UNIVERSIDAD CARLOS III DE MADRID

Microscopía de Fuerza Atómica

Programa de POSTGRADO de la Universidad Carlos III de Madrid

Microscopía de Fuerza Atómica

(AFM)

Departamento de Ciencia e Ingeniería de Materiales 
e Ingeniería Química 

Dania Olmos
Fco. Javier González Benito

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica. 1

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Microscopía de Fuerza Atómica

1. Introducción

2. Microscopio de Fuerza Atómica

3. Componentes del AFM

4. Modos de Operación

5. Aplicaciones Prácticas

6. Bibliografía

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

1. Introducción

G. Binnig C. F. Quate C. Gerber

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

1. Introducción
Controla la fuerza que experimenta una punta al aproximarse a la superficie de un material

G.Binnig, C.F. Quate, Ch. Gerber. Atomic Force Microscope. Physical Review Letters, 1986, 56, 930.

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

2. Microscopio de Fuerza Atómica

Imagen original tomada de:

G.Binnig, C.F. Quate, Ch. Gerber. Atomic Force Microscope. Physical Review Letters, 1986, 56, 930.

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

2. Microscopio de Fuerza Atómica

Espejo Láser
Fotodetector

Muestra

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

3. Componentes de un AFM
Fotodetector
+
sum
+ sum
- Force
setpoint
-
Señal de error (“C”)

Compensation 
network
Z= f(C)

Señal topográfica
(“Z”)

a) Tubo de barrido o escáner (piezoeléctrico)

b) Soporte de la sonda de barrido
c) Sonda de barrido (punta)
d) Fotodetector (2 o 4 cuadrantes)
e) Sistema de control de fuerza y retroalimentación
f) Control y adquisición de datos

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

3. Componentes de un AFM
a) Tubo de barrido o escáner
Imagen tomada de la web:
http://www.azonano.com/details.asp?ArticleID=2114

X
Movimiento de la sonda de
barrido en los ejes X e Y.

Y
Voltaje

Señal de salida del piezoeléctrico

X cerámico en los ejes X e Y del AFM.

Tiempo
Time

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Microscopía de Fuerza Atómica

3. Componentes de un AFM
a) Tubo de barrido o escáner

Respuesta de un material piezoeléctrico policristalino

Elongación Elongación
Histéresis del
escáner

Closed loop
operation

Voltaje Voltaje

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Microscopía de Fuerza Atómica

3. Componentes de un AFM
b) Soporte de la punta o sonda de barrido

Images courtesy of Veeco Instruments Inc.

https://www.veecoprobes.com/c-133-multimode.aspx

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

3. Componentes de un AFM
c) Punta o sonda de barrido

http://www.budgetsensors.com/contact_mode_Al_align
ment_grooves_holder_chip.html

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

3. Componentes de un AFM
c) Punta o sonda de barrido

Imagen de Park Systems:

http://www.psiastore.com/product.sc?productId=93&categoryId=4

Image courtesy of Veeco Instruments Inc.

https://www.veecoprobes.com/p-3693-snl-10.aspx

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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Microscopía de Fuerza Atómica

3. Componentes de un AFM
d) Fotodetector (2 o 4 cuadrantes)

Fotodetector de 4 cuadrantes

http://knol.google.com/k/-/-/25laaiqlcn2x8/p4xu5v/afm-scheme.png

Fotodetector de 2 cuadrantes

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3. Componentes de un AFM
e) Sistema de control de fuerza y retroalimentación

La sonda hace contacto

S0 (fuerza)
S0 con la superficie
Transductor Amplificador

Muestra

Distancia

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3. Componentes de un AFM
e) Sistema de control de fuerza y retroalimentación

Sensor de fuerza Escáner x, y, z

Sensor de fuerza

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3. Componentes de un AFM
f) Control y adquisición de datos

Image courtesy of Veeco Instruments Inc.

Tema 3. Microscopía de Fuerza Atómica.

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4. Modos de Operación
4.1. Contacto

Señal en el (A + B) – (C + D)
fotodetector (A + B) + (C + D)
Constante de
fuerza
Fuerza = constante
Deflexión k
F=kD s
A B D = cte
C D F
Fuerza

F=ks

Deflexión de la Atracción o
micropalanca Dsp = cte
repulsión
Z – imagen de alturas
topografía
Muestra

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4. Modos de Operación
4.2. Contacto Intermitente
Image courtesy of Veeco Instruments Inc.

Amplitud
Fase

Frecuencia

A0 = amplitud de oscilación libre

Asp = amplitud de trabajo
rsp = Asp/A0

A = constante
Z – imagen de alturas;
topografía
∆φ – imagen de fase

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4. Modos de Operación
4.2. Contacto Intermitente

Fase

Image courtesy of Veeco Instruments Inc.

Imagen de DI/Veeco (www.veeco.com)

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4. Modos de Operación
4.2. No Contacto

La punta no contacta con la superficie de la muestra

No-Contacto

Image courtesy of Veeco Instruments Inc.

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4. Modos de Operación
Fuerza
Fuerza Repulsiva

Contacto
Intermitente

Distancia
Contacto (Separación punta-muestra)

Imagen adaptada de:

http://www.mechmat.caltech.edu/~k
aushik/park/1-2-3.htm
No - Contacto

Fuerza Atractiva

Contacto No-Contacto Contacto Intermitente

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Microscopía de Fuerza Atómica

4. Modos de Operación
Modo de 
Ventajas Desventajas
trabajo
Contacto  • Alta velocidad de  • Fuerzas laterales  ⇒ posible distorsión de 
(CM) barrido imagen
• Resolución atómica • Posible aparición de fuerzas normales fuertes
• Cambios bruscos en  • Combinación de fuerzas anteriores  ⇒ puede 
topografía disminuir resolución espacial y dañar muestras 
blandas
Contacto  • Mayor resolución lateral  Ligeramente menor velocidad de barrido que 
Intermitente  (1 – 5 nm) CM
(TM) • Fuerzas más débiles ⇒
menor daño de muestra
No‐Contacto  •Ausencia de fuerzas  • Menor resolución lateral
(NCM) aplicadas sobre la  • Menor velocidad de barrido
muestra • Útil para muestras hidrofóbicas

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5. Aplicaciones
TM-AFM
Altura Fase
(a) UC3M

By D. Olmos
20 µm
Altura Fase
(b) UC3M

By D. Olmos

5 µm

Altura Altura
(c) (d)

20 µm
By D. Olmos
CM-AFM 25 µm
TM-AFM + CM-AFM
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5. Aplicaciones

700nm scan.
AFM point-and-click Nanolithography AFM point-and- Imagen 400x480nm
click nanolithography.
Imagen procedente de la galería de imágenes de Veeco Manipulación de nanotubos de carbono
http://www.veeco.com/library/nanotheater/nanotheater_it
em.aspx?dbv=13&ic=11&type=app&typeId=361&id=157& http://www.veeco.com/library/nanotheater/nanotheater_ite
prodGrp=69 m.aspx?type=app&typeId=361&id=164&prodGrp=69

Images courtesy of Veeco Instruments Inc.

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5. Aplicaciones

By J.Gonzalez- Benito

2µm x 2 µm
Crecimiento en espiral de
cristales de PEO

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