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NANOTECNOLOGIA
Antecedentes de la
Nanociencia
En una conferencia impartida en 1959
por uno de los grandes fsicos del siglo
pasado, el maravilloso terico y
divulgador Richard Feynman, ya predijo
que "haba un montn de espacio al
fondo" (el ttulo original de la
conferencia fue Theres plenty of room
at the bottom) y auguraba una gran
cantidad de nuevos descubrimientos si
se pudiera fabricar materiales de
dimensiones atmicas o moleculares.
Antecedentes de la
Nanociencia
Hubo que esperar varios aos para que
el avance en las tcnicas
experimentales, en los aos 80
culminaran con la aparicin de la
Microscopa Tnel de Barrido (STM) o
de Fuerza Atmica (AFM), que hiciera
posible primero observar los materiales
a escala atmica y, despus, manipular
tomos individuales.
Antecedentes de la
Nanociencia
Hubo que esperar varios aos para que
el avance en las tcnicas
experimentales, en los aos 80
culminaran con la aparicin de la
Microscopa Tnel de Barrido (STM) o
de Fuerza Atmica (AFM), que hiciera
posible primero observar los materiales
a escala atmica y, despus, manipular
tomos individuales.
Antecedentes de la
Nanociencia
Los fsicos G. Binning y H. Rorher, del
laboratorio de IBM en Zurich, desarrollaron
el microscopio de efecto tnel, un nuevo
concepto de microscopa que permiti
observar por primera vez los tomos
individualizados. En 1985, los mismos
investigadores desarrollan el microscopio de
fuerza atmica. Microscopios capaz de
"ver" tomos. incrementando las
capacidades y tipos de materiales que
podan ser investigados
Definiciones
Nanociencia: se le puede definir como la
ciencia que manipula en forma individual
tomos y molculas para crear
maquinarias de tamao molecular, que
usualmente se mide en nanmetros. La
Nanociencia se ha convertido en un
importante campo cientfico con entidad
propia. Una es la disponibilidad de nuevos
instrumentos capaces de "ver" y "tocar" a
esta escala dimensional.
"nano" es una dimensin: 10 elevado a -9.
Esto es: 1 nanometro = 0,000000001
metros.
Definiciones
Nanotecnologa: se asocia, por una
parte, a la "fabricacin molecular" cuya
viabilidad tendra un impacto enorme
en nuestras vidas, en las economas, los
pases y en la sociedad en general en
un futuro no lejano. Por tanto, es la
tecnologa que nos permite fabricar
cosas a escala nanomtrica (se abrevia
nm.).
Nanopartculas
Nanopartculas: estas unidades son
ms grandes que los tomos y las
molculas. No obedecen a la qumica
cuntica, ni a las leyes de la fsica
clsica, poseyendo caractersticas
propias
Fundamentos
As como las
computadoras
'rompen' la
informacin a su
ms bsica forma, es
decir, 1 y 0, la
nanotecnologa juega
con la materia en
sus ms elementales
formas: tomos y
molculas.
Fundamentos
La nanotecnologa nos permite
manipular estos tomos y
molculas, hacindo posible la
fabricacin, reproduccin y
distribucin de cualquier sustancia
conocida por el hombre
Microscopa de Efecto
Tnel
El microscopio de efecto tnel dispone de una
punta tan afilada que su extremo est
compuesto por un solo tomo. Por ella fluye
una dbil corriente elctrica. Esta punta se
aproxima al material que se va a estudiar
hasta situarse a menos de un nanmetro
(millonsima de metro) de distancia,
manteniendo con la muestra una diferencia de
potencial de 1 voltio. Mientras va recorriendo
la superficie, la punta se mueve hacia arriba o
hacia abajo, reproduciendo la topografa
atmica de la muestra.
Microscopio de Efecto Tnel
Este sistema basa su funcionamiento en
un efecto cuntico, denominado efecto
tnel, que se da en distancias menores
a la milmillonsima parte de un metro
(10-9m = 1 nm, un nanmetro). El
control de este tipo de fenmeno es lo
que nos permite hacer topografa de
superficies a nivel atmico.
Qu es el Efecto Tnel?
Desde el punto de vista de la mecnica clsica
un electrn no puede superar una barrera de
potencial superior a su energa.
Sin embargo, segn la mecnica cuntica, los
electrones no estn definidos por una posicin
precisa, sino por una nube de probabilidad.
Esto provoca que en ciertos sistemas esta nube
de probabilidad se extienda hasta el otro lado
de una barrera de potencial. Por tanto el
electrn puede atravesar la barrera, y
contribuir a generar una intensidad elctrica.
Qu es el Efecto Tnel?
Esta intensidad se denomina intensidad de
tnel y es el parmetro de control que nos
permite realizar la topografa de superficie.
Este efecto cuntico aparece tambin en
otras ramas de la fsica. Gamow lo aplic para
dar explicacin a la desintegracin mediante
emisin de partculas alfa en ncleos
inestables. En electrnica, hay transistores
que basan parte de su funcionamiento en el
efecto tnel.
Funcionamiento de un
microscopio de efecto tnel
En una instalacin cuyo fin es tomar medidas
en escala atmica es necesario que el
elemento que se usa como sonda de medida
tenga una resolucin de esa misma escala.
En un microscopio de efecto tnel la sonda es
una punta conductora, por ejemplo, de
Wolframio. La punta se trata para eliminar los
xidos y para que sea lo ms afilada posible.
En condiciones ideales hay un solo tomo en
el extremo de la sonda.
Funcionamiento de un
microscopio de efecto tnel
La instalacin consiste en un circuito elctrico
en el que estn incluidos la muestra y la
punta de medida. Como se ha apuntado
anteriormente, el parmetro de medida es la
intensidad de corriente tnel. Esta intensidad
apenas alcanza los nanoamperios y, adems,
es muy sensible tanto a la distancia, como a
la diferencia de tensin entre la punta y la
muestra. Debido a esta sensibilidad todo el
sistema debe estar controlado
electrnicamente.
Funcionamiento de un
microscopio de efecto tnel
As, la toma de medidas y los
movimientos de la punta (realizados
mediante un dispositivo piezoelctrico
con precisiones que pueden llegar a los
0.05nm) son controlados por el usuario,
a travs de las interfases
correspondientes, por ejemplo:
mediante un PC de sobremesa.
Microscopa de Fuerza
Atmica
El microscopio de fuerza atmica (AFM) es muy
similar al de efecto tnel; pero, en lugar de
utilizar la diferencia de potencial, est en
contacto directo con la muestra y detecta los
efectos de las fuerzas atmicas. Su resolucin
es parecida a la del anterior, pero tiene la
ventaja de poder ser utilizado para observar
muestras no conductoras, como las biolgicas.
Modulando el voltaje que llega a la punta, estos
microscopios pueden no solo ver tomos, sino
moverlos, colocarlos y manipularlos.
Microscopio de Fuerza
Atmica
El Microscopio de fuerza atmica (AFM,
de sus siglas en ingls) es un instrumento
mecano-ptico capaz de detectar fuerzas del
orden de los piconewton. Al rastrear una
muestra, es capaz de registrar continuamente
su topografa mediante una sonda o punta
afilada de forma piramidal o cnica. La sonda
va acoplada a un listn o palanca
microscpica muy flexible de slo unos 200
m de longitud.
Microscopio de Fuerza
Atmica.- Micropalanca
Microscopio de Fuerza
Atmica.- Micropalanca
Las micropalancas se producen empleando
mtodos de microfabricacin heredados
inicialmente de la industria microelectrnica
como litografa de superficie y grabados
reactivos de plasma de iones (RIE y DRIE
siglas en ingls de Reactive Ion Etching y
Deep Reactive Ion Etching).
Microscopio de Fuerza
Atmica.- Micropalanca
Las puntas suelen fabricarse a partir de deposiciones
de vapor de algn material idneo sobre la palanca
ya fabricada, en cuyo caso el resultado suele ser una
punta cnica o ms comnmente cuando el silicio es
el material de eleccin recurriendo a tcnicas de
grabado anisotrpico. El grabado anisotrpico
involucra el uso de una solucin grabadora que
excava el material slo o preferentemente en ciertas
direcciones cristalogrficas. De esta manera es
posible producir puntas piramidales limitadas por
planos cristalogrficos del material.
Micropalanca.- Medidas
El microscopio de AFM puede realizar dos tipos
de medidas: imagen y fuerza. En el modo de
imagen la superficie es barrida en el plano de la
superficie (X-Y) por la punta. Durante el barrido
la fuerza interatmica entre los tomos de la
punta y los tomos en la superficie muestral
provoca una flexin del listn. Esta flexin es
registrada por un sensor adecuado (normalmente
balanza ptica) y la seal obtenida se introduce
en un circuito o lazo de realimentacin.
Micropalanca.- Modos de
operacin
Micropalanca.- Modos de
operacin
Dentro de las medidas de imagen puede distinguirse
dos categoras de modos de operacin: modo de
contacto y modos dinmicos o de vibracin.
En el modo de contacto (figura a.) se mantiene una
fuerza constante sobre la muestra, mientras en los
modos dinmicos se hace vibrar el listn a su
frecuencia de resonancia valindose para ello del
actuador piezoelctrico. En estos ltimos la interaccin
punta-superfcie modifica la amplitud, frequencia y fase
de la resonancia , mientras el lazo de realimentacin
mantiene constante alguna de estas tres propiedades.
Qu propiedad sea sta es el criterio que determina el
modo concreto de operacin.
Micropalanca.- Modos de
operacin
Se pueden distinguir principalmente dos
modos dinmicos. A saber, modo de no
contacto o de frecuencia modulada (FM-AFM)
(figura b.) y modo de repiqueteo (del ingls
"tapping mode") o de amplitud modulada
(AM-AFM) (figura c.). En FM-AFM el lazo de
realimentacin mantiene constante el valor
de la frecuencia de resonancia, mientras que
en AM-AFM es la amplitud de sta.
Micropalanca.- Precisin
El desgaste medioambiental es un
serio problema en todo el mundo.
Nuevos productos tecnolgicos
permitiran que las personas
viviesen con un impacto
medioambiental mucho menor.
Beneficios de la Nanotecnologa
La nanotecnologa molecular podra
fabricar equipos baratos y
avanzados para la investigacin
mdica y la sanidad, haciendo
mucho mayor la disponibilidad de
medicinas ms avanzados.
Beneficios de la Nanotecnologa