Asignación 3 - Problema # 6

Consider the semiconductor wafer data in Table 2-1.

Location in Sputtering Tool
Contamination Center Edge Total
Low 514 68 582
High 112 246 358
Total 626 314
Suppose that 10 wafers are selected randomly (without replacement) for an electrical
test. Determine the following:
(a) Probability that exactly 4 wafers have high contamination.
x: número de obleas con algún tipo de contaminación
E1: 4 obleas con alta contaminación:

(b) Probability that at least 1 is from the center of the sputtering tool and has high
contamination.
E2: al menos una oblea del centro de la herramienta de pulverización y con alta
contaminación:
P(E2)  1 – probabilidad de que ninguno sea del centro de la herramienta de
pulverización y con alta contaminación: 0 obleas que no cumplan la
condición.

(c) Probability that exactly 3 have high contamination or are from the edge of the
sputtering tool.
E3: 3 obleas tengan alta contaminación y sean de los bordes de la herramienta de
pulverización:

(d) Instead of 10 wafers, what is the minimum number of wafers that need to be
selected so that the probability that at least 1 wafer has high contamination is
greater than or equal to 0,9?
n = mínimo número de obleas
E4: al menos 1 oblea tenga alta contaminación:

n
1 0,6191
 2 0,3831

3 0,2369
4 0,1464
5 0,0904
Respuesta: el mínimo número de obleas que cumplan la condición dada de E4 es 5.