Programa de certificacin

de Green Belts

V.D. Seis Sigma Control

P. Reyes / Octubre 2007

1
 Fase de Control
Objetivos:
Mantener las mejoras por medio de control estadstico
de procesos, Poka Yokes y trabajo estandarizado

Anticipar mejoras futuras y preservar las lecciones

aprendidas de este esfuerzo

Salidas:
Plan de control y mtodos de control implementados
Capacitacin en los nuevos mtodos
Documentacin completa y comunicacin de
resultados, lecciones aprendidas y recomendaciones
2
 FASE DE CONTROL
Soluciones
implementadas
Plan de Documentar
Control Estndares y Capacitar
CEP - de trabajo
Herramientas
Poka Yokes Lean

Plan de calidad y Monitoreo

Si Proceso
en control?

No

Tomar acciones correctivas

y preventivas -
Actualizar AMEF

3
 Metodologa Seis Sigma
Fase de Control
1. Control Estadstico del Proceso

2. Implementar y validar soluciones

3. Plan de control

4
1. Control Estadstico del Proceso

5
 Objetivos y beneficios
El CEP es una tcnica que permite aplicar el anlisis
estadstico para medir, monitorear y controlar
procesos por medio de cartas de control

Se basa en que los procesos presentan variacin,

aleatoria y asignable

Entre los beneficios se encuentran:

Monitorear procesos estables e identificar si han
ocurrido cambios debido a causas asignables para
eliminar sus fuentes

6
 Seleccin de variables
El CEP por variables implica realizar mediciones en la
caracterstica de calidad de inters, tal como:
Dimensiones
Pesos
Tiempos de servicio, etc.

El CEP por atributos califica a los productos como

buenos o como defectivos o en su caso cuantos
defectos tiene, tales como:
Color, funcionalidad, apariencia, etc.

7
 Subrupos racionales
Los subgrupos se seleccionan de tal forma que sean tan
homogneos como sea posible, de tal forma que se tenga la
oportunidad mxima de estimar la variacin esperada entre los
subgrupos

Esquemas para formar subgrupos:

Productos producidos casi al mismo tiempo en secuencia.

Permite una variacin mnima dentro del subgrupo y una

probabilidad de variacin mxima entre subgrupos

Un subgrupo consiste de una muestra aleatoria

representativa de toda la produccin durante un periodo de
tiempo
8
 Qu es una Carta de Control?
Una Carta de Control es como un historial del proceso...
... En donde ha estado.
... En donde se encuentra.
... Hacia donde se puede dirigir

Las cartas de control pueden reconocer cambios buenos y

malos.
Qu tanto se ha mejorado?
Se ha hecho algo mal?

Las cartas de control detectan la variacin anormal en un

proceso, denominadas causas especiales o asignables de
variacin.
9
 Variacin observada
en una Carta de Control
Una Carta de control es simplemente un registro de datos en
el tiempo con lmites de control superior e inferior.

Una carta de control identifica los datos secuenciales en

patrones normales y anormales.

El patrn normal de un proceso se llama causas de variacin

comunes.

El patrn anormal debido a eventos especiales se llama

causa especial de variacin.

Tener presente que los lmites de control NO son lmites de

especificacin. 10
 Causas comunes o normales
CAUSAS COMUNES
Siempre estn presentes
Slo se reduce con acciones de mejora mayores
Su reduccin es responsabilidad de la direccin

Fuentes de variacin: Mrgenes inadecuados de diseo,

materiales de baja calidad, capacidad del proceso insuficiente

SEGN DEMING
El 94% de las causas de la variacin son causas
comunes, responsabilidad de la direccin
11
 Variacin Causas comunes

Lmite Lmite
inf. de
sup. de
especs. especs.

Objetivo

12
 Causas Especiales
CAUSAS ESPECIALES
Ocurren espordicamente
Son ocasionadas por variaciones anormales (6Ms)
Medicin, Medio ambiente, Mano de obra, Mtodo,
Maquinaria, Materiales
Slo se reduce con acciones en el piso o lnea
Su reduccin es responsabilidad del operador por
medio del Control Estadstico del Proceso

SEGN DEMING
El 15% de las causas de la variacin son causas
especiales y es responsabilidad del operador
13
Variacin Causas especiales
Lmite
inf. de
especs.

Lmite
sup. de
especs.

Objetivo

14
 Cartas de control
12.5 Lmite
Superior de
11.5 Control

10.5

9.5 Lnea
Central
8.5
Lmite
Inferior de
7.5
Control
0 10 20 30
15
 Patrones de anormalidad
en la carta de control
Escuche la Voz del Proceso Regin de control,
M captura la variacin
E
natural del proceso
D
I original
D LSC
A
S

C
A LIC
L Tendencia del proceso
I
D El proceso ha cambiado
A
Causa Especial
identifcada
D
TIEMPO
 Patrones Fuera de Control
Corridas
7 puntos consecutivos de un lado de X-media.

Puntos fuera de control

1 punto fuera de los lmites de control a 3 sigmas en cualquier
direccin (arriba o abajo).

Tendencia ascendente o descendente

7 puntos consecutivos aumentando o disminuyendo.

Adhesin a la media
15 puntos consecutivos dentro de la banda de 1 sigma del
centro.

Otros
2 de 3 puntos fuera de los lmites a dos sigma
17
 Patrn de Carta
en Control Estadstico

Proceso en Control estadstico

Sucede cuando no se tienen situaciones anormales y

aproximadamente el 68% (dos tercios) de los puntos de
la carta se encuentran dentro del 1 de las medias en
la carta de control.

Lo anterior equivale a tener el 68% de los puntos

dentro del tercio medio de la carta de control.

18
Cartas de Control para
variables

19
 Tipos de Cartas de control
Las cartas de control se dividen en dos categoras,
diferenciadas por el tipo de datos bajo estudio-
variables y atributos.

Las Cartas de Control para datos variables son

utilizadas para caractersticas que tienen una magnitud
variable. Ejemplo:
- Longitud, Ancho, Profundidad

- Peso, Tiempo de ciclo, Viscosidad

20
Cartas de Control por Variables

MEDIAS RANGOS (subgrupos de 5 - 9 partes cada x horas, para

estabilizar procesos)

MEDIANAS RANGOS (para monitorear procesos estables)

MEDIAS DESVIACIONES ESTANDAR (subgrupos de 9 o ms

partes cada hora o cada lote de proveedor para monitoreo de
procesos o proveedores)

VALORES INDIVIDUALES (partes individuales cada x horas, para

monitoreo de procesos muy lentos o qumicos)

21
 Implantacin de cartas
de control por variables
1. Identificar la caracterstica a controlar en base a un
AMEF (anlisis del modo y efecto de falla)

2. Disear los parmetros de la carta (lmites de

control, subgrupo 3-5 partes, frecuencia de
muestreo)

3. Validar la habilidad del sistema de medicin por

medio de un estudio Repetibilidad &
Reproducibilidad

4.Centrar el proceso, correrlo y medir al menos 25

subgrupos de 5 partes cada uno, correspondiente
a la produccin del mismo turno o da
 Cartas de Control por Variables -
Metodologa de implantacin
5. Calcular los lmites de control preliminares a 3 Sigma

6. Identificar causas asignables o especiales y tomar accin para

prevenir recurrencia

7. Recalcular los lmites de control de ser necesario repetir paso

6. Establecer lmites preliminares para corridas futuras

8. Continuar el monitoreo y Anlisis, tomar acciones en causas

especiales y recalcular lmites de control cada 25 subgrupos

9. REDUCIR CAUSAS COMUNES DE VARIACIN

23
 Carta X, R (Continuacin)
Terminologa
k = nmero de subgrupos; n = nmero de muestras en cada subgrupo
X = promedio para un subgrupo
X = promedio de todos los promedios de los subgrupos
R = rango de un subgrupo
R = promedio de todos los rangos de los subgrupos
x1 + x2 + x3 + ...+ xN
x =
n
x1 + x2 + x3 + ...+ xN
x =
k
LSCX = x + A2 R NOTA: Los factores a considerar
LICX = x - A2 R para n = 5
LSCR = D4 R Son A2 = 0.577 D3 = 0 D4 = 2.114
LICR = D3 R
 Carta X-R
Xbar-R Chart of Supp1
600.5
U C L=600.321

600.0
Sample Mean

_
_
599.5 X=599.548

599.0
LC L=598.775
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

3
U C L=2.835
Sample Range

2
_
R=1.341
1

0 LC L=0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

Cul grfica se analiza primero?

Cul es su conclusin acerca del proceso ?
25
 Carta de Individuales (Datos variables)

A menudo esta carta se llama I o Xi - MR.

Esta Carta monitorea la tendencia de un proceso con datos

variables que no pueden ser muestrados en lotes o grupos.

Este es el caso cuando la capacidad de

corto plazo se basa en subgrupos racionales de una unidad o
pieza

La lnea central se basa en el promedio de los datos, y los

lmites de control se basan en la desviacin estndar poblacional
(+/- 3 sigmas)

26
 Carta X, R (Continuacin)
Terminologa
k = nmero de piezas
n = 2 para calcular los rangos
x = promedio de los datos
R = rango de un subgrupo de dos piezas consecutivas
R = promedio de los (n - 1) rangos
x1 + x2 + x3 + ...+ xN
x =
n
n 2
LSCX = x + E2 R D4 3.27
LICX = x - E2 R D3 0
LSCR = D4 R E2 2.66
LICR = D3 R
(usar estos factores para calcular Lmites de Control n = 2)
 Ejemplo: Carta I - MR
I-MR Chart of Supp2

605.0 U C L=605.34
Individual Value

602.5
_
600.0 X=600.23

597.5

595.0 LC L=595.12
1 11 21 31 41 51 61 71 81 91
O bser vation

1
U C L=6.284
6.0
M oving Range

4.5

3.0
__
M R=1.923
1.5

0.0 LC L=0
1 11 21 31 41 51 61 71 81 91
O bser vation

Observar la situacin fuera de control

28
 Ejercicios de Cartas I o X, R
Hacer dos cartas X-R y
concluir:
MUESTRA 1 MUESTRA 2 MUESTRA 1 MUESTRA 2

1 12 2.832 11 16 2.97
2 15 2.802 12 15 2.95
3 13 2.952 13 17 2.95
4 10 2.80 14 16 2.86
5 13 2.95 15 17 2.89
6 15 2.92 16 19 2.86
7 15 2.95 17 16 2.85
8 15 2.92 18 16 2.78
9 22 2.93 19 17 2.89
10 16 2.93 20 19 2.78
29
Cartas de Control
para atributos

30
 Cartas de control por atributos
Las cartas para atributos son las que tienen caractersticas
como aprobado/reprobado, bueno/malo o pasa/no pasa.
Algunos ejemplos incluyen:

- Nmero de productos defectuosos

- Fraccin de productos defectuosos

- Numero de defectos por unidad de producto

- Nmero de llamadas para servicio

- Nmero de partes daadas

- Pagos atrasados por mes

 Cartas de control para atributos
Datos de Atributos
Tipo Medicin Tamao de Muestra ?
p Fraccin de partes defectuosas, Constante o variable > 30
defectivas o no conformes

np Nmero de partes defectuosas Constante > 30

c Nmero de defectos Constante = 1 Unidad de

inspeccin

u Nmero de defectos por unidad Constante o variable en

unidades de inspeccin
 Cartas de Control tipo p

p - CON LMITES DE CONTROL VARIABLES

p - CON n PROMEDIO

p - ESTANDARIZADA

CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN OC Y ARL

 2... Cartas de Control por Atributos

c Nmero de defectos
Se cuentan los defectos que tienen cada unidad de inspeccin
de tamao n constante en productos complejos TV,
computadoras

u Defectos por unidad

Se cuentan los defectos que tienen diferentes unidades de
inspeccin de tamao n variable en productos complejos y se
determinan los defectos por unidad TV, computadoras
 Cartas de control para Atributos
Situaciones fuera de control
Un punto fuera de los lmites de control.
Siete puntos consecutivos en un mismo lado de de la lnea central.
Siete puntos consecutivos, todos aumentando o disminuyendo.
Catorce puntos consecutivos, alternando hacia arriba y hacia abajo.

P Chart of Rejects
0.35
UCL=0.3324
0.30 1

0.25
Proportion

0.20
_
P=0.1685
0.15

0.10

0.05

0.00 LCL=0.0047

1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample
Tests performed with unequal sample sizes
 Carta p (Cont...)
Ejemplo: Algunos componentes no pasaron la inspeccin final. Los datos de falla se
registraron semanalmente tal como se muestra a continuacin.

# de n np p
com pone nte
s Fr accin de
ins pe ccionad Com pone nte s com pone nte s
os de fe ctuos os de fe ctuos os

7 0 0.000
K = 13 semanas 7 0 0.000
15 2 0.133
14 2 0.143
48 6 0.125
22 0 0.000
18 6 0.333
7 0 0.000
14 1 0.071
9 0 0.000
14 2 0.143
12 2 0.167
8 1 0.125
 Carta p (Cont..)
Ejemplo:
Grfica P para Fraccin Defectiva
0.5

0.4
3.0SL= 0.4484 LSC
Proporci

0.3
n

0.2

0.1 P= 0.1128 p
0.0 -3.0SL= 0.000
LIC
0 5 10
Nmero de muestra

Observe como el LSC vara conforme el tamao (n) de cada muestra vara.
Por qu el LIC es siempre cero?
Qu pas en la muestra 7? (33.3% defectos)
Qu oportunidades para mejorar existen?,
Podemos aprender algo de las muestras 1, 2, 6, 8, y 10?
Podra este proceso ser un buen proyecto de mejora?
 Carta np (Atributos)
Se usa cuando se califica al producto como bueno/malo,
pasa/no pasa.
Monitorea el nmero de productos defectuosos de una
muestra
El tamao de muestra (n) es constante y mayor a 30.

Terminologa (igual a grfica p, aunque n es constante)

n = tamao de cada muestra (Ejemplo: produccin semanal)
np = nmero de unidades defectuosas en cada muestra
k = nmero de muestras
 Carta np (Cont..)
Ejemplo 1: en un proceso se inspeccionan K = 15 lotes tomando n = 4000
partes de cada lote, se rechazan algunas partes por tener defectos, como sigue:
n np
# de partes
# de partes inspeccionadas defectuosas
4000 2
4000 3
4000 3
4000 2
4000 4
4000 2
4000 3
4000 3
4000 6
4000 8
4000 3
4000 4
4000 4
4000 7
4000 6
K=15 lotes
 4... Carta np (Cont...)
Ejemplo 1:
Carta np de nmero de defectivos o defectuosos

10 3.0 LSC=10.03
No. De fecetivos

5
Np =4.018 np

0 - 3.0S LIC=0.0 LIC

0 5 10 15
Nmero de muestras

El tamao de la muestra (n) es constante

Los lmites de control LSC y LIC son constantes

Esta carta facilita el control por el operador ya que el evita

hacer clculos
 4... Carta c (Atributos)
Monitorea el nmero de defectos por cada unidad de
inspeccin (1000 metros de tela, 200 m2 de material,
un TV)
El tamao de la muestra (n unidades de inspeccin)
debe ser constante
Ejemplos:
- Nmero de defectos en cada pieza
- Nmero de cantidades ordenadas incorrectas en
rdenes de compra
Terminologa
c = Nmero de defectos encontrados en cada
unidad o unidades constantes de inspeccin
k = nmero de muestras
 Carta c (cont..)
Ejemplo: Nmero de defectos encontrados en una unidad de inspeccin que
consta de 50 partes de cada lote de 75 piezas durante 25 semanas (K = 11).

#Lote / Defectos encontrados

1 6
2 4
3 4
4 2
NOTA: Utilizar Excel para
5 4
Construir la carta c
6 3
7 4
8 4
9 5
10 5
11 5
 Carta c (cont..)
Ejemplo:

Carta C
15 1
Nmero de defectos

3.0L SC=12.76 LSC

10

5 C = 5.640 C

0 -3.0L IC=0.000

0 5 10 15 20 25
Nmero de Muestras

Observe el valor de la ltima muestra; est fuera del lmite

superior de control (LSC)
Qu informacin, anterior a la ltima muestra, debi haber
obviado el hecho de que el proceso iba a salir de control?
 Carta u (Atributos)
Monitorea el nmero de defectos en una muestra de n unidades
de inspeccin. El tamao de la muestra (n) puede variar
Los defectos por unidad se determinan dividiendo el nmero de
defectos encontrados en la muestra entre el nmero de unidades
de inspeccin incluidas en la muestra (DPU o nmero de
defectos por unidad) .

Ejemplos:
Se toma una muestra de tamao constante de tableros PCB por
semana, identificando defectos visuales por tablero.

Se inspeccionan aparatos de TV por turno, se determinan los

defectos por TV promedio.
 Carta u (cont...)
Ejemplo 2: Defectos encontrado al inspeccionar varios
lotes de productos registrados por semana
Lote n c = Defectos u = DPU
Lote Unidade s De fe ctos DPU
1 10 60 6
2 12 75 6.3
3 7 42 6
4 14 77 5.5
5 12 69 5.8
6 12 72 6
7 13 76 5.8
8 10 55 5.5
9 9 51 5.7
10 14 78 5.6
11 13 72 5.5
12 13 77 5.9
13 12 74 6.2
14 10 57 5.7
15 11 62 5.6
16 13 41 3.2
17 11 30 2.7
18 15 45 3
19 15 42 2.8
20 14 40 2.9

k=20 semanas
 Carta u (cont..)
Ejemplo 2:
Grfica U para Defectos
Nmero de efectos

7 3.0L SC
=6.768
LSC
6

5 U=4.979 u
4
-3.0L IC=3.190
3 LIC
2
0 10 20
Nmero de Muestras

Observe que ambos lmites de control varan

cuando el tamao de muestra (n) cambia.

En que momentos estuvo el proceso fuera de

control?
 Capacidad de proceso
por atributos
Para cartas de control p y np en base a la fraccin promedio
de productos defectivos o no conformes es:

Cp >=1 es equivalente a p <= 0.27%

NOTA: Equivale a que el porcentaje de

partes buenas sea cuando menos del
99.73%

Para cartas de control c y u dependen de la especificacin

proporcionada por el cliente
Carta EWMA

48
Carta de Promedios Mviles Ponderados
Exponencialmente (EWMA)
Es ms sensible que la grfica X al movimiento de los
pequeos cambios sostenidos en la media del
proceso.

Es ms sensible que la grfica X al movimiento de

separacin gradual de la media del proceso.

Es menos sensible que la grfica X a desplazamientos

grandes de la media del proceso.

Se puede aplicar a las Xs o a las Xs individuales.

49
 Carta EWMA del ejemplo
Xewma
1- 52.0
EWMA Chart for X
2- 47.0
53
3- 53.0 UCL=52.59
4- 49.3 52
5- 50.1
51
6- 47.0
EW MA

7- 51.0 50 Mean=50

8- 50.1 49
9- 51.2
48
10- 50.5
LCL=47.41
11- 49.6 47
0 10 20
12- 47.6
Sample Number
13- 49.9
14- 51.3
15- 47.8 50
 Carta EWMA =
Z0 = X _
_ 1 + (1- )
Los puntos a graficar son los siguientes :Z1 = X Z0
_ 2 + (1- )
Z2 = X

Z1
_ 3 + (1- )
Z3 = X Z2
Z4 = X4 + (1- ) Z3
Con Z = EWMA

Observa que Z es un promedio ponderado de X i y de todas las Xs

anteriores.
La tpica forma de una grfica EWMA se muestra a continuacin.
UCL
Los clculos, especialmente de los
lmites de control, son tan complejos
XII

que normalmente este tipo de grfica

LCL se realiza por medio de un paquete
subgrupo de computo.
1 2 3 4 5 6

51
 Estandarizacin

1. Controles para la mejora.

2. Formas para eliminar causas.

3. Datos de control de resultados.

4. Aplicacin de soluciones en otros

procesos.

5. Uso de mtodos de estandarizacin.

. 52
 Prevencin de la reincidencia
Estandarizacin

DISPOSITIVOS A PRUEBA DE ERROR ( Poka - Yokes ).

53
22 GUOQCSTORY.PPT
 Prevencin de la reincidencia
Realizar actividades para asegurar la no reincidencia
del problema.

Se debe de tener un control de las mejoras y de los

nuevos estndares, estas deben de ser acciones que
realmente eliminen las causas de los problemas.

Herramientas a utilizar: hojas de verificacin, cartas

de control, histogramas, mtodos de documentacin
de archivos, ISO- TS 9000, 5W +1H, etc.

54
 Prevencin de la reincidencia

CONTROLES AYUDAS
AUTOMATICOS VISUALES PROCEDIMIENTOS ESPECIFICACIONES
POKA - YOKE DE OPERACIN
ESTANDAR

55
 Prototype

Control Plan Number

Part Number/Latest Change Level

Pre- launc h Produc tion
CONTROL PLAN

Key Contac /Phone

Core Team
Date (Orig.)

Customer Engineering Approval/Date (if Req'd.)

Page

Date (Rev.)
of
Plan de control
Part Name/Desc ription Supplier/Plant Approval/Date Customer Quality Approval/Date (if Req'd.)

Supplier/Plant Supplier Code Other Approval/Date (if Req'd.) Other Approval/Date (if Req'd.)

Part / Proc ess Name / Mac hine, Devic e, Charac teristic s Spec ial Methods

Proc ess Operation Jig, Tools Char.

Number Desc ription For Mfg. No. Produc t Proc ess Class. Produc t/Proc ess Evaluation/ Sample Control Method Reac tion Plan

- Todos los procesos

Spec ific ation/ Measurement Size Freq.

Toleranc e Tec hnique

- Todas las Operaciones

- Todas las actividades

Hoja de Instruccin calidad

No de Producto Dibujo No. Operacin No. Maquna Elabor Aprob
Nombre del producto Nivel
Caracteristica Especificacin Criterio Instrumento Tamao Frecuenc. Mtodo de Plan de Reaccin
Descripcin & Tolerancia dmuestra Registro

- Un proceso
- Una actividad
- Operaciones Limitadas Operador
Ayuda Visual

Instrucciones:

Distribucin

56
One Way to Standardize a Process

57
Reconocimiento al equipo Seis Sigma
Este paso es de los ms importantes ya que sin un
reconocimiento adecuado a los resultados
alcanzados, se enva el mensaje de ganar perder
para el personal y se elimina la motivacin para
trabajar en nuevos proyectos de mejora.

Los reconocimientos son muy variados y dependen

de la empresa y los resultados alcanzados en
particular.

58