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Jordi Diaz
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All content following this page was uploaded by Jordi Diaz on 13 October 2015.
1. Introducción
Desde que en los años 50 Richard Feynman pronunciara su célebre frase “there’s plenty of
room at the bottom”, la nanociencia y la nanotecnología se han convertido en dos de los
pilares fundamentales de la ciencia moderna. La nanotecnología, gracias a su naturaleza
interdisciplinar, se ha extendido y se extiende rápidamente en multitud de disciplinas como
pueden ser la ingeniería, la física, la química y las ciencias de la vida. Aunque hay una cierta
tendencia general a pensar que la palabra “nano” se restringe al campo de la investigación
más teórica, hay una gran variedad de productos de la vida cotidiana que se benefician de
esta aproximación revolucionaria a la ciencia y la tecnología. La microelectrónica es quizá el
campo que se ha beneficiado de manera más inmediata, ya que todos conocemos las
mejoras introducidas en los microprocesadores y otros componentes electrónicos, cada vez
más pequeños y potentes. Sin embargo, las ciencias de la vida, la medicina y la cosmética,
por citar solamente unos casos, están introduciendo de manera exitosa nanopartículas en
productos tan comunes como protectores solares o tratamientos antiedad (1). En este
sentido, es importante destacar que este tipo de productos se han convertido en foco de
atención del ojo público debido a que no han sido testados de manera intensiva sobre seres
humanos y, por tanto, sus efectos a largo plazo permanecen desconocidos (1). El diámetro
nanométrico de las partículas utilizadas les permite penetrar la piel y entrar en el flujo
sanguíneo, hecho que las vuelve proclives a generar ciertos tipos de cáncer. En esta situación
tan incierta, las industrias relacionadas con la nanotecnología esgrimen sus argumentos para
publicitar los beneficios de sus productos y para introducirlos en los mercados globales,
hecho que cambiará el mundo de los artículos de consumo de una manera definitiva.
El estudio de la naturaleza en el rango nanométrico experimentó un auge muy relevante
desde la invención y desarrollo de las Microscopías de Sonda Próxima (SPMs). El primer
miembro de esta prolífica familia de instrumentos fue la Microscopía de Efecto Túnel (STM),
desarrollada en los años 80 en los laboratorios centrales de IBM Zurich (2) y famosa por ser
la técnica mediante la cual se obtuvo la primera imagen con resolución atómica de una
superficie (Binnig y Rohrer, los padres de las SPMs, ganaron el premio Nobel en 1986 por el
desarrollo de estas técnicas). Esta tecnología se convirtió rápidamente en la piedra de toque
en lo referente al estudio de la catálisis y la ciencia de superficies gracias a su resolución
topográfica nunca vista anteriormente. Sin embargo, su uso estaba restringido a muestras
eléctricamente conductoras, limitación que desapareció rápidamente con el desarrollo de la
1
Microscopía de Fuerzas Atómicas (AFM) (3), técnica mediante la cual todo tipo de muestras,
esto es, aislantes y conductoras, podían ser investigadas. Pese a que la resolución
topográfica de las imágenes obtenidas mediante AFM era menor que en el caso de las
obtenidas por STM, era todavía suficientemente buena como para proporcionar imágenes
con detalles subnanométricos en altura (dimensión vertical de las muestras) y su obvia
versatilidad extendió en gran manera el número de aplicaciones de estas técnicas a todo tipo
de campos científicos. Ahora ya era posible obtener imágenes con una mínima preparación
de muestra, tato en aire como en vacio o en una gran variedad de medios líquidos,
principalmente acuosos. Hoy en día, mediante el desarrollo de accesorios específicos, es
incluso posible realizar medidas topográficas en un rango de temperaturas que van desde
los 4K (en condiciones de ultra-alto vacío, UHV) hasta 250ºC. Sin embargo, el AFM es mucho
más que una manera de obtener imágenes de la superficie de todo tipo de muestras; debe
ser considerado como una plataforma instrumental desde la que podemos acceder al
nanomundo con una resolución nunca vista hasta ahora. En el campo de la ciencia de
materiales, por citar un ejemplo, el AFM puede ser usado como un indentador clásico con la
particularidad de permitir controlar la fuerza vertical ejercida sobre la muestra (Fv) con una
resolución en el rango de los picoNewtons. Estas nuevas posibilidades son extremadamente
importantes, por ejemplo, para caracterizar las propiedades mecánicas de capas delgadas y
de los recubrimientos tecnológicos avanzados usados en el diseño y producción de los
llamados Sistemas Micro- y NanoElectroMecánicos (MEMs y NEMs). Sin duda, este control
de fuerza tan preciso representa una auténtica revolución en el campo de la biofísica, ya que
ahora son accesibles las propiedades mecánicas de células individuales, proteínas y
membranas celulares de manera experimental (4). El AFM también es capaz de modificar la
superficie de las muestras realizando rascados y oxidaciones locales, permite caracterizar
eléctrica (5) o incluso magnéticamente las muestras y aplicar nano-gotas de disoluciones
moleculares sobre superficies de manera selectiva para crear patrones funcionalizados sobre
todo tipo de sustratos.
Debido a todas estas razones, el AFM debe ser considerado como una plataforma para
explorar el nanomundo, como el núcleo de un sistema que constantemente es actualizado
con nuevos modos de trabajo, la implementación de los cuales está demoliendo de manera
paulatina e inexorable las barreras que todavía separan la química, la física la biología y la
ingeniería.
2. Metodología y aplicaciones
2
nanómetros de radio). En cierto modo, su operación se asemeja a la de un tocadiscos de
vinilo, en el que la aguja resigue los surcos gravados en el plástico. A medida que el
piezoeléctrico procede al escaneado en los ejes XY, la palanca que sostiene la punta se
deflexiona arriba o abajo (eje Z) y esta deflexión es detectada mediante un láser que
finalmente incide sobre la superficie de un fotodetector, el cual se encarga de seguir la
evolución de la sonda del microscopio. Usualmente, el piezoeléctrico encargado del
escaneado está situado debajo de la muestra, aunque existen ciertos modelos de
microscopio en los que la sonda es la encargada del escaneado y la muestra permanece
quieta durante el experimento. Los piezoeléctricos instalados en los AFMs modernos
permiten escanear regiones superficiales que pueden ir desde cientos de nanómetros
cuadrados hasta áreas de 200 micras de lado.
Modos topográficos
Modo de contacto
En este modo topográfico, la sonda del AFM se encuentra en contacto íntimo con la
superficie de la muestra, manteniendo una deflexión de palanca constante, esto es,
aplicando una fuerza vertical constante sobre la muestra. A partir de este momento inicial
de contacto, el sistema de retroalimentación mantiene esta deflexión invariable mientras la
sonda escanea la superficie de la muestra en el plano XY mediante el movimiento del
piezoeléctrico en el eje Z. De hecho, esta respuesta del eje Z del piezoeléctrico corresponde
a la topografía de la muestra.
Este modo de trabajo permite obtener las imágenes de AFM con la máxima resolución pero,
debido a este contacto tan directo entre ambas interficies, puede resultar demasiado
agresivo y deformar la superficie de la muestra, creando desperfectos superficiales o
artefactos topográficos de todo tipo. Además, el radio de la punta crece rápidamente debido
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a las fuerzas de fricción establecidas durante el escaneado. Todo esto conlleva una
degradación paulatina de la calidad de las imágenes obtenidas. Por estas circunstancias, el
modo de contacto está indicado solamente para la obtención imágenes en las que la
resolución vertical es absolutamente fundamental, principalmente en casos en los que las
medidas se realicen sobre materiales duros (polímeros, metales, óxidos) (6) o bien ciertas
muestras biológicas muy determinadas que presenten una gran ordenación superficial
(cristales de proteínas en dos dimensiones o canales iónicos en membranas celulares, por
citar un par de ejemplos).
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Fig. 2. Los dos modos básicos topográficos de AFM. a) en el mode de contacto, la sonda resigue la
superficie de la muestra en contacto íntimo mientras el lazo de retroalimentación mantiene la deflexión
de la palanca de la sonda constante. b) En el modo de contacto intermitente, la sonda oscila de manera
sinusoidal en el eje Z y solamente contacta con la muestra de manera esporádica. En este caso, el lazo
de retroalimentación actúa, no sobre la deflexión de la palanca sino sobre la amplitud de la oscilación
de la misma. Esta magnitud es también registrada por el fotodetector mediante el seguimiento del
movimiento del láser sobre el mismo.
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Fig. 3. Imágenes topográficas obtenidas mediante AFM en muestras poliméricas, derivadas de la
industria microelectrónica y de la biología. Tamaño de las imágenes: a) y b) 500x500nm2; c) y d)
30x30µm2; e) 50x50 µm2; f) 12x12µm2. Las imágenes a) y b) corresponden a la misma muestra,
demostrando que el modo Peak Force® está menos influenciado por el radio de la sonda de AFM
usada, lo cual resulta en partículas con un diámetro mucho más cercano a la realidad. Las imágenes c)
y d) fueron obtenidas simultáneamente; la imagen de fase mostrada en d) ejemplifica un contraste
composicional que es imposible de detectar en la imagen topográfica c).
Nanotribología y nanomecánica
Espectroscopia de Fuerzas
La sonda de AFM puede ser usada como un nanoindentador para testear la respuesta
mecánica de todo tipo de muestras (11,12,13). Su principal ventaja es que las medidas
pueden realizarse con una resolución espacial en los ejes XY en el rango nanométrico y que
la fuerza vertical aplicada sobre la muestra puede ser tan pequeña como unas decenas de
nanoNewtons. Consideremos un caso práctico en el que tengamos una matriz polimérica
con nanopartículas embebidas en la misma; un indentador clásico sería capaz de obtener el
módulo de Young (E) de una región superficial en el rango milimétrico, mientras que el AFM
es capaz de realizar nanoindentaciones locales de manera independiente en la matriz y en
las nanopartículas. Además, la profundidad de muestra testeada puede mantenerse también
en el rango nanométrico, mientras que en el caso del indentador clásico no es posible
separar las propiedades superficiales de las del material en bulk. Este hecho es realmente
interesante en el campo de la biología, donde las muestras usualmente tienen grosores en el
rango de las micras y donde es extremadamente difícil obtener información nanomecánica
cuantitativa mediante otras técnicas (Fig. 4). En los CCiTUB, se han medido valores de E de
agregados de proteínas depositados sobre mica de manera cuantitativa (14), aunque
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nuestro principal sector de actuación ha sido la caracterización de membranas de
fosfolípidos y nanomateriales. En este campo, se ha caracterizado de manera cuantitativa la
fuerza vertical necesaria para indentar membranas celulares en una gran variedad de
medios líquidos y condiciones salinas (15), diferentes valores de pH (16) y diferentes
composiciones fosfolipídicas (17,18,19,20). En lo que concierne a monocapas, se han
realizado experimentos en los que se ha demostrado que los ácidos grasos y los tioles se
deforman de una manera cuantizada y progresiva bajo la presión ejercida por la sonda de
AFM, aportando valiosa información acerca del empaquetamiento bidimensional de estas
estructuras (21,22). En lo que refiere a los materiales duros, la exploración y comparación de
los valores de E obtenidos por métodos clásicos y mediante AFM están llevando a la
comprensión de las diferentes propiedades mecánicas mostradas por los materiales en
función del volumen de interacción entre indentador y muestra (profundidad de la huella)
(11,12,13). Otros parámetros que pueden extraerse de estos experimentos nanomecánicos,
también llamados curvas de fuerza, son la fuerza de adhesión entre sonda y muestra, la
fuerza vertical necesaria para deformar de manera permanente la superficie de estudio y la
fuerza necesaria para desencadenar una transición elastoplástica.
Fig. 4. Medidas nanomecánicas realizadas mediante AFM. a) Cuando una muestra es comprimida
mediante una sonda de AFM, se obtiene una curva de fuerza. En el caso de materiales
mono/muticapas, es posible cuantificar de manera muy precisa la fuerza vertical necesaria para
indentar la muestra (esta rotura se muestra como una discontinuidad en la curva de aproximación
(roja) mostrada en la figura 4a. b) Imágenes de proteínas globulares obtenidas mediante AFM en la
superficie de las cuales se han realizado curvas de fuerza. Un mapa del valor de E se ha añadido a las
imágenes topográficas. c) La nanomecánica de las membranas fosfolipídicas puede ser caracterizada,
al igual que la fuerza de rotura de las membranas en función de la longitud de las cadenas
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hidrocarbonadas de los fosfolípidos depositados sobre un sustrato (en este caso, su longitud varía entre
14 y 20 carbonos).
Fig. 5. Cristales de sal depositados sobre una superficie de mica y analizados mediante QNM. Este
modo nanomecánico permite obtener información muy precisa sobre parámetros nanomecánicos de las
muestras que aportan detalles sobre las propiedades fisicoquímicas de la superficie de las mismas.
Tamaño de la imagen mostrada: 20x20µm2.
El modo FFM es capaz de cuantificar las propiedades nanotribológicas de una gran variedad
de muestras (23). Este tipo de medidas tienen un gran interés cuando es preciso estudiar
especímenes provenientes del campo de la ciencia de materiales y es especialmente útil
para caracterizar el rendimiento de capas delgadas y recubrimentos avanzados (24). En los
últimos años, el modo FFM también se ha aplicado a capas orgánicas, tanto en aire como en
líquido, llegando a obtener información que había sido imposible abordar hasta la fecha con
otras técnicas (25,26,27). El principio de operación de la FFM es el siguiente: la muestra es
escaneada por la punta de AFM en la dirección que es perpendicular al eje principal de la
palanca de la sonda de AFM (Fig. 6a). De esta manera, se crea una torsión lateral de la
palanca que puede ser experimentalmente detectada siguiendo el movimiento del láser en
un fotodetector provisto de cuatro cuadrantes. Esta desviación lateral del láser es
proporcional a la fuerza de fricción (Ff) establecida entre la sonda y la superficie de la
muestra, que a su vez es proporcional a la fuerza vertical ejercida por la sonda de AFM sobre
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la muestra (cuantificada como el desplazamiento vertical del láser en el fotodetector). Ff se
puede medir de manera cuantitativa en el rango de fuerzas comprendido entre las decenas
de picoNewtons y los centenares de nanoNewtons en función de la rigidez de la sonda de
AFM usada. La Fig. 6b) muestra una vista frontal de la palanca y de la punta de la sonda de
AFM y como el movimiento de escaneado durante el experimento de FFM crea una torsión
lateral de la palanca, la cual a su vez es transducida como una desviación lateral en el
fotodetector.
Fig. 6. Principio de operación del FFM. a) La dirección de escaneado perpendicular al eje principal de
la palanca de la sonda de AFM crea un momento de torsión que es proporcional al valor de Ff
establecido entre la sonda y la muestra. b) La respuesta de fricción puede medirse en función de la
fuerza vertical aplicada por la sonda sobre la superficie de la muestra para obtener parámetros
nanomecánicos tan importantes en el mundo del diseño industrial como el coeficiente de fricción o la
energía disipada durante el deslizamiento.
El C-AFM es un modo de trabajo secundario derivado del modo topográfico de contacto que
caracteriza las variaciones de conductividad en muestras tanto de baja como de alta
conductividad. El principio de operación es muy simple: se aplica una diferencia de potencial
entre una sonda de AFM recubierta con un film conductor y la muestra; cuando ambas
interficies están en contacto, una determinada intensidad de corriente eléctrica (I) fluye a
través de la interfase. Gracias al diseño del preamplificador de alta ganancia, valores de
intensidad tan pequeños como decenas de femtoAmperios pueden ser detectados y
medidos cuantitativamente. De hecho, el tipo de información final obtenida es un mapa
superficial de I juntamente a una imagen topográfica (28). La posibilidad de realizar este tipo
de medidas es de especial importancia para la industria fotovoltaica y microelectrónica pero
también para el desarrollo de nuevos nanomateriales como nanotubos (29) y grafeno (30),
donde la conductividad de componentes extremadamente pequeños debe ser medida con
gran precisión. Las variaciones del valor de I obtenidas en los mapas indica la presencia de
defectos en los materiales semiconductores, el control y caracterización de los cuales es de
vital importancia en los procesos de fabricación. Además, la posibilidad de controlar la
posición de la sonda de AFM en el rango nanométrico permite al usuario emplazar la sonda
sobre un punto específico de la superficie de la muestra, ejercer una determinada fuerza
vertical y aplicar simultáneamente una rampa de potencial determinada para realizar un
experimento de Intensidad vs. Voltaje en el rango nanométrico.
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El MFM es un modo de trabajo secundario derivado del contacto intermitente que permite
al usuario mapear gradientes de campo magnético generados por la superficie de la
muestra. Gracias al uso de una sonda de AFM recubierta con un film magnético, la imagen
topográfica y de gradiente magnético de la superficie pueden obtenerse de manera
simultánea. Así, la resolución espacial de esta técnica ha permitido por vez primera abordar
el estudio de imanes moleculares de manera individual y de capas delgadas magnéticas de
forma extremadamente local (31) (Fig. 7).
Para poder operar en este modo de trabajo, es necesario utilizar una sonda de AFM
recubierta con un film ferromagnético. Mientras se desarrolla el escaneo de la muestra en
modo contacto intermitente de la manera usual, la interacción magnética establecida entre
la sonda y la superficie de la muestra induce pequeñas variaciones en la fase de la vibración
de la palanca, señal que se considera como proporcional a las variaciones del campo
magnético superficial de la muestra. Esta técnica se utiliza para examinar materiales que
presentan magnetismo de manera natural pero también estructuras en las que se ha escrito
información magnética de manera deliberada (Fig. 7a y 7b).
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Fig.7. Los granos de ferrita presentes en la superficie de una cinta de video analógico se pueden
detectar topográficamente a) de manera simultánea a los dominios magnéticos b) mediante el uso del
MFM. De la comparación de las dos imágenes obtenidas cabe destacar que no existe ningún tipo de
correlación entre las dos señales obtenidas, es decir, no hay ningún tipo de interferencia entre ambas
señales.. Las figuras c) y d) corresponden a la topografía y a la señal de carga superficial (SP) de una
muestra metálica. El análisis de estas dos imágenes muestra que, aunque la topografía es relativamente
plana, la señal de SP es capaz de discernir dominios que pueden ser relacionados con gradientes
composicionales reales.
Glosario
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