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Oprateur danalyseurs
fluorescence X portatifs
Livret de renseignements
sur la certification et la
prparation
relatives aux valuations
Droit dauteur
Version 3
Dcembre 2010
Avant-propos
Note aux candidats pour la certification de RNCan comme oprateur danalyseur FRX
Auteurs :
Auteur original Richard V. Murphy, Ph. D.
Auteurs collaborateurs Harri Maharaj, Ph. D., Julie Lachapelle, Pui Kei Yuen
*Sant Canada n'exige plus quun oprateur de FRX porte une bague dosimtre,
cependant les rgles dopration sont diffrentes parmi les provinces et les territoires;
donc les propritaires et les oprateurs danalyseurs doivent contacter la juridiction
provinciale ou territoriale approprie afin de dterminer les rgles spcifiques en ce qui
concerne les bagues dosimtres.
La production du prsent livret qui rsume toutes les informations disponibles a exig
beaucoup dattention, nous tenons nanmoins avertir le lecteur quil pourrait y trouver
des erreurs ou des omissions. Ceci dit, Ressources naturelles Canada ne pourra tre
tenu responsable de lexactitude des informations prsentes. Nous encourageons le
lecteur consulter les autres documents donns en rfrence, ainsi que tous les lois,
rglements et codes de scurit applicables. Il y trouva le texte exact dans son
intgralit et les rfrences secondaires.
Ce document est protg par la loi sur le droit dauteur. Toute utilisation, reproduction
ou distribution non-autorises seraient illgales et, donc, entraneraient les sanctions
prvues par la loi.
Pour prparer votre examen, assurez-vous dutiliser la version la plus rcente du livret.
RNCan dsire remercier les personnes suivantes, dont les suggestions se sont
traduites par la version 2 de ce livret : M. Barry DeLong (GE Industrial Inspection
Technologies) et M. Brian Paradis (Acuren).
Introduction
lchelle atomique, la fluorescence des rayons X est cause par ljection dun
lectron de haute nergie dune des couches les plus intrieures des atomes par des
rayons X incidents. Le trou laiss par les lectrons jects sont remplis par dautres
lectrons qui cascadent des couches externes. Cette chute libre des quantits
spcifiques dnergie, sous la forme dun rayonnement X caractristique.
Les rayons X mis par fluorescence possdent des quantits discrtes dnergie, qui
rsultent des niveaux dnergie des couches lectroniques dun lment. Or, ces
niveaux dnergie sont caractristiques de chaque lment. Ainsi, en analysant les
nergies du spectre des rayons X quune substance met par fluorescence, on peut
dterminer quels lments composent une substance et quelle est leur concentration.
Linformation contenue dans le spectre peut tre suffisante pour identifier la substance.
Partie 1 : 30 questions choix multiples portant sur les notions de base de la thorie et
de lutilisation de la fluorescence X
Le candidat a 60 minutes pour faire lexamen. La note de passage est de 70 %.
Partie 2 : 30 questions choix multiples portant sur les principes et les pratiques de la
radioprotection sappliquant la fluorescence X
Le candidat a 60 minutes pour faire lexamen. La note de passage est de 70 %.
Niveau 2
Les reprsentants du fabricant (y compris les fournisseurs canadiens) doivent possder
la certification de niveau 2 pour tre aptes former les personnes employes par une
entreprise ayant achet un appareil fluorescence X. Ladite entreprise peut faire appel
un employ ou une employe possdant la certification de niveau 2 pour former ses
employs quant lutilisation de cet appareil fluorescence X particulier.
La premire certification en fluorescence X est valide pour trois (3) ans partir de la date de la dlivrance
de la certification.
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Oprateur danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010
Si le candidat est en retard pour le renouvellement, jusqu' six mois aprs la date de
l'expiration de sa certification, il peut faire le renouvellement avec un paiement
additionnel de $50. Si plus de six mois au del de la date de l'expiration de sa
certification, le candidat ne peut pas faire le renouvellement mais doit faire la
recertification.
La recertification est valide pour trois (3) ans partir de la date de la recertification. Un
seul renouvellement est permis. Aprs ce renouvellement, loprateur doit obtenir une
recertification.
Terminaison de Certification
** Au cas o le candidat ne pourrait pas fournir une copie du journal des vrifications des
dispositifs de scurit selon le Code de scurit 34 (l'article 9 de la section 2.3), la certification du
candidate sera termine de manire permanente parce que c'est une violation de l'article 2 du
code de conduite de RNCan, une dsobissance dun code sous lequel il travaille.
Toute personne ne dtenant pas la certification FRX ou dont la certification FRX est chue
ne peut faire lusage dun tube rayons X selon les analyseurs FRX. Le non-respect de
cette exigence pnalisera la personne et son employeur.
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Oprateur danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010
Note: Toutes les questions dexamens sont bases sur le livret de FRX. Afin de
russir aux examens de FRX, tout candidat doit tudier par lui-mme tout le
contenu de ce livret en plus de suivre la formation de 3 heures donnant un
aperu de ce livret. Les heures de formation recommandes pour se familiariser
avec le contenu de ce livret sont celles qui sont mentionnes.
Avant-propos................................................................................................................. ii
Introduction ................................................................................................................... v
Niveaux de FRX certification et examens .................................................................. vi
Niveau 1.......................................................................................................................................... vi
Niveau 2.......................................................................................................................................... vi
Exigences pour la certification, le renouvellement et la recertification ................. vii
Premire certification en fluorescence X .............................................Error! Bookmark not defined.
Renouvellement de la certification en fluorescence X......................................................................viii
Recertification de loprateur danalyseurs fluorescence X ...........................................................viii
Linformation importante concernant le renouvellement et le recertification....................................... ix
Programme de la formation des oprateurs danalyseurs FRX ............................... xi
Table des matires ............................................................ Error! Bookmark not defined.
1. Proprits fondamentales de la matire ................................................................. 1
1.1 Atomes, lments, molcules et composs ........................................................... 1
1.2 Particules atomiques : proprits des protons, lectrons et neutrons .................... 2
1.3 Structure atomique ................................................................................................. 2
1.4 Le numro atomique et le nombre de masse ......................................................... 3
2. Types de rayonnement ............................................................................................. 4
2.1 Spectre lectromagntique .................................................................................... 6
2.2 Le rayonnement pntrant : les rayons X et gamma .............................................. 6
2.3 Sources de rayons gamma (rfrence) .................................................................. 7
2.4 Production de rayons gamma (rfrence) .............................................................. 8
Rfrence......................................................................................................................................... 8
2.5 Sources de rayons X .............................................................................................. 9
2.6 Rayons X du bremsstrahlung ................................................................................. 9
2.7 Raies dmission caractristiques ........................................................................ 11
3. Principes de la fluorescence X............................................................................... 13
3.1 nergies caractristiques des rayons X mis par les lments............................ 14
4. Analyseurs par fluorescence X (analyseurs FRX)................................................ 16
4.1 Constituants principaux ........................................................................................ 16
4.2 Appareil fluorescence X .................................................................................... 16
4.3 Dtection des rayons X ........................................................................................ 17
4.4 Analyseur multi-canaux ........................................................................................ 19
Difficults : le spectre dnergie ...................................................................................................... 20
4.5 Ordinateur ............................................................................................................ 21
limination de linterfrence spectrale provenant du fond et des chevauchements .......................... 21
Calcul des concentrations............................................................................................................... 22
talonnage ..................................................................................................................................... 22
5. Sources derreur...................................................................................................... 23
5.1 Erreurs systmatiques et alatoires ..................................................................... 23
Erreurs systmatiques (biais).......................................................................................................... 23
Erreurs alatoires (imprcision) ...................................................................................................... 23
5.2 Exactitude, prcision et biais................................................................................ 23
Biais ............................................................................................................................................... 23
Prcision ........................................................................................................................................ 24
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Oprateur danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010
Exactitude ...................................................................................................................................... 24
Lcart-type (ET ou )..................................................................................................................... 25
Rfrence....................................................................................................................................... 26
6. Fonctionnement de lanalyseur fluorescence X ................................................ 27
6.1 Avantages des analyseurs fluorescence X portatifs .......................................... 27
6.2 Limites des analyseurs fluorescence X portatifs................................................ 27
6.3 lments habituels des analyseurs ...................................................................... 28
1 Bibliothques (pour lanalyse des alliages) ................................................................................ 28
2 Paramtres instrumentaux et talonnage .................................................................................. 28
3 - Affichages ................................................................................................................................. 28
4 - Prises externes.......................................................................................................................... 28
6.4 Modes dessai ...................................................................................................... 30
Paramtres fondamentaux.............................................................................................................. 30
Normalisation Compton .................................................................................................................. 30
Comparaison de spectres ............................................................................................................... 31
talonnage empirique..................................................................................................................... 31
6.5 Utilisation de lanalyseur fluorescence X - Gnralits...................................... 32
7. Applications de la fluorescence X ......................................................................... 34
7.1 Identification et analyse chimique des alliages..................................................... 34
Considrations sur les chantillons dalliages.................................................................................. 34
Alliages Rduction des erreurs .................................................................................................... 34
7.2 Analyse des sols .................................................................................................. 35
chantillons de sol - Considrations ............................................................................................... 35
Sols Rduction des erreurs.......................................................................................................... 36
7.3 Analyse des minerais ........................................................................................... 36
Prospection et exploration .............................................................................................................. 36
Utilisations en extraction minire..................................................................................................... 37
Considrations relatives aux chantillons de minerais..................................................................... 37
Minerai Rduction des erreurs ..................................................................................................... 37
7.4 Comment obtenir des donnes de qualit............................................................ 39
Systmes de mesure bass sur la performance.............................................................................. 39
Plan danalyse de lchantillonnage ................................................................................................ 39
Objectifs de qualit des donnes - Processus ................................................................................. 39
8. Interaction du rayonnement avec la matire......................................................... 40
8.1 Ionisation.............................................................................................................. 40
8.2 Interaction du rayonnement avec la matire ........................................................ 40
8.3 Units dexposition au rayonnement : le coulomb/kg et le rntgen ..................... 41
8.4 Attnuation du rayonnement lectromagntique.................................................. 41
9. Effets biologiques du rayonnement ...................................................................... 43
9.1 Units de la dose absorbe : le gray et le rad (toute substance) ......................... 43
9.2 Units de dose quivalente : le sievert et le rem (effets biologiques)................... 43
9.3 Norme de 1990 de la CIPR relative aux limites de dose ...................................... 45
9.4 Rayonnement naturel ........................................................................................... 45
9.5 Radiosensibilit des organes radiolsions et rtablissement ............................ 46
9.6 Symptmes du mal des rayons ............................................................................ 46
9.7 Irradiation aigu et dommages corporels ............................................................. 46
9.8 Contrle de lexposition du personnel au rayonnement........................................ 49
9.9 Le concept dALARA (As Low As Reasonably Achievable).................................. 49
10. Dtection du rayonnement ................................................................................... 51
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Oprateur danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010
10.1 Les instruments de dtection et de mesure du rayonnement ............................. 51
Chambres dionisation .................................................................................................................... 51
Tubes de Geiger-Mueller ................................................................................................................ 51
Dosimtres de poche...................................................................................................................... 51
Dosifilms [Rarement utiliss de nos jours] ....................................................................................... 52
10.2 Contrle des rayonnements reus par le personnel ........................................... 52
Contrle du rayonnement reu par tout le corps.............................................................................. 52
Contrle du rayonnement reu par les extrmits (bague dosimtre) .............................................. 52
Les dosimtres personnels : modle de poche et lectronique........................................................ 53
10.3 Radiamtres ....................................................................................................... 53
10.4 Rapport dobservation avec le radiamtre.......................................................... 53
11. Pratiques scuritaires du travail en FRX............................................................. 55
11.1 Caractristiques de lanalyseur FRX .................................................................. 55
11.2 tiquettes FRX ................................................................................................... 55
11.3 Dtermination des zones accs restreint affichage et surveillance dans ces
zones.......................................................................................................................... 56
11.4 Temps, distance et blindage permettant de rduire lexposition au rayonnement57
11.5 Contrle des analyseurs FRX lorsquils ne sont pas utiliss .............................. 58
12. Exigences rglementaires canadiennes applicables ......................................... 60
12.1 LDER : Loi sur les dispositifs mettant des radiations de 1985.......................... 60
12.2 Partie XIV de lannexe II du RDER et portant sur la conception de lquipement62
12.3 Code de scurit 34 : Les appareils de radiologie industriels radioprotection et
scurit....................................................................................................................... 64
12.4 Sommaire de responsabilits de scurit de FRX.............................................. 72
Annexe 1 : nergies (keV) des lignes K et L (Rfrence) ........................................ 76
Annexe 2 : Formulaires de FRX ................................................................................. 79
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Oprateur danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010
Toutes les substances sont formes dune combinaison datomes. Les atomes du
mme lment peuvent se combiner pour former des molcules du mme lment. Ils
peuvent aussi sallier diffrents lments pour former des molcules dune nouvelle
substance.
Molcule : La plus petite particule dune substance qui possde les proprits
physiques et chimiques qui lui sont propres. Une molcule est forme dun ou plusieurs
atomes, dun ou plusieurs lments.
Exemple : Les atomes dhydrogne (H) ne se prsentent pas un atome la fois, mais
se combinent avec un deuxime atome dhydrogne pour former une molcule de gaz
hydrogne : H2.
Exemple : La plus petite particule deau (H2O) qui peut exister est une molcule
compose de deux atomes dhydrogne et dun atome doxygne.
Compos : Une substance pure, forme de deux ou plusieurs lments qui sont lis
chimiquement dans une proportion fixe et dfinie en masse.
Exemple : Leau (H2O) est un compos form par la liaison chimique de deux atomes
de llment hydrogne (H) et dun atome de llment oxygne (O). Ainsi, 2H + O font
H2O.
Les neutrons :
Ils se trouvent dans le noyau de tout atome, except lhydrogne (H).
Ils ne portent pas de charge lectrique.
Leur masse est lgrement suprieure celle dun proton.
Les lectrons :
De mme que les plantes tournent autour du soleil, les lectrons
tournent autour du noyau dans des orbitales prcisment espaces
que lon appelle couche.
Ils portent une charge lectrique ngative.
Ils dterminent les proprits chimiques dun atome.
Leur masse est minuscule, seulement 1/1840 fois celle dun proton.
On peut diviser la structure dun atome en deux parties principales : le noyau et les
couches lectroniques qui lentourent.
Le noyau :
Il est au centre de latome.
Il est compos de protons et de neutrons.
Il met un champ lectrique positif.
Il porte presque toute la masse de latome.
Les protons et les neutrons dun noyau sont trs fortement lis par les forces
nuclaires.
La distance entre les couches est typique de chaque lment. Lnergie dun lectron
varie en fonction inverse de sa distance du noyau. Les lectrons dans la couche la plus
interne (K) sont ceux les plus fortement lis au noyau. Ils ont, ainsi, plus dnergie que
les lectrons des couches externes (L, M, N, O et P).
Chaque atome dun lment possde le mme nombre de protons dans son noyau. On
utilise ce nombre, le numro atomique pour dsigner prcisment chaque lment.
Masse atomique : Moyenne pondre des nombres de masse des isotopes dun
mme lment.
Isotopes : Se dit des atomes dun lment ayant le mme numro atomique (donc
les mmes proprits chimiques), mais dont le nombre de masse diffre
(compte diffrent de neutrons dans le noyau).
2. Types de rayonnement
Ionisation :
division dune molcule en ces atomes constituants lectriquement chargs (ions),
enlvement dlectrons dun atome neutre.
Les ions portent une charge positive (due un manque dlectrons) ou ngative (due
un surplus dlectrons).Chimiquement, les ions sont trs ractifs et essaient de rede-
venir neutres en se combinant avec des ions qui portent une charge oppose. Une
raction chimique se produit lorsque des ions de deux lments se combinent pour
former un nouveau compos.
Rayon gamma
Particule alpha
Il existe quatre types de rayonnement ionisant :
les particules alpha,
les particules bta, Particule bta
les neutrons,
les rayons gamma ou rayons X (analyseurs FRX) Neutron
Particule
alpha
Particule
bta
Rayon
gamma
Porte : Les particules alpha peuvent traverser entre un ou deux pouces dair.
Blindage : Elles sont arrtes par une feuille de papier ou la couche superficielle de
la peau (la peau morte).
Danger : Elles ne constituent pas un danger de rayonnement externe, elles sont
trs dangereuses si on ingre une source.
Porte : Les particules bta peuvent traverser environ dix pieds dair.
Blindage : Elles sont arrtes par un blindage de quelques millimtres de plastique,
de verre ou une feuille mtallique.
Danger : courte distance de leur source, elles posent un danger externe pour la
peau et les yeux. Si une source est ingre ou inhale, le rayonnement
bta peut poser un danger aux tissus internes du corps.
Lumire visible
nergie lectrique
Rayons gamma
Micro-ondes
cosmiques
Infrarouge
Ondes AM
Ultraviolet
Ondes FM
Rayons X
Rayons
10-12 10-10 10-8 10-6 10-4 10-2 100 102 104 106 108 1010
nergie (keV)
Note : Les rayons gamma mis par les atomes radioactifs ne prsentent pas
un spectre continu, mais ont plutt des nergies discrtes caractristiques
de lisotope qui subit une dsintgration.
La priode
Le taux de dsintgration dun atome instable est prvisible et est caractristique dun
radio-isotope donn. Supposons que nous ayons cent atomes; aprs un certain temps,
cinquante (soit la moiti) se seront dsintgrs. Le temps ncessaire pour ces
dsintgrations est la priode; autrement dit, le temps ncessaire pour que lactivit
originale dun radio-isotope dcroisse de moiti.
Rfrence
Le tableau ci-dessus donne les nergies, les intensits et les priodes disotopes
radioactifs communment utiliss.
nergie des rayons gamma, intensit et priode des isotopes radioactifs courants
Isotope nergie (keV) Intensit (R/h/Ci 1 mtre) Priode
Cobalt 60 1,170 et 1,330 1,3 5,3 ans
Iridium 192 310 et 470 0,48 74 jours
Csium 137 660 0,32 30 ans
Ytterbium 169 60, 200 0,125 32 jours
Quelques radio-isotopes utiliss dans certains analyseurs FRX
intensit de source ~ 10 50 mCi
Thulium 170 52, 84 0,025 129 jours
Amricium 241 Raies jusqu 59,5 0,31 432,7 ans
Cadmium 109 214 462,6 jours
Fer 55 231 2,73 ans
Un tube industriel de rayons X ordinaire produit des rayons dont lnergie se trouve
entre 10 et 400 kilovolts (keV), alors que les acclrateurs nuclaires peuvent produire
des rayons X dont lnergie peut tre aussi leve que 10 MeV.
Un tube rayons X de 40 keV utilis pour la fluorescence X met des rayons
dont lnergie se situe entre 8 et 40 keV, avec un maximum dintensit environ
la moiti du maximum, soit ~20 keV.
La tension lectrique dun bout lautre du tube fixe lnergie maximale des rayons X.
Pour garantir la production efficace de rayons X, lanode cible doit pouvoir freiner
rapidement les lectrons (sa densit doit tre leve) et ne pas fondre sous la chaleur
produite par les impacts lectroniques. Il sagit souvent du tungstne, bien que largent
(Ag) soit utilis en fluoroscopie X. Lanode cible est souvent incline 45de faon
orienter le flux de rayons X dans la direction voulue.
Les analyseurs FRX sont munis dune fentre spciale, constitue dune lame fine,
dun mtal dur et peu dense, comme le bryllium, pour permettre le passage des rayons
X de moindre nergie.
La majorit des rayons X mis par un tube
9 50 keV forme un spectre continu, le rayonnement de
Intensits relatives
Intensits relatives
lments produit, en plus du rayonnement de
freinage, des raies dmission dans les rayons X,
dont les nergies sont propres ces lments,
on les appelle rayons caractristiques. rayons X
caractristiques
Rayons X caractristiques : raies dmission
K() = 19,8 keV
dans les rayons X causes la chute dlectrons
dune couche une autre. bremsstrahlung
K-alpha 0 10 20 30
nergie (keV)
M L K
Rayons X mis par le bombardement
K-bta dune cible de molybdne par des
lectrons de 30 keV
Les lectrons grande vitesse et les rayons X mis par bremsstrahlung peuvent jecter
des lectrons des couches intrieures des atomes. Les trous sont rapidement combls
par les lectrons qui tombnet des couches externes plus loignes. Ceci se traduit par
lmission de rayons X caractristiques ayant des nergies discrtes, correspondant
aux diffrences dnergie entre les couches lectroniques externes et internes de
latome.
Chaque lment prsente des carts prcis entre les couches lectroniques. En
dautres mots, le niveau dnergie de chaque couche lectronique et la diffrence
dnergie entre les couches diffrent dun lment lautre. Cest pourquoi on dit de ces
rayons X quils sont caractristiques de llment qui les a mis.
On utilise une terminologie particulire pour dcrire les rayons X mis par les transitions
dune couche lectronique lautre. (P. ex. K-alpha)
La premire lettre (K, L, M, N ou O) indique la couche darrive de llectron.
La seconde lettre (alpha [] ou bta []) indique la couche do provient llectron.
Voici les nergies des rayons X caractristiques mis par des lments entrant dans la
composition daciers courants.
Chaque lment est caractris par les nergies diffrentes des deux raies
caractristiques mises par un lectron tombant sur la couche K. Pour un lment
donn, on trouve une diffrence denviron 500 eV entre les raies K- et K-.
Cependant, lorsque plusieurs de ces lments sont prsents dans un alliage, il peut
tre difficile de distinguer et didentifier certaines raies peu espaces.
P. ex. la raie K- (5,95 keV) du chrome (Cr) et la raie K- (5,9 keV) du
manganse (Mn).
3. Principes de la fluorescence X
Dans un analyseur FRX lchantillon
est bombard par des rayons X. Ceci
produit lmission dlectrons, de
rayons X du bremsstrahlung et de
Rayonnement X
primaire
raies caractristiques de rayons X.
Puisque pour un mme lment, toutes les couches lectroniques ont les mmes
niveaux fixes dnergie, chaque transition lectronique identique se traduira par
lmission dun rayon X ayant la mme nergie discrte. Donc, lorsque des lectrons
sont jects datomes du mme lment, les rayons X mis que lon pourra dtecter
seront identiques. La quantit de rayons X mis par une transition vers la couche K ou
la couche L sera proportionnelle au nombre datomes du ou des lments prsents
dans lchantillon.
Intensit (comptes par seconde)
nergie (keV)
Le lecteur trouvera lannexe 1, une liste des rayons X caractristiques mis par
plusieurs lments.
Pour rfrence, le tableau ci-dessous indique les rayons X caractristiques de certains
lments.
Les rayons X mis par le tube interagissent avec lchantillon pour produire des rayons
fluorescentes caractristiques des lments prsents. Les rayons X fluorescents
tombent sur un dtecteur qui les convertit en impulsions lectriques. Un analyseur
multi-canaux classe les impulsions lectriques dans un nombre fixe de canaux
dnergie quantifis (numriques) et compte le nombre dimpulsions correspondant
chaque canal. la sortie, on obtient un spectre dnergie : des comptes par seconde,
en fonction de lnergie des photons en keV. Les donnes de lanalyseur multi-canaux
passent lordinateur qui corrige les donnes pour diffrents facteurs et calcule la
composition chimique de lchantillon partir du spectre dnergie corrig .
140
Spectre dmission dun tube rayons X de 35 keV muni de filtres
100
Filtre 3
60 Filtre 2
Filtre 1
20
0 5 10 15 20 25 30 35
nergie (keV)
Dtecteur
Amplificateur Impulsion
lectrique
Photon de
basse
nergie
Impulsion
lectrique
Dtecteur
Amplificateur
Photon de haute
nergie
La dtection est un processus statistique. Ainsi, la hauteur des impulsions produites par
des photons de mme nergie fluctue.
Dtecteur Amplificateur
Hauteur dimpulsion
Temps
Intensit (cps)
Le spectre des rayons X : La hauteur des impulsions reflte lnergie des photons X
(keV). Les comptes refltent lintensit du rayonnement. Aux fins de comparaison des
graphiques, on normalise les comptes en intervalle de une seconde, ainsi lordonne
montre les comptes par seconde (cps).
Les deux impulsions dnergie se chevauchent et forment deux bosses plutt que deux
raies clairement spares. Puisque lanalyseur brise le spectre dnergie en une srie
fixe de case (1024, 2048, etc.), il distribuera les deux bosses dans un certain nombre
de cases, plutt que seulement deux. La rsolution dun systme danalyse FRX est
donc limite. Elle dpend galement de lnergie des photons incidents.
4.5 Ordinateur
Lordinateur est une partie intgrante dun analyseur FRX. Il remplit plusieurs fonctions :
la commande du tube rayons X, du dtecteur et de lanalyseur multi-canaux
le calcul du spectre dnergie et des corrections lui appliquer
laffichage des informations relatives la composition chimique de lchantillon
lidentification dun alliage en comparant le spectre dnergie de lchantillon une
bibliothque de spectre
I = N/t = k x Io x C
O :
I = intensit des rayons X (comptes par seconde)
N = compte net (une fois supprims le fond et les chevauchements)
t = temps dobservation (secondes)
k = constante (dpendant de la gomtrie du dtecteur et de lchantillon,
de la section efficace et de la matrice)
Io = Intensit originale des rayons X
C = proportion en masse dun lment dans le mlange
talonnage
Cette opration a pour but dtalonner lchelle des nergies des lments.
Les analyseurs FRX sont talonns en usine
Lutilisateur peut galement talonner lappareil sil reproduit les conditions
dtalonnage en usine
Certains analyseurs sont dots dun talon interne permettant de maintenir ou de
vrifier les valeurs de ltalonnage en usine
- Ltalonnage de toute lchelle dnergie est automatis
- tant donne la stabilit de llectronique et du dtecteur, les valeurs
dtalonnage sont correctes pendant des jours, voire des semaines.
On peut utiliser lchantillon de contrle fournit par le fabricant, pour vrifier la
prcision de ltalonnage ou des rsultats.
5. Sources derreur
Pour tre exacte, une mesure doit tre non biaise et prcise.
Il est facile de confondre prcision, exactitude et biais. La figure ci-dessous aide
comprendre la relation entre ces mots.
1 2 3 4
Non biaise Biaise Biaise Non biaise
Imprcise Imprcise Prcise Prcise
Inexacte Inexacte Inexacte Exacte
Biais
Le biais provient derreurs systmatiques comme une variation de la tension apparue
aprs ltalonnage ou utilisation de mauvaises constantes dtalonnage, ce qui introduit
une erreur systmatique dans chaque mesure. On peut liminer le biais avec un nouvel
talonnage et en suivant avec soin les procdures prescrites pour les mesures.
Prcision
La prcision est une mesure de la cohrence interne dun groupe de mesures (la
proximit mutuelle de chacune des mesures).
Exemple : Sur les cibles, la figure 3 montre des valeurs qui sont prcises
(en accord lune avec lautre), mais qui ne sont pas exactes (elles sont
loignes de la valeur vraie).
Les effets de un trois dcrits plus haut proviennent des aspects alatoires de la
fluorescence X : les atomes de lchantillon sont excits au hasard. Le dtecteur traite
des milliers de comptes par seconde. Or, les mesures sont ordinairement prises
pendant plusieurs secondes. Puisque lon dispose de beaucoup de donnes, on peut
utiliser les statistiques. Ainsi, la prcision saccrot comme la racine carre, N , du
nombre, N, de mesures.
un nombre 4 fois suprieur de mesures donne 4 = 2 fois plus prcis
un nombre 100 fois plus lev de mesures donne 100 = 10 fois plus prcis
un nombre 10 000 fois plus lev de mesures donne 10000 = 100 fois plus
prcis
Application pratique
Dans lacier inoxydable, il peut tre difficile de dtecter de faibles concentrations
de manganse (Mn) et lon pourrait ne pas le dceler dans une observation trop
courte. En revanche, le molybdne (Mo) donne de bons rsultats, mme pour
une observation courte.
Exactitude
Lexactitude est une mesure de la diffrence entre la valeur mesure et la valeur vraie.
Lerreur (E) = valeur mesure (M) valeur vraie (V)
La valeur vraie (V) ne peut jamais tre connue avec une certitude absolue. En situation
relle, la meilleure approximation de la valeur vraie est la moyenne arithmtique (la
prcision N ) dun nombre de mesures, dont les erreurs systmatiques (biais) ont
t supprimes ou rduites une valeur ngligeable.
La prcision des mesures en fluorescence X est influence par des facteurs tels que :
la qualit des talons utiliss lors de ltalonnage,
la procdure dtalonnage,
la dure de la mesure.
Lcart-type (ET ou )
On utilise souvent lcart-type (ET) pour dsigner lerreur alatoire de mesures
rptes. On dsigne la valeur dun cart-type par la lettre sigma (). Les oprateurs
dappareils fluorescence X doivent comprendre cette notion.
Quelque soit le processus, des mesures rptes dune quantit x produiront une
gamme de valeurs observes. Si nous
traons le nombre de fois quune valeur
mesure apparat, lordonne, en
fonction des valeurs mesures (en
Frquences de la valeur mesure M
cart-type (ET)
Il est trs difficile de dtecter des lments dont le numro atomique est infrieur
14 (Z = 14, le silicium, Si).
P. ex. le lithium (Li), le bryllium (Be), le bore (B) et le carbone (C).
Il est difficile de dtecter des lments dont le nombre atomique est infrieur 22
(Z = 22, le titane, Ti), p. ex. le calcium, le soufre, le phosphore, le silicium et
laluminium.
Plusieurs aciers au carbone, alliages daluminium ou de magnsium ne peuvent tre
analyss.
- On ne peut que trier par sries quelques alliages daluminium corroy.
La limite minimale de dtection est de quelques parties par million (ppm).
La fluorescence X est une technique danalyse matrielle de la surface et des
rgions prs de la surface.
Lanalyseur ne peut mesurer que la portion de lchantillon place directement
devant sa fentre.
Lanalyseur mesure tous les matriaux placs devant sa fentre.
La bibliothque fournie avec lappareil : les spectres des lments ou des alliages
communs de Fe, Ni, Co, Ti et Cu;
p. ex. une bibliothque peut contenir des informations sur plusieurs centaines de
nuances dalliage,
lutilisateur peut ajouter, supprimer, renommer ou modifier la bibliothque
dinformation sur les alliages de lappareil.
3 - Affichages
Les analyseurs portatifs peuvent tre munis dun cran sur lequel peuvent apparatre :
les rsultats de lanalyse chimique (concentration de chaque lment) et
lidentification de la nuance,
un graphique du spectre dnergie les CPS de chaque raie de lchantillon,
les infos sur la bibliothque utilise, le mode dutilisation, etc.
4 - Prises externes
Les analyseurs portatifs peuvent tre dots de logiciel et de matriel permettant :
la consignation des donnes le stockage de milliers de mesures sur un support
amovible,
lexportation de donnes de lanalyseur FRX un ordinateur externe; p. ex. dans un
chiffrier,
limportation de donnes dun ordinateur externe lanalyseur FRX; p. ex. des
bibliothques, des facteurs.
La plupart des appareils danalyse fluorescence X sont dots dune gamme de modes
danalyse. Leur nom varie dun fabricant un autre. Ils peuvent dsigner la fonction du
mode (analyse du sol, dalliages, etc.) ou la mthode dtalonnage. Vous trouverez plus
dinformation sur les modes disponibles dans votre manuel dutilisation.
Paramtres fondamentaux
Ltalonnage des paramtres fondamentaux seffectue sans talon. On utilise la
physique connue de la rponse du spectromtre des lments purs pour tablir
ltalonnage de faon thorique. On utilise les algorithmes mathmatiques de lappareil
pour corriger les effets de matrice. Le fabricant effectue ltalonnage des paramtres
fondamentaux, mais loprateur peut tre capable dajuster les courbes de calibration
(pente et ordonne lorigine), partir des rsultats danalyses dchantillons de
contrle.
La mthode des paramtres fondamentaux est bien adapte aux utilisations qui exigent
lanalyse dalliages brevets ou inconnus, pour exercer une surveillance chimique de
substances gares ou pour contrler les compositions chimiques pendant un procd.
La mthode des paramtres fondamentaux est idale pour obtenir la composition
moyenne des tournures, notamment de tournures mlanges. (Tournures : (n.f.),
fragments mtalliques dtachs par loutil dun tour.)
Normalisation Compton
La matrice de lchantillon affecte la diffusion du rayonnement. La diffusion de Compton
(article 8.2) est proportionnelle la teneur en lments lgers de lchantillon et dpend
directement de lintensit du pic de Compton. Ltalonnage par normalisation Compton
consiste analyser un talon unique, bien caractris, de faon enregistrer lintensit
du pic de Compton. Lorsquon utilise lanalyseur, les pics de Compton dans les spectres
Comparaison de spectres
Dans le mode de comparaison de spectres, lanalyseur rapproche le spectre observ
dun chantillon de ceux conservs dans sa mmoire. Le plus ressemblant est affich,
en compagnie dun nombre quantifiant la corrlation entre les deux spectres.
P. ex : acier inoxydable, SS 316, 98 %
On utilise surtout la comparaison des spectres pour lanalyse des alliages. Cette
mthode permet de comparer rapidement (en trois secondes) un chantillon aux
spectres dalliages connus conservs dans lanalyseur. Les analyseurs peuvent tre
dots de bibliothques de spectres installes en usine. En fonction de ses besoins,
loprateur peut galement crer sa bibliothque, en testant des alliages connus et en
conservant leur spectre.
talonnage empirique
La mthode dtalonnage empirique repose sur une srie dtalons permettant de
calculer les paramtres dtalonnage. On mesure la rponse instrumentale des
chantillons talons et lon cre, partir de ceux-ci des courbes dtalonnage. Cette
mthode est efficace, si lon utilise des chantillons talons dont la composition
sapproche de celle de la matrice des chantillons analyss. Les talons devraient
contenir tous les lments intressants et interfrents. Le fabricant pourra mettre en
mmoire les chantillons dtalonnage empirique, dans dautres cas certains analyseurs
permettent leur utilisateur de crer leurs propres courbes dtalonnage. Ltalonnage
empirique peut tre utilis pour tous les types dchantillons, la condition de disposer
de suffisamment dtalons.
Une des principales sources derreurs de la plupart des analyseurs provient des
statistiques de comptage. Allonger la mesure de lchantillon pourrait permettre
datteindre la prcision ncessaire lidentification de plus dlments dans
lchantillon.
Pour prendre une mesure, placez le bec de lanalyseur sur lchantillon et appuyez sur
le dclencheur. Assurez-vous que le senseur de proximit, sur le bec de linstrument,
est actionn, sinon la mesure ne dbutera pas. Un voyant lumineux indique que le tube
produit des rayons X.
Les premiers rsultats apparatront aprs quelques secondes. Les rsultats sont
actualiss, tant que lon appuie sur le dclencheur. Relcher le dclencheur arrte la
mesure. Pendant la mesure, le temps coul est affich sur lcran de lanalyseur et est
continuellement actualis. Allonger le temps consacr la mesure augmentera sa
prcision. Une rgle simple : multiplier par quatre le temps de mesure double la
prcision.
Une fois la mesure complte et les rsultats affichs, vous pouvez commencer une
nouvelle mesure en appuyant sur le dclencheur.
7. Applications de la fluorescence X
Les mesures peuvent tre affectes par la prsence dautres lments dans
lchantillon (matrice).
Les lectures dchantillons non-homognes ne sont reprsentatives que de la
portion analyse.
Soyez conscient de la prsence de vide entre les pices dchantillons ou dun relief
grossier.
Puisque les rayons X traversent les chantillons minces, les rsultats dpendent de
la substance sur laquelle ils sont poss.
- En consquence, tenez compte de la faon dont les tournures de tour ou de
foret, ainsi que les poudres sont supportes.
- Ne placez pas un chantillon mince daluminium sur une table dacier : vous
dtecteriez beaucoup de fer.
Travail sur le terrain : On peut mesurer plusieurs chantillons sur le terrain, ainsi les
donnes seront plus reprsentatives du site. On doit toutefois adopter une stratgie
correcte de caractrisation du site pour obtenir de bons rsultats (p. ex. la mthode
EPA 6200).
Types dchantillonnage
Direct (sur place) : analyse prliminaire sur le terrain, sans prparation dchantillon.
Indirect : chantillons ensachs analyse prliminaire sur le terrain, sans
prparation des chantillons.
Indirect (ex-situ) : prcision analytique obtenue partir dchantillons prpars ayant
t schs, moulus, tamiss et mlangs.
Prospection et exploration
Pour le tri ou la prospection, il suffit de trouver des rgions de concentration accrue :
lanalyse sur place donne les donnes ncessaires au tri,
- lutilisation de facteurs de correction nest pas ncessaire, mais peut amliorer la
prcision.
Il est parfois ncessaire dutiliser des facteurs de correction empiriques dans lanalyse
des minerais.
La matrice des chantillons gologiques peut varier beaucoup. Les chantillons
peuvent contenir des oxydes, des carbonates, des sulfures, etc.
Certains procds industriels peuvent introduire de grandes quantits deau ou
dlments lgers.
Cest le type de matrice, plutt que les concentrations, qui affecte les facteurs de
calibration.
Les facteurs de calibration sont valides pour une vaste gamme de concentrations.
Par exemple, dans des chantillons contenant du zinc et de loxygne, la
concentration de zinc varie de 2 60 %, aIors que celle de loxygne varie de 40
98 %. Pourtant on utilise le mme facteur dtalonnage. Toutefois, si les chantillons
taient composs de zinc et daluminium, on utiliserait probablement un facteur
dtalonnage diffrent.
Facteurs dtalonnage
Consultez la documentation du fabricant
On peut rgler les facteurs dtalonnage pour un seul lment ou une srie
dlments.
Changer les facteurs dtalonnage dun lment naffecte pas la mesure dautres
lments.
On peut mmoriser simultanment plusieurs facteurs de calibration.
En fonction du nombre dchantillons dtalonnage utiliss seulement 10 15
minutes sont ncessaires pour toute la procdure.
Si le type dchantillon ne change pas, on pourra suivre cette procdure une fois. (Il
faut rpter priodiquement les talonnages empiriques.)
En adoptant une ou plusieurs des stratgies suivantes, loprateur devrait obtenir des
donnes de qualit laide de lanalyseur fluorescence X.
8.1 Ionisation
Lionisation est la dissociation dune molcule en une paire dions chargs positivement
et ngativement ou dun atome en un ion positif et des lectrons. Ce mot dsigne
galement la perte dun ou de plusieurs lectrons dun atome neutre. Les rayons X et
gamma sont des rayonnements ionisants, puisquils peuvent ioniser la matire.
Absorption photolectrique
Il sagit de labsorption complte dun photon X, faible nergie. Une partie de lnergie
sert jecter un lectron de sa couche (entre 30 et 50 eV), le reste est transform en
nergie cintique de llectron. En se dplaant, llectron disperse son nergie en
causant dautres ionisations.
Diffusion de Compton
nergie leve, un photon X incident ne perd quune partie de son nergie en
ionisation et en transfrant de lnergie cintique. Un rayon X de moindre nergie est
diffus dans une direction diffrente du trajet initial.
Un seul rayon X de haute nergie peut dclencher une avalanche dlectrons libres et
de rayons X. Par exemple, la direction ou la vitesse de llectron ject peuvent
changer alors quil passe prs dun atome, ce qui cre des rayons X de freinage
(bremsstrahlung). Les lectrons jects, les rayons X de la diffusion de Campton et les
rayons X de bremsstrahlung peuvent jecter dautres lectrons des couches internes
datomes, ce qui provoque lmission de rayons X caractristiques, cause par la chute
des lectrons externes qui tentent de boucher les trous laisss par les lectrons
jects. Ces divers phnomnes se rptent des niveaux dnergie dcroissants,
jusqu ce que les lectrons ou le rayonnement mis naient plus suffisamment
dnergie pour causer dautres ionisations.
Le rntgen : Unit de mesure des rayons X ou gamma dont lnergie est infrieure
3 MeV.
Un rntgen = 2,58 x 10-4 coulomb par kilogramme dair.
Calcul type :
Soit un analyseur FRX dont lintensit une distance de 1 mtre est
de 24 mR/h, quelle sera donc lintensit 2 mtres? Rp.: 6 mR/h
La loi de linverse des carrs ne sapplique pas bien, faible distance, aux sources
tendues ou plusieurs sources, ou des sources de faible nergie enfermes dans
une pice dans laquelle le rayonnement de faible nergie peut se diffuser sur les
murs. Dans ces cas, lintensit ne diminue pas aussi rapidement avec la distance de la
source, comme pourrait le faire penser la loi de linverse du carr de distance.
Dbit de dose : Vitesse laquelle lnergie est absorbe par masse unitaire de
substance expose un rayonnement ionisant (p. ex. gray/h ou rad/h).
Lunit de mesure de lquivalent de dose est le rem (pour Rntgen Equivalent Man).
Cette unit de dose quivalente est gale la dose en rads fois le facteur de qualit :
rem = rad x facteur de qualit. Pour les rayons X, 1 rem ~ 1 rad, pour les tissus mous.
En 1990, la Commission internationale de protection radiologique (CIPR) a propos de
remplacer lexpression quivalent de dose par dose quivalente .
Dose quivalente : Le produit de la dose multipli par un facteur de qualit exprim en
sieverts.
1 sievert (Sv) = 100 rems
Limites de dose professionnelle annuelle pour les adultes et les travailleurs sous rayonnement :
Dose au corps entier : 2 rems, 20 mSv
quivalent de dose superficielle pour la peau, les extrmits ou les organes 50 rems, 500 mSv
quivalent de dose pour lil 15 rems, 150 mSv
Pour une travailleuse enceinte (pendant la gestation) 200 mrems, 2 mSv
Ces limites de dose nincluent ni lexposition des fins mdicales ou le rayonnement naturel.
En gnral, pour une mme dose, plus le corps est expos, plus les effets biologiques
seront importants. Les extrmits sont moins sensibles que les organes internes. Cest
pourquoi la limite de dose annuelle aux extrmits (50 rems ou 500 mSv) est 25 fois
suprieure celle pour le corps entier (2 rems ou 20 mSv).
Les humains habitent depuis toujours un monde radioactif. Leur milieu les expose
continuellement des sources de rayonnement, naturelles ou artificielles. En moyenne
un nord-amricain reoit 365 millirems (mrems) de rayonnement par anne.
Dose aigu
Une dose de rayonnement est aigu sil sagit dune dose importante reue pendant une
courte priode de temps et provoquant des ractions physiques rsultant de dommages
importants aux cellules (effets aigus). Puisque le corps ne peut remplacer ou rparer les
cellules assez rapidement pour remdier rapidement aux dommages, la personne
affecte pourrait tre malade trs longtemps. Les doses aigus de rayonnement
peuvent provoquer une baisse du compte des cellules sanguines et la perte des
Dose chronique
On appelle dose chronique, labsorption continuelle de petites quantits de
rayonnement pendant une longue priode de temps, par exemple la dose de
rayonnement que nous recevons quotidiennement des sources naturelles.
Le corps tolre les doses chroniques mieux que les doses aigus, pour les raisons
suivantes :
Un nombre limit de cellules doivent tre rpares pendant une priode donne.
Le corps dispose de plus de temps pour remplacer les cellules mortes ou non
fonctionnelles par de nouvelles.
Les doses chroniques ne provoquent pas les changements physiques radicaux
observs avec les doses aigus.
Effets gntiques
Les effets gntiques proviennent des changements dans les chromosomes ou de
lexposition directe du ftus au rayonnement. Les effets peuvent tre somatiques
(cancer, tumeurs, etc.) ou hrditaires (transmis aux descendants).
Effets gntiques
Les descendants de la personne expose souffrent de ces effets.
Lendommagement du matriel gntique naffecte pas la personne ayant subi
lirradiation, mais il est pass aux descendants. ce jour, seuls les plantes et les
animaux ont dmontr des preuves deffets gntiques produits par le rayonnement.
Puisque lon ne peut dtecter le rayonnement avec nos sens, il faut utiliser des
dispositifs spciaux pour dtecter et enregistrer lexposition. La loi impose aux
travailleurs sous rayonnement, ainsi quau personnel utilisant des appareils rayons X
(les oprateurs danalyseurs FRX) le port de ces dispositifs de contrle et
denregistrement. On appelle habituellement ces appareils dosimtres et leur utilisation
pour le contrle est la dosimtrie.
Dune part, les limites de dose et les niveaux de contrle administratifs tentent de
garantir une trs faible exposition au rayonnement, dautre part, le but du programme
ALARA est de rduire les doses reues de rayonnement ionisant au niveau le plus bas
que lon peut raisonnablement atteindre, (as low as reasonably achievable : ALARA).
Le programme ALARA est conu pour viter les expositions inutiles des employs et du
public au rayonnement, et pour protger lenvironnement. Tous les travailleurs,
gestionnaires et personnel de sret doivent sassurer que les doses de rayonnement
sont les plus basses que lon puisse raisonnablement atteindre.
Le temps
En rduisant le temps dexposition au rayonnement ionisant, on diminue la dose
absorbe. Rduisez la dose en limitant le temps pass dans une zone radioactive. On
peut crire leffet du temps sur le rayonnement reu comme : dose = dbit de dose x
temps
Distance
Plus grande sera la distance depuis une source de rayonnement, moins intense sera la
dose que lon recevra. Rduisez la dose en vous loignant le plus possible de la source
de rayonnement. La loi de linverse du carr de la distance, permet de comprendre
leffet de la distance.
Dans les cas les plus simples, on peut effectuer un calcul approximatif rapide si lon se
souvient que :
a) doubler la distance depuis la source rduit la dose et le dbit de dose de 1/4
b) tripler cette distance rduit la dose et le dbit de dose de 1/9
Exemple de calcul :
Si le dbit de dose dune source place 3 mtres est de 2 mrems/h,
quel serait le dbit de dose 1 mtre?
Rponse : 9 x 2 mrems = 18 mrems/h
Le blindage
On peut rduire la dose absorbe en plaant des matriaux entre la personne expose
et la source du rayonnement ionisant. Vous pourrez rduire la dose en disposant des
matriaux de blindage denses autour dune source de rayonnement. On considre que
le blindage est la mthode la plus efficace de rduction de lexposition au rayonnement.
On utilise plusieurs instruments pour dtecter et mesurer les doses et les dbits de
dose. On se rappellera que la dose est une mesure de lnergie dpose par unit de
masse par le rayonnement ionisant. Le principe fondamental du fonctionnement de ces
appareils est lionisation.
Chambres dionisation
Les chambres dionisation sont les dtecteurs de rayonnement les plus simples. Elles
sont formes dune enceinte cylindrique scelle contenant de lair et dun fil isol la
traversant au centre, dun bout lautre. On applique une tension lectrique entre le fil
et la paroi externe de lenceinte. En traversant cette chambre, le rayonnement cre des
paires dions qui modifient la charge lectrique du fil. Cette charge est la base de la
mesure de lexposition au rayonnement. Lefficacit de cet appareil nest que de 30
40 %, puisquun rayon peut le traverser sans crer suffisamment de paires dions pour
produire une mesure correcte. La plupart des radiamtres utilisent des chambres
dionisation.
Tubes de Geiger-Mueller
Les tubes de Geiger-Mueller ressemblent beaucoup aux chambres dionisation, mais
sont beaucoup plus sensibles. La tension de sa charge lectrostatique est si leve que
mme un tout petit nombre de paires dions causera une dcharge. Ainsi, un tube de
Geiger-Mueller peut dtecter et mesurer de trs faibles quantits de rayonnement bta
ou gamma. Toutefois, ces tubes ont tendance se saturer dans des champs de
rayonnement trs intenses.
Dosimtres de poche
Les dosimtres de poche sont des versions miniatures et spcialises des chambres
dionisation. Ce sont essentiellement de petits lectroscopes fibre de quartz. La
chambre reoit une charge dlectricit statique quelle accumule comme un
condensateur. Le nombre de paires dions cres dans la chambre par le passage du
rayonnement dpend de lintensit de celui-ci, la rduction de la charge lectrique
correspondante se traduit par le mouvement de lindicateur en fibre de quartz devant
Votre agent de radioprotection doit dterminer lappareil de dosimtrie que vous devrez
porter tel que spcifi par les organismes rglementaires, et en faire lacquisition.
10.3 Radiamtres
On utilise habituellement les radiamtres pour contrler une zone o lon trouve un
rayonnement ionisant.
Le radiamtre utilis avec un analyseur FRX doit tre sensible des photons dont
lnergie est tellement basse environ 5 keV.
Rsultats types du contrle dun analyseur FRX laide dun radiamtre (mR/h)
Analyseur chantillon En En En contact En 1 mtre
prsent contact contact avec le contact du
avec les avec le dclencheur avec le faisceau
cts sommet faisceau
1 Oui 10 10 - 5
Non 5 5 - 450 20
2 Oui 0,1 0,1 0,1
Non 0,1 0,1 0,1 28 000 24
3 Non 0,1 0,3 0,12 2 000 3
Les dbits de dose les plus levs sont observs la sortie du faisceau de lanalyseur
FRX. On doit viter dexposer les mains ou dautres parties du corps la trajectoire du
faisceau. Loprateur doit connatre les caractristiques de sret et les procdures de
fonctionnement recommandes par le fabricant de lanalyseur FRX quil utilisera.
Conu pour viter que loprateur soit expos au rayonnement, lanalyseur FRX peut
comporter les lments suivants :
- blindage interne
- collimateur de faisceau
- obturateur sur louverture
- commutateur verrou de lalimentation primaire
- commutateur dinterruption dalimentation
- capteur dapproche (dtecte lchantillon)
- tmoin lumineux : marche, rayons X mis, chantillon prsent
- commutateur de protection (sactive sur pression de lanalyseur contre lchantillon)
- verrou dalarme (oprateur) commutateur de scurit qui doit tre tir pour gnrer
des rayons X
Note : Les exigences assouplies mentionnes ci-dessus remplacent celles qui taient
stipules dans la version de juin 2004 du Livret. Auparavant, les oprateurs
danalyseurs fluorescence X devaient protger les personnes dans lespace
immdiate des analyseurs en tablissant une zone accs restreint dun rayon de 1,5
mtre (5 pieds) autour de lanalyseur. Il fallait aussi afficher des panneaux de mise en
garde contre le rayonnement dans cette zone accs restreint.
Lorsque cela est possible, le faisceau de rayonnement utile ne doit pas tre dirig vers
des espaces occups. Loprateur FRX doit accomplir ses tches dans le respect du
principe ALARA (temps, distance et blindage) :
- rduire au minimum le temps dexposition des personnes;
- maximiser la distance entre les personnes et la source de rayonnement;
- blinder les personnes contre le rayonnement.
Petits chantillons
Les chantillons de petite taille qui ne couvrent pas entirement la fentre prsentent
des risques potentiels parce que le rayonnement primaire peut ne pas tre attnu par
lchantillon. Pour liminer ce risque, certains analyseurs FRX sont dots dun
couvercle de protection ou dun socle conu pour contenir entirement les chantillons
de petite taille.
Lagent de radioprotection doit sassurer de garder en toute sret (sous verrou et sous
cl) les analyseurs FRX dont il a la responsabilit.
Lorsque lanalyseur nest pas utilis, il faut le garder dans son contenant
dexpdition et le ranger dans un vhicule verrouill ou dans une zone scurise.
Ne pas ranger la cl avec lanalyseur.
Tenir jour des registres afin dassurer le suivi de tous les analyseurs FRX et
inscrire le nom des oprateurs qui les utilisent et leur lieu dutilisation.
Situations durgence
Accident
La premire tape consiste teindre lanalyseur et :
enlever les piles;
fermer les autres sources dalimentation (p. ex. dbrancher
lalimentation).
12.1 LDER : Loi sur les dispositifs mettant des radiations de 1985
La LDER (Loi sur les dispositifs mettant des radiations) rgit la vente et limportation
de certains dispositifs mettant des radiations.
Article 4. Interdictions
Il est interdit de vendre, de louer ou d'importer un dispositif mettant des radiations qui,
selon le cas :
Article 5. Fraude
Le ministre peut dsigner toute personne qu'il estime qualifie pour remplir les fonctions
d'inspecteur dans le cadre de la prsente loi.
L'inspecteur peut, toute heure convenable, procder, sous rserve du paragraphe (2),
la visite des locaux (sauf sil sagit dune maison dhabitation) d'un fabricant,
distributeur ou importateur o se trouve, son avis, un dispositif mettant des
radiations ou la visite de tout autre lieu o se trouve, son avis, un dispositif mettant
des radiations appartenant un fabricant, un distributeur ou un importateur. Il peut en
outre :
b) ouvrir et examiner tout emballage qui contient, son avis, un dispositif mettant des
radiations et le saisir pour examen complmentaire;
La rtention des dispositifs saisis sous l'autorit des alinas a) ou b) prend fin
l'expiration d'un dlai de quatre-vingt-dix (90) jours compter de leur saisie sauf si,
auparavant, des poursuites ont t intentes aux termes de la prsente loi, auquel cas
les dispositifs peuvent tre retenus jusqu' l'issue dfinitive des poursuites.
Article 9. Entrave
Il est interdit d'entraver l'action de l'inspecteur dans l'exercice de ses fonctions ou de lui
faire en connaissance de cause, oralement ou par crit, une dclaration fausse ou
trompeuse.
Interprtations
1. Dfinitions
dispositif de limitation du faisceau Dispositif qui limite les dimensions du faisceau de
rayonnement.
Normes de fonctionnement
Remarque :
Avant-propos
Le Code de scurit 34 est publi par Sant Canada, en vertu de la Directive sur les
substances hasardeuses du Conseil du Trsor, afin de promouvoir la
radioprotection et la scurit sur les lieux de travail du gouvernement fdral. Les
installations assujetties au Code canadien du travail Partie II, dispositions lgislatives
sur la sant et la scurit au travail, doivent tre conformes aux exigences du Code de
scurit. Le code sinspire des objectifs, notions et recommandations des organismes
suivants :
a) la Commission internationale de protection radiologique (CIPR);
b) lAgence internationale de lnergie atomique (AIEA).
Avant lacquisition dun analyseur FRX, le RSO doit recevoir une confirmation crite de
la part du fabricant de lappareil ou de lagent de commercialisation autoris leffet que
le produit est conforme la LDER.
FRX MOD
Ltalonnage doit tre effectu lnergie du photon gnre par lappareil
rayons X qui sera utilis. La frquence de ltalonnage est une fois par anne, ou
aprs que linstrument a t entretenu ou rpar. Les registres des talonnages
des radiamtres seront conservs linstallation.
Un oprateur FRX accrdit MOD est une personne qui rpond aux exigences du
paragraphe 2.2.1.12. du Code de scurit. Cette personne doit effectuer le travail FRX
demand, conformment aux instructions reues et aux procdures d'opration et de
scurit, afin d'assurer sa protection et celle des autres personnes. Il est donc essentiel
qu'il suive la lettre les instructions, procdures et prcautions en matire de scurit,
contenues dans le manuel d'utilisation de l'appareil rayons X industriel qu'elle utilisera.
Cette personne devra adopter une attitude scuritaire gnrale lorsqu'elle effectuera
des travaux danalyse FRX et, dans ce cadre, elle prtera attention au verrouillage de
scurit, aux alarmes, aux voyants et aux indications. Un oprateur FRX accrdit
devra :
4. s'assurer qu'il n'a pas dpass la limite annuelle de dose professionnelle (voir le
Tableau 1 de l'Annexe II de ce Code de scurit), avant d'entreprendre un travail
de radiographie industrielle cette installation;
11. suivre toutes les rgles de protection et de scurit, notamment les procdures
tablies pour le travail en cours dans l'installation;
14. tre vigilant et, chaque mois ou un intervalle plus rapproch, vrifier si les
notices et les avertissements sur la console de commande de lanalyseur FRX
portatif et sur le botier de la source de rayonnement sont bien lisibles;
16. au besoin, lorsqu'un travail danalyse FRX doit tre effectu chez un client
l'extrieur de l'installation pour laquelle le radiographe industriel dtient une
accrditation, donner au client une sance d'information tel que le prescrit
l'article 2.5 du prsent code.
Les fabricants doivent s'assurer que leurs produits sont conformes la Loi sur les
dispositifs mettant des radiations [9] avant de les importer, de les livrer ou de les
vendre au Canada. Il est illgal d'importer, louer ou de vendre des appareils rayons X
industriels qui ne sont pas conformes la Loi sur les dispositifs mettant des radiations.
Toute violation de cette Loi constitue un acte criminel.
Avant que le travail danalyse FRX puisse dbuter dans les installations d'un client,
celui-ci devra tre inform par loprateur FRX accrdit, engag pour raliser ce travail
ou autoris le faire de la nature de la radiographie industrielle, des risques et dangers
potentiels associs, des procdures de scurit qui devront tre suivies pour raliser le
travail, des rglements pertinents et des preuves qu'il est personnellement accrdit
comme oprateur FRX.
Le client devra reconnatre que les conditions du contrat ne doivent pas empcher
l'organisme ou les personnes d'effectuer le travail radiographique en scurit; en
d'autres termes, en analyse FRX les exigences rglementaires et scuritaires sont
prioritaires.
Le client doit s'assurer que les activits danalyse FRX sont effectues de faon
scuritaire, afin de minimiser le risque d'exposition au rayonnement ionisant encouru
par les operateurs FRX et les autres personnes sur les lieux de travail. Le client doit
indiquer un officier de sret pour s'assurer que toutes les procdures de sret sont
adhres aux lieux de travail.
Conformment au Code canadien du travail Partie II, Rglement canadien sur la sant
et la scurit au travail, Partie X, Section 10.26, tous les ministres et organismes
fdraux doivent enregistrer lquipement danalyse rayons X auprs de lautorit
rglementaire, Sant Canada.
Voici les exigences minimales relativement aux travaux danalyse FRX sur un site de
travail temporaire :
1. Une zone contrle doit tre tablie afin dempcher que le personnel non autoris
entre lintrieur dun rayon denviron 1 mtre autour de loprateur pendant quil
effectue des mesures au moyen de la fluorescence X.
Lvaluation sur place a pour but de veiller la conformit avec les exigences
rglementaires fdrales. En ce qui concerne la fluorescence X, une valuation sur
place peut tre effectue en tout temps par lorganisme de rglementation; des
quivalents peuvent tre permis si un consentement pralable a t obtenu de
lorganisme de rglementation. Ces valuations devraient confirmer que :
(ii) les installations permanentes ont t construites correctement;
(iii) les panneaux de mise en garde sont appropris et sont affichs
correctement;
(v) l'extrieur des installations permanentes, l'intensit du rayonnement
rsiduel est en de des limites ce qui garantit que personne n'est soumis
des risques inacceptables;
(vii) les utilisateurs FRX ont t forms la vrification du fonctionnement
correct des composantes de scurit utilises avec l'appareil produisant
des rayonnements ionisants, l'installation permanente ou au site
temporaire de travail;
(viii) les mesures de surveillance et de suivi du personnel sont conformes aux
exigences formules aux alinas 2.2.1.16, 2.2.1.20 2.2.1.23 et aux
paragraphes 2.3.6 2.3.8 du prsent Code de scurit.
ANNEXE II
Les limites de dose recommandes pour le rayonnement ionisant sont indiques aux
tableaux 1, 2 et 3 du Code de scurit 34; elles doivent tre consultes aussi souvent
que ncessaire.
Responsabilits du client
Accident
___________________________________________________________________________ __________________________
VILLE PROVINCE CODE POSTAL N denregistrement:
MODE DE PAIEMENT: Chque Mandat (Libellez chques et mandats lordre du Receveur gnral du Canada.)
Carte de crdit: Personnelle dEntreprise MasterCard Visa AMEX
Employeur _________________________________________________________________________
Adresse _________________________________________________________________________
_________________________________________________________________________
Ville province code postal
Tlphone ________________________________ Tlcopieur ___________________________
Date ______/____/____
AAAA/MM/JJ
Si vous tes sans emploi, veuillez sil vous plat faire siger et attester vos photographies par lune des personnes suivante :
Comptable ; Chef de bande des Premires nations ; Employ dun centre de Ressources naturelles Canada qui agit titre officiel ; Entrepreneur de
pompes funbres ; Juge de paix, Avocat, Notaire, Magistrat ; Directeur dun tablissement financier ; Professionnel de la sant : Chiropraticien,
dentiste, mdecin, ophtalmologiste, optomtriste, pharmacien, psychologue, infirmier autorise et infirmier praticien ; Membre du Parlement ou son
personnel ; Membre dune assemble lgislative provinciale ou son personnel ;Ministre de culte ; Greffier municipal ; Employ dun ministre
fdral ou provincial ou de lune de ses agences ; Reprsentant dune ambassade, dun consulat ou dun haut commissariat ; Reprsentant dun
pays avec lequel le Canada a conclu un accord de rciprocit en matire de scurit sociale ; Policier ; Matre de poste ; Ingnieur ; Travailleur
social ; Enseignant.
______ heures (minimum 3 heures) de formation en classe sur la thorie de lanalyse par
fluorescence X et sur la radioprotection, conformment au Programme de formation de Ressources
Naturelles Canada pour les oprateurs danalyseurs fluorescence X portatifs, tel que dcrit dans le
Livret de prparation lexamen.
______ heures (minimum 2 heures) de dmonstration et dexercices portant sur la prise de mesures
exactes avec un ou des analyseurs fluorescence X.
Formateur : _____________________________________
(Nom en majuscules)
Les formateurs et les signataires doivent obtenir lapprobation de RNCan et figurer sur
une liste active de membres du personnel tenue par RNCan.
Signature : _____________________________________
Matricule : _______________
Tlphone: _____________________________
Date : ______/____/____
aaaa/mm/jj
Livret de renseignements sur la certification et la prparation relatives aux valuations de RNCan Oprateur
danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010
Trois valuations de la vision peuvent tre exiges : la vision de prs, la vision de distance (pour la mthode
contrle visuel seulement) et la vision des couleurs (pour la certification initiale seulement). Ce formulaire doit
tre rempli et retourn l'Organisme de certification en END en s'inscrivant un examen dans n'importe quelle
mthode en END, au renouvellement de la certification ou la r-certification.
La vision de prs et la vision de distance remplir par une personne reconnue du domaine mdical
(ophtalmologiste, optomtriste, mdecin, infirmire, etc.)
Vision de prs: doit permettre la lecture de La vision distance: (requis seulement pour
caractres Times Roman N4,5 (Jaeger numro 2) ou la mthode contrle visuel) doit tre gale
lquivalente une distance d'au moins 30 cm, avec au moins la fraction 20/30 de Snellen avec un
un il ou les deux yeux, avec ou sans correction. il ou les deux yeux, avec ou sans correction.
JE CONFIRME QUE LE CANDIDAT SATISFAIT A CES JE CONFIRME QUE LE CANDIDAT SATISFAIT
EXIGENCES: A CES EXIGENCES:
(Veuillez cocher ) (Veuillez cocher )
Sans verres correcteurs Sans verres correcteurs
Avec verres correcteurs Avec verres correcteurs
Ne satisfait pas ces exigences Ne satisfait pas ces exigences
____________________________________ __________________________________________
Nom de lexaminateur (en lettres moules) Signature de lexaminateur
____________________________________ ____________/__________/___________________
Titre/Fonction Date de lexamen (aaaa/mm/jj)
La vision des couleurs (requis seulement pour la certification initiale et non pour le renouvellement ou la
recertification) - remplir par une personne reconnue du domaine mdical ou lemployeur ou personnel
certifis au niveau 3 en END.
NOTE: Un candidat qui passe un essai d'Ishihara (court ou longue) est acceptable. Comme alternative ou en cas d'chec d'un
essai d'Ishihara, l'employeur ou personnel certifis au niveau 3 en END peut grer un essai de performance afin de
confirmer si le candidat peut voir les indications de fautes qui sont typiques de la mthode. Exemple : En le ressuage,
confirmez que le candidat peut voir des indications rouges sur un fond blanc et des indications fluorescent-vertes sur une
varit de fonds.
JE CONFIRME QUE LE CANDIDAT PEUT DISTINGUER LE CONTRASTE ENTRE LES COLEURS UTILIEES DANS LES
METHODES EN END CONCERNEES COMME SPECIFIE PAR LEMPLOYEUR (OU REUSSI A LESSAI DISHIHARA).
____________________________________ __________________________________________
Nom de lexaminateur (en lettres moules) Signature de lexaminateur
____________________________________ ______________/________________/__________
Titre/Fonction Date de lexamen (aaaa/mm/jj)
Livret de renseignements sur la certification et la prparation relatives aux valuations de RNCan Oprateur
danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010
NOTE : CERTAINS RGIMES DE SANT PROVINCIAUX NE COUVRENT PAS LES
FRAIS D'EXAMEN DE LA VUE
Le non-respect du prsent Code de conduite sera rgi par les modalits de gestion des plaintes/appels qui pourraient
ncessiter des mesures correctives, par exemple la rsiliation du processus de certification, la suspension ou le retrait de la
certification, la publication de linfraction, la notification du ou des employeurs, du ou des syndicats et des organismes de
rglementation appropris et, le cas chant, toute mesure supplmentaire prvue par la loi.
Je reconnais le droit de RNCan de suspendre ou de retirer toute certification qui mest accorde par
RNCan et(ou) de mettre fin au processus de certification.
Je reconnais le droit de RNCan dinformer mon ou mes employeurs, syndicats et les organismes de
rglementation appropris et de publier les dtails de linfraction.
_____________________________________________
Nom (En lettres moules)
_____________________________________________ ___________/______________/____________
Signature Date (aaaa/mm/jj)
Livret de renseignements sur la certification et la prparation relatives aux valuations de RNCan Oprateur
danalyseurs portatifs fluorescence X
Version 3 - Rvis 17 Dcembre 2010