Professional Documents
Culture Documents
Wojciech Powucha
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
LP - lokalne wymiary liniowe midzy dwoma punktami GS - globalny wymiar liniowy elementu geometrycznego skojarzonego (elementu odniesienia wg. kryterium Gaussa)
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
TOLERANCJE KSZTATU
Podstawowy element skojarzony dla odchyek ksztatu to element wyznaczony wg kryterium Czebyszewa (tzw. element minimalnej strefy)
Przylegajcy zewntrzny
Przylegajcy wewntrzny
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
TOLERANCJE KIERUNKU
Tolerancje kierunku zawieraj tolerancje ksztatu
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
TOLERANCJE POOENIA
Tolerancje pooenia zawieraj tolerancje kierunku i ksztatu
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
Tolerowanie wymiarw
Tolerowanie pozycji
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
10
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
11
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
12
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
13
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
14
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
15
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
16
BAZY CZSTKOWE
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
17
BAZY CZSTKOWE
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
18
BAZY CZSTKOWE
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
19
BAZY CZSTKOWE
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
20
BAZY CZSTKOWE
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
21
1 oznaczenia grnej U lub/oraz dolnej L granicy wymagania, 2 typu filtra obecnie podstawowym filtrem jest filtr Gaussa, mona spotka si rwnie z filtrem 2RC, 3 pasmo przenoszenia filtru krtko- i dugofalowego, 4 oznaczenie parametru chropowatoci (R), falistoci (W) lub profilu P, 4 cecha charakterystyczna/parametr, 5 odcinek pomiarowy w postaci liczby odcinkw elementarnych (jeli stosowano parametry motyww odcinek pomiarowy jest podawany miedzy dwiema ukonymi kreskami z przodu symboli struktury geometrycznej powierzchni), 6 interpretacja granicy wymagania zasada 16 % lub zasada maksimum, 7 warto graniczna parametru w mikrometrach, 8 sposb uzyskania odpowiednich waciwoci powierzchni (w przykadzie: wymagane usunicie materiau), 9 symbol graficzny kierunkowoci struktury geometrycznej powierzchni, 10 sposb obrbki.
AKADEMIA TECHNICZNO-HUMANISTYCZNA W BIELSKU-BIAEJ Bielsko-Biaa, 10.02.2006
22
PN-EN ISO 1:2004 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Normalna temperatura odniesienia dla specyfikacji i sprawdzenia geometrii wyrobw 2. PN-EN ISO 1119:2004 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Szeregi ktw i zbienoci stokw 3. PN-EN ISO 1302:2004 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Oznaczanie struktury geometrycznej powierzchni w dokumentacji technicznej wyrobu 4. PN-EN ISO 2538:2005 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Szeregi ktw i pochyle pryzm 5. PN-ISO 3274:1997 Specyfikacje geometrii wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Charakterystyki nominalne przyrzdw stykowych (z ostrzem odwzorowujcym) 6. PN-ISO 3274:1997/Ap1:1999 Specyfikacje geometrii wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Charakterystyki nominalne przyrzdw stykowych (z ostrzem odwzorowujcym) 7. PN-EN ISO 3650:2000 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Wzorce dugoci. Pytki wzorcowe 8. PN-EN ISO 4287:1999 Specyfikacje geometrii wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Terminy, definicje i parametry struktury geometrycznej powierzchni 9. PN-ISO 4288:1997 Wymagania geometryczne wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni. Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metod profilow 10. PN-ISO 4288:1997/Ap1:1999 Wymagania geometryczne wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni. Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metod profilow 11. PN-EN ISO 5436-1:2002 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Wzorce. Cz 1: Wzorce materialne 12. PN-EN ISO 5436-2:2003 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Struktura geometryczna powierzchni. Metoda profilowa. Wzorce. Cz 2: Wzorce programowane 13. PN-EN ISO 5458:2000 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Tolerowanie geometryczne. Tolerowanie pozycji 14. PN-EN ISO 10360-1:2003 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Badania odbiorcze i okresowe wsprzdnociowych maszyn pomiarowych (CMM). Cz 1: Terminologia 15. PN-EN ISO 10360-2:2003 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Badania odbiorcze i okresowe wsprzdnociowych maszyn pomiarowych (CMM). Cz 2: CMM stosowane do pomiaru wymiarw 1.
AKADEMIA TECHNICZNO-HUMANISTYCZNA W BIELSKU-BIAEJ Bielsko-Biaa, 10.02.2006
23
PN-EN ISO 10360-3:2002 Specyfikacja geometrii wyrobw (GPS). Badania odbiorcze i okresowe wsprzdnociowych maszyn pomiarowych (CMM). Cz 3: CMM z osi stou obrotowego jako czwart osi 17. PN-EN ISO 10360-4:2002 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Badania odbiorcze i okresowe wsprzdnociowych maszyn pomiarowych (CMM). Cz 4: CMM stosowane w trybie pomiaru skaningowego 18. PN-EN ISO 10360-4:2002/AC:2005 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Badania odbiorcze i okresowe wsprzdnociowych maszyn pomiarowych (CMM). Cz 4: CMM stosowane w trybie pomiaru skaningowego 19. PN-EN ISO 10360-5:2003 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Badania odbiorcze i okresowe wsprzdnociowych maszyn pomiarowych (CMM). Cz 5: CMM z zespoem gowic pomiarowych wielotrzpieniowych 20. PN-EN ISO 10360-6:2003 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Badania odbiorcze i okresowe wsprzdnociowych maszyn pomiarowych (CMM). Cz 6: Szacowanie bdw przy wyznaczaniu elementw skojarzonych metod najmniejszych kwadratw (Gaussa) 21. PN-EN ISO 11562:1998 Specyfikacje geometrii wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Charakterystyki metrologiczne filtrw z korekcj fazy 22. PN-EN ISO 12085:1999 Specyfikacja geometrii wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Parametry metody motyww 23. PN-EN ISO 12179:2002 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Wzorcowanie przyrzdw stykowych (z ostrzem odwzorowujcym) 24. PN-EN ISO 13565-1:1999 Specyfikacje geometrii wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni. Metoda profilowa. Powierzchnie o warstwowych waciwociach funkcjonalnych. Filtrowanie i oglne warunki pomiaru 25. PN-EN ISO 13565-2:1999 Specyfikacje geometrii wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni. Metoda profilowa. Powierzchnie o warstwowych waciwociach funkcjonalnych. Opis wysokoci za pomoc linearyzacji krzywej udziau materiaowego 26. PN-EN ISO 13565-3:2002 Specyfikacje geometrii wyrobw. Struktura geometryczna powierzchni. Metoda profilowa. Powierzchnie o warstwowych waciwociach funkcjonalnych. Cz 3: Opis wysokoci za pomoc dystrybuanty udziau materiaowego 27. PN-EN ISO 14253-1:2000 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Kontrola wyrobw i sprztu pomiarowego za pomoc pomiarw. Reguy orzekania zgodnoci lub niezgodnoci ze specyfikacj 16.
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
24
PN-EN ISO 14660-1:2001 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Elementy geometryczne. Cz 1: Podstawowe terminy i definicje 29. PN-EN ISO 14660-2:2001 Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Elementy geometryczne. Cz 2: Linia rodkowa zaobserwowana walca i stoka, powierzchnia rodkowa zaobserwowana, wymiar lokalny elementu zaobserwowanego 30. PN-ENV ISO 14253-2:2003 (U) Specyfikacje geometrii wyrobw (GPS). Kontrola wyrobw i sprztu pomiarowego za pomoc pomiarw. Cz 2: Przewodnik do szacowania niepewnoci w pomiarach GPS, podczas wzorcowania sprztu pomiarowego i kontroli wyrobw 31. PN-87/M-04251 Struktura geometryczna powierzchni. Chropowato powierzchni. Wartoci liczbowe parametrw 32. PN-85/M-04254 Struktura geometryczna powierzchni. Porwnawcze wzorce chropowatoci powierzchni obrabianych 33. PN-74/M-04255 Struktura geometryczna powierzchni. Falisto powierzchni. Okrelenia podstawowe i parametry 34. PN-89/M-04256.04 Struktura geometryczna powierzchni. Falisto powierzchni. Terminologia 28.
Bielsko-Biaa, 10.02.2006
25