GRFICOS DE CONTROL

PARA ATRIBUTOS
 Qu es un ATRIBUTO
Se refiere a todas aquellas caractersticas que
cumplen determinadas especificaciones o que no
cumplen con ellas
 Grficos de Atributos

Objetivos:

Calcular el nivel promedio de la calidad

Llamar la atencin del rea administrativa
Mejorar la calidad del producto
Evaluar el desempeo de calidad del personal de
operacin y administrativo
Sugerir posibles aplicaciones de las grficas de la media y
el rango
Definir el criterio de aceptacin de un producto antes de
enviarlo al cliente
 CALIFICACIN DE ATRIBUTOS
Inspeccin visual: color, ralladuras,
partes faltantes, daos, forma, Utilizando dispositivos especiales
apariencia, sabor, textura, etc.

TERMINOS UTILIZADOS PARA INDICAR QUE UN ATRIBUTO

CUMPLE O NO CUMPLE CON LAS ESPECIFICACIONES:

Conforme o disconforme
Defectuoso o no defectuoso
Correcto o incorrecto
Adecuado o inadecuado
Bueno o malo
Pasa o no pasa
Presente o ausente
 Grficos de Atributos
Permiten el control de varias caractersticas de calidad a la
vez
Tienen un costo de inspeccin ms bajo que los grficos de
VENTAJAS variables
Se pueden usar calibres pasa-no pasa

Requieren una excelente organizacin de la inspeccin y la

informacin recolectada
Muestras mayores
DESVENTAJAS Considerar la estandarizacin de criterios de aceptacin y
rechazo
La informacin recolectada debe contemplar procedimientos
que permitan investigar causas asignables de variacin
Los grficos de control por atributos permiten
calificar las cualidades de un producto en:

Recepcin de Materias Primas

Durante las etapas del proceso
Inspeccin en productos terminados

Las mejoras en la calidad generan mejoras en la productividad

 Defectuosos vs Disconforme
Qu es una unidad defectuosa?

Es una unidad que no cumple con la norma de produccin y que posee

defectos que pueden ser o no corregidos llevando a un reproceso o a un
desecho parcial o total del producto.

Qu es una unidad disconforme?

Es una unidad que no cumple con la norma de produccin y que por lo tanto
no puede ser aceptada.

Qu causa los productos defectuosos?

Todos los defectos iguales?
 Tipos de Grficos de Atributos

GRAFICOS DE ARTCULOS GRAFICOS DEL NMERO DE

DEFECTUOSOS DEFECTOS

Nmero de Defectos por muestra

(c)
Fraccin de artculos
Nmero de Defectos por unidad
defectuosos (p)
(u)
Nmero de artculos
Nmero de Defectos por cien
defectuosos (np)
unidades (100u)
Grfico de Demritos (D)
 PROCEDIMIENTO GENERAL

Identifique el proceso o mquina que causa problemas

Identifique el tipo de grfico en relacin a lo atributos
Establezca el tamao de muestra adecuado n = 20 o ms
Establezca el nmero de muestras m = 20 o ms
Disee la hoja de verificacin para la toma de las muestras
Efecte la recoleccin de los datos por medio de la hoja de
verificacin
Efecte los clculos preliminares
Calcule los lmites de control
Construya el grfico
Analice el grfico (correctivo y preventivo)
Seguimiento del Proceso
 GRAFICO
FRACCCIN DE ARTCULOS DEFECTUSOS (p)
D es el nmero de unidades defectuosas en una muestra
D
aleatoria de tamao n,
aleatoria
p distribucin de la variable
p
n
m

p
Se tiene m muestras preliminares cada m
1
una de tamao n, y sea Di el nmero de
artculos defectuosos
p
mn i 1
Di
p i 1
i

m
m

D i
Si las muestras no son de igual tamao, entonces: p i 1
m

n
i 1
i

Estimador de la fraccin artculos defectuosos

promedio p
 LMITES DEL GRFICO (p)
m

=
p
D
p i
n p i 1
LCs ( p 3 p ) m

( p )(1 p ) 1 m
p Tamao de muestra constante p
mn i 1
Di
n
( p )(1 p ) m

D
Tamao de muestra variable: utilizando el mtodo 1:
p lmites individuales.
i
ni p i 1
m

p
( p )(1 p ) Tamao de muestra variable: utilizando el mtodo 2:
tamao de muestra promedio
n
i 1
i

n m

n i
n i 1
m
Correccin de los lmites de control
 ANALISIS DEL GRAFICO

Se debe tomar en cuenta:

1. La situacin del proceso con respecto a si mismo:

Muestras sobre el lmite superior de control
Muestras bajo el lmite inferior de control

2. El control del proceso con respecto a las especificaciones

 Muestras sobre el lmite superior de control

Si existen muestras sobre el LCS es necesario eliminarlas y recalcular p

Revisar de nuevo si existen puntos fuera de control
Si los hay, se recalculan de nuevo la fraccin p
Si se elimina ms del 40% de las muestras, el estudio pierde validez
estadstica y por lo tanto no es conveniente continuar
Se deben introducir mejoras que reduzcan el porcentaje defectuosos y
repetir el anlisis con nueva informacin

p= fraccin defectuosa modificada

D= total de defectos o disconformes originales
A= nmero de defectos sobre el LSC
= m= valor inicial de muestras
s= nmero de muestras que superan el LSC
n= tamao de la muestra
 Muestras bajo el Lmite Inferior de Control
Si el LIC es negativo queda igual a 0
Las muestras que se encuentran bajo el LIC no se eliminarse, pero s
investigar las razones.
Dentro de las posibles causas se tienen:
Punto de vista optimista; mejoras considerables en el nivel del
proceso.
Punto de vista pesimista; inspeccin que no se ejecuta
correctamente, por razones de falta de entrenamiento o
negligencia.
Situaciones favorables: establecer mecanismos que permitan la
aplicacin efectiva de los medios que generan una baja fraccin
defectuosa.
Situaciones indeseables: ejercer de inmediato las acciones con el fin de
eliminar totalmente las causas.
 El control del proceso con respecto a
las especificaciones

Si no se cumplen con las especificaciones se deben introducir

mejoras que disminuyan la fraccin defectuosa o pactar una
nueva fraccin con el cliente si es posible.
Esto ltimo es la nica opcin que queda cuando se tiene
certeza de que el proceso no tiene posibilidad de mejora.
 EJEMPLOS

GRFICO p DE FRACCION DEFECTUOSA PARA PANTALONES

0.25

0.2 0.2
FRACCION DEFECTUOSA

0.16
0.15
0.14

0.1 0.1 0.1

0.08 0.08 0.08 0.08
0.06 0.06 0.06 0.06
0.05
0.04 0.04 0.04 0.04 0.04
0.02 0.02
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
MUESTRAS
IT1 IT1 IT1 FD
Grfico del nmero
de defectuosos: np
 GENERALIDADES

Tiene las mismas caractersticas que el grfico de p, con la diferencia de

que en lugar del valor de p en el eje y, se usa el valor de np (nmero de
artculos defectuoso)
La forma del grfico es la misma, pero la informacin que se obtiene es
diferente, pues el grfico p origina conclusiones con base en valores
relativos, mientras que el grfico np las origina con base en valores
absolutos
Depende de lo que se desee seleccionar de uno u otro
Este grfico solamente se usa para tamaos de muestra constante
Los pasos en la construccin, anlisis y seguimiento son los mismos del
grfico p, con algunas variantes en el clculo
 Los grficos np se utilizan para controlar el nmero de
defectuosos en una muestra.

Suponga un proceso que fabrica tornillos. Una manera

de revisar cada tornillo sera probarlo con una
rosca calibrada.

El resultado de este ensayo slo tiene dos posibles

resultados: Defectuoso-No Defectuoso ( Conforme-
Disconforme ).

Si el tornillo no entra en la rosca, se lo considera defectuoso o

disconforme.

Para controlar este proceso, se puede tomar una muestra de tornillos

y contar el nmero de defectuosos presentes en la muestra.
Para controlar el proceso, un inspector se coloca al final de la lnea de produccin
y cada hora retira una muestra de n = 50 tornillos, comprueba cada uno con la
rosca y anota el nmero de defectuosos.

Este resultado se anota en un grfico hora por hora

 LIMITES DE GRAFICOS DE
ARTCULOS DEFECTUOSOS (np)

=/ LIC np 3 np (1 p )

1 m
LCC np
p np
mn i 1
LSC np 3 np (1 p )
n = numero promedio de defectuosos modificada np F
Sumatoria de np = total de defectos originales n =
F= defectos sobre el LSC l
m= nmero inicial de muestras
l= nmero de muestras que superan el LSC
 GRFICO DE CONTROL (p) GRFICOS DE CONTROL (np)
FRACCIN DE ARTCULOS DEFECTUOSOS NMERO DE ARTCULOS
m DEFECTUOSOS
=

p
D p i
p i 1

LCs ( p 3 p ) n m =/
Tamao de muestra constante

( p )(1 p ) 1 m
p

1 m
p
mn i 1
Di p np
n mn i 1
( p )(1 p ) m
p D
Tamao de muestra variable:

ni i
utilizando el mtodo 1: lmites
individuales. LIC np 3 np (1 p )
p i 1
m
Tamao de muestra variable:
LCC np
( p )(1 p )
n
utilizando el mtodo 2:

p
tamao de muestra promedio

i
LSC np 3 np (1 p )
m

n i 1 n i
n i 1
m
=

np F
= n =
l
p= fraccin defectuosa modificada
D= total de defectos o disconformes originales n = numero promedio de defectuosos
A= nmero de defectos sobre el LSC modificada
m= valor inicial de muestras Sumatoria de np = total de defectos
s= nmero de muestras que superan el LSC originales
n= tamao de la muestra, tamao de la F= defectos sobre el LSC
muestra para muestras variables m= nmero inicial de muestras
l= nmero de muestras que superan el LSC
EJEMPLO