You are on page 1of 35

1 0 1 0

Literatura:

Miernictwo elektroniczne

Podstawowa



Policz to, co mona policzy, zmierz to co mona


zmierzy, a to co jest niemierzalne, uczy mierzalnym
Galileo Galilei








Uzupeniajca




Dr in. Zbigniew wierczyski

E
Rw

Materiay pomocnicze do wykadu.


Wycznie do uytku wewntrznego!!!!!

1. Metrologia elektryczna -A.Chwaleba.... WNT W-wa 2003


2. Podstawy miernictwa J.Dusza.... Oficyna Wydawnicza Politechniki
Warszawskiej W-wa 1998
3. Podstawy miernictwa J.Piotrowski WNT W-wa 2002
4. Podstawy metrologii elektrycznej M.Marcyniuk... WNT W-wa 1994
5. Miernictwo elektryczne i elektroniczne - Z.Parchaski
WSZiP W-wa 1996
6. Podrcznik metrologii P. Sydenham
7. Wstp do analizy bdu pomiarowego J.R.Taylor PWN W-wa 1995

8. Wspczesna metrologia zagadnienia wybrane J. Barzykowski


9. Scalone przetworniki A/C i C/A akomy.. PWN 1992
10. Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe
R. Plassche WK W-wa 1997
11. Zarys cyfrowego przetwarzania sygnaw- C. Marve
WK W-wa 1999
12. Elektotechnika S. Bolkowski WSZiP
2

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Podstawowe definicje


Proces pomiarowy

Pomiar proces poznawczy, ktry


umoliwia obiektywne odwzorowanie
wasnoci fizycznych obiektw w
dziedzinie liczb
Wielko mierzalna (fizyczna)
waciwo zjawiska lub ciaa, ktr mona
wyznaczy jakociowo i ilociowo
Mona rozrni wielkoci:



opracowanie Zbigniew wierczyski

Proces pomiarowy:
ustalenie modelu fizycznego
zbudowanie modelu matematycznego obiektu
 ustalenie modelu metrologicznego
 wybr metody pomiaru i rodkw technicznych
 dokonanie pomiaru
 opracowanie i interpretacja wynikw pomiaru



cige (analogowe) i ziarniste (dyskretne)


aktywne (czynne) i pasywne (bierne)
3

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

4
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Podstawowe definicje c.d.




opracowanie Zbigniew wierczyski

Narzdzia pomiarowe

Pomiar (definicja operacyjna) proces


poznawczy polegajcy na porwnaniu wartoci
wielkoci mierzonej z pewn jej wartoci przyjt
za jednostk miary
Jednostka miary umownie przyjta i wyznaczona
z dostateczn dokadnoci warto danej
wielkoci, ktra suy do porwnania ze sob
innych wartoci tej samej wielkoci
Ukad jednostek miar zbir jednostek miar
wielkoci mierzalnych

Narzdzia pomiarowe zesp rodkw technicznych


wykorzystywany w czasie pomiaru
Wzorzec narzdzie pomiarowe odtwarzajce jednostki
miary lub ich wielokrotnoci
Przyrzd pomiarowy narzdzie pomiarowe suce do
wykonywania pomiaru (analogowe i cyfrowe)

rdo
zjawiska

XR

Przyrzd
pomiarowy

XZ

Obserwator

Wzorzec

Schemat funkcjonalny przebiegu procesu pomiarowego


5
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

6
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Narzdzia pomiarowe
Przetwornik
X

Ukad porwnania
(komparator)

Metody pomiarowe
Metody pomiarowe mona dzieli ze wzgldu na:
 sposb przetwarzania sygnau pomiarowego:

Pole
informacyjne

Urzdzenie
odczytowe

analogowe
cyfrowe


Y-sygna pomiarowy

Ukad
odniesienia

sposb uzyskiwania wyniku pomiaru:

bezporednie
porednie
zoone (zmiana warunkw)

Schemat funkcjonalny przyrzdu pomiarowego







System pomiarowy zbir funkcjonalny przyrzdw i


przetwornikw pomiarowych objty wsplnym
sterowaniem (wewntrznym lub zewntrznym) tworzcy
jedn organizacyjn cao
Metoda pomiarowa zesp czynnoci wykonywanych
podczas przeprowadzania pomiaru celem okrelenia
wartoci wielkoci mierzonej (wyniku pomiaru)

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

sposb porwnywania wielkoci mierzonych z ich wzorcami:

podstawowa (absolutna)
porwnawcza




odchyowa, rnicowa, zerowa, kompensacyjna, komparacyjna

opracowanie Zbigniew wierczyski

8
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

KATEDRA METROLOGII ELEKTRONICZNEJ I FOTONICZNEJ

Prawo Ohma

Podstawowe prawa fizyczne


opisujce obwody elektryczne

I=

R
IR1
I

Rw

Prawo Ohma
Prawa Kirchoffa
Twierdzenie Thevenina
rda napi i prdw

R1

U
R

UR2
R2

P = UI

Rw

10
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Prawa Kirchoffa

opracowanie Zbigniew wierczyski

Rezystancja wypadkowa
sieci rezystorw

Rw

Rw

Poczenie szeregowe


IR1

i =n

IR1
I
R1

UR2

= 0;

R2

U = E
i

R1

E = IRw = IR1 + IR2 Rw = Ri

UR2
R2

i =1

Poczenie rwnolege


I

I1

R1

I3
I2

R2

R3

= 0;

I
i

wp i

= I wyp i

I1
E

I2
R1

R2

I = I1 + I 2 =

i=n
1
1
=
Rw i=1 Ri

i
11

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

E
E E
= +

Rw R1 R2

opracowanie Zbigniew wierczyski

12
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Idealne rda
E

Rw

Urzdzenia zdolne do wytwarzania rnicy


potencjau (napicia) nazywamy rdami
siy elektromotorycznej (oznaczamy E lub
SEM); Rw=0

Urzdzenia zdolne do wytwarzania prdu


nazywamy rdami prdu; Rw=

Rzeczywiste rda

E
Rw

I
Rw

Rw

13
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Twierdzenie Thevenina

14
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Dzielnik napicia

E
Rw




E
Rw

E
Rw


opracowanie Zbigniew wierczyski

Dla kadego obwodu w jego dowolnych


dwu punktach mona wyznaczy
schemat zastpczy w postaci
zastpczego idealnego rda napicia i
rezystancji zastpczej
warto zastpczego idealnego rda napicia
odpowiada wartoci napicia midzy punktami, w
ktrych wyznaczany jest schemat zastpczy
warto rezystancji zastpczej oblicza si na
podstawie rezystancji obwodu, przy zaoeniu, e
rda napiciowe w obwodzie maj rezystancj
zerow (z punktu widzenia rezystancji
stanowi zwarcie).

R1
Uwe

R2

Jest to czwrnik
Uywany jako element sucy do
regulacji podzakresw w aparaturze
pomiarowej i samodzielne urzdzenie
stosowane w ukadach i systemach
pomiarowych

Uwy

U wy =U we

R
R2
U
=U we wy = we
R1 + R2
Rwe
k

15
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

16
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Integrator


Sygnay stae i zmienne

Jest to ukad cakujcy

C


R
-

U=

opracowanie Zbigniew wierczyski

u(t)
Uc

i(t)

Sygna elektryczny x(t), zmienny w czasie t,


nazywamy okresowym, jeli istnieje warto T taka,
e spenione jest rwnanie x(t)=x(t+T) dla dowolnej
wartoci t
Najmniejsza warto T speniajca ten warunek
nazywa si OKRESEM, a jej odwrotno
CZSTOTLIWOCI f

Przykad sygnau okresowego:


sygna sinusoidalny u(t) =Um*sin(t);
-pulsacja; =2f
Sygnay stae DC; sygnay zmienne - AC

17
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

18
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Parametry globalne

Sygnay i ich parametry

u(t)=U

U r =

Sygnay (prd, napicie)

1
u (t )dt
T 0

u(t)=Umsin(2ft)
0

u(t1)

Um
tf

Warto rednia
Warto skuteczna

Up-p
t1

T=1/f
u(t)=U0+Umsin(2ft)

Um

U sk =

U0
U0
0
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

1
0,5
napicie

19

opracowanie Zbigniew wierczyski

Popularne sygnay

1,5

0
1

U sk =

-0,5

Um
2

20
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

1,5

napicie

0,5

-0,5

-1
-1,5

1,5

napicie

0,5
0
1

Ur warto rednia (skadowa staa, DC)


Usk warto skuteczna
Um amplituda
Upp warto midzyszczytowa
u(t1) warto chwilowa (w danej chwili)
T - okres czas trwania jednego penego cyklu
f czstotliwo liczba cykli na jednostk czasu
(f=1/T)
- przesunicie fazowe (tylko dla sygnaw o
jednakowych czstotliwociach)

-0,5

u(t ) = U 0 + U m sin(t + )

-1

21

-1,5

opracowanie Zbigniew wierczyski

Podstawowe informacje o
obwodach zmiennoprdowych

22
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

1,5

Co to za sygnay?
1

Sygnay zmienne (okresowe)


Moc
Elementy R L C
Impedancja
Liczby zespolone

napicie

0,5

s
1

-0,5

-1

-1,5
1,5

0,5
napicie

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Parametry sygnaw okresowych




-1
-1,5

1 2
u (t )dt
T 0

s
1

-0,5

-1

-1,5

czas

24
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Rozkad sygnaw okresowych

Analiza i synteza sygnaw


u(t) = Us inwt+1/3Us in(3wt-180)

i numer harmonicznej
i = i =i2f




1,5

u (t + T ) = U = + U m i sin(it + i ) i(t ) = I = + I m i sin(it + i )


i =1

i =1

1
U sk = U + U m2 i = U
2 i =1

2
=

h1 =

0,5

U
i=2

-0,5

2
i sk

h=

U12sk

U
i =2

2
i sk

U i2sk

i =1

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

U
i =2

2
im

-1

-1,5

u(t)=Us inwt

i =1

U max
U sk


U
kk = sk
U r

26
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

kod =
hn =

U1sk
U sk

U nm U nsk
=
U1m U 1sk

opracowanie Zbigniew wierczyski

Moc chwilowa
p(t ) = u (t )i (t )

Wspczynnik szczytu lub amplitudy (ka)

u(t)= Us inwt+1/3Us in(3wt+180)

25

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wspczynniki
k sz =

u(t)=1/3U s in(wt+1 80)

U i2m

1
P = u (t )i (t )dt
T0

Wspczynnik ksztatu krzywej (kk)

Warto chwilowa mocy


Moc rednia

Dla przebiegw staych

u (t ) = U


Wspczynnik odksztacenia (kod)

Wspczynnik zawartoci n-tej


harmonicznej (hn)

P=

i (t ) = I

P = UI =

U2
= I 2R
R

Dla przebiegw okresowych


sinusoidalnych
T

1
U I
U m sin(t ) I m sin(t + ) = m m cos = UI cos
T 0
2

P = UI cos
27
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

28
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Idealny rezystor

Prawo Ohma dla sygnaw sinusoidalnych


U
=Z
I

Impedancja (Z) moe si skada z :


rezystancji, pojemnoci i indukcyjnoci
Rezystancja R zwizana jest ze
stratami energii cieplnej

u R (t ) = U m sin t

iR (t ) =

u R (t ) U m
=
sin t = I m sin t
R
R

Prze bie g napi c ias inus oidalne g o na re zys torze i prdu


pynac e g o prze z re zys tor

u(t); i(t)

opracowanie Zbigniew wierczyski

R=
i(t)

29
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

u(t)

U Um
=
I
Im

prd i napicie na rezystorze s w tej samej fazie.30


KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Idealny kondensator
Prze bie g napi cia i prdu na ide alnym konde ns ato rze

u =

Q
C

dQ
= ic
dt

Q = Cu

u(t);i(t)

Kadej zmianie napicia towarzyszy zmiana


adunku na kondensatorze
t
1

uC = Umax sin t
ic = C

u(t)

dU
d(Umax sin t)
=C
= CUmax cos t = Imax cos t
dt
dt

iC = Imax cos t = Imax sin(t )


2

31

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

i(t)

Umax U
1
= =
Imax
I C

impedancja (X) idealnego kondensatora X =

1
[ ]
C

(prd wyprzedza napicie o 900);

32

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Idealna cewka
Przebieg napicia i prdu w idealnej cewce

u(t) ; i(t)

iL = Imax sin t
t
1

di
ei = L L
dt
u(t)

uL = L

uL = L

diL
dt

d(Imax sin t )

= LImax cos t = LImax sin(t + )


dt
2

Umax = LImax

opracowanie Zbigniew wierczyski

Element rzeczywisty

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

S = U sk I sk

UZ

UR = Uzcos

[VA]

moc pozorna (cakowita)

P = U sk I sk cos [W ]

moc czynna

Q = U sk I sk sin [var]

moc bierna

Ux = Uzsin

S 2 = P2 + Q2

Uz2 = UR2 + Ux2


35
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

34

opracowanie Zbigniew wierczyski

Uz2 = UR2 + Ux2


Uz2 I2 = UR2 I2 + Ux2 I2
Uz2 I2 = Uz2 I2 cos2+ Uz2 I2sin2

X
UX

R
UR

X = L

(prd opniony w stosunku do napicia o 900);

Moc w obwodach prdu zmiennego

Rzeczywisty element (obiekt) charakteryzuje si


skadow R oraz X (pojemnociow lub indukcyjn) i
dlatego przesunicie fazowe midzy napiciem i
prdem przyjmuje warto wiksz od - 900 ale
mniejsz od 900

iZ

Umax U
= = L
Imax
I
impedancja X idealnej cewki

33

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

i(t)

opracowanie Zbigniew wierczyski

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

cos =

P
S

36

opracowanie Zbigniew wierczyski

Impedancja

Liczby zespolone

Impedancja moe si skada z :


rezystancji, pojemnoci i indukcyjnoci.
OPORNIKI

Oporno jednostka ohm []


KONDENSATORY
Pojemno jednostka Farad [F]
impedancja idealnego kondensatora
CEWKI

liczba zespolona z= x+jy


j lub (i) jedno urojona j2=-1,
x =Re z - cz rzeczywista
y =Im z - cz urojona
Z = X + jY = Ze j = Z cos + jZ sin

Z=

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

X 2 +Y2

cos =

X
Z

sin =

Y
Z

Indukcyjno jednostka Henr [H]


impedancja idealnej cewki
37

opracowanie Zbigniew wierczyski

Impedancja
U
Z = [ ]
I

38
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Admitancja
Y =

IMPEDANCJA Z

[S ]

I
U

Y ADMITANCJA
Y = G + jB

szeregowe
R

Z = R + jX Z = Ze j

XC

1
1
1
=
+j
Z Rr
Xr

1
1
Y = =
Z Rs + jX s

G=

1
R
= s
Rr Z 2

G - konduktancja

39
opracowanie Zbigniew wierczyski

Podstawowe pojcia i definicje.


Przedstawienie wzorcw wybranych miar
Suby pomiarowe

Impedancja - liczba zespolona


R - rezystancja - cz rzeczywista
X- reaktancja - cz urojona

Wzorce

rwnolege

XL
L

Z = R 2 + X2 R = Z cos( ) X = Z sin( )

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

B=

1
X
= 2s
Xr
Z

B - susceptancja

40

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wstp
Wykonywanie pomiarw wymusio potrzeb
istnienia wzorcw
Wzorzec miary jest narzdziem pomiarowym
sucym do odtworzenia lub odtwarzajcym za
znan dokadnoci miar wielkoci danej wartoci.
Miara wzorcowa musi zapewni atwo
porwnywania z innymi miarami wzorcowymi.
Pierwsze wzorce to wzorce antropometryczne
(gr. antropo-ludzki)
Wzorce w zalenoci od roli jak peni w
procesach pomiarowych tworz swoist
piramid hierarchiczn
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

42

opracowanie Zbigniew wierczyski

Podstawowe definicje

Parametry wzorcw


Wzorzec (etalon) podstawowy wzorzec


o najwikszej dokadnoci
Etalon wzorzec sucy wycznie do
przekazywania miary innym wzorcom
Wzorzec jednomiarowy odtwarza tylko
jedn miar
Wzorzec wielomiarowy odtwarza wiele
miar (wzorce nastawne)
Wzorzec grupowy grupa kilku lub
kilkunastu wzorcw, na podstawie ktrych
okrela si warto jako np. redni
warto miar wzorcw z grupy.
43

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Parametry wzorcw c.d.




Niedokadno wzorca maksymalna (dopuszczalna)


odchyka od wartoci nominalnej odniesiona do
wartoci nominalnej i wyraona w procentach. Liczby
wyraajce wzgldn dopuszczaln niedokadno
wzorca tworz znormalizowany szereg:
1 10; 2 10 , 5 10 (<0)
i podaje si je bez znaku i symbolu % np. 0.05. S one
klas dokadnoci wzorca
| max x |
kl

xN

Niepewno wzorcw o duej dokadnoci przyjto


podawa za pomoc liczby czci milionowych (10-6)
okrelonej symbolem ppm
| x|
kl

max

xN

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ








10 6

[ ppm ]

44
opracowanie Zbigniew wierczyski

Midzynarodowe Biuro Miar (siedziba w


Sever pod Paryem)
Midzynarodowe Biuro Czasu
Polska - GUM (Gwny Urzd Miar)
www.gum.gov.pl
USA - NBS (National Bureau of Standards)
Anglia - NPL (National Physical Laboratory)
Niemcy - PTB ( Physkalisch Technische
Bundesanstalt)

45
opracowanie Zbigniew wierczyski

Wzorce miar - prd

46
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wzorce miar - napicie

Wzorzec miary natenia prdu


 Waga prdowa odtwarza jednostk w
sposb definicyjny (6 ppm)
 Porednio poprzez wzorce napicia i
rezystancji (1 ppm)
 Kalibratory prdu elektroniczne
sterowane rda prdu staego (0.001%).

47
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

[%]

Suby pomiarowe

Warunki uytkowania zewntrzne


warunki w jakich wzorzec zachowuje
swoj klas i swe wasnoci
Warto nominalna miary wzorca warto jak powinien utrzymywa
wzorzec w warunkach nominalnych

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

100

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wzorzec miary napicia


 Ogniwo Westona (do 0,0002 %)
 rdo oparte na zjawisku
Josephsona dwa nadprzewodniki
rozdzielone cienkim dielektrykiem
(polski 0,002 ppm).
 rdo z diod Zenera (0.001 %)
 Kalibrator napicia elektroniczne
sterowane rda napicia staego
(0,005%)

48

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wzorce miar rezystor


dekadowy

Wzorce miar rezystancja


Wzorzec miary rezystancji
 Wzorzec odniesienia oparty o
kwantowy efekt Halla (0,03 ppm)
 Oporniki wzorcowe wzorce
nienastawne (5 ppm) maj dwie pary
zaciskw: prdowe i napiciowe
 Wzorce nastawne -oporniki dekadowe
(0,01%)

49
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wzorce miar pojemno i indukcyjno

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wzorce miar czas i czstotliwo

Wzorzec miary pojemnoci


 Wzorce liczalne (0,1 ppm)
 nastawne (0,1 %)
Wzorzec miary indukcyjnoci
Wzorzec indukcyjnoci wasnej
 liczalne (5 ppm)
 nastawne (0,1%)
 Wzorzec indukcyjnoci wzajemnej


51
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

50
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wzorzec miary czasu i czstotliwoci


Poniewa 1 Hz =1 s-1 (Hz - hertz), wic wzorce
czstotliwoci s jednoczenie wzorcami czasu.
 Wzorce odniesienia to atomowe wzorce cezowe,
rubidowe oraz masery wodorowe.
 Wzorce kontrolne I rzdu sprawdzane s przez odbir
radiowych sygnaw wzorcowych czstotliwoci.
 Wzorcami kontrolnymi II i III rzdu s generatory
kwarcowe oraz zespoy aparatury do nadawania
sygnaw wzorcowej czstotliwoci drog radiow i
przewodow.
 Wzorce uytkowe to generatory pomiarowe, zegary i
stopery
52
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przyrzd i pomiar
Rachunek bdw
Podstawowe pojcia, definicje i wzory.
Rne sposoby wyraania bdw
Sposoby okrelania bdw

PRZYRZD POMIAROWY - narzdzie techniczne, do


ktrego doprowadzamy wielko mierzon (XR) i po
dokonaniu odpowiednich czynnoci otrzymujemy
surowy wynik pomiaru (XZ), w formie, ktr moe
odebra obserwator

Oczekujemy e
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

XZ=XR

54
opracowanie Zbigniew wierczyski

Podstawowe definicje

rda bdw i
niepewnoci w pomiarze


X









zy model obiektu,
ograniczona dokadno narzdzi pomiarowych,
niewaciwy przyrzd nie mierzy poprawnie badanej
cechy,
wpyw ukadu pomiarowego na wielko mierzon,
niestarannie zestawiony ukad pomiarowy,
niekontrolowany wpyw czynnikw zewntrznych na
przyrzd,
zakcenia wielkoci mierzonej (wpyw czynnikw
zewntrznych na obiekt)
55
inne

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

x = x xR

!!! Zapamitaj !!!

x =

x
xR

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Bd bezwzgldny - jest to rnica


midzy wynikiem pomiaru x (surowym
wynikiem) i wartoci rzeczywist xR
R wielkoci mierzonej a wyraa si w tych
samych jednostkach, co wielko mierzona
 Bd wzgldny - jest ilorazem bdu
x bezwzgldnego i wartoci rzeczywistej
xR (wyraany gwnie w procentach, dziki
temu jest przydatny przy porwnywaniu
jakoci pomiarw rnych wielkoci


x = x x

x =

x [%] = x x 100%
R

56

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Warto poprawna


W metrologii warto rzeczywista jest pojciem


teoretycznym, jej przyblieniem jest warto poprawna,
czyli taka, ktra okrelona jest wystarczajco dokadnie.
Dlatego wprowadza si bd poprawny:

P x = x xP = p

p poprawka

p = P x = xP x

Suy do poprawienia
wyniku pomiaru

57
opracowanie Zbigniew wierczyski

58
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Zapis wynikw pomiarw

Graniczny bd pomiaru (niepewno


pomiaru) jest to bd bez znaku i okrela
przedzia taki, e:

x R < x g x , x + g x >

x g x xR x + g x
g x | x x R |
xR = x g x

Ostateczny zapis wynikw pomiarw musi mie


odpowiedni form. W tym celu dokonuje si zaokrgle
w nastpujcy sposb:
 bdy ( i ) zaokrglamy zawsze w gr , do jednej cyfry
znaczcej
 liczb przyblion, surowy wynik pomiaru (x)
zaokrglamy do tylu miejsc po przecinku, ile wystpuje w
bdzie bezwzgldnym.
Przykady:
x=2,494 i x=0,043

=>

x=237,465 i x=0,127

=>

(237,50,2) V

x=123375 i x=678

=>

123400700 lub (123,4 0,7) 103

59
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Bd pomiaru - niezgodno wyniku


pomiaru z wartoci rzeczywist wielkoci
mierzonej

xP = x + p

Niepewno pomiaru


XR

opracowanie Zbigniew wierczyski

(2,490,05) V; (2,49V 2%)

60
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

10

Podzia bdw ze wzgldu na


ich charakter

Zapis wynikw pomiarw c.d.


Liczba cyfr znaczcych niesie informacj o niepewnoci
wyniku pomiaru:








Liczba jednocyfrowa
Liczba dwucyfrowa
Liczba trzycyfrowa
Liczba czterocyfrowa
Liczba piciocyfrowa

1-9
10-99
100-999
1000-9999
10000-99999

(50 10 ) %
( 5 0,5 ) %
( 0,5 0,05 ) %
( 0,05 0,005 ) %
( 0,005 0,0005 ) %




bdy systematyczne
bdy przypadkowe
bdy grube (nadmierne, omyki)

Przykady:
x=2 i x=0,043

zapisujemy

x=2,3

odczytujemy (2,300,05) V

(2,000,05) V; (2,00V 2%)

61
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

62
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Podzia bdw ze wzgldu na


ich charakter


Zadanie

Bd systematyczny - jest to bd, ktry przy wielokrotnym


pomiarze danej wielkoci w nie zmienionych praktycznie
warunkach, pozostaje stay co do wartoci i co do znaku, albo
zmienia si wedug znanej zalenoci. Istotn cech bdu
systematycznego jest to, i mona w wielu wypadkach usun go
z wyniku pomiaru wyznaczajc poprawk
Bd przypadkowy - jest to bd zmieniajcy si w sposb
przypadkowy zarwno co do wartoci, jak i co do znaku przy
wielokrotnym powtarzaniu pomiaru danej wielkoci w
praktycznie niezmiennych warunkach.
Bd nadmierny - zwany te bdem grubym lub omyk. Jest to
raca odmienno wyniku pomiarowego od pozostaych. Jeli
jest to faktycznie omyka, wtedy pomiar taki odrzucamy w
przeciwnym razie wynik taki naley podda wnikliwej analizie

W wyniku piciokrotnego pomiaru rezystancji


RX uzyskano nastpujce wyniki:
100,12
100,14
100,06
100,11
100,08
xz x

opracowanie Zbigniew wierczyski

64

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

P ( x1 < X < x 2 ) =

f (x )dx

E(X ) =

xf ( x )dx

= E [ X E ( X )] 2 =

[X

E ( X )] 2 f ( x )dx

P(x1<X<x2) - prawdopodobiestwo, e zmienna losowa przyjmie


wartoci pomidzy x1 a x2 (Pole pod krzyw gstoci)
 E(X) - warto oczekiwana, jest miar skupienia rozkadu
 2 - wariancja, jest miar rozproszenia rozkadu. Wielko jest
odchyleniem standardowym (odchyleniem rednim
66
kwadratowym)
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ
opracowanie Zbigniew wierczyski


f (x )dx

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

=1

F ( x ) = P ( X ) = P ( < X < x ) =

f (x )dx

x2

x1

f(x) - funkcja gstoci


prawdopodobiestwa (gsto
prawdopodobiestwa)
F(x) - dystrybuanta zmiennej losowej

Zmienna losowa X - jest to wielko mierzalna, ktrej wartoci


(x) zale od przypadku. W wyniku jednego pomiaru zmienna
losowa (X) przyjmuje tylko jedn warto (x) spord wszystkich
moliwych.
dF ( x ) 
dx

opracowanie Zbigniew wierczyski

F ( ) = P ( < X < ) =

Wynik pomiaru i bd przypadkowy mona traktowa jak zmienne


losowe. W dalszych rozwaaniach zakadamy, e wynik pomiaru nie
jest obciony bdem systematycznym.

f ( x) =

x R < x z x , x z + x >

Zmienne losowe c.d.

Zmienne losowe

Jakie jest najlepsze przyblienie wartoci RX i z


jak dokadnoci mona je okreli?

63
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

65
opracowanie Zbigniew wierczyski

11

Rozkad normalny


Rozkad normalny c.d.

.
1
e
2
E ( X ) = xR

( x E ( X )) 2

f ( x) =

.
1
e
2

( x xR )2
2

f(x)
1 < 2

Wartoci prawdopodobiestwa dla


szczeglnych przedziaw:
P(xR-<x<xR+)=0,68

P(xR-2<x<xR+2)=0,95

P(xR-3<x<xR+3)=0,9973

xR
xR-

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

xR+

67

opracowanie Zbigniew wierczyski

Praktyczna ocena bdw


przypadkowych
E ( X ) = xR x =
E ( X ) = xR

=
2
x

s =
2

n
n

(x
i =1

1
n

x)

x
i =1

E ( x ) = xR

n
n

n 1

s =
2
x

(x
i =1

x )2

n ( n 1)

E ( X ) 3

dla n <30 korzysta si z rozkadu t-Studenta


xR g x

x t s x

Z tablic, dla okrelonej liczby stopni


swobody k=n-1 i dla wybranego poziomu
ufnoci odczytuje si wspczynnik t (tnp)

10

12

20

30

tnp

4.307

2.776

2.477

2.306

2.228

2,129

2.089

2.042

x 3sx

xi = xi x

Bd przypadkowy (pojedynczego pomiaru)


Histogram jako przyblienie funkcji gstoci
70
prawdopodobiestwa

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

69
opracowanie Zbigniew wierczyski

Histogram przykad

Histogram duej populacji

Uporzdkowa wyniki od najmniejszej wartoci do najwikszej;


nastpnie podzieli zakres wartoci, w ktrym mieszcz si
wyniki na przedziay (o X) i poda liczb wynikw
mieszczcych si w poszczeglnych przedziaach (o Y)
71

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

0,95

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Praktyczna ocena bdw


przypadkowych c.d.

Ponowne
oszacowanie
wartoci
rzeczywistej i jej
odchylenia
standardowego

dla n >30 ostateczny wynik to


xR g x

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

oszacowanie wartoci rzeczywistej. Tak


liczona warto jest te zmienn losow


i

x =

Przedzia, w ktrym z
prawdopodobiestwem 0,9973
E ( X ) 3
mieszcz si wszystkie realizacje
zmiennej losowej
 takiej postaci wyniku
x z x x R < x z x , x z + x > oczekiwalimy, szukalimy
E ( X ) 3

x R g x  Takie rozwizanie mona przyj


 graniczna niepewno wyniku
pomiaru (regua trzech sigm).
g x = 3
 Jest to przedzia ufnoci okrelony
na wybranym poziomie ufnoci
(istotnoci).
 Poziom ufnoci zaley od nas lub
gx =
stawianych nam wymaga (np.
68 % wynikw obarczonych jest
bdem nie wikszym ni ) 68


Przy duej liczbie pomiarw przyjmuje si, e pomiary jako


zmienne losowe maj rozkad normalny (rozkad Gaussa).

opracowanie Zbigniew wierczyski

72
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

12

Bdy systematyczne i grube




Bdy systematyczne

Bdy systematyczne

systx = xxR =p

Trudne do ujawnienia- wymagaj


znajomoci obiektu, zasad dziaania
narzdzi pomiarowych, wnikliwoci.

Niebezpieczne niezauwaone mog


bardzo znieksztaci wynik pomiaru.

Mona je usun, jeli potrafimy je


zauway i oszacowa ich warto.

p =systx = xR x
xP = x+ p = xR


Bdy grube (xo-warto podejrzana)

xo xR xo x

s
73
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Bdy systematyczne


Jeli systX nie jest pomijalnie mae w stosunku do


pozostaych bdw, to WYNIK POMIARU
naley POPRAWI
na og nie jest znana dokadna warto bdu
systematycznego-poprawki; pozostaje niepewno
okrelenia |reszta systX|<<systX
zatem bd graniczny (niepewno) wyniku
mona zapisa (pX bd graniczny przyrzdu):

grx = (| p x | + | przypx | + | reszta systx |)




Naley unika
duych bdw
systematycznych

Jeli bd graniczny przyrzdu jest wikszy ni


dziesiciokrotna warto niepewnoci
przypadkowej i niepewnoci okrelenia poprawki,
wtedy mona je pomin

| p x |>10(| przypx | + | reszta systx |)

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

75

opracowanie Zbigniew wierczyski

74
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Bdy w pomiarach porednich




Pomiar bezporedni - pomiar, ktrego wynik odczytuje si


bezporednio ze wskaza przyrzdu pomiarowego
Pomiar poredni - pomiar, ktrego wynik oblicza si
podstawiajc do rwnania pomiaru wyniki pomiarw
bezporednich
Pomiar zoony w czasie pomiaru konieczna zmiana
warunkw pomiaru
x1, x2, ... ,xn wielkoci mierzone bezporednio
y wielko mierzona porednio, przy czym:
y = f ( x1 , x 2 ,...., x n )
Ponadto:

sx1, sx2, ... , sxn

bdy systematyczne

gx1, gx2, ... , gxn

bdy graniczne

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

76

opracowanie Zbigniew wierczyski

Bdy systematyczne w pomiarach porednich

Bdy graniczne w pomiarach porednich

Wypadkowy bd systematyczny, jakim obciona


bdzie wielko y, oblicza si metodami:
 Przyrostw

Bd bezwzgldny maksymalny (graniczny), z jakim


mierzona jest wielko y, oblicza si metod graniczn:

s y = y + s y y = f ( x1 + s x1 , x 2 + s x 2 ,...., x n + s x n ) f ( x1 , x 2 ,...., x n )


g y =

Rniczki zupenej
sy

y=

lub metod rniczki zupenej:

y
y
y
s x1 +
s x2 + +
s xn
x1
x2
xn

wtedy bd wzgldny:

gy =

y max + y min
2

Bd wzgldny dla obu metod liczy si:

y max y min
2

y
y
y
g x1 +
g x2 + +
g xn
x1
x 2
xn

| g y |
|y|

y = Ax 1 x 2 .... x n
Jeli zaleno na y jest postaci:
wtedy bd ten mona liczy metod rniczki logarytmicznej
a1

y
sy = s
y

g y =

a2

an

g y = | a1 g x1 | + | a 2 g x 2 | + ... + | a n g xn |
n

77
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Jeeli y = x1 + x 2 + .... + x n => g y = g x1 + g x 2 + ... + g x n = g x i


i =1

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

78

opracowanie Zbigniew wierczyski

13

Ocena poprawnoci pomiarw




Wynik pomiaru

Pomiary:

Wynik pomiaru wyraony par liczb


przedzia wartoci opatrzony jednostk
miary, w ktrym z duym
prawdopodobiestwem znajduje si
rzeczywista warto wielkoci mierzonej
Przykady:

Spjne (nie s znaczco rne) -

jeli
rnica midzy uzyskanymi wynikami jest mniejsza
ni suma niepewnoci bezwzgldnych

Sprzeczne nie rozpoznane rdo


bdu

x x


x x






(23.14 0.05) V
23.14 V 0.05 V
23.14V 0.03 %
23.14V
(domylnie 0.005 V)

79
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przyrzdy i przetworniki
pomiarowe

80
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Schematy przyrzdw pomiarowych





S to narzdzia pomiarowe:
 Przyrzdy - suce do wykonywania pomiaru

Schemat funkcjonalny przedstawia realizacj algorytmu


Schemat strukturalny - przedstawia struktur (budow) przyrzdu

Przetwornik
pierwotny

Wskanik

Schemat funkcjonalny
Przetwornik
dopasowujcy

Przetworniki suce do zamiany wielkoci


mierzonej na sygna pomiarowy

Ukad porwnania
(komparator)

Przetwornik
standaryzujcy

Ukad
odniesienia

Prostownik

Wzmacniacz

Ustrj
pomiarowy

Zasilacz

Schemat strukturalny

82
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Podzia przetwornikw i przyrzdw


Ze wzgldu na spenianie funkcje rozrnia si:
 Miernik przyrzd pomiarowy wywzorcowany w jednostkach
miary wielkoci mierzonej (np. woltomierz, amperomierz czy te
czstociomierz lub fazomierz)

Rejestrator - przyrzd pomiarowy umoliwiajcy zapis wartoci
mierzonej w funkcji innej wielkoci np. czasu
 Charakterograf - przyrzd umoliwiajcy obserwacje, pomiar lub
rejestracj charakterystyk elementw lub ukadw elektronicznych
 Detektor zera bada istnienie lub zanik zjawiska
 Przetwornik zmiany skali (wzmacniacze, tumiki)
 Przetworniki zmiany charakteru (AC/DC, DC/AC, A/C, C/A,
prd/napicie, temperatura/rezystancja)

Przetworniki analogowe struktury

Struktury:
 prosta lub zoona
 otwarta lub zamknita
X

Przetwornik
pierwotny

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przetwornik
poredni

Przetwornik
kocowy

Struktura zoona otwarta (gra) i


zoona zamknita (d)
X

Przetwornik
poredni X/V

Ukad
Wykonawczy

Xw

83
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wzorzec
nastawny

84
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

14

Przetworniki analogowe
parametry

Przetworniki analogowe struktury c.d.

X /Y

Charakterystyka (statyczna) przetwarzania Y=f(X) (liniowa lub nieliniowa)


czuo S=dY/dX (jeli czuo nie jest staa => nieliniowe)

staa przyrzdu C=1/S

Zakres: wskaza (miernika), przetwarzania (przetwornika) (Xmax-Xmin) lub
pomiarowy

warunki znamionowe (temperatura, wilgotno, natenie zewn. pola magn.)

bd podstawowy (bd w warunkach znamionowych), klasa dokadnoci
(dopuszczalna warto bdu podstawowego) i bdy graniczne dodatkowe (np.
temperaturowe)

parametry dynamiczne (zmiany czasowe): charakterystyka czasowa, bd
dynamiczny, charakterystyka czstotliwociowa, pasmo przenoszenia
|max( X X R )|
Wskanik klasy (kl w skrcie klasa)- liczba wyznaczajca
graniczn warto bezwzgldnego bdu podstawowego
XU


Przetwornik zoony skada si z:


 przetwornik pierwotny (czujnik) pobiera informacje
pomiarow i przetwarza do innej postaci nadajcej
si do dalszego przetwarzania (parametryczne i
generacyjne)
 przetwornik(i) poredni przetwarza informacje
wejciow na sygna pomiarowy o odpowiednim
charakterze
 przetwornik kocowy to przetwornik
standaryzujcy lub dopasowujcy

kl

100

wyraonego w procentach wartoci umownej (najczciej zakresu)

85
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

86
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Analogowe przetworniki (A/A)


pomiarowe wielkoci elektrycznych

Przetworniki bdy przetwarzania

Bd zera:
y=const
y=
y/yzakresu







opracowanie Zbigniew wierczyski

Bd wzmocnienia:
y=const
y = y*y





Prd/Napicie (I/U) np. bocznik


Napicie/Prd (U/I) np. posobnik (opornik dodatkowy)
Dzielnik napicia (rezystancyjny, pojemnociowy, indukcyjny)
Tumik
Wzmacniacz pomiarowy
Wzmacniacz izolujcy
Przekadniki: prdowe i napiciowe
Przetwornik standaryzujcy
Przetworniki cakujce i rniczkujce
Przetwornik AC/DC - prostownikowy (wartoci redniej, wartoci szczytowej,
wartoci skutecznej)
Przetwornik mnocy: hallotron, gaussotron, pprzewodnikowe scalone
ukady mnoce
Przetworniki mocy

87
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

U=iR

REZYSTOR jako bocznik jest


przetwornikiem prdu na napicie
Wszystkie przetworniki wielkoci
nieelektrycznych na wielkoci
elektryczne np. OPORNIKI
TERMOELEKTRYCZNE





Pt 100, Ni 100 Cu 100


 Pt,

Ni, Cu symbol zwizku


warto rezystancji w dla
T= 00C

 100

89
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przetworniki wielkoci termopara

Przetworniki wielkoci
i

88
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Dwa przewody z rnych metali.


Jeli koce termopary s w rnych
temperaturach pojawia si NAPICIE
TERMOSI - STE (napicie midzy
kocami=STE)
Materiay przewodzce mona ustawi w
szereg termoelektryczny wedug
rosncych potencjaw.
STE zaley od uytych materiaw i
rnicy temperatur
90

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

15

Przyrzd analogowy jako


przetwornik

Przetworniki sygnaw

Np. przetwornik prostownikowy wartoci redniej

uwej

Przetwornik

u (t )wej = U max sin(t )

uwyj = |uwej |

U rwyj =

X/

u (t )wyj =| U max sin(t ) |

1
= U max sin(t ) dt = 0
T0

U rwej

Przyrzd analogowy - miernik, ktrego


wskazania s cig funkcj wartoci
wielkoci mierzonej.

X/Mn

Mz

1
2U max
U max sin(t ) dt =

T 0

91
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

92
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Mierniki analogowe zadanie

Mierniki analogowe
Mierniki, ktrych wskazania s funkcj
cig wartoci wielkoci mierzonej.
 Ze wzgldu na struktur:



X = C zakr =
X =

x =

kl X Zakr
100

kl X Zakr
X

X zakr

zakr

X zakr

max

X = f ( X ) = const

x = f (X ) =

a
X

o dziaaniu bezporednim
o dziaaniu porednim (elektroniczne)

Ze wzgldu na rodzaj ustroju np.:







opracowanie Zbigniew wierczyski

magnetoelektryczne (z
przetwornikami)
elektromagnetyczne
elektrodynamiczne i ferrodynamiczne

U = Czakr = 30

U =

x =

0.510
100

0.510
6

10
V
= 6[dz = V ]
50
dz

= 0.05V





0.84 %


U U = (6.00 0.05)V
U U = (6.00V 0.9%)

Wykonano pomiar woltomierzem


magnetoelektrycznym o parametrach:

zakres 10V
maksymalna liczba dziaek max=50 dz
klasa 0.5

Poda warto pomiaru napicia, jeli


wskazwka wychylia si o =30 dz
Poda niepewno wzgldn i
bezwzgldn wskazania

93
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

amperomierz zerowa rezystancja i wcza si szeregowo


(przerywajc obwd)
woltomierz nieskoczona rezystancja i wcza si rwnolegle
omomierz szeregowy (rezystancje rednie i due) i rwnolegy
(rezystancje mae)
watomierz posiada zaciski prdowe i napiciowe
galwanometr mierniki o bardzo duej czuoci
multimetr miernik wielofunkcyjny








+
E

+
-

Rw

Budowa miernika magnetoelektrycznego:


 magnes stay
 ruchoma cewka (ramka) umocowana na
sprynach
 wskazwka poczona z ramk
Prd pyncy przez cewk w polu
magnetycznym powoduje jej obrt
(Prawo Biota-Savarta-Laplace`a)
Oglnie rwnanie przetwarzania:
=Si (S - czuo przetwornika; i - prd)

95

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Miernik analogowy z przetwornikiem


magnetoelektrycznym

Mierniki analogowe


94
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

96
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

16

Przetwornik
magnetoelektryczny

Przetwornik
elekromagnetyczny
W przetworniku wykorzystuje si si
przycigania materiaw ferromagnetycznych
przez pole elektromagnetyczne wywoane
prdem pyncym przez nieruchom cewk
Bezporednio pomiar prdu kilkadziesit mA,
klasa gorsza ni dla napi zmiennych

Bezporednio pomiar prdu od kilkudziesiciu


A do kilkudziesiciu mA
Z zasady dziaania:

mierzy prd stay

mierzy warto redni prdu
doprowadzonego na jego wejcie, jeli
czstotliwo sygnau mierzonego jest
wiksza ni 50 Hz

mierzy warto chwilow prdu
doprowadzonego na jego wejcie, jeli
czstotliwo sygnau mierzonego jest
mniejsza ni 50 Hz

Z zasady dziaania przetwornik elektromagnetyczny:

mierzy prd stay,

mierzy redni warto kwadratu prdu


doprowadzonego na jego wejcie jeli czstotliwo
sygnau mierzonego jest wiksza ni 50 Hz,

mierzy warto chwilow prdu doprowadzonego na


jego wejcie jeli czstotliwo sygnau mierzonego jest
mniejsza ni 50 Hz

97
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Mierniki analogowe przykad


wykorzystania

mA

mA

Rb

Amperomierze budowane s na bazie przetwornika


(ustroju) magnetoelektrycznego poprzez
zastosowanie opornikw bocznikujcych ustrj.

I A = I p +I b

Rp
IA

Ip

Rd
Rb

opracowanie Zbigniew wierczyski

Amperomierz analogowy

Sam ustrj stanowi mikroamperomierz prdu staego, natomiast:


 doczajc bocznik (Rb) zmieniamy zakres
 po doczeniu posobnika (Rd) tworzymy woltomierz
 dodajc przetwornik prostownikowy tworzymy woltomierz
napi zmiennych
 Inne przetworniki (wzmacniacze, dzielniki, rezystory)
dodatkowo rozszerzaj moliwoci
r

98
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Ib

I p R p = I b Rb = I A RA

Dla uytkownika nie jest istotna warto Rb a warto


rezystancji wypadkowej na zaciskach amperomierza RA

RA =

I-i

99

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wielozakresowy
amperomierz

UA
IA

100

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Parametr amperomierza
Rezystancja wewntrzna RA czsto podawana
porednio przez spadek napicia na amperomierzu UA

Spadek napicia UA podany jako parametr


okrela napicie na zaciskach amperomierza
w momencie, gdy pynie przez niego prd Iz
o wartoci odpowiadajcej zakresowi
amperomierza
Spadek napicia na kadym zakresie inny

RA =
101

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

UA
Iz
102

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

17

Parametr woltomierza

Wielozakresowy woltomierz

Dla uytkownika nie jest istotna warto R1, R2, R3, R4, a
warto rezystancji wypadkowej na zaciskach woltomierza RV
R1

R2

R3

U1

U2

R4

U3

Dla kadego zakresu RV inne


dla woltomierzy magnetoelektrycznych
wielozakresowych podawana jest rezystancja
charakterystyczna w /V

U4

Przetwornikiem prdu na napicie jest opornik


Warunki jakie mu si stawia to:







stao jego wartoci (oporu)


niewraliwo na zmian warunkw
zewntrznych (przede wszystkim temperatur)

Poda wynik pomiaru napicia Ux


woltomierzem magnetoelektrycznym
R
o zakresie 15V, 30dziaek, kl 0.5,
rezystancji 1 k/V, jeli w ukadzie jak
na rysunku woltomierz wskaza 25,75 dziaki.

R=150

103
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

104
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Przetwarzanie A/C - Prbkowanie

Przetwarzanie A/C i C/A




Przetwarzanie analogowo-cyfrowe (A/C, AD, ADC)


i cyfrowo- analogowe (C/A, DA, DAC) s
pomostem pomidzy wiatem analogowym a
wiatem cyfrowym.
Przetwarzanie A/C mona podzieli na 3 etapy:
 Prbkowanie dyskretyzacja osi czasu



opracowanie Zbigniew wierczyski

rwnomierne
nierwnomierne

Prbkowanie idealne
Prbkowanie
rzeczywiste

xn

x2
x1

x5

x6

x7

w P
i

wn L w2 w1w0



w M in = w 0

w i + 1 -w i = w = q




t[ s ]

L liczba poziomw kwantowania


(L-1) liczba przedziaw kwantowania
Z=(wMax - wMin) zakres przetwarzania (bipolarny i
unipolarny)
q=Z/L kwant krok kwantowania
Bd kwantowania = q

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

S s ta rt
G - g o t w

t[s ]

fs2fg Warunek Shannona-Kotielnikowa


106

opracowanie Zbigniew wierczyski

Zapis liczby w systemie dziesitnym np.




x3
x2

Przetwarzanie A/C - Kodowanie

x1

fg czstotliwo graniczna widma

x4

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Przetwarzanie A/C - Kwantowanie

w1

Ts

T p czas przetwarzania

Naturalny kod binarny (dwjkowy)


 Binarny kod dziesitny (BCD)


w2

Tp

T w=(n-1)T s okno czasowe

w3

Tw

T s okres prbkowania (p. rwnomierne)

n liczba prbek

w4

t[s]

Ts

fs=1/T s czstotliwo prbkowania

Kwantowanie dyskretyzacja osi wartoci


Kodowanie przyporzdkowanie kademu
poziomowi kodu cyfrowego, przykadowo:

x7

x4

w5

x6

x3

w M ax= w 6

x5

1103+7102 + 2101 + 8100 = 172810


1101 + 1100 = 1110 =
=123+022 + 121 + 120 = 10112

w wagi; i pozycje; P podstawa


Naturalny kod binarny (zakres liczba bitw)
Binarny kod dziesitny BCD (zakres-liczba
000
cyfr) d
d
d

di
647
4
8 647
4 2 48
4 6471 48 647
4 0 48
4
bi 8bi 4bi 2bi1 b2;8b2; 4b2; 2b2;1 b1;8b1; 4b1; 2b1;1 b0;8b0; 4b0; 2b0;1
5
1
2
}
}
}
12510 0001 0010 0101 = 000100100101BCD

107

opracowanie Zbigniew wierczyski


KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

001
011
010
110

111
Kod Graya (kod refleksyjny) (zmiana
101
tylko jednego bitu w kolejnych sekwencjach)
100
Regua kodowania funkcja przetwarzania108
opracowanie Zbigniew wierczyski

18

Przetworniki C/A


Przetworniki C/A - przykad

Zasada dziaania sowem cyfrowym (0 i 1)


0
1
decydujemy
o analogowej
R
wartoci
E
E
wyjciowej
w

Przetwornik C/A drabinkowy R-2R

P2

P1

R2

P0

R1

P0

R0

P1

Pn

RL

C/A

RL

Wy

Ew


i=0

Fizyczna realizacja wartoci cyfrowej 0 lub 1 (jednego bitu)


 Przecznik
 Poziom sygnau
Parametry: zdolno rozdzielcza, zakres wielkoci
wyjciowej, rezystancja wyjciowa, rodzaj kodu, szybko
przetwarzania
Przetworniki drabinkowe R-2R staa rezystancja
wyjciowa i tylko dwie wartoci rezystorw
109

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Rola przetwornika C/A





i
R Uwy = Ew Abi 2

R/2

R/2

R/2

RL

110
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przetworniki A/C
Przetwarzaj warto analogow na
cyfrowy sygna pomiarowy.
 Przetworniki bezporednie

Sterowane rdo napicia


Generacja sygnau o zadanym
ksztacie
Rekonstrukcja sygnau
analogowego

Z kompensacj rwnomiern
Z kompensacj wagow
 Z bezporednim porwnaniem
(rwnolege)



Przetworniki porednie



Napicie czas
Napicie czstotliwo

111
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przetworniki A/C bezporednie


Taktowanie

Ukad
sterowania

Przetworniki A/C porednie mona podzieli


na:
 Przetworniki napicie-przedzia czasu

Ux
Wyjcie
cyfrowe

Uw


Uw

C/A

Z kompensacj rwnomiern
x=0; i=0;
Dopki (Ux>Uw)
x=x+1;
i=i+1;
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przetworniki A/C porednie

Ux

Uw

112
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Taktowanie

Taktowanie

Ux

Wy

Z kompensacj wagow
x=0; i=N;
Dopki (i>0)
Jeli (Ux>Uw) => bi=1
Jeli nie => bi=0
x=x+ bi2i
i=i-1

O przetwarzaniu impulsowo-czasowym
Z wielokrotnym cakowaniem

Przetworniki napicie-czstotliwo

113

opracowanie Zbigniew wierczyski

114
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

19

Przetworniki A/C porednie o


przetwarzaniu impulsowo czasowym

Pomiar odcinka czasu

Ux

Zasada dziaania
Uw(t)=At
Uw(Tx)=A Tx = Ux
Tx=Ux/A
Tx=NxTw
Nx=fwTx=(fw/A)Ux


Pomiar poprzez bezporednie


porwnanie z wzorcem

Tw

Tx

Tx = NxTw
Jak dokadnie to zrealizowano?
Zliczanie impulsw bd zliczania
Nx=1
N=1/ Nx
Tx= N+Tw

NxTw

115
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Uw

Tx

Up

UpA

Us

A szybko zmian napicia


pioksztatnego
fw czstotliwo wzorcowa

Ui
Tw
Ub

Przetwarzaj warto
chwilow

NxTw

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

116

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przetworniki A/C porednie z


wielokrotnym cakowaniem

Przetworniki A/C porednie o


przetwarzaniu impulsowo czasowym

Zasada dziaania

Ux

t1

u1 (t1 ) = A U x dt = AU xrt1

Ux

Przetwornik
pierwotny

UpB

Ukad porwnania
(komparator) B

Gen. napicia
liniowego

Ukad
sterujcy

Bramka

Licznik

Wskanik
cyfrowy

t1

t x = t1U xr / U w
N x = f wt x = U xr ( N m / U w )
117

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Nm

Przetwarza warto redni tumienie okresowych zakce 118

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Zasada dziaania

Ux

t1

u1 (t1 ) = A U x dt = AU xr t1 = U 0

Gen. impulsw
wzorcowych
Up

Ui

Us

Uk.
cakujcy

Nx

Przetworniki A/C porednie z


przetwarzaniem napicie-czstotliwo

Przetworniki A/C porednie z


wielokrotnym cakowaniem
Uc

tx

AU xrt1 AU wt x = 0

Ui

Gen. impulsw
wzorcowych

u2

u2 (t1 + t x ) = u1 (t1 ) A U w dt =
t1

Us

Ukad porwnania
(komparator) A

Ukad
wejciowy

u1

t1 +t x

UpA
Uw

Ux

Uc

Nm- pojemno licznika

Zerowanie i znak

UpB

Uw

t1 = N mTw = N m / f w

Ub

Ukad porwnania
(komparator)

u2 (t1 + t2 ) = U 0 +

Bramka

t1 +t2

U0

( AU x BU 0 s )dt =
t1

Ub

Uw

rdo nap.
wzorcowego

Ukad
sterujcy

Licznik

Tx = t1 + t2 =

Biegunowo

Wskanik
cyfrowy

BU 0 s
t2
AU xr

t1 t2
us
U0s

f x = CU xr
119

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

= U 0 + AU xr t2 BU 0 s t2 = 0

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przetwarza warto redni tumienie okresowych zakce


KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Tw
120
opracowanie Zbigniew wierczyski

20

Przetwarzanie C/C

Przetworniki A/C - parametry












N liczba bitw (dugo sowa)


Liczba poziomw kwantowania 2N
Liczba przedziaw kwantowania 2N-1
Nominalny zakres przetwarzania q2N
Rzeczywisty zakres przetwarzania q(2N 1)
Zdolno rozdzielcza q
Bd kwantowania q/2
Bd (dokadno) przetwarzania
Parametry dynamiczne: czas przetwarzania,
maksymalna czstotliwo pracy, czas ustalania,
szybko narostu, warto przepicia

Przetwarzanie cyfrowo-cyfrowe (C/C) realizowane jest poprzez


ukady cyfrowe (od elementarnych po mikroprocesorowe), ktre
operuj sygnaami cyfrowymi zarwno na wejciu jak i na wyjciu.
Sygnay cyfrowe s najczciej dwuwartociowe czyli dwjkowe
(binarne).
W zalenoci od przyporzdkowanych poziomw do stanw 0 i 1,
rozrnia si logik dodatni i ujemn. Dokadne wartoci
poziomw determinuj technologie ukadw np. TTL, ECL lub
CMOS
Zapis kombinacji cyfr 0 i 1 nosi nazw sowa cyfrowego, w ktrym
pierwszy bit z lewej to bit najbardziej znaczcy (MSB) a z prawej to
najmniej znaczcy (LSB).
Rozrnia si: tetrada (nibble-4b), bajt (byte-8b), sowo 16b, itd

121
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Przetworniki C/C









Opisywane poprzez tabele prawdy











Bramka NOT/NIE (inwerter)


Bramka AND/I (koniunkcja)
Bramka OR/LUB (alternatywa)
Bramka NAND/NIE-I
Bramka NOR/NIE-LUB
Bramka EXOR/WYCZNIE-LUB
Bufor

123
opracowanie Zbigniew wierczyski

124
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

X2 Y
0 0
1
0 X2
1

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Funkcja do gosowania

Licznik

X1
0
0
1
1

Przerzutniki, liczniki, rejestry

Bramki logiczne - przykad




Bramki logiczne

Bramki logiczne: AND, OR, NOT, NOR, NAND, XOR


Przerzutniki bistabilne (pamiciowe): R-S, J-K, D, T
Rejestry (przesuwne, szeregowe, rwnolege)
Liczniki
Dekodery (np. do wywietlaczy)
Komutatory: multipleksery i demultipleksery
Mikroprocesory (zaawansowane funkcje przetwarzania)
Interfejsy: IEC-625 (GPIB, HP-IB), UART (RS-232),
TCP/IP (LAN), USB

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

x0
x1
x2
x3

Wy: x3 x2 x1 x0
np. 1010

Bramka AND jako sterowany przecznik


125
opracowanie Zbigniew wierczyski

126
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

21

Komutatory

Dekodery
a

Multiplekser

b
g




Demultiplekser




Wywietlacz 7 - segmentowy
h g f e d c b a = x7x6x5x4x3x2x1x0
Dekoder kodu BCD na 7-segmentowy
Dekoder kodu NKB na 1 z n

Kod 1 z n
127
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

128

opracowanie Zbigniew wierczyski

Mierniki cyfrowe

X = p + d

x =

a%
X
100
b%
d =
X zakr = n r
100

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Mierniki cyfrowe dokadno


wskaza

Mierniki, ktrych wskazania s


dyskretn funkcj wartoci
wielkoci mierzonej.
 Realizowane gwnie jako
multimetry
 Zaciski pomiarowe

X
X

p =

r =

r
X

1
N

opracowanie Zbigniew wierczyski

+: wysoki, High, Hi, Czerwony


-- : niski, Low, Lo, Czarny, Zielony,
Common, Com

Rozdzielczo (kwant, ziarno, czuo)


najmniejsza warto o jak moe zmieni si
wskazanie.
Np. dla woltomierza o 4-ro cyfrowym polu odczytowym o
wskazaniach od 0.000V do 9.999V kwant wynosi 0.001V

Dokadno wskaza podawana jako:


= (a% wartoci zmierzonej + b% wartoci zakresu)
= (a% wartoci zmierzonej + n cyfr)




Przykad: zakres 999.9V, rozdzielczo 0.1V,


dokadno 0.05% i 2 cyfry. Wskazanie: 128.3V
= 0.05/100 *128.3 + 2* 0.1= 0.2642 0.3 V

129
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

130

opracowanie Zbigniew wierczyski

Schemat funkcjonalny woltomierza napi staych

Ukad
wejciowy

Przetwornik
A/C

Dekoder

Zamiana rezystancji na napicie

U = Rx I o


uC = U o (1 e RC )
Nx =

Schemat funkcjonalny woltomierza mikroprocesorowego


Ukad
wejciowy

Przetwornik
A/C

System
mikroprocesorowy

I0
Rx

R
U0

uC
C

1
1
Rx C =
RC x
Tw
Tw

Dla t=RC=, otrzymujemy uC=U0(1-e-1)= U00.632.

Wskanik

131
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Stany nieustalone
t

Ux

Wskanik

Ukad sterujcy

Mierniki cyfrowe - omomierz cyfrowy

Informacja o zakresie i biegunowoci


Ux

opracowanie Zbigniew wierczyski

Mierniki cyfrowe - Woltomierz cyfrowy




KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wystarczy zmierzy czas od wczenia klucza do osignicia


napicia (U00.632), czyli czas adowania kondensatora 132

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

22

Pomiar czstotliwoci

Pomiar okresu (czasu)

Czstociomierz - metoda bezporednia

ux

uw

fx =

Czstociomierz - metoda porednia


uw

Nx
Tw

Tx = N xTw

ux

Tw=Nx/fx

Tx=NxTw

f = T + N = T +
x

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

1
Nx

T = T + N = T +
x

opracowanie Zbigniew wierczyski

Faza chwilowa

Pomiar cyfrowy lub analogowy


u1

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Pomiar fazy


133

1
Nx

134

opracowanie Zbigniew wierczyski

Pomiar fazy


Faza rednia

Tx = N T Tw

u2
t

u2

u1

tx

tx

t x = N xTw

tb = kTw = aTx

t
Tx=NTTw

t
Tx=NTTw

Nx
Nx
tb

Tx = N T Tw

t x = N xTw

t
N
x = x 360 = x 360
Tx
NT

N = aN x =
135

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Systemy pomiarowe


Budowane w celu pomiaru wartoci wielu rnych wielkoci



Inteligentny
czujnik wyposaony w
mikroprocesor i
stanowi moe
odrbny
podsystem

Oprogramowanie
systemw pomiarowych
moe by skupione na
jednej jednostce
komputerowej lub
rozproszone na wielu
jednostkach

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

137
opracowanie Zbigniew wierczyski

tb t x kTw t x
360
=
= k x x =
N
Tx Tw
Tx Tw
360
k

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

136

opracowanie Zbigniew wierczyski

rda bdw i
niepewnoci w pomiarze
zy model obiektu,
ograniczona dokadno narzdzi
pomiarowych,
 niewaciwy przyrzd nie mierzy
poprawnie badanej cechy,
 wpyw ukadu pomiarowego na wielko
mierzon,
 niestarannie zestawiony ukad pomiarowy,
 niekontrolowany wpyw czynnikw
zewntrznych na przyrzd,
 zakcenia wielkoci mierzonej (wpyw
czynnikw zewntrznych na obiekt)
138
 inne
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ
opracowanie Zbigniew wierczyski



23

Obiekty pomiarowe - modele i


parametry


Pomiary staoprdowe

Sygnay (prd, napicie)





Stae niezmienne w czasie.


Zmienne zmieniajce sw warto w czasie:



Pomiary wielkoci elektrycznych


przy prdzie/napiciu staym (DC)
 Napicie
 Prd
 Rezystancja
 Moc

Okresowe (sinusoidalne, prostoktne, trjktne)


Nieokresowe:
Krtkotrwae (impulsowe, zanikajce)
Dugotrwae (prawie okresowe, losowe)





Parametry obwodw elektrycznych: impedancja (Z),


rezystancja (R), reaktancja (X), indukcyjno (L),
pojemno (C)
Moc (czynna, bierna, pozorna), energia
Pola magnetyczne
Wielkoci nieelektryczne: temperatura, cinienie,
przepyw, wymiary geometryczne, siy i momenty,
parametry ruchu

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

139

opracowanie Zbigniew wierczyski

Bezporedni pomiar napicia (1/5)




Bezporedni pomiar napicia (2/5)

Model Thevenina, pomiar woltomierzem,


wpyw narzdzia na obiekt, bd metody

Model Thevenina
A

A
E

Obiekt

Obiekt

Ux

Obiekt

Ux

Ux

Ux

V
Rv

Rw

Rv

Rw

Rv

B
B

Ux = E = U

U x = UV

U x (UV UV )
UVUV

opracowanie Zbigniew wierczyski

Bezporedni pomiar napicia (3/5)

0
U x = U AB
U VAB = UV

I=

E
U
= V
RV + Rw RV

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

142
opracowanie Zbigniew wierczyski

Bezporedni pomiar napicia (4/5)

wpyw narzdzia na obiekt,


bd metody

E
U
= V
RV + Rw RV

U VAB = UV = E U Rw = E IRw

141

I=

Ux

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

0
AB

bd metody, ostateczny wynik


Wiemy, e

0
U AB
=E

U VAB = U V = E U Rw = E IRw

U x UV U x (UV UV )

0
UV = U VAB UV p = mU x = mU AB
Mamy: U x = E = U AB

Rv

Rw
B

X = X X R

U = U V U x

0
mU AB = U VAB U AB
= E

mU AB =

Rw
R
= UV w
Rw + RV
RV

mU AB
Rw
=
0
U AB
Rw + RV

Ostatecznie zapisujemy: U x ((UV + p ) UV ) U x (U p UV )


lub


R + Rw
U VAB + p = UV + p = U p = E = UV V
RV

bd metody to bd systematyczny a jego pena


nazwa to systematyczny bd metody

143
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

U x (UV (| p | + UV ))

144
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

24

Bezporedni pomiar napicia (5/5)




Bezporedni pomiar prdu (1/2)




bd wyznaczenia poprawki
U x ((UV + p ) UV )

U x (U p UV )

Model Thevenina, pomiar amperomierzem,


wpyw przyrzdu, bd metody
A

U x = UV => U x (UV UV ) => U x = UV

rdo

Ix

rdo

Ix

rdo

U x = UV + p => U x = UV + p => U x (U p (UV + p))


B

mU x =
RV >> Rw



Rw
R
w
Rw + RV
RV

mU x 0

IA

Dobiera warunki tak, aby bd metody nie by duy


Przy ostatecznym wyniku zawsze zaokrgla bd w gr

I xA = I A =
R

145

146
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

I xA + p = I p = I x0 = I A

Ro + RA
Ro

mIx =

0
x

Poredni pomiar prdu (1/3)




Elektroniczne przyrzdy z zasady


dziaania s woltomierzami

E
Ro + RA

0
x

Rezystor jest przetwornikiem prdu na napicie

Poredni pomiar prdu (2/3)

148
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

U
Rw

Ww

I = U + Rw

RA = Rz =

opracowanie Zbigniew wierczyski

Bezporednie porwnanie z wzorcem

Prawo Ohma, pomiar woltomierzem, bd


pomiaru poredniego

I=

U
R

147
opracowanie Zbigniew wierczyski

I=

m I x
RA
=
I x0
Ro + RA

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Dua dokadno

opracowanie Zbigniew wierczyski

RA
m I x = I I = I
Ro + RA
A
x

R
m I x = I A A
Ro

Dobr rezystora Rw:

Ro

Rw

Rw

Rw

Model Thevenina, pomiar amperomierzem,


bd metody
E
E
I x0 =
=
I
R
A
Rw + R Ro
E

Ix IA

opracowanie Zbigniew wierczyski

RA
A

<=>

Bezporedni pomiar prdu (2/2)




IA

mU x << UV

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

RA
A

Rw RV
Rw + RV

Wx

Wzorzec (W w) i wielko mierzona


(W x) musz by jednorodne
Porwnanie okrelenie relacji
midzy szukan wartoci
wielkoci mierzonej W x a wartoci
wzorca W w


Wx>W w;

Wx = W w;

Wx<W w

Niezbdny jest komparator

Maa rezystancja
Rezystancja nie mniejsza ni taka, ktra zapewni odpowiedni
spadek napicia (wykorzystanie zakresu woltomierza)
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

149

opracowanie Zbigniew wierczyski

150
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

25

Bezporednie porwnanie z wzorcem


rda bdw


Bezporednie porwnanie z wzorcem


dodatkowe rda bdw (waga)

W x=W w => W x= W w (dokadno


wzorca)
Co ogranicza dokadne zrwnanie?




Rozdzielczo wzorca (ziarno)


najmniejsza warto o jak mona
zmieni warto wzorca - Rw
 Czuo komparatora (nieczuo,
pobudliwo) najmniejsza zmiana na
jak zareaguje komparator - Ckomp

Bd zrwnania - Z = (Rw lub Ckomp)


(ktry skadnik uwzgldni?)
W x=W w + Z

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

kalibracja
Wszalki1gl1 = Wszalki2gl2 => W xgl1 = Wwgl2
 Zakadamy: gl1 =gl2

Bd dodatkowy - D=? (Jak sprawdzi,


jak usun?)

151

opracowanie Zbigniew wierczyski

152
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Metoda PRZESTAWIENIA zamiana


miejscami wzorca i wielkoci mierzonej
Metoda PODSTAWIENIA w miejsce
wielkoci mierzonej podstawiamy
wzorzec i regulujemy jego warto do
momentu uzyskania tego samego efektu
(zrwnania)

opracowanie Zbigniew wierczyski

Kompensacyjne metody pomiaru napicia




Rwno momentw si cikoci


zaoenie symetrii wagi
(W x+W szalki1)gl1 = (W w+ W szalki2)gl2
 Wstpna

Bezporednie porwnanie z wzorcem


eliminacja bdw dodatkowych


Jaka jest zasada dziaania?


Co naprawd porwnujemy?

IIgg

Kompensatory napi, metody zerowe, bezporednie


porwnanie z wzorcem, bd graniczny

I g = 0 E x = Ew

G
G
Rg
Rg

EEww

rda bdw:
Ew - dokadno wykonania wzorca
rEw - ziarnisto wzorca
Up bd porwnania (nieczuo
komparatora i inne)

EExx

R
Rww

R
Rxx

U p = U niecz + U dod = I 0 ( Rg + Rx + Rw )

Ex = Ew U g U Rw U Rx

E x = Ew + U z
153
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Kompensacyjne metody pomiaru napicia podsumowanie







Na porwnaniu napicia mierzonego z napiciem


wzorcowym bazuj rnego rodzaju kompensatory; ich
nazwy pochodz od konstruktorw, ktrzy zaproponowali
rozwizanie techniczne gwnie od sposobu uzyskania
wzorca napicia
Metoda porwnania napi jest take podstaw dziaania
znacznej czci bezporednich przetwornikw A/C
rdem napicia wzorcowego moe by przetwornik C/A
Przetwornik C/A moemy potraktowa jako cyfrowo
regulowany wzorzec napicia

U z = max( U p , r Ew )

Jest to okrelenie zakce od zewntrznych pl


elektromagnetycznych o czstotliwoci f=50 Hz
(T=20 ms)
Do sygnau mierzonego moe doda si sygna
zakcenia wynikajcy z pomiaru w zmiennym polu
elektrycznym o czstotliwoci 50 Hz

UV = U x + U z sin z t

z = 2f z = 2 50

Przyrzd powinien eliminowa te zakcenia

155
opracowanie Zbigniew wierczyski

154

opracowanie Zbigniew wierczyski

Zakcenia szeregowe

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

- bd zrwnania

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

156
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

26

Zakcenia rwnolege

Zakcenia szeregowe eliminacja

US

UX


Wane jest rozrnienie zasady dziaania


przetwornika zastosowanego w przyrzdzie
Przyrzd urednia mierzony sygna z zasady
dziaania (urednianie w czasie 20 ms)
Przyrzd ma na wejciu filtr eliminujcy
(stopie tumienia podawany jest jako
parametr)
Dla woltomierzy podaje si wspczynnik
zakce szeregowych okrelony w dB

k=

Uz
UV

k[dB] = 20 log

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Uz
UV

IS

HI
Ux

V
Rp
LO

UR

Ri

UR

opracowanie Zbigniew wierczyski

Wspczesne woltomierze maj czsto wejcie


trjzaciskowe i ekrany chronice obwody
wejciowe przed zakceniami
Zaciski wejciowe w woltomierzu s
zwyczajowo oznaczane symbolami HI (zacisk
gorcy), LO (zacisk zimny), GND (ekran).
Wanym parametrem tego typu woltomierzy
jest dopuszczalne napicie pomidzy ekranem
(zacisk GND) a zaciskami wejciowymi HI i
LO.
Rp
R p << R i UR* << UR
U* = U
R

R szyny

UR

(2)

Rp + Ri

IS

Jeeli midzy punktami (1) i (2) wystpuje oporno


Rszyny i przez szyn uziemiajc pynie prd Is, to
pomidzy punktami przyczenia pojawi si napicie
zakcajce UR. Nawet nieznaczna oporno szyny
(miliomy) przy duych prdach Is, moe powodowa
istotne zakcenia. (tzw. zakcenia rwnolege)
UV = Ux + UR

157

Zakcenia rwnolege - eliminacja




(1)

158
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Pomiary rezystancji
Definicja wielkoci
Pomiar wielkoci w oparciu o
definicj (Prawo Ohma)
 Pomiar poredni rda bdw
 Ograniczenia zakresu mierzonych
wartoci



GND

Uywa oryginalnych przewodw wane przy pomiarze maych napi


KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

159

opracowanie Zbigniew wierczyski

Rezystancja
Sposoby okrelenia rezystancji

R=

U
I





R
U

Prawo Ohma dla prdu staego


Rezystor to dwuzaciskowy element
bierny (nie wytwarza energii, trzeba
mu j dostarczy)
W zalenoci od ksztatu funkcji
U=f(I) mona wyrni rezystory:
liniowe (w ograniczonym zakresie
napicia U i prdu I)
 nieliniowe (np. diody, termistory)

Rezystancja statyczna (w punkcie)

Rs =


Rezystancja dynamiczna
(przyrostowa)

Rd =

U
I

Obie okrelone s w tzw. punkcie pracy


161

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

U
I

opracowanie Zbigniew wierczyski

162
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

27

Poredni pomiar rezystancji (1/4)

Bezporedni pomiar rezystancji




Do pomiaru rezystancji su omomierze


Zasada dziaania omomierza oparta jest na
pomiarze porednim
Zmiana zakresu omomierza zmiana
wartoci rda i/lub zakresu miernika (A/V)
I=

IA

Rx

Ux
Ix

Rxz =

Romomierza

Omomierz

UV
IA

Rxz =

Rxz = Rx || RV

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Poredni pomiar rezystancji (2/4)

Rxz = Rx || RV

Poprawny pomiar prdu PPP

Rxz = Rx + RA

xz

Rx

m Rx =

Rxz Rx
Rx

164

opracowanie Zbigniew wierczyski

Poprawny pomiar napicia PPN

m Rx = Rxz Rx =

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Ux

Rx = UV + I A

mppp Rx
opracowanie Zbigniew wierczyski

Rxz2
RV Rxz

RA Rxz
=
= mppn Rx Rxgr = RV RA
Rxz RV

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

166
opracowanie Zbigniew wierczyski

Poredni pomiar rezystancji


podsumowanie

Poredni pomiar rezystancji (4/4)


Jeli wynik pomiaru obliczamy z zalenoci

U
Rxz = V
IA

to pod jakim warunkiem moemy przyj, e

Realizowany jest poprzez pomiar prdu pyncego


przez rezystor i spadku napicia na tym rezystorze
zgodnie z definicj rezystancji
Jest to jedyny sposb pomiaru rezystancji
nieliniowej:


Moemy wpywa na warunki pomiaru poprzez


dobr prdu lub napicia (pomiar w punkcie pracy)
Moemy zmierzy charakterystyk U=f(I) (pena
informacja o elemencie w wybranym zakresie)

Musimy dobiera ukad tak, aby popenia jak


najmniejszy bd



mae rezystancje -PPN


due rezystancje -PPP

167
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

PPP

U x UV U A
U
UV
UV
=
= Rxz RA Rx = x =
=
Ix
IA
I x I A IV I U V
A
RV
R Rx
RA
m Rx = xz
=

R
R
R
Rx
Rxz RA
x
xz
=
m Rx = xz
Rx
RV
R =R R =R

165

Rx = UV + I A

Rx =

R Rx
m Rx = xz
Rx

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

m Rx = Rxz Rx
X = X X R

UV
IA

Ix

Ux

Poredni pomiar rezystancji (3/4)

Z tego powodu, e napicie lub prd nie s


mierzone bezporednio na badanym elemencie
wystpuje tutaj dodatkowy bd. Jest to bd
metody (wynika ze sposobu-metody pomiaru)
zaliczany do bdw systematycznych.
Systematyczny bd metody

Rxz Rx

Rx

Rx Rxz

Rxz = Rx + RA

163

PPN

Rxz Rx

Omomierz

Ix

+
E
-

U = I R

Ux

UA

IA

IV

Ix

+
E

Rx =

U
R

Prawo Ohma, metoda techniczna, bd


metody, rezystancje nieliniowe

opracowanie Zbigniew wierczyski

Rxgr = RV RA
168

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

28

Poredni pomiar rezystancji


metoda dwch woltomierzy





Mostki prdu staego

Bd graniczny wyniku pomiaru ograniczony


bdami podstawowymi uytych przyrzdw
Z reguy dokadno pomiaru prdu jest
mniejsza ni dokadno pomiaru napicia
Jak zapewni wiksz dokadno wyniku?
Poprzez poredni pomiar prdu (rezystor
wzorcowy)
Wskazane jest aby Rx RN
U
R x = RN Rx
URN

+
-

Rx = (RN + U Rx + U RN )

Mostkowe metody pomiaru rezystancji,


metody zerowe
I g = 0 R1R4 = R2 R3

R1

Ig

R2

Rx = R1 = R2

R4

R3

Rx

URx

RN

URN

R3
R4

Mostek Wheatstonea
Inny: Thompsona (6 ramienny, pozwala na pomiar mniejszych R)

169
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

170
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Dokadno mostkw

Zadanie
Poda wynik pomiaru rezystancji, jeli mostek
klasy 0,05 zosta zrwnowaony dla:

W momencie rwnowagi mostka wskanik


zrwnania wskazuje zero (metoda zerowa).

R2 = 1986,4 ; R3 = 1000 ; R4= 10,

Dokadno zaley od dokadnoci zrwnowaenia


mostka i od dokadnoci uytych wzorcw

a zmiana rezystora regulowanego R2 o 0,2


powodowaa zauwaalne rozrwnowaenie mostka.

Rx= R2 +R4+R3 +zrwnania


O dokadnoci zrwnowaenia mostka decyduje bd
regulacji wzorca lub bd nieczuoci.
zrwnania = nieczuoci lub regulacji wzorca

Rx = klmostka + niecz.
Rxniecz[%] =

nieczuoci wynika z reakcji wskanika zrwnania


(detektora) na zmian rezystancji w gazi mostka.
nieczuoci = f(Rx, R2, R3, R4, E, czuo detektora)
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Rx = 19,894 0,012
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Pomiar maych rezystancji


RZ warto zmierzona
RX warto rzeczywista
RD rezystancja doprowadze
DRx bd od doprowadze
MRx dokadno mostka
RZ = RX+RD

D Rx =

R2

Ig

R3

R4

 Mostki uywane s take jako mostki


niezrwnowaone
 Napicie na przektnej mostka (U) jest wtedy
funkcj wartoci rezystancji mierzonej
 Mostki takie uywane s np. do wyznaczania
tolerancji rezystorw, do pomiarw wielkoci
nieelektrycznych za pomoc przetwornikw
rezystancyjnych.

Jeli DRx ma by pomijalnie mae, to

U= f(Rx,R2,R3,R4,E,)
jeli R2,,R3, R4 i E stae => U=k f(Rx)

DRx << MRx


173
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

172
opracowanie Zbigniew wierczyski

Mostki niezrwnowaone
Rx

RD
Rx

0,2
100% = 0,01%
1986,4

Rx = 0,05 + 0,01 = 0,06%

171

opracowanie Zbigniew wierczyski

DRx = RD

opracowanie Zbigniew wierczyski

opracowanie Zbigniew wierczyski

174
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

29

Pomiary mocy

Pomiary mocy


Moc wydzielon na odbiorniku o


rezystancji R mona wyznaczy na
podstawie znajomoci wartoci prdu (I),
napicia (U) i rezystancji (R)

U2
P = UI = I R =
R
2

176
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Pomiar mocy - zadanie

Pomiar mocy rozwizanie

W ukadzie jak na rysunku zmierzono moc wydzielan na


oporniku R. Do pomiaru zastosowano:
 woltomierz magnetoelektryczny o zakresie 15V,
kl 0.5 i rezystancji charakterystycznej 1k/V;
woltomierz wskaza U=10.55V
 amperomierz magnetoelektryczny o zakresie 15 mA,
kl 0.5 i spadku napicia 60mV;
amperomierz wskaza 14.5 mA
IA

P = UI = UV ( I A IV ) =
= UV I A UV IV = Pz + p

P = UV I A = 10,55 14,5 = 152,975 mW


P = UV + I A = 0,5

UV2 10,552
=
= 0,0074W = 7,4 mW
RV 15000

Psyst =

Psyst 7,4

0,05 = 5%
P
153

Ix
Rx

Ux

P = (152,975 7,4) 2 146mW 2mW

Poda wynik pomiaru oraz bd wzgldny i bezwzgldny


wyniku pomiaru mocy
177
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Psyst =

E
-

opracowanie Zbigniew wierczyski

Pomiary zmiennoprdowe

178
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

rda bdw i niepewnoci


w pomiarze


Pomiary wielkoci elektrycznych przy prdzie/napiciu


zmiennym (AC)
 Napicie
 Prd
 Impedancja (R, L, C)
 Moc

15
15
+ 0,5
1,3%
10,55
14,5

P = P P = 152,9 0,013 = 1,98mW 2mW

IV

opracowanie Zbigniew wierczyski




zy model obiektu,
ograniczona dokadno narzdzi
pomiarowych,
niewaciwy przyrzd nie mierzy
poprawnie badanej cechy,
wpyw ukadu pomiarowego na wielko
mierzon,
niestarannie zestawiony ukad pomiarowy,
niekontrolowany wpyw czynnikw
zewntrznych na przyrzd,
zakcenia wielkoci mierzonej (wpyw
czynnikw zewntrznych na obiekt)
inne
180

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

30

Bezporedni pomiar napicia


zmiennego


Pomiar napicia

W wikszoci przypadkw stosuje si woltomierze


napicia staego i przetworniki AC/DC
Przetworniki prostownikowe (AC/DC) wartoci
redniej i szczytowej s czue na ksztat krzywej,
gdy skalowane s dla przebiegw sinusoidalnych
Przetworniki RMS (warto skuteczna tylko
skadowej zmiennej) i True RMS (skadowa staa i
zmienna)
Zakres mierzonych czstotliwoci - przyrzdy
pracuj najczciej w pamie akustycznym
Zamiast o rezystancji wewntrznej, mwi si o
impedancji (zmiana wartoci zalena od
czstotliwoci)
Zasady podobne jak przy prdzie staym

Jeli mwimy o napiciu zmiennym, bez


informacji o jak warto chodzi, to naley
rozumie, e interesuje nas warto
SKUTECZNA napicia (oznaczamy j du
liter)
Wymagania stawiane woltomierzom:


poprawny pomiar (wartoci skutecznej) w


szerokim zakresie wartoci, niezalenie od
ksztatu sygnau
poprawny pomiar w szerokim pamie
czstotliwoci
dua impedancja wewntrzna

181
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

182
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Pomiar napicia
przetwornik wartoci redniej

Pomiar napicia wykorzystanie


przetwornikw napicia staego

Najczciej zachodzi potrzeba pomiaru


napi sinusoidalnych
Jak wykona woltomierz napi
sinusoidalnych majc do dyspozycji
woltomierz mierzcy warto redni?
Jak warto mamy wskazywa?
Jakiego przetwornika uy?

Przetwornik elektromagnetyczny
mierzy warto redni kwadratu
prdu, wic jest to kwadrat
wartoci skutecznej
Przetwornik magnetoelektryczny
mierzy warto redni prdu
Przetworniki A/C mierz warto
redni lub chwilow

U r = 0
U sk =

U max
2




Uwyj (t) = Uwe (t)


Uwej (t) = Umax sin t

U wyj (t ) = Umax sin t

ukad prostowania dwupowkowego

183
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Pomiar napicia przetwornik wartoci redniej


Warto skuteczna
(We) U max
U

U sk =


Pomiar napi przetworniki


RMS

= U sk 2

2U max

U max =

Przetwornik kwadratujcy (1)


Przetwornik uredniajcy i
pierwiastkujcy (2)

U r
2

U sk 2 =

184

opracowanie Zbigniew wierczyski

Warto rednia (Wy)


U r =

U sk =

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ


max

opracowanie Zbigniew wierczyski

2 2

U r
2

Woltomierz z takim przetwornikiem mierzy poprawnie


jedynie warto skuteczn sygnau sinusoidalnego.
Dla innych wystpi bd od ksztatu krzywej
185
opracowanie Zbigniew wierczyski

u (t ) wyj 2

u (t ) wyj 2

u ( t ) wyj 1 = u ( t ) 2wej 1

U r

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

u (t ) wej1

u ( t ) wyj 1 = u ( t ) wej
T

1
1
1
=
u (t ) wej 2 dt =
u (t ) wyj 1dt =
u (t ) 2wej 1dt = U skwej1
T 0
T 0
T 0
186

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

31

Pomiar napi skadowa


staa i zmienna

Parametry woltomierzy


Usk = U2V = + U2V

Elektroniczne woltomierze napi


zmiennych z reguy mierz tylko
skadow zmienn sygnau
napiciowego (skadowa staa jest
odcinana). Czasem woltomierz mierzcy
prawdziw warto skuteczn (True
RMS) ma dwie opcje pomiaru:





Zakres mierzonych napi


Bd podstawowy
Impedancja wewntrzna najczciej
podawana jako Rv z rwnolegle poczon
pojemnoci wejciow CV; (Rv w typowych
woltomierzach elektronicznych 1M lub 10M, CV
kilkadziesit pF)

pomiar wartoci skutecznej caego


sygnau (skadowej staej i skadowej
zmiennej);
pomiar wartoci skutecznej skadowej
zmiennej

Zakres czstotliwoci, w ktrym


woltomierz wskazuje poprawnie
mierzon warto
Zasada przetwarzania (zastosowany
przetwornik)

187
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

188
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Pomiary mocy
p(t ) = u (t )i (t )
T

P=

1
u (t )i (t )dt
T 0





Pomiary mocy ukad pomiarowy

Moc w obwodach zmiennoprdowych


Do pomiaru mocy suy watomierz
Watomierz musi realizowa funkcj uredniania
iloczynu wartoci chwilowych napicia i prdu
Dwa obwody (prdowy i napiciowy) i dwa
zakresy
Zakres watomierza zabezpieczenia obwodu
napiciowego i prdowego
W

opracowanie Zbigniew wierczyski

Pw =? Po


Zo

Zo

Pw = U w I w cos w Po = U o I o cos o

w = ? o

U w = ? U o I w =? I o

Jeli wskazania watomierza przyjmie si za warto


mocy wydzielonej na odbiorniku, to wynik pomiaru
moe by obarczony dodatkowym bdem
(systematycznym).

189
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Pomiary mocy zadanie

190
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Pomiary mocy rozwizanie

W ukadzie poprawnego pomiaru napicia zmierzono moc wydzielan na


obcieniu. Uyto Watomierza o nastpujcych parametrach:
- klasa 0,5
- maksymalna liczba dziaek 100
Obwd napiciowy
- zakres 200V ; dopuszczalne przecienie obwodu napiciowego 20%,
- rezystancja obwodu napiciowego 20k,
Obwd prdowy
- zakres 1A; dopuszczalne przecienie obwodu prdowego 50%,
- rezystancja 0,1,
Watomierz wskaza 76,5 dz.
W obwodzie uyto:
Woltomierz elektromagnetyczny (zakres 300V, klasa 0,5; rezystancja 60 k),
ktry wskaza 229V.
Amperomierz (zakres 1A, klasa 0,5; rezystancja 0,1 ), ktry wskaza 0,87A.

Staa watomierza

cw =

UzIz

max

200V 1A
= 2W / dz
100dz

Pw = cw x = 2 76,5 = 153W

Wskazana warto mocy

Podb = Pw + ???
I w = I obw.nap.wat + I wolt
Pobw.nap =

Pw = kl

P zak
200
= 0,5
= 1W
100
100

Pw = Podb + Pobw . nap + Pwolt

U2
2292
=
= 2,6W
RWV 20000

Pwolt =

U2
2292
=
= 0,8W
RV 60000

Psyst = 2,6W + 0,8W = 3,4W

Poda warto mocy jaka wydziela si w obcieniu.


191
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

opracowanie Zbigniew wierczyski

Podb = (153W 3,4W ) 2W = 150W 2W


KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

192
opracowanie Zbigniew wierczyski

32

Pomiary mocy i innych


wielkoci
S = UI [VA]

Pomiary mocy wyjciowej

Moc cakowita
Q = UI sin [var]  Moc bierna
 Wspczynnik mocy
 Kt fazowy
= arccos
 Impedancja
U j

P
cos =
S

Z=

e [ ]

W elektronice mierzy si rwnie moc


oddawan przez rdo.
Miernik mocy wyjciowej -watomierz
absorpcyjny
Miernik mocy wyjciowej moe by
zastosowany do okrelenia rezystancji
wyjciowej rda.
Maksymalna moc oddawana wystpuje
dla rezystancji obcienia rwnej
rezystancji wyjciowej rda

e(t)


V

Rw

Ro

P=

U2
Ro

193
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

194
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Rzeczywisty kondensator

Pomiary impedancji

Rzeczywiste elementy R, L, C
Modele elementw rzeczywistych
Metody mostkowe

Idealny kondensator nie ma strat na moc


czynn i przesunicie fazowe () midzy U i
I wynosi - 900
W kondensatorze rzeczywistym wystpuj
straty w dielektryku i w przewodach
doprowadzajcych, wystpuje te
indukcyjno i pojemno doprowadze itp.
W rzeczywistym kondensatorze przesunicie
fazowe midzy U i I jest mniejsze o kt .
tg=D wspczynnik rozpraszania energii okrela w jakim stopniu rzeczywisty
kondensator odbiega od idealnego
W pomiarach moemy wyznaczy tylko
schemat zastpczy
196

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Rzeczywisty kondensator
schemat zastpczy


opracowanie Zbigniew wierczyski

Rzeczywista cewka

Dwa schematy: rwnolegy i szeregowy


Iz

Rr

IR

Iz

Rs

Cs

UR

IC

UC
Iz

Cr

Uz
UR

Uz

IR

IC

Iz

tg =

IR
1
=
IC Rr Cr

UR

Uz

tg =

Iz

UL

Uz

UL

UR

UC

Q=

UR
= R sCs
UC

opracowanie Zbigniew wierczyski

Iz

Z cos
L= =

2f

Uz

L
R

x cos
=
= tg
R sin

Q dobro cewki

197
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

W rzeczywistych cewkach, poza


parametrem podstawowym L,
rozpatruje
si
rezystancj
uzwoje
R
L
U

niesie informacj o skadowej czynnej (R)


KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

198

opracowanie Zbigniew wierczyski

33

Pomiar impedancji metoda


definicyjna

Rzeczywisty rezystor

Aby wyznaczy skadowe impedancji R i


X, naley zmierzy prd (I), napicie (U)
oraz kt przesunicia fazowego midzy
nimi ()




L
RC
R




Dla sygnaw zmiennych rezystory


charakteryzuje si tzw. sta czasow
L - indukcyjno rezystora
C pojemno rezystora

Impedancja w oglnoci zaley od


czstotliwoci Z(f) !!!

Problem techniczny pomiaru impedancji


w szerokim zakresie czstotliwoci to
przede wszystkim pomiar przesunicia
fazowego
Cyfrowe mierniki impedancji
wyposaone w procesor obliczeniowy
(podaj parametry wielu schematw
200
zastpczych)

Przy pomiarach impedancji wyznaczamy zwykle


dwuelementowy schemat zastpczy reprezentujcy
dobrze waciwoci elementu przy danej (jednej)
czstotliwoci

199

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Mostkowe metody pomiaru parametrw R, L i C;


metoda zerowa; metoda porwnawcza (wzorce)

Z1

Ig

Rx = R1 = R2




R3
R4

Z1Z 4 = Z 2 Z3

Z4

e(t)

Z1Z 4 = Z 2 Z 3

Warunek moduw

1 + 4 = 2 + 3

Warunek faz

opracowanie Zbigniew wierczyski

Estymatory wartoci redniej i skutecznej


rda bdw w metodzie cyfrowego
przetwarzania
 Typowe struktury ukadw cyfrowego
przetwarzania sygnaw

I g = 0 R1R4 = R2 R3

Z2

Z3

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

Pomiar napicia zmiennego metod


cyfrowego przetwarzania

Mostki prdu zmiennego




R skadowa czynna - reprezentuje


straty na moc czynn
X skadowa bierna

Mostki: Maxwella, Viena, Maxwella-Viena.


Pozwalaj wyznaczy: R, L, C, Q=L/R (dobro), tg (kt strat)
201
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Informacje oglne





Estymator wartoci redniej

W wiecie analogowym mamy sygnay


cige (w czasie i w wartoci)
W wiecie cyfrowym mamy sygnay
dyskretne (ograniczone zbiory
skwantowanych prbek)
Jak wykorzystuje si posta cyfrow do
wyznaczania parametrw okrelonych
dla sygnaw analogowych?
Co to jest estymator?
Wskutek przetworzenia A/C z
czstotliwoci prbkowania fs sygnau
okresowego o czstotliwoci f,
dysponujemy zestawem N prbek
skwantowanych wartoci chwilowych

fs =
f =

1
Ts

1
T

Tw = NTs =


T

U r =

opracowanie Zbigniew wierczyski

Czstotliwo
prbkowania
Okno czasowe
Czstotliwo sygnau

Zamiast cigej funkcji mamy prbki


Prbek nie mona cakowa
(przyblienie poprzez sum, gdzie dt
przyblia si poprzez Ts )
Zamiast okresu mamy okno czasowe
(nie zawsze zblione do T)

1 N 1
1 N 1
1
uiTs =
uiTs = NT
Tw i =0
N
s i =0

203
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ




1
U r = u (t )dt
T 0
u (t ) = u (iTs ) = ui

N
fs

N 1

u
i =0

U r =

1 N 1
ui
N i =0
204

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

34

Estymator wartoci
skutecznej

rda bdw okno


czasowe


Przy wartoci skutecznej mamy


identyczne ograniczenia
T

1 2
U sk =
u (t )dt
T 0

U sk =

U sk =

N 1

1
2
ui Ts =
Tw i=0

1
NTs

N 1

u
i =0

Ts =

2
i

Definicje wartoci wybranych


parametrw okrelone s dla czasu
rwnego okresowi T
Prbki zebrane s w czasie Tw
Jaka powinna by dugo okna
czasowego aby unikn bdu?

Tw = kT

1
N

N 1

u
i =0


2
i

1 N 1 2
ui
N i =0

k N

Okno czasowe powinno by cakowit


wielokrotnoci okresu sygnau badanego
Dugo okna czasowego ustalamy poprzez
liczb prbek i czstotliwo prbkowania

205
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

rda bdw
kwantowanie


206
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Inne pomiary

Dodatkowym rdem bdu jest


proces kwantowania
wprowadzajcy bd kwantowania
Bd kwantowania rwny jest Q
lub 0.5Q w zalenoci od
przetwornika (jego charakterystyki
przetwarzania)
Warto Q to kwant przetwornika
lub inaczej warto odpowiadajca
LSB
207

KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

Pomiar temperatury
(wielko nieelektryczna)


Linearyzacja charakterystyk
przetwarzania analiza bdw

Do pomiaru temperatury uywane s


czujniki bdce przetwornikami wielkoci.
Zamieniaj one temperatur na wielko
elektryczn np. napicie lub rezystancj.
Pomiary sprowadzaj si do zastosowania
znanych ju metod pomiaru wielkoci
elektrycznych
Dodatkowym problemem jest znajomo
charakterystyki przetwarzania czujnika lub
jej przyblienie np. liniowe

Majc dan charakterystyk przetwarzania


w postaci tabelarycznej lub analitycznej,
czsto chcemy lub jestemy zmuszeni
przybliy j najprostsz zalenoci
Sposoby linearyzacji:



Metoda punktw skrajnych


Metoda regresji liniowej (najmniejszych
kwadratw)

209
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

210
KATEDRA M ETROLOGII ELEKTRONICZNEJ I F OTONICZNEJ

opracowanie Zbigniew wierczyski

35

You might also like