LABORATORIO DE CIRCUITOS ELECTRICOS I FIEE-UNMSM

LABORATORIO 2 FUENTE DE ALIMENTACION DE CC

INFORME FINAL

MATERIALES:

- Fuente de alimentacin c.c.

- Resistencias variadas
- 1 Multmetro.
- 1 Ampermetro (mA y uA)

PROCEDIMIENTO:

a) Mida la tensin de salida de la fuente de alimentacin.

La tensin de salida de la fuente sin carga es de Vsc = 5 Volts.

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b) Mida la tensin del circuito con una resistencia de carga.

En este caso hemos usado una resistencia de Rc = 9.8k Ohms.

Y el voltaje con la resistencia es de Vcc = 4.18 Volts.

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c) Mida la corriente que circula por el circuito:

En este caso hemos usado un ampermetro a la escala de 1 mA y

obtenemos una medida de 0.38 mA.

Entonces con la ecuacin para la resistencia interna determinamos:

Ri = ( V sin carga V con carga)/Intensidad de corriente.

Ri = ((5 - 4.18)*1000)/(0.38)

Ri = 2157 Ohms = 2.1k Ohms

Este sera el valor de la resistencia interna de la fuente de tensin. Sin

embargo al tomar la medida de la resistencia en la escala de 1mA en el
ampermetro tomamos el valor de R ampermetro = 2.461k Ohms.

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Dicho valor de la resistencia del ampermetro tendra un impacto

significativo al tomar nuestra medida de tensin, por lo que obtenemos
un menor valor de medida.

OBSERVACIONES:

- Para obtener un valor medido ms exacto tenemos que utilizar un

ampermetro de menor resistencia interna, de tal manera que el
valor no se vea afectado.
- En el laboratorio contamos con un ampermetro en la escala de
3000A con un valor de resistencia interna de 0.1 Ohms. Usamos
esta escala para medir en una resistencia de carga de 180 Ohms
aproximadamente. Obteniendo

Vsc = 5 Volts, Vcc = 4.99 Volts, I = 2.76 mA

Ri = 3.62 Ohms

Este ltimo valor seria el valor ms exacto de la resistencia interna de

la fuente.

CONCLUSIONES:

- Se debe tener en cuenta el estado de los instrumentos de medida

al realizar una experimentacin.
- Tomar distintos valores de un mismo circuito pueden ayudar a
tener una idea ms clara del valor real de una medida.

BIBLIOGRAFA:

Circuitos Elctricos - 7ma Edicion - James W. Nilsson, Susan A. Riedel.