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TALLER DE CARACTERIZACION
ING. CARLOS MAURICIO MORENO
INGENIERIA METALURGICA
ARNOLD DUVAN NIÑO REINA COD: 201420187
Termogravimetría (TGA)
Está basada en la medida de la variación de la masa de una muestra cuando se la
somete a un cambio de temperatura en una atmósfera controlada. Esta variación puede
ser una pérdida o una ganancia de masa. El registro de estos cambios nos dará
información sobre si la muestra se descompone o reacciona con otros componentes.
Causas de cambio de peso:
Reacción de descomposición
Reacción de oxidación
Vaporización
Sublimación
Desorción
•Fusión
•Cristalización
•Sublimación
•Cristal A – Cristal B
n= 2 d sen
Caracterización estructural.
Micrografía de polen
•Se pueden observar muestras de tamaños desde centímetros hasta muestras del
orden de nanómetros.
a. Espectroscopia Infrarroja.
b. Microscopía Electrónica de Barrido.
c. Espectroscopia de masas.
d. Cromatografía de gases.
e. Difracción de Rayos X.
a. Cromatografía de gases
b. Microscopía Electrónica de Barrido
c. Difracción de Rayos X
d. a y c
e. a y b
La técnica de la cual puedo sacar la distancia interplanar es la difracción de rayos X, ya
que cuando los rayos X de longitud de onda l inciden sobre dos planos de átomos
paralelos de índices de Miller (hkl), son difractados en un ángulo q. Las ondas
difractadas producirán intensidad máxima en un detector si ambos llegan en fase al
detector (con una cresta o con un valle), es decir si la diferencia entre las trayectorias
de los rayos es un número entero de veces la longitud de onda de los rayos X
empleados, nl, donde n es un número entero.
Entonces tenemos la ley de bragg.
n·l = 2.d·senq
a. Espectroscopia Infrarroja.
b. Microscopía Electrónica de Barrido.
c. Espectroscopia de masas.
d. Cromatografía de gases.
e. Difracción de Rayos X.