01 - El Método de Rietveld PDF

Contenido
El mtodo de Rietveld
Introduccin al programa TOPAS 3.0
1. Conceptos generales
2. Anlisis del perfil de difraccin
3. ndices de acuerdo
4. Criterios de ajuste
5. Anlisis cuantitativo
Servizos de Apoio Investigacin 6. Modos de ajustar el perfil de difraccin
Universidade da Corua TOPAS 3.0

mayo 2009
1. Contenido
2. Ajuste reflexiones individuales
3. Ajuste de todo el perfil de difraccin
4. Ajuste de Rietveld
5. LAUNCH mode
El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

1. Conceptos generales 1. Conceptos generales
OBJETIVO:
El Mtodo de Rietveld fue desarrollado entre 1964 y 1966 en el Reactor Centre
El difractograma observado es un conjunto de puntos equidistantes en 2 e intensidades
Netherlands en Petten para obtener una separacin efectiva de los picos
variables
superpuestos, permitiendo una precisa determinacin de la estructura.
Se trata de ajustar el perfil de difraccin (difractograma) observado a una funcin
Fue presentado por primera vez en el Congreso de la IUCr en Mosc (1966).
matemtica. Esta funcin matemtica viene descrita bsicamente por tres parmetros:
- Posicin del pico o reflexin

- Intensidad integrada del pico (= rea debajo del pico)
- Anchura del pico de difraccin
Valores discretos medidos Perfil de difraccin resultante
anchura
La Royal Swedish Academy of Sciences premi al autor, Dr. Hugo M. Rietveld

con el premio Aminoff en 1995 en reconocimiento al Mtodo de Rietveld. posicin
56 56.2 56.4 56.6 56.8 57 56 56.2 56.4 56.6 56.8 57

1. Conceptos generales 2. Anlisis del perfil de difraccin
OBJETIVO: Posicin del pico:
Se tratar de ajustar los tres parmetros anteriores a una funcin matemtica de modo que La posicin del pico de difraccin viene determinada por los parmetros de la celda
la diferencia entre el perfil observado y calculado sea mnima. cristalina:
Perfil observado 1 h2 + k 2 + l 2
Perfil calculado Cbico 2
=
Perfil diferencia d hkl a2
1 h2 + k 2 l 2
Tetragonal 2
= + 2
d hkl a2 c
1 4 h 2 + hk + k 2 l 2
Hexagonal = + c 2
d hkl
2
3 a2
1 (h 2 + k 2 + l 2 ) sin2 + 2(hk + kl + hl)( cos2 cos )
Rombodrico =
d hkl
2
a 2( 1 3 cos 2 + 2 cos3 )
Cu 1 h2 k 2 l 2
Rmbico 2
= + +
(FCC) Fm3m d hkl a2 b2 c 2
a= 3.6152 Monoclnico, Triclnico ...
56 56.2 56.4 56.6 56.8 57

2. Anlisis del perfil de difraccin 2. Anlisis del perfil de difraccin
Posicin del pico: Intensidad del pico:
Si se desconocen los parmetros de la celda cristalina, se puede realizar un ajuste perfil La intensidad del pico de difraccin en una fase pura viene dada por la estructura cristalina
indicndole al programa la posicin de los picos de difraccin. de la fase difractante, la posicin y naturaleza de los tomos dentro de la estructura y la
vibracin trmica de los tomos.
55.78544 58.62485 55.76482 58.63623
56.64339 56.61036
57.48091 57.51095 La Iic calculada en cada punto del difractograma viene dada por la expresin:
L
2
I ci = S hkl F hkl (2 i - 2 hkl ) P hkl A + I bi
hkl
S es el factor de escala
Lhkl contiene los factores de Lorentz-Polarizacin
es la funcin del perfil de difraccin
Phkl funcin de orientacin preferencial
A es el factor de absorcin de los rayos-X
Ibi es la intensidad del fondo en el punto i
Fhkl es el factor de estructura.
55
2Th Degrees
56 57 58 59 55
2Th Degrees
56 57 58 59
Se deduce que: Ihkl |Fhkl|2
Intensidad del pico: Intensidad del pico:
El factor de estructura para una reflexin hkl viene dado por: El factor de difusin (fj) de los tomos a los
rayos-X est producido por los electrones.
N sin 2 Este factor depender del nmero atmico y
2i ( hx j + ky j + lz j ) B j
F hkl = f
j =1
j e e 2 del ngulo de difraccin.
donde N es el nmero de tomos de la celda unidad, fj es el factor de difusin para el

tomo j y (x,y,z)i son las coordenadas del tomo j en la estructura, Bj es el factor de
temperatura isotrpico del tomo j.

Los iones tienen factores de difusin

ligeramente distintos de los tomos neutros,
especialmente a ngulos bajos de difraccin.

Intensidad del pico:

Intensidad del pico:
Los tomos se mueven alrededor de su posicin ideal. El desplazamiento viene dado por el
parmetro U (en ) que es dependiente de la temperatura. El parmetro isotrpico de En funcin de la simetra de la
vibracin, Biso (en 2), representa el cuadrado promedio del desplazamiento de un tomo. estructura cristalina hay algunas
Los parmetros U y Biso estan relacionados por: reflexiones (hkl) que estan
Compuestos inorgnicos Biso 0.2-3.16 2
sistemticamente ausentes
Biso = 82 U2 Compuestos orgnicos Biso 20 2 (intensidad nula). Adems, los
tomos situados en ciertas
Los picos de difraccin pierden intensidad debido a la deslocalizacin de los centros posiciones de una estructura
difusores, la densidad electrnica se diluye y, por tanto, se reduce la capacidad difusora de pueden dar lugar a que algunas
los tomos a medida que se aumenta el ngulo de difraccin. Adems, se produce un reflexiones tengan intensidad casi
aumento del ruido de fondo a angulos elevados en funcin de la temperatura. nula.
Todos estas extinciones o

condiciones de difraccin estan
tabuladas en las Tablas
Internacionales de Cristalografa.
L
Intensidad del pico: 2
I ci = S hkl F hkl (2 i - 2 hkl ) P hkl A + I bi
hkl
L
2
I ci = S hkl F hkl (2 i - 2 hkl ) P hkl A + I bi La intensidades medidas estan afectadas por los llamados factores de Lorentz y
hkl Polarizacin (Lhkl) que es necesario corregir.
El factor de (S) escala combina diferentes parmetros experimentales como son el tamao El factor de Lorentz est producido por la dispersin de los rayos-X y la geometra
de la muestra, la intensidad del haz primario y la influencia de las ventanas del del difractmetro. El factor polarizacin est causado por la polarizacin de los
difractmetro. rayos difractados por el monocromador.
La absorcin (A) hace disminuir la intensidad de las reflexiones de ngulos bajos Normalmente los dos factores se agrupan en uno solo, Lp(2i). Estos factores
especialmente si se trabaja con capilares o la superficie de la muestra es rugosa. tienen una dependencia con el ngulo 2 de la forma:
1 + cos 2
Lp(2 i ) = (sin monocromad or)
sin 2 cos 2
1 + cos 2 2 cos 2
Lp(2 i ) = (con monocromad or)
sin2 cos 2
donde 2 es el ngulo del monocromador. Estos factores geomtricos hacen

disminuir la intensidad de las reflexiones de ngulos intermedios.

L
2 Correccin de la orientacin preferencial:
I ci = S hkl F hkl (2 i - 2 hkl ) P hkl A + I bi 1500
(200) difractograma de una lmina de Cu
hkl 1400 (111)
1300
Cualquier perfil de difraccin est compuesto por la difusin coherente de la parte 1200
cristalina, Icx(Q), mas la difusin incoherente del fondo (difusin del aire, trmica, 1100
etc), Ib(Q), mas la difusin producida por posibles partes no cristalinas de la 1000
900
muestra, Inc(Q): 800
Lin (Counts)
I obs (Q) = [ I cx (Q) + I b (Q) ] + I nc (Q) 700
600
500
(220)
El trmino Q equivale a la magnitud del vector de difusin (Q=4sin/). 400
300
(311)
Existen dos modos principales de modelizar el fondo: 200 (222)
100
Interpolacin lineal de n puntos definidos por el usuario (no inplementada en 0
TOPAS). 35 40 50 60 70 80
2-Theta - Scale
90 100 110 120 130
c
Ajuste de los trminos independientes de un polinomio: Vector de orientacin
preferencial [001]
j
11 2 i
I b i = B j - 1 polinomio grado n
j =0 2 ori
b
n
I b = B j 2 i
n
polinomio de Chebyschev a
j =1
11 2
I bi = B j cos j i Cosine Fourier Series
j =0 C
L
2
Correccin de la orientacin preferencial: I ci = S F hkl (2 i - 2 hkl ) P hkl A + I bi
hkl
hkl
2000
1900 CaCO3, calcita La funcin de March-Dollase toma la forma:
1800
2
1700
1
1600 Phkl = (G 2 cos 2 + sin 2 ) 3
1500
G
1400 Siendo el ngulo entre d*hkl y la direccin del eje de la fibra y G el parmetro a
Lin (Counts)
1300
ajustar.
1200
1100
1000 El efecto de la orientacin preferencial tambin puede ser modelizado mediante la
Con orientacin Sin orientacin
900
preferencial preferencial
expansin de la distribucin de orientacin mediante harmnicos esfricos.
800
700
La correccin de March-Dollase es la mas utilizada por su simplicidad y fcil
600
500
compensin: G>1 morfologa de fibra, G<1 morfologa de placa
400
300
200
100
0
26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39
2-Theta - Scale

Influencia del parmetro de mezcla m:

La funcin, , que define el perfil de una reflexin, trata de aproximarse a
los efectos producidos por el instrumento y a los propios de la muestra.
Las funciones simtricas ms utilizadas son:
2 ln(2) - 4 ln(2) Gausiana(G)

I i,hkl = exp 2
(2 i - 2 hkl )2
FWHM hkl FWHM hkl
-1 Lorentziana(L)
4 4 2 -1
I i,hkl = exp 1 + (2 i - 2 hkl )2
FWHM hkl 2
FWHM hkl
I i,hkl = L + (1 - ) G pseudo Voigt
2 M ( 21/M - 1) 4( 21/M - 1) PearsonVII(PVII)

I i,hkl = 1 + (2 i - 2 hkl )2 Representacin de medio pico para la funcin Pearson VII y
(M - 0.5) FWHM hkl FWHM hkl
2
distintos valores de m. La funcin lorentziana presenta unas
colas mas largas que la funcin gausiana.
Representacin de la variacin de la anchura (FWHM) en funcin de 2 observada para

distintos difractmetros y ajustada a la funcin de Cagliotti.
Cuando se trabaja con ms de una reflexin en el intervalo de 2, la anchura de

las reflexiones (FWHM) vara con el ngulo 2 segn la funcin experimental de
Caglioti (1958):
FWHM hkl = U tan hkl + V tan hkl + W

2 2
A su vez, los dos parmetros de mezcla ( y M) de las funciones pseudo-Voigt y

Pearson-VII, presentan una variacin en funcin del ngulo de Bragg:
(2 ) = 0 + x 2
100 x 10000 y
M (2 ) = M 0 + +
2 2
2

Variacin de los parmetros de forma del perfil en funcin del ngulo 2 para
HRDP Neutrones
la geometra Bragg-Brentano. m: ndice para Pearson VII, : ndice para
D2B Neutrones
SEPD Neutrones
pseudo-Voigt,: ndice para la funcin Voigt, L: Lorentziana, G: Gausiana.
CHESS Sincrotn
Variacin de FWHM en funcin del ngulo 2 para distintos difractmetros

Correccin de asimetra:
Funcin split Pearson-VII
La geometria de Bargg-Brentano produce una asimetra de los picos de difraccin.
Esta asimetria vara, tambin, con el ngulo de 2. Hay dos modos en el programa
TOPAS para modelizar la asimetra.
Reflexiones individuales:
Las funciones split pseudo-Voigt y split Pearson-VII permiten modelizar la asimetria

de reflexiones individuales. Consiste en ajustar cada reflexin en dos partes: una a
ngulos bajos y una a ngulos elevados separadas por el mximo de la reflexin.
En cada parte se ajusta una funcin individual.
Perfil completo de difraccin:
Se modeliza definiendo uno de los tres modos de convolucin axial.

El pefil de difraccin h(x) observado experimentalmente es el producto El perfil instrumental total, g(x), es el resultado de la convolucin mltiple de cinco
de convolucin de tres contribuciones ms el fondo: funciones
h(x) = {w(x) * g(x)} * s(x) + fondo g(x) = gI(x) * gII(x) * gIII(x) * gIV(x) * gV(x)
w(x) perfil debido a la dispersin espectral de energa Ensanchamiento

Anchura de K1Cu: 0.518 10-3 gII(x) debido a la parafocalidad de la muestra Ensanchamiento
Funcin tipo Lorentziana gI(x) debido a la imagen de la fuente de rayos-X Asimetria
Efecto mayor a ngulos elevados
s(x) perfil debido a las caracteristicas de la muestra gIII(x) debido a la divergencia axial Asimetria
Asimetra
Ensanchamiento gIV(x) debido a la transparencia de la muestra Asimetria
Microdeformacin: funcin Gaussiana asimetrica
Distribucin de tamaos de partcula: funcin Lorentziana simtrica gV(x) debido a la ventana de recepcin Ensanchamiento
g(x) perfil debido al difractmetro Asimetra

Ensanchamiento
Desplazamiento
Baja resolucin
Alta resolucin

2. Anlisis del perfil de difraccin 3. ndices de acuerdo
ndices de acuerdo:
El mtodo no est diseado para localizar intensidades observadas por lo
cual es necesario partir de un modelo estructural prximo al real. Todos los algoritmos que se utilizan en el mtodo de Rietveld se basan en minimizar
la diferencia entre el perfil de difraccin observado y el calculado. El mtodo trata de
minimizar la diferencia entre la intensidad calculada (Ici) y la medida experimentalmre
La solucin ptima se calcula mediante un proceso iterativo de mnimos (Ii) en cada punto (i) del difractograma. La cantidad a minimizar (Sy) durante el
cuadrados. Los incrementos calculados para cada parmetro inicial se afinamiento ser :
S y = i (I i - I ci )
2
utilizan para mejorar el modelo inicial y el proceso iterativo se inicia otra vez.
i
El modelo inicial debe ser prximo al modelo correcto. De no ser as, el donde i=1/Ii. El sumatorio se efecta para todos los puntos del difractograma (i).
ajuste por mnimos cuadrados no llegar a un mnimo global. El ajuste
tambin puede divergir o llegar a un falso mnimo. Son varios los coeficientes o ndices de acuerdo que se utilizan:
[ (2 )i ( I obs (2 i ) - I cal (2 i ) ) ]
2 2
Los parmetros que definen el modelo pueden ser no slo las posiciones [( I obs (2 i ) - I cal (2 i ) ) ]
i i
atmicas, parmetros trmicos y de ocupacin sino tambin parmetros del R wp = Rp =
[ (2 )i ( I obs (2 i ) ]
2 2
fondo, celda, de la geometra del instrumento, aberraciones debidas a la [( I obs (2 i ) ]
i i
muestra (desplazamiento y transparencia), parametros de tamao de cristal
y microstrain.
3. ndices de acuerdo 3. ndices de acuerdo
Variacin de Rwp con el tiempo por paso

(2 ) ( I (2 i ) - I cal (2 i ) )
2
2
i obs
R N - P +C
=
2 i
= wp R exp =
N - P +C R exp I obs (2 i )
i
Donde N es el nmero de puntos observados, P es el nmero de parmetros,

variables que se ajustan y C es el nmero de restricciones en el ajuste. El valor N-
P+C equivale a los grados de libertad del ajuste.
Los ndices anteriores hacen referencia a todo el difractograma. Hay otros ndices
que hacen referencia a slo aquellas zonas del difractograma que tiene
reflexiones de una fase determinada:
| I obs, hkl - I cal, hkl | | I obs, hkl - I cal, hkl |

RB = RF =
I obs, hkl I obs, hkl

Variacin de Rb y RF con el tiempo por paso Variacin de 2 con el tiempo por paso
Variacin de la coordenada atmica con el tiempo por paso Variacin de Delta () con el tiempo por paso
(ax)ref-(ax)true
(by)ref-(by)true
(cz)ref-(cz)true
low
intermediate
high

Variacin del coeficiente de ajuste de Rietveld (RB) en funcin del tamao del Variacin en el ajuste de la desviacin estandard (e.s.d.) de la coordenada x
paso para tiempos de contaje de 0.05 y 5s (ajuste de la estructura del del O en el corindn, en funcin del tamao de paso par tiempos de contaje
corindn). de 0.05 y 5 s.
3. ndices de acuerdo 4. Criterios de ajuste
Ajuste bueno de un
pico
Intensidad calculada Intensidad calculada

demasiado elevada demasiado baja

4. Criterios de ajuste 4. Criterios de ajuste
Posicin 2 incorrecta FWHM y asimetra FWHM e intensidad

FWHM demasiado FWHM demasiado Perfil calculado pequeas pequeas
ancha estrecha simtrico
5. Anlisis cuantitativo 5. Anlisis cuantitativo
Io 3e 4M 2 1 + cos 2 2
Mtodo Rietveld
K i = Fi 2
La metodologa aplicada es la misma que en el ajuste estructural por el mismo 32rme2c 4 2V2 sin cos
mtodo. El mtodo consiste en ajustar todo el perfil de difraccin observado con un
perfil calculado y fondo.
Io 3e 4M 1 + cos 2 2 2 1 + cos2
2
2 I 3 e 4 Rhkl =
M
K i = Fi 2 k= o
Fi
V2 sin cos
2
32rme2c 4 2V2 sin cos 32r 2me2 c 4 hkl
Trmino que depende de las Trmino que depende de la
condiciones experimentales estructura y de la reflexin hkl en
cuestin
I 3 e 4 M 2 1 + cos 2
2
k= o Rhkl = Fi

32r 2me2 c 4
V2 sin cos
2
hkl
X K
Trmino que depende de las Trmino que depende de la
S =
condiciones experimentales estructura y de la reflexin hkl en
cuestin
V2 *

Establecemos la relacin entre los factores de escala de dos fases presentes en la

muestra:
Se obtiene informacin cuantitativa de la fase a partir del ajuste de los factores de X K XK
S = ; S =
escala (S) de cada fase en la muestra.
V 2 *
V2 *
X K X K V2 * X V2
S = S
= = =
X Z M V
V 2 *
S X KV 2 *
X V 2
X Z MV
* es el coeficiente de absorcin msico de la muestra X S Z M V
X es la fraccin en peso de la fase =
X S Z M V
es la densidad de la fase
V es el volumen de la celda de la fase
K contiene todos los factores de tipo fsico, experimental y estructurales de la fase Dnde Z es el nmero de frmulas en la celda unidad y M es el peso molecular de
la frmula. Para n fases presentes existiran n-1 relaciones. El sistema tiene una
nica solucin si consideramos que la suma de fracciones en peso de cada fase es
la unidad:
Sn (ZMV )n
Xn = n
; X + X + ... X n = 1
S (ZMV )
j =1
j j
Outcomes of the International Union of Crystallography

Commision on Powder Diffraction
Round Robin on Quantitative Phase Analysis: samples 2, 3, 4, synthetic bauxite, natural granodiorite and pharmaceuticals
Si queremos cuantificar una fase amorfa es necesario introducir un estndard (Xs). J. Appl. Cryst. 35 (2002) 383-400
En este caso, la fraccin en peso de cada fase y la del amorfo se calculan a partir
de:
Rietveld
X S (ZMV )
X = s
160
Ss (ZMV )s
X amorfo = 1 X s X
i
i
RIR
28
IUCr-CPD. Round Robin
-Al2O3, CaF2, ZnO, Mg(OH)2 Full Pattern Match Iterative Least Squares
-Al2O3, CaF2, ZnO, amorfo 6 3
Internal Standard
-Al2O3, Fe2O3, ZrSiO4
1
Bauxita sinttica
Granodiorita
Producto farmacutico

Anlisis cuantitativo. Anlisis comparativo Anlisis cuantitativo con la correccin de Brindley
En un sistema bifsico, la relacin de intensidad entre dos fases Ii/Ij

Mtodo de Rietveld Mtodo de intensidades integradas depende de del tamao de las partculas de cada fase y de la diferencia entre
sus coeficientes de absorcin ( - ).
Es necesario conocer la estructura No es necesario
cristalina > disminuye Ii/Ij
< aumenta Ii/Ij
No son necesarios patrones previos Requiere preparar patrones (internos o
externos)
Conocimientos avanzados de
cristalografia Conocimientos bsicos de difraccin
Corrige problemas de superposicin de Problemas con la superposicin de picos y

picos y orientacin preferencial la orientacin preferencial
Muestra de grano medio-fino Muestra de grano grueso
Actualmente ilimitado en el nmero de Ideal para mezclas sencillas de fases (0.01< ( - )R<0.1) (( - )R >1)
fases simples
Dos soluciones:
Se obtiene mucha mas informacin a Clculo limitado al % de cada fase disminuir al mximo el tamao de partcula
parte del % de cada fase reducir la absorcin de la muestra (cambiar la )
Fase A.
Anlisis cuantitativo con la correccin de Brindley
Fase B.
La correccin de Brindley se utiliza para corregir el efecto de la microabsorcin en
A >> B cada fase.
Se incorpora el coeficiente de Brindley (i) para cada fase en cada mezcla a la

expresin de la fraccin en peso:
Volumen difractado por la fase A.
Sn (ZMV )n
Volumen difractado por la fase B.
n
Xn = n
S j (ZMV ) j
j =1
j
Resultado final del

anlisi cuantitativo:
XB >> XA

1.4 En el Round Robin (2001) 1/3 de los resultados enviados aplicaron una
t(2Theta=0) correccin por microabsorcin. La mayoria de estos utilizaron la correccin de
t(2Theta=90)
Brindley. No se observaron diferencias apreciables entre los resultados que
1.3 aplicaron la correccin y los que no.
t(2Theta=180)
: particle linear absorption coefficient
j
1.2 : mean linear abs. coef. of the powdered sample
En el Round Robin (2002) el 40% de los resultados aplicaron la correccin de
t (Brindley coefficient)
u
R: particle radius Brindley para la muestra con problemas de microabsorcin. Los resultados con
1.1 la correccin eran ligeramente mejores a los otros.
1.0 Para este tipo de correccin es preciso asumir el tamao de partcula y el

coeficiente de absorcin de cada fase.
0.9
Antes de aplicar cualquier correccin por microabsorcin es recomendable
reducir el tamao de partcula de la muestra al mximo (siempre y cuando no
0.8 afecte a la cristalinidad).
-0.20 -0.15 -0.10 -0.05 0.00 0.05 0.10 0.15
( - )R
j u
6. Modos de ajustar el perfil de difraccin 6. Modos de ajustar el perfil de difraccin
Anlisis del perfil de difraccin: Determinar experimentalmente {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x)
h(x) = {w(x) * g(x)} * s(x) + fondo El producto {w(x) * g(x)} tambin se conoce como Instrumental Resolution
Function (IRF). Esta funcin se determina analizando en todo el intervalo de 2
Slo el perfil s(x) nos proporciona informacin sobre el tamao y una muestra patrn cuya contribucin en s(x) sea prcticamente nula.
microdeformaciones en los cristales de la muestra
Caractersticas del patrn: tamao de cristal uniforme de al menos 5m, sin
microdeformaciones y de alta simetria.
Existen tres estrategias a seguir para ajustar el perfil: LaB6 (SRM ), BaF2, ZnO, Na2Ca3Al2F14, Silver Behenate (CH3(CH2)20 COOAg,
d001= 58.38 0.01)
Ajustar directamente h(x)
Determinar experimentalmente {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x) Se ajusta el perfil de difraccin del patrn y se obtienen los parmetros U, V y W
de la funcin de Caglioti.
Calcular {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x)
Es el mtodo tradicional

Calcular {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x)
La contribucin instrumental w(x)*g(x) es calculada por el mismo programa a

Divergence
partir de la descripcin geomtrica del difractmetro. Slo es necesario ajustar Sample
slit Anti-Scatter
los efectos producidos por la muestra.
slit
Receiving
Es el mtodo utilizado por el programa TOPAS Slit
Es necesario conocer la configuracin del difractmetro y cmo puede afectar al

perfil observado
Primary
Source Soller slit Secondary
Soller slit
Descripcin geomtrica del difractmetro

Divergencia axial Divergencia horizontal / ecuatorial
Soller Soller
angle angle
Sample
length Equatorial
Divergence plane Divergence
Slit angle Slit angle
Length Receiving Receiving

Slit width Slit width
Sample
Source Primary Source length
length Radius Secondary length
Width Radius
Source Source
width Receiving width Axial Receiving
Slit length plane Slit length
Descripcin geomtrica del difractmetro Descripcin geomtrica del difractmetro

LaB6 (100)
LaB6 (100)
Convolucin del perfil de la fuente de radiacin
Convolucin del perfil de la fuente de radiacin y la divergencia ecuatorial.
22,000
Lab6_a1.raw:1
20,000
20,000 400
19,000
Lab6_a1.raw:1
18,000 Lab6_a1.raw:1
900
18,000
17,000
Calculado 16,000 Calculado
16,000
15,000
14,000 Observado 14,000 Observado
13,000
12,000 12,000
11,000
10,000 10,000
9,000
8,000
8,000
7,000
6,000
6,000
4,000 5,000
4,000
2,000 3,000
2,000
0 1,000
21.12 21.14 21.16 21.18 21.2 21.22 21.24 21.26 21.28 21.3 21.32 21.34 21.36 21.38 21.4 21.42 21.44 21.46 21.48 21.5 21.52 21.54 21.56 21.58 21.6
0
21.12 21.14 21.16 21.18 21.2 21.22 21.24 21.26 21.28 21.3 21.32 21.34 21.36 21.38 21.4 21.42 21.44 21.46 21.48 21.5 21.52 21.54 21.56 21.58 21.6
LaB6 (100) LaB6 (100)

Convolucin del perfil de la fuente de radiacin, la divergencia ecuatorial y la Convolucin del perfil de la fuente de radiacin, la divergencia ecuatorial, la divergencia axial
divergencia axial. y los efectos de tamao de partcula.
20,000
22,000
Lab6_a1.raw:1 19,000
Lab6_a1.raw:1
Lab6_a1.raw:1 18,000 Lab6_a1.raw:1
1382.049
20,000 1270.177
17,000
18,000 16,000
15,000
16,000 14,000
13,000
14,000 12,000
11,000
12,000
10,000
9,000
10,000
8,000
8,000 7,000
6,000
6,000 5,000
4,000
4,000 3,000
2,000
2,000
1,000
0
0 21.12 21.14 21.16 21.18 21.2 21.22 21.24 21.26 21.28 21.3 21.32 21.34 21.36 21.38 21.4 21.42 21.44 21.46 21.48 21.5 21.52 21.54 21.56 21.58 21.6
21.12 21.14 21.16 21.18 21.2 21.22 21.24 21.26 21.28 21.3 21.32 21.34 21.36 21.38 21.4 21.42 21.44 21.46 21.48 21.5 21.52 21.54 21.56 21.58 21.6
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

1. Contenido 1. Contenido
Contenido del programa TOPAS 3.0 Menubar
Toolbars
SPF Single peak fitting
WPPF Whole powder prattern fitting TOPAS P
WPPD Whole powder pattern decomposition
Rietveld Rietveld structure refinement TOPAS R

Structure solution Working area
LSI-Index Indexing and space group

TOPAS I
LP-Search determination
Status bar
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Visualiza la
Modificar el Cambia la ventana para los
Parameters Importar un representacin de
tamao de la picos
window fichero INP al los ejes X e Y: Bsqueda
proyecto zona ampliada
linear, sqr, log automtica de
Fit window con los botones
Parameter Details picos
del ratn
tree window
Quick zoom window
Visualiza la
Seleccionar los ventana de los
difractogramas a parmetros Visualiza la
Scan window visualizar
ventana del
Mover la zona Visualiza la curva
Importar un ajuste
ampliada con calculada,
difractograma Visualiza la
los botones del background y
ratn diferencia ventana de
opciones F4
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Opciones del Peaks details dialog

proceso de ajuste
Options dialog
Refinement
options dialog
Inicia el ajuste
Interrumpe el
ajuste Mejora la convergencia
en casos de correlaciones
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
2. Ajuste de reflexiones individuales 2. Ajuste de reflexiones individuales
Ajuste de picos/reflexiones individuales:
Import data files Emission profile Background

1.RAW
2.RAW
A.INP
4.RAW
B.INP
Add peak phase *.PRO *.RAW
C.INP
*.INP
F3 (aadir manualmente) Automatically
F9 (eliminarmanualmente) insert peaks
Ficheros de datos:
*.RAW
NO SI
Seleccionar Function Type Fundamental Instrument *.DAT
(PV, PVII, SPV, SPVII) Parameters?
*.XDD / *.CAL
*.XY
No usar Crystallite Size
Run (F6) Run (F6)

Permite reabrir todo tipo de ficheros
Position / Area / Position / Area /

FWHM Crystallite Size
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Descripcin de la radiacin:
Muestra: CeO2
50000 Fichero: CEO2.RAW
Ajuste de reflexiones individuales y del perfil completo.
Ajuste de reflexiones asimtricas (ngulos bajos)
40000
Lin (Counts)
Area WL () Lortz. HW (m)

Cuka5-Berger
30000 0.0159 1.534753 4.6854
0.5691 1.540596 0.437
0.0762 1.541058 0.6
0.2517 1.54441 0.52
20000
0.0871 1.544721 0.62
Cuka4-Holzer
0.579 1.540591 0.4374157
0.08 1.541064 0.643214
10000
0.236 1.544399 0.5128764
0.105 1.544685 0.6872322
Cuka2-Analyt
0
0.6605 1.540598 0.5
0.3395 1.544426 0.5
23 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 Cuka2
2-Theta - Scale 0.653817 1.540596 0.501844
0.346183 1.544493 0.626579
File: CEO2.RAW - Type: 2Th/Th locked - Start: 23.000 - End: 140.000 - Step: 0.020 - Step time: 1 . s - Temp.: 25 C (Room) - Time Started: 0 s - 2-T heta: 23.000
Operations: Import
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Descripcin de la radiacin: Descripcin del fondo:
CeO2 0.00 %
110
100 k1
90
80
70
k2
Sqrt (I)
60
50
40
30
20
Otras k
10
0
126.5 127 127.5 128 128.5 129 129.5 130 130.5 131
Mejora el ajuste a ngulos bajos
Por incidencia directa del haz primario
2
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Tres opciones para fijar la intensidad mnima

Aadir una fase nueva
y mxima a efectos de visualizar el
descrita por la celda
difractograma.
Modifica las escalas del eje X (2, d, 1/d) y

del eje Y (I, Sqrt(I), Ln(I))..
Carga una estructura en

formato *.STR o *.CIF
Aadir una estructura

nueva
Carga un listado de picos

en el formado *.DIF o
*.UXD
Aadir una fase nueva
descrita por los picos
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Sealizacin de la posicin de los picos:
FP: Fundamental Parameteres

PV: pseudo-Voigt
PVII: Pearson VII
Bsqueda automtica de picos SPV: split pseudo-Voigt
SPVII: split Pearson VII
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Valores iniciales:
Asigna la accin a realizar con cada parmetro

Perfil individual para la reflexin 1
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Perfil individual para la reflexin 2 Perfil individual para la reflexin 3
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Valores finales:
180000
170000 Muestra: Y2O3

160000 Fichero: Y2O3A.RAW
150000 Ajuste de reflexiones individuales y del perfil completo.
140000 Uso de Fundamental Parameters:
130000
120000 Radios Gonimetro: 173 mm
Lin (Counts)
110000 RS-Width: 0.2 mm
100000
FDS-Angle: 1
Soller Slits 5.1 y 8.6
90000
80000
70000
60000
50000
40000
30000
20000
10000
Cambiar de 2 a d 16 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120
2-Theta - Scale
Y + 4.0 mm - File: Y2o3a.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 15.000 - End: 120.000 - Step: 0.020 - Step time: 1. s - Temp.: 25 C (Room) - Time Star ted: 0 s - 2-T
Operations: Import
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Descripcin del difractmetro:

Valores iniciales:
Receiving
slit width
Fixed divergence slit

angle
Modelos simple y Variable divergence

completo de slit
Receiving
describir la slit length
asimetra
Primary and secondary
Soller slit Posibilidad de combinar distintos tipos de picos
Descripcin de una fase

mediante picos Valor por defecto en FP
Se contabiliza la contribucin de este elemento

en el perfil de difraccin debido al instrumento
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

21000 21000
20000 20000
19000 19000
Muestra: Cuarzo
18000 Muestra: Cuarzo 18000
Fichero: QUARTZ.RAW
17000
17000 Fichero: QUARTZ.RAW Uso de Fundamental Parameters sin restricciones
16000
16000
Uso de restricciones (constraints) 15000
15000 Radios Gonimetro: 217.5 mm
14000
Seleccionar SPVII. 14000
RS-Width: 0.1 mm
Lin (Counts)
Lin (Counts)
13000 FDS-Angle: 1
13000
12000 Soller Slits 4
12000
11000
11000
10000
10000
9000
9000
8000
8000
7000
7000
6000
6000
5000
5000
4000
4000
3000
3000 2000
2000 1000
1000 0
0
67.1 68 69
67.1 68 69
2-Theta - Scale
2-Theta - Scale QUARTZ - File: Quartz.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 67.040 - End: 68.980 - Step: 0.020 - St ep time: 10. s - Temp.: 25 C (Room) - Time Started : 0 s - 2-The
QUARTZ - File: Quartz.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 67.040 - End: 68.980 - Step: 0.020 - St ep time: 10. s - Temp.: 25 C (Room) - Time Started : 0 s - 2-The Operations: Import
Operations: Import
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Grado de cristalinidad:
Valores finales:
1200
1100 Celulosa parcialmente cristalina

1000
Celulosa amorfa
900
800
Lin (Counts)
700
600
Contribucin Lorentziana a la pseudo-Voigt.
500
Mismo valor para los tres picos
400
300
200
100
6 10 20
2-Theta - Scale
MRI54017 MIX D5MEAS - Program:GENSC30.DQLD5MEAS - Program:GENSC30.DQL - File: MRI54017.RAW - Temp.: 25 C (Room)
MRI54002 2 D5MEAS - Program:GENSC30.DQLD5MEAS - Program:GENSC30.DQL - File: MRI54002.RAW - Temp.: 25 C (Room)
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Grado de cristalinidad: Grado de cristalinidad:
800 9.000008 15.8764 20.66313 34.59933

750 22.39867
700
650
600
550
500
450
400
350
300
250
200
150
100
50
0
-50
-100
-150
6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
3. Ajuste de todo el perfil de difraccin 3. Ajuste de todo el perfil de difraccin
Ajuste del perfil de difraccin:
Corrections: 180000
Import data files Emission profile Background zero error 170000 Muestra: Y2O3
LP factor
160000 a: 10.6041 ,Ia3 (206)
150000 Fichero: Y2O3A.RAW
140000 Ajuste de reflexiones individuales y del perfil completo.
Add hkl phase
130000 Uso de Fundamental Parameters:
120000
Lin (Counts)
G.E.S. 110000 Radios Gonimetro: 173 mm
a, b, c, , , RS-Width: 0.2 mm
100000
FDS-Angle: 1
90000
Soller Slits 5.1 y 8.6
80000
NO SI 70000
Seleccionar Peak Type Fundamental Instrument
(PV_MOD, PV_TCHZ, PVII) Parameters? 60000
50000
40000
30000
20000
Run (F6) Run (F6) 10000
16 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120
2-Theta - Scale
Zero error, a, b, c, , , , Ihkl, Zero error, a, b, c, , , , Ihkl
U, V, W, x Cry Size, Strain Y + 4.0 mm - File: Y2o3a.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 15.000 - End: 120.000 - Step: 0.020 - Step time: 1. s - Temp.: 25 C (Room) - Time Star ted: 0 s - 2-T
Operations: Import
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Funcin Pearson VII: Funcin pseudo-Voigt modificada:
FWHMPearson VII = ha + hb / Cos() + hc Tan() FWHMpV_MOD = ha + hb / Cos() + hc Tan()
m = 0.6 + ma + mb / Cos() + mc / Tan()

TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Funcin Thompson-Cox-Hastings pseudo-Voigt: Descripcin de las correcciones a aplicar:
ngulo del monocromador:

Coef. de absorcin lineal y grueso
de la muestra usados para calcular Sin monocromador 0
FWHMpV-TCH = U Tan2() + V Tan() + W la forma de los picos. Ge 27.3
Correccin de la intensidad de las Grafito 26.4
= 0 + x 2
reflexiones debido a efectos de
Cuarzo 26.6
absorcin.
Radiacin 100% polarizada 90
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Descripcin de la celda:
7000
Muestra: AlVO4
Fichero: ALVO4.RAW
6000 Ajuste completo de perfil con funcin PV-TCHZ
5000
Radios Gonimetro: 217.5 mm
Lin (Counts)
Modo transmisin con capilar.
Ajuste de la convolucin axial de Finger_et_al
4000
Monocromador primario de Ge (27.3)
P-1
3000
a: 6.541 , b: 7.760 , c: 9.136 ,
: 96.2, : 107.2, : 101.4
2000
Opcionalmente utilizar Line Minimization y Extrapolation
1000
Aadimos una fase tipo hkl Mtodo de calcular las Ihkl: 0
Le Bail 5 10 20 30 40 50 60 70
Las intensidades de las reflexiones se
Pawley 2-Theta - Scale
Calculan de nuevo en cada ajuste. til si File: Alvo4.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 5.000 - End: 80.000 - Step: 0.020 - Step time: 1. s - Temp.: 25 C (Room) - Time Started: 0 s - 2-Th eta: 5.000 - Th
hay cambio de grupo espacial durante el Operations: Import
ajuste.
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Anlisis de tamao-deformacin de partculas:
16000
Muestra: PbSO4
15000
14000
Fichero: PBSO4.RAW
13000
Ajuste completo de perfil con Fundamental Parameters
12000
Radios Gonimetro: 173mm
11000
RS-Width: 0.2 mm
Lin (Counts)
10000 FDS-Angle: 1
9000 Soller Slits 5.1
8000
Monocromador secundario de grafito (26.4) Tamao de partcula o grano Tamao de cristal Tamao de cristalito
7000
6000 ICDD: 36-1461

5000
Ajuste opcional de Crys-Size-L, Strasin-L
4000
Opcionalmente utilizar Line Minimization y Extrapolation
3000
2000
1000
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150
2-Theta - Scale
Converted from Diffrac/AT Ve - File: Pbso4.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 - End: 160.000 - Step: 0.025 - Step time: 1. s - Temp.: 2
Operations: Import
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Anlisis de tamao-deformacin de partculas: Anlisis de tamao-deformacin de partculas:
El tamao del cristalito es una cantidad que no puede ser medida

b
a directamente. Las cantidades que se pueden medir son las llamadas altura
de la columna difractante. El poder difusor de una columna es depenciente
A de su volumen. Por tanto, se utiliza el trmino el peso del volumen de la
columna (volume weighted mean column heights), Lvol.
B
Cada cristal puede estar formado por uno o ms dominios coherentes de

difraccin. El cristal superior est roto en dos dominios como consecuencia
de una macla. Para una reflexin hkl representada por el vector a hay dos
dominios pero un solo cristalito. En cambio para una reflexin hkl
representada por el vector b hay dos dominios y dos cristalitos.
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Hasta ahora hemos supuesto el fenmeno de la difraccin producido por

cristales infinitamente grandes y libres de deformaciones.
12000
11000
10000
9000
Lin (Counts)
8000
7000
6000
5000
4000
3000
Macrodeformacin
2000
macrostress
1000
7.8 8 9 10 11
2-Theta - Scale
Si los cristales fuesen infinitamente grandes, slo observariamos el fenmeno Microdeformacin
de la difraccin en el ngulo de Bragg microstress
El tamao del cristal y la deformacin afectan al difractograma observado
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

El programa TOPAS utiliza el mtodo de doble funcin Voigt (Double-Voigt LVol-FWHM: Clculo de la longitud de la columna difractante (en nm) a
Approach). El mtodo permite por un lado el clculo del tamao del cristalito partir de la FWHM y dependiente de la forma de los cristales (indicada por el
promedio a partir de la anchura integral (LVol-IB) o de la anchura a media parmetro de Scherrer k).
altura (LVol-FWHM), y por otro lado el valor promedio de la deformacin
(e0). Lvol-IB: Clculo de la longitud de la columna difractante (en nm) a partir de
la anchura integral independiente de la forma de los cristales.
El mtodo se basa en las contribuciones individuales de tamao de cristalito
y deformacin al perfil de difraccin en trminos de ensanchamiento
Lorentziano y Gausiano de picos.
Strain L: Ajuste de la contribucin Lorentziana a la anchura a media altura
Cry Size L: Ajuste de la contribucin Lorentziana a la anchura a media debida a la microdeformacin del cristalito.
altura debida al tamao de cristalito. (Distribucin de tamaos de partcula: funcin
Lorentziana simtrica). Strain G: Ajuste de la contribucin Gaussiana a la anchura a media altura
debida a la microdeformacin del cristalito. (Microdeformacin: funcin Gaussiana
asimetrica).
Cry Size G: Ajuste de la contribucin Gaussiana a la anchura a media altura
debida al tamao de cristalito.
e0: Clculo de la microdeformacin basada en la FWHM.
En muestras reales, la contribucin nunca es puramente Gaussiana ni
Lorentziana.
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Clculo de la deformacin basada

Clculo del volumen de la columna en la FWHM. Describe la distorsin
Ajuste Lorentziano y Gaussiano de Ajuste Lorentziano y Gaussiano de
difractante a partir de la anhcura de la celda (d/d) con un 50% de
los efectos producidos por el los efectos producidos por la
integral (IB) y de la a FWHM con el probabilidad respecto a la celda no
tamao de cristalito. microdeformacin del cristalito.
parmetro de forma de Scherrer (k) distorsionada.
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

3. Ajuste de todo el perfil de difraccin 4. Anlisis de Rietveld
Ajuste de Rietveld (anlisis cuantitativo y ajuste estructural):
Ihkl calculadas para una fase: Corrections:

Import data files Emission profile Background zero error
LP factor
Add Structure Load STR(s) Load CIF(s)
G.E.S. B
a, b, c, , , ,
x,y,z, B
NO SI
Seleccionar Peak Type Fundamental Instrument
(PV_MOD, PV_TCHZ, PVII) Parameters?
Run (F6) Run (F6)
Zero error, a, b, c, , , , |Fhkl|2 Zero error, a, b, c, , , , |Fhkl|2

U, V, W, x Cry Size, Strain
x,y,z, B x,y,z, B
% en peso % en peso
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
4. Anlisis de Rietveld 4. Anlisis de Rietveld
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#Commerce on behalf of the United States. All rights reserved.
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primary 'Journal of Physics and Chemistry of Solids' 1995 56 56 1305 _atom_site_label
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_cell_angle_gamma 90. O1 O2- 4 e 0.0008(6) 0.0366(8) 0.2116(5) 1. 0 0.90(9)
_cell_volume 424.19 O2 O2- 4 e 0.9973(6) 0.4632(8) 0.2164(5) 1. 0 0.90(9)
_cell_formula_units_Z 8 O3 O2- 4 e 0.2821(4) 0.2602(7) 0.2870(4) 1. 0 0.88(6)
_symmetry_space_group_name_H-M 'P 1 21/n 1' O4 O2- 4 e 0.2107(4) 0.2602(8) 0.7310(4) 1. 0 1.08(7)
_symmetry_Int_Tables_number 14 O5 O2- 4 e 0.2859(6) 0.0390(6) 0.0065(5) 1. 0 1.17(9)
_refine_ls_R_factor_all 0.079 O6 O2- 4 e 0.2849(6) 0.4850(5) 0.9922(4) 1. 0 0.87(8)
loop_
#End of data_80056-ICSD
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Formato STR 12000
11000 Muestra: Corindn, Fluorita, Zincita, Brucita

Fichero: CPD-2.RAW
10000
str
CS_L(@, 200)
Anlisis cuantitativo de fases
r_bragg 0 9000
scale @ 1e-005
phase_name WO3_monoclinic
MVW( 0, 424.19, 0) 8000
Lin (Counts)
space_group P121/n1 RS-Width: 0.3 mm
Phase_LAC_1_on_cm( 0)
Phase_Density_g_on_cm3( 0) 7000 FDS-Angle: 1
a @ 7.30084 Soller Slits 4.6
b @ 7.53889
c @ 7.68962 6000
be @ 90.892 Monocromador secundario de grafito (26.4)
site W1 num_posns 0 x 0.2513 y 0.0277 z 0.2865 occ W+6 1 beq 0.67
site W2 num_posns 0 x 0.2481 y 0.0342 z 0.7815 occ W+6 1 beq 0.6 5000
site O1 num_posns 0 x 0.0008 y 0.0366 z 0.2116 occ O-2 1 beq 0.9 Ajuste opcional de Absorption Refinement
site O2 num_posns 0 x 0.9973 y 0.4632 z 0.2164 occ O-2 1 beq 0.9
4000
site O5 num_posns 0 x 0.2859 y 0.039 z 0.0065 occ O-2 1 beq 1.17 3000
2000
1000
5 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140
2-Theta - Scale
File: Cpd-2.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 5.000 - End: 145.000 - Step: 0.020 - Step time: 3 . s - Temp.: 25 C (Room) - Time Started: 0 s - 2-T heta: 5.000 -
Operations: Import
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Descripcin de las fases: Descripcin de las fases:
Posiciones equivalentes por

simetra
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Descripcin de las fases: Multiplicidad de la posicin

Title Defect structure of calcium fluoride containing excess anions: I.
Bragg scattering
Author(s) Cheetham, A.K.;Fender, B.E.F.;Cooper, M.J.
Reference Journal of Physics C
(1971), 4, 3107-3121
Zeitschrift fuer Anorganische und Allgemeine Chemie
(1952), 271, 17-28
Unit Cell 5.462(30) 5.462(30) 5.462(30) 90. 90. 90.
Vol 162.95
Z 4
Space Group F m -3 m
SG Number 225
Cryst Sys cubic
Pearson cF12
Wyckoff c a
R Value 0.008
Red Cell F 4.862 4.862 4.862 60 60 60 40.738
Trans Red 0.500 0.500 0.000 / 0.000 0.500 0.500 / 0.500 0.000 0.500
Comments Compound with mineral name: Fluorite
Neutron diffraction (powder)
Neutron diffraction (single crystal)
The structure has been assigned a PDF number: 35-816
Atom # OX SITE x y z SOF H ITF(B)
Ca 1 +2 4 a 0 0 0 1. 0 0.57(4)
F 1 -1 8 c 0.25 0.25 0.25 1. 0 0.81(2)
*end for ICSD #60559
Factor de ocupacin de la posicin, 0<Occ.<=1

Factor de temperatura isotrpico
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
*data for ICSD #56149

Chem Name Zinc Oxide Coll Code 56149
Structured Zn O Rec Date 2003/04/01
Sum O1 Zn1 Chem Name Magnesium Hydroxide
ANX AX Structured Mg (O H)2
Min Name Zincite Sum H2 Mg1 O2
D(calc) 5.67 ANX AX2
Title Remeasurement of the structure of hexagonal Zn O Min Name Brucite
Author(s) Abrahams, S.C.;Bernstein, J.L. D(calc) 2.42
Reference Acta Crystallographica B (24,1968-38,1982) Title Constitution of hydroxides and hydrates
(1969), 25, 1233-1236 Author(s) Natta, G.
Unit Cell 4.24986(1) 4.24986(1) 5.20662(1) 90. 90. 120. Reference Gazzetta Chimica Italiana
Vol 47.62 (1928), 58, 344-358
Z 2 Unit Cell 4.12 4.12 4.75 90. 90. 120.
Space Group P 63 m c Vol 40.04
SG Number 186 Z 1
Cryst Sys hexagonal Space Group P -3 m 1
Pearson hP4 SG Number 164
Wyckoff b2 Cryst Sys trigonal/rhombohedral
R Value 0.0378 Pearson hP5
Red Cell P 4.249 4.249 5.206 90 90 120 47.624 Wyckoff d a
Trans Red 1.000 0.000 0.000 / 0.000 1.000 0.000 / 0.000 0.000 1.000 Red Cell P 4.12 4.12 4.75 90 90 119.999 40.044
Comments Compound with mineral name: Zincite Trans Red 1.000 0.000 0.000 / 0.000 1.000 0.000 / 0.000 0.000 1.000
The structure has been assigned a PDF number: 36-1451 Comments Compound with mineral name: Brucite
Atom # OX SITE x y z SOF H ITF(B) The structure has been assigned a PDF number: 44-1482
Zn 1 +2 2 b 0.3333 0.6667 0 1. 0 0.63 X-ray diffraction (powder)
O 1 -2 2 b 0.3333 0.6667 0.3825(14) 1. 0 0.68 No R value given in the paper.
*end for ICSD #26170 At least one temperature factor missing in the paper.
Position of 2 Elements of H Are Undetermined.
Atom # OX SITE x y z SOF H
Mg 1 +2 1 a 0 0 0 1. 0
O 1 -2 2 d 0.3333 0.6667 0.25 1. 0
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Descripcin de las fases:

Muestra: Corindn, Fluorita, Zincita, Amorfo
4000 Fichero: CPD-3.RAW
Inorganic Crystal Structure Database (ICSD)
Anlisis cuantitativo de fases
3000
RS-Width: 0.3 mm
Lin (Counts)
FDS-Angle: 1
Soller Slits 4.6
Monocromador secundario de grafito (26.4)

2000
Ajuste opcional de Absorption Refinement
Patrn interno: 30.79% Corindn
1000
5 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150
2-Theta - Scale
CPD-3.DAT Converted from UXD format byConverted from UXD format by XCH Version 1 - File: CPD-3.RAW - Type: 2Th/Th locked - Start: 5.000 - E
Operations: Import
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Modo GRID:
Actualizado por el programa
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Ajuste para tres fases:

Dolomite 78.43 %
55 MRE12015.RAW:1
Talc-M 21.57 %
50
45 observado
40 Tipo de pico: pseudo-Voigt calculado
diferencia
35
fase 2
30
25
20
15
10
5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70
Informacin sobre cada reflexin

Cuantificacin de dolomita y talco sin orientacin preferencial (Rwp= 66.49)
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Descripcin de las fases:

Dolomite 79.68 %
55 MRE12015.RAW:1
Talc-M 20.32 %
MRE12015.RAW:1
50
45
40
35
30
25
20
15
10
2 0
1
Phkl = (G 2 cos 2 + sin 2 ) 3 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70
G
Siendo el ngulo entre hkl y la d* Cuantificacin dolomita y talco con orientacin preferencialpara el talco, funcin
direccin del eje de la fibra March-Dollase para G=0.32 en la direccin (001) (Rwp= 41.33).
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Descripcin de las fases: Descripcin de las fases:
@ = Refine Fix Tamao promedio de las partculas Coef. de absorcin msico calculado
para la correccin de Brindley para cada fase.
Cualquier cadena = Refine
debida a la microabsorcin.
Factor de correccin de la densidad
del monocristal ("packing density")
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Ajuste para tres fases:

Ajuste para una sola fase:
observado
calculado
Tipo de pico: pseudo-Voigt diferencia
observado fase 1
calculado
diferencia
Tipo de pico: Fundamental Parameters
Falta intensidad
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Estructura cristalina del Y2O3

180000
*data for ICSD #66243
170000 Muestra: Y2O3 Coll Code 66243
160000 a: 10.6041 ,Ia3 (206) Rec Date 1992/08/20
Chem Name Yttrium Oxide
150000 Fichero: Y2O3A.RAW Structured Y2 O3
140000 Ajuste de la estructura Sum
ANX
O3 Y2
A2X3
130000 Uso de Fundamental Parameters: D(calc) 5.03
120000 Title Rietveld refinement of Y2O3 - comparison of two profile functions
Lin (Counts)
Author(s) Smrcok, L.;Duris, P.

110000 Radios Gonimetro: 173 mm
Reference Proceedings International Conference Adv. Methods X-Ray Neutron Struct. Anal. of Mater., 1987
100000 RS-Width: 0.2 mm (1989), 1989, 375-378
FDS-Angle: 1 Unit Cell 10.6038(8) 10.6038(8) 10.6038(8) 90. 90. 90.
90000
Soller Slits 5.1 y 8.6 Vol 1192.3
80000 Z 16
Space Group I a -3
70000
SG Number 206
60000 Cryst Sys cubic
50000
Pearson cI80
Wyckoff e d b
40000 R Value 0.2
30000 Red Cell I 9.183 9.183 9.183 109.471 109.471 109.471 596.149
Trans Red 0.500 0.500 -0.500 / -0.500 0.500 0.500 / 0.500 -0.500 0.500
20000 Comments Rietveld profile refinement applied
10000 Structure type : Mn2O3
X-ray diffraction (powder)
0 Atom # OX SITE x y z SOF H ITF(B)
O 1 -2 48 e 0.3915(8) 0.1517(8) 0.3832(9) 1. 0 0.36(17)
16 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120
Y 1 +3 24 d -.0320(1) 0 0.25 1. 0 0.40(5)
2-Theta - Scale Y 2 +3 8 b 0.25 0.25 0.25 1. 0 0.60(8)
Y + 4.0 mm - File: Y2o3a.raw - Type: 2Th/Th locked - Start: 15.000 - End: 120.000 - Step: 0.020 - Step time: 1. s - Temp.: 25 C (Room) - Time Star ted: 0 s - 2-T
Operations: Import
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
5. LAUNCH mode 5. LAUNCH mode
Modo LAUNCH:
Dos modos de trabajar:
GUI mode (Graphical User Interface):
* usuario poco experto

* funciones limitadas
* facilidad de trabajo
* interfaz grfica
LAUNCH mode (text mode):
* usuario experto
* requiere tiempo para preparar el fichero de datos
* todas las funciones de TOPAS
* posibilidad de programacin (lenguage TOPAS)
* creacin de un fichero de salida de datos
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Modo REPORT: Modo LAUNCH:

TOPAS 3.0 TOPAS 3.0
Modo LAUNCH: Creacin de Macros Modo LAUNCH:

macro Filename {C:\arxius\topas\astm\MRI01431}
a lpa_C4AF 5.50164_0.00743
r_exp 18.864 r_exp_dash 25.840 r_wp 22.942 r_wp_dash 31.425 r_p 16.796 r_p_dash 24.501 weighted_Durbin_Watson 1.530 gof 1.216 b lpb_C4AF 14.56903_0.01257
c lpc_C4AF 5.37492_0.00724
iters 100 site Ca num_posns 8 x 0.0273 y 0.1087 z 0.492 occ Ca+2 1 beq 0.25
chi2_convergence_criteria 0.01 /* site Fe1 num_posns 4 x 0 y 0 z 0 occ Fe+3 0.5 beq 0.25 occ Al+3 0.5 beq 0.25
site Fe2 num_posns 4 x 0.9283 y 0.25 z 0.9533 occ Fe+3 0.5 beq 0.25 occ Al+3 0.5 beq 0.25
RAW(Filename,1) Bloque de comentarios site O1 num_posns 8 x 0.2523 y 0.9861 z 0.2491 occ O-2 1 beq 0.5
Zero_Error(@, -0.00730_0.00216)
LP_Factor( 26.5) */ site O3 num_posns 4 x 0.8607 y 0.25 z 0.6193 occ O-2 1 beq 0.5
Preferred_Orientation(@, 0.98292_0.10390,, 0 1 0)
Rp 217.5
Rs 217.5 ' Lnea de comentarios str
phase_name "Free lime"
Slit_Width( 0.2)
Divergence( 0.5) space_group F_M_-3_M
axial_conv scale scl_CaO 0.0000018803_0.0000008415 min 0.0000000500 max 0.02;
filament_length 12 Descripcin difractmetro MVW( str_CaO 224.308_0.000, vol_CaO 116.8521_0.1321, wt_CaO 0.220_0.097)
r_bragg 14.0577011
sample_length 15
receiving_slit_length 12 CS(cs_CaO, 499.97389_1629.59369 min 30 max 500)
primary_soller_angle 2.3 Cubic(lpa_CaO 4.88891_0.00184 min =4.85; max =4.95;)
secondary_soller_angle 2.3 site Ca num_posns 4 x 0 y 0 z 0 occ Ca+2 1 beq 1
bkg @ 9.11001746_0.161089865 -1.37076514_0.196265652 0.282557915_0.193109597 -1.23947989_0.155552 1.53476196_0.161144884 site O num_posns 4 x 0.5 y 0.5 z 0.5 occ O-2 1 beq 1
r_exp 18.864 r_exp_dash 25.840 r_wp 22.942 r_wp_dash 31.425 r_p 16.796 r_p_dash 24.501 weighted_Durbin_Watson 1.530 gof 1.216 str
lam phase_name "Aluminate C3A cubic"
ymin_on_ymax 0.001 space_group P_A_-3
la 0.653817 lo 1.540596 lh 0.501844 scale scl_C3Ac 0.0000001097_0.0000000053 min 0.00000000050 max 0.02;
MVW( str_C3Ac 6484.622_0.000, vol_C3Ac 3531.7937_1.0156, wt_C3Ac 11.197_0.137)
str
la 0.346183 lo 1.544493 lh 0.626579
Tipo de radiacin r_bragg 7.75117646
phase_name "Alite C3S monoclinic" CS(cs_C3Ac, 79.85412_7.99673 min 45 max 500)
space_group C_1_M_1 Cubic(lpa_C3Ac 15.22878_0.00146)
scale scl_C3S 0.0000003980_0.0000000050 site Ca num_posns 4 x 0 y 0 z 0 occ Ca+2 1 beq 0.25
site Ca num_posns 4 x 0.5 y 0 z 0 occ Ca+2 1 beq 0.25
MVW( str_C3S 8219.355_0.000, vol_C3S 4314.6949_0.6342, wt_C3S 62.914_0.730)
r_bragg 5.98203694
Descripcin de cada fase site Ca num_posns 8 x 0.2561 y 0.2561 z 0.2561 occ Ca+2 1 beq 0.25
CS(cs_C3S, 140.73740_6.21354 min 30 max 500) site Ca num_posns 8 x 0.375 y 0.375 z 0.375 occ Ca+2 1 beq 0.25
a lpa_C3S 34.09831_0.00287 site Ca num_posns 24 x 0.1386 y 0.3763 z 0.1272 occ Ca+2 1 beq 0.25
b lpb_C3S 7.04933_0.00058 site Ca num_posns 24 x 0.38 y 0.3838 z 0.1209 occ Ca+2 1 beq 0.25
c lpc_C3S 18.54190_0.00158 site Al num_posns 24 x 0.2526 y 0.0133 z 0.0197 occ Al+3 1 beq 0.25
be lpbe_C3S 94.18151_0.00684 site Al num_posns 24 x 0.2444 y 0.2335 z 0.0046 occ Al+3 1 beq 0.25
site Ca num_posns 2 x 0.0075 y 0 z 0.009 occ Ca+2 0.5 beq 4 site O num_posns 24 x 0.2777 y 0.1241 z 0.0103 occ O-2 1 beq 0.5
site Ca num_posns 2 x 0.0024 y 0 z 0.0056 occ Ca+2 0.5 beq 4 site O num_posns 24 x 0.4835 y 0.1315 z 0.2536 occ O-2 1 beq 0.5
site Ca num_posns 2 x
TOPAS 3.0 TOPAS 3.0

Modo LAUNCH: Modo LAUNCH:

r_bragg 6.6443491
a lpa_anh 6.98344_0.00873 min 6.9600 max 7.0600 /* Correlation Matrix
b lpb_anh 6.28839_0.00776 min 6.1800 max 6.3000 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 3
c lpc_anh 7.01100_0.00712 min 6.9210 max 7.0600 m3f938612_1e0 1: 100 2 2 3 2 1 5 65 70 69 0 5 10 15 10 5 4 4 6 2 3 5 1 7 1 58 0 5 60 3 0 0 1
site s1 x =0; y !y1_anhydrit 0.6540 z =1/4; occ CA+2 1.00 beq 0.700 bkg369165080 2: 2 100 22 26 3 42 10 2 0 0 1 9 29 1 5 4 1 18 0 1 5 10 10 0 5 2 7 3 1 0 2 2 12
site s2 x =0; y !y2_anhydrit 0.1550 z =1/4; occ S 1.00 beq 0.700 bkg369165081 3: 2 22 100 2 47 1 7 2 0 0 0 5 15 1 4 3 0 9 1 1 2 4 3 0 0 1 1 1 2 0 2 4 7
site s3 x !x3_anhydrit 0.3290 y !y3_anhydrit 0.5150 z =1/4; occ O-2 1.00 beq 0.900 bkg369165082 4: 3 26 2 100 8 33 6 1 2 2 2 4 20 1 2 1 1 3 3 0 0 0 6 0 1 2 6 1 3 1 1 10 1
site s4 x =0; y !y4_anhydrit 0.7020 z !z4_anhydrit 0.9200 occ O-2 1.00 beq 1.100 bkg369165083 5: 2 3 47 8 100 6 8 1 2 1 1 2 11 0 2 2 0 1 1 1 2 2 2 0 1 1 3 2 1 1 0 6 9
CS(cs_anh, 64.75887_28.16291 min 45 max 250) bkg369165084 6: 1 42 1 33 6 100 3 1 1 0 1 4 9 1 0 0 1 6 0 1 2 5 6 0 4 1 1 0 0 2 0 4 4
' PO_Spherical_Harmonics(sh_anhydrit, 6) scl_C3S 7: 5 10 7 6 8 3 100 4 8 1 2 16 38 4 5 14 5 4 1 3 1 5 1 1 0 3 3 1 3 1 1 3 4
' PO(@, 1,, 0 1 0) lpa_C3S 8: 65 2 2 1 1 1 4 100 32 27 15 1 0 6 8 9 1 2 5 2 1 4 1 2 2 38 0 3 39 3 0 0 1
lpb_C3S 9: 70 0 0 2 2 1 8 32 100 30 21 1 8 10 8 5 3 2 4 2 3 3 1 4 0 41 0 4 42 2 0 1 4
iters 1000 lpc_C3S 10: 69 0 0 2 1 0 1 27 30 100 29 4 2 14 3 4 1 2 5 2 3 3 2 8 1 40 0 3 42 2 1 0 1
do_errors lpbe_C3S 11: 0 1 0 2 1 1 2 15 21 29 100 5 5 2 6 2 7 0 0 0 1 2 1 4 1 0 1 0 0 0 1 1 1
out "astm.txt" m3f938612_1e1 12: 5 9 5 4 2 4 16 1 1 4 5 100 30 11 9 12 13 5 2 2 2 11 1 0 3 2 3 1 3 0 1 2 9
Out_String(Filename) scl_C2S 13: 10 29 15 20 11 9 38 0 8 2 5 30 100 5 12 8 8 8 2 11 4 0 6 1 8 7 7 3 6 0 2 5 5
Out_String("\t\n") lpa_C2S 14: 15 1 1 1 0 1 4 6 10 14 2 11 5 100 17 30 4 2 4 1 4 0 1 2 0 3 0 1 9 1 1 0 3
lpb_C2S 15: 10 5 4 2 2 0 5 8 8 3 6 9 12 17 100 26 4 0 5 4 1 9 0 1 4 8 0 6 6 1 14 0 2
Out_String("Phase \t wt \t scale \t c_mass \t c_vol \t a \t b \t c \t be\n") lpc_C2S 16: 5 4 3 1 2 0 14 9 5 4 2 12 8 30 26 100 6 20 22 26 12 1 1 0 1 3 2 0 3 1 5 2 4
Out_String("C3S") Creacin de un fichero de salida lpbe_C2S

scl_C4AF
17:
18:
4
4 18
1 0
9
1
3
0
1
1
6
5
4
1
2
3
2
1
2
7 13
0 5
8
8
4
2
4 6 100 12 27
0 20 12 100
4 14 10
9 20 14 11
0
3
0
0
1
5
2
0
1
3
3
0
4
3
3
3
2
3
0
3
1
1
Out(wt_C3S, "\t%11.2f")
Out(scl_C3S, "\t%11.12f") al final del ajuste con los lpa_C4AF
lpb_C4AF
19:
20:
6
2
0
1
1
1
3
0
1
1
0
1
1
3
5
2
4
2
5
2
0
0
2 2
2 11
4
1
5 22 27
4 26
9 100 34 42
4 20 34 100
3
3 11
1
1
1
0
5
1
5
3
4
4
1
2
3
0
1
1
3
4
4
3
1
1
Out(str_C3S, "\t%11.2f")
Out(vol_C3S, "\t%11.2f") resultados deseados. lpc_C4AF
m3f938612_1e3
21:
22:
3
5 10
5 2
4
0
0
2
2
2
5
1
5
1
4
3
3
3
3
1
2 11
2 4
0
4
0
1 12 14 14 42
9 1 10 11
3 100 19
3 11 19 100
2
2
0
1
8
7
5 11
2 0
2
2
4
2
4
4
2 10
3 0
1
4
Out(lpa_C3S, "\t%11.5f") scl_CaO 23: 1 10 3 6 2 6 1 1 1 2 1 1 6 1 0 1 0 3 1 1 2 2 100 13 1 0 1 0 0 0 0 1 2
Out(lpb_C3S, "\t%11.5f") lpa_CaO 24: 7 0 0 0 0 0 1 2 4 8 4 0 1 2 1 0 0 0 1 0 0 1 13 100 0 4 0 1 4 0 0 0 0
Out(lpc_C3S, "\t%11.5f") scl_C3Ac 25: 1 5 0 1 1 4 0 2 0 1 1 3 8 0 4 1 1 5 5 1 8 7 1 0 100 1 1 1 1 1 1 0 2
Out(lpbe_C3S, "\t%11.2f\n") lpa_C3Ac 26: 58 2 1 2 1 1 3 38 41 40 0 2 7 3 8 3 2 0 5 3 5 2 0 4 1 100 0 4 35 2 0 0 1
scl_Gyp 27: 0 7 1 6 3 1 3 0 0 0 1 3 7 0 0 2 1 3 4 4 11 0 1 0 1 0 100 1 2 1 2 73 1
Out_String("C2S") lpa_Gyp 28: 5 3 1 1 2 0 1 3 4 3 0 1 3 1 6 0 3 0 1 2 2 2 0 1 1 4 1 100 17 41 1 1 0
Out(wt_C2S, "\t%11.2f") lpb_Gyp 29: 60 1 2 3 1 0 3 39 42 42 0 3 6 9 6 3 4 3 3 0 4 2 0 4 1 35 2 17 100 14 12 0 1
Out(scl_C2S, "\t%11.12f") lpc_Gyp 30: 3 0 0 1 1 2 1 3 2 2 0 0 0 1 1 1 3 3 1 1 4 4 0 0 1 2 1 41 14 100 24 1 0
Out(str_C2S, "\t%11.2f") lpbe_Gyp 31: 0 2 2 1 0 0 1 0 0 1 1 1 2 1 14 5 2 3 3 4 2 3 0 0 1 0 2 1 12 24 100 2 0
Out(vol_C2S, "\t%11.2f") m3f938612_1e5 32: 0 2 4 10 6 4 3 0 1 0 1 2 5 0 0 2 0 3 4 3 10 0 1 0 0 0 73 1 0 1 2 100 0
Out(lpa_C2S, "\t%11.5f") scl_bas 33: 1 12 7 1 9 4 4 1 4 1 1 9 5 3 2 4 1 1 1 1 1 4 2 0 2 1 1 0 1 0 0 0 100
Out(lpb_C2S, "\t%11.5f") lpa_bas 34: 3 1 1 1 1 1 2 1 3 1 2 6 1 2 2 8 8 1 5 3 7 1 0 0 1 1 1 0 2 0 0 1 3 10
Out(lpc_C2S, "\t%11.5f") lpb_bas 35: 7 5 2 4 1 0 2 4 6 4 1 2 2 1 2 3 1 1 2 0 2 1 6 7 0 6 1 1 4 3 1 0 2
Out(lpbe_C2S, "\t%11.2f\n") lpc_bas 36: 2 0 1 1 3 3 0 0 3 1 1 2 2 0 0 2 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 0 13
lpbe_bas 37: 1 0 0 0 1 0 3 4 3 2 2 1 1 0 2 4 5 1 3 3 5 3 0 0 1 1 0 1 0 0 1 0 3 7
m3f938612_1e7 38: 1 12 7 1 9 4 4 1 4 1 1 9 5 3 2 4 1 1 1 1 1 4 1 0 2 1 1 0 1 0 0 0 100
scl_C3Ao 39: 5 13 3 7 1 6 2 5 3 2 1 4 1 3 7 1 2 17 14 2 4 21 3 0 65 0 0 1 1 1 1 1 1
lpa_C3Ao 40: 3 2 1 2 1 2 0 3 2 2 1 2 1 2 5 2 2 2 6 4 5 0 1 0 34 3 1 1 1 1 1 1 0
lpb_C3Ao 41: 1 1 0 1 0 1 2 2 2 2 2 3 5 2 4 3 3 11 2 4 1 12 1 0 3 9 1 1 0 1 1 1 1
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Universidade da Corua TOPAS 3.0

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

- Posicin del pico o reflexin

Valores discretos medidos Perfil de difraccin resultante

La Royal Swedish Academy of Sciences premi al autor, Dr. Hugo M. Rietveld

56 56.2 56.4 56.6 56.8 57 56 56.2 56.4 56.6 56.8 57

OBJETIVO: Posicin del pico:

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Posicin del pico: Intensidad del pico:

Intensidad del pico: Intensidad del pico:

donde N es el nmero de tomos de la celda unidad, fj es el factor de difusin para el

Los iones tienen factores de difusin

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Intensidad del pico:

Todos estas extinciones o

donde 2 es el ngulo del monocromador. Estos factores geomtricos hacen

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Interpolacin lineal de n puntos definidos por el usuario (no inplementada en 0

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Influencia del parmetro de mezcla m:

Las funciones simtricas ms utilizadas son:

2 ln(2) - 4 ln(2) Gausiana(G)

I i,hkl = L + (1 - ) G pseudo Voigt

2 M ( 21/M - 1) 4( 21/M - 1) PearsonVII(PVII)

Representacin de la variacin de la anchura (FWHM) en funcin de 2 observada para

Cuando se trabaja con ms de una reflexin en el intervalo de 2, la anchura de

FWHM hkl = U tan hkl + V tan hkl + W

A su vez, los dos parmetros de mezcla ( y M) de las funciones pseudo-Voigt y

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Variacin de FWHM en funcin del ngulo 2 para distintos difractmetros

Las funciones split pseudo-Voigt y split Pearson-VII permiten modelizar la asimetria

Perfil completo de difraccin:

Se modeliza definiendo uno de los tres modos de convolucin axial.

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

w(x) perfil debido a la dispersin espectral de energa Ensanchamiento

g(x) perfil debido al difractmetro Asimetra

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Variacin de Rwp con el tiempo por paso

Donde N es el nmero de puntos observados, P es el nmero de parmetros,

| I obs, hkl - I cal, hkl | | I obs, hkl - I cal, hkl |

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Intensidad calculada Intensidad calculada

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Posicin 2 incorrecta FWHM y asimetra FWHM e intensidad

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Establecemos la relacin entre los factores de escala de dos fases presentes en la

Outcomes of the International Union of Crystallography

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Anlisis cuantitativo. Anlisis comparativo Anlisis cuantitativo con la correccin de Brindley

En un sistema bifsico, la relacin de intensidad entre dos fases Ii/Ij

Corrige problemas de superposicin de Problemas con la superposicin de picos y

Se incorpora el coeficiente de Brindley (i) para cada fase en cada mezcla a la

Resultado final del

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

1.0 Para este tipo de correccin es preciso asumir el tamao de partcula y el

El mtodo de Rietveld El mtodo de Rietveld

Calcular {w(x) * g(x)} y luego ajustar h(x)

La contribucin instrumental w(x)*g(x) es calculada por el mismo programa a

Es necesario conocer la configuracin del difractmetro y cmo puede afectar al

Descripcin geomtrica del difractmetro

Divergencia axial Divergencia horizontal / ecuatorial