Interferometria MachZehnder

Universidad Nacional de Ingeniería 2017-1
UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERÍA
Tema:
“MEDICIÓN DEL ÍNDICE DE REFRACCIÓN DE SOLUCIONES
POLIMÉRICAS POR INTERFEROMETRÍA ÓPTICA DE TIPO
MACH ZEHNDER”
[1]
ÍNDICE
1. RESUMEN……………………………………………………………………………….….3
2. INTRODUCCIÓN……………………………………………………………..………….…3
2.1. Antecedentes………………………………………………………..……..………….…3
2.2. Objetivos………………………………………………………………...…………...….3
2.2.1. Generales………………….…………………………………………………….3
2.2.2. Específicos……………………………………………………………......…….3
3. FUNDAMENTO TEÓRICO………………………………………………………………...4
3.1. Coherencia Temporal y Espacial………………………………………………………..4
3.1.1. Condiciones para interferencia…………………………….………….…………..4
3.1.2. Coherencia Temporal……………………………………………………………..4
3.1.3. Coherencia Espacial…………………………………………………………..…..5
3.2. Interferómetro de Mach-Zenhder……………………...………………………………...6
3.2.1. Cambios de fase por reflexión…………………………………………………….6
3.3. Diferencia de camino óptico y cálculos de refracción……………………………..……7
3.3.1. Diferencia de camino óptico y vista en pantallas………………………………7
3.3.2. Calculo de índice de refracción en objetos planos transparentes………………8
4. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL…………………………………………………….9
4.1. Descripción del sistema óptico………………………………………………………….9
4.1.1. Fuente de luz láser……………………………………………………………...9
4.1.2. Divisor de haz…………………………………………………………………10
4.1.3. Apertura……………………………………………………………………….10
4.1.4. Espejos……..…………………..…………………………….….…..………...10
4.1.5. Lentes…..…………………………………………………………….………..10
4.1.6. Soporte giratorio………..………………………………………………...…...10
4.1.7. Fotodiodo………..……………...…………….…………..…………………...10
4.1.7.1. Características electrónicas………..……………………………………...11
4.1.7.2. Características ópticas………..…………………………………………...11
4.2. Implementación y alineamiento del interferómetro………………………………...….12
4.2.1. Métodos de alineamiento base para los componentes………………..………12
4.2.2. Alineamiento del conjunto óptico….............................................…..….……15
4.3. Acondicionamiento del soporte giratorio………………………………………………17
4.4. Preparación para medir el índice de refracción de la placa de vidrio……......…………18
5. RESULTADOS EXPERIMENTALES…………………………………………..……..…..19
5.1. Arreglos formados en configuración de Mach-Zenhder…………………….....………19
5.2. Patrones de interferencia obtenidos ……………………………………….……..……21
5.3. Soporte giratorio instalado en el interferómetro………..…………………………...…23
6. DISCUSIONES……..………………………………………………………..………….....24
7. CONCLUSIONES……..………………………………………………………..……….....24
REFERENCIAS……..………………………………………………………..…………....25
[2]
CAPITULO 1. Resumen
Se implementó un interferómetro tipo Mach-Zenhder, estudiando y usando adecuadamente

los procesos de alineación para su funcionamiento, donde se utilizaron varios componentes
ópticos como divisores de haz, espejos, y lentes. Y también algunos componentes
mecánicos como el soporte giratorio. La fuente laser usada fue de 632,7 nm para el arreglo
del interferómetro.
Se usara el interferómetro para hallar el índice de refracción y la variación del índice de

refracción con respecto a la concentración del polímero. Realizándose medidas con
soluciones a diferentes concentraciones del polímero (PVA) disuelto en agua.
Los resultados en el interferómetro servirán como complemento del proyecto de scattering

de partículas en el mismo ambiente, en el cual se busca hallar el peso molecular promedio
de moléculas poliméricas (PVA) en soluciones.
CAPITULO 2. Introducción
2.1 Antecedentes
La interferometría actualmente es usada en diversas aplicaciones involucradas con

alta tecnología, debido a la capacidad de realizar medidas en escalas nanometricas con una
alta exactitud.
En particular la configuración de Mach-Zenhder es más versátil que otros tipos pues

en combinación con el uso de software es útil para la caracterización de superficies,
evaluación de fluidos, medir el índice de refracción de fluidos, entre otras más. Siendo
estas aplicaciones posibles gracias a su configuración de dos caminos separados.
[3]
2.2 Objetivos
2.2.1 Generales
- Implementar un interferómetro tipo Mach-Zenhder.
2.2.2 Específicos
-Estudiar las características, funcionamiento y proceso de alineación en un

interferómetro de Mach-Zenhder.
-Hallar el índice de refracción de una placa de vidrio 1mm de grosor.
CAPITULO 3: Fundamento Teórico
3.1 Coherencia temporal y espacial
3.1.1 Condiciones para producir interferencia
Si dos fuentes van a interferirse para producir un patrón estable, deben tener casi la misma
frecuencia. Una significativa diferencia en la frecuencia resultara en una diferencia de fase
dependiente del tiempo que variara rápidamente, en el cual causara que el factor de
interferencia (I12) sea promediado con valor cero durante el intervalo de detección.
Los patrones más claros existen cuando las ondas de interferencia tienen igual o amplitudes
parecidas. Las regiones de franjas oscuras o luminosas entonces corresponden a
interferencia destructiva o constructiva, respectivamente.
Para que un patrón de franjas sea observado, las dos fuentes necesitan estar en fase una con
la otra. Se producirá un patrón de interferencia un tanto desplazado pero por lo demás
idéntico si hay alguna diferencia de fase inicial entre las fuentes, mientras esta fase
permanezca constante. Se dirá que tales fuentes son coherentes.
[4]
3.1.2 Coherencia Temporal
En cada punto iluminado en el espacio hay un campo eléctrico que oscila

(aproximadamente un millón de ciclos) durante al menos 10 ns antes de que cambie su fase
de forma aleatoria. En este intervalo sobre el cual la onda luminosa se asemeja a una
sinusoidal es una medida de su coherencia temporal.
Cuando se observa desde un punto fijo en el espacio, la onda luminosa asemeja tener una
forma sinusoidal constante para cierto número de oscilaciones. La extensión espacial
correspondiente sobre la cual la onda luminosa oscila de una manera regular y predecible es
la longitud de coherencia.
Una de las consecuencias de la coherencia temporal en una onda, es el grado de mono
cromaticidad y la longitud o tiempo en el que lo mantiene. Si la luz fuera idealmente
monocromática, la onda seria perfectamente sinusoidal con una longitud infinita de
coherencia [6]. Todas las fuentes reales no logran alcanzarlo y en cambio emiten un rango
de frecuencias de intervalo muy reducido. Se muestra la ecuación para γ̅ij (τ) , grado de
coherencia
ᴦ̃ii(τ)
γ̅ij (τ) = (2)
√ᴦ
̃ (0) ᴦ
ii
̃ (0)
jj
dónde |γ̅ij (τ)| 1, coherencia límite
0, incoherencia límite
Entre 0 a 1, coherencia parcial
Siendo ᴦ̃ij (τ) módulo promedio temporal en un punto arbitrario en el intervalo de tiempo T,
E campo eléctrico, τ desfase temporal
ᴦ̃ij (τ) = 〈Ei (t + τ) Ej∗ (t)〉T (1)
[5]
3.1.3 Coherencia Espacial
En (a) la onda, la cual crece de una fuente puntual, es monocromática y tiene coherencia
temporal completa. Lo que le sucederá a P’1, en un momento más tarde sucederá en P’2 y
más tarde a P’3 ,todo totalmente predecible. En cambio en la figura (b) muestra una fuente
puntual que cambia de frecuencia de momento a momento. Ahora allí no hay correlación de
la onda a puntos que están más allá como P’1 y P’4. Las ondas carecen de la coherencia
temporal mostrada en (a), pero ellas no son completamente impredecibles. Como entre
puntos más cercanos como P’2 y P’3 hay cierta correlación. Esta es una instancia de
coherencia temporal parcial.
El comportamiento de las ondas en los puntos P1, P2 y P3 está completamente

correlacionado. Cada uno de los flujos de ondas crece de una única fuente puntual y P1, P2,
y P3 se encuentran en el mismo frente de onda para ambos casos. La perturbación lateral de
cada uno de estos puntos lateralmente separados está en fase y se mantienen en fase. Ambas
ondas entonces exhiben una completa coherencia espacial.
(a) (b)
Fig1. Figura extraída del libro Optics, Eugene Hecht.
(a)Las ondas muestran una coherencia perfecta. (b)Muestra una coherencia
espacial completa pero una coherencia temporal parcial.
[6]
3.2 Interferómetro de Mach-Zenhder
Consiste de dos divisores de haz y dos espejos de reflexión total. Las dos ondas dentro del
aparato viajan a lo largo de dos caminos separados. Una diferencia entre ellos puede ser
introducida por una pequeña desviación de uno de los divisores. Desde que los dos caminos
ópticos son separados, el interferómetro es relativamente difícil de alinear. Por la misma
razón, sin embargo, el interferómetro tiene numerosas aplicaciones. Incluso ha sido usado,
de una forma alterada pero conceptualmente similar, para obtener franjas de interferencia
de electrones.
Un objeto interpuesto en uno de los haces alterara la diferencia de camino óptico, por lo
tanto cambiando el patrón de franjas. Una aplicación común del dispositivo es para
observar las variaciones de densidad en patrones de flujos dentro de cámaras de
investigación.
Fig2. Diagrama con los componentes basicos de un interferómetro tipo Mach-Zenhder..

M1, M2 espejos; P1, P2, divisores de haz;
[7]
3.2.1 Cambios de fase por reflexión
Al examinar los divisores de haz consisten, están formados por un vidrio sustrato y un
revestimiento reflectante en la parte superior de un lado. Dependiendo de qué lado del
divisor de haz por el que el láser se refleja, existe un desplazamiento de fase de ángulo 90°
o no. Cuando la luz se refleja desde el lado posterior (es decir, cuando entra primero en el
vidrio), entonces no se produce un cambio de fase.
Fig3. Cambio de fase en el divisor de haz de tipo placa.
Para el caso de los espejos este cambio de fase siempre se da (aumento de π).
3.3 Diferencia de camino óptico y cálculo del índice de refracción
3.3.1 Diferencia de camino óptico y vista en pantallas [2]
La diferencia de camino óptico se da por las diferencias entre los dos caminos opticos o
brazos del interferómetro. Según el diagrama, esto conduce a que se tenga dos salidas del
interferómetro que muestran patrones de interferencia que son complementarias.
Significando que si el patrón en una pantalla muestra un punto oscuro, entonces la otra
pantalla muestra un punto brillante en el mismo lugar (y viceversa) la razón se encuentra en
los cambios de fase en los divisores de haz (Figura 3).
[8]
Se muestra el cambio de fase en cada camino del interferómetro para cada pantalla
respectivamente. Y la diferencia de camino óptico entre los brazos del interferómetro.
Fig4. Diferencia camino óptico en la pantalla superior.
Similarmente, también se realiza para la otra pantalla.
Fig5. Diferencia camino óptico en la pantalla derecha
Se muestra las ecuaciones de diferencia de camino óptico para cada pantalla, donde
l1 y l2, son las distancias de cada brazo del interferómetro; t, es el grosor del divisor de haz
y λ, es la longitud de onda.
Para la pantalla superior,
𝑙 +2𝑡 𝑙 +2𝑡 𝑙 −𝑙
2𝜋 + 2𝜋 ( 1 𝜆 ) − 𝜋 − 2𝜋 ( 2 𝜆 ) = 𝜋 + 2𝜋 ( 1 𝜆 2 ) = 𝜋 + 𝛿 (3)
[9]
para la pantalla en lado derecho,
𝑙 +𝑡 𝑙 +𝑡 𝑙 −𝑙
2𝜋 + 2𝜋 ( 1𝜆 ) − 2𝜋 − 2𝜋 ( 2𝜆 ) = 2𝜋 ( 1 𝜆 2 ) = 𝛿 (4)
explicando la interferencia constructiva y destructiva en cada pantalla.
3.3.2 Calculo de índice de refracción en objetos planos transparentes
Al introducir algún objeto transparente o fluido (diferente al del ambiente) en cualquiera de

los brazos, esto generara una variación en la diferencia de camino óptico entre los brazos
del interferómetro. Produciendo cambios en el patrón de interferencia.
En el caso de un fluido, se introducirá en un contenedor transparente y dispuesto en uno de

los brazos de manera que el haz atraviese el fluido. Donde se empezará a variar algunos de
los parámetros del fluido (temperatura, presión, concentración, etc) produciendo efectos en
el patrón de interferencia, donde se cuenta la variación de franjas luminosas para
posteriormente relacionarlas con los parámetros variados.
En el caso de un objeto plano transparente, para hallar su índice de refracción será

necesario contar con un soporte rotatorio que indique el ángulo de rotación barrido. Este
objeto transparente debe tener forma de una placa con sus superficies de mayor área lo más
paralelas posibles. Aplicando ley de Snell, se obtiene:
n2 λ 2
(t−Nλ)(1−cos ϕ)+( 4t )
n= (5)
t(1−cosϕ)−nλ
Donde t es el grosor de la muestra, ϕ ángulo del haz laser, n índice de refracción, N(ϕ) el
número de franjas correspondientes al ángulo ϕ; y λ la longitud de onda. Despreciando el
[10]
termino (n2λ2/2t), se puede encontrar una manera adecuada para realizar representación
gráfica, como:
1
ϕ = [2t(n − 1)/nλ][1/N] + 2/n (6)
sin2 ( 2 )
De la relación entre 1/N vs 1/sin2(ϕ/2), el valor del índice de refracción puede ser
determinado.
CAPITULO 4. Procedimiento Experimental
4.1 Descripción del sistema óptico
4.1.1 Fuente de luz laser
Se utilizó un diodo laser colimado (637,2 nm) THORLABS modelo CPS635R de 1,3 mW
de potencia, no polarizado, con haz redondo.
Este dispositivo fue colocado de tal modo que la trayectoria del haz emitido sea los más
paralelo posible a la superficie o mesa óptica.
4.1.2 Divisor de Haz
Se utilizó un divisor de haz (BS1, BS2 en figura 7) de forma circular plana, que consta de
un sustrato que contiene un recubrimiento en uno de sus lados. El cual tiene la propiedad de
transmitir y reflejar aproximadamente la mitad de la potencia de un haz de luz (450nm -
650nm) que incide con un ángulo de incidencia de 45° sobre una de sus superficies.
[11]
4.1.3 Aperturas
Sé utilizo una apertura circular de 2,8 mm de diámetro. Utilizándose para reducir el área de
la sección transversal del haz de luz láser que incide sobre los componentes ópticos, debido
a que la fuente de luz láser emite luz adicional que no pertenece al haz circular principal.
4.1.4 Espejos
Los espejos (M1, M2 en figura 7) usados constan de sustratos que contiene un

recubrimiento de plata por uno de sus lados. Con un grosor de 6,0mm y un diámetro de
25,4mm .La intensidad del haz reflejado se considerara que es igual al incidente.
4.1.5 Lentes
Se usaron un par de lentes, convergente y divergente de 7,5 cm de foco en ambos casos. Lo

cuales sirven para tener una mejor vista del patrón de interferencia a producir. Así como
apoyo para el alineamiento.
4.1.6 Soporte giratorio
Se usó un soporte giratorio manual de la marca THORLABS (Figura 12) que cuenta con un
goniómetro de resolución de 0,2°. Además de una manija que permite realizar variaciones
angulares muchas más exactas, pero tiene una amplitud o alcance de hasta +-5° respecto a
su posición inicial.
[12]
4.1.7 Fotodiodo [8]

Debido a que las longitudes de onda que se emplearon en este trabajo se encuentran en la
región del espectro visible de la radiación electromagnética, comprendida entre los 400 nm
y los 700 nm de longitud de onda, fue necesario el uso de fotodetectores o sensores ópticos,
los cuales son capaces de absorber energía de un fotón y dar como respuesta una señal
eléctrica medible proporcional a la energía absorbida. La energía de un fotón está dada por
la ecuación.
ℎ𝑐
𝐸 = ℎ𝜈 = (7)
𝜆
Donde ℎ es la constante de Planck, 𝜈 es la frecuencia de oscilación de la onda, c es la

velocidad de la luz y 𝜆 es la longitud de la onda. Esta energía se da en unidades de electrón
voltios (eV), un electrón voltio está definido como la energía adquirida por un electrón que
atraviesa una diferencia de potencial de un voltio.
4.1.7.1 Características electrónicas
Un fotodiodo puede ser representado como una fuente de corriente en paralelo con un diodo
ideal, como se observa en la Figura 6. La fuente de corriente representa la fotocorriente 𝐼𝑓
generada por la energía absorbida de los fotones, y el diodo representa la unión PN.
También se representan la capacitancia de la unión PN ,𝐶𝐽 , la resistencia de esta unión 𝑅𝑖 y
la resistencia debido a los contactos metálicos del fotodiodo, 𝑅𝑆 .
[13]
Figura 6. Circuito equivalente para un fotodiodo. A través de la resistencia de carga 𝑅𝐶

se obtiene un voltaje de salida para una fotocorriente 𝐼𝑓 del fotodiodo. Imagen extraída de Tesis de Maestria,
Abner Velasco, Diseño y construcción de un equipo para la medición del scattering de luz producido por partículas
dieléctricas micrométricas en suspensión coloidal.
4.1.7.2 Características ópticas
La foto sensibilidad 𝐹𝑠 , describe la sensibilidad del detector y nos da la relación entre la

fotocorriente 𝐼𝑓 , en amperios, generada por el detector y la potencia incidente P, en watts,
sobre este a una longitud de onda específica, es decir indica una respuesta espectral del
detector,
𝐼𝑓
𝐹𝑠 = (8)
𝑃
El rango de la respuesta espectral de un fotodiodo es determinado por el material, la

estructura y el empaquetamiento de este.
[14]
4.2 Implementación y alineamiento del interferómetro
Esta fase consistirá en el acomodo de los componentes ópticos (posicionamientos y

orientación), como así también hacer que el haz de luz láser traspase y/o se refleje en los
componentes ópticos formando ángulos adecuados al sistema que quiere formarse. Es
importante mencionar que es necesario tener una referencia plana para que se puedan
realizar correctamente la alineación. El sistema óptico que se desea montar es el arreglo
Mach-Zenhder:
(a) M1, M2 espejos; BS1, BS2, divisores de haz; L1, L2 lentes divergentes; S1, S2 pantallas.
(b) d: distancia entre espejo y divisor; h: altura constante a lo largo del haz.
Fig7. (a)Vista esquemática superior del arreglo óptico, donde se indica los ángulos de incidencia. (b) Una de
las vistas laterales del arreglo, el láser a largo de su recorrido debe encontrarse a una altura h de la mesa
óptica a pesar de que la mesa se encuentre levemente inclinada.
[15]
A continuación se describen los métodos usados para alinear un sistema óptico, al aplicarse
más de uno servirá para verificar y/o mejorar la precisión del método que se usó
anteriormente. Las monturas de los elementos ópticos cuentan con perillas, por medio de
las cuales los elementos ópticos son orientados de manera que se satisfaga lo indicado en el
esquema.
4.2.1. Métodos de alineamiento base para el interferómetro
-Uso de una altura de referencia (regla): Alineación tipo vertical con respecto a la
superficie donde se montaran todos los componentes ópticos (mesa óptica). Consiste en
mantener que el haz de luz coincida a una misma altura medida por la regla y variando la
distancia de la misma, la regla en todo momento se encuentra perpendicular al plano óptico.
Para lograrlo se hace uso de las manijas dispuestas en la montura.
(a) (b)
Fig8 (a) Vista lateral. L as diferentes distancias donde se verifica la alineación vertical. (b)Vista al plano
horizontal de la regla, para este caso, el haz debe coincidir en 11,5cm en todas las posiciones di.
-Uso de espejo para coincidir el haz reflejado: Útil para verificar la alineación vertical
del láser, a la vez que servirá también para ayudar a acomodar la superficie del espejo si el
láser ya ha sido adecuadamente alineado. Se inicia con un diafragma teniendo su abertura a
[16]
la altura deseada, y siendo desplazado a lo largo del eje del haz. En la posición que el láser
deje de atravesar la abertura, se posiciona un espejo. La montura del láser (también la del
espejo, si este no está previamente orientado) deberá ser orientado mediante las perillas de
manera que el haz reflejado coincida en su origen. Se aplica para diferentes distancias,
buscando la orientación más paralela al plano óptico.
Fig9. Vista lateral, indicar que el ángulo debe B debe ser 0° para conseguir alinearlo en cada posición di.
-Uso de los agujeros del tablero óptico: Sirve para guiar la alineación en el plano
horizontal del plano óptico y cumplir con los ángulos para formar el sistema. Como bien
indica se procederá la alineación teniendo como guía a los agujeros para tornillos de la
mesa. Usándose la escuadra que se posara sobre estos agujeros de la forma más meticulosa
posible, y reproduciendo ese mismo posicionamiento sobre el tablero a lo largo del eje al
que se quiere alinear.
(a) (b)
Fig10. (a) Vista superior, de las distintas distancias a las que se posiciona la escuadra. (b)Vista en la regla, la
posición del haz incidente debe reproducirse igualmente en cualquier posición di.
[17]
-Alineación mediante reflexión en arreglos: Se corregirá y afinara la alineación ya

conseguida con los métodos anteriores, así como orientar mejor los componentes. Una vez
aplicado lo anterior, se forma un arreglo de 1 a 2 espejos (o algún divisor) tratando de que
el haz incida en un ángulo de 45° con la normal de cada espejo. Para posteriormente usar
alguna otra referencia donde se debe hacer coincidir el haz por más que se varíe las
distancias. Para lograr la incidencia en la referencia: cuando la distancia entre la referencia
y el ultimo espejo sea la menor se variara las perillas de la montura más alejada, mientras
que si la distancia entre el ultimo espejo y la referencia es la mayor se varia la perilla de
este último espejo. Así logrando alinear el haz a cualquier dirección que se desee. [5]
(a) (b)
Fig11. El color de flechas indica la posición de la referencia con su montura correspondiente a orientar. (a)
Arreglo con un espejo, aun se alinea la montura del láser. b) Arreglo de dos espejos. Las perillas variaran la
normal del espejo.
4.2.2 Alineamiento del conjunto óptico
A pesar de los procedimientos iniciales para la alineación del sistema, no son del todo
suficientes para lograr el alineamiento adecuado para el registro de datos. Para esto es
necesario reconocer como es que se relaciona la imagen vista con el posicionamiento y
orientación de los componentes ópticos.
[18]
Fig10. Componentes ópticos en la mesa.
-Divisores de haz: BS1 y BS2
Las mínimas variaciones de orientación en estos divisores de haces afectan

considerablemente al alineamiento final resultante del interferómetro, con lo que se
terminaría definiendo si el sistema está alineado o no, y en consecuencia también la
aparición de determinados patrones de interferencia. Así que es necesario asegurar su
correcta alineación mediante los dos indicadores que se usaron (analizando la imagen en el
haz lateral):
1er indicador: Pantalla a 1,5 metros de distancia
Para lograr la coincidencia de los dos haces en la pantalla se varia la orientación de BS 2.

Aunque no se vea a simple vista de forma experimental, esto aún no asegura la alineación
del sistema como se puede observar en la siguiente imagen. Este ángulo no necesariamente
es coplanar al plano de la imagen.
[19]
Fig11. Diagrama mostrando ángulo que aun forman los haces a pesar de la coincidencia en pantalla.
2do indicador: Uso de lente divergente (f=7.5cm) y una pantalla.
Una vez logrado la coincidencia de los haces en la pantalla a dos metros de distancia, se
posiciona una lente divergente inmediatamente después de BS 2 (haz lateral) además de
una pantalla aproximadamente a unos 20cm en el cual se observaran dos haces
(amplificados) que no coinciden. Para lograr la coincidencia entre estos dos haces se varia
BS 1. Pero al variar BS 1, en la pantalla a 1.5m los haces dejaran de coincidir. Aunque
ahora el grado de separación de los dos haces en la pantalla a 1.5m es menor comparado a
la separación inicial, se volverá a variar BS 2 para la coincidencia en la pantalla a 1,5m.
Así repitiendo estrictamente de forma intercalada: BS1 para lograr coincidencia en pantalla
a 20cm, y BS2 para lograr coincidencia en pantalla a 1,5m. Si no se respeta la relación no
será posible llegar a una coincidencia en ambas pantallas, que es lo que se busca.
-Espejos: M1 y M2
Una vez realizado el alineamiento en base a BS1 y BS2. Las pequeñas variaciones de
orientación que se realicen en los espejos ayudarían a “centrar” el patrón de interferencia en
la imagen que se reproduce en la pantalla. Mientras más alejado se encuentre el centro del
patrón de interferencia de la imagen en la pantalla se notaran franjas de interferencia más
finas. Entonces se varia la orientación de los espejos, ya sea lateralmente o verticalmente,
de manera que las franjas de interferencia vistas sean lo menos finas posible o, que es lo
mismo, hasta que sea vea el centro del patrón de interferencia (circulo concéntrico u otra
forma que no sea solamente franjas).
[20]
4.3 Acondicionamiento del soporte giratorio
Fig12.Imagenes extraídas de la página web del fabricante THORLABS. Vista Superior del soporte giratorio.
Y una de las vistas laterales del soporte giratorio.
Inicialmente el sistema óptico fue implementado a una altura de 11,5cm. El soporte

giratorio tiene una altura de 2,53 cm, debido a eso se buscó alguna base en la cual apoyar el
soporte giratorio y alcance esa altura. Afectaría el experimento si esta base presenta cierta
inclinación por lo que tendría que ser especialmente diseñada. Como solución se usaron
cuatro varillas de aluminio de 10cm de altura fabricadas por THORLABS y sumado a la
altura de 2,53cm del soporte giratorio, el láser como mínimo debe pasar a una altura de
12,53cm. Se eligió reacondicionarlo a una altura de 14,3cm según los componentes
disponibles que se tienen en el laboratorio. También se cambió a una distancia menor entre
los componentes y buscando un arreglo simétrico (cuadrado). Aplicándose los
procedimientos de alineación ya mencionados.
[21]
4.4 Acondicionamiento de la placa de vidrio para medir el índice de

refracción
Se realizo pruebas para determinar el indice de refraccion en una placa de vidrio

(miscroscope slides) que principalmente esta compuesto por soda lime glass (n = 1,52).
Esta placa es posicionada y fijada sobre la montura giratoria, de manera que su superficie
plana sea los mas perperdicularposible al haz incidente del brazo.
Posteriormente la placa es girada sobre su eje, asi variando la diferencia de camino

optico entre los dos brazos del interferometro. Produciendo un corrimiento de franjas en el
patron de interferencia. La variacion de angulo de la mesa giratoria es registrada con el
respectivo numero de desplazamiento de franjas en patron de interferencia.
(a)
(b)
Fig13. (a)Montura giratoria indicando posición angular y con la placa de vidrio montada.
(b)Patrón de interferencia.
[22]
CAPITULO 5. Resultados Experimentales

5.1 Arreglos formados en configuración de Mach – Zenhder
-Diagrama del primer arreglo formado (placa arqueada)
Fig14. Configuración rectangular
-Estimación de desniveles en la placa metalica
Fig15. Arreglo cuadrangular. Separación en zonas para estimar la irregularidad del tablero.
Las flechas indican, desde una altura mayor a menor en ese sentido y se considerara que las
rectas perpendiculares a estas flechas se encuentran al mismo nivel. En las zonas en general
se presentan desniveles de forma irregular pero lo presentando es lo que mayor se notó en
el desarrollo del experimento. Se está considerando la zona naranja como “plana” pero en
realidad es la zona que presenta menor desnivel.
[23]
Zona Características
Naranja zona plana de referencia, y de mayor
altura
Azul no identificada
Morada llega hasta 0.5mm de desnivel
Verde llega hasta 1mm de desnivel
Amarilla llega hasta 2mm de desnivel
-Diagrama del segundo arreglo formado (placa rectificada)
Fig16. Configuración cuadrangular
[24]
-Diagrama del Tercer arreglo formado (placa rectificada)
Fig17. Esquema del arreglo cuadrangular con un distancia reducida.
-Diagrama del cuarto arreglo formado (placa rectificada)
Fig18. Esquema del arreglo implementado al término de este informe.
[25]
5.2 Patrones de interferencia obtenidos

-Patrón de interferencia central obtenido en el primer arreglo
(a) (b)
Fig19. (a)Patrón de inteferencia central en pantalla superior. (b) Patrón de interferencia central en pantalla
lado derecho.
-Patrón de interferencia central obtenido en el segundo arreglo
(a) (b)
Fig20. (a) Vista del arreglo experimental. (b) Vista del patrón central en pantalla lado derecho.[4]
[26]
-Patrón de interferencia central obtenido en el tercer arreglo
(a) (b) (c)
Fig21. Patrones de interferencia (a) Pantalla superior, (b) Pantalla derecha. (c)Luz directa saliente del
generador laser, solo siendo amplificada por una lente de 7,5cm.
-Imágenes de haces amplificadas y patrón de interferencia obtenido en el cuarto

arreglo
(a) (b)
Fig22. (a) Imágenes de haces usados para la alineación variando BS1 (4.2.2), en la pantalla a 20cm.
(b)Logrando la coincidencia en la pantalla a 20 cm.
[27]
(a) (b)
Fig23. (a)Patrón obtenido en pantalla lateral. (b) Foto con mayor detalle del patrón,
las luminosidades y color no son las reales en esta foto.
5.3 Soporte giratorio instalado en el interferómetro
Fig24. Esquema del sistema óptico con el soporte giratorio, a una altura de 14,3cm.
[28]
CAPITULO 6. Discusiones
-En el inicio de la implementación del interferómetro, la aplicación de los métodos bases de

alineamiento indicados en la sección (4.2.1) fue realizada de forma inexacta y en base a
estimaciones, debido a que la placa metálica donde se estaba llevando el montaje estaba
arqueada en gran parte de su superficie y de forma irregular (Figura 15). Llegándose a esta
conclusión gracias a la aplicación de los métodos de la sección (4.2.1).
- La figura 19 es un patrón de interferencia de baja nitidez y difusa visibilidad, también fue

el primer patrón de interferencia que se obtuvo, el cual fue obtenido cuando la
implementación del sistema fue realizado en una superficie arqueada (placa metalica). Una
vez rectificada la superficie, se mejoró la calidad de la imagen como en la figuras 20 y 21.
-El divisor de haz usado al estar compuesto por un sustrato y un recubrimiento [9], donde el
sustrato posee un grosor significativo (1mm) produciendo reflexiones de Fresnel en el
momento que el haz de luz lo atraviesa, aunque esto no afecte en mucho mas que
influenciar en la forma del patrón central (Figura 21 y 23) no afectando al desplazamiento
de las franjas (o diferencia de camino óptico) (Figura 13.b).
-Para el cuarto arreglo del interferómetro, se observan en los haces expandidos por la lente
en la Figura 22 que muestra ciertas manchas producidas por el contacto con el componente
inerte (fluorocarbon a baja temperatura) del producto llamado “spray duster” o aire
comprimido en la superficie del divisor. Siendo afectado el divisor de haz, y por tanto el
sistema produce un patrón de interferencia central con cierta similitud al de círculos
concéntricos (Figura 23).
- En él proceso de alineamiento no solo basta usar los métodos bases descritos en la sección
(4.2.1). En base a experimentación, se tuvo conocimiento sobre las relaciones que guardan
la variación de la inclinación en cada componente óptico y su efecto en el patrón de
interferencia, con el reconocimiento de tales efectos [7] y por tanto con la correcta
aplicación [5] de los procesos indicados en la sección (4.2.2) se lograra la alineación como
en la Figura 21 de círculos concéntricos [2].
[29]
-A pesar de que no se conoce que lado del divisor de haz posee el recubrimiento, no afecta
al alineamiento del sistema. Pues esta información solo determinara en que pantalla se
encuentra la interferencia constructiva o destructiva, como lo mostrado en la sección
(3.3.1).
-La intensidad del haz de luz inicial se conserva aún en las pantallas, pues en una de ellas la
interferencia es constructiva y en la otra destructiva.
-Los patrones de interferencia producidos por el interferómetro son sensibles a cualquier

perturbación cerca del sistema, por lo cual es necesario amortiguar la plataforma base que
contiene el interferómetro. Así como también será necesario amortiguar el soporte giratorio
de la mesa, para que la inestabilidad sea mínima en el sistema al momento de realizar los
barridos angulares.
-Al realizar la primera prueba de registro de datos necesarios para hallar el índice de
refracción de la placa de vidrio, el inconveniente principal fue por efectos de vibraciones
mecánicas. La manipulación y registro de datos de forma manual fue la principal causa que
produjo estos efectos, concluyendo que por cuestiones prácticas y de una mejora en el
registro de datos se debe automatizar el proceso, como la inclusión de un fotodiodo para el
conteo de franjas y la implementación de un motor a pasos para que realice el barrido
angular.
CAPITULO 7. Conclusiones
-Se implementó un interferómetro Mach-Zenhder de forma cuadrada 23cm x 23cm, con

altura del láser a 13,4 cm.
-Se obtuvo el patrón de franjas concéntricas, evidenciando que se domina el proceso de

alineación del interferómetro.
-No se logró medir el índice de refracción, pero se concluyó que será necesario automatizar
para realizar las mediciones.
[30]
REFERENCIAS
[1] Peter Beyersdorf’s, Laboratory optics, http://www.laboratoryoptics.com/About.html
[2] Thor Labs, Quantum Eraser Demonstration Kit User Guide, Pag 20 al 22 y 30,
https://www.thorlabs.com/thorproduct.cfm?partnumber=EDU-QE1
[3] K P Zetie, S F Adams and R M Tocknell,2000, How does a Mach–Zehnder

interferometer work?, Physics Department, Westminster School, London SW1 3PB, UK,
IOPscience
[4] Jaskaran Virdi, Nov 10, 2014, Why is the shape of the fringes in Young's double slit
experiment hyperbolic? [mensaje 1], https://www.quora.com/Why-is-the-shape-of-the-
fringes-in-Youngs-double-slit-experiment-hyperbolic
[5] Simone Agha and Daniel Minkin, Julio 2007, Understanding "Walking the Beam”,
http://laser.physics.sunysb.edu/~simone/mini-project/
[6] Eugene Hecht, (2002) Optics, Pearson Education Inc. as Adisson Wesley, United States
of America.
[7] Max Born & Emil Wolf, (1970) Principles of Optics, Gran Bretaña, Pergamon Press
[8] Tesis de Maestria, Abner Velasco, Diseño y construcción de un equipo para la medición
del scattering de luz producido por partículas dieléctricas micrométricas en suspensión
coloidal, Universidad Nacional de Ingenieria, Perú, 2013.
[9] Thorlabs,Inc.(05-2017), Beamsplitter Selection Guide,

https://www.thorlabs.com/newgrouppage9.cfm?objectgroup_id=7469
[10] B. El-Baradie,R. Ghazy, A. El-Shaer, F. El-Mekawey, February 2000, Optical

selection of the preferred solvent of a standard polymer for laser light scattering phenomena
investigations, Laser Laboratory, Tanta University, Tanta ,Egypt, Elsevier
[11] R. Ghazy, February 1999, Mach-Zehnder interferometer investigations on some laser

dye solvents, Laser Laboratory, Tanta University, Egypt, Acta Physica Polonica
[12] Thorlabs,Inc.(05-2017), Optical Cleaning,

https://www.thorlabs.com/newgrouppage9.cfm?objectgroup_id=9025
[31]
[32]

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Universidad Nacional de Ingeniería 2017-1

UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERÍA

Se implementó un interferómetro tipo Mach-Zenhder, estudiando y usando adecuadamente

Se usara el interferómetro para hallar el índice de refracción y la variación del índice de

Los resultados en el interferómetro servirán como complemento del proyecto de scattering

La interferometría actualmente es usada en diversas aplicaciones involucradas con

En particular la configuración de Mach-Zenhder es más versátil que otros tipos pues

- Implementar un interferómetro tipo Mach-Zenhder.

-Estudiar las características, funcionamiento y proceso de alineación en un

-Hallar el índice de refracción de una placa de vidrio 1mm de grosor.

CAPITULO 3: Fundamento Teórico

3.1 Coherencia temporal y espacial

3.1.1 Condiciones para producir interferencia

3.1.2 Coherencia Temporal

En cada punto iluminado en el espacio hay un campo eléctrico que oscila

dónde |γ̅ij (τ)| 1, coherencia límite

E campo eléctrico, τ desfase temporal

ᴦ̃ij (τ) = 〈Ei (t + τ) Ej∗ (t)〉T (1)

3.1.3 Coherencia Espacial

El comportamiento de las ondas en los puntos P1, P2 y P3 está completamente

3.2 Interferómetro de Mach-Zenhder

Fig2. Diagrama con los componentes basicos de un interferómetro tipo Mach-Zenhder..

3.2.1 Cambios de fase por reflexión

Fig3. Cambio de fase en el divisor de haz de tipo placa.

3.3 Diferencia de camino óptico y cálculo del índice de refracción

3.3.1 Diferencia de camino óptico y vista en pantallas [2]

Fig4. Diferencia camino óptico en la pantalla superior.

Similarmente, también se realiza para la otra pantalla.

Fig5. Diferencia camino óptico en la pantalla derecha

Para la pantalla superior,

para la pantalla en lado derecho,

explicando la interferencia constructiva y destructiva en cada pantalla.

3.3.2 Calculo de índice de refracción en objetos planos transparentes

Al introducir algún objeto transparente o fluido (diferente al del ambiente) en cualquiera de

En el caso de un fluido, se introducirá en un contenedor transparente y dispuesto en uno de

En el caso de un objeto plano transparente, para hallar su índice de refracción será

CAPITULO 4. Procedimiento Experimental

4.1 Descripción del sistema óptico

4.1.1 Fuente de luz laser

4.1.2 Divisor de Haz

Los espejos (M1, M2 en figura 7) usados constan de sustratos que contiene un

Se usaron un par de lentes, convergente y divergente de 7,5 cm de foco en ambos casos. Lo

4.1.6 Soporte giratorio

4.1.7 Fotodiodo [8]

Donde ℎ es la constante de Planck, 𝜈 es la frecuencia de oscilación de la onda, c es la

4.1.7.1 Características electrónicas

Figura 6. Circuito equivalente para un fotodiodo. A través de la resistencia de carga 𝑅𝐶

4.1.7.2 Características ópticas

La foto sensibilidad 𝐹𝑠 , describe la sensibilidad del detector y nos da la relación entre la

El rango de la respuesta espectral de un fotodiodo es determinado por el material, la

4.2 Implementación y alineamiento del interferómetro

Esta fase consistirá en el acomodo de los componentes ópticos (posicionamientos y

4.2.1. Métodos de alineamiento base para el interferómetro

-Alineación mediante reflexión en arreglos: Se corregirá y afinara la alineación ya

4.2.2 Alineamiento del conjunto óptico

Fig10. Componentes ópticos en la mesa.

-Divisores de haz: BS1 y BS2

Las mínimas variaciones de orientación en estos divisores de haces afectan

1er indicador: Pantalla a 1,5 metros de distancia

Para lograr la coincidencia de los dos haces en la pantalla se varia la orientación de BS 2.

2do indicador: Uso de lente divergente (f=7.5cm) y una pantalla.

4.3 Acondicionamiento del soporte giratorio

Inicialmente el sistema óptico fue implementado a una altura de 11,5cm. El soporte