Interferometra

Alejandro Lizrraga Maldonado

Interferometra
La interferometra es el conjunto de tcnicas en
las que ondas (usualmente electromagnticas)
son superpuestas con el objetivo de extraer
informacin sobre dichas ondas.
Aplicaciones en astronoma, metrologa,
sismologa, topografa, oceanografa, fsica de
plasma, mecnica cuntica, ciencia de
materiales, etc.
Interferencia
Interferencia ptica es la interaccin
de dos o mas ondas de luz
produciendo una irradiancia
resultante que es distinta a la simple
suma de las irradiancias
independientes de las ondas.

y

=
1

+
2

= 2

2
1 + cos 2

1
=
2

Condiciones de interferencia
Sistema de Interferometra
Instrumento
Tcnica de
Anlisis
Modelo
Instrumentos
Interfermetro (Instrumento)
Es un dispositivo que aprovecha el fenmeno de
interferencia para estudiar una muestra.
Michelson
Fizeau
Mach-Zehnder
Fabry-Perot
Micro-Interferometra


Michelson
, =


1 2 3
4
5
1 2
, =


1

2 3
, =


21

3 2
2 5 , =


21

, =


1 2
, =


2

2 4
, =


22

4 2
2 5 , =


22

=


21
+


22


=

= 2

2
1 + cos 2 1 2
Pantalla
M1
M2
Laser
L1
L2

Fizeau
Detector
Fuente de luz
Divisor de haz
Placa de referencia
(semitransparente,
Altamente reflectiva)
Muestra
Recubrimiento
reflectivo
Mach-Zehnder

Fabry-Perot

.

White light interferometry

Micro interferometria

Mirau
Mismo Principio de Operacin que Interferometro Michelson
La principal diferencia es que el brazo de referencia est
dentro de un objetivo de microscopio.

Linnik
Empleado en microscopa y medicin de topografa de superficies.
Configuracin es la misma que interfermetro Michelson.

Tcnicas de Anlisis
Phase Shifting Interferometry
Phase Shifting Interferometry
Phase Shifting Interferometry
En la prctica la seal I() es obtenida de manera discreta como
una secuencia de cuadros fotogrficos. Como ejemplo,
supongamos la adquisicin de 4 muestras, con cuatro
incrementos de fase /2 comenzando en -3/4. Obtendramos:

( )*
Deteccin sincronizada

Phase Shifting Interferometry
Algoritmo para 3 incrementos de fase 90
Algoritmo para 3 incrementos de fase 120
Algoritmo para 4 incrementos de fase 90
Algoritmo para 5 incrementos de fase 90
Phase Shifting Interferometry
Algoritmo para 5 incrementos de fase arbitrarios
Para calcular el trmino de correcin
Phase Shifting Interferometry

Phase Shifting Interferometry

Phase Shifting Interferometry

Desenvuelto de fase
Phase Shifting Interferometry
Phase Unwrapping
Coherence Scanning Interferometry

Coherence Scanning Interferometry

DC
Deteccin de Envolvente
Coherence Scanning Interferometry

Coherence Scanning Interferometry

Coherence Scanning Interferometry

Aplicaciones
Profile measurement system based on linnik-type interferometric
microscope for visible-light region and infrared-light region

3D characterization of microstructured poly(methacrylic acid) thin
films via MachZehnder interference microscopy

3D characterization of microstructured poly(methacrylic acid) thin
films via MachZehnder interference microscopy

3D characterization of microstructured poly(methacrylic acid) thin
films via MachZehnder interference microscopy

Interferometric measurements of electric field-induced
displacements in piezoelectric thin films

Measurement of the thickness of thin films with rough surfaces by a
modified Michelson interferometer

Two-wavelength micro-interferometry for 3-D surface profiling
Algoritmo para 7
incrementos de fase
*Nd:YAG (=532 nm)
*HeNe ( =632.8 nm)

* eff=3.34 m
Two-wavelength micro-interferometry for 3-D surface profiling
Two-wavelength micro-interferometry for 3-D surface profiling

METROLOGY OF SILICON PHOTOVOLTAIC CELLS USING COHERENCE
CORRELATION INTERFEROMETRY

Low coherent Linnik interferometer optimized for use in Nano
Measuring Machines