Proyecto # 5 Difraccin en una Rendija Simple e Interferencia en una Rendija Doble:

Mximo central 1 franja oscura

La difraccin de la luz ocurre cuando la luz ilumina una apertura cuyas dimensiones son del orden de la longitud de onda de la luz que es usada. En el caso de una rendija que tiene una apertura angosta que es infinitamente alta la difraccin ocurre en la direccin perpendicular a la dimensin ms pequea. Adicionalmente la luz que proviene de una rendija interferir con la luz que proviene de una segunda rendija cercana para producir un patrn de interferencia que combina las propiedades de interferencia de una rendija sola con la de dos cercanas. (Fig. 5-1) =
Longitud de onda del laser

Montaje del Experimento:

1. Monte el sistema lser en un borde de la mesa optica. Ajuste la posicin del lser de modo que el haz es paralelo al borde de la mesa y que avance sobre una linea de perforaciones de la mesa ptica. Pegue una tarjeta con un agujero de unos 2 mm frente al lser, de modo que el lser pueda pasar a traves del hueco. Esta tarjeta servir como pantalla para monitorear las reflexiones del lser a medida que se vayan poniendo las componentes a lo largo del haz. Vea la nota en el Proyecto#3 que se refiere a alineacin de haces de lser. Instale un montura cinemtica de espejo (BSAI) aproximadamente a unas 4 pulgadas del otro extremo de la mesa (Fig. 5-2). Ajuste la altura de la montura del espejo hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Luego rote el poste en la montura del poste hasta que el lser este paralelo al lado izquierdo y la superficie de la mesa ptica. Coloque una segunda montura cinemtica (BSA-I) en lnea con el haz lser en la esquina inferior de la mesa (Fig. 5-2). Rote y ajuste el espejo hasta que el haz lser est paralelo al borde delantero de la mesa ptica. Coloque una tarjeta en una montura de tarjetas modificada (TA-II) y colquela en la parte final de la mesa de manera que el haz incida sobre el centro de la tarjeta. Figura 5-1. Difraccin de una rendija nica.

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Figura 5-2. Vista esquemtica de experimentos de difraccin.

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Equipo requerido
Parte Cant. LA BSA-I TA-I TA-II TSS TDS DG Descripcin 1 Montaje Lser 2 Montaje cinemtico para espejo 1 Montaje de tarjeta, blanco 1 Montaje de tarjeta, blanco 1 Rendija simple 1 Rendija doble 1 Red de difraccin

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Monte TA-I cinco pulgadas a la derecha de la ltima montura cinemtica de espejos y a cuatro pulgadas del haz lser. Esta ser la montura para las partes TSS y TDD

Difraccin en una Rendija Simple

6. Coloque cuidadosamente TSS ( rendija simple de 0.002 pulgadas de ancho) en TA-I. Ajuste la montura de modo que el haz lser incida en en centro del blanco (TSS).

Equipo adicional
Parte Cant. QI 1 QW 1 Descripcin Tarjeta Huincha de medir

ADVERTENCIA
El blanco reflejar un gran porcentaje del haz. Ajuste la ltima montura de espejos de manera que el haz llene la rendija. Esto se puede hacer de la mejor manera mirando la parte de atrs en un ngulo de 45 a una distancia prudente y buscando ver un brillo rojo fuerte. Esto ocurrir cuando el lser ilumine bien la rendija. 7. Mire la tarjeta blanca. Ajuste cuidadosamete la ltima montura de espejo para producir la imagen ms brillante. Usted ver una banda central brillante acompaada de muchas bandas ms tenues a cada lado. Esto es el patrn de difraccin de una rendija simple o nica.: marque en la tarjeta de index las posiciones de la mayor cantidad de bandas oscura que Usted pueda ver. Note que la banda central es ms larga que las dems. Mida la distancia entre los centros de las bandas oscuras a cada lado de la franja central y la distancia de la rendija a la tarjeta de index. Calcule el ngulo de la rendija entre el mximo central y la primera banda oscura. Recuerde que las distancia entre las primeras bandas oscuras es el doble de la distancia entre la parte central y la primera banda oscura. Basado en las expresiones del Apndice 5, el ngulo subtendido en el centro de la banda desde el mximo central y la primera banda oscura est dada por sin = m / A (0-9) donde A es el ancho de la rendija y m = 1 para el primer orden. Si la longitud de onda del lser de He-Ne es 633 nm, determine el ancho de la rendija a partir de sus clculos.

Tabla 5.1. Equipamiento requerido

Experimento de Doble Rendija de Young

1. Se puede realizar un segundo experimento con el montaje previo. Reemplaze el TSS por TDS (rendija doble - 0.002 pulgadas de ancho y 0.008 pulgadas de espaciado) . Use la tarjeta de index montada en una montura TA-1 como pantalla de observacin. Mida la distancia entre la rendija y la tarjeta de index a una distancia R El patrn tendr ahora una serie de mximos y mnimos espaciados dentro de la envolvente del patrn original de la rendija original. Estas franjas son el patrn de interferencia de la doble rendija. Marque las posiciones de los mnimos x1 , x2 ,... de estas franjas que se encuentran muy cercanas. Calcule las separaciones promedio x = x1 x2 . Marque la posicin de los mnimos de la banda ms grandes (las posiciones donde las franjas de interferencia desaparecen). Calcule la separacin de franjas de = x / R (5-2)

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Figura 5-3. Vista esquemtica del experimento de doble rendija de Young.

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y anote en su cuaderno de notas de laboratorio. De este valor de y de la longitud de onda del lser ( = 633 nm ) Usted puede calcular la separacin entre las rendijas usando la Ecuacin 0-16 del Apndice. 4. Tome una tarjeta o el borde de una regla e insrtela delante de una de las dos rendijas . Esto necesita un poco de prctica (ya que estn muy juntas). Si Usted lo hace bien, ver desaparecer el patrn de interferencia y permanecer un patrn de difraccin de una rendija simple. Note que cuando Usted saca el objeto que tapa una de las rendijas Usted introduce franjas oscuras. En efecto la luz en las franjas brillantes se torna ms brillante. Usted est usando la luz para empujar luz de un lado a otro!

Experimentos adicionales: Red de difraccin

Patrones de difraccin de rdenes superiores existen para 3, 4, 5 ... rendijas equidistantes. Eventualmente el nmero de rendijas puede ser muy grande y los resultados se aproximan a la red de difraccin descrita en la Seccin 0.4.3 en el Apndice. La mayor parte de los instrumentos de alta resolucin que se usan para determinar las caractersticas de reflexin y trasmisin de materiales pticos y recubrimientos (coatings) usan algn tipo de red de difraccin.

Figura 5-4. Vista esquemtica de experimento de red de difraccin.

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Monte una red de difraccin (DG) en TA-1 e ilumnela con una haz lser. Monte una nueva tarjeta de index en TA-II y ubquela detrs de DG, de manera que se pueda observar un gran nmero de rdenes de difraccin. Mueva TA-II lejos de DG hasta que pueda ver unos pocos puntos en la pantalla y pueda medirlos fcilmente. Marque las posiciones de los rdenes de difraccin en una tarjeta y anote en cada una el orden (0 para el haz no difractado) . Mida la distancia de DG a la pantalla. Calcule los ngulos de difraccin a partir de las mediciones. Note que los ngulos son suficientemente grandes, asi es que Usted no podr hacer aproximaciones de ngulos pequeos. Usted debe usar el arco tangente (tan-1 ) para obtener el ngulo. La separacin entre las rendijas de esta red, o constante de la red se encuentra tomando el valor recproco de la frecuencia de la red que es de 13400 rendijas por pulgada. De la separacin entre las rendijas y la mediciones angulares para varios rdenes determine la longitud de onda del lser de He-Ne. Compare con el valor 633 nm.

El espectro de fuentes de luz puede ser estudiado usando una red de difraccin, pero se requieren componentes adicionales. Ya que la mayora no sern lseres con haces angostos y definidos, se usa iluminar con la fuente una rendija. La luz proveniente de la rendija es colimada posteriormente para proporcionar un ngulo de incidencia constante a la red. . Los haces difractados se reenfocan a una serie de imgenes de la rendija que estn separadas por los colores del espectro de la fuente localizadas en el plano focal del lente de enfoque. Lea las referencias de ptica para la descripcin de espectrmetros simples de trasmision. En la mayor parte de los espectrmetros comerciales, la red de difraccin es de reflexin, mas que del tipo de trasmisin. Esto es porque el instrumento es ms compacto y las redes tienden a ser ms eficientes en este caso. Lseres sintonizables usan tambin este tipo de redes al interior de su cavidad para seleccionar la longitud de onda. Esto se ha desarrollado al punto de estar integrados en el chip del lser.