You are on page 1of 6

Instytut

Elektrotechniki i
Elektroniki
Przemysowej
Nazwisko i imi:

Elektrotechnika
Semestr:

Jdrzej Kozerawski

Wydzia:
BMiZ

Kierunek:

Mechatronika

Grupa
dziek./lab:

Temat wiczenia:

Badanie obwodw prdu staego zawierajcych


elementy liniowe i nieliniowe
Data wykonania wiczenia:

Data i podpis prowadzcego:

Ocena:

21.10.2011r.

1. Wyniki bada rezystancji elementw ukadw metod techniczn


Napicie na wejciu: U=6,3 V
a) Wczony w obwd rezystor R=1 badany metod na poprawnie mierzone napicie
Lp.
Pomiary
Obliczenia
Uwagi
I [mA]
U [mV]
Rx []
Rx r []
1.
575
1,004
570
1,01
2.
530
525
1,01
3.
485
485
1
4.
450
450
1
5.
420
420
1
6.
395
385
1,03
7.
370
370
1
8.
350
350
1
9.
330
330
1
10
315
315
1
11.
300
300
1
b) Wczony w obwd rezystor R=500 badany metod na poprawnie mierzony prd
Lp.
Pomiary
Obliczenia
Uwagi
I [mA]
U [V]
Rx []
Rx r []
1.
10,9
6,1
561,29
559,63
2.
10,7
6
560,75
3.
10,5
5,9
561,90
4.
10,3
5,8
563,11
5.
10,1
5,7
564,36
6.
9,9
5,55
560,61
7.
9,7
5,45
561,86
8.
9,55
5,35
560,21
9.
9,4
5,25
558,51
10.
9,2
5,17
561,96

5/8

c) Wczona w obwd arwka badana metod na poprawnie mierzony prd


Lp.
Pomiary
Obliczenia
I [mA]
U [V]
Rx []
Rx r []
1.
6,25
21,10
275
22,73
2.
6
270
22,22
3.
5,73
260
22,04
4.
5,5
255
21,57
5.
5,25
250
21,00
6.
5,05
245
20,61
7.
4,8
235
20,43
8.
4,6
230
20,00
9.
4,45
200
22,25
10.
4,25
215
19,77
11.
4,1
210
19,52

Uwagi

d) Wczona w obwd arwka i rezystor R=40 poczone szeregowo, badane metod na


poprawnie mierzony prd
Lp.
Pomiary
Obliczenia
Uwagi
I [mA]
U [V]
Rx []
Rx r []
1.
6,3
47,82
125
50,40
2.
5,7
115
49,57
3.
5,2
105
49,52
4.
4,8
97,5
49,23
5.
4,4
90
48,89
6.
4,1
85
48,24
7.
3,8
80
47,50
8.
3,5
75
46,67
9.
3,3
70
47,14
10.
3,1
70
44,289
11.
2,9
65
44,62
e) Wczona w obwd arwka i rezystor R=40 poczone rwnolegle, badane metod na
poprawnie mierzony prd
Lp.
Pomiary
Obliczenia
Uwagi
I [mA]
U [V]
Rx []
Rx r []
1.
6,25
13,63
415
15,06
2.
5,85
400
14,63
3.
5,5
382,5
14,38
4.
5,15
365
14,11
5.
4,85
350
13,86
6.
4,55
337,5
13,48
7.
4,3
325
13,23
8.
4,1
310
13,23
9.
3,85
300
12,83
10.
3,65
290
12,59
11.
3,5
280
12,50

f)

Wczony w obwd rezystor R=500 badany metod na poprawnie mierzone napicie


Lp.
Pomiary
Obliczenia
Uwagi
I [mA]
U [V]
Rx []
Rx r []
1.
6
427,27
14,2
422,54
2.
5,45
12,7
429,13
3.
4,9
11,5
426,09
4.
4,5
10,5
428,57
5.
4,1
9,6
427,08
6.
3,8
8,9
426,97
7.
3,6
8,4
428,57
8.
3,35
7,8
429,49
9.
3,15
7,4
425,68
10.
3
7
428,57

2. Wykresy i charakterystyki
a) Wczony w obwd rezystor R=1 badany metod na poprawnie mierzone napicie

b) Wczony w obwd rezystor R=500 badany metod na poprawnie mierzony prd

c) Wczona w obwd arwka badana metod na poprawnie mierzony prd

d) Wczona w obwd arwka i rezystor R=40 poczone szeregowo, badane metod na


poprawnie mierzony prd

e) Wczona w obwd arwka i rezystor R=40 poczone rwnolegle, badane metod na


poprawnie mierzony prd

f)

Wczony w obwd rezystor R=500 badany metod na poprawnie mierzone napicie

3. Wnioski
Wraz ze wzrostem napicia, rs rwnie prd przepywajcy przez badane elementy.
Elementami liniowymi byy rezystory o oporach R=1, R=40 i R=500 , a elementem
nieliniowym bya arwka.
Rezystory o maych wartociach rezystancji byy badane metod na poprawnie mierzone
napicie, a rezystory o wikszych wartociach rezystancji oraz arwki byy badane metod
na poprawnie mierzony prd.
Z przeprowadzonych bada wynika, e elementy liniowe takie jak rezystory maj
charakterystyk staoprdow nachylon pod staym (niezmiennym) ktem do osi X, podczas
gdy elementy nieliniowe miay kt nachylenia charakterystyki zmienny.
Rezystancja (stosunek wartoci napicia do wielkoci prdu przepywajcego przez dany
element) w przypadku elementw nieliniowych rosa wraz ze wzrostem napicia na obwodzie,
powodujc zmniejszenie wzrostu przepywu prd (zmniejszenie kta nachylenia linii
charakterystyki prdowej do osi X).
Badane poczone ze sob arwka i rezystor o rezystancji R=40, zarwno w poczeniu
szeregowym jak i rwnolegym zachowyway si jako element nieliniowy. A wic jeden element
nieliniowy decyduje o charakterze nieliniowym caego ukdu. Wraz ze wzrostem napicia
rosa rezystancja, czyli malao nachylenie wykresu do osi X. W poczeniu szeregowym
rezystancja bya duo wiksza ni przy rwnolegym, co powodowao, e przy takich samych
wartociach napicia prd pyncy w przypadku poczenia rwnolegego by duo wikszy od
prdu pyncego w przypadku poczenia szeregowego.

You might also like