel de severidad de
1,0 o superior. Ver Tabla 2 para los parmetros de anchura y dimetro.
Clasifique un campo con el tamao de las inclusiones intermedias entre
la con fi guraciones en Placa Ir o la Tabla 1 como la calificacin ms baja
la inclusin. Una inclusin cuya anchura vara de fino a pesado a lo largo
de su longitud se colocar en la categora que mejor representa su
conjunto. 16.2.4 Clasificar B-tipos roto como dos inclusiones distintas
cuando estn separados por al menos 40 micras (0,0016 in.) O
compensados por ms de 15 micras sobre la superficie de la muestra. Si
dos o ms tipos B aparecen en un microscopio fi eld, su longitud resumi
determina el nmero calificacin inclusin. 16.2.5 Cuando un tipo A
sulfuro de ha formado un complejo de inclusin, ya sea con un xido de
B o de tipo D, la inclusin debe ser clasificado como de tipo B o D
present su volumen de xido es el predominante (> 50% en rea) tipo
qumico. 16.2.6 Una calificacin de inclusiones de tipo D se obtiene
grabacin ing todos los campos-D pesado con una calificacin de 0.5 o
superior. Ver Tabla 2 para los parmetros de anchura y dimetro. Los
campos de 0.5 severidad se cuentan como una sola unidad; campos de
1.0 severidad como dos unidades; campos de 1.5 severidad como tres
unidades; etctera. Los nmeros mnimos de inclusin para tipo D estn
impresos en la placa de Ir y se enumeran en la Tabla 1. 16.2.7 Mueva la
platina del microscopio para revelar un campo adyacente y repita el
procedimiento de comparacin con la placa Ir. Este mtodo requiere un
ajuste de la platina del microscopio con el fin de maximizar la inclusin
Severidad Nmero Level. Es decir, el campo de visin se ajusta mediante

los controles platina del microscopio de manera que las inclusiones se
mueven dentro de la mscara cuadrada para determinar la gravedad
mxima de B- catastral y D-Type. Contine con este proceso, teniendo
cuidado de no calificar cualquier inclusin ms de una vez, hasta que la
superficie pulida requerido de la muestra ha sido calificado. Un tpico con
exploracin fi gura- cin se muestra en la Fig. 6. 16.2.8 Si cualquier
inclusiones estn presentes que son ms largos que los campos que se
muestran en la placa de Ir, sus longitudes se registrarn por separado. Si
sus anchuras o dimetros son mayores que los valores lmites que se
muestran en la placa de Ir y la Tabla 2, se registrarn por separado.
Tenga en cuenta que una inclusin B o D de gran tamao sigue
contribuyendo a la determinacin de la Severidad Nmero Nivel de un
campo. Por lo tanto, si una inclusin B es de gran tamao, ya sea en
longitud o espesor, la porcin que est dentro de los lmites de campo se
incluirn en la medicin de nivel de gravedad Thin o pesado apropiado.
Asimismo, si se encuentra una inclusin D de gran tamao en un campo,
tambin se incluye en el recuento que determina la calificacin pesada
D. 16.3 Expresin de los resultados: 16.3.1 Los resultados se expresan
en trminos de dos nmeros de rating que re fl eja de tipo B y el
contenido de inclusin de tipo D-pesados. 16.3.2 El nmero de campos
de tipo B registrados en cada una gravedad tiempos nivel dad el nivel de
gravedad se resume (ver Tabla 5) y se normaliz dividiendo por el rea
nominal total en pulgadas cuadradas, de todas las muestras. El nmero
entero ms prximo se registra como la calificacin. 16.3.3 El nmero de
unidades de D se resume (ver Tabla 5) y se normaliz dividiendo por el
rea nominal total en pulgadas cuadradas, de todas las muestras. El
nmero entero ms prximo se registra como la calificacin.
16.3.4 Todos los B y D-Tipo inclusiones de gran tamao se presentan
junto con sus longitudes reales o anchuras, o ambos.
17. Informe de Ensayo 17.1 La informacin pertinente sobre el origen y
la identidad de la muestra de ensayo deben ser reportados junto con los
requisitos de los datos tratados en la "Expresin de Resultados" de cada
mtodo de prueba. 17.2 Informe, tambin, la siguiente informacin:
17.2.1 Fecha de la prueba, el nombre del 17.2.2 Rater, 17.2.3 Ubicacin
de la planta, 17.2.4 Nmero de calor; y 17.2.5 Espcimen identi fi cacin
de cdigo y otros datos nicos (como un nmero de lote) que pueden
proporcionar trazabilidad dentro de la organizacin del vendedor.
18. PRECISIN Y SESGO 18.1 Estudios de calificaciones JK realizados por
diferentes laboratorios han demostrado que existe un problema
inherente a la inclusin de identi fi cacin, chie mosca en la
discriminacin entre Tipo A (sulfato fi des) y C (silicato) inclusiones de
xido deformables. Por lo tanto, la precisin de las calificaciones JK
puede ser severamente influenciado por este tipo de problemas. La

precisin de las calificaciones Mtodo A, C, y D es influenciada por el
contenido total de inclusin. Como aumenta el contenido de inclusin, la
exactitud de tales clasificaciones disminuye. 18.2 Para los aceros que
tengan una calificacin de 0.5 Nmeros Severidad Nivel sobre Plate Ir,
peores calificaciones de campo son en general una precisin de 61
nmero de gravedad y puede estar dentro de 60.5 severidad a bajo
contenido de inclusin. En general, la precisin de clasificacin de tipo B
y D inclusiones son mejores que para el Tipo A y C inclusiones. Adems,
la exactitud de la serie delgada es generalmente mejor que para la serie
pesada, independientemente del tipo de inclusin. 18.3 Para los aceros
que debe ser evaluado para enteros Nmeros Severidad Nivel usando
Plate Ir, las precisiones son generalmente ms pobres, acercndose a 62
en los ms altos niveles de gravedad. Las mismas tendencias se aplican
aqu con respecto a A y C contra B y D Tipos y Thin frente pesado.
Mayores imprecisiones se producir si las inclusiones se clasi fi misidenti.
La precisin de la inclusin fi recuentos de campo utilizando el Mtodo D
no es tan buena como para los peores puntuaciones de campo. Una
buena y exacta calificacin Mtodo D requiere un esfuerzo considerable.
18.4 La precisin de las calificaciones Mtodo C es significativamente
influenciado por fi cacin misidenti de inclusiones S Type (xido
deformable). Cuando no se encuentran este tipo de problemas, los
aceros con bajo contenido de inclusin estarn de acuerdo en 61
unidades, mientras que los aceros con alto contenido de inclusin
estarn de acuerdo a menos de 62 unidades de gravedad. Mtodo C,
placa II, slo se utiliza para evaluar los xidos, nunca se sulfuros. 18.5 La
precisin de las calificaciones hechas por el uso de la Placa Ir en general
est de acuerdo con los incrementos de gravedad carta utilizados pero
puede en algunos casos ser ligeramente superior. Por muy bajos aceros
de contenido inclusin, los mtodos de anlisis de imagen automticos
(como cubierto por Prcticas E 1122 y E 1245) son preferibles donde son
posibles calificaciones por debajo de la calificacin mnima (1/2). Tenga
en cuenta que las micro escpica Mtodos A y D establecen tamaos
mnimos para inclusiones calificables; por tanto, un campo o una
muestra pueden contener inclusiones que son identificables, pero no
evaluable, ya que estn por debajo de la talla mnima para una
clasificacin distinta de cero.
18.6 Para los procedimientos de anlisis de imgenes, cuando la misma
muestra se volvieron a analizar inmediatamente, empezar de nuevo en
el mismo lugar y volver a la medicin de los mismos campos, la
reproducibilidad es extremadamente bueno. Ms desfavorable fi
calificaciones de campo por lo general son idnticos, pero
ocasionalmente pueden mostrar una variacin del lmite de la gravedad
de un medio para uno de los ocho posibles clasificaciones (A a D, fino y
grueso). El nmero de campos en cada nivel de severidad para cada tipo

de inclusin y espesor vara generalmente por menos de 5%. 18.6.1 Si
un espcimen puntuacin es re-pulido y clasificacin de nuevo en un
plano paralelo por el mismo laboratorio, los resultados sern
razonablemente reproducible. Ms desfavorable calificaciones de campo
por lo general varan en no ms de la mitad nivel de gravedad para
varios de los tipos de inclusin y categoras de espesor pero las
variaciones ms grandes se encuentra ocasionalmente debido a la
variabilidad inherente del contenido de inclusiones.
18.6.2 variabilidad de la prueba interlaboratorios no ha sido evaluada,
pero se puede esperar que sea mayor. Esta variabilidad ser como
mnimo si cada controles de laboratorio espcimen preparacin de
acuerdo con las directrices de la norma ASTM E 768. 18.6.3 El uso de
una etapa de accionamiento manual, en lugar de una etapa
automatizado, puede introducir un sesgo en la seleccin campo.
19. Palabras clave
19.1 de almina; anlisis automtico de la imagen; inclusiones
complejas; prueba de la fractura; inclusiones globulares; inclusiones;
Valoracin de la inclusin; largueros de inclusin; JK calificacin
inclusin; microscopa de luz; prueba macroetch; mtodo de partculas
magnticas; xido; Calificacin SAM; silicato; acero; paso hacia abajo
mtodo; stringer; sulfuro de

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Mtodos de prueba estndar para determinar el contenido Inclusin de Steel1

sta norma ha sido publicada bajo la designacin fija E 45; el nmero

Terminologa Relativa a Metalografa E 381 Mtodo de Bares Macroetch

individuo que est altamente alargada en la direccin de deformacin o

Resultados de los mtodos de prueba macroscpicas y microscpicas se

estndar descrito en 5.1.1. 5.1.1.2 Slo grandes xidos son reveladas

es necesario. Los mtodos macroscpicos son suficientemente sensibles

microscpicos son: 6.5.1 Las inclusiones pueden ser caracterizados en

estadstica con un mayor nmero de especmenes deben emplearse. 7.3

eje. Los estudios han demostrado que la longitud de la inclusin

producto Tamao Mayor que 9,5 mm (0,375 pulgadas) de espesor, como

especmenes pulido y examinado. Otras reas, como el centro y la

toda la anchura de la hoja para proporcionar un espcimen). 8.3.2 Para

calibrar el sistema de acuerdo con el procedimiento recomendado por el

estrictamente en la morfologa. Los nombres qumicos asociados con los

a separacin entre las partculas en una banda de 40 micras. Cualquier

clasifican por tipo, deben ser clasificados por el espesor o dimetro.

log de los datos en la Tabla 1. 11.8 Los campos que se muestran en la

inclusin o la inclusin stringer todava contribuye a la determinacion de

Naciones Unidas, tambin se includes en el recuento Que Determina la

Prctica E 1245) mediciones estereolgicos para complementar analiza

Mtodo 12. A (peor Fields) 11 12.1 Introduccin Este mtodo de prueba

el nivel de gravedad en nmero entero de 0 a 3.0 para cada tipo de

12.3.3 Si se desea, el tipo qumico predominante de inclusiones se

algunos casos, el tejido adherente se pueden soplar fuera de la

analizador es capaz de una procedimiento.12 tales Si el sistema no

no signi fi cativamente la medida perjudicar possible.Adeviation de

NOTA 1-Elige las ecuaciones para calcular la gravedad inclusin (tanto

05.12.10 El uso de seleccionados al azar, campos contiguos alineados

de las caractersticas detectadas dentro de este lmite, ciertos artefactos

cada muestra ser dividido en dos partes, como sigue: 13.3.1.1 La

visualizacin equipado con una mscara rectangular que tienen lados

notificarse de 1/2 incrementos. Se requiere un estudio de una superficie

15.3 Expresin Manual de Resultados: 15.3.1 El nmero de campos de

muestra en el escenario de modo que las inclusiones estn alineados en

de 160 mm2 ser matemticamente extrapolarse o convertidos (por

grandes B- y D-Type inclusiones. Que se traducir en una encuesta de

Severidad Nmero Level. Es decir, el campo de visin se ajusta mediante

puede ser severamente influenciado por este tipo de problemas. La

grueso). El nmero de campos en cada nivel de severidad para cada tipo

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