1.

Cuando se va a realizar una prueba, Qu condiciones debe tener una muestra para realizar
Microscopia Electrnica de Barrido MEB?

Preparacin de muestras para el microscopio de barrido

Servicio de Microscopa Electrnica Textos Preparacin de muestras para el microscopio de barrido ...

Las muestras destinadas al MEB han de cumplir dos condiciones: deben estar secas y ser
conductoras. El proceso de secado ha de llevarse a cabo preservando al mximo la
estructura original de la muestra. Para ello tenemos dos alternativas: usar el mtodo clsico
de fijacin y deshidratacin qumica que el usuario realiza en su laboratorio y que finaliza
con el secado por punto crtico en nuestras instalaciones, o utilizar el moderno mtodo de
fijacin fsica por criofijacin que ya est acoplado a uno de los microscopios.
En ambos casos la muestra necesita recubrirse despus con un material que la haga
conductora y permita su observacin en el microscopio.
Recubrimiento de muestras en bajo vaco
Con este mtodo se realizan dos tipos de recubrimientos: spputtering de oro para obtener
las mejores condiciones de imagen y, si se requiere microanlisis por rayor X, el
recubrimiento por hilo de carbono.

Recubrimiento de muestras en alto vaco

Sus aplicaciones van ms all de la necesidad de obtener una muestra conductora para el
MEB. Consigue recubrimientos de grano mucho ms fino y est preparado para realizar
spputtering con distintos metales. Tambin trabaja por el mtodo de evaporacin, con lo
que aumenta el rango de posibles elementos de recubrimiento. Utiliza electrodos de
carbono para evaporarlo y obtener films que recubren las rejillas destinadas al TEM.

Observacin de muestras criofijadas

El microscopio electrnico de barrido (MEB) puede dotarse de un sistema capaz de
observar la muestra a muy baja temperatura de forma que su preservacin estructural es
mxima y la capacidad de trabajo del microscopio no se afecta en absoluto, pues ya no
tratamos con una muestra hidratada sino congelada.
El proceso se inicia fuera del microscopio, enfriando la muestra a la mxima velocidad
posible mediante nitrgeno nieve. A continuacin ya pasa al sistema de criobservacin,
donde se puede fracturar, sublimar el hielo superficial y recubrir con oro o carbono para su
observacin y/o anlisis. La ventaja de este sistema es que se puede observar cualquier
muestra biolgica o hidratada con una preparacin mnima y rpida con una buena
preservacin estructural.
http://www.upv.es/entidades/SME/info/753330normalc.html

1.1.2. Microscopia electrnica

1.1.2.1. Microscopia electrnica de transmisin

Introduccin.
El microscopio electrnico no es mas que uno de los muchos aparatos cuyo
fundamento es la ptica electrnica. El nombre que resulta justificado por la
estrecha analoga existente entre su formulacin terica y la de la ptica clsica. No
hay posibilidad de estudiar la ptica electrnica sin enfrentarse con una de las
consecuencias aparentemente paradjicas de la fsica terica moderna: la dualidad
onda-corpsculo, cuando los electrones inciden como paquetes de ondas sobre los
tomos de una muestra, las colisiones pueden representarse, y a veces con gran
precisin como colisiones del tipo bola de billar. Sin embargo, Si la muestra
contiene un cristal en una cierta orientacin, los electrones debern representarse
por ondas para dar cuenta de las reflexiones.
La prueba crucial para demostrar la existencia de las propiedades ondulatorias
de los electrones fue la observacin de la difraccin y de la interferencia de las
ondas de los electrones.
 Al final del siglo se haban
reunido muchos datos sobre la
emisin de la luz por los
tomos de un gas al ser
excitados por una descarga
elctrica. Observada a traves
de un espectroscopio con una
abertura en forma de rendija
estrecha. Las bandas formadas
obedecen a las diferentes
longitudes de onda que
conforman el espectro
luminoso. En similar forma y
utilizando el espaciado
conocido de los tomos de un
cristal se calculo la longitud de
onda que poda producir dicho mximo y se encontr la correspondencia con la
energa de los electrones que eran utilizados. El electrn haba adquirido un
comportamiento ondulatorio.
Este comportamiento de onda puede ser tratada en
igual forma que el tratamiento hecho sobre la luz por
medio de una lente de vidrio. En contra posicin, el
vidrio no actuara de igual forma sobre la onda de
electrones, era necesario utilizar otro tipo de lente
(las magnticas).
Los electrones procedentes de un filamento caliente
se ven acelerados por una gran diferencia de tensin
en el tubo. El haz de electrones se hace paralelo
mediante lentes de enfoque magntico. los
electrones inciden sobre un blanco muy delgado y
luego se enfocan mediante una segunda lente
magntica que es equivalente a la lente objetivo de un
microscopio ordinario. La tercera lente magntica
juega el papel del ocular de un microscopio. Proyecta
el haz de electrones sobre una pantalla fluorescente
donde se realiza la observacin de la imagen.

1. Breve Historia.
Las ideas que llevaron a la puesta a punto del microscopio electrnico de alta
resolucin tuvieron su origen en muy diversos estudios, el descubrimiento del
electrn como partcula cargada con masa en reposo; los haces de estas partculas se
pueden desviar y concentrar mediante campos elctricos y magnticos con este
principio se construyo el primer oscilgrafo y dio pie para que Luis de Broglie en
1924 lanzara su extraordinaria hiptesis segn la cual haba de asociar una naturaleza
ondulatoria a cada partcula material, Y en particular a los electrones. Dedujo la
formula para la logitud de onda de dichas ondas materiales donde es la constante
de Planck, la masa de la partcula y su velocidad. Si se sustituyen valores de esta
ecuacin para un electrn acelerado por un potencial de 60.000 voltios, resulta una
longitud de onda de solo 0,05 , lo que representa 1/100.000 de la luz visible. Poco
despus, en 1926, E. Schrdinger comenzo el desarrollo de la mecnica ondulatoria
haciendo uso de las analogas mecnico-pticas demostradas por W.R. Hamilton en
1830, y combinndolas con las ideas de De Broglie. En 1927 La hiptesis de De
Broglie fue confirmada experimentalmente con haces electrnicos por Davisson y
Germer en los Estados Unidos y por Thomson y Reid en Inglaterra.
Los
primeros
en

desarrollar el microscopio electrnico fueron Ersr Ruska y Max Knoll, hacia la dcada
de 1930 (Bozzula y Bartlerr, 1997).
Con el desarrollo del microscopio electrnico se lleg al territorio celular
desconocido hasta el nivel del nanometro, pero el escaso poder de penetracin del
haz de electrones hizo necesario el desarrollo de tcnicas que dejaran las muestras a
examinar de extraordinaria finura (una millonsima de centmetro) y su examen debe
realizarse bajo intenso vaco. Adems de la construccin de instrumentos necesarios
para reducir las muestras a cortes ultra finos (Duve, 1988).
El primer microscopio electrnico fue usado por ingenieros y fsicos. El uso del
microscopio en el campo de la Biologa, fue en sus inicios para estudios puramente
descriptivos, pero con el tiempo se ha usado en estudios experimentales. Para el
desarrollo y origen de la Biologa Celular fue determinante la aparicin del
microscopio electrnico. Actualmente su uso es multidisciplinario (Bozzula y
Bartlerr, 1997). En 1926 despus de 15 aos de estudio sobre la trayectoria de los
electrones en campos magnticos, H. Busch publico un articulo en el que mostraba
que un campo elctrico o magntico con simetra axial era capaz de actuar como una
lente para los electrones u otras partculas cargadas. El trabajo de Busch atrajo la
atencin de los fsicos del momento hacia una consecuencia prctica importante de
las teoras de De Broglie y Schrdinger, y dio origen a una nueva ciencia de
instrumentacin que se conoce desde entonces como ptica electrnica, ciencia que
busco el desarrollo de la microscopia electrnica ( Electron Microscopy, EM).

2. Contextualizacin y funcionamiento del microscopio

electrnico de transmisin.
En el campo de la ciencia fsica moderna es primordial entender el
comportamiento tanto del haz de luz como el de electrones, todas las aplicaciones
pticas en cuanto a capturas y ampliacin de imgenes que usan este principio
prestan gran utilidad para el desarrollo de las ciencias que incursionan en el
microcosmos.. Son diversas las tcnicas que cumplen con estos propsitos, entre
ellas, son dignas de ser citadas las siguientes:
 2.1 Microscopia Confocal y de
fluorescencia: propia para la observacin de
imgenes topogrficas con carcter
tridimensional de sus estructuras en diferentes
tipos de muestras.
2.2 Microscopia electrnica de Barrido y micro
anlisis de rayos X: Explora las superficies de las
muestras realizando un paneo sobre la misma y
capturando la radiacin reflejada la cual se
codifica en datos computacionales con la idea de
reconstruir la imagen del espcimen.
2.3 Microscopia electrnica de Fuerza
Atmica: Una aguja de punta muy fina casi a
nivel atmico explora la superficie de la muestra
generando entre ambas un campo electro-
magntico. El campo sufre variaciones
correspondientes a las variaciones de rugosidad
de la superficie muestreada. Las variaciones electromagnticas ocasionadas generan
una informacin de corriente elctrica que debidamente tratada reconstruye la
imagen de la superficie observada.
2.4 Microscopia electrnica de Efecto Tunel: Conserva el mismo principio que el
microscopio de fuerza atmica salvo que la intensidad del campo es mayor y realiza
exploraciones bajo la superficie.
2.5 Microscopia electrnica de transmisin: A diferencia de los anteriores
microscopios, este no explora superficies , por el contrario el haz de electrones
incidente atraviesa la muestra o espcimen observado y la sombra de detalles finos
o ultra-estructura es capturada en una pantalla fosforescente con propiedades de
emisin de luz, ubicada en la parte inferior de la columna. El tener una adecuada
preparacin de la muestra da lugar a una excelente definicin de imagen. Son
mltiples las facetas el las que interviene este tipo de microscopio. As, en control de
calidad sealamientos morfolgicos, conformacin de agregados, tcnicas forenses,
determinacin de estratos en restauracin y diferenciacin histolgica entre otros.
En la construccin de microscopios electrnicos (1), se han usado con resultados
satisfactorios ambos tipos de lentes: electrostticas y magnticas. Con todo, la mayor
parte de los microscopios electrnicos hoy da en uso son magnticos; Un esquema
clsico de estos aparatos esta representado en la figura 2. Algunos instrumentos no
poseen lente condensadora, otros en cambio tienen dos, mientras otro grupo de
aparatos posee solamente una lente proyectora. Aunque los detalles de construccin
varen de un tipo a otro, se puede obtener una visin cualitativa de conjunto de
sistema ptico.
 La fuente de electrones
(2)esta constituida por un
hilo de volframio en forma de
horquilla, rodeado por una
pantalla cilndrica polarizada
negativamente respecto al
filamento( figura 3). Despus de
atravesar el nodo conectado a
tierra, la mayor parte de los
electrones del
haz se pierden en las paredes y
aberturas excepto un estrecho
cono que atraviesa el diafragma
del condensador.
La lente condensadora se usa
tanto para controlar la
intensidad luminosa, como para
variar la abertura de iluminacin
relativa en el objeto. Los
dimetros de los diafragmas del
condensador varan segn el
tipo de instrumento, pero suelen estar comprendidos entre 0,1 y 0,5 mm. Despus de
atravesar el objeto, donde muchos electrones se esparcen, el haz penetra en el campo
de la lente objetivo que produce una imagen aumentada del objeto. En el objetivo se
suele colocar un diafragma de 10 a 100 de dimetro para interceptar los electrones
esparcidos , pero generalmente esta precaucin se omite en el estudio de muestras
muy delgadas en las que el esparcimiento no es excesivo. Puesto que para las
distancias usuales entre lente e imagen, el aumento obtenido con la lente objetivo es
del orden de X100 a X300, sera necesario el uso de una o mas lentes protectoras que
vuelvan a aumentar la imagen
primaria. Algunos instrumentos llevan
incorporada una pantalla intermedia para
facilitar la alineacin, pero no poseen en
cambio este accesorio aquellos aparatos
dotados de dos lentes proyectoras. La imagen
final se observa en una pantalla fluorescente ,
y separando esta pantalla del camino del haz,
se impresiona una placa fotogrfica con dicha
imagen. Las dimensiones mas usuales para un
microscopio de transmisin pueden ser: Del
filamento a la lente condensadora 15 cm, y
otro tanto de esta ltima al objeto, mientras que del objetivo a la pantalla que recoge
la imagen final pueden haber unos 100 cm, el sistema completo deber ser rgido y
capaz de alcanzar un vaco de 0.0001 mmHg con ayudas de bombas de difusin
rpidas en serie con bombas rotatorias.
Otras partes importantes importantes del aparato que no han sido representadas
en los diagramas son la fuente de alimentacin para crear un potencial del haz,
fuentes de alimentacin para las lentes magnticas , medidores de vaco, tornillos
de alineacin, vlvulas de vaco , controles de aumento y enfoque, etc. De
momento, nuestro inters mas inmediato se centra en la tcnica de preparacin de
muestras.
 Comparacin entre
microscopia electrnica de
transmisin (MET) y
microscopia electrnica de
barrido (MEB).

Preparacin de las
muestras
El proceso comienza
con el tejido altamente
hidratado y termina con el
tejido virtualmente libre de agua y preservado en una matriz de resina.
Existen muchos caminos para la preparacin de tejidos para Microcopia electrnica
de transmisin, pero los mtodos siguen bsicamente ocho pasos:

1. Fijacin primaria: Busca preservar la estructura del tejido vivo, evitando los
procesos autoliticos. Se realiza con glutaraldehido CHO- CH2-CH2-CH2-CHO. Su accin
se centra en las protenas as:

(COOH-protena-NH2)2 + CHO- CH2-CH2-CH2-CHO

Entonces:
COOH-protena-NH=CH-CH2-CH2-CH2-CH=N-proteina-COOH +H2O
La penetracin del glutaraldehido es lenta, esto quiere decir que 1 mm de tejido
es atravesado en una hora por el glutaraldehido.

2. Lavado: Normalmente se hace

con un buffer.
Buffer: es necesario su uso
debido a que el pH de los tejidos se
baja drsticamente durante el
proceso de fijacin. El uso de buffer
mantiene el pH fisiolgico (7,2 a
7,4) los sistemas de buffer ms
comunes son: fosfato, s-collidine,
tris-maleato y cacodylate.

3. Fijacin secundaria: es llevada a

cabo por la accin del tetrxido de
osmio, el cual reacciona
principalmente con los lpidos. El
tetrxido de osmio generalmente
no penetra mas de 0,5 mm en una
hora.

4. Deshidratacin: La filosofa de la
deshidratacin es el reemplazo del
agua usando etanol en series 70%
85% 95% y etanol absoluto.

5. Infiltracin con solventes transicionales: procedimiento por el cual hay

transmisin de fluidos gradualmente reemplazado por soluciones intermediarias
altamente miscibles con los agentes deshidratantes, la mayora de los protocolos
emplean un solvente transicional entre el deshidratante y la resina.

6. Infiltracin con resina: mezclas de propilen oxidado con Epoxy son introducidas
reemplazando dentro de los tejidos despus de la deshidratacin. La concentracin
del solvente es minimizada gradualmente incrementando las concentraciones de
resina hasta llegar a la resina pura.

7. Inclusin: sumergir el tejido en la resina pura.

8. Polimerizacin de la resina: se logra acelerar el proceso de polimerizacin

aumentando la temperatura.

Recipientes de uso comn para la inclusin de las muestras en MET. Normalmente

las muestras se marcan con un trozo de papel indicando algn tipo de convencin
que ilustre posteriormente su contenido.

Los tejidos debidamente incluidos son cortados con el ultramicrotomo, dependiendo

del tipo de microtomo utiliza cuchillas de diamante o vidrio (la ms comn).
Procesador automtico de tejidos.

3. Tcnicas y aplicaciones
La novedad(1) de las condiciones requeridas para la formacin de la imagen opto-
electrnica, comparada con la rutina establecida con los microscopios pticos radica
en las dificultades inherentes de la formacin de una imagen por electrones , los
posibles efectos destructivos de la desecacin en vaco, y la bsqueda de contrastes
en la imagen hacen cada vez mas difcil esta tarea.
 Las suspensiones purificadas son contrastadas utilizando la tcnica de tincin
negativa. Para esto, una gota de la suspensin se coloca sobre papel parafinado
(Parafilm ) y luego una rejilla de nquel, previamente recubierta con una pelcula de
Fomvar se deja flotar sobre la gota durante cinco minutos. El exceso de lquido
se retira colocando papel de filtro en los bordes.
Posteriormente se realiza la tincin negativa con una solucin de fosfotungstato
de potasio al 2% y pH 6,8. Para ello se coloca una gota del contrastante sobre el papel
parafinado y luego la rejilla con la muestra se deja flotar sobre ella durante cinco
minutos. Las rejillas se observan en un microscopio electrnico de transmisin. Para
la observacin del botonamiento de partculas virales, se emplea: una caja de plaqueo,
a partir de la cual una porcin de agar, localizada sobre una placa en la monocapa de
clulas, se retira y fija con glutaraldehido al 2% en buffer fosfato pH 7,4 y posfija.
Despus del proceso de deshidratacin en concentraciones ascendentes de etanol, las
muestras se incluyen en resina LR-White . Se realizan cortes ultrafinos de 40 nm. que
son contrastados con acetato de uranilo y citrato de plomo para su posterior
observacin en el microscopio electrnico de transmisin.

4. Ventajas y desventajas.
Los elevados costos de los equipos y la debida
adecuacin de una infraestructura para el buen
funcionamiento hacen que esta tcnica , se
convierten en acceso de investigadores
privilegiados . Si embargo, es comn contratar
estos servicios por horas o por
fotografas requeridas.
Los costos de reactivos tambin dan un factor
decisivo para la eleccin de esta tcnica. Aun
cuando este proceso de investigacin sea
costoso , proporciona resultados muy precisos de
amplia resolucin y magnificacin.
La tcnica de preparacin de las
muestras cumple con protocolos establecidos,
pero son vulnerables y variados al tipo de
investigacin que se realice ,contando mas con la
experiencia del investigador.
La complejidad de los equipos , lo hacen susceptibles a la des calibracin.
Nuevamente encontrar las condiciones ptimas requiere de un proceso tedioso y
prolongado.
La manipulacin de reactivos se torna peligroso por la elevada condicin toxica de
los mismos.
Las imgenes obtenidas son moncromticas y planas siendo necesario, en algunos
casos, un tratamiento posterior mediante anlisis de imgenes con un software
especializado.

El microscopio electrnico de transmisin proyecta electrones a

travs de una muestra muy delgada de tejido para producir una imagen
bidimencional en una pantalla fosforescente. La nitidez de un rea
particular de la imagen es proporcional al nmero de electrones que son
transmitidos a travs de la muestra (Bozzula y Bartlerr,
1997).http://www.luton.ac.uk/Healthcare/Ross/MITOCHON.HTM
 This famous first electron micrograph of an intact cell was
published in The Journal of Experimental Medicine in March 1945, in
"A study of tissue culture cells by electron microscopy," by Keith R.
Porter, Albert Claude, and Ernest F. Fullam. The cell is a cultured
fibroblast originating from a chick embryo, which was grown by Porter
on polyvinyl film, then peeled off and transferred to a wire specimen
grid. The cell was fixed with osmium tetroxide, washed and then dried
in order to prevent evaporation in the electron microscopeUs vacuum
chamber. Magnified 1600 times, this first electron micrograph of a
cell reveals mitochondria, the Golgi apparatus and a "lace-like
reticulum" which Porter later named the "endoplasmic reticulum".
The electron microsope used for this historic image was an RCA EMB
model, operated by Fullam at the Interchemical Corporation in New
York City.http://www.rockefeller.edu/rucal/journey/journey.html

Descripcin de la Tcnica MEB

Fundamento:
Debido a que el lmite de amplificacin de un microscopio ptico est restringido por la longitud de onda de la
luz visible; los microscopios electrnicos emplean electrones, que tienen una longitud de onda mucho menor
que la de la luz y pueden revelar estructuras mucho ms finas. La longitud de onda ms corta de la luz visible
es de al rededor de 4.000 (1= 1x10-10m). La longitud de onda de los electrones que se utilizan en los
microscopios electrnicos es de de 0,5 aproximadamente.

Definicin:
La microscopa electrnica de barrido (MEB) es una tcnica de anlisis superficial, que consiste en enfocar
sobre una muestra electrodensa (opaca a los electrones) un fino haz de electrones acelerado con energas de
excitacin desde 0.1kV hasta 30kV.

El haz de electrones se desplaza sobre la superficie de la muestra realizando un barrido que obedece a una
trayectoria de lneas paralelas. La variacin morfolgica de la muestra entrega diversas seales (electrones
secundarios, electrones retrodispersados, emisin de rayos X, etc.) que son recogidas por distintos
detectores; los cuales permiten la observacin, caracterizacin y microanlisis superficial de materiales tanto
orgnicos como inorgnicos.

Funcionamiento:
Un microscopio electrnico de barrido funciona con un haz de electrones producido por una fuente de
electrones que puede ser un can termoinico (filamento de tungsteno o de hexaboruro de lantano) o un
can de emisin de campo FEG, de las siglas en ingls Field Emission Gun.

Al can se le aplica un potencial elctrico que acelera el haz de electrones hacia la columna, ste es
focalizado por medio de lentes electromagnticas sobre la muestra (toda la trayectoria de los electrones debe
estar en vaco, de lo contrario, los electrones colisionaran con las molculas de aire y sern absorbidos). Los
electrones chocan e interactan con la muestra produciendo varias seales que podrn ser recogidas de
acuerdo a los detectores presentes. La amplificacin de la imagen se produce por un conjunto de lentes
 electromagnticas que mediante un tratamiento adecuado de las seales electrnicas son proyectadas en un
tubo de rayos catdicos (CRT).

Interaccin del haz con la muestra:

Cuando los electrones colisionan con la muestra se producen varios fenmenos:

1. Electrones secundarios: La propia muestra emite electrones secundarios debido a la colisin con el haz
incidente para generar imgenes tridimensionales de alta resolucin SEI (Secundary Electron Image), la
energa de estos electrones es muy baja, inferior a 50 eV, por lo que los electrones secundarios
provienen de los primeros nanmetros de la superficie.
2. Electrones retrodispersados: Algunos electrones primarios son reflejados o retrodispersados tras
interactuar con los tomos de la muestra. La intensidad de emisin de estos electrones est directamente
relacionada con el nmero atmico medio de los tomos de la muestra (Z promedio), as los tomos ms
pesados producen mayor cantidad de electrones retrodispersados, permitiendo la obtencin de imgenes
planas de composicin y topografa de la superficie BEI (Backscattered Electron Image).
3. Absorcin de electrones: La muestra absorbe electrones en funcin del espesor y la composicin; esto
produce la diferencia de contraste en la imagen.
4. Emisin de rayos X: Cuando los electrones de niveles internos son expulsados por la interaccin de los
electrones primarios, habr transiciones entre los niveles de energa con emisin de rayos X, esta energa
y longitud de onda estn relacionadas con la composicin elemental del espcimen, permitiendo realizar
anlisis qumicos mediante espectroscopa por dispersin de energa y de longitud de onda (EDS y
WDS).
5. Emisin de electrones Auger: Cuando un electrn es expulsado de un tomo, otro electrn ms externo
puede saltar hacia el interior para llenar esta vacancia resultando en un exceso de energa. Esta energa
extra puede ser liberada emitiendo un nuevo electrn de la capa ms externa (electrn Auger). Son
utilizados para obtener informacin sobre la composicin de pequesimas partes de la superficie de la
muestra.
Todas estas seales estn relacionadas entre s y dependen en gran medida de la topografa, el nmero
atmico y el estado qumico de la muestra; por lo tanto, un MEB suministra informacin morfolgica,
topogrfica y composicional de las superficies de las muestras.

Ventajas del MEB:

1. Su gran profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imgenes permitiendo enfocar y
observar amplias zonas de la muestra al mismo tiempo.
2. Puede producir imgenes de alta resolucin (de hasta 3 nm), es decir, que detalles muy cercanos en la
muestra pueden ser observados separadamente a alta magnificacin.
3. La relativamente sencilla preparacin de las muestras.
4. Se pueden observar muestras de tamaos desde centmetros hasta muestras del orden de nanmetros.
Aplicaciones generales del MEB por rea de estudio:
Arqueologa
Ciencia de materiales
Anlisis de fallas.
Corrosin y desgaste.
Fibras y textiles.
Metalurgia.
Nanotecnologa.
Recubrimientos, pelculas delgadas, interfaces.
 Semiconductores.
Tribologa.
Ciencias agropecuarias
Ciencias bsicas
Biologa.
Fsica.
Qumica.
Ciencias biomdicas
Biotecnologa.
Farmacia.
Medicina.
Odontologa.
Ciencias forenses
Estudios geolgicos
Ingeniera civil
Ingeniera elctrica y electrnica
Ingeniera de alimentos
Ingeniera mecnica
Ingeniera qumica
Limitaciones del MEB:
1. Las muestras deben ser conductoras.
2. Las muestras deben estar libres de humedad.
3. No es posible observar la estructura interna y detalles ultraestructurales de las muestras, para esto se
requiere un Microscopio Electrnico de Transmisn MET o TEM, de las siglas en ingls Transmission
Electron Microscopy.