You are on page 1of 24

 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 1

THEORETICAL BASICS 
 

1. Theoretical Basics  
Preliminary it was already noted that a measurement is always defective. Therefore, 
it  should  be  generally  examined  first,  how  to  describe  measuring  errors,  how  they 
must  be  considered  in  the  measuring  result  and  how  they  can  be  explained  by  the 
type of measurement. In accordance with The German Institute for Standardization 
(DIN  1319‐1)  you  do  not  speak  any  more  from  a  measuring  error  but  from  a 
measuring derivation. Nevertheless let us talk about errors. 
 

1.1 Measuring error  
The absolute error fa is defined as the difference between the actual value xA which 
bears the error, and the desired value xW which should be genuine. 
  f a  x A  xW     (1.1.1)  

The absolute error is a part of the measured value and therefore must be indicated as 
a measure with its dimension unit.  
Also a relative error fr may be defined which represents an absolute error related to 
the desired value. Therefore it is dimensionless. 
x A  xW
  fr     (1.1.2) 
xW

While  electrical  engineers  mostly  use  an  indication  error.  In  doing  so  the  absolute 
error  is  related  to  the  final  value  in  the  measuring  range  xMB  and  given  in  percent. 
One names this error then the indication error fAr. 
x A  xW
  f Ar  100 %    (1.1.3) 
xMB

Wherefrom the errors result, it was not mentioned yet. Following DIN 1319 there are 
two different kinds of errors, namely the systematic and the random ones.  
Systematic errors are a type of errors whose sign and value either are already known 
or,  however,  are  to  be  calculated  anyhow,  therefore  a  correction  of  the  measured 
value  is  possible.  Beneath  others  you  will  find  most  of  the  errors  resulting  of 
environmental effects, as for example a subject to the ambient air temperature.  
Random or stochastically errors permit no statement about their sign and their value. 
Beneath this you find, e.g., errors which appear while reading the display. Therefore, 
they can be estimated only with the methods of the theory of probabilities. 
 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 2
THEORETICAL BASICS 
 
 

1.1.1 Average Value, Standard Deviation, Variance  
A  statistical  error  will  be  determined  by  calculating  the  average  value  x  of  n 
measurements under the same conditions and with the same equipment 
 

  x1  x2    xn   
1
  x  (1.1.4) 
n
1 n
  x   xi    (1.1.5) 
n i 1
furthermore the standard deviation s as the root mean square deviation 

  s
1
n 1

 x1  x   x
2
2 x  2
   xn  x   2
   (1.1.6) 

 
n
1
  xi  x
2
  s    (1.1.7) 
n  1 i 1

or with an algorithm which is used by your pocket calculator, 

1 n 2 1  n  
2

  s    xi     xi      (1.1.8) 
n  1  i 1 n  i 1  

The transformation of Gl. 1.1.7 to the Gl. 1.1.8 you find in the appendix.  
For a sufficiently large number n goes s to the limit   , the standard deviation of the 
population. This also applies if for an actually insufficiently large number of values 
all values are included in the calculation.  
The square of this limit is called variance of the population 
 1
  
n
  xi  x   
2
   2  im s 2  im   (1.1.9) 
n  n 
 n  1 i 1 
The so calculated average value is indicated frequently as the result of the 
measuring. But this must not represent the true value of the measured parameter, 
however. Therefore, one defines the so‐called confidence limit v within which the 
true value with the statistic confidence S is to be expected.  

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 3
THEORETICAL BASICS 
 

1.1.2 Normal Distribution   
For  a  better  understanding  of  the  confidence  limit  some  terms  of  the  theory  of 
probabilities should be explained first. 
In the metrology statistical, independent and in advance unknowable errors lead to 
random  variables  as  measured  values  which  are  subject  to  a  so‐called  normal  or 
Gaussian  distribution.  Besides,  it  is  a  continuous  distribution  whose  probability 
density can be calculated with the function f (x). 


x  x  2

1
fx  e 2 2
     (1.1.10) 
2   2

  
  x; x;  2     x     
A  measured  value  x,  a  random  variable,  where  such  a  density  function  may  be 
applied, is called normal‐distributed. The expected value  x , that means the average 
value,  and  the  deviation  2  are  the  parameters  of  this  distribution.  If  these  both 
parameters are known, the probability density is uniquely determined.  
The bell‐shaped curve of the normal distribution is symmetrically to the maximum, 
the average value. Where the curve shows its inflexion points, there the values of the 
standard  deviation  lie.  Then  the  curve  progression  asymptotically  approaches  the 
abscissa. Therefore the more the curve is rampant, the less the deviation 2 will be.  
The  distribution  function  F  (x)  of  the  normal  distribution  indicates  the  probability 
that a value x is located in the examined area of the normal distribution. 

 
x

F x     z; x; 2  dz  

  (1.1.11) 


z  x  2

1 x
F x    2
 dz  
2
  e
2   2 

  
  x; x; 2   

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 4
THEORETICAL BASICS 
 

   
  Fig. 1.1.1: Gaussian Bell‐Shaped Curve  

 
If  you  enlarge  the  upper  integration  limit  to  x   ,  the  distribution  function  will 
enclose all values and the probability will be one.  

   
  Fig. 1.1.2: The Distribution Function 

 

 
F x     z; x; 2  dz  1  

 (1.1.12) 

 
The distribution makes use of the shape shown in figure 1.1.2. 
For  easier  handling  very  often  the  function  will  be  used  as  a  normalized  or 
standardized  normal  distribution.  Doing  so  the  function  values  may  be  given  in 
tabular form. With  x  0  and   2  1 the functions will have the following form. 
    x; 0;1    x     (1.1.13) 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 5
THEORETICAL BASICS 
 
x2

  
1
e 2    x     
2 
as density of the standardized normal distribution and 
    x; 0;1    x     (1.1.14) 
z2
1 x 
     e 2  dz  
2   
as the distribution function of the standardized normal distribution. 
 
Then the associated curves change to the shape as shown in figure 1.1.3. 
 
The  function  values  are  present  in  the  relevant  literature  as  tables  mostly  for  x  0 . 
The existing symmetry causes the following: 
    x     x     (1.1.15) 
and 
    x   1    x     (1.1.16) 

 
Fig. 1.1.3: Curve of the Density‐ and the Distribution‐Function of the Standardized Normal 
Distribution 

 
If  the  table  is  calculated  with  the  lower  integration  limit  x  0 ,  the  distribution 
function follows as: 

  x     0  x   
1
   (1.1.17) 
2
and 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 6
THEORETICAL BASICS 
 

  x     0  x   
1
   (1.1.18) 
2
 
 

1.1.3 Confidence Region  
The confidence region marks out the limits, within those and with the specification of 
the  statistical  confidence  a  measured  value  may  belong  to  a  certain  normal 
distribution  following  the  distribution  function    x  .  To  define  the  confidence 
region  you  may  use  tabular  values  as  they  were  calculated  for  the  t  test,  also 
studentʹs test called, (s. Appendix). Then the confidence limit v becomes: 
t
  v s   (1.1.19) 
n
 
The  genuine  value  of  the  measurement  lies  with  a  statistical  confidence  S  given  in 
percent within the confidence region 
  xv  x  xv    (1.1.20) 

1.1.4 Uncertainty of Measurement  
By  adding  the  systematic  error  xF  –  estimated  or  calculated  ‐,  the  measuring 
uncertainty u will be determined: 
 t 
  u    s  x F     (1.1.21) 
 n 
Therefore after the correction of the registered systematic errors the measuring result 
follows from the average value and the measuring uncertainty u: 
  xe  x  u    (1.1.22) 

1.2. Error Propagation  
As far as measured values are linked together by a mathematic algorithm their errors 
have  to  be  calculated  too.  Again  you  differentiate  between  the  systematic  and  the 
random errors.  

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 7
THEORETICAL BASICS 
 
The measuring values with their systematic mistakes are examined, as follows: 
a) Addition: 
  x1  x1F   x2  x2 F   x1  x2  x1F  x2 F     (1.2.1) 
b) Subtraction: 
  x1  x1F   x2  x2 F   x1  x2  x1F  x2 F     (1.2.2) 
c) Multiplication: 
   
  x1  x1F   x2  x2 F   x1  1  x1F   x2  1  x2 F     (1.2.3) 
 x1   x2 

with  x1F  x1  and  x2 F  x2  it is valid: 

  
  x1  x1F   x2  x2 F   x1  x2  1   x1F 
x2 F
    (1.2.4) 
  x1 x2 
d) Division: 
 x1F 
x1  1  
x1  x1F  x1  
    (1.2.5) 
x2  x2 F  x2 F 
x2  1  
 x2 

If  you  consider,  e.g.,  only  the  positive  sign  and  further  on  you  extend  the 
denominator, so this applies: 
 x1F   x1F   x2 F 
x1  1   1    1  
 x1   x1 
x 1   x 2 

   x2 F  x2  x2 F   x2 F     (1.2.6) 
x2  1   1    1  
 x2   x 2   x 2 

x1F x2 F x1F x2 F
1   
x1 x1 x2 x1 x2
    2
   (1.2.7) 
x2 x 
1   2 F 
 x2 
2
x x x 
Then with  1F  2 F  1  and   2 F   1  it applies to both signs of the relative errors: 
x1 x2  x2 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 8
THEORETICAL BASICS 
 

x1  x1F x  x x 
   1  1   1F  2 F     (1.2.8) 
x2  x2 F x2   x1 x2 

e) Raising to a Higher Power: 
 
  x1  x1F  m  x1m  1  m  x1F     (1.2.9) 
 x1 

Generally it applies to the linkage of systematic errors:  
If you add or subtract measured values, you calculate the sum of the absolute errors.  
If  you  multiply  or  divide  measured  values,  you  calculate  the  sum  of  the  relative 
errors. 
 
If the measuring result is calculated by statistically processed measuring values, you 
get 
  y  f  x1 , x ,, xm     (1.2.10) 

The m  different  values will be  measured n‐times, so  you may  calculate m  standard 


deviations  s1,  s2  ...  sm.  Now  you  calculate  the  deviation  dyi  of  a  value  yi  due  to  the 
small changes dx1, dx2..., dxm using the entire differential. 
y y y
  dyi   dx1i   dx2i     dxmi    (1.2.11) 
 x1  x2  xm

If you square this equation and sort it according to the purely square and mixed 
terms, you get: 
2
my  m 
y y 
  dyi  2
   dx ji   2      dx ji  dxki     (1.2.12) 
 x j
j 1     x j  xk
j  k 1  
Because of the statistically distributed signs in the second term, this can be neglected. 
For the sum of all square deviations you get: 
n n   y 2
  y 
2
 y  
2

 dy      dx1i     dx2i       dxmi    


2
   (1.2.13) 
i 1   x1  
i
i 1
   2 x   m x  

And therefore the standard deviation will become: 
2 2 2
y   y   y 
  s y      s12     s 22       s m2    (1.2.14) 

 1x 
 2x 
 mx

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 9
THEORETICAL BASICS 
 

1.3. Dynamic Measuring Errors  
Beside the static measuring errors which are to be considered if the whole system to 
be  measured  is  in  steady  state  condition,  there  are  additional  errors  which  result 
from the measurement of time variant values, and then you speak of dynamic errors. 
Now  the  dependence  between  the  measured  values  xa  and  the  result  xe  can  be 
described with a differential equation. 
d n xa d n1 xa d xa
  Tn  n
 T n 1   n 1    T1   xa  B0  xe      (1.3.1) 
dt dt dt

The  dynamic  behaviour  of  measuring  systems  is  described  like  time  dependent 
systems  by  their  character  functions  and  values  in  the  time  and  frequency  domain. 
Dynamic measuring errors are not treated for their complexity. 
 

1.4. Reporting Measured Values  
Measuring you may follow three different aims:  
*  Investigation  of  the  dependence  between  two  or  several  measured  values  as  a 
function  of  an  independently  changeable  parameter  (e.g.,  current/voltage 
characteristic curve of an electric light bulb). 
 * Investigation of continuous stochastic measured values (e.g., voltage with overlaid 
noise voltage measured continuously). 
 * Investigation of stochastic measured values by single measurements (e.g., repeated 
measurement of a resistance). 
 

1.4.1 Pairs of Measured Values 
A typical report of pairs of measured values, which are a function of an independent 
changeable parameter, is a chart. The uncertainty u may be drawn as a vertical dash, 
so  that  you  can  draw  a  curves  adaptation  within  the  framework  of  the  measuring 
uncertainty with estimation by sight. If you do it with a computer, you can arrange 
the curves adaptation mathematically by a so‐called curves‐fit, i.e. you calculate the 
coefficients of the equation so you get the minimum square deviation to all measured 
pairs. 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 10
THEORETICAL BASICS 
 

   
   Fig. 1.4.1: Presentation of Measured Value Pairs 
 
For n measured pairs of values xi and yi you may get a linear function 
  y  a0  a1  x    (1.4.1) 

where the sum of the square deviation in each measuring pair becomes a minimum. 
This  kind  of  the  curves  adaptation  is  called  linear  regression  and  the  function  is  a 
regression straight line. The coefficients of the regression straight lines are: 
n n n
n    x i  y i    xi   y i
  a1  i 1 i 1 i 1
2
   (1.4.2) 
n
 n
n    xi     xi 
2

i 1  i 1 
1 n n

  a0    yi  a1   xi     (1.4.3) 
n  i 1 i 1 
A further analysis determines the correlation coefficient r, 
n n n
n    x i  y i    xi   y i
  r i 1 i 1 i 1
   (1.4.4) 
 n
 
n 2
  n
 n  
2

 n    xi     x i   
  n   y i    y i  
2 2

 i 1  i 1    i 1  i 1  

It  indicates  the closeness of  agreement  between  the  linear  function and  every value 


pair,  with  r  1   there  an  accurately  linear  relationship  exists.  If  no  relationship 
exists, r becomes zero, i.e. with the correlation coefficient you can check the result of 
the curves‐fit on its utility. Logarithmic, exponential or power functions can also be 
examined by taking the logarithm from xi and/or yi. 
 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 11
THEORETICAL BASICS 
 

1.4.2 Continuous Stochastic Measured Values  
The  evaluation  and  graphic  presentation  of  continuous,  stochastic  measuring 
parameters result in an average value in examined section. 

 
   Fig. 1.4.2: Continuous Stochastic Measured Values 
mathematically seen you apply an integration: 
1 T
T 0
  x  xd t    (1.4.5) 

Besides  the  correlation  analysis  finds  its  application  on  such  measured  values.  You 
distinguish two kinds of correlation.  
There  we  have  the  autocorrelation,  which  enables  us  to  find  periodic  signals  in  a 
strongly jammed signal. By shifting a sequence of the signal as far as the product of it 
and  the  measured  values  becomes  a  maximum  (mathematical:  convolution)  (radio 
astronomy). 
1 T
T 0
  11( )   u1t   u1t    d t    (1.4.6) 

      
  Fig. 1.4.3: Block Diagram of a Correlator (Autocorrelator: Switch Position S1) 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 12
THEORETICAL BASICS 
 
 
The other type is the  cross  correlation  which you  apply  to measured values to find 
out  the  interrelation  between  two  stochastic  signals  by  a  convolution  (controlled 
systems). 
1 T
T 0
  12 ( )   u1t   u 2t    d t    (1.4.7) 

    
  Fig. 1.4.4: Example of an Autocorrelation 

1.4.3 Stochastic Measured Values  
For  the  presentation  of  stochastic  measured  values  you  arrange  the  statistic 
distribution  of  each  measured  values  around  a  desired  value,  a  histogram,  a  bell 
curve or a curve of the cumulative frequency.  
Moreover  you  divide  the  area  determined  by  the  measured  values  into  k  equal 
classes  and  assign  the  measured  values  to  the  classes.  Class  width  m  should  be 
chosen smaller than 1/3 of the standard deviation s (with 9 < k < 25).  
In  the  cumulative  frequency  curve  the  cumulative  frequency  values  H  will  be 
inserted every time on the lower border of a class. They are formed by the addition 
the  frequency  values  H  of  the  separate  classes,  beginning  with  the  highest  class. 
Moreover, the frequency values are applied mostly as per cent values. This qualified 
presentation  gives  you  the  chance  of  a  straight  comparison  of  different 
measurements.  

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 13
THEORETICAL BASICS 
 
The average value is located at 50% of the cumulative frequency curve. The value of 
the  standard  deviation  you  find  as  the  difference  between  50%  and  84,13%  or 
between 50% and 15,87% of the cumulative frequency. 
For the presentation of the cumulative frequency curve you find special paper whose 
ordinate  is  divided  in  such  a  way  so  that  you  get  a  straight  line  by  a  normal 
distribution. 

   
  Fig. 1.4.5: Cumulative Frequency Curve on Special Paper 

 
If  one  applies  the  class  frequency  H  of  the  measured  values  in  the  middle  of  each 
class,  one  can  draw  a  histogram  or  a  bell  curve  too.  The  maximum  of  the  curve 
represents  the  average  value.  The  difference  between  the  average  value  and  the 
60,6% value indicates the standard deviation. 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 14
THEORETICAL BASICS 
 
 

 
   Fig. 1.4.6: Histogram, Bell Curve and Cumulative Frequency 
 
 

1.5. Measuring Parameters and Unities  
Measured  values  consist,  how  already  mentioned,  of  the  unit  and  the  absolute 
measure.  Therefore  the  units  have  to  be  defined  and  as  far  as  possibly  to  be 
internationalized.  The  units  have  been  named  as  the  so‐called  „international  unity 
system“ (SI) in 1960 by the 
11th General conference for measurement and weight of the international meter con‐
vention.  
Finally in 1971 it was extended to altogether seven basic unities and two supplement 
unities. 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 15
THEORETICAL BASICS 
 
 
Base item  Formular symbol  Basic unit  Short symbol 

length  l  meter  m 1) 

mass  m  kilogram  kg 2) 

time  t  second  s 3) 

current  I  ampere  A 4) 

temperature  T  kelvin  K 5) 

light intensity  IV  candela  cd 6) 

quantity of material  n  mol  mol 7) 

plane angle   ,  ,   radiant  rad 8) 

solid angle  ,   steradiant  sr 9) 

                                                      
1)
1 meter are 1.650.763,73 vacuum wavelengths of the radiation which corresponds to the crossing between the 
levels 2p10 and 5d5 of the atom krypton 86.
2)
1 kilogram is the mass of the international kilogram prototype.
3)
1 second is the duration of 9.192.631.770 periods of the radiation which corresponds to the crossing between 
both hyperfine structure levels of the initial state of the atom caesium 133.
4)
1  ampere  is  the  strength  of  the  time  invariant  current  through  two  straight‐line,  parallel,  infinitely  long 
conductors of the relative permeability 1 and from negligible cross section which have the distance 1 m and 
between  those  the  force  caused  electro‐dynamically  by  the  current  for  each  1  m  of  the  double  line  amounts 
2∙10‐7 N in free space.
5)
1 Kelvin is the 273,16th part of the (thermodynamic) temperature of the tripe point of water.
6)
1 candela is the light intensity which a black body of the surface 1/600.000 m2 radiates vertically to its surface at 
the solidification temperature of the platinum and the pressure of 101.325 Pa.
7)
1  Mol  is  the  material  amount  of  a  system  of  a  certain  compounding  which  exists  of  the  same  number  of 
particles as atoms are contained in 12/1000 kg of the atom carbon 12.
[ Avogadro constant: 12 g 12C contain (6,02252 ± 0,00028) ∙ 1023 atoms]
8)
1 Radiant is the angle which is shaped  by two rays going out of the centre of a circle with the radius 1 m and 
including a segment of the circle with the length 1 m. (1 rad = 57°17 ʹ 44,8 ʺ)
9)
1 Steradiant is the solid angle which is shaped by a band of rays going out of the centre of a ball with the radius 
1 m and including the surface of 1 m2 on the surface of this ball.

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 16
THEORETICAL BASICS 
 
In  a  lot  of  applications  these  unities  are  either  too  big  or,  however  too  small. 
Therefore, headers are internationally defined in order to form decimal multiple and 
parts. 
 
SI‐  abbreviaton    factor       SI‐ abbreviation    factor  
header  header 
exa            E        1018        deci           d        10‐1   

peta           P        1015        centi          c        10‐2   

tera           T        1012        milli          m        10‐3   

giga           G        109         micro          μ        10‐6   

mega           M        106         nano           n        10‐9   

kilo           k        103         Pico           p        10‐12  

hecto          h        102         femto          f        10‐15  

deka           da       101         atto           a        10‐18  

 
1.6. Principle of Indication 
Referring  to  the  principle  of  indication  one  selected  measuring  instruments  into 
analogue and digital ones, today the difference is not so easy to explain. Measuring 
instruments  constructed  in  analogue  technology  may  have  a  digital  display  and 
those in digital technology may have an analogue scale reading (wrist watch!). 
 

1.7. Principle of Measuring  
One can measure in two ways:  
One method is to set as much units against the measuring parameter till the system is 
balanced.  The  advantage  of  this  method  is  that  you  need  no  calibration  of  the 
measuring  system,  because  only  the  equality  is  stated  by  the  measuring  parameter 
and  the  measure. The units required for the balance represent  the measuring result 
(beam balance).  

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 17
THEORETICAL BASICS 
 
The other way is to use a pointer which will be deflected in relation to the measuring 
parameter.  The  result  may  be  read  out  on  a  scale.  Moreover  the  scale  must  be 
calibrated,  i.e.  it  must  have  been  compared  with  a  normal  of  the  measuring 
parameter previously and scaled. 

 
1.8. Measuring Instruments in the Measuring Circuit  
If you bring a measuring instrument in a system to measure it, the system is always 
affected and the measuring result is falsified generally. 
In  the  electric  metrology  this  particularly  appears  measuring  current  and  voltage 
simultaneously, due to the fact that the distribution of the current and the voltage in 
the  measuring  circle  are  disturbed.  Because  this  is,  however,  a  systematic  error,  a 
correction is possible.  
Measuring simultaneously the current and the voltage you may distinguish between 
two systematic errors, i.e. the ʺcurrent‐correctʺ or the ʺvoltage‐correctʺ circuit of the 
measuring  instruments;  one  names  both  variants  also  ʺvoltage‐errorʺ  or  ʺcurrent‐
errorʺ. 
In  the  ʺcurrent‐correctʺ  circuit  the  current  measuring  instrument  –  ampere  meter  ‐ 
measures the correct current  I  I A   . The voltage measuring instrument – voltmeter ‐ 
measures  the  total  voltage  minus  the  voltage  drop  across  the  ampere  meter 
U  U V  Ria  I . 

   
   Fig. 1.8.1: ʺcurrent‐correctʺ or ʺvoltage‐errorʺ Measurement 
 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 18
THEORETICAL BASICS 
 
In  the  ʺvoltage‐correctʺ  circuit  the  voltmeter  measures  the  correct  voltage  U  U V . 
The  ampere  meter  measures  the  total  current  minus  the  current  needed  in  the 
U
voltmeter  I  I A  . 
Riv

   
   Fig. 1.8.2: ʺvoltage‐correctʺ or ʺcurrent‐errorʺ Measurement 
 
Therefore  the  application  of  the  measuring  circuit  is  corresponding  to  the  value  of 
the load resistor Rx:  
  voltage‐error method:  R x  100 * R iA    

  current‐error method:  R x  0,01 * R iV    

With a measuring resistor in the range of the internal resistor Ria of the ampere meter 
the  voltage  drop  across  the  ampere  meter  can  not  be  neglected,  i.e.  it  must  be 
measured  voltage‐correct.  With  a  measuring  resistor  in  the  range  of  the  internal 
resistance Riv of the voltmeter, however, the current flow across the voltmeter can not 
be neglected, i.e. it must be measured current‐correct. 
 

1.9. Limits of the Measurability  
As a result of the thermal agitation of the charge carriers stochastic fluctuations are 
superposed  to  the  currents  and  the  voltages.  This  limits  the  measurability  and  the 
measuring  accuracy  of  small  parameters.  In  addition  the  mechanically  indicating 
measuring  instruments  are  influenced  by  the  Brownian  motion  of  the  mobile 
measuring element.  

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 19
THEORETICAL BASICS 
 
For  a  critically  damped  galvanometer,  e.g.,  with  the  closing  resistor  Rgr  4 k ,  the 
time of oscillation  T0  10 s  , the temperature of the measuring circuit    290 K , the 
Boltzmann  constants  k  1,38 10 23 J  K 1   and  the  efficiency  factor  of  the 
galvanometer    0,2   the  average  fluctuation  squares  of  the  current   i 2   and  the 
voltage   u 2  become 
T0 1
   i 2  Rgr   T0   u 2     k   
Rgr 2

Now we solve the equation for  i : 

1 
  i k   
2 Rgr   T0

And we get: 
   i  0,5 pA          and             u  Rgr   i  2 nV      

This is a theoretical value which can not be reached in practice. 
 
 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 20
THEORETICAL BASICS 
 

Appendix: 
Calculation to form the algorithm of the standard deviation: 

 
n
1
  xi  x
2
  s  
n  1 i 1

and 

1  n 2 1  n  
2

  s   xi     xi   
n  1  i1 n  i1  

should be same, or: 

 x 
2
n n
1  n 
  x     xi   
2
  i x 2
i
i 1 i 1 n  i 1 

First the bracket on the left side of the equation is dissolved: 

 x  x    x
n

i 1
i
2

i 1
n
2
i  2  xi  x  x
2

   

i 1
n
  x   2  xi  x  x
2
i
n

i 1
 2

Now it is to be proved that this applies: 

 
2
n
1  n 
2  xi  x  x     xi   
2
 
i 1 n  i 1 

If one forms the sum of all  2  x  x  x  , the term  x
2 2
i   exists n‐times in this sum, i.e. it 

is follows: 

 2  x  x  x    2  x  x  n  x  
n n
2 2
  i i
i 1 i 1

If you now use the equation for the average value (see Gl.1.5), so you find: 

 
2
n
1 n 1 n 
n
2  xi  x  n  x   2  x i    xi  n     xi 
2

i 1 i 1 n i 1  n i 1 
1  n  n  
n 2

     2   xi   xi    xi    
n  i 1 i 1  i 1  
2
1  n 
    xi  q.e.d .
n  i 1 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 21
THEORETICAL BASICS 
 
 

Table 1: Distribution Function: 
z2
x 
  x; 0;1   x  
1
    e 2  dz  
2   
x   x    x   x    x   x    x   x   

0,00  0,50000  0,05  0,51994  2,00  0,97725  2,05  0,97982 

0,10  0,53983  0,15  0,55962  2,10  0,98214  2,15  0,98422 

0,20  0,57926  0,25  0,59871  2,20  0,98610  2,25  0,98778 

0,30  0,61791  0,35  0,63683  2,30  0,98928  2,35  0,99061 

0,40  0,65542  0,45  0,67364  2,40  0,99180  2,45  0,99286 

0,50  0,69146  0,55  0,70884  2,50  0,99379  2,55  0,99461 

0,60  0,72575  0,65  0,74215  2,60  0,99534  2,65  0,99598 

0,70  0,75804  0,75  0,77337  2,70  0,99653  2,75  0,99702 

0,80  0,78814  0,85  0,80234  2,80  0,99744  2,85  0,99781 

0,90  0,81594  0,95  0,82894  2,90  0,99813  2,95  0,99841 

1,00  0,84134  1,05  0,85314  3,00  0,99865     

1,10  0,86433  1,15  0,87493  3,10  0,99903     

1,20  0,88493  1,25  0,89435  3,20  0,99931     

1,30  0,90320  1,35  0,91149  3,30  0,99952     

1,40  0,91924  1,45  0,92647  3,40  0,99966     

1,50  0,93319  1,55  0,93943  3,50  0,99977     

1,60  0,94520  1,65  0,95053  3,60  0,99984     

1,70  0,95543  1,75  0,95994  3,70  0,99989     

1,80  0,96407  1,85  0,96784  3,80  0,99993     

1,90  0,97128  1,95  0,97441  3,90  0,99995     

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 22
THEORETICAL BASICS 
 
 

Table 2: t – Distribution 
   ‐ values in per cent 

  Bilateral problem 
m\    50      25      10       5       2       1       0,2      0,1   
  1    1,00    2,41    6,31    12,7    31,82    63,7    318,3   637,0   
  2    .816    1,60    2,92    4,30     6,97    9,92    22,33    31,6 
  3    .765    1,42    2,35    3,18     4,54    5,84    10,22    12,9 
  4    .741    1,34    2,13    2,78     3,75    4,60     7,17    8,61 
  5    .727    1,30    2,01    2,57     3,37    4,03     5,89    6,86 
  6    .718    1,27    1,94    2,45     3,14    3,71     5,21    5,96 
  7    .711    1,25    1,89    2,36     3,00    3,50     4,79    5,40 
  8    .706    1,24    1,86    2,31     2,90    3,36     4,50    5,04 
  9    .703    1,23    1,83    2,26     2,82    3,25     4,30    4,78 
 10    .700    1,22    1,81    2,23     2,76    3,17     4,14    4,59 
 11    .697    1,21    1,80    2,20     2,72    3,11     4,03    4,44 
 12    .695    1,21    1,78    2,18     2,68    3,05     3,93    4,32 
 13    .694    1,20    1,77    2,16     2,65    3,01     3,85    4,22 
 14    .692    1,20    1,76    2,14     2,62    2,98     3,79    4,14 
 15    .691    1,20    1,75    2,13     2,60    2,95     3,73    4,07 
 16    .690    1,19    1,75    2,12     2,58    2,92     3,69    4,01 
 17    .689    1,19    1,74    2,11     2,57    2,90     3,65    3,96 
 18    .688    1,19    1,73    2,10     2,55    2,88     3,61    3,92 
 19    .688    1,19    1,73    2,09     2,54    2,86     3,58    3,88 
 20    .687    1,18    1,73    2,09     2,53    2,85     3,55    3,85 
 25    .684    1,18    1,71    2,06     2,49    2,79     3,45    3,72 
 30    .683    1,17    1,70    2,04     2,46    2,75     3,39    3,65 
 40    .681    1,17    1,68    2,02     2,42    2,70     3,31    3,55 
 60    .679    1,16    1,67    2,00     2,39    2,66     3,23    3,46 
120    .677    1,16    1,66    1,98     2,36    2,62     3,17    3,37 
      .674    1,15    1,64    1,96     2,33    2,58     3,09    3,29 
m/     25     12,5      5      2,5      1       0,5     0,1     0,05 

  Unilateral problem 
 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 23
THEORETICAL BASICS 
 

Example 1.1  
A resistor measurement under the same conditions shows the following 20 values of 
Ri in ohm: 
680  684  684  672  664  692  685  681  676  668 

693  681  676  696  689  672  688  682  677  680 

 
Please calculate the average value, the standard deviation, the confidence region for a 
statistic  safety  S  =  95%  and  the  measuring  result.  The  estimated  systematic  error 
amounts to 0,1%.  
 

Example 1.2  
the measuring result is the function of the measuring parameters: 
   A)  y  a  x1  b  x2  c  x3    
x1  x2
   B)  y     
x3

Calculate in each case formally the standard deviation. 
 

Example 1.4.1  
Between the current I and the voltage U of an electric light bulb exists a dependence 
which can be described with the power function: 
a
U 
  I  k  I 0     
U0 
With the measured values U and I  
 
U in V     30  50  70  90  110  130  150  170  190  210  230 

 I in mA    340  421  496  563  623  677  726  772  817  860  903 

 
are to be calculated the exponent a, the factor k and the correlation coefficient r. 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

 
 QUIRDER  ELECTRICAL METROLOGY   1 ‐ 24
THEORETICAL BASICS 
 
 

Example 1.4.2  
A resistor measurement under the same conditions shows the following 20 values of 
Ri in ohm: 
680  684  684  672  664  692  685  681  676  668 

693  681  676  696  689  672  688  682  677  680 

 
Outline the histogram, the bell curve and the cumulative frequency curve.  
 
 

Fachhochschule Frankfurt am Main ‐ University of Applied Sciences 
Electrical Engineering 

You might also like