wiczenie Nr 451.

Temat: Wyznaczanie dugoci fali wiata za pomoc interferometru Michelsona

1.Literatura:
a) D. Halliday, R. Resnick, J. Walker, Podstawy fizyki 4, PWN, W-wa
b) I. W. Sawieliew Wykady z fizyki 2, elektryczno i magnetyzm, fale, optyka, PWN, Wwa
c) Czesaw Bobrowski, Fizyka - krtki kurs, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne
d) Juliusz Sielanko, Marek Sowa wiczenia eksperymentalne z fizyki, optyka i fizyka
wspczesna, Wydawnictwo Uniwersytetu Marii Curie-Skodowskiej, Lublin
e) Instrukcja obsugi mikrometru: http://labor.zut.edu.pl/INSTRUKCJE/Mikrometr.pdf
2. Tematy teoretyczne:
1. Fale elektromagnetyczne: dugo fali, prdko wiata w rnych orodkach,
wspczynnik zaamania wiata.
2. Droga optyczna, fale spjne (koherentne), interferencja wiata, interferometr
Michelsona.
3. Metoda pomiarowa:
Przy uyciu ruby mikrometrycznej zmierzymy przesunicie zwierciada ruchomego i na
podstawie jednoczesnej obserwacji liczby zmiany prkw interferencyjnych wyznaczymy o
ile dugoci fali wiata zmienia si droga przebyta przez wiato w jednym z ramion
interferometru Michelsona. Na podstawie tych danych obliczymy dugo fali wiata,
uytego lasera.
4. Zestaw przyrzdw:
Laser ze statywem, soczewka ze statywem, interferometr ze statywem, awa optyczna, ekran,
kluczyk do wczenia lasera (wypoyczy w pok.619 pod zastaw legitymacji)
5. Czynnoci pomiarowe

Rys.1. Schemat ukadu do

pomiaru dugoci fali wiata
S- soczewka, P- pytka
pprzepuszczalna, Zrzwierciado ruchome, Zszwierciado stae, Sm- ruba
mikrometryczna, Sr- pokrta
regulacyjne.

Rys.2. Widok stanowiska pomiarowego do wyznaczania dugoci fali wietlnej

1- laser, 2- wcznik lasera-kluczyk, 3- soczewka, 4- interferometr, 5- ruba mikrometryczna, 6- pokrta
regulacyjne, 7- ekran

Rys. 3. Widok prkw interferencyjnych

Wykonanie wiczenia
UWAGI: Nigdy nie naley spoglda bezporednio w wizk lasera ! Nie dotyka
powierzchni zwierciade ZS i ZR oraz pytki pprzepuszczalnej P ! Nie zmienia
pooenia i ustawienia lasera oraz soczewki, gdy zmiany te mog spowodowa potrzeb
korekty ustawienia ich na wsplnej osi, co jest czasochonne i znacznie wyduy czas
wykonania wiczenia
1. Delikatnie podnie szar pokryw ochronn interferometru.

2. Sprawdzi i ewentualnie ustawi ekran we waciwym miejscu (jak pokazano na

schemacie interferometru ) i wczy laser.
3. Ustawi interferometr tak, aby na ekranie otrzyma koncentryczne prki interferencyjne
(w przypadku gdy jest rozstrojony, poprosi prowadzcego o pomoc).
4. Ustawi rub mikrometryczn w pozycji okoo 5,00 mm.
5. Nieznacznie poruszajc rub mikrometryczn ustawi stan, w ktrym centrum okrgw
jest ciemne.
6. Odczyta pocztkowe ustawienie ruby mikrometrycznej.
7. Obraca rub mikrometryczn (cay czas w tym samym kierunku) i rwnoczenie zlicza
ilo zmian (ciemny-jasny-ciemny = 1prek) centralnego prka.
(W przypadku gdy centrum prkw na ekranie bdzie wychodzi poza obszar owietlony
dokona nieznacznej korekty za pomoc 2 pokrte (Sr) przy jednym ze zwierciade tak, aby
centralny prek by w centrum owietlonego obszaru). Po zliczeniu okoo 100-500 zmian
prkw, odczyta kocowe ustawienie ruby mikrometrycznej i obliczy jej przesunicie
(warto kocowa minus pocztkowe wskazanie ruby mikrometrycznej).
8. Wyniki zapisa w tabeli.

Liczba
prkw

Wskazanie ruby
mikrometrycznej:
Pocztkowe
x1 [mm]
Kocowe
x2 [mm]
Przesunicie ruby
mikrometrycznej
x=|x2 x1| [mm]

Pomiar
1

Pomiar
2

Pomiar
3

Pomiar
4

Pomiar
5

x[mm]

x
[mm]
10

9. Powtrzy czynnoci od 4 do 8 piciokrotnie (za kadym razem przesuwajc o tak

sam liczb prkw i takim samym kierunku).
10. Ponownie ustawi rub mikrometryczn w pozycji okoo 5,00 mm i wyczy laser.
11. Delikatnie naoy szar pokryw ochronn interferometru.
12. Odlego przebyt przez zwierciado d obliczy w nastpujcy sposb. Przesunicie
ruby mikrometrycznej x podzieli przez 10, bowiem przekadnia jak zastosowano do
poruszania zwierciada wynosi 1:10. Oznacza to, e przesunicie ruby mikrometrycznej o
10 m (0,01mm) odpowiada przesuniciu zwierciada o 1 m (0,001mm).
13. Obliczy dugo fali wiata ze wzoru:
2d
2 x
x

m m 10 5 m
gdzie m liczba zmian centralnego prka.
Dugo fali wyrazi w nanometrach (1nm = 10-9m) i sprawdzi, czy obliczona dugo fali
odpowiada barwie czerwonej (jest to forma weryfikacji uzyskanych wynikw).

6. Ocena niepewnoci pomiarowych

W analizie niepewnoci uwzgldni niepewnoci wyliczone metodami typu A i B.

Przy wyznaczaniu dokadnoci przesunicia ruchomego zwierciada naley uwzgldni
zastosowan dwigni o przeoeniu 1:10.
Niepewnoci pomiarw porednich musz by uwzgldnione, gdy dugo fali
wiata wyznaczamy z pomiarw porednich.
n

u A x

x x

i 1

n- liczba pomiarw

nn 1

x1
x
x
uB 2 x 2
uB 3 x 3
3
3
3
x1- dokadno odczytu pocztkowej nastawy x z mikrometru;
x2- dokadno odczytu kocowej nastawy x z mikrometru;
x3- dokadno mikrometru.
u B1 x

uB _ calkowitex uB21 x uB2 2 x uB2 3 x

uCalkowite x u A2 x uB2 _ Calkowite x

uB m

m
3

m- moliwa pomyka przy zliczaniu prkw (oszacowa)

uCalkowite m u B2 m

2
2
x uCalkowite
m
uCalkowite uCalkowite

m


2

1
2
2
x x uCalkowite
m
uCalkowite
5 m
m