Optyka

E. Jartych, M. Mazurek, T. Pikula, J.
urawicz
OPTYKA
Instrukcje wykonania zada

na zajciach laboratoryjnych z fizyki
Zestaw instrukcji przygotowano na podstawie skryptw PL:
1. wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka. J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,

red. E. piewla, Wydawnictwa Uczelniane PL, Lublin 1995.
2. wiczenia laboratoryjne z fizyki. Promieniowanie i struktura materii. H. Goebel,
J. Olchowik, J. Rybka, M. Wiertel, K, Wjcik, red. E. piewla, Wydawnictwa
Uczelniane PL, Lublin 1994.
1
SPIS TRECI:
O 1.1. Wyznaczanie wspczynnika zaamania wiata z pomiarw kta zaamania i kta

granicznego 3
O 1.2. Pomiar wspczynnika zaamania wiata przy pomocy mikroskopu 5
O 1.3. Wyznaczanie wspczynnika zaamania wiata w zalenoci od dugoci fali na podstawie
pomiarw kta najmniejszego odchylenia w pryzmacie 7
O 2.1. Wyznaczanie zalenoci wspczynnika zaamania wiata od stenia roztworu 11
O 3.1. Pomiary ogniskowych soczewek za pomoc lunety 14
O 3.2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek na podstawie pomiarw odlegoci przedmiotu i
obrazu od soczewki 17
O 3.3. Pomiary ogniskowych soczewek metod Bessela 20
O 3.4. Wyznaczanie ogniskowych soczewek na podstawie pomiaru powikszenia liniowego 23
O 5.1. Skalowanie mikroskopu i pomiar maych przedmiotw 26
O 5.2. Pomiar powikszenia liniowego obrazu przedmiotu ogldanego przy uyciu mikroskopu 28
O 6.1. Pomiar wzgldnej wiatoci arwek elektrycznych 30
O 6.2. Pomiar sprawnoci wietlnej arwek elektrycznych 32
O 6.3. Pomiar wspczynnika pochaniania wiata w pytkach szklanych 34
O 6.4. Badanie charakterystyki kierunkowej promieniowania rda wiata 36
O 9.1. Wyznaczanie dugoci fal wietlnych przepuszczanych przez filtr, przy pomocy siatki
dyfrakcyjnej 38
O 9.2. Wyznaczanie staej siatki dyfrakcyjnej 41
O 10.2. Wyznaczanie skrcalnoci waciwej roztworw 43
O 10.3. Wyznaczanie staej Verdeta 46
O 12.1. Wyznaczanie charakterystyki prdowo-napiciowej fotokomrki 49
O 12.2. Wyznaczanie charakterystyki prdowo-strumieniowej fotokomrki 52
O 12.3. Wyznaczanie charakterystyki prdowo-strumieniowej fotoogniwa 54
O 12.4. Wyznaczanie charakterystyki prdowo-strumieniowej fotorezystora 56
J 7.1. Pomiar rozkadu energii promieniowania w widmie dyfrakcyjnym wiata pojedynczej
szczeliny i szerokoci tej szczeliny 58
J 7.2. Pomiar rozkadu natenia wiata w widmie dyfrakcyjno-interferencyjnym z dwu szczelin 60
J 7.3. Pomiar rednicy bardzo maych okrgych otworw przy wykorzystaniu dyfrakcji wiata 62
2
O 1.1. Wyznaczanie wspczynnika zaamania wiata z pomiarw kta
zaamania i kta granicznego
INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA
Obowizujce zagadnienia teoretyczne:
1. Charakterystyka fali wietlnej (budowa, dugo fali, prdko)

2. Zasada Fermata
3. Definicja wspczynnika zamania
4. Prawo odbicia i zaamania wiata (Snelliusa)
5. Zjawisko cakowitego wewntrznego odbicia
Literatura:
1. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka. J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,

red. E. piewla, Wydawnictwa Uczelniane, Lublin 1995.
2. B. Kumiderska, J. Meldizon, Podstawy rachunku bdw w pracowni fizycznej, red. E. piewla,
Wydawnictwa Uczelniane PL, Lublin 1997.
3. D. Halliday, R. Resnick, J. Walker, Podstawy fizyki, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa
2003, tom IV.
4. Sz. Szczeniowski, Fizyka dowiadczalna. Cz IV Optyka, WN Warszawa 1983.
Wykonanie zadania:
Rys. 1 Fotografia przedstawiajca stanowisko pomiarowe
1. Otrzyman prbk w ksztacie pwalca umieci na tarczy z podziak ktow (Rys. 1) tak, aby
paska ciana boczna prbki pokrywaa si ze rednic tarczy.
2. Wczy lampk mikroskopow i skierowa wski strumie wiata na punkt padania.
3. Przeprowadzi pomiary kta padania () i zaamania wiata () zaczynajc od 20, zmienia kt
padania co 5 a do 70.
4. Nastpnie owietlajc prbk od strony wypukej przeprowadzi pomiary kta granicznego () co
najmniej 5-krotnie.
5. Otrzymane wyniki zestawi w tabeli.
3
6. Obliczy wspczynnik zaamania prbki ze wzorw:
sin
n 21
sin
oraz
1
n21
sin
dla wszystkich pomiarw, wyliczy warto redni i porwna wyniki oblicze.

7. Do oszacowania niepewnoci wyznaczenia wspczynnika zaamania dla danej prbki
zastosowa metod rniczkowania. Niepewno wyznaczenia ktw padania, zaamania i kta
granicznego (, , ) wyrazi w mierze ukowej.
Autor instrukcji:
Elbieta Jartych
4
O 1.2. Pomiar wspczynnika zaamania wiata przy pomocy mikroskopu
1. Charakterystyka fali wietlnej (budowa, dugo fali, prdko)

3. Prawo odbicia i zaamania wiata
4. Przejcie promienia wietlnego przez pytk paskorwnoleg
5. Obraz rzeczywisty i pozorny
Literatura:

Wydawnictwa Uczelniane PL, Lublin 1997.
2003, tom IV.
Wykonanie zadania:
Rys. 1 Fotografia przedstawiajca mikroskop
1. Zmierzy rzeczywist grubo pytki (d) przy pomocy ruby mikrometrycznej (uwaa, aby nie
cisn za mocno ruby i doprowadzi do pknicia pytki).
2. Na obydwu powierzchniach pytki zaznaczy flamastrami dwie rnice si kolorem plamki
przesunite wzgldem siebie.
3. Wczy wtyczk mikroskopu do zasilacza i przecznikiem wczy owietlenie mikroskopu.
4. Umieci pytk na stoliku mikroskopu.
5. rub mikrometryczn mikroskopu (B na Rys. 2 a) obrci za pomoc uchwytu (C) w prawo do
oporu (a bdzie sycha kliknicie sprzgieka).
5
6. Posugujc si rubami makrometryczn (A) i mikrometryczn (B) (Rys. 2 a) ustawi mikroskop
na ostre widzenie dolnej plamki.
Rys. 2 (a) ruba makrometryczna A, ruba mikrometryczna B, uchwyt do obracania ruby

mikrometrycznej C; (b) Skala do odczytu pooenia ruby mikrometrycznej, P punkty
odniesienia
7. Odczyta pooenie pocztkowe ruby mikrometrycznej (p) obierajc jeden z punktw P (Rys.
2b) za punkt odniesienia.
8. Nastpnie przy pomocy uchwytu C ruby mikrometrycznej przesuwa tubus, liczc jednoczenie
liczb obrotw (N), dotd a bdzie ostro widoczna druga, grna plamka.
9. Odczyta warto pooenia kocowego ruby mikrometrycznej (k) wzgldem obranego
wczeniej punktu odniesienia.
10. Obliczy grubo pozorn pytki (h) ze wzoru:
h N 0,1mm k p
0,1mm
100
gdzie warto 0,1 mm oznacza skok ruby, za liczba 100 jest liczb dziaek ruby mikrometrycz-
nej.
11. Przeprowadzi pomiary 10-krotnie. Wyniki umieci w tabeli.
12. Wspczynnik zaamania materiau, z ktrego wykonana jest pytka wyliczy ze wzoru:
d
n
h
dla wszystkich pomiarw, a nastpnie obliczy redni arytmetyczn.
13. Do oszacowania niepewnoci wyznaczenia wspczynnika zaamania dla pytki pasko-
rwnolegej zastosowa metod rniczkowania. Za niepewno odczytu ze ruby mikrometrycznej
d przyj warto odpowiadajc 1 dziace mikrometru. Niepewno h = 2(h1 + h2), gdzie
bd odczytu pooenia ruby mikrometrycznej mikroskopu h1 = 0,1 mm/100, natomiast h2 =
n 0,1 mm; warto n naley wyznaczy dowiadczalnie, tj. poda liczb dziaek odczytan na
rubie mikrometrycznej mikroskopu, podczas zmiany pooenia tubusa, przy ktrej nie zauwaono
zmiany ostroci plamki.
Autor instrukcji:
Elbieta Jartych
6
O 1.3. Wyznaczanie wspczynnika zaamania wiata w zalenoci od dugoci
fali na podstawie pomiarw kta najmniejszego odchylenia w pryzmacie
1. Charakterystyka fali wietlnej (dugo fali, czstotliwo, prdko)

3. Prawo zaamania wiata
4. Przejcie promienia wietlnego przez pryzmat
5. Zjawisko dyspersji
Literatura:
Wydawnictwa Uczelniane, Lublin 1997.
2003, tom IV.
Wartoci dugoci fali dla barwy:

Czerwonej 6,71 10-7 m Zielono-niebieskiej 4,92 10-7 m
tej 5,78 10 m
-7
Niebieskiej 4,36 10-7 m
Zielonej 5,46 10-7 m Fioletowej 4,08 10-7 m
Wykonanie zadania:
Rys. 1 Zewntrzny wygld goniometru. 1 mikroskop odczytowy, 2 piercie okularu, 3 luneta

autokolimacyjna zaopatrzona w krzy z nitek pajczych, 4 wcznik owietlenia lunety, 5 stolik,
6 kolimator, 7 zacisk umoliwiajcy po jego zwolnieniu obrt stolika, 8 zacisk umoliwiaj-
cy po jego zwolnieniu podnoszenie i opuszczanie stolika, 9 leniwka
7
Wyznaczanie kta amicego
1. Zapozna si z budow goniometru (Rys. 1).
2. Wczy owietlenie lunety wcznikiem (4).
3. Ustawi ostro widzenia w okularze (2) i mikroskopie odczytowym (1).
4. Otrzymany do pomiarw pryzmat ustawi na stoliku tak, aby jedna z jego cian amicych bya
prostopada do linii czcej pokrta poziomujce stolik (I) i (II) Rys. 2.
(a) (b
)
Rys. 2 Ustawienie pryzmatu na stoliku; I, II, III pokrta poziomujce stolik;

(a) schemat, (b) fotografia
5. Ustawi lunet tak, aby uzyska w niej obraz krzya dla promieni odbitych od powierzchni
amicej AC (pooenie 1 na Rys. 3).
6. Jeeli krzy i jego obraz nie pokrywaj si, naley przy pomocy pokrte (I) i (II) oraz lekko
obracajc stolik doprowadzi do ich naoenia si.
7. Unieruchomi stolik (zaciski 7 i 8 powinny by zakrcone do oporu).
8. Obrci lunet do pooenia, w ktrym uzyska si obraz krzya otrzymany dla promieni odbitych
od powierzchni AB (pooenie 2 na Rys. 3).
9. Jeeli krzy i jego obraz nie pokrywaj si, naley doprowadzi do ich naoenia si tylko
pokrtem (III).
Rys. 3 Idea pomiaru kta amicego pryzmatu
10. Czynnoci 5-6 i 8-9 przeprowadzi kilkakrotnie w celu dokadnego ustawienia stolika z
pryzmatem. Przy prawidowym ustawieniu stolika krzy powinien pokrywa si ze swoim obrazem
8
dla obu pooe lunety. Duych przesuni lunety dokonywa rk, dokadniejsze ustawienia
uzyskiwa za pomoc leniwki (9).
11. Odczytywa pozycje lunety w mikroskopie odczytowym wg zasady przedstawionej na Rys. 3.
Jeli pooenie odpowiadajce wikszemu ktowi oznaczy przez 1, mniejszemu przez 2, to kt
obrotu lunety wynosi = 1 2.
Uwaga ! Gdy pozycje 1 i 2 znajduj si po przeciwnych stronach 0 skali mikroskopu
odczytowego (np. 1= 330, 2=30), to:
= (360 1) + 2.
Pomiary przeprowadzi 5-krotnie.
12. Kt amicy pryzmatu wyznaczy ze wzoru:
180 . (1)
13. Obliczy redni warto kta z 5-pomiarw.
(a)
(b)
Rys. 4 Pole widzenia mikroskopu odczytowego; waciwy odczyt: (a) 883,5, (b) 9455,5
Wyznaczanie kta najmniejszego odchylenia

(a) (b)
Rys. 5 Idea pomiaru kta najmniejszego odchylenia w pryzmacie;

(a) Wizka wiata skierowana na cian amic AB
(b) Wizka wiata skierowana na cian amic AC
1. Umieci przed szczelin kolimatora lamp rtciow i wczy j.
9
2. Zwolni zacisk (7) unieruchamiajcy stolik.
3. Stolik z pryzmatem oraz lunet ustawi w pozycji przedstawionej na Rys 5a.
4. Zmieniajc w niewielkim zakresie pooenie lunety i stolika znale obraz 6 linii widma rtci o
barwach: czerwona, ta, zielona, zielono-niebieska, niebieska i fioletowa. Poprosi prowadzcego
o ustawienie szerokoci szczeliny w kolimatorze. Nie zmienia pooenia pryzmatu wzgldem
stolika.
5. Obserwujc widmo w lunecie obraca delikatnie stolikiem powinno spowodowa to
przesuwanie si widma w polu widzenia.
6. Widmo po przesuniciu si na pewn odlego zaczyna zawraca. Pooenie zwrotne odpowiada
ktowi najmniejszego odchylenia.
7. Ustawi stolik w pooeniu zwrotnym i unieruchomi go. Zmieniajc pooenie lunety
naprowadzi krzy nici pajczych na rodek danej linii widmowej i odczyta pooenie lunety w
mikroskopie odczytowym. Dla kadej linii zanotowa pooenie jako kt 1. Pomiary
przeprowadzi 3-krotnie dla kadej barwy.
8. Zwolni zacisk (7) unieruchamiajcy stolik.
9. Stolik z pryzmatem oraz lunet ustawi w pozycji przedstawionej na Rys 5b (nie zmienia
pooenia pryzmatu wzgldem stolika). Analogicznie wykona czynnoci 4-8 dla drugiego
ustawienia stolika i lunety, notujc pooenia kolejnych linii widmowych jako kt 2.
10. Obliczy kt najmniejszego odchylenia dla kadej dugoci fali stosujc wzr:
1 2
min (2)
2
11. W sytuacji, gdy pozycje 2 i 1 znajduj si po przeciwnych stronach 0 skali mikroskopu
odczytowego, (np. 1= 330, 2=30) naley przyj:
min 360 1 2 . (4)

12. Wartoci wspczynnikw zaamania wyznaczy ze wzoru:
n
sin 1
2 min
sin 12 . (5)
13. Sporzdzi wykres zalenoci wspczynnika zaamania n od dugoci fali .

14. Do oszacowania niepewnoci wyznaczenia wspczynnika zaamania dla danej prbki
zastosowa metod rniczkowania wzoru (5). Za niepewno wyznaczenia ktw: (min + )
przyj 4-krotn warto niepewnoci odczytu pooenia lunety, dla - 2-krotn warto
niepewnoci odczytu pooenia lunety wyraon w mierze ukowej. Obliczenia przeprowadzi dla
jednej z linii lecej w rodkowym obszarze widma.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
10
O 2.1. Wyznaczanie zalenoci wspczynnikw zaamania wiata od stenia
roztworu
1. Zjawisko odbicia i zaamania wiata (refrakcja)

2. Zjawisko cakowitego wewntrznego odbicia
3. Zaleno wspczynnika zaamania od dugoci fali wiata (dyspersja), rozszczepienie wiata
biaego
Literatura:
1. Cz. Bobrowski, Fizyka krtki kurs, WNT, Warszawa 1996.

2. D. Halliday , R. Resnick , J. Walker, Podstawy fizyki, Wydawnictwo Naukowe PWN,
Warszawa 2003, tom IV.
3. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka, J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,
4. J. R. Taylor, Wstp do analizy bdu pomiarowego, Wydawnictwo Naukowe PWN,
Warszawa 1999.
Wykonanie zadania:
Pomiary wspczynnikw zaamania badanego orodka wykonuje si za pomoc przyrzdu
zwanego refraktometrem (Rys. 1). Przed przystpieniem do waciwych pomiarw naley
refraktometr wyregulowa.
Rys. 1 Wygld refraktometru. Ok okular lunety, P1 pryzmat owietlajcy, P2 pryzmat

pomiarowy, Z1 , Z2 zwierciadeka owietlajce, GZ gaka pokrta kompensatora, GN gaka
pokrta skali nD , R przykrywka rubki regulacyjnej, O okienko skali, T termometr
11
Regulacja refraktometru
1. Przetrze powierzchnie pryzmatw P1 i P2 najpierw alkoholem, a nastpnie wod

destylowan. Uywa do tego celu waty.
2. Wprowadzi kilka kropel wody destylowanej na pryzmat P2 i docisn oba pryzmaty do siebie.
3. Odchyli zwierciadeko przykrywajce okienko O skali nD tak, aby wiato z umieszczonej obok
arwki mogo wpada do tego okienka.
4. Odchyli przykrywk pryzmatu P1 .
5. Wczy lampk mikroskopow, wyregulowa owietlenie pryzmatu i okienka skali ( w okularze
refraktometru powinna by widoczna podziaka skali, na ktrej odczytuje si wartoci
wspczynnika zaamania oraz krzy z nici pajczych jak na Rys. 2).
6. Obracajc wziernikiem okularu ustawi ostro widzenia podziaki i krzya z nici pajczych.
7. Zmierzy temperatur otoczenia i znale w niej podanej tabeli warto wspczynnika
zaamania nD dla wody w tej temperaturze.
8. Gak pokrta GN ustawi na skali znalezion w tabeli warto nD .
9. Gak pokrta GZ manipulowa dotd, a uzyska si ostre, nie zabarwione rozgraniczenie
jasnej i ciemnej czci pola widzenia (Rys. 2).
10. Jeli to rozgraniczenie nie przechodzi przez punkt przecicia nici pajczych, trzeba sprowadzi
je tam przy pomocy rubki regulacyjnej R. Naley przedtem odkrci gwintowan przykrywk
rubki R i uy do regulacji kluczyka, ktry wydaje prowadzcy zajcia.
11. Regulacj refraktometru przeprowadzi trzykrotnie.
Rys. 2 Pole widzenia w okularze refraktometru
Waciwe pomiary przeprowadzi w sposb nastpujcy:
1. Wytrze pryzmaty refraktometru do sucha (wat) i wprowadzi kilka kropel otrzymanego

roztworu o znanym steniu C (najmniejszym).
2. Gakami pokrte GN i GZ doprowadzi do prawidowego ustawienia rozgraniczenia pola
widzenia (nie zabarwione i przechodzce przez punkt przecicia nici pajczych).
3. Odczyta ze skali warto wspczynnika zaamania nD .
4. Prawidowe ustawienie rozgraniczenia pola widzenia dla roztworu o danym steniu
przeprowadzi trzykrotnie.
5. Analogiczne pomiary przeprowadzi dla kadego roztworu o coraz wikszym steniu. Przed
kad zmian roztworw przemy i osuszy pryzmaty. Wartoci stenia kolejnych roztworw
i zmierzonych wartoci nD wpisa do tabeli pomiarowej.
12
6. Przeprowadzi w taki sam sposb pomiary nD dla roztworu o nieznanym steniu Cx , zapisujc
numer prbki.
7. Do tabeli z wynikami pomiarw wpisa rwnie warto nD dla wody destylowanej.
Odpowiada ona wartoci stenia C = 0 %.
8. Zapisa nazw badanego roztworu.
Tabela 1
Zaleno wspczynnikw zaamania wiata tego (linii D sodu) od temperatury dla wody
destylowanej.
t [oC ] nD t [oC ] nD
16 1,33333 26 1,33241
18 1,33317 28 1,33219
20 1,33299 30 1,33192
22 1,33281 32 1,33164
24 1,33262 34 1,33136
Opracowanie wynikw pomiarw:
1. Na podstawie wynikw pomiarw dla roztworw o znanych steniach sporzdzi wykres

nD = f(C) w sposb nastpujcy:
- nanie punkty dowiadczalne;
- obliczy metod najmniejszych kwadratw rwnanie opisujce zaleno midzy
zmierzonymi wspczynnikami zaamania nD i steniami roztworw C:
nD = aC + b (1)
gdzie a wspczynnik kierunkowy, b wyraz wolny;

- narysowa na wykresie prost opisan obliczonym rwnaniem.
2. Stenie Cx wyznaczy przeksztacajc rwnanie (1) i wykorzystujc zmierzony dla roztworu o
nieznanym steniu wspczynnik zaamania.
3. Niepewno bezwzgldn obliczy metod rniczkowania wyraenia, z ktrego byo
wyznaczane stenie Cx..
4. Niepewnoci wspczynnikw a i b obliczy metod najmniejszych kwadratw.
5. Niepewno pomiaru wspczynnika zaamania nD wynika z dokadnoci skali refraktometru.
Autor instrukcji:
Jan urawicz
13
O 3.1. Pomiary ogniskowych soczewek za pomoc lunety
1. Zaamanie i odbicie wiata

2. Rodzaje i zastosowanie soczewek
3. Powstawanie obrazu w soczewce skupiajcej i rozpraszajcej
4. Rwnanie soczewki
5. Metody wyznaczania ogniskowych soczewek
Literatura:

2. B. Kumiderska, J. Meldizon, Podstawy rachunku bdw w pracowni fizycznej, red.
E. piewla, Wydawnictwa Uczelniane PL, Lublin 1997.
3. D. Halliday, R. Resnick, J. Walker, Podstawy fizyki, Wydawnictwo Naukowe PWN
Warszawa 1983, tom II.
Wykonanie zadania:
S L
P
o-o
Z St
u u u

f
Rys. 1 Schemat ustawienia rda wiata Z, soczewki S (lub ukadu soczewek) i lunety L na awie
optycznej , u uchwyty, o-o o optyczna
14
Z S L P
s u
w1
a) Wyznaczanie ogniskowej soczewki skupiajcej

1. Przymocowa na awie optycznej w odpowiednich uchwytach u nastpujce przyrzdy:
lunet L, rdo wiata Z, przedmiot P (szkieko z zaznaczon w czci centralnej
kropk), stolik St, soczewk skupiajc S wg schematu na Rys. 1.
2. Umieci soczewk skupiajc na ruchomym stoliku wzgldem uchwytu.
3. Przesun stolik z soczewk w prowadnicy uchwytu do momentu pokrycia si rodka w1 z
punktem s uchwytu.
4. Wyregulowa, wzdu osi optycznej o-o, w pionie i poziomie, pooenia przedmiotu P,
soczewki S, lunety L.
5. Ustawi lunet L na nieskoczono tzn. na ostre widzenie przedmiotw bardzo odlegych
(w okularze lunety powinno by wida okrg plamk).
6. Przesun uchwyt z soczewk S po awie optycznej do momentu ujrzenia wyranego obrazu
przedmiotu P w okularze lunety.
Uwaga: Podczas przesuwania uchwytu obraz musi by widoczny w okularze,
w przeciwnym przypadku powtrzy czynnoci z punktu 3 i 4.
7. Zmierzy odlego rodka soczewki od przedmiotu, ktra w tym przypadku jest ogniskow
soczewki skupiajcej f s .
8. Powtrzy pomiary kilkakrotnie, przesuwajc soczewk zawsze w tym samym kierunku o
niewielkie odlegoci (rzdu 1-3 mm).
9. Obliczy redni warto zmierzonych odlegoci f s soczewki skupiajcej.
15
b) Wyznaczanie ogniskowej ukadu soczewek
1. Przesun stolik z soczewkami (skupiajc i rozpraszajc zestawione razem musz by
ukadem skupiajcym) w prowadnicy uchwytu do momentu pokrycia si rodka w1 z
punktem u uchwytu.
soczewki S, lunety L.
3. Ustawi lunet L na nieskoczono.
4. Przesun uchwyt z ukadem soczewek po awie optycznej do momentu ujrzenia wyranego
obrazu przedmiotu P w okularze lunety.
Uwaga: Podczas przesuwania uchwytu obraz musi by widoczny w okularze,
5. Zmierzy odlego rodka stolika z soczewkami od przedmiotu, ktra w tym przypadku jest
ogniskow f u ukadu soczewek.
6. Pomiary powtrzy kilkakrotnie.
7. Wyliczy redni warto ogniskowej f u ukadu soczewek na podstawie przeprowadzonych
pomiarw.
8. Wyznaczy ogniskow soczewki rozpraszajcej ze wzoru:
1 1 1
(1)
fu fr fs
9. Z otrzymanych wartoci f s i f u oraz przy wykorzystaniu wzoru (1) obliczy f r

10. Zestawi w tabeli wyniki pomiarw i oblicze.
11. Obliczy dla jednego z wykonanych pomiarw niepewno popenion wzgldem wartoci
redniej oraz niepewno wzgldn maksymaln. Uwzgldni przy tym dokadno
wyskalowania podziaki awy optycznej (niedokadno odczytu) i wielko przedziau pooe
soczewki, w ktrym nie zauwaamy zmiany ostroci obrazu widzialnego w lunecie.
12. Porwna wyliczone wartoci obu niepewnoci wzgldnych.
13. Niepewnoci pomiarowe opracowa metod rniczkowania.
Autor instrukcji:
Mariusz Mazurek
16
O 3.2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek na podstawie pomiarw odlegoci
przedmiotu i obrazu od soczewki
1. Zaamanie i odbicie wiata

3. Powstawanie obrazu w soczewce skupiajcej i rozpraszajcej (ognisko, zdolno skupiajca
soczewki)
4. Rwnanie soczewki
Literatura:

Wykonanie zadania:
E
S
P
o-o
Z St
u u u

a b
Rys. 1 Schemat rozmieszczenia przyrzdw na awie optycznej w celu znalezienia ogniskowej f z

pomiaru odlegoci a i b; Z rdo wiata, S soczewka (lub ukad soczewek), E ekran, u
uchwyty, o-o o optyczna, St ruchomy stolik, P przedmiot
17
Z S E P
s u
w1
a) Wyznaczenie ogniskowej soczewki skupiajcej

rdo wiata Z, przedmiot P (szczelina z yletki), stolik St, biay, nieodblaskowy ekran E,
soczewk skupiajc S wg schematu na Rys. 1.
punktem s uchwytu.
soczewki S, ekranu E.
4. Przesun uchwyt z soczewk wzdu awy optycznej do miejsca, w ktrym na ekranie
powstanie ostry obraz przedmiotu P.
Uwaga: Podczas przesuwania uchwytu obraz powinien by widoczny na ekranie,
5. Zapisa odlegoci a (odlego przedmiot-soczewka) i b (odlego soczewka-obraz) z
dokadnoci 0,001 m.
6. Obliczy warto ogniskowej f s soczewki skupiajcej na podstawie wzoru:
1 1 1
(1)
fs a b
7. Powtrzy pomiary dla innych pooe ekranu na awie optycznej.
Uwaga: Podczas ustawiania ostroci obrazu soczewk S przesuwa zawsze w t sam
stron.
8. Obliczy zdolno skupiajc (zaamujca) soczewki ze wzoru:
n0
zs
fs (2)
gdzie no jest wspczynnikiem zaamania orodka (dla powietrza no =1).
18
1. Przesun stolik z soczewkami (skupiajc i rozpraszajc zestawione razem musz by
ukadem skupiajcym) w prowadnicy uchwytu do momentu pokrycia si rodka w1 z
punktem u uchwytu.
ukadu soczewek S i ekranu E.
3. Przesun uchwyt z soczewk wzdu awy optycznej do miejsca, w ktrym na ekranie
powstanie ostry obraz przedmiotu P.
Uwaga: Podczas przesuwania uchwytu obraz powinien by widoczny na ekranie,
4. Zapisa odlegoci a (odlego przedmiot-soczewka) i b (odlego soczewka-obraz) z
dokadnoci 0,001 m.
5. Powtrzy pomiary dla innych pooe ekranu na awie optycznej.
Uwaga: Podczas ustawiania ostroci obrazu soczewk S przesuwa zawsze w t sam
stron.
6. Obliczy redni warto ogniskowej f u z rwnania:
1 1 1

fu a b (3)
7. Obliczy zdolno skupiajc ukadu z u :

n0
zu
fu
8. Majc z s z wczeniejszych pomiarw obliczy z ukadu rwna z r i f r :
zu z s z r
n0
zr
fr
9. Zestawi w tabeli wyniki pomiarw i oblicze. Narysowa wykres zalenoci b = f (a) dla
soczewki skupiajcej.
redniej oraz niepewno wzgldn maksymaln. Uwzgldni przy tym dokadno wyskalowania
podziaki awy optycznej (niedokadno odczytu) i wielko przedziau pooe soczewki, w
ktrym nie zauwaamy zmiany ostroci obrazu widzialnego na ekranie.
11. Niepewno pomiaru ogniskowej f s oszacowa metod rniczkowania wzoru (1).
Autor instrukcji:
Mariusz Mazurek
19
O 3.3. Pomiary ogniskowych soczewek metod Bessela
1. Powstawanie obrazu w soczewce skupiajcej i rozpraszajcej (ognisko, zdolno skupiajca

soczewki)
2. Rodzaje soczewek
3. Rwnanie soczewki
Literatura:

Wykonanie zadania:
E
S
P
o-o
Z St
u u u

a1 a2
Rys. 1 Schemat rozmieszczenia przyrzdw na awie optycznej : Z rdo wiata, S soczewka

(lub ukad soczewek), u uchwyty, o-o o optyczna, St ruchomy stolik, P przedmiot, a1, a2
pooenia soczewki
20
Z S E P
s u
w1
a) Wyznaczenie ogniskowej soczewki skupiajcej

rdo wiata Z, przedmiot P (szczelina z yletki), stolik St, ekran E, soczewk
skupiajc S wg schematu na Rys. 1.
2. Ustawi na awie optycznej przedmiot P i ekran E tak, aby dla badanej soczewki
speniona bya nierwno: c > 4f, (c odlego przedmiotu P od ekranu E, f okrelamy
szacunkowo przez obserwacj miejsca zogniskowania promieni przechodzcych przez
badan soczewk, z odlegego rda).
3. Umieci badan soczewk w oprawie.
punktem s uchwytu.
soczewki S, ekranu E.
6. Przesuwajc soczewk wzdu awy optycznej znale takie pooenie soczewki a1
(odlego przedmiot-soczewka), w ktrym na ekranie powstanie ostry powikszony obraz
przedmiotu.
7. Analogicznie znale pooenie a2 (odlego soczewka-obraz) soczewki, w ktrym
powstaje ostry pomniejszony obraz przedmiotu.
8. Powtrzy kilkakrotnie pomiary pooenia a1 i a2 dla innej odlegoci c przedmiotu od
ekranu.
9. Zapisa wartoci s i c (z dokadnoci 0,001m), gdzie s = a2 a1.
10. Obliczy warto ogniskowej soczewki skupiajcej na podstawie wzoru:
(1)
(2)
21

rdo wiata Z, przedmiot P, stolik St, ekran E, ukad soczewek S (skupiajca i
rozpraszajca). (Rys. 1).
2. Ustawi na awie optycznej przedmiot P i ekran E tak, aby dla badanej soczewki
speniona bya nierwno: c > 4f, ( okrelamy szacunkowo przez obserwacj miejsca
zogniskowania promieni przechodzcych przez badan soczewk, z odlegego rda).
3. Wybra soczewk rozpraszajc o ogniskowej f r tak, aby po umieszczeniu jej z soczewk
uprzednio badan ukad obu soczewek by ukadem skupiajcym.
4. Przesun stolik z soczewkami w prowadnicy uchwytu do momentu pokrycia si rodka w1
z punktem u uchwytu.
soczewek S, ekranu E.
6. Przeprowadzi analogiczne pomiary pooenia a1 i a2 dla ukadu soczewek jak w pkt. a
7. Powtrzy czterokrotnie pomiary pooenia a1 i a2 dla innej odlegoci c przedmiotu od
ekranu.
8. Zapisa wartoci wielko s, c i f u dla ukadu soczewek.
1 1 1
(3)
fs fr fu
n0
zu
fu
zu z s z r
n
zr 0
fr
12. Zestawi w tabeli wyniki pomiarw i oblicze.
redniej oraz niepewno wzgldn maksymaln. Uwzgldni przy tym dokadno
wyskalowania podziaki awy optycznej (niedokadno odczytu) i wielko przedziau pooe
soczewki, w ktrym nie zauwaamy zmiany ostroci obrazu widzialnego na ekranie.
Autor instrukcji:
Mariusz Mazurek
22
O 3.4. Wyznaczanie ogniskowych soczewek na podstawie pomiaru powikszenia
liniowego
1. Definicja wspczynnika powikszenia obrazu

2. Zwizek midzy ogniskow soczewki i jej powikszeniem
3. Wyprowadzenie rwnanie soczewki, zaleno ogniskowej soczewki od wspczynnika
zaamania
5. Powstawanie obrazu w soczewce skupiajcej i rozpraszajcej
Literatura:

Wykonanie zadania:
E
S
P
o-o
Z St
u u u

b
Rys. 1 Schemat rozmieszczenia przyrzdw na awie optycznej ; Z rdo wiata, S soczewka

(lub ukad soczewek), E ekran, u uchwyty, o-o o optyczna, St ruchomy stolik, P
przedmiot
23
Z S E P
s u
w1
a) Wyznaczanie ogniskowej soczewki skupiajcej

rdo wiata Z, przedmiot P (podziaka milimetrowa), stolik St, ekran ze skal
milimetrow E, soczewk skupiajc S wg schematu na Rys. 1.
punktem s uchwytu.
3. Dobra odlego ekranu tak, aby zaobserwowa na nim ostry obraz podziaki milimetrowej
przedmiotu P. Skala milimetrowa ekranu E i podziaka przedmiotu P powinny znajdowa
si rwnolegle wzgldem siebie.
4. Przyporzdkowa odlego np. L = 10 mm na podziace przedmiotu odpowiedni odlego
L na skali milimetrowej ekranu E (z dokadnoci 0,5 dziaki tej skali) oraz zapisa
odlego b ekranu od soczewki (z dokadnoci 0,001 m).
5. Powtrzy pomiar kilkakrotnie dla innych pooe ekranu E na awie optycznej.
6. Obliczy warto liczbow f s ze wzoru:
(1)
Uwaga: Obserwujc obraz przez soczewk przesuwa j zawsz w t sam stron!

(2)
24
rdo wiata Z, przedmiot P (podziaka milimetrowa), stolik St, ekran ze skal
milimetrow E, ukad soczewek S (skupiajca i rozpraszajca).
2. Wybra soczewk rozpraszajc o ogniskowej f r tak, aby po umieszczeniu jej z soczewk
uprzednio badan ukad obu soczewek by ukadem skupiajcym.
3. Przesun stolik z soczewkami w prowadnicy uchwytu do momentu pokrycia si rodka w1
z punktem u uchwytu.
4. Dobra odlego ekranu tak, aby zaobserwowa na nim ostry obraz podziaki milimetrowej
przedmiotu P. Skala milimetrowa ekranu E i podziaka przedmiotu P powinny znajdowa
si rwnolegle wzgldem siebie.
5. Zmierzy warto L oraz L skali milimetrowej ekranu E (z dokadnoci 0,5 dziaki tej
skali) i zapisa odlego b ekranu od soczewki (z dokadnoci 0,001m).
6. Powtrzy pomiary kilkakrotnie dla innych pooe ekranu E na awie optycznej.
7. Obliczy warto liczbow ogniskowej ukadu f u stosujc wzr (1).
Uwaga: Obserwujc obraz przez soczewk przesuwa j zawsz w t sam stron!
1 1 1
(3)
fs fr fu

n0
zu
fu
zu z s z r
n
zr 0
fr
11. Przedstawi wyniki w tabeli.
redniej oraz niepewno wzgldn maksymaln. Pomiar L zaley od dokadnoci odczytu
L na skali ekranu oraz ustawienia na ostro skali L. Ostro widzenia skali L, jako
obrazu L na ekranie, regulujemy odlegoci b.
Autor instrukcji:
Mariusz Mazurek
25
O 5.1. Skalowanie mikroskopu i pomiar maych przedmiotw
1. Budowa mikroskopu
2. Wady optyczne soczewek
3. Powstawanie obrazw w soczewkach i w mikroskopie
4. Parametry charakteryzujce mikroskop
Literatura:

Wykonanie zadania:
Ok T
A
Ob
St
Mikroskop A B
Mikroskop B
Ok T
Ob
St
A
Z
B
Rys. 1 Wygld zewntrzny mikroskopw A i B; T tubus, Ok okular, Ob obiektyw, A
klemariera do opuszczania i podnoszenia tubusa, B mikroruba do opuszczania i podnoszenia
tubusa, St stolik, K kondensor, Z zwierciado
26
a) Skalowanie mikroskopu
1. W opraw tubusa zamiast okularu zwykego wstawi okular z podziak.
2. Umieci skal mikrometryczn na stoliku mikroskopu.
3. Ustawi ostre widzenie obu skal.
4. Patrze przez okular na skal mikrometryczn porwna najduszy odcinek tej skali z
odpowiednim odcinkiem skali okularowej.
5. Odczyta ile dziaek skali mikrometrycznej n pokrywa si z dziakami skali okularu b.
6. Obliczy dugo dziaki skali okularu k wedug wzoru:
(1)
7. Przeprowadzi skalowanie mikroskopu trzykrotnie dla pary: okular obiektyw.
8. Obliczy redni dugo dziaki skali okularu .
9. Zestawi wyniki pomiarw w tabeli.
b) Okrelenie rozmiaru przedmiotu

1. Umieci na stoliku przedmiot, ktrego rozmiary naley okreli.
2. Obliczy rozmiary przedmiotu za pomoc dziaek skali okularu k wedug wzoru:
, (2)
gdzie z to liczba dziaek.
3. Policzy redni rozmiar przedmiotu w dziakach okularu .
4. Zapisa wyniki pomiaru w tabeli.
5. Niepewno pomiaru l oszacowa metod rniczkowania wzoru (2), uwzgldniajc wzr
(1) na k oraz przyjmujc n = 0,5 dz. i b = 0,5 dz.
Autor instrukcji:
Mariusz Mazurek
27
O 5.2. Pomiar powikszenia liniowego obrazu przedmiotu ogldanego przy
uyciu mikroskopu
1. Budowa mikroskopu
2. Powikszenie wizualne
3. Powikszenie poprzeczne
4. Okular mikrometryczny
5. Zdolno rozdzielcza mikroskopu
Literatura:

Wykonanie zadania:
1. Umieci na stoliku mikroskopu B skal mikrometryczn (Rys. 1 i Rys. 2.)

2. Umieci okular B3 lub B4 w oprawie tubusu.
3. Owietli skal mikrometryczn owietlaczem i przesuwajc pokrtem tubusu mikroskopu
ustawi go na ostre widzenie skali.
Uwaga: Aby nie zgnie szkieka ze skal mikrometryczn, naley, obserwujc z boku,
opuszcza ostronie tubus mikroskopu do pooenia, w ktrym obiektyw prawie si styka ze
skal. Patrzc przez okular ustawi mikroskop na ostre widzenie skali przesuwajc tubus do
gry.
4. Naoy na koniec tubusu T skal z nasadk (Rys. 2) za pomoc piercienia mocujcego P i
podwietli skal milimetrow, podczajc przewd zasilajcy p do zasilacza.
5. Ustawi skal mikrometryczn i milimetrow blisko siebie i rwnolegle.
6. Wyregulowa podwietlenie obu skal i ostro ich widzenia.
7. Odczyta ile cakowitych dziaek podziaki milimetrowej m przypada na cakowit liczb
dziaek podziaki mikrometrycznej n, obserwowanej przez mikroskop.
8. Pomiar wykona trzykrotnie dla rnych wartoci m i n.
9. Obliczy powikszenie mikroskopu na podstawie wzoru:
(1)
10. Powtrzy pomiary dla innych obiektyww i okularw wskazanych przez prowadzcego.
11. Obliczy redni warto powikszenia .
12. Wyniki pomiarw i oblicze zestawi w tabeli.
13. Niepewno pomiaru powikszenia liniowego oszacowa metod rniczkowania wzoru
(1), przyjmujc m = 0,5 dz. i n = 0,5 dz.
28
Mikroskop B
T
Ok
K
Ob
St
A
Z
B
Rys. 1. Wygld zewntrzny i przekrj mikroskopu B; T tubus, Ok okular, Ob obiektyw, A

klemariera do opuszczania i podnoszenia tubusu, B mikroruba do opuszczania i podnoszenia
tubusa, St stolik, K kondensor, Z zwierciado
p K
d
S
Rys. 2 Skala z nasadk na okular mikroskopu suca do pomiaru zdolnoci powikszajcej; S

skala w mm, d = 25 cm, p przewd zasilajcy, P piercie mocujcy, K kostka sklejona z
dwch pryzmatw
Autor instrukcji:
Mariusz Mazurek
29
O 6.1. Pomiar wzgldnej wiatoci arwek elektrycznych
1. wiato jako fala elektromagnetyczna

2. Wielkoci i jednostki fotometryczne:
a) Natenie wiata
b) Strumie wietlny
c) Owietlenie
d) wiato
e) Jasno
3. Fotometr budowa, zasada dziaania, rodzaje
Literatura:
1. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka, J. Kowalik, M. Wiertel, R.

onierczuk, red. E. piewla, Wydawnictwa Uczelniane PL, Lublin 1995.
2. I.W. Sawieliew, Wykady z fizyki, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1998, tom II.
3. Cz. Bobrowski, Fizyka - krtki kurs, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1999.
Wartoci podawane przez prowadzcego zajcia:
Napicie zasilania arwek wzorcowych i badanych U = 230V

Moc arwek:
WZ1: 75W WZ2: 60W
NR1: 15W NR2: 25W NR3 40W NR4: 75W
NR5: 60W
Wykonanie zadania:
1. W skad zestawu dowiadczalnego wchodz: awa fotometryczna (), fotometr (F),

wzorcowe rdo wiata (w), badane rdo wiata (), dwa autotransformatory (AT1,
AT2), dwa woltomierze (Vw, V) zestawione wedug schematu przedstawionego na Rys. 1.
w F
Vw V
AT1 AT2

230V rw r 230V
x0 x1 x2
Rys. 1 Schemat zestawu do badania wzgldnej wiatoci arwek elektrycznych
2. Umieci arwki (wzorcow i badan) w osonach na nie przeznaczonych.

3. Ustawi rda wiata oraz fotometr w jednej osi optycznej.
30
4. Wczy zasilanie autotransformatorw.
5. Ustawi napicie zasilania obu arwek na 230V (napicie nominalne) lub wedug wskaza
prowadzcego zajcia. Uwaga! Warto napicia zasilania naley odczytywa ze wskaza
odpowiednich woltomierzy. Skale autotransformatorw maj charakter pomocniczy.
6. Obserwujc przez okular gowic fotometryczn dobra takie pooenie x1 fotometru F,
(przy staych pooeniach x0 i x2) (patrz Rys.1) dla ktrego owietlenia obu czci widzenia
zrwnuj si ze sob. Odczytu pooenia x1 dokona przynajmniej dwukrotnie a do wylicze
wstawi warto redni x1 .
7. Zmieni pooenie arwki x2 zmniejszajc go o 5-10 cm. Ponownie dobra takie pooenie
fotometru F, dla ktrego oba pola gowicy fotometru s jednakowo owietlone.
8. Powysz czynno powtrzy dla 5-6 rnych pooe x2 rda badanego.
9. Obliczy odlegoci poszczeglnych rde wiata od fotometru:
rw x1 x0 r x2 x1
10. wiato wzgldn badanego rda wyliczy ze wzoru:
r2
Iz 2 (1)
rw
11. Niepewno wyliczenia wiatoci wzgldnej oszacowa metod rniczkowania wzoru (1).
Jako bd bezporedni pomiaru odlegoci rde wiata od fotometru rw max , rmax naley
przyj sum bdu wynikajcego z odczytu ze skali milimetrowej r1 max oraz bdu
wynikajcego z czuoci oka ludzkiego na zmian jasnoci owietlenia pl widzenia
fotometru r2 max . Jako r2 max naley przyj warto przesunicia gowicy fotometru, dla
ktrej nie obserwowana jest zmiana jasnoci pl widzenia.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
31
O 6.2. Pomiar sprawnoci wietlnej arwek elektrycznych

f) Sprawno wietlna
g) Natenie wiata
h) Strumie wietlny
i) Owietlenie
j) wiato
k) Jasno
Literatura:
Napicie zasilania arwek wzorcowych U = 230V

Moc arwek:
WZ1: 75W WZ2: 60W
NR1: 15W NR2: 25W NR3 40W NR4: 75W
NR5: 60W
Wykonanie zadania:
1. W skad zestawu dowiadczalnego wchodz: awa fotometryczna (), fotometr (F),

wzorcowe rdo wiata (w), badane rdo wiata (), dwa autotransformatory (AT1,
AT2), dwa woltomierze (Vw, V), amperomierz (A), zestawione wedug schematu
przedstawionego na Rys. 1.
w F
A
Vw
V
AT1 AT2

230V rw r 230V
x0 x1 x2
Rys. 1 Schemat zestawu do pomiaru sprawnoci wietlnej arwek elektrycznych
2. Umieci arwki (wzorcow i badan) w osonach na nie przeznaczonych.

32
5. Ustawi napicie zasilania arwki wzorcowej na jej napicie nominalne (230V) lub
zgodnie z sugesti prowadzcego zajcia.
6. Ustawi napicie zasilania arwki badanej na 180V. Uwaga! Wartoci napi zasilania
odczytujemy posugujc si odpowiednimi woltomierzami, skale autotransformatorw
traktujemy pomocniczo.
7. Dobra takie pooenie x1 fotometru F, (przy staych pooeniach x0 i x2) (patrz Rys.1) dla
ktrego oba pola widzenia gowicy fotometru s owietlone jednakowo. Odczytu x1 dokona
przynajmniej dwukrotnie a do oblicze wstawi warto redni.
8. Odczyta warto natenia prdu I pyncego w obwodzie arwki badanej.
9. Pkt. 6-8 powtarza zmieniajc warto napicia zasilania U arwki badanej w zakresie 180-
240V co 10V.
10. Obliczy odlegoci poszczeglnych rde wiata od fotometru:
rw x1 x0 r x2 x1
11. Wzgldn sprawno wietln arwki badanej dla kadej wartoci U wyliczy ze wzoru:
r2
z 2 (1)
rw U I
12. Wyliczy redni warto wzgldnej sprawnoci wietlnej z .
13. Niepewno wyznaczenia wzgldnej sprawnoci wietlnej oszacowa metod
rniczkowania wzoru (1) wzgldem zmiennych r , rw ,U , I . Jako bd bezporedni pomiaru
odlegoci rde wiata od fotometru rw max , rmax naley przyj sum bdu
wynikajcego z odczytu ze skali milimetrowej r1 max oraz bdu wynikajcego z czuoci
oka ludzkiego na zmian jasnoci owietlenia pl widzenia fotometru r2 max . Jako
r2 max naley przyj warto przesunicia gowicy fotometru, dla ktrej nie obserwowana
jest zmiana jasnoci pl widzenia.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
33
O 6.3. Pomiar wspczynnika pochaniania wiata w pytkach przezroczystych

l) Sprawno wietlna
m) Natenie wiata
n) Strumie wietlny
o) Owietlenie
p) wiato
q) Jasno
3. Wspczynnik pochaniania wiata
Literatura:

2. I.W. Sawieliew, Wykady z fizyki, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1998, tom
II.
Napicie zasilania arwek U = 230V

Moc arwek: 60W
Wykonanie zadania:
1. W skad zestawu dowiadczalnego wchodz: awa fotometryczna (), fotometr (F), dwa
rda wiata (arwki) o jednakowych mocach (1) i (2), dwa autotransformatory (AT1,
AT2), dwa woltomierze (V1, V2), amperomierz (A), zestaw absorbentw (a), zestawione
wedug schematu przedstawionego na Rys.1.
1 F a 2
A
V1 V2
AT1 AT2

230V r1 230V
x1
rw r0
xw xF x0
Rys. 1 Schemat zestawu do pomiaru wspczynnika pochaniania wiata
34
2. Umieci arwki w osonach na nie przeznaczonych.
5. Ustawi napicia zasilania arwek na napicia nominalne (230V) lub zgodnie z sugesti
prowadzcego zajcia.
6. rda wiata ustawi w jednakowych odlegociach od fotometru r0 = rw (Rys.1).
7. Patrzc w okular fotometru wyregulowa nieznacznie wartoci napi zasilajcych arwki
U1, U2 a do uzyskania jednakowego owietlenia obu pl gowicy fotometru.
8. Odczyta pooenia x0, xw, xF.
9. Umieci pierwsz (najciesz) pytk absorbentu (a) o gruboci l1 przed rdem 2. Do
zamocowania absorbentu su specjalne uchwyty na obudowie rda 2.
10. Nie zmieniajc wartoci napi zasilajcych U1, U2 zbliy ukad (2) (a) do fotometru na
odlego r1 w celu ponownego osignicia rwnoci owietle obu pl widzenia. Czynno
t wykona przynajmniej dwukrotnie a do oblicze wstawi warto redni r1 . Pooenia
xw, xF arwki (1) oraz fotometru (F) pozostaj niezmienione.
11. Analogiczne pomiary przeprowadzamy umieszczajc kolejno absorbenty o coraz wikszych
grubociach l2, l3, l4 i odpowiednio zbliajc ukad (2) (a) do fotometru. Za kadym
razem notowa odlego r2, r3, r4 ukadu (2) (a) od fotometru.
12. Warto wzgldnego wspczynnika pochaniania wiata i wyliczy dla kadej serii
pomiarowej ze wzoru:
0,9216 rw2
ln

ri 2 ,
i (1)
li
pamitajc e: ri xi x F .
13. Na podstawie otrzymanych wynikw wykreli zaleno funkcyjn:
0,9216 rw2
ln 2
f (l i )
(2)
ri
Szukanym wzgldnym wspczynnikiem pochaniania wiata jest wspczynnik
kierunkowy wyrysowanej prostej.
14. Niepewno pojedynczego pomiaru i oszacowa metod rniczkowania wzoru (1).
Rwnanie prostej (2) oraz niepewno wyznaczenia wyliczy metod najmniejszych
kwadratw.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
35
O 6.4. Badanie charakterystyki kierunkowej promieniowania rda wiata

r) Natenie wiata
s) Strumie wietlny
t) Owietlenie
u) wiato
v) Jasno
3. Fotometr rozkadowy
4. Ogniwo fotoelektryczne
5. Zaleno natenia prdu fotoelektrycznego od natenia owietlenia fotoogniwa.
Literatura:

Odlego fotoogniwa od rda wiata l = 60-90 cm

Moc arwek:
WZ1: 75W WZ2: 60W
NR1: 15W NR2: 25W NR3 40W NR4: 75W
NR5: 60W
Wykonanie zadania:
1. W wiczeniu wykorzystywany jest fotometr rozkadowy. W jego skad wchodz: awa

fotometryczna (), rdo wiata () (arwka w obrotowej obudowie z podziak ktow),
ogniwo fotoelektryczne (Fg), mikroamperomierz (A).
230V
Fg
IF
u A
Rys. 1 Schemat zestawu do pomiaru sprawnoci wietlnej arwek elektrycznych
36
2. Przyrzdy zestawi wedug schematu przedstawionego na Rys.1.
3. Umieci badan arwk w obudowie oraz podczy jej zasilanie.
4. Umieci fotoogniwo w uchwycie (u).
5. Ustawi rdo wiata oraz otwr fotoogniwa w jednej osi.
6. Podczy mikroamperomierz do fotoogniwa w sposb pokazany na rysunku.
7. Ustawi fotoogniwo w odlegoci 60-90 cm od rda wiata.
8. Zmienia kt ustawienia arwki wzgldem fotoogniwa w zakresie 0-360 co 10. Dla
kadego pooenia notowa warto natenia fotoprdu IF.
9. Pomiary przeprowadzi dla przynajmniej dwch rnych odlegoci l fotoogniwa od rda
wiata.
10. Wykreli w ukadzie biegunowym charakterystyk kierunkow promieniowania rda
wiata I F f ( , l ) . Charakterystyki sporzdzone dla rnych odlegoci l umieci na
jednym wykresie. W centrum wykresu wyrysowa uoenie wkna arwki.
11. Wycign wnioski dotyczce ksztatu charakterystyk. Porwna charakterystyki otrzymane
dla rnych odlegoci l.
12. Oszacowa niepewnoci odczytu max , I F max , l max , biorc pod uwag dokadnoci
wykorzystanych przyrzdw.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
37
O 9.1. Wyznaczanie dugoci fal wietlnych przepuszczanych przez filtr, przy
pomocy siatki dyfrakcyjnej

2. Zjawisko dyfrakcji i interferencji wiata, dowiadczenie Younga
3. wiato monochromatyczne, wiato biae, spjno fali
4. Siatka dyfrakcyjna
5. Filtry optyczne
Literatura:

2. D. Halliday, R. Resnick, J. Walker, Podstawy fizyki, Wydawnictwo Naukowe PWN,
Stae siatek dyfrakcyjnych:

d1 3,38m d 2 1,61m d 3 5,27 m
Wykonanie zadania:
1. Przed przystpieniem do wykonania wiczenia 9.1 z uyciem rda wiata biaego naley
najpierw sprawdzi rwnolego wizki wiata. Ukad do sprawdzania rwnolegoci
wizki skada si z: awy optycznej (), rda wiata-lampki mikroskopowej (Z),
kondensora (K), ekranu ruchomego (e) oraz ekranu staego (E). Przyrzdy naley ustawi
wedug schematu przedstawionego na Rys. 1.
E K
e e
Z

a
Rys. 1 Zestaw do sprawdzania rwnolegoci wizki wiata biaego
38
2. Odlego kondensora (K) od ekranu staego (E) ustali na okoo 90 100 cm.
3. Ustali odlego a od szczeliny rda wiata (Z) do kondensora (K) na okoo 15-20 cm.
4. Przesuwajc ruchomy ekran (e) w lewo i w prawo wzdu awy optycznej sprawdzi, czy
obraz wizki na tym ekranie nie ulega zweniu lub poszerzeniu (moe rozmywa si na
pionowych granicach, lecz powinien zajmowa szeroko obszaru zakreskowanego na
ekranie ruchomym).
5. W przypadku stwierdzenia braku rwnolegoci wizki wiata skorygowa odlego a i
powtrzy pkt. 4.
6. Po stwierdzeniu rwnolegoci wizki wiata biaego na miejsce ekranu ruchomego (e)
wstawi siatk dyfrakcyjn (D) wraz z soczewk (S) (Rys.2).
7. Wstawi filtr (F) pomidzy rdo wiata (Z) i kondensor (K) (Rys.2).
E K
S D F
Z
l a
Rys. 2 Zestaw do wyznaczania dugoci fal wietlnych przepuszczanych przez filtr
8. Dobra odlego l pomidzy ekranem (E) a ukadem (S) (D) tak, aby obraz prka rzdu
0 w obrazie dyfrakcyjnym obserwowanym na ekranie (Rys. 3) by ostry (odlego ta
powinna by rwna ogniskowej soczewki (S) wypisanej na jej obudowie).
9. Dokona pomiarw odlegoci brzegw prkw dyfrakcyjnych h1 i h2 kolejnych rzdw od
prka centralnego tak jak pokazuje to Rys 3.
10. W celu zmniejszenia niepewnoci pomiaru h1 i h2 naley odczytywa odlegoci pomidzy
brzegami prkw (1 1 oraz 1 1) a otrzymany wynik podzieli na dwa. Podobnie
naley postpi odczytujc odlegoci dla prkw wyszych rzdw, o ile s one widoczne.
(Rys. 3)
2 2 1 1 0 1 1 2 2
h1 h1
h2 h2
Rys. 3 Obraz dyfrakcyjny
39
11. Stosujc ponisze wzory wyliczy dugoci fal 1 2 odpowiadajce granicom czci widma
wiata przepuszczanego przez filtr:
d h1 d h2
1 , 1 , (1)
m h1 l
2 2
m h22 l 2
gdzie: d staa siatki dyfrakcyjnej,
m rzd widma,
l odlego ukadu soczewka siatka(S)(D) od ekranu (E).
12. Wyliczy szeroko czci widma przepuszczanej przez filtr stosujc wzr:
2 1
13. Oceny niedokadnoci wyznaczenia dokona metod rniczkowania wzorw (1)
przyjmujc jako zmienne h1 , h2, oraz l.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
40
O 9.2. Wyznaczanie staej siatki dyfrakcyjnej

2. Zjawisko dyfrakcji i interferencji wiata, dowiadczenie Younga
3. wiato monochromatyczne, wiato biae, spjno fali
4. Wasnoci i powstawanie wiata laserowego
5. Siatka dyfrakcyjna
Literatura:

Dugo fali wiata laserw uywanych w wiczeniu:

1= 650 nm 2= 635 nm
Wykonanie zadania:
1. Ukad pomiarowy skada si z awy optycznej (), diody laserowej, siatki dyfrakcyjnej (D),
soczewki (S) oraz ekranu (E) ustawionych wedug schematu przedstawionego na Rys. 1.
E
S D
Dioda
laserowa

l
Rys. 1 Zestaw do wyznaczania staej siatki dyfrakcyjnej
2. Dobra odlego l pomidzy ekranem (E) a ukadem (S) (D) tak, aby obraz prkw
interferencyjnych na ekranie by ostry (odlego ta powinna by rwna w przyblieniu
ogniskowej soczewki (S) wypisanej na jej obudowie).
41
3. Obraz dyfrakcyjny obserwowany na ekranie powinien wyglda jak na Rys. 2.
II I 0 I II
hI hI
hII hII
Rys. 2 Obraz dyfrakcyjny
4. Dokona pomiarw odlegoci hm poszczeglnych prkw dyfrakcyjnych od prka

centralnego tak jak pokazuje Rys. 2.
5. W celu zmniejszenia bdu pomiaru odczytywa odlegoci pomidzy rodkami prkw
rzdu pierwszego I-I, drugiego II-II itd. a wynik podzieli przez dwa.
6. Sta siatki dyfrakcyjnej wyliczy ze wzoru:
l 2 hm2
d m , (1)
hm
gdzie: m rzd widma,
- dugo fali wiata laserowego,
l - odlego ukadu (S)(D) od ekranu (E).
7. Oceny niepewnoci pomiaru staej siatki dyfrakcyjnej dokona metod rniczkowania
wzoru (1) przyjmujc jako zmienne l oraz hm.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
42
O 10.2. Wyznaczanie skrcalnoci waciwej roztworw

2. Sposoby polaryzacji wiata
3. Polaryzacja liniowa i koowa
4. Skrcenie paszczyzny polaryzacji przez substancje optycznie czynne
5. Zasada dziaania polarymetru
Literatura:

2003, tom IV.
Dugo rurki polarymetrycznej: l = 0.09504 m
Wykonanie zadania:
1. Z otrzymanej od prowadzcego zajcia substancji (glukoza lub sacharoza) sporzdzi sze

roztworw wodnych o znanych steniach. W tym celu, po wypoziomowaniu wagi, odway
43
kolejno masy m = 1 g, 2 g, 6 g badanej substancji uywajc bibuki. Odwaon substancj
wsypa do cylindra o pojemnoci V = 25 cm3, napeni do poowy wod destylowan i rozpuci
cakowicie substancj. Nastpnie uzupeni cylinder wod destylowan do 25 cm3, wymiesza i
przela sporzdzony roztwr do probwki. Stenie kolejnych roztworw obliczy ze wzoru:
m
c
V
i wyrazi w kg/m3.
2. Wczy rdo wiata, tj. lamp sodow. Ustawi ostro widzenia za pomoc pokrta P (Rys.
2a) i wyznaczy zero polarymetru. W tym celu za pomoc pokrta A (Rys. 2 a) ustawi
analizator w takie pooenie, dla ktrego wszystkie trzy czci pola widzenia (Rys. 2 b) wydaj si
jednakowo owietlone (Rys. 2 c). Kt obrotu analizatora 1, czyli zero polarymetru, odczyta z
noniusza koowego N przez okienko M (Rys. 2 a). Pomiary 1 wykona 3-krotnie i obliczy redni
arytmetyczn.
(a)
(b)
(c)
Rys. 2 (a) Grna cz polarymetru: P pokrto do ustawiania ostroci, A- pokrto do

obrotu analizatora, N noniusz, M okienko do odczytu z noniusza; (b) trjdzielne pole
widzenia; (c) jednakowo owietlone pole widzenia
3. Napeni rurk polarymetryczn pierwszym roztworem tak, aby wewntrz rurki nie byo
pcherzykw powietrza. Mona tego unikn napeniajc ciecz rurk po brzegi i uzyskujc menisk
wypuky. Nastpnie naley nasun na menisk pytk szklan, cinajc go i usuwajc nadmiar
cieczy. Na wierzch nakrci kapturek mocujcy.
4. Wstawi rurk z ciecz do wyzerowanego polarymetru. W razie potrzeby skorygowa ostro
widzenia pokrtem P. Czci pola widzenia powinny by niejednakowo owietlone. Obracajc
delikatnie analizator doprowadzi do jednakowego owietlenia trzech czci pola widzenia.
Odczyta kt 2. Pomiary przeprowadzi trzykrotnie, za kadym razem delikatnie rozregulowujc
pokrto A. Obliczy redni arytmetyczn z otrzymanych wynikw.
5. Wyla zbadany roztwr, przepuka rurk ma iloci kolejnego roztworu. Przeprowadzi
pomiary kta 2 kolejno dla wszystkich sporzdzonych roztworw.
6. Obliczy kt skrcenia paszczyzny polaryzacji dla kadego z roztworw stosujc wzr:
2 1 , (1)
a nastpnie wyrazi go w mierze ukowej.
Opracowanie wynikw pomiarw (sposb I)

1. Warto wspczynnika charakteryzujcego skrcenie paszczyzny polaryzacji przez badany
roztwr obliczy dla kolejnych ste stosujc wzr:
44

k (2)
cl
2. Obliczy warto redni wspczynnika k.
3. Niepewno wyznaczenia wspczynnika k oszacowa metod rniczkowania wzoru:
2 1
k m (3)
V l
przyjmujc za niepewno m mas najmniejszego odwanika w zestawie, V poow
najmniejszej dziaki cylindra, za 1 i 2 wyrazi w mierze ukowej.
Opracowanie wynikw pomiarw (sposb II)

1. Sporzdzi wykres zalenoci kta skrcenia paszczyzny polaryzacji od stenia roztworu (c).
2. Zgodnie ze wzorem (2) zaleno ta bdzie opisana funkcj liniow:
(c) kl c (4)
ze wspczynnikiem kierunkowym A:
A kl (5)
3. Stosujc metod najmniejszych kwadratw wpasowa prost w punkty pomiarowe.
4. Majc wyznaczony wspczynnik kierunkowy prostej wyliczy warto wspczynnika k :
A
k (6)
l
5. Niepewno wyznaczenia wspczynnika kierunkowego A oszacowa zgodnie z metod
najmniejszych kwadratw. Niepewno wyznaczenia wspczynnika k oszacowa metod
rniczkowania wzoru (6) po zmiennej A.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
45
O 10.3. Wyznaczanie staej Verdeta

2. Sposoby polaryzacji wiata
3. Efekt Faradaya
4. Staa Verdeta
5. Zasada dziaania polarymetru
Literatura:

2003, tom IV.
Wspczynnik przenikalnoci magnetycznej prni 0 = 4 10-7 N/A2

Parametry solenoidu: l = 0,2 m; R = 0,045 m; N = 900 zwojw; d = 0,21 m
4R 2 d 2
lub wspczynnik K = 1010 A/(Tm)
0 lN
Natenie prdu pyncego przez solenoid: i = 4 16 A
Wykonanie zadania:
46
1. Otrzyman do bada rurk polarymetryczn z ciecz umieci wewntrz polarymetru, ktry
nastpnie naley wsun do rodka solenoidu.
2. Wczy zasilanie lampy sodowej, odczeka chwil do jej nagrzania a nastpnie skierowa
strumie wiata na analizator.
3. Za pomoc pokrta P (Rys. 2a) ustawi ostro trjdzielnego pola widzenia i wyznaczy zero
polarymetru. W tym celu za pomoc pokrta A (Rys. 2 a) ustawi analizator w takie pooenie, dla
ktrego wszystkie trzy czci pola widzenia (Rys. 2 b) wydaj si jednakowo owietlone (Rys. 2 c),
tj. jednakowo ciemne. Kt obrotu analizatora 1, czyli zero polarymetru, odczyta z noniusza
koowego N za pomoc okienka M (Rys. 2 a). Pomiary 1 wykona 10-krotnie i obliczy redni
arytmetyczn.
(a)
(b)
(c)
Rys. 2 Grna cz polarymetru: P pokrto do ustawiania ostroci, A- pokrto do obrotu

analizatora, N noniusz, M okienko do odczytu z noniusza; (b) trjdzielne pole widzenia;
(c) jednakowo owietlone pole widzenia
4. Zestawi obwd elektryczny wedug schematu przedstawionego na Rys. 3.
Rys. 3 Zestaw pomiarowy do wyznaczania staej Verdera; Z rdo wiata, P polaryzator,

S solenoid, A analizator, L luneta, K klucz
5. Poprosi prowadzcego o sprawdzenie obwodu oraz podanie wartoci natenia prdu i

przepywajcego przez solenoid. Wartoci i ustawia za pomoc pokrte na zasilaczu i odczytywa
na amperomierzu wbudowanym w zasilacz.
6. Podczas przepywu prdu o danym nateniu, trzymajc klucz w przeczniku, obraca analizator
tak, aby trjdzielne pole widzenia w polarymetrze byo jednakowo owietlone. Po zwolnieniu
47
klucza odczyta kt 2 na skali noniusza. Dla danego natenia prdu pomiary przeprowadzi co
najmniej 5-krotnie i obliczy redni arytmetyczn 2.
7. Pomiary wykonywa zmieniajc natenie prdu w zakresie 4-16 A, co 2 A.
8. Obliczy kt skrcenia paszczyzny polaryzacji ze wzoru:
2 1 (1)
Opracowanie wynikw pomiarw (sposb I)

1. Sta Verdeta wyliczy ze wzoru:
K
V , (2)
i
gdzie i natenie prdu (w amperach), za
4R 2 d 2
K , (3)
0 lN
przy czym N liczba zwojw solenoidu, R redni promie solenoidu, d dugo solenoidu, l
grubo warstwy skrcajcej paszczyzn polaryzacji.
2. Niepewno wyznaczenia staej Verdeta oszacowa metod rniczkowania wzoru:
V
2 1 K
, (4)
i
przyjmujc K = const.. 1 i 2 wyrazi w mierze ukowej, i wynika z klasy amperomierza.
Opracowanie wynikw pomiarw (sposb II)

1. Sporzdzi wykres zalenoci kta skrcenia paszczyzny polaryzacji od natenia prdu (i).
2. Zgodnie ze wzorem (2) zaleno ta bdzie opisana funkcj liniow postaci:
V
(i) i (5)
K
ze wspczynnikiem kierunkowym A:
V
A (6)
K
3. Stosujc metod najmniejszych kwadratw wpasowa prost w punkty pomiarowe.
4. Majc wyznaczony wspczynnik kierunkowy A prostej (i) wyliczy warto staej Verdeta ze
wzoru :
V A K (7)
5. Niepewno wyznaczenia wspczynnika kierunkowego A oszacowa zgodnie z metod
najmniejszych kwadratw. Niepewno wyznaczenia staej Verdeta V oszacowa metod
rniczkowania wzoru (7) po zmiennej A.
Autor instrukcji:
Tomasz Pikula
48
O 12.1. Wyznaczanie charakterystyki prdowo napiciowej fotokomrki
1. Zjawisko fotoelektryczne zewntrzne: rwnanie Einsteina, empiryczne prawa zjawiska

fotoelektrycznego
2. Zasada dziaania fotokomrki prniowej i gazowanej
Literatura:

Warszawa 2003, tom V.
2. Cz. Bobrowski, Fizyka krtki kurs, WNT, Warszawa 1996.
red. E. piewla , Wydawnictwa Uczelniane PL, Lublin 1997.
4. J. R, Taylor, Wstp do analizy bdu pomiarowego, Wydawnictwo Naukowe PWN,
Warszawa 1999.
Wykonanie zadania:
Rys.1 Zestaw przyrzdw. F fotokomrka, P przesona, Z arwka
1. Na awie optycznej ustawi fotokomrk zaopatrzon w przeson z otworami o rnych

wielkociach (Rys.1). Wielko otworu (numer) i odlego fotokomrki od rda wiata d
dobra zgodnie z zaleceniami prowadzcego zajcia.
2. Zestawi obwd elektryczny fotokomrki wedug schematu przedstawionego na Rys. 2.
3. Poczy arwk owietlajc fotokomrk z zasilaczem (Rys. 3).
4. wiczenie polega na znalezieniu zalenoci natenia prdu pyncego w obwodzie
fotokomrki od napicia przyoonego do fotokomrki czyli charakterystyki prdowo-
napiciowej i = f(U). Napicie naley zmienia od 0V do 100V co 5V za pomoc
potencjometru zasilacza znajdujcego si w obwodzie fotokomrki. Natenie prdu
pyncego w obwodzie fotokomrki naley odczytywa na mikroamperomierzu (Rys. 2).
5. Pomiary naley wykona dla trzech rnych strumieni wietlnych padajcych na fotokomrk.
Mona to robi dwoma sposobami:
Sposb pierwszy:
- ustawi sta wielko przesony i wykona pomiary zalenoci i = f(U) dla trzech
odlegoci d fotokomrki od rda wiata.
Sposb drugi:
-ustawi fotokomrk w staej odlegoci d od rda wiata i wykona pomiary
zalenoci i = f(U) dla trzech rnych wielkoci otworw w przesonie.
49
Sposb wykonania pomiarw naley ustali z prowadzcym zajcia.
Rys. 2 Schemat obwodu fotokomrki. Z zasilacz typu IZS 5/71
Rys. 3 Schemat obwodu zasilajcego arwk. Z zasilacz typu 5352M
Opracowanie wynikw pomiarw
Na podstawie otrzymanych z pomiarw wynikw sporzdzi trzy charakterystyki i = f(U) w

jednym ukadzie wsprzdnych. Przy kadej charakterystyce zaznaczy dla jakiej wielkoci otworu
przesony S i jakiej odlegoci d zostaa ona wykonana.
Pola powierzchni S otworw przesony s nastpujce:

Nr otworu 1 2 3 4 5 6
Pole powierzchni
S [m2] x 10-6 15,2 28,3 54,1 81,7 121,0 158,3
Uwaga!
W wiczeniu jest wykorzystana fotokomrka gazowana. Rni si ona tym od prniowej,

e jest wypeniona rozrzedzonym gazem szlachetnym np. argonem. Powoduje to zwikszenie
natenia prdu wewntrz fotokomrki. Dzieje si tak dlatego, e wybite z katody elektrony
jonizuj podczas zderze czsteczki gazu, dziki czemu wzrasta ilo nonikw prdu.
Fotokomrk gazowan cechuje brak prdu nasycenia, gdy wraz ze wzrostem napicia
wzrasta stopie jonizacji gazu. Przy napiciu U = 0 natenie prdu w fotokomrce spada do zera,
50
poniewa na skutek zderze z czsteczkami gazu elektrony nie docieraj do anody. Z tego powodu
nie mona zmierzy wartoci napicia hamujcego. Charakterystyka prdowo napiciowa
fotokomrki gazowanej jest przedstawiona na Rys. 4.
Rys. 4 Charakterystyka prdowo-napiciowa fotokomrki gazowanej
Oszacowanie niepewnoci pomiarw
1. Wybra kilka punktw pomiarowych ze wszystkich trzech charakterystyk i = f(U). Ilo

wybranych punktw ustali z prowadzcym zajcia.
2. Dla wsprzdnych tych punktw (i, U) poda niepewnoci pomiaru i oraz U wynikajce z
klasy miernikw i dokadnoci odczytu z ich skali.
3. Kady z wybranych punktw otoczy prostoktem niepewnoci pomiarowej.
Autor instrukcji:
Jan urawicz
51
O 12.2. Wyznaczanie charakterystyki prdowo-strumieniowej fotokomrki
1. Zjawisko fotoelektryczne zewntrzne: rwnanie Einsteina, empiryczne prawa zjawiska

fotoelektrycznego
2. Zasada dziaania fotokomrki
Literatura:

Warszawa 2003, tom V.
2. Cz. Bobrowski, Fizyka krtki kurs, WNT Warszawa 1996.
3. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka, J. Kowalik, M. Wiertel,
R. onierczuk, red. E. piewla, Wydawnictwa Uczelniane PL, Lublin 1995.
Warszawa 1999.
Wykonanie zadania:
Rys. 1 Schemat obwodu fotokomrki i arwki owietlajcej fotokomrk. F fotokomrka, Z1

zasilacz w obwodzie arwki, Z2 zasilacz w obwodzie fotokomrki, arwka, V
woltomierz, A amperomierz, EL mikroamperomierz.
1. Na awie optycznej ustawi fotokomrk zaopatrzon w przeson z otworami o rnych

wielkociach. Wielko otworu (numer) i odlego fotokomrki od rda wiata r dobra
zgodnie z zaleceniami prowadzcego zajcia.
2. Zestawi obwd elektryczny fotokomrki wg schematu pokazanego na Rys. 1. Napicie pracy
fotokomrki wynosi 120 V (zasilacz Z2).
3. Zestawi obwd arwki owietlajcej fotokomrk wg schematu pokazanego na Rys. 1.
52
4. wiczenie polega na znalezieniu zalenoci natenia prdu if pyncego w obwodzie
fotokomrki od wielkoci strumienia wietlnego padajcego na fotokomrk.
5. Strumie wietlny padajcy na fotokomrk zmienia w nastpujcy sposb:
- zmniejsza napicie zasilania U arwki przy pomocy pokrta zasilacza
Z1 od 6,6 V do 5,4 V co 0,2 V;
- przy kadej wartoci napicia U odczyta na amperomierzu A natenie
prdu I pyncego przez arwk.
6. Natenie prdu if pyncego w obwodzie fotokomrki odczytywa na skali
mikroamperomierza EL (przy kadej wartoci napicia zasilania arwki U).
7. Pamita o zapisaniu wartoci odlegoci r i numeru otworu w przesonie fotokomrki.
1. Wstawiajc do wzoru (1) zmierzone wartoci U oraz I obliczy wartoci strumienia wietlnego
padajcego na fotokomrk.
2. Strumie wietlny padajcy na fotokomrk wyraony w lumenach wyraa si wzorem:
UIS
= [lumen] (1)
4 0,00155 r 2
gdzie S jest powierzchni otworu w przesonie fotokomrki.
Pola powierzchni S otworw przesony s nastpujce:
Nr otworu 1 2 3 4 5 6
Pole powierzchni
S [m2] x 10-6 15,2 28,3 54,1 81,7 121,0 158,3
3. Wykorzystujc obliczone wartoci strumienia oraz zmierzone wartoci prdu pyncego

przez fotokomrk if sporzdzi wykres if = f() czyli charakterystyk prdowo
strumieniow fotokomrki.
Oszacowanie niepewnoci pomiarowej:
1. Na wykresie wybra kilka punktw pomiarowych (ich ilo ustali z prowadzcym zajcia).
2. Dla wsprzdnych tych punktw (if , ) poda niepewnoci pomiaru if oraz .
4. Niepewno pomiaru if wynika z klasy miernika i dokadnoci odczytu z jego skali.
5. Niepewno pomiaru obliczy metod rniczkowania wzoru (1), biorc pod uwag
dokadno pomiaru napicia U i natenia prdu I w obwodzie zasilajcym arwk, oraz
dokadno pomiaru odlegoci r.
Autor instrukcji:
Jan urawicz
53
O 12.3. Wyznaczanie charakterystyki prdowo strumieniowej fotoogniwa
1. Zjawisko fotowoltaiczne
2. Zasada dziaania fotoogniwa
Literatura:
1. Cz. Bobrowski , Fizyka krtki kurs. WNT Warszawa 1996.

Warszawa 1999.
Wykonanie zadania:
Rys. 1 Ukad dowiadczalny. F fotoogniwo, EL mikroamperomierz, Z zasilacz w obwodzie

arwki, arwka, V woltomierz, A amperomierz.
1. Na awie optycznej ustawi fotoogniwo. Odlego r fotoogniwa od arwki owietlajcej

ustali z prowadzcym zajcia. Zapisa numer fotoogniwa.
2. Zestawi obwd elektryczny fotoogniwa oraz obwd arwki owietlajcej fotoogniwo wg
schematu przedstawionego na Rys. 1.
3. wiczenie polega na znalezieniu zalenoci natenia prdu pyncego w obwodzie fotoogniwa
if od wielkoci strumienia wietlnego padajcego na fotoogniwo.
4. Strumie wietlny padajcy na fotoogniwo zmienia w nastpujcy sposb:
- zmniejsza napicie zasilania U arwki przy pomocy pokrta zasilacza Z od 6,6 V do 5,4 V
co 0,2 V;
- przy kadej wartoci napicia U odczytywa na amperomierzu A natenie prdu I pyncego
przez arwk.
5. Natenie prdu if pyncego w obwodzie fotoogniwa odczytywa na skali
mikroamperomierza EL (przy kadej wartoci napicia zasilania arwki U ).
54
padajcego na fotoogniwo.
2. Strumie wietlny padajcy na fotoogniwo wyraony w lumenach wyraa si wzorem:
UIS
= [lumen] (1)
4 0,00155 r 2
gdzie S jest powierzchni otworu w obudowie fotoogniwa.
Pola powierzchni S otworw w obudowie s nastpujce:
Nr fotoogniwa E1 E3
Pole powierzchni
S [m2] x 10-6 9,0 86,5
3. Wykorzystujc obliczone wartoci strumienia oraz zmierzone wartoci prdu pyncego w

obwodzie fotoogniwa if sporzdzi wykres if = f() czyli charakterystyk prdowo
strumieniow fotoogniwa.
4. Na podstawie sporzdzonego wykresu obliczy czuo K badanego fotoogniwa, zdefiniowan
jako stosunek zmiany natenia prdu fotoogniwa do przyrostu strumienia wietlnego, ktry
wywouje t zmian prdu:
if 2 if1
K= , (2)
2 1
gdzie:
if1 jest nateniem prdu pyncego w obwodzie fotoogniwa przy strumieniu 1 ,
if2 jest nateniem prdu pyncego w obwodzie fotoogniwa przy strumieniu 2.
Oszacowanie niepewnoci pomiarowej
1. Na wykresie wybra kilka punktw pomiarowych (ich ilo ustali z prowadzcym zajcia).
2. Dla wsprzdnych tych punktw (if , ) poda niepewnoci pomiaru if oraz .
4. Niepewno pomiaru if wynika z klasy miernika i dokadnoci odczytu z jego skali.
5. Niepewno pomiaru obliczy metod rniczkowania wzoru (1), biorc pod uwag
dokadnoci pomiaru odlegoci r.
Autor instrukcji:
Jan urawicz
55
O 12.4. Wyznaczanie charakterystyki prdowo strumieniowej fotorezystora
1. Zjawisko fotoelektryczne wewntrzne

2. Zasada dziaania fotorezystora
Literatura:
1. Cz. Bobrowski, Fizyka krtki kurs. WNT, Warszawa 1996.

red. E. piewla , Wydawnictwa Uczelniane PL, Lublin 1995.
Warszawa 1999.
Wykonanie zadania:
Rys. 1. Ukad dowiadczalny. F fotorezystor, Z2 zasilacz w obwodzie fotorezystora, EL

mikroamperomierz, arwka owietlajca fotorezystor, Z1 zasilacz w obwodzie arwki, V
woltomierz, A amperomierz
1. Na awie optycznej ustawi fotorezystor w osonie z okienkiem o powierzchni S. Odlego r

fotorezystora od arwki owietlajcej dobra zgodnie z zaleceniem prowadzcego zajcia.
2. Zestawi obwd elektryczny fotorezystora oraz obwd arwki owietlajcej fotorezystor wg
schematu przedstawionego na Rys. 1.
3. Przy zasonitym okienku fotorezystora ustawi na zasilaczu Z2 jego napicie nominalne
( Unom = 6 V ).
4. Przy zasonitym okienku fotorezystora dobra odpowiedni zakres mikroamperomierza EL i
dokona pomiaru prdu pyncego przez fotorezystor (prd ciemny Ic).
5. Pomiary maj na celu znalezienie zalenoci natenia prdu if pyncego w obwodzie
fotorezystora od wielkoci strumienia wietlnego padajcego na fotorezystor.
6. Strumie wietlny zmienia w nastpujcy sposb:
- zmniejsza napicie zasilania U arwki przy pomocy pokrta zasilacza Z1 od 6,6 V do
5,4 V co 0,2 V;
- przy kadej wartoci napicia U odczyta na amperomierzu A natenie prdu I pyncego
przez arwk.
56
7. Natenie prdu if pyncego w obwodzie fotorezystora odczytywa na skali
mikroamperomierza EL ( przy kadej wartoci napicia zasilania arwki U ).
padajcego na fotoogniwo.
2. Strumie wietlny padajcy na fotoogniwo wyraony w lumenach wyraa si wzorem:
UIS
= [lumen] (1)
4 0,00155 r 2
gdzie S = 86,5 x 10-6 m2 jest powierzchni otworka w osonie fotorezystora.
3. Wykorzystujc obliczone wartoci strumienia oraz zmierzone wartoci prdu pyncego

przez fotorezystor if sporzdzi wykres if = f() czyli charakterystyk
prdowo strumieniow fotorezystora.
4. Obliczy redni czuo K badanego fotorezystora, zdefiniowan jako:
i fm I c
K= [mA/lumen] (2)
m
gdzie: Ic - prd ciemny; m - maksymalny strumie; ifm - prd pyncy przez fotorezystor
przy m .
Oszacowanie niepewnoci pomiarowej
1. Niepewno wyznaczenia K obliczy metod rniczkowania wzoru (2).

2. Niepewnoci pomiaru if m oraz Ic wynikaj z klasy miernikw i dokadnoci odczytu z ich
skali.
3. Niepewno pomiaru m obliczy metod rniczkowania wzoru (1), biorc pod uwag
dokadno pomiaru odlegoci r.
Autor instrukcji:
Jan urawicz
57
J 7.1. Pomiar rozkadu promieniowania w widmie dyfrakcyjnym wiata
pojedynczej szczeliny i szerokoci tej szczeliny
1. Wasnoci wiata laserowego

2. Dyfrakcja wiata na pojedynczej szczelinie
Literatura:

Warszawa 2003.
2. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Promieniowanie i struktura materii, H. Goebel,
J. Olchowik, J. Rybka, M. Wiertel, K, Wjcik, red. E. piewla, Wydawnictwa Uczelniane PL,
Lublin 1994.
Warszawa 1999.
Wykonanie zadania:
Rys. 1 Schemat zestawu pomiarowego. L laser, S szczelina, E ekran, D detektor, A

amperomierz, Z zasilacz
1. rdem wiata padajcego na szczelin jest laser. Pomiaru natenia wiata w widmie
dyfrakcyjnym dokonuje si za pomoc fotooporu (detektor D). Natenie prdu pyncego w
ukadzie fotooporu, mierzone za pomoc miernika A (Rys.1), jest miar natenia wiata
padajcego na fotoopr.
2. Podzespoy na stanowisku pomiarowym s poczone wg schematu przedstawionego na Rys. 1.
Naley jedynie sprawdzi prawidowo pocze.
3. Umieci przeson z regulowan szczelin w uchwycie znajdujcym si przed laserem.
4. Wczy zgodnie z instrukcj techniczn nastpujce podzespoy: zasilacz w ukadzie
detektora, miernik natenia prdu oraz zasilanie lampek owietlajcych przyrzdy pomiarowe.
5. Poprosi prowadzcego zajcia o uruchomienie i ustawienie lasera oraz o ustawienie
odpowiedniej szerokoci szczeliny.
6. Dobra waciwy zakres miernika prdu (mikroamperomierz A) w nastpujcy sposb: opuci
ekranik E i przesun za pomoc ruby detektor D na rodek prka zerowego rzdu w widmie
58
dyfrakcyjnym (detektor jest na rodku, gdy mikroamperomierz wskazuje maksymaln warto
prdu), dobra wtedy taki zakres mikroamperomierza, aby wskazwka wychylaa si pod
koniec skali.
7. Podnie ekranik tak, aby detektor by zasonity , zgasi lampk owietlajc skal na ktrej
odczytuje si pooenie detektora i wyzerowa mikroamperomierz.
8. Po tych czynnociach przystpi do pomiarw. Pomiary rozpocz od ponownego ustawienia
detektora na rodek prka zerowego ( natenie prdu ma by maksymalne). Opuci ekranik.
Zmierzy natenie prdu Io pyncego w obwodzie detektora. Podnie ekranik i odczyta
pooenie detektora.
9. Przesuwa detektor wzdu skali za kadym razem o odcinek 1 mm i mierzy natenie prdu I.
Detektor powinien by zawsze przesuwany w t sam stron.
10. W miar zmniejszania si natenia wiata w widmie dyfrakcyjnym (a co za tym idzie
natenia prdu) zmienia zakresy mikroamperomierza.
11. Uwaga! Przy wykonywaniu pomiarw zwraca uwag, aby na detektor padao tylko
wiato z lasera. Ze wzgldu na bezpieczestwo pooenie detektora odczytywa tylko przy
podniesionym ekraniku.
12. Zmierzy rozkad natenia w widnie dyfrakcyjnym z jednej strony, a do prka IV rzdu.
13. Ponownie ustawi detektor na rodek prka zerowego rzdu. Jeli natenie prdu
wskazywanego przez mikroamperomierz jest inne ni Io , naley zgosi ten fakt prowadzcemu
zajcia.
14. Zmierzy rozkad natenia w widmie dyfrakcyjnym z drugiej strony tak jak opisano wyej.
1. Przyj pooenie detektora ustawionego na rodku prka zerowego rzdu jako x = 0.

2. Pooenie po jednej stronie x = 0 przyj za dodatnie a po drugiej za ujemne.
3. Obliczy stosunek natenia prdu I przy pooeniu x do nateniu prdu Io przy pooeniu
x = 0.
4. Narysowa wykres przedstawiajcy zaleno:
I
= f(x) (1)
Io
5. Z wykresu odczyta szeroko maksimum zerowego rzdu x czyli odlego midzy

minimami I rzdu .
6. Obliczy szeroko szczeliny a korzystajc ze wzoru:
2r
x = (2)
a
gdzie: = 0,6328 m jest dugoci wiata laserowego;

r = 0,90 m jest odlegoci od szczeliny do ekranu.
7. Niepewno pomiaru szerokoci szczeliny obliczy metod rniczkowania przeksztaconego

wzoru (2).
Autor instrukcji:
Jan urawicz
59
J 7.2. Pomiar rozkadu promieniowania w widmie dyfrakcyjno-
interferencyjnym z dwu szczelin

2. Dyfrakcja wiata
3. Interferencja wiata
Literatura:
1. D. Halliday, R. Resnick, J.Walker, Podstawy fizyki, Wydawnictwo Naukowe PWN,

Warszawa 2003.
J. Olchowik, J. Rybka, M. Wiertel, K. Wjcik, red. E. piewla, Wydawnictwa Uczelniane PL,
Lublin 1994.
Warszawa 1999.
Wykonanie zadania:
Rys. 1 Schemat zestawu pomiarowego. L laser, S szczeliny, E ekran,

D detektor, A amperomierz, Z zasilacz
1. rdem wiata padajcego na szczelin jest laser. Pomiaru natenia wiata w widmie
dyfrakcyjnym dokonuje si za pomoc fotooporu (detektor D).Natenie prdu pyncego w
ukadzie fotooporu, mierzone za pomoc miernika A (Rys.1), jest miar natenia wiata
padajcego na fotoopr.
2. Podzespoy na stanowisku pomiarowym s poczone wg schematu przedstawionego na
Rys. 1. Naley jedynie sprawdzi prawidowo pocze.
3. Umieci przeson z regulowanymi dwiema szczelinami w uchwycie znajdujcym si przed
laserem.
60
4. Wczy zgodnie z instrukcj techniczn nastpujce podzespoy: zasilacz w ukadzie
detektora, miernik natenia prdu oraz zasilanie lampek owietlajcych przyrzdy
pomiarowe.
5. Poprosi prowadzcego zajcia o uruchomienie i ustawienie lasera oraz o ustawienie
odpowiedniej szerokoci szczelin.
6. Dobra waciwy zakres miernika prdu (mikroamperomierz A) w nastpujcy sposb:
opuci ekranik E i przesun za pomoc ruby detektor D na rodek prka
interferencyjnego zerowego rzdu (detektor jest na rodku, gdy mikroamperomierz
wskazuje maksymaln warto prdu), dobra wtedy taki zakres mikroamperomierza, aby
wskazwka ustawia si przy kocu skali.
7. Podnie ekranik tak, aby detektor by zasonity , zgasi lampk owietlajc skal na
ktrej odczytuje si pooenie detektora i wyzerowa mikroamperomierz.
8. Po tych czynnociach przystpi do pomiarw. Pomiary rozpocz od ponownego
ustawienia detektora na rodek prka zerowego (natenie prdu ma by maksymalne).
Opuci ekranik. Zmierzy natenie prdu Io pyncego w obwodzie detektora. Podnie
ekranik i odczyta pooenie detektora.
9. Przesuwa detektor wzdu skali tak, aby znajdowa si na rodku kolejnych maksimw
interferencyjnych, zapisywa jego pooenie i mierzy natenie prdu I. Detektor powinien
by zawsze przesuwany w t sam stron.
10. W miar zmniejszania si natenia wiata w widmie (a co za tym idzie natenia prdu)
zmienia zakresy mikroamperomierza.
11. Uwaga! Przy wykonywaniu pomiarw zwraca uwag, aby na detektor padao tylko
wiato z lasera. Ze wzgldu na bezpieczestwo pooenie detektora odczytywa tylko
przy podniesionym ekraniku.
12. Pomiary natenia maksimw interferencyjnych przeprowadzi w obszarze prkw
zerowego, pierwszego i drugiego rzdu.
13. Ponownie ustawi detektor na rodek prka zerowego rzdu. Jeli natenie prdu
wskazywanego przez mikroamperomierz jest inne ni Io , naley zgosi ten fakt
prowadzcemu zajcia.
14. Zmierzy rozkad natenia w widmie dyfrakcyjno-interferencyjnym z drugiej strony tak
jak opisano wyej.
1. Przyj pooenie detektora ustawionego na rodku prka zerowego rzdu jako x = 0.

2. Pooenie po jednej stronie x = 0 przyj za dodatnie a po drugiej za ujemne.
3. Obliczy stosunek natenia prdu I przy pooeniu x do nateniu prdu Io przy pooeniu
x = 0.
4. Przyj, e w minimach interferencyjnych natenia prdu maleje do zera.
5. Narysowa wykres przedstawiajcy zaleno:
I
= f(x) (1)
Io
Autor instrukcji:
Jan urawicz
61
J 7.3. Pomiar rednicy bardzo maych okrgych otworw przy wykorzystaniu
dyfrakcji wiata

2. Dyfrakcja wiata na pojedynczej szczelinie
3. Dyfrakcja na otworze koowym (dyfrakcja Fraunhofera)
Literatura:
1. Halliday D. Resnick R. Walker J. Podstawy fizyki. T. 4. PWN Warszawa

J. Olchowik, J. Rybka, M. Wiertel, K. Wjcik, red. E. piewla, Wydawnictwa Uczelniane PL,
Lublin 1994
Warszawa 1999.
Wykonanie zadania:
1. rdem wiata padajcego na may okrgy otwr jest laser. Obraz dyfrakcyjny
obserwowany jest na ekranie umieszczonym na cianie.
2. W celu wykonania pomiarw naley umieci przeson z otworami w uchwycie
znajdujcym si przed laserem.
3. Poprosi prowadzcego zajcia o uruchomienie i ustawienie lasera oraz o wybranie
odpowiedniego otworu. Na ekranie umieszczonym na cianie powinien by widoczny obraz
dyfrakcyjny w postaci jasnego krka (Airyego) i otaczajcych go piercieni ciemnych i
jasnych.
4. Zmierzy na ekranie odlego od rodka krka Airygo (punkt O na Rys.1 ) do punktu P1
lecego w rodku szerokoci krka I rzdu (poowa rednicy krka I rzdu).
5. Zmierzy nastpnie odlego od punktu O do punktu P2 lecego w rodku szerokoci
krka II rzdu (poowa rednicy krka II rzdu).
6. Powtrzy pomiary kilkakrotnie.
Rys. 1 Przykad obrazu dyfrakcyjnego okrgego otworu uzyskanego w wiczeniu.
62
1. Obliczy promie otworu w przesonie korzystajc ze wzoru:
r
=x (1)
2(OP)
gdzie: = 0,6328 m jest dugoci wiata laserowego;

r = 1,93 m jest odlegoci od przesony z otworami do ekranu.
x jest sta zalen od rzdu widma odczyta z Tabeli 1.
Tabela 1
rzd widma x
max I 1,635
max II 2,679
2. Niepewno pomiaru promienia otworu obliczy metod rniczkowania

wzoru (1), biorc pod uwag dokadno okrelenia odlegoci OP.
Autor instrukcji:
Jan urawicz
63

Optyka

Uploaded by

Document Information

Original Title

Copyright

Available Formats

Share this document

Share or Embed Document

Sharing Options

Did you find this document useful?

Is this content inappropriate?

Copyright:

Available Formats

Optyka

Uploaded by

Copyright:

Available Formats

E. Jartych, M. Mazurek, T. Pikula, J.

Instrukcje wykonania zada

Zestaw instrukcji przygotowano na podstawie skryptw PL:

1. wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka. J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,

O 1.1. Wyznaczanie wspczynnika zaamania wiata z pomiarw kta zaamania i kta

INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA

Obowizujce zagadnienia teoretyczne:

1. Charakterystyka fali wietlnej (budowa, dugo fali, prdko)

1. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka. J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,

Rys. 1 Fotografia przedstawiajca stanowisko pomiarowe

dla wszystkich pomiarw, wyliczy warto redni i porwna wyniki oblicze.

INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA

Obowizujce zagadnienia teoretyczne:

1. Charakterystyka fali wietlnej (budowa, dugo fali, prdko)

1. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka. J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,

Rys. 1 Fotografia przedstawiajca mikroskop

Rys. 2 (a) ruba makrometryczna A, ruba mikrometryczna B, uchwyt do obracania ruby

INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA

Obowizujce zagadnienia teoretyczne:

1. Charakterystyka fali wietlnej (dugo fali, czstotliwo, prdko)

Wartoci dugoci fali dla barwy:

Rys. 1 Zewntrzny wygld goniometru. 1 mikroskop odczytowy, 2 piercie okularu, 3 luneta

Rys. 2 Ustawienie pryzmatu na stoliku; I, II, III pokrta poziomujce stolik;

Rys. 3 Idea pomiaru kta amicego pryzmatu

Wyznaczanie kta najmniejszego odchylenia

Rys. 5 Idea pomiaru kta najmniejszego odchylenia w pryzmacie;

min 360 1 2 . (4)

13. Sporzdzi wykres zalenoci wspczynnika zaamania n od dugoci fali .

INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA

Obowizujce zagadnienia teoretyczne:

1. Zjawisko odbicia i zaamania wiata (refrakcja)

1. Cz. Bobrowski, Fizyka krtki kurs, WNT, Warszawa 1996.

Rys. 1 Wygld refraktometru. Ok okular lunety, P1 pryzmat owietlajcy, P2 pryzmat

1. Przetrze powierzchnie pryzmatw P1 i P2 najpierw alkoholem, a nastpnie wod

Rys. 2 Pole widzenia w okularze refraktometru

Waciwe pomiary przeprowadzi w sposb nastpujcy:

1. Wytrze pryzmaty refraktometru do sucha (wat) i wprowadzi kilka kropel otrzymanego

Opracowanie wynikw pomiarw:

1. Na podstawie wynikw pomiarw dla roztworw o znanych steniach sporzdzi wykres

gdzie a wspczynnik kierunkowy, b wyraz wolny;

Obowizujce zagadnienia teoretyczne:

1. Zaamanie i odbicie wiata

1. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka, J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,

Rys. 2 Fotografia przedstawiajca stanowisko pomiarowe

a) Wyznaczanie ogniskowej soczewki skupiajcej

9. Z otrzymanych wartoci f s i f u oraz przy wykorzystaniu wzoru (1) obliczy f r

Obowizujce zagadnienia teoretyczne:

1. Zaamanie i odbicie wiata

1. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka, J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,

Rys. 1 Schemat rozmieszczenia przyrzdw na awie optycznej w celu znalezienia ogniskowej f z

Rys. 2 Fotografia przedstawiajca stanowisko pomiarowe

a) Wyznaczenie ogniskowej soczewki skupiajcej

7. Obliczy zdolno skupiajc ukadu z u :

Obowizujce zagadnienia teoretyczne:

1. Powstawanie obrazu w soczewce skupiajcej i rozpraszajcej (ognisko, zdolno skupiajca

1. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka, J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,

Rys. 1 Schemat rozmieszczenia przyrzdw na awie optycznej : Z rdo wiata, S soczewka

Rys. 2 Fotografia przedstawiajca stanowisko pomiarowe

a) Wyznaczenie ogniskowej soczewki skupiajcej

b) Wyznaczanie ogniskowej ukadu soczewek

Obowizujce zagadnienia teoretyczne:

1. Definicja wspczynnika powikszenia obrazu

1. Skrypt PL: wiczenia laboratoryjne z fizyki. Optyka, J. Kowalik, M. Wiertel, R. onierczuk,