Professional Documents
Culture Documents
OMICRON
CONTENIDO
A CP TD1
Tangente Delta / Factor de Potencia (Concepto)
Descripcin del Mdulo CP TD1
Tarjeta de Prueba CP TanDelta
Proceso de Prueba
OMICRON
MDULO CP TD1
PARA DIAGNSTICO DEL ESTADO DEL AISLAMIENTO
(MEDICIN DE CAPACITANCIA Y TANGENTE DELTA)
OMICRON
Aislamiento VS Dielctrico
Aislamiento:
Material o combinacin de materiales no conductivos
que proveen aislacin entre dos partes a diferente
potencial. Es un ineficiente conductor de electricidad.
Dielctrico:
Material utilizado para aislar dos partes a diferente
potencial que tiene propiedades medibles como:
Rigidez, Absorcin, Prdidas dielctricas, Factor de
Potencia.
OMICRON
Aislamiento VS Dielctrico
Entonces, el aislamiento puede ser representado por
dos placas separadas por uno o ms materiales
dielctricos, donde una placa es sometida a un alto
voltaje y la otra a un bajo voltaje o a tierra.
OMICRON
OMICRON
Aislamiento perfecto
I(capacitiva)
ITOTAL
IR = 0
V(aplicada)
OMICRON
Aislamiento REAL
En Un sistema de aislamiento REAL Existe tambin
una corriente de prdidas en fase con la tensin
ICAPACITIVA
IC ITOTAL
IR
ITOTAL
IC
IR VAPLICADA
OMICRON
Aislamiento REAL
En la practica ningn aislante es perfecto
Siempre existen perdidas resistivas
La ITOTAL adelanta a la VAPLICADA en un ngulo de fase y
esta retrasada respecto a la IC un determinado ngulo
ICAPACITIVA
IC ITOTAL
IR
VAPLICADA
OMICRON
ITOTAL
U
I Rp 1
tan = =
I Cp Rp C p
OMICRON
ICp
ITOTAL
U
IRp
I Rp
FactordePotencia = cos =
I TOTAL
OMICRON
OMICRON
OMICRON
CP TD1
Mdulo de Diagnstico del Estado del Aislamiento
OMICRON
CPC100 + CP TD1
OMICRON
CPC100 + CP TD1
OMICRON
CP TD1 - Componentes
Capacitor de Referencia
Transformador elevador
Matriz de contactos
OMICRON
CPC100 + CP TD1
Tan - measurement with CP DF12
Diagrama de Bloques Monday, 01. July 2002
High voltage output
(0..12kV)
CN
select channel primary
EUT (Cx)
Ix_in
B_1 In A
tertiary
sec.
B_PE ADC
In B
B_2
guard
booster-Interface
safety
voltage-booster
DSP calib
RS232 &
supply
CP TD1
serial-Interface
OMICRON
CPC100 + CP TD1
Datos Tcnicos
Tensin: 12kV @ 15 400Hz (1)
Incertidumbre en la medida:
OMICRON
Seleccione para
Medicin Automtica
con rampas de V y f
Deseleccione para
Medicin Manual
Seleccione el Modo de
Medida. La matriz de
contactos cambia la
conexin de acuerdo
al modo seleccionado
Pantalla de Resultados
Va a la pgina
de Ajustes
OMICRON
OMICRON
Factor de Medida es el
nmero de medidas a
realizar para presentar
el valor promedio en la
pantalla de resultados
Va a la pgina
de Ajustes
OMICRON
OMICRON
Ajustes de la
Calibracin,
incluyendo nombre
del tcnico y la fecha
del ajuste
Selecciones para
que el CP TD1
mantenga un
anunciador acustico
durante la prueba
OMICRON
Compensa las
mediciones para
diferentes tipos de
aisladores (RBP, RIP,
OIP)
Retorna a la
pgina Principal
OMICRON
CPC100 + CP TD1
Puesta en Funcionamiento
1. Desconecte la unidad CPC100 con el interruptor de alimentacin
principal.
2. Conecte el Sistema de Prueba a Tierra:
Con carro:
Conecte correctamente los terminales de puesta a tierra de la
CPC100 y el CPTD1 a la barra de tierra del carro. Conecte la barra
de tierra a tierra. Todos los cables de 6mm mnimo.
Sin carro:
Conecte correctamente a tierra los terminales de puesta a tierra de
la unidad CPC100 y el CPTD1. Ambos cables 6mm mnimo.
3. Conecte "BOOSTER IN" (Entrada de amplificador) del CPTD1 a
"EXT. BOOSTER (Amplificador externo) de la unidad CPC100 con
el cable de amplificador suministrado por OMICRON.
OMICRON
CPC100 + CP TD1
Puesta en Funcionamiento
4. Conecte "SERIAL" (Serie) del CPTD1 a "SERIAL" (Serie) de la
unidad CPC100 con el cable de datos suministrado por OMICRON.
Este cable tambin suministra la alimentacin elctrica al CPTD1.
5. Extraiga los cables de medicin de la bobina y conecte el equipo en
prueba a las entradas de medicin INA e INB del CPTD1.
6. Extraiga los cables de alta tensin de la bobina y conecte el equipo
en prueba a la salida de alta tensin del CPTD1.
7. Encienda la unidad CPC100.
8. Al seleccionar la tarjeta de prueba TanDelta en cualquiera de los
grupos de tarjetas de prueba TC, TT, Transformador y Otros de la
unidad CPC100 se activa automticamente el sistema CPTD1. Si
no se ha conectado un sistema CPTD1 a la unidad CPC100,
aparece un mensaje de error.
9. Configure la medida en la tarjeta de prueba TanDelta
10. Pulse el botn I/O (iniciar/parar prueba).
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
a. Condensador de
Placas como un b. Modelo para el
modelo del comportamiento de
aislamiento un dielctrico con
dieltrico caractersticas de
polarizacin y
c. Parte de la seccin conductividad
transversal del
sistema de d. Modelo simplificado
aislamiento entre de la geometra de
los devanados de los principales
HV y LV de un componentes de un
transformador de transformador:
potencia Aceite, barriers,
separadores.
e: Modelo Dielctrico
para el sistema de
aislamiento de un
Transformador de
Potencia
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
1. El transformador se debe poner fuera de servicio y aislar
totalmente del sistema elctrico.
2. Se debe verificar que el tanque del transformador est
correctamente puesto a tierra.
3. Todos los terminales del
aislante de un grupo de
devanados, se tienen que
conectar por medio de un hilo
de cobre.
4. Los terminales de neutro de
los devanados conectados en
estrella se tienen que
desconectar de tierra (tanque).
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
5. Conecte el terminal de tierra de CPC100 + CPTD1 a la tierra (de
la subestacin) del transformador.
6. Cortocircuite todos los TCs tipo bushing.
7. No haga pruebas de alta tensin en transformadores al vaco.
8. La tensin de prueba se debe elegir en funcin de la tensin
nominal del devanado.
9. Todas las pruebas se deben hacer con el aceite a temperaturas
prximas a los 20C. Las correcciones de temperatura se
pueden calcular mediante curvas de correccin, pero tiene una
exactitud limitada.
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
11. Conecte la salida de alta tensin del CPTD1, al devanado de
alta tensin.
12. Conecte IN A, al devanado de baja tensin
AT
Prueba N 1:
Modo GST: Mide CH + CHL
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
11. Conecte la salida de alta tensin del CPTD1, al devanado de
alta tensin.
12. Conecte IN A, al devanado de baja tensin
AT
Prueba N 2:
Modo GSTg-A: Mide CH
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
11. Conecte la salida de alta tensin del CPTD1, al devanado de
alta tensin.
12. Conecte IN A, al devanado de baja tensin
AT
Prueba N 3:
Modo UST-A: Mide CHL
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
13. Conecte la salida de alta tensin del CPTD1, al devanado de
baja tensin.
14. Conecte IN A, al devanado de alta tensin
AT
Prueba N 4:
Modo GSTg-A: Mide CL
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Interpretacin de Resultados
Condiciones de aislamiento
Transformador Podra ser Necesita ser
Bueno
aceptable investigado
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Interpretacin de Resultados
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Transformadores
0.4 %
0.35 %
0.3 %
H(f)
0.25 %
HL(f)
0.2 %
L(f)
0.15 %
0.1 %
0.05 %
0.0 %
0.0 Hz
50.0 Hz
100.0 Hz
150.0 Hz
200.0 Hz
250.0 Hz
300.0 Hz
350.0 Hz
400.0 Hz
450.0 Hz
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Transformadores
0.5 %
0.4 %
H(f)
0.3 % HL(f)
L(f)
0.2 %
0.1 %
0.0 %
0.0 Hz
50.0 Hz
100.0 Hz
150.0 Hz
200.0 Hz
250.0 Hz
300.0 Hz
350.0 Hz
400.0 Hz
450.0 Hz
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Transformadores
1.8 %
1.6 %
1.4 %
1.2 %
1.0 % H(f)
0.8 % HL(f)
0.6 %
0.4 %
0.2 %
0.0 %
0.0 Hz
50.0 Hz
100.0 Hz
150.0 Hz
200.0 Hz
250.0 Hz
300.0 Hz
350.0 Hz
400.0 Hz
450.0 Hz
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Transformadores
0.5 % 0.7 %
0.3 %
0.6 %
0.1 %
0.5 %
-0.1 %
0.0 Hz
50.0 Hz
100.0 Hz
150.0 Hz
200.0 Hz
250.0 Hz
300.0 Hz
350.0 Hz
400.0 Hz
450.0 Hz
0.4 %
-0.3 %
-0.5 % 0.3 %
-0.7 % 0.2 %
-0.9 % 0.1 %
-1.1 %
0.0 %
0.0 Hz
50.0 Hz
100.0 Hz
150.0 Hz
200.0 Hz
250.0 Hz
300.0 Hz
350.0 Hz
400.0 Hz
450.0 Hz
-1.3 %
-1.5 %
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Falla de un Bushing
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
NOTAS:
El electrodo de la toma en activo normalmente est puesto a tierra, salvo en el caso de ciertos diseos y
aislantes que se utilizan con dispositivo de potencial.
En aislantes con tomas de potencial, la capacitancia C2 es mucho mayor que C1. En aislantes con toma
de factor de potencia, las capacitancias C1 y C2 pueden encuadrarse en el mismo orden de magnitud.
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Pruebas a realizar:
1. Prueba del Aislamiento principal
Conductor central Tap: C1
2. Prueba de Aislamiento del Tap
Tap (toma) de Prueba - Brida: C2
3. Prueba de collar caliente (Hot Collar Test)
Cubierta externa del aislamiento Conductor central
4. Prueba completa
Conductor central - Brida
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Preparacin de la prueba:
1. Corto circuite los devanados (para bushing de transformadores)
2. Limpie los bushings a fin de minimizar las fugas por la superficie
3. Ponga a tierra el devanado opuesto al que se ha de realizar la
medicin.
4. Retirar la cubierta del Tap de prueba del bushing a probar.
5. Realizar la medicin de C1 (Conductor central Tap) en el modo
UST-A
6. Realizar la medicin de C2 (Tap de Prueba - Brida) en el modo
GSTg-A
7. Reinstale la cubierta del Tap de Prueba.
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Medicin de C1: Conductor central Tap
AT
OMICRON
Mide C1
OMICRON
Mide C2
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Prueba de Collar caliente
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Bornas Should be
Acceptable Critico
investigated
C = C medido C ref*
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
30
25
20
Change of Capacitance %
-3
Tan Delta x 10
15
10
0
75 77 79 81 83 85 87 89
-5
Date of Measurement
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
0.55 %
0.45 %
0.35 %
0.25 %
0.0 Hz 100.0 Hz 200.0 Hz 300.0 Hz 400.0 Hz 500.0 Hz
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
0.5 415
0.45 410
0.4 405
400
0.35
0.3 U 395 + 10% U
V 390 V
pF
0.25
%
W 385 W
0.2
380
0.15
375
0.1 370
0.05 365
0 360
0 100 200 300 400 0 100 200 300 400
Hz Hz
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT
1.5 340
335
1.3
330
2U 2U
1.1
2V 325 2V
2W 2W
pF
0.9 320
%
2N 2N
1N 315 1N
0.7
310
0.5
305
0.3 300
0 100 200 300 400 0 100 200 300 400
Hz Hz
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Corriente
Preparacin del equipo En prueba
1. Cortocircuitar el lado primario (alto voltaje)
2. Si es posible, desconecte y aisle los secundarios (marque todos los
terminales para facilitar reconexin)
3. Aterrice al menos un terminal en cada secundario
4. Energice el primario y mida en GST
AT
H1 H2
X1 X3 Y1 Y3
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Corriente con Tap
Preparacin del equipo En prueba
N Mide Energice Guarda UST
01 General H1-H2 ------ ------
02 C1 H1-H2 ------ Tap
03 C2 Tap H1-H2 ------
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Corriente con Tap
Preparacin del equipo En prueba
1. Cortocircuitar el lado primario (alto voltaje)
2. Si es posible, desconecte y aisle los
secundarios (marque todos los terminales
para facilitar reconexin)
3. Aterrice al menos un terminal en cada
secundario
4. Realice las siguientes mediciones:
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Inductivos
Transformador de Tensin Inductivo sin Acceso al Neutro
Preparacin del equipo En prueba
N Modo Energice Tierra Guarda UST Mide
01 UST-A H1 H0 - X1 CHX
02 UST-A H1 H0 - Y1 CHY
03 GSTg-A H1 H0 X1, Y1 - Iexitacin
X1
X2
X3
Y1
Y2
Y3
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Inductivos
Transformador de Tensin Inductivo con acceso al Neutro
Interpretacin de resultados
1. Compare I, W, C y %FP con datos de placa o resultados anteriores
2. Compare %FP con resultados de unidades similares
3. Compare las pruebas Cross-Check (2 y 3) similares para la
mayora de PTs.
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba
1. Desenergice el capacitor
2. Aterrice el terminal de lnea
(slo para prueba con lnea Terminal de Lnea
aterrada)
Capacitor C1
3. Cierre los switches de tierra
S1 & S2
4. Remueva las conexiones de A
Transformador
los terminales B2 (CAR) & de Potencial
B3 (POT)
5. Proceda con las pruebas
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba con Lnea Aterrizada
01 GST B2 B1 - - C1+C2
02 GSTg-A B3 B1 B2 - C1
03 UST-A B3 B1 - B2 C2
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba con Lnea Aterrizada
Prueba N 1: Modo GST - Mide C1+C2
AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba con Lnea Aterrizada
Prueba N 2: Modo GSTg-A - Mide C1
AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba con Lnea Aterrizada
Prueba N 3: Modo UST-A - Mide C2
AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba sin Lnea Aterrizada
01 UST-A B1 - - B2 C1+C2
02 UST-A B1 - - B3 C1
03 UST-A B3 - - B2 C2
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba sin Lnea Aterrizada
Prueba N 1: Modo USTg-A - Mide C1+C2
AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba sin Lnea Aterrizada
Prueba N 2: Modo USTg-A - Mide C1
AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba sin Lnea Aterrizada
Prueba N 2: Modo USTg-A Mide C2
AT
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Interpretacin de resultados
1. Compare C y %FP con datos de placa (Capacitancia medida debe
estar dentro de un 1% de placa).
2. Compare con otras unidades del mismo tipo.
Guas Generales
1. Un CCVT nuevo debe tener un FP de ~0.25% & cuando el FP
medido es doblado (0.50%) deben ser removido de servicio.
2. Cambios drsticos en capacitancia indican capas de capacitores
cortocircuitadas.
3. Algunos CCVTs GE 46 kV tipo C y C3 presentan un factor de
potencia normal de 2 - 3.5%.
4. Si se sospecha un problema, realice pruebas suplementarias.
OMICRON
Procedimiento de Prueba
Interruptores de Tanque Muerto
Pruebas con Interruptor abierto
Bushing Bushing Modo de
N Fase
Energizado Flotante Prueba
1 R 1 2 GST
2 R 2 1 GST AT
3 S 3 4 GST
4 S 4 3 GST
5 T 5 6 GST
6 T 6 5 GST
OMICRON
OMICRON