MICROSCOPIA ELECRONICA 20 de junio de 2012

MICROSCOPIA ELECTRONICA
La microscopa electrnica ha revolucionado el conocimiento de ciencias como la
biologa o la medicina, aunque su campo de aplicacin se ha extendido a la mayora de
disciplinas cientficas, incluidas las de materiales. La principal ventaja de este tipo de
microscopa es alcanzar una extraordinaria amplificacin de la imagen de la muestra
manteniendo un poder de resolucin casi mil veces mayor que el ptico. Estas
magnficas propiedades se deben a que la fuente de iluminacin usada es un haz de
electrones. El funcionamiento de la microscopa electrnica, sobre todo la de
transmisin, es anlogo al funcionamiento de un microscopio ptico. Por tanto una
vez entendido los fundamentos tcnicos de la microscopa ptica sern tambin
fciles de entender los de la microscopa electrnica.

Conceptos bsicos:

El microscopio ptico moderno ofrece una amplificacin mxima de 1000 aumentos, y

permite al ojo resolver objetos separados 0.0002mm.

En un esfuerzo continuo para obtener una mejor resolucin, se encontr que el poder
de resolucin del microscopio estaba limitado no solo por el nmero y calidad de
lentes sino, tambin, por la longitud de onda de la luz utilizas para la iluminacin. Era
posible resolver puntos del objeto que estuviesen ms prximos que unos cientos de
nanmetros. El uso de luz de longitud de onda corta,(azul o ultravioleta) proporciono
una ligera mejora; sumergir el espcimen y la parte anterior d la lente objetiva en un
medio de elevado ndice de refraccin(aceite) proporciono otra ligera mejora, pero
estas medidas juntas, solo llevaron el poder de resolucin del microscopio justo por
debajo de 100nm.

En los aos veinte se descubri que los electrones acelerados (componentes de los
tomos), se comportan en el vaco como la luz. Viajan en lnea recta y tienen una
longitud de onda que es unas 100,000 veces ms pequeas que el de la luz. Adems se
encontr que los campos elctricos y magnticos tienen el mismo efecto sobre los
electrones que el que tienen las lentes y los espejos de vidrio sobre la luz visible.

a) Resolucin Y Aumento.
Con luz suficiente, el ojo humano puede distinguir dos puntos separados entre
s, 0.2mm si los puntos estn ms prximos solo se ver un punto. Esta
distancia se llama poder de resolucin o resolucin del ojo. Para ampliar esta
distancia se puede usar una lente, o un conjunto de lentes (un microscopio)
para hacer posible el ojo vea dos puntos, incluso ms juntos de 0.2mm.

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El poder de resolucin de un microscopio determina su aumento mximo. Solo

se necesita ampliar el poder de resolucin a 0.2mm, el poder del ojo humano,
para que se revelen todos los detalles finos de un objeto.
El poder de resolucin de un microscopio es uno de los parmetros ms
importantes. La razn por la que se citan los aumentos es que dan una idea de
cunto se puede ampliar una imagen.
La resolucin est limitada por varios factores, entre los que se encuentran la
difraccin, las aberraciones y el ruido.

b) El electrn.
Una de las formas de examinar un tomo es visualizarlo como unsistema
solar en miniatura, en el que los electrones orbitan como planetas alrededor
de un ncleo central. El ncleo est formado por partculas neutras y partculas
cargadas positivamente, y los electrones tienen una carga negativa
compensatoria para que el tomo sea neutro. Los electrones, que son
aproximadamente 1800 veces ms ligeros que las partculas del ncleo, ocupan
diferentes orbitas, cada una de las cuales pueden alojar un nmero mximo fijo
de electrones.
Sin embargo cuando los electrones son liberados del tomo, se comportan en
forma anloga con la luz. Es este comportamiento el que se aprovecha en la
microscopia electrnica.

c) Nanmetro.
A medida que las distancias se hacen ms cortas, el nmero de ceros detrs de
la coma decimal se hace mayor, de modo que los microscopistas usan el
nanmetro (abreviado nm) como unidad de longitud. Un nanmetro es una
millonsima de milmetro (10 a la menos 9 metros). Una unidad intermedia es
la micra (abreviada m) que es la milsima de milmetro a 1000nm.

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Microscopio electrnico:

Es una herramienta fundamental dentro de la

investigacin, principalmente dentro del estudio de la
microestructura de los materiales.

Un microscopio electrnico es aqul que utiliza un haz de

electrones en lugar de un haz de fotones o luz visible para
formar imgenes de objetos diminutos.

Los electrones acelerados se comportan en el vaco como

la luz. Viajan en lnea recta y tienen una longitud de onda
que es una 100 000 veces ms pequea que la de la luz.

Permiten alcanzar ampliaciones hasta 5000 veces ms

potentes que los mejores microscopios pticos.

Los campos elctricos y magnticos tiene el mismo efecto

sobre los electrones que el que tiene las lentes y espejos
de vidrio sobre la luz visible.

Cuando el haz de electrones interacciona con la muestra se produce varios tipos de

seales las cuales nos permiten hacer la identificacin estructural y qumica de sta.
Estas seales son electrones: retrodispersos, secundarios, absorbidos, auger,
transmitidos, rayos x continuos y rayos x caractersticos

Interaccin del haz de electrones y la muestra

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Tipos de microscopios electrnicos:

Existen dos tipos de microscopios electrnicos: el microscopio electrnico de barrido

y el microscopio electrnico de transmisin.

a) Microscopio Electrnico de Barrido:

Construido por el fsico alemn Manfred Von Ardenne en 1938. til para estudiar
las caractersticas morfolgicas y topogrficas, en alta resolucin, de la muestra
(superficie de los slidos).

Microscopio electrnico de barrido (MEB) o microscopia de exploracin electrnica

(SEM), En esta clase de microscopio los electrones que van a dar origen a una
imagen salen por la misma cara de la muestra donde incidi el haz de electrones,
como si fuera un microscopio de luz reflejada (serie de interaccin elstica e
inelstica).

Los electrones secundarios nos dan informacin sobre la superficie de la muestra.

Permitindonos de este modo obtener una imagen topogrfica de ella. Estos
electrones son una de las fuentes de informacin para la microscopia electrnica de
barrido.

En estos equipos puede hacerse anlisis qumicos y, actualmente cuentan con

dispositivos para hacer difraccin de electrones

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El microscopio electrnico de barrido puede estar equipado con diversos

detectores, entre los que se pueden mencionar: un detector de electrones
secundarios para obtener imgenes de alta resolucin (SEI), un detector de
electrones retrodispersado que permite la obtencin de imgenes de composicin y
topografa de la superficie (BEI) y un detector de energa dispersiva (EDS) que
permite detectar los rayos X generados por la muestra y realizar anlisis de
distribucin de elementos en superficie

Partes del microscopio electrnico de barrido:

Can de electrones
Filamento, que acta como emisor o fuente de iluminacin, por analoga con un
sistema ptico.
Capucha Wehnelt, esta es la que hace que los electrones converjan dentro del
can.
nodo, produce un potencial positivo de tal manera que los electrones son
acelerados a travs de este.
Sistema de lentes electromagnticas. Encargados de dirigir, focalizar y reducir
a un dimetro muy pequeo el haz de electrones producidos por el filamento
sobre la muestra.
Apertura de condensador. Nos permite obtener un haz elctrico ms
homogneo, puesto que al no permitir el paso de electrones que han sido
desviados bastante del eje ptico, reducen en gran medida la aberracin
cromtica.

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Apertura del objeto. Localizada entre el plano-imagen de la lente objetiva se le

conoce tambin como apertura del rea selecta.
Apertura de difraccin. Colocada despus de la lente objetico y es utilizada
para permitir el paso de un solo haz del conjunto de haces difractados y el haz
transmitido.
Un portamuestras. La cmara portaespcimen est situada en la base de la
columna del microscopio y en lnea con el haz electrnico. La pieza o platina que
sostiene el espcimen permiten varios movimientos:

a) desplazamiento en coordenadas rectangulares (ejes X e Y) en un plano a lo

largo de la superficie observada de la muestra.
b) Movimiento de rotacin sobre el propio plano de la muestra (en 180) y
movimiento de inclinacin en el plano horizontal entre (-5 y +45).
Esto permite inclinar el espcimen, tomando como eje cualquier punto que
s que se est observando. Tambin es posible inclinar el espcimen sin
necesidad de variar el enfoque, lo que es indispensable si se desea tomar un
par estereoscpico de fotografas.

Existen diferentes tipos de portamuestras, segn el tamao del espcimen a

observar. Es preferible usar un portamuestra ms pequeo con una distancia de
trabajo menor, y obtener as mayor resolucin. Dispositivos anexos permiten
calentar la muestra por medios elctricos, o bien enfriarla por medio del sistema
de dedo fro. Es posible tambin tensarla o comprimirla mecnicamente.

Sistema de barrido. este sistema consiste en un campo de deflexin simple o

doble, que puede ser electrosttico o electromagntico, y que produce el
desplazamiento del haz electrnico sobre la superficie de la muestra. Este campo
se localiza cerca de la ltima lente condensadora, mal llamada objetiva, en
algunos casos.

El haz de electrones se mueve en lneas rectas superpuestas, barriendo la

superficie del espcimen en un rea rectangular. La misma seal que se aplica a
las bobinas deflectoras, se utiliza para barrer en forma sincronizada el haz del
tubo de rayos catdicos, producindose as una correspondencia punto a punto,
entre la superficie de la muestra, que es barrida por el haz de electrones y la
pantalla donde se observa la imagen. Este sistema es similar al de la televisin,
pero con velocidades de barrido ms bajas. El tiempo de barrido oscila entre 0,5
y 500 segundos, indicando con estos valores el tiempo que demora el haz parar
barrer verticalmente la zona de la muestra que se est observando en la pantalla.

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Usualmente se trabaja con un tiempo de barrido de 10 segundos, durante la

observacin preliminar de la muestra. Las fotografas se toman con un tiempo
de 50 segundos, con lo cual se tiene un mayor nmero de lneas de barrido, y por
lo tanto, una mayor definicin.

Sistemas De Deteccin (detector). La emisin secundaria surge cuando el haz

primario tiene energa de varios de cientos de electrn volts. Si bien en un
principio la corriente secundaria es proporcional a esa energa, llega un
momento que nuevos incrementos energticos del haz primario saturan la
superficie emisora, estabilizndose la salida de electrones, e incluso
disminuyendo si la energa aumenta excesivamente.

Cada material presenta un coeficiente de emisin secundaria () que es

caracterstico, y que se define como la relacin entre los electrones emitidos por
la superficie respecto a los primarios que la impactan.

Los electrones secundarios son de menor energa que los primarios, y por esta
razn, aun cuando se produzcan profundamente, slo pueden abandonar la
muestra los que se generan muy superficialmente (< 50 ).

Los electrones secundarios que se desprenden de cada punto, se detectan

mediante un cristal de centello, cuya superficie se mantiene a un potencial
positivo de 10 a 12 kV. Este cristal est unido al extremo de un bastn de Lucita,
que tiene el otro extremo descansando contra la ventana del tubo
fotomultiplicador. As, los electrones secundarios colectados alcanzaran un
centellador, donde se origina una seal luminosa que, amplificada por un
fotomultiplicador, se convierte en una cascada de fotones. Estos fotones inciden
en el fotoctodo, que es parte del fotomultiplicador, y se genera finalmente una
seal elctrica amplificada, capaz de modular el haz de un tubo de rayos
catdicos, obtenindose de esta forma un punto correspondiente de la imagen.

El alto voltaje que se aplica a la grilla del detector hace que los electrones
secundarios, de baja energa, recorran una trayectoria curva al dejar la superficie
de la muestra. Esto permite obtener seales an de regiones muy inclinadas con
respecto al detector, adems de acelerarlas en direccin a l. Esto no sucede en
el caso de electrones retrodifundidos, que viajan en lnea recta produciendo
imgenes de contraste muy marcado con efectos de luz y sombra bien definidos.
Tanto electrones secundarios como retrodifundidos son captados por un mismo
detector.

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La variacin de intensidad de las seales generadas por la muestra se convierten

en seales elctricas, lo que permite obtener imgenes en un microscopio de
barrido. No es una imagen ptica de superficie, pero si una buena aproximacin.

Sistema de vaco. Al conjunto de dispositivos y procedimientos que se utilizan

para este fin. Un alto vaco corresponde a una baja presin y la unidad que se
utiliza es el mmHg o torr. Si se desea obtener un haz uniforme de electrones, es
necesario mantener la columna del microscopio a un alto vaco. Se denomina
sistema de vaco al conjunto de dispositivos y procedimientos que se utilizan
para este fin.
Un alto vaco corresponde a una baja presin, y la unidad que se utiliza es el
mmHg o Torr. Se recomienda utilizar el Pascal (Pa), que es la fuerza de presin
que ejerce un Newton sobre 1 m2 (1 atmsfera = 101325 Pa ).
La columna debe mantener un alto vaco, bsicamente por cuatro razones:
1.- Para permitir el desplazamiento de electrones. Como la distancia entre
el can de electrones y la pantalla es de aproximadamente un metro, se debe
evacuar el gas de toda la columna. En caso contrario, los electrones seran
dispersos o detenidos por molculas de gas, dada la escasa energa cintica de
ellos. La forma ideal de trabajo sera remover todo el aire de la columna, pero
esto es imposible. Gases, principalmente aire y vapor de agua, penetran en el
sistema y deben extraerse continuamente. La mayora de los microscopios
operan con un vaco del orden de 1,33x10-4 Pa; en estas condiciones, un
electrn puede viajar tericamente unos 2,5 m antes de encontrar molculas de
gas.
Un alto vaco correspondiente aproximadamente a 10-5 Torr. Se considera bajo
vaco aquel comprendido entre 10 a 10-3 Torr. Un muy buen vaco es 10-6 Torr;
un cm3 de aire a esta presin contiene aproximadamente 10x1010 molculas.
2.- Para evitar descargas de alta tensin en el can electrnico. Cualquier
molcula de gas presente entre el filamento y la placa andica se convierte en
un in positivo al ser bombardeado por los electrones. Esto producira una
descarga elctrica entre el filamento y el nodo, lo que impedira la formacin
de un haz estable de electrones, adems de interferir en el contraste de la
imagen.
3.- Para evitar contaminacin del espcimen y de las aberturas. Los gases
residuales se condensan en el espcimen y lo contaminan.
4.- Para incrementar la vida til del filamento. A bajo vaco, la vida del
filamento se reduce significativamente por oxidacin del tungsteno. Esta
oxidacin tambin afecta la eficiencia de filamento para emitir electrones.

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Se ha comprobado experimentalmente que una presin de gas del orden 10-4

mm de mercurio es suficiente para que la dispersin electrnica sea mnima, la
duracin del filamento aceptable y no se produzcan descargas.
El vaco de la columna se obtiene con diversos tipos de bombas: bomba
mecnica o rotatoria, bombas de difusin de aceite o de mercurio, bombas
termoinicas, turbomoleculares, etc. Es difcil crear un alto vaco en una sola
etapa. Por lo tanto se utiliza un sistema donde se emplean diferentes tipos de
bombas, en serie. Esto es factible gracias a una serie de vlvulas de
distribucin, cuyo movimiento es automtico, en los modelos nuevos, y manual
en los antiguos.
En una primera etapa se crea un pre-vaco de ~ 10-1 a 10-3 Torr, que se obtiene
con una bomba mecnica de rotacin, de gran capacidad pero de bajo
rendimiento. En la segunda etapa, se obtiene un alto vaco de
aproximadamente 10-5 Torr, por medio de dos bombas difusoras que funcionan
con vapores de Hg una, y vapores de aceite, la otra.
Las bombas difusoras deben funcionar continuamente mientras el microscopio
est trabajando, por as pequeas fugas de aire que puedan existir, y porque
constantemente se producen gases que conviene eliminar
ininterrumpidamente.
Por muy bueno que sea el sistema de bombas utilizado, es difcil obtener un
vaco perfecto, ya que siempre existe gas residual. Por ejemplo, a temperatura
ambiente y a una presin de 10-8 mm de mercurio, el nmero de molculas por
cm3 es de aproximadamente 3x108, y a temperatura ambiente y presin
atmosfrica existen alrededor 3x1019 molculas por cm3. Es decir, se extraen
millones de molculas por cm3.
Las condiciones de presin del microscopio se controlan utilizando diferentes
tipos de manmetros entre ellos: tubos de descarga de gases y manmetros
trmicos, como el Pirani y el Penning. Estos ltimos se basan en el hecho que la
conduccin trmica en gases a bajas presiones, es funcin de la concentracin
molecular.
Con el objeto de eliminar la necesidad de ventilar y reevacuar toda la columna
despus de cada cambio de espcimen o pelcula fotogrfica, se incorporan al
sistema una serie de vlvulas que permiten que ciertas secciones de la columna
sean aisladas de las restantes. As, slo estas reas vuelven a la presin
atmosfrica y pueden ser rpidamente reevacuadas, y luego conectadas al resto
de la columna.

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Sistema de refrigeracin.
Es un sistema que permite enfriar tanto las bombas difusoras ( que generan
considerable cantidad de calor ), como las propias lentes, que tambin se
calientan cuando pasa a travs de ellas una corriente elctrica. Esto se consigue
haciendo circular a su alrededor agua tratada, filtrada y refrigerada. Deber
existir una unidad de refrigeracin con bombas de agua que permitan el
movimiento de sta a travs del sistema.
Las lentes de caractersticas ms crticas disponen de un serpentn interior, por
el cual circula una corriente de agua, que estabiliza su temperatura. De esta
forma se evitan pequeas pero importantes dilataciones de sus elementos.

Sistema de proyeccin o visualizacin de las imgenes.

Las imgenes se proyectan en dos tubos de rayos catdicos de alta resolucin,
que funcionan en sincronizacin con el barrido electrnico de la muestra. Uno
de ellos, para observacin visual, tiene una pantalla de gran persistencia.
Fijando el tiempo de barrido en 10 segundos, se obtiene una imagen de 500
lneas. La pantalla del segundo tubo es azul, para registro fotogrfico y de baja
persistencia. Adosada a esta segunda pantalla va la cmara fotogrfica. Aqu se
utiliza un barrido ms lento, de 1000 o ms lneas. Cuando mayor sea el
nmero de lneas en la pantalla fotogrfica, mayor ser la resolucin de la
imagen final.

Microscopio electrnico de barrido (MEB)

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Ventajas Del Microscopio De Barrido:

Tiene una gran profundidad de campo, de 100 veces ms la de un microscopio ptico.

Tiene una gran versatilidad en el manejo de amplificaciones.

Mayor resolucin (3-6nm).

Una excelente impresin tridimensional

La preparacin de muestras es relativamente fcil. puede ser relativamente grande

desde unos mm hasta varios centmetros.

Se le puede conectar varios sistemas de anlisis o de deteccin fcilmente, sin

implicacin de adaptaciones o modificaciones del diseo del microscopio.

b) Microscopa electrnica de transmisin:

TEM del ingls Transmission Electron Microscopy. Los electrones difractados al

pasar a travs de la muestra generan un difractograma que puede ser transformado
directamente en imagen mediante lentes magnticas que es la proyeccin de la
estructura cristalina a lo largo de la direccin de los electrones.

Tanto el difractograma de electrones como la imagen reconstruida se puede

proyectar en una pantalla. Difractogramas de monocristal (microcristal) similares
en apariencia a los de nivel-cero, fotografas de precesin de R-X, se pueden
obtener orientando los microcristales de pequeo espesor. Uno puede seleccionar
un microcristal de la muestra y obtener el difractograma de ese microcristal
embebido dentro de la muestra lo cual es una ventaja al estudiar muestras
polifsicas ya que la difraccin de neutrones y de R-X no permiten seleccionar la
fase deseada sino que siempre se obtiene la superposicin de los difractogramas de
todas las fases presentes en la muestra. Con cuidado y un buen ME, es posible
obtener imgenes con resolucin atmica permitiendo que el nmero adecuado de
haces difractados contribuyan a la imagen.

El poder de resolucin depende de la longitud de onda y de la calidad de las lentes

del objetivo (la que producen la primera imagen), donde C es el coeficiente de
aberracin esfrico de las lentes del objetivo. En las mejores condiciones con
aparatos buenos se puede obtener una resolucin de aproximadamente 1.5 .

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Las imgenes se pueden producir a partir de los electrones difractados (imgenes

de campo oscuro) o a partir de los electrones directos que han atravesado la
muestra sin interaccin (imgenes de campo claro/brillate). Hay que tener en
cuenta el espesor de la muestra y de las condiciones de focalizacin. Microcristales
muy delgados son los ideales (espesor < 500 ) y se deben tomar varias fotos con
diferentes condiciones de focalizacin. Las imgenes se pueden comparar con las
generadas/calculadas a partir de una estructura modelo y de unas condiciones de
focalizacin determinadas. La imagen viene dominada por la presencia de tomos
pesados ya que el factor de dispersin de los
electrones vara mucho con el nmero
atmico.
Tambin es importante recordar que la
imagen que se graba es la proyeccin de la
estructura a lo largo de la direccin del haz lo
que conlleva problemas a la hora de la
interpretacin de las imgenes. No hay una
forma directa de reconstruir la estructura
tridimensional de un material a partir de una
proyeccin determinada a lo largo de un eje.
Por esto, los mtodos para obtener las
estructuras de compuestos a partir de
imgenes TEM se basan en la comparacin
entre las imgenes observadas y las
calculadas mediante un modelo estructural,
para unos tamaos/espesores de cristal y
condiciones de focalizacin dadas.
Se debe partir de un modelo estructural
bastante aproximado y la optimizacin de las coordenadas atmicas dan errores
mucho mayores que los mtodos basados en difraccin de R-X y de neutrones. El
contraste que se observa en las microfotografas TEM se debe a las diferencias en el
potencial electrosttico en el cristal que tiene canales amplios constituidos por
anillos de seis tetraedros. La estructura ha sido determinada con datos de rayos-X
de monocristal. Los agujeros son claramente visibles en la foto TEM (Figura 14.6).

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Otros tipos de microscopa electrnica

Microscopio Electrnico de Barrido Ambiental (ESEM) de ltima generacin que

admite el anlisis de muestras en estado natural o bajo condiciones ambientales
naturales, sin necesidad de usar tcnicas convencionales de preparacin de muestras.
Adems, es posible utilizar rgimen de alto vaco de forma similar a los microscopios
SEM convencionales.

Microscopio Electrnico de Barrido de Congelacin (Cryo-SEM): Es un tipo de

microscopio electrnico que basa su funcionamiento sobre muestras congeladas. La
congelacin de la muestra se realiza una vez puesta sobre el pedestal introducindola
en nitrgeno lquido. El pedestal se acopla a una varilla que es introducida en un
compartimento cilndrico con nitrgeno lquido, estructura que se acopla a una la
unidad de alto vaco del SEM que mantiene la congelacin. Esta crio-cmara presenta
una serie de utensilios para manejar la muestra congelada (por ejemplo para
fracturarla) y en ella se lleva a cabo la sublimacin de la muestra y su cubrimiento
metlico (mtodo de sputtering). Una vez metalizada la muestra se introduce en la
cmara de alto vaco de observacin, mediante un sistema mecnico interno,
pudiendo analizar la muestra como un SEM normal.

Microscopio Electrnico de Barrido Ambiental (ESEM) (izquierda); Microscopio Electrnico

de Barrido preparado para analizar muestras congeladas (Crio-SEM) (derecha)

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Comparacin entre El Microscopio ptico y El Microscopio Electrnico

1. Las lentes del microscopio ptico son de vidrio mientras que en el microscopio
electrnico son bobinas. El movimiento de partculas cargadas en el centro de estas
bobinas son enfocadas en un plano. Adems varias de las caractersticas de las
lentes de vidrio son tambin presentadas por las bobinas. Por tanto hablamos
ahora de lentes electromagnticas.

2. La columna del microscopio electrnico tiene que estar en el vaco no menor de

107Torr (1Torr=1mmde Hg), puesto que el haz electrnico o puede recorrer
grandes distancias en un medio gaseoso, sin que las molculas de gas lo dispersen y
reduzcan su energa.

3. En el microscopio ptico las lentes tienen una gran distancia focal fija, el enfoque y
la ampliacin se realizan cambindola posicin del objetivo mediante el revolver.
En el microscopio electrnico el enfoque y la amplificacin se realizan al variar la
corriente de las bobinas, es decir, de las lentes electromagnticos.

4. en el microscopio electrnico la electrnica involucrada es muy refinada, lo que

contribuye al elevado precio del instrumento.

Aplicaciones de la microscopia electrnica

Geologa:

-Una eficaz ayuda en estudios geomtricos y

morfolgicos relacionados con la mineraloga y
metalurgia

-Textura de rocas y minerales

Ciencia e Ingeniera de Materiales:

-Caracterizacin morfolgica y analtica de

materiales

-Estudio de superficies

-Procesos de difusin

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Metalurgia:

-Fenmenos de difusin

-Composicin de aleaciones

-Crecimiento de granos

-Estudios de corrosin de metales y aleaciones

Biologa:

-Observacin de los distintos organelos

intracelulares

-Diferenciacin de clulas Patologas animales

y vegetales

-Estudios forenses (bsqueda de partculas, tejidos, hilos,)

Otros:

-Biodeterioro de obras de arte

Aplicaciones en investigaciones:

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Muestras observadas al microscopio electrnico. Monte Milligan, Quesnel

Terreno, Columbia Britnica, Canad

GEOQUMICA DE ASFALTO URANFERA EN LA CUENCA DEL SUROESTE

Athabasca, Saskatchewan, Canad

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Bibliografa:

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http://www.metso.com/miningandconstruction/mct_service.nsf/WebWID/WTB-120105-
22576-05F95/$File/001.pdf
Boletn De La Sociedad Chilena De Qumica-Mineralogia, Quimica E Inclusiones Fluidas En
Los Depsitos De Nitratos De Maria Elena, Ii Region,
Chile -santiago collao, eduardo arce, alfonso anda)
http://boletinsgm.igeolcu.unam.mx/epoca04/6201/(1)Melgarejo.pdf
http://ocw.um.es/gat/contenidos/ubero/microscopia/material_clase/Sesion_Teorico-
04.pdf
www.segweb.org
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Cu-Au Deposit, Mount Milligan, Quesnel Terrane, British Columbia, Canada
DARREN LEFORT,1 JACOB HANLEY,1, AND MARCEL GUILLONG2,
1Department of Geology, Saint Marys University, Halifax, Nova Scotia, Canada
2 Department of Earth Sciences, ETH Zurich, Zrich, Switzerland

b) Controls on Tellurium in Base, Precious, and Telluride Minerals in

the Panormos Bay Ag-Au-Te Deposits, Tinos Island, Cyclades, Greece
STYLIANOS TOMBROS,1, KAREN ST. SEYMOUR,1,2 AND ANTHONY E. WILLIAMS-JONES3
1Department of Geology, University of Patras, Rion, 26500, Patras, Hellas
2Department of Geography, Urban Planning and Environment, Concordia University, 1455 de
Maisonneuve, Quebec, Canada H3G1M8
3Department of Earth and Planetary Sciences, McGill University, 3450 University Street, Montreal,

Quebec, Canada H3A 2A7.

Aplicaciones de la microscopia electrnica y de luz polarizada a muestras de

yacimientos metlicos -QUIROZ VELASQUEZ, CORONADO LI, JANETH/ 2001-
207h-BIBLIOTECA DE LA ESCUELA DE INGENIERIA GEOLOGICA

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