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Ecole Nationale Suprieures

des Mines de Rabat
Dpartement Gnie des Matriaux
Agdal, Rabat

Notes de cours :

Contrles Non Destructifs des Matriaux

Prpar par :
Bennaceur Ouaki, Professeur

Table des matires

I- Gnralits....3
II- Techniques de dtection des dfauts superficiels..6
II-1 Ressuage....6
II-2 Magntoscopie.11
II-3 Contrle par courants de Foucault...18
III- Techniques de dtection des dfauts internes...34
III-1 Ultra-sons ..34
III-2 Radiographie X...58
III-3 Radiographie gamma .....73
IV- Techniques diverses.81
IV-1 missions acoustiques....81
IV-2 Thermographie...84
IV-3 Tomographie..85
IV-4 Techniques utilisant le laser...87
IV-5 Holographie89
V- Recueil des normes Franaises..91

I- Gnralits

Les essais (ou contrles) non destructifs dsignent de faon gnrale toutes les mthodes
ou techniques qui permettent le contrle ou lexamen dun matriau sans altrer ni son tat, sa
structure, ou son utilisation future. Du point de vue industriel, le but de tels essais est de
dterminer si un matriau ou une pice rpondra de faon satisfaisante la fonction qui lui sera
demande. En gnral, les techniques de contrles non destructifs sont utilises pour :

Dtecter, positionner, identifier et dimensionner les dfauts dans les pices, les structures
ou les assemblages.
Mesurer de faon indirecte les caractristiques des matriaux.

(un essai mal appliqu est pire que labsence de lessai).

Les dfauts ou les variations que les essais non destructifs sont appels dceler, peuvent tre
classs en trois catgories savoir :
1) Les dfauts inhrents introduits pendant llaboration de la matire premire :
-

porosits

Inclusions

Sgrgations

Criques ou fissures thermiques, etc

2) Les dfauts dusinage introduits pendant lusinage, la transformation ou de lassemblage des

pices :
-

Dfauts de soudage (assemblage)

Fissures dues leffet des contraintes rsiduelles

Dfauts de traitements thermiques

Dfauts superficiels cres lors des tapes dusinage ou du meulage...etc

3) Les dfauts en service apparaissant au cours de lutilisation du matriau :

-

Dfauts de fatigue

Dfauts de corrosion (exemple : fissures induites par la corrosion sous tension)

Dfauts issus de lusure des matriaux en contactetc

En ce qui a trait aux profits apports lindustrie par les essais non destructifs, on note en
particulier :
a)- Laugmentation de la productivit et des bnfices.
b)- Laugmentation de la dure dutilisation.
c)- Lamlioration de la scurit.
d)- La meilleure connaissance et lidentification des matriaux.
Apports de linformatique et des techniques numriques :
Linformatique et la numrisation des donnes reprsentent un fait marquant lgard des
essais et des techniques de prlvement et de traitement des mesures. Depuis lapparition des
microprocesseurs, linformatique se manifeste sous des formes beaucoup plus diverses et dans
des domaines dapplication plus nombreux. Selon lusage qui en est fait, on distingue plusieurs
voies de dveloppement correspondantes certaines phases de lessai tels que le traitement
numrique des donnes exprimentales ou le traitement du signal :
- Le traitement numrique des donnes stend au traitement des images. Il procure des
possibilits dinvestigation nouvelles par association dune technique dobservation et de
visualisation telles que la thermographie ou la radiographie.etc, et de la numrisation. Le grand
nombre de donnes contenues dans une image ncessite des units de calcul suffisamment
puissantes qui limitent encore la diffusion. Les images mises en mmoires peuvent tre traites et
interprtes beaucoup plus facilement par comparaison entre elles, par amlioration du contraste,
par observation sous des angles diffrents dimages reconstitues lectroniquementetc.

- Le plus souvent, les rsultats de mesure ne sont pas exploitables directement. Une
premire tape consiste analyser les signaux dlivrs par les capteurs, conditionnes ensuite au
sein de la chane de mesurage en utilisant des mthodes dtude convenables regroupes sous le
nom du traitement du signal. Ltape ultrieure constitue le traitement de linformation,
traitement appliqu sur des rsultats de mesures, rendus exploitables par lopration prcdente.
Les techniques de traitement actuelles apportent des informations restes dans la plupart des cas,
jusqu maintenant, inaccessibles. Elles peuvent sappliquer sans distinction toutes les

disciplines o il a gnration de signaux et en particulier aux rsultats exprimentaux de mesure.

Leur utilisation rationnelle est fonde sur lexprience de loprateur qui doit possder une
srieuse connaissance des bases thoriques du traitement ainsi que du fonctionnement et des
limitations des analyseurs.

II- Techniques de dtection des dfauts superficiels

II-1 : Ressuage
II-1-1 Principe
Le ressuage est une mthode dinspection par pntration de liquide pour la dtection des
discontinuits et imperfections qui stendent sur la surface dune pice. Il sagit dun contrle
qui peut mettre en vidence les dfauts dbouchants tels que :
-

Fissures dusinage

Tapures de traitements thermiques

Porosits, piqres et criques chaud de fonderie ou de soudage

Fissures de fatigue

Replis de laminage ou de forgeage

La technique consiste appliquer sur la surface de la pice contrler un liquide pntrant qui
va sinfiltrer lintrieur des dfauts dbouchants. Aprs imprgnation, lexcs du pntrant est
limin en surface. Cette mme surface sche est ensuite recouverte dune fine couche de produit
rvlateur qui va agir comme un buvard et aspirer le pntrant prsent dans les dfauts. En
fonction de la nature du pntrant utilis, on obtient ainsi une indication colore ou fluorescente
caractristique du dfaut.

II-1-2 Techniques

Selon les besoins et la nature des pices contrler, des installations manuelles ou
automatiques sont utilises. Les diffrentes tapes du ressuage peuvent tre rsumes comme
suit.
a- Nettoyage de lchantillon
Avant de procder au contrle par ressuage, la surface de lchantillon ou de la pice
examiner doit tre exempte de poussires, de cire, de peinture, de graisse, de dartres ou de tout
autre matriau qui remplirait ses ouvertures (Fig. II-1). Le nettoyage peut tre effectu par :

Lutilisation de solvants liquides fournis par les fabricants.

La projection de vapeur.

Le dgraissage la vapeur.

Lattaque par un acide.

Dans la plupart des cas, il existe souvent un solvant appropri fourni par le fabricant du

pntrant pour nettoyer les pices.

Figure II-1 : Surface nettoye de lchantillon

Remarques :
Lors du nettoyage, quelques prcautions doivent toutefois tre prises en compte savoir :
Lattaque par un acide fort peut rduire les proprits de fluorescence des liquides pntrants
fluorescents.
Le sablage est non recommand car il peut boucher les petites ouvertures dbouchantes la
surface des pices.
Le polissage ou finition doivent tre effectus aprs avoir effectu le contrle proprement dit.
b- Application du liquide pntrant
Lapplication du liquide pntrant (Fig. II-2) peut se faire de diffrentes manires. Dans la
plupart des cas, cette application est effectue par :

Limmersion de la pice dans un bain rempli de pntrant.

La pulvrisation du pntrant sur la pice (la plus efficace).

Lutilisation dun pinceau.

Figure II-2 : Application du liquide pntrant

Le temps de maintien du pntrant est un facteur trs important dont il faut tenir compte.
Gnralement ce facteur dpend de :

- La nature du matriau contrler.

- Le type du dfaut recherch.
- La taille du dfaut.
- Le liquide pntrant utilis.
Toutefois, le temps exact de pntration peut tre dtermin par exprience ou sur un
chantillon de rfrence particulier.

c- Retrait du liquide pntrant en excdent

Aprs un temps de maintien donn, llimination du pntrant en excdent peut tre excute
par un lavage leau courante ou par lutilisation dun solvant recommand par le fabricant.
Cette opration est trs dlicate, car un lavage trop important ou insuffisant peut entraner des
fausses indications (Fig. II-3). Llimination peut tre galement effectue par lutilisation dun
agent dmulsion rendant soluble le pntrant dans leau et suivi dun lavage leau courante.

Figure II-3 : Retrait du liquide pntrant

d- Schage
Aprs le retrait du pntrant la surface de la pice, celle-ci doit sche (Fig. II-4). Pour se
faire, plusieurs moyens techniques peuvent tre utiliss. Parmi ces moyens, on distingue en
particulier:

Un gnrateur dair chaud.

Un courant dair sec.

En absence de tels moyens, un schage normal dans lair est suffisant.

Figure II-4; Surface sche de lchantillon

e- Application du rvlateur
Deux types de rvlateurs sont gnralement utiliss (Fig. II-5). On distingue :
-

Des rvlateurs secs qui se prsentent sous forme de poudres sches.

Des rvlateurs humides qui sont sous forme de poudres en suspension dans un liquide
volatil ou schant rapidement.

Figure II-5 : Application du produit rvlateur

Le rvlateur sec peut tre appliqu laide dun pistolet vaporisateur ou en trempant les
pices dans la poudre, par contre le rvlateur humide peut tre appliqu soit par trempage ou par
pulvrisation.

f- Inspection et interprtation
Cest le stade le plus important (Fig. II-6). Lindication des dfauts dpend principalement du
type du liquide pntrant utilis. En effet :
-

Si le pntrant est color, lexamen est effectu sous un clairage suffisant.

Si le pntrant est fluorescent, lexamen est effectu sous la lumire U.V.

Figure II-6 : Indication de la fissure

Indications :

Les fissures trs fines sont rvles par des lignes continues ou non.

Les criques ouvertes sont rvles par des taches.

10

Les piqres ou porosits sont rvles par des points plus ou moins distincts.

Lestimation grossire de louverture peut tre faite (gnralement par exprience) partir de
la largeur de lindication observe. En se servant. titre dexemple, dune srie de dfauts talon,
leur profondeur peut tre estime partir des diamtres des taches indicatrices observes,

II-1-3 Avantages et limitations du ressuage

a- Avantage de la mthode :
La mthode de contrle par ressuage est une mthode trs simple de mise en uvre et
applicable tous les matriaux y compris les matires plastiques. Elle permet de rvler les
diverses discontinuits dbouchantes trs facilement et avec plus de prcision. Cest la seule
mthode globale en contrle non destructif autorisant un examen de la totalit de la surface de la
pice sans influence notable de lorientation du dfaut. Cest une mthode qui est sre, trs rapide
et ne ncessite cependant pas un grand investissement. Les diffrentes squences de sa mise en
uvre se prtent bien lautomatisation.

b- Limitations et inconvnients de la mthode :

La mthode est limite uniquement la mise en vidence des dfauts dbouchant la surface
des pices contrler. Lapprciation de la profondeur et de limportance des dfauts qui reste
trs approximative nest souvent pas possible et linterprtation des indications reste toutefois
dlicate, en particulier pour lautomatisation.

11

II-2 Magntoscopie
(Mthode magntique)
II-2-1 Principe

Le contrle magntoscopique consiste soumettre la pice ou une partie de la pice

examiner un champ magntique continu ou alternatif de valeur dfinie en fonction de la nature
du matriau. Sous leffet du champ magntique, les dfauts superficiels provoquent leur endroit
des fuites magntiques (Fig. II-7) qui sont mises en vidence par des produits indicateurs mis en
contact avec la surface du produit. Lexamen consiste donc en une mesure de la distorsion du
champ magntique produite par les dfauts.
Dfauts dtectables

Lignes de champ

Dfaut difficilement dtectable

Figure II-7 : Exemple des champs de dispersion

Comme schmatis sur la figure II-8 ci-dessous, la dispersion des champs magntiques prs
dun dfaut est due la cration des mini-ples magntiques autour de celui-ci.

Figure II-8 : Mini-ple magntique autour du dfaut

12

La variation du champ magntique dpend en particulier de la valeur de la permabilit

magntique du dfaut (=B/H). En effet, si celle-ci est moins importante que celle du matriau
examiner, on assiste une dispersion du champ autour du dfaut. Dans le cas contraire, il y a une
concentration des lignes de champs magntiques (Fig. II-9).

Si est faible

Si est grand

Figure II-9 : Effet de la permabilit magntique du dfaut sur la dispersion des champs
La mthode dessais est applicable principalement aux matriaux ferromagntiques capables
de gnrer un champ magntique lors du la magntisation de ces derniers. Les autres matriaux
tels les aciers austnitiques et les alliages lgers ne se prtent donc pas ce type dexamen.

II-2-2 Dfauts dtectables

En contrle magntoscopique, seuls les dfauts superficiels ou situs juste en dessous de la
surface sont dtectables. Les dfauts dtectables par une telle technique peuvent tre :

Des fissures de trempe (fissures dorigine thermique)

Des feuilletages

Des fissures de meulage.

Des inclusions non mtalliques.

Des fissures de fatigue ou de corrosion.

Des fissures de revtements, etc.

II-2-3 Magntisation

Dans un matriau, un champ magntique peut tre produit de trois faons diffrentes :

13

1)- Par passage dun courant lectrique travers tout lchantillon ou une portion de celui-ci.
2)- Par passage dun courant lectrique travers un conducteur entourant lchantillon ou en
contact avec ce dernier.
3)- Par lutilisation dun aimant.
Dpendamment du matriel utilis, la magntisation est effectue sous laction du champ
magntique, continu ou alternatif jusqu'au seuil de saturation de la courbe induction-champ (Fig.
II-10).

Figure II-10 : Hystrsis de magntisation

Si la pice examiner ne peut pas tre magntise en totalit, on peut faire passer un courant
au moyen des pointes de contact. En rsum, on peut donc distinguer deux types daimantation :

Aimantation directe par passage de flux.

- En circuit magntique ferm.

- En circuit magntique ouvert.

Aimantation indirecte par passage direct de courant lectrique dans la pice.

La figure II-11 ci-jointe montre quelques exemples dappareillage utilis pour la

magntisation des pices.

14

Aimantation directe par passage de flux (Appareil fixe)

Aimantation indirecte par passage direct de courant lectrique dans la pice

Figure II-11 : Exemples dappareillage de magntisation
Aprs lexamen ou le contrle de la pice, celle-ci reste toujours le sige dun champ
magntique rsiduel quil faut liminer. En effet, en fonction de la nature du matriau constituant
la pice, la prsente dun tel champ peut affecter tant les proprits magntiques qulectriques de
celle-ci et affecter par consquent son utilisation future. Selon la mthode ou la technique de
magntisation utilise, la dmagntisation peut tre effectue par un processus inverse comme
schmatis sur la figure II-12 ci-dessous.

15

Figure II-12 : Processus de dmagntisation

II-2-4 Nature des flux magntiques ou de courant

Comme lintensit magntique est fonction de lamplitude du courant, la source de courant
utilise lors de la magntisation ou durant le processus de contrle doit tre relativement de
basse-tension de faon minimiser les dangers pour loprateur et les dommages causs la
pice.
Les diffrents types de flux ou de courants lectriques utiliss cet gard peuvent tre:
-

Alternatif sinusodal (C.A.).

Redress une alternance (R1A).

Redress deux alternances (R2A).

Continu ou pseudo-continu (C.C.).

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Remarque :
- Un courant continu produit un champ pntrant plus profondment dans le mtal, par contre,
un courant alternatif, cause de son effet de peau, produit des champs qui se tiennent la surface
du mtal.
- Les courants alternatifs conviennent mieux pour localiser les dfauts superficiels.

II-2-5 Produits indicateurs

En contrle magntoscopique, les produits indicateurs sont constitus dune poudre
magntique grains fins, dont la taille est en gnral infrieure 30m, qui peut tre soit en
suspension dans un liquide porteur (liqueur magntique), soit propulse lair (poudre sche dont
la taille des particules est denviron 30m 300m.
En gnral, les poudres magntiques sont de deux types :
Poudres ferro-magntiques
* Spinelle de fer (Fe2O3, FeO) de couleur grise
* Granuls de fer oxyd de couleur grise ou bleu.
Poudres grains composites, noyaux ferro-magntiques et enrobs dune pigmentation
observable soit :

la lumire blanche.

En fluorescence sous lumire U.V.

Le liquide porteur ou communment appel (Liqueur magntique) est en gnral soit :

De leau additionne dun agent mouillant qui peut tre un inhibiteur de corrosion.

Une huile lgre de viscosit dynamique infrieure 6 cp et inactive sur le produit.

II-2-6 Avantages et limitations du contrle non destructif par magntoscopie

Comme pour le contrle non destructif par ressuage, la mthode magntoscopique prsente
des avantages et des limitations quon peut rsumer comme suit :

17

a-Avantages de la mthode :
Par comparaison la mthode de contrle par ressuage, la magntoscopie est connue sa
meilleure sensibilit et par les possibilits de caractrisation des dfauts. En effet, la nature et
limportance des dfauts sont facilement mis en vidence partir de la distorsion des champs
magntiques.

b-Limitations et inconvnients de la mthode :

La technique magntoscopie qui est limite seulement aux matriaux magntiques ne permet
souvent pas de dceler facilement les inclusions ponctuelles. De fausses indications peuvent
toutefois avoir lieu quand il existe un champ de dispersion local au-dessus d'un contour brusque
ou la jonction de deux mtaux diffrents et de permabilits magntiques diffrentes (exemple :
soudure). Des variations de permabilits magntiques peuvent donner lieu de fausses
indications. Dans une telle technique, lhabilet et lexprience de loprateur sont dune grande
importance dans les oprations dessai.

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II-3 Contrle par courants de Foucault

II-3-1 Principe
Lorsquune bobine traverse par un courant alternatif est approche dune pice mtallique,
des courants de Foucault (C.D.F ) sont induits dans le mtal par induction lectromagntique. Les
courants de Foucault ainsi cres, induisent dans lensemble mtallique un champ magntique qui
soppose au champ initial. Limpdance de la bobine dexcitation ou de toute bobine exploratrice
trs proche de la pice est affecte par la prsence des courants de Foucault induits. En prsence
dun dfaut ou dinhomognits proche de la surface de la pice, la trajectoire des courants
induits sera distordue (Fig. II-13) et limpdance apparente de la bobine excitatrice subira par
consquent des variations. Ces variations dimpdance peuvent tre mesures et utilises pour
donner des indications des dfauts ou des diffrences de structure physique, chimique et
mtallurgique.

Figure II-13 : Exemples de dispersion des lignes de C.D.F en prsence dun dfaut:
a- bobine encerclante, b-bobine ponctuelle

19

II-3-2 Application des courants de Foucault

Les courants de Foucault sont souvent utiliss pour :

1)- Mesurer ou identifier diffrentes proprits telles que :
-

Conductivit lectrique

Permabilit magntique

Conditions et effets des traitements thermiques (Taille des grains, duret, etc)

2)- Dtecter :
-

Fissures, vides et inclusions

Toute Irrgularit proche de la surface,etc

3)- Classer ou trier des mtaux dissemblables et dtecter la diffrence dans leur composition,
microstructures et dautres proprits.
4)- Mesurer lpaisseur dune couche non conductrice sur un conducteur ou lpaisseur dune
couche non magntique sur un mtal magntique.

II-3-3 Appareillage
Lappareillage gnralement utilis se prsente comme suit :

Oscilloscope
Gnrateur

Dtecteur
Synchroniseur
de phase
Visualisation
et traitement

Dtecteur

Figure II-14 : Principe dappareillage de contrle par CDF

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II-3-4 Diagramme dimpdance

Rappel thorique du fonctionnement dun capteur courant de Foucault :
(Modle deux spires)
La cible (matriau) ressemble au circuit secondaire dun transformateur dont le primaire
est la bobine dexcitation. En plus des similitudes existant entre un transformateur et un systme
capteur courants de Foucault et cible il reste une diffrente importante : le circuit secondaire ici
nest pas de forme constante. Comme la cible tant massive, la distribution des courants de
Foucault dpend de plusieurs facteurs lis entre autres aux proprits lectriques et magntiques
du matriau.
Source
dexcitation
Bobine
dexcitation

Courants de
Foucault
dexcitation
Cible
Sous cette configuration, le circuit quivalent dun tel capteur peut tre reprsent comme
suit :
M

R0

R1
L1

Circuit cible

L0

Bobine excitatrice

U0

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O :
M dsigne la conductance mutuelle telle que :
M M k L0 L1 avec k le coefficient de couplage

En se basant sur les flux gnrs dans chaquune des bobines, lvaluation des tensions gnres
dans chaque circuit permet dcrire :
Circuit de la bobine excitatrice : U 0 R0 i0 L0

R1i1 L1

Circuit de la cible :

di0
di
M 1
dt
dt

di
di1
M 0 0
dt
dt

En supposant que U0 est sinusodal de pulsation et que le rgime permanent est tabli, i0
et i1 sont aussi sinusodaux de mme pulsation, on montre que limpdance Z totale du circuit de
mesure est telle que :
En posant i0 I 0 e jt et i1 I1e j (t ) , Z est de la forme :

U0
k 2 2 L0 L1
( R0 jL0 ) 2
( R1 jL1 ) o est le dphasage .
i0
R1 ( L1 ) 2

Dans cette expression, le premier terme caractrise limpdance du circuit primaire vide tandis
que le deuxime terne nest autre que limpdance lie la perturbation apporte par le matriau
(cible).
En dfinissant limpdance norme rduite comme tant : Z n
On montre que cette dernire peut se mettre sous la forme :

R1 / L1
k2

Z n X jY k

j
1

1 ( R / L ) 2
1 ( R1 / L1 ) 2
1
1

Ou

( Z R0 )
L0

22

k2
k2
X Y (1 )
2

2
2

k2
0,1
2

qui nest autre que lquation dun cercle de centre

et de rayon k2/2.

Reprsentation graphique du diagramme dimpdance :

Quand une bobine dessai est amene proche dun conducteur, son impdance lectrique subi
une variation qui dpend dun grand nombre de facteurs. En reportant sur un diagramme
dimpdance lvolution de la partie ractive en fonction de la partie rsistive, de telles variations
peuvent tre tudies en amplitude et en phase.
:
L

Z0
Z
0

Avec matriau
conducteur

Figure II-15 : Exemple dune bobine encerclante

Si Z0 reprsente limpdance de la bobine en absence de tout conducteur ( lair), celle-ci
peut tre exprime par:
Z0 R 2 L0

Lorsque la bobine est approch un conducteur, son impdance subit une variation et
devienne Z telle que :
Z R 2 L

Le dphasage de cette dernire tant donn par :

artg(L / R )

23

En prsence ou non dun conducteur, limpdance de la bobine dessai est toujours

dcompose en une composante ractive et une composante rsistive. En contrle non destructif,
la composante ractive peut tre considre comme tant lnergie emmagasine dans la bobine
et le conducteur (ou pice) durant chaque priode du courant alternatif, par contre la composante
rsistive peut tre considre comme tant lnergie dissipe dans la pice durant chaque priode.
Quand lchantillon est isolant, aucun courant de Foucault ne peut tre induit. Si la
conductivit de lchantillon augmente jusqu une valeur finie, des C.D.F peuvent tre induits.
Ceci affecte de deux faons diffrentes limpdance de la bobine exploratrice. Les C.D.F. induits
vont crer leur propre champ lectromagntique qui va sopposer au champ de la bobine. De ceci
rsulte une diminution de lnergie emmagasine dans lchantillon et une dissipation de
lnergie sous forme de chaleur.
Pour liminer toute influence de la construction ou de la gomtrie particulire de la bobine
encerclant lchantillon, les courbes dimpdance sont souvent normes, en utilisant le rapport
entre linductance (L) avec le conducteur et linductance (L0) en absence de tout conducteur.
Exemple :
Avant normalisation
L0

Aprs normalisation
L/L0
Air
1

Air
Test

Test

R/L0

Figure II-16 : Normalisation du diagramme dimpdance

II-3-5 Facteurs affectant le test par C.D.F.

a- Conductivit lectrique
Dans les techniques de contrle non destructif par C.D.F, les mesures de la conductivit
lectrique sont donnes en unit IACS par rapport la conductivit du cuivre (International
Annealed Copper Standard). Sous cette dsignation, le cuivre tant pris comme llment ayant
une conductivit de 100%IACS.

24

Exemple : Les conductivits en unit IACS% de quelques mtaux sont telles que :
Ag : 105, Al : 61, Mg : 37, Zr : 3.4, Ti : 3.1, Acier alli : 2.9, Fonte : 0.7
Dans les techniques de C.N.D., Il existe souvent des appareils de C.D.F directement gradues
en %IACS. Un exemple de lvolution du point dimpdance lors du contrle avec une bobine
exploratrice circulaire est donn sur la figure ci-dessous. Pour un espacement bobine-pice
donn, le point dimpdance dcrit une courbe avec laugmentation de la conductivit (Fig. II17).

25

Figure II-17 : Effet de la conductivit lectrique

b- Permabilit magntique
Comme dans le cas de la conductivit lectrique, leffet des variations de permabilit
magntique dans un matriau se traduit par des courbes dimpdance qui diffrent en fonction de
la conductivit lectrique. Un exemple de diagrammes dimpdance est donn sur la figure II-18

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ci-jointe pour diffrentes permabilits relatives r. Sur cette dernire figure, on remarque quune
faible diminution de la permabilit magntique du matriau peut entraner une importante
variation dimpdance.

Figure II-18 : Effet de la permabilit magntique

c- Espacement bobine-surface (Liff-off)

Dans les essais non destructifs par C.D.F. se pose le problme de leffet des variations de la
distance entre la sonde exploratrice et la pice sur les rsultats des essais. Dans lexamen
dchantillons de sections transversales circulaires au moyen de la bobine exploratrice circulaire,
les variations de distance entre la bobine et lchantillon peuvent tre causes par des variations
du diamtre de lchantillon, tandis que dans lexamen dchantillons plats tels que les tles avec

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une sonde ponctuelle, la variation de lespacement entre la sonde et la pice peut tre cause par
des irrgularits de la surface de la pice ou par des vibrations de la sonde ou de la pice.
Lorsquil sagit dun contrle avec une sonde ponctuelle, on parle gnralement du Lift-off.
Par contre dans le cas des bobines encerclantes, lespacement est dfinit par un coefficient de
remplissage (ou Fill-factor) donn par :

d

D

o : D : Diamtre de la bobine
d : Diamtre du conducteur (pice)

Leffet dun tel coefficient sur les diagrammes dimpdance est montr sur la figure ci-dessus
relative leffet de la conductivit lectrique. Daprs cette dernire figure, on remarque quune
faible variation de lespacement (Liff-off ou Fill-factor) entre la bobine et lchantillon produit un
important changement de limpdance. Ceci rsulte de la diminution du flux magntique de
couplage entre lchantillon et la bobine.
Parmi les effets bnfiques du Liff-off, on distingue en particulier la mesure de lpaisseur des
revtements.

d- Profondeur de pntration
Les courants de Foucault ne sont pas distribus uniformment au-dessous de la surface de la
pice contrler. La densit de tels courants est plus importante juste au-dessous de la surface et
diminue progressivement au fur et mesure quon sloigne de la surface. Au-del dune certaine
profondeur, la densit des C.D.F. devienne pratiquement ngligeable et ne permet cependant pas
dapporter des informations sur ltat du matriau.
Si I0 est lintensit des CDF la surface dun matriau, sa valeur une profondeur
(profondeur de pntration en mtre) sexprime par :
I I 0 .e f

O :

f : Frquence en Hertz
: Conductivit lectrique du matriau en mh.m-1
: Permabilit magntique du matriau en Henry.m-1

28

Dans les techniques de contrle par C.D.F., on dfinit par convention une profondeur de
pntration standard pour laquelle :
I I 0 .e 1 (ou I=0.37I0)

Cest la profondeur o la densit des C.D.F. est diminue de 36.8% environ par rapport la
surface du matriau. Dans un conducteur plat, cette profondeur vaut :

Dans le cas des matriaux amagntiques (alliages lgers, alliages cuivreux, zinc,),
=410-7 H.m-1 et c se rduit :

1503
f

Un exemple de lvolution de cette profondeur standard en fonction de la frquence pour

diffrents matriaux est donn sur la figure II-19 ci-jointe :
100
Profondeur de pntration standard (mm)

a
b

10

c
d

e
0.1

f
g

0.01

0.001
10
1

102

103

104

105

106

107

108

Frquence (Hz)

Figure II-19: Profondeur de pntration standard pour diffrents matriaux : a) Graphite, b)

Alliage de Titane 6%Al, c) Acier inoxydable austnitique, d) Alliage daluminium 4%Cu, e)
Cuivre, f) Acier haute rsistance, g) Lingot dacier.

29

En plus de leffet de la nature du matriau, lpaisseur de la pice examiner peut galement

affecter la densit des C.D.F. si celle-ci est plus faible. En effet, pour des pices de faible
paisseur (Tles minces), on peut assister des distorsions des C.D.F. du ct oppos la surface
de contrle. Dans certaines applications, cette distorsion est utilise pour le contrle de
lpaisseur des pices. Afin dviter leffet de cette distorsion, il est recommand dexaminer des
pices dont lpaisseur est toujours suprieure trois fois la profondeur de pntration pour un
matriau et une frquence donne.
e- Notion de frquence relative dexamen
Lors des C.N.D. par courant de Foucault laide dune bobine exploratrice donne, il est
important de choisir une frquence de travail donne. Cette frquence dpend principalement des
caractristiques de la bobine et de la nature du matriau. Le suivi de leffet de la frquence dans
le diagramme dimpdance est gnralement similaire celui de la conductivit lectrique (une
augmentation de la frquence entrane une diminution du point dimpdance). En se rfrant aux
travaux de Forster et ses collaborateurs les diagrammes plans dimpdance peuvent tre tracs en
fonction dun paramtre fg appel frquence limite dont la valeur est donne par lexpression
suivante :

fg
O :

506800
r d 2

: Conductivit (m)-1
r : permabilit magntique relative.
d : Diamtre de la pice (mm)

Sous une conductivit lectrique constante, un exemple de lvolution du rapport f/fg dans le
diagramme dimpdance est donn sur la figure II-20 ci-contre.

30

Figure II-20 : Diagramme dimpdance correspondant la frquence

relative dexamen.
En utilisant le rapport f/fg, la mme figure peut tre utilise pour les matriaux de toute
conductivit, permabilit et de tout diamtre. Avec une frquence dessai, on peut simplement
choisir une valeur de f/fg qui se trouve dans la rgion linaire du plan dimpdance pour bien
un contrle non destructif par CDF.

II-3-6 Bobines excitatrices et sondes

En contrles non destructifs des matriaux par CDF, diverses types de bobines excitatrices
sont gnralement utiliss. Sur la figure II-21 ci-jointe, on donne quelques exemples de bobines
exploratrices usuellement utilises en fonction de lorientation des dfauts.

31

(a)

(b)

(c)

(d)

Figure II-21 Exemples de bobines exploratrices, a) bobine encerclante, b) Bobine ponctuelle

(probe), c) bobine interne pour fissure perpendiculaire laxe du tube, d) bobine interne pour
fissure parallle laxe du tube.

II-3-7 Techniques de contrle

A- Montage
En contrle non destructif par CDF, les mthodes et techniques utilises sont
gnralement bases sur deux types de montage savoir :
a- Montage absolu :
Le terme absolu est utilis pour signifier que la mesure est faite sans rfrence directe ou
de comparaison avec un talon (Fig. II-22). La mme bobine engendre les courants de Foucault et
les mesures

Figure II-22 : Exemple de montage absolu

32

b- Montage diffrentiel :
Dans ce cas, deux bobines connectes en opposition srie sont utilises (Fig. II-23). Une
telle disposition peut tre utilise de deux faons diffrentes :
1)- Lune des bobines entoure ou est place sur un talon ou un chantillon connu bon ou
exempt de dfauts nuisibles et lautre bobine entoure la pice examiner ou est place sur celleci. Si la pice examiner est bonne, la tension de sortie entre les deux bobines est nulle. Si les
deux pices diffrent pour une raison quelconque, il existe une tension de sortie.

2)- Les deux bobines sont disposes coaxialement de faon ce que la pice examiner
traverse les deux bobines. Une portion de la pice tant alors compare une portion adjacente.
Si un dfaut est suffisamment long ou large pour stendre travers les deux bobines, cette
technique ne rvle pas la prsence du dfaut, except au moment o le dfaut pntre ou quitte
lassemblage de bobines.
1)

Rfrence

Pice teste

2)

Mesure

Figure II-23 : Exemples de montages diffrentiels

33

B- Traitement du signal (mesures)

Le signal fourni par les bobines exploratrices varie dune manire qui dpend des conditions
de lessai et la fonction du dtecteur consiste indiquer les variations de ce signal ou dindiquer
quand ces variations dpassent une valeur donne. Les dtecteurs peuvent tre :
-

Des simples ampremtres ou voltmtres rpondant lamplitude du signal

Des ponts dimpdance (Fig. II-24)

Des circuits dtecteurs phase-amplitude qui ralisent une analyse plus complte du signal.
R

V
R

Impdance rglable
Test

Figure II-24 : Utilisation dun pont dimpdance pour le contrle par CDF

II-3-8 Avantages et limitations du contrle par C.D.F.

Parmi les avantages et les limitations des essais non destructifs par courants de Foucault, on
note :
a- Avantages :
Le contrle non destructif par courant de Foucault est une technique trs sensible, rapide et
fiable. Elle permet une prcision de contrle en particulier pour la mesure de la conductivit
lectrique et de lpaisseur des pices et se prte bien lautomatisation.
b- Limitations :
Bien que cette technique est dune grande sensibilit pour la dtection des dfauts superficiels
(dfauts dbouchant la surface ou juste en dessous de celle-ci), elle prsente toutefois quelques
limitations telles que :
-

La pntration des CDF est limite en profondeur

Le nombre de variables influant est important

La mthode ne permet de donner quun caractre qualitatif de linformation

A cause du bruit de fond, la mthode prsente des difficults dinterprtation des signaux.

34

III- Techniques de dtection des dfauts internes

III-1 Contrle par ultra-sons
III-1-1 Principe
Le contrle par Ultra-sons est bas sur un phnomne de mme nature que celui de lcho
capt par loreille humain ou du sonar utilis en sondage maritime. Dans les techniques des essais
non destructives, le principe de contrle ultra-sonore est bas principalement sur:
Lmission dimpulsions ultra-sonores dans le matriau.
La rflexion de ces impulsions sur un dfaut.
La rception dimpulsions rflchies.
La mthode de contrle consiste donc transmettre des impulsions acoustiques de hautes
frquences (ultra-sonores) dans un matriau qui se propagent dans ce dernier suivant diffrents
modes de propagation (Fig. III-1). La prsence dune discontinuit sur le trajet des ultra-sons
provoque une rflexion partielle des impulsions et le signal rflchi est capt par un transducteur
qui fournira une indication du dfaut rencontr.

Onde US

Figure III-1 : Mise en uvre dun contrle par ultra-sons

Dans un matriau parcouru par une onde ultra-sonore, la relation entre frquence et longueur
donde est une caractristique propre ce matriau et dpend principalement de la vitesse de son
dans le milieu considr. Ainsi, avec une frquence de londe de 1MHz, la longueur donde
rsultante est de lordre de quelques millimtres pour la plupart des mtaux permettant ainsi une
analyse fine de leurs dfauts. Compte tenu de cette relation entre frquence et longueur donde,
et, pour obtenir une analyse fine, les frquences employes sont gnralement leves pouvant

35

atteindre 10MHz. De telles frquences produisent donc des ondes acoustiques bien au-del du
seuil daudibilit de loreille humaine. Les frquences industrielles bien leves sont appeles
ultra-soniques. De ce fait, dans le langage courant, on appelle ultra-son un son dont la frquence
est gnralement suprieure 20000Hz.
On dmontre que les dimensions minimales dun obstacle (Dfaut) capable de rmettre le
son sont de lordre de la demi longueur donde des vibrations sonores (pouvoir de rsolution).

III-1-2 Nature des ondes ultra-sonores.

Les ondes ultra-sonores sont des vibrations mcaniques qui provoquent un mouvement du
milieu dans lequel elles se propagent. La dformation qui accompagne ce mouvement est de
nature lastique. En lasticit linaire et, en supposant que le milieu de propagation est isotrope,
on dmontre facilement quil existe deux modes de propagation savoir :
Dplacement sans cisaillement (ondes de compression)
Dans ce mode, la vitesse de propagation est donne par:

CL

E(1 )
(1 )(1 2)

O :
: Coefficient de poisson (pour les aciers est proche de 0.3)
: Poids spcifique du milieu.
Dplacement sans dilatation (ondes de cisaillement)
La vitesse de propagation est donne par:
CT

E
2(1 )

O G est le module de Coulomb donn par : G

E
2(1 )

III-1-3 Les diffrents types dondes

Si on considre le modle lastique dun solide (Fig. III-2) o les liaisons entre les particules
le constituant sont assimiles des ressorts de raideurs donnes, lexcitation de chaque particule
sera soumise une oscillation qui sera transmise son tour aux particules voisines. Lorsque les

36

excitations sont entretenues dans le temps, londe ainsi gnre se propagera travers toute
lpaisseur du matriau.

Figure III-2 : Modle des solides lastiques

Selon la nature et le mode dexcitation, le mouvement des particules sera diffrent. Dans la
pratique des contrles non destructifs, on distingue plusieurs modes de propagation qui donnent
naissance diffrents types dondes.

a- Les ondes longitudinales

Dans ce type dondes connues sous le nom dondes de compression, le mouvement des
particules est parallle la direction de propagation des ondes (Fig. III-3). Elles existent pour
tous les tats physiques (liquide, solide et gazeux).

Direction de
propagation

Figure III-3 : Mode de propagation des ondes longitudinales

b- Les ondes transversales (ou ondes de cisaillement)

Lorsque le mouvement des particules est perpendiculaire la direction de propagation
(Fig. III-4), on assiste des ondes dites de cisaillement. Ce type dondes nexistent que pour
ltat solide (Ggaz=Gliq=0).

37

Direction de
propagation

Figure III-4 : Mode de propagation des ondes transversales

c- Les ondes de surface

Lorsque les ondes transversales sont produites la surface dun matriau, elles prennent des
caractristiques particulires appeles ondes de Rayleigh. Les ondes de Rayleigh apparaissent
la surface dun solide et se propagent une vitesse un peu plus faible que celle des ondes
transversales. Le mouvement des particules est une ellipse rsultante dun dplacement
perpendiculaire la surface et dun autre dplacement plus faible parallle la direction de
propagation. Ce type donde est surtout utilis pour le contrle des dfauts dbouchants ou situs
proximit de la surface dexamen. Ainsi, elles naffectent quune paisseur du matriau de
lordre de la longueur donde et sont considres comme la combinaison dune onde de
compression et dune onde de cisaillement qui se dplacent la mme vitesse et dans la mme
direction. La vitesse de propagation dans un solide est denviron 90% de la vitesse de
cisaillement (0.9 CT). Elle est donne par :

C r 0.87 1.12

CT
(1 )
Lutilisation des ondes de Rayleigh en C.N.D. est particulirement adapte pour le contrle
des tles et des plaques.

d- Les ondes de Lamb

Les ondes de Lamb se produisent par la transmission dondes transversales dans une pice
mince dont tout le volume participe vibration. Cest un type dondes trs peu utilis lheure
actuelle. Il existe uniquement dans les matriaux de faible paisseur (de lordre de la longueur
donde) et est considr comme le rsultat de deux ondes longitudinales et de deux ondes
transversales (Fig. III-5).

38

Figure III-5 : Exemple du mode de propagation des ondes de Lamb

Suivant la faon dont la plaque vibre, on distingue les ondes symtriques et les ondes
antisymtriques. Des exemples des de ces deux modes de propagation sont montrs sur la figure
III-6 ci-dessous.

Figure III-6 : Modes de propagation des ondes de Lamb, a) Ondes symtriques, b) Ondes
antisymtriques.

Les ondes de Lamb sont gnralement utilises pour le contrle des tles minces.
Dautres types dondes telles que les ondes radiales, les ondes de torsion, etc., peuvent tre
produites par la combinaison des ondes de compression et des ondes de cisaillement mais
napparaissent pas dans la pratique courante des contrles non destructifs.
Les vitesses de propagation des ondes ultra-sonores dans divers matriaux sont donnes titre
dexemples sur le tableau qui suit.

39

III-1-4 Proprits des ondes ultra-sonores

Lors de la propagation dune onde ultra-sonore dans un milieu donn et, par analogie avec la
relation tension-courant, on dfinit limpdance acoustique de londe comme tant le rapport de
la pression acoustique la vitesse des particules. Si R reprsente limpdance acoustique du
milieu de propagation (lquivalent dune rsistance lectrique), on peut ainsi crire :
R=P/V
O P est la pression acoustique accompagnant ce phnomne et V la vitesse des particules selon
la direction x donne par :

40

dx
dt

En fonction des caractristiques du milieu de propagation, on montre que limpdance R est

exprime par :
R=C
O

: La densit du milieu de propagation.

C : La vitesse de propagation des ondes U.S.

A linterface de deux milieux caractriss par des impdances acoustiques diffrentes, on

assiste une onde rflchie et une onde transmise (Fig. III-7). Pour simplifier, on se limitera au
cas des ondes longitudinales entretenues lors dun passage dun milieu un autre.

Milieu (1)
(R1)

Milieu (2)
(R2)

Onde incidente
Onde transmise
Onde rflchie

Interface des deux milieux

Figure III-7 : Comportement dune onde ultra-sonore au passage dune interface entre
deux milieux diffrents

Au passage de londe travers linterface des deux milieux, on peut montrer facilement (en
lasticit linaire) que lamplitude de londe rflchie peut sexprimer en fonction de lamplitude
de londe incidente par :

41

A R R1 R 2

R1 R 2
Ai

O R1 et R2 reprsentent les impdances acoustiques des deux milieux.

Si on considre que lnergie acoustique E correspondante est proportionnelle au carr de
lamplitude de londe, on peut galement valuer les coefficients de rflexion (r) et de
transmission (t) comme tant:

E R R1 R 2 2

Ei
R1 R 2 2

Et
4R1R 2

Ei R1 R 2 2

Et

Avec Et = Ei - Er

Cas particuliers :
Si R1=R2 : Pas de rflexion, toute londe est transmise.
Si R1-R2 est trs grand : Toute lnergie est pratiquement rflchie (exemple : acier-air).
Sur le tableau 1 ci-joint, on donne titre dexemple, les coefficients de rflexion en nergie
des ondes longitudinales entretenues au passage des diffrents mtaux.

42

Eau

Air

1
10
13
1
12
0
19
16
6
4
8
76
75
10
0

Polyetyln
e
Huile

9
36
40
20
0
12
47
43
19
2
27
58
54
10
0

Verre

3
5
7
0
20
1
12
9
55
9
62
80
79
10
0

Baklite

18
0.2
0
7
40
13
0.8
0.3
71
19
75
88
87
10
0

14
0
0.2
5
36
10
2
1
68
23
73
87
86
10
0

Acier

0
14
18
3
9
1
24
21
42
2
50
74
72
10
0

Nickel

17
36
41
27
9.3
19
50
46
3.6
18
2.9
1.3
1.4
0.00041

Magnsiu
m
Mercure

Aluminium
Laiton
Cuivre
Plomb
Magnsiu
m
Mercure
Acier
Baklite
Verre
Polyetyln
e
Huile
Eau
Air

Plomb

Impdance
caractristiqu
e
106Kgm-2s-1

Cuivre

Milieu

Aluminiu
m
Laiton

Tableau 1: Coefficients de rflexion des ondes ultrasonores sur divers matriaux

24
2
0.
81
2
47
19
0
0.2
75
34
79
90
89
10
0

21
1
0.3
9
43
16
0.2
0
76
31
77
89
88
10
0

42
68
71
55
19
6
75
76
0
32
1
23
18
10
0

2
23
19
9
2
4
34
31
32
0
40
67
65
10
0

50
73
75
62
27
8
79
77
1
40
0
17
12
10
0

72
86
87
79
56
75
89
88
18
65
12
0
0
10
0

10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
10
0
0

74
87
88
80
58
76
90
89
23
67
17
0
0
10
0

Cas gnral :
Si londe U.S. nest pas perpendiculaire linterface des deux milieux, on assiste la
formation de deux ondes rflchies (ondes L et T) et de deux ondes transmises (ondes L et T)
dans les milieux dincidence et de transmission respectivement comme schmatis sur la figure
III-8 ci-dessous:
CL1
Milieu 1

CT11 C =C
L
L1
1

CL2

2
3

CT2

43

Figure III-8 : modes de propagation gnral dune onde ultra-sonore travers deux milieux
diffrents
La propagation des ondes rflchies et transmises travers linterface des deux milieux est
rgie par la loi de Snell qui postule que :
sin sin 1 sin 2 sin 3

CL1
CT1
CT 2
CL 2

Si langle dincidence augmente, 3 augmente jusqu ce quelle atteigne la valeur de 90.

La valeur de correspondante est alors appele premier angle critique. Si continue
augmenter, on atteint un deuxime angle critique pour lequel 2=90.

Exemple : Acier-Plexiglas
- Premier angle critique : 27.
- Deuxime angle critique : 57.

III-1-5 Production des ondes ultra-sonores.

A- Les traducteurs (ou palpeurs)
On appelle traducteur, tout systme permettant de transformer une forme dnergie en une
autre.
Exemples :
- Cellule photo-lectrique: Elumineuse

Electrique

- Cristal piezo-lectrique : Electrique

Emcanique.

44

Dans la pratique des ondes U.S., le traducteur est appel palpeur. La production des ultrasons (vibrations mcaniques) est base sur le phnomne de la piezolectricit. Sous leffet dune
diffrence de potentiel, le cristal constituant le palpeur entre en vibration et produit des ondes
ultra-sonores et inversement. Les principaux cristaux pizo-lectriques utiliss cet effet peuvent
tre:

- Quartz (SiO2)
- Titanate de baryum (TiBaO3)
- Zirconate de Plomb (PbZrO3+PbTiO3)
- Mtanobiate de Plomb (PbNb2O6)
- Sulfate de Lithium.

B- Diffrents types de palpeurs

Les diffrents palpeurs usuellement rencontrs en contrles non destructifs sont constitus
principalement dun cristal pizo-lectrique, dun produit amortisseur dondes et des connexions
lectriques pour lexcitation et la rception des signaux. Dans la pratique des ondes US, un
palpeur peut tre constitu dun seul cristal pizo-lectrique permettant la fois de produire et de
recevoir des ondes rflchies ou de deux cristaux jouant le rle dmetteur et de rcepteur
distincts. Diffrents palpeurs sont utiliss cet effet, on distingue en particulier:

a- Palpeurs droits
Comme schmatis sur la figure III-9 ci-dessous, les palpeurs droits sont conus pour gnrer
des ondes longitudinales, perpendiculaires linterface avec le produit contrler.
Cble
coaxial

Botier

Amortisseur

Cristal
Protection
plastique

45

Figure III-9 : Palpeur droit

Lamortisseur est gnralement un matriau composite (mlange de poudre mtallique avec du
caoutchouc ou de laraldite).
b- Palpeurs dangles
Les palpeurs dangles sont destins produire des ondes transversales. Ils produisent une onde
longitudinale incline qui, au passage de linterface avec le mtal, se transforme par lapplication
de la loi de Snell (Fig. 10) en une onde transversale.
Amortisseur
Cble coaxial
i
L

Figure III-10 : Palpeur dangle

Dans de tels palpeurs, les angles de rfraction dans lacier les plus couramment utiliss
sont de 35, 45, 60, 70 et 80. Cependant, pour des angles dincidence plus faibles ou plus
grands, deux ondes (L et T) peuvent tre simultanment produites. En effet :
- 35, on a persistance dune onde longitudinale.
- 80, on a une production des ondes de surface.

c- Palpeurs angle variable

Avec ce type de palpeurs, la direction du faisceau rfract peut tre modifie laide dun
dispositif de rotation du cristal comme schmatis sur la figure III-11 ci-joint :
Cble
coaxial

Plexiglas
Amortisseur

Cristal
1
2
2
1

46

Figure III-11 : Palpeur angle variable

d- Palpeurs focaliss
A laide dune lentille acoustique (Fig. III-12), lnergie ultra-sonore produite par de tels
palpeurs devienne plus forte et plus concentre dans le matriau.

Cristal
Lentille sphrique

Figure III-12 : Palpeur focalis

Ces types de palpeurs sont gnralement utiliss lors du contrle sous leau.

e- Palpeurs Emetteur-Recepteur (E/R)

Avec des palpeurs metteur - Receleur spars, des dfauts trs prs de la surface peuvent
tre dtects jusqu 3mm environ (Fig. III-13).
Amortisseur

Cristal metteur

Cristal Rcepteur

47

Figure III-13 : Palpeur Emetteur-Recepteur spars

III-1-6 Champ sonore produit par un palpeur
a- Cas dun palpeur droit

A la sortie du palpeur, on distingue deux zones dans le champ sonore (Fig. III-14)
savoir :

Champ proche

Champ loign
Champ
loign

Champ
proche

d
/2 Divergence du
faisceau
Cristal

Figure III-14 : Champ sonore la sortie du palpeur

Dans le champ proche, il existe de nombreuses interfrences entranant de fortes variations

damplitudes mais sans divergence (Fig. III-15). Par contre, dans le champ loign, lintensit
ultra-sonore dcrot en fonction du carr de la distance au cristal caractris par une convergence
du faisceau. La variation de lintensit ultra-sonore avec la distance est de la forme :
I
0

48

Figure III-15 : volution de lintensit ultra-sonore la sortie du cristal du palpeur

La longueur du champ proche est prise arbitrairement gale la distance entre le cristal et le
dernier maximum de la courbe. Soit :

d 2 2

o est la longueur donde et d est le diamtre du cristal.

Comme la longueur donde est trs faible devant le diamtre du cristal d, la distance du
champ proche peut tre approxime par :

d2
4

Les ultra-sons se propagent principalement en ligne droite, et ceci dautant mieux que la
longueur donde est faible; mais en pratique, il existe toujours une divergence ou talement du
faisceau lorsquon sloigne de la source. Langle de divergence dans le champ loign est tel
que:
sin / 2 1.2

Un talement minimum du faisceau est obtenu pour faible longueur donde et une source
dassez grande surface. Une frquence dmission leve amliorera donc la rsolution. Le bruit
diminuera lorsque les dimensions de la source augmenteront.
Exemple :
Cristal de diamtre d=19mm oprant en ondes longitudinales avec une frquence F=1MHz sur
une pice dacier
F=1MHZ, d=19mm, CL=5900m/s

CL
5900

5.9 10 3 m
6
F 1 10

5900

2 sin 1 1.2 10 3
43.8o

19

d 2 2 19 2 5.9 2 10 3

13.8mm
4
4 5.9

49

b- Cas dun palpeur dangle

Comme pour les palpeurs droits, toutes les proprits prcdentes restent valables au cas des
palpeurs dangle. Pour un cristal rectangulaire de dimensions a,b, le champ proche est exprim
N

par :

ab

(a, b =cts du cristal).

En ce qui concerne la divergence dans le champ loign, on a :

sin / 2 / a

Dans le plan contenant a

sin / 2 / b

Dans le plan contenant b

III-1-7 Techniques de contrle

A- Matriel
En contrles non destructifs des matriaux, lappareillage gnralement utilis peut tre
simplifi comme schmatis sur la figure III-16 ci-dessous :
Gnrateur

Base de temps

Oscilloscope

Emetteur
Amplificateur

Palpeur

Fitre

y
Slecteur
Pice avec dfaut

Figure III-16 : Appareillage du contrle ultra-sonore

B- Sondage
Dans les techniques de contrle U.S., diffrentes modalits pratiques permettent lexcution
dun sondage. En gnral, on distingue:

a-Sondage par rflexion

Dans cette technique, le palpeur sert la fois dmetteur et de rcepteur, et le train dondes se
rflchit sur le fond de la pice ou sur un dfaut.
Exemples de sondage:

50

a)- Pice ne prsentant pas de dfaut (Fig. III-17)

Oscillogramme
cho
initial

cho de
fond

Figure III-17 : Exemple de sondage dune pice sans dfaut

b)- Pice avec dfaut (Fig. III-18)

Oscillogramme
cho
initial

cho de
fond
cho du
dfaut

Figure III-18 : Exemple de sondage dune pice avec dfaut

b-Sondage par mission et rception distinctes

Dans cette technique, les cristaux dmission et de rception sont spars soit dans le
mme palpeur, soit dans deux palpeurs distincts (Fig. III-19).

Exemple de sondage:

R
Oscillogramme
Impulsion
dmission

cho
dinterface
cho du
dfaut

cho de fond

51

Figure III-19 : Exemple de sondage par mission et rception distinctes

c- Sondage par transmission

En sondage par transmission, les palpeurs metteur et rcepteur sont situs de part et
dautre de la pice examiner (Fig. III-20). Un paralllisme des deux palpeurs durant le
sondage est indispensable pour une meilleure rsolution.

Exemple de sondage:
E
Oscillogramme
Impulsion
dmission

En absence du
dfaut

En prsence du
dfaut
R
Figure III-20 : Exemple de sondage par transmission

III-1-8 Attnuation
Comme toutes les formes dondes, les ondes US subissent une attnuation en nergie durant
leur propagation dans un milieu donn. Cette attnuation est due plusieurs phnomnes dont on
peut citer :

52

a-Attnuation due linterface

Lattnuation due linterface de deux milieux de propagation donns est dautant plus
leve que la diffrence des impdances est leve. Plus la diffrence des impdances des deux
milieux (R1-R2) est leve, plus la perte dnergie ultra-sonore est leve.

b-Absorption
Labsorption est due gnralement aux pertes thermiques rsultantes des frottements entre
particules. Il sagit dans ce cas dune conversion partielle de lnergie mcanique en nergie
calorifique. Pour les matriaux homognes et isotropes, le coefficient dabsorption est
proportionnel au carr de la frquence de londe.

c-Dispersion
Lattnuation correspondante au phnomne dabsorption est due aux petites rflexions des
ondes U.S. aux inclusions et aux joints de grains. La dispersion des ondes US dpend
principalement de la longueur donde de la vibration et de la dimension moyenne d des
grains de la structure du matriau. En effet :
- Si 100d, la dispersion rsultante est gnralement ngligeable
- Si 10d, on assiste une dispersion forte pour C.N.D.

d-Diffraction
Les phnomnes de diffraction des ondes U.S. se manifestent surtout au niveau des pores et
des inclusions. En gnral, la diffraction est dautant plus importante que la surface de
lchantillon est rugueuse.

e-Attnuation globale
Sous leffet de ces divers phnomnes dattnuation, lattnuation globale des vibrations
ultra-sonores dans un matriau quelconque peut tre dfinit en termes de pression acoustique
comme suit :

53

P P0 exp( L)

O :
= Coefficient dattnuation global.
L = paisseur de la pice.
P0, P = Pressions acoustiques lentre et la sortie de la pice.
Dans la pratique des contrles non destructifs des matriaux, les profondeurs explores sont
gnralement dtermines lavance partir des coefficients dattnuation pour divers types
de matriaux. Dans le cas des aciers, un exemple de la profondeur de contrle est donn sur le
tableau 2 ci-joint.
Tableau 2 : Exemple de profondeur de contrle en fonction du coefficient dattnuation
(dB/mm)

Profondeur de contrle (m)

Faible : 0.0010.01

1 L10

Moyen : 0.010.1

0.1 L1

Fort : 0.1

0 L0.1

Dune manire gnrale, lattnuation globale de londe ultra-sonore augmente lorsque la

frquence dexcitation augmente. Pour un meilleur contrle dune pice quelconque, il est donc
ncessaire de rechercher un compromis entre la frquence dexcitation et le diamtre de la sonde
utiliser.

III-1-9 valuation des dfauts

Lors de lexamen ou du contrle CND par ultra-sons dune pice quelconque, la dtection et la
localisation des dfauts peut tre facilement mene partir de lanalyse des signaux rflchis
linterface des dfauts et du fond de la pice. Cependant, et comme toutes les techniques
danalyse ou dexamen, un talonnage de lappareillage utilis est indispensable avant de
procder au contrle proprement dit. Ltalonnage est gnralement effectu laide des blocs
standard normalis. Un exemple de bloc dtalonnage ASTM est prsent sur la figure III-21 cicontre :

54

Figure III-21 : Bloc dtalonnage des appareils ultra-sonores

Une fois dtects et localiss, lvaluation gomtrique de limportance et de la grandeur des
dfauts ncessite cependant des mthodes dites directes ou indirectes par rapport des talons de
rfrences permettant destimer la forme du dfaut. Avec les techniques de numrisation des
signaux et danalyse dimages, la forme exacte des dfauts peut tre toutefois dtermine avec
une certaine rsolution qui dpend en plus des paramtres de contrle, de la nature du matriau
constituant la pice examiner.

Types de dfauts
En contrle non destructif par ultra-sons, on distingue gnralement les dfauts dits
unidirectionnels ou non volumiques et les dfauts multidirectionnels ou volumiques. Au cours du
balayage de londe ultra-sonore dans une pice, les dfauts non volumiques produisent des chos
pointus (Dcroissance rapide de lcho), par contre les dfauts volumiques provoquent des chos
dont la dcroissance damplitude est lente comme schmatis sur la figure III-22 ci-contre :

55

Hauteur de lcho

Hauteur de lcho

Dfaut
Volumique

Dfaut non
volumique

Figure III-22 : Exemple dchos de rponse en fonction de limportance du dfaut

Un exemple de contrle de limportance dun dfaut t propos par linstitut de soudure (IS)
qui a dfini une procdure de distinction des dfauts. La procdure consiste faire pivoter
denviron 10 partir de la position donnant la hauteur maximale du signal le palpeur autour du
dfaut et dexaminer le niveau de la dcroissance. On peut alors conclure ce qui suit :

Si la dcroissance de lcho est infrieure 66dB, on considre que le dfaut est

volumique.

Si la dcroissance de lcho est suprieure ou gale 6dB, on considre que le dfaut non
volumique.

III-1-10 Mthode dvaluation dun dfaut par comparaison avec des dfauts de rfrence
La mthode est base sur la comparaison entre lcho produit par un dfaut et lcho dun
rflecteur dans un bloc de rfrence donn. Dans cette optique on distingue les mthodes dites
directes et les mthodes indirectes.

a -Mthodes directes :
Dans les mthodes dites directes, il faut disposer dun talon constitu du mme matriau que
la pice examiner avec un rflecteur de rfrence situ une distance sensiblement gale la
distance du dfaut. Lvaluation se fait alors en exprimant la diffrence entre les amplitudes en %
(ou en dB) des chos du rflecteur et du dfaut dtect.

56

b -Mthodes indirectes :
laide dun bloc de rfrence donn, on value la courbe de rponse Distance -Amplitude
partir de la rponse obtenue par chaque rflecteur (Fig. III-23).

Exemple :

A
(dB)

A+50%
A

e
A-50%A
Distance
Figure III-23 : Mthode dvaluation indirecte des dfauts
Avec une telle mthode, lvaluation du dfaut est effectue en pourcentage du rflecteur
gnralement suppos cylindrique. Le matriau du bloc doit tre de mme nature que celui de la
pice examiner et les tolrances sur lpaisseur du bloc en fonction de lpaisseur de la pice e
doivent tre:

20%e pour e50mm

10mm pour e50mm

c- Mthode D.A.G. :
La mthode D.A.G. (Distance-Amplification-Grandeur) est une mthode base sur lexamen
simultan de la distance entre la surface explore et dfaut, de son amplification obtenue sous les
conditions dessai et de sa grandeur. Pour ce faire, un certain nombre dhypothses de base
doivent tre poses savoir :
-

Labsorption des ultra-sons par le matriau est suppose ngligeable.

Les effets de couplage sont supposs ngligeables.

La vitesse des ultra-sons est suppose constante dans le matriau.

Les dfauts sont assimilables des disques plats parfaits et perpendiculaires au faisceau
ultra-sonore.

57

Sous ces hypothses, on dmontre que les rapports des pressions acoustiques dincidence (P0)
et de rflexion (P) du signal obtenu sur un dfaut sont de la forme :

P
2 G 2 / A 2
P0
P
/ 2A
P0

O :

Pour un petit rflecteur

Pour un grand rflecteur.

G=d/D=diamtre norm=diamtre dfaut/diamtre palpeur

A=X/N=distance norme=distance palpeur-dfaut/champ proche.

Dans lchelle logarithmique, on dfinit les amplifications comme tant :

V1 20 log( P / P0 ) 40Log 40LogG 40LogA

V2 20 log( P / P0 ) 20Log 20Log 2 20LogA
Pour chaque grandeur relative du dfaut (G), on peut alors suivre lvolution des
amplifications V1 et V2 des diffrents types de rflecteurs. Cependant, pour chaque palpeur, il
existe un diagramme DAG correspondant. Si la pice que lon contrle permet dobtenir un cho
de fond, il est alors possible de dterminer V et dvaluer par consquent le rflecteur
quivalent qui produirait le mme cho que le dfaut rencontr comme schmatis sur la figure
ci-dessous. Un exemple de diagramme DAG est donn sur la figure III-24 qui suit.
Amplification (V)

cho de fond
V

Petits rflecteurs

Distance la surface
Figure III-24 : Exemple de diagramme DAG

58

III-2 Radiographie X

III-2-1 Introduction

La radiographie est une technique de contrle non destructif qui consiste projeter sur une
surface sensible lombre volumtrique de la pice contrler laide dun rayonnement pntrant
(ionisant) pour dtecter, localiser et identifier les discontinuits internes quelle peut comporter
(Fig. III-25). Le rayonnement utilis peut tre le rayonnement X ou .

Source
Rayons X

Pice
Dfaut (fissure)
Film
Figure III-25 : Exemple de contrle radiographique

III-2-2 Nature du rayonnement

Les rayons-X sont des ondes lectromagntiques de mme nature que la lumire ordinaire
mais en diffrent par leur longueur donde qui est sensiblement infrieure. Dans lchelle
lectromagntique des ondes (Fig. III.26), la longueur donde des rayons X se situe entre les
rayons cosmiques et les Ultra-violets.

59

X
Ondes lect.

Ondes radio

I.R.

U.V
.

Rayons cosmiques
W

10-10

10-8

10-6

10-4

10-2

102

104

106

108

1010

1012

(eV)

1eV1,6 10-12 erg.

1erg620.000 Mev

Figure III-26 : chelle des ondes lectromagntiques

Comme on le remarque sur cette dernire chelle, les domaines .nergtiques occups par les
rayonnements X et sinterpntrent. Ils se distinguent essentiellement par la nature de leur
source. Les photons X sont dorigine lectronique, tandis que les rayons sont spontanment
mis par des radiolments naturels ou artificiels.
Les proprits des rayons X (ou ) peuvent tre rsumes comme suit :
1- Ce sont des radiations lectromagntiques invisibles
2- Ils peuvent pntrer dans la matire
3- Ils sont absorbs diffrentiellement
4- Ils se propagent en ligne droite
5- Ils produisent des effets photochimiques sur des mulsions photographiques.
6- Ils ionisent les gaz quils traversent.
7- Ils ne sont pas affects par les champs magntiques et lectriques.
8- Leur vitesse de propagation est de 3. 108 m/s.
9- Ils sont capables de librer des photolectrons.
10- Ils provoquent la fluorescence de certaines substances.

III-2-3 Production des rayons-X

Les rayons-X sont produits par transfert dnergie quand des lectrons rapides rencontrent une
cible mtallique appele anticathode ou anode. Le matriel de base pour produire des rayons-X

60

est compos essentiellement dune source dlectrons, un moyen dacclrer ces lectrons et une
anode mtallique. Dans les techniques radiographiques, le tube de Coolidge est presque le
seul tre utilis aujourdhui (Fig.III-27).

Figure III-27 : Tube de production des rayons X

Les lectrons mis par le filament de la cathode et acclrs par le champ lectrique intense
arrivent anims dune grande vitesse sur lanticathode. Sous le choc, lnergie cintique des
lectrons se convertit principalement en chaleur (99%) tandis que seul 1% restant se transforme
en ondes lectromagntiques de trs courte longueur donde (c--d en rayons-X).
La production des rayons X est dautant plus abondante que le nombre atomique de llment
constituant lanticathode est plus lev. On utilise gnralement le tungstne qui, en plus de son
numro atomique lev, il prsente lavantage de ne fondre qu haute temprature.
Pour favoriser la dissipation de la chaleur, lanticathode est habituellement noye dans un bloc
de cuivre.

61

III-2-4 Caractristiques des rayons-X

A- Radiation lectromagntique

Une radiation lectromagntique peut tre considre de deux manires diffrentes : Comme
tant une onde ou comme tant constitue de particules appeles photons de vitesse C tel que :
C=.F

o F est la frquence de la radiation.

Quand une radiation mise par un tube rayons X est analyse spectralement (Fig. III-28), on
voit quelle est constitue de deux parties :
-

Les spectres continus de rayons-X.

Les spectres caractristiques.

Figure III-28 : Exemple de spectre caractristique du rayonnement X

La longueur donde minimale de la radiation produite est inversement proportionnelle la
tension du tube de rayons X. Elle est donne par :
min

12399

o V = tension du tube en V.

Lorsque la tension du tube V augmente, min diminue et par consquent la pntration du

rayonnement dans le matriau augmente. En augmentant la tension dans le tube, on montre que
lintensit de la radiation mise augmente. En gnral, lintensit du spectre continu augmente
avec le carr de la tension selon:

62

I k.V 2

o k est une constante qui est dtermine par le matriau de la cible.

Les spectres continus de rayons X ou min sont indpendants du matriau de la cible

(anticathode).
Lorsque la tension du tube dpasse une certaine valeur minimale dicte par le matriau de la
cible, la quantit dnergie transmise varie cause des interactions entre les atomes de la cible et
les rayons cathodiques et par consquent, la forme de rpartition dnergie se trouvera affecte
(Spectre caractristique). La radiation qui est caractristique dun matriau particulier de la cible
nest pas entirement de la mme longueur donde, mais apparat sous forme des groupes de
longueurs dondes ou raies, qui sont habituellement dsigns par des lettres K,L,M,etc.

B- Interaction des rayons-X et de la matire

Quand un faisceau de rayons-X tombe sur la matire, linteraction des photons X avec les
lectrons libres, divers phnomnes peuvent avoir lieu. On distingue en particulier :

a-Diffusion cohrente
Les lectrons libres des atomes, soumis au champ lectrique des rayons X vibrent
harmoniquement avec la mme frquence (1018 Hz) devenant ainsi des metteurs de rayonnement
X dans toutes les directions de lespace la mme frquence dexcitation (Fig. III-29).

Rayons X diffus (=)

Rayons X incidents

e-

Figure III-29 : Diffusion cohrente du rayonnement X

Les ondes diffuses peuvent galement donner lieu des phnomnes dinterfrences.

63

b-Diffusion incohrente (Effet compton) :

Dans leffet Compton, le photon X incident cde une partie de son nergie un lectron
donnant lieu photon X de longueur donde diffrente et, llectron rencontr se trouvera alors
ject avec une vitesse V (Fig. III-30).
e

m v2

ePhoton X ()

Figure III-30 : Effet compton du rayonnement X

Remarque :
Leffet Compton est dautant plus important que :
Llectron cible est plus libre donc plus priphrique, ce qui est le cas des substances
atomes lgers.
- La longueur donde du rayonnement incident est plus petite.
La quantit dnergie incidente absorbe par ces deux phnomnes ne reprsente quune trs
faible fraction (10-2 10-5) de lnergie totale absorbe par la matire traverse par un faisceau de
rayons X.

c-Effet photolectrique (Absorption vraie)

Si lnergie h (h constante de Plank=6.625 10-27 ergs) dun photon X est suffisante, elle peut
ioniser un atome sur une couche profonde en expulsant un lectron dune couche K, Quand
latome ionise retourne son tat initial par re-capture dun lectron, un photon X donc un
rayonnement X ou de fluorescence caractristique de la matire bombarde est mis dans toutes
les directions de lespace.

64

d-Absorption :
En gnral, lutilisation des rayons X en radiographie repose sur labsorption diffrentielle.
Lorsquun faisceau homogne de rayons X dintensit I traverse une paisseur dx dun matriau
quelconque, il subit une diminution dintensit dI qui est proportionnelle lintensit du faisceau
incident et lpaisseur du corps absorbant comme schmatis sur la figure III-31 ci-dessous:

Source

Io

I
Dtecteur

dx
Figure III-31 : Absorption des rayons X
A la sortie de la pice contrle, la variation de lintensit du rayonnement est telle que :
dI=-Idx

soit : I I0 exp( x)

O :
Io = Intensit de la radiation incidente.
I = Intensit de la radiation transmise
= Coefficient dabsorption du matriau.
x = paisseur de la pice.

III-2-4 Effets gomtriques sur le contrle radiographique :

Comme les radiations sont mises selon une certaine divergence du faisceau, des problmes
gomtriques sont souvent rencontrs en contrles non destructifs des matriaux par rayons-X ou
si des prcautions ne sont pas prises en compte. Parmi ces problmes, on distingue :

65

a-Divergence du faisceau
La distance parcourue par les RX travers lpaisseur de la pice est plus grande la
priphrie de celle-ci. En effet, et comme lpaisseur traverse nest pas la mme sur toutes les
zones exposes, le film deviendra plus clair la priphrie quau centre (Fig. III-32).
Source

240

d
2

e
Sombre

Clair

Figure III-32 : Divergence du faisceau de rayons X

Afin de minimiser un tel effet en contrles non destructifs par rayons-X, on considrera en
gnral les limitations suivantes :
- d/cos d+10% pour une radio ordinaire
- d/cos d+6% pour une radio de qualit.
f

b-Effet du pnombre

Pice et dfaut
d
Film radio
Pnombre (p)

Ombre

Figure III-33 : Effet du pnombre sur la pellicule radiographique

66

Daprs la configuration gomtrique ci-dessus (Fig. III-33), le pnombre p est tel que:
p

d.f
Dd

O : d= Distance Dfaut-Film
D= Distance Source-Film.
f = tache focale
Comme pour leffet de la divergence du faisceau, des limitations sur la zone du pnombre
p sont prendre en compte lors du contrle, savoir :
- p 0.4mm pour une radio ordinaire
- p 0.2mm pour une radio de qualit.

Remarques :
- Si le dfaut est prs de la source, p augmente
- Si le dfaut est prs du film, p diminue.
c-Angle douverture
Ordinairement, langle douverture du faisceau de rayons X est tel que :
2=40
Pour faire entrer tout entier dans langle de rayonnement la partie de la pice radiographier,
il faudra adopter une distance dautant plus grande que la pellicule impressionner sera plus
longue. Les distances minimales habituellement adoptes cet effet sont :
- Pour une pellicule de 48cm : 70cm
- Pour une pellicule de 24cm : 35cm
La distance la plus frquemment adopte en pratique est de 70cm.

III-2-5 Effets photographiques

a- crans renforateurs
Dans la pratique des CND par radiographie X ou , le noircissement dune pellicule
radiographique peut tre acclr grce lemploi des crans renforateurs. Ces crans ont les
mmes formats que les pellicules.
Il existe deux types dcrans :

67

Ecrans salins ou fluorescents :

Ils sont constitus dun support mince en carton dont lune des faces est recouverte dune couche
de sels adhrente (tungstate de calcium ou sulfure de Zn). Ces derniers ont la proprit d'mettre
par fluorescence une lumire violette lorsquils sont frapps par les rayons X (sutilisent par
paires). Ces crans ont lavantage de rduire le temps de pose dune cinquantaine de fois (facteur
de renforcement) mais prsentent linconvnient de projeter des grains des constituants sur la
pellicule diminuer par consquent la qualit des films.
Ecrans au Plomb :
Ces types dcrans sont constitus dun support en carton dont lune des faces est mtallise
par une mince couche de Pb. Ils sutilisent par paires (antrieure et postrieure).
Les paisseurs de Pb les plus utilises sont :
- 0.10mm pour lcran antrieur.
- 0.15mm pour lcran postrieur.
Sous laction des rayons X, la couche de Pb met des lectrons (effet photolectrique) et la
pellicule se trouve impressionne tant par laction de la radiation directe que par leffet
photolectrique des crans. Comparativement aux crans salins, ces crans prsentent lavantage
de rduire le temps de pose est 3 fois environ et de ne pas gter limage radio (grains fins).

b- Pellicules radiographiques (films)

Elles sont constitues dun support transparent en cellulode recouvert sur ses faces dune
mulsion de sel dargent sensible aussi bien la lumire ordinaire quaux rayons X.
Impressionne par les rayons X et dveloppe, la pellicule apparat dautant plus noircie que
lexposition (It) est plus pousse. Le noircissement dune pellicule (ou densit) est dfinit par :

I
Log10 i
It

O Ii est lintensit incidente et Ii lintensit transmise.

La loi qui exprime le noircissement en fonction de lexposition est appele : Courbe
sensitomtrique de la pellicule.

68

Exemple :
En contrle radiographique par rayons X, plusieurs types de films peuvent tre utiliss qui
diffrent en fonction de leur densit. En gnral, on distingue des films lents et des films rapides
caractriss par des courbes sensitomtriques diffrentes comme schmatis sur la figure III-34

Densit ()

ci-dessous :

Pellicule
lente

Pellicule
rapide

Log(It)
Figure III-34 : Exemples de courbes sensitomtriques des pellicules radiographiques

Plus la pente de la partie rectiligne est forte (pellicule lente) et plus la pellicule est capable de
donner des images contrastes. Dans le cas contraire, le film sera moins contrast. Pour un
noircissement gal, les pellicules lentes ncessitent une exposition plus pousse.
c Noircissement
Le ngatif dvelopp est dautant plus noirci que la pellicule a t davantage expose aux
rayons X. Lors de lobservation de la pellicule par transparence la lumire, le degr de
noircissement ( ou opacit) peut tre valu comme suit :
Si le ngatif laisse passer 1/10 de la lumire quil reoit : =1
1/100

: =2

1/1000

: =3

Lorsque le noircissement est suprieur 1, lexamen par transparence devient de plus en plus
difficile. Dans ce cas lutilisation des ngatoscopes est toujours recommande.

69

d-Contraste radiographique
Par la connaissance du coefficient dabsorption des rayons X dans un matriau donn,
lvaluation du degr de contraste entre lombre laiss par un dfaut quelconque et celui de la
pice sur une pellicule radiographique peut tre dtermin comme suit :

En considrant une pice prsentant un dfaut quelconque (fissure) (Fig. III-35), on peut
crire :
I0
I I0es

Dfaut

I' I0es'

I' / I (es' / es ) e(s s')

LnI'LnI (s s' )

(Quelque soit t )

Figure III-35 : Exemple dune pice avec

dfaut
La connaissance de la diffrence LnIt-LnIt permet donc dvaluer la diffrence de
noircissement sur la courbe sensitomtrique -Pour une pellicule choisie, plus la pente leve,
plus le contraste (-) est lev. Si (-) est faible, le film apparat clair et peu contrast.

f- Exposition
Rappel :
Si on considre une source de rayonnement donne (foyer RX ou source de rayons
suppose quasi-ponctuelle), lnergie correspondante est transporte par seconde (puissance)
dans un cne de rayonnement comme schmatis sur la figure III-36 ci-dessous. Cette nergie
peut tre considre par exemple comme tant lnergie qui traverserait en 1sec la surface
dcoupe par le cne dans une sphre concentrique.

70

ds
I

Normale ds
d

Figure III-36 : Exemple de propagation dun faisceau de rayonnement

Comme lintensit dans une direction nest autre que le flux () par unit dangle solide ()
dans la direction du rayonnement, on peut crire:
I

ds cos()
d
avec : d
d
d2

Pour un lment de surface ds situ la distance d de la source, lclairement sur cette

surface reprsente donc le flux par unit de surface tel que :

E( w / cm 2 )

d Id I cos()

ds
ds
d2

La luminance ou la quantit dclairement reue par lunit de surface pendant le temps t sera
en premire approximation le produit de lclairement par le temps t. Lorsque =0 (cas gnral
des radios o la surface expose est normale au faisceau du rayonnement), on a :

It
d2

Lexposition Ex sexprimera alors comme tant:

Ex=It
En dfinissant le facteur dexposition F comme tant le facteur dnergie E, on peut crire:
Facteur dexposition = F

I.t
d2

Dans ce cas, le temps de pose t sera dfini par :

Fd2
I

Dans cette dernire expression, lintensit I sera :

71

Dans le cas des RX, proportionnelle lintensit du courant du tube

Dans le cas des rayons , proportionnelle au produit de lactivit en Curies par un

coefficient dpendant de la nature de la source.

g- Diagramme de pose
Dans la pratique des contrles non destructifs des matriaux par radiographie X, des
diagramme dits Diagramme de pose sont tablis en fonction des paramtres de la source et des
conditions opratoires. Ils sont ordinairement fournis par les vendeurs dinstallation
radiographiques. Chaque diagramme est gnralement tabli en fonction de trois paramtres. On
distingue en particulier :
paisseur
Temps de pose
Tension
Un exemple de diagramme de pose est donn sur la figure III-37 ci-dessous. Chaque
diagramme est tabli pour :
Un matriau donn
Un certain domaine de tension
Un courant anodique donn
Une distance film-foyer donn (gnralement 70cm)
Une pellicule dfinie
Un type dcran renforateur donn
Une valeur de noircissement donne.
Si le courant anodique employ est diffrent de celui pour lequel la table est valable, on en
tient compte en considrant la proportionnalit inverse qui existe entre le courant et le temps de
pose ( t k1

1
o k1 est une constante de proportionnalit lorsque les divers autres paramtres
I

sont maintenus constants).

Pour diffrentes distances du film-foyer, on appliquera la loi du carr de la distance telle que :

I k2

1
D2

O k2 est constante de proportionnalit.

72

Figure III-37 : Exemple de diagramme de pose X

73

h- Qualit des films

Afin de dfinir la qualit des films radiographiques raliss sur des pices, des indicateurs de
qualit dimage IQI) ou pntramtres sont souvent utiliss lors du contrle. Un indicateur de
qualit dimage se prsente en gnral sous forme de petit rectangle ou losange constitu du
mme matriau que la pice contrler et muni dun certain nombre de fils parallles ou de trous
dont les diamtres forment une chelle croissante. Plusieurs types de pntramtres ou IQI sont
disponibles et qui diffrent selon la norme choisie. titre dexemple, on retrouve selon la norme
anglaise BS 3971, les IQI suivants (Fig. III-38):

BS 3971
8 AL 13

BS 3971
9 CU 15

Figure III-38 : Exemples dindicateurs de qualit dimages

Dsignation :
9 CU 15 : IQI form par 7 fils de cuivre dont les diamtres varient du fil N9 au fil N15.
8 AL 13 : IQI constitu daluminium et form de 6 trous dont les diamtres varient du trou N8
au trou N13.
Lors des oprations de contrle, les indicateurs de qualit dimage sont placs sur la pice
du ct du rayonnement X. La sensibilit du film est value comme tant :
Sensibilit = (Diamtre du plus petit fil observ/paisseur pice)*100.
En gnral, la qualit exige pour les films radios est de lordre de 2%.

74

III-2-6 Avantages et inconvnients

Comme toutes les techniques de contrles non destructives, la radiographie X prsente des
avantages et des inconvnients quon peut rsumer comme suit :

a- Avantages :
-

Une radiographie est considre comme un document contenant toutes les informations de
la pice examine.

La technique est applicable sur tous les matriaux dans une grande gamme dpaisseur.

b- Inconvnients :
-

Cest une technique chre (investissement + entretien)

La gomtrie des pices doit tre simple.

En contrle radiographique se pose le problme de scurit. En effet, les RX sont

cumulatifs et sont dangereux pour la sant humaine. Mme si les rsultats ne sont pas
immdiats, ils peuvent tre lorigine de :

La strilit,

La ccit,

Autres

75

III-3 Radiographie

III-3-1 Introduction
Les rayons sont mis durant la dsintgration dun matriau radioactif et, comme les rayons
X, ils sont une radiation lectromagntique. Ils ont une longueur donde intermdiaire entre les
longueurs donde max et min des rayons X. Comparativement aux rayons X, les rayons ne sont
pas caractriss par un spectre continu mais constitus en une ou plusieurs nergies spares. Les
principaux avantages des sources des rayons peuvent tre rsums comme suit:
-

Petite taille

Forte pntration de la radiation comparativement avec les sources des rayons X

industriels et dusage courant.

Prix relativement bas en comparaison avec ceux des units X.

Aucune source dlectricit ou deau nest ncessaire.

Un faible contraste dimage permet un grand domaine dpaisseur de mtaux dtre

enregistr en une seule exposition sur un film.
Le principal inconvnient des sources de rayons est la faible intensit de celles-ci, ce qui

demande donc de longues expositions.

III-3-2 Sources de rayons
Les diffrentes sources du rayonnement utilisables en radiographie sont :
-

Raduim (Ra226) et Radon (Rn222)

Cobalt (Co60)

Iriduim (Ir192)

Cesuim (Cs137)

Thulium (Tm170)

Europium (Eu133)

Cerium (Ce144)

Americium (Am241)

76

Xenon (Xe133)

Tantale (Ta182)

Antimoine (Sb124)

Dans le choix des radio-isotopes, trois facteurs principaux doivent tre considrs savoir:
-

La priode de radioactivit

Lnergie des rayons

Le matriau radiographier.

III-3-3 Dcroissance radioactive

La quantit de matriau radioactif existant aprs une priode t peut tre calcule si la quantit
initialement prsente est connue, en utilisant la relation suivante :
N N0 exp( t ) N0 exp(

O :

0.693t
)
T

T= Priode du matriau
N= Nombre datomes du matriau restant aprs un temps t
N0= Nombre datomes du matriau initialement prsent
=0.693/T=Dcroissance radioactive.

Exemple :
Le Co60 a une priode de 5.3 ans
Lactivit dune source de Co60 est de 10 curie(*).
Au bout de 2 ans, N=0.771N0=7.7Ci
(*) : 1 Curie (1 Ci) correspond lactivit un gramme de Radium, cest dire 3.7 1010
dsintgration par seconde.

77

III-3-4 Absorption
Dans leur interaction avec la matire, les rayons se comportent essentiellement comme les
rayons X. Lexpression donne pour labsorption des rayons X est galement valable pour
labsorption des rayons .
En contrle radiographique par rayons , on dfinit lpaisseur de la demi-attnuation
comme tant lpaisseur ncessaire de corps absorbant pour diminuer de moiti lintensit dun
faisceau incident. La connaissance de cette paisseur reprsente un paramtre important dans le
choix de la source en fonction du matriau radiographier.

Exemple :Pb
I/I0=0.5=exp((-0.56)(cm-1)x)
X=1.25cm pour E=1.5MeV

Les paisseurs de demi-attnuation de quelques matriaux et isotopes sont :

-

- Pour le Co60 :

- Pour Cs137 :

Acier 22mm

Acier 17.2mm

Alu

Alu

56mm

41mm

Bton 69mm

Bton 53.5mm

Eau

Eau

136mm

92mm

Pour une source radioactive donne, lnergie de la radiation sera dduite, comme dans le
cas des sources RX, partir de la distance la source et de lactivit du corps radioactif.
Lnergie mise par un corps donn pendant un temps t est donne par :

Ec

Pt
d2

O : P : Activit de la source
c : Facteur dpendant de la source.
t : Temps

Lunit de dosage est le Roentgen. Comme lintensit est lapport dnergie par unit de
temps une unit de surface, le Roentgen mesure donc labsorption dnergie dans un cm3 dair.

78

Cest une unit arbitraire donnant une mesure de la quantit de radiation base sur lionisation de
lair.
En posant : q

cP
d2

(milliroentgen/heure), P sera lactivit en mCi de la source qui

produit q distance d(m)

Exemples du facteur c de la source radioactive :

Cobalt 60 : 1.35
Radium 182 : 0.84
Tantale 182 : 0.61
Csium 137 : 0.32
Iridium 192 : 0.27

Exposition :
Comme pour les rayons X, lexposition des pices en gammagraphie est telle que :
Exposition =It o lintensit I est donne dans ce cas par :
I = cP
Dans ce cas le facteur dexposition F sera :

cPt
d2

et le temps dexposition sera donc donn par :

Fd2
t
cP
III-3-5 Films pour la radiographie
Les types de films et dcrans amplificateurs utilisables pour la radio-X sont utilisables
pour la radio-. De mme, les oprations de ralisation dun film sont les mmes que celles
ncessaires pour les rayons X et les diffrents facteurs intervenants dans la radiographie sont les
mmes que ceux des rayons X.
En gnral, les radiographies rayons ont un contraste plus faible que les radiographies
obtenues avec les rayons X. Ainsi et Par comparaison avec les rayons X, lintensit des sources

79

de rayons est plus faible, chose qui ncessite par consquent des expositions plus longues.
Cependant, le temps dexposition peut tre rduit en utilisant un film rapide et de contraste plus
faible. En gnral, les radiographies rayons ont un contraste si faible que lutilisation dun
film plus rapide ne produit pas les rsultats dsirs.

III-3-6 Manutention et stockage

Les moyens pratiques de manutention des sources radiographiques en industrie ou dans les
secteurs de radiographie t sont des appareils spciaux dans lesquels les sources sont fixes de
faon permanente. Ces units radiographiques sont conues de telle faon que la radiation ne
puisse se diriger que sous la forme dun faisceau. Il est recommand que de tels systmes soient
utiliss quand lactivit de la source est suprieure 1Ci de Co60 ou son quivalent.
Les containers spciaux utiliss pour lexpdition des isotopes sont conus de faon rduire
leurs surfaces les intensits de radiation des niveaux de scurit prdtermines. Des exemples
dappareillage utiliss sont montrs sur la figure III-39 ci-dessous.

Exemples :
Tige de commande
Ouverture de sortie
du faisceau

Source (position en protection)

Plomb

Source radioactive
Figure III-39 : Exemples dappareils pour isotopes radioactifs

80

III-3-7 Dangers prsents par les radiations X ou

Les rayons X et sont appels des radiations ionisantes, car elles produisent des paires
dions dans lair et les tissus quelles traversent. Comme mentionn ci-dessus dans le cas des
rayons X, ces radiations ont une action nuisible sur lorganisme humain. Les effets dpendent de
la quantit de rayons que le corps reoit et les troubles observs peuvent tre rsums comme
suit:

Maux de tte

Manque dapptit

Diminution du nombre de globules rouges

Brlures sur la peau

Strilit

Destruction des tissus.

Pour se prvenir contre de tels troubles, toutes les parties du corps doivent tre gardes de
toute source non protge ou mal protge.
Dans ltat actuel de nos connaissances, on considre comme non dangereuse les doses
suivantes quil est cependant recommand de ne pas dpasser :
- 300mR/semaine
- 3000mR en 13 semaines (3 mois)
- 5000mR en 52 semaines (1 an)
(1R=Rntgen = quantit de radiation telle que lmission corpusculaire associe par 1cm3 dair
sec produise dans lair des ions transportant 1 unit lectrostatique de quantit dlectricit).

81

IV- Techniques diverses

IV-1 missions acoustiques
La production spontane dondes lastiques au sein des matriaux soumis des
contraintes variables se traduit par des missions acoustiques pouvant atteindre des frquences de
quelques dizaines de MgaHertz. En rgle gnrale, la dformation plastique ou la fissuration de
matriaux soumis des sollicitations mcaniques ou thermiques libre une partie de lnergie
lastique pralablement accumule et est gnratrice dondes lastiques de dformation qui se
propagent dans les matriaux.
Les missions acoustiques ont pour origine deux types de phnomnes physiques :
-

Le phnomne de dformation plastique : Dformation homogne ou htrogne, mclage,

fluage et de faon gnrale tous les mcanismes de dplacements de dislocations.

Le phnomne de rupture : amorage et propagation de fissures, rupture ductile ou fragile,

rupture par fatigue ou corrosion.

Ces deux catgories dvnements se traduisent par des missions de natures diffrentes.
(missions caractres continu ou semi-continu, de faible nergie pour la dformation plastique;
missions discrtes de forte nergie pour les phnomnes de rupture).

IV-1-1 Principe de la mthode

La source dmission acoustique cre une onde sphrique qui se propage dans tout le
matriau. Lorsque cette onde atteint la surface de lobjet, il apparat une onde de surface qui peut
tre dtecte laide des capteurs pizo-lectriques. Le principe de la mthode peut tre
schmatis comme suit (Fig. IV-1):

82

Capteur

Amplificateur

Filtre

Discriminateur

Objet

Traitement du signal
Actions extrieures
Visualisation
Enregistrement

Figure IV-1 : Principe du contrle par missions acoustiques

Capteur : Sonde pizolectrique mise en contact avec lobjet qui permet de transformer les
ondes de contraintes en signaux lectriques. La gamme de frquence couvre un large
spectre (100kHz 1MHz).

- Amplificateur : Reprend le signal avec des gains pouvant atteindre 100dB environ.

Filtre : limine le bruit dorigine mcanique basses frquences et les parasites hautes
frquences sils existent. On distingue gnralement, les filtres passe-haut ou passe-bande
choisis en fonction de la frquence du capteur.

Dscriminateur : Pour un seuil pralablement choisi, il ne retient que les alternances du

signal dune amplitude suprieure au seuil fix.

Il faut noter que la dtection de cette mission acoustique prsente deux avantages :
-

Le capteur enregistre des volutions en temps rel. On surveille donc de faon pratique
une structure et lon connat tout moment son endommagement interne.

La dtection se fait distance, en un point quelconque de la structure, ce qui permet un

contrle dendroits jugs inaccessibles pour dautres mthodes.

83

a- Localisation des sources missives :

La dtection des ondes de contraintes mises par une source permet de localiser la position de
la source en disposant de plusieurs capteurs en diffrents points de la structure. La mesure des
diffrences de temps de parcours des ondes et de leurs vitesses de propagation dans le matriau
permettent de localiser la source dmission partir des positions des capteurs repres dans un
systme de rfrence commun.

b- Applications :
Les applications de lmission acoustique sont multiples; les deux grands intrts de la
technique est permettre le suivi en temps rel de lvolution dun phnomne et deffectuer des
mesures dans des endroits inaccessibles directement aux capteurs.

IV-1-2 Possibilits de contrle

a- tude des matriaux :
-

Rupture

Plastification

Propagation de fissure

Fatigue

Corrosion

Fluage

b-Contrle industriel
La mthode peut sappliquer au :
-

Stade de llaboration du matriau

- Transformation de phase dans les mtaux et alliages (transformation martensitique)

- Dtection de la formation des dfauts tels que pores, criques, retassures, soufflures,
inclusions,
-

Au cours de la fabrication

- Mise ne forme du matriau par laminage, forgeage, extrusion,

- Soudage te brasage
-

Aprs la fabrication

84

- Contrle de qualit de pices et dassemblages (souds, colls,..) soumis des contraintes

dans le cadre dun essai de rception adapt.
- Mise en service dinstallation et douvrages sollicits par des efforts ou des contraintes
statiques ou dynamiques.
c- Surveillance de structures
- Surveillance en continu (fissuration en fonctionnement, galeries de mines, cavits
souterraines).
- Contrle priodique (capacits sous pression, pipe-lines, ponts, cbles,etc)
- Dtection de corps migrants (particules libres)
- Dtection de fuites.

IV-2 Thermographie
IV-2-1 Principe de lanalyse thermographique
Lanalyse thermographique a pour but de visualiser une image thermique que lon appelle
thermogramme. Lnergie mise par lobjet traverse latmosphre avant dtre saisie par un
systme optomcanique balayage, possdant un dtecteur infrarouge. Le systme se compose
principalement de deux mouvements tournants, lun vertical et lautre horizontal, que lon obtient
laide de dispositifs optiques adapts en transmission la longueur donde du rcepteur (Fig.
IV-2).
Visualisation

Dtecteur
Camra IR
balayage

Champ objet
Figure IV- 2: Principe du contrle par thermographie IR

85

Le dispositif danalyse spatiale, grce un codage de la loi de balayage, fournit un signal

vido S(t). Ce signal peut tre visualis en temps rel, enregistr sur une bande magntique, pour
ensuite tre analys, photographi par un film Polarod ou sur un film 35mm.etc.

IV-2-3 Applications
La mthode sapplique la recherche des points chauds et plus gnralement au contrle de
la diffusion homogne ou non de lnergie calorifique.
Dans le domaine lectrique, on observe les manifestations de leffet joule pour la surveillance
de moteurs, dalternateurs, de ligne de transport dnergie, de transformateurs, disolateurs,etc.
Grce cette technique, un service de maintenance pourra intervenir en connaissance de cause
avant la dtrioration de linstallation par surchauffe. De mme, ltude des points chauds peut
conduire des mesures correctives au niveau de la conception pour rendre, par exemple, la
dissipation plus homogne et viter ainsi un vieillissement prmatur du matriel par la prsence
dlments surchauffs.
Pour ltude des contraintes mcaniques, on dclera, grce la trs bonne rsolution de la
thermographie, les amorces de fissures qui prennent naissance dans les zones les plus sollicites
mcaniquement dune prouvette. Ces zones sont les plus chaudes.
En hydraulique, lutilisation de la thermographie permet de visualiser les coulements tels que
les rejets en rivires ou en mer ou encore pour dcouvrir des sources et des courants froids ou
chauds partir dobservations ariennes.
Les mesures infrarouges se rpartissent en mesures de flux spcifiques la dtection de
sources de chaleur et en mesures de rpartition de temprature en imagerie thermique. Lappareil
opre en rfrence une valeur de source talonne. On peut ainsi mesurer lhomognit dun
matriau qui donnera une image uniforme. Cette application sert couramment en contrle
industriel de rception.

IV-3 Tomographie
La tomographie est un procd complmentaire de certaines mthodes dobservation. Elle
offre de nombreuses possibilits en radiographie, tant mdicale quindustrielle.

86

Le principe du procd utilis de longue date consiste ne prendre le clich que dune tranche
ou dune coupe dun objet. Il a donn lieu un type dobservation tranche aprs tranche,
loprateur faisant une interprtation des dtails, ainsi mis en vidence ou cherchant
reconstituer lobjet partir de plusieurs clichs.
Dans un clich radiographique classique, il est difficile de faire la reconstruction spatiale de
lobjet, car toutes les informations concernant son volume sont ramens dans le plan de
lmulsion. Actuellement, en associant le principe de la tomographie un calculateur
dacquisition et de traitement dimages, il devient possible de reconstituer lectroniquement
lobjet et ses coupes sous les angles dobservation les plus varis. Lmulsion radiographique est
remplace dans ce cas par un dtecteur appropri au procd et la source missive choisie
(Rayonnement X, , etc).
Cette nouvelle technique a trouv son essor dans le domaine mdicale o elle est connue sous
le nom de scanner. Les rsultats sont trs spectaculaires et conduisent des diagnostics trs
efficaces. Le traitement dimage donne la possibilit de ne faire ressortir sur lcran danalyse
que lorgane observ et de lexaminer.
Source

Source
Objet

Objet

Dtecteur

Dtecteur
Source
Objet
Dtecteur

Figure IV-3: Exemples de mthodes de contrles tomographiques

87

Comme montr sur les exemples de la figure IV-3 ci-dessus, lappareillage de radiotomographie est totalement diffrent du dispositif habituel de projection radiographique car dune
part le dispositif danalyse (metteur - dtecteur) est anim dun mouvement de rotation ou de
translation, et dautre part, la source met un faisceau de rayonnement fin, alors quen
radiographie conventionnelle, on utilise un faisceau relativement large qui dtermine sur la
surface de lmulsion une projection strictement conique.
partir du grand nombre dinformations obtenues, on reconstruit la distribution des
coefficients dattnuation du rayonnement suivant chaque ligne dobservation.
Ces nouveaux procds de tomographie ont un avenir industriel certain du fait de leur
automaticit et de la puissance danalyse quils procurent, tant pour lobservation dtaille de
certains lments dun objet que pour sa reconstruction en volume. De plus, linformation stocke
sous forme numrique peut tre restitue sur certains crans de visualisation ou sur support
papier.

IV-4 Techniques de mesure utilisant des sources laser

La proprit fondamentale dun rayonnement laser (Light Amplification by Stimulated
Emission of Radiation) est sa cohrence par opposition aux autres sources de photons dites
incohrentes. Dans un phnomne ondulatoire telle que la lumire, le mot cohrence dsigne la
relation de phase entre tous les photons mis, soit le domaine visible, soit de part et dautre dans
linfrarouge et lultra-violet.
Lemploi des sources Laser comme illuminateur permet donc de visualiser des points ou des
surfaces dun objet dont les positions dans lespace peuvent tre ensuite mesures avec un
appareillage adapt.
Lutilisation des Lasers prsente trois types de risque :
Un risque dordre gnral occasionn par la prsence de la haute tension
Un risque au niveau de la peau de par leffet thermique du rayonnement
Un risque au niveau de lil, directement frapp par le faisceau; la densit de puissance
surfacique reue par la rtine est trs suprieure celle reue par le soleil.

88

Les techniques de contrles et de mesures par Laser permettent gnralement deffectuer des
mesures opto-lectroniques sans contact qui exploitent en particulier les proprits particulires
de ces sources. Parmi les proprits de base de telles sources, on note en particulier leur
directivit. En effet, La directivit dun Laser est lie aux proprits de concentration angulaire
dun faisceau rduit un rayon de quelques millimtres carrs de section permettant ainsi un
balayage du faisceau avec plus de prcision.
Parmi les techniques de mesures utilisant cette dernire proprit on note en particulier :
a- Alignement par laser
Le systme comprend une source et un dtecteur de position ou cartemtre dont la longueur
donde de rception est accorde celle de lmission afin dliminer les rayonnements parasites.
Elles servent de moyen dalignement tant au moment de la ralisation qu celui du contrle.

b- Profilomtrie laser
La mthode est utilise pour le relev des profils suivant une direction et des surfaces en
combinant deux mouvements orthogonaux par dplacement relatif de lappareil ou de lobjet.

c- Mesures de vibrations
On peut utiliser le Laser pour effectuer des mesures de vibrations dans une gamme
tendue de frquences. Lexamen ou lobservation de la cible (pice) peut tre visuelle ou
photographique suivant la frquence et la trajectoire du spot lumineux.

d- Mesures de grandes distances par tlmtrie Laser

Son principe consiste mesurer le temps de parcours aller-retour de limpulsion mise par
Laser. Les appareils correspondants sont gnralement utiliss en godsie en topographie.

e- Dtection de perturbations du faisceau

La mauvaise propagation du faisceau dans latmosphre peut servir effectuer des
mesures de polluants atmosphriques dans certaines raies dmission.
Dautres techniques bases sur le phnomne de diffraction et de la cohrence du faisceau
sont galement utilises dont on distingue :

89

Mesure de la dimension de petits objets tels que les poudres ou autres particules solides
(200m) partir de la connaissance des figures de diffraction.
Mesure des dplacements linaires et angulaires laide des appareils permettant de
dtecter des variations du chemin optique de lordre de la demi-longueur donde en
utilisant des systmes interfromtres.
Mesures de paralllisme et dangles de pices opaques en utilisant un montage appropri.
La mthode permet de visualiser sur un cran des franges dinterfrences correspondant
un dfaut de paralllisme dune pice opaque. En utilisant une cale dangle, on peut
contrler avec le mme montage, langle de deux faces de cette pice.

IV-5 Holographie
Le principe de la mthode holographique consiste enregistrer sur un rcepteur
photographique (plaque ou film) la surface donde de la lumire rflchie par un objet illumin
en lumire cohrente caractrise par sa phase et son amplitude, Comme le rcepteur nest pas
sensible la phase, mais uniquement lamplitude de londe, il est ncessaire de lui superposer
une onde dite de rfrence, pour mettre en vidence leur diffrence de phase qui contient
linformation relief diffuse par lobjet. Cette diffrence de phase constitue un phnomne
dinterfrence enregistr en amplitude sur le rcepteur de linformation appel hologramme ou
encore interfrogramme. Lhologramme est une carte en amplitude des ondes diffuses par
lobjet. Elle nest ni forme ni observable directement comme lest une image photographique
conventionnelle.
Jusqu rcemment, une seule mthode tait utilisable pour ltude en relief des objets, y
compris les objets de grandes tailles : La mthode stroscopique obtenue par le fusionnement de
deux clichs photographiques. Avec lapparition du Laser et plus gnralement des sources de
lumires cohrentes, lholographie sest dveloppe. lorigine, elle tait limite lobservation
des objets de petites tailles en raison des dimensions rduites des plaques photographiques.

90

Objet

0
Plan de lhologramme

Source
X

Figure IV-4: Principe de contrle holographique

91

V- Recueil des normes Franaises

Abrvations
() : indice de classement ou rfrence
C : domaine lectrique
CD : projet de comit ISO (Committee Draft)
DIS : projet de norme ISO (Draft International Standard)
EN : norme europenne (European Norm)
FD : Fascicule de Documentation
FDIS : projet final de norme ISO (Final Draft International Standard)
DTR : projet de rapport technique ISO (Draft Technical Report)
ISO : norme internationale (International Standard Organisation)
NF : Norme Franaise
PR : projet
TR : rapport technique (Technical Report)
UTE : Union Technique de l'Electricit
X: domaine qualit
XP : norme exprimentale

V-1- Normes gnrales

FD CEN/TR 14748 (Janvier 2005) Essais non destructifs - Mthodologie pour la qualification
des mthodes d'essais non destructifs - Fascicule de documentation

V-2- Certification du personnel

NF EN 473 (Dcembre 2000) - NF EN 473/A1 (Janvier 2006) Essais non destructifs Qualification et certification du personnel END - Principes gnraux - Homologue (versions
franaise et anglaise)

V-3- Contrle visuel

NF EN 970 (Mai 1997) Contrle non destructif des assemblages souds par fusion - Contrle
visuel - Homologue

92

NF EN 13018 (Octobre 2001) - NF EN 13018/A1 (Juillet 2004) Essais non destructifs - Examen
visuel - Principes gnraux - Homologue (versions franaise et anglaise)

V-4- Ressuage
NF EN 480-4 (Janvier 2006) Adjuvants pour bton, mortiers et coulis - Mthodes d'essai - Partie
4 : dtermination du ressuage du bton - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 571-1 (Septembre 1997) Essais non destructifs - Examen par ressuage - Partie 1 :
principes gnraux - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 623-1 (Aot 2006) Cramiques - Techniques avances - Cramiques monolithiques Proprits gnrales et texturales - Partie 1 : dtermination de la prsence de dfauts l'aide
d'essai de ressuage - Homologue (version anglaise)
NF EN 1289 (Aot 1998) - NF EN 1289/A1 (Dcembre 2002) Contrle non destructif des
assemblages souds - Contrle par ressuage des soudures - Niveaux d'acceptation - Homologue
(versions franaise et anglaise)
NF EN 1289/A2 (Juillet 2004) Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle par
ressuage des soudures - Niveaux d'acceptation - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 1371-1 (Aot 1997) Fonderie - Contrle par ressuage - Partie 1 : pices moules au sable,
en coquille par gravit et basse pression - Homologue
NF EN 1371-2 (Juillet 1998) Fonderie - Contrle par ressuage - Partie 2 : pices en moulage de
prcisions (cire perdue) - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 3059 (Dcembre 2001) Essais non destructifs - Essai par ressuage et essai par
magntoscopie - Conditions d'observation - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 3452-2 (Septembre 2007) Essais non destructifs - Examen par ressuage - Partie 2 :
essais des produits de ressuage - Homologue(versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 3452-3 (Fvrier 2001) Essais non destructifs - Examen par ressuage - Partie 3 : essai
des produits de ressuage (Pices de rfrence) - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 3452-4 (Dcembre 1999) Essais non destructifs - Examen par ressuage - Partie 4 :
quipement - Homologue (versions franaise et anglaise)
ISO 4386-3 (Fvrier 1992) Paliers lisses - Paliers lisses multicouches - Partie 3 : contrle non
destructif par ressuage - Norme internationale (versions franaise et anglaise)
NF A09120 (Juin 1984) Principes gnraux de l'examen par ressuage - Homologue .

93

NF A09493 (Mai 1990) Essais non destructifs - Contrle d'tanchit - Pratique recommande
pour ressuage sous vide l'aide de l'hlium - Homologue
NF EN 10228-2 (Juillet 1998) Essais non destructifs des pices forges en acier - Partie 2 :
contrle par ressuage - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10246-11 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 11 : contrle par
ressuage des tubes en acier sans soudure et souds pour la dtection d'imperfections de surface Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 12706 (Mars 2001) Essais non destructifs - Terminologie - Termes utiliss en
contrle par ressuage - Homologue
P18834 (Octobre 1992) Produits spciaux destins aux constructions en bton hydraulique Produits de calage a base de liants hydrauliques - Essai de ressuage en volume confin - Norme
exprimentale

V-5- Magntoscopie
NF F00090 (Septembre 1993) Matriel ferroviaire en gnral - Examen magntoscopique des
pices usage ferroviaire - Critres d'acceptation - Homologue
NF EN 1290 (Aot 1998) - NF EN 1290/A1 (Dcembre 2002) - NF EN 1290/A2 (Juillet 2004)
Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle par magntoscopie des assemblages
souds - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 1291 (Aot 1998) - NF EN 1291/A1 (Dcembre 2002) - NF EN 1291/A2 (Juillet 2004)
Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle par magntoscopie des soudures Niveaux d'acceptation - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 1369 (Fvrier 1997) Fonderie - Contrle par magntoscopie - Homologue (versions
franaise et anglaise)
NF EN ISO 3059 (Dcembre 2001) Essais non destructifs - Essai par ressuage et essai par
magntoscopie - Conditions d'observation - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10228-1 (Juin 1999) Essais non destructifs des pices forges - Partie 1 : contrle par
magntoscopie - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 10246-12 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 12 : contrle
des tubes en acier ferromagntiques sans soudure et souds pour la dtection des dfauts de
surface - Homologue (versions franaise et anglaise)

94

NF EN ISO 10246-13 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 13 : contrle
automatique de l'paisseur par ultrasons sur toute la circonfrence des tubes sans soudure et
souds (sauf l'arc immerg sous flux en poudre) - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 10246-14 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 14 : contrle
automatique de l'paisseur par ultrasons sur toute la circonfrence des tubes sans soudure et
souds (sauf l'arc immerg sous flux en poudre) - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 10246-15 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 15 : contrle
automatique par ultrasons pour la dtection des ddoublures dans les bandes/plaques utilises
pour la fabrication des tubes en acier souds - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 10246-16 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 16 : contrle
automatique par ultrasons pour la dtection des ddoublures de la zone adjacente au cordon de
soudure des tubes en acier souds - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 10246-17 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 16 : contrle
par ultrasons des extrmits de tubes pour la dtection des ddoublures des tubes en acier sans
soudure et souds - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 10246-18 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 18 : contrle
par magntoscopie des extrmits des tubes pour la dtection des ddoublures des tubes en acier
ferromagntiques sans soudure et souds - Homologue (versions franaise et anglaise)

V-6- Emission acoustique

NF EN 1330-9 (Avril 2000) Essais non destructif - Terminologie - Partie 9 : termes utiliss en
contrle par missions acoustiques - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO 4871 (Fvrier 1997) Acoustique - Dclaration et vrification des valeurs d'mission
sonore des machines et quipements - Homologue
NF EN 13554 (Dcembre 2002) - NF EN 13554/A1 (Juillet 2004) Essais non destructifs Emission acoustique - Principes gnraux - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF A09351 (Juillet 1984) Pratiques recommandes pour la localisation des sources d'mission
acoustique - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF A09352 (Novembre 1987) Emission acoustique - Pratique recommande pour la dtection
des fuites - Homologue (versions franaise et anglaise)

95

NF EN ISO 11200 (Juin 1997) Acoustique - Bruit mis par les machines et quipements - Guide
d'utilisation des normes de base pour la dtermination des niveaux de pression acoustique
d'mission au poste de travail et en d'autres positions spcifies - Homologue
NF EN ISO 11201 (Juin 1996) Acoustique - Bruit mis par les machines et quipements Mesurage des niveaux de pression acoustique et mission au poste de travail et aux autres
positions spcifies - Mthodes d'expertise dans les conditions approchant celles du champ libre
sur plan rflchissant - Homologue
NF EN ISO 11202 (Juin 1997) Acoustique - Bruit mis par les machines et quipements Mesurage des niveaux de pression acoustique et mission au poste de travail et aux autres
positions spcifies - Mthode de contrle in situ - Homologue
NF EN ISO 11203 (Juin 1996) Acoustique - Bruit mis par les machines et quipements Dtermination des niveaux de pression acoustique d'mission au poste de travail et en d'autres
positions spcifies partir du niveau de puissance acoustique - Homologue
NF EN ISO 11204 (Juin 1996) Acoustique - Bruit mis par les machines et quipements - Guide
d'utilisation des normes de base pour la dtermination des niveaux de pression acoustique
d'mission au poste de travail et en d'autres positions spcifies - Mthodes ncessitant des
corrections d'environnement - Homologue
NF EN ISO 11689 (Fvrier 1997) Acoustique - Procdure de comparaison des donnes
d'mission sonore des machines et quipements - Homologue
NF A09355 (Aot 1985) Emission acoustique - Couplage des capteurs pizolectriques Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 13477-1 (Juillet 2001) Emission acoustique - caractrisation de l'quipement - Partie 1 :
description de l'quipement - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 13477-2 (Juillet 2001) Emission acoustique - caractrisation de l'quipement - Partie 2 :
vrification des caractristiques de fonctionnement - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 27574-1 (Aot 1989) Acoustique - Mthodes statistiques pour la dtermination et le
contrle des valeurs dclares d'mission acoustique des machines et quipements - Partie 1 :
gnralits et dfinitions - Homologue
NF EN 27574-2 (Aot 1989) Acoustique - Mthodes statistiques pour la dtermination et le
contrle des valeurs dclares d'mission acoustique des machines et quipements - Partie 2 :
mthodes pour valeurs dclares des machines individuelles - Homologue

96

NF EN 27574-3 (Aot 1989) Acoustique - Mthodes statistiques pour la dtermination et le

contrle des valeurs dclares
d'mission acoustique des machines et quipements - Partie 3 : mthode simplifie (transitoire)
pour valeur dclare des lots de machines - Homologue
NF EN 27574-4 (Aot 1989) Acoustique - Mthodes statistiques pour la dtermination et le
contrle des valeurs dclares d'mission acoustique des machines et quipements - Partie 4 :
mthodes pour valeur dclare des lots de machines - Homologue

V-7- Thermographie
NF A09400 (Dcembre 1991) Essais non destructifs - Thermographie infrarouge - Vocabulaire
relatif la caractrisation de l'appareillage - Homologue
NF A09420 (Avril 1993) Essais non destructifs - Thermographie infrarouge - Caractrisation de
l'appareillage - Homologue
NF A09421 (Avril 1993) Essais non destructifs - Thermographie infrarouge - Mthodes de
caractrisation de l'appareillage - Homologue

V-8- Courants de Foucault

NF EN 1330-5 (Octobre 1998) Essais destructifs - Terminologie - Partie 5 : termes utiliss en
contrle par courants de Foucault - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 1711 (Mars 2000) - NF EN 1711/A1 (Juillet 2004) Contrle non destructif des
assemblages souds - Contrle par courants de Foucault des assemblages souds par analyse des
signaux dans le plan complexe - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 1971 (Fvrier 1999) Cuivre et alliages de cuivre - Mthode de contrle de tubes par
courants de Foucault - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN ISO 2360 (Fvrier 2004) Revtements non conducteurs sur matriaux de base non
magntique - Mesurage de l'paisseur de revtement- Mthodes par courant de Foucault sensible
aux variations d'amplitude - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10246-2 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier par courants de Foucault Partie 2 : contrle automatique des tubes en aciers austnitique et austnoferritiques sans soudure
et souds (sauf l'arc immerg sous flux en poudre) pour vrification de l'tanchit hydraulique
- Homologue (versions franaise et anglaises)

97

NF EN 10246-3 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier par courants de Foucault Partie 3 : contrle automatique pour la dtection des imperfections des tubes en aciers sans
soudure et souds (sauf l'arc immerg sous flux en poudre) - Homologue (versions franaise et
anglaises)
NF EN 12084 (Juin 2001) - NF EN 12084/A1 (Juillet 2004) Essais destructifs - Examens par
courants de Foucault - Principes gnraux et directives - Homologue (versions franaise et
anglaise)
NF EN 13860-1 (Octobre 2003) Essais non destructifs - Examens par courants de Foucault Partie 1 : caractristiques et vrification de l'appareillage - Homologue (versions franaise et
anglaises)
NF EN 13860-2 (Dcembre 2003) Essais non destructifs - Examens par courants de Foucault Partie 2 : caractristiques des capteurs et vrifications - Homologue (versions franaise et
anglaises)
NF EN 13860-3 (Juillet 2004) Essais non destructifs - Examens par courants de Foucault - Partie
3 : caractristiques du systme de vrifications - Homologue (versions franaise et anglaises)
A91404 (Octobre 1966) Traitement de surface des mtaux - Anodisation (oxydation anodique) de
l'aluminium et de ses alliages - Mesure des paisseurs - Mesures lectriques (courants de
Foucault) - Homologue (versions franaise et anglaises

V-9- Ultrasons
NF EN 462-1 5 (Avril 1994 Juillet 1996) Essais non destructifs - Qualit d'image des
radiogrammes - Parties 1 5 : indicateurs de qualit d'image - Homologues
NF EN 583-1 (Juillet 1999) - NF EN 583-1/A1 (Juillet 2004) Essais non destructifs - Contrle
ultrasonore - Partie 1 : principes gnraux - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 583-2 (Octobre 2001) Essais non destructifs - Contrle ultrasonore - Partie 2 : rglage de
la sensibilit et de la base de temps - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 583-3 (Novembre 1997) Essais non destructifs - Contrle ultrasonore - Partie 3 :
technique par la transmission - Homologue
NF EN 583-5 (Janvier 2001) - NF EN 583-5/A1 (Juillet 2004) Essais non destructifs - Contrle
ultrasonore - Partie 5 : caractrisation et dimensionnement des discontinuits - Homologue
(versions franaise et anglaise)

98

NF F01142 (Juin 1990) Matriel roulant ferroviaire - Organes de roulement - Examen aux
ultrasons - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 1712 (Novembre 1997) - NF EN 1712/A1 (Dcembre 2002) - NF EN 1712/A2 (Juillet
2004) Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle par ultrasons - des assemblages
souds - Niveaux d'acceptation - Homologue
NF EN 1713 (Septembre 1998) - NF EN 1713/A1 (Dcembre 2002) - NF EN 1713/A2 (Juillet
2004) Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle par ultrasons - Caractrisation
des indications dans les assemblages souds - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 1714 (Octobre 1997) - NF EN 1714/A1 (Dcembre 2002) - NF EN 1714/A2 (Juillet
2004) Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle par ultrasons des assemblages
souds - Homologue (versions franaise et anglaises)
ISO 4386-1 (Fvrier 1992) Paliers lisses - Paliers lisses mtalliques multicouches - Partie 1 :
contrle non destructif aux ultrasons des dfauts d'adhrence - Norme internationale (versions
franaise et anglaise)
A09315 (Juillet 1987) Essais non destructifs - Ultrasons - Mthodes des blocs d'talonnage types
A et B - Norme exprimentale (versions franaise et anglaise)
NF A09321 (Dcembre 1988) Essais non destructifs - Ultrasons - Mthodes de caractrisation
des appareils de contrle par ultrasons - Homologue (versions franaise et anglaise)
A09325 (Septembre 1987) Essais non destructifs - Ultrasons - Faisceaux acoustiques Gnralits - Fascicule de documentation
A09326 (Mars 1987) Essais non destructifs - Ultrasons - Procdure de vrification en service des
caractristiques du faisceau ultrasonore des traducteurs par contact - Versions franaise et
anglaise - Norme exprimentale (versions franaise et anglaise)
A09341 (Octobre 1991) Essais non destructifs - Ultrasons - Surveillance des rglages de
l'appareillage par cartes de contrle - Fascicule de documentation
A09342 (Dcembre 1991) Essais non destructifs - Ultrasons - Qualification des rglages
d'appareillage - Fascicule de documentation (versions franaise et anglaise)
A09343 (Dcembre 1993) Essais non destructifs - Ultrasons - Dtermination du critre de rejet Fascicule de documentation (versions franaise et anglaise)

99

NF EN 10228-3 (Septembre 1998) Essais non destructifs des pices forges en acier - Partie 3 :
contrle par ultrasons des pices forges en aciers ferritiques et martensitiques - Homologue
(versions franaise et anglaises)
NF EN 10246-6 9 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Parties 6 9 :
contrle automatique par ultrasons des soudures des tubes en acier - Homologue (versions
franaise et anglaises)
NF EN 10246-13 17 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Parties 13 17 :
contrle automatique par ultrasons de l'paisseur et des ddoublures des tubes en acier Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 12223 (Avril 2000) Essais non destructifs - Contrles par ultrasons - Spcifications
relatives au bloc d'talonnage N 1 - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 10228-4 (Octobre 1999) Essais non destructifs des pices forges en acier - Partie 4 :
contrle par ultrasons des pices forges en aciers austnitiques et austnoferritiques Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 12668-1 (Septembre 2000) - NF EN 12668-1/A1 (Dcembre 2004) Essais non destructifs
- Caractrisation et vrification de l'appareillage de contrle par ultrasons - Partie 1: appareils Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 12668-2 (Octobre 2000) - NF EN 12668-2/A1 (Janvier 2005) Essais non destructifs Caractrisation et vrification de l'appareillage de contrle par ultrasons - Partie 2 : traducteurs Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 12668-3 (Juillet 2000) - NF EN 12668-3/A1 (Janvier 2005) Essais non destructifs Caractrisation et vrification de l'appareillage de contrle par ultrasons - Partie 3 : quipement
complet - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 12680-1 (Mai 2003) Fonderie - Contrle par ultrasons - Partie 1 : pices moules en
aciers pour usage gnraux - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 12680-2 (Mai 2003) Fonderie - Contrle par ultrasons - Partie 2 : pices moules en acier
par composants fortement sollicits- Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 12680-3 (Mai 2003) Fonderie - Contrle par ultrasons - Partie 3 : Pices moules en fonte
graphite sphrodal - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 27963 (Aot 1992) Soudures sur acier - Bloc d'talonnage N 2 pour l'examen par
ultrasons des soudures - Homologue

100

V-10- Radiographie industrielle

NF EN 444 (Avril 1994) Essais non destructifs - Principes gnraux de l'examen radiographique,
l'aide de rayons X et gamma, des matriaux mtalliques - Homologue
NF EN 1435 (Octobre 1997) - NF EN 1435/A1 (Juin 2003) - NF EN 1435/A2 (Juillet 2004)
Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle par radiographie des assemblages
souds - Homologue
NF EN 10246-1 (Aot 1996) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 1 : contrle
automatique lectromagntique pour vrification de l'tanchit hydraulique des tubes en acier
sans soudure et souds ferromagntiques - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 10246-2 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 2 : contrle
automatique des tubes en aciers austnitique et austnoferritiques sans soudure et souds (sauf
l'arc immerg sous flux en poudre) pour vrification de l'tanchit hydraulique - Homologue
(versions franaise et anglaises)
NF EN 10246-3 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 3 : contrle
automatique pour la dtection des imperfections des tubes en aciers sans soudure et souds (sauf
l'arc immerg sous flux en poudre) - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 10246-4 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 4 : contrle
automatique par flux de fuite l'aide de palpeurs magntiques sur toute la circonfrence des tubes
pour la dtection des imperfections transversales des tubes en aciers ferromagntiques sans
soudure - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 10246-5 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 5 : contrle
automatique par flux de fuite l'aide de palpeurs magntiques sur toute la circonfrence des tubes
pour la dtection des imperfections longitudinales des tubes en aciers ferromagntiques sans
soudure et souds (sauf l'arc immerg sous flux en poudre) - Homologue (versions franaise et
anglaises)
NF EN 10246-6 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 6 : contrle
automatique par ultrasons sur toute la circonfrence des tubes pour la dtection des imperfections
transversales des tubes en aciers ferromagntiques sans soudure - Homologue (versions
franaise et anglaises)

101

NF EN 10246-7 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 7 : contrle
automatique par ultrasons sur toute la circonfrence des tubes pour la dtection des imperfections
longitudinales des tubes en acier sans soudure et souds (sauf l'arc immerg sous flux en
poudre) - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 10246-8 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 8 : contrle
automatique par ultrasons du cordon de soudure pour la dtection des imperfections
longitudinales des tubes en acier souds lectriquement - Homologue (versions franaise et
anglaises)
NF EN 10246-9 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 9 : contrle
automatique par ultrasons du cordon de soudure pour la dtection des imperfections
longitudinales et/ou transversales des tubes souds l'arc immerg sous flux en poudre Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 10246-10 (Juillet 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 10 : Contrle par
radiographie du cordon de soudure pour la dtection des imperfections des tubes en acier souds
l'arc immerg sous flux en poudre - Homologue (versions franaise et anglaises)
NF EN 10246-11 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 11 : contrle par
ressuage des tubes en acier sans soudure et souds pour la dtection d'imperfections de surface Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10246-12 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 12 : contrle des
tubes en acier ferromagntiques sans soudure et souds pour la dtection des dfauts de surface Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10246-13 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 13 : contrle
automatique de l'paisseur par ultrasons sur toute la circonfrence des tubes sans soudure et
souds (sauf l'arc immerg sous flux en poudre) - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10246-14 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 14 : contrle
automatique de l'paisseur par ultrasons sur toute la circonfrence des tubes sans soudure et
souds (sauf l'arc immerg sous flux en poudre) - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10246-15 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 15 : contrle
automatique par ultrasons pour la dtection des ddoublures dans les bandes/plaques utilises
pour la fabrication des tubes en acier souds - Homologue (versions franaise et anglaise)

102

NF EN 10246-16 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 16 : contrle
automatique par ultrasons pour la dtection des ddoublures de la zone adjacente au cordon de
soudure des tubes en acier souds - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10246-17 (Aot 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 16 : contrle par
ultrasons des extrmits de tubes pour la dtection des ddoublures des tubes en acier sans
soudure et souds - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 10246-18 (Juin 2000) Essais non destructifs des tubes en acier - Partie 18 : contrle par
magntoscopie des extrmits des tubes pour la dtection des ddoublures des tubes en acier
ferromagntiques sans soudure et souds - Homologue (versions franaise et anglaise)
PR NF EN 12517 (Dcembre 2004) Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle
par radiographie des assemblages souds - Niveaux d'acceptation - Projet de norme (versions
franaise et anglaise)
NF EN 12517-1 (Juillet 2006) Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle par
radiographie des assemblages souds - Niveaux d'acceptation - Homologue (versions franaise
et anglaise)
PR NF EN 12517-2 (Octobre 2006) Contrle non destructif des assemblages souds - Contrle
par radiographie des assemblages souds - Niveaux d'acceptation - Projet de norme (versions
franaise et anglaise)
NF EN 25580 (Aot 1992) - Remplace NF 09-210 de 1989 Essais non destructifs - Ngatoscopes
utiliss en radiographie industrielle - Exigences minimales - mtalliques - Homologue (versions
franaise et anglaise)

V-11- Maintenance des huiles et lubrifiants

NF C27132 (Janvier 1994) Guide de maintenance des liquides silicones pour transformateurs Homologue
NF C27231 (Novembre 1989) Guide de maintenance et d'emploi des huiles lubrifiantes de
ptrole pour turbines vapeur - Homologue
C27222 (Mars 1990) Guide de maintenance et de surveillance des huiles minrales isolantes en
service dans les matriels lectriques - Homologue
NF C27233 (Mars 1990) Guide de maintenance et d'emploi des fluides de rgulation esters
phosphates de triaryle pour turbine - Homologue

103

NF EN 61203 (Dcembre 1994) Esters organiques de synthse usages lectriques - Guide de

maintenance des esters pour transformateurs dans les matriels - Homologue
V-12- Mtrologie Essais
NF X07001 (Dcembre 1994) Normes fondamentales - Vocabulaire international des termes
fondamentaux et gnraux de mtrologie - Homologue (versions franaise et anglaise)
X07011 (Dcembre 1994) Mtrologie - Essais - Mtrologie dans l'entreprise - Constat de
vrification des moyens de mesure - Fascicule de documentation (versions franaise et anglaise)
FD X07013 (Dcembre 1996) Mtrologie - Mtrologie dans l'entreprise - Critres de choix entre
vrification et talonnage - Utilisation et conservation des rsultats de mesure - Fascicule de
documentation
X07015 (Aot 2007) Mtrologie - Raccordement des rsultats de mesure au systme international
d'units (SI) - Fascicule de documentation
X07016 (Dcembre 1993) Mtrologie - Essais - Mtrologie dans l'entreprise - Modalits
pratiques pour l'tablissement des procdures d'talonnage et de vrification des moyens de
mesure - Fascicule de documentation - 2 tomes (versions franaise et anglaise)
X07017-1 (Dcembre 1995) Mtrologie - Procdure d'talonnage et de vrification des moyens
de pesage fonctionnement non automatique (IPFNA) - Partie 1 : Vrification - Fascicule de
documentation - 2 tomes
X07017-2 (Dcembre 1997) Mtrologie - Procdure d'talonnage et de vrification des moyens
de pesage fonctionnement non automatique (IPFNA) - Partie 2 : Etalonnage - Fascicule de
documentation - 2 tomes
FD X07018 (Dcembre 1997) Mtrologie - Mtrologie dans l'entreprise - Fiche de vie des
quipements de mesure, de contrle et d'essai - Fascicule de documentation (versions franaise et
anglaise)
FD X07019 (Dcembre 2000) Mtrologie - Relations clients-fournisseurs en mtrologie Fascicule de documentation
FD X07021 (Octobre 1999) Normes fondamentales - Mtrologie et application de la statistique Aide la dmarche pour l'estimation et l'utilisation de l'incertitude des mesures et des rsultats
d'essais - Fascicule de documentation

104

NF ISO 13379 (Fvrier 2004) Surveillance et diagnostic d'tat des machines - Lignes directrices
gnrales sur l'interprtation des donnes et les techniques de diagnostic - Homologue
NF ISO 13381-1 (Mars 2005) Surveillance et diagnostic d'tat des machines - Pronostics - Partie
1 : lignes directrices gnrales - Homologue (versions franaise et anglaise)
XP X15206 (Janvier 2005) Sorbonnes de laboratoire - Seuil pour l'essai de confinement,
installation et maintenance - Homologue
ISO 18436-1 (Septembre 2004) - ISO 18436-1/AC1 (Avril 2006) Surveillance et diagnostic d'tat
des machines - Exigences relatives la formation et la certification du personnel - Partie 1 :
exigences relatives aux organismes de certification et au mode opratoire de certification Homologue
V-13- Certification
NF EN ISO/CEI 17011 (Mai 2005) Evaluation de la conformit - Exigences gnrales pour les
organismes d'accrditation procdant l'accrditation d'organismes d'valuation de la conformit
- Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO/CEI 17020 (Mars 2005) Critres gnraux pour le fonctionnement des diffrents
types d'organisations procdant l'inspection - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO/CEI 17024 (Aot 2003) Evaluation de la conformit - Exigences gnrales pour les
organismes procdant la certification des personnes - Homologue (versions franaise et
anglaise)
NF EN ISO/CEI 17025 (Septembre 2005) Exigences gnrales concernant la comptence des
laboratoires d'talonnages et d'essais - Homologue
(versions franaise et anglaise)
NF EN ISO/CEI 17050-1 (Avril 2005) Evaluation de la conformit du fournisseur - Partie 1 :
exigences gnrales - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN ISO/CEI 17050-2 (Avril 2005) Evaluation de la conformit du fournisseur - Partie 2 :
documentation d'appui - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 45002 (Dcembre 1989) Critres gnraux concernant l'valuation des laboratoires
d'essais - Homologue
NF EN 45011 (Mai 1998) Exigences gnrales relatives aux organismes procdant la
certification des produits - Homologue (versions franaise et anglaise)

105

NF EN 45012 (Mai 1998) Exigences gnrales relatives aux organismes grant l'valuation et la
certification / l'enregistrement des systmes qualit - Homologue (versions franaise et anglaise)
NF EN 45020 (Juillet 2007) - Remplace NF EN 45020 de 1994 Normalisation et activits
connexes - Vocabulaire gnral (X50080) - Homologue
X60150 (Dcembre 1994) - Figure sur le CD-Rom Afim Maintenance industrielle Questionnaire type d'valuation prliminaire d'une entreprise prestataire en maintenance Fascicule de documentation