Seria: Informatyka

Elementy teorii niezawodności

Wykład 6
Niezawodność systemów
komputerowych

dr hab. inż. Tadeusz Nowicki prof. nadzw. WAT

e-mail:tadeusz.nowicki@wat.edu.pl, tel. 6-837118
 Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Pojedynczy element elektroniczny wchodzący w skład
komputera przybliża się wykładniczym rozkładem czasu do
uszkodzenia. Przyjmuje się założenie iż każdy taki element jest
nieodnawialny.
Niech
T e

oznacza czas do uszkodzenia pojedynczego elementu.

Wówczas prawdopodobieństwo tego, że czas ten będzie krótszy
od zadanej wartości t , dane jest wzorem:

P {T e < t } = F e ( t ) , t ≥ 0
gdzie
λ e

jest intensywnością uszkodzenia się elementu.

 Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Intensywność uszkadzania się elementów rozumiana jest nie jako
liczba uszkodzeń liczna na jednostkę czasu, lecz w inny sposób.
Jeśli dystrybuanta czasu do uszkodzenia się elementu jest funkcją

Fe (t) = P{ Te 〈t} , t ≥ 0
To funkcję niezawodności tego elementu określa funkcja
rzeczywista
R e (t) = P{ Te ≥ t} , t ≥ 0
Natomiast gęstość zmiennej losowej oznaczającej czas do
uszkodzenia się elementu jest funkcją
dFe (t)
f e (t) = ,t≥0
dt
 Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Teraz można użyć określenia intensywność uszkodzeń
zmiennej losowej oznaczającej czas do uszkodzenia się
elementu
f e (t)
λe (t) = ,t≥0
R e (t )
Intensywność uszkodzeń elementu jest więc funkcją
rzeczywistą określającą jedynie „żywotność” elementu,
będącą warunkową gęstością zmiennej losowej oznaczającej
czas do jego uszkodzenia się [Korzan]
Zatem: intensywność uszkodzeń elementu nie zmienia się,
jest jego własnością określoną funkcją.
 Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Można pokazać, że pojedynczy element elektroniczny
charakteryzuje się czasem do uszkodzenia o wykładniczym
rozkładzie prawdopodobieństwa

P {T e < t } = F e ( t ) = 1 − e λ e t , t ≥ 0
−

Wykładniczy charakter rozkładu czasu do uszkodzenia

posiadają również bardziej złożone elementy elektroniczne:
układy scalone, monitory ekranowe, silniki elektryczne,
pamięci dyskowe, napędy dyskowe, pamięci elektroniczne,
zasilacze, transformatory, itp.
 Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Podzespół komputera składa się z elementów. Jeśli jeden element
zepsuje się, to cały podzespół zazwyczaj też uważa się za zepsuty.
Wynika to z praktyki i obserwacji skutków uszkadzania się
elementów elektronicznych komputerów. Wprowadza się zatem
założenie, że podzespół komputera posiada szeregowa strukturę
niezawodnościową . Niech p oznacza numer podzespołu,

p ∈ P = { 1 , 2 , 3 , ... , P }

Niech T p

oznacza czas do uszkodzenia podzespołu złożonego z elementów.

 Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Podzespół składa się z L p elementów, tzn.:

E = { e1 , e2 , e3 , ... , e }
p Lp

Wówczas można zapisać, iż prawdopodobieństwo tego, że

czas do uszkodzenia podzespołu jest krótszy od zadanej
wartości t , dane jest wzorem:

T = min{T ,T ,T ,...,T }
p e1 e2 e3 eLp
, p = 1, P
 Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Czas do uszkodzenia się podzespołu ma dystrybuantę:

F p
(t ) = P { T p < t } = P { min { T e1 , T e 2 , T e 3 , ... , T eLp
}< t }=

= 1 − P { min { T e1 , T e 2 , T e 3 , ... , T eLp

}≥ t }=
= 1 − P { T e1 ≥ t , T e 2 ≥ t , T e 3 ≥ t , ... , T eLp ≥ t } =
Lp Lp
= 1 − ∏ P { T ei ≥ t } = 1 − ∏ Rei (t ) =
i =1 i =1
Lp

= 1 − ∏ e−λeit =
Lp
1− e
− ∑ λeit = 1− e
− λpt Wykładniczy
i =1
i =1
Lp
typ rozkładu

gdzie λ = ∑λ
p
i =1
ei
 Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Otrzymano w ten sposób wynik świadczący o tym, że
podzespół składający się z elementów o wykładniczym
rozkładzie czasu do uszkodzenia i szeregowej strukturze
niezawodnościowej, ma również wykładniczy rozkład czasu
do jego uszkodzenia.
 Charakterystyki niezawodnościowe
komputerów
Charakterystyki niezawodnościowe komputerów

Komputer. Zakłada się, że oprogramowanie zainstalowane na

komputerze, zarówno systemowe, jak i użytkowe jest niezawodne. W
praktyce zakłada się również, że rozpatrywane będą tylko te elementy
(podzespoły) komputera, które mają istotny wpływ na jego
funkcjonalność, tzn. pomija się stacje dyskietek, kartę dźwiękową,
drukarkę. Przyjmuje się, że struktura niezawodnościowa jest również
szeregowa, tzn. awaria jednego z podzespołów powoduje niezdatność
całego komputera. Wykorzystując powyższe wyprowadzenia (dla
podzespołu), dla komputera otrzymuje się takie same wzory.

Niech
T k

oznacza czas do uszkodzenia komputera złożonego z P podzespołów.

 Charakterystyki niezawodnościowe
komputerów
Wówczas:

T k
= min { T p , p ∈ P }

zatem, mając na uwadze poprzednie rozważania otrzymujemy:

P P Lp

λ = ∑λ = ∑ ∑λ
k
p =1
p
p =1 i =1
ei

oraz

(t ) = P { T k < t } = 1 − e
− λ kt
FT k
 Przypadek wielu komputerów

Rozpatrujemy systemy złożone z wielu komputerów

uszkadzających się zwykle w sposób zależny. Zatem mamy
do czynienia ze strukturalną funkcją niezawodnościową
systemu dla elementów i systemu dwustanowych w sensie
niezawodności ma postać:

f ( x) : { 0,1} → { 0,1}
(n) n

Możemy mieć do czynienia z wieloma różnymi

przypadkami struktur niezawodnościowych systemów z
wieloma komputerami. Elementami systemu są zatem
komputery realizujące różne zadania. Związki pomiędzy
zadaniami definiują nam jednoznacznie tę strukturę.
 Symulacyjny model uszkadzania się komputerów
Załóżmy, że mamy do czynienia z systemem komputerowym złożonym z
p komputerów. Dla każdego z nich tworzymy procedury jego uszkadzania
się (fizycznego) niezależnego.
PROCEDURE Komputer p-ty
BEGIN
LOOP
Hold For Time (Rnd Wyk (lambda));
l(p):=0; Action (jeśli taka jest wymagana);
IF NOT Active(Sterowanie) THEN Reactivete Process (Sterowanie);
Hold For Time (Rnd Wyk (beta));
l(p):=1; Action (jeśli taka jest wymagana);
IF NOT Active(Sterowanie) THEN Reactivete Process (Sterowanie);
END LOOP;
END;
 Symulacyjny model uszkadzania się komputerów
Znając strukturalną funkcję niezawodnościową systemu (zależność pracy
komputerów określającą np. fakt zdatności systemu) możemy
wykorzystać znajomość poprawnej pracy komputerów lub całego systemu
PROCEDURE Sterowanie
BEGIN
FOR p=1 TO P DO L(p):=1; END
REPEAT
IF f(l(p), p=1,P) THEN Action (jeśli taka jest wymagana dla systemu); END;
FOR p=1 TO P DO
IF zmiana (l(p) THEN Action (jeśli taka jest wymagana dla komputera p-tego);
END;
END;
Pasivate;
UNTIL Czas symulacji <= Chwila zakończenia eksperymentu;
END;
 WNIOSKI KOŃCOWE

Przyjmujemy rozkłady wykładnicze czasów życia

elementów i podzespołów komputerów obliczając
charakterystyki niezawodnościowe poszczególnych z
nich
należy zawsze dokonać identyfikacji wszystkich
elementów - mam na myśli komputerów tzn. czy są
odnawialne, czy nie; jakie są ich rozkłady
prawdopodobieństwa czasu życia lub (o ile jest to
potrzebne) czasów odnowy, itp.,
należy ustalić, czy system jest obiektem nieodnawialnym,
czy odnawialnym; miary niezawodności obliczane dla
systemu muszą być charakterystyczne dla ustalonej
klasy systemu - obiektu.
 WNIOSKI KOŃCOWE
trzeba skonstruować strukturalną funkcję niezawodnościową
systemu wynikającą z zależnej pracy komputerów
(poniekąd z zależności zadań cząstkowych realizowanych
na tych komputerach),
należy zbadać ścieżki zdatności i cięcia systemu; duża liczba
ścieżek świadczy o odporności systemu, a duża liczba
cięć świadczy o wrażliwości systemu; odnosi się to w
dużej mierze do odporności systemu na uszkodzenia
pojedynczych elementów,
należy obliczyć wymagane charakterystyki systemu
złożonego z wielu komputerów; o ile da się analitycznie,
to wyśmienicie, częściej trzeba zrobić to za pomocą
eksperymentu symulacyjnego.