T2 Oscilos Por

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Osciloscopios
2.1 Resea histrica, funcin del osciloscopio y criterios de clasificacin El osciloscopio de rayos catdicos es el instrumento electrnico ms utilizado para capturar y analizar seales elctricas variables en el tiempo. En su modo de operacin por defecto (modo Y-t) el eje vertical representa la magnitud de la seal y el eje horizontal el tiempo. El tubo de rayos catdicos permite observar variaciones de alta velocidad cuando se aplican seales a uno de sus canales, por ello sustituy al oscilgrafo y al registrador XY. Estos instrumentos, basados en componentes electromecnicos, al medir seales de alta frecuencia estaban limitados por la inercia del trazador (pluma mvil cuyo movimiento en direccin perpendicular al papel registra la seal). En el ctodo del tubo de rayos catdicos se genera un haz colimado de electrones que, al incidir sobre la pantalla de fsforo, produce el trazo visible, que reproduce fielmente la seal de inters objeto de medida, y que resulta de componer dos movimientos transversales. El movimiento del haz electrnico es causado por la accin de campos elctricos aplicados a dos conjuntos de placas de deflexin, que constituyen las tensiones de deflexin. Estas tensiones se generan internamente a partir de las seales medidas. Desde su generacin hasta el punto de incidencia, el haz apenas es afectado por fenmenos de tipo mecnico (como por ejemplo vibraciones o la inercia del movimiento), debido a que est formado por partculas de masa despreciable. Bsicamente, con un osciloscopio se pueden realizar las siguientes medidas directas: Perodo y magnitud (tensin) de una seal. Componente de continua (seal de acoplo) de una seal alterna. Desfases entre dos seales de la misma frecuencia. Tiempos de subida y bajada de transitorios (flancos de una seal). Anchuras de pulsos. Test o comprobacin de componentes activos y pasivos.
En una primera aproximacin, los osciloscopios pueden clasificarse en analgicos y digitales (de almacenamiento digital). Los primeros reconstruyen la seal aplicada al canal vertical en tiempo real, por ello son los adecuados para capturar eventos peridicos y rpidos. La incorporacin de dispositivos de memorizacin permite capturar fenmenos no repetitivos, como por ejemplo los transitorios asociados a picos
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Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa
de tensin, el tiempo de estabilizacin de una seal en torno a un nivel o el arranque de un oscilador. Otros instrumentos electrnicos basados en el mismo principio operativo del osciloscopio (tubo de rayos catdicos) son los analizadores lgicos de estados (en esencia osciloscopios de varios canales), los trazadores de curvas de dispositivos semiconductores y los analizadores de espectros. Con independencia de sus posibilidades de almacenamiento digital, dos son los criterios bsicos de clasificacin de esos instrumentos: la frecuencia mxima admisible para la seal aplicada al canal vertical y el nmero de canales verticales que incorporan. Segn el primer criterio existen osciloscopios de baja frecuencia (hasta 10 MHz aproximadamente) y de alta frecuencia (hasta unos 500 MHz). Hay modelos que admiten frecuencias intermedias. Por otra parte, casi todos los osciloscopios incorporan al menos dos canales verticales. En este caso la representacin simultnea de dos, o ms seales, se consigue gracias a la elevada persistencia de los trazos sobre la pantalla que da una apariencia de simultaneidad. Esto se consigue con un solo haz electrnico con sus correspondientes sistemas de deflexin vertical y horizontal. 2.2 Hoja de caractersticas de un osciloscopio. Criterios de seleccin Las caractersticas tcnicas de un osciloscopio son extensas y no todas influyen por igual en la relacin rendimiento/coste del instrumento. En consecuencia, es necesario conocer los parmetros que determinan la calidad del instrumento. En este apartado se exponen las primeras definiciones, basadas en estos parmetros, que nos aproximan a la operacin del instrumento. La calidad y en consecuencia el coste de un osciloscopio, depende en esencia, y aproximadamente en este orden, de los siguientes factores: a) Nmero de canales. Establece las entradas externas aplicables y que pueden ser capturadas por el instrumento al mismo tiempo. b) Ancho de banda y tiempo de subida. Cuantifican la capacidad de procesamiento de frecuencias y la velocidad de respuesta de la unidad de deflexin vertical del instrumento. El modelo de sistema de primer orden con respuesta frecuencial de tipo paso-baja, refleja con fidelidad su comportamiento. c) Sensibilidad de los canales verticales. Indica la capacidad del instrumento para resolver pequeos cambios en la amplitud de la seal de entrada. La unidad principal de medida en la pantalla es la divisin. En consecuencia, un osciloscopio sensible debe ser capaz de representar pocos milivoltios en una divisin; es decir, expandir y resolver notablemente seales de bajo nivel (pequea amplitud). Existen modelos que pueden alcanzar valores de sensibilidad inferiores a los 2 mV/div. La mayora poseen como mejor sensibilidad 5 mV/div. d) Velocidad mxima del barrido horizontal. Refleja la capacidad de un osciloscopio de capturar sucesos rpidos; es decir, establece la resolucin temporal del instrumento. Si en una divisin horizontal vemos pocas unidades temporales de un evento, realizamos una expansin del mismo. Ms adelante se demuestra que la capacidad de expansin de transitorios rpidos est relacionada con la pendiente de la seal de barrido (en forma de diente de sierra) generada en la unidad de desviacin horizontal. Una velocidad de
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barrido elevada supone ver muy poco evento en una divisin (pocos microsegundos por divisin). e) Exactitud de la ganancia del amplificador vertical. Indica el error con que se especifica la ganancia del amplificador vertical del osciloscopio. Se proporciona un porcentaje de error mximo. f) Precisin de la base de tiempos de la unidad de deflexin horizontal. Mediante un porcentaje de error, el fabricante indica la precisin con que el instrumento expande (poco evento por divisin, velocidades de barrido altas) o contrae (mucho evento por divisin, velocidades de barrido bajas) la seal en el eje temporal. Las siguientes caractersticas son propias de osciloscopios de almacenamiento digital, que incorporan circuitos de conversin de analgica/digital (A/D) y elementos de memoria. g) Frecuencia de muestreo. La mitad de este parmetro establece la mxima componente en frecuencia de una seal que es capaz de digitalizar el instrumento, reproduciendo con fidelidad la seal analgica muestreada. Viene determinada por el convertidor A/D. En los modelos ms avanzados se alcanzan velocidades de muestreo del orden de Gigamuestras/seg. La velocidad de muestreo depende de la posicin de la base de tiempos del instrumento, ya que ste suele disearse con el propsito de almacenar en la memoria el mismo nmero de puntos para cualquier posicin de la base de tiempos. h) Capacidad de almacenamiento. Indica la capacidad de la memoria RAM. i) Capacidad del registro. El registro es un almacn intermedio de datos, de cuya informacin se puede disponer para ampliacin de tramos de la seal. j) Resolucin vertical. Cada muestra es digitalizada con un nmero de bits, determinado por el convertidor A/D, que indica la resolucin de la digitalizacin. k) Incorporacin de mdulos para el clculo de operaciones matemticas. Por ejemplo, mdulos de transformada rpida de Fourier (FFT; Fast Fourier Transform). l) Control mediante programacin (instrumentacin programable). Los instrumentos que incorporan tarjeta controladora permiten el gobierno por computadora de su panel, mediante una secuencia de rdenes descritas en un programa informtico. De esta forma, el instrumento puede formar parte de una red de instrumentos controlada por ordenador. Uno de los estndares ms comunes (el ms conocido en instrumentos de laboratorio) es el sistema de interconexin de instrumentos programables descrito por la norma IEEE 488, conocido comercialmente mediante el acrnimo GPIB (General Purpose Interface Bus, bus interfaz para interconexin de propsito general). Para poder controlar un instrumento que incorpore esta opcin es necesario instalar en el ordenador de control una tarjeta GPIB (con su correspondiente programa controlador o
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driver), que se une al instrumento mediante un cable de la misma designacin. Tambin es posible el control sin necesidad de instalar en el ordenador nuevas tarjetas en los buses de expansin; por ejemplo, mediante el puerto de comunicaciones serie, RS232. En la actualidad, las prestaciones mnimas que incluyen los modelos bsicos son cada vez ms avanzadas y numerosas. As, encontramos en el mercado modelos con anchos de banda mnimos de 10 MHz, la incorporacin de doble base de tiempos con velocidades de barrido elevadas y pantallas con lecturas digitales (readout) y cursores. Estos ltimos facilitan las medidas de tensin, tiempo y frecuencia. La tendencia generalizada consiste en la incorporacin de control por procesador, que dota al instrumento de cierto grado de inteligencia, con la consecuente simplificacin de su manejo. El microprocesador permite el ajuste automtico (opcin Auto Set) de los mandos. Asimismo, permite memorizar y recuperar (opciones Save/Recall), desde la memoria RAM del procesador, situaciones predeterminadas de ajuste de los parmetros de medida. De esta forma, el usuario no se preocupa por capturar la seal, sino por ajustar los mandos del panel con el fin de visualizarla segn su criterio; y si por error u olvido se pierde el ajuste, puede recuperarlo. Los instrumentos de alta tecnologa suelen disponer adems de un men de calibracin con el fin de ajustar las funciones del equipo sin necesidad de retirar su carcasa. Los datos tcnicos de la hoja de caractersticas suelen agruparse, segn las opciones analgica y digital, en las secciones que muestran las tablas 1-5. Los parmetros que contienen se describirn en sus correspondientes apartados. El propsito de nombrarlos aqu es mostrar al lector la amplitud de este instrumento y proporcionar algunas primeras definiciones. En el transcurso del libro se definir el resto y se ampliarn las definidas. El fabricante tambin suele informar de los accesorios y posibles ampliaciones del instrumento. Ms adelante se incluyen las tablas de caractersticas de un modelo real de osciloscopio. El lector podr entonces comprobar su grado de aprendizaje y familiarizarse con los rdenes de magnitud y unidades de los parmetros suministrados. Con el fin de lograr este objetivo, comenzamos la exposicin de los mdulos componentes del instrumento.
Tabla 1. Caractersticas analgicas de un osciloscopio. Amplificador vertical Modos de operacin al visualizar dos o ms seales Suma y resta de seales Modo XY de dos seales; eliminacin de la variable tiempo Inversin de seales Ancho de banda o margen de frecuencias Tiempo de subida en el caso ms desfavorable Sobreimpulso producido al capturar la seal; amortiguamiento del instrumento Sensibilidades o coeficientes de deflexin que permitirn amplificar o atenuar la seal Impedancia de entrada: asociacin en paralelo de una resistencia y un condensador Acoplamientos de entrada: posibilidad de ver la seal con o sin su acoplo de CC Tensin mxima de entrada Lnea de retardo: para mejorar la captura de eventos rpidos
Tabla 1. Cont. Caractersticas analgicas de un osciloscopio.
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Amplificador horizontal Bases de tiempos principal y retardada: concentracin y expansin temporal de eventos Precisiones analgica y digital Precisin analgica con ampliacin horizontal X10 Tiempo de hold-off: para capturar eventos de periodicidad complicada Ancho de banda del amplificador horizontal: margen de frecuencias Opciones de sincronismo Mnima amplitud pico-pico para disparo automtico Margen de frecuencias con disparo automtico Margen de frecuencias con disparo normal Flancos de disparo Seleccin de la seal de disparo Tipos de acoplamiento de la seal de disparo Posibilidad de segundo disparo en la base de tiempos retardada Disparo alternado entre canales Disparo externo: caractersticas de la seal externa empleada como disparo Separador activo de sincronismo
Tabla 2. Caractersticas de la unidad de almacenamiento digital. Amplificador vertical Modos de operacin: emulacin de registrador continuo o rodillo, de refresco, disparo nico, XY, de
envolvente, promediado Unin de puntos: interpolaciones lineal y/o senoidal Circuitos de muestreo (tiempo real): frecuencia de muestreo mxima, tipo de memoria (generalmente flash) y bits de codificacin de datos Profundidad de memoria: palabras X bits por palabra
Memoria de referencia Resolucin: puntos por cm Ancho de banda y diferencia de fase en el modo XY Disparo anterior y posterior a la seal capturada
Tabla 3. Panel de usuario y posibilidades de control. Ajuste automtico (Auto Set): disposicin automtica de parmetros para la captura de seales Memorizacin y recuperacin de disposiciones de ajuste (Save/Recall) Indicacin digital de medidas con cursores Interfaz para control y/o transferencia de datos: RS232, IEEE 488 Tabla 4. Caractersticas elctricas y dimensionales. Tubo de rayos catdicos: se especifica el modelo Tensin de aceleracin del haz electrnico Circuito de calibracin: caractersticas de las seales generadas internamente para calibrarlo Conexin de red y consumo Proteccin Peso, color y medidas Tabla 5. Comprobador de componentes. Tensin y corriente de test suministradas por el instrumento cuando se le conectan componentes para
comprobar su estado mediante la visualizacin de curvas estticas
2.3 Diagrama de bloques, subsistemas y funcionamiento cualitativo Generalmente consta de los siguientes bloques funcionales:
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1. 2. 3. 4. 5. 6.
Tubo de rayos catdicos. Subsistema de deflexin (desvo) vertical. Subsistema de deflexin horizontal. Fuentes de alimentacin de alta y media tensin. Circuitos de calibracin (generadores internos de seal para calibrar las sondas). Sondas (pueden considerarse elementos exteriores).
Con el fin de exponer el funcionamiento cualitativo, se muestra en la figura 1 la disposicin aproximada de las unidades de deflexin horizontal y vertical (bloques funcionales ms importantes del osciloscopio) y de sus circuitos, hasta las placas de desviacin; y en la figura 2, la alteracin que experimenta el haz electrnico generado en el ctodo, por accin de las tensiones de deflexin. En esta ltima se incluye la asignacin de ejes adoptada en el estudio de este instrumento. La sonda captura una seal, que se transmite al osciloscopio mediante un cable (generalmente coaxial) y se aplica al instrumento a travs del circuito de entrada. Lo ms frecuente es que la amplitud de la seal de entrada no sea suficiente para producir la deflexin vertical, por ello, requiere de amplificacin, realizada en el sistema de deflexin vertical. Una vez amplificada la seal, se aplica a las placas de deflexin vertical del tubo de rayos catdicos.
Unidad de Deflexin Vertical Amplificador de deflexin vertical
Acoplamiento
Atenuador
Placas verticales
Fuente de baja tensin
Fuente de alta tensin
Tubo de rayos catdicos
Unidad de Deflexin Horizontal Circuito de disparo Generador de Barrido Amplificador de deflexin vertical
Placas horizontales
Sonda
Fig. 1. Diagrama de bloques genrico del osciloscopio, donde destacan las unidades de deflexin y sus circuitos, que modifican la seal capturada por la sonda hasta su aplicacin en las placas de deflexin.
En la figura 2 se aprecia el efecto de la seal capturada sobre el haz electrnico. ste se genera en el tubo de rayos y se enfoca y dirige hacia un punto, el lugar del impacto con la pantalla. La desviacin vertical del haz depende de la magnitud del voltaje aplicado a las placas verticales. La seal de entrada tambin pasa por el sistema de deflexin horizontal, que mueve (barre) el haz electrnico en esta direccin a velocidad
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constante de izquierda a derecha por la accin de una tensin en forma de diente de sierra. El efecto simultneo de estas desviaciones provoca el trazado de una lnea en la pantalla (generalmente cubierta de fsforo).
Y X Enfoque Aceleracin
Filamento, ctodo y rejilla
Placas de deflexin vertical
Placas de deflexin horizontal
Pantalla
Fig. 2. Funcionamiento cualitativo del osciloscopio y sistema de ejes considerado en su estudio. El haz electrnico, generado en el tubo de rayos catdicos, recorre la trayectoria sinusoidal repetidas veces y a una velocidad tan elevada que el ojo humano integra su repeticin y produce la sensacin de persistencia.
El punto de la pantalla recorrer el mismo camino si la entrada es peridica y la base de tiempos sintoniza el barrido horizontal con la deflexin vertical. Es decir, el barrido horizontal debe comenzar siempre en el mismo punto (pendiente y nivel de la seal aplicada a las placas verticales). Si la seal es de frecuencia suficientemente elevada, el barrido se produce a una velocidad suficiente como para que la imagen d la sensacin de estar permanentemente pintada en la pantalla. Del razonamiento anterior se intuye la necesidad de sincronizar las tensiones de deflexin horizontal y vertical (el barrido, o seal de diente de sierra, debe comenzar siempre en el mismo punto de la seal de entrada). De ah que se aprecie en la figura 1 la derivacin de una parte de la seal del amplificador vertical hacia el circuito de disparo. Cuando esto sucede, la fuente de disparo es interna. Ms adelante se estudiarn las distintas fuentes de disparo y su conveniencia. El ejemplo 1 introduce, bajo una perspectiva experimental, la interpretacin de los parmetros de una seal visualizada en el osciloscopio y la necesidad de sincronismo para lograr una imagen estable.
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Ejemplo 1. Visualizacin de las condiciones de funcionamiento de un osciloscopio empleando otro osciloscopio. En la figura Ej. 1 (a) se aprecia una seal senoidal de 8 Vpp, de 2 kHz sin acoplo de continua visualizada en una expansin temporal horizontal de 1 ms; de ah que se visualicen 2 periodos de la seal (T=0,5 ms). Como hay diez divisiones horizontales, esto significa que el ajuste del osciloscopio (a) es de 0,1 ms/div. La seal de barrido (diente de sierra) del osciloscopio (a) abarca de un extremo al otro de su pantalla y debe durar el tiempo de barrido, que es el tiempo de la duracin del evento horizontal visualizado, es decir, 1 ms. Esta seal se observa en el osciloscopio (b) en el que la duracin del recorrido temporal horizontal es de 5 ms. Esto significa que en el instrumento (b), por cada divisin se registran 500 s de evento (A: 500 s en la parte superior izquierda de la pantalla).
(a) (b) Fig. Ej. 1. (a) Seal en el osciloscopio 1. (b) Seal en el osciloscopio 2 con la seal de barrido del osciloscopio 1.
Cada barrido (rampa creciente del diente de sierra) abarca el mismo recorrido temporal de seal. La reiteracin de la imagen produce en (a) la sensacin estable. La zona de tensin nula entre cada barrido se denomina tiempo de retencin y en algunos modelos puede hacerse variable con el fin de visualizar situaciones complejas. 2.4 Tubo de rayos catdicos. Componentes y principios operativos Su misin consiste en generar un haz electrnico colimado y actuar sobre l de acuerdo con las tensiones de desviacin aplicadas a las placas de deflexin. Es un tubo de vidrio sellado donde se ha practicado el alto vaco evacuando del aire de su interior. Esto es necesario para que el haz electrnico posea un alto grado de colimacin (concentracin de electrones en un rea pequea). En efecto, si un electrn encontrara una partcula en su trayectoria, sta se vera alterada y el haz se dispersara. Consta de un sistema de generacin de electrones (can electrnico), unas lentes electrostticas para el enfoque, las placas de deflexin horizontal y vertical del haz electrnico, un sistema de aceleracin posterior (no en todos los modelos) y una pantalla reticulada. Las conexiones de las placas de deflexin se realizan en la base del tubo si no hay sistema de postaceleracin. En caso de existir aceleracin posterior se realizan en el cuello o base del tubo.
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2.4.1 Generacin termoinica del haz electrnico y enfoque electrosttico La generacin del haz se produce en el can; que consta de un ctodo que emite electrones al calentarlo mediante un filamento (ctodo termoinico), varios electrodos de aceleracin y controles de enfoque e intensidad. La figura 2 mostr la disposicin de estos elementos. La figura 3 ilustra el proceso de generacin y colimacin del haz electrnico. La rejilla de control de intensidad permite controlar el flujo de electrones (intensidad) mediante la aplicacin de un potencial negativo (amplificador del eje Z, mando INTENSIDAD del panel del instrumento). El nodo est a una tensin de varios miles de voltios respecto del ctodo (entre 2 y 12 kV), esto permite acelerar los electrones que emergen de la rejilla. Adems posee una abertura de colimacin del haz electrnico. La relacin entre la tensin de aceleracin y la intensidad del haz electrnico no es proporcional. En los osciloscopios analgicos es recomendable aumentar el nivel de intensidad si aumenta la velocidad de barrido, ya que se visualiza menos evento en una divisin horizontal de la pantalla y la imagen puede perder persistencia.
Miles de voltios
Filamento nodo, + Ctodo, -
Haz electrnico colimado
Rejilla a potencial negativo
Hacia lentes de enfoque
Fig. 3. Generacin termoinica del haz. Los electrones que salen de la rejilla son acelerados hacia el nodo; otros no sobrepasan la rejilla debido a la aplicacin de un potencial negativo de control de intensidad, que los rechaza.
El haz electrnico puede rotarse con el fin de alinearlo con el eje horizontal (calibracin del haz). Esto se consigue gracias a la accin de una bobina interna, que produce un campo magntico corrector que, a su vez, compensa la accin perturbadora de campos parsitos cercanos. Incluso el campo magntico terrestre es considerado en aplicaciones que requieran elevada precisin.
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Fig. 4. Rotacin del haz electrnico. Vista frontal de la pantalla.
El sistema de enfoque electrosttico est formado en esencia por lentes electrostticas, que actan como nodos directores del haz, permitiendo la convergencia del haz emergente del primer nodo. El control FOCO del panel frontal del instrumento (que acta sobre un potencimetro) permite ajustar la mayor o menor convergencia (colimacin) del haz, aplicando una diferencia de potencial entre el ctodo y los nodos de aceleracin/enfoque posteriores (o intermedios si se dispone de aceleracin posterior). Los osciloscopios de almacenamiento digital no necesitan este control, ya que muestrean la seal una vez sta abandona el amplificador vertical. Los nodos de enfoque aceleran el haz electrnico en la direccin perpendicular a la pantalla (direccin longitudinal del tubo). En efecto, conforme el electrn atraviesa el nodo de enfoque (el de longitud mayor en la figura 2) cruza perpendicularmente las superficies equipotenciales originadas por la aplicacin del potencial de enfoque. En consecuencia, al abandonar una superficie la velocidad normal a ella aumenta, mantenindose la velocidad tangencial. La figura 5 muestra la accin del enfoque electrosttico.
vn vt
vt E
Superficie equipotencial
vn
Fig. 5. Enfoque electrosttico. La componente tangencial de la velocidad del electrn no se ve alterada por la accin del campo elctrico. Slo aumenta la componente normal a la superficie, con el consecuente efecto de colimacin del haz.
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Al aumentar slo la componente normal de la velocidad del electrn (vn), se produce la concentracin de los electrones en una pequea superficie transversal a la direccin del flujo (colimacin). 2.4.2 Placas de desviacin del haz electrnico El haz de electrones abandona el can y llega a las placas de deflexin. Existen dos conjuntos de placas deflectoras colocadas perpendicularmente dos a dos. El haz atraviesa primero las placas de deflexin vertical, que provocan la desviacin del haz en esta direccin (el sentido depende de la polaridad de la tensin de deflexin). Si no hay tensin aplicada a las placas, el haz incide en el centro de la pantalla (si el instrumento est bien calibrado y si el usuario no ha actuado sobre los mandos Y-POS y X-POS). La deflexin producida es proporcional a la diferencia de tensin aplicada (por ejemplo, entre 10 y 20 V aplicados a una pareja de placas para deflexionar 1 cm). La entrada al instrumento es atenuada y amplificada en los circuitos de deflexin vertical antes de aplicarse a las placas verticales. La desviacin resultante se establece en trminos de divisiones (generalmente existen 8 divisiones verticales en la pantalla). Las placas verticales se sitan antes que las horizontales (stas estn ms cercanas a la pantalla), ya que a priori la tensin que van a soportar es desconocida y conviene que sta sea pequea. Sin embargo, las tensiones aplicadas a las placas horizontales son conocidas, como la tensin de barrido que genera el integrador del generador de barrido, que alcanza siempre el mismo mximo. Ajustando las tensiones continuas aplicadas a las placas (mandos Y-POS y X-POS) es posible mover el centro de la onda formada hacia otra zona de la pantalla. Estas tensiones son generadas por los circuitos internos de alimentacin del instrumento. El haz electrnico se desva segn una trayectoria parablica entre las dos placas verticales, por accin del campo elctrico originado entre ambas. La desviacin producida es directamente proporcional a la tensin de deflexin, Vdef, e inversamente proporcional a la tensin de aceleracin entre los nodos y el ctodo, Vac; adems, la deflexin producida en la pantalla viene dada en funcin de dimensiones propias del tubo de rayos catdicos segn la expresin:
Def = L l Vdef 2d Vac
Con el fin de estudiar el movimiento del electrn entre las placas verticales, supongamos que la tensin de desviacin vertical es continua (resultado de medir una seal invariante en el tiempo) y que la polaridad de la placa superior supera a la de la placa inferior. Una vez abandonadas las placas verticales, la trayectoria es rectilnea hasta el punto de incidencia en la pantalla. La situacin queda reflejada en la figura 6. El factor de deflexin (Vdef /Def) se define como la tensin que es necesario aplicar a las placas para producir una desviacin unitaria en la pantalla (tensin por unidad de longitud); es decir, es el campo elctrico que provoca la desviacin unitaria del haz electrnico. Suele oscilar entre 10 y 100 V/cm (unidades de campo elctrico; campo elctrico entre las placas verticales) segn modelos, y debe producir la misma deflexin en toda la superficie de la pantalla. El factor de deflexin es directamente proporcional a la tensin de deflexin e inversamente proporcional a la longitud del tubo y a la longitud de las placas. En consecuencia, determina las caractersticas de un tubo de rayos catdicos.
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+
d
Deflexin en la pantalla
Vdef
L E
l Fig. 6. Modificacin de la trayectoria del electrn por accin de la tensin de deflexin vertical.
El diseo de las placas puede optimizarse segn dos criterios. Por una parte, si se desea una gran rea de barrido se emplean placas inclinadas, que aumentan el ngulo de salida mximo del haz electrnico. Por otra, la capacidad parsita asociada a las placas aumenta a altas frecuencias (disminuye la reactancia del condensador que forman las placas plano-paralelas); por ello, se emplean placas segmentadas y/o distribuidas. Los elementos de aceleracin posterior proporcionan al haz electrnico una energa adicional que permite obtener un brillo suficiente en la pantalla cuando se aplican a las placas tensiones deflectoras de alta frecuencia. Para ello, se aplica una tensin positiva (del orden de kV) a la pantalla respecto del nodo. 2.4.3 Pantalla y rejilla La pantalla est cubierta en su lado interno de un material fotoemisor (fsforo generalmente). La persistencia del material es el tiempo que tarda disminuir el brillo original en un 90 %. En los modelos comerciales se emplean materiales con persistencia media (fosforescente verde). Existen modelos con tubos de rayos capaces de mantener la imagen en la pantalla durante varias horas despus del trazado original. Son los osciloscopios de almacenamiento o de memoria. La figura 7 muestra el reticulado o rejilla, que constituye la escala grfica de medida del osciloscopio, generalmente externa al tubo de rayos. Consta de divisiones principales y de subdivisiones (5 por cada divisin principal de las lneas centrales de la rejilla). Tambin existen marcas para medir los tiempos de subida y de bajada de seales. Generalmente existen 8 divisiones verticales y 10 horizontales, con un ancho aproximado de 1 cm. Adems, incorpora marcas para medir la duracin de los flancos de seales (tiempos de subida y de bajada).
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100 90
10 0
Fig. 7. Diseo del reticulado de la pantalla de un osciloscopio estndar.
2.5 Unidad de deflexin vertical Su misin consiste en generar una seal a partir de la aplicada al canal vertical, que reproduzca con exactitud a esta ltima en su trazado. Si se aplicaran directamente las seales dbiles a las placas deflectoras, no tendran amplitud suficiente como para producir la deflexin (es necesario aplicar entre 10 y 20 V para deflexionar 1 cm). En consecuencia, los circuitos de deflexin vertical amplifican las seales dbiles, incapaces de producir por s mismas desviaciones apreciables. Por otro lado, atenan las seales de amplitud elevada, que produciran desviaciones imposibles de visualizar en un espacio confinado, como la pantalla (produciran la saturacin del amplificador vertical). 2.5.1 Velocidad y ancho de banda. Mediciones de tiempos de subida La unidad de deflexin vertical determina la velocidad (ancho de banda) del osciloscopio, as como la impedancia de entrada del instrumento. En este apartado se estudia la primera limitacin prctica del instrumento y las reglas relativas al clculo de su ancho de banda. Los aspectos fundamentales que debe recordar el usuario y que son relativos al ancho de banda y a las sondas empleadas se resumen en las siguientes reglas experimentales. 2.5.1.1 Relacin entre el tiempo de subida y el ancho de banda El osciloscopio se aproxima con gran fidelidad a un sistema primer orden, con una respuesta frecuencial de tipo paso-baja. Para estos sistemas, la frecuencia superior de corte y el tiempo de subida de la respuesta a un escaln unitario (respuesta indicial) verifican la relacin aproximada: fots = 0,35 donde fo es el ancho de banda del instrumento y ts el tiempo de subida del canal vertical. Esta relacin indica que cuanto mayor es el ancho de banda del osciloscopio, ms capacidad posee el instrumento de capturar transitorios rpidos y flancos de subida veloces.
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A partir del ancho de banda del osciloscopio, indicado en su hoja de caractersticas, es inmediato calcular el tiempo de subida del canal vertical. Ejemplo 2. El osciloscopio analgico HM 1004 tiene un ancho de banda de 100 MHz. Esto significa que el tiempo de subida de cada uno de sus dos canales verticales es de:
ts = 0,35 0,35 = 8 = 3500 ps f0 10 Hz
2.5.1.2 Tiempo de subida real. Fuentes de error Al medir el tiempo de subida de una seal, y especialmente en la medida de pulsos o transitorios rpidos, deben considerarse, adems del propio tiempo del instrumento los siguientes tiempos parsitos: El tiempo de subida propio del osciloscopio, el tiempo de subida de la sonda empleada, y el tiempo de medida del circuito RC constituido por la resistencia de la fuente (cuya seal es objeto de medida), y el circuito equivalente de la sonda y el osciloscopio. Si la resistencia de la fuente es muy baja este ltimo se suele despreciar (como ocurre en muchas situaciones prcticas).
Con el fin de obtener errores en la medida de tiempos de subida inferiores al 5%, la suma de los tiempos parsitos debe ser inferior a 1/3 del tiempo de subida de la seal de inters. Para que los errores sean inferiores al 1% la suma de los tiempos parsitos debe ser inferior a 1/7 del tiempo de inters. Si se verifica la primera condicin (y, en consecuencia, la segunda), una buena aproximacin consiste en emplear la suma cuadrtica para el tiempo de subida de la seal medida:
2 2 2 2 2 t s ( medido) = t s ( seal ) + t s ( RC ) + t s ( osciloscopio ) + t s ( sonda)
Los dos ltimos tiempos pueden proporcionarse en uno slo, para el conjunto osciloscopio-sonda, bajo el nombre de tiempo del sistema, ts(sistema),
2 2 2 t s ( sistema) = t s (osciloscopio ) + t s ( sonda)
Si el fabricante proporciona el tiempo de subida del instrumento, es necesario buscar el tiempo de la sonda entre las caractersticas de sta. Este ltimo suele expresarse en trminos conservadores (la hoja de caractersticas proporciona un mximo); una buena opcin consiste en tomar el primer nmero entero inferior al mximo. En la prctica, el tiempo de subida se mide utilizando las marcas porcentuales del 10 y del 90 % de la pantalla del osciloscopio. La figura 8 muestra una medicin prctica.
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Fig. 8. Medida de un tiempo de subida de una seal cuadrada. Se observa tambin el tiempo de estabilizacin.
Ejemplo 3. El osciloscopio analgico HM 604 tiene un ancho de banda de 60 MHz. Se emplea la sonda HZ51 (con un tiempo de subida < 2,4 ns) para medir el tiempo de subida de una seal cuadrada; resultando que en la posicin de la base de tiempos correspondiente a 0,2 s/div se contabilizan 1,7 divisiones horizontales entre las marcas del 10 % y del 90 % de la seal. Calcular el tiempo de subida de la seal aplicada al osciloscopio. El tiempo de subida del osciloscopio es:
ts =
0,35 60 106 Hz
5,83 ns
El tiempo de subida de la sonda se considera con efectos prcticos 2 ns. El tiempo de subida medido en la pantalla del instrumento es: 1,7 div 0,2 s/div = 0,34 s. En consecuencia, el tiempo de subida de la seal (originada por ejemplo en un generador de funciones) se calcula empleando la expresin de la suma cuadrtica:
2 2 2 t s ( seal ) = t s ( medido) t s ( osciloscopio) t s ( sonda) =
(0,34 s )2 (5,83 ns )2 (2 ns )2
Operando, resulta:
t s ( seal ) = 0,1156 10 12 37,9889 10 18 = 1,1556201 10 13 3,3994413 10 7 s 0,34 s
El resultado muestra que para seales lentas, la medida realizada refleja con gran exactitud el tiempo de subida de la seal bajo test. Para transitorios rpidos, del orden de nanosegundos, los tiempos de subida del osciloscopio y de la sonda deben considerarse en el clculo.
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La relacin emprica entre el tiempo de subida y el ancho de banda tambin se emplea para estudiar el conjunto sonda-osciloscopio. Ejemplo 4. Los modelos de la familia de osciloscopios HP Infinium se caracterizan con sondas HP compatibles. Por ejemplo, al configurar el modelo HP 54845A con la sonda pasiva 10:1 de 500 , HP1 1163A, el conjunto ofrece un ancho de banda de 1,5 GHz. El tiempo de subida del conjunto osciloscopio-sonda es:
ts = 0,35 1,5 10 Hz
9
= 2, 3 10 10 s 233 ps
La capacidad de adaptacin de la sonda resulta fundamental en las mediciones de tiempos de subida pequeos. El siguiente ejemplo muestra cmo una combinacin lenta de osciloscopio-sonda puede introducir errores intolerables. Ejemplo 5. Se realiza la medida del tiempo de subida de una seal con un tiempo de subida real de 1 ns. El tiempo de subida de carga debido a la resistencia de la fuente es de 800 ps, y se utiliza una combinacin osciloscopio-sonda con el mismo tiempo de subida. Obtener la desviacin de la medida. El tiempo de subida medido es:
2 2 2 t s ( medido) = t s ( seal ) + t s ( RC ) + t s ( sistema) =
(1 ns )2 + (800 ps )2 + (800 ps )2
Operando, resulta:
t s ( medido ) =
(1 ns )2 + (0,8 ns )2 + (0,8 ns )2
1,5099669 ns 1,5 ns
Resulta pues que el error absoluto ((valor medido-valor verdadero)/valor verdadero)cometido es:
Error = t s ( medido) t s ( seal ) t s ( seal ) 100% = 1,5 ns 1 ns .100% = 50% 1 ns
En consecuencia, la combinacin osciloscopio-sonda elegida es inadecuada para la medida. 2.5.2 Elementos y circuitos del sistema de deflexin vertical La unidad de deflexin vertical consta de los siguientes circuitos: 1. 2. 3. 4.
1
Selector del acoplamiento de la seal de entrada. Atenuador compensado. Preamplificador. Amplificador principal (diferencial) de deflexin.
Ahora Agilent
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2 Osciloscopios
5. Lnea retardadora. El diagrama de bloques de la Fig. 9 representa la cascada anterior de circuitos:

Acoplamiento Atenuador Pre-amplificador Amplificador Principal
Placas verticales
Fig.9. Elementos de la unidad de deflexin vertical.
2.5.2.1 Selector del tipo de acoplamiento Este circuito proporciona flexibilidad al osciloscopio, ya que permite ver una seal con o sin su nivel de acoplo de CC (posiciones DC y AC respectivamente), o visualizar una lnea horizontal en la pantalla con el fin de calibrar el instrumento o de reestablecer el origen de coordenadas original, despus de haber desplazado verticalmente una seal. La figura 10 muestra el esquema elctrico del selector de acoplamiento.
Admitancia de entrada del instrumento 1 M 25 pF CA Tierra CC Al atenuador de entrada
Conector BNC donde se conecta la sonda Tierra del osciloscopio
Efecto del mando externo
Fig. 10. Selector del tipo de acoplamiento.
A menudo es necesario visualizar una seal sin su nivel de continua (CC o DC), ya que ste puede ser elevado y poco relevante, como por ejemplo el nivel de acoplo de la seal de rizado de fuentes de alimentacin, si estamos interesados en medir el rizado. La posicin AC, de bloqueo de continua, logra este objetivo, proporcionando consecuentemente mayor resolucin a las medidas, ya que el atenuador puede situarse en posiciones bajas, menos voltios en una divisin. Sin embargo, las seales de baja frecuencia pueden ser atenuadas de manera no deseable, ya que la seal de entrada pasa por un condensador, cuya reactancia a estas frecuencias es elevada y absorbe gran parte de la tensin aplicada. En la posicin DC la seal de entrada se conecta directamente al atenuador, y la seal se muestra en la pantalla con su nivel de acoplamiento. La posicin GND suministra 0 V al circuito atenuador y su efecto es una lnea horizontal en la pantalla. Suele emplearse esta ltima para calibrar el haz electrnico sin desconectar la sonda del circuito objeto de medida, ya que la tierra permite la rpida descarga de los condensadores del circuito de atenuacin.
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2.5.2.2 Atenuador compensado Su misin consiste en disminuir la amplitud de la seal de entrada antes de que sta pase al preamplificador. La atenuacin, conmutador del panel frontal V/div, debe ser la misma para cualquier frecuencia de entrada dentro del ancho de banda del osciloscopio, de ah el atributo compensado. Una red de asociaciones resistencia/capacidad en paralelo determina todas las posibles atenuaciones. Cada asociacin se disea de forma que su constante de tiempo iguale la del circuito de entrada. De esta forma se consigue atenuacin constante en todo el ancho de banda. En los modelos comerciales la inexactitud mxima de la relacin de atenuacin suele ser del 3 %. 2.5.2.3 Preamplificador y amplificador principal Estos dos elementos suelen disearse de manera conjunta para dar una ganancia fija (entre 1000 y 2000). Esto permite soslayar los problemas derivados de la estabilidad y ancho de banda, ya que el compromiso ganancia/ancho de banda se resuelve por igual para todas las seales. Sin embargo, el instrumento suele incorporar un ajuste fino de ganancia, GAIN VERNIER (situado generalmente en el centro del mando de control de sensibilidad), que permite lograr ganancias intermedias entre las establecidas por el atenuador. La tensin de salida del amplificador de deflexin y la tensin de entrada estn relacionadas mediante la siguiente expresin:
Vdef = A K Vent
donde K es la ganancia de las etapas de amplificacin (preamplificador y amplificador principal) y A es la atenuacin seleccionada. El diseo de la cascada formada por el atenuador, el preamplificador y el amplificador principal determina el rango dinmico (o margen de amplitudes de entrada) del instrumento. El ejemplo 6 muestra el empleo del concepto de rango dinmico. Ejemplo 6. Un osciloscopio posee un rango dinmico de 1000:1. La tensin de deflexin puede oscilar entonces entre la obtenida para un factor de atenuacin mximo y la situacin de puenteo del atenuador
Vdef = A K Vent =
Vdef = A K Vent
1 1000 Vent = Vent 1000 = 1 1000 Vent = 1000Vent
Con efectos prcticos, los amplificadores se disean en trminos de sensibilidad. Es decir, se especifica la amplitud de la seal de entrada equivalente a una divisin principal. Suelen establecerse secuencias de sensibilidad. Por ejemplo, 1, 2, 5, 10, En general, las distintas posiciones de sensibilidad abarcan desde 2 mV/div hasta 10 V/div. El amplificador final de deflexin es un circuito diferencial. Se escoge esta topologa para aumentar el margen de linealidad y el CMRR. La adicin de tensiones continuas a la seal, para variar su posicin en la pantalla, se realiza mediante un control accesible desde el panel frontal, POSICIN VERTICAL.
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2.5.2.4 Lnea retardadora La seal que es objeto de medida entra en los circuitos de deflexin vertical y horizontal. En este ltimo la seal es procesada por los circuitos de base de tiempos que generan un retardo en el comienzo del barrido respecto de la seal aplicada a las placas de deflexin vertical. Como quiera que la seal no aparece en la pantalla hasta que no comienza el barrido, el retardo generado impedira la visualizacin de la primera zona de la seal. Por ello, se intercala una lnea de retardo entre el amplificador de deflexin vertical y las placas verticales. Existen dos tipos de elementos de retardo: cable coaxial y circuito impreso. Las tarjetas impresas son ms ventajosas, ya que pesan menos, son menos voluminosas y proporcionan buena fiabilidad y estabilidad. 2.5.2.5 Doble trazado de seales Son numerosas las aplicaciones que requieren la visualizacin simultnea de dos seales. Por ejemplo, medir el desfase que introduce un circuito a una entrada sinusoidal; o la distorsin producida por un amplificador. Se utilizan dos tcnicas para lograr el trazo doble. Los osciloscopios de dos haces poseen dos caones de electrones o un can que genera dos haces, y dos asociaciones de placas deflectoras verticales. Debido a que son de menor coste, es ms frecuente encontrar osciloscopios de doble trazo, en los que se requiere un solo can y un solo conjunto de placas deflectoras verticales. stos logran la doble traza realizando conmutaciones electrnicas entre los preamplificadores de cada canal y un amplificador de deflexin vertical comn. La conmutacin puede realizarse en el modo ALTERNATE (alternado), representando alternativamente la salida de un canal en cada barrido; o en el modo CHOPPER (muestreado), en el que se toma una porcin de cada canal a lo largo de un barrido. La figura 11 muestra la diferencia entre ambos modos de funcionamiento. A partir de las seales originales (a) y (b), y considerando la tensin de barrido (c), se obtienen las situaciones de muestreo (d) y (e), de barrido alternado (f) y (g). El modo alternado se emplea para velocidades de barrido altas, mientras que el modo muestreado se usa para seales de frecuencias menores. El paso de un modo de funcionamiento a otro se suele producir automticamente. Cuando la base de tiempos (TIME/div) es inferior a un valor, que suele ser 500 s/div, se emplea el modo alternado; cuando se supera aproximadamente 1 ms/div se pasa al modo de muestreo. Recordemos como regla prctica, que al disminuir el tiempo por divisin, es menor el tiempo que tarda en recorrer la pantalla el haz electrnico, el barrido dura menos; en consecuencia, la velocidad de barrido es mayor. Recuerde, menos tiempo horizontal supone una mayor velocidad de barrido. As en el modo muestreado, durante un barrido (que dura mucho) se muestrean puntos de los dos preamplificadotes, y tenemos suficiente evento de seal en la pantalla. Como, una velocidad de barrido elevada corresponde a poco evento por divisin y es la apropiada para capturar seales de alta frecuencia; parece lgico pues que este modo de operacin no conmute entre preamplificadores de los dos canales durante un barrido, ya que la frecuencia de la seal podra superar la velocidad de conmutacin entre canales en el modo de muestreo.
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(a)
(b)
Retencin
(c)
(d)
(e)
(f)
(g)
Fig. 11. Diferencias entre los modos de funcionamiento ALT y CHOP. (a) y (b) son las seales reales, (c) es la seal de barrido, (d) y (e) son las seales en modo muestreado, y (f) y (g) en modo alternado.
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Ejemplo 7. En el modelo HM 1004, desde 500 ms/div a 500 s/div (ambos inclusive) se utiliza el modo de muestreo; desde 200 s/div a 50 ns/div se utiliza el modo alternado de representacin. En consecuencia, desde 500 ms/div a 500 s/div se consideran velocidades de barrido bajas; y desde 200 s/div a 50 ns/div se consideran velocidades de barrido elevadas (el haz electrnico tarda muy poco en atravesar la pantalla). HM 1004: Subdivisiones de la base de tiempos principal. 500 ms/200 ms/100 ms/50 ms/20 ms/10 ms/5 ms/2 ms/1 ms/500 s CHOP: velocidades de barrido bajas ALT: velocidades de barrido altas 200 s/100 s/50 s/20 s/10 s/5 s/2 s/1 s/ 500 ns/200 ns/100 ns/50 ns Recuerde, una velocidad de barrido elevada corresponde a poco evento por divisin y es la apropiada para capturar seales de alta frecuencia; parece lgico pues que en este modo de operacin no se conmute entre preamplificadores de los dos canales, ya que la frecuencia de la seal podra superar a la velocidad de conmutacin entre canales y no producirse la correcta visualizacin. 2.6 Unidad de deflexin horizontal Los circuitos de esta unidad realizan dos funciones excluyentes. Por una parte, se encargan de desplazar a velocidad constante y de izquierda a derecha el haz electrnico en sincronismo con la seal procedente de los circuitos de deflexin vertical. En este caso determina el eje temporal, y el modo de funcionamiento se denomina Y-t; en l se observa la variacin de una seal de entrada en funcin del tiempo. Por otra, permite representar con fidelidad una seal de entrada; la seal de un canal se aplica a las placas verticales y la que se inyecta al otro canal se aplica a las horizontales, dando lugar a las figuras de Lissajous, en el modo de operacin X-Y. Este modo de operacin es de inters en la medida de desfases y en la caracterizacin de componentes activos y pasivos. La figura 12 muestra el diagrama de bloques de esta unidad del osciloscopio. Consta en esencia de dos subsistemas: el amplificador de deflexin horizontal y los circuitos de la base de tiempos. A su vez, sta se compone del generador de barrido y el circuito de disparo. La figura 13 muestra las seales generadas por cada bloque funcional y su accin en la visualizacin de una seal. Slo la zona de la seal de inters (a) comprendida dentro del ancho de la rampa creciente (seal de barrido, d) se visualiza en la pantalla. La pendiente de la seal de barrido se controla desde el exterior con el mando TIME/div. Durante el tiempo de blanqueo (o supresin del haz de retorno), se apaga el haz electrnico, impidiendo que regrese de derecha a izquierda de la pantalla. La seal compuesta de impulsos de disparo (b) es la que determina el comienzo de cada nuevo barrido. Este punto de comienzo deber ser siempre el mismo, con el fin de producir en la pantalla una imagen estable; a esta accin se le denomina sincronismo. El punto de disparo viene determinado por la tendencia y el nivel de la seal de entrada. En la figura 12, se emite cada pulso de (b) cuando la seal (a) crece y alcanza la amplitud marcada.
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Unidad de Deflexin Vertical Seal Externa de Disparo

Disparo de Red, interno al instrumento
Placas Horizontales del Osciloscopio
Circuito de Disparo
Generador de Barrido
Amplificador Diferencial de Deflexin Horizontal
Conmutador externo de Tiempo/divisin TIME/div
Fig. 12. Diagrama de bloques de la unidad de deflexin horizontal.
(a)
(b)
(c)
(d)
Blanqueo o supresin del haz de retorno Retencin
Fig. 13. Seales involucradas en la unidad de deflexin horizontal. La salida del circuito de disparo (c) se produce en cada flanco de subida del impulso que la provoca.
Durante el tiempo de retencin se inhibe el circuito de disparo, hasta el prximo barrido; esto permite la descarga del condensador del circuito integrador Miller que constituye el generador de barrido. Mediante el mando HOLD-OFF (retencin) algunos modelos pueden hacer que el tiempo de retencin vare; esto permite obtener imgenes estables en situaciones complejas, como cuando una seal posee varias componentes de frecuencia. Esta situacin viene representada en la figura 14. En ella se aprecia que es
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necesario un aumento del tiempo de retencin para que la imagen correspondiente a la frecuencia lenta de la seal sea estable.
Desplazamiento del comienzo del siguiente barrido
Fig. 14. Situacin que muestra el empleo del mando externo HOLD OFF para visualizar una seal modulada en frecuencia. Las flechas de punta gruesa indican puntos de disparo que inician barridos.
La primera seal de barrido no logra producir imagen estable debido a que los recorridos de los sucesivos barridos encierran distintas zonas de la seal. En el abarrido inferior, se aumenta el tiempo de retencin para sincronizar el siguiente barrido en la misma zona de recorrido horizontal. Con el fin de considerar otro supuesto prctico del ajuste variable del tiempo holdoff se estudia la Fig. 15. En ella se aprecia que si la seal que es objeto de medida tiene una forma compleja, como por ejemplo el caso de una seal suma de dos o ms frecuencias que se repiten, entonces el ajuste del disparo se complica. Vemos en este caso que el tiempo variable es de gran ayuda ya que es capaz de variar el retardo entre dos barridos consecutivos, con el fin de conseguir una imagen estable. La sub-figura 1 muestra la situacin con el mando girado a la derecha. Como se visualizan diferentes pares de un periodo no aparece una imagen estable. Es decir, aparece una doble imagen, una seal con una frecuencia en un barrido y la otra seal u otra frecuencia, en el siguiente barrido. Esto evidencia una falta de persistencia, o imagen inestable. En la sub-figura 2 el tiempo hola-off se ha ajustado de forma que siempre se visualizan los mismos tramos del periodo; por ello aparece una imagen estable.
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Fig. 15. Situacin que muestra el empleo del mando externo HOLD-OFF. En algunos manuales aparece explcitamente la frase tiempo variable hold-off, como el de HAMEG, cuya cortesa nos permite esta figura, extrada del manual del HM 604.
2.6.1 Amplificador de deflexin horizontal Cuando el osciloscopio trabaja en el modo de representacin X-Y, amplifica una seal externa, para posteriormente ser aplicada a las placas horizontales del tubo de rayos catdicos. En este modo de funcionamiento el osciloscopio muestra el resultado de componer la variacin de una seal mostrada en la direccin vertical, con otra, que se muestra en direccin horizontal. El amplificador horizontal procesa pues dos tipos de seales, en funcin del modo de funcionamiento. En el modo X-Y amplifica una seal externa, y en el modo Y-t una seal en forma de "diente de sierra", proveniente del generador de barrido, cuya funcin consiste en mover el haz electrnico de izquierda a derecha de la pantalla a velocidad constante. Las caractersticas de ganancia y ancho de banda deben ser semejantes a las del amplificador vertical (dado que procesa tambin seales externas). Un aumento de ganancia permite aumentar la resolucin del eje temporal del instrumento sin accionar la base de tiempos TIME/div, que tambin altera el punto de disparo, con el consiguiente riesgo de perder la captura de eventos complejos. Esto se consigue desde el panel frontal con el mando MAGNIFIER o X MAG. (X10). Algunos modelos permiten el ensamblaje de unidades adicionales que permiten aumentar an ms la resolucin horizontal. Este circuito es capaz de aadir a la seal generada un nivel de continua que permite variar su posicin horizontal sobre la pantalla. Esto se consigue mediante el control externo POSICIN HORIZONTAL. 2.6.2 Generador de barrido Este circuito, basado en un integrador Miller (un condensador se carga a corriente constante), produce una seal en forma de diente de sierra cuya pendiente determina el
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nmero de ciclos de la seal de entrada que se muestran en la pantalla. La rampa generada provoca el desplazamiento del haz de izquierda a derecha y es el resultado de integrar un escaln de tensin proveniente del circuito de disparo. Durante el intervalo de descenso (desde el final de la rampa hasta que la tensin del integrador es cero) el punto regresa rpidamente al lado izquierdo de la pantalla sin trazar este camino de vuelta en el fsforo. Esta supresin del haz de retorno la realiza otro bloque funcional, el amplificador de puerta o de eje Z. La velocidad de barrido, pendiente de la rampa creciente, se establece variando el condensador del integrador Miller. Esta variacin es la que provoca el usuario accionando el mando externo TIME/div. Cuando finaliza un barrido debe darse tiempo al condensador para que evacue su carga, para, de esta forma, comenzar el siguiente en el mismo punto. Esto se consigue inhibiendo el circuito de disparo con un pulso de retencin, que vara en funcin de la seleccin establecida en la base de tiempos. Casi todos los osciloscopios incorporan un mando externo, HOLD-OFF, que permite variar la duracin del pulso inhibidor, independientemente de la posicin TIME/div. Esto permite la visualizacin de seales que, an siendo peridicas, poseen varios ciclos o, en general, son complejas. Sirva como ejemplo una seal senoidal de amplitud decreciente hasta un instante, en el que comienza a crecer de nuevo con el mismo ritmo de crecimiento. 2.6.3 Circuito de disparo Este circuito genera el pulso que posteriormente procesa el integrador. En su ausencia, slo se trazara una seal estable si la duracin de la rampa ms el pulso de retencin fueran submltiplos del perodo de la seal de entrada. 2.6.3.1 Funcionamiento y fuentes de disparo La seal de disparo (entrada del circuito) puede ser interna (INT) (derivada de uno de los canales verticales) o externa (EXT) (independiente de los canales verticales). En esencia, la topologa empleada es un comparador. En una de sus terminales se conecta la seal que provoca el disparo, interna o externa, y en la otra una tensin continua que establece el nivel de disparo (control externo LEVEL). Cuando la seal causante del disparo alcanza el nivel fijado se genera un pulso que dura hasta que vuelve a superarlo en el otro sentido. En caso de seleccionar un disparo exterior la seal causante pasa por un atenuador de entrada, que evita saturaciones internas y, adems, sirve de filtro de seales de ruido. Si la fuente de disparo se toma de uno de los canales verticales, la seal ha sido afectada previamente por el selector y el atenuador del canal vertical correspondiente. El interruptor exterior SLOPE permite conmutar entre las pendientes de disparo positiva y negativa. Esto significa que podemos fijar el comienzo de barrido en tramos ascendentes o descendentes de la seal de entrada. Por ejemplo, si se establece la posicin SLOPE +, y el nivel de disparo es 100 mV, cada vez que la entrada alcance este nivel en un tramo ascendente se generar un pulso de disparo que provocar una rampa de barrido. El ejemplo anterior ilustra la necesidad de sincronizar la seal de entrada y la de disparo para lograr una imagen estable en la pantalla. En caso de ser el disparo interno, el ms comn, es fcil lograr la sincronizacin, ya que la seal de disparo es la de entrada, tomada del amplificador de deflexin vertical. En esta situacin, la misma seal de
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entrada inicia la seal de barrido y el primer punto de la seal que aparece en la pantalla corresponde al que iguala el nivel y la pendiente de disparo seleccionados. La nica restriccin en este caso consiste en que la seal de entrada debe tener la suficiente amplitud como para desviar el haz electrnico de acuerdo con la sensibilidad seleccionada en el atenuador y para producir el pulso de disparo. En casos desfavorables o que requieran otro tipo de sincronismo, se emplea el disparo externo (borne EXT. TRIGGER). Por ejemplo, se suele emplear para medir diferencias de fases entre dos seales senoidales de la misma frecuencia. Casi todos los osciloscopios permiten que la seal de red de 50 60 Hz acte como fuente de disparo. En este caso se habla de disparo de red o de lnea, que se suele emplear cuando las seales a observar son de frecuencias mltiplos de la de red. De lo anterior de concluye que la seleccin de disparo supone el establecimiento del modo de acoplamiento de la seal de disparo (AC, DC, LF, HF, red+), la pendiente elegida (+,-) y la fijacin de un nivel de comienzo del barrido. 2.6.3.2 Modos de operacin Se refieren a la repeticin de los barridos establecida por el interruptor de nivel de disparo. El modo usual de funcionamiento es el AUTO, que es el ms apropiado para la mayor parte de las representaciones. En l, el generador de pulsos emite un pulso de disparo siempre que la seal de disparo pase por cero. La seal de disparo se acopla en AC al generador de pulsos y debe tener una amplitud mnima de 0,5 divisiones. Este modo tiene la peculiaridad de que permite obtener un trazo visible incluso si no hay seal aplicada al canal vertical. Es decir, si no hay seal aplicada al generador de pulsos o si la que recibe es muy dbil, se contina disparando de forma automtica la seal de barrido. Por esta razn, cuando no hay seal en el canal vertical y se selecciona este modo, aparece una lnea horizontal en la pantalla. El modo auto se basa en un tiempo de espera constante, de forma que si al cabo de un tiempo no se ha producido ningn barrido, se inician barridos sucesivos. Cuando est presente una seal de disparo se acaba el barrido en curso y se inicia el siguiente, provocado por esta seal. En el modo NORMAL el instante de disparo viene dado por el nivel seleccionado y el barrido no comienza hasta que se alcanza dicho nivel. El modo de disparo SINGLE (disparo nico) es propio de osciloscopios de memoria. Se realiza un solo barrido y despus no se aceptan ms impulsos de disparo hasta que no se pulse el control de borrado (RESET). Este modo de funcionamiento permite capturar transitorios o fenmenos no repetitivos de la seal que sepamos cundo se van a producir, como por ejemplo la medida del rebote de un conmutador. 2.6.3.3 Doble base de tiempos Cada vez son ms los fabricantes que incorporan esta funcin incluso al ms bsico de sus modelos de osciloscopios analgicos. La doble base temporal permite ampliar una porcin de seal y visualizar este tramo ampliado junto al original. Esto permite aumentar la resolucin de las medidas, estableciendo el lugar exacto de donde fue extrada la muestra. Por otra parte, ya que el punto de disparo est siempre al comienzo del trazo, slo se puede realizar desde este punto una expansin horizontal (X10) de la seal. Algunas
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partes de la seal, que se presentaban con anterioridad ms a la derecha, ya no son visibles en muchas ocasiones. La base de tiempos retardada soluciona estos problemas. Las bases de tiempo se denominan principal (A) y retardada (B). La primera es una base de tiempos normal. La retardada comienza su barrido un tiempo despus (tiempo de retardo) del comienzo del barrido principal. La opcin de disparo de red no est disponible. El nivel de disparo de la base retardada determina el retardo, y se establece con un potencimetro multivuelta. El tiempo de retardo depende de la posicin del atenuador TIME/div (comn para las dos bases pero con funcionalidad doble) de la base principal. A partir del punto de disparo de la base A, la base B puede retardar el comienzo del barrido. De esta forma, el disparo retardado puede iniciarse en cualquier punto del perodo de la seal. Esto permite presentar, en comparacin a la presentacin de la base A, el segmento de tiempo que sigue al inicio del disparo de la base B muy ampliado, aumentando la velocidad de deflexin (se reduce el coeficiente de tiempo). A medida que se expande la imagen se reduce la luminosidad que, por otra parte, es graduable. Existen distintas opciones de representacin de las seales de las dos bases de tiempos: La ofrecida por el barrido retardado: Se observa la seal correspondiente a la base B. Su intensidad es considerable, ya que se suma una tensin a la seal que va al eje Z. El modo alternado de las dos bases: Se alternan el barrido principal y el retardado. La base principal aparece intensificada en la zona que se va a ampliar. Al final del barrido principal el amplificador de deflexin horizontal se conmuta a la base retardada. Simultneamente, se suma una seal continua al amplificador vertical. De esta forma, aparecen los dos canales en la pantalla. Realizacin de un barrido mixto: Cuando se alcanza el disparo de la base retardada, es sta asume el control de la velocidad de barrido.
El ejemplo 8 muestra el manejo y presentacin de la imagen en un osciloscopio con doble base de tiempos.
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Ejemplo 8. Una seal triangular de 0,8 Vpp, valor medio nulo y 1 kHz de frecuencia se conecta al CH1, con acoplo CC, de un osciloscopio analgico con doble base de tiempos. El ajuste del disparo es TR: Y1, flanco negativo, AC y la base principal A se sita en 200 s/div. Se activa la doble base de tiempos, y se ajusta el potencimetro de retardo, delay time (Dt), a 500 s. B: 100 s/div. El osciloscopio posee 10 divisiones horizontales y 8 verticales. En las situaciones de doble barrido (ALT) representar la situacin de medida. En la figura Ej. 8 se presentan los ajustes involucrados en la situacin de medida.
Fig. Ej. 8. Situacin de medida.
El tiempo horizontal para la base A es de 2000 s = 2 ms; lo que representa dos periodos de la entrada. Para la base retardada B, el tiempo horizontal es de 1000 s = 1 ms; un periodo. El barrido retardado (B) comienza 500 s despus de haberse iniciado el barrido principal (A). El tiempo de retardo se aprecia en la base principal como la mitad del primer periodo de la seal trazada por la base A. La duracin del barrido retardado se aprecia en las marcas se sealizacin horizontal de la pantalla. Entre estas marcas y empezando por la izquierda vemos +1+1+1+1+ = 5 divisiones, que suponen 500 s, segn el ajuste de la base B (100 s/div). El resto de los ajustes del osciloscopio se aprecian tambin en la pantalla. 2.7 Sondas del osciloscopio Detectan la seal a medir en el circuito bajo test. Esta funcin debe en teora realizarse sin efecto de carga. En la prctica sabemos que esto no sucede. En efecto, por una parte hemos visto que las medidas de tiempos subida deben corregirse incorporando el tiempo de subida de la sonda. Por otra, la impedancia de la sonda es de considerar en el error por carga. El cabezal de la sonda contiene los circuitos electrnicos encargados de capturar la seal; estos circuitos pueden ser activos o pasivos. Casi siempre se emplea un cable coaxial para transmitir la seal desde la punta de la sonda al instrumento. El cable coaxial es capaz de transmitir sin distorsin seales de alta frecuencia. Esto significa que el acho de banda de la sonda debe igualar al menos al del instrumento.
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Las sondas pasivas son las ms se emplean. Se distingue entre sondas pasivas X1 y sondas pasivas X10 o atenuadoras con compensacin. Las primeras slo se utilizan en aplicaciones de bajas frecuencias ya que a altas frecuencias la impedancia de entrada del osciloscopio disminuye drsticamente; por el contrario, las sondas atenuadoras aumentan la impedancia de entrada del instrumento extendiendo el ancho de banda del mismo. La Fig. 16 muestra los tres circuitos involucrados en la medida con sondas, con el fin de cuantificar el efecto de la compensacin: Cs Ri = 0 Re Ccable
Fig. 16. Circuitos equivalentes de la fuente de seal, la sonda, el cable coaxial y el circuito de entrada (impedancia de entrada) del osciloscopio, respectivamente.
Vi
Rs
Ve
Ce
Se escoge Rs =9Re; con ello, la impedancia de entrada en CC aumenta 10 veces. De esta forma, en CC:
Ve = Vi Vi V Re = Re = i Rs + Re 9 Re + Re 10
Esta atenuacin debe mantenerse en CA. Para ello, si se define la capacidad paralelo Cequ = Ce + Ccable, y se escoge Cs = (1/9)Cequ, se obtiene:
Z equ Z s + Z equ Re 1 + jwReCequ Vi = Vi Rs Re + 1 + jwRsCs 1 + jwReCequ
Ve =
Atendiendo a las dos constantes de tiempo, se observa que coinciden:

1 s = Rs C s = 9 Re C equ = equ 9
En consecuencia, la divisin de tensiones anterior no depende de la frecuencia. Se ha producido el efecto de compensacin; es decir, la compensacin consiste en igualar las constantes de tiempo del circuito de entrada (incluyendo la capacidad del cable coaxial) y del circuito de la sonda del osciloscopio. La compensacin en las sondas se realiza girando el potencimetro de ajuste (trimmer) que hace variar el valor del condensador interno. Las situaciones extremas fuera de calibracin se muestran en la Fig. 17.
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Fig. 17. (a) Sonda subcompensada.
(b) Sonda sobrecompensada.
2.8 Osciloscopios de almacenamiento digital No hace demasiado tiempo la eleccin de un osciloscopio se basaba en el ancho de banda y en el nmero de canales. El desarrollo de dispositivos de almacenamiento y de convertidores analgico/digitales permiti su incorporacin en los osciloscopios, introduciendo dos nuevos niveles de decisin al usuario: la profundidad de memoria y la mxima frecuencia de muestreo. Estos dos factores determinan la calidad de la imagen representada. El primero determina la resolucin y la precisin de la medida; el segundo el ancho de banda del instrumento. En esta seccin se analiza la combinacin de los parmetros frecuencia de muestreo, profundidad de memoria y expansin temporal de pantalla, con el fin de estudiar cmo afectan a la medida. 2.8.1 Principios de la conversin analgica a digital El convertidor analgico/digital (CAD) del instrumento muestrea, cuantifica y codifica la seal analgica de tensin capturada durante cada barrido realizado por la unidad de deflexin horizontal. Cada muestra viene codificada con un nmero de bits dado por la resolucin del CAD, y se almacena en una de las direcciones de una memoria RAM de transferencia rpida. El nmero de los puntos utilizados para reconstruir la seal en la pantalla se denomina registro. La Fig. 18 muestra el proceso de muestreo, el significado del almacenamiento de los datos en memoria., y la reconstruccin posterior de la seal digitalizada. Una vez digitalizada la seal, el contenido de la memoria puede transferirse a dispositivos exteriores segn distintos formatos de salida. Los formatos ms comunes son en RS232 y en IEEE488. Tambin pueden operar en modo analgico. El paso de un modo de funcionamiento a otro se realiza pulsando el botn de almacenamiento, accesible desde el panel frontal del instrumento. En el modo de almacenamiento (digital) se permite una gama menor de velocidades de barrido, es decir, slo es accesible una zona de la base de tiempos.
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Array de datos
... ...
1,3 3 1,5 -1,9 -2,8 -1,1 0
... ...
... ...
Tm
... ...
... ...
... ...
Fig. 18. Digitalizacin de una seal sinusoidal de 6 Vpp, almacenamiento en la memoria y reconstruccin por interpolacin lineal.
Dependiendo de las posibilidades del osciloscopio se pueden tener procesos adicionales sobre los puntos muestreados, incluso se puede disponer de un predisparo (pretrigger), para observar eventos que tengan lugar antes del disparo. Aunque se puede seleccionar la resolucin de tiempo (resolucin horizontal), en la que el usuario determina el nmero de puntos necesarios para digitalizar la seal, lo usual es que el instrumento almacene el nmero mximo de muestras, es decir, que la memoria se llene para cualquier velocidad de barrido (posicin de la base de tiempos) permitida. De esta forma, se garantiza la mxima resolucin. En consecuencia, el nmero de muestras almacenadas, M, es constante, independiente de la accin de cualquier control, y slo depende del tamao (profundidad) de la memoria. Por tanto, cada velocidad de barrido determina una frecuencia de muestreo. La seal de entrada debe muestrearse a una frecuencia como mnimo el doble de la mxima componente espectral de la seal, con el fin de poder recuperar la seal analgica a partir de sus muestras. En caso contrario tendr lugar el fenmeno de aliasing. Por tanto, en teora, la mitad de la mxima frecuencia de muestreo constituye el ancho de banda mximo del instrumento en el modo digital. La mxima frecuencia de muestreo se produce para velocidades de barrido elevadas, valores bajos de la base de tiempos. Estas posiciones se emplean para mostrar pocos
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ciclos de la seal, as que hay que muestrear rpido para llenar la memoria. La posicin menor de la base de tiempos corresponde a la mxima resolucin del instrumento. En efecto, los mismos datos (la capacidad de la memoria) de dedican a representar pocos ciclos de la seal. 2.8.2 Frecuencia de muestreo y profundidad de memoria En este apartado se introduce la relacin entre la profundidad de memoria, la frecuencia de muestreo y el tiempo de visualizacin o expansin temporal de la seal en la pantalla. En lo que sigue supondremos fija la profundidad de memoria de cada modelo. Fija una posicin de la base de tiempos, la frecuencia de muestreo (Tm) asociada a esta velocidad de barrido se obtiene dividiendo el tiempo que dura el barrido (10 veces la posicin de la base de tiempos) entre el tamao o profundidad de la memoria, M:
M= Tseal , pantalla Tm Tm = Tseal , pantalla M
Ejemplo 9. Sea un osciloscopio digital con una capacidad de M = 4096 muestras (cuando opera slo un canal). Se introduce una seal de 1 kHz, perodo 1 ms. Para ver un perodo de la seal, la base de tiempos deber situarse en 0,1 ms/div (tiempo de pantalla o de duracin del barrido de 1 ms). En esta posicin, la frecuencia de muestreo resulta:
Tm = Tseal ,
pantalla
1 ms = 0,000244140625 ms 4096
f m = 4096 kHz 4 MHz
En la posicin de 0,2 ms la frecuencia de muestreo es aproximadamente 2 MHz. A medida que aumenta la base de tiempos la frecuencia de muestreo disminuye. Tambin disminuye la resolucin temporal de cada perodo o tramo de la seal a observar, ya que al concentrarse ms el evento a cada perodo corresponden menos puntos. A menudo, las especificaciones de memoria de un osciloscopio digital hacen referencia al nmero de bits del convertidor A/D, y suelen proporcionarse segn el formato: mdulos de memoria X capacidad de un mdulo X nmero de bits del CAD. El nmero de bits del CAD determina la resolucin del proceso de conversin y, en consecuencia, la resolucin vertical de la pantalla. La resolucin horizontal para cada canal se evala multiplicando los dos primeros trminos de la especificacin de memoria, obtenindose el nmero de direcciones de memoria disponibles. En el modo alternado la resolucin se reduce a la mitad, ya que se emplea cada mitad de la memoria para almacenar los puntos correspondientes a cada canal. Sin embargo, los resultados de sumar y restar seales se presentan con la mxima resolucin. En el modo XY la resolucin horizontal iguala a la vertical (32 puntos/div.). Cuando se emplea la posicin x10, la resolucin disminuye en el mismo factor.
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Ejemplo 10. El modelo HM 408 tiene las especificaciones 4 X 1024 X 8 bit. Si la pantalla tiene 8 divisiones verticales y 10 horizontales la resolucin vertical resulta:
2 8 estados 256 = = 32 estados / div. 8 div 8
Esto significa que cada divisin vertical puede subdividirse en 32 segmentos y la anchura de cada segmento es la resolucin. La resolucin horizontal para cada canal es:
4 1024 puntos 4096 puntos = 400 puntos / div. 10 div 10 div
2.8.3 Limitaciones en la profundidad de memoria En este apartado se analiza mediante ejemplos la relacin de la frecuencia de muestreo con la profundidad de memoria y la base de tiempos de un osciloscopio digital. Se mostrar que el instrumento con mayor profundidad de memoria permite muestrear a mayor velocidad. Ejemplo 11. El modelo Agilent 54645D posee una frecuencia de muestreo mxima de 200 Mmuestras/s que se da en la posicin correspondiente a 0,5 ms/div. Se comparan las posibilidades de este muestreador con las de dos modelos con profundidades de memoria de 10.000 y 1000 puntos, respectivamente. El mnimo perodo de muestreo del instrumento es:
Tm, mn = 1 f m, mx = 1 2 Hz
8
= 5 ns
La profundidad de memoria resulta:

M= Tseal ,
pantalla
Tm
5 ms = 106 puntos 5 ns
Si tomamos los modelos a comparar y consideramos el tiempo total de pantalla, obtenemos:

Tm, mn = 5 ms 104 5 ms 103 = 500 ns f m, mx = 2 Mmuestras / s
Tm, mn =
= 5 s
f m, mx = 200 kmuestras / s
Se observa que, al disminuir la profundidad de memoria, el muestreador ve reducida de forma proporcional su frecuencia de muestreo, para la misma posicin de la base de tiempos.
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2.8.4 Ventajas frente a los osciloscopios analgicos Los osciloscopios de almacenamiento digital poseen como ventajas principales frente a los analgicos su mayor velocidad en captura nica y resolucin (determinadas por el CAD). Adems, presentan las siguientes opciones: Ampliacin con unidades modulares para el clculo y representacin de operaciones con los datos capturados (como los mdulos de transformada rpida de Fourier (FFT, Fast Fourier Transform). Almacenamiento indefinido de seales para su posterior comparacin o clculo. Posibilidad de realizar barridos nicos (modo single) que permiten la captura de transitorios, como el arranque de un oscilador. Captura de eventos que tienen lugar antes del disparo de la seal (modo pretrigger). Representacin continua de la seal (modo de representacin continua o roll). En este modo de operacin la seal aparece por el borde izquierdo de la pantalla y desaparece por el derecho. El muestreo se produce sin barrido, por tanto, es posible esperar que un evento atpico (como la alteracin repentina de la forma de una seal) suceda para ser memorizado. Transferencia de datos almacenados a otros instrumentos digitales o a ordenadores va RS232 e IEEE488 principalmente. La Fig. 19 muestra la representacin de varias figuras capturadas por un programa de ordenador que adquiere va serie los datos procedentes de un osciloscopio digital.
Fig. 19. Captura de varias seales, representadas en un osciloscopio digital, por el puerto serie. Sobre ellas se pueden realizar operaciones matemticas.
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2.9 osciloscopios para aplicaciones especficas 2.9.1 Osciloscopios de muestreo La tcnica del muestreo secuencial se emplea para representar seales de muy alta frecuencia, que superan los lmites del instrumento. El funcionamiento de un osciloscopio de muestreo es similar al de un estroboscopio. ste dispositivo se concibi con el fin de visualizar maquinaria industrial en rgimen rotacional elevado. En cada giro se ilumina la mquina en posiciones sucesivamente avanzadas. En el osciloscopio de muestreo, se mide la amplitud de una pequea parte de la onda, e instantneamente se muestra en la pantalla. Despus de este punto, se apaga el haz electrnico y se mueve horizontalmente para repetir el proceso en el siguiente ciclo de la onda; los movimientos horizontales son de la misma cuanta. La Fig. 20 muestra el proceso de muestreo sucesivo. En ella se observa el equiespaciado de puntos de muestreo y la sucesin de puntos que por efecto estroboscpico se forma en la pantalla. Es sencillo deducir que para que se visualice correctamente, la seal debe ser recurrente.
... ...
Fig. 20. Proceso de muestreo secuencial.
Gracias al empleo de las tcnicas de muestreo, la frecuencia de muestreo puede ser una centsima de la frecuencia de entrada. La principal limitacin de estos instrumentos reside en que la tensin de entrada mxima es pequea (1 2 V), debido a las limitaciones propias de los diodos de muestreo. Este problema puede soslayarse utilizando atenuadores en las sondas. Otra limitacin importante reside en la baja impedancia de entrada de estos instrumentos. En efecto, sus aproximados 50 slo le permiten visualizar cargas pequeas; suelen emplearse en visualizacin de pulsos provenientes de fuentes de de baja impedancia. Para ampliar las posibilidades de medida deben emplearse sondas activas, con ms impedancia de entrada (recordemos que estas sondas se bajan en transistores de efecto campo). 2.9.2 Osciloscopios de almacenamiento analgico En estos instrumentos, la imagen permanece en la pantalla despus de haberse capturado, gracias al impacto del haz electrnico en una superficie de memorizacin con elevada persistencia. La capacidad de almacenamiento se debe al fenmeno de la emisin de electrones secundarios; estos se separan de la superficie del material fotoemisor (fsforo de elevada persistencia) al incidir sobre ellos un haz. La persistencia va desde segundos hasta horas. Sus aplicaciones se centran en la captura de fenmenos no repetitivos y en fenmenos de evolucin lenta.
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Estos instrumentos poseen tubos de rayos catdicos especiales, y en funcin de este elemento se clasifican como sigue: De memoria biestable o fsforo biestable, de persistencia variable, y de transferencia.
Los primeros funcionan memorizando o no. Existe un can de escritura y dos caones de iluminacin o desbordamiento. El blanco de almacenamiento (nico para todos los caones) contiene partculas de fsforo dopado para tener una buena reemisin de electrones; estas partculas se consideran blancos independientes. El blanco de almacenamiento reposa sobre una placa metlica (suele ser de aluminio) de respaldo, que acta de electrodo de control. Algunos modelos poseen pantalla dividida. El can de escritura carga positivamente las zonas del blanco donde incide. Despus, al producirse la iluminacin, estas zonas atraen los electrones de los caones de desbordamiento. Para borrar la imagen, se desactiva el can de escritura y se reduce el potencial del electrodo de control. Los modelos de persistencia variable permiten seleccionar el tiempo de permanencia (se controla el tiempo de memorizacin) y el brillo de la imagen. Estos instrumentos son los adecuados para aplicaciones de tiempo real, anlisis espectral y todas las aplicaciones que requieran velocidades de barrido bajas. Ahora hay dos blancos, la pantalla de fsforo ya conocida con su capa metlica y una malla dielctrica que se comporta como superficie de memorizacin. La misin del recubrimiento de aluminio es la misma que en los modelos biestables; acelerar los electrones de iluminacin. Cuando esta superficie no tiene carga positiva repele los electrones, que se recogen en la malla colectora. La persistencia y el brillo variables se logran mediante aplicacin de trenes de pulsos. En los instrumentos de transferencia rpida existe un electrodo intermedio que captura la seal, para luego transferirla a un electrodo ms lento. ste puede funcionar segn el modelo de fsforo biestable o de transferencia rpida. 2.10 Tcnicas de medicin con el osciloscopio En este apartado se analizan las mediciones de frecuencia y de fase en el modo X-Y. Asimismo, se describe cmo obtener curvas caractersticas de componentes. 2.10.1 Medidas de frecuencias Si se aplica una fuente de seal patrn ajustable al amplificador horizontal (canal II), se puede determinar la frecuencia de una seal desconocida que se aplique al amplificador vertical (canal I). Esto se logra variando la frecuencia de la fuente patrn hasta que se obtenga en la pantalla una figura de Lissajous de crculo o elipse. Si la figura de Lissajous es estable (inmvil) es indicativo de que las frecuencias coinciden. Si no es posible obtener un crculo o una elipse, debe ajustarse la frecuencia patrn para obtener una figura estable (o lo ms estable posible, ya que en la prctica es difcil conseguirlo) que posea un cierto nmero de curvas cerradas. El nmero de trayectorias cerradas determina la cantidad mltiplo de la frecuencia aplicada al canal II (amplificador horizontal). La relacin de frecuencias viene dada tambin por el nmero de crestas de la curva. La Fig. 21 muestra la figura mvil correspondiente a una relacin de frecuencias 3:1. Si se intercambian los canales la figura rota 90.
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Fig. 21. Figura de Lissajous rotatoria correspondiente a una relacin de frecuencias 3:1, tomadas en dos instantes de tiempo. Se observan las tres trayectorias cerradas.
2.10.2 Test de componentes Los osciloscopios analgicos incorporan una unidad para testear componentes electrnicos. Esta unidad genera una tensin alterna que permite obtener la caracterstica esttica del dispositivo. Desde un punto de vista prctico, una de las terminales del componente se conecta mediante una banana al borne component tester y el otro terminal se conecta a la tierra del instrumento, en uno de sus canales verticales. La situacin se muestra en la Fig. 22.
Fig. 22. Situacin de test de un diodo con un osciloscopio analgico. En la parte inferior izquierda se aprecia la banana de conexin al test. Para iniciar el test se debe pulsar el botn Componen Test.
Referencias [1] [2] [3] W.D. Cooper and A.D. Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas de medicin, Prentice-Hall. Hispanoamericana, 1991. R. Palls, Instrumentacin electrnica bsica, Marcombo, Boixareu editores, 1987. S. Wolf, y R.F.M. Smith, Gua para mediciones electrnicas y prcticas de laboratorio, edicin ampliada y actualizada. prentice-hall hispanoamericana. mxico, etc., 1992.
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[4] [5]
Tektronix, Manuales de usuario del osciloscopio TDS 210 y mdulos de extensin, 2001. http://www.ucm.es/info/electron/laboratorio/instrumentos/osc/osc.html
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Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

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Tabla 1. Cont. Caractersticas analgicas de un osciloscopio.

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Fuente de baja tensin

Fuente de alta tensin

Tubo de rayos catdicos

Filamento, ctodo y rejilla

Placas de deflexin vertical

Placas de deflexin horizontal

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Filamento nodo, + Ctodo, -

Haz electrnico colimado

Rejilla a potencial negativo

Hacia lentes de enfoque

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Fig. 4. Rotacin del haz electrnico. Vista frontal de la pantalla.

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Fig. 7. Diseo del reticulado de la pantalla de un osciloscopio estndar.

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5. Lnea retardadora. El diagrama de bloques de la Fig. 9 representa la cascada anterior de circuitos:

Fig.9. Elementos de la unidad de deflexin vertical.

Conector BNC donde se conecta la sonda Tierra del osciloscopio

Efecto del mando externo

Fig. 10. Selector del tipo de acoplamiento.

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1 1000 Vent = Vent 1000 = 1 1000 Vent = 1000Vent

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Unidad de Deflexin Vertical Seal Externa de Disparo

Placas Horizontales del Osciloscopio

Conmutador externo de Tiempo/divisin TIME/div

Fig. 12. Diagrama de bloques de la unidad de deflexin horizontal.

Desplazamiento del comienzo del siguiente barrido

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Fig. Ej. 8. Situacin de medida.

Atendiendo a las dos constantes de tiempo, se observa que coinciden:

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Fig. 17. (a) Sonda subcompensada.

(b) Sonda sobrecompensada.

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f m = 4096 kHz 4 MHz

La profundidad de memoria resulta:

Si tomamos los modelos a comparar y consideramos el tiempo total de pantalla, obtenemos:

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