Pomiar stosunku e/m metod odchyle w polu magnetycznym

Wstp teoretyczny
W polu elektrycznym i magnetycznym, na poruszajc si czstk posiadajc adunek
elektryczny dziaa sia Lorentza, okrelona wzorem:

F =q
E +q(v
B ) ( 1)
gdzie q adunek czstki, v jej prdko, E natenie pola elektrycznego, B indukcja
magnetyczna. Dziaanie tych pl prowadzi do zmiany wektora prdkoci w polu
magnetycznym warto prdkoci pozostaje staa, a zmianie ulega kierunek, za w polu
elektrycznym zmienia si zarwno kierunek, jak i warto prdkoci. Badanie zachowa
czsteczek naadowanych np. elektronw, protonw czy jonw dodatnich w polach
elektrycznym i magnetycznym pozwala wyznaczy tzw. adunek waciwy, czyli stosunek
q/m. Aby okreli adunek waciwy elektronu e/m naley uy lampy oscyloskopowej
z odchyleniem magnetycznym w kierunku Y. Pole magnetyczne tworzone jest w wyniku
przepywu prdu przez uzwojenie umieszczone na zewntrz lampy.
Indukcja magnetyczna B jest wprost proporcjonalna do natenia prdu I:
B=cI ( 2)
gdzie c wspczynnik proporcjonalnoci, wyznaczany empirycznie.
Warunek rwnowagi siy odchylajcej w obszarze pola magnetycznego i siy
bezwadnoci mona wyrazi rwnaniem:
evB=

mv 2
( 3)
R

gdzie R promie krzywizny toru. Stosunek e/m mona zatem przedstawi w postaci:
e
v
=
( 4)
m BR
Prdko mona wyrazi za pomoc napicia:
mv 2
=eU ( 5)
2
Obliczon prdko mona wstawi do rwnania 4, otrzymujc:
e 2U
=
( 6)
m B 2R2

Wstp teoretyczny cd.

Wiedzc, e y << l oraz d << R (w warunkach dowiadczenia):
y d
= =
( 7)
l R
Za promie krzywizny R mona wyrazi w postaci:
R=

ld
( 8)
y

gdzie l odlego ekranu lampy oscyloskopowej od rodka cewki, d rednica cewki

odchylajcej, y odchylenie plamki na ekranie wzgldem pooenia przy B = 0.
Wstawiajc rwnania 2 oraz 8 do 6 otrzymujemy ostatecznie:
2

e
2U y
= 2 2 2 2
m c l d I

Pomiary
3
2U
11 A s
=(8.30.1)10
c2l 2d 2
kgm2

Dokadno odczytu pooenia plamki y = 0.1cm = 0.001m.

Dokadno pomiaru prdu I = 0.1mA = 0.0001A.
Odchylenie standardowe obliczone za pomoc funkcji STDEV w programie Excel.
I [mA]

y1 [cm]

y [cm]

e/m [C/kg]

6.6

11.7

0.3

1.714876033 1011

12.9

11.4

0.6

1.79556517 1011

19.3

11.1

0.9

1.804880668 1011

26

10.8

1.2

1.768047337 1011

32.4

10.5

1.5

1.778978052 1011

38.8

10.2

1.8

1.786321607 1011

45.7

9.9

2.1

1.75260595 1011

52.1

9.6

2.4

1.761266721 1011

58.8

9.3

2.7

1.750052062 1011

65.3

1.751839197 1011

71.6

8.7

3.3

1.763112106 1011

78.1

8.4

3.6

1.763522586 1011

84.2

8.1

3.9

1.780668694 1011

90.2

7.8

4.2

1.799548675 1011

96.5

7.5

4.5

1.804880668 1011
rednia

1.771744368 1011

odchylenie standardowe 0.02480441474 1011

Tabela 1. I natenie prdu; y1 pooenie plamki na ekranie;
y odchylenie od pooenia dla B = 0; e/m adunek waciwy elektronu

Zatem:

e
C
=(1.772 0.025)1011
m
kg

Pomiary cd.
I [mA]

y2 [cm]

y [cm]

e/m [C/kg]

5.5

12.3

0.3

2.469421488 1011

11.9

12.6

0.6

2.110020479 1011

18.5

12.9

0.9

1.964353543 1011

24.9

13.2

1.2

1.927710843 1011

30.9

13.5

1.5

1.955886511 1011

37.2

13.8

1.8

1.943288241 1011

42.9

14.1

2.1

1.988850311 1011

49.2

14.4

2.4

1.975014872 1011

55.2

14.7

2.7

1.985763233 1011

61.4

15

1.981453384 1011

67.6

15.3

3.3

1.977937572 1011

72.5

15.6

3.6

2.046478002 1011

78.6

15.9

3.9

2.043441524 1011

84.4

16.2

4.2

2.055378361 1011

89.3

16.5

4.5

2.107658295 1011
rednia

2.035510444 1011

odchylenie standardowe

0.1324740426 1011

Tabela 2. I natenie prdu; y2 pooenie plamki na ekranie;

y odchylenie od pooenia dla B = 0; e/m adunek waciwy elektronu

Zatem:

e
C
=(2.04 0.13)1011
m
kg

Wnioski
Kiedy plamka na ekranie odchylaa si w d od pozycji wyjciowej, redni stosunek e/m
wyszed zbliony do wartoci tablicowej, ktra wynosi w przyblieniu 1.759 1011 C/kg.
Jednak gdy odwrciem kierunek przepywu prdu, a plamka odchylaa si w gr,
redni wynik wyszed zauwaalnie wikszy. Zauwayem, e natenie prdu wzrasta
wolniej, ni w poprzednim przypadku. Moe to by spowodowane specyfik sprztu.