LABORATORIUM

ELEKTROTECHNIKI

Rok akad.
2015/2016

Rodzaj
studiw:
MT_SI

I NAPDW
Temat wiczenia:
Badanie zjawisk rezonansowych
w obwodach elektrycznych

Skad sekcji:

Kierunek: AiR
Semestr: V
Grupa: 1
Sekcja: 1

1.Martyna Kolarczyk
2.Mateusz Kosior
3.Elbieta Kamierczak
4.Oriana Gramatyka
5.Pawe Kaszuba

Prowadzcy:
dr in. Anna Piwowar

Data wykonania:

Data oddania:

Ocena:

Podpis:

19.10.2015

str.

str.

XL[Ohm]

XC[Ohm]

R[Ohm]

Z[Ohm]

XL[Ohm]

XC[Ohm]

R[Ohm]

Z[Ohm]

4000

1500

4000

1500

1250

375

1250

375

300

900

150

300

800

150

400

866,667

100

384,615

769,231

115,385

538,462

589,744

25,641

38,462

565,217

608,696

86,957

65,217

536,585

560,976

48,78

36,585

565,217

608,696

130,435

65,217

523,81

547,619

47,619

35,714

541,667

583,333

125

62,5

534,884

534,884

46,512

34,884

541,667

583,333

125

62,5

522,727

522,727

45,455

34,091

541,667

583,333

125

62,5

522,727

522,727

45,455

34,091

583,333

583,333

125

62,5

522,727

522,727

45,455

34,091

583,333

583,333

125

62,5

522,727

522,727

45,455

34,091

583,333

583,333

125

62,5

545,455

522,727

45,455

34,091

583,333

583,333

125

62,5

551,724

517,241

45,977

34,483

583,333

583,333

125

62,5

551,724

505,747

45,977

34,483

583,333

583,333

125

62,5

534,884

500

46,512

34,884

583,333

541,667

125

62,5

541,176

494,118

23,529

35,294

595,745

531,915

127,66

63,83

517,647

470,588

23,529

35,294

636,364

522,727

90,909

68,182

552,632

460,526

26,316

39,474

666,667

476,19

95,238

71,429

571,429

428,571

42,857

684,211

473,684

105,263

78,947

640

400

60

685,714

457,143

57,143

85,714

1000

300

150

800

300

150

1200

300

1200

300

R1=26 [Ohm]
R2=85 [Ohm]

str.

Wykresy zalenoci pomidzy czstotliwoci , a prdem :

R1

R2

str.

Wykresy XL , XC , Z dla wartoci rezonansowej = R i 2R :

R1 -

R2 -

str.

Wykresy napi na oporniku, cewce i kondensatorze :

R1 -

R2

str.

Wnioski z wykresw
Mona zaobserwowa e wraz ze zwikszaniem si czstotliwoci, a do wartoci
krytycznej f0 = 2500 [Hz] zwiksza si warto prdu, a nastpnie maleje do wartoci
zerowej. Porwnujc wykresy wida, e mniejsza rezystancja, pozwala na uzyskanie blisko
dwukrotnie wyszych wartoci (8,7) prdu ni w przypadku jej podwojenia czyli dla 2R
(wynosi ona 4,8). Natomiast czstotliwo rezonansowa nie zmienia si i pozostaje przy
wartoci 2500 [Hz].
Obserwujc wykresy, zauway mona e reaktancja pojemnoci(X C) i reaktancja
indukcyjnoci (XL) przecinaj si dokadnie w miejscu czstotliwoci rezonansowej czyli w
punkcie = 2500 [kHz]. Warto parametru XC wraz ze wzrostem czstotliwoci cigle maleje,
a niewielki skok jaki zaobserwowano przy f = 2750 [kHz] musi by bdem pomiarowym
wynikajcym z maej dokadnoci dziaek pomiarowych. Warto Reaktancji indukcyjnoci
wraz ze wzrostem czstotliwoci cigle ronie. Jeeli chodzi o modu impedancji (Z) to
mona go opisa funkcj zblion do 1/x.
Jeli chodzi o wykresy napi od razu mona zauway , e rezystancja mocno
wpywa na napicia. Przy dwukrotnie wikszej rezystancji obserwujemy spadki napi o
blisko poow , w przypadku napicia na oporniku jest to stosunek 2/3 , dla napicia na
kondensatorze i cewce ten stosunek jest zbliony i wynosi okoo 3/5.
Mona zauway e napicia na cewce i kondensatorze s bardzo podobne, oba maj
tak sam amplitud , dla R1 = R wynosi ona 4,8 [V], a dla R2=2*R wynosi 2,8[V]. Jedyn
rnic jest fakt, e Uc jest zauwaalne przy mniejszej czstotliwoci, ale rwnie szybciej
dy do 0 po uzyskaniu progu krytycznego (czstotliwoci rezonansowej). Wzrost napicia na
oporniku, zaobserwowa mona dopiero przy okoo czstotliwoci wynoszcej 2000 [Hz]. A
spadem do 0 [V] , ju przy 2800 [ Hz].
Zaleno

midzy napiciem

a impedancj (rezystancja

+ reaktancje) stanowi

potwierdzenie prawa Ohma.

Wyznaczony dowiadczalnie przebieg XL, XC i f0 stanowi potwierdzenie susznoci
wzorw teoretycznych.
Dowiadczalnie stwierdzono, e czstotliwo rezonansowa zaley od elementw L i
C, nie zaley natomiast od obcienia (rezystancji).
Gdy w ukadzie zachodzi rezonans, cae napicie zasilania odkada si na odbiorniku
(rezystorze, oporniku) - najmniejsze straty mocy na elementach L i C.
Rezonans w ukadzie powoduje przepyw stosunkowo duego prdu ze wzgldu na
spadek impedancji (wzajemne zerowanie si XL i XC).

str.