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orgnicos electrolllminiscentes
S.r. Alvarado
Resl'{/rch Dirisioll, ZlIrich Rl'scate/ Lal)(}ralO,~r
8803 Riischlikol1, Swit:::crlm/{/
Ikw.,.il'fOI"('J:
The recent tliscovery nI"e1ectroluminiscent organic malcrials opens new perpcctives for Ihe prcp,lration 01" light emitcr dodes. screens and
(hin prolile monitors. The h:1Sicunity 01" lhese devices s a light emiter diode nmlc (11' thin lilms. which can he deposited llsing relatively
simple techniques o\"er a largc varety of substrates. These ne\\' electroluminis(ent matl'l"ials cx.ist as conjugated polymers (clcctric charge
conductors) or :IS smallmolecules, evanescent oligolllers. constituted by one or more chemicalunites. Rcsearch on these malerials is a fcld
01" producti\"c. ,lllractive anJ intertlisciplinary work that rcquire the dose collahoratiol1 bctween physicists tlnd chemists, in thc theoretical as
\Vell as in the cxpcrimentallevel. Somc eases of diodcs and Olher elcctroluminiscent clcmellts made of organic matcrials are prcsented in rhis
paper. In the same \Vay. SOI11C
measurcrnents of the electronic le\"els Llsinga tunncl cfrect rnicrnscope re shown. In lhe use of this instrumcnt.
the sharpness of the microscopc C:ll1he as a cathod 01' an electroluminscent diodc. charal"lcrislic that allows lo mcasure the spcclra of Ihe
elcclroluminisl.."ellt cmission in regions 01' nanoscopic wnges.
1\l'.\'Inmlc Org:lI1ic maleri:\ls; electroluminisccnce;
lunnel spcctrnscopy
1. lntrolillcciln
La eleclroluminesccncia
en Illateriales
orgnicos
fue descu-
17H
S.F. ALVAf{At>()
-
Inyeccin de electrones
Transporte de electrones
-luminiscencia
Transporte
de hoyos
Inyeccin de hoyos
Substrato
'o
transparente
l
3
LUMO
<;
o-
JI
nodo
Ctodo
HOMO
l\l!: +-ih
1. Inyeccin
1)'
LUMO
(BC)
h,'
:4
(BV) .._--+ -,.
.-
.-'-
~+
NPB
HOMO
de portadores
de carga
2. Transporte
3. Captura,
zona de acumulacin
4. Rccombinacin
FHillRA
principio
de cargas
radialtva
CuPe
r:1(;U~'\ J. Frmula qumica de los materiales org:nicos molccu.
lares empicados en el diodo clcl'trolumincsccllIc de la Fig. 2.
Substrato
transparente
Fllilll{A
2. E"llllclllr:l de un diodo clcctrolurnincsccntc de alta cslahilitbd. Los c."'pcson.:sde las capas son: ITO (30 nm). CuPe
(15rn). NI'B (!J(I nm). \llJl (7S0 11111.y el diodo (200 11m).
TABI.A 1. Ejemplos
Polmero
de polmeros
conjugados.
1.4
[landa
1.2
Frmula
prohibida.
n-n- (eV)
....J-
1.5
O
O
ppy
2.5
--Absorcin
(DO)
------ Electroluminiscencia
(EL) (U=+5V)
......... Fotoluminiscencia
(FL) p"exc.=476.5nm)
1.0
....J
L.L
PA
179
0.8
..
:
:
:,' ',:
0.6
.0
',:.
PPV
0.4
.0
\'"
0.2
~n
0.0
300
~-.~
".
350
400
450
500
550
600
650
700
o~
MEII-PPY
2.2
~n
do/dE es m:xima.
4. Especlroscopa
efecto tnel
ppp
~ ~ I!
El ancho de In banda
peclro
de ahsorcin
prohibida
3.0
In
se ha dClcrminado
6ptic<l, tomndose
igual
a la energa
a la cllal
Rl'1'.
sr ALVARA()O
XII
fibra
ptica
0.8
ro
0.6
.2
E.
.0
PMT
o OMA
0.4
"
.0
.13
"
0'T
V>
0.2
.o
<l:
0.0
1.5
2.0
2.5
3.0
4.0
3.5
SdlOlIky.
Rccicntcll1crllC
Iroscopa
hasada
o,
00
se ha empIcado tambin
la cspcc-
en el microsocopio
por efecto tnel, STM
Micms('opy), para determinar el desplazamiento relativo de handas [19, 17, 18].
La regla de Schottky es una aproximacin
til en pri(Sc(//JIIiJ/g
TI/I/I/elillg
mera instancia.
Sin cmhargo,
investigaciones
efectuadas
con tcnicas dc f010cmisin interna [20,21], folocmisin al
vaco [22-2-1], y de cspcctroscopa con STM [19], demuestran que usando nicamente
la regla de Scholtky se pueden
COlllcter errores importantes. Estas discrepancias muestran la
necesidad dc continuar con nuevas investigaciones
tericas y
expcrimclllales
que nos ayuden a comprender
mejor la fsica
de la intcrcara cn el punto de contacto entre dos materiales
orgnicos, entre un material orgnico y semiconductores
()
aislantes
orgc:nicos y un me-
.s
i" o
E
Q>
ro o;
o;
iS ro
E
"
~~ ,j
c.
o-3
3.2 eV
j
j
~.-..-.
--------"'--2
d"
.':~
V>
,.
p+ ,$"
oo
" ">.
ro
8
p.
.13 .o
!"
-1
VT (V)
(b)
6. a) Absorcin ptica de polinuorcno. b) Espectro de una
pelcul<l delgada de polilluoreno de approx, 3nm de espesor depositada sobre un suhstrato de Au (111).
FIGURA
tal.
Una de las ventajas de la tcnica de espectroscopa
hasada cn el STM es que permitc medir no slo la energa de
los estados HaMO sino la de los estados moleculares vacos
mas hajos, LUMa (LoH'eSl UnocufJied Molecular Orbital)
tambin. Adems, las mediciones son puntuales permitiendo
determinar el grado de uniformidad de las harre ras de energa
cn cl plano de la intereara. La Fig. 5 es una representacin
esquemati<:a del STM que se usa en condiciones
de ultra alto vaco (presin en el rango de 10-10 mhar). Un sistema
ptico permite determinar
la intensidad y el espectro de la
electro luminiscencia
excitada por la inyeccin con la punta
de portadores de carga al material orgnico. Las mediciones
se efectan en condiciones
dc corriente de tunelaje constante, lo que permite determinar
la energa de los niveles electrnicos a partir tic la mcdicin del movimiento de la punta
en fUllcin de la tensin aplicada. Esta tcnica slo funciona con materiales defonnables,
como lo son los materiales
org .inicos analizados en estos estudios. Para una descripcin
ms detallada sohre esta tcnica ver la Ref. 19.
Para interpretar la medicin de Jos espectros con el STM
es necesario tomar en cuenta los siguientes puntos imp0rl<Jll-
tes:
a) La inyeccin de un portador de carga en un estado molecular causa la formacin de un polarn, que es una de.
formacin
molecular
inducida en la vecindad de la carga
elctrica. Este efecto provoca una reduccin de energa, de
tal modo que los niveles polarnicos
se sitan dentro de la
banda prohibida
HOMO-LUMO.
h) El aparcamiento
de un polarn positivo (p+) y de un
polarn negativo (P-) resulta en la formacin de un excitn.
En el caso de materiales
orgjnicos
la energa
de ligadura
de un excitn, E"
E.'1,1< - (1' puede dcfinirse [25] como
la energa necesaria para formar un par de polarones independientes, P- y P+, donde E.1},s es la diferencia de energa entre
los estados P- y p+ , y E(I es es la energa necesaria para crear un excitn molecular. E se puede determinar a partir del
espectro de ahsorcin ptica.
II
177-IXI
r>.lATERIALES ORGl'\ICOS
tos tic la curva en los cuales la punta se mucvc hacia arriha r;:lpidamente indican el umhral del los estados P- y p+.
Esta mcdicin permite determinar directamente: a) la rela.
cin entre las handas de energa relativo al El" dcl suhstrato, y h) la diferencia de energa entrc los niveles P- y P+,
14 (1965)
224
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