sta es una traduccin del documento original que est en idioma ingls, por lo que el nmero de

pginas no coincide. Por lo anterior, solo se enumera la primera pgina como referencia para indicar que
ah inicia el documento original

Designacin: E 112 - 96
Mtodos de Prueba para Determinar el Tamao de Grano Promedio1
Esta norma est editada bajo la designacin E 112; el nmero que le sigue inmediatamente a la
designacin indica el ao de adopcin original o, en el caso de revisin, el ao de la ltima
revisin. Un nmero dentro de parntesis indica el ao de la ltima vez que fue reaprobado.
Una psilon de superndice (e) indica un cambio editorial desde la ltima revisin a
reaprobacin.
Este estndar ha sido aprobado para su uso por agencias del Departamento de Defensa para
reemplazar los mtodos 31 1.1 y 312 del Mtodo Estndar de Prueba Federal No. 151b.
Consulte el ndice DoD de Especificaciones y Estndares para el ao especfico de edicin en
que fue adoptado por el Departamento de Defensa.
INTRODUCCIN
Estos mtodos de prueba de determinacin del tamao de grano promedio en materiales
metlicos son primariamente procedimientos de medicin y, debido a sus bases puramente
geomtricas, son independientes del metal o aleacin concerniente. De hecho, los
procedimientos bsicos tambin pueden ser utilizados para la estimacin de grano promedio,
cristal o tamao de celda en materiales no metlicos. El mtodo de comparacin puede ser
utilizado si la estructura del material muestra la apariencia de una de las grficas de
comparacin de normas. Los mtodos de interseccin y planimtrico son siempre aplicables
para determinar el tamao de grano promedio. Sin embargo, las grficas de comparacin no
pueden ser utilizadas para la medicin de granos individuales.
1. Alcance
1.1 Estos mtodos de prueba abarcan la medicin del tamao de grano promedio e incluyen el
procedimiento de comparacin, el procedimiento planimtrico (o Jeffries), y los mtodos de
intercepcin. Estos mtodos de prueba tambin pueden ser aplicados a materiales no
metlicos con estructuras que tengan apariencia similar a aquellas de las estructuras
metlicas mostradas en las grficas de comparacin. Estos mtodos de prueba aplican
principalmente a estructuras de grano de fase individual pero pueden ser aplicadas para
determinar el tamao promedio de un tipo particular de estructura de grano en una probeta
multifactica o multicomponente.
1.2 Estos mtodos de prueba son utilizados para determinar el tamao de grano promedio con
una distribucin unimodal de reas de grano, dimetros o longitudes de intercepcin. Estas
distribuciones son aproximadamente logartmicamente normales. Estos mtodos de
prueba no abarcan mtodos para caracterizar la naturaleza de estas distribuciones. La
caracterizacin de tamao de grano en probetas con distribuciones de tamao de grano
dplex es descrita en los Mtodos de Prueba E 1181. La medicin de granos individuales
muy gruesos en una matriz granular se describe en los Mtodos de Prueba E 930.
1

Estos mtodos de prueba estn bajo la jurisdiccin del Comit E-4 de Metalografa de ASTM y so
responsabilidad directa del subcomit en Tamao de Grano E04.08.
La edicin corriente fue aprobada el 10 de Mayo de 1996. Publicada en Julio de 1996. Originalmente
publicada como E 112 55. ltima edicin anterior E 112 95.

227

E 112
1.3 Estos Mtodos de prueba tratan solo con la determinacin de tamao de grano plano, eso
es, caracterizacin de las dos secciones de grano dimensionales reveladas por el plano de
seccionamiento. La determinacin de tamao de grano espacial, eso es, la medicin del
tamao de los granos tridimensionales en el volumen de la probeta est fuera del alcance
de estos mtodos de prueba.
1.4 Estos mtodos de prueba describen tcnicas desarrolladas manualmente utilizando ya sea
una serie estndar de imgenes grficas graduadas para el mtodo de comparacin o
simples escantillones para los mtodos de conteo manual. La utilizacin de tabletas
digitalizadoras o analizadores de imgenes automtico para medir el tamao de grano es
descrita en Mtodos de Prueba E 1382.
1.5 Estos mtodos de prueba tratan solo los mtodos de prueba recomendados y nada en ellos
debera ser compuesto como lo definen o establecen los contornos de aceptabilidad o
idoneidad del propsito del material probado.
1.6 Los valores medidos son planteados en unidades SI, que son consideradas como estndar.
Valores equivalentes en libra pulgada, cuando se listen, estn en parntesis y podrn ser
aproximados.
1.7 Esta norma no busca sealar todos los concernientes a seguridad, si cualquiera, esta
asociado con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prcticas
adecuadas de seguridad y sanidad y determinar la aplicacin de limitaciones reguladoras
antes de su uso.
1.8 Los prrafos aparecen en el siguiente orden:
Seccin
Alcance
Documentos de referencia
Terminologa
Significado y Uso
Generalidades de Aplicacin
Muestreo
Probetas de Prueba
Calibracin
Preparacin de Fotomicrografas
Procedimiento de Comparacin
Procedimiento Planimtrico (Jeffries)
Procedimiento General de Intercepcin
Procedimiento de Intercepcin lineal Heyn
Procedimientos de Intercepcin circular
Procedimiento de un Crculo de Hilliard
Procedimiento de tres crculos Abrams
Anlisis Estadstico
Probetas con Grano de forma no equiaxial
Probetas que contienen dos o ms fases o Componentes
Reporte
Precisin y Variacin
Claves
Anexos:
Bases de Nmeros de Tamao de Grano ASTM
Ecuaciones para conversiones entre varias mediciones
de tamao de grano

Nmero
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
14.2
14.3
15
16
17
18
19
20
A1
A2

E 112
Tamao de Grano Austentico, Aceros Austenticos o Frricos
A3
Mtodo de Fractura de Tamao de Grano
A4
Requerimientos para Cobre maleable y Aleaciones con base de Cobre A5
Aplicacin a Situaciones Especiales
A6
Apndices:
Resultados de Determinaciones de Tamao de Grano Interlaboratorios X1
Anexos de referencia
X2
2. Documentos de Referencia
2.1 Norma ASTM:
E3
Prctica para preparacin de Probetas Metalogrficas2
E7
Terminologa relacionada a metalografa2
E 407 Prctica para ataque de Metales y Aleaciones2
E 562 Prctica para determinar Fraccin de Volumen por Conteo manual sistemtico de punto.2
E 691 Prctica para conducir un Estudio interlaboratorio para determinar la precisin de un
mtodo de prueba3
E 883 Gua para Fotomicrografa de Luz reflejada2
E 930 Mtodos de Prueba para estimar el grano ms grande observado en una seccin
Metalogrfica (ALA Tamao de Grano)2.
E 1181Mtodos de prueba para caracterizacin de Tamao de Grano dplex2.
E 1382Mtodos de prueba para determinar el tamao de grano promedio utilizando anlisis de
imagen automtico y semiautomtico2
2.2 Anexos:
2.2.1 Para una lista completa de anexos, ver Apndice X2.
3. Terminologa
3.1 Definiciones Para definiciones de trminos utilizados en estos mtodos de prueba, ver
Terminologa E 7.
3.2 Definiciones de Trminos Especficos de esta Norma:
3.2.1 Nmero de Tamao de Grano ASTM el nmero de tamao de grano ASTM, G,
originalmente fue definido como:
NAE = 2 G-1

(1)

Donde NAE es el nmero de granos por pulgada cuadrada a un aumento de 100X. Para obtener
el nmero por milmetro cuadrado a 1X, multiplicar por 15.50.
3.2.2 Grano aquella rea dentro de los confines del contorno original (primario) observado
sobre los dos planos dimensionales de la superficie pulida o aquel volumen encerrado
por el contorno original (primario) en el objeto tridimensional. En Materiales que
contienen contornos gemelos, los contornos gemelos son ignorados, eso es, la
estructura en cada lado de un contorno gemelo pertenece al grano.

2
3

Libro Anual de Normas ASTM, Vol 03.01.

Libro Anual de Normas ASTM, Vol 14.02.

E 112
3.2.3

Cuenta de Interseccin de Contorno de Grano determinacin del nmero de veces que

una lnea de prueba cruza, o es tangente a los contornos del grano (intersecciones de
triple punto son consideradas como intersecciones 1-1/2).
3.2.4 Cuenta de Intercepcin de Grano determinacin del nmero de veces que una lnea de
prueba corta a travs de granos individuales sobre el plano de pulido (los golpes
tangentes son considerados como media intercepcin; las lneas de prueba que
terminan dentro de un grano son consideradas media intercepcin.
3.2.5 Longitud de Intercepcin la distancia entre dos puntos de interseccin de contornos de
grano opuestos y adyacentes sobre un segmento de lnea de prueba que cruza el grano
en cualquier locacin debido a la colocacin aleatoria de la lnea de prueba.
3.3 Smbolos:

= Matriz granular en una microestructura de dos faces (componentes).

A
= rea de prueba
A
= Grano medio en la seccin del rea transversal
AI
= radio de elongacin del grano o ndice de anisotropa para un plano orientado
longitudinalmente.
d
= dimetro medio planar de grano (Plato III).
D
= dimetro medio espacial (volumtrico) de grano.
f
= Multiplicador Jeffries para mtodo planimtrico.
G
= Nmero de tamao de Grano ASTM

= Longitud media de interseccin lineal

= Longitud media de intercepcin lineal de la fase matriz en una

microestructura de dos fases (componentes)

= Longitud media de intercepcin lineal en una superficie orientada

longitudinalmente para una estructura de grano no equiaxial.
t
=Longitud media de intercepcin lineal sobre una superficie orientada
transversalmente para una estructura de grano no equiaxial.
p
= Longitud media de intercepcin lineal
0
= Longitud de intercepcin base de 32.00mm para definir la relacin entre G y
(y NL) tamao de grano determinado macroscpicamente o microscpicamente
por el mtodo de intercepcin.
L
= Longitud de una lnea de prueba
M
= Aumento utilizado
Mb
= Aumento utilizado por una serie de grficas.
n
= Nmero de campos medidos.
N
= Nmero de granos interceptados por la lnea de prueba en una
microestructura de dos fases (componentes).
NA
= Nmero de granos por mm2 a 1X
NA
= Nmero de granos por mm2 a 1X en una microestructura de dos fases
(componentes).
NAE
= Nmero de granos por pulg2 a 1X una microestructura de dos fases
(componentes).
NA
= NA sobre una superficie orientada longitudinalmente para una estructura de
grano no equiaxial.
NAt
= NA sobre una superficie orientada transversalmente para una estructura de
grano no equiaxial
NAp
= NA sobre una superficie orientada planar para una estructura de grano no
equiaxial.
Ni
= Nmero de intercepciones con una lnea de prueba.

E 112
Ndentro = Nmero de granos completamente dentro de un crculo de prueba.
NInterceptado = Nmero de granos interceptados por el crculo de prueba.
NL
= Nmero de intercepciones por unidad longitud de la lnea de prueba.
NL
= NL sobre una superficie orientada longitudinalmente para una estructura de
grano no equiaxial
NLt
= NL sobre una superficie orientada transversalmente para una estructura de
grano no equiaxial
NLp
= NL sobre una superficie orientada planar para una estructura de grano no
equiaxial
Pi
= Nmero de intersecciones del contorno del grano con una lnea de prueba.
PL
= Nmero de intersecciones del contorno del grano por unidad longitud de la
lnea de prueba.
PL
= PL sobre una superficie orientada longitudinalmente para una estructura de
grano no equiaxial
PLt
= PL sobre una superficie orientada transversalmente para una estructura de
grano no equiaxial
PLp
= PL sobre una superficie orientada planar para una estructura de grano no
equiaxial
Q
= Factor de correccin para apreciacin de grfica de comparacin utilizando un
aumento no estndar para tamaos de grano determinados microscpicamente.
Qm
= Factor de correccin para apreciacin de grfica de comparacin utilizando un
aumento no estndar para tamaos de grano determinados macroscpicamente.
s
= Desviacin estndar
SV
= Razn del Contorno de grano a volumen para una estructura de una sola fase.
SV
= Razn del Contorno de grano a volumen para una estructura de dos fases.
t
= Multiplicador t de estudiantes para determinar el intervalo de confianza.
VV
= Fraccin de volumen de la fase en una microestructura de dos fases
(componentes)
95% CI= 95% Intervalo de Confianza
% RA = Porcentaje de exactitud relativa
4. Significado y Uso
4.1 Estos mtodos de prueba abarcan procedimientos para calcular y reglas para expresar el
tamao de grano promedio de todos los metales que consisten completamente, o
principalmente, de una sola fase. Los mtodos de prueba tambin pueden ser utilizados
para cualquier estructura que tengan apariencia similar a aquellas de las estructuras
metlicas mostradas en las grficas de comparacin. Los tres procedimientos bsicos para
el clculo del tamao de grano son:
4.1.1 Procedimiento de Comparacin El procedimiento de comparacin no requiere conteo
ya sea de granos, intercepciones o intersecciones pero, como el nombre lo indica,
abarca comparacin de la estructura del grano con una serie de imgenes graduadas,
ya sea en forma de una grfica de pared, overlays de plstico claro o una retcula ocular.
Parece haber una preocupacin general en esa queja de las condiciones del tamao del
grano de comparacin de que el tamao del grano es un poco ms grueso (1/2 a 1
nmero ms bajo de G) de lo que realmente es (Ver X1.3.5.). La repetibilidad y
reproducibilidad de las condiciones de la grfica de comparacin son generalmente +/-1
nmero de tamao de grano.

E 112
4.1.2

Procedimiento Planimtrico - El mtodo planimtrico abarca un conteo actual del nmero

de granos dentro de una rea conocida. El nmero de granos por unidad de rea, NA, es
emitido para determinar el nmero de tamao de grano ASTM, G. La precisin del
mtodo es en funcin del nmero de granos contados. Una precisin de +/-0.25
unidades de tamao de grano puede ser obtenida con una cantidad de esfuerzo
razonable. Los resultados son libres de variacin, y la repetibilidad y la reproducibilidad
son menores a +/-0.5 unidades de tamao de grano. Un conteo preciso requiere la
marcacin de los granos al momento de ser contados.
4.1.3 Procedimiento de Intercepcin El mtodo de intercepcin abarca un conteo actual del
nmero de granos interceptados por una lnea de prueba o el nmero de intersecciones
del contorno del grano con una lnea de prueba, por unidad de longitud de la lnea de
prueba utilizada para calcular la longitud de intercepcin media lineal, . es utilizado
para determinar el nmero de tamao de grano ASTM, G. La precisin del mtodo es en
funcin del nmero de intercepciones o intersecciones contadas. Una precisin mejor de
+/-0.25 unidades de tamao de grano puede obtenerse con una cantidad de esfuerzo
razonable. Los resultados son libres de variacin; la repetibilidad y reproducibilidad son
menores de +/-0.5% unidades de tamao de grano. Debido a que se puede realizar un
conteo exacto sin la necesidad de marcar las intercepciones o intersecciones, el mtodo
de intercepciones es ms rpido que el mtodo planimtrico por el mismo nivel de
precisin.
4.2 Para probetas que consistan en granos equiaxiales, el mtodo de comparacin de la
probeta con una grfica estndar es ms conveniente is es suficientemente exacto para
la mayora de los propsitos comerciales. Para mayor grado de exactitud al determinar el
tamao de grano promedio, se pueden utilizar los mtodos de intercepcin y
planimtrico. El procedimiento de intercepcin es particularmente til para estructuras
consistentes en granos elongados.
4.3 En caso conflicto, el procedimiento de intercepcin ser el procedimiento que rija en todos
los casos.
4.4 No se deberan hacer intentos para calcular el tamao de grano promedio para materiales
que se trabajen bajo condiciones muy fras. Aleaciones maleables parcialmente
recristalizadas y materiales que trabajen bajo condiciones poco o moderadamente fras
pueden ser considerados como granos no equiaxiales, si una medicin de tamao de
grano es necesaria.
4.5 No se deberan hacer mediciones de granos individuales basndose en las grficas de
comparacin estndar. Estas grficas fueron construidas para reflejar la tpica
distribucin logartmica normal de los tamaos de grano que resulta cuando un plano es
pasado a travs de un red tridimensional de granos. Debido a que muestran una
distribucin de dimensiones del grano, variando de muy pequeos a muy grandes,
dependiendo de la relacin de la seccin planar y la red tridimensional de granos, las
grficas no son aplicables para la medicin de granos individuales.
5. Generalidades de Aplicacin
5.1 Es importante, en el uso de estos mtodos de prueba, reconocer que el clculo de tamao
de grano promedio no es una medicin precisa. Una estructura metlica es un conjunto
de cristales tridimensionales de varios tamaos y formas. Aun si todos estos cristales
fueran idnticos en tamao y forma, las secciones de cruce de grano, producidas por un
plano aleatorio (superficie de observacin) a travs de una estructura, tendran una
distribucin de reas que variara de un mximo a cero, dependiendo de dnde el plano

E 112
corte cada cristal individual. Evidentemente, dos campos de observacin no pueden ser
exactamente lo mismo.
5.2 El tamao y localizacin de los granos en una microestructura son normalmente
completamente aleatorios. El proceso no nominalmente aleatorio de posicionar un
patrn de prueba puede mejorar la aleatoriedad, pero los procesos aleatorios pueden
producir una pobre representacin al concentrar mediciones en parte de una probeta.
Representativo implica que todas las partes de la probeta contribuyen al resultado, no
como algunas veces se ha presumido, que los campos del tamao de grano promedio
son seleccionados. La seleccin visual de los campos, o el arrojo de mediciones
extremas, no puede falsificar el promedio cuando es hecho por expertos imparciales,
pero en todos los casos proporcionar una impresin falsa de alta precisin. Para
muestreo representativo, el rea de la probeta es dividida mentalmente en varias
subreas coherentes iguales y posiciones del portaobjetos predeterminadas. El
portaobjetos es ajustado exitosamente para cada una de estas posiciones y el patrn de
prueba es aplicado a oscuras, esto es, con la luz apagada, el registro cerrado, o el ojo
desviado. No es permisible correccin de la posicin as como seleccin. Solo las
mediciones hechas en campos escogidos de esta manera pueden ser validadas con
respecto a precisin y desviacin.
6. Muestreo
6.1 Las probetas debern ser seleccionadas para representar las condiciones promedio dentro
de un lote de colada, lote en tratamiento, o producto, o para determinar las variaciones
anticipadas a travs o a lo largo de un producto o componente, dependiendo de la
naturaleza del material que est siendo sometido a prueba y el propsito del estudio. La
localizacin y frecuencia del muestreo debera basarse en acuerdos entre los fabricantes y
los usuarios.
6.2 Las probetas no debern ser tomadas de reas afectadas por cizallamiento, coccin u otros
procesos que alterarn la estructura del grano.
7.

Probetas de Prueba

7.1

En general, si la estructura del grano es equiaxial, ninguna orientacin de la probeta es

aceptable. Sin embargo, la presencia de una estructura de grano equiaxial es una
probeta maleable solo puede ser determinada al examinar una superficie de pulido
paralela al eje de deformacin.
Si la estructura del grano en una probeta orientada horizontalmente es equiaxial,
entonces las mediciones del tamao de grano en esta superficie, o cualquier otra, sern
equivalentes dentro de la precisin estadstica de este mtodo de prueba. Si la
estructura del grano no es equiaxial, pero elongada, entonces las mediciones del tamao
de grano en probetas con diferente orientacin variarn. En este caso, el tamao de
grano debera ser evaluado en al menos dos de las tres superficies principales,
transversal, longitudinal y planar (o radial y transversal para barras redondas) y
promediado como se describe en la seccin 116 para obtener el tamao medio de
grano. Si se utilizan lneas de prueba dirigidas, en lugar de crculos de prueba, la cuenta
de intercepciones en granos no equiaxiales puede hacerse en probetas de tipo placa o
lmina utilizando solo dos superficies planas principales, en lugar de las tres requeridas
por el mtodo planimtrico.

7.2

E 112

7.3

7.4

La superficie a ser pulida debera ser lo suficientemente larga en cuanto a rea para
permitir la medicin de al menos cinco campos al aumento deseado. En la mayora de
los casos, excepto para probetas de hojas delgadas o alambre, es adecuada un
superficie poco pulida de un rea de 160 mm2 (0.25 pulg.2).
La probeta deber ser seccionada, montada (si es necesario), apoyada y pulida de
acuerdo a los procedimientos recomendados en la Prctica E 3. La probeta deber ser
atacada utilizando un reactivo, tal como se lista en la prctica E 407 para delinear la
mayora, o todos, los contornos del grano (Ver tambin anexo A3).

8.

Calibracin

8.1

Utilizar un micrmetro del portaobjetos para determinar el aumento lineal verdadero para
cada objetivo, ocular y fuelle, o ajuste de zoom para ser utilizado dentro de +/-2%.
Utilizar una regla con escala milimtrica para determinar la longitud actual de lneas de
prueba derechas o el dimetro de crculos de prueba utilizados como rejilla.

8.2

9.

Preparacin de Fotomicrografas

9.1

Cuando se utilizan fotomicrografas para calcular el tamao de grano promedio, debern

estar preparadas de acuerdo con la Gua E 883.

10.

Procedimiento de Comparacin

10.1

El procedimiento de comparacin debe aplicar para materiales completamente

recristalizados o fundidos con granos equiaxiales.
Cuando los clculos de tamao de grano son hechos por el mtodo de comparacin ms
apropiado, chequeos repetidos por individuos as como por pruebas de laboratorio han
mostrado que a menos que la aparicin de la norma aproxime razonablemente eso de la
muestra, pueden ocurrir errores. Para minimizar tales errores, las grficas de
comparacin son presentadas en cuatro categoras como a continuacin:4
Placa 1 Granos no gemelos (ataque plano). Incluye nmeros de tamao de grano 00,
0, , 1, 2, 2, 3, 3, 4, 4, 5, 5, 6, 6, 7, 7, 8, 8, 9, 9, 10 a 100X.
Placa II Granos gemelos (ataque plano). Incluye nmeros de tamao de grano 1, 2, 3,
4, 5, 6, 7, 8 a 100X.
Placa III Granos gemelos (ataque de contraste). Incluye dimetros de grano nominal
de 0.200, 0.150,0.120, 0.090, 0.070, 0.060, 0.050, 0.045, 0.035, 0.025, 0.020, 0.015,
0.010, 0.005 mm a 75X.
Placa IV Granos austenticos en el acero (McQuaid-Ehn). Incluye nmeros de tamao
de grano 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8 a 100X.

10.2

2.1
2.2
2.3
2.4

Placas I, II, III y IV estn disponibles en la oficina general de ASTM. Ordene PCN 12-501120-10 (Placa
I), 12-501120-20 (Placa II), 12-501120-30 (Placa III), 12-501120-40 (Placa IV). Tambin est disponible
una combinacin de las cuatro placas. Ordene PCN 12-501121-28

E 112
TABLA 1 Grficas de Comparacin sugeridas para Materiales Metlicos
NOTA Estas sugerencias estn basadas en las prcticas comunes en la industria. Para
probetas preparadas de acuerdo a tcnicas especiales, las normas de comparacin adecuadas
deberan ser seleccionadas con base en una apariencia estructural de acuerdo con el punto 8.2.
Material

Nmero de Placa
Aluminio
I
Cobre y aleaciones a base de cobre (Ver anexo III o IV
A4)
Hierro y Acero:
Austentico
II o IV
Frrico
I
Carburizado
IV
Inoxidable
II
Magnesio y aleaciones a base de magnesio
I o II
Nquel y aleaciones a base de nquel
II
Aleaciones de superresistencia
I o II
Zinc y aleaciones a base de zinc
I o II
10.3

Aumento Bsico
100x
75x, 100x
100x
100x
100x
100x
100x
100x
100x
100x

La tabla 1 lista un nmero de materiales y las grficas de comparacin sugeridas para

uso para calcular el tamao de grano promedio. Por ejemplo, para cobre maclado y
cobre con un ataque de contraste, utilizar Plato III.

NOTA 1: Ejemplos de estndares de tamao de grano de las placas I, II, III y IV son mostrados
en las figuras 1, 2, 3 y 4.
10.4

10.5

10.6

El clculo del tamao de grano determinado microscpicamente usualmente debera ser

hecho por comparacin directa al mismo aumento que la grfica adecuada. Esto
acompaado de comparar una imagen proyectada o una fotomicrografa de un campo
representativo de la probeta de prueba con las micrografas de las series de tamao de
grano de la norma apropiada o con reproducciones o transparencias de ellas adecuadas
y seleccionar la micrografa que ms se ajuste a la ilustracin de la probeta de prueba o
interpole entre dos estndares. Reportar este tamao de grano calculado como el
nmero de tamao de grano ASTM, o dimetro de grano, de la ilustracin que ms se
acerque a la imagen de la probeta de prueba o como un valor interpolado entre dos
imgenes estndar.
Es necesario un buen juicio por parte del observador para seleccionar el aumento a
utilizar, el tamao del rea adecuado (nmero de granos), y el nmero y localizacin en
la probeta de secciones y campos representativos para calcular el tamao de grano
promedio o caracterstico. No es suficiente seleccionar lo que parece ser reas de
tamao de grano promedio. Recomendaciones para escoger reas apropiadas para
todos los procedimientos han sido anotadas en el punto 5.2.
Clculos de tamao de grano debern ser hechos en tres o ms reas representativas
de cada seccin de la probeta.

E 112

FIG. 1 Ejemplo de Granos no gemelos

(ataque plano) de Placa I. Tamao de
Grano No.3 a 100X

FIG. 2 Ejemplo de Granos gemelos

(ataque plano) de Placa II Tamao de
Grano No.3 a 100X

FIG. 3 Ejemplo de Granos gemelos

(ataque a contraste) de Placa III. Tamao
de Grano 0.090 mm a 75X

FIG. 4 Ejemplo de Granos Austenticos

en Acero de Placa IV. Tamao de
Grano No.3 a 100X

E 112

10.7

Cuando los granos son de un tamao fuera del rango que abarcan las fotografas
estndar, o cuando el aumento es de 75x o 100X no son satisfactorios, otros aumentos
pueden ser utilizados para comparacin utilizando las relaciones proporcionadas en la
Nota 2 y Tabla 2. Debe notarse que aumentos alternativos usualmente son simples
mltiplos de los aumentos bsicos.
TABLA 2 Relaciones de Tamao de Grano determinadas Microscpicamente
utilizando la Placa III a Diferentes Aumentos

NOTA 1 Primera lnea dimetro medio del grano, d, en mm, en parntesis equivalente al
nmero de tamao de grano ASTM, G.
NOTA 2 El aumento para la Placa III es 75X (serie de tres datos).
Aumento

Nmero de Ilustracin (Placa III)

NOTA 2 Si el tamao de grano est reportado en los nmeros ASTM, es conveniente utilizar
la relacin:
Q = 2 log2 (M/Mb)
= 6.64 log10 (M/Mb)

(2)

donde Q es un factor de correccin que es agregado al tamao aparente del micrograno de la

probeta, como se vio en el aumento, M, en lugar de en el aumento bsico, Mb (75X o 100X),
para alcanzar el verdadero nmero de tamao de grano ASTM. En estas condiciones, para un
aumento de 25X, el verdadero nmero de tamao de grano ASTM es cuatro cifras ms bajo
que aquel de la correspondiente a la fotomicrografa a 100X(Q = -4). De igual forma, para 400X,
el nmero de tamao de grano ASTM es cuatro cifras ms alto (Q = +4) de aquel de la
correspondiente fotomicrografa a 100X. De manera similar, para 300X, el nmero de tamao
de grano ASTM es cuatro cifras ms alto de aquel de la fotomicrografa correspondiente a 75X.
10.8

El reducido nmero de granos por campo en el extremo grueso de las series grficas,
que es 00, y el tamao de granos muy pequeo en el extremo fino hace difcil la
comparacin precisa de cifras nominales. Cuando el tamao de grano de la probeta cae
en cualquier extremo del rango de la grfica, se puede hacer una comparacin con ms
sentido cambiando el aumento de manera que el tamao de grano quede ms cerca del
centro del rango.

E 112

10.9 El uso de trasparencias

o lminas de los estndares, con el estndar y la incgnita

colocadas adyacentes a cada una, ser preferible al uso de comparacin de grficas de
pared con la imagen proyectada en la pantalla del microscopio.
10.10 No se le debera atribuir un significado particular al hecho de que diferentes
observadores a menudo obtengan resultados ligeramente diferentes, provistos los
diferentes resultados cae dentro de los lmites de confianza razonablemente esperados
con el mtodo utilizado.
10.11 Hay una posibilidad cuando un operador hace chequeos repetidos en la misma probeta
utilizando el mtodo de comparacin que sern perjudicados por su primer clculo. Esta
desventaja puede ser superada, cuando sea necesario, por medio de cambios en el
aumento, a travs de extensin de los fuelles, o remplazo de objetivo u ocular entre
clculos (1).6
10.12 Hacer el clculo de tamaos de grano determinados macroscpicamente
(extremadamente gruesos) por comparacin directa, a un aumento de 1X, de la probeta
preparada adecuadamente, o de una fotografa de un campo representativo de la
probeta, con fotografas de las series de grano estndar mostradas en la Placa I (para
material no gemelo) y las Placas II y III (para material gemelo). Desde que las fotografas
de las series de tamao de grano estndar fueron hechas a un aumento de dimetro de
75 y 100, los tamaos de grano estimados de esta forma no caen dentro de las series de
tamao de grano estndar de ASTM y por esto, de preferencia, deberan ser expresados
ya sea como dimetro del grano promedio o como uno de los nmeros de tamao de
macrograno listados en la Tabla 3. Para los tamaos de grano macroscpicos ms
pequeos, podra ser preferible usar un aumento mayor y el factor de correccin dado en
la Nota 3, particularmente si se desea continuar con este mtodo de reporte.
NOTA 3 Si el tamao de grano es reportado en nmeros de tamao de macrograno ASTM, es
conveniente usar la relacin:
Q = 2 log2 M
= 6.64 log10 M

(3)

donde Q es un factor de correccin que es agregado al tamao aparente de grano de la

probeta, como se vio en el aumento, M, en lugar de a 1X, para alcanzar el verdadero nmero de
tamao de macrograno ASTM. En estas condiciones, para un aumento de 2X, el verdadero
nmero de tamao de macrograno ASTM es dos cifras ms alto (Q = +2), y para 4X el nmero
de tamao de macrograno ASTM es cuatro cifras ms alto (Q = +4) de aquel de la
fotomicrografa correspondiente.

Transparencias de los varios tamaos de grano en la Placa I estn disponibles por parte de la Oficina
General de ASTM. Ordene PCN 12-501122-28 para la serie. Transparencias de grupos de tamao de
grano individuales estn disponibles para requerimiento. Ordene PCN 12-501121-11 (Tamao de Grano
00), 12-501121-12 (Tamao de Grano 0), 12-501121-13 (Tamao de Grano 0.5), 12-501121-14 (Tamao
de Grano 1.0), 12-501121-15 (Tamao de Grano 1.5), 12-501121-16 (Tamao de Grano 2.0), 12-50112117 (Tamao de Grano 2.5), 12-501121-18 (Tamao de Grano 3.0, 3.5 y 4.0), 12-501121-19 (Tamao de
Grano 4.5, 5.0 y 5.5), 12-501121-21 (Tamao de Grano 6.0, 6.5 y 7.0), 12-501121-22 (Tamao de Grano
7.5, 8.0, 8.5), 12-501121-23 (Tamao de Grano 9.0, 9.5, 10.0). Los grficos ilustrando nmeros de
tamao de grano 00 al 10 estn en lminas de 8 por 11 pulg. (215.9 por 279.4 mm). Transparencias
para las Placas II, III y IV no estn disponibles.
6
Los Nmeros en negritas entre parntesis se refieren a la lista de referencias anexa a estos mtodos de
prueba.

E 112
10.13 El procedimiento de comparacin deber ser aplicable para calcular el tamao de grano
austentico en acero frrico despus de una prueba McQuaid-Ehn (Ver Anexo A3, A3.2),
o despus de que los granos austenticos han sido revelados por cualquier otro medio
(Ver Anexo A3, A3.3). Hacer la medicin de tamao de grano comparando la imagen
microscpica, a un aumento de 100X, con la ilustracin del tamao de grano estndar en
la Placa IV, para grano sometidos a una prueba McQuaid-Ehn (Ver Anexo A3); para la
medicin de granos austenticos tratados por otros medios (Ver Anexo A3), medir
comparando la imagen microscpica con la placa que tengan la estructura lo ms
comparable observada en las Placas I, II o IV.
10.14 El denominado Mtodo de Tamao de Grano de Fractura Shepherd de juzgar el
tamao del grano a partir de la apariencia de la fractura de acero endurecido (2),
comprende la comparacin de la probeta bajo investigacin con un conjunto de fracturas
estndar.7 Se ha descubierto que las series de tamao de grano de fractura numeradas
arbitrariamente concuerdan con los tamaos de grano
ASTM numerados
correspondiente en la Tabla 4. Esta coincidencia hace los tamaos de grano de fractura
intercambiables
con
los
tamaos
de
grano
austenticos
determinados
microscpicamente.
TABLA 3 Relaciones de Tamao de Grano Macroscpico Computadas
para Granos Equiaxiales, Uniformes, Orientados Aleatoriamente
No. de Tamao
de Macrograno

NA Granos/Unidad de rea

rea de Grano Promedio

d Dimetro Promedio

Interseccin Media

NL

NOTA Los nmeros de tamao de grano determinados macroscpicamente M-12.3, M-13.3,

M-13.8 y M-14.3 corresponden, respectivamente, con los nmeros de tamao de grano
determinados microscpicamente (G) 00, 0, 0.5 y 1.0.
11.
Procedimiento Planimtrico (o Jeffries) (3)
7

Se puede obtener una fotografa de las Fracturas Estndar Shepherd por medio de las Oficinas
Generales de ASTM. Ordene PCN 12-501124-23

E 112
11.1

En un procedimiento planimtrico inscribir un crculo 8 o rectngulo del rea conocida

(usualmente 5000 mm2 para simplificar los clculos) en una micrografas o en la pantalla
de vidrio deslustrado del metalgrafo. Seleccionar un aumento que proporcionar al
menos 50 granos en el campo a ser contado. Cuando la imagen es enfocada
apropiadamente, cuente el nmero de granos dentro de esta rea. La suma de todos los
granos incluidos completamente dentro del rea conocida ms una mitad del nmero de
granos interceptados por la circunferencia del rea da el nmero de todos los granos
equivalentes, medidos al aumento utilizado dentro del rea. Si este nmero se multiplica
por el multiplicador Jeffries, f, en la segunda columna de la Tabla 5 opuesto al aumento
apropiado, el producto ser el nmero de granos por milmetro cuadrado NA. Cuente un
mnimo de tres campos para asegurar un promedio razonable. El nmero de granos por
milmetro cuadrado a 1X, NA, es calculado:
NA = f

Ndentro +

NInterceptado

(4)

Donde f es el multiplicador Jeffries (Ver Tabla 5), Ndentro es el nmero de granos

completamente adentro del crculo de prueba y NInterceptado es el nmero de granos que
interceptan el crculo de prueba. El rea de grano promedio, A, es el recproco de NA, que es,
1/NA, mientras el dimetro de grano promedio, d, como se lista en la Placa III (Ver 10.2.3), es la
raz cuadrada de A. Este dimetro de grano no tiene significado fsico porque representa el lado
de un grano cuadrado de rea A, y las secciones de cruce de grano no son cuadradas.
TABLA 4 Relaciones de Tamao de Grano Computadas para Granos
Equiaxiales,Uniformes, Orientados Aleatoriamente
No. de Tamao
de Macrograno
G

NA Granos/Unidad de rea
No./pulg a 100X

rea de Grano Promedio

d Dimetro Promedio

Interseccin Media

NL

No./mm2 a 1X

Una rejilla transparente para el mtodo planimtrico est disponible en la oficina general de ASTM. La
transparencia consiste en dos crculos de prueba, uno con un dimetro de 79.8 mm (rea de 5000 mm 2) y
el otro con un dimetro de 159.6 mm (rea de 20 000 mm 2). Ordene PCN 12-501123-91.

E 112
TABLA 5 Relacin entre el Aumento utilizado y el Multiplicador Jeffries, f, para un rea de
5000 mm2 (un crculo con un dimetro de 79.8-mm) (f = 0.0002 M 2)
Aumento Utilizado
Multiplicador Jeffries, f, para obtener granos/mm2
1
0.0002
10
0.02
25
0.125
50
0.5

75
1.125
100
2.0
150
4.5
200
8.0
250
12.5
300
18.0
500
50.0
750
112.5
1000
200.0
A
A un aumento de 75 dimetros, multiplicador Jeffries, f, se convierte en unidad si el rea
utilizada es 5625 mm2 (un crculo de dimetro de 84.5-mm).
11.2

11.3
11.4

Para obtener un conteo exacta del nmero de granos que estn completamente dentro
del crculo de prueba y el nmero de granos que interceptan el crculo, es necesario
marcar los granos sobre el escantilln, por ejemplo, con un lpiz de engrase o pluma de
punta de fieltro. La precisin del mtodo planimtrico es en funcin al nmero de granos
contados (Ver seccin 19). El nmero de granos dentro del crculo de pruebas, sin
embargo, no debera exceder aproximadamente 100 porque se volvera tedioso e
impreciso. La experiencia sugiere que un aumento que produce 50 granos dentro del
crculo de prueba est cerca de ser ptimo en cuanto a precisin de conteo por campo.
Debido a la necesidad de marcar los granos para obtener un conteo preciso, el mtodo
planimtrico es menos eficiente que el mtodo de interseccin (Ver seccin 12).
Los campos deberan ser escogidos aleatoriamente, sin desviaciones, como se describe
en el punto 5.2. No intentar escoger campos que parezcan ser tpicos. Escoger los
campos al azar y seleccionarlos de diferentes lugares de la superficie de pulido.
Por definicin original, un tamao de grano determinado microscpicamente de Nmero
1 tiene 1.000 granos/pulg2 a 1X. Para reas fuera del crculo estndar, determinar el
nmero actual de granos por milmetro cuadrado, NA, y encontrar el tamao ms cercano
de la Tabla 4. El nmero de tamao de grano ASTM, G, puede ser calculado a partir de
NA (Nmero de Granos por mm2 a 1X) utilizando Eq (1) en la Tabla 6.

12.

Procedimientos Generales de Intercepcin

12.1

Los procedimientos de intercepcin son ms convenientes de usar que el procedimiento

planimtrico. Estos procedimientos son tratables para ser usados con varios tipos de
mquinas auxiliares. Es fuertemente recomendable que sea utilizado al menos un
totalizador con todos los procedimientos de intercepcin para prevenir errores normales
en el conteo y para eliminar desviaciones que pueden ocurrir cuando las cuentas
parecen ir ms alto o ms bajo de lo anticipado.
Los procedimientos de intercepcin son recomendados para todas las estructuras que
parten de la forma equiaxial uniforme. Para estructuras anisotrpicas, hay
procedimientos disponibles ya sea para hacer clculos de tamao separados en cada
una de las tres direcciones principales o para calcular racionalmente el tamao promedio
segn sea apropiado.

12.2

E 112

TABLA 6

ECUACIONES DE TAMAO DE GRANO RELACIONANDO

PARMETROS MEDIDOS CON EL TAMAO DE GRANO
ASTM DETERMINADO MICROSCPICAMENTE, G
NOTA 1 Determinar el tamao de grano ASTM, utilizando las siguientes ecuaciones:
NOTA 2 Las ecuaciones dos y tres son para estructuras de grano de una fase.
NOTA 3 Para convertir de micrmetros a milmetros, dividir entre 100.
NOTA 4 Una valor calculado de G de 1 corresponde al ASTM G=00.
Ecuacin
Unidades
G = (3.321928 log10NA) 2.954
NA en mm-2
G = (6.643856 log10NL) 3.288
NL en mm-1
G = (6.643856 log10PL) 3.288
PL en mm-1
G = (-6.643856 log10 ) 3.288
en mm
12.3

No hay una relacin matemticamente directa entre el nmero de tamao de grano

ASTM, G, y la intercepcin lineal media, a diferencia de la relacin exacta entre G, NAE,
NA y A (Eq (1)) para el mtodo planimtrico. La relacin
= A
4

1/2

(5)

entre la intercepcin lineal media, , y el rea de grano promedio, A, es exacta para

crculos pero no tan exacta para una estructura de granos equiaxiales uniformes (Ver
A2.2.2). Consecuentemente, la relacin entre el nmero de tamao de grano ASTM G y
la intercepcin lineal media ha sido definida de manera que el No. 0 ASTM tiene un
tamao de intercepcin media de precisamente 32.00 mm para la escala de tamao de
grano determinada macroscpicamente y de 32.00 mm en un campo de visin de un
aumento de 100X para la escala de tamao de grano determinada microscpicamente.
De este modo:
G = 2 log2 0

G = 10.00 2log2

(6)

G = 10.00 + 2log2NL

(8)

(7)

donde 0 es 32 mm y y NL estn en milmetros a 1X o nmero de intersecciones por

mm para los nmeros de tamao de grano determinados macroscpicamente y en
milmetros o nmero por mm sobre un campo de 100X para los nmeros de tamao de
grano microscpicamente. Utilizando esta escala los nmeros de tamao de grano
medidos estn dentro de cerca de 0.01 unidades G de nmeros de tamao de grano
determinadas por mtodo planimtrico, que es, bueno dentro de la precisin de los
mtodos de prueba. Detalles adicionales concernientes a las relaciones de tamao de
grano son proporcionadas en el Anexo A1 y A2.
12.4

La distancia de intercepcin media, , medida en una seccin plana es un clculo sin

variacin de la distancia de intercepcin media entre el material slido en la direccin, o
por encima del rango de direcciones, medidos. El radio de la superficie de contorno de
grano rea por volumen es proporcionada exactamente por SV = 2 NL donde NL es
promediado sobre tres dimensiones. Estas relaciones son independientes de la forma
del grano.

E 112
13.
13.1

13.2

13.3

13.4

13.5

Procedimiento de Intercepcin Lineal Heyn (4)

Estimar el tamao de grano promedio contando ( en la pantalla de vidrio deslustrado, en
una fotomicrografa de un campo representativo de la probeta, o en la misma probeta) el
nmero de granos interceptados por uno o ms lneas rectas lo suficientemente largas
para soportar al menos 50 intercepciones. Es deseable seleccionar una combinacin de
longitud de lnea de prueba y aumento tal que un campo individual soporte el nmero de
intercepciones requeridas. Una prueba tal permitir nominalmente el clculo del tamao
de grano al nmero entero de tamao ASTM ms cercano, en la parte evaluada. Lneas
adicionales, en una red predeterminada, deberan ser contadas para obtener la precisin
requerida. La precisin del clculo de tamao de grano por el mtodo de intercepcin es
en funcin del nmero de intercepciones de grano contadas (Ver Seccin 19). Debido a
que los extremos de lneas de prueba rectas usualmente caern dentro de los granos
(Ver punto 14.3), la precisin ser reducida si el conteo promedio por lnea de prueba es
bajo. Si es posible, utilizar ya sea una lnea de prueba ms larga o un aumento menor.
Hacer cuentas primero en de 3 a 5 campos seleccionados al azar y separados
ampliamente para obtener un promedio razonable para la probeta. Si la precisin
aparente de este promedio (calculada como se indica en la Seccin 15) no es adecuada,
hacer cuentas en suficientes campos adicionales para obtener la precisin requerida
para el promedio de probetas.
Una intercepcin es un segmento de lnea de prueba que pasa por encima de un grano.
Una interseccin es un punto donde la lnea de prueba es cortada por un el contorno de
un grano. Cualquiera de los dos puede contar, con resultados idnticos en un material
de una sola fase. Cuando se cuentan intercepciones, los segmentos al extremo de una
lnea de prueba que penetran dentro de un grano son anotados como medias
intercepciones. Cuando se cuentan intersecciones, los puntos extremos de una lnea de
prueba no son intersecciones y no son contados excepto cuando el extremo parece
tocar exactamente el contorno de un grano, cuando interseccin debera ser anotada..
Una interseccin tangencial con un contorno de grano debera ser anotada como una
interseccin. Una interseccin que aparentemente coincide con la unin de tres granos
debera ser anotada como 1 . Con granos de formas irregulares, la lnea de prueba
puede generar dos intersecciones con diferentes partes en el mismo grano, junto con
una tercera seccin interseccin con el grano que est siendo introducido.
Las dos intersecciones adicionales sern contadas.
Los efectos de desviacin moderada por parte de una estructura equiaxial pueden ser
eliminados haciendo cuentas de intercepcin en una red de lneas que contenga lneas
que tengan cuatro o ms orientaciones. Las cuatro lneas rectas de la Figura 5 9 pueden
ser utilizadas. La forma de tales redes no es crtica, provisto que todas las porciones del
campo son medidas con aproximadamente el mismo peso. Por esto, una red de lneas
saliendo desde un punto en comn no es adecuado. El nmero de intercepciones ser
contado para toda la red, y valores individuales de NL y determinados para cada red
como un todo.
Para estructuras claramente no equiaxiales tales como metales moderadamente
trabajados, se puede obtener mayor informacin haciendo determinaciones de tamao
por separado a travs de redes de lneas que coincidan con las tres direcciones
principales de la probeta. Normalmente son utilizadas secciones longitudinales y
transversales de la probeta, la seccin normal es agregada cuando es necesario.
Cualquiera de las lneas de 100mm de la Figura 5 pueden ser aplicadas cinco veces,
utilizando desplazamientos paralelos, colocando las cinco marcas + en el mismo punto

Una transparencia de tamao real de la Figura 5 est disponible por parte de la Oficina General de
ASTM. Ordene PCN 12-501123-85

E 112
sobre la imagen. Alternativamente, una rejilla de pruebas transparente con lneas de
prueba paralelas espaciadas sistemticamente de longitud conocida puede ser hechas y
utilizadas.
14.

Procedimientos de Intercepcin Circular

14.1

El uso de lneas de prueba circulares en lugar de lneas de prueba rectas ha sido

defendido por Underwood (5), Hilliard (6) y Abrams (7). Las redes de prueba circulares
compensan automticamente las desviaciones provenientes de formas de grano
equiaxiales, sin sobrecargar ninguna porcin local del campo. Las intersecciones
ambiguas en los extremos de lneas de prueba son eliminadas. Los procedimientos de
intercepcin circular son ms adecuados para su uso como procedimientos manuales de
rutina fija para estimar el tamao de grano en control de calidad.

100 mm

150 mm

150 mm

100 mm

NOTA Si es reproducido para hacer lneas rectas con longitud marcada

Total de Lneas Rectas: 500 mm
Crculos son:
Circunferencia, mm,
Dimetro, mm
250.0
79.58
166.7
53.05
83.3
26.53
Total 500.0
NOTA Ver nota al pie nmero 9
FIGURA 5. Escantilln de prueba para conteo de intercepciones

14.2
2.1

Procedimiento de Un Crculo de Hilliard

Cuando la forma del grano no es equiaxial pero esta deforme por deformacin u otros
procesos, el obtener un valor de intercepcin lineal promedio utilizando lneas de prueba
rectas requiere promediar los valores obtenidos a una variedad de orientaciones. Si esto
no se hace cuidadosamente, pueden haber desviaciones. El uso de un crculo como

E 112

2.2

2.3

14.3
3.1

3.2

lnea de prueba elimina este problema desde el momento que el crculo probar todas
las orientaciones igualmente y sin variaciones.
No se puede utilizar ningn tamao de crculo de circunferencia exactamente conocida.
Usualmente las circunferencias de 100, 200 o 250 mm son convenientes. El dimetro de
crculo de prueba nunca debera ser menor que los granos ms grandes observados. Si
el crculo de prueba es menor que aproximadamente tres veces las intercepcin lineal
media, la distribucin del nmero de intercepciones e intersecciones por campo no ser
Guassiana. Adems, el uso de crculos de prueba pequeos es ms bien ineficiente
como una gran cantidad de campos que deben ser evaluados para obtener un alto
grado de precisin. Una pequea referencia es usualmente colocada en la parte superior
del crculo para indicar el lugar donde empezar y terminar el conteo. Aleatoriamente
aplique el crculo seleccionado a la imagen del microscopio a un aumento conocido
como conveniente y cuente el nmero de contornos de grano que intersectan el crculo
para cada aplicacin. Aplique el crculo solo una vez para cada campo ptico,
agregando campos de manera representativa, hasta obtener cuentas suficientes para
alcanzar la precisin requerida. La variacin en cuentas por aplicacin de crculo de
prueba disminuye al momento que el tamao del crculo aumenta y, por supuesto, es
afectado por la uniformidad de la distribucin del tamao de grano.
Como todos los procedimientos de intercepcin, la precisin de la medicin aumenta
segn aumenta el nmero de cuentas (Ver Seccin 19). La precisin se basa en la
desviacin estndar de las cuentas del nmero de intercepciones o intersecciones por
campo. En general, para una estructura de grano dada, la desviacin estndar se ve
aumentada al momento en que la cuenta por aplicacin de crculo y la cuenta total (est
es, el nmero de aplicaciones) aumentan. Las condiciones de prueba recomendadas
para el procedimientos Hilliard que producen cerca de 35 cuentas por crculo con el
crculo de prueba aplicado aleatoriamente sobre un rea de la probeta tan grande como
sea factible hasta obtener el nmero total de cuentas deseado.
Procedimiento de Tres Crculos de Abrams (7):
Basado en un descubrimiento experimental que normalmente un total de 500 cuentas
por probeta alcanzan una precisin aceptable, Abrams desarroll un procedimiento
especfico para el clculo de rutina del tamao de grano promedio para aceros
comerciales. El uso de la prueba de j cuadrada en datos reales demostr que la
variacin de intercepcin de cuentas es cercano a lo normal, permitiendo a las
observaciones ser tratadas por las estadsticas de distribuciones normales. De este
modo tanto una medicin de variabilidad como el lmite de confianza del resultado son
computados para cada determinacin de tamao de grano promedio.
El patrn de prueba consiste en tres crculos concntricos e igualmente espaciados
teniendo una circunferencia total de 500mm, como se muestra en la Figura 5. Aplique
exitosamente este patrn al menos a cinco campos seleccionados aleatoriamente y
ampliamente espaciados, registrando por separado la cuenta de intersecciones por
patrn para cada prueba. Entonces, determine la intercepcin lineal media, su
desviacin estndar, lmite de confianza de 95% y precisin relativa porcentual. Para la
mayora de los trabajos, una precisin relativa de 10% o menos representa un grado de
precisin aceptable. El procedimiento especfico es como sigue:

14.3.2.1 Examinar la estructura del grano y seleccionar un aumento que alcanzar de 40 a 100
cuentas de intercepciones o interseccin por colocacin de la rejilla de prueba de tres
crculos. Debido a que nuestro objetivo es obtener un total de 400 a 500 cuentas, el
aumento idneo es aquel que logre cerca de 100 cuentas por colocacin. Sin embargo,
mientras la cuenta por colocacin aumenta de 40 a 100, los errores en conteo son ms

E 112
propensos. Debido a que la estructura del grano variar un poco de un campo a otro,
deberan seleccionarse al menos cinco campos ampliamente espaciados. Algunos
metalgrafos se sientes ms cmodos contando 10 campos con cerca de 40 a 50
cuentas por campo. Para la mayora de las estructuras de grano, una cuenta total de
400 a 500 intercepciones o intersecciones sobre ms de 5 a 10 campos produce ms
del 10% de precisin relativa. La Figura 6 muestra la relacin entre el conteo de
intercepcin promedio y el nmero de tamao de grano ASTM determinado
microscpicamente como una funcin de aumento.

Nmero de Tamao de Grano ASTM

Rango Preferido

Figura 6 Cuentas de Intercepcin promedio en un Patrn de Prueba de 500mm

14.3.2.2 Seleccionar aleatoriamente un campo para medicin y aplicar el patrn de prueba a la
imagen. Puede aplicarse una transparencia del patrn directamente al cristal
deslustrado, o a una fotomicrografa cuando se desean registros permanentes. El
conteo directo utilizando un retculo de tamao adecuado en el ocular es permisible,
pero se puede esperar que algunos operadores tengan dificultad para contar
correctamente a la densidad de conteo recomendada. Cuente completamente cada
crculo en turno, utilizando u contador que opere manualmente para acumular el
nmero total de intersecciones de contorno de grano con el patrn de prueba. El
contador manual es necesario para evitar variaciones hacia un acuerdo irreal entre
aplicaciones o hacia un resultado deseado y para minimizar errores de memoria. El
operador debera evitar mantener una cuenta mental. Cuando su utilice un totalizador,
anote cualquier interseccin del crculo con la unin de tres granos como dos en lugar
del valor correcto de 1; el error introducido es muy pequeo.
3.3
Para cada conteo de campo, calcular NL o PL segn:
NL =

Ni
L/M

(9)

PL =

Pi
L/M

(10)

E 112

3.4

donde Ni y Pi son el nmero de intercepciones o intersecciones contadas en el campo, L

es el longitud total de la lnea de prueba (500mm) y M es el aumento.
Calcular el valor de intercepcin lineal media para cada campo, , por:
= 1 = 1
NL
PL

(11)

El valor promedio de las determinaciones n de NL, PL, o es utilizado para determinar el

tamao de grano ASTM medido microscpicamente utilizando las ecuaciones de la
Tabla 6, los datos mostrados grficamente en la Figura 6, o los datos de la Tabla 4.
15.

Anlisis Estadstico

15.1

Ninguna determinacin de tamao de grano promedio puede ser una medicin exacta.
De este modo, ninguna determinacin es completa sin tambin calcular la precisin
dentro con la cual el tamao determinado puede, con una confianza normal, ser
considerado para representar el actual tamao de grano promedio de la probeta
examinada. De acuerdo con la prctica comn de ingeniera, esta seccin considera
confianza normal para representar la expectacin de que el actual error ser dentro de la
incertidumbre 95% del tiempo.
Muchas probetas varan mesuradamente en el tamao del grano de un campo de visin
a otro, est variacin siendo responsable de una proporcin grande de la incertidumbre.
Un esfuerzo mnimo en mtodos manuales, para obtener una precisin requerida,
justifica cuentas individuales cuya precisin es comparable a esta variabilidad natural
(6). La alta precisin local que puede ser obtenida por mtodos de mquinas que a
menudo solo lograr un pequeo incremento en la precisin global a menos que tambin
muchos campos sean medidos, pero si ayuda a distinguir la variabilidad natural por parte
de imprecisiones de conteo.
Despus de que el nmero de campos deseados han sido medidos, calcule el valor
medio de NA o de los valores individuales de los campos de acuerdo a:

1.1

1.2

X=
1.3

1.4

Xi
n

(12)

donde Xi representa un valor individual, X es la media y n es el nmero de mediciones.

Calcular la desviacin estndar de las mediciones individuales de acuerdo a la ecuacin
usual:
(Xi X)2
s=
(13)
n-1
donde s es la desviacin estndar.
Calcular el intervalo de confianza de 95%, 95% CI, de cada medicin se acuerdo a:
.
95% CI = t s
n

1.5

(14)

donde el . indica una multiplicacin. La Tabla 7 lista los valores t como una funcin de n.
Calcular el porcentaje de precisin relativa, %RA, de las mediciones dividiendo el valor
de 95% CI entre la media y expresando los resultados como un porcentaje, que es:
%RA =

95% CI

100

(15)

E 112
1.6

1.7
16.

Si el %RA es considerado como muy alto para la aplicacin destinada, deberan medirse
ms campos y se deberan repetir los clculos de los puntos 15.1 al 15.5. Como una
regla general, una 10%RA (o menor) es considerada una precisin aceptable para la
mayora de los propsitos.
Convertir el valor medio de NA o al nmero de tamao de grano ASTM , utilizando la
Tabla 4 o las ecuaciones de la Tabla 6.
Probeta con Formas de Grano No-Equiaxiales

16.1

Si la forma del grano fue alterada al procesar de manera que los granos ya no sean de
forma equiaxial, las mediciones de tamao de grano deberan hacerse en superficies
orientadas longitudinalmente (), transversalmente (t) y planar para material tipo de
barra rectangular, placa o lmina. Para barras redondas, son utilizadas las secciones
longitudinal radial y transversa. Si la partida de equiaxial no es muy grande (Ver punto
16.2.2), puede determinarse un clculo razonable del tamao de grano utilizando una
probeta longitudinal y una rejilla de prueba circular. Si se utilizan lneas rectas de prueba
para el anlisis, puede hacerse mediciones en las tres principales direcciones utilizando
solo dos de los tres planos de prueba.
16.2 Mtodo Planimtrico:
16.2.1 Cuando la forma del grano no es equiaxial, pero si elongada, hacer conteos de grano en
cada uno de los tres planos, que son, planos de pulido en superficies orientadas
longitudinalmente, transversalmente y planar. Determinar el nmero de granos por mm 2
a 1X en las superficies orientadas longitudinalmente, transversalmente y planar, NA, NAt
y NAp, respectivamente, y calcular el nmero medio de granos por unidad de rea, NA, de
los tres valores NA de los planos principales:
NA = (NA . NAt . NAp) 1/3

(16)

donde . indica una multiplicacin y la testa sobre cada cantidad indica un valor promedio.
16.2.2 Un clculo razonable del tamao de grano puede hacerse a partir de NA slo, si la
partida de una forma equiaxial no es excesiva (<3:1 proporcin dimensional).
16.2.3 Calcular G a partir del valor medio de NA de los promedio hechos en cada campo.
Desarrollar el anlisis estadstico (puntos 15.1 al 15.5) solo en las mediciones
individuales sobre cada campo.
16.3 Mtodo de Intercepcin
16.3.1 Para determinar el tamao de grano de estructuras de grano no equiaxiales, las
mediciones pueden hacerse utilizando rejillas de prueba circulares o lneas de prueba
colocadas aleatoriamente en cada uno de los tres principales planos de prueba, o por la
utilizacin de lneas de prueba directas ya sea en tres o seis de las principales
direcciones utilizando ya sean dos o tres de los principales planos de prueba., Ve Figura
7. Para probetas donde la partida de una forma equiaxial no es severa (<3:1 proporcin
dimensional), un clculo razonable del tamao de grano puede ser hecho utilizando una
rejilla de prueba circular solo en el plano longitudinal.
16.3.2 El tamao de grano puede ser determinado a partir de mediciones del nmero medio de
intersecciones de contorno de grano por unidad de longitud, PL o el nmero medio de
grano interceptados por unidad de longitud NL. Ambos mtodos alcanzan los mismos
resultados para una estructura de una fase. PL o NL puede ser determinados utilizando ya

E 112
sean crculos de prueba en cada uno de los planos principales i lneas directas de
prueba ya sea en tres o seis de las principales direcciones de prueba mostradas en la
Figura 7.
16.3.3 Para el caso de valores de PL o NL determinados aleatoriamente en los tres principales
planos, computar el valor promedio de acuerdo a:
PL = (PL . PLt . PLp) 1/3

(17)

NL = (NL . NLt . NLp) 1/3

(18)

Alternativamente, calcular , t y p, a partir de los valores PL o NL en cada plano

utilizando la Ecuacin (11). Entonces, calcular el valor medio total de a partir de:
= ( . t . p) 1/3

(19)

16.3.4 Si se utilizan lneas de prueba directas en las direcciones principales de los planos
principales, se requieren solo dos de los principales planos para realizar conteos
directos en las tres principales direcciones y obtener una estimacin del tamao de
grano.
16.3.5 Informacin adicional acerca de la forma de grano puede obtenerse determinando el
paralelo (0) y perpendicular (90) al eje de deformacin en una superficie orientada
longitudinalmente. El radio de elongacin del grano, o el ndice de anisotropa, AI,
pueden ser determinados a partir de:
AI = (0) (90)

(20)

16.3.5.1 El tamao medio de grano y forma tridimensional tambin puede ser definido por los
valores de intercepcin lineal media dirigida en los tres planos principales. Estos
valores se podran expresar como:
(0) : t(90) : p(90)

(21)

16.3.5.2 Otro mtodo que puede utilizarse es normalizar los tres resultados dividiendo cada uno
entre el valor del ms pequeo con los resultados expresados en radios.
16.3.6 El valor medio de para las mediciones en las tres principales direcciones es obtenido
promediando los valores NL o PL dirigidos (como se muestra en la ecuacin (22)) y
entonces computando a partir de este valor medio; o calculando los valores dirigidos
en cada una de las tres principales direcciones y despus promedindolas de acuerdo a
la ecuacin (23):
PL = ( PL(0) . PLt(90) . PLp(90))1/3

(22)

E 112

a. Orientaciones principales de lneas de prueba dirigidas

b. Orientaciones alternas para lneas de prueba dirigidas

c. Todas las seis orientaciones para de lneas de prueba dirigidas

NOTA Mediciones en probetas de tipo de barra rectangular, placa, lmina u hoja con
estructuras de grano no equiaxiales.
Figura 7 Esquema que muestra las Seis Orientaciones posibles de la
Lnea de Prueba Dirigida para la Medicin del Tamao de Grano

E 112

Esto se hace de semejante manera para NL. Para computar la media total de a partir
de los valores medios dirigidos, utilizar:
= ((0) . t(90) . p(90))1/3

(23)

donde . indica una multiplicacin.

16.3.7 El tamao medio de grano est determinado a partir de los promedios totales de P L, NL o
utilizando la Tabla 4 o las ecuaciones de la Tabla 6. Informacin adicional acerca de la
medicin de tamao de grano para estructuras no equiaxiales puede encontrarse en el
Anexo A1 de Mtodos de Prueba E 1382.
16.4 Anlisis estadsticos deberan realizarse en los datos de cada plano o cada direccin de
prueba principal de acuerdo al procedimiento de los puntos 15.1 al 15.5.
17.

Probetas que tienen dos o ms fases o componentes

17.1

Cantidades menores de partculas de segunda fase, ya sean aspectos deseable o

indeseables, pueden ser ignoradas al determinar el tamao de grano, esto es. La
estructura es tratada como un material de una fase y los mtodos planimtrico o de
intercepcin ya descritos anteriormente son utilizados para determinar el tamao de
grano. A menos que se establezca otra cosa, el tamao de grano promedio efectivo se
deber presumir que es el tamao de la fase matriz.
La identidad de cada fase medida y el porcentaje de rea ocupada en el campo por cada
fase deber ser determinado y reportado. El porcentaje de cada fase puede ser
determinado de acuerdo a la Prctica E 562.
Mtodo de Comparacin El procedimiento de clculo de la grfica de comparacin
puede proporcionar una precisin aceptable para la mayora de las aplicaciones
comerciales si la segunda fase (componente) consiste en islotes o parches
esencialmente del mismo tamao de los granos matriz; o, la cantidad y tamao de las
partculas de la segunda fase son ambas pequeas y las partculas estn localizadas
primariamente a lo largo de los contornos de grano.
Mtodo Planimtrico El mtodo planimtrico puede ser aplicado si los contornos de
grano matriz son claramente visibles y las partculas de la segunda fase (componente)
estn presentes principalmente entre los granos matriz en lugar de dentro de los granos.
Determinar el porcentaje de rea de prueba ocupada por la segunda fase, por ejemplo,
por la Prctica E 562. Siempre determinar la cantidad de la fase de menos
concentracin, usualmente es la segunda fase o componente. Entonces, determinar la
fase matriz por diferencia. A continuacin, contar el nmero de granos matriz que se
encuentren completamente dentro de las reas de prueba y el nmero de granos matriz
intersectando el contorno del rea de prueba, como se describe en la Seccin 11. El
rea de prueba debe ser reducida a aquella solo cubierta por los granos de la fase
matriz. El tamao de grano promedio efectivo, entonces, se determina a partir del
nmero de granos por unidad de rea red de la fase matriz. Analizar estadsticamente el
nmero de granos por unidad de rea de la fase matriz , NA, de cada medicin de
campo utilizando el mtodo descrito en la Seccin 15. Entonces, del promedio total, NA,
determinar el tamao de grano efectivo de la matriz utilizando la Tabla 4 o la ecuacin
adecuada de la Tabla 6.

17.2
17.3

17.4

E 112

17.5

Mtodo de Intercepcin Las mismas restricciones tienen aplicabilidad, como se

muestra en el punto 17.4, pertenecen a este mtodo. Nuevamente, la cantidad de la fase
matriz debe ser determinada, como se describe en el punto 17.4.1 Se utiliza una rejilla
de prueba consistente de uno o ms crculos de prueba, como la mostrada en la Figura
5. Para esta aplicacin, contar el nmero de granos matriz, N, interceptados por la lnea
de prueba. Determinar la longitud media de intercepcin de la fase matriz de acuerdo a:

17.6

(VV)(L/M)
N

(24)

donde la fraccin de volumen de la matriz , VV, esta expresado como una fraccin, L
es la longitud de la lnea de prueba y M es el aumento. El tamao de grano de los
granos se determina utilizando la Tabla 4 o la ecuacin en la Tabla 6. En prctica, es
conveniente determinar manualmente la fraccin del volumen de la fase y el nmero
de granos interceptando la lnea de prueba para cada campo. Si se hace esto, la
longitud de intercepcin lineal media de la fase para cada campo puede ser
determinada y estos datos pueden ser analizados estadsticamente para cada campo de
acuerdo al procedimiento descrito en la Seccin 15. Si VV y N no son medidos
simultneamente para los mismo campos, entonces el anlisis estadstico solo puede
ser realizado en los datos de VV y N.
Tambin es posible determinar por medicin de longitudes de intercepcin
individuales utilizando lneas rectas de prueba aplicadas aleatoriamente a la estructura.
No medir las intercepciones parciales en los extremos de las lneas de prueba. Este
mtodo es un tanto tedioso a menos que puede ser automatizado de alguna manera.
Las intercepciones individuales son promediadas y este valor es utilizado para
determinar G de la Tabla 4 o la ecuacin en la Tabla 6. Las intercepciones individuales
pueden ser trazadas en un histograma, pero esto est fuera del alcance de estos
mtodos de prueba.

18.

Reporte

18.1

El reporte de prueba debera documentar toda la informacin pertinente de identificacin

concerniente a la probeta, su composicin, marca o designacin de especificacin,
cliente o requeridor de datos, fecha de prueba, tratamiento trmico o historia de proceso,
localizacin y orientacin de la probeta, mtodo de ataque o atacante, mtodo de
anlisis de tamao de grano, y todo lo dems que se requiera.
Listar el nmero de campos medidos, el aumento y el rea del campo. Tambin puede
registrarse el nmero de granos contados o el nmero de intercepciones o
intersecciones contadas. Para una estructura de dos fases, listar la fraccin de rea de
la fase matriz.
Puede proporcionarse una fotomicrografa que ilustre la apariencia tpica de la estructura
de grano, si se requiere o se desea.
Listar el valor medio de medicin, su desviacin estndar, intervalo de confianza de
95%, porcentaje de precisin relativa y el nmero de tamao de grano ASTM.
Para una estructura de grano No equiaxial , listar el mtodo de anlisis, planos
examinados, direcciones evaluadas (si aplica), el clculo de tamao de grano por plano
o direccin, el total de medias de las mediciones planares y el nmero de tamao de
grano ASTM computado o estimado.

18.2

18.3
18.4
18.5

E 112

18.6

18.7

Para una estructura de dos fases, listar el mtodo de anlisis, la cantidad de la fase
matriz (si es determinada), la medicin de tamao de grano de la fase matriz (y la
desviacin estndar, intervalo de confianza de 95%, y porcentaje de precisin relativa) y
el nmero de tamao de grano ASTM computado o estimado.
Si se desea expresar el tamao de grano promedio de un grupo de probetas de un lote,
simplemente no promediar los nmeros de tamao de grano ASTM. A cambio, computar
un promedio aritmtico de las mediciones actuales, tales como los valores NA o por
probeta. Entonces del promedio del lote, calcular o estimar el tamao de grano ASTM
para el lote. Los valores de la probeta de NA o tambin pueden ser analizados
estadsticamente, de acuerdo al mtodo de la Seccin 15, para evaluar la variabilidad
del tamao de grano dentro del lote.

19.

Precisin y Variacin

19.1

La precisin y variacin de las mediciones de tamao de grano dependen de la

representatividad de las probetas seleccionadas y de las reas escogidas en la
superficie de pulido para medicin. Si el tamao de grano vara dentro de un producto, la
probeta y la seleccin del campo deben muestrear adecuadamente esta variacin.
La exactitud relativa de la medicin del tamao de grano del producto mejora segn el
aumenta el nmero de probetas tomadas del producto. La exactitud relativa de la
medicin del tamao de grano de cada probeta mejora segn aumente el nmero de
campos muestreados y el nmero de granos o intercepciones contadas.
Ocurrirn variaciones en las mediciones si la preparacin de la probeta es inadecuada.
La estructura verdadera deber ser revelada y los contornos del grano debern ser
delineados completamente para tener mayor precisin en las mediciones y libertad de
variaciones. Segn aumente el porcentaje de contornos de grano no delineados,
aumentan las variaciones y, la precisin, repetibilidad y reproducibilidad se volvern ms
pobres.
La determinacin no exacta del aumento de la estructura de grano producir variaciones.
Si la estructura de grano no es equiaxial en su forma, por ejemplo, si la forma del grano
es elongada o plana por deformacin, la medicin del tamao de grano en un solo plano,
particularmente el plano perpendicular a la direccin de la deformacin, har variar los
resultados de la prueba. La distorsin de la forma de grano es detectada de mejor
manera utilizando un plano de prueba paralelo a la direccin de la deformacin. El
tamao de los granos deformados debera estar basado en mediciones hechas en dos o
tres de los principales planos que son promediados como se describe en la Seccin 16.
Las probetas con una distribucin de tamao de grano unimodal son medidas para
tamao de grano promedio utilizando los mtodos descritos en estos mtodos de
prueba. Las probetas con distribuciones de tamao de grano bimodales (o ms
complejas) no deberan ser probadas utilizando un mtodo que alcance un solo valor de
tamao de grano promedio; deberan ser caracterizados utilizando los mtodos descritos
en los Mtodos de Prueba E 1181 y medidos utilizando los mtodos descritos en los
Mtodos de Prueba E 112. El tamao de grano individuales muy grandes en un matriz
de grano fino debera ser determinado utilizando los Mtodos de Prueba E 930.
Cuando se utiliza el mtodo de comparacin de grficas, la grfica seleccionada debera
ser consistente con la naturaleza de los granos (esto es, gemelos o no gemelos, o
carburizados y enfriados lentamente) y con el ataque (esto es, ataque plano o ataque de
contraste de grano) para una mayor precisin.

19.2

19.3

19.4
19.5

19.6

19.7

E 112
19.8

19.9

19.10

19.11
19.12

19.13

19.14

Los clculos de tamao de grano utilizando el mtodo de comparacin de grficas por

medio de un metalgrafo individual variar dentro de +/-0.5 unidades G. Cuando un
grupo de personas califica la misma probeta, la distribucin puede ser tan grande como
1.5 a 2.5 unidades G.
El mtodo de tamao de grano de Fractura solo es aplicable para aceros para
herramientas templados, relativamente frgiles. Las probetas deberan estar en
condiciones parecidas a templadas o ligeramente revenidas de manera que la superficie
de la fractura sea bastante plana. Un metalgrafo experimentado puede calcular con
anterioridad el tamao de grano austentico a una herramienta de acero dentro de +/-0.5
unidades de G por el mtodo de tamao de grano de fractura Shepherd.
Un programa de prueba de circuito de transmisin con retorno al punto de origen (Ver
Apndice X1), analizado de acuerdo a la Prctica E 691, revel una variacin
consistente entre los evaluaciones de la grfica de comparacin utilizando la Placa I y
las mediciones de tamao de grano utilizando los mtodos planimtrico y de
intercepcin. Los indicadores de la grfica fueron de 0.5 a 1 unidad de G grueso, esto
es, nmeros de G menores, que los valores medidos.
Los tamaos de grano determinados por los mtodos planimtrico o de intercepcin
produjeron resultados similares sin observarse variaciones.
La exactitud relativa de las mediciones de tamao de grano mejoraron, cuando
aumentaron el nmero de granos o intercepciones contados. Para un nmero similar de
conteos, la exactitud relativa de las mediciones de intercepciones era mejor que la de
las mediciones planimtricas de tamao de grano. Para el mtodo de intercepcin, fue
obtenido 10% de RA (o menos) con cerca de 400 intercepciones o cuentas de
interseccin mientras que para el mtodo planimtrico, para obtener 10% de RA, o
menos, tuvieron que ser contados cerca de 700 granos. La repetibilidad y
reproducibilidad de las mediciones mejoraron cuando aument el nmero de granos o
intercepciones contadas y fue mejor para el mtodo de intercepcin que para el
planimtrico para la misma cuenta.
El mtodo planimtrico requiere una marcacin de los granos durante el conteo para
obtener una cuenta exacta. El mtodo de intercepcin no requiere marcacin para
obtener una cuenta exacta. Por esto, el mtodo de intercepcin es ms fcil de utilizar y
es ms rpido. Adems, la prueba de circuito de transmisin con retorno al punto de
origen mostr que el mtodo de intercepcin proporciona mejor precisin estadstica
para el mismo nmero de cuentas y es, por esto, el mtodo de medicin preferido.
Un metalgrafo individual usualmente puede repetir mediciones de tamao de grano de
planimtricas o de intercepcin dentro de +/-0.1 unidades de G. Cuando un grupo de
metalgrafos miden la misma probeta, la distribucin de los tamaos de grano
usualmente es mejor dentro de +/-0.5 unidades de G.

20.

Palabras Clave

20.1

Tamao de grano ALA; ndice de anisotropa; fraccin de rea; nmero de tamao de

grano ASTM; calibracin; granos equiaxiales; atacante; contorno de grano; granos;
tamao de grano; conteo de intercepcin; longitud de intercepcin; conteo de
interseccin; granos no equiaxiales; contornos gemelos.

E 112

ANEXOS
(Informacin Mandatoria)

A.1 BASES DE NMEROS DE TAMAOS DE GRANO ASTM

A.1.1 Descripcin de Trminos y Smbolos
A1.1.1 El trmino general tamao de grano comnmente es utilizado para designar clculos o
mediciones de tamao hechas en diversas maneras, empleando varias unidades de longitud,
rea o volumen. De los varios sistemas, solo el nmero de tamao de grano ASTM, G, es
esencialmente independiente del sistema de estimacin y unidades de medicin utilizadas. Las
ecuaciones utilizadas para determinar G a partir de las mediciones recomendadas, como lo
ilustra la Figura 6 y las Tablas 2 y 4, son proporcionadas en los anexos A1.2 y A1.3. Las
relaciones nominales entre las mediciones utilizadas comnmente son proporcionadas en el
anexo A2. Las mediciones que aparecen en estas ecuaciones, o en ecuaciones en el texto, son
como sigue:
A1.1.1.1 N = Nmero de secciones de grano contadas en un rea de prueba conocida, A, o
nmero de intercepciones contadas en una red de prueba de longitud conocida = L, a algn
aumento establecido, M. El promedio de cuentas en varios campos es designado como N.
A1.1.1.2 Despus de correccin para aumento, NA es el nmero de secciones de grano por
unidad de rea de prueba (mm2) a 1X; NL es el nmero de granos interceptados por unidad de
longitud de lneas de prueba (mm) a 1X; y PL es el nmero de intersecciones de contorno de
grano por unidad de longitud de lnea de prueba (mm) a 1X.
A1.1.1.3 = 1/NL = 1/PL donde es la longitud de intercepcin lineal media en mm a 1X.
A1.1.1.4 A = 1/NA donde A es el rea media de las secciones de grano (mm 2) a 1X. El dimetro
medio de grano, d, es la raz cuadrada de A. Los valores de tamao de grano en la Placa III
estn expresados en trminos de d. Ntese que la Tabla 2 lista el nmero de tamao de grano
ASTM equivalente para cada fotografa y para diversos aumentos.
A1.1.1.5 Las letras ,t y p son utilizadas como subndice cuando se determina el tamao de
grano de probetas con estructuras de grano no equiaxiales. Los tres subndices representan los
principales planos para probetas de barra rectangular, placa, hoja o lmina, esto es, las
superficies longitudinal (), transversa (t) y planar. Estas son mutuamente perpendiculares entre
ellas. En cada plano, hay dos direcciones principales que son perpendiculares entre ellas (como
se muestra en la Figura 7).
A1.1.1.6 El nmero de campos medidos es designado por n.
A1.1.1.7 Otras designaciones especficas son definidas por ecuaciones que se muestran a
continuacin
A1.2 Mtodos de Intercepcin:
A1.2.1 Unidades mtricas, en milmetros a 100X para tamaos de grano determinados
microscpicamente y m a 1X para tamaos de grano determinados macroscpicamente, son
utilizadas con la siguiente ecuacin relacionando o m con G. Para tamaos de grano
determinados macroscpicamente, m es en mm a 100X:
G = 2log2

0
m

(A1.1)

E 112
Para G = 0, 0 es establecido como 32.00 y log2 0 = 5.
G = + 10.0000 2 log2m

(A1.1a)

G = + 10.0000 6.6439 log10m

(A1.1b)

Para tamaos de grano determinados microscpicamente , es en milmetros a 1X y:

G = 3.2877 6.6439 log10

(A1.2)

G = 3.2877 + 2 log2 NL

(A1.2a)

G = 3.2877 + 6.6439 log10 NL

(A1.2b)

Si PL es determinado a diferencia de NL, sustituye PL a NL en las ecuaciones A1.2a y A1.2b.

A1.3 Mtodo Planimtrico:
A1.3.1 Unidades inglesas, NAE en nmero por pulgadas cuadradas a 100X para tamaos de
grano determinados microscpicamente y a 1X para tamaos de grano determinados
macroscpicamente, son utilizadas con las siguientes ecuaciones relacionando NAE con G:
G = 1.000 + log2 NAE

(A1.3)

G = 1.000 + 3.3219 log10 NAE

(A1.3a)

Si NA est expresado en trminos del nmero de granos por milmetros cuadrados a 1X, para
tamaos de grano determinados microscpicamente, entonces:
G = 2.9542 + 3.3219 log10 NA

(A1.3b)

A2. ECUACIONES PARA CONVERSIONES ENTRE VARIAS

MEDICIONES DE TAMAO DE GRANO
A2.1 Cambio de Aumento Si el aparente tamao de grano ha sido observado a aumento M,
pero determinado como si en el aumento bsico Mb (100X 1X), entonces el valor de tamao al
aumento bsico es como sigue:
A2.1.1 Conteo Planimtrico:
NA = NA0 (M/Mb)2

(A2.1)

donde NA0 es el nmero de granos por unidad de rea a un aumento de Mb.

A2.1.2 Conteo de Intercepcin:
Ni = Ni0 (M/Mb)2

(A2.2)

Donde Ni0 es el nmero de granos interceptados por la lnea de prueba (La ecuacin para Pi y
Pio es la misma) a aumento Mb.

E 112

A2.1.3 Cualquier longitud:

= 0Mb / M

(A2.2a)

donde 0 es la intercepcin lineal media a un aumento Mb.

A2.1.4 Nmero de Tamao de Grano ASTM:
G = G0 + Q
donde:
Q = 2 log2 (M / Mb)
= 2 (log2 M - log2 Mb)
= 6.6439 (log10 M log10 Mb)
donde G0 es el aparente nmero de tamao de grano ASTM a un aumento de Mb.

(A2.3)

A2.1.5 Granos por mm2 a 1X a partir de granos por pulg2 a 100X.

NA = NAE (100/25.4)2

(A2.4)

NA = 15.5 NAE

(A2.4a)

donde NA es el nmero de granos por mm2 a 1X y NAE es el nmero de granos por pulg2 a 100X.
A2.2 Otras mediciones mostradas en las tablas pueden ser computadas a partir de las
siguientes ecuaciones:
A2.2.1 rea de Grano Promedio:
A = 1/NA

(A2.5)

Donde A es el rea seccional promedio del grano.

A2.2.2 Extensin de Intercepcin de una Seccin de Grano Circular:
=

(A2.6)

La distancia media de intercepcin para granos poligonales vara acerca de este valor terico,
siendo disminuida por anisotropa pero aumentado por un rango de tamaos de seccin. La
extensin computada por la ecuacin (A2.6) es 0.52% ms pequea que la extensin asignada
a G por la ecuacin (A1.2) en A1.2.1 ( = +0.015 No. ASTM).
A2.3 Otras indicaciones tiles en cuanto a tamao son proporcionadas por las siguientes
ecuaciones:
A2.3.1 El dimetro volumtrico (espacial), D, de esferas de tamao similar en el espacio es:
D = 1.5

(A2.7)

E 112
Relaciones similares entre , determinadas en las dos superficies de pulido dimensionales, y el
dimetro espacial, D, han sido derivadas para una variedad de formas de grano potenciales, y
varios supuestos acerca de la distribucin de su tamao. Un nmero de frmulas, tales como la
ecuacin (A2.7), han sido propuestas con diferentes factores multiplicadores. Un a estimacin
razonable del dimetro espacial, D, basada en el modelo de forma tetracaidecaedro y una
funcin de distribucin de tamao de grano (8), es:
D = 1.571

(A2.7a)

A2.3.2 Para una microestructura de una fase, el rea de la superficie del contorno del grano por
unidad de volumen, SV, ha demostrado ser una funcin exacta de PL o NL:
SV = 2PL = 2NL

(A2.8)

Mientras para una microestructura de dos fases, el rea de la superficie del contorno de la fase
por unidad de volumen de la fase , SV , es:
SV = 2PL = 4NL

(A2.8a)

A3. TAMAO DE GRANO AUSTENTICO, ACEROS FRRICOS Y AUSTENTICOS

A3.1 Alcance
A3.1.1 Debido a que algunas veces es necesario someter el material a tratamientos especiales
o tcnicas para desarrollar ciertas caractersticas de grano antes de estimar el tamao de
grano, los detalles esenciales de estos tratamientos son detallados en las siguientes secciones.
A3.2 Establecer el Tamao de Grano Austentico
A3.2.1 Aceros Frricos Amenos que otra cosa se especifique, el tamao de grano austentico
deber ser establecido por uno de los siguientes procedimientos:
NOTA A3.1 La indicaciones de contenido de carbn en los encabezados del procedimiento
solo son de advertencia. Numerosos mtodos estn en uso para establecer el tamao de grano
austentico, y un conocimiento de la conducta de crecimiento y engrosamiento del grano es de
ayuda para decidir qu mtodo utilizar. El tamao de los granos austenticos, en cualquier acero
particular, depende primariamente de la temperatura a la cual este acero es calentado y el
tiempo que se mantiene a esta temperatura. Hay que recordar que la atmsfera en el
calentamiento puede afectar el crecimiento del grano y el exterior de la pieza. El tamao de
grano austentico es tambin influenciado por la mayora de los tratamientos previos a los
cuales el acero puede haber sido sujeto, por ejemplo, temperatura de austenitizado, templado,
normalizado, trabajo en caliente y trabajo en fro. Por esto es recomendable, cuando se prueba
el tamao de grano austentico, considerar los efectos anteriores o posteriores al tratamiento, o
ambos, en la pieza precisa (o pieza tpica) que esta bajo consideracin.
A3.2.1.1 Procedimiento de Correlacin (Aceros aleados y al Carbn) Las condiciones de la
prueba deberan correlacionarse con el actual ciclo de tratamiento trmico utilizado para
desarrollar las propiedades del servicio actual. Calentar las probetas a una temperatura no
mayor a 50F (28C) por encima de la temperatura normal del tratamiento trmico y por no ms

E 112
de 50% ms del tiempo normal para tratamiento trmico y bajo una atmsfera normal de
tratamiento trmico, los valores normales siendo aquellos mutuamente acordados. La
proporcin de enfriamiento depende del mtodo de tratamiento. Hacer la evaluacin
microscpica de acuerdo con la Tabla 1.
A3.2.1.2 Procedimiento de Carburizacin (Aceros aleados y al carbn; Carbn generalmente
por debajo de 0.25%) A este procedimiento generalmente se le conoce como Prueba
McQuaid-Ehn. A menos que otra cosa se especifique, carburizar las probetas a 1700 +/-25F
(927 +/-14C) por 8 horas o hasta que se obtenga un espesor de aproximadamente 0.050 pulg.
(1.27mm). El compuesto carburizador debe ser capaz de producir una capa hipereutectoide en
el tiempo y la temperatura especificados. Enfriar con el horno la probeta a una temperatura por
debajo del crtico ms bajo a una proporcin lo suficientemente lenta para precipitar la
cementita en los contornos del grano austentico de la zona hipereutectoide de la capa. Al
enfriar, seccionar la probeta para proporcionar una superficie de corte fresco, pulida y atacar
adecuadamente para revelar el tamao de grano de la zona hipereutectoide de la capa. Hacer
una evaluacin microscpica de acuerdo con la Tabla 1. Mientras la prueba McQuaid-Ehn fue
designada para evaluar las caractersticas de crecimiento del grano de metales destinados para
aplicaciones carburizadoras, usualmente aceros con <0.25% de carbn, frecuentemente es
utilizada para evaluar aceros con mayor contenido de carbn que no van a ser carburizados.
Debe reconocerse que el tamao de grano de tales aceros cuando son tratados trmicamente a
temperaturas austenticas por debajo de los 1700F puede ser ms fino en tamao que aquel
obtenido por la prueba McQuaid-Ehn.
A3.2.1.3 Procedimiento de Prctica Carburizante El tratamiento trmico descrito en el punto
A3.2.1.2 es desarrollado pero no es utilizada una atmsfera carburizadora y la probeta debe
estar templada a partir de la temperatura de prctica carburizante a una velocidad lo
suficientemente rpida para formar martensita, en vez ser enfriado lentamente despus de la
carburizacin. La probeta es seccionada (para prever que se queme es requerido un cuidadoso
corte abrasivo), pulida y atacada con un reactivo que revelar los contornos de grano
austentico (como puede ser cido pcrico acuoso saturado con un agente hmedo, ver Prctica
E 407). La prctica carburizante algunas veces es preferida porque la profundidad de la capa
carburizada producida por la prueba McQuaid-Ehn puede ser bastante delgada con algunos
aceros. Con una probeta carburizada, todos los granos de la seccin pueden ser examinados.
Problemas tales como tamao de grano asociado, los granos dplex o ALA (Ver Mtodos de
Prueba E 1181) son detectados ms fcilmente con una probeta carburizada debido al rea
mucho ms amplia que se examina.
A3.2.1.4 Aceros Hipereutectoides (Aceros al carbn y aleados 0.25 a 0.60% Carbn) A menos
que otra cosa se especifique, caliente las probetas de aceros con contenido de carbn de
0.35% o menos a 1625 +/- 25F (885 +/- 14C); caliente las probetas de aceros con contenido
de carbn de 0.35% a 1575 +/- 25F (857 +/- 14C) por un mnimo de 30 minutos y enfrelas al
aire o templada en agua. Los aceros al carbn ms altos en este rango y aleaciones de acero
aproximadamente por arriba de 0.40% de carbn pueden requerir un ajuste en la prctica de
enfriamiento para delinear claramente los contornos del grano austentico con ferrita. En tales
casos se recomienda que despus de mantener la probeta por el tiempo requerido a una
temperatura de endurecimiento, la temperatura sea reducida aproximadamente a 1340 +/- 25F
(727 +/- 14C) por 10 minutos, seguido de templado con agua o aceite. Cuando este fresca,
seccione la probeta para proporcionar una superficie de corte fresco, pulida y atacar
adecuadamente para revelar el tamao de grano austentico como se deline por la ferrita
precipitada en los contornos del grano. Haga el examen microscpico de acuerdo a la Tabla 1.
A3.2.1.5 Procedimiento de Oxidacin (Aceros al carbn y aleados a 0.60% Carbn) Pulir una
de las superficies de la probeta (un abrasivo de aproximadamente grano 400 o 15m). Coloque
la probeta con el lado pulido hacia arriba en un horno, y, a menos que otra cosa se especifique,

E 112
caliente a 1575 +/- 25F (857 +/- 14C) por una hora y temple en agua fra o salmuera. Pulir la
probeta templada para revelar el tamao de grano austentico como se desarroll en la
superficie oxidada. Hacer el examen microscpico de acuerdo a la Tabla 1.
A3.2.1.6 Aceros de Endurecimiento Directo (Acero al carbn y aleaciones; Carbn
generalmente por debajo de 1.00%) A menos que otra cosa se especifique, calentar las
probetas de acero con un contenido de carbn de 0.35% o menos a 1625 +/- 25F (885 +/14C); calentar las probetas de acero con un contenido de carbn mayor a 0.35% a 1575 +/25F (857 +/-14C) por suficiente tiempo y templado a una proporcin para producir
endurecimiento total. Pulir la probeta templada y atacarla para revelar la estructura martenstica.
Revenir por 15 minutos a 450 +/-25F (232 +/-14C) antes del ataque mejora el contraste. Hacer
el examen microscpico de acuerdo con la Tabla 1.
A3.2.1.7 Aceros Hipereutectoides (Acero al carbn y aleaciones; Carbn generalmente por
arriba de 1.00%) Utilizar una probeta de aproximadamente 1 pulgada (25.4mm) de dimetro o
una pulgada cuadrada para esta prueba. A menos que otra cosa se especifique , caliente la
probeta a 1500 +/-25F (816 +/- 14C) por un tiempo mnimo de 30 min., y enfriar con horno a
una temperatura por debajo de la temperatura crtica ms baja a una proporcin lo
suficientemente lenta para precipitar la cementita en los contornos del grano austentico.
Cuando est fro, seccionarla la probeta para proveer una superficie de corte fresco, pulirla y
atacarla adecuadamente para revelar el tamao de grano austentico como se deline por
cementita precipitada en los contornos del grano. Hacer el examen microscpico de acuerdo a
la Tabla 1.
A3.2.2 Aceros austenticos Con materiales austenticos, el tamao de grano actual del metal
ha sido establecido por tratamiento trmico anterior.
A3.3 Revelando el Tamao de Grano
A3.3.1 Aceros Frricos Para revelar el tamao de grano austentico generalmente se utilizan
los siguientes mtodos (ver Nota A3.1):
A3.3.1.1 Delinear los granos con cementita En la zona hipereutectoide de un procedimiento
de carburizado (Prueba McQuaid-Ehn) o en aceros hipereutectoides enfriados desde la
condicin austentica, el tamao de grano austentico es delineado por la cementita que es
precipitada en los contornos de grano. Por eso es posible calcular el tamao de grano
atacando la probeta microgrfica con un atacante adecuado,10 tal como nital, picral o picrato de
sodio alcalino.
A3.3.1.2 Delinear los granos con ferrita En la zona hipereutectoide de una probeta
carburizada, el tamao de grano austentico es delineado por la ferrita precipitada en los
contornos del grano. La ferrita delinea similarmente los granos austenticos formadores en
acero al medio carbn (aproximadamente 0.50% de carbn), cuando ha sido enfriado
lentamente desde el rango austentico. En aceros de poco carbn (aproximadamente 0.20% de
carbn), enfriar lentamente desde el rango austentico hasta la temperatura del cuarto, la
cantidad de ferrita es tan grande que el tamao de grano austentico formador es cubierto; en
este caso, el acero puede ser enfriado lentamente a una temperatura intermedia, para permitir
solamente una pequea cantidad de ferrita para precipitar, seguido de templado en agua; un
ejemplo sera una pieza previamente calentada a 1675F (913C), transferido a un horno a
entre 1350 y 1450F (732 A 788C), mantenido a esta temperatura por probablemente 3 a 5
minutos y entonces templado en agua, el tamao de grano austentico sera revelado por
pequeos granos de ferrita delineando los granos de martensita de bajo carbn.

10

Ver prctica E 407

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A3.3.1.3 Delinear los granos por oxidacin El mtodo de oxidacin, depende del hecho de
que cuando los aceros son calentados en una atmsfera oxidante, la oxidacin sucede
preferentemente a lo largo de los contornos del grano. Un procedimiento comn, entonces, es
pulir la probeta de prueba a un pulido metalogrfico, calintela al aire a la temperatura deseada
por el periodo de tiempo deseado, y entonces vuelva a pulir ligeramente la probeta solamente
para remover escamas; de esta manera los contornos de grano austentico son visibles al ser
delineados por oxido.
A3.3.1.4 Delineando los granos de martensita con perlita fina Un mtodo aplicable
particularmente para aceros eutectoides, que no puede ser juzgado tan rpidamente por otros
mtodos, es ya sea para endurecer una barra de tal tamao que est completamente
endurecida en el exterior pero no totalmente endurecida en el interior, o para emplear un
templado en declive en el cual la pieza calentada est con una porcin de su longitud inmersa
en agua y por esto completamente endurecida, el sobrante de la pieza que queda afuera de la
tina de templado no est endurecida. En cualquier mtodo habr una pequea zona que est
casi pero no totalmente endurecida. En esta zona, los granos austenticos integradores
consistirn en granos de martensita rodeados de pequeas cantidades de perlita fina, esto
revelar el tamao del grano. Estos mtodos tambin son aplicables para aceros un poco ms
altos o ms bajos de los de composicin eutectoide.
A3.3.1.5 Ataque de Granos de Martensita El tamao de grano austentico formador puede ser
revelado en aceros completamente endurecidos para martensita utilizando un atacante reactivo
que desarrolla el contraste entre los granos de martensita. Ponerlo en revenido por 15 minutos
a 450F (232C) antes de atacar, mejora distintivamente el contraste. Un reactivo que ha sido
recomendado es 1 gr. de cido pcrico, 5 mL de HCl (especficamente gr. 1.19), y 95 mL de
alcohol etlico. Un mtodo alterno es utilizar un atacante que revele preferentemente los
contornos del grano austentico. Muchos atacantes han sido desarrollados para este propsito
(ver prctica E 407 y libros de texto estndar). El ms exitoso consiste en cido pcrico en
estado acuoso saturado conteniendo un agente humectante, usualmente sulfato tridecilbenceno
de sodio (la versin dodecil tambin trabaja bien). Las probetas deberan estar en condiciones
parecidas al templado, o revenido no por encima de 1000F. El xito con este atacante depende
de la presencia de fsforo en la aleacin (>0.005% de P requerido), Los resultados pueden
remarcarse reviniendo el acero entre 850 y 900F por ocho horas o ms para llevar al fsforo a
los contornos del grano. Para aceros con adiciones de aleacin sustanciales, puede ser
necesario aumentar unas pocas gotas de cido clorhdrico al atacante (por 100 mL de
atacante). El ataque usualmente toma al menos 5 minutos. El atacante atacar las inclusiones
de sulfuro. Volver a pulir ligeramente la probeta sobre una rueda estacionaria para remover
algn detalle de fondo sin importancia puede hacer ms fcil ver los contornos de grano.
A3.3.2 Aceros Austenticos Para revelar el tamao de grano en materiales austenticos,
debera usarse una tcnica adecuada de ataque para desarrollar el tamao de grano.
Reconociendo que los gemelos tienden a hacer confusa la lectura de tamao de grano, el
ataque debera ser tal que sea evidente solo un mnimo de gemelos.
A3.3.2.1 Material Estabilizado La probeta, como el nodo, puede ser atacada
electrolticamente en una solucin de agua compuesta por un volumen de 60% de cido ntrico
concentrado a temperatura ambiente. Para minimizar la aparicin de gemelos, debera utilizarse
un voltaje bajo (1 a 1 V). Este atacante tambin es recomendado para revelar los contornos
de grano de ferrita en aceros inoxidables frricos y es utilizado idnticamente.
A3.3.2.2 Materiales no estabilizados El contorno de grano puede ser desarrollado a travs de
precipitacin de carburos por calentamiento dentro del rango de temperatura sensibilizante,
482 a 704C (900 1300F). Debera utilizarse cualquier atacante revelador de carburo.

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A3.4 Reportando el tamao de grano
A3.4.1 Aceros Frricos Cuando se observen estructuras de tamaos de grano mezclados o
dplex (ver Mtodos de Prueba E 1181), debern ser reportadas con dos rangos
representativos de nmeros de tamao de grano. Siempre que se empleen otros tratamientos
trmicos distintos al procedimiento de carburizado (Prueba McQuaid-Ehn), deber hacerse un
reporte completo que incluya:
A3.4.1.1 Temperatura utilizada al establecer el tamao de grano
A3.4.1.2 Tiempo y temperatura utilizados en establecer el tamao de grano
A3.4.1.3 Mtodo de revelado de tamao de grano, y
A3.4.1.4 Tamao de grano
A3.4.2 Aceros Austenticos Al determinar el tamao de granos austenticos, los contornos
gemelos dentro de un grano no debern ser contados.
A4. MTODO DE FRACTURA PARA DETERMINAR EL TAMAO DE GRANO 11
A4.1 El mtodo fractura para determinar el tamao de grano, desarrollado por Arpi (9) y
Shepherd (2), emplea series graduadas de diez probetas fracturadas para estimar el tamao de
grano austentico de probetas de acero (ver nota al pie 11 para materiales aplicables) por
comparacin. Para casos carburizados de aceros al carbn o aleados tambin podr ser
evaluado el tamao de grano austentico por este mtodo (pero no los de ncleo bajo en
carbn).
A4.2 Las diez probetas fracturadas son numeradas del uno al diez donde los nmeros
corresponden a los nmeros de tamao de grano ASTM. La muestra a ser evaluada es
fracturada, usualmente transversalmente a la direccin de trabajo caliente, y la fractura es
comparada a las diez fracturas de prueba de las series Shepherd. 12 La apariencia de la fractura
de la probeta es comparada al nmero entero de la norma ms cercano, pero es permitido
utilizar medios nmeros. Tambin es posible detectar condiciones dplex cuando la fractura
exhibe dos diferentes patrones de fractura.
A4.3 Las probetas pueden ser fracturadas golpeando el extremo libre, mientras se detiene el
otro extremo, o por flexin de tres puntos utilizando un prensador o una mquina tensadora
(cargada en compresin) o cualquier otro mtodo adecuado. El muescado de las probetas o la
refrigeracin antes de la fractura, o ambas, ayudan a asegurar una fractura plana. Para mayor
informacin ver Vander Voort (10).
A4.4 La probeta a ser examinada debe ser predominantemente martenstica aunque grandes
cantidades de austenita contenida no invalidan los resultados. Cantidades apreciables de
carburo residual tambin son permitidas. Sin embargo, la difusin controlada de productos de
transformacin tales como bainita, perlita o ferrita si est presente en ms de un pequeo
porcentaje, cambia la naturaleza de la apariencia de la fractura e invalida los clculos de
tamao de grano por fractura. El revenido excesivo en estructuras de acero de herramienta
martenstico tambin altera la apariencia de la fractura e invalida los clculos de tamao de
grano por fractura. Los clculos son ms precisos para probetas en condiciones parecidas al
templado o ligeramente revenidas. Estructuras frgiles y planas son deseadas para obtener la
mayor precisin.
11

Este mtodo es aplicable solo para aceros frgiles de alta dureza, con microestructura
predominantemente martenstica, tales como aceros para herramientas, aceros altos en carbn y aceros
inoxidables martensticos, y debera realizarse con la probeta en condicin parecida al templado o
ligeramente revenida.
12
Para aquellos que no posean una norma de las Series Shepherd, est disponible una reproduccin
fotogrfica por parte de la oficina general de ASTM. Ordene 12-5011124-23.

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A4.5 Estudios han mostrado que los clculos de tamao de grano por fractura en aceros de
herramienta en condiciones parecidas a templado completamente endurecidos se correlacionan
bien con clculos de tamao de grano austentico medidos microscpicamente. Para la mayora
de los aceros de herramienta, el clculo de tamao de grano por fractura ser dentro de +/-1
unidad del nmero de tamao de grano austentico determinado microscpicamente, G.
A4.6 El mtodo de tamao de grano por fractura no puede ser utilizado para determinar
tamaos de grano ms finos de diez. Las fracturas de probetas con tamao de grano
austentico ms fino de diez no pueden ser discriminadas con la vista y sern evaluadas como
si fueran un tamao de grano diez. Las fracturas ms gruesas que un nmero de tamao de
grano de uno aparentarn ser ms gruesas de uno pero no podrn ser examinadas
precisamente por este mtodo.
A5. REQUERIMIENTOS PARA ALEACIONES DE COBRE FORJADO Y A BASE DE COBRE
A5.1Para productos de aleaciones de cobre forjado y a base de cobre bajo jurisdiccin del
comit B-5 en Cobre y aleaciones de cobre, es mandatorio que los siguientes procedimientos
sean seguidos:
A5.1.1 La probeta deber ser preparada de acuerdo con la prctica E 3.
A5.1.2 La probeta utilizada para el mtodo de comparacin deber ser atacada al contraste y
comparada con la placa III, o si es ataque plano, con la placa II.
A5.1.3 El tamao de grano deber ser expresado como el dimetro de grano promedio en
milmetros; por ejemplo, dimetro de grano promedio 0.025-mm. El significado de esta
expresin es el dimetro de seccin de cruce de granos que caen dentro del plano del metal
siendo examinado.
A5.1.4 Los tamaos de grano mezclados (ver mtodos de prueba E 1181) son algunas veces
encontrados, particularmente en metal trabajado en caliente. Estos debern ser expresados
dando los porcentajes de rea que se estima estn ocupados por los dos rangos de tamaos.
Por ejemplo, 50% de 0.015 mm; y 50% de 0.070 mm; o, si existe un rango, 40% de 0.010 a
0.020 mm; y 60% de 0.090 a 0.120 mm.
A5.1.5 La determinar el cumplimiento de los requerimientos de tamao de grano con los lmites
especificados, el valor estimado deber ser redondeado de acuerdo con:
Tamao de Grano
Arriba de 0.055 mm, incl
Encima de 0.055 mm

Valor calculado u observado al cual el tamao de

grano debera ser aproximado
Al mltiplo ms cercano de 0.005 mm
Al ms cercano a 0.010

A6. APLICACIN A SITUACIONES ESPECIALES

A6.1 Numerosas prcticas especficas para la medicin del tamao de grano se han venido
estableciendo en varios segmentos de las industrias de los metales y materiales. El presente
listado de mtodos estndar no intenta denotar que cualquiera de tales prcticas especficas
debera ser abandonada cuando la experiencia ha demostrado que esa prctica es adecuada
para la aplicacin determinada. Es. Sin embargo, altamente recomendado que el procedimiento
estadstico de la seccin 15 sea aplicado a los datos de estas prcticas tradicionales en busca
de asegurar que ellos alcanzan un lmite de confianza que es adecuado para los requerimientos
actuales.

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A6.2 Es caracterstico de muchas prcticas especiales que reportan un resultado numrico que
no est convenientemente relacionado a las escalas utilizadas comnmente tales como las
mostradas en la Tabla 4. El uso continuo de nmeros habituales es justificado en los campos
que ya sea tienen un significado inherente en su propia comunidad, o que han adquirido
significado a lo largo del uso. Es, sin embargo, altamente recomendado que tales mediciones
sean hechas comprensibles a una audiencia ms amplia primero por reexpresin de una de las
escalas mtricas preferidas (como se utiliza en la Tabla 4), y despus por conversin a los
nmeros de tamao de grano ASTM correspondientes. Cuando las mediciones originales
representan alguna forma de intercepcin o conteo planimtrico puede decirse que el nmero
de tamao de grano ASTM ha, de hecho, sido determinado. Cuando los datos originales son de
una naturaleza diferente, debera establecerse que la medicin es equivalente al nmero de
tamao de grano ASTM X. Las conversiones pueden ser hechas ya sea por la Tabla 4 o a
travs de las relaciones mostradas en los anexos A1 y A2.
A6.3 Ejemplos:
A6.3.1 Ejemplo 1 El procedimiento Snyder y Graff (11) continua, en el uso general, para la
estimacin del tamao de grano austentico en aceros de herramienta. Esta es una versin
especfica del mtodo de intercepcin de Heyn (ver punto 13.1) en el cual el nmero reportado
es el nmero promedio de intercepciones con una lnea de prueba de 5 pulgadas (127
mm)aplicada a una imagen a 1000X. Este conteo es ms til inmediatamente que el mismo
nmero de tamao de grano ASTM, ya que los cambios importantes de calidad estn asociados
con un cambio de aproximadamente dos nmeros de tamao de grano ASTM, cuya diferencia
no es bien resuelta sobre la escala de tamao logartmica o por los mtodos de comparacin y
planimtrico. El nmero de Tamao Snyder y Graff se volver significativo para otros
multiplicndolo por el factor 7.874 para producir NL por milmetro, despus del cual la Tabla 4
indicar, por ejemplo, que el No. 15 S&G es el Nmero de Tamao de Grano ASTM 10.5.
Adems, como la precisin de esta prctica no alcanza 2% de la cuenta, la lnea de prueba de 5
pulgadas (127 mm) podra ser remplazada por una lnea de prueba de 125 mm sin invalidar los
registros anteriores, haciendo el multiplicar 8.0, con lo cual el conteo total de intercepciones en
ocho lneas de prueba iguala NL directamente. La evaluacin del lmite de confianza en la
seccin 15 puede ser aplicado a lneas de prueba individuales, o a totales en nmeros fijos de
lneas en cada lnea local.

ANEXOS
(Informacin no Mandatoria)
X1. RESULTADOS DE DETERMINACIONES DE TAMAO DE GRANO
INTERLABORATORIO13
X1.1 El programa de prueba interlaboratorio fue conducido para desarrollar las estimacin de
precisin y desviacin para la medicin de tamao de grano por el mtodo de comparacin
grfica, por el mtodo planimtrico y por el mtodo de intercepcin.

X1.2 Procedimiento
13

Los datos de apoyo han sido guardados en las oficinas generales de ASTM y pueden ser obtenidas por
requerimiento RR:E 04-1005.

E 112

X1.2.1 Fotomicrografas (8 por 10 pulgadas) de dos aceros inoxidables ferrticos diferentes,

cuatro de una probeta a diferentes aumentos y tres de otra probeta a diferentes aumentos,
fueron evaluadas para tamao de grano utilizando el mtodo de grfica con la placa I, y con el
mtodo planimtrico y de intercepcin. Un dibujo de los contornos del grano de una probeta de
acero de manganeso Hadfields austentico, con ataque de contraste de grano, tambin fue
evaluado por los tres mtodos. Un nmero de otras micrografas fueron evaluadas solo por el
mtodo de comparacin. En cada caso, los contornos de grano estaban delineados clara y
completamente.
X1.2.2 Para el mtodo planimtrico, a cada evaluador se le dio un escantilln de plstico
transparente de 8 por 10 pulgadas con cinco crculos de prueba de 78.9 mm de dimetro y un
lpiz de grasa. Para el mtodo de intercepcin, a cada evaluador se le dio un escantilln de tres
crculos.
X1.2.3 Para el mtodo planimtrico, el escantilln fue colocado en la fotografa y ajustado para
evitar el movimiento. Debido a que la rejilla de crculos y la micrografa eran casi del mismo
tamao, la colocacin de la rejilla debera ser ms bien consistente entre los evaluadores. Par
el mtodo de intercepcin, los evaluadores colocaron su rejilla en la micrografa cinco veces al
azar. Fue asumido que esta diferencia en el mtodo de colocacin reducira la variabilidad del
mtodo planimtrico relativa al mtodo de intercepcin.
X1.3 Resultados
X1.3.1 Las figuras X1.1 y X1.2 muestras las evaluaciones de tamao de grano para los dos
aceros inoxidables ferrticos, identificadas como Series A y B, como una funcin del aumento de
los micrgrafos, para los mtodos planimtrico y de intercepcin. Tres personas tambin
hicieron mediciones de anlisis de imagen de las imgenes. Como puede ser visto, la
dispersin ms ajustada ocurri, para ambos juegos de micrografas, a un aumento de 400X
donde el conteo de grano promedio por medicin planimtrica fue cerca de 30 a 35 y el nmero
de intercepciones promedio fue cerca de 40 a 50 para la aplicacin de tres crculos.

Aumento de Micrografa
Planimtrico

Intercepcin Anlisis de Imagen

Figura X1.1 Mediciones de tamao de grano para las series A de Probetas de Acero
Inoxidable Ferrtico.

E 112

Aumento de Micrografa
Planimtrico

Intercepcin Anlisis de Imagen

Figura X1.2 Mediciones de tamao de grano para las series B de Probetas de Acero
Inoxidable Ferrtico.

% de Exactitud Relativa

Mtodo Planimtrico

No. de Granos Contados

NOTA Los resultados del anlisis de imagen para las mismas micrografas
Figura X1.3 Relacin entre el nmero de granos contados y el porcentaje de exactitud
relativa para el mtodo planimtrico.

E 112
% Exactitud Relativa

Mtodo de Intercepcin

No. de Intercepciones Contadas

NOTA: Los resultados del anlisis de imagen para las mismas micrografas

Intercepcin G

Figura X1.4 Relacin entre el nmero de intercepciones o intersecciones contadas y el

porcentaje de exactitud relativa para el mtodo de intercepcin.

Planimtrico G
Figura X1.5 Comparacin de las mediciones de tamao de grano para cada micrografa
por cada operador los mtodos planimtrico y de intercepcin.

E 112

Comparacin G

Aumento que se asume ser 100X

Planimtrico G
NOTA: Trazos por cada evaluador y se asume que las micrografas son a un aumento de 100X.
Los datos, generalmente, caen de un lado de la lnea de tendencia uno a uno indicando una
desviacin.
Figura X1.6 Trazo de los valores de la grfica de comparacin para cada micrografa
contra el valor del mtodo planimtrico para cada micrografa.

Comparacin G

Aumento que se asume ser 100X

Intercepcin G

Figura X1.7 Trazo de los valores de la grfica de comparacin para cada micrografa
contra el valor del mtodo de intercepcin es un mtodo ms eficiente.

E 112
X1.3.2 Las figuras X1.3 y X1.4 muestran como el porcentaje de exactitud relativa de las
mediciones vari con el nmero granos contados, Figura X1.3, y con el nmero de
intercepciones o intersecciones contadas, Figura X1.4. Todos los datos de medicin estn
incluidos. Note que un porcentaje de RA de 10%, o menos, es obtenido cuando cerca de 700 o
ms granos son contados por el mtodo planimtrico o cuando cerca de 400 intersecciones de
contorno de grano o intercepciones de grano son contadas por el mtodo de intercepcin.
Debido a que los granos deben ser marcados en el escantilln cuando son contados para
asegurar la precisin del conteo en el mtodo planimtrico, mientras que el marcado no es
necesario para el mtodo de intercepcin, est claro que el mtodo de intercepcin es un
mtodo ms eficiente.
X1.3.3 Las tablas X1.1 y X1.2 listan los resultados del anlisis de repetitibilidad y
reproducibilidad de acuerdo a la prctica E 691. En general, el mtodo de intercepcin super al
mtodo planimtrico en este estudio.
X1.3.4 La Figura X1.5 muestra un trazo del mtodo planimtrico contra el valor de tamao de
grano interceptado para cada micrografa por cada evaluador. Note que los datos estn
dispersos aleatoriamente alrededor de la lnea de tendencia uno a uno. Esto indica que no hubo
desviacin en las mediciones de tamao de grano por ningn mtodo.
X1.3.5 Cada micrografa que fue evaluada por tamao de grano podra ser considerada en dos
formas, primero, como un valor para el aumento verdadero de la micrografa, y segundo, para
un valor como si el aumento de la micrografa fuera 100X. Para evaluacin del mtodo de
comparacin, se asumi que cada micrografa estaba a 100X. Los datos de intercepcin y
planimtricos tambin fueron computados utilizando esta suposicin. Las Figuras X1.6 y X1.7
muestran los trazos de los valores de la grfica de comparacin contra los valores de
planimtrico y del de intercepcin, asumiendo que todas las micrografas estaban a 100X. Note
que los datos no estn dispersos aleatoriamente alrededor de la lnea de tendencia uno a uno.
Esto muestra claramente que las desviaciones que ocurren en los valores de comparacin de la
grfica, fueron tpicamente 0.5 a 1 unidad G ms abajo, ms gruesos, que las mediciones
planimtricas y de intercepcin. El origen de esta desviacin est bajo estudio.
TABLA X1.1 Resultados del circuito de transmisin con retorno al punto de origen
de Tamao de Grano ASTM (Mtodo Planimtrico)
Imagen

No./mm2

ASTM G

No. promedio

Repetibilidad
95% CL

Reproducibilidad
95% CL

Repetitibilidad
% RA

Reproducibilidad
% RA

TABLA X1.2 Resultados del circuito de transmisin con retorno al punto de origen
de Tamao de Grano ASTM (Mtodo de Intercepcin)
Imagen

No./mm2

ASTM G

No. promedio

Repetibilidad
95% CL

Reproducibilidad
95% CL

Repetitibilidad
% RA

Reproducibilidad
% RA

E 112
X2. ADJUNTOS REFERENCIADOS
X2.1 La siguiente es una lista completa y actualizada de adjuntos de referencia para los
Mtodos de Prueba E 112. Todos los adjuntos estn disponibles en ASTM.
Adjunto:
Combinacin de 19 componentes
Combinacin de Placas I, II, III y IV
Solo Placa I
Solo Placa II
Solo Placa III
Solo Placa IV
Combinacin de transparencias (Placa I) 00 a 10
Transparencia, Tamao de grano 00
Transparencia, Tamao de grano 0
Transparencia, Tamao de grano 0.5
Transparencia, Tamao de grano 1.0
Transparencia, Tamao de grano 1.5
Transparencia, Tamao de grano 2.0
Transparencia, Tamao de grano 2.5
Transparencia, Tamao de grano 3.0, 3.5 y 4.0
Transparencia, Tamao de grano 4.5, 5.0 y 5.5
Transparencia, Tamao de grano 6.0, 6.5 y 7.0
Transparencia, Tamao de grano 7.5, 8.0, 8.5
Transparencia, Tamao de grano 9.0, 9.5 y 10.0

Orden PCN
12-501120-28
12-501121-28
12-501120-10
12-501120-20
12-501120-30
12-501120-40
12-501122-11
12-501121-12
12-501121-13
12-501121-14
12-501121-15
12-501121-16
12-501121-17
12-501121-18
12-501121-19
12-501121-20
12-501121-21
12-501121-22
12-501121-23

Solo Figura 5

12-501123-85

Solo Figura 6
Reproduccin de las Series Shepherd

12-501123-86
12-501124-23
REFERENCIAS

(1) Hull, F.C., Transacciones, Un nuevo mtodo para hacer clculos rpidos y precisos de
tamao de grano, Instituto Americano de Ingeniera Metalrgica y Minera, Vol. 172, 1947,
pag. 439.
(2) Shepherd, B.F., La caracterstica del acero P-F, Transacciones, Instituto Americano de
Ingeniera Metalrgica y Minera, Vol. 22, Diciembre de 1934, pag. 979-1016
(3) Jeffries, Z., Kline, A.H., y Zimmer, E.B., La determinacin del tamao de grano promedio en
metales, Transacciones, Instituto Americano de Ingeniera Metalrgica y Minera, Vol. 54,
1917, pag. 594-607
(4) Heyn, E., Reportes cortos del Laboratorio Metalrgico del Instituto de Mecnica y Pruebas
Royal de Charlottenburg, Metalgrafo, Vol. 5, 1903, pag. 37-64.
(5) Underwood, E.E., y Coons, W.C., El rol de la estereologa en la deformacin de gemelos,
Deformacin de gemelos, Gordon y Breach, Nueva York, 1965, pag. 405-429.
(6) Hilliard, J., Estimacin del tamao de grano por el mtodo de intercepcin, Proceso de
metal, Vol. 85, Mayo de 1964.
(7) Abrams, H., Medicin de tamao de grano por el mtodo de intercepcin, Metalografa,
Vol. 4, 1971, pag. 59-78.

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(8) Mendelson, M.I., Tamao de grano promedio en cermicas policristalinas, Sociedad
Americana de Cermica J., Vol. 52., Agosto de 1969, pag. 443-446.
(9) Arpi, R., La prueba de fractura como se usa para metal de herramienta en Suecia,
Metalurgia, Vol. 11, No. 65, Marzo de 1935, pag. 123-127.
(10) Vander Voort, G.F., Medicin del tamao de grano, Aplicaciones prcticas de
metalografa cuantitativa, ASTM STP 839, 1984, pag. 85.181.
(11) Snyder, R.W., y Graff, H.F., Estudio de tamao de grano en endurecido de alta velocidad,
progreso de metal, Vol. 33, 1938, pag. 377-380.
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