MSA - Analiza

Systemu Pomiarowego
Wykadowca: Jan M. Myszewski

Wysza Szkoa Przedsibiorczoci

i Zarzdzania im. L. Komiskiego
Warszawa stycze 2005

Analiza R&R - metoda duga

Badane wyposaenie: System pomiarowy, w ktrym stosuje si
ustalony przyrzd pomiarowy.
Uczestnicy badania: m = 2 lub 3 kontrolerw.
rodki: Zestaw n = 10 czci, ktrych ustalona cecha X
odpowiada zakresowi wartoci spotykanych w pomiarach w
procesie.
Cel: analiza i ocena struktury zmiennoci systemu pomiarowego.
Krok A: Kada cz zostaje r- krotnie zmierzona, w sposb zapewniajcy niezaleno wynikw, przez kadego spord m kontrolerw.
Krok B: W serii r powtrze pomiaru kadej czci wykonanych
przez jednego kontrolera, oblicza si warto redni oraz rozstp.
Obliczenia edniej i rozstpu powtarza si dla wszystkich n czci i
wszystkich m kontrolerw.
WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

Czynniki rnicujce wynik pomiaru

System pomiarowy

Kontrolerzy
AV
TV

R&R

Przyrz d
EV

Cz ci

Zakadamy, e

PV

czynniki: kontrolerzy, przyrzd, czci oddziauj na wynik

pomiaru w sposb niezaleny,
zmienno wynikw pomiaru jest wypadkow zmiennoci
wnoszonych przez kady z tych czynnikw z osobna,
WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

Czynniki rnicujce wynik pomiaru cd.

System Pomiarowy
Kontrolerzy
AV
R&R

System Pomiarowy
Kontrolerzy
AV
R&R
Przyrzad
EV

System Pomiarowy
Kontrolerzy
AV
R&R

Przyrzad
EV
Moment 3

Przyrzad
EV
Moment 2

CZAS

Moment 1

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

Szacowanie odchylenia standardowego przy pomocy rozstpu

Schemat:
Kontroler powtarza q-krotnie pomiar ustalonej charakterystyki
kadej z p czci, przy pomocy jednego i tego samego przyrzdu.
W serii q wynikw pomiaru tej samej czci oblicza si rozstp.
Oblicza si R warto redni z rozstpw obliczonych dla p
czci
Odchylenie standardowe zrnicowania wewntrz serii wynikw
(powtrze pomiaru) mona oszacowa przy pomocy
nastpujcego wzoru:
R

d2

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

ile uyto rozstpw - p

Szacowanie odchylenia standardowego przy pomocy rozstpu cd

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

2
1.41
1.28
1.23
1.21
1.19
1.18
1.17
1.16
1.16
1.16
1.128

W jak dugich seriach liczone s rozstpy

3
4
5
6
7
8
1.91
2.24
2.48
2.67
2.83
2.96
1.81
2.15
2.40
2.60
2.77
2.91
1.77
2.12
2.38
2.58
2.75
2.89
1.75
2.11
2.37
2.57
2.74
2.88
1.74
2.10
2.36
2.56
2.73
2.87
1.73
2.09
2.35
2.56
2.73
2.87
1.73
2.09
2.35
2.55
2.72
2.87
1.72
2.08
2.34
2.55
2.72
2.86
1.72
2.08
2.34
2.55
2.72
2.86
1.72
2.08
2.34
2.55
2.72
2.86
1.693 2.059 2.326 2.534 2.704 2.847

99%
5.15 e

- q
9
3.08
3.02
3.01
3.00
2.99
2.99
2.99
2.98
2.98
2.98
2.970

10
3.18
3.13
3.11
3.10
3.10
3.10
3.09
3.09
3.09
3.09
3.078

99.73%
6.0 e

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

Zmienno wnoszona przez przyrzd

Powtarzalno - zmienno wewntrz systemowa, gdy warunki
pomiaru s ustalone i okrelone ustalona cz, przyrzd,
standard, metoda, operator, rodowisko i zaoenia
Odchylenie standardowe powtarzalnoci = odchylenie standardowe wynikw powtrzonych pomiarw tej samej czci przez
tego samego kontrolera przy uyciu tego samego przyrzdu.
Jeeli kady spord m kontrolerw zmierzy kad z n czci
przy pomocy ustalonego przyrzdu pomiarowego r - krotnie, za
redni rozstp w grupach skadajcych si z r powtrze pomiaru
(jednej czci przez jednego kontrolera) jest rwny R , to
odchylenie standardowe powtarzalnoci mona obliczy ze wzoru
e

R
d2

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

Zmienno wnoszona przez kontrolerw

Odtwarzalno - zmienno rednich z wynikw pomiarw spowodowana przez
normalne warunki zmian w procesie pomiarowym. Jest traktowana jako rednia
zmienno midzy systemami lub pomidzy warunkami pomiarw.
W badaniu R&R odtwarzalno jest okrelona jako zmienno rednich z
pomiarw, gdy ta sama cz jest mierzona wielokrotnie przez rnych
kontrolerw przy pomocy tego samego przyrzdu.
Odchylenie standardowe odtwarzalnoci = odchylenie standardowe
zmiennoci midzy grupami wynikw pomiarw uzyskanymi przez
poszczeglnych kontrolerw.
Jeeli kady z m kontrolerw zmierzy r - krotnie kad z n czci przy pomocy jednego i
tego samego przyrzdu pomiarowego, za rozstp wartoci rednich w seriach bada
wykonanych przez kadego z m kontrolerw jest rwny Ro, oraz odchylenie standardowe
powtarzalnoci jest rwne e, to odchylenie standardowe odtwarzalnoci a mona
obliczy ze wzoru
2

a (

Ro 2 e
)
d2
nr

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

Zmienno cakowita systemu pomiarowego

Powtarzalno i odtwarzalno = kombinacja skadowych: powtarzalnoci i
odtwarzalnoci. Jest traktowana jako wypadkowa zmiennoci wewntrz systemu i
miedzy systemami
Odchylenie standardowe powtarzalnoci i odtwarzalnoci = odchylenie
standardowe zmiennoci cakowitej wynikw powtarzanych pomiarw
charakterystyki ustalonej czci przez rnych kontrolerw przy pomocy
tego samego przyrzdu.
Jeeli kady z m kontrolerw zmierzy kad z n czci przy pomocy ustalonego
przyrzdu pomiarowego r - krotnie, za odchylenia standardowe powtarzalnoci i
odtwarzalnoci s rwne odpowiednio e i a , to odchylenie standardowe
powtarzalnoci i odtwarzalnoci mona obliczy ze wzoru

m e2 2a
WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

Zmienno wnoszona przez czci

Zmienno czci = zmienno oczekiwana midzy czciami lub wzgldem czasu w
stabilnym procesie.
Zmienno czci jest cakowit zmiennoci cechy w zbiorowoci czci
poddawanych pomiarom, ocenion przy pomocy przyrzdu ktrego niepewno jest
zaniedbywalna.
Odchylenie standardowe zmiennoci czci = odchylenie standardowe zmiennoci
cakowitej (mierzonej cechy) czci z procesu wytwarzania, przy zaoeniu, e
niepewno pomiaru jest zaniedbywalna.

Jeeli rozstp
z n wartoci rednich obliczonych w zbiorach wynikw otrzymanych
oddzielnie z pomiarw jednej czci, r krotnie powtrzonych
niezalenie przez kadego z m kontrolerw, przy pomocy tego samego
przyrzdu pomiarowego
jest rwny Rp, to odchylenie standardowe zmiennoci midzy czciami
Rp
mona obliczy ze wzoru

d2

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

10

Zmienno cakowita wynikw pomiaru

Zmienno cakowita pomiarw = zmienno bdca wypadkow zmiennoci
czci i zmiennoci systemu pomiarowego.
Odchylenie standardowe zmiennoci pomiarw = odchylenie
standardowe zmiennoci cakowitej uwzgldniajcej zmienno
czci i zmienno w systemie pomiarowym.
Jeeli w badaniu systemu pomiarowego otrzymano odchylenia
standardowe zmiennoci czci i zmiennoci systemu
pomiarowego s rwne odpowiednio p i m, to odchylenie
standardowe zmiennoci cakowitej wynikw pomiaru mona
obliczy ze wzoru

2
p2 m

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

11

Ocena zmiennoci systemu pomiarowego

Kontrola produktu

Kontrola procesu

Wyniki pomiaru i kryteria po- Wyniki pomiaru i kryteria podejmowania decyzji okrelaj dejmowania decyzji okrelaj
zgodno lub niezgodno stabilno procesu, tendenodnonie wymaga stawia- cje zgodno z naturaln
nych cesze produktu
zmiennoci procesu
Ocena systemu
Ocena systemu pomiarowego
pomiarowego jest oparta na
jest oparta na zmiennoci
tolerancji dla cechy
procesu
%GRR

6 m
100%
GWG DWG

%GRR

m
100%
t

%GRR 10%
10 % < %GRR 30%
30 % < %GRR
System pomiarowy Dopuszczenie syste- System pomiarowy
jest zgodny z wyma- mu pomiarowego do jest niezgodny z wyganiami MSA
uycia wymaga uza- maganiami MSA
sadnienia
WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

12

Rozdzielczo systemu pomiarowego

Rozdzielczo = wielko zmian, ktre przyrzd moe wykry i
wiernie wskaza
Liczba rozcznych kategorii ndc, ktre mona wyodrbni, moe
by oszacowana przy uyciu efektywnej rozdzielczoci systemu
pomiarowego i zmiennoci czci z obserwowanego procesu na

podstawie wzoru:
ndc 1.41 p
m
Liczba Kontrola
kategorii
1
Moe by uyty do celw kontroli tylko gdy:
a. zmienno procesu jest maa w porwnaniu do tolerancji
b. funkcja strat jest paska w zakresie oczekiwanej
zmiennoci procesu
c. podstawowym objawem zmiennoci jest przesunicie
redniej
2-4
Moe by uyty z technikami kontroli opartymi na rozkadzie
czstoci w procesie.
Moe powodowa ma wraliwo kart kontrolnych dla
cech mierzalnych
5 i wicej Moe by uyty z kartami kontrolnymi dla cech mierzalnych

Analiza
a. niedopuszczalne do celw
oceny parametrw procesu i
wskanikw
b. wskazuje jedynie, czy
proces wytwarza zgodne lub
niezgodne wyroby
Oglnie niedopuszczalny do
oceny parametrw procesu i
wskanikw (dostarcza
jedynie zgrubnych oszacowa)
Zalecany

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

13

Analiza R&R - metoda krtka (rozstpu)

Badane wyposaenie: System pomiarowy, w ktrym wykorzystuje
si ustalony przyrzd pomiarowy
Uczestnicy badania: 2 kontrolerw
rodki: Zestaw 5 czci, ktrych cecha X odpowiada zakresowi
spotykanych wartoci.
Cel: uproszczona ocena zmiennoci systemu pomiarowego
Krok A: Kada cz zostaje jednokrotnie zbadana, w sposb
zapewniajcy niezaleno wynikw, przez kadego z dwu
kontrolerw.
Krok B: Dla kadej czci oblicza si rozstp w zbiorze wynikw
otrzymanych przy jej pomiarze przez kontrolerw. Na podstawie
redniej wartoci rozstpw szacuje si odchylenie standardowe
zmiennoci wewntrz grup danych. Interpretowane jest jako
oszacowanie zmiennoci cakowitej systemu pomiarowego.
WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

14

Obcienie (bias) pomiaru - Metoda Niezalenej Prbki

Obcienie wyniku pomiaru = rnica midzy redni wynikw pomiarw jednej
czci (wykonanych w warunkach powtarzalnoci) a wartoci odniesienia.
Bias = rednia z pomiarw - warto odniesienia
Metoda Niezalenej Prbki
Krok 1. Obierz prbk i okrel jej warto odniesienia odnonie
standardu, ktry jest powizany z wzorcem jednostki miary. Jeli nie jest
to moliwe wybierz cz z procesu produkcji usytuowan w rodku
zakresu wielkoci mierzonych i przyjmij j za prbk wzorcow. Zmierz t
cz n = 10 razy w narzdziowni. Uyj redniej z odczytw jako wartoci
odniesienia x0.
Krok 2. Niech kontroler wykona n pomiarw prbki w zwyky sposb.
Krok 3. Przedstaw dane przy pomocy histogramu i przeanalizuj je, czy
mona wskaza przyczyny specjalne lub jakie anomalie.
Krok 4. Oblicz redni z pomiarw kontrolera
WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

15

Obcienie (bias) pomiaru - Metoda Niezalenej Prbki

Krok 5. Oblicz odchylenie standardowe s odczytw. Jeeli wyniki bada

GRR s dostpne, uyj odchylenia standardowego powtarzalnoci 0
zamiast s.
Krok 6. Oblicz warto statystyki t:
t=

| x - xo |
n
s

Krok 7. Obcienie jest dopuszczalne, gdy t t, przy czym t jest

odczytywane w tablicach rozkadu t-Studenta z n-1 stopniami swobody

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

16

Liniowo systemu pomiarowego

Liniowo = zrnicowanie obcie w oczekiwanym obszarze stosowania systemu
pomiarowego
Metoda oceny liniowoci
Krok 1. Wybierz g 5 czci, ktrych pomiary pokrywaj zakres
stosowania przyrzdu.
Krok 2. Zle przeprowadzenie pomiarw w dziale kontroli w celu
okrelenia wartoci odniesienia i e obszar stosowania przyrzdu zosta
nimi pokryty.
Krok 3. Zle zmierzenie kadej z czci m 10 razy przy pomocy
badanego przyrzdu, przez jednego z operatorw ktry posuguje si na
co dzie tym przyrzdem
Krok 4. Oblicz obcienie czciowe dla kadego z pomiarw i rednie
obcienie dla kadej z czci.
Krok 5. Przedstaw graficznie indywidualne
obcienia w zalenoci od wartoci odniesienia

obcienia

rednie

Krok 6. Oblicz i naszkicuj najlepiej dopasowan lini y = a x + b, gdzie x

warto odniesienia, y rednie obcienie.
17
WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

Analiza liniowoci
Niech y=a x+b linia regresji dla zalenoci midzy obcieniem
yi i wartoci odniesienia xi. Ponadto dla zi=a xi+b, gdy i =1, 2, ..,
g przyjmijmy:

(y z )
i

mg 1

2
r
Wskanik determinacji = x , y , gdzie r wspczynnik korelacji

pomidzy
pomiaru.

wartociami

odniesienia

obcieniami

wynikw

Wskanik determinacji wyraa proporcj midzy miar zrnicowania,

ktre moe by objanione przy pomocy modelu a miar zmiennoci
cakowitej.
WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

18

Analiza liniowoci cd.

Liniowo pomiarw uznamy za dopuszczaln, gdy spenione s
nastpujce dwa warunki:
| t |

|a|
S

(x

x)2 t

gdzie t odczytuje si z tablic rozkadu t-Studenta z gm-2 stopniami

swobody
| t |

|b |
2

1
x

gm (x i x )2

gdzie t odczytuje si z tablic rozkadu t-Studenta z gm-2 stopniami

swobody

WSPiZ, Warszawa, MSA Analiza Systemu Pomiarowego Jan M. Myszewski

19