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RESUMEN
Los objetivos de la siguiente prctica son corrobarar el indice de refraccin
terico del agua y del acrlico y determinar el ngulo critico en la reflexin de
ambos medios, para lo cual se us un equipo laser como fuente de luz
incidente, obtenindose asi valores cercanos al terico
INTRODUCCIN
La refraccin de la luz se aplica en el Refractmetro de Abbe, que permite
conocer el ndice de refraccin de una sustancia. Y si uno hace muchas
diluciones a distintas concentraciones de una misma sustancia y mide sus
ndices de refraccin en el refractmetro, despus graficando ndice de
refraccin en funcin de concentracin, se puede averiguar por intrapolacion
la concentracin incgnita de una muestra con solo medir su ndice de
refraccin.
MARCO TERICO
La refraccin es el cambio de direccin que experimenta una onda al pasar
de un medio material a otro. Solo se produce si la onda incide oblicuamente
sobre la superficie de separacin de los dos medios y si estos tienen ndices
de refraccin distintos. Esta se produce cuando la luz pasa de un medio de
propagacin a otro con una densidad ptica diferente, sufriendo un cambio
de rapidez y un cambio de direccin si no incide perpendicularmente en la
superficie. Esta desviacin en la direccin de propagacin se explica por
medio de la ley de Snell.
LEY DE REFRACCION (LEY DE SNELL)
: ngulo de incidencia
: ngulo de refraccin
RESULTADOS
de
10
20
30
40
50
14
20
25
31
10
20
30
40
50
16
22
29
35
incidencia
de
refraccin
de
incidencia
de
refraccin
de
10
20
30
42
18
34
50
58
10
20
30
40
12
25
41
56
incidencia
de
refraccin
de
incidencia
de
refraccin
Clculos (
naire
sen= =0.75
DISCUSION
nagua DE RESULTADOS
CONCLUSIONES:
BIBLIOGRAFIA
956.
Giancoli, C. Douglas. Fsica principios con aplicaciones, 6ta
Edicin, Pearson Educacin en Mxico S.A., Mxico, 2006. pp.
642-643.