Badania elementw

i zespow maszyn
laboratorium
(MMM4035L)
wiczenie 23.

Zastosowanie elektronicznej
interferometrii obrazw
plamkowych (ESPI) do badania
elementw maszyn.
Opracowanie: Ewelina witek-Najwer
na podstawie materiaw przygotowanych
przez Dr in. Krzysztofa ciga

Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazw plamkowych

(ESPI) do badania elementw maszyn
Metoda ESPI
Elektroniczna interferometria obrazw plamkowych (ESPI) jest odmian interferometrii
plamkowej, wykorzystujc metody elektronicznego przetwarzania i analizy danych. System
ESPI umoliwia zarejestrowanie obrazw plamkowych za pomoc kamery wideo lub aparatu
cyfrowego, natomiast dalsza analiza i przetwarzanie danych odbywa si za pomoc metod
elektronicznych, zarwno analogowych jak i cyfrowych. Metoda ESPI moe by
wykorzystywana w badaniach przemieszcze jako alternatywa dla fotografii plamkowej
i interferometrii holograficznej, szczeglnie w przypadku, kiedy niezbdny jest pomiar
wszystkich skadowych wektora przemieszczenia punktw powierzchni obiektu. Metoda
umoliwia pomiar zarwno w warunkach statycznych, jak i pomiar deformacji
spowodowanych drganiami.

Wady i zalety
W porwnaniu do standardowej metody interferometrii plamkowej, metoda ESPI
posiada nastpujce zalety:
czuo aparatw cyfrowych jest wysza ni w przypadku pyt holograficznych, dziki
czemu moliwe jest rejestrowanie obrazw plamkowych przy krtkim czasie
ekspozycji (krtki czas ekspozycji pozwala zmniejszy wpyw drga);
niski koszt pomiarw (brak koniecznoci zastosowania drogich materiaw: pyt
i filmw o wysokiej rozdzielczoci);
szybkie elektroniczne przetwarzanie danych powoduje, e pomiar przebiega w czasie
rzeczywistym;
nowoczesne systemy ESPI mog by stosowane w obecnoci innych rde wiata;
mae wymiary nowoczesnych kamer CCD pozwalaj na wykonywanie maych,
przenonych systemw pomiarowych; w przypadku miejsc trudno dostpnych
pomiary mona wykonywa dziki zastosowaniu falowodw.
Metoda ESPI ma nastpujce wady:
rozdzielczo przestrzennej kamery CCD jest nisza ni w przypadku pyt
holograficznych lub filmw, co oznacza, e cz informacji zostanie utracona
i zakres pomiaru bdzie ograniczony;
koszty systemu pomiarowego s znacznie wysze ni koszty tradycyjnych ukadw do
interferometrii holograficznej lub fotografii plamkowej.

Ukad pomiarowy
Ukad pomiarowy (rys. 1) skada si z dwch czci: optycznej i elektronicznej. W czci
optycznej generowany jest obraz plamkowy (rys. 2a), natomiast w czci elektronicznej obraz
przeksztacany jest w cyfrowy zbir danych, a na jego podstawie generowane s korelogramy
(rys. 2b), ktre poddawane s dalszej cyfrowej analizie. Cz optyczn ukadu stanowi
interferometr plamkowy (rys. 3). Najczciej cz optyczna generuje dwie wizki (niektre
systemy wykorzystuj rwnie wizki wielokrotne), tj.: wizk obiektow i wizk
odniesienia, bdce efektem dziaania tzw. dzielnika wizki. Efekt interferencji obu wizek
skierowanych na jedn paszczyzn jest rejestrowany przez kamer CCD.
Cz elektroniczna ukadu pomiarowego suy do zapisu i przetwarzania interferogramw
plamkowych zarejestrowanych przez kamer CCD. Gwnym zadaniem czci elektronicznej
jest wyznaczenie prkw wtrnego korelogramu. Obraz prkowy widoczny na monitorze

Strona 2

Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazw plamkowych

(ESPI) do badania elementw maszyn
jest wynikiem jakociowym, jego dalsze analizy daj moliwo oceny ilociowej, np.
w postaci mapy przemieszcze.

WIZKA 1

WIZKA 2

X1

X2

CCD
KORELOGRAM PIERWOTNY
GENEROWANIE
PRKW

KORELOGRAM WTRNY

PREZENTACJA W
CZASIE
RZECZYWISTYM

ANALIZA
PRKW

OCENA
JAKOCIOWA

OCENA
ILOCIOWA

Rys. 1. Schemat optycznej i elektronicznej czci systemu pomiarowego ESPI

(oznaczenia poniej)

Strona 3

Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazw plamkowych

(ESPI) do badania elementw maszyn
MA - modulator amplitudy, DW - dzielnik wizki, MF - modulator fazy
DOF - urzdzenie do dekorelacji plamki, O obiekt, CCD - kamera CCD

- faza fali wiata generowanej przez laser (w wizce 1 i wizce 2)

X1, X2 - zmierzona warto w wizce 1 i 2
i1

i2

, - faza fali wietlnej po odbiciu od powierzchni zmierzonego i znormalizowanego obiektu

, - faza plamki zalena od chropowatoci powierzchni mierzonego i znormalizowanego
o1

o2

p1

p2

obiektu

o - faza fali wietlnej, bdcej wynikiem interferencji wizki 1 i 2

- zmiana fazy, spowodowana propagacj fali rda wiata laserowego do aparatu
- faza plamki na obrazie, ktry jest wynikiem interferencji wizki 1 i 2.
r

Procedura pomiaru
Procedura pomiaru skada si z 4 etapw: pierwszy i drugi przebiega w czci
optycznej, trzeci i czwarty w czci elektronicznej.
Pierwszy etap polega na wygenerowaniu interferogramu plamkowego zwizanego

z owietlon powierzchni. Sygnaami wejciowymi s w tym przypadku i1, i2 - fazy fal

wiata lasera w wizce 1 i 2, oraz X1, X2 - sygnay mierzone wizki 1 i 2. Wyjciowym
sygnaem jest interferogram, ktry jest wynikiem interferencji fal wizki 1 i 2 (rys. 2b).
Najwaniejszym parametrem tego obrazu jest faza plamki na obrazie p.
Drugi etap procesu jest zwizany z zarejestrowaniem obrazu plamek przez kamer
CCD. Sygna wyjciowy, tj. obraz cyfrowy nazywa si korelogramem pierwotnym.
Korelogram pierwotny zawiera informacje o mierzonym rozkadzie jasnoci plamek, jednak
informacja ta jest zawarta w losowym rozkadzie plamek.
Trzeci etap polega na wygenerowaniu korelogramu wtrnego (prkw)
z widocznymi zmianami redniej intensywnoci. Prki mog by wywietlone
i w dalszym etapie analizowane w celu uzyskania wyniku ilociowego (rys. 2c).
Czwarty etap jest cyfrow analiz prkw i informacji o wartoci mierzonej.
Surowym wynikiem tego etapu jest mapa fazowa, natomiast kocowym wynikiem jest plik
zawierajcy dane opisujce rozkad wartoci mierzonej (rys. 2d).

Rys. 2. Interferogram plamkowy (a), korelogram pierwotny (b),

korelogram wtrny (c) i mapa fazowa (d)

Pierwszy etap pomiaru pozwala wygenerowa plamkogram i interferogram plamkowy.

Najwaniejsze problemy na tym etapie pomiaru:
kade przemieszczenie powierzchni obiektu, jak rwnie kada zmiana owietlenia
lub warunkw obserwacyjnych wyzwala zmian fazy plamek;
Strona 4

Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazw plamkowych

(ESPI) do badania elementw maszyn

wynik interferencji plamek z wizki 1 (wizki obiektowej) z wizk 2 (referencyjn)

lub referencyjnym plamkogramem jest rnic faz plamek wizki 1 i faz wizki 2 lub
referencyjnego plamkogramu.

Rys. 3 przedstawia schemat typowego ukadu optycznego interferometru plamkowego

stosowanego w metodzie ESPI do zapisu rozkadu przemieszcze w paszczynie rejestracji
(matrycy CCD).
W drugim etapie, kamera zapisuje obraz zoenia dwch wizek wiata. Sygna wyjciowy
z kamery jest wynikiem ekspozycji wiatoczuego elementu kamery podczas nagrywania
jednej klatki. W przypadku obiektw obcianych dynamicznie lub w przypadku modulacji
amplitudy lub fazy podczas nagrywania klatek, wyjciowy sygna bdzie wynikiem zapisu
zmiennej intensywnoci wizki. Czas zapisu pojedynczej klatki wpywa na sposb, w jaki
rnica faz fal optycznych jest zwizana z mierzonym i przechowywanym sygnaem
wyjciowym.
Intensywno wiata jest uredniana przez kamer w postaci uredniania przestrzennego
pikseli oraz uredniania czasowego zapisanych klatek. Obraz, ktry jest wynikiem tego
uredniania jest korelogramem pierwotnym. Rne parametry kamery (np. czuo) mog
wpywa na powstawanie wtrnego korelogramu.

Rys. 3. Ukad optyczny interferometru do zapisu przemieszcze w paszczynie rejestracji

Uzyskany korelogram jest podstaw do dalszej analizy cyfrowej (rys.4). Zapis prkw
i wtrny korelogram s uzyskiwane w dwch etapach. W pierwszym etapie, lokalne zmiany
intensywnoci wiata w kadej plamce s przeksztacane w zmienno kontrastu plamek.
W drugim etapie, za pomoc demodulacji kwadratowej przeksztacane s lokalne zmiany
kontrastu na prki wtrne ze zrnicowan jasnoci.
Automatyczna analiza uzyskanych wynikw skada si z 4 etapw.
1. Ocena fazy - ten krok polega na obliczeniu rozkadu przestrzennego fazy.
Wyjciowym parametrem jest tablica wartoci fazy odpowiadajcych mierzonym
sygnaom; tablica ta nazywana jest map fazow.
2. Rozpakowanie fazy - etap ten polega na zmianie mapy fazowej w rozpakowan
tablic mapy fazowej, bez niecigoci na prkach.
3. Usunicie zakce - podczas procesu generowania prkw i oceny danych pewne
skadowe nie zwizane z mierzonym sygnaem mog by dodawane do rozkadu fazy.
Jednak skadowe te s stae lub liniowo zalene od wsprzdnych przestrzennych
i mona je usun. W tym kroku wykonywana jest gwnie estymacja za pomoc
dopasowania metod najmniejszych kwadratw.

Strona 5

Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazw plamkowych

(ESPI) do badania elementw maszyn
4. Re-skalowanie - w tym etapie kocowy zbir danych uzyskuje si poprzez obliczenie
wartoci mierzonych na podstawie wartoci faz.

KORELOGRAM
WSTPNY

FILTR
GRNOPRZEPUSTOWY

DEMODULACJA
KWADRATOWA

KORELOGRAM
WTRNY

Rys. 4. Schemat generowania prkw z pierwotnego korelogramu: a) rozkad natenia wiata

wzdu linii AA, b) schemat blokowy, c) obraz plamkowy

Pomiary skadowych wektora przemieszczenia

Poczenie lub zwielokrotnienie optycznych ukadw pomiarowych przedstawionych
na rys. 5 pozwala na pomiar kadej z trzech skadowych wektora przemieszcze.

zwierciado

zwierciado

dzielnik
wizki

kamera
soczewka

dzielnik
wizki
kamera

zwierciado
zwierciado

obiekt

obiekt

Rys.5. Ukad optyczny interferometru do zapisu przemieszcze poza paszczyzn rejestracji (a)
i w paszczynie rejestracji (b)
(przemieszczenia rwnolege lub prostopade do paszczyzny rejestracji obrazu)

Strona 6

Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazw plamkowych

(ESPI) do badania elementw maszyn
Przemieszczenie zapisywane jest przewanie w procedurze krokowej. Typowa konfiguracja
optyczna gowicy pomiarowej do rejestracji skadowych wektora przemieszczenia w trzech
prostopadych kierunkach przedstawiona jest na rys. 6.
WIZKA 1
obiekt
wizka
odniesienia
poza
paszczyzn

laser,
dioda
kamera

w paszczynie
WIZKA 2

Rys. 6. Optyczny ukad gowicy pomiarowej

do rejestracji trzech skadowych wektora przemieszczenia

Streszczenie
W nowoczesnej mechanice eksperymentalnej ciaa staego wykorzystuje si polowe
metody optycznej analizy napre, odksztace i przemieszcze. S to atwe w zastosowaniu
i praktyczne metody. ESPI czy zalety wszystkich tradycyjnych metod optycznych
z nowoczesnym, automatycznym przetwarzaniem danych. Z tego powodu metoda ESPI jest
jedn z najwaniejszych metod analizy przemieszcze.

Cz praktyczna
Celem zaj jest analiza przemieszcze wybranego obiektu pomiarowego, za pomoc
ukadu 3D ESPI Ettemeyer, umoliwiajcego pomiar skadowych wektora przemieszczenia w
trzech kierunkach. Przykadowo, obiektem bada moe by model zdeformowanego stawu
kolanowego, obcionego pionowo skierowan si wywieran za pomoc ruby
mikrometrycznej (rys. 7).
W ramach czci praktycznej zaj naley zarejestrowa dwa interferogramy
plamkowe dla dwch stanw obcienia obiektu, wygenerowa mapy fazowe i mapy
rozkadu przemieszcze.
Znajc warunki obcienia badanego obiektu naley oceni otrzymane mapy rozkadu
przemieszcze. Naley zwrci uwag na du wraliwo ukadu pomiarowego na
wystpowanie drga podczas bada. Zakcenia podczas rejestracji mog w znaczcy sposb
zaburzy otrzymane wyniki, std istotna jest krytyczna ocena otrzymanych wynikw.
Przykadowy wynik badania skadowej wektora przemieszczenia dla modelu stawu
kolanowego przedstawiono na rysunku 7.

Strona 7

Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazw plamkowych

(ESPI) do badania elementw maszyn

Rys. 7. Ukad 3D ESPI Ettemeyer do badania przemieszcze

(przykad obiektu - model stawu kolanowego)

Rys. 8. Mapa skadowej wektora przemieszczenia

wyznaczona dla nasady bliszej koci piszczelowej

Literatura:
1. cigaa K.:"Experimental analysis of displacement distribution in machine parts using the
electronic speckle pattern interferometry (ESPI) method", Laboratory Handout, 2009.
2. Patorski K., Kujawiska M., Sabut L., Interferometria laserowa z automatyczn analiz
obrazu, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2005.

Strona 8