You are on page 1of 167

krzysztof.jemielniak@pw.edu.

pl
Prof. Krzysztof Jemielniak http://www.zaoios.pw.edu.pl/kjemiel

Obróbka Skrawaniem -
podstawy, dynamika, diagnostyka

10. Diagnostyka stanu narzędzia i


procesu skrawania

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Technik Wytwarzania


Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem
Plan wykładu Obróbka skrawaniem
1. Wstęp
2. Pojęcia podstawowe
3. Geometria ostrza
4. Materiały narzędziowe
5. Proces tworzenia wióra
6. Siły skrawania
7. Dynamika procesu skrawania
8. Ciepło w procesie skrawania, metody chłodzenia
9. Zużycie i trwałość ostrza
10. Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
Diagnostyka stanu narzędzia i procesu strony 276-335
skrawania
11. Skrawalność
12. Obróbka materiałów stosowanych w przemyśle
lotniczym
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 2
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
Wprowadzenie
• Wprowadzenie dodoDNiPS
DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 3
Potrzeba automatycznej diagnostyki

Teoretyczny
100%
czas pracy

druga soboty,
22%
zmiana niedziele,
34% święta
trzecia 5.3% ustawienia i obsługa
zmiana 22%
przestoje z przyczyn
6.7 ludzkich i technicznych

Rzeczywisty
10%
czas pracy
75% odzyskane
dzięki diagnostyce

druga zmiana 15%

trzecia zmiana 15% 20% automatyczna obróbka


w soboty, niedziele i święta

65%
Rzeczywisty czas pracy z automatyczną
diagnostyką

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 4
Zadnia układów DNiPS
 Diagnostyka procesu obróbki
o diagnozowanie stanu narzędzi skrawających:
• wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza (KSO) – wykruszenia, wyłamania
• diagnostyka zużycia ostrza (wykrywanie końca okresu trwałości),
• wykrywanie brakującego narzędzia
o diagnostyka postaci wióra, i jego usuwania
o diagnostyka przedmiotu
• dokładność wymiarowo-kształtowa,
• stan warstwy wierzchniej, uszkodzenia termiczne
• powstawania zadziorów,
• wykrywanie śladów drgań samowzbudnych
o wykrywanie drgań samowzbudnych
 Diagnostyka stanu obrabiarki
o wykrywanie kolizji i przeciążeń
o wykrywanie zużycia, awarii
o …
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 5
Kolizja

Kolizja to niepożądane zderzenie zespołów obrabiarki,


narzędzia lub przedmiotu spowodowanych ich
wzajemnymi przemieszczeniami

72% zawinione przez człowieka!


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 6
Kolizja

Powody uszkodzenia wrzeciona obrabiarki:


inne
smarowanie

wycieki
kolizja

zużycie

H. Cao et al. Int.J. of Machi.Tools&Manuf. 112 (2017) 21–52

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 7
Koszt kolizji

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 8
Zakres zastosowań DNiPS

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 9
Struktura logiczna układu nadzoru narzędzia i PS

NADZÓR
AKCJA !

DIAGNOSTYKA
czujniki
rozkaz
sygnały

przetwarzanie

sygnałów
miary
sygnałów
integracja miar,
filtry, statystyka, diagnoza
FFT, RMS,...

MONITOROWANIE

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 10
Struktura sprzętowa układu DNiPS
układy wstępnego
przygotowania
czujniki sygnału Układy DNIPS Wirtualne układy
Charge Amplifier -
Czujnik sił KISTLER 5073A311 DNIPS
skrawania

CNC
KISTLER 9017C

NORDMANN

Czujnik drgań Piezotron® coupler 5108A.


KISTLER
8763B050AB

Montronix

AE Piezotron
Czujnik emisji coupler 5125B2
akustycznej
KISTLER
8152C00505 ADONIS

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 11
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości
Wielkości fizyczne
fizyczne wykorzystywane
wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 12
Przebieg zużycia i sił skrawania

Jemielniak K. i in., Automatyczna diagnostyka stanu narzędzia w


operacjach tokarskich, CPBP 02.04- 04.02-02,1990.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 13
Porównanie przebiegów zużycia ostrza w
funkcji czasu skrawania i dFf

Jemielniak K, Automatyczna diagnostyka stanu narzędzia i procesu skrawania,


Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2002

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 14
Siły osiowe i momenty obrotowe uzyskane
przy użyciu wierteł ostrych i stępionych

Ketteler G., Influence on Monitoring Systems Which Affect their Relability, Proc. of the 2nd Int.
Workshop on Intelligent Manufacturing Systems, Leuven, Belgium, 768-777, 1999.
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 15
Typowy przebieg sił skrawania dla ostrego i
stępionego frezu
Narzędzie ostre

Narzędzie stępione

A. Al-Habaibeh, et al., Modern Developments in Sensor Technology and


their Applications in Condition Monitoring of Manufacturing Processes, AC’04
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 16
Emisja akustyczna – definicja

Emisja akustyczna to zanikająca fala sprężysta, będąca


efektem gwałtownego wyzwolenia energii wiązań
wewnętrznych, naruszanych przez odkształcenia, pękanie i
przemiany fazowe (wzrost mikro szczelin, ruch grup
dyslokacji) w materiale.

Poglądowe przedstawienie szczeliny w próbce i związanej z tym


generacji emisji akustycznej

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 17
Źródła emisji akustycznej (AE) w procesie
skrawania

• ścinanie i plastyczna deformacja materiału obrabianego (3,4)


• pękanie materiału obrabianego i narzędzia (1,8)
• tarcie pomiędzy materiałem obrabianym, narzędziem i wiórem (2,3,5)
• uderzenia i pęknięcia wiórów (6,7) Moriwaki T., Detection for Cutting Tool Fracture by Acoustic
Emission Measurement, Anals of the CIRP, 29/1(1980),35.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 18
Sygnał emisji akustycznej w trakcie wybuchu

Jednostką AE jest volt!


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 19
Typowy przebieg AE dla ostrego i stępionego
frezu

Narzędzie ostre

Narzędzie stępione

A. Al-Habaibeh, et al., Modern Developments in Sensor Technology and


their Applications in Condition Monitoring of Manufacturing Processes, AC’04

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 20
Przebieg AE przy wierceniu aż do złamania
wiertła

Sygnał AE zmierzony na stole obrabiarki przy wierceniu otworu Ø 3mm czujnikiem SEA

Wzrost AE w czasie wiercenia


ostatnich 4 otworów
wyłamanie wyłamanie
emisja akustyczna (dB)

emisja akustyczna (dB)


wiertło stępione wiertło stępione

Ostatni otwór
wiercony
normalnie

czas (s) czas (s)

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 21
Nadzorowanie toczenia diamentowego

(a) Polarny wykres sygnału AERMS przy obróbce polikrystalicznej miedzi.

(b) Mikrofotografia tego samego przedmiotu wytrawiona chemicznie


Lee, D.E., IJMachTools&Manuf. 46/2:176-188.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 22
Drgania: monitorowanie trwałości wierteł
małej średnicy

König W., Ketteler G., Research on Tool Condition Monitoring in Europe - State of the Art and Future Prospects, 1994.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 23
Hałas: diagnostyka zużycia ostrza

Wpływ zużycia ostrza i parametrów skrawania na


ciśnienie akustyczne przy toczeniu Kopac J., Sali S., J. Mat Process Techno, 113, 312-316, 2001

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 24
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki
Czujniki stosowane
stosowaneww DNiPS
DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 25
Czujniki stosowane w handlowych układach
DNiPS
Czujniki stosowane w układach DNiPS są z reguły specjalnie do nich dedykowane,
przy-stosowane do trudnych warunków panujących w strefie skrawania, a więc
odporne na chłodziwo, uderzające wióry.
W tabeli niżej zestawiono typy czujników oferowanych przez czołowych producentów
komercyjnych układów MiNOS

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 26
Zalecane zastosowania czujników w układach AUMON

zalecane możliwe nie zalecane


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 27
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 28
Siłomierze laboratoryjne do pomiaru sił
skrawania

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 29
Przemysłowe czujniki mocy

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 30
Zastosowanie czujników mocy do wiercenie

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 31
Zakłócenia wpływające na sygnał czujnika mocy

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 32
Czujnik odkształceń powierzchni obrabiarki

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 33
Czujnik siły posuwowej w oprawie łożyska
śruby tocznej

a) przekrój wewnętrzny, b) usytuowanie czujnika na śrubie pociągowej tokarki NC

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 34
Czujnik sił – sposób montażu

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 35
Czujnik sił – przykład instalacji

Czujnik sił

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 36
Płyta pomiarowa pod głowicą narzędziową

płyta
pomiarowa

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 37
Czujniki momentu i siły osiowej

tensometry
układ
elektroniczny

rotor stator

oprawka

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 38
Czujnik momentu i siły osiowej

rotor stator

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 39
Czujnik sił zintegrowany z wrzecionem

H. Cao et al. Int.J. of Machi.Tools&Manuf. 112 (2017) 21–52

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 40
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 41
Budowa czujnika AE i czujnika drgań

przetwornik piezoelektryczny
masa sejsmiczna

czujnik AE

czujnik drgań
diafragma

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 42
Przemysłowe czujniki drgań i AE

Kistler Prometec
czujnik drgań czujniki AE czujnik drgań czujnik AE
10  6000 Hz 50  400 kHz 100  80 000 Hz 8  800 kHz
100  900 kHz

Montronix
Nordman
0.1Hz-500kHz 0  1 MHz

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 43
Badanie charakterystyk czujników AE – test
Nilsena i Hsu, ASTM Standard E976-84
AE

Stanowisko do badań charakterystyk czujników AE


zbudowane w ITM PW
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 44
Badanie charakterystyk czujników AE

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 45
Charakterystyki czujników AE firmy Kistler

podane przez producenta

50-400kHz

100-900kHz

otrzymane w ZAOiOS PW

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 46
Wpływ drogi sygnału AE na jego przebieg

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 47
Wpływ drogi sygnału AE na jego
charakterystykę

-10
dB
-20

-30

-40

-50

-60
0 250 500 750 1000
częstotliwość (kHz)

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 48
Czujniki AE wykorzystujące przenoszenie
sygnału przez chłodziwo

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 49
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
Przetwarzaniesygnałów
• Przetwarzanie sygnałówwwDNiPS
DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 50
Przetwarzanie sygnałów w MiNOS
• Sygnały analogowe pochodzące z czujnika są sygnały
analogowe
zwykle poddawane wstępnej obróbce
analogowej jak filtrowanie, wzmocnienie i wstępna obróbka Przetwarzanie
sygnałów sygnałów
zamianę na postać cyfrową (szeregi czasowe)
(filtrowanie, A/C)
• Sygnały cyfrowe w dziedzinie czasu mogą
sygnały cyfrowe w dziedzinie czasu Transformacja
poddane transformacji do dziedziny do dziedziny
częstotliwości
częstotliwości wyznaczanie sygnały cyfrowe w (FFT, STFT,
dziedzinie
miar sygnałów WT)
częstotliwości
• Oba typy sygnałów (w dziedzinie czasu i
wszystkie
miary
częstotliwości są poddawane przetwarzaniu w
celu wyznaczenia cech (miar) sygnału wybór miar

mogących posłużyć jako symptomy. miary sygnałów


skorelowane z
• Miar tych może być bardzo wiele, większość monitorowanym
zjawiskiem
nieprzydatnych.
• Niezbędny jest wybór miar skorelowanych z Wybrane miary służą do podejmowania
monitorowanym zjawiskiem. decyzji o stanie procesu
Teti R., Jemielniak K., et al., Advanced monitoring of machining operations, CIRP Annals, 59(2010), 2, 717–739

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 51
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 52
Typowy układ przygotowania sygnału AE firmy
Kistler

RMS
0,1-120 ms

• Sygnał z czujnika jest wstępnie wzmacniany


• Następnie poddawany jest filtrowaniu górno i dolno-
przepustowemu
• Kolejnym krokiem może być demodulacja sygnału AE czyli
wyznaczanie wartości skutecznej AERMS
• Możliwe jest także zliczanie wybuchów AERMS
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 53
Przygotowanie sygnału AE – filtrowanie górno-
przepustowe
RMS
0,1-120 ms

przedwzmacniacz
Sygnał z przedwzmacniacza

• Sygnał z przedwzmacniacza może zwierać

AEraw (V)
wysokie składowe o częstotliwościach
znacznie niższych niż interesujące pasmo
(powyżej ok 100 kHz), tu 18kHz
Sygnał po filtrowaniu górno-
• Oznacza to niewykorzystanie dostępnego przepustowym 100 kHz

AEraw (V)
zakresu pomiarowego
• Po przefiltrowaniu górnoprzepustowym 100
kHz pozostaje tylko interesujący sygnał

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 54
Waga filtrowania GP przy posługiwaniu się AERMS
Sygnał AE otrzymany z szerokopasmowego Wybrane fragmenty i ich
czujnika BK 8312 bez filtrowania:
widma
trzy wybuchy o podobnej amplitudzie

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 55
Wynik filtrowania górnoprzepustowego
Sygnał AE otrzymany z szerokopasmowego czujnika Brüel&Kjær 8312
po filtrowaniu górno i dolno przepustowym (150 kHz i 500 kHz):

dwa wybuchy o różnej amplitudzie

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 56
Przygotowanie sygnału AE – filtrowanie dolno-
przepustowe

RMS
0,1-120 ms

przedwzmacniacz

• Filtrowanie dolnoprzepustowe prowadzi się w celu eliminacji


składowych wysoko częstotliwościowych mogących
pochodzić od zakłóceń elektrycznych
• Należy także wyeliminować składowe wyższe od połowy
częstotliwości próbkowania by uniknąć alasingu

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 57
Przygotowanie sygnału AE – demodulacja

• Surowy sygnał AEraw ma składowe o częstotliwościach sięgających


1MHz
• To oznacza, że częstotliwość próbkowania musi być co najmniej ok
2Ms/s (mega samples/second - miliony próbek na sekundę)
• To nie tylko trudne ale także prowadzi do ogromnej ilości danych,
trudnych do obsługi
• Stąd w większości przypadków w MiNOS stosuje się demodulację
sygnału, czyli wyznaczenie jego obwiedni
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 58
Przygotowanie sygnału AE – demodulacja

AEraw (V)
• Tu mamy fragment surowego sygnału AEraw…

AEraw (V) • …będący fragmentem wybuchu

AERMS (V) • Tu widzimy obwiednię sygnału surowego, i wybuch

Demodulację sygnału można przeprowadzić przez wyznaczenie wartości skutecznej:


1 𝑡2 2
𝐴𝐸𝑅𝑀𝑆 = න 𝐴𝐸𝑟𝑎𝑤 𝑡 d𝑡 𝜏 = 𝑡2 − 𝑡1 - stała całkowania
𝜏 𝑡1
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 59
Demodulacja sygnału AEraw
AEraw AEraw

AERMS
AERMS

AEraw AEraw

AERMS
AERMS

Częstotliwość próbkowania AERMS może być 100x mniejsza niż AEraw!


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 60
Wpływ stałej całkowania wartości skutecznej
AE na przebieg sygnału
sygnał oryginalny (surowy)
AEraw (V)

~2,5ms ~2,5ms ~2,5ms


AERMS otrzymany analogowo,
AERMS (V) RMS = 1,2 ms.

t (ms)

Jak widać, AERMS osiąga maksimum ok 2,5 ms później niż czas


narastania sygnału wybuchu jest w przybliżeniu równy dwóm stałym
całkowania, stąd RMS = 1.2 ms przy wybuchach trwających ok 2 ms
jest zdecydowanie za duża

Stała całkowania przy wyznaczaniu wartości skutecznej powinna być o


rząd wielkości niższa niż czas trwania wybuchu
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 61
Wpływ stałej całkowania wartości skutecznej
AE na przebieg sygnału

Firma Kistler oferuje stałe całkowania 0,12ms, 1,2ms oraz 120 ms

• Jeśli chcemy analizować, zliczać wybuchy


trwające ok. 2 ms, zastosujmy stałą
całkowania RMS = 0,12 ms

• Stała RMS = 1,2 ms nie ma tu sensu –


zniekształca wybuchy

• Jeśli chcemy obserwować tylko średnią wartość


AERMS wtedy najlepsza będzie RMS = 120 ms,

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 62
Potrzeba wyboru fragmentów sygnałów
Pojedyncza operacja składa się z kolejnych Sygnał czujnika siły Fo w czasie
ruchów ustawczych i posuwów roboczych wykonywania kolejnych otworów
Tylko posuw roboczy jest interesujący z
punktu widzenia diagnostyki 150
100
chyba że chodzi o wykrywanie kolizji 50
Posuw roboczy jest sygnalizowany przez 0
układ sterowania obrabiarki -50
-100
W czasie posuwu roboczego występuje -150
dobieg i wybieg narzędzia przed i po -200
samym skrawaniem. 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
ruchy ustawcze posuw roboczy
Czas dobiegu i wybiegu jest różny w dobieg-wybieg skrawanie stabilny, niezmienny
różnych operacjach sygnał

Wykrywanie rzeczywistego skrawania jest wiec niezbędne


Tylko stabilne, mało zmienne fragmenty sygnałów są użyteczne do
diagnostyki. Muszą być znajdowane automatycznie

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 63
Segmentacja sygnału siły przy frezowaniu
Sygnał surowy filtrowanie
Segmentacja

Obcięcie niepełnych przebiegów

Sygnał przygotowany do dalszej analizy

Ghosh, N., et al., Mechanical Systems and Signal Processing 21 (2007) 466–479
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 64
Segmentacja sygnału elektrowrzeciona przy
wierceniu – wykrywanie zadziorów

Skrawanie
Moment (Nm)

Posuw roboczy-
podejście do
przedmiotu

Przyspieszanie maksimum
Zwalnianie
wrzeciona Poziom
wrzeciona
odniesienia nachylenie

Czas (s) wysokość

Moment (Nm)
minimum

szerokość

głębokość (mm)
S. Ferreiro et. al. Computers & Industrial Engineering, 60(2011) 4, 801–810
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 65
Najczęściej stosowane wykrywanie skrawania
Metodą najczęściej stosowaną jest
wykrywanie przekroczenia przez wartość
sygnału założonego progu
próg jest wyznaczany jako ułamek wartości
maksymalnej, która nie jest znana przed
rozpoczęciem skrawania.

Sygnały mogą być zakłócone ze względu na


złożone sprzężenia skrośne między
kierunkami wrażliwymi czujnika
sygnał może przyjmować wartości ujemne
mimo iż wszystkie składowe siły skrawania
są dodatnie.
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240 260 280
Wykrywanie skrawania powinno time (s)

być oparte na więcej niż jednym


sygnale i na więcej niż jednej
mierze sygnału.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 66
Wykrywanie skrawania wg ZAOiOS
Wykrywanie skrawania oparto na dwóch dobieg
1
miarach sygnału 0
posuw roboczy
obliczanie σ0(Fc),
• Sf – sygnał filtrowany dolnoprzepustowo – 1
usuwanie offsetu skrawanie
0
miara efektywna gdy nie ma płynięcia lub
zmiany znaku sygnału S – oryginalny sygnał Fc

• sc – odchylenie standardowe standard

Fc [N]
filtrowany dolnoprzep. sygnał Sf
400ms fragmentu sygnału – miara niezależna odchylenie standardowe σc
od płynięcia i ujemnych wartości sygnału 0

Procedura:
• 40 ms po otrzymaniu sygnału „start posuwu roboczego” z 120 ms odcinka
sygnału obliczane jest odchylenie standardowe s0 i wartość średnia Sav.

• Sav jest odejmowana od wartości sygnału jako offset (tarowanie sygnału).


• w czasie dobiegu sygnał oscyluje wokół zera.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 67
Wykrywanie skrawania
Procedura, cd.: 1
200 ms opóźnienie skrawanie
0
• Obliczenie progów do wykrywania skrawania:
wykr. skrawania
100
próg dla Sf(Fc): 5σ0(Fc)
• dla sygnału filtrowanego Sf próg = 5s0

Fc [N]
próg dla odchylenia
• dla odchylenia standardowego sc próg = 3s0 00 standard.: 3σ0(Fc)

• Co 2 ms obliczane są wartości Sf i sc -50


8.35
czas [s]
• System rozpoznaje początek skrawania gdy: przekroczenie granicy σ (F ) c
przekroczenie granicy S (F )
c
f c

• Sf > 5s0 lub sc > 3s0 przez dłużej niż 200 ms


• Przerwy w skrawaniu są rozpoznawane gdy wszystkie sygnały filtrowane i
ich odchylenia standardowe, które były powyżej swoich granic spadną
poniżej nich.

Żadna z tych czynności nie jest wykonywana przez operatora.


Wykrywanie skrawania jest prowadzone automatycznie bez
jego interwencji, a nawet wiedzy
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 68
Problem ilości danych i czasu obliczeń
average value
Sygnały zebrane w czasie skrawania są przedmiotem 1 n
x   xi
n i 1 variance s2
• wyznaczania miar,
n

effective value
 xi  x 2
s2  i 1

n 1
• oceny przydatności miar do diagnostyki xRMS 
1 n 2
 xi
n i 1

• wyboru przydatnych miar


kurtosis
n xKU,
  xi  x
4

x KU  i 1
permutationn! entropy
n  1s 4
Obliczenie wystarczająco dużej liczby miar związanych H p n    p i ln p i 
i 1
skewness xSK,
ze stanem narzędzia jest kluczowym warunkiem logarithmic energy 
n
xi  x 3
E   log( xi ) 2 xSK  i 1
powodzenia układu nadzoru stanu narzędzia. n  1s3

Przy wykorzystaniu STFT lub DWT liczba wyznaczanych STFT Nw



X k , m   xk  nwne j 2 nm N w
n 0

miar może wynosić kilkaset!


W czasie uczenia systemu, wyznaczanie miar, ich ocena
i selekcja muszą być wykonywane po zakończeniu
całego okresu trwałości ostrza, który może trwać Discreet Wavelet Transform

kilkadziesiąt minut. A j 1 n   h2n  k A k  j


k  

D j 1 n   g 2n  k A k 
ilość zgromadzonych danych może być bardzo duża, a k  
j

czas obliczeń nieakceptowalnie długi


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 69
Wybór przydatnych fragmentów sygnału
obecnie
Do diagnostyki stanu narzędzia wystarczają krótkie,
reprezentatywne fragmenty sygnałów.
Nie cały sygnał nadaje się do diagnostyki.
przydatne są jedynie stabilne, w miarę niezmienne fragmenty
sygnału

Zarówno w układach komercyjnych, jak


laboratoryjnych, to OPERATOR wybiera
przydatne fragmenty sygnału, co jest:
• trudne,
• niewygodne,
• podatne na przypadkowe zmiany warunków
skrawania i ludzkie błędy.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 70
Wybór przydatnych fragmentów sygnałów
Założenie: 1 sekunda
Diagnostyka stanu narzędzia może być
oparta na reprezentatywnych,
niezmiennych fragmentach sygnałów
Procedura:
• Sygnały zebrane w czasie pierwszej
uczącej operacji są dzielone na
segmenty jednosekundowe
• Wartość skuteczna (RMS) każdego
segmentu jest porównywana z
sąsiednimi dając oceną lokalnej 𝑅𝑀𝑆[𝐴] 𝑅𝑀𝑆[𝐶]
𝐹𝑙𝐵 = −1 + −1
zmienności sygnału Fl – im niższa tym 𝑅𝑀𝑆[𝐵] 𝑅𝑀𝑆[𝐵]
lepiej
• Jeśli dostępnych jest więcej Segmenty są gromadzone w grupy po
sygnałów, wyznacza się średnią
sześć, a najlepszy segment jest
wartość współczynnika:
wybierany jako reprezentant grupy
𝐹𝑙 = 𝐹𝑙𝐴𝐸 + 𝐹𝑙𝐹𝑓 + 𝐹𝑙𝐹𝑝 + 𝐹𝑙𝐹𝑐 Τ4
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 71
Eliminacja zbyt dużej liczby segmentów
Przesłanka 1:

Przy długich operacjach liczba segmentów będzie duża (jeden co 6 sekund).


z każdego segmentu wyznacza się znaczną liczbę miar z każdego sygnału
stąd przeciążenie pamięci komputera i rosnący czas obliczeń bez wartości dodanej.
Rozwiązanie:

Jeśli operacja trwa więcej niż 2 minuty (120 segmentów w 20 grupach) wybiera się
20 najlepszych do dalszej obróbki

Przesłanka 2:

Sygnały ze wszystkich wybranych segmentów, ze wszystkich kolejnych operacji


muszą pozostać w pamięci komputera do końca okresu trwałości ostrza
Rozwiązanie:

Jeśli liczba segmentów (liczba operacji pomnożona przez liczbę segmentów w


operacji) przekracza 128, są one gromadzone w pary i do dalszej obróbki
przechodzi lepszy
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 72
Eliminacja zbyt dużej liczby segmentów
Numer segmentu:
Pierwsza operacja:
Rejestracja wszystkich segmentów,
obliczenie współczynnika Fl, wybór
1/6 do dalszej rejestracji i
wyznaczania miar, nie więcej niż 20

Druga-ósma operacja:
Tu np. wybranych 15 segmentów,
wyznaczone i zapamiętane miary
sygnałów druga operacja: 15 segmentów
:
Dziewiąta operacja:
Tu 15*9=135 segmentów zebranych dziewiąta operacja: 15 segmentów
– wybór lepszego z każdej pary,
:
Dziesiąta operacja:
8 segmentów zebranych,
wyznaczone miary; po operacji Dziesiąta operacja: 8 segmentów
mamy w pamięci 80 segmentów
sygnałów i miar z nich
wyznaczonych

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 73
Miary sygnałów

• Z sygnału w postaci cyfrowej (szeregu czasowego)


wyznaczane są miary sygnałów, które opisują jego
cechy związane z monitorowanym zjawiskiem.
• Miary te mogą być wyznaczane:
• bezpośrednio z sygnałów – w dziedzinie czasu,
• z transformat sygnałów w dziedzinie częstotliwości (FFT)
• z transformat sygnałów w dziedzinie czasu i częstotliwości.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 74
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
sygnałów w
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie
dziedzinie czasu
czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 75
Podstawowe miary sygnałów w dziedzinie czasu

Sygnał ciągły (analogowy) Sygnał dyskretny (cyfrowy)

wartość średnia
T
n
xav=
1
T t=0

|x(t)|dt
1
xav= ̶
n
S|x[i]|
i=1

wartość skuteczna
t2
1 1 n 2
x RMS= ̶
T  x2(t) dt xRMS= ̶
n i=1
x [i] S
t1

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 76
Sprowadzenie surowego sygnału AEraw do
niskoczęstotliwościowego przez demodulację

1 T
 
2
AERMS AEraw dt
T 0


1
AERMS  2
AEraw
n

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 77
Podstawowe miary sygnałów w dziedzinie czasu

moc chwilowa: p[i] = x2[i]


wariancja: n
S (x[i] – xav)2
i=1
s2 = ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶
moc średnia: n-1
1 n
p= ̶
n S x2[i] skośność:
i=1 n
S (x[i] – xav)3
i=1
energia (praca w czasie): SK= ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶3̶ ̶ ̶ ̶ ̶
(n-1) s
n
p= S x2[i] kurtoza:
i=1 n
S (x[i] – xav)4
i=1
entropia Shanona: KU= ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶ 4̶ ̶ ̶ ̶ ̶ ̶
(n-1) s
n
E= – S x2[i] log(x2[i])
i=1

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 78
Zastosowanie analizy głównych składowych
• Pomiar sił skrawania przy przeciąganiu

• Położenie elips wyraźnie skorelowane


ze zużyciem ostrza

siła skrawania Fz (kN)


• Stosując PCA wyznaczono: długości
osi (a/b) i nachylenie elipsy (b)

• Środki elips to średnie wartości sił

• Miary sygnałów przyjęte do


diagnostyki:

{Fy,av, Fz,av, a, b, β }
siła skrawania Fy (kN)

Shi D., Gindy N.N. Tool wear predictive model based on least squares support
vector machines, Mechanical Systems and Signal Processing 21 (2007) 1799–1814
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 79
Analiza widma osobliwego
(ang. Singular Spectrum Analysis SSA)

• SSA to nowa technika nieparametrycznej analizy szeregów


czasowych

• Rozkłada sygnał na sumę trzech niezależnych składowych:


• wolnozmienny trend reprezentujący lokalną średnią

• różnicę między sygnałem a średnią (składową oscylacyjna)

• szum pozbawiony jakiejkolwiek struktury

• Te trzy składowe traktuje się jak nowe sygnały i wyznacza


z nich omówione poprzednio podstawowe miary (np.
średnią, wariancję, RMS, skośność, kurtozę itd.)

Salgado D.R., Alonso F.J. Tool wear detection in turning operations using singular
spectrum analysis, Journal of Materials Processing Technology 171 (2006) 451–458
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 80
Zastosowanie analizy widma osobliwego (SSA)
Diagnostyka zużycia ostrza przy toczeniu oparta na SSA sygnałów drgań w 2 kierunkach

Miary sygnałów przyjęte do dalszej analizy:

sygnał oryginalny
trend

szum

Salgado D.R., Alonso F.J. Tool wear detection in turning operations using singular
spectrum analysis, Journal of Materials Processing Technology 171 (2006) 451–458
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 81
Entropia permutacji

Kolejna stosunkowo nowa metoda określania złożoności szeregu czasowego

Z szeregu czasowego x[i], i=1..n można otrzymać n! permutacji  (ustawień w


różnej kolejności)

Entropię permutacji szeregu czasowego definiuje się jako:


n!
Hp(n)= – S p(i) ln p(i)
i=1
gdzie p(i) – względna częstość występowania permutacji i

Znormalizowana entropia permutacji jest wtedy opisana wzorem:

Hp(n)
Hp = ––––––––
ln(n!)
Im mniejsza entropia permutacji, tym bardziej regularny szereg czasowy

Li, X., et al., Complexity measure of motor current signals for tool flute breakage
detection in end milling, Int. J. Mach.Tools & Manuf., 48, (2008), 371–379

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 82
Zastosowanie entropia permutacji
Wykrywanie KSO przy frezowaniu w oparciu o
pomiary prądu silnika

Li, X., et al., Complexity measure of motor current signals for tool flute breakage
detection in end milling, Int. J. Mach.Tools & Manuf., 48, (2008), 371–379

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 83
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
sygnałów w dziedzinie częstotliwości
• miary sygnałów częstotliwości i czasu-częstotliwości
czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 84
Miary sygnałów oparte na transformacie Fouriera
• Bezpośrednie wykorzystanie wartości
współczynników DFT X[m] jest niepraktyczne
– jest ich wiele, energia przepływa między
sąsiednimi prążkami
• Zwykle stosuje się wyznaczanie miar widma
Fouriera, np.:
• amplitudy dominujących prążków
zależność widma drgań przy toczeniu od zużycia ostrza
• moc sygnału w wybranych pasmach
• energia w pasmach
• miary statystyczne spektrum:
• średnia częstotliwość
• wariancja
• skośność
• kurtoza zależność mocy drgań przy toczeniu od zużycia ostrza

• częstotliwość najwyższego prążka Teti R., Jemielniak K., et al., Advanced monitoring of machining operations, CIRP Annals, 59(2010), 2, 717–739

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 85
Miary z dziedziny częstotliwości i czasu
stosowane jednocześnie

• Fym - średnia sygnału siły Fy,

• Fy50 - energia sygnału siły Fy w


pobliżu 50 Hz

• Fxd – energia pierwszej postaci


sygnału Fx

• Fxs – odchylenie stardardowe


sygnału Fx

Diagnostyka zużycia ostrza oparta na pomiarach sił skrawania przy toczeniu przerywanym

Scheffer, C., Heyns, P.C An industrial tool wear monitoring system for interrupted turning
Mechanical Systems and Signal Processing 18 (2004) 1219–1242

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 86
Sygnały stacjonarne i niestacjonarne

 FT identyfikuje wszystkie składowe widmowe obecne w sygnale, jednakże nie


daje żadnej informacji na temat ich rozmieszczenia w czasie. Dlaczego?

 Sygnały stacjonarne składają się ze składowych niezmiennych w czasie

 wszystkie składniki występują cały czas

 nie jest potrzebna informacja o czasie

 FT pracuje bardzo dobrze dla stacjonarnych sygnałach

 Sygnały niestacjonarne zawierają składowe, których amplituda jest zmienna w


czasie

 Jak więc dowiedzieć się kiedy występują poszczególne składowe?

 Potrzebny jest jakiś sposób określania położenia w czasie składowych

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 87
Krótkookresowa transformata Fouriera
(Short Time Fourier Transform STFT)
1. Wybierz okno o skończonej długości

2. Umieść je na początku sygnału (t=0)

3. Obetnij sygnał mnożąc go przez okno

4. Oblicz FT obciętego sygnału, zapamiętaj

5. Przesuń okno w prawo o niewielki


odcinek

6. Idź do kroku 3, powtarzaj aż osiągniesz


koniec sygnału

czas

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 88
Zasada nieoznaczoności Heisenberga

Rozdzielczość w czasie (Dt): Rozdzielczość częstotliwości (Df):


Jak dokładnie można określić Jak dokładnie można określić częstotliwość
położenie składowej w czasie składowej

Rozdzielczość w czasie i częstotliwości nie mogą


jednocześnie być arbitralnie duże!!!

• Nie możemy dokładnie wiedzieć w której chwili występuje składowa o określonej


częstotliwości.

• Możemy jedynie wiedzieć, jakie zakresy częstotliwości występują w jakich przedziałach


czasu.

Szerokie okno zła rozdzielczość w czasie, dobra rozdzielczość częstotliwości

Wąskie okno dobra rozdzielczość w czasie, zła rozdzielczość częstotliwości

Po wybraniu szerokości okna, obie rozdzielczości są ustalone.


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 89
Transformata falkowa
W celu obejścia trudności związanych z rozdzielczością można zastosować okna o różnej
długości dla różnych częstotliwości:

 Wyszukiwanie składowych o wysokich częstotliwościach wąskie okno


dla lepszej rozdzielczości w czasie

 np.: przy fpróbk=2000Hz, dla f=900-1000Hz użyjmy Dt=0.1s, czyli Df=10Hz

 Wyszukiwanie składowych o niskich częstotliwościach  szerokie okno


dla lepszej rozdzielczości częstotliwości

 np.: przy fpróbk=2000Hz, dla f=0-10Hz użyjmy Dt=1s, czyli Df=1Hz

Zasada Heisenberga w dalszym ciągu obowiązuje!

Funkcja okna jaką tu zastosujemy nazywana jest falką (wavelet )


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 90
STFT i falki

częstotliwość
częstotliwość

czas
czas

transformata falkowa
krótkookresowa transformata Fouriera

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 91
Dyskretna transformata falkowa ∞
y[n]=x[n]*h[n] =
S x[k]h[n-k]
k=-∞
• Dyskretna transformata falkowa rozkłada sygnał na średnie (aproksymacje
A) i różnice (detale D) przez splot sygnału i odpowiedzi impulsowej filtru
dolno i górnoprzepustowego

• Odpowiedzi filtrów są decymowane przez 2.

• Ogólnie aproksymacja Aj+1 i detal Dj+1 na poziomie j+1 opisane są


splotami: ∞

𝐴𝑗+1 [𝑛] = ෍ 𝐴𝑗 𝑘 ℎ 2𝑛 − 𝑘
𝑘=−∞

𝐷𝑗+1 [𝑛] = ෍ 𝐴𝑗 𝑘 𝑔 2𝑛 − 𝑘
𝑘=−∞
gdzie h – odpowiedź impulsowa filtru dolnoprzepustowego (funkcji skalującej)
g – odpowiedź impulsowa filtru górnoprzepustowego (falki)
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 92
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
sygnałów
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 93
Słabość monitorowania opartego na jednej
mierze
• Zjawiska fizyczne (siły, AE, drgania itd.) związane monitorowaną wielkością
zależą także od wielu innych czynników

• Związek między np. stanem narzędzia, a miarą sygnału jest złożony, raczej
statystyczny niż zdeterminowany

• Czasem sygnał z czujnika niedokładnie odzwierciedla mierzoną wielkość z


uwagi na wpływ zakłóceń

• Nie da się z góry przewidzieć, czy określona miara sygnału będzie przydatna
do diagnostyki

• Przyszłość układów monitorujących należy do układów opartych na więcej niż


jednej tylko mierze sygnału

• Spośród wielu możliwych do wyznaczenia miar sygnałów należy wybrać te,


które niosą w sobie informacje o monitorowanym zjawisku

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 94
Model zależności miary sygnału od stanu
narzędzia (procesu)
Nadzorowanie stanu
narzędzia
miara sygnału (SF)

DT=f -1(SFm)

DT
SFm=f(DT)

Wykorzystana część okresu trwałości (DT) Miara sygnału (SF)

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 95
Ocena przydatności miary
SF
1.0-
Na podstawie pomiarów wartości miary w funkcji
0.8-
𝑺𝑭𝒎 zużycia ostrza (DT) określa się model zależności
0.6- 𝑺𝑭𝒂𝒗 𝑺𝑭 𝑺𝑭𝒎 = 𝒇 ∆𝑻
0.4-

𝐶𝑆𝐾 − 𝑅𝑆𝐾
0.2-
DT współczynnik determinacji: 𝑅 =
𝐶𝑆𝐾
0.0-
0 20 40 60 80 100
𝐶𝑆𝐾 – całkowita suma kwadratów

Ocena przydatności miary do diagnostyki stanu 𝐶𝑆𝐾 = ෍ 𝑺𝑭𝒊 − 𝑺𝑭𝒂𝒗 2

narzędzia to:
𝑅𝑆𝐾 – resztowa suma kwadratów
• stwierdzenie, na ile miara zależy od tego stanu
𝑅𝑆𝐾 = ෍ 𝑺𝑭𝒊 − 𝑺𝑭𝒎𝒊 2
• ocena jakości modelu, czyli stwierdzenie, w
jakim stopniu model 𝑺𝑭𝒎 oddaje rzeczywisty 𝐶𝑆𝐾 − 𝑅𝑆𝐾 – zniesiona suma kwadratów
przebieg 𝑺𝑭 Postać modelu nie ma znaczenia
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 96
Diagnostyka zużycia ostrza przy obróbce Inconel 625
Zadanie technologiczne

268
406

 Parametry skrawania:
ap = 2.5mm
f = 0.2mm/rev
vc = 220m/min
 Czas pojedynczego przejścia – 90s
 Na jeden przedmiot kilka okresów trwałości
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 97
Diagnostyka zużycia ostrza przy obróbce Inconel 625
– stanowisko badawcze

Tokarka
TKX 50N
Czujnik
AE

Czujnik
sił Fx Fz RNGN 120700T01020
narzędzie ceramika wiskersowa
CC670

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 98
Diagnostyka zużycia ostrza przy obróbce Inconel 625

Wskaźniki stępienia: zużycie ostrza


zadziory

uszkodzenia
powierzchni
Wszystkie wskaźniki
rejon zużycia
występowały niezależnie od
wrębowego
siebie – o końcu okresu
trwałości decydowało
przekroczenie jednego z nich

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 99
Wyznaczane miary sygnałów

Dla każdego sygnału wyznaczano 97 miar:


 miary w dziedzinie czasu:
 RMS, odchylenie standardowe, skośność, kurtoza, współczynnik szczytu

 miary w dziedzinie częstotliwości (FFT):


 częstotliwość dominująca, moc w dominującym paśmie, moc w wybranym
paśmie (6 pasm: 62-125Hz, 125-250Hz, 250-500Hz, 500-1000Hz, 1000-
2000Hz, 2000-4000Hz)

 miary w dziedzinie czasowo-częstotliwościowej (3 poziomowa WPT


oparta na coiflet5, łącznie 14 pasm):
 energia logarytmiczna, RMS, skośność, kurtoza, liczba i szerokość imulsów

Łącznie dla 6 sygnałów wyznaczano 582 miary


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 100
Przykładowe miary
Miara zależna od średnicy toczenia,
Miara nieskorelowana ze stanem ostrza
nieskorelowana ze stanem ostrza,

Miara skorelowana ze stanem ostrza,


zależna od średnicy toczenia

Miara skorelowana ze
stanem ostrza,
niezależna od średnicy
toczenia

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 101
Badanie korelacji ze stanem ostrza
SFT SFTf
2.5 6
Rs2=0,98
AEAAA,Sk

Rs 2=0,35

Fx/DDD,E
3
1.5
SFTav=1,14 SFTav=0,14
0

0.5
-3
0 20 40 60 80 100 0 20 40 60 80 100
DT DT
Badanie, na ile przyjęty model (przefiltrowany przebieg) oddaje przebieg
znormalizowany w czasie.
Inaczej mówiąc – badanie gładkości miary!
Współczynnik determinacji: Si(SFTi – SFTav)2 – Si(SFTi – SFTfi)2
Rs = ––––––––––––––––––––––––––––
2
Si(SFTi – SFTav)2
Odrzuca się miary, dla których Rs2 jest mniejsze od założonego progu
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 102
Wybór miar powtarzalnych
Dysponując kilkoma okresami trwałości ostrza można określić powtarzalność przebiegu miary
Wyznacza się średni przebieg SFTfav i traktuje jako uśredniony model zależności SF(DT)
Współczynnik determinacji Rr2 pozwala określić, na ile przebiegi są powtarzalne
SjSi(SFTfji – SF3Tfav)2 – SjSi(SFTfji – SFTfavi)2
Rr2 = –––––––––––––––––––––––––––––––––––
SjSi(SFTfji – SF3Tfav)2

Odrzuca się miary, dla których Rr2 jest mniejsze od założonego progu
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 103
Wybór miar - przykład

Miara dobrze skorelowana ze Miara dobrze skorelowana ze


stanem ostrza, słabo powtarzalna stanem ostrza, dobrze powtarzalna

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 104
Eliminacja miar podobnych
Wśród miar spełniających warunki

• skorelowania ze stanem ostrza (gładkości)

• powtarzalności

występują miary skorelowane ze sobą, a więc nie wnoszące nowych informacji

Eliminacja zbędnych miar:

1. uszeregowanie miar pod względem powtarzalności, wybór najlepszej

2. obliczenie współczynnika korelacji między tą miarą 𝑆𝐹0 a kolejno wszystkimi

pozostałymi 𝑆𝐹𝑗
σ𝑖 𝑆𝐹0,𝑖 − 𝑆𝐹0,𝑎𝑣 𝑆𝐹𝑗,𝑖 − 𝑆𝐹𝑗,𝑎𝑣
𝑟𝑗2 =
2 2
σ𝑖 𝑆𝐹0,𝑖 − 𝑆𝐹0,𝑎𝑣 σ𝑖 𝑆𝐹𝑗,𝑖 − 𝑆𝐹𝑗,𝑎𝑣

3. odrzucenie tych, dla których współczynnik korelacji jest zbyt duży

4. powtarzanie procedury dla pozostałych miar (od punktu 1) aż nie pozostanie żadna
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 105
Wyniki selekcji miar
582 wyznaczone miary
Wybrane przydatne miary Po eliminacji miar podobnych

Miary powiązane z DT Miary powiązane z DT, powtarzalne

52 52

27
29
18 17
20 14 15
6 6 6
Siły Drgania AE Siły Drgania AE

18
11 9 5 12 3 9 3 8 3
6 6

Fx Fz Vy Vz AERMS AERAW
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 106
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja
Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia
zużycia ostrza
ostrza
•• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 107
Nordman

max – narzędzie stępione


aktualna wartość sygnału
min – narzędzie ostre

Nadzór zużycia na postawie średniej wartości sygnału z


całego zabiegu lub jego fragmentu...
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 108
Nordman

... niezależnie od sposobu obróbki...


wiercenie gwintowanie frezowanie/toczenie

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 109
Nordman

... czy rodzaju zastosowanego czujnika

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 110
Artis

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 111
Pytania

Czy operator sam musi dobierać i wprowadzać


wartości graniczne, miejsca pomiaru itd?
NIE!

Po co operatowi wiedza o
???
wartościach sygnałów?
Co z nimi może zrobić?

Przeliczyć na wykorzystaną
300-250
część okresu trwałości! DT = ----------- =.... 0,33
400-250

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 112
Podstawowe założenia działania układów
ADONiS
• zdobywanie przez układ większości niezbędnych
informacji w trakcie obróbki pierwszego przedmiotu

• automatyczne wyznaczanie dopuszczalnej wartości


miary na podstawie decyzji użytkownika o stępieniu
ostrza (uczenie układu)

• określanie nie tylko momentu stępienia ostrzy lecz


także ocena wykorzystanej części okresów trwałości

• autodiagnostyka układu

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 113
Ogólne zasady uczenia układu diagnostyki
zużycia ostrza
Pierwszy okres trwałości ostrza
Kolejny okres trwałości ostrza
SF SF
SFn Min
SF3 SF3
SF1 SF2 SF1 SF2
... ...

OP1 OP2 OP3 OPn1 OP1 OP2 OP3 OPn1

1-sza op.: licz.zab,


które nadzorować, po każdej op. po każdej op. zapamiętanie miary:
min i max sygn, zapamiętanie SF[NrOp] oraz ocena DT na
miary: SF[NrOp] podstawie SF[DT]

po zakończeniu trwałości ostrza przeliczenie tablicy


SF[NrOp] na SFTf[DT] na podstawie po zakończeniu trwałości ostrza
NrOp przeliczenie tablicy SF[NrOp] na
DT= ––––– SFTf[DT]
LiczOp

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 114
Oszacowanie wykorzystanej części T
SFTf[DT]
SF[NrOp]

Wyszukiwanie w tablicy SF[DT] wartości


najbliższej uzyskanej w operacji
DT

n DT

SFTf[DT] Wyszukiwanie rozpoczyna się od


SF[NrOp]

poprzedniego wskazania: w przypadku


wartości niższej niż poprzednia,
DT wskazanie DT bez zmian
n DT

30%
SF[NrOp] SFTf[DT]

Przeszukiwanie tylko 30% DT ogranicza


wpływ przypadkowo wysokich wartości
DT
n DT
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 115
Oszacowanie wykorzystanej części T

30%
SF[NrOp] Ograniczenie zakresu przeszukiwania umożliwia
SFTf[DT]
do pewnego stopnia wykorzystanie miar
niemonotonicznych w funkcji wykorzystanej

DT
części okresu trwałości ostrza

DT

SF[NrOp] SFTf[DT]

Wskazanie nie może być niższe niż


0.7 DT wynikającego z poprzednich
DT doświadczeń
n
DT=70*n/NB

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 116
Przebiegi sygnału siły Ff w funkcji zużycia
ostrza w warunkach przemysłowych
Układy komercyjne pracują w
Ff oparciu o założenie o
monotonicznym wzroście miary

nr operacji

Sygnały:
• nieliniowe Żaden ze znanych układów
komercyjnych nie może działać w
• niemonotoniczne (nieodwracalne)
oparciu o taką miarę sygnału
• ujemne

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 117
Wyniki diagnostyki zużycia ostrza wg
algorytmu opracowanego w ZAOiOS
Ff

DT oszacowane

nr operacji

DT
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 118
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia
diagnostyka zużycia ostrza
ostrza w
w oparciu
oparciu oo integrację
integrację miar
miar sygnałów
sygnałów
• Wykrywanie katastroficznego stępienia ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 119
Sztuczna inteligencja (AI)
• Obecnie oprogramowanie komputerów pozwala na wykonywanie złożonych zadań.
• Są to w większości zadania dobrze określone, wiadomo dokładnie, jak je rozwiązać,

• komputer wykonuje ściśle określone instrukcje,

• większość programów komputerowych nie zachowuje się szczególnie inteligentnie.

• Wszędzie tam, gdzie można określić dokładny algorytm działania, prowadzący do


wykonania zadania, inteligencja nie jest konieczna.

• Jest jednak wiele problemów, których rozwiązanie:


• nie daje się ująć w ścisłe reguły

• wymaga tak wielkiej liczby obliczeń, że jest niewykonalne

• W takich przypadkach rozwiązanie wymaga pewnej dozy inteligencji

• Jeśli ma wykazywać ja program komputerowy, mówimy o sztucznej inteligencji


• od angielskiej nazwy Artificial Intelligence powszechnie używa się skrótu AI

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 120
Typy sztucznych neuronów i sieci neuronowych

• Wiele różnych rodzajów neuronów oraz sieci na nich


opartych, a także algorytmów uczenia sieci

• W automatycznym monitorowaniu najczęściej stosuje


się perceptron wielowarstwowy
• najczęściej dwuwarstwowy, z jedną warstwą ukrytą,

• oparty na neuronach z sigmoidalną funkcją aktywacji

• uczony metodą wstecznej propagacji błędów,


(FF-BP – Feed Forward – Back Propagation).

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 121
Neuron typu sigmoidalnego

Przyjmiemy b=1

• Neuron może mieć wiele wejść (synapsy).


• Synapsom można przypisać wagi, których wartość może podlegać zmianom
• Wartości wejść są sumowane z wagami
• Suma jest argumentem sigmoidalnej funkcji aktywacji
• Neuron ma tylko jedno wyjście.
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 122
Sieć neuronowa trzywarstwowa
wejścia
warstwa
wejściowa
o1,i = xi w1,i

warstwa
ukryta

warstwa
wyjściowa

wyjście

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 123
Diagnostyka zużycia ostrza oparta na
laboratoryjnych pomiarach sił skrawania

Zabieg 1 2 3 4 5 6
ap 1.5 1.5 1.5 1.5/3 1.5 1.5/3
f 0.24 0.17 0.47 0.47 0.33 0.33

vc 351 417 251 251 300 300


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 124
Przebiegi sił skrawania w funkcji zużycia ostrza
Próba zakończona naturalnym stępieniem Próba zakończona ścięciem naroża
Eksperyment wykorzystany do uczenia Eksperyment wykorzystany do testowania
Test W5I Test W7I

Test W5I Test W7I

Fc = Fc(ap, f) Fc  Fc(VB) (1)


Ff = Ff (ap, VBB) Ff  Ff(f) (2)
VBB = VBB(Ff, ap) (3)
lub VBB= VBB[Ff, ap(Fc, f)] (4)
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 125
Konfiguracje wejść sieci neuronowej przyjęte do badań

sygnały wejściowe
sieć f ap Ff Fp Fc Komentarz
1 X X X X X Sieć pełna – wszystkie wejścia. Można się spodziewać, że to
nadmiar. Do zastosowania niezbędny 3-składowy czujnik sił
2 X X X Próba zbadania, czy informacje zawarte w wartościach sił
skrawania wystarczą do uwzględnienia wpływu parametrów
skrawania. Do zastosowania niezbędny 3-składowy czujnik sił
3 X X X Siła Ff zależy prawie tylko od ap i VBB, zaś Fc prawie tylko od ap i f.
To stwarza szansę odzyskania informacji o głębokości skrawania z
Fc i f, a w ten sposób wyeliminowanie jej wpływu z wartości Ff.
Konfiguracja szczególnie korzystna gdy występują nieznane
zmiany ap (obróbka wstępna)
4 X X X Przy znanej głębokości skrawania i posuwie można ich wartości
podać na wejścia, pozwalając sieci na eliminację ich wpływu na Ff
i identyfikację wpływu zużycia ostrza.
5 X X X X Podobnie jak wyżej, z tym że informacje zawarte w sile Ff są
dublowane przez zawarte w sile Fp
6 X X X X Dla 2-składowego czujnika sił, przy znanych zmianach ap

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 126
Uczenie sieci

• W trakcie uczenia sieci na zbiorze W5IA, po każdej iteracji wykonywano test na zbiorze W7IA.
• wyniki testowania nie wpływały w żaden sposób na przebieg uczenia, a służyły jedynie do bieżącej oceny zdolności
sieci do generalizacji.

• Średnie błędy uczenia eu (sterujące przebiegiem uczenia) oraz maksymalne błędy uczenia mu zmieniają
się dla wszystkich sieci podobnie, dla sieci 2-giej są one najwyższe.

• Wyraźnie różne są przebiegi błędów testowania.


• te błędy świadczą o zdolności sieci do oceny zużycia innego ostrza niż użyte do uczenia.

• Zdecydowanie najgorszy wynik uzyskała sieć 2-ga, opartą jedynie na pomiarach sił skrawania bez
informacji o parametrach skrawania.

• Sieci 1-a i 5-ta uczą się wyraźnie wolniej, a raczej wolniej uzyskują zdolność uogólniania.

• Po 200 000 iteracjach wyniki uzyskiwane przez wszystkie sieci (oprócz 2-giej) jest podobny
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 127
Błędy uczenia i testowania badanych sieci

• Najlepsze wyniki uczenia uzyskała sieć 5-ta, a nieomal identyczny sieć 1-a.
• Wyniki testowania z kolei były najlepsze dla sieci 3-ciej, a tylko nieco gorsze dla sieci 5-
tej.
• Pomijając sieć 2-gą, widzimy, że średnie błędy testowania nie przekraczają 0.04 mm, czyli
ok. 10% wskaźnika stępienia.
• Błędy maksymalne testowania są oczywiście większe, i wynoszą do 0.2 mm.
• Ta wartość może być niepokojąca i należy uważniej przeanalizować.
• Istotna jest nie tyle sama wartość błędu średniego czy maksymalnego lecz to gdzie on
występuje.
• W gruncie rzeczy ważna jest dokładność oszacowania momentu, w którym ostrze traci
właściwości skrawane, czyli określenie końca jego trwałości.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 128
Oszacowanie zużycia ostrza przez sieć
neuronową
Rzeczywiste i obliczone przez sieci (z wyjątkiem 2-giej) wartości zużycia ostrza w obu próbach.

Próba W5I Próba W7I

• Do ok. 24 minuty błędy wszystkich sieci


Błędy testowania sieci
mieszczą się w paśmie ±0.05mm.

• Dopiero ścięcie naroża, wyraźne przyrosty sił


Ff i Fp odbija się większymi błędami
oszacowania VBB.

• Odpowiedź sieci jest korzystna, lepsza, niż


dokładna, tzn. pokazująca właściwe wartości
VBB podczas gdy ostrze utraciło właściwości
skrawane.
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 129
Oszacowanie zużycia z przez sieć neuronową i system
logiki rozmytej System logiki rozmytej
eu=0.0270 mu=0.0670
et=0.0351 mt=0.1460
Wyniki uzyskane przez sieć 3A:
eu=0.0160 mu=0.0379
et=0.0367 mt=0.1677

• Sieć neuronowa znacznie lepiej dopasowuje się do


danych uczących – tak zbudowany jest algorytm
uczenia.
• System logiki rozmytej budowany jest „na oko”,
intuicyjnie , lecz powoduje gorsze dopasowanie do
danych uczących .
• Stworzona baza wiedzy jest bardziej ogólna – wyniki
testowania są lepsze niż dla sieci neuronowej.

W obu przypadkach wystarczyły informacje od siłach Fc, Ff i posuwie f.


Informacje o zmianach głębokości skrawania były zbędne.
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 130
Badania doświadczalne w warunkach przemysłowych
CBKO,VENUS 450

Narzędzie: CNMG 100408 BP30A


Materiał obrabiany: stal 45
ap=1,5 i ap = 2 mm
f = 0.1 mm/obrót
vc = 150 m/min

• Centrum tokarskie VENUS 450


wyposażone w:
• przemysłowy czujnik sił
skrawania
• czujnik emisji akustycznej
• Mierzono cztery sygnały:
• Fc, Ff i Fp
• AERMS
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 131
Badania doświadczalne w warunkach przemysłowych

Operacja składała się z


Narzędzie: węglik spiekany
• 22 kolejnych przejść: SCGCL CNMG
• ap=1.5 (13 przejść) i 2 mm (9 przejść), 10408 BP30A

• f = 0.1 mm/obr
• vc = 150 m/min,

Materiał obrabiany: stal 45


• Jedno przejście wykończeniowe z tą samą prędkością i
posuwem, ale zmienną głębokością skrawania
• Operacja trwała 4.6 min,
• czas skrawania 3.6 min.
• Stępiono osiem ostrzy (8 okresów trwałości)
• 8, 10, 10, 12, 10, 9, 14 i10 przedmiotów (operacji) w
kolejnych okresach.

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 132
Miary sygnałów

2s

•Wartość średnia •Wariancja •Wartość średnia 2s


•Wartość maksymalna •Mediana •Inne

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 133
Integracja miar z wykorzystaniem sieci neuronowej

FfMed2s
AEMed

Brak odporności na silnie


nietypowy przebieg miary
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 134
Ocena DT – integracja miar przy pomocy sieci
neuronowej – przyczyny porażki

Układ powinien być gotowy do Uczenie sieci neuronowej

pracy po jednym okresie wymaga zastosowania

trwałości odpowiedniej liczby próbek


uczących w stosunku do liczby
Dysponujemy ograniczoną, wejść
niską liczbą próbek uczących

Ograniczenie liczby wykorzystywanych miar


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 135
Integracja miar z wykorzystaniem sieci neuronowej

Wyniki sieci neuronowej uczonej z wykorzystaniem czterech


okresów trwałości ostrza

Zwiększenie ilości danych doświadczalnych wykorzystanych do uczenia sieci


zwiększa dokładność oszacowania DT...

...ale opóźnia gotowość układu do pracy


Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 136
Integracja miar oparta na algorytmach
hierarchicznych
• Etap I oszacowanie zużycia ostrza w oparciu o
pojedyncze miary
• model zależności miary od zużycia

• Etap II integracja pojedynczych wyników we wspólne


oszacowanie zużycia
• sieci neuronowe
• uśrednianie

Dowolna liczba miar w pierwszym etapie.


W drugim etapie można eliminować wyniki znacznie
odbiegające od średniej, nietypowe
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 137
Integracja miar algorytmem hierarchicznym

SFTf1[DT]
SF1[n] 30

Etap I
n Oszacowanie DT na podstawie każdej
0 20
DT1
40 60 80 100 %
DT miary oddzielnie
SFTf2[DT]
SF2[n]

Etap II
n
Oszacowanie DT jako średniej z
0 20 40 60 80 100 % pojedynczych wskazań
DT2 DT
SFTf3[DT]
SF3[n]

SDTi
DT= ̶ ̶ ̶ ̶ ̶
n n
0 20 40 60 80 100 %

DT3 DT
DTB

..
DT4 Wspólne oszacowanie brane jest jako

.
DTn
wyjściowe DTB w następnym kroku

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 138
Wyniki integracji czterech miar

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 139
Wyniki integracji dziesięciu miar

• Po zwiększeniu
progów przydatności
miar algorytm wybrał
10 miar

• Dokładność
oszacowania wzrosła

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 140
Diagnostyka zużycia ostrza przy obróbce Inconel 625
Spośród 582 dostępnych miar sygnałów AE, Vy, Vz, Fx i Fz wybrano automatycznie
powiązane z DT, powtarzalne :
Siły Drgania AE
11 5 3 3
6 3

Fx Fz Vy Vz AERMS AERAW

Wyniki integracji miar algorytmem hierarchicznym

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 141
Diagnostyka zużycia ostrza przy obróbce Inconel 625

A gdyby tak założyć, że


mamy mniej sygnałów?

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 142
Badania doświadczalne w warunkach przemysłowych

Wróćmy raz jeszcze do omawianego już eksperymentu: Narzędzie: węglik spiekany


SCGCL CNMG
• Centrum tokarskie VENUS 450 wyposażone w: 10408 BP30A

• przemysłowy czujnik sił skrawania


• czujnik emisji akustycznej
• Mierzono cztery sygnały:
• Fc, Ff i Fp
• AERMS

… którego wyniki były wykorzystane AE sensor


przy testowaniu sieci neuronowych
oraz integracji miar uzyskanych z
Force sensor
jednego zabiegu, przy pomocy
algorytmu hierarchicznego

Tym razem wykorzystamy wszystkie zabiegi


oraz algorytmy automatycznej segmentacji
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 143
Segmentacja i ocena miar sygnałów

AE
• Algorytm segmentacji umożliwia wybranie ze wszystkich sygnałów ze
wszystkich operacji, fragmentów odpowiadających tej samej chwili w Ff

każdej operacji Fp

Fc
• Wybór jest prowadzony jedynie w czasie pierwszego okresu trwałości
1szy okres 2gi okres 3ci okres… …nty okres…
ostrza, gdy system się uczy oper. 1

• W tym czasie wszystkie możliwe miary sygnału są wyznaczane ze


oper. 2
wszystkich zebranych fragmentów wszystkich sygnałów

• Po zakończeniu pierwszego okresu trwałości oceniana jest przydatność oper. 3

miar sygnałów do diagnostyki stanu ostrza i wybierane są najlepsze dla


każdego segmentu oddzielnie oper. n

• W czasie kolejnych okresów trwałości ostrza wyznacza się i przechowuje


w pamięci jedynie wybrane miary z wybranych fragmentów sygnałów
• oryginalne sygnały są wymazywane, co znakomicie obniża wykorzystanie
pamięci

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 144
Segmentacja i wyznaczanie miar sygnałów
wszystkie segm.
W czasie 1szej operacji zidentyfikowano
po 1 operacji
165 segmentów.
Wybrano 19 najlepszych
Po 7 operacjach było 19x7=133>128 Fc
segmentów, więc wybrano co drugi,
pozostawiając 10 na operację
Każdy z 4 mierzonych sygnałów
(AERMS, Fc, Ff i Fp ) poddano 3-
poziomowej analizie falkowej (WPT) • energia logarytmiczna (np. Fc/DD.E – energia współczynnika DD
otrzymując 14 współczynników sygnału Fc),
(aproksymacji A i detali D). • wartość skuteczna (np. Ff/ADA.RMS – RMS współczynnika ADA sygnału
Ff),
Z każdego ze współczynników oraz
sygnału oryginalnego wyznaczono 10 • odchylenie standardowe (np. Ff/A.st_dev – odch. std. współczynnika A
sygnału Ff),
miar sygnału:
• moda (e.g. AE/s.mode moda oryginalnego sygnału AERMS),

Łącznie wyznaczano • tempo przekroczeń 1, 2 and 3 – częstość przekraczania progu przez


4*14*10=560 miar sygnałów z 30%, 50% or 70% wartości maksymalnej sygnału (np. Fp,ADA,Count1),

każdego segmentu • szerokość przekroczeń 1, 2 and 3 – procentowy udział czasu


Politechnikapowyżej
przebywania sygnału Warszawska, Wydział(np.
progu Fc/ADA,Pulse
Inżynierii Produkcji, ),
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 145 1
Integracja sygnałów, ocena zużycia ostrza
segment 1 segment 4 segment 7
800

Ff (N)
Z każdego sygnału wyznaczono t1,1 Operacja 1 t4,1 t7,1
inną liczbę miar. 400
0
Miarą zużycia była wykorzystana

Ff (N)
800
t1,5 Operacja 5 t4,5 t7,5
część okresu trwałości ostrza 400
DT=t/T. 0
800

Ff (N)
Po pierwszym okresie, dla każdej t1,8 Operacja 8 t4,8 t7,8
400
mary sygnału, dla każdego
0
segmentu wyznaczono model
oparty na wielomianie 2go …
czas (s)

segment 1 segment 4 segment 7
stopnia (czarne ciągłe linie). SF1,1 SF4,1 SF7,1
Op 4 Op 6
Op 2
W trybie diagnostyki, po zebraniu Op 5

AE/s.mode

AE/s.mode
AE/s.mode
Op 3 Op 8 Op 3 Op 8 Op 4 Op 8
Op1
Op 6 Op 3
danych z każdego segmentu Op 5 Op 7
Op 2
Op 4
Op 7
Op 7 Op 2
wyznacza się DT oddzielnie na SF1,1,3
Op1 Op 5
Op 6 Op1

podstawie każdego modelu. DT1,1,3

Op 2 SF7,2
Następnie są one uśredniane Op 3 SF1,2 SF4,2

AE/ADA.st_dev
Op1 Op 4 Op 6
dając wspólne oszacowanie Op 5

Fc/DDD.E
Op 6 Op 3 Op 8
SF1,2,3 Op1
Ff/A.E

Op 7 Op 4
wykorzystanej części okresu DT1,2,3
Op 8
Op 2
Op 5 Op 7
Op 2 Op 7
Op 6 Op 8
Op 3
ostrza (stanu narzędzia) w danym Op1
Op 4 Op 5

momencie (kilkakrotnie w czasie


długiego przejścia)


Δ 𝑇[%] Δ 𝑇[%] Δ 𝑇[%]


1 𝑀1 𝑀 1 𝑀 1
Δ𝑇1,𝑘 = 𝑀 σ𝑗 PolitechnikaΔ𝑇
Warszawska, Wydział
4 Inżynierii Produkcji,
Δ𝑇7,𝑘 = 𝑀 σ𝑗 7 Δ𝑇7,𝑗,𝑘
Δ𝑇1,𝑗,𝑘 4,𝑘 = 𝑀 σ𝑗 Δ𝑇4,𝑗,𝑘
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak 1 Zakład Automatyzacji
4 i Obróbki Skrawaniem 7 146
Podsumowanie diagnostyki zużycia ostrza

• Układy oparte na pojedynczej mierze sygnału nie


mogą zapewnić wymaganej dokładności wskazań

• Sieci neuronowe nie są najodpowiedniejszym


narzędziem do integracji miar sygnałów przy
ograniczonej ilości danych uczących

• Algorytmy hierarchiczne wydają się obecnie


najskuteczniejszą metodą integracji miar

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 147
10 Diagnostyka stanu narzędzia i procesu
skrawania
• Wprowadzenie do DNiPS
• Wielkości fizyczne wykorzystywane w DNiPS
• Czujniki stosowane w DNiPS
• czujniki sił i wielkości pochodnych
• czujniki emisji akustycznej i drgań
• Przetwarzanie sygnałów w DNiPS
• wstępna obróbka sygnałów
• wyznaczanie miar sygnałów w dziedzinie czasu
• miary sygnałów w dziedzinie częstotliwości i czasu-częstotliwości
• selekcja miar sygnałów
• Integracja miar, podejmowanie decyzji – diagnostyka naturalnego
zużycia ostrza
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o jedną miarę sygnału
• diagnostyka zużycia ostrza w oparciu o integrację miar sygnałów
• Wykrywanie
Wykrywanie katastroficznego
katastroficznego stępienia
stępienia ostrza
ostrza
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 148
Zużycie ostrza – katastroficzne stępienie ostrza

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 149
Wpływ KSO na przebieg siły skrawania
przy toczeniu – wykruszenie ostrza

Jemielniak K., Przebieg sił skrawania w czasie tępienia się ostrza przy toczeniu, Mechanik, nr 5-6, 1991, 175-178

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 150
Wpływ KSO na przebieg siły skrawania
przy toczeniu – wyłamanie ostrza

Jemielniak K., Przebieg sił skrawania w czasie tępienia się ostrza przy toczeniu, Mechanik, nr 5-6, 1991, 175-178

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 151
Wykrywanie KSO oparte na wartości granicznej

Założenie podstawowe:
po KSO siła znacznie wzrasta

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 152
STRATEGIE – KSO – stała górna granica

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 153
Wykrywanie KSO oparte na przedziałach
Możliwe wersje, przykłady działania

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 154
Wykrywanie KSO oparte na nauczonym przebiegu

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 155
Wykrywanie KSO oparte na granicach
dynamicznych i „szybkim” czujniku

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 156
Wykrywanie KSO oparte na granicach
dynamicznych i „szybkim” czujniku

Zalety
 znikome koszty obsługi

 ponad 95% wykrywanych KSO przy obróbce odlewów i odkuwek

 bardzo szybki czas reakcji – 5 ms


posuw zatrzymywany w czasie pierwszego obrotu po KSO!

 bardzo mało fałszywych alarmów (ok. 1 na zmianę na tydzień)

 narzędzie jest chronione

 pozytywne oceny klientów

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 157
Wykrywanie KSO oparte na granicach
dynamicznych i „szybkim” czujniku

Wady
 konieczność zastosowania czujnika o krótkim czasie reakcji,
(„szybkiego”) , blisko strefy skrawania, a więc drogiego.

 granice muszą być szerokie ze względu na naturalne


krótkotrwałe zakłócenia sił skrawania
 mniejsze wykruszenia ostrza mogą być niewykryte

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 158
Strategia wykrywania KSO przy toczeniu
opracowana w ZAiOS
• Monitorowany jest sygnał Fs filtrowany
dolnoprzepustowo

• Granice L+ i L- są otrzymane przez kolejne silne


filtrowanie sygnału i pomnożenie go przez
współczynnik >1 i <1

• W celu uniknięcia fałszywych alarmów zakłada


się, że KSO jest rozpoznawane gdy Fs >L+ lub Fs
<L- dłużej niż del

• Gdy sygnał Fs jest poza granicami, wyznaczany


jest znacznie łagodniejszym filtrem pomocniczym,
by ułatwić powrót między granice.

• Granice nie są w tym czasie aktualizowane

• Gdy sygnał Fs jest poza granicami dłużej niż del,


system generuje alarm KSO do chwili powrotu
sygnału między granice, które są aktualizowane
od początku alarmu
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 159
Działanie detektora KSO ZAiOS – przykład 1

ostrze SNUN S30S


materiał obrabiany: stal 45
parametry skrawania:
vc=180 m/min,
f=0.33 mm/obr,
ap=2.5 mm

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 160
Działanie detektora KSO ZAiOS– przykład 2

ZL25M, SPUN H10S

ostrze SPUN H10S


materiał obrabiany: ZL25M
parametry skrawania:
vc=160 m/min,
f=0.33 mm/obr,

Siła skrawania i reakcje detektora KSO na skokową zmianę głębokości


skrawania i wykruszenie krawędzi skrawającej
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,
Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 161
Wpływ KSO na przebieg i widmo siły skrawania
przy frezowaniu

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 162
Wykrywanie KSO - frezowanie
sygnał siły [V]
sygnał siły [V]

alarm wykruszenia alarm wyłamania

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 163
Wykrywanie KSO przy frezowaniu
mat. obrabiany: Inconel 718,
przebieg siły prostopadłej do osi freza
średnica freza, D = 38 mm,
typ płytek: okrągłe, z ceramiki
zbrojonej,
liczba płytek: 2,
n = 500 obr/min,
f = 0.175 mm/ząb,
ap = 2.5 mm,
ae = 19 mm.

błędy przewidywania siły przy pomocy modelu AR(1) wraz z granicami

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 164
Zastosowanie DWT do diagnostyki frezu
Przebieg siły skrawania w czasie jednego obrotu frezu dwuostrzowego:

oba ostrza w dobrym stanie jedno ostrze wykruszone,


jedno w dobrym stanie

detal, 1szy poziom DWT detal, 2gi poziom DWT detal, 3ci poziom DWT

detal, 4ty poziom DWT detal, 5ty poziom DWT

Rene de Jesus R.-T., et al., Mechatronics 14 (2004) 439–454

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 165
Zastosowanie DWT do diagnostyki frezu

0 1 2 3 4 5 6 7 0 1 2 3 4 5 6 7

Asymetria – różnica między pojedynczymi


wartościami siły dla kolejnych ostrzy w
czasie pełnego obrotu frezu wyznaczona z
detalu 5 poziomu DWT:

Rene de Jesus R.-T., et al., Mechatronics 14 (2004) 439–454

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 166
Jakieś pytania?

Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Produkcji,


Prof. dr hab. inż. Krzysztof Jemielniak Zakład Automatyzacji i Obróbki Skrawaniem 167

You might also like