Ludomir J.

JANKOWSKI Wszelkie prawa zastrzeone

ZASTOSOWANIE INTERFEROMETRII I FOTOGRAFII

PLAMKOWEJ W BADANIACH CIA STAYCH
1. ZJAWISKO PLAMKOWANIA
Owietleniu optycznie niegadkiej powierzchni wizk wiata koherentnego
(spjnego) towarzyszy powstanie struktury, losowo usytuowanych w przestrzeni,
jasnych i ciemnych plamek, ktre s rezultatem interferencji odbitych promieni wizki
owietlajcej (rys. 1).

wizka
wiata
spjnego

powierzchnia
x dyfuzyjna
obraz struktury plamkowej
Rys. 1. Schemat powstawania zjawiska plamkowania i obraz struktury plamkowej

Zjawisko to nieodcznie zwizane ze stosowaniem wiata laserowego, wystpuje

take w wietle czciowo spjnym, i byo obserwowane m. in. w teleskopach
odbiciowych i podczas bada dyfrakcyjnych maych czstek. Podstawy teoretyczne
tego zjawiska stworzy lord Rayleigh, ktry wykaza, e nakadanie si wielu fal o
jednakowej amplitudzie i losowych fazach generuje niejednorodny rozkad natenia
wiata. Efekt plamkowania jest rezultatem interferencji promieni wizki wiata
laserowego, odbitych od powierzchni obiektu dyfuzyjnego lub przechodzcych przez
orodek transmisyjny o silnych fluktuacjach wspczynnika zaamania wiata. Jest to
moliwe ze wzgldu na korelacj fazow promieni wychodzcych z tego samego
rda. Powstaje w ten sposb obraz plamkowy o probabilistycznych cechach (rozkadu
natenia wiata, kontracie, itd.). Rozkad natenia wiata w obrazie plamkowym
jest opisany funkcj gstoci prawdopodobiestwa pI wystpowania plamki o
nateniu I :
pI exp I I 0
1
I 0 (1)
I0
p I 0 I 0
natomiast faza interferujcych promieni ma rozkad jednostajny w przedziale
:
p
1
(2)
2
Tak wic, najbardziej prawdopodobne jest wystpowanie ciemnych plamek w obrazie
plamkowym. Przebieg funkcji pI pokazano na rys. 2.
 Rys. 2. Przebieg funkcji gstoci rozkadu prawdopodobiestwa pI
rednie natenie obrazu plamkowego jest rwne jeden przy obserwacji bezporedniej,
a take w ukadach optycznych o niezbyt wysokiej rozdzielczoci. Kontrast obrazu
plamkowego jest okrelony przez stosunek redniego odchylenia standardowego I
rozkadu natenia wiata do wartoci redniej I 0 : K I / I 0 . Poniewa dla
ujemnego rozkadu wykadniczego jest I I 0 , to kontrast obrazu plamek
obserwowanych w wietle spjnym jest rwny jednoci. Wielko plamek ma take
probabilistyczny charakter, a rednia rednica (zakada si koowy ksztat) w
paszczynie obrazowej ukadu rejestrujcego wynosi:
1.22 L D 1.22 F (3)
gdzie: L - odlego paszczyzny obrazowej od obiektywu,
D - rednica renicy wejciowej obiektywu,
F - liczba otworowa obiektywu.
Naley podkreli, e wzr (3) dotyczy wielkoci tzw. plamki subiektywnej
(transformowanej przez ukad optyczny), podczas gdy w przestrzeni przed owietlon
powierzchni dyfuzyjn generowane s plamki obiektywne, o wielkoci redniej:
M (4)
gdzie: M - powikszenie optyczne ukadu uytego do obserwacji obrazu plamkowego.

2. INTERFEROMETRIA PLAMKOWA
Pole plamek o strukturze losowej moe uczestniczy w interferencji, bowiem w
obszarze plamki jest zachowana spjno wiata laserowego. Oznacza to, e kada
plamka ma okrelon faz i amplitud. O ile w interferometrii optycznej (klasycznej) i
holograficznej, na skutek interferencji generowane s prki o mniej lub bardziej
regularnym przebiegu, to w interferometrii plamkowej interferencja powoduje zmiany
w rozkadzie natenia wiata obrazw plamkowych. Oglnie, poszczeglne techniki
pomiarowe interferometrii plamkowej polegaj na analizie korelacji zarejestrowanego
pola interferencyjnego (rys. 3).
obraz plamkowy + wizka obraz plamkowy + obraz plamkowy
badanego obiektu odniesienia badanego obiektu odniesienia

pole
interferencyjne

Rys. 3. Podstawowe rodzaje generowania pola interferencyjnego

 W pierwszym przypadku, struktura plamkowa powstaa w wyniku dyfuzji wizki
wiata na niegadkiej powierzchni, interferuje z wizk (wiata spjnego) odniesienia,
o nateniu zblionym do I 0 (tj. redniego natenia wiata w obrazie plamkowym).
Powstay obraz plamkowy ma gsto rozkadu prawdopodobiestwa natenia wiata:

pI 2 I 0 exp 1 2I I 0 J 0 2 2I I 0 (5)

gdzie: J 0 - funkcja Bessela zerowego rzdu.

Zmiana rozkadu natenia wiata jest niewielka, bowiem nadal najbardziej
prawdopodobne jest wystpowanie plamek o nateniu rwnym zeru. Przykadem
interferometru plamkowego z wizk odniesienia, do obserwacji wizualnej obrazw
plamkowych, jest modyfikacja interferometru Michelsona - rys. 4.
wizka odniesienia
przesona

przesona
polaryzator obiektyw pytka klinowa obiektyw
Rys. 4. Interferometr plamkowy do wizualnej obserwacji powierzchni drgajcych
(z wizk odniesienia)

Zasada dziaania takiego interferometru opiera si na zjawisku spadku kontrastu

plamek poruszajcych si, podczas gdy w obszarach nieruchomych kontrast pozostaje
wysoki.
W przypadku naoenia dwch obrazw struktur plamkowych powstaje obraz
plamkowy, w ktrym rozkad natenia wiata i faza s wypadkow nate i faz
obrazw skadowych, w kadym punkcie obserwowanego obrazu. Mimo wystpujcych
rnic amplitud (nate) i faz obrazu wypadkowego wzgldem obrazw skadowych,
jego charakterystyka statystyczna nie ulega zmianie. Schemat interferometru
generujcego pole interferencyjne na drodze nakadania struktur plamkowych pokazano
na rys. 5.
dzielnik wizki
S1

S2

paszczyzna obserwacji

Rys. 5. Schemat interferometru z nakadaniem obrazw plamkowych

 Jeli powierzchnia S 2 przemieci si wzdu osi optycznej, to w jej obrazie
plamkowym w kadym jego punkcie zmieni si faza, a obraz wypadkowy (w
paszczynie obserwacji) zmieni si losowo w rnych punktach. W przypadku zmiany
fazy 2 obraz plamkowy przybierze swoj pierwotn struktur. Pena korelacja
obrazu wypadkowego z jego stanem pierwotnym nastpuje dla zmian fazy
wynoszcych wielokrotno 2 . W stanach porednich naoenie obrazw jest
niespjne lub wystpuje brak korelacji. Dla niespjnego naoenia obrazw gsto
rozkadu prawdopodobiestwa jest opisana funkcj:

pI 4 I I 02 exp 2 I I 0 (6)
i pozostaje nadal zbliona do opisanej wzorem (1). Wprawdzie w tym przypadku nie
wystpuj plamki ciemne (dla I 0 ), ale najliczniejsze pozostaj plamki o maym
nateniu wiata. Stosowanych jest kilka sposobw badania korelacji obrazu
wypadkowego. jeden z nich, polegajcy na zastosowaniu elektronicznej obrbki
sygnau optycznego, bdzie omwiony w jednym z nastpnych punktw. Tu naley
wspomnie o badaniu korelacji za pomoc tzw. filtra cieniowego, tj. negatywowego
zdjcia wypadkowego obrazu plamkowego. W przypadku, gdy powierzchnia S 2 ulega
deformacji, zmiany fazy spowoduj zmian pooenia plamek, co umoliwia transmisj
wiata przez filtr. Za filtrem obserwowane s jasne i ciemne prki korelacji
plamkowej, przy czym ciemne prki przebiegaj przez miejsca odpowiadajce zmianie
fazy 2 n . Innym sposobem analizy jest wykorzystanie dyfrakcji pojawiajcej si
podczas przechodzenia wiata przez obraz struktury plamkowej.
Z punktu widzenia zastosowa pomiarowych, interferometria plamkowa daje
moliwo pomiaru skadowych wektora przemieszczenia w paszczynie prostopadej
do kierunku obserwacji, a wic stanowi swoiste uzupenienie technik interferometrii
holograficznej, ktrej domen jest pomiar skadowej przemieszczenia w kierunku
obserwacji. Przykady schematw ukadw do pomiaru skadowych przemieszczenia w
paszczynie prostopadej do kierunku obserwacji pokazano na rys. 6.
a) b)
z wizka 1 z wizka owietlajca

obiektyw obiektyw

- paszczyzna przesona
paszczyzna rejestracji z otworkami
rejestracji S S
x x
Rys. 6. Schematy interferometrw plamkowych do pomiaru
przemieszcze: a) ukad dwuwizkowy, b) ukad dwuaperturowy.

W ukadzie pokazanym na rys. 6a, przemieszczenia powierzchni S wzdu

kierunku z oraz y (prostopadego do paszczyzny rysunku) powoduj jednakowe
zmiany drg optycznych obu wizek owietlajcych powierzchni. Jeli
przemieszczenie nastpi w kierunku wyznaczonym przez paszczyzn, w ktrej le
obie wizki (prostopadle do kierunku obserwacji) o pewn warto u x , to droga
optyczna do punktu powierzchni S w jednej wizce wyduy si - a w drugiej skrci - o
2 ux sin . po zarejestrowaniu obrazw plamek przed i po przemieszczeniu
(deformacji) powierzchni S , np. na pycie fotograficznej o duej rozdzielczoci,
wywoany negatyw umieszcza si w paszczynie rejestracji. Przewietlanie takiego
negatywu wiatem spjnym generuje prki korelacji plamkowej. Przebiegaj one
przez punkty obrazu odpowiadajce punktom powierzchni S , ktre ulegy
przemieszczeniu o staej wartoci w kierunku x (uzyskuje si "warstwice"
przemieszczenia u x ). Pena korelacja obrazw plamkowych wystpuje w punktach, w
ktrych zmiana drogi optycznej jest wielokrotnoci dugoci fali wiata:
2 ux sin N (7)
gdzie: N - cakowity rzd prka,
przy czym prki te s ciemne. Warto skadowej u x powodujca przyrost rzdu

prka o jeden wynosi: ux (8)
2 sin
Jak wida, dla okrelonej dugoci fali wiata czuo interferometru zaley od kta .
W ukadzie pokazanym na rys. 6b, obiektyw formujcy obraz struktury
plamkowej na pycie fotograficznej jest usytuowany za przeson z dwoma otworkami o
rednicach 2 r , rozmieszczonymi symetrycznie wzgldem osi ukadu optycznego, o
rozstawie d . Obraz struktury plamkowej jest wic tworzony przez dwie wizki
wychodzce z obu otworkw, a wewntrz obrazu plamki powstaje drobna struktura
prkowa (usytuowana prostopadle do kierunku wyznaczonego przez pooenie
otworkw). Odpowiada to naniesieniu na powierzchni S rastra o podziace:
l
(9)
d
gdzie: l - odlego obrazu od obiektywu.
Dokonujc rejestracji obrazw plamkowych przed i po przemieszczeniu, na
pycie fotograficznej rejestrowane s obrazy siatek (rastrw): nie zdeformowanej i po
deformacji. W rezultacie powstaj prki mory zwizane ze skadow przemieszczenia
w kierunku rwnolegym do linii czcej rodki otworkw (apertur) w przesonie. W
obszarach, w ktrych siatka nie zostaa zdeformowana lub przemieszczenie wynosio
wielokrotno , odlego midzy liniami rastra nie zmieni si. W obszarach, w
ktrych wystpi deformacja lub przemieszczenie rwne 2 , linia rastra po
przemieszczeniu znajdzie si midzy liniami rastra zarejestrowanego przed
przemieszczeniem. Tak wic, wypadkowy obraz obu rastrw bdzie w tym miejscu
mia zerow transmisj wiata. Analiz interferogramu plamkowego, zarejestrowanego
w ukadzie z dwoma aperturami, prowadzi si za pomoc ukadu do filtracji czstoci
przestrzennych - rys. 7.

przesona D y y obiektyw
x x obrazujcy
ekran

obiektyw x
przesona analizujca y
interferogram H

Rys. 7. Schemat ukadu do analizy interferogramu

plamkowego (filtracja w paszczynie Fouriera).
 W analizowanym obszarze interferogramu wystpuj siatki o rnej orientacji i
podziace, a obiektyw formujcy wizk wiata zawiera pary apertur o wszystkich
moliwych kierunkach i rozstawie od 0 do D . Poszczeglne rodziny prkw mory s
identyfikowane podczas procesu filtracji. Umieszczajc otworek w przesonie
analizujcej w odlegoci q od osi, na kierunku , tylko rodzina prkw mory
zwizana z przemieszczeniem w tym kierunku bdzie obserwowana w paszczynie
obrazowej. W punktach, przez ktre przebiegaj prki mory warto przemieszczenia
u jest staa, a przyrostowi rzdu prka o jeden odpowiada przyrost przemieszczenia:
H
u (10)
qM
gdzie: M - powikszenie optyczne zarejestrowanego obrazu.

Wartoci skadowych przemieszczenia w paszczynie xy mona obliczy za

pomoc wzorw:
H
u N (11a)
qM
H
u x u cos N cos (11b)
qM
H
u y u sin N cos (11c)
qM
Wysoki kontrast prkw mory zapewnia uycie ukadu z rys. 7, w ktrym
przed obiektywem obrazujcym umieszcza si przeson z par otworkw analizujcych
(pomiar skadowej przemieszczenia w kierunku wyznaczonym przez otworki) lub
dwoma parami takich otworkw (na dwch kierunkach prostopadych - pomiar
wypadkowej skadowych ortogonalnych).
Informacja o przebiegu funkcji u ( x, y ) lub jej wartoci dyskretne w wzach
siatki o krokach x i y , s podstaw do wyznaczenia wartoci skadowych pola
odksztace (w przypadku tzw. maych odksztace):

ux u y u u y
x ; y ; xy x (12)
x y y x
u u u u
x x ; y y ; xy x y (13)
x y y x

4. FOTOGRAFIA PLAMKOWA
Przedstawiona w poprzednim punkcie metoda interferometrii plamkowej
umoliwia pomiar przemieszcze w zakresie nie przekraczajcym redniej wielkoci
plamki. W wielu przypadkach podany zakres pomiarowy przekracza t granic, std
du przydatno w rozwizywaniu wielu zada pomiarowych wykazuje metoda
fotografii plamkowej. Wykorzystuje ona dyfrakcyjne waciwoci obrazw
plamkowych. Fotografia plamkowa jest szczeglnie przydatna w pomiarach
skadowych przemieszczenia w paszczynie prostopadej do kierunku obserwacji, a
wic podobnie jak to ma miejsce w interferometrii plamkowej.
Pomiar przemieszcze metod fotografii plamkowej polega na zarejestrowaniu
technik dwuekspozycyjn obrazw plamkowych, powstaych w wyniku owietlenia
dyfuzyjnej powierzchni badanego obiektu, odpowiadajcych stanom: przed i po jej
przemieszczeniu (deformacji). Ukad do rejestracji fotografii plamkowej z pojedyncz
wizk owietlajc pokazano na rys. 8.

wizka owietlajca
obiektyw obrazujcy
struktur plamkow

powierzchnia
dyfuzyjna

pyta fotograficzna

Rys. 8. Schemat ukadu do rejestracji fotografii plamkowej (plamkogramu)

Ze wzgldu na wykorzystywanie waciwoci dyfrakcyjnych takiej fotografii,

podane jest stosowanie do rejestracji materiaw fotograficznych (bon) o duej
rozdzielczoci.
Zarejestrowana fotografia jest poddawana analizie punktowej (punkt-po-
punkcie) lub polowej. W pierwszym przypadku, polega ona na przewietlaniu
negatywowej fotografii plamkowej rwnoleg wizk wiata spjnego (laserowego) o
maej rednicy - rys. 9.
a) b) y
fotografia plamkowa ekran

laser
z x

a
L

c)

Rys. 9. Analiza punktowa plamkogramu: a) schemat ukadu do analizy,

b) charakter obrazu prkw dyfrakcyjnych, c) obraz prkw w paszczynie ekranu

Owietlony, niewielki obszar plamkogramu zawiera wiele par plamek

odpowiadajcych danemu, niewielkiemu obszarowi powierzchni w stanach: przed i po
przemieszczeniu (oglnie odpowiadajcych zmianie pomidzy ekspozycjami).
Przesuniciu obrazu plamki pomidzy ekspozycjami odpowiada przemieszczenie
punktu bardzo maego obszaru badanej powierzchni, a kierunek przesunicia plamki
odpowiada kierunkowi dziaania wektora przemieszczenia w paszczynie prostopadej
do kierunku obserwacji. Analogiem tej techniki analizy jest klasyczne dowiadczenie
Young'a. W uproszczeniu, plamkogram mona traktowa jako przeson z dwoma
obrazami tej samej plamki jako "otworkami", na ktr pada wizka analizujca. Na
skutek dyfrakcji na "otworkach" o identycznym ksztacie, w odlegoci L od
plamkogramu obserwuje si rozkad natenia wiata modulowany przez funkcj
Bessela. Charakterystyczny obraz (rys. 9c) rwnolegych i rwnoodlegych, jasnych i
ciemnych prkw (z charakterystycznym "halo" wizki w centrum obrazu) zawiera
informacj o kierunku i wartoci wektora przemieszczenia w paszczynie xy . I tak,
kierunek tego wektora jest prostopady do kierunku prkw dyfrakcyjnych, a jego
warto (modu) jest odwrotnie proporcjonalny do odlegoci midzyprkowej:

4 L2 a 2 L
d (14)
2M a M a
gdzie: a - odlego midzy prkowa na ekranie,
M - powikszenie obrazu struktury plamkowej.

Skadowe wektora przemieszczenia d okrelaj wzory:
L
u x d cos cos (15)
M a
L
u y d sin sin (16)
M a
Jak wida, stosujc technik analizy punkt-po-punkcie zbdne jest okrelanie rzdw
prkw, a w celu zwikszenia dokadnoci pomiaru mona nie tylko zwiksza (aby
uzyska wiksz odlego midzyprkow, ale take dokonywa pomiaru odcinka
odpowiadajcego kilku odlegociom midzyprkowym. Oczywicie, w takim
przypadku naley obliczy a uwzgldniajc jej krotno w mierzonym odcinku.

Informacja o zwrocie wektora d nie jest zawarta w obrazie plamkowym, std
konieczno przeprowadzenia pomiaru uzupeniajcego lub dokonania analizy
pozwalajcej okreli t charakterystyk wektora przemieszczenia.
Analogicznie do analizy polowej przedstawionej w poprzednim punkcie,
plamkogram mona podda analizie polegajcej na filtracji czstoci przestrzennych w
paszczynie Fouriera obiektywu analizujcego - rys. 10.
wizka wiata spjnego obiektyw przesona z otworkiem

q
z

f f

Rys. 10. Schemat ukadu do analizy polowej plamkogramu filtracja

w paszczynie Fouriera ( f - ogniskowa obiektywu analizujcego)
Prki obserwowane za przeson z otworkiem, umieszczonym w odlegoci q
od osi ukadu, przebiegaj przez punkty o staej wartoci wektora przemieszczenia (w
paszczynie xy ) w kierunku . Przykadowy obraz prkw obserwowanych za
przeson z otworkiem pokazano na rys. 11.
 stempel

Rys.11. Obraz prkw uzyskany podczas analizy polowej plamkogramu (prki u y const . )
- zginane trjpunktowo pasmo trjwarstwowe

Rejestrujc obrazy prkw w kolejnych pooeniach otworka q x i q y na

osiach ukadu wsprzdnych otrzymuje si dane niezbdne do wyznaczenia
skadowych wektora przemieszczenia:
f
ux N xi (17)
q xi M
f
uy N yj (18)
q yj M
gdzie: qxi , q yj odlegoci otworka analizujcego od osi ukad optycznego,
odpowiednio dla i-tego oraz j-tego pooenia na osiach x i y .

Warto wektora d w danym punkcie o wsprzdnych x, y oblicza si wwczas ze
wzoru:
2
N N yj
2
f
d xi (19)
q
M q xi yj
a jego kierunek okrela zaleno:
u yj N yj qxi
ar ctg ar ctg (20)
uxi N xi q yj
Za pomoc fotografii plamkowej mona rwnie dokonywa pomiarw ktw
ugi (np. cienkich pyt) lub obrotw obserwowanej powierzchni wzgldem osi
prostopadej do kierunku obserwacji. Rejestracj (technik podwjnej ekspozycji)
plamkogramu przeprowadza si tak, aby ostro bya ustawiona na paszczyzn
znajdujc si w odlegoci c od powierzchni obiektu. Wwczas przemieszczenia
plamek s skorelowane z przemieszczeniami ktowymi powierzchni generujcej obraz
plamkowy, gdy rozmyty obraz plamek zlokalizowanych bezporednio przed
powierzchni (nioscych informacj o przemieszczeniach w paszczynie xy )
uniemoliwia uzyskanie korelacji w obrazie wypadkowym. Kt ugicia (obrotu) jest
okrelony zalenoci:
u
tg z (21)
s
gdzie: s - kierunek w paszczynie xy ,
uz - przemieszczenie w kierunku osi z .
Poniewa pochodn we wzorze (21) , w przypadku analizy punktowej plamkogramu,
okrela wzr:
uz 4 L2 a 2 L
(22)
s 4 M ac 2 M ac

a w przypadku analizy polowej:

u z f 2 qx 2
f
Nx Nx (23)
x 4 M c qx 4 M c qx

u z f 2 qy 2
f
Ny Ny , qx f , q y f (24)
y 4 M c qy 4 M c qy

to cakujc jedn z funkcji uz s (okrelonych wzorami (22) - (24)), mona

wyznaczy warto ugicia, np.:

f x
uz duz N x x dx (25)
4 M c qx 0

W praktyce, po zastpieniu caki - sum, a rniczki - rnic skoczon (wsteczn),

warto ugicia w k -tym punkcie wyraa wzr:

f k
uz k N xi k x (26)
4 M c qxi 0

gdzie: (N xi ) N xi k N xi k 1

Oczywicie, cakowanie moe by przeprowadzone z uwzgldnieniem znanej (np. z

pomiaru inn technik) wartoci ugicia u z 0 w punkcie pocztkowym cakowania, lub
okrela jedynie zmiany ugicia w analizowanym przekroju. Bardzo czsto problem ten
jest rozwizywany poprzez ustalenie pocztku cakowania w punkcie, ktrego
przemieszczenie w kierunku z jest rwne zeru (np. na podporze zginanej pyty).
Naley podkreli, e metoda fotografii plamkowej ma istotne ograniczenie "od
dou" wartoci mierzonych przemieszcze. Wynika ono z faktu wykorzystywania
waciwoci dyfrakcyjnych zarejestrowanego obrazu, w ktrym skorelowane plamki
musz by odrbnymi elementami uginajcymi ("otworkami"). Oznacza to, e
przemieszczenie musi mie warto wiksz ni rednia rednica plamki, zalena od
parametrw obiektywu obrazujcego struktur plamkow (F liczba otworowa
obiektywu):

Od gry warto mierzonego przemieszczenia ograniczaj warunki powstania prkw

dyfrakcyjnych na skorelowanych parach plamek. Powyej wymienione ograniczenia
przedstawiono schematycznie na rys. 12.
 Plamki tworz
pole
interferencyjne

Pierwsza eksp.
Pojedyncza
plamka brak
interferencji
Druga eksp.

Zbyt due przemieszczenie brak

korelacji

Rys. 12. Schemat ilustrujcy ograniczenia wartoci mierzonego przemieszczenia

Pomiar przemieszcze metod fotografii plamkowej moe by realizowany

take w przypadku uycia wiata niekoherentnego (np. biaego) do owietlania badanej
powierzchni, przy czym struktur plamek powstaych w wyniku interferencji, zastpuje
si losowo naniesion na t powierzchni struktur quasi-plamek. Najczciej struktur
t uzyskuje si malujc bia matow farb powierzchni obiektu, po czym rozpyla si
farb odblaskow tak, aby powsta obraz refleksyjnych plamek na jasnym tle.
Rejestrujc technik podwjnej ekspozycji obraz takiej struktury przed i po
przemieszczeniu, otrzymuje si fotografi plamkow "w wietle biaym". Wprawdzie
wczeniej wspomniana charakterystyka probabilistyczna obrazu plamkowego nie
obejmuje przypadku tak powstaej struktury quasiplamkowej, jednak stosujc analiz z
uyciem wiata koherentnego (laserowego) wykorzystuje si waciwoci dyfrakcyjne
zarejestrowanego obrazu analogicznie do opisanych powyej, bowiem powstae prki
s zwizane z wektorem przemieszczenia w paszczynie xy . Moliwe jest rwnie
wykorzystanie wiata biaego do analizy takich plamkogramw, jednak fakt
uzyskiwania chromatycznych prkw utrudnia analiz ilociow.
Fotografia plamkowa "w wietle biaym" jest przydatna np. w pomiarach
prdkoci przepyww gazw, przy czym "plamkami" s czsteczki dodawane do
strumienia gazu.

LITERATURA
[1] Erf R.K.(ed.), Speckle Metrology, Academic Press, Inc., 1978
[2] Shelton J.C., Orr J.F., Optical Measurement Methods in Biomechanics, Chapman &
Hall, 1997
[3] Gasvik K.J., Optical Metrology, IIIrd ed., John Wiley&Sons, Ltd., Chichester,
England, 2002
[4] Holografia optyczna, Podstawy fizyczne i zastosowania, pod red. M. Pluty, PWN,
Warszawa 1980.