Caracterizacion de Los Aceros

TRABAJO FINAL
CARRERA DE ESPECIALIZACIN EN APLICACIONES

TECNOLGICAS DE LA ENERGA NUCLEAR
CARACTERIZACIN DEL DAO PRODUCIDO SOBRE

SUPERFICIES DE DISTINTOS MATERIALES
Ing. Hctor Damin Dellavale Clara
Directores: Dr. Nestor Fuentes - Dr. Eduardo A. Favret
Diciembre 2004
Comisin Nacional de Energa Atmica

Universidad Nacional de Cuyo (Instituto Balseiro)
Universidad de Buenos Aires (Facultad de Ingeniera)
Abstract
In the present work the characterization techniques of surfaces ULOI and RIMAPS have been applied
on laboratory samples made from aluminium, stainless steel and material based on fiberglass. The
resultant surfaces of, chemical etching with corrosive agents Keller and Tucker, mechanic damage
from the wear and tear of abrasive paper and sandrubbing with alumina particles, are analized to
different level of damage.
The systematic application of the above mentioned techniques is carried out with the objetive of
finding information, which allows to characterize the superficial damage, both in its incipient state as
in the extreme situation revealed by the presence of etch pits.
Important results have been obtained, in the characterization of the incipient stage of the chemical
etching, using the curves of the normalized area. In addition, it was possible to verify the capacity of
the techniques in the early detection of the preferential directions generated by the etch pits.
Resumen
En el presente trabajo se aplican las tcnicas de caracterizacin de superficies ULOI y RIMAPS, sobre
muestras de aluminio, acero inoxidable y material compuesto a base de fibra de vidrio. Las superficies
resultantes de, ataque con los agentes corrosivos Keller y Tucker, desbaste mecnico con papel
abrasivo y arenado mediante partculas de almina, son analizadas para distintos niveles de dao.
Se realiza la aplicacin sistemtica de las tcnicas mencionadas con el objetivo de encontrar
informacin que permita caracterizar el dao superficial, tanto en su estado incipiente, como la
situacin extrema revelada por la presencia de figuras de corrosin.
Importantes resultados han sido obtenidos, en la caracterizacin de la etapa incipiente del ataque
qumico, utilizando las curvas del rea normalizada. Adems pudo verificarse la capacidad de las
tcnicas, en la deteccin temprana de las direcciones preferenciales generadas por figuras de corrosin.
Indice:
-
Abstract.
Resumen.
Indice.
1. Introduccin ......................................................................................................................................... 6
2. Especificaciones experimentales correspondientes a la implementacin de la Tcnica ULOI........... 8
2.1 Sistema sensor de intensidad.......................................................................................................... 8
2.1 Determinacin del ngulo de incidencia ....................................................................................... 9
2.2 Criterio aplicado en la determinacin de los mximos de la curva de intensidad...................... 10
3. Especificaciones experimentales correspondientes a la implementacin de la Tcnica RIMAPS .... 11
3.1 Especificaciones del sistema de adquisicin de imgenes........................................................... 11
3.2 Criterio aplicado en la determinacin de los mximos en las grficas RIMAPS........................ 12
4. Descripcin de las muestras y el proceso superficial implementado ............................................... 13
4.1 Daos mecnicos.......................................................................................................................... 13
4.1.1 Arenado sobre una superficie de aluminio con una sola direccin preferencial inicial ......... 13
4.1.2 Arenado sobre una superficie de aluminio con dos direcciones de desbaste inicial................ 13
4.1.3 Arenado sobre una superficie de acero inoxidable con dos direcciones de desbaste inicial ... 14
4.1.4 Arenado sobre una superficie de material compuesto a base de fibra de vidrio...................... 15
4.1.5 Desbastes mecnicos con papel abrasivo sobre una superficie de aluminio ........................... 15
4.2 Ataques qumicos.......................................................................................................................... 17
4.2.1 Ataque qumico con compuesto Keller sobre una superficie de aluminio ................................ 17
4.2.2 Ataque qumico con compuesto Tucker sobre una superficie de aluminio ............................... 17
5. Anlisis de los resultados................................................................................................................... 18
5.1 Resultados de los daos mecnicos ............................................................................................. 18
5.1.1 Resultados de la tcnica ULOI para las condiciones especificadas en el tem 4.1.1 ............... 18
5.1.2 Resultados de la tcnica RIMAPS para las condiciones especificadas en el tem 4.1.2 .......... 19
5.1.3 Resultados de la tcnica ULOI para las condiciones especificadas en el tem 4.1.3 .............. 20
5.1.4 Resultados de la tcnica RIMAPS para las condiciones especificadas en el tem 4.1.3 ......... 22
5.2 Resultados de los ataques qumicos ............................................................................................. 29
5.2.2 Resultados de la tcnica RIMAPS para las condiciones especificadas en el tem 4.2.1 .......... 41
4
6. Proyeccin de los resultados obtenidos en la caracterizacin del dao qumico ............................. 49

7. Conclusiones generales...................................................................................................................... 51
8. Referencias ......................................................................................................................................... 52
10. Agradecimientos............................................................................................................................... 53
-
Apndice 1: Conceptos relacionados con la tcnica ULOI.
Apndice 2: Conceptos relacionados con la tcnica RIMAPS.
1. Introduccin
La cantidad de estructuras y objetos industriales y de la vida diaria, construidos empleando metales
como aluminio, aceros, cobre, cinc, titanio, etc, es realmente amplia. A estos se agrega la incidencia
cada vez mayor de los plsticos reforzados, polmeros, compuestos a base de fibra de vidrio y fibra de
carbono.
Todos estos materiales pueden presentar:
-
Distintas terminaciones de la superficie que incluyen rugosidades y deformaciones

superficiales.
Tensiones mecnicas.
y estar inmersos en ambientes con distintas condiciones de:

-
Temperatura.
Humedad.
Concentracin de O2.
PH.
Grado de salinidad (ambiente marino).
Solventes y otros agentes corrosivos producidos artificialmente.
Radiacin ionizante, en el caso de todas aquellas piezas y estructuras sometidas a un entorno

nuclear o espacial.
El resultado de la interaccin del material con su entorno, frecuentemente ocasiona el deterioro del
mismo, provocando en un determinado perodo de tiempo la alteracin de sus propiedades fsicas y
mecnicas. Aunque mucho antes de llegar a ese estado de deterioro, ocurre una variacin en las
caractersticas superficiales del material.
Los mecanismos responsables de tal deterioro son distintos segn se trate de metales, polmeros o
cermicos, pero en todo caso provocan modificaciones en el patrn superficial, cuyas caractersticas
dependern tambin del agente ambiental que haya actuado y su correspondiente evolucin temporal.
Por otra parte, las naciones mas industrializadas gastan un considerable porcentaje de su producto
bruto en la prevencin, mantenimiento o reemplazo de estructuras expuestas a diversos ambientes.
Todo esto constituye un gran estmulo para el estudio de procedimientos que permitan identificar las
alteraciones de los patrones superficiales en los materiales, provocadas por los distintos agentes, como
una forma de deteccin incipiente del dao que ocurrir sobre el material, si contina expuesto bajo
esas condiciones.
En el desarrollo de este trabajo se analiza el dao producido en forma controlada sobre distintos
materiales, aplicando dos tcnicas de caracterizacin de superficies:
-
ULOI (Unidirectional Laser Oblique Illumination) [1 4].
RIMAPS (Rotated Image with Maximum Average Power Spectrum) [5 8].
Las experiencias realizadas incluyen dos tipos de dao:

-
Dao mecnico: Implementado mediante arenado de las superficies de aluminio, acero

inoxidable y material compuesto de fibra de vidrio, con partculas de almina (Al2O3) de
dimetro medio 120m. Se incluye adems el desbaste mecnico, con papel abrasivo de
distintas granulometras, sobre una probeta de aluminio.
Ataque qumico: Implementado mediante la exposicin, de una probeta de aluminio, a los

compuestos Keller y Tucker. Adems se analiza el dao extremo ocasionado por el compuesto
Tucker, lo que permite observar claramente las figuras de corrosin para la orientacin
cristalina del grano estudiado.
2. Especificaciones experimentales correspondientes a la implementacin de la Tcnica ULOI

En la determinacin de las curvas de intensidad de la tcnica ULOI (Apndice 1), la fuente propia de
iluminacin del microscopio (lmpara halgena de 9V) se sustituye por el haz LASER con incidencia
oblicua, para el registro del patrn de difraccin.
2.1 Sistema sensor de intensidad

Esquema circuital:
Placa experimental
+9Vdc
12Vdc
500mA
7809
TIL78
470K
470F
50V
Interruptor con
iluminacin
0,1F
Conexin directa
al Voltmetro
Cable 2 x 0,8mm
Con la polarizacin del fototransistor TIL78, determinada por la alimentacin de +9Vcc y la

resistencia de emisor Re = 470K, se obtiene una transferencia lineal del sistema sensor, para el rango
de intensidades de luz captadas en las mediciones.
Esquema fsico:
Fototransistor (TIL78)
Zona de
componentes
Tubo de
adaptacin
Tubo soporte del
ocular (Microscopio)
Goma Opaca para

aislamiento de luz
exterior
Placa experimental
En el Apndice 1 se presentan imgenes de este dispositivo.

La cadena de medicin est compuesta por: Can LASER (He-Ne sin polarizacin, potencia
mxima = 30mW a = 632,8 nm.) incluyendo el sistema soporte de posicionamiento, superficie de la
muestra que acta como sistema de difraccin, objetivo (16x, epi) y sistema ptico del microscopio,
sistema sensor de intensidad y por ltimo el voltmetro digital. La lectura obtenida es
V ( ) = [mV ] I ( )
En las experiencias realizadas se considera que el error en la medicin de esta magnitud queda
determinado en forma predominante por el voltmetro digital. Se utilizaron dos escalas, que involucran
los siguientes errores:
Rango
Resolucin
20V
10mV
2V
1mV
Error
0,5% of rdg 2D
= 0,005*20000mV+20mV=120mV
0,5% of rdg 2D
=0,005*2000mV+2mV=12mV
2.1 Determinacin del ngulo de incidencia

El ngulo de incidencia del haz LASER respecto de la superficie de la muestra se obtuvo midiendo
las longitudes a y b indicadas en la Fig. A1 del Apndice 1.
Entonces se calcul:
b
2
= arctg
a
La influencia del ngulo sobre las curvas de intensidad se puede ver en la Fig. 1, en la que se
muestran las curvas V ( ) para tres ngulos de incidencia del haz LASER sobre la misma superficie de
aluminio. Esta superficie presenta una direccin preferencial evidenciada por dos picos ubicados con
una diferencia angular de = 180 0
3 = 10,19 (Vmax = 1560mV)

1 = 7,16 (Vmax = 770mV)
2 = 9,3 (Vmax = 1250mV)
1600
1400
1200
V() [mV]
1000
800
600
400
200
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 1 - Curvas de intensidad, obtenidas para la misma superficie

y tres ngulos de incidencia del haz LASER.
Rango = 20V, Error V = 120mV.
donde:
20,5cm
26,7cm
29,3cm
2
2
2
= 10,19 0
0
0
1 = arctg
= 7,16 ; 2 = arctg
= 9,3 ; 3 = arctg
81,5cm
81,5cm
81,5cm
En la figura se observa que una disminucin de produce:

-
Una reduccin en la amplitud de los picos.
Una reduccin en el ancho de la base de los picos.
Una pequea disminucin de la lnea de base u offset de ordenada.
No se detectan modificaciones significativas en la ubicacin de los mximos.
Esto seala la importancia de mantener el ngulo de incidencia lo ms constante posible en todas

las mediciones a realizar, para evitar introducir modificaciones indeseadas en las curvas de intensidad.
A menos que se indique lo contrario, el ngulo utilizado corresponde a 2 = 9,30 .
2.2 Criterio aplicado en la determinacin de los mximos de la curva de intensidad

Para un pico dado, se adopta como posicin angular de su mximo M , a aquella que corresponde al
mximo valor de tensin perteneciente al pico que se analiza. Luego se toma como error en la posicin
angular del mximo, al intervalo angular que abarca exactamente a todos los puntos que no posean
diferencia significativa de tensin, con el mximo identificado previamente.
M = M
M Posicin angular del mximo valor de tensin.
Donde Posicin angular del punto mas alejado que no posea diferencia significativa,
con el mximo valor de tensin.
10
Se recuerda que dos valores de ordenada no poseen diferencia significativa, cuando sus intervalos de
error en ordenada se solapan.
En todo caso se adopta como error angular mnimo al valor del paso angular utilizado en la medicin.
A menos que se indique lo contrario, el paso angular entre mediciones sucesivas para conformar las
curvas de intensidad es de 5.
3. Especificaciones experimentales correspondientes a la implementacin de la Tcnica RIMAPS
Esta tcnica se aplica sobre la imagen digital de la superficie de inters, y combina la Rotacin de la
imagen con la Transformada de Fourier en dos dimensiones. Su implementacin consiste en obtener el
MAPS (Maximum Average Power Spectrum) de la imagen, para cada ngulo de rotacin de la misma
entre 0 y 180, tomando en general incrementos de 1. Se obtienen as 181 valores de M ( ) .
Se puede considerar que la grfica RIMAPS para 0 < 360 0 resulta simtrica a la ordenada ubicada
en = 180 0 .
3.1 Especificaciones del sistema de adquisicin de imgenes
El sistema de adquisicin comprende una cmara CCD montada, a travs de una ptica de adaptacin
a un microscopio de reflexin para observaciones metalogrficas. Las especificaciones son:
Microscopio Olympus BX60M.
Objetivos: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x.
Ocular: 10x.
Cmara: 1/3 Color CCD, Sistema PAL.
En la adquisicin de todas las imgenes se establecieron los mismos ajustes para el tipo (BF) y nivel de
iluminacin. Dado que se utilizaron distintos objetivos, a los que se debe agregar la influencia del
sistema ptico de adaptacin de la cmara CCD, se especifica para cada imagen el objetivo utilizado y
se incluye en las mismas la escala correspondiente.
A menos que se indique lo contrario, el tamao de las imgenes utilizadas en la aplicacin de la
tcnica RIMAPS corresponde a: 567 x 743 pixels.
11
En la siguiente imagen se puede apreciar el sistema de adquisicin utilizado:
La pantalla de TV es utilizada para la exploracin rpida de la superficie. Luego, se ajusta

definitivamente el foco en el monitor de la PC para realizar la adquisicin.
Todas las grficas RIMAPS presentadas, se encuentran normalizadas respecto del mximo valor
obtenido para cada imagen.
3.2 Criterio aplicado en la determinacin de los mximos en las grficas RIMAPS
Para un pico dado, se adopta como posicin angular de su mximo M , a aquella que corresponde al
mximo valor de ordenada perteneciente al pico que se est analizando. Luego se toma como error en
la posicin, al intervalo angular que abarca exactamente desde el mximo hasta el punto que pertenece
al pico en cuestin, y que posee un valor de ordenada inmediato inferior, al mximo identificado
previamente.
M = M
M Posicin angular del mximo valor de ordenada.
Donde Posicin angular del valor de ordenada inmediato inferior al mximo,
que pertenezca al pico que se est analizando.
En todo caso se adopta como error angular mnimo al valor del paso angular utilizado en el clculo. A
menos que se indique lo contrario, el paso angular entre valores sucesivos para conformar las grficas
RIMAPS es de 1.
12
4. Descripcin de las muestras y el proceso superficial implementado
4.1 Daos mecnicos
4.1.1 Arenado sobre una superficie de aluminio con una sola direccin preferencial inicial
Para este ensayo se utiliz una probeta de aluminio cuya superficie inicial corresponde a una
terminacin comercial.
Dimensiones de la probeta: 60mm x 40mm x 0,8mm.
La superficie inicial se muestra en las siguientes imgenes:
Microscopio ptico, Objetivo: 10x

Superficie: Aluminio (terminacin comercial)
Microscopio electrnico de barrido

Ancho: 117m, Alto: 91m
Superficie: Aluminio (terminacin comercial)
Imagen 1
Imagen 2
Se someti la probeta a un arenado con partculas de almina (Al2O3) de dimetro medio 120m. Para
el desarrollo de la experiencia se coloc la superficie de la probeta a una distancia de 11cm medida
desde la boca de salida del flujo de aire que arrastra las partculas, con un ngulo de incidencia de 90
respecto al eje del flujo. La presin utilizada fue de 2Kg/cm2.
Con estas condiciones se analizaron los siguientes tiempos de exposicin al flujo de partculas:
te= 2, 5, 15 seg.
4.1.2 Arenado sobre una superficie de aluminio con dos direcciones de desbaste inicial
En este caso se utiliz la superficie de aluminio con una terminacin inicial definida por:
Primer pulido unidireccional con papel abrasivo ANSI 1500. Luego se practic un desbaste mecnico
en dos direcciones ortogonales, con papel abrasivo ANSI 600.
Dimensiones de la probeta: 60mm x 40mm x 0,8mm.
13
En la siguiente imagen se muestra la superficie resultante.

Superficie: Aluminio
(desbaste ANSI 600 en dos direcciones)
Imagen 3
Posteriormente se someti la probeta a un arenado con partculas de almina (Al2O3) de dimetro

medio 120m. Para el desarrollo de la experiencia se coloc la superficie de la probeta a una distancia
de 11cm medida desde la boca de salida del flujo de aire que arrastra las partculas, con un ngulo de
incidencia de 90 respecto al eje del flujo. La presin utilizada fue de 2Kg/cm2.
Con estas condiciones se analiz un tiempo de exposicin al flujo de partculas de te = 2 seg.
4.1.3 Arenado sobre una superficie de acero inoxidable con dos direcciones de desbaste inicial
Para esta experiencia se utiliz una superficie de acero inoxidable tipo 18 8, con una terminacin
inicial definida por:
Primer pulido unidireccional con papel abrasivo ANSI 1500. Luego se practic un desbaste mecnico
en dos direcciones ortogonales, con papel abrasivo ANSI 600.
Las dimensiones de la probeta son: 60mm x 40mm x 1mm.
En la siguiente imagen se muestra la superficie resultante.

Superficie: Acero inoxidable 18 8
Imagen 4
14
Posteriormente se someti la probeta a un arenado con partculas de almina (Al2O3) de dimetro

te= 2, 5, 10 seg.
4.1.4 Arenado sobre una superficie de material compuesto a base de fibra de vidrio
Para este ensayo se utiliz una probeta de material compuesto de fibra de vidrio y matriz epoxy,
recubierta por una pelcula de tefln.
Dimensiones de la probeta: 60mm x 60mm x 5mm.
Posteriormente se someti la superficie a un arenado con partculas de almina (Al2O3) de dimetro
te= 2, 5, 10, 15 seg.
4.1.5 Desbastes mecnicos con papel abrasivo sobre una superficie de aluminio
En el desarrollo de esta experiencia se analizan cuatro terminaciones superficiales diferentes, sobre la

probeta de aluminio que se muestra en la siguiente imagen.
Dimensiones: 27mm x 16mm x 2mm.
Imagen 5
15
Las terminaciones superficiales corresponden a los desbastes mecnicos con papel abrasivo ANSI 400,
600, 1000 y 1500.
La granulometra de los papeles abrasivos se muestra en la siguiente tabla:
Cdigo ANSI
Tamao de las partculas [m]
400
25
600
15
1000
1500
En todos los casos el desbaste se realiz en forma unidireccional y, con similar presin perpendicular a
la superficie de la probeta.
Todas las aplicaciones de las tcnicas ULOI y RIMAPS se realizaron en la zona central del grano
cristalino que puede identificarse por la marca de referencia visible en la Imagen 5.
Las imgenes obtenidas de las superficies de aluminio desbastadas con los papeles abrasivos ANSI
600 y 1500 se muestran a continuacin:

(desbaste ANSI 600 en una direccin)

(desbaste ANSI 1500 en una direccin)
Imagen 6
Imagen 7
16
4.2 Ataques qumicos

4.2.1 Ataque qumico con compuesto Keller sobre una superficie de aluminio
En esta experiencia se analiza el dao ocasionado por el compuesto qumico Keller, sobre la probeta
de aluminio que se muestra en la Imagen 5.
Las tcnicas ULOI y RIMAPS tambin se aplicaron en la zona central del grano cristalino
identificadas por la marca de referencia visible en la imagen.
La composicin qumica del compuesto utilizado como agente corrosivo se indica en la siguiente tabla:
Compuesto
H2O
HNO3
HCl
HF
Total
Keller
25ml
12,5ml
7,5ml
2,5ml
47,5ml
La condicin superficial inicial de la probeta, tomada como referencia, corresponde a:

Primer desbaste unidireccional con papel abrasivo ANSI 1000 y posterior desbaste mecnico
unidireccional con papel abrasivo ANSI 1500, en direccin ortogonal al primero.
A partir de esta condicin superficial de la probeta se analizaron los siguientes tiempos de exposicin
al agente corrosivo Keller:
Primera medicin:
te= 5, 14, 20, 26, 36, 40, 50, 65, 85, 105, 125, 155, 195, 255, 495, 1695, 1995, 2295, 2595, 3195, 3495,
4095 seg.
Segunda medicin:
te= 3, 8, 15, 25, 40, 50, 70, 90, 110, 150, 200, seg.
En cada uno de estos intervalos se obtuvo la curva de intensidad con la tcnica ULOI, realizndose
adems la adquisicin de la imagen en la zona estudiada de la superficie, para la aplicacin de la
tcnica RIMAPS.
4.2.2 Ataque qumico con compuesto Tucker sobre una superficie de aluminio
En este caso se analiza el dao ocasionado por el compuesto qumico Tucker, sobre la probeta de
aluminio que se muestra en la Imagen 5.
Las tcnicas ULOI y RIMAPS tambin se aplicaron en la zona central del grano cristalino
identificadas por la marca de referencia visible en la imagen.
17
La composicin qumica del compuesto utilizado como agente corrosivo se indica en la siguiente tabla:
Compuesto
H2O
HNO3
HCl
HF
Total
Tucker
12,5ml
7,5ml
22,5ml
7,5ml
50ml
En este caso se utilizaron dos terminaciones superficiales iniciales de la probeta. La primera,

corresponde a un pulido electroltico, para el cual solo se analiza la condicin de dao extremo
ocasionado por el compuesto Tucker.
La segunda condicin superficial inicial de la probeta, corresponde a:
Primer desbaste unidireccional con papel abrasivo ANSI 1000 y posterior desbaste mecnico
unidireccional con papel abrasivo ANSI 1500, en direccin ortogonal al primero.
A partir de esta condicin superficial de la probeta se analizaron los siguientes tiempos de exposicin
al agente corrosivo Tucker:
te= 2, 5, 10, 15, 28, 50, 150, 210, 600 seg.
En cada uno de estos intervalos se obtuvo la curva de intensidad con la tcnica ULOI, realizndose
adems la adquisicin de la imagen en la zona estudiada de la superficie, para la aplicacin de la
tcnica RIMAPS.
5. Anlisis de los resultados
En general, para el anlisis de las mediciones obtenidas, se debe tener en cuenta que tanto en las curvas
de intensidad de la tcnica ULOI como en las grficas RIMAPS, la informacin relevante se encuentra
en la posicin angular relativa entre los mximos.
5.1 Resultados de los daos mecnicos
5.1.1 Resultados de la tcnica ULOI para las condiciones especificadas en el tem 4.1.1
En la Fig. 2 se muestran las curvas de intensidad obtenidas aplicando la tcnica ULOI.

La curva correspondiente a la superficie de referencia, muestra los dos picos caractersticos de la
direccin preferencial dada por la terminacin de la superficie (Imagen 1).
18
Superficie de referencia (te = 0 seg.)

Superficie arenada (te = 2 seg.)
3500
3000
V() [mV]
2500
2000
1500
1000
500
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 2 - Curvas de intensidad, obtenidas para distintos tiempos

de arenado de la superficie de aluminio.
Para tiempos crecientes de exposicin al arenado se observa, adems de un incremento del offset de
ordenada, un enmascaramiento de la direcciones preferenciales iniciales, debido al patrn superficial
aleatorio generado por el impacto de las partculas de almina.
5.1.2 Resultados de la tcnica RIMAPS para las condiciones especificadas en el tem 4.1.2
En la Fig. 3 se muestran las grficas RIMAPS para la superficie de referencia, obtenida a partir de la
Imagen 3, y la correspondiente a un tiempo de arenado de 2 seg. (Imagen 8).

Tiempo de arenado: 2 seg.
Imagen 8
19

Pico 3
Pico 2
1,0
Pico 1
Amplitud normalizada
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
180
Rotacin [grados]
Fig. 3 - Grficas RIMAPS obtenidas para la superficie

de aluminio con arenado.
Se aprecian los tres picos generados por las dos direcciones ortogonales de las lneas de desbaste
presentes en la superficie de la probeta.
En la siguiente tabla se compara la ubicacin de los mximos para los dos casos de la Fig. 3:
Posicin angular.
Posicin angular.
(te = 0 seg.)
(te = 2 seg.)
Pico 1
M 1 = 1 10
M 1 = 0 10
Pico 2
M 2 = 92 10
M 2 = 90 30
Pico 3
M 3 = 179 10
M 3 = 179 2 0
Respecto de las direcciones preferenciales de la superficie, no se observan diferencias significativas

en la posicin angular de los mximos.
Por otro lado, el dao mecnico aplicado produce un aumento en el ancho de la base de los picos
originales, correspondientes a las dos direcciones presentes en la superficie inicial.
Es importante resaltar que an existiendo un patrn superficial inicial, la grfica RIMAPS permite
detectar la baja densidad de impactos producidos en la superficie de aluminio, por el pequeo tiempo
de exposicin al arenado.
En la Fig. 4 se muestra la curva de intensidad, correspondiente a la superficie inicial de la probeta de

acero inoxidable. Es posible apreciar los cuatro picos producidos por las dos direcciones ortogonales,
definidas por las lneas de desbaste practicadas con papel abrasivo ANSI 600.
20
Pico 1
Pico 3
1000
900
800
700
V() [mV]
600
500
Pico 2
400
Pico 4
300
200
100
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 4 - Curva de intensidad, obtenidas para la superficie inicial

de acero inoxidable.
Solo con el objeto de ilustrar la informacin proporcionada por la curva de intensidad, a continuacin
se determina la posicin de los mximos y se calculan sus posiciones angulares relativas sin tener en
cuenta los errores angulares involucrados. De la Fig. 4 se obtiene:
Posicin angular.
Pico 1
M 1 = 50 0
Pico 2
M 2 = 145 0
Pico 3
M 3 = 230 0
Pico 4
M 4 = 330 0
Ahora se calculan las posiciones relativas entre los mximos:

Posicin angular relativa de los dos picos,
M 3 M 1 = 180 0 correspondientes a una direccin,

de las lneas de desbaste mecnico.

0
M 4 M 2 = 185 correspondientes a la otra direccin,
Posicin angular relativa entre

las dos direcciones de desbaste.
M 2 M 1 = 95 0

M 4 M 3 = 100 0
21
En la Fig. 5 se muestran las curvas de intensidad para los tres tiempos de exposicin al arenado, en
contraste con la curva que corresponde a la superficie de referencia.

Superficie atacada (te = 2 seg.)
2750
2500
2250
2000
V() [mV]
1750
1500
1250
1000
750
500
250
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]

de arenado de la superficie de acero inoxidable.
Nuevamente se obtiene que para tiempos crecientes de exposicin al arenado se produce, adems de un
incremento del offset de ordenada, un enmascaramiento de las direcciones preferenciales iniciales,
debido al patrn superficial aleatorio generado por el impacto de las partculas de almina.
En la Fig. 6 se muestra la grfica RIMAPS, correspondiente a la superficie inicial de la probeta de

acero inoxidable (Imagen 4). Es posible apreciar los tres picos producidos por las dos direcciones
ortogonales, definidas por las lneas de desbaste practicadas con papel abrasivo ANSI 600.
22
Pico 1
1.0
Pico 3
Amplitud Normalizada
0.8
0.6
Pico 2
0.4
0.2
0.0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
180
Rotacin [grados]
Fig. 6 - Grfica RIMAPS de la superficie inicial de acero inoxidable.
A continuacin se determina la posicin de los mximos y se calculan sus posiciones angulares

relativas.
De la Fig. 6 se obtiene:
Posicin angular.
Pico 1
M 1 = 4 10
Pico 2
M 2 = 94 4 0
Pico 3
M 3 = 180 2 0
A continuacin se calculan las posiciones relativas entre los mximos:
M 3 M1
= 176 4,12 correspondientes a una direccin,


M 2 M 1 = 90 4,12 0

M 3 M 2 = 86 4,47 0
Para la propagacin del error en la posicin angular, se aplic la frmula de propagacin de errores,
considerando una variacin Gaussiana de los picos [10].
En la Fig. 7 se muestran las curvas de intensidad para un tiempo de exposicin al arenado de te = 2
seg., en contraste con la curva que corresponde a la superficie de referencia.
23
Imagen de la superficie de referencia (te = 0 seg.)

Imagen de la superficie arenada (te = 2 seg.)
Pico 1
1.0
Pico 3
0.8
0.6
Pico 2
0.4
0.2
0.0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
180
Rotacin [grados]
Fig. 7 - Grfica RIMAPS de la superficie inicial de acero inoxidable y,
la correspondiente a un arenado de 2 seg.
Respecto de las direcciones preferenciales de la superficie, podemos decir que no se observa una
modificacin significativa en la posicin de los mximos.
Pero por otro lado, el dao mecnico aplicado produce un aumento en el ancho de la base de los picos
originales, correspondientes a las dos direcciones presentes en la superficie inicial de la probeta.
Nuevamente, existiendo un patrn superficial inicial, la grfica RIMAPS permite detectar la baja
densidad de impactos producidos en la superficie de acero inoxidable, por el pequeo tiempo de
exposicin al arenado. Se debe notar que en este caso se trata de una superficie de dureza
considerablemente mayor a la del aluminio.
En la Fig. 8 se observa que para la superficie inicial de la probeta de material compuesto, las curvas de
intensidad no detectan direcciones preferenciales.
Luego, la exposicin al arenado produce la aparicin de picos generados por dao de los impactos
distribuidos en forma aleatoria.
24

600
550
500
450
V() [mV]
400
350
300
250
200
150
100
50
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]

de arenado de la superficie de material compuesto.
No es posible detectar alguna direccin preferencial para = 90, eventualmente establecida por la
incidencia rasante (30) fijada para el flujo de partculas en este caso.
Con el objetivo de caracterizar los cambios en las curvas de intensidad, se procede a integrarlos en una
sola grfica, calculando el rea bajo cada curva y graficndola en el tiempo. En la Fig. 9 se muestra la
evolucin del rea normalizada para los distintos tiempos de exposicin al arenado.
1.0
Area normalizada
0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.0
2.5
5.0
7.5
10.0
12.5
15.0
17.5
Tiempo [segundos]
Fig. 9 - Evolucin del rea normalizada de las curvas de intensidad,
para el material compuesto arenado.
25
Las imgenes obtenidas para el caso del material compuesto son:

Superficie: Material compuesto
(Estado inicial)

Superficie: Material compuesto
Tiempo de exposicin al arenado: 2 seg.
Imagen 9
Imagen 10
En la Fig. 10 se muestran las grficas RIMAPS para estas imgenes.

1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
180
Rotacin [grados]
Fig. 10 - Grficas RIMAPS, obtenidas para la superficie inicial de
material compuesto, y la correspondiente a un arenado de 2 seg.
En la grfica RIMAPS de la superficie inicial se detecta una direccin preferencial, manifestada por
los picos ubicados alrededor de 0 y 180. Tal direccin puede apreciarse en la Imagen 9 como lneas
horizontales. El mximo ubicado alrededor de los 65, indica la presencia de lneas que van desde la
esquina superior izquierda hacia la esquina inferior derecha de la Imagen 9.
26
Estas direcciones son producidas por plegamientos o deformaciones de la pelcula de tefln, que
recubre a la probeta de material compuesto. Dado que la pelcula de tefln resulta transparente a la luz
del haz LASER, ocurre que estas rugosidades lineales no son detectadas por las curvas de intensidad
de la tcnica ULOI (Fig. 8).
En el caso de la superficie arenada, las direcciones mencionadas quedan enmascaradas, producindose
la aparicin de nuevos picos que pueden atribuirse a direcciones generadas por la distribucin aleatoria
de los impactos de partculas de almina.
En la Fig. 11 se muestran las curvas de intensidad obtenidas aplicando la tcnica ULOI, para las
superficies descriptas. En estas mediciones se utiliz un paso angular de 10.
Para todas las curvas de intensidad se utiliz la misma cadena de medicin, lo que incluye el mismo
ngulo de incidencia del haz LASER.
ANSI 400 (Vmax = 8790mV)

9000
7500
V() = [mV]
6000
4500
3000
1500
0
0
45
90
135
180
225
270
315
= [grados]
Fig. 11 - Curvas de intensidad de un desbaste unidireccional,

para cuatro granulometras diferentes.
Los dos picos presentes en cada curva de intensidad revelan la existencia de la direccin preferencial
en la superficie de la probeta. Estos mximos se producen cuando las lneas de desbaste mecnico se
ubican en forma perpendicular a la direccin de incidencia del haz LASER. Por lo tanto se tienen dos
mximos separados 180, uno ubicado alrededor de 90 y otro alrededor de 270.
27
Dado que la profundidad de la rugosidad generada por el desbaste mecnico, es directamente

proporcional al tamao de las partculas del papel abrasivo utilizado [9]. Podemos concluir que un
aumento en la profundidad de la rugosidad superficial de la probeta de aluminio produce:
-
Aumento en la amplitud de los picos.
Aumento en el ancho de la base de los picos.
Un pequeo aumento del offset de ordenada.
Es posible integrar las variaciones ocurridas en estos tres parmetros caractersticos de los picos,
graficando el rea bajo cada curva de intensidad en funcin de la granulometra.
Esto se muestra en la Fig. 12, donde se puede notar que para importantes incrementos en la
profundidad de la rugosidad superficial, superiores a la generada por el papel abrasivo ANSI 1000, el
rea normalizada bajo los picos aumenta en forma proporcional. En cambio, para pequeas variaciones
en la profundidad de la rugosidad superficial, por debajo de la generada por el papel abrasivo ANSI
1000, el rea normalizada no sufre grandes cambios.
ANSI_400
1.0
0.9
0.8
Area normalizada
0.7
ANSI_600
0.6
0.5
0.4
ANSI_1500
0.3
0.2
ANSI_1000
0.1
0.0
0
10
12
14
16
18
20
22
24
26
Granulometra [m]
Fig. 12 - Area normalizada bajo las curvas de intensidad, para cuatro valores
de profundidad de la rugosidad, dadas por el desbaste mecnico
con cuatro papeles abrasivos diferentes.
En la Fig. 13 se muestra la grfica RIMAPS de la imagen tomada a la superficie de aluminio, con el

desbaste mecnico unidireccional proporcionado por el papel abrasivo ANSI 1500 (Imagen 7).
28
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
180
Rotacin [grados]
Fig 13 - Grfica RIMAPS de la imagen de la superficie de aluminio,
la condicin superficial corresponde a un desbaste mecnico ANSI 1500.
Se observa un mximo en 95 2, que corresponde a la alineacin horizontal de la nica direccin

establecida por el desbaste mecnico.
5.2 Resultados de los ataques qumicos

En la Fig. 14 se muestra la curva de intensidad obtenida para la superficie de referencia especificada.
Pico 2
Pico 1
= 175 + 14,14
1400
1200
V() [mV]
1000
800
600
400
200
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 14 - Curva de intensidad, obtenida para la condicin

inicial de la superficie de la probeta de aluminio.
29
Los mximos se ubican en:

Pico 1 en M 1 M 1 = 90 10 0
Pico 2 en M 2 M 2 = 265 10 0
La posicin angular relativa de los picos es:
12 = ( M 2 M 1 )
( M 1 )2 + ( M 2 )2
= 175 14,14 0 *
Esto indica claramente la existencia de una nica direccin preferencial en la superficie dada por el
desbaste mecnico. Esta informacin es coincidente con lo observado en la grfica RIMAPS de la
misma superficie (Fig. 13).
A continuacin se analizan los resultados obtenidos al utilizar el compuesto Keller como agente
corrosivo sobre la probeta de aluminio.
En la Fig. 15 se muestran los efectos sobre las curvas de intensidad para los primeros segundos de
exposicin de la probeta al compuesto Keller.

5500
5000
4500
4000
V() [mV]
3500
3000
2500
2000
Pico 1
1500
Pico 2
1000
500
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 15 - Curvas de intensidad, obtenidas para distintos tiempos de exposicin

de la superficie de aluminio, al compuesto Keller.
El anlisis de las curvas de intensidad, como las mostradas en la Fig. 15, pero abarcando todo el rango
del tiempo de exposicin te al agente corrosivo, ha permitido identificar tres etapas diferentes para la
evolucin de dichas curvas. Estas etapas son:
* Para la propagacin del error en la posicin angular, se aplic la frmula de propagacin de errores,
considerando una variacin Gaussiana de los picos [10].
30
a. Dao superficial incipiente 0 < t e 100seg.
En esta etapa se observ:

-
Importante aumento en la amplitud de los picos.
Significativo aumento en el ancho de la base de los picos.
Marcado aumento en el offset de ordenada.
No se detect nuevas direcciones preferenciales en la superficie de la muestra.
Con el objetivo de caracterizar estos cambios, se procede a integrarlos en una sola grfica, de forma
similar a lo planteado en los tems 5.1.5 y 5.1.7. Entonces, se calcula el rea bajo cada curva de
intensidad, luego se las normaliza respecto del mximo valor obtenido y finalmente se grafica el rea
normalizada en funcin del tiempo. Un primer resultado se muestra en la Fig. 16.
1.0
Area normalizada
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
110
Tiempo [segundos]
Fig. 16 - Evolucin del rea normalizada de las curvas de intensidad
en la Etapa 1 (Keller).
Al repetir las mediciones bajo las mismas condiciones, pero acotando con mas cuidado los ajustes de
la cadena de medicin, como son el ngulo de incidencia y tiempo de estabilizacin del haz LASER,
se obtuvieron los resultados que se muestran en la Fig. 17.
31
1.0
Area normalizada
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
180
195
Tiempo [segundos]
(nueva medicin)
Realizando el ajuste de la curva mediante un crecimiento exponencial de primer orden, dado por
An(t ) = 1 + A e
t
T
se obtiene:
1.0
Area normalizada
0.8
Model: Evolucin exponencial de primer orden.
0.6
A
T
-0.77533
7.68767
0.01849
0.42508
0.4
0.2
0.0
0
25
50
75
100
125
150
175
200
Tiempo [seg]
Ajuste de los valores de rea normalizada,
mediante un crecimiento exponencial de primer orden.
(Keller)
An(t ) = 1 0,77533 e
t
7 , 68767
La curva de la Fig. 17 sintetiza las modificaciones que se producen en los picos de las curvas de
intensidad, a medida que aumenta el tiempo de exposicin de la superficie al agente corrosivo. La
evolucin observada, puede ser utilizada para caracterizar la cintica del dao superficial incipiente.
32
b. Picado generalizado en avance 100 seg . < t e 490 seg .

-
Alteracin en la forma y desplazamiento en la posicin angular de los picos previamente

existentes.
No se registr variaciones significativas en la amplitud de los picos previamente existentes.
No se registr variaciones significativas en el offset de ordenada.
No se detect nuevas direcciones definidas, sino una modificacin de las direcciones

preferenciales originales.
En la Fig. 18 muestra que, en esta etapa, la curva de rea normalizada permanece prcticamente
constante.
1.0
Area normalizada
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
105
140
175
210
245
280
315
350
385
420
455
490
Tiempo [segundos]
En esta etapa, el picado generalizado producido por el agente corrosivo, genera un enmascaramiento
de la direccin definida por el desbaste mecnico inicial. Al mismo tiempo se fue revelando
gradualmente un nuevo ordenamiento subyacente y en una direccin diferente a las lneas de desbaste.
Esta nueva direccin se define por la manifestacin incipiente de figuras de corrosin, producto de la
accin del agente corrosivo sobre el grano analizado. El conjunto de tales figuras de corrosin
incipientes surgen con un ordenamiento que es propio de la orientacin cristalina que presenta el
grano.
Estos sucesos son los responsables de las alteraciones ocurridas en los picos de las curvas de
intensidad.
33
En la Imagen 11 se puede observar el picado generalizado de la superficie para 195 segundos de

exposicin al compuesto Keller:

(desbaste inicial ANSI 1500)
Tiempo de exposicin al compuesto Keller: 195seg.
Imagen 11
En las Figs. 19 y 20 se muestran las curvas de intensidad, correspondientes al tiempo de exposicin a

partir del cual es posible detectar el surgimiento de la nueva direccin preferencial en la superficie de
la probeta.

4000
3500
Alteracines
en la forma del pico
3000
V() [mV]
2500
2000
Pico 2
Pico 1
1500
1000
500
0
0
45
90
135
180
225
270
[grados]
Fig. 19 - Manifestacin de la nueva direccin preferencial,

evidenciada por alteraciones en el Pico 2.
34
315

Desplazamiento del mximo

4000
3500
3000
Alteraciones
en la forma del pico
V() [mV]
2500
2000
1500
1000
500
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 20 - Manifestacin de la nueva direccin preferencial,

evidenciada por alteraciones en el Pico 1.
El tiempo de deteccin se encuentra alrededor de los 200 segundos de exposicin al compuesto Keller.
c. Manifestacin de las figuras de corrosin 490seg. < t e 4095seg.

-
Marcado desplazamiento en la posicin angular de los picos previamente existentes.
Importante reduccin en el ancho de los picos.
Reduccin en el offset de ordenada.
No se registr variaciones significativas en la amplitud de los picos.
Se produjo la aparicin y desplazamiento en la posicin angular de un nuevo mximo (Pico 3).
Las Figs. 21 y 22 muestran los sucesos mencionados.
35

Pico 1
5000
4000
Pico 2
V() [mV]
3000
2000
Pico 3
1000
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 21 - Evolucin de las curvas de intensidad en la Etapa 3.


Pico 1
5000
4500
4000
V() [mV]
3500
Pico 2
3000
2500
2000
Pico 3
1500
1000
500
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 22 - Evolucin de las curvas de intensidad en la Etapa 3.

Para integrar estos cambios en una sola grfica recurrimos nuevamente a graficar el rea normalizada
en funcin del tiempo. La Fig. 23 muestra el resultado obtenido.
36
1.0
Area normalizada
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
4000
Tiempo [segundos]
En esta etapa como consecuencia del avance del dao producido por el agente corrosivo, adems de
ocurrir la casi total eliminacin de la direccin preferencial dada por el desbaste mecnico, se produce
una marcada manifestacin de las figuras de corrosin.
Esto genera dos fenmenos:
-
Se define clara y en forma predominante la nueva direccin preferencial establecida por el

ordenamiento del conjunto de figuras de corrosin.
La geometra propia de las figuras de corrosin del grano, hace que se manifiesten nuevas
direcciones preferenciales.
El resultado son picos de pequeo ancho y gran amplitud generados por el ordenamiento del conjunto
de figuras de corrosin y, por otro lado, el surgimiento de nuevos picos producidos por la geometra
propia de las figuras de corrosin del grano.
Todo esto es coincidente con el decaimiento observado en la curva del rea normalizada.
Para la obtencin de las curvas de intensidad, en los distintos tiempos de exposicin, la probeta de
aluminio se ubic en la misma posicin relativa respecto de la iluminacin del haz LASER, por lo
tanto, es posible construir la Fig. 24 donde se muestra el desplazamiento de la posicin angular de los
picos, en funcin del tiempo de exposicin al agente corrosivo. A partir de los 1695 seg. se puede ver
la ubicacin del nuevo mximo (Pico 3).
37
Pico 1
Pico 2
Pico 3
360
Posicin angular [grados]
315
270
225
180
135
90
45
10
100
1000
Tiempo [seg]
Fig. 24 - Desplazamiento de la posicin angular de los picos
en funcin del tiempo de exposicin.
Las Figs. 25, 26 y 27 se puede ver el detalle del desplazamiento para cada pico en particular.
105
100
95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
10
100
1000
Tiempo [segundos]
Fig. 25 - Desplazamiento angular del Pico 1.
38
290
280
270
260
250
240
230
220
10
100
1000
Tiempo [segundos]
350
340
330
320
310
300
290
280
1750
2000
2250
2500
2750
3000
3250
3500
3750
4000
Tiempo [seg]
La tabla siguiente da la posicin angular inicial y final de cada pico.
Pico 1
Pico 2
Pico 3
Posicin angular inicial.
Posicin angular final.
M 1 _ inicial = 90 10 0
M 1 _ final = 65 2,5 0
(para te = 0 seg.)
(para te = 4095 seg.)
M 2 _ inicial = 265 10 0
M 2 _ final = 240 5 0
(para te = 0 seg.)
M 3 _ inicial = 315 20 0
M 3 _ final = 335,5 19,5 0
39
Ahora se calculan las posiciones relativas entre los mximos:

correspondientes a la direccin de las lneas de desbaste mecnico.
M 2 _ inicial M 1 _ inicial = 175 14,14 0

M 2 _ final M 1 _ final
= 175 5,59 correspondientes a la direccin originada por el ordenamiento

del conjunto de figuras de corrosin.
La posicin angular relativa entre la direccin inicial A dada por las lneas de desbaste y la nueva
direccin B generada por el ordenamiento del conjunto de figuras de corrosin es:
M 1 _ inicial M 1 _ final = 25 10,30
B A
M 2 _ inicial M 2 _ final = 25 11,18 0
Los valores angulares entre las direcciones definidas por la geometra propia de las figuras de
corrosin son:
M 3 _ final M 1 _ final = 270,5 19,66 0 }B C + 180 0
M 3 _ final M 2 _ final = 95,5 20,130 }B C
Las direcciones A, B y C se indican en las Imgenes 12 y 13 obtenidas en el microscopio

electrnico de barrido, y corresponden a la superficie de aluminio para un tiempo de exposicin de
4095 segundos al compuesto Keller:
Microscopio electrnico de barrido,

Tiempo de ataque con Keller: 4095seg.

Imagen 12
Imagen 13
A Direccin de las lneas de desbaste mecnico inicial.

B, C Direcciones definidas por la geometra de las figuras de corrosin.
40
Picado generalizado en avance 100 seg . < t e 490 seg .
Dentro de esta etapa ha sido posible obtener la grfica RIMAPS a partir de la cual es posible detectar
el surgimiento de nuevas direcciones preferenciales, generadas por la manifestacin gradual de figuras
de corrosin.
En la Fig. 28 se muestra la grfica RIMAPS correspondiente a un tiempo de exposicin de 195 seg., en
contraste con la superficie de referencia (Imagen 7).
Imagen de la superficie de referencia (te = 0 seg.)
Imagen de la superficie atacada (te = 195 seg.)
Desplazamiento del mximo
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
180
Rotacin [grados]
Fig. 28 - Grfica RIMAPS en la que se manifestacin de la nueva direccin preferencial,
evidenciada por el desplazamiento del mximo en la grfica RIMAPS.
Se observa un aumento en el ancho de la base del pico mostrado por la grfica RIMAPS.
La comparacin en la posicin del mximo de las dos grficas, solo es posible porque que las dos
imgenes fueron tomadas en la misma zona del grano y se fij la probeta en la misma posicin
respecto del sistema de adquisicin de imgenes. Se puede apreciar un leve desplazamiento del
mximo hacia la izquierda.
Tiempo de exposicin = 0seg. M = 95 2 0
Tiempo de exposicin = 195seg. M = 90 10
Manifestacin de las figuras de corrosin 490seg. < t e 4095seg.
Se observa una marcada modificacin de la grfica RIMAPS, respecto de la obtenida para la superficie
de referencia. La deteccin de nuevas direcciones, se debe a que en esta etapa se manifiestan en mayor
medida las figuras de corrosin.
En la siguiente imagen se muestra la superficie de aluminio para dos tiempos de exposicin
pertenecientes a esta etapa.
41

Imagen 14


Imagen 15
Imagen 16
La grfica RIMAPS correspondiente a la Imagen 16 se muestra en la Fig. 29.

Pico A
Pico B
1.0
Pico C
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
Rotacin [grados]
Fig. 29 - Grfica RIMAPS para un tiempo de exposicin de 4095seg,
de la superficie de aluminio al compuesto Keller.
42
180
Las ubicaciones de los mximos principales son:

Posicin angular del mximo.
Pico A
MA = 74 30
Pico B
MB = 90 10
Pico C
MC = 144 10
Las posiciones angulares relativas resultan:
MB MA = 16 3,16 0
MC MB = 54 1,410
MC MA = 70 3,16 0
En primer lugar se analiza el ataque con el compuesto Tucker, a la probeta de aluminio con una
terminacin superficial proporcionada por un pulido electroltico.
Realizando sistemticamente inspecciones en el microscopio ptico y la aplicacin de la tcnica ULOI,
sobre la superficie de la probeta para distintos tiempos de exposicin al agente corrosivo, no se detect
el picado generalizado, ni el surgimiento gradual de figuras de corrosin. Por el contrario, a partir de
un instante determinado se produjo la manifestacin de figuras de corrosin localizadas en las zonas
deformadas mecnicamente del grano analizado (alrededor de la marca practicada para la
identificacin del grano). Luego de ese momento, se observ la distribucin abrupta de figuras de
corrosin en todo el grano.
Debido a este comportamiento aqu solo se analiza la condicin de dao extremo que presenta la
superficie luego de un tiempo de exposicin prolongado. La curva de intensidad para tal condicin se
muestra en la Fig. 30.
43
Pico 2
9000
Pico 1
8000
7000
V() [mV]
6000
5000
4000
Pico 3
3000
2000
1000
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 30 - Curva de intensidad correspondiente a la superficie de aluminio

pulida electrolticamente, y luego expuesta al compuesto Tucker.
Las ubicaciones de los mximos son:

Pico 1
M 1 = 64 2,5 0
Pico 2
M 2 = 222,5 7,5 0
Pico 3
M 3 = 325 15 0
Las siguientes posiciones angulares relativas son valores angulares entre las direcciones definidas por
la geometra propia de las figuras de corrosin:
M 2 M 1 = 158,5 7,9 0
M 3 M 2 = 102,5 16,77 0
M 3 M 1 = 261 15,2 0
1 = 180 0 a = 158,5 7,9 0

2 = 180 0 b = 102,5 16,77 0
3 = 180 0 c = 360 0 -(261 15,2 0 ) = 99 15,2 0

b
2
44
Donde 1 , 2 y 3 son los ngulos entre las aristas de las figuras de corrosin para el grano
estudiado. En el esquema anterior, las flechas indican la direccin del haz LASER que produce un
mximo en la curva de intensidad, tales direcciones resultan perpendiculares a las aristas de la figura
de corrosin.
A continuacin se muestran los resultados obtenidos al practicar sobre la misma probeta, la
terminacin superficial por desbaste mecnico con papel abrasivo ANSI 1500 y manteniendo al
compuesto Tucker como agente corrosivo.
En la Fig. 31 se muestran los efectos sobre las curvas de intensidad para los primeros segundos de
exposicin.

6000
5500
5000
4500
V() [mV]
4000
3500
3000
2500
2000
1500
1000
500
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 31 - Curvas de intensidad, obtenidas para distintos tiempos de exposicin

de la superficie de aluminio, al compuesto Tucker.
La evolucin de la curva de rea normalizada en la Etapa 1 (dao superficial incipiente), se muestra en

la Fig. 32:
45
1.0
Area normalizada
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
0
25
50
75
100
125
150
175
200
tiempo [seg]
en la Etapa 1 (Tucker).
Realizando el ajuste de la curva mediante un crecimiento exponencial de primer orden, dado por
An(t ) = 1 + A e
t
T
se obtiene:
1.0
Area normalizada
0.8
Model: Evolucin exponencial de primer orden.
0.6
A
T
-0.81978
7.50351
0.03819
0.80697
0.4
0.2
0.0
0
25
50
75
100
125
150
175
200
Tiempo [seg]
Ajuste de los valores de rea normalizada,
mediante un crecimiento exponencial de primer orden.
(Tucker)
An(t ) = 1 0,81978 e
t
7 , 50351
La curva de intensidad correspondiente al dao extremo, para un tiempo de exposicin de 600

segundos al agente Tucker, es mostrada en la Fig. 33:
46
Pico 2
Pico 1
9000
8000
7000
V() [mV]
6000
5000
Pico 3
4000
3000
2000
1000
0
0
45
90
135
180
225
270
315
[grados]
Fig. 33 - Curva de intensidad correspondiente a la superficie de aluminio

con desbaste mecnico inicial y luego expuesta,
600 seg. al compuesto Tucker.
Debe notarse que la forma particular del Pico 2 se debe a la saturacin del sistema sensor de
intensidad.
Las ubicaciones de los mximos son:

Pico 1
M 1 = 82 2,5 0
Pico 2
M 2 = 225 20 0
Pico 3
M 3 = 313 2,5 0
Las siguientes posiciones angulares relativas son valores angulares entre las direcciones definidas por
la geometra propia de las figuras de corrosin:
M 2 M 1 = 143 20,16 0
M 3 M 2 = 88 20,16 0
M 3 M 1 = 231 3,54 0
Las direcciones A, B,C y D que se indican en las Imgenes 17, 18 y 19 obtenidas en el
microscopio electrnico de barrido, corresponden a la superficie de aluminio, con desbaste mecnico,
para un tiempo de exposicin de 600 segundos al compuesto Tucker:
47

Tiempo de ataque con Tucker: 600seg.

Imagen 17
Imagen 18

Imagen 19
A Direccin de las lneas de desbaste mecnico inicial.

B, C, D Direcciones definidas por la geometra de las figuras de corrosin.
48
Existen diferencias apreciables al comparar estos valores angulares, y los obtenidos para la misma
terminacin superficial atacada con Keller y la superficie con pulido electroltico atacada con Tucker.
Se debe tener en cuenta que an tratndose del mismo grano analizado en la probeta, la geometra de
las figuras de corrosin es revelada en forma distinta por los dos compuestos, Keller y Tucker. Esto
puede verificarse observando las Imgenes 12, 13, 17, 18 y 19. Adems debe sumarse la influencia de
las deformaciones ocasionadas por el desbaste mecnico inicial de la superficie.
6. Proyeccin de los resultados obtenidos en la caracterizacin del dao qumico
Los resultados que se han obtenido al exponer la superficie de aluminio, con distintas terminaciones
superficiales, a la accin de dos compuestos qumicos, permiten concluir que el proceso de corrosin
en general depender de:
-
Metal atacado.
Condiciones ambientales (agente corrosivo, temperatura, presin, etc).
Terminacin de la superficie, caracterizada por la rugosidad, deformaciones y tensiones

superficiales del metal.
Sin olvidar los complejos procesos fsico-qumicos involucrados en la corrosin, es posible plantear la
hiptesis de que las deformaciones superficiales, ocasionadas por el desbaste mecnico, generan una
distribucin de tensiones en la superficie que favorece el proceso de corrosin, a travs del cual se
facilita la liberacin de energa por parte de la estructura superficial del metal. Por otra parte si se
considera que durante el proceso de pulido electroltico se produce liberacin de tensiones en la
superficie, es posible comprender el comportamiento tan diferente del proceso de corrosin entre los
dos tipos de terminaciones superficiales (pulido electroltico y desbaste con papel abrasivo) para el
mismo agente corrosivo (Tucker) y metal estudiado (aluminio).
En particular para la superficie correspondiente al desbaste mecnico con papel abrasivo ANSI 1500,
el comportamiento del rea normalizada, para las curvas de intensidad obtenidas mediante la tcnica
ULOI, se pueden resumir en el siguiente esquema:
Area normalizada
tiempo
49
La evolucin temporal de cada etapa se caracteriza por:

1.- Etapa de dao superficial incipiente:
Es funcin de la terminacin de la superficie del metal (rugosidad y deformaciones superficiales).
2.- Etapa de picado generalizado en avance:
La evolucin de las curvas de intensidad en esta etapa, depende de la diferencia entre la direccin
inicial dada por las lneas de desbaste y, la nueva direccin definida por el ordenamiento del conjunto
de figuras de corrosin. La curva de rea normalizada permanece prcticamente sin cambio.
3.- Etapa de Manifestacin de las figuras de corrosin:
Es determinada por:
-
Ordenamiento del conjunto de figuras de corrosin.
Geometra propia de las figuras de corrosin y, la forma en que esta geometra es revelada por
el agente corrosivo que ataca la superficie.
Las Etapas 2 y 3 son muy sensibles a la orientacin cristalina del grano analizado.
Estos resultados inducen a pensar en una posible relacin entre la evolucin temporal de la Etapa 1,
definida por su constante de crecimiento T y, la velocidad de corrosin final luego de la Etapa 3. De
existir tal relacin, manteniendo entonces la misma terminacin de la superficie del metal por algn
desbaste mecnico y, modificando solo el agente corrosivo, se podra predecir el rango en el que se
encuentra la velocidad de corrosin del metal (dao extremo), a partir de la cintica de la Etapa 1
(dao incipiente). Esto hara posible, la comparacin del proceso de corrosin entre distintos agentes,
o condiciones ambientales en general, por la caracterizacin de la Etapa 1 en cada caso.
En la Etapa 1 no se manifiestan figuras de corrosin, sino que ocurre un picado generalizado que
produce un aumento de intensidad del patrn de difraccin captado por el objetivo del microscopio.
Resulta interesante plantear nuevos ensayos, que permitan evaluar la posibilidad de cierta
independencia, en la evolucin del rea normalizada observada en esta etapa, respecto de la
orientacin cristalina del grano, o ms an, del nmero de granos abarcados por el campo visual.
50
7. Conclusiones generales
En las experiencias llevadas a cabo, se produjo distintas alteraciones superficiales, tanto qumicas
como mecnicas, en los materiales analizados. El estudio mediante las tcnicas ULOI y RIMAPS, han
suministrado alentadores resultados.
En coincidencia con trabajos anteriores [2], la grfica ULOI de la superficie de aluminio con pulido
electroltico, revel los ngulos ( ) entre las aristas de las figuras de corrosin.
El anlisis de las mediciones realizadas para los distintos tipos de dao condujo a plantear las grficas
del rea normalizada en funcin del tiempo, las que aportan importante informacin sobre la evolucin
del dao en la superficie estudiada. Especficamente para el caso del ataque qumico, estas grficas
permitieron encontrar un comportamiento caracterstico para la etapa de dao qumico incipiente. A tal
evolucin temporal inicial del rea normalizada en funcin del tiempo se la ha denominado Etapa 1 o
Etapa de dao superficial incipiente.
Si bien en este trabajo se ha calculado el rea normalizada, a partir de las curvas de intensidad
proporcionadas por la tcnica ULOI, no se descarta un clculo similar basado en las grficas RIMAPS.
Por otra parte, una vez superada la etapa de dao incipiente, fue posible detectar el surgimiento de
figuras de corrosin, manifestado por la alteracin evidente de las grficas suministradas por ULOI y
RIMAPS, respecto de las obtenidas para las superficies de referencia antes de producir el dao.
51
8. Referencias
1. Eduardo A. Favret and Francisco Povolo, Microscopy Research and Technique. 2001. 55, 270
281.
2. Eduardo Favret, Francisco Povolo and Adrian Cazian, Practical Metallographie. 1999. 36, 206
215.
3. J. D. Jackson. Classical Electrodynamics. 2nd edn. Berkeley, 1974.
4. Bruno Rossi, professor of phisics MIT. Optics. Addison-Wesley Publishing Company,Inc.
Cambridge, Massachusetts, 1956.
5. Eduardo A. Favret and Nestor O. Fuentes, Materials Characterization. 2003. 49, 387 393
6. Nestor O. Fuentes and Eduardo A. Favret, Journal of Microscopy. 2002. 206, 72 83
7.
William K. Pratt. Digital Image Processing. 2nd edn. John Wiley & Sons, Inc. New York,
1991.
8. Edward R. Dougherty, Charles R. Giardina. Matriz Structured Image Processing. Prentice

Hall, Inc. New Jersey, 1987.
9. Gnter Petzow. Metallographic Etching. Compliments of BUEHLER. Stuttgart, West
Germany, 1977.
10. Glenn F. Knoll. Radiation Detection and Measurement. 3th edn. John Wiley & Sons, Inc. New
York, 1999.
52
10. Agradecimientos
A mis padres Aldo y Esther.

A Florencia, por dedicarme tanta paciencia y ternura.
A mis hermanas Vanesa, Guadalupe y Jesica, por todo su cario.
Un especial agradecimiento a Maria Eugenia, Leandro, Natalia, Rafael y Agustn, por su desinteresada
ayuda y por la confianza que siempre han tenido en m.
Un clido agradecimiento a Roberto, Marta y Luciana Cpula, por la gran consideracin y afecto que
me han brindado.
Al Ing. Roberto A. Riachi, por su calidad humana y por el respaldo con el que siempre he podido
contar.
A los Ings. Eduardo Gonzlez y Juan Picco, por la predisposicin a escucharme y su oportuno apoyo.
A los Drs. Nestor O. Fuentes y Eduardo A. Favret por todo lo ofrecido.
A los Sres. Ramn A. Castillo Guerra y Ricardo J. Montero por facilitarme el acceso al laboratorio de
microscopa y por su invalorable asistencia.
Al Sr. Hctor A. Raffaeli por su gran ayuda en los ensayos.
A Sra. Marcela Margutti y Lic. Anglica Straus por la atencin dedicada durante todo este tiempo.
Al Instituto Balseiro y al Dr. Carlos J. Gho por hacer esto posible.
53
Apndice 1: Conceptos relacionados con la tcnica ULOI
Esta tcnica consiste en utilizar un haz LASER, incidente en forma oblicua sobre la muestra, como
fuente de iluminacin en un microscopio de reflexin para observaciones metalogrficas.
a
0 < 360
Muestra
Hi
PD
Hr
Sistema soporte de
posicionamiento
del can LASER
Objetivo
LASER
30 mW
= 632,8 nm
Sistema ptico
Sistema sensor de
intensidad de luz
Ocular
Fuente de
alta tensin.
Voltmetro
V() = [mV] I()
Fuente de
12Vdc.
Hi Haz incidente.
Hr Haz reflejado.
PD Patrn de difraccin.
Fig. A1
54
220Vac
50Hz
La rugosidad superficial de la muestra constituye un sistema de difraccin, definido por una longitud
caracterstica. Como consecuencia de la interaccin del haz incidente con la superficie de la muestra,
se generan ondas reflejadas y difractadas. La distribucin angular de las ondas en la regin de
difraccin se denomina patrn de difraccin. Siendo ste funcin de la geometra involucrada, deben
considerarse tres escalas de longitud:
1) Longitud caracterstica d del sistema de difraccin.
2) Distancia r desde el sistema de difraccin hasta el punto de observacin.
3) Longitud de onda del haz LASER.
Las ondas difractadas se generan cuando el haz LASER incidente encuentra en su camino estructuras
cuyas dimensiones, son del orden de magnitud de la longitud de onda de la luz monocromtica que
conforma el haz. Tales estructuras dadas por la rugosidad superficial de la muestra, que actan como
sistema de difraccin, pueden tener diversos orgenes: rugosidad cristalina, capas de xido, lneas de
pulido y en general relieves superficiales producidos por la accin de reactivos qumicos o procesos
mecnicos.
Dado que el ngulo de incidencia utilizado para el haz LASER es aproximadamente 10, en el
objetivo del microscopio ingresan las ondas correspondientes a los ordenes de difraccin mas altos
generados por la topografa de la superficie.
Se destaca que, por el tipo y forma de iluminacin utilizada en esta tcnica, el objetivo buscado no es
la observacin directa de la rugosidad superficial de la muestra, ya que la nitidez es afectada por la
elevada coherencia del haz LASER. En su lugar se realiza la medicin de la intensidad de luz del
patrn de difraccin capturado por el objetivo, lo que posibilita la deteccin de estructuras
superficiales, an cuando estas se encuentren por debajo del poder de resolucin del objetivo.
Las curvas de intensidad de luz LASER I ( ) se obtienen rotando la muestra alrededor de un eje
perpendicular a su superficie, tal como se indica en la Fig. A1, y registrando, con un fotmetro a travs
del objetivo del microscopio, la intensidad de luz I ( ) dispersada por la superficie.
A continuacin se muestran imgenes del sistema utilizado, para la aplicacin de la tcnica ULOI en
las experiencias realizadas:
55
Microscopio, sistema LASER y sistema

sensor de intensidad del patrn de
difraccin.
Can LASER y su sistema

de posicionamiento.
Sistema sensor de intensidad del patrn de

difraccin. En el ocular puede apreciarse la
difraccin del haz LASER captada por el
objetivo del microscopio.
Muestra de aluminio, ocular y sistema de

rotacin del microscopio utilizado.
Sistema sensor de intensidad del patrn

de difraccin, y su conexin directa al
voltmetro digital.
56
Apndice 2: Conceptos relacionados con la tcnica RIMAPS
Los procedimientos de clculo involucrados en la obtencin de los Coeficientes de la Serie

Exponencial de Fourier, como de la Transformada de Fourier de una funcin, son bsicamente
operaciones de integracin.
Estas ecuaciones pueden plantearse de tres formas:
1) Expresiones Continuas Analticas.
2) Expresiones Discretas en Serie.
3) Expresiones Matriciales Numricas.
Donde las expresiones del tem 1, involucran variables independientes continuas
(variables independie ntes Re ales ) , obteniendo as funciones continuas.

Luego para posibilitar el tratamiento de seales por sistemas de procesamiento digital, en la prctica
surge la necesidad de tomar las seales analgicas (funciones contnuas) y realizar sobre ellas un
proceso de digitalizacin, el cual se puede dividir en tres pasos bsicos: Muestreo, Cuantificacin y
Codificacin.
Seal Digital
Seal Analgica
(Continua)
Muestreo
Cuantificacin
Codificacin
(Discretizada
en amplitud
y en el tiempo)
Las seales de variables independientes discretas (variables independie ntes Naturales ) y sus
expresiones asociadas, se incluyen en los tems 2 y 3, siendo stas, aproximaciones de las ecuaciones
del tem 1.
1 - Funciones de una variable independiente:
1.1 Expresiones analticas continuas
Considerando
f ( x) funcin continua absolutamente integrable
f ( x) dx <
ei.n.w. x Conjunto ortogonal de funciones con
n Z (enteros )
w = w0 =
Es posible plantear:
1.1.1 Serie exponencial de Fourier
La funcin f ( x ) queda representada en el intervalo [x1 ; x2 ] mediante la serie:

f ( x) =
n =
e i n w x
x1 x x2
57
2
(x2 x1 )
siendo
x
2
1
fn =
f ( x) e i n w x dx Coeficientes complejos de la serie exponencial de Fourier
(x2 x1 ) x1
ei n w x = cos(n w x) + i sen(n w x) Frmula de Euler

ei n w x = ( x2 x1 ) Norma del conjunto de funciones ortogonales
Cuando f ( x ) es funcin real resulta f n* = f n y como f n = f n* entonces f n = f n . Esto significa

que toda funcin real posee una grfica de los mdulos de las componentes espectrales de Fourier
simtrica al eje de ordenadas.
Para f ( x ) no peridica, la serie representa a la funcin, solo en el intervalo [x1 ; x2 ] .
Para f ( x ) peridica de perodo X , se tiene f ( x ) = f ( x + X ) . Al tomar:
x1 =
entonces la serie representa a la funcin solo en el intervalo [ ; ] de la
X
X
y x2 =
2
2
variable x .
1.1.2 Transformada de Fourier y su inversa
F ( w) =
f ( x) e
i w x
dx Transformada de Fourier de f ( x)
donde F (w) es la Funcin de Densidad Espectral.

f ( x) =
1
2
F (w) e
i w x
dw Transformada inversa de Fourier de F( w)
*
Cuando f ( x ) es funcin real resulta F (w) = F ( w) y como F (w) = F (w)
entonces F (w) = F ( w) .
Esto significa que toda funcin real posee una grfica del mdulo de la Densidad Espectral que resulta
simtrica al eje de ordenadas.
Para f ( x ) no peridica, resulta una Funcin de Densidad Espectral continua.
Para f ( x ) peridica, resulta una Funcin de Densidad Espectral dada por funciones impulso (deltas de
Dirac):
F ( w) = 2
n =
donde
w0 =
( w n w0 )
2
(x2 x1 )
f n Coeficientes complejos de la serie exponencial de Fourier.
58
1.1.3 Funcin de Densidad Espectral

Se puede expresar la funcin de densidad espectral F (w) en funcin de los coeficientes complejos de la
serie exponencial de Fourier f n como:
F ( w) w = n w = ( x2 x1 ) f n
0
2
con w0 =
;
(x2 x1 )
2
1
fn =
f ( x) e i n w x dx
(x2 x1 ) x1
1.2 Expresiones Discretas en Serie

Si se muestrea la seal continua f ( x ) en el intervalo [x1 ; x2 ] , resultan M valores.
f (x )
x1
x2
0 1 2 3 4 --------------------------- (M-1)
m
Planteando x =
(x2 x1 )
M
Es posible discretizar la variable independiente, de la forma:
x = m x
tal que
m = 0,1,2,3...(M 1)
1.2.1 Coeficientes de la serie exponencial de Fourier
59
2
1
f ( x) e inw x dx Expresin analtica contnua
fn =
(x2 x1 ) x1
fn =
M 1
1
lim f ( x) e inw x x
(x2 x1 ) M m=0
M 1
i n
mx
1
lim f (m x) e ( x2 x1 )
x
fn =
(x2 x1 ) M m=0
M 1
1
( x x1 ) in ( x2 x1 )m
lim f m 2
fn =
e
(x2 x1 ) M m=0
M
M 1
1
( x x1 ) in ( x2 x1 )m
f m 2
fn
e
(x2 x1 ) m=0
M
1 M 1 ( x 2 x1 ) i2 M m
f m
e
fn
M m =0
M
con 0 n M 1
( x2 x1 )
M
( x2 x1 )
M
(x2 x1 )
M
(x2 x1 )
M
n frecuencia discreta
siendo
m variable discreta

Teniendo en cuenta que F ( w) w = n w = ( x2 x1 ) f n
0
De las ecuaciones anteriores se obtiene la expresin discreta en serie de la funcin de densidad

espectral.
(x2 x1 ) M 1 f m (x2 x1 ) e i2 Mn m
(
)
F
n
w

0
M
M
m=0
con 0 n M 1
siendo
m variable discreta
Para la Transformada inversa se tiene:

f ( x) =
1
2
F (w) e
iwx
dw Expresin analtica contnua
Discretizando la variable w de la forma : w = n w tal que n Naturales resulta

f (x ) =
M
1
lim F (n w) e inw x w
2 M n = M
Cuando f ( x ) es funcin real, entonces se cumple la propiedad de simetra conjugada de la Funcin de

Densidad Espectral F ( n w0 ) * = F ( n w0 + k M ) tal que k Naturales
Por lo tanto, solo es necesario conocer F (n w0 )n 0 ya que a partir de estos es posible conocer
los F (n w0 )n < 0
60
Entonces,
f (x )
M
1
lim F (n w) e inwx w
2 M n =0
f (x )
1 M 1
F (n w) e inw x w
2 n =0
si
w = (n + 1) w0 n w0 = w0 =
f (x )
2
(x 2 x1 )
1 M 1
F (n w) e inw0 x w0
2 n =0
n
M 1
i 2
x
1
( x2 x1 )
f (x )
F (n w0 ) e
(x 2 x1 ) n=0
Discretizamos la variable x x = m x
tal que x =
n
M 1
i 2 m
( x 2 x1 )
1
M
(
)
f
m
F
n
w
e
0
M ( x 2 x1 ) n =0

con 0 m M 1
(x 2 x1 )
M
y m Naturales
siendo
m variable discreta
Siendo esta la expresin discreta en serie de la transformada inversa de Fourier.
1.3 Expresiones Matriciales Numricas

En este tipo de notacin, las ecuaciones contienen la misma informacin que las expresiones discretas
en series, solo que en este caso los valores numricos complejos se plantean en forma explcita
mediante arreglos matriciales, adaptndose de esta forma para el tratamiento mediante procesadores
digitales.
1.3.1 Coeficientes de la Serie exponencial de Fourier
fn =
1
fm E
M
donde:
fn = [ f0
f1
f2 L
f M 1 ]
( x x )
(x x )
(x x )
f m = f (0) f 2 1 f 2 2 1 L f (M 1) 2 1
M
M
W 0 W 0 W 0 L
W0
0
( M 1)
1
2
2
W W W L W
i
(
)
M
0
2
4
2
1
con W = e M
E = W W W L W
M
M
W 0 L L L W (M 1)2
61

Fn w0 =
fm =
(x2 x1 )
M
fm E
1
F
E
(x2 x1 ) nw0
(Transformada de Fourier)
*
(Transformada inversa de Fourier)
donde:
Fn w0 = [F (0 ) F (w0 ) F (2 w0 ) L F ((M 1) w0 )]
*
La matriz E se obtiene aplicando la operacin conjugado a cada elemento de la matriz E .
2 - Funciones de dos variables independientes:
Este tipo de funciones surgen al realizar una caracterizacin matemtica de imgenes continuas.
Se considera que la funcin I (x, y, t , ) representa la distribucin espacial de energa de longitud de
onda , en las coordenadas ( x, y ) y tiempo t de una imagen fuente.
Dado que la distribucin espacial de energa es proporcional al mdulo cuadrado del vector campo
r
2
elctrico: I (x, y, t , ) E ( x, y, t , ) resulta que I (x, y, t , ) es una funcin REAL y NO NEGATIVA.
En todos los sistemas de adquisicin de imgenes, siempre existe una pequea cantidad de luz de
fondo, esto implica que I (x, y, t , ) > 0 . Adems dichos sistemas imponen alguna restriccin en la
mxima intensidad A de una imagen, por lo tanto se tiene: 0 < I ( x, y, t , ) A , donde A es un valor
real positivo.
Una imagen fsica es necesariamente limitada, en su extensin espacial, por el sistema de adquisicin,
entonces los intervalos de existencia de la funcin de distribucin espacial de energa son:
x1 x x 2
,
y1 y y 2
El intervalo finito de observacin es: t1 t t 2 .
Como la imagen registrada depender de la respuesta espectral del sistema de adquisicin, se define:
S ( ) =
I 0 ( x, y , t , )
Respuesta espectral de la cadena de adquisici n.
I ( x, y , t , )
En los sistemas de adquisicin, el campo imagen observado es modelado como una integral
espectralmente ponderada de la funcin de distribucin espacial de energa:
62
I ( x, y , t , )
Transferencia ptica
Transferencia Electrnica
(lentes, filtros, etc)
(sensor, amplificador, etc)
I 0 ( x, y , t , )
K d
f ( x, y , t , )
Entonces si I 0 ( x, y, t , ) = I ( x, y, t , ) S ( ) , la funcin respuesta de intensidad se obtiene integrando la

funcin de distribucin espacial de energa en todas las longitudes de onda:
I 0 (x, y, t , ) d = I (x, y, t , ) S ( ) d
0
f ( x, y, t ) = I ( x, y, t , ) S ( ) d Funcin respuesta de intensidad.

0
Se consideran solo sistemas en los que no se tiene dependencia temporal, por lo tanto:
f ( x, y ) = I ( x, y, ) S ( ) d
0
donde:
S ( ) Respuesta espectral de la cadena de adquisicin.
0 < I ( x, y, ) A Funcin de distribucin espacial de energa.

f ( x, y ) Funcin respuesta de intensidad o Funcin imgen.
La funcin imagen caracteriza matemticamente la imagen continua observada por el sistema de
adquisicin.
Como restriccin final, se asume que la funcin imagen f (x, y ) es continua sobre todo su dominio de
x1 x x 2
.
definicin
y1 y y 2
Ahora es posible plantear sobre esta funcin, las expresiones relacionadas con la serie exponencial y
transformada de Fourier.
63
2.1 Expresiones analticas continuas

Si f (x, y ) es funcin continua absolutamente integrable, es decir, se cumple
f (x, y ) dx dy <
y se define:
e ivwx x e
iu w y y
=e
i v wx x + u w y y
Conjunto de funciones ortogonales cuando :

2
(x 2 x1 )
2
=
( y 2 y1 )
wx = wx 0 =
v Z (enteros )
y
u Z (enteros )
wy = wy0
Verificacin de ortogonalidad:
x2 y 2
i v wx x + u w y y
i nwx x + mw y y
x1 y1
Producto interno del conjunto

dx dy
de funciones.
Para u = m y v = n :
x2 y 2
dx dy = (x2 x1 ) ( y2 y1 ) = e
i vwx x + u w y y
= ( Norma )
x1 y1
Para u = m y v n :
x2
i (v w x x )
i (n w x x )
x1
Si wx = wx 0 =
x2
y2 0
e dy dx = ( y1 y2 ) ei ((v n ) w x x ) dx
y1
x1
v Z (enteros)
2
como
(v n ) Z(enteros )
n Z (enteros)
(x2 x1 )
x2
Entonces ( y2 y1 ) ei ((v n ) w x x ) dx = 0 Se verifica ortogonalidad

x1
Para u m y v = n :
y2
i u w y y
i mw y y
y1
Si wy = wy 0 =
x2
)
y2
i ((u m ) w y y )
e dx dy = ( x1 x2 ) e
dy
x1
y1
0
u Z (enteros)
2
como
(u m ) Z(enteros)
m Z (enteros)
( y2 y1 )
y2
Entonces (x2 x1 ) e
i (u m ) w y y
dy = 0 Se verifica ortogonalidad
y1
Para u m y v n :
De lo anterior
x2
x1
i ((v n ) w x x )
y 2 i ((u m ) w y y )
e
dy dx = 0 Se verifica ortogonalidad
y1
64
Se concluye que si:

wx = wx 0 =
2
2
; wy = wy 0 =
;
(x2 x1 )
( y2 y1 )
v Z (enteros )
(
)
u
Z
enteros
n Z (enteros )
;
(
)
m
Z
enteros
Resulta:
x2 y 2
i vwx x + u w y y
i nwx x + mw y y
x1 y1
( x x ) ( y2 y1 ) u = m y v = n
dx dy = 2 1
0 en caso contrario
A partir de lo cual, es posible plantear:

2.1.1 Serie exponencial de Fourier
[x1; x2 ]
Se representa la funcin f (x, y ) en el dominio dado por los intervalos:
mediante la serie:
[ y1; y2 ]
f ( x, y ) =
u = v =
vu
i v wx x + u w y y
siendo:
f vu =
e
x2 y 2
Coeficientes complejos
1
i (vwx x + u w y y )
dx dy
f ( x, y ) e
(x2 x1 ) ( y 2 y1 ) x1 y1
de la serie exponencial de Fourier.
i v wx x + u w y y
= cos(v wx x + u wy y ) + i sen(v wx x + u wy y ) Frmula de Euler.
i vwx x + u w y y
(x2 x1 ) ( y2 y1 ) Norma del conjunto ortogonal de funciones.
Para F ( x, y ) funcin real, se cumple la propiedad de simetra conjugada:

*
f vu = f (vu ) como f vu = f vu f vu = f (vu )
( f v )*u =
f ( v )u como ( f v ) u = f vu f vu = f ( v )u
( fu )*v =
f v ( u ) como ( f u ) v = f vu f vu = f v ( u )
Lo anterior indica que toda funcin real de dos variables independientes posee una grfica de los
mdulos de las componentes espectrales de Fourier simtrica al eje de ordenadas.
f vu
v
u
65
[x1; x2 ]
Para f (x, y ) no peridica, la serie representa a la funcin solo en el dominio
[ y1; y2 ]
Para F ( x, y ) peridica solo en x f ( x, y ) = f ( x + X , y )
X
x =
1
2
si se toma
X
x =
2 2
Entonces la serie representa a la funcin en el dominio dado por los intervalos
[ ; ] de la variable x.
[ y1; y2 ] de la variable y.
Tambin puede plantearse la equivalencia para f (x, y ) peridica solo en y.
Para f (x, y ) peridica en las dos variables independientes f ( x, y ) = f ( x + X , y + Y )
X
x1 = 2
x = X
2 2
Si se toma
y = Y
1
2
Y
y2 =
2
Entonces la serie representa a la funcin en los dominios dado por los intervalos
[ ; ] de la variable x.
[ ; ] de la variable y.
F (wx , w y ) =
f ( x, y ) e
i wx x + w y y
dx dy Transformada de Fourier de f ( x, y )
F (wx , w y ) Funcin de densidad espectral

La transformada de Fourier en dos dimensiones, puede ser obtenida en dos pasos como resultado de la
posibilidad de separacin del kernel de integracin:
Fy (wx , y ) =
f ( x, y ) e
iw y y
dy
Luego :
Luego :
F (wx , wy ) =
Fy (wx , y ) e
iwy y
F (wx , wy ) =
dy
1
4
F (wx , wy ) e
F (x, w ) e
x
La transformada inversa es:

f ( x, y ) =
Fx (x, wy ) =
f ( x, y ) e i w x x dx
i wx x + w y y
dwx dwy
66
i wx x
dx
Cuando f (x, y ) es una funcin real resulta:

F (wx , wy ) = F ( wx , wy ) y como F (wx , wy ) = F (wx , wy ) se cumple F (wx , wy ) = F ( wx , wy )
*
Y tambin: F (wx , wy ) = F ( wx , wy ) = F (wx , wy )

Esto indica que toda funcin real de dos variables independientes posee una grfica del mdulo de la
densidad espectral que resulta simtrica al eje de ordenadas.
F (wx , wy )
wy
wx
Para f (x, y ) no peridica, se obtiene una funcin de densidad espectral F (wx , wy ) continua en las
variables wx y wy .
Para f (x, y ) peridica en las dos variables independientes f ( x, y ) = f ( x + X , y + Y ) , se obtiene una
funcin de densidad espectral dada por funciones impulso (deltas de Dirac) de la forma:
F (wx , w y ) = 4 2
donde wx 0 =
u = v =
vu
(wx v wx 0 , w y u w y 0 )
2
2
; wy0 =
(x2 x1 )
( y 2 y1 )
y f vu Coeficientes complejos de la serie exponencial de Fourier en dos dimensiones
2.1.3 Funcin de densidad espectral en dos dimensiones

Podemos expresar F (wx , wy ) en funcin de los f vu de la forma:
F (wx , wy ) w x = v w x 0 = ( x1 x2 ) ( y1 y2 ) f vu
w y =u w y 0
2 2
2
2
1
i (v wx x + u w y y )
; wy0 =
; f vu =
f ( x, y ) e
dx dy
(x2 x1 )
( y 2 y1 )
(x 2 x1 ) ( y 2 y1 ) x1 y1
x y
Donde wx 0 =
2.2 Expresiones discretas en serie

Procediendo en forma similar al caso de funciones de una variable independiente, si se muestrea la
[x1; x2 ]
seal bidimensional continua f (x, y ) en el dominio definido por los intervalos
[ y1; y2 ]
67
M valores en x.
Se obtiene
N valores en y.
Entonces Discretizando las variables:
x =
(x1 x2 )
x = k x
M
( y y 2 ) y = j y
y = 1
N
tal que
k = 0,1,2,3...(M 1)
tal que
j = 0,1,2,3...(N 1)
Ahora es posible plantear las expresiones discretas en serie de:
2.2.1 Coeficientes de la serie exponencial de Fourier en dos dimensiones

M 1 N 1
( y 2 y1 ) i2 Mv k + Nu j
1
(x 2 x1 )
f k
, j
f vu
e
M N k =0 j =0
M
N
0 v M 1
con
0 u N 1
v, u frecuencias discretas
siendo
k , j variables discretas
2.2.2 Transformada de Fourier en dos dimensiones y su inversa

Expresin discreta en serie de la funcin de densidad espectral en dos dimensiones:
u
v
(
(
x2 x1 ) ( y2 y1 ) M 1 N 1 ( x2 x1 )
y2 y1 ) i 2 M k + N j
f k
, j
F (v wx 0 , u wy 0 ) =
e
M
N
M
N
k =0 j =0
0 v M 1
con
0 u N 1
siendo
v

(
(
y 2 y1 ) ( x 2 x1 ) M 1 ( x 2 x1 )
y 2 y1 ) i2 M k
, j
f k
e
=
F j v wx 0 , j
N
M
M
N
k =0

0 v M 1
con
0 j N 1
siendo
68
u
( x 2 x1 )
(
y 2 y1 ) i2 N j
( y 2 y1 ) N 1 ( x 2 x1 )
, u wy0 =
, j
f k
e
Fk k
M
N
M
N
j =0

0 k M 1
con
0 u N 1
siendo
Para la Transformada inversa se tiene:

Si f (x, y ) es funcin real, entonces se cumple la propiedad de simetra conjugada de la funcin de
m Naturales
densidad espectral F (v wx 0 , u w y 0 ) * = F (v wx 0 + m N ,u w y 0 + n N ) tal que
n Naturales
Por lo tanto, solo es necesario conocer F (v wx 0 , u wy 0 ) v 0 y u 0 ya que a partir de estos
es posible conocer los F (v wx 0 , u wy 0 ) v < 0 y u < 0
Si
wx = (v + 1) wx 0 v wx 0 = wx 0 =
2
(x2 x1 )
wy = (u + 1) wy 0 u wy 0 = wy 0 =
2
( y2 y1 )
Se obtiene:
u
v
M 1 N 1
(x x )
i 2 k + j
(
y2 y1 )
1
1
N
2
1
M
F (v wx 0 , u wy 0 ) e
, j
f k
M
N
( x2 x1 ) ( y2 y1 ) v = 0 u = 0

0 k M 1
con
0 j N 1
siendo
2.3 Expresiones matriciales numricas

Se aclara que en las expresiones discretas en serie, utilizamos una notacin equivalente a las
( x2 x1 ) ( y2 y1 )
, j
expresiones analticas continuas: f k
N
M
14243 14243
absisa discreta absisa discreta
f
x
,
y
{
{
absisa continua
absisa continua
En las expresiones matriciales numricas, en cambio, utilizaremos la notacin:

f
j
{
k{
filas columnas
69
2.3.1 Coeficientes de la serie exponencial de Fourier en dos dimensiones

f uv =
1
E N f jk EM
M N
donde:
v
f uv
f 00
f
10
= f 20
M
f ( N 1)0
f 01
f 02 L
L L
f 0( M 1)
u
M
f ( N 1)( M 1)
f jk =
f (0, 0 )
f ( y 2 y1 ) ,0
=
(
)
y
y
1
2
,0
f 2
N
( y 2 y1 )

f ( N 1) N ,0
EN
W 0 W 0 W 0
0
1
2
W W W
= W 0 W 2 W 4
M
W 0 L L
EM
V 0 V 0 V 0
0
1
2
V V V
= V 0 V 2 V 4
M
V 0 L L
f 0,
(x2 x1 )
M
f 0, 2
(x2 x1 )
M
) (x2 x )
f 0, M 1
M
M
M
W0
W ( N 1)
L W 2( N 1)
M
2
L W ( N 1)
L
L
V0
V ( N 1)
L V 2( N 1)
M
2
L V ( N 1)
L
L
con W = e
con V = e
( y 2 y1 ) , (M
f ( N 1)
N
(
x 2 x1 )
1)
2
N
2
M
2.3.2 Transformada de Fourier en dos dimensiones y su inversa
Fuv =
( y 2 y1 ) (x2 x1 )
N
E N f jk E M
(Transformada de Fourier)
70
Fuv
F (0,0)
F (0, wx 0 ) F (0,2 wx 0 ) L
F (0, (M 1) wx 0 )
M
F (wy 0 ,0)
u
M
= F (2 wy 0 ,0)
M
M
F (( N 1) wy 0 ,0)
(
)
(
)
(
)
L
L
L
F
N
w
M
w
1
,
1
y0
x0
Luego tambin:
F j ( j, v ) =
(x 2 x1 )
M
f jk E M =
F j (0,0 )
F j (0, w x 0 ) F j (0, 2 w x 0 ) L
F j (0, (M 1) w x 0 )
( y y1 )
,0
M
Fj 2
N
( y y1 )
= Fj 2 2
,0
M
j
N
M
M

( y 2 y1 )
( y 2 y1 )
,0
L
L
L F j ( N 1)
, (M 1) w x 0
F j ( N 1)
N
N
Fk (u , k ) =
( y 2 y1 )
N
E N f jk =
( x x )
(x x )
( x x1 )
Fk (0,0 )
Fk 0, 2
Fk 0,2 2 1 L Fk 0, (M 1) 2 1
M
M
M
(
)
M
F
w
,
0
k
y
0
=
M
Fk (2 w y 0 ,0 )
u
M
M
L
L
L Fk (( N 1) w y 0 , M 1)
Fk (( N 1) w y 0 ,0 )
Para la transformada inversa:
f jk =
1
1
E
(x 2 x1 ) ( y 2 y1 ) N
f jk =
1
F ( j, v ) E M
(x 2 x1 ) j
f jk =
1
E
( y 2 y1 ) N
Fuv E M
(Transformada inversa de Fourier)
Fk (u , k )
71
2.4 Relacin entre coordenadas

Dadas las expresiones analticas:
F (w x , w y ) =
f ( x, y ) =
f ( x, y ) e
i wx x + w y y
dx dy Transformada de Fourier de f ( x, y )
1
4
F (w x , w y ) e
i wx x + w y y
dw x dw y Transformada inversa de Fourier de F (w x ,w y )
Se recuerda que una imagen digitalizada es un arreglo de muestras, donde cada una de esas muestras
de la imagen original, constituye un pxel (picture element) de la imagen resultante.
Si ahora se toma la funcin imagen digitalizada, y se la considera constituida por pixels rectangulares
de lados iguales y unitarios, hacemos ( y 2 y1 ) = N
entonces
( y 2 y1 ) = 1
N
mm
pixel y
(x2 x1 ) = M
(x2 x1 ) = 1
M
mm
pixel las expresiones discretas en series para este
caso son:
u
v
M 1 N 1
i 2 k + j
N
M
F (v, u ) = f (k , j ) e
k =0 j =0
0 v M 1
con
0 u N 1
siendo
u
v
M 1 N 1
i2 k + j
N
M
f (k , j ) F (v, u ) e
v =0 u =0
0 k M 1
con
0 j N 1
siendo
(x, y )
Adoptndose la siguiente relacin entre las coordenadas cartesianas continuas
y las
(wx , w y )
( j , k )
coordenadas discretas
(v, u )
72
y2
y
(0,0)
(x1,y1)
x
x2
(M-1,N-1) = (k,j)
wy
(0,0)
(0,0)
wx
(M-1,N-1)=(v,u)
f ( x, y ) = 0 x < 0 y < 0
representan la misma imagen.
Donde las funciones
f (k , j ) = 0 k < 0 j < 0
Debido a la propiedad de simetra conjugada, solo se representan los mdulos de las componentes
espectrales para v 0 y u 0 .
73
3 Concepto MAPS (Maximum Average Power Spectrum):
Dada una superficie caracterizada matemticamente por su funcin imagen f (x, y ) .

Se realiza la integracin en x de la transformada de Fourier en dos dimensiones:
F y (w x , y ) =
f ( x, y ) e
i wx x
dx
A partir de esto es posible obtener el Power Spectrum:

Fy (wx , y ) = Fy (wx , y ) Fy (wx , y )
2
Luego se calcula el Average Power Spectrum:

y2
Fy (wx , y ) =
2
F (w , y )
y
dy
Valor medio en la variable y.
y1
y2
dy
y1
De donde se obtiene:
Fy (wx , y ) = A(wx )
2
Finalmente se extrae el Maximum Average Power Spectrum de la forma:
M = Mximo A(w x ) w
x 0
Notar que al extraer el mximo, no se considera la componente espectral para wx = 0 .

Ahora se plantean las ecuaciones discretas en serie para la imagen digitalizada, cuya funcin imagen se
supone es f (k , j ) :
k sep of two dimensional Fourier transform:
v
M 1
i 2 k
M
F j (v, j ) = f (k , j ) e
k =0
0 v M 1
con
0 j N 1
siendo
Power Spectrum:
Fj (v, j ) = F j (v, j ) F j (v, j )
2
74
Average Power Spectrum:

N 1
F j (v, j ) =
2
F (v, j )
j =0
= A(v ) Valor medio en la variable j.
Maximum Average Power Spectrum:
M = Mximo A(v ) v 0
Las expresiones matriciales numricas son:

F j ( j , v ) = F jk EM Transformada en filas.
Power Spectrum:
Fj ( j, v )
= Fj ( j, v ) Fj ( j, v )

N 1
Fj ( j, v )
=
14243
2
j =0
Fj ( j, v )
N
Promedio en Columnas
= A(v )
123
Vector fila
M = Mximo A(v ) v 0
La tcnica de caracterizacin de superficies RIMAPS (Rotated Image with Maximum Average Power
Spectrum) consiste en obtener el MAPS de la funcin imagen correspondiente a la superficie que se
desea estudiar, para cada ngulo de rotacin de la imagen entre 0 y 180. El paso angular de rotacin
en general se toma como 1, obteniendo as 181valores de M ( ) .
Puede considerarse que al graficar M ( ) entre 0 y 360 la curva es simtrica a la ordenada en 180.
75
3.1 Ejemplos de MAPS
Ejemplo 1:
Pxels unitarios
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
N = 20
M = 20
Dado que la integracin se realiza para cada fila, conviene especificar la expresin discreta en serie de
la funcin imagen tambin para cada fila:
1 j = 8;9;10;11 k = 8;9;10;11
f (k , j ) =
0 en caso contrario.
76

v
19
i 2 k
20
F j (v, j ) = f (k , j ) e
k =0
0 v 19
con
0 j 19
siendo
11 i 2 20v k
j = 8;9;10;11

e
F j (v, j ) = k =8
0 v 19
Power Spectrum:
F j (v, j )
11 i 2 20v k 11 + i 2 20v k
j = 8;9;10;11
= e
e

0 v 19
k =8
k =8
2
j = 8;9;10;11
2
2
Fj (v, j ) = 4 + 6 cos
v + 4 cos
2 v + 2 cos
3 v
20
20
20
0 v 19

F j (v, j ) = A(v ) =
2
4
2
2
4 + 6 cos
v + 4 cos
2 v + 2 cos
3 v
20
20
20
20
0 v 19
Graficando la ecuacin anterior se obtiene:

3,5
2,5
1,5
0,5
0
0
10
M = Mximo F j (v, j )
2
v0
}= A(1) = A(19) = 2,823595516

77
11
12
13
14
15
16
17
18
19
Ejemplo 2:
A continuacin se plantea la funcin imagen de una lnea simple y se calcula el MAPS para cinco
ngulos de rotacin de la imagen.
Se aclaran dos aspectos fundamentales:
1) Existen muchos algoritmos para realizar la rotacin de la imagen. Estos algoritmos adems de
aplicar la transformacin de coordenadas para la rotacin, pueden generar una imagen
resultante que no posea necesariamente el mismo tamao de la imagen original. Por lo tanto
deber tenerse muy en cuenta el criterio de rotacin adoptado.
En este sencillo ejemplo se supone un procedimiento de rotacin en el que se mantiene
constante el tamao de la imagen.
2) Existe un tamao mnimo en pixels, que debe poseer la imagen, para que sea posible la
deteccin de una direccin preferencial RIMAPS.
Clculo para = 0 0 :
k
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0
1
2
3
4
5
6
7
N=8
M = 10
funcin imagen (expresin discreta en serie especificada para cada fila):
1 k = 4 j = 2;3;4;5
f (k , j ) =
v
9
i 2 k
10
F j (v, j ) = f (k , j ) e
k =0
0 v 9
con
0 j 7
siendo
78
i 2 10v 4
j = 2;3;4;5

e
F j (v, j ) =
0 v 9
Power Spectrum:
F j (v, j )
i 2 v 4 + i 2 v 4
j = 2;3;4;5
10
10
e
=1
e
=
0 v 9

7
F j (v, j ) =
2
F (v, j )
j =0
4
= 0,5
8
0v9
M = 00 = Mximo F j (v, j )
Clculo para = 300 :
2
v0
}= Mximo{0,5} = 0,5
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0
1
2
3
4
5
6
7
N=8
M = 10
1
1
f (k , j ) =
1
0
(k ; j ) = (3;2)
(k ; j ) = (4;3)
k = 4;5 j = 4
en caso contrario.
79

v
9
i 2 k
10
F j (v, j ) = f (k , j ) e
k =0
0 v 9
con
0 j 7
siendo
i 2 10v 3
j=2
e
i 2 v 4
10
e
j =3
F j (v, j ) =
v
v
e i 2 10 4 + e i 2 10 5 j = 4
0v9
Power Spectrum:
Fj (v, j )
i 2 v 3 + i 2 v 3
10
10
e
=1 j = 2
e
v
v
e i 2 10 4 e + i 2 10 4 = 1 j = 3
v
v
v
v
i 2 5 + i 2 4
+ i 2 5
2
i 2 10 4
10
10
10
v j = 4
+
e
e
e
e
+
= 2 + 2 cos

10
0v9
7
Fj (v, j ) =
2
F (v, j )
j =0
1
2
= 4 + 2 cos
v
8
10
0v9
2 1
2
v = 4 + 2 cos
v
M ( = 300 ) = Mximo4 + 2 cos
10 v0 8
10 v=1;9
M ( = 300 ) = 0,7022542486
80
Clculo para = 450 :

k
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0
1
2
3
4
5
6
7
N=8
M = 10

1 k = j + 1 j = 2;3;4;5
f (k , j ) =
v
9
i 2 k
10
F j (v, j ) = f (k , j ) e
k =0
0 v 9
con
0 j 7
siendo
i 2 10v 3
j=2
e
i 2 v 4
10
e
j =3
v
i 2 10 5
F j (v, j ) = e
j=4
v
e i 2 10 6 j = 5
0v9
Power Spectrum:
81
F j (v, j )
1
1
= 1
1
j=2
j =3
j=4
j =5
en caso contrario.
0v9

7
F j (v, j ) =
2
F (v, j )
j =0
4
= 0,5
8
0v9
M = 450 = Mximo F j (v, j )
2
v 0
}= Mximo{0,5} = 0,5
Clculo para = 600 :

k
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0
1
2
3
4
5
6
7
N=8
M = 10
1
1
f (k , j ) =
1
0
(k ; j ) = (3;2)
k = 3;4 j = 3
(k ; j ) = (4;5)
en caso contrario.

v
9
i 2 k
10
F j (v, j ) = f (k , j ) e
k =0
0 v 9
con
0 j 7
siendo
82
i2 10v 3
j=2
e
i2 v 3
v
i 2 4
e
10
10
e
+
j =3
F j (v, j ) =
v
e i2 10 5 j = 4
0v9
Power Spectrum:
F j (v, j )
1 j = 2
2 + 2 cos 2 v j = 3
=
10
1 j = 4
0v9

7
Fj (v, j ) =
2
F (v, j )
j =0
1
2
= 4 + 2 cos
v
8
10
0v9
2 1
2
M = 600 = Mximo4 + 2 cos
v = 4 + 2 cos
v
10 v 0 8
10 v =1;9
M ( = 600 ) = 0,7022542486
Clculo para = 900 :
k
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0
1
2
3
4
5
6
7
N=8
M = 10
83

1 k = 3;4;5;6 j = 4
f (k , j ) =
v
9
i 2 k
10
F j (v, j ) = f (k , j ) e
k =0
0 v 9
con
0 j 7
siendo
6 i 2 10v k
j=4
e
F j (v, j ) =
k =3
0v9
Power Spectrum:
Fj (v, j )
6 i 2 v k 6 + i 2 v k
10
10
e
e
j=4
= k = 3
3
k
=

0v9
F j (v, j )
2
2
v + 4 cos
2 v + 2 cos
3 v j = 4
4 + 6 cos
=
10
10
10
0v9

2
1
2
2
F j (v, j ) = 4 + 6 cos
v + 4 cos
2 v + 2 cos
3 v
8
10
10
10
0v9
M ( = 900 ) = Mximo F j (v, j )
2
v0
}= F (v, j )
2
v =1; 9
M ( = 90 0 ) = 1,184016994
84
Los cinco valores de M ( ) obtenidos se muestran en la siguiente tabla de valores:

Rotacin
M ( )
[grados]
0
30
45
60
90
0,5
0,702254249
0,5
0,702254249
1,184016994
0,422291236
0,593111629
0,422291236
0,593111629
1
120
135
0,702254249
0,5
0,593111629
0,422291236
150
0,702254249
0,593111629
180
0,5
0,422291236
Si se representa la Amplitud normalizada para los cinco valores de calculados, obtenemos la grfica
RIMAPS de la funcin imagen f (k , j ) .
0,9
0,8
0,7
0,6
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
0
0
15
30
45
60
75
90
105
120
135
150
165
180
Rotacin [grados]
Se observa un mximo en = 900 , dado por la presencia de una direccin preferencial en el sentido de
la integracin discreta (integracin en filas).
Si se disminuye el nmero de pixels de la imagen, se reduce la amplitud relativa del mximo en
= 900 , hasta que se alcanza un tamao de la imagen para el cual el mximo desaparece.
85

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TRABAJO FINAL

CARRERA DE ESPECIALIZACIN EN APLICACIONES

CARACTERIZACIN DEL DAO PRODUCIDO SOBRE

Ing. Hctor Damin Dellavale Clara

Directores: Dr. Nestor Fuentes - Dr. Eduardo A. Favret

Comisin Nacional de Energa Atmica

6. Proyeccin de los resultados obtenidos en la caracterizacin del dao qumico ............................. 49

Apndice 1: Conceptos relacionados con la tcnica ULOI.

Apndice 2: Conceptos relacionados con la tcnica RIMAPS.

Distintas terminaciones de la superficie que incluyen rugosidades y deformaciones

y estar inmersos en ambientes con distintas condiciones de:

Grado de salinidad (ambiente marino).

Solventes y otros agentes corrosivos producidos artificialmente.

Radiacin ionizante, en el caso de todas aquellas piezas y estructuras sometidas a un entorno

ULOI (Unidirectional Laser Oblique Illumination) [1 4].

RIMAPS (Rotated Image with Maximum Average Power Spectrum) [5 8].

Las experiencias realizadas incluyen dos tipos de dao:

Dao mecnico: Implementado mediante arenado de las superficies de aluminio, acero

Ataque qumico: Implementado mediante la exposicin, de una probeta de aluminio, a los

2. Especificaciones experimentales correspondientes a la implementacin de la Tcnica ULOI

2.1 Sistema sensor de intensidad

Con la polarizacin del fototransistor TIL78, determinada por la alimentacin de +9Vcc y la

Goma Opaca para

En el Apndice 1 se presentan imgenes de este dispositivo.

2.1 Determinacin del ngulo de incidencia

3 = 10,19 (Vmax = 1560mV)

Fig. 1 - Curvas de intensidad, obtenidas para la misma superficie

En la figura se observa que una disminucin de produce:

Una reduccin en la amplitud de los picos.

Una reduccin en el ancho de la base de los picos.

Una pequea disminucin de la lnea de base u offset de ordenada.

No se detectan modificaciones significativas en la ubicacin de los mximos.

Esto seala la importancia de mantener el ngulo de incidencia lo ms constante posible en todas

2.2 Criterio aplicado en la determinacin de los mximos de la curva de intensidad

con el mximo valor de tensin.

3. Especificaciones experimentales correspondientes a la implementacin de la Tcnica RIMAPS

3.1 Especificaciones del sistema de adquisicin de imgenes

En la siguiente imagen se puede apreciar el sistema de adquisicin utilizado:

La pantalla de TV es utilizada para la exploracin rpida de la superficie. Luego, se ajusta

3.2 Criterio aplicado en la determinacin de los mximos en las grficas RIMAPS

Donde Posicin angular del valor de ordenada inmediato inferior al mximo,

que pertenezca al pico que se est analizando.

4. Descripcin de las muestras y el proceso superficial implementado

4.1 Daos mecnicos

Microscopio ptico, Objetivo: 10x

Microscopio electrnico de barrido

En la siguiente imagen se muestra la superficie resultante.

Microscopio ptico, Objetivo: 10x

Posteriormente se someti la probeta a un arenado con partculas de almina (Al2O3) de dimetro

Microscopio ptico, Objetivo: 10x

Posteriormente se someti la probeta a un arenado con partculas de almina (Al2O3) de dimetro

En el desarrollo de esta experiencia se analizan cuatro terminaciones superficiales diferentes, sobre la

Dimensiones: 27mm x 16mm x 2mm.

Tamao de las partculas [m]

Microscopio ptico, Objetivo: 10x

Microscopio ptico, Objetivo: 10x

4.2 Ataques qumicos

La condicin superficial inicial de la probeta, tomada como referencia, corresponde a:

En este caso se utilizaron dos terminaciones superficiales iniciales de la probeta. La primera,

5. Anlisis de los resultados

5.1 Resultados de los daos mecnicos

En la Fig. 2 se muestran las curvas de intensidad obtenidas aplicando la tcnica ULOI.

Superficie de referencia (te = 0 seg.)

Fig. 2 - Curvas de intensidad, obtenidas para distintos tiempos